塑料陶瓷介电常数测试仪

高频Q表能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。A/C高频Q表是北广精仪仪器设备有限公司新研制的产品，它以DDS数字直接合成方式产生信号源，频率达60MHz/160MHz，信号源具有信号失真小、频率精确、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的精确性。A主电容调节用传感器感应，电容读数精确,且频率值可设置。C主电容调节用步进马达控制，电容读数更加精确,频率值和电容值均可设置。A/C电容、电感、Q值、频率、量程都用数字显示，在某一频率下，只要能找到谐振点，都能直接读出电感、电容值，大大扩展了电感的测量范围，而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。A/C特有的谐振点频率自动搜索或电容自动搜索功能，能帮助你在使用时快速地找到被测量器件的谐振点，自动读出Q值和其它参数。Q值量程可手动或自动转换。 使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法）六、维修1．新购仪器的检查新购的仪器能先用LKI-1电感组，将各个电感在各个不同频率测试Q值，把测试的情况，例使用的电感号、测试频率Q读数、电容读数等多次测得数及测试环境条件逐一详细记录，并把记录保存起来，以供以后维修时作参考。LKI-1电感组是供测试时作辅助电感用的，不能把这些电感当作高精度的标准电感看待。随着测试环境条件不同，测得电感器Q值和分布电容可能略有不同。2．使用和保养高频Q表是比较精密的阻抗测量仪器，在合理使用和注意保养情况下，才能保证长期稳定和较高的测试精度。a．熟悉本说明书，正确地使用仪器；b．使仪器经常保持清洁、干燥；c．本仪器保用期为18个月，如发现机械故障或失去准确度，可以原封送回本厂，免费修理。 维修1．新购仪器的检查新购的仪器能先用LKI-1电感组，将各个电感在各个不同频率测试Q值，把测试的情况，例使用的电感号、测试频率Q读数、电容读数等多次测得数及测试环境条件逐一详细记录，并把记录保存起来，以供以后维修时作参考。LKI-1电感组是测试时作辅助电感用的，不能把这些电感当作高精度的标准电感看待。随着测试环境条件不同，测得电感器Q值和分布电容可能略有不同。2．使用和保养高频Q表是比较精密的阻抗测量仪器，在合理使用和注意保养情况下，才能保证长期稳定和较高的测试精度。a．熟悉本说明书，正确地使用仪器；b．使仪器经常保持清洁、干燥；c．本仪器保用期为18个月，如发现机械故障或失去准确度，可以原封送回本厂，免费修理。 介电常数介质损耗测试仪特点： ◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。◎ 能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。◎ Q值量程自动/手动量程控制。◎ DPLL合成发生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz测试信号。独立信号 源输出口，所以本机又是一台合成信号源。◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。 1、液体介电常数测定仪2、低频介电常数测试仪3、高频介电常数测试仪4、塑料介电常数测试仪5、聚乙烯介电常数测定仪6、硅橡胶介电常数测定仪7、橡胶介电常数测定仪8、材料介电常数测定仪9、薄膜介电常数测定仪10、聚酯薄膜介电常数测试仪11、聚合物介电常数测量仪12、介电常数及介质损耗测试仪

高频介质损耗测试系统由BH916测试装置（夹具）、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT)、及LKI-1型电感器组成，它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的最佳解决方案。 1、《BH916介质损耗装置》(测试夹具)是测试系统的核心检测部件，它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。BH916介质损耗测试装置是本公司最新研制的更新换代产品，精密的加工设计、精确的LCD数字读出、一键式清零功能，克服了机械刻度读数误差和圆筒形电容装置不可避免的测量误差。 2、基于串联谐振原理的《GDAT高频Q表》是测试系统的二次仪表，其数码化主调电容器的创新设计代表了行业的最高成就，随之带来了频率、电容双扫描GDAT的全新搜索功能。该表具有先进的人机界面，采用LCD液晶屏显示各测量因子：Q值、电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率10KHz-60MH或200KHz-160MHz，频率精度高达1×10-6。国标GB/T 1409-2006规定了用Q表法来测定电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)，把被测材料作为平板电容的介质，与辅助电感等构成串联谐振因子引入Q表的测试回路，以获取最高的测试灵敏度。因而Q表法的测试结果更真实地反映了介质在高频工作状态下的特征。 　　 GDAT高频Q表的全数字化界面和微机控制使读数清晰稳定、操作简便。操作者能在任意点频率或电容值的条件下检测Q值甚至tanδ，无须关注量程和换算，彻底摒弃了传统Q表依赖面板上印制的辅助表格操作的落后状况，它无疑是电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)测量的理想工具。 3、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT)，实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化，tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理，因而提高了数据的精确度和测量的同一性，是人工读值和人工计算无法比拟的。4、一个高品质因数（Q)的电感器是测量系统必不可少的辅助工具，关乎测试的灵敏度和精度，在系统中它与平板电容（BH916）构成了基于串联谐振的测试回路。本系统推荐的电感器为LKI-1电感附表一,介质损耗测试系统主要性能参数一览表BH916测试装置GDAT高频Q表平板电容极片Φ50mm/Φ38mm可选频率范围20KHz-60MHz/200KHz-160MHz间距可调范围≥15mm频率指示误差3×10-5±1个字夹具插头间距25mm±0.01mm主电容调节范围30-500/18-220pF测微杆分辨率0.001mm主调电容误差1%或1pF夹具损耗角正切值≦4×10-4 （1MHz)Q测试范围2～1023附表二,LKI-1电感组典型测试数据 线圈号 测试频率 Q值 分布电容p电感值 9100KHz989.425mH8400KHz13811.44.87mH7400KHz202160.99mH61MHz19613252μH52MHz1988.749.8μH44.5MHz231710μH 312MHz1936.92.49μH212MHz2296.40.508μH125MHz 50MHz233 2110.90.125μH技术指标和功能以随机说明书为准 平板电容极片：Φ50mm/Φ38mm可选间距可调范围：≥15mm 频率范围 ： 20KHz-60MHz/200KHz-160MHz频率指示误差：3×10-5±1个字夹具插头间距：25mm±0.01mm主电容调节范围：30-500/18-220pF测微杆分辨率：0.001mm主调电容误差：1%或1pF夹具损耗角正切值：≦4×10-4 （1MHz)Q测试范围：2～1023介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。 该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究

塑料材料介电常数测试仪介电系数增大，导电介质或极性杂质的存在，会增加高聚物的导电电流和极化率，因而使介电损耗增大，特别是对于非极性高聚物来说，杂质成了引起介电损耗的主要原因。3．实验环境条件如温度、湿度对测定结果的影响。塑料材料介电常数测试仪测试注意事项 a．本仪器应水平安放； b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟； c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调； d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差； e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫； f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。塑料材料介电常数测试仪试样的厚度如果大于3mm，为了测得他的介电常数，需要一个很高的电压，这样使得设备条件更加苛刻，实验环境也不安全。塑料材料介电常数测试仪使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法）塑料材料介电常数测试仪温度的影响温度对松弛极化产生影响，因而P，ε和tgδ与温度关系很大。松弛极化随温度升高而增加，离子间易发生移动，松弛时间常数τ减小。（1）当温度很低时,τ较大,由德拜关系式可知,εr较小，tgδ也较小在此温度范围内，随温度上升，τ减小，εr、tgδ和PW上升。(2)当温度较高时，大于Tm，τ较小，此时在此温度范围内，随温度上升，τ减小，tgδ减小。PW主要决定于极化过程， PW也随温度上升而减小。（3）当温度继续升高，达到很大值时，离子热运动能量很大，离子在电场作用下的定向迁移受到热运动的阻碍，因而极化减弱，εr下降。电导损耗剧烈上升，tgδ也随温度上升急剧上升。湿度的影响介质吸潮后，介电常数会增加，但比电导的增加要慢，由于电导损耗增大以及松驰极化损耗增加，而使tgδ增大。对于极性电介质或多孔材料来说，这种影响特别突出，如，纸内水分含量从4％增加到10％时，其tgδ可增加100倍。 介电损耗的应用当绝缘材料用于高电场强度或高频的场合，应尽量采用介质损耗因数（即电介质损耗角正切tgδ，它是电介质损耗与该电介质无功功率之比）较低的材料。电介质损耗用作一种电加热手段，即利用高频电场（一般为0.3～300兆赫） 对电介质损耗大的材料（如木材、纸、陶瓷等）进行加热。频率高于 300兆赫时 ，达到微波波段 ，即为微波加热（ 家用微波炉即据此原理）。主要因素（1）与施加的电压和频率有关。一般在电压较低的情况下,进行介质损耗因数测量时电压对介质损耗因数没有明显的影响。但当试验电压提高时,因介质在高电压作用下产生了偶极转移,而引起电能的损失,则介质损耗因数值会有明显的增加。故介质损耗因数随电压的升高而增加,因此在测定时应按规定加到额定电压。介质损耗因数与施加电压的频率也有关,因为介质损失角正切值(tan 6 )的变化是频率的函数,即介质损失角随频率的改变而变化,故一般规定测量介质损耗因数时,采用50HZ的交流电压,这样规定也符合电气设备的实际使用情况。（2）温度对介质损耗因数的测量结果影响较大。因为介质的电导是随温度变化而改变的,所以当温度升高时,介质的电导随之增大,泄漏电流也会增大，故介质损耗因数也增大。(3)水分对介质损耗因数的影响,水分的极性较强,受电场作用很容易发生极化,而增大油的电导电流,促使油的介质损耗因数明显增大,同时与测量时的湿度也有关,通常湿度的增大,会使油样溶解水增加(油吸潮引起的),而增大了介质损耗因数。(4)与油的净化程度和老化深度有关油的介质损耗因数的大小,与油品的化学组成无关,但与油的净化程度有关。如油在精制或再生后,由于净化的不*,而使油中留有残存的有机酸类.金属皂类等极性物质,在电场的作用下容易极化,增大油的电导电流,而使油的介质损耗因数增大。油的介质损耗因数还与油的老化深度有关,因油的老化程度越深,油中所含的有机酸和其他老化产物就越多,这些老化产物在电场的作用下,会增大油的电导电流,从而增大了油的介质损耗因数值。

机台型号：LJD-B型 陶瓷材料介电常数测试仪 一、概述：LJD-B型 陶瓷材料介电常数测试仪是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切 tanδ 及介电常数（ε ），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。 二、测试原理：采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q 值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至zui低，并保留了原Q 表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q 值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。本测试装置是由二只测微电容器组成，平板电容器一般用来夹持被测样品，园筒电容器是一只分辨率高达 0.0033pF 的线性可变电容器，配用仪器作为指示仪器，绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q 值变化，由园筒电容器的刻度读值变化值而换算得到的。同时，由平板电容器的刻度读值变化而换算得到介电常数。 三、仪器的技术指标：1、Q 值测量范围：2～10232、Q 值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；3、电感测量范围：自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能 4.5nH-100mH 分别有 0.1μ H、0.5μ H、2.5μ H、10μ H、50μ H、100μ H、1mH、5mH、10mH 九个电感组成。4、电容直接测量范围：1～460pF5、主电容调节范围： 30～500pF6、电容准确度 150pF 以下±1.5pF；150pF 以上±1%7、信号源频率覆盖范围 10KHz-70MHz （双频对向搜索 确保频率不被外界干扰）另有 LJD-C 频率范围 100KHZ-160M8、型号频率指示误差：1*10-6 ±1，Q 值合格指示预置功能范围：5～1000 Q 值自动锁定，无需人工搜索9、Q 表正常工作条件a. 环 境 温 度 ：0℃～+40℃ b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。10、其 他 a．消耗功率：约 25W；b.净重：约 7kg；c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。11、产品配置： a.测试主机一台； b.电感一套；c.夹具一 套 四、性能特点：1.平板电容器极片尺寸：φ38mmφ 50mm极片间距可调范围和分辨率：≥10mm，±0.01mm2.园筒电容器电容量线性：0.33pF / mm±0.05 pF长度可调范围和分辨率：≥0～20mm，±0.01mm3.夹具插头间距：25mm±1mm4.夹角损耗角正切值：≤4×10－4（1MHz 时）5、数显电极 五、 维修保养：本测试装置是由精密机械构件组成的测微设备，所以在使用和保存时要避免振动和碰撞，要求在不含腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存，不能自行拆装，否则其工作性能就不能保证，如测试夹具受到碰撞，或者作为定期检查，要检测以下几个指标：1.平板电容器二极片平行度不超过 0.02mm。2.园筒电容器的轴和轴同心度误差不超过 0.1mm。3.保证二个测微杆 0.01mm 分辨率。4.用精密电容测量仪（±0.01pF 分辨率）测量园筒电容器，电容呈线性率，从 0~20mm，每隔 1mm 测试一点，要求符合工作特性要求。

机台型号：LJD-B型 陶瓷材料介电常数测试仪 一、概述：LJD-B型 陶瓷材料介电常数测试仪是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切 tanδ 及介电常数（ε ），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。 二、测试原理：采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q 值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至zui低，并保留了原Q 表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为J确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q 值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。本测试装置是由二只测微电容器组成，平板电容器一般用来夹持被测样品，园筒电容器是一只分辨率高达 0.0033pF 的线性可变电容器，配用仪器作为指示仪器，绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q 值变化，由园筒电容器的刻度读值变化值而换算得到的。同时，由平板电容器的刻度读值变化而换算得到介电常数。 三、仪器的技术指标：1、Q 值测量范围：2～10232、Q 值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；3、电感测量范围：自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能 4.5nH-100mH 分别有 0.1μ H、0.5μ H、2.5μ H、10μ H、50μ H、100μ H、1mH、5mH、10mH 九个电感组成。4、电容直接测量范围：1～460pF5、主电容调节范围： 30～500pF6、电容准确度 150pF 以下±1.5pF；150pF 以上±1%7、信号源频率覆盖范围 10KHz-70MHz （双频对向搜索 确保频率不被外界干扰）另有 LJD-C 频率范围 100KHZ-160M8、型号频率指示误差：1*10-6 ±1，Q 值合格指示预置功能范围：5～1000 Q 值自动锁定，无需人工搜索9、Q 表正常工作条件a. 环 境 温 度 ：0℃～+40℃ b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。10、其 他 a．消耗功率：约 25W；b.净重：约 7kg；c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。11、产品配置： a.测试主机一台； b.电感一套；c.夹具一 套 四、性能特点：1.平板电容器极片尺寸：φ38mmφ 50mm极片间距可调范围和分辨率：≥10mm，±0.01mm2.园筒电容器电容量线性：0.33pF / mm±0.05 pF长度可调范围和分辨率：≥0～20mm，±0.01mm3.夹具插头间距：25mm±1mm4.夹角损耗角正切值：≤4×10－4（1MHz 时）5、数显电极 五、 维修保养：本测试装置是由精密机械构件组成的测微设备，所以在使用和保存时要避免振动和碰撞，要求在不含腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存，不能自行拆装，否则其工作性能就不能保证，如测试夹具受到碰撞，或者作为定期检查，要检测以下几个指标：1.平板电容器二极片平行度不超过 0.02mm。2.园筒电容器的轴和轴同心度误差不超过 0.1mm。3.保证二个测微杆 0.01mm 分辨率。4.用精密电容测量仪（±0.01pF 分辨率）测量园筒电容器，电容呈线性率，从 0~20mm，每隔 1mm 测试一点，要求符合工作特性要求。

薄膜塑料介电常数测试仪Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。测试仪正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。薄膜塑料介电常数测试仪1．a．消耗功率：约25W；b．净重：约7kg；c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。1 测量范围及误差 本电桥的环境温度为20±5℃，相对湿度为30％－80％条件下，应满足下列表中的技术指示要求。 在Cn＝100pF R4＝3183.2（W）（即10K/π）时 测量项目 测量范围 测量误差 电容量Cx 40pF--20000pF ±0.5% Cx±2pF 介质损耗tgd 0～1 ±1.5％tgdx±0.0001 在Cn＝100pF R4＝318.3（W）（即1K/π）时 测量项目 测量范围 测量误差 电容量Cx 4pF--2000pF ±0.5% Cx±3pF 介质损耗tgd 0～0.1 ±1.5％tgdx±0.0001薄膜塑料介电常数测试仪　一些介质在电场极化时也会产生损耗，这种损耗一般称极化损耗。位移极化从建立极化到其稳定所需时间很短（约为10-16～10-12s），这在无线电频率（5×1012Hz 以下）范围均可认为是极短的，因此基本上不消耗能量。其他缓慢极化（例如松弛极化、空间电荷极化等）在外电场作用下，需经过较长时间（10-10s或更长）才达到稳定状态，因此会引起能量的损耗。若外加频率较低，介质中所有的极化都能完全跟上外电场变化，则不产生极化损耗。若外加频率较高时，介质中的极化跟不上外电场变化，于是产生极化损耗。 [2]3）电离损耗　　电离损耗（又称游离损耗）是由气体引起的，含有气孔的固体介质在外加电场强度超过气孔气体电离所需要的电场强度时，由于气体的电离吸收能量而造成指耗，这种损耗称为电离损耗。4）结构损耗在高频电场和低温下，有一类与介质内邻结构的紧密度密切相关的介质损耗称为结构损耗。这类损耗与温度关系不大，耗功随频率升高而增大。试验表明结构紧密的晶体成玻璃体的结构损耗都很小，但是当某此原因（如杂质的掺入、试样经淬火急冷的热处理等）使它的内部结构松散后。其结构耗就会大大升高。薄膜塑料介电常数测试仪在交变电场作用下，电位移D与电场强度E均变为复数矢量，此时介电常数也变成复数，其虚部就表示了电介质中能量损耗的大小。D，E，J之间的相位关系图D，E，J之间的相位关系图如图所示，从电路观点来看，电介质中的电流密度为J=dD/dt=d（εE）/dt=Jτ+iJe式中Jτ与E同相位。称为有功电流密度，导致能量损耗；Je，相比较E超前90°，称为无功电流密度。定义tanδ=Jτ/Je=ε〞/εˊ式中，δ称为损耗角，tanδ称为损耗角正切值。损耗角正切表示为获得给定的存储电荷要消耗的能量的大小，是电介质作为绝缘材料使用时的重要评价参数。为了减少介质损耗，希望材料具有较小的介电常数和更小的损耗角正切。损耗因素的倒数Q=（tanδ）-1在高频绝缘应用条件下称为电介质的品质因素，希望它的值要高。 薄膜塑料介电常数测试仪紧密结构的晶体离子都排列很有规则，键强度比较大，如α-Al2O3、镁橄榄石晶体等，在外电场作用下很难发生离子松弛极化，只有电子式和离子式的位移极化，所以无极化损耗，仅有的一点损耗是由漏导引起的（包括本质电导和少量杂质引起的杂质电导）。这类晶体的介质损耗功率与频率无关，损耗角正切随频率的升高而降低。因此，以这类晶体为主晶相的陶瓷往往用在高频场合。如刚玉瓷、滑石瓷、金红石瓷、镁橄榄石瓷等结构松散的离子晶体，如莫来石（3Al2O32SiO2）、董青石（2MgO2Al2O35SiO2）等，其内部有较大的空隙或晶格畸变，含有缺陷和较多的杂质，离子的活动范围扩大。在外电场作用下，晶体中的弱联系离子有可能贯穿电极运动，产生电导打耗。弱联系离子也可能在一定范围内来回运动，形成热离子松弛，出现极化损耗。所以这类晶体的介质损耗较大，由这类品体作主晶相的陶瓷材料不适用于高频，只能应用于低频场合。整个显示屏共分为四行第一行：左边 信号源频率指示，共6位；右边 信号源虚拟频段指示（1-4）。第二行：左边 调谐电容指示值，4位；右边 电感指示值，4位。第三行：左边 Q值指示值；右边 Q值合格比较状态 。第四行：左边 Q值量程，手动/自动切换指示/调谐点自动搜索指示； 右边上部 Q值量程范围指示；右边下部 Q值调谐光带指示。

塑料介电常数测试仪在电力电容器中，介质损耗角正切值（tanδ）是电容器重要质量指标之一，电容器的介质损耗角正切值，对于判断电容器绝缘情况十分有效。在此温度范围内，随温度上升，τ减小，tgδ减小。PW主要决定于极化过程， PW也随温度上升而减小。（3）当温度继续升高，达到很大值时，离子热运动能量很大，离子在电场作用下的定向迁移受到热运动的阻碍，因而极化减弱，εr下降。电导损耗剧烈上升，tgδ也随温度上升急剧上升。技术参数：1．Q值测量a．Q值测量范围：2～1023。b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差 频率范围（100kHz～10MHz）： 频率范围（10MHz～160MHz）： 固有误差：≤5％±满度值的2% 固有误差：≤6％±满度值的2% 工作误差：≤7％±满度值的2% 工作误差：≤8％±满度值的2%2．电感测量范围：4.5nH~7.9mH3．电容测量：1~205 主电容调节范围：18～220pF 准确度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明4. 信号源频率覆盖范围 频率范围CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz, CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,5．Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。在交流电压下，电介质中的电流有功分量和无功分量的比值，就是该电力电容器的介质损耗角正切值tanδ。在一定的电压和频率下，它可以反映电介质内单位体积中能量损耗的大小，且它与电介质的体积尺寸大小无关。塑料介电常数测试仪试验报告 试验报告中应给出下列相关内容: 绝缘材料的型号名称及种类、供货形式、取样方法、试样的形状及尺寸和取样 日期(并注明试样厚度和试样在与电极接触的表面进行处理的情况) 试样条件处理的方法和处理时间 电极装置类型，若有加在试样上的电极应注明其类型 测量仪器 试验时的温度和相对湿度以及试样的温度 施加的电压 施加的频率 相对电容率ε(平均值) 介质损耗因数 tans(平均值) 试验 日期 相对电容率和介质损耗因数值以及由它们计算得到的值如损耗指数和损耗角，必要时，应给出与温度和频率的关系。塑料介电常数测试仪介质损耗简称“介损”，符号是tgδ，是测量变压器介质损耗因数也是检查变压器绝缘性的另一种方法，它将交流高压作用与高压侧实现测量幅值的大小。塑料介电常数测试仪什么是介质损耗介质损耗是指在交流电压作用下，流出的电流会转换成热能，这部分能量叫介质损耗，变压器介质损耗的大小影响变压器的质量，测量超出误差值应该彻底检查。影响的介质损耗的以下四点主要因数（1）频率的影响：温度不变时，在低频范围内，总损耗几乎与频率无关；在高频区，介损值很大，所以在高频条件下应采用介损很小的介质。（2）温度的影响：温度对介损的影响较大，在低温区介损随温度升高而增大，在某温度处达到峰值，温度继续升高时介损值反而减小，温度继续升高，介损减小至一定值后会出现拐点急剧增大，易导致介质击穿。（3）湿度的影响：电介质吸湿后，漏电阻减小，泄漏电流增加，介损值明显增大。（4）电场强度的影响：如果介质内部有气泡或气隙，当外加电压升高到一定值时，气泡或气隙中会出现游离放电，介质损耗值会显著升高。塑料介电常数测试仪测量方法的选择： 测量电容率和介质损耗因数的方法可分成两种:零点指示法和谐振法。1 零点指示法适用于频率不超过50 MHz时的测量。测量电容率和介质损耗因数可用替代法 也就是在接人试样和不接试样两种状态下，调节回路的一个臂使电桥平衡。通常回路采用西林电桥、变压器电桥(也就是互感藕合比例臂电桥)和并联 T型网络。变压器电桥的优点:采用保护电极不需任何外加附件或过多操作，就可采用保护电极 它没有其他网络的缺点。2 谐振法适用于10 kHz一几百MHz的频率范围内的测量。该方法为替代法测量，常用的是变电抗法。但该方法不适合采用保护电极。 注:典型的电桥和电路示例见附录。附录中所举的例子自然是不全面的，叙述电桥和侧量方法报导见有关文献和该种仪器的原理说明书。当绝缘材料用于高电场强度或高频的场合，应尽量采用介质损耗因数（即电介质损耗角正切tgδ，它是电介质损耗与该电介质无功功率之比）较低的材料。电介质损耗用作一种电加热手段，即利用高频电场（一般为0.3～300兆赫） 对电介质损耗大的材料（如木材、纸、陶瓷等）进行加热。频率高于 300兆赫时 ，达到微波波段 ，即为微波加热（ 家用微波炉即据此原理）。

塑料材料介电常数测试仪使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法）电感：线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值 9 100KHz 98 9.4 25mH 8 400KHz 138 11.4 4.87mH 7 400KHz 202 16 0.99mH 6 1MHz 196 13 252μH 5 2MHz 198 8.7 49.8μH 4 4.5MHz 231 7 10μH 3 12MHz 193 6.9 2.49μH 2 12MHz 229 6.4 0.508μH 1 25MHz，50MHz 233，211 0.9 0.125μH 安全措施（1）高压保护：试品短路、击穿或高压电流波动，能迅速切断高压输出。（2）CVT保护：设定自激电压的过流点，一旦超出设置的电流值，仪器自动退出测量，不会损坏设备。（3）接地检测：仪器有接地检测功能，未接地时不能升压测量。（4）防误操作：具备防误操作设计，能判别常见接线错误，安全报警。（5）防“容升”：测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升”效应，仪器能自动跟踪输出电压，保持试验电压恒定。 主要技术特性：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。Q值测量：a．Q值测量范围：2～1023。 b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差 频率范围：20kHz～10MHz； 固有误差：≤5％±满度值的2％；工作误差：≤7％±满度值的2％； 频率范围：10MHz～60MHz； 固有误差：≤6％±满度值的2％；工作误差：≤8％±满度值的2％。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至 低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。电感测量：a．测量范围：14.5nH~8.14H。b．分 档：分七个量程。 0.1～1μH， 1～10μH， 10～100μH， 0.1～lmH， 1～10mH， 10～100mH， 100 mH～1H。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。影响介电性能的因素 下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。1频率 因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的 。r和 tans几乎是恒定的，且被用作工程电介质材料，然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。 电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生，重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的.2温度 损耗指数在一个频率下可以出现一个大值，这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的，这取决于在测量温度下的介质损耗指数大值位置。3湿度 极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加，其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是必不可少的.

陶瓷介电常数测试仪高聚物的凝聚态结构及力学状态对介电性景响也很大。结品能抑制链段上偶极矩的取向极化，因此高聚物的介质损耗随结晶度升高而下降。当高聚物结晶度大于70%时，链段上的偶极的极化有时完全被抑制，介电性能可降至低值，同样的道理，非晶态高聚物在玻璃态下比在高弹态下具有更低的介质损耗。此外，高聚物中的增塑利、杂质等对介电性能也有很大景响。介质损耗（dielectric loss ）指的是绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。陶瓷介电常数测试仪a. 从后面板的频率监测端用BNC电缆连至频率计数器输入端； c．频率计数器技术要求测量范围：10Hz-1000MHz； 测量误差：1×10-6；测量灵敏度：30mV。d. 测试线要求：高频电缆SYV-50-3；e. Q表频率指示值与频率计数器读数值间的误差应符合二.4条的规定。陶瓷介电常数测试仪功能介绍1.自动停机：试样破坏后，移动横梁自动停止移动（或自动返回初始位置、2.自动换档：根据试验力大小自动切换到适当的量程，以确保测量数据的准确性3.条件模块：试验条件和试样原始数据可以建立自己的标准模块的形式存储；方便用户的调用和查看，节省试验时间4.自动变速：试验过程的位移速度或加载速度可按预先编制、设定的程序自动完成也可手动改变5.自动程制：根据试验要求，用户可方便的建立自己的试验模板（方法、，便于二次调用，可实现试验加载速度、应力、应变的闭环试验控制6.自动保存：试验结束，试验数据和曲线计算机自动保存，杜绝因忘记存盘而引起的数据丢失陶瓷介电常数测试仪a.软件系统：中英文Windows2000/XP/Win7平台下软件包b.自动储存：试验条件、试验结果、计算参数、标距位置自动储存。c.自动返回：试验结束后，试验机横梁会自动返回到试验初始位置。d.连续试验：一批试验参数设定完成后，可连续进行测试。e.多种曲线：同一图形上可显示多种不同的曲线：荷重--位移、荷重-时间、位移--时间、应力—应变、荷重—两点延伸等到多种曲线。f.曲线对比：同组试样的曲线可在同一张图上叠加对比。g.报告编辑：可按用户要求输出不同的报告形式。h.动态显示：测试过程中，负荷、伸长、位移及选中的试验曲线随着陶瓷介电常数测试仪产品的交收检验1. 检验环境要求a．环境温度：20℃±2℃，相对湿度50％； b．供电电源：220V±10V，50Hz±1Hz； c．被检设备要预热30分钟以上。2. 检验设备要求a. 设备应在计量后的有效使用期内；b. 检验设备应按仪器规定预热。3. Q值指示检验a. 检验设备：标准线圈一套；b. 把标准Q值线圈接入A/C表电感接线柱上； c．选择标准Q值线圈所规定的检定频率；d．A/C Q表的Q值读数的相对误差应符合二.1.C条中的固有误差之规定。4．调谐电容器准确度检验a. 测试时如发现干扰，应断开内部信号源；b. 设备连接如图六所示，连接线应尽量短，尽可能减小分布电容；电气部分： 电气部分由显示测量控制部分组成。显示测量控制部分实现各种控制、显示、数据采集、处理等功能。软件部分的操作请仔细阅读《软件说明书》。3 本机的几项主要功能：3.1 全开放性参数设置3.2 设置参数保存 3.3 浮动零点设置，可随时调整零点3.4 峰值保持及存储，常值跟随；3.5 在有效速度范围内，速度值任意设置；3.6 横梁移动过程中的速度快捷切换功能3.7 灵活的数据查询显示功能；3.8 过载停机保护功能；3.9 试验结束自动判断功能；3.10 极限位置保护等；本机采用机电一体化设计 ，主要由测力传感器、变送器、微处理器、负荷驱动机构、计算机及彩色喷墨打印机构成。它具有宽广准确的加载速度和测力范围，对载荷、位移的测量和控制有较高的精度和灵敏度，还可以进行等速加载、等速位移的自动控制试验。落地式机型 ，造型涂装均充分考量了现代工业设计，人体工程学之相关原则。主要特点:采用进口光电编码器进行位移测量，控制器采用嵌入式单片微机结构，内置功能强大的测控软件，集测量、控制、计算、存储功能于一体。具有自动计算应力、延伸率（需加配引伸计）、抗拉强度、弹性模量的功能，自动统计结果；自动记录大点、断裂点、点的力值或伸长量；采用计算机进行试验过程及试验曲线的动态显示，并进行数据处理，试验结束后可通过图形处理模块对曲线放大进行数据再分析编辑，并可打印报表。品质保证：3年保修，终身维护！注意事项1、该仪器初始的包装材料需小心保存，安装需由本公司的专业技术人员进行操作。2、若仪器由于任何原因必须返修，必须将其装入原纸箱中以防运输途中损坏。3、在开机前，操作者要首先熟悉操作方法。使用本机之前，请认真阅读使用说明书，充分理解之后，再开机使用。请爱护本机，正确使用，以便使该机永远保持较高的精度和良好的运行状态。

薄膜塑料介电常数介质损耗测试仪依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的解决方案。本仪器中测试装置是由平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。使用QBG-3E或AS2853A数字Q表具有自动计算介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）。薄膜塑料介电常数介质损耗测试仪信号源范围DDS数字合成信号10KHZ-70MHz10KHZ-110MHz100KHZ-160MHz信号源频率覆盖比7000:111000:116000:1信号源频率精度 6位有效数3×10-5 ±1个字 3×10-5 ±1个字 3×10-5 ±1个字 采样精度11BIT11BIT12BIT高精度的AD采样，了Q值的稳定性，以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围1-1000自动/手动量程1-1000自动/手动量程1-1000自动/手动量程Q分辨率4位有效数,分辨率0.14位有效数,分辨率0.14位有效数,分辨率0.1Q测量工作误差5%5%5%电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH1nH-8.4H ,分辨率0.1nH1nH-8.4H 分辨率0.1nH1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差3%3%3%调谐电容主电容30-540pF主电容30-540pF主电容17-240pF电容直接测量范围1pF～2.5uF1pF～2.5uF1pF～25nF调谐电容误差分辨率±1pF或1%0.1pF±1pF或1%0.1pF±1pF或1%0.1pF谐振点搜索自动扫描自动扫描自动扫描Q合格预置范围 5-1000声光提示5-1000声光提示5-1000声光提示Q量程切换自动/手动自动/手动自动/手动LCD显示参数F，L，C，Q，Lt，Ct波段等F，L，C，Q，Lt，Ct波段等F，L，C，Q，Lt，Ct波段等自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能()有有有大电容值直接测量显示功能()测量值可达2.5uF测量值可达2.5uF测量值可达25nF介质损耗系数精度 万分之三精度 万分之三精度 万分之一介损系数万分之一万分之一万分之一介电常数精度 千分之一精度 千分之一精度 千分之一材料测试厚度0.1mm-10mm0.1mm-10mm0.1mm-10mm薄膜塑料介电常数介质损耗测试仪固体：材料测量直径Φ50mm/Φ38mm/Φ6mm 可选；厚度可调≥ 15mm （二选一） 液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）薄膜塑料介电常数介质损耗测试仪特点：　　1、自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。　　2、能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。　　3、调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。　　4、LCD屏菜单式显示多参数：Q值、测试频率、调谐状态等。　　5、Q值量程自动/手动量程控制。　　6、DPLL合成发生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz测试信号。信号源输出口，所以本机又是一台合成信号源。　　7、测试装置符合国标GB/T 1409-2006，美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。薄膜塑料介电常数介质损耗测试仪介电常数测试仪按测试频率要求，需要配置不同量的电感器。　　例如：在1MHz测试频率时，要配250μH电感器，在50MHz测试频率时，要配0.1μH电感器等。　　高频介质样品(选购件)：　　在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。　　该样品由人工蓝宝石、石英玻璃、氧化铝陶瓷、聚四氟乙烯、环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性。

橡胶塑料介电常数测试仪主要测试橡胶，塑料等产品的有效电容率得出介电常数值 有效的电感一套可任意更换 实现不同的频率 可达到70M 赫兹 可以测试固体也可以测试液体：介电常数的定义 介电常数描述的是材料与电场之间的相互作用。介电常数 (K*)等于复数相对介电常数(ε*r)，或复数介电常数(ε*)与真空介电常数(ε0)的比值。复数相对介电常数的实部(ε' r) 表示外部电场有多少电能储存到材料中；对于绝大多数固体和液体来说，ε' r1。复数相对介电常数的虚部(ε"r) 称为损耗系数，表示材料中储存的电能有多少消耗或损失到外电场中。ε"r始终0，且通常远远小于ε' r。损耗系数同时包括介电材料损耗和电导率的效应。 如果用简单的矢量图表示复数介电常数，那么实部和虚部的相位将会相差90°。其矢量和与实轴(ε' r)形成夹角δ。通常使用这个角度的正切值tanδ或损耗角正切来表示材料的相对“损耗”。橡胶塑料介电常数测试仪技术指标 1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023。 b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。 c．标称误差项 目GDAT-A频率范围10kHz～10MHz；固有误差≤5％±满度值的2％；工作误差≤7％±满度值的2％；频率范围10MHz～160MHz；固有误差≤6％±满度值的2％；工作误差≤8％±满度值的2％。 电极分开调节 圆筒电极 与平板电极 分开测量不能用一体电极 精度较差！ 特点：量程高，精度好！无需换算彩色触摸屏系统可设置 无需切换广公司自主研发电性能专业检测仪器 序号设备名称设备型号测试指标备注1电压击穿试验仪BDJC10KV-50KV介电强度、泄漏电流介电强度、泄漏电流2体积表面电阻测定仪BEST-121体积电阻率、表面电阻率液晶显示3体积表面电阻率测定仪BEST-212体积电阻率、表面电阻率液晶触摸、电阻率直接测试4体积表面电阻率测定仪BC-330体积电阻率、表面电阻率液晶触摸、电阻率直接测试,可打印存储5导体电阻率测定仪BEST -19导体电阻率触摸屏6半导体电阻率测定仪BEST-300C半导体电阻率触摸屏7高频介电常数测试仪GDAT--A介电常数、介质损耗测试频率50HZ-160MHZ8工频介电常数测试仪BQS-37A介电常数、介质损耗测试频率50HZ9耐电弧试验仪BDH-20KV耐电弧微机控制、触摸屏控制10高压漏电起痕试验仪BLD-6000V高压等级测试电压6KV11耐电痕化指数测定仪BLD-600V漏电痕迹、电痕化CTI\PTI电压600V12拉力试验机BWN系列13氧指数试验仪经营理念： 一、诚信待户 顾客至上 全心全意为顾客考虑，使顾客能切身感受到人性化的仪器。 二、准检测 保质保量 准检测是我们的责任 保质保量是我们对客户的郑重承诺 三、技术创新理念 储备开发人才，引进世界技术，采用先进的设计理念，打造精良的检测仪器。

4 辅桥的技术特性： 工作电压±12V，50Hz 输入阻抗1012　W 输出阻抗0.6 W 放大倍数0.99 不失真跟踪电压 0～12V（有效值）5 指另装置的技术特性： 工作电压±12V 在50Hz时电压灵敏度不低于1X10-6V／格， 电流灵敏度不低于2X10-9A／格 二次谐波 减不小于25db 三次谐波 减不小于50db特点：优化的测试电路设计使残值更小◆ 高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术◆ LED 数字读出品质因数，手动/自动量程切换◆ 自动扫描被测件谐振点，标频单键设置和锁定，大大提高测试速度作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz。1 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。4 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。7 计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至低，彻底 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。标准配置：高配Q表 一只 试验电极 一只 （c类）电感 一套（9只）电源线 一条说明书 一份合格证 一份保修卡 一份为什么介电常数越大，绝缘能力越强？因为物质的介电常数和频率相关，通常称为介电系数。介电常数又叫介质常数，介电系数或电容率，它是表示绝缘能力特性的一个系数。所以理论上来说，介电常数越大，绝缘性能就越好。注：这个性质不是绝对成立的。对于绝缘性不太好的材料(就是说不击穿的情况下,也可以有一定的导电性)和绝缘性很好的材料比较,这个结论是成立的。 但对于两个绝缘体就不一定了。介电常数反映的是材料中电子的局域(local)特性,导电性是电子的全局(global)特征.不是一回事情的。补充：电介质经常是绝缘体。其例子包括瓷器(陶器)，云母，玻璃，塑料，和各种金属氧化物。有些液体和气体可以作为好的电介质材料。干空气是良好的电介质，并被用在可变电容器以及某些类型的传输线。蒸馏水如果保持没有杂质的话是好的电介质，其相对介电常数约为80。

产品名称：介电常数测试仪介绍产品型号：LJD-B、LJD-C、QS-37符合标准：GB/T1409、GB/T5594产品用途：固体、液体绝缘材料的介电常数及介质损耗测试适用材料：橡胶塑料薄膜、陶瓷玻璃、绝缘材料、高分子材料等测试范围：10KHZ-70MHZ、100KHZ-160MHZ主要配置：主机Q表、夹具、电感组成测试项目：介电常数、介质损耗、介质损耗因数、介质损耗角正切值使用人群：科研所、教学、质量监督局、军工单位等付款方式：全款发货 产品品牌：中航鼎力产品货期：1-3个工作日产品类别：电性能检测仪器 ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法1 本标准是以固定代号D150发布的。其后的数字表示原文本正式通过的年号；在有修订的情况下，为上一次的修订年号；圆括号中数字为上一次重新确认的年号。上标符号（ε）表示对上次修改或重新确定的版本有编辑上的修改。　　　　本标准经批准用于国防部所有机构。1.介电常数测试仪范围1.1 本试验方法包含当所用标准为集成阻抗时，实心电绝缘材料样本的相对电容率，耗散因子，损耗指数，功率因子，相位角和损耗角的测定。列出的频率范围从小于1Hz到几百兆赫兹。注1：在普遍的用法，“相对”一词经常是指下降值。1.2 这些试验方法提供了各种电极，装置和测量技术的通用信息。读者如对某一特定材料相关的议题感兴趣的话，必须查阅ASTM标准或直接适用于被测试材料的其它文件。2,3 1.3　　本标准并没有完全列举所有的安全声明，如果有必要，根据实际使用情况进行斟酌。使用本规范前，使用者有责任制定符合安全和健康要求的条例和规范，并明确该规范的使用范围。特殊危险说明见7.2.6.1和10.2.1。1　本规范归属于电学和电子绝缘材料ASTM D09委员会管辖，并由电学试验D09.12附属委员分会直接管理。当前版本核准于2011年8月1日。2011年8月发行。原版本在1922年批准。前一较新版本于2004年批准，即为　D150-98R04。DOI：10.1520/D0150-11。2　 第2章, “交流电损耗和电容率测量,” 工程电介质, Vol. IIB, 实心绝缘材料的电学性能, 测量技术, 3　 第1章, “固体电介质损耗,” 工程电介质,Vol IIA, 实心绝缘材料的电学性能: 分子结构和电学行为, 2.介电常数测试仪引用文件2.1 ASTM标准：4D374 　　　　固体电绝缘材料厚度的标准试验方法D618 　　　　试验用塑料调节规程D1082 　　　云母耗散因子和电容率（介电常数）试验方法D1531 　　　用液体位移法测定相对电容率（介电常数）与耗散因子的试验方法D1711 　　　电绝缘相关术语D5032 　　　用饱和甘油溶液方式维持恒定相对湿度的规程E104 　　　　用水溶液保持相对恒定湿度的标准实施规程E197 　　　　室温之上和之下试验用罩壳和服役元件规程（1981年取消）53.介电常数测试仪术语3.1 定义：3.1.1 这些试验方法所用术语定义以及电绝缘材料相关术语定义见术语标准D1711。3.2 本标准专用术语定义：3.2.1 电容，C，名词——当导体之间存在电势差时，导体和电介质系统允许储存电分离电荷的性能。3.2.1.1 讨论——电容是指电流电量 q与电位差V之间的比值。电容值总是正值。当电量采用库伦为单位，电位采用伏特为单位时，电容单位为法拉，即：C=q/V 　　　　　　　　　　（1）3.2.2 耗散因子（D），（损耗角正切），（tanδ），名词——是指损耗指数（K''）与相对电容率（K'）之间的比值，它还等于其损耗角（δ）的正切值或者其相位角（θ）的余切值（见图1和图2）。D=K''/K' 　　　　(2)ASTM标准手册卷次信息，可参见ASTM网站标准文件汇总。3.2.2.1 讨论——a：D=tanδ=cotθ=Xp/Rp=G/ωCp=1/ωCpRp　　　　　　　　(3)式中：G=等效交流电导，Xp=并联电抗，Rp=等效交流并联电阻， Cp=并联电容，ω=2πf（假设为正弦波形状）耗散因子的倒数为品质因子Q，有时成为储能因子。对于串联和并联模型，电容器耗散因子D都是相同的，按如下表示为：D=ωRsCs=1/ωRpCp　　　　　　　　(4)8.介电常数测试仪装置选择和电容和交流损耗测量方法8.1 频率范围——电容和交流损耗测量方法可分成三种：零值法，共振法和偏转法。任何特殊场合的某一方法选择将主要取决于工作频率。当频率范围为从小于1Hz直到几兆赫兹时，可以使用许多形式的电阻或电感比值臂电容桥。当频率低于1Hz时，要求采用特殊的方法和仪器。在500kHz~30MHz的较高频率下，可使用平行T形网络，因为它们采用了共振电路的一些特征。而当频率从500kHz到几百兆赫兹时，可使用共振法。偏转法只能在从25到60Hz的电源线频率下使用，使用时采用商用指示仪表，此时可以很容易获得要求的较高电压。8.2 直接和替代方法——在任何直接法中，电容和交流损耗值采用该方法所用所有电路元件形式来表示，因此受到所有误差的影响。通过替代方法可以获得更加大的精度，在此方法中可采用连接和断开的未知电容器进行读数。在这些不能改变的电路元件中的误差通常可以排除；然而，仍然保留了连接误差（注4）。8.3 两终端和三终端测量——两终端和三终端测量选择通常是在精度和便利性之间作出一个选择。在电介质样本上使用一个保护电极时，则几乎可排除边缘和接地电容的影响，如6.2的解释。规定采用一个保护终端，则可排除电路元件引入的一些误差。在另一方面，补充的电流元件和护罩通常要求提供相当多的保护终端到测量设备上，这可能增加好几倍的调节次数来获得要求的较后结果。电阻比值臂电容桥用保护电路很少被用于1MHz以上的频率。电导比值臂桥提供了一个保护终端，而不要求额外的电路或调节。平行T形网络和共振电路不提供保护电路。在偏转方法中，可以仅仅通过额外护罩来提供一个保护。一个两终端测微计电极系统的使用提供了许多三终端测量的优点，即几乎排除了边缘和接地电容的影响，但是可能增加观测或平衡调节的次数。其使用也可以排除在较高频率下连接导线的串联电感和电阻导致的误差，其可以在整个频率范围内使用，直至几百兆赫兹。当使用一个保护时，存在耗散因子测量值将小于真实值的可能性。这可能是由于在测量电路保护点和保护电极之间的任何点位置的保护电路的电阻导致的。这还可能来自高接触电阻，导线电阻，或者来自保护电极自身的高电阻。在极端场合，耗散因子将显示为负值。当没有保护的耗散因子高于由于表面泄漏导致的标准值时，该情况较可能存在。电容耦合到测量电极以及电阻耦合连接到保护点的任何点可成为困难的来源。常见保护电阻产生一个与ChClRg成比例的等效负值耗散因子，其中Ch和Cl为电极保护电容，Rg为保护电阻（14）。8.4 液体置换方法——液体置换方法使用时可以采用三终端或自屏蔽两终端试验池。采用三终端试验池，可能直接测定所用液体的电容率。自屏蔽两终端试验池提供了三终端试验池的许多优点，即几乎排除了边缘和接地电容的影响，同时还可以与没有规定一个保护的测量电路一起使用。如果其配有一个完整的测微计电极，在较高频率下连接导线的串联电导电容的影响将可以排除。8.5 精度——8.1所列方法精密考虑了电容率测定精度为±1%，而耗散因子测定精度为±(5% 0.0005)。这些精度取决于至少三个因素：电容和耗散因子观测的精度，所用电极布置导致的这些参量的修正值的精度以及电极之间真空静电容计算的精度。在较好的条件以及较低频率下，电容测量可具有±(0.1% 0.02pF)的精度，而耗散因子可具有±(2% 0.00005)的精度。在较高频率下，当电容达到±(0.5% 0.1pF)，耗散因子达到±(2% 0.0002)时，这些极限值可能增大。配有一个保护电极的电介质样本测量只具有电容误差和电极之间真空静电容计算的误差。受保护电极和保护电极之间间隙太宽导致的误差将通常为几十个百分比，同时修正值可以计算为几个百分比。当平均厚度为2mm时，样本厚度测量误差可为几十个百分比，此时假设可以测量至±0.005mm。圆形样本直径可以测量至具有±0.1%的精度，但是输入作为平方值。将这些误差合并，电极之间真空静电容可以测量至具有±0.5%的精度。与电极之间静电容不同的是，采用测微计电极进行测量的带接触式电极的样本不需要进行修正，假如样本直径足够小于测微计电极直径的话。当两终端样本以任何其它方式进行测量时，边缘电容计算和接地电容测定将涉及相当大的误差，因为每一种误差都可能为2~40%的样本电容。采用目前的这些电容知识，在计算边缘电容时，可能的误差为10%，而在评估接地电容时，其可能的误差为25%。因此涉及的总误差范围可为几十分之一的1%到10%或者更大。然而，当没有电极接地时，接地电容误差降至较小（6.1）。采用测微计电极，0.03阶的耗散因子可以测量准确到±0.0003的真实值，而0.0002阶的耗散因子可以测量准确到±0.00005的真实值。耗散因子范围通常为0.0001到0.1，但是其也可以超过0.1。在10~20MHz的频率下，可以推测0.0002阶的耗散因子。从2到5的电容率值可以测定准确到±2%。该精度受到电极之间真空静电容计算要求测量精度以及测微计电极系统误差的限制。9.介电常数测试仪抽样9.1 抽样说明见材料规范。10.介电常数测试仪程序10.1 样本制备10.1.1 概述——裁剪或模压试验样本至一个合适的形状和厚度，以能按照材料规范进行测试或者按照要求的测量精度，试验方法，和将执行的测量频率来进行测试。按照被测材料要求的标准方法来测量厚度。如果某一特殊材料没有标准，然后按照试验方法D374测量厚度。实际测量点应在材料电极覆盖区域上均匀分布。然后合适的测量电极应用到样本上（第7章）（除非将使用液体置换方法），尺寸和数量选择主要取决于是否将执行三终端或两终端测量，如果执行后者的两终端测量，是否将使用一个测微计电极系统（7.3）。样本电极材料选择将取决于应用的便利性和是否样本必须在高温和高相对湿度下进行调节（第7章）。优选通过一个移动显微镜来获得电极尺寸（如果电极不等效，则是指较小的电极），或者通过刻度为0.25mm的钢尺和一个允许放大至读数准确到0.05mm的放大镜来进行测量。在几个点上测量圆形电极的直径，或者矩形电极的尺寸，以获得一个平均值。10.1.2 测微计电极——样本面积等于或小于电极面积是可以接受的，但是样本的任何部分应不能延伸越过电极边缘。样本边缘应是光滑的，且垂直于薄板平面，同时也应具有清晰的边界，以使得薄板平面尺寸能够测量准确到0.025mm。厚度≤0.025直到≥6mm的厚度值都是可以接受的，这取决于平行板电极系统的较大可用板间距。样本应是扁平的，同时厚度尽可能均匀，且无空隙，外来物质夹杂物，皱纹或任何其它缺陷。已经发现采用一个几个厚度或很多厚度的组合，能更方便和准确得测试极其薄样本。每个样本的平均厚度应尽可能测量准确到±0.0025mm之内。在一些场合，特别是对于薄膜等材料，但通常不包括多孔材料，将优选通过由已知或测量的材料密度，样本面的面积以及在分析天平上通过准确测量获得的样本（或者组合样本，当在多个厚度薄板上进行测试时）质量来计算得出平均厚度。10.1.3 液体置换——当浸泡介质为一种液体时，如果标准液体电容率在样本电容率的大约1%之内（见试验方法D1531），样本大于电极是可以接受的。另外，对于7.3.3所示类型的试验池，将通常要求双份样本，尽管可以在这类试验池中每次测试单个样本。在任何场合，优选样本厚度应不小于大约80%的电极间距，当被测材料耗散因子小于大约0.001时，这变得特别重要。10.1.4 清洗——因为已经发现在某些材料场合，当不带电极进行测试时，样本表面上存在的导电污染物可对结果产生无规律的影响，因此需要采用一种合适的溶剂或其它方式（按照材料规范所述）来清洗试验样本，同时允许在试验之前彻底干燥样本（15）。当将在空气中在低频率（60~10000Hz）下进行测试时，清洗变得特别重要，但是如在无线电频率下进行测量时，清洗变得不那么重要。在采用一种液体介质进行试验的场合，样本清洗也将降低污染浸泡介质的趋势。被测材料适用的清洗方法参阅ASTM标准或其它规定本试验的文件。在清洗之后，只用镊子转移样本，然后储存在单独的信封套中，以防止在试验之前被进一步污染。10.2 测量——将带附着电极的试验样本放入一个合适的测量试验池中，然后采用具有要求灵敏度和精度的方法来测量样本的电容和直流损耗。对于日常工作，当较高精度不作要求时，或当样本终端都不用接地时，则没有必要将固体样本放入一个试验池中。102.1 警告——本试验执行期间，致命电压是一种潜在的危险。所有试验装置及电连接到其上的所有相关设备需进行适当的设计和安装以便能安全运行，这是非常重要的。试验期间个人可能接触的所有导电连接进行牢固接地。在执行任何试验时，提供方式来对试验期间处于高电压的所有零件进行接地，或者对试验期间获得一个感应电荷而具有电位的所有零件进行接地，或者对甚至在电压源断开之后还保持带电荷而具有电位的所有零件进行接地。认真指导所有操作者，以使得其能采用正确的程序来安全执行试验。当执行高电压试验时，特别是在压缩气体或在油中测试时，在击穿时释放的能量可能足够导致试验箱发生火灾，爆炸，或者破裂。设计试验设备，试验箱和试验样本，以使得这类情况的发生可能性降至较小，同时排除人身伤害的可能性。如果存在火灾风险，则需配置灭火设备。注2：将样本连接到测量电路所用的方法是非常重要的，特别是对于两终端测量。对于平行替代测量，试验方法D150先前推荐的临界间距连接方法可导致0.5pF的负误差。当两终端样本作为一个保护在一个试验池中进行测量时，可产生一个类似的误差。因为目前已知没有方法能用于评估该误差，当必须避免该数值的误差时，必须使用一种替代方法，也就是说，使用测微计电极，液体浸泡池，或者带受保护导线的三终端样本。注3：为获得电容和耗散因子而执行的测量细节说明以及由于测量电路而执行的任何必要的修正细节说明见商用设备提供的说明书所述。以下章节拟用于提供所需的补充说明。10.2.2 固定电极——准确地调节板间距至一个适合被测样本的值。特别对于低损耗材料，板间距和样本厚度应使得样本将占据不少于大约80%的电极间隙。对于在空气中的试验，不建议板间距小于大约0.1mm。当电极间距没有调节到一个合适值时，必须制备具有合适厚度的样本。测量试验池的电容和耗散因子，然后嵌入样本，同时使得样本位于测微计电极的电极或试验池之间的中心位置。重复测量。为获得较大的精度，如果可以使用测量设备，直接测定△C和△D。记录试验温度。10.2.3 测微计电极——测微计电极常与那些接触样本或其附着电极的电极一起使用。为执行一次测量，首先将样本夹紧在测微计电极之间，然后平衡或调整测量用网络。接着取出样本，重新设置电极，通过移动测微计电极使得更近地靠在一起，使得电路或桥臂中的总电容重新恢复至其原始值。 10.2.4 液体置换方法——当使用单种液体时，充满试验池中，然后测量电容和耗散因子。小心插入样本（或组合样本，如果使用了两个样本池），然后将其置于中心位置。重复测量。为获得较大的精度，如果可以使用测量设备，直接测定△C和△D。从液体中迅速地取出样本，以防止发生膨胀，然后在继续测试另一样本之前重新充满试验池至适当的液位。结果计算公式见表2给出。试验方法D1531详细描述了采用了本方法测量聚乙烯的应用。当受保护试验池为耐震结构时，按照准确温度控制条款，例如试验方法D1531中方法B的建议，则可通过在两种液体中测量样本来获得更大的精度。本方法也排除了已知样本尺寸的需要。该程序与以前的程序相同，除了使用两种不同电容率的流体之外（12,13,18）。使用空气作为靠前种流体是很方便的，因为这能避免测量期间清洗样本的必要性。受保护试验池的使用能允许测定所用液体或流体电容率测定。当采用一种或两种流体方法时，可能获得较大的精度，此时一种液体的电容率较接近匹配样本的电容率。注4：当采用两种流体方法时，可由任一组读数获得耗散因子（其中采用具有较高Kf'的那组数据可获得较准确的耗散因子）。10.3电容率，耗散因子和损耗指数的计算——对于在某一给定频率下测量的样本，所用测量电路将给出电容值，交流损耗值（用Q表示），耗散因子，或串联或并联电阻。当由观测电容值计算得出电容率时，这些值必须转换为并联电容，如果不是如此来表示，则使用公式5。当使用测微计电极时，表3给出的公式可用于计算样本的电容。对于不同的电极系统，表2给出的公式可用于计算电容率和耗散因子。当使用平行替代方法时，耗散因子读数必须乘以总电路电容与样本或试验池电容的比值。Q和串联或并联电阻也要求由观测值计算得出。电容率为：Kx'=Cp/Cv　　　　　　　　　（11） 　　　　平坦平行板和共轴圆柱的真空电容表达（6.4）见表1给出。当交流损耗采用串联电阻或并联电阻或电导来表示时，使用公式3和4给出的关系式来计算耗散因子（见3.1.2.1）。损耗指数等于耗散因子和电容率的乘积（见3.4）。10.4 修正——将样本连接到测量电路所用的导线具有电导和电阻，在高频率下，它们能较大测量的电容和耗散因子。当测量中已包括额外电容时，例如边缘电容和接地电容，这些电容在两终端测量时可产生电位，此时观测并联电容将增大，同时观测耗散因子将减小。这些影响的修正值在附录X1和表1中给出。11.介电常数测试仪报告11.1 报告以下信息：11.1.1 描述被测试的材料，也就是指名称，等级，颜色，制造商和其它相关数据，11.1.2 试验样本形状和尺寸， 11.1.3 电极和测量池的类型和尺寸，11.1.4 样本调节，和试验条件，11.1.5 测量方法和测量电路，11.1.6 施加电压，有效电压梯度和频率，11.1.7 并联电容值，耗散因子值或功率因子值，电容率值，损耗指数值以及评估的精度值。12.介电常数测试仪精度和偏差 12.1 精度——本规范提出的任一种试验方法的精度相关说明都不可能制定，因为精度受到被测材料和测量所用装置选择的影响。对于特定材料，鼓励这些试验方法用户探寻适用于特定材料的标准精度说明（也可见第8章）。12.2 偏差——任一种或所有这些试验方法未能制定偏差相关的说明。13.介电常数测试仪关键字13.1 直流损耗；电容；并联，串联，边缘现象，杂散；电导；接触式电极；电介质；介电常数；耗散因子；电绝缘材料；电极；液体置换；频率；边缘现象电容；受保护电极；Hz；损耗角；损耗因子；损耗正切值；非接触式电极；电容率；相位角；缺相角；功率因子；Q；品质因子；电抗；并联，串联；相对电容率；电阻；平行，串联；tan(Δ)；厚度

ZJD-C塑料介电常数测试仪主要技术特性：Q 值测量范围:2 ～ 1023,量程分档：30、100﹑300﹑1000，自动换档或手动换档固有误差:≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）工作误差:≤ 7 ％±满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤8％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）电感测量范围: 4.5nH ～ 140mH电容直接测量范围: 1 ～ 200pF主电容调节范围: 18 ～ 220pF主电容调节准确度: 100pF 以下 ± 1pF 100pF 以上 ± 1 ％信号源频率覆盖范围: 100kHz ～ 160MHz频率分段（虚拟）: 100 ～ 999.999kHz, 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz频率指示误差: 3 × 10 -5 ± 1 个字详细解读关于ZJD-C塑料介电常数测试仪一、高聚物分子的极化　　　　▲定义　　高聚物的介电常数是指高聚物在电场的作用下，表现出对静电能的储蓄的损耗的性质。　▲高聚物的极性与类别　　▲高聚物的极化（polarization）　　是电解质在电场的作用下分子内束缚电荷产生弹性位移或偶极子沿电场的从优取向，在电场方向的电解质两端呈现异号电荷的现象。高聚物的极化形式二、高聚物的介电性 ▲高聚物的介电常数（dielectric constant）　　△定义　　显然，高聚物极化程度越大，极板感应产生的电荷Q’越大，介电常数越大。　　△常见高聚物的介电常数▲高聚物的介电损耗（dielectric loss）△定义　　是电介质在交变电场的作用下，将一部分电能转变为热能而损耗的现象。一般用损耗角的正切值表示。　　△介电损耗的原因　　对非极性高聚物　在交变电场中，所含的杂质产生的漏导电流，载流子流动时，克服内摩擦阻力而作功，使一部分电能转变为热能，属于欧姆损耗。　　对极性高聚物　在交变电场中极化时，由于黏滞阻力，偶极子的转动取向滞后于交变电场的变化，致使偶极子发生强迫振动，在每次交变过程中，吸收一部分电能成热能而释放出来，属于偶极损耗。损耗的大小取决于偶极极化的松弛特性。△部分高聚物的介电损耗三、影响高聚物介电性的因素△高聚物分子结构对介电性的影响 规律：ω与T一定，极性↑、极性基团密度↑，介电常数与介电损耗↑。　　▓实例　前两表△温度对高聚物介电性的影响　　对非极性高聚物，温度升高，介电常数下降；对极性高聚物，随温度的升高而出现峰值。△湿度对高聚物介电性的影响△增塑剂对高聚物介电性的影响　　规律：对非极性高聚物，随加入增塑剂量的增加将曲线推向高频率区；对极性高聚物，随增塑剂量的增加，介电常数和介电损耗增大。　　▓实例　PVC△杂质对高聚物介电性的影响　　规律：导电性或极性杂质的存在，增加高聚物电导电流的极化率，使介电损耗增大。　　 ▓实例　HDPE杂质1.9%降到0.03%时，tanδ从14×10-4降到tanδ14×10-4

国标GBT1409介电常数介质损耗测试仪符合标准：ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法；GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法；一、符合标准：ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法；GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法；GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法；二、主机及夹具参数：项目/型号LJD-BLJD-ALJD-C信号源DDS数字合成信号频率范围10KHZ-70MHZ10KHZ-110MHZ100KHZ-160MHZ信号源频率覆盖比7000:111000:116000:1采样精度11BIT12BIT信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数Q值测量范围1～1000自动/手动量程Q值量程分档30、100、300、1000、自动换档或手动换档Q分辨率4位有效数，分辨率0.1Q测量工作误差＜5%电感测量范围1nH～8.4H,；分辨率0.11nH～140mH；分辨率0.1电感测量误差＜3%电容直接测量范围1pF～2.5uF1pF～25uF调谐电容误差分辨率±1pF或＜1%主电容调节范围30～540pF17～240pF谐振点搜索自动扫描自身残余电感扣除功能有大电容值直接显示功能有介质损耗系数精度万分之一介电常数精度千分之一LCD显示参数F,L,C,Q,LT,CT,波段等准确度150pF以下±1pF；150pF以上±1%Q合格预置范围5～1000声光提示环境温度0℃～+40℃消耗功率约25W电源220V±22V，50Hz±2.5Hz极片尺寸38mm/50mm(二选一)极片间距可调范围≥15mm材料测试厚度0.1-10mm夹具插头间距25mm±0.01mm 夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）测微杆分辨率0.001mm测试极片材料测量直径Φ38mm/50mm，厚度可调 ≥ 15mm三、配置：序号标准配置单位/数量1主机一台2S916夹具一套3电感组九只4电源线一根选配：USB模块、液体杯（测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm）我司经营产品包括：LJC系类电压击穿试验仪ATI系类体积表面电阻率测试仪LJD系类介电常数测试仪LDQ-2漏电起痕试验仪JF系类氧指数测定仪CZF系类水平垂直燃烧测定仪WDW系类电子万能试验机XRW系列热变形维卡温度测定仪XNR系类熔体流动速率测定仪ZJJ系类冲击试验机MDJ系类固体/液体等材料的密度测试仪3.介电常数测试仪术语3.1 定义：3.1.1 这些试验方法所用术语定义以及电绝缘材料相关术语定义见术语标准D1711。3.2 本标准专用术语定义：3.2.1 电容，C，名词——当导体之间存在电势差时，导体和电介质系统允许储存电分离电荷的性能。3.2.1.1 讨论——电容是指电流电量 q与电位差V之间的比值。电容值总是正值。当电量采用库伦为单位，电位采用伏特为单位时，电容单位为法拉，即：C=q/V 　　　　　　　　　　（1） 3.2.2 耗散因子（D），（损耗角正切），（tanδ），名词——是指损耗指数（K''）与相对电容率（K'）之间的比值，它还等于其损耗角（δ）的正切值或者其相位角（θ）的余切值（见图1和图2）。D=K''/K' 　　　　(2)4　相关ASTM标准，可浏览ASTM网站，或与ASTM客服联系。ASTM标准手册卷次信息，可参见ASTM网站标准文件汇总。5　该历史标准的较后批准版本参考网站。3.2.2.1 讨论——a：D=tanδ=cotθ=Xp/Rp=G/ωCp=1/ωCpRp　　　　　　　　(3) 式中：G=等效交流电导，Xp=并联电抗，Rp=等效交流并联电阻，Cp=并联电容，ω=2πf（假设为正弦波形状）耗散因子的倒数为品质因子Q，有时成为储能因子。对于串联和并联模型，电容器耗散因子D都是相同的，按如下表示为：D=ωRsCs=1/ωRpCp　　　　　　　　(4)串联和并联部分之间的关系满足以下要求：Cp=Cs/(1 D2) 　　　　　　　　　　　　(5)Rp/Rs=(1 D2)/D2=1 (1/D2)=1 Q2　　　　　　　　　　　　　(6)4、数据采集和tanδ自动测量控件（装入LJD-B)，实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化，tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理，因而提高了数据的精确度和测量的同一性，是人工读值和人工计算无法比拟的。三、主要技术特性及配置主要配置序号构 成型 号数量制 造 厂 家 1主机LJD-C1台测试装置（夹具）AS916 1台标准电感HLKI-11套2三电极系统(油中、空气中) 油中带油槽 各1套3油槽1台4日常维修工具1套说明书介电常数介质损耗测试仪作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz.LJD-C介电常数测试仪采用了多项技术。双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至z低，消除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。二、主要技术特性：*1.信号源: DDS数字合成信号 100KHZ-160MHZ*2.信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数3．Q值测量范围：1～10234．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；*5．电感测量范围：1nH～140mH 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能*6．电容直接测量范围：1pF～25nF 7．主电容调节范围： 17～240pF 8．准确度 150pF以下±1pF；150pF以上±1% 9．信号源频率覆盖范围100kHz～160MHz10．合格指示预置功能范围：5～100011．环境温度：0℃～+40℃；12．消耗功率：约25W；电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。13. S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：数显式微杆，平板电容器：极片尺寸： 38mm极片间距可调范围：≥15mm夹具插头间距：25mm±0.01mm 夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）测微杆分辨率：0.001mm测试极片：材料测量直径Φ38mm厚度可调 ≥ 15mm *液体杯：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm14. 介电常数测试仪/GB/T1409-2006介电常数介质损耗测试仪/相对介电常数测试仪/介质损耗测试仪/介质损耗因数测试仪/介质损耗角正切值测试仪/GB/T1693-2007硫化橡胶高频介电常数测试仪/工频介电常数测试仪/固体介电常数介质损耗测试仪/液体介电常数介质损耗测试仪/材料介质损耗和电容率测试仪/阻抗分析仪/GBT5594.4-2015陶瓷件介电常数测试仪/ASTM D150-11交流损耗特性和电容率测试仪/介电常数及介损测试仪电感组LKI-1：分别有0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十个电感组成。三、配置：主机 一台电感 九支夹具 一套液体杯 一套随机文件一套

《BH916介质损耗装置》(测试夹具)是测试系统的核心检测部件，它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距介电常数测试仪可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。BH916介质损耗测试装置是本公司研制的更新换代产品，精密的加工设计、精确的LCD数字读出、一键式清零功能，克服了机械刻度读数误差和圆筒形电容装置不可避免的测量误差。 介电常数测试仪高频介质损耗测试系统由BH916测试装置（夹具）、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT)、及LKI-1型电感器组成，它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的解决方案。 介电常数测试仪基于串联谐振原理的《GDAT高频Q表》是测试系统的二次仪表，其数码化主调电容器的创新设计代表了行业的高成就，随之带来了频率、电容双扫描GDAT的全新搜索功能。该表具有先进的人机界面，采用LCD液晶屏显示各测量因子：Q值、电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率10KHz-60MH或200KHz-160MHz，频率精度高达1×10-6。国标GB/T 1409-2006规定了用Q表法来测定电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)，把被测材料作为平板电容的介质，与辅助电感等构成串联谐振因子引入Q表的测试回路，以获取高的测试灵敏度。因而Q表法的测试结果更真实地反映了介质在高频工作状态下的特征。 介电常数测试仪GDAT高频Q表的全数字化界面和微机控制使读数清晰稳定、操作简便。操作者能在任意点频率或电容值的条件下检测Q值甚至tanδ，无须关注量程和换算，彻底摒弃了传统Q表依赖面板上印制的辅助表格操作的落后状况，它无疑是电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)测量的理想工具。 3、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT)，实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化，tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理，因而提高了数据的精确度和测量的同一性，是人工读值和人工计算无法比拟的。 4、一个高品质因数（Q)的电感器是测量系统必不可少的辅助工具，关乎测试的灵敏度和精度，在系统中它与平板电容（BH916）构成了基于串联谐振的测试回路。本系统推荐的电感器为LKI-1电感组，共由9个高性能电感器组成，以适配不同的检测频率。 附表一,介质损耗测试系统主要性能参数一览表BH916测试装置GDAT高频Q表平板电容极片Φ50mm/Φ38mm可选频率范围20KHz-60MHz/200KHz-160MHz间距可调范围≥15mm频率指示误差3×10-5±1个字夹具插头间距25mm±0.01mm主电容调节范围30-500/18-220pF测微杆分辨率0.001mm主调电容误差1%或1pF夹具损耗角正切值≦4×10-4 （1MHz)Q测试范围2～1023附表二,LKI-1电感组典型测试数据 线圈号 测试频率 Q值 分布电容p电感值 9100KHz989.425mH8400KHz13811.44.87mH7400KHz202160.99mH61MHz19613252μH52MHz1988.749.8μH44.5MHz231710μH 312MHz1936.92.49μH212MHz2296.40.508μH125MHz 50MHz233 2110.90.125μH技术指标和功能以随机说明书为准 平板电容极片：Φ50mm/Φ38mm可选间距可调范围：≥15mm 频率范围 ： 20KHz-60MHz/200KHz-160MHz频率指示误差：3×10-5±1个字夹具插头间距：25mm±0.01mm主电容调节范围：30-500/18-220pF测微杆分辨率：0.001mm主调电容误差：1%或1pF夹具损耗角正切值：≦4×10-4 （1MHz)Q测试范围：2～1023 1.深圳市华天启科技有限公司 62.平顶山神马鹰材包装有限公司2.深圳市兴绿科技有限公司 63.河南金水电缆集团有限公司3.深圳华晟达仪器设备有限公司 64.四川天威电子有限责任公司4.深圳质检院 65.四川川环科技股份有限公司5.深圳市欧普特工业材料有限公司 66.四川大学6.深圳市秦塑塑化材料科技有限公司 67.德阳盛宇科技有限公司7.广州奥翼电子科技有限公司 68.成都监帮密封件股份有限公司8.广东电网公司电力科学研究院 69.成都科技大学9.广州市日立电梯有限公司 70.成都电子科技大学10.广州威凯检测技术有限公司 71.核工业西南物理研究院11.广东银禧科技股份有限公司 7 2.北京化工大学12.广东产品质量监督研究所 73.北京理工大学13.广东新翼新材料有限公司 74.北京清华大学材料系、水利系14.惠州光阳科技有限公司 75.北京福瑞泰科技有限公司15.华南理工大学 76.北京航天凯恩化工科技有限公司（特种化工事业部）16.茂名质量检验监督所 77.北京世纪航凯电力科技股份有限公司17.东莞市南炬高分子材料有限公司 78.北京空军二十三厂18.东莞市华科东尼仪器有限公司 7 9.北京理工大学西山实验区19.东莞零度导热材料有限公司 80.北京四方变压器厂20.佛山市质量计量监督检测中心 81.北京磁谷新能源材料有限公司21.佛罗县复合材料有限公司 82.北京博闻时讯科技有限公司22.佛山金戈消防材料有限公司 83.北京中西远大科技有限公司23.佛山质量检验监督所 84. 北京市科学器材公司24.上海西邦电气有限公司 85.北京航天试验技术研究所25.上海申锐测试设备制造有限公司 86.北京欧陆伟业科技发展有限公司26.上海兆邦电力器材有限公司 87.山东德威克仪器有限公司27.上海祈峰实验仪器有限公司 88.山东阳谷电缆集团有限公司28.上海科技大学 89. 山东守护者电子科技有限公司29.浙江正泰电气股份有限公司 90.山东德威克仪器有限公司30.浙江德创环保科技股份有限公司 91.青岛安世科学仪器有限公司31.绍兴任飞碳黑有限公司 92.合肥博艺仪器设备有限公司32.乐清市正泰电器科技股份有限公司 93.济宁强科管材材料有限公司33.乐清市柳市正和量具仪器商行 94. 烟台华鹏仪器有限公司34.苏州市铭宇精密测量仪器有限公司 95.黑龙江天林科技有限公司35.佳施加德士（苏州）塑料有限公司 96.长春一汽轿车股份有限公司36.江苏矽时代材料科技有限公司 97. 辽阳易通科技有限公司37.江苏溧阳康达威实业有限公司 98.大庆五金总汇有限公司38.欧宝聚合物江苏有限公司 99.沈阳润锦科技有限公司39.苏州工业园区斯博自动化控制设备有限公司 100.中科院兰州理化所40.江苏苏美达成套设备工程有限公司 101.兰州汇天成工贸有限公司41.中广核三角洲（江苏）塑化有限公司 102.肯博（厦门）绝缘科技有限公司42.南通日芝电力材料有限公司 103.海南大学43.日本长濑精细化工（无锡）有限公司 104.西安交通大学44.万聚国际（杭州）供应链有限公司 105.西安永兴科技发展有限公司45.顺德特种变压器厂 106.陕西科技大学46.诸城质量检验监督所 107.阜新矿业集团有限公司47.无锡金邦科技有限公司 108.江西科盛环保股份有限公司48.无锡思耐德科技有限公司 109. 咸阳兴华高精表面技术有限公司49.南京博乐飞科学仪器有限公司 110.沧州特嘉汽车零部件有限公司50.南京电气集团 111.长沙康格医疗用品有限公司51.南京电气科技有限公司 112.贵州华泰药业有限公司52.安徽铜峰电子股份有限公司 113.贵州省材料产业技术研究院53.安徽省宁国市海伟电子有限公司 114.福建南平太阳电缆股份有限公司54.安徽国华新材料有限公司 115.福州申辉化工仪器有限公司55.中国科学院上海硅酸盐研究所 116.保定华创电气有限公司56.武汉欣景通仪器有限公司 117. 保定棉金内饰件制造有限公司57.武汉北分福诚仪器有限公司 118. 保定顺成内饰件材料有限公司58.天津市鼎轩科工贸有限公司 119.保定风帆美新蓄电池隔离板制造有限公司59.天津鼎轩工业材料有限公司60.天津中津塑胶制品有限公司61.星光橡胶（日本）天津有限公司

陶瓷材料的介质损耗主要来源于电导损耗、松弛质点的极化损耗和结构损耗。此外，表面气孔吸附水分、油污及灰尘等造成的表面电导也会引起较大的损耗。在结构紧密的陶瓷中，介质损耗主要来源于玻璃相。为了改善某些陶瓷的工艺性能，往往在配方中引人此易熔物质（如黏土），形成玻璃相，这样就使损耗增大。如滑石瓷、尖晶石瓷随黏土含量增大，介质损耗也增大。因面一般高频瓷，如氧化铝瓷、金红石等很少含有玻璃相。大多数电陶瓷的离子松弛极化损耗较大，主要的原因是：主晶相结构松散，生成了缺固济体、多品型转变等。高分子材料的损耗高分子聚合物电介质按单体单元偶极矩的大小可分为极性和非极性两类。一般地，偶极矩在0~0.5D（德拜）范围内的是非极性高聚物；偶极矩在0.5D以上的是极性高聚物。非极性高聚物具有较低的介电常数和介质损耗，其介电常数约为2，介质损耗小于10-4；极性高聚物则具有较高的介电常数和介质损耗，并且极性愈大，这两个值愈高。高聚物的交联通常能阻碍极性基团的取向，因此热固性高聚物的介电常数和介质损耗均随交联度的提高而下降。酚醛树脂就是典型的例子，虽然这种高聚物的极性很强，但只要固化比较完全，它的介质损耗就不高。相反，支化使分子链间作用力减弱，分子链活动能力增强，介电常数和介质损耗均增大。高聚物的凝聚态结构及力学状态对介电性景响也很大。结品能抑制链段上偶极矩的取向极化，因此高聚物的介质损耗随结晶度升高而下降。当高聚物结晶度大于70%时，链段上的偶极的极化有时完全被抑制，介电性能可降至低值，同样的道理，非晶态高聚物在玻璃态下比在高弹态下具有更低的介质损耗。此外，高聚物中的增塑利、杂质等对介电性能也有很大景响。介质损耗（dielectric loss ）指的是绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。介质损耗因数（dielectric loss factor）指的是衡量介质损耗程度的参数。功能介绍1.自动停机：试样破坏后，移动横梁自动停止移动（或自动返回初始位置、2.自动换档：根据试验力大小自动切换到适当的量程，以确保测量数据的准确性3.条件模块：试验条件和试样原始数据可以建立自己的标准模块的形式存储；方便用户的调用和查看，节省试验时间4.自动变速：试验过程的位移速度或加载速度可按预先编制、设定的程序自动完成也可手动改变5.自动程制：根据试验要求，用户可方便的建立自己的试验模板（方法、，便于二次调用，可实现试验加载速度、应力、应变的闭环试验控制6.自动保存：试验结束，试验数据和曲线计算机自动保存，杜绝因忘记存盘而引起的数据丢失

复杂玻璃中的介质损耗主要包括三个部分：电导耗、松弛损耗和结构损耗。哪一种损耗占优势，取决于外界因素温度和电场频率。高频和高温下，电导损耗占优势：在高频下，主要的是由弱联系离子在有限范围内移动造成的松弛损耗：在高频和低温下，主要是结构损耗，其损耗机理目前还不清楚，可能与结构的紧密程度有关。般来说，简单玻璃的损耗是很小的，这是因为简单玻璃中的“分子”接近规则的排列，结构紧密，没有弱联系的松弛离子。在纯玻璃中加人碱金属化物后。介质损耗大大增加，并且随着加人量的增大按指数规律增大。这是因为碱性氧化物进人玻璃的点阵结构后，使离子所在处点阵受到破坏，结构变得松散，离子活动性增大，造成电导损耗和松弛损耗增加。陶瓷材料的损耗陶瓷材料的介质损耗主要来源于电导损耗、松弛质点的极化损耗和结构损耗。此外，表面气孔吸附水分、油污及灰尘等造成的表面电导也会引起较大的损耗。在结构紧密的陶瓷中，介质损耗主要来源于玻璃相。为了改善某些陶瓷的工艺性能，往往在配方中引人此易熔物质（如黏土），形成玻璃相，这样就使损耗增大。如滑石瓷、尖晶石瓷随黏土含量增大，介质损耗也增大。因面一般高频瓷，如氧化铝瓷、金红石等很少含有玻璃相。大多数电陶瓷的离子松弛极化损耗较大，主要的原因是：主晶相结构松散，生成了缺固济体、多品型转变等。高分子材料的损耗高分子聚合物电介质按单体单元偶极矩的大小可分为极性和非极性两类。一般地，偶极矩在0~0.5D（德拜）范围内的是非极性高聚物；偶极矩在0.5D以上的是极性高聚物。非极性高聚物具有较低的介电常数和介质损耗，其介电常数约为2，介质损耗小于10-4；极性高聚物则具有较高的介电常数和介质损耗，并且极性愈大，这两个值愈高。

c类型介电常数测试仪技术参数：平板电容极片&Phi 50mm/&Phi 38mm可选频率范围20KHz-60MHz/200KHz-160MHz间距可调范围&ge 15mm频率指示误差3× 10-5± 1个字夹具插头间距25mm± 0.01mm主电容调节范围30-500/18-220pF测微杆分辨率0.001mm主调电容误差1%或1pF夹具损耗角正切值≦4× 10-4 （1MHz)Q测试范围2～1023满足标准：GBT 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法高频介质损耗测试系统由S916测试装置（夹具）、GDAT型高频Q表、数据采集和tandelta 自动测量控件（装入GDAT)、及LKI-1型电感器组成，它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tandelta )和介电常数(epsilon )自动测量的最佳解决方案。a类型介电常数测试仪的技术指标1．Q值测量a．Q值测量范围：2～1023。b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差频率范围20kHz～10MHz；固有误差5％满度值的2％；工作误差7％满度值的2％；频率范围10MHz～60MHz；固有误差6％ 满度值的2％；工作误差8％ 满度值的2％。2．电感测量范围：14.5nH~8.14H3．电容测量：1~ 460直接测量范围1～460pF主电容调节范围30～500pF150pF以下± 1.5pF；准确度150pF以上± 1％注：大于直接测量范围的电容测量见使用规则4．信号源频率覆盖范围频率范围10kHz～50MHz频率分段（虚拟）10～99.9999kHz100～999.999kHz1～9.99999MHz10～60MHz频率指示误差3times 10-5plusmn 1个字5．Q合格指示预置功能预置范围：5～1000。a. 环境温度：0℃～+40℃b．相对湿度：80％；c．电源：220Vplusmn 22V，50Hzplusmn 2.5Hz。7．其他a．消耗功率：约25W；b．净重：约7kg；c. 外型尺寸：mm：380*132*280。8．产品配置：a.测试主机一台；b.电感9只；c.夹具一 套满足标准：GBT 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tan&delta 及介电常数（&epsilon ），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。北广部分产品一览表 产品名称产品型号备注电压击穿试验仪BDJC-10-100KV计算机控制/自动体积表面电阻率测试仪BEST-121液晶显示滑动摩擦磨损试验机M-200橡胶塑料，复合材料万能拉力试验机WDW金属，非金属材料介电常数介质损耗测试仪GDAT-A固体液体材料热变形维卡温度仪BWK-300计算机/液晶塑料球压痕硬度计BQY-96液晶熔体流动速率测定仪BRT-400A计算机海绵泡沫压陷硬度测定仪HMYX-2000计算机/液晶海绵泡沫落球回弹仪HMLQ-500液晶海绵泡沫疲劳冲击测定仪HMPL-2000液晶海绵拉伸强度试验机HMLS-1000液晶海绵压缩永久变形试验机HMYS-200自动海绵泡沫切割机HMQG-100自动水平垂直燃烧试验仪BRS-A自动耐电弧试验仪BDH-20KV计算机漏电起痕试验仪BLD-A高压，低压灼热丝试验仪BZR-A自动橡胶塑料低温脆性冲击试验机BCX-A 单式样，多试样万能制样机BWN-A橡胶塑料缺口制样机BQK-A机械哑铃制样机BYL-A自动氧指数仪BYZ-3自动导热系数仪BJB计算机 北广电性能及橡胶塑料常用仪器 万能材料试验机（电子万能，金属材料，非金属材料，管材，高低温，液压伺服万能试验机）电压击穿试验仪（介电击穿强度，固体绝缘材料电气介电强度试验机）体积表面电阻率测定仪（可测试固体液体膏体粉末材料） 碳素材料电阻率测试仪 电线电缆导体半导体材料电阻率测试仪 橡胶塑料滑动摩擦试验机（国标，非国标，可定制） 介电常数介质损耗测试仪（可测试固体液体） 学校专用介电常数介质损耗测试仪 高频介电常数介质损耗测试仪 工频介电常数介质损耗测试仪 绝缘材料耐电弧性能试验仪 液显热变形维卡软化点温度测定仪 计算机控制热变形维卡温度试验机 塑料球压痕硬度计 熔体流动速率测定仪/熔融指数仪 计算机控制马丁耐热试验仪 海绵泡沫检测仪器 海绵泡沫压陷硬度测定仪 海绵泡沫落球回弹仪 海绵泡沫疲劳冲击测定仪 海绵拉伸强度试验机 海绵压缩永久变形试验机 海绵泡沫切割机 海绵密度测定仪 氧指数测定仪 海绵泡沫阻燃性能试验箱 产品保修承诺： 1、设备保修两年，终身服务，两年内非人为损坏的零部件免费更换，保修期内接到用户邀请后， 最迟响应时间为2小时内，在与用户确认故障后，我公司会在48小时内派工程师到达现场进行免费服务，尽快查清故障所在位置和故障原因，并向用户及时报告故障的原因和排除办法 。 2、保修期内人为损坏的零部件按采购（加工）价格收费更换。 3、保修期外继续为用户提供优质技术服务，在接到用户维修邀请后3天内派工程师到达用户现场进行维修。并享有优惠购买零配件的待遇。　 4、传感器过载及整机电路超压损坏不在保修范围内。

陶瓷介电常数介质损耗仪可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。仪器遵从标准：GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法　第4部分：介电常数和介质损耗角正切值测试方法。陶瓷介电常数介质损耗仪仪器的技术指标1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023； b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；c．标称误差频率范围10kHz～10MHz固有误差≤5％±满度值的2%工作误差≤7％±满度值的2%频率范围10MHz～70MHz固有误差≤6％±满度值的2%工作误差≤8％±满度值的2% 2．电感测量范围：1nH～8.4H3．电容测量：直接测量范围1～520p主电容调节范围30～550pF准确度100pF以下±1pF；100pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见使用方法。 4．信号源频率覆盖范围：频率范围10kHz～70MHzCH110～99.9999kHzCH2100～999.999kHzCH31～9.99999MHzCH410～70MHz频率指示误差3×10-5±1个字5．Q合格指示预置功能：预置范围：5～1000 6．Q表正常工作条件 a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。 7．消耗功率：约25W；陶瓷介电常数介质损耗仪依据国标GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法　第4部分：介电常数和介质损耗角正切值测试方法、GB/T 1693-2007 硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法.GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的最佳解决方案。本仪器中测试装置是由平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。陶瓷介电常数介质损耗仪产品特点：　　1、双扫描技术-测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。　　2、双测试要素输入-测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。　　3、双数码化调谐-数码化频率调谐，数码化电容调谐。　　4、自动化测量技术-对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。　　5、全参数液晶显示–数字显示主调电容、电感、Q 值、信号源频率、谐振指针。数字直接合成的信号源-确保信源的准确，频率的高精度、幅度的高稳定。　　7、计算机自动修正技术和测试回路优化—使测试回路残余电感减至低值，解决了Q读数值在不同频率时要加以修正的困惑。　　8、新增功能：电感测试时，仪器自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能，提高了在电感值测量时的精度。　　9、新增功能：大电容值直接测量显示功能。大电容值测量一个按键搞定。陶瓷介电常数介质损耗仪它以单片计算机控制仪器，测量核心采用了频率数字锁定、标准频率测试点自动设定、谐振点自动搜索、Q值量程自动转换、数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至较低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量时更为准确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。

介电常数/介质损耗测试系统系统组成：1. 主机：LJD-C/LJD-B/LJD-A 高频Q表功能名称：LJD-B LJD-ALJD-C信号源范围DDS数字合成信号10KHZ-70MHz10KHZ-110MHz 100KHZ-160MHz信号源频率覆盖比7000:111000:116000:1信号源频率精度 6位有效数3×10-5 ±1个字 3×10-5 ±1个字 3×10-5 ±1个字 采样精度11BIT11BIT12BIT高精度的AD采样，保证了Q值的稳定性，以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围1-1000自动/手动量程1-1000自动/手动量程1-1000自动/手动量程Q分辨率4位有效数,分辨率0.14位有效数,分辨率0.14位有效数,分辨率0.1Q测量工作误差5%5%5%电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH1nH-8.4H , 分辨率0.1nH1nH-8.4H 分辨率0.1nH1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差3%3%3%调谐电容主电容30-540pF主电容30-540pF主电容17-240pF电容直接测量范围1pF～2.5uF1pF～2.5uF1pF～25nF调谐电容误差分辨率±1 pF或1% 0.1pF±1 pF或1%0.1pF±1 pF或1%0.1pF谐振点搜索自动扫描自动扫描自动扫描Q合格预置范围 5-1000声光提示5-1000声光提示5-1000声光提示Q量程切换自动/手动自动/手动自动/手动LCD显示参数F，L，C，Q，Lt，Ct波段等F，L，C，Q，Lt，Ct波段等F，L，C，Q，Lt，Ct波段等自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能()有有有大电容值直接测量显示功能()测量值可达2.5uF测量值可达2.5uF测量值可达25nF介质损耗系数精度 万分之三精度 万分之三精度 万分之一醉小介损系数万分之一万分之一万分之一介电常数精度 千分之一精度 千分之一精度 千分之一材料测试厚度0.1mm-10mm0.1mm-10mm0.1mm-10mmUSB接口不支持不支持支持 2. S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置： 固体：材料测量直径 Φ50mm/Φ38mm/Φ6mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm （二选一） 液体：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）3. LKI-1电感组电感No电感量准确度%Q值≥分布电容约略值谐振频率范围 MHz 适合介电常数测试频率LJD-B-ALJD-C10.1μH±0.05μH2005pF20~70 31~10350MHz20.5μH±0.05μH2005pF10~3714.8~46.6 15MHz32.5μH±5%2005pF4.6~17.46.8~21.410MHz410μH±5%2006pF2.3~8.63.4~10.555MHz550μH±5%2006pF1~3.75 1.5~4.551.5MHz6100μH±5%2006pF0.75~2.641.06~3.20 1MHz71mH±5%1508pF0.23~0.840.34~1.020.5MHz85mH±5%1308pF0.1~0.330.148~0.390.25MHz910mH±5%908pF0.072~0.26 0.107~0.320.1MHz1014NH±5%808pF100MHZ注意: 可定制100MHz电感. LJD-A主机和LJD-B/LJD-C区别在于可以测试精度0.0001的材料介损值 三 LJD高频介电常数及介质蒜损耗测试系统主要测试材料:1 绝缘导热硅胶,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光学胶,环氧树脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龙/涤纶,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等 四 介电常数和介质损耗界面显示 LJD-C介电常数显示 LJD-A/LJD-B/LJD-C介质损耗系数显示

高分子材料的损耗高分子聚合物电介质按单体单元偶极矩的大小可分为极性和非极性两类。一般地，偶极矩在0~0.5D（德拜）范围内的是非极性高聚物；偶极矩在0.5D以上的是极性高聚物。非极性高聚物具有较低的介电常数和介质损耗，其介电常数约为2，介质损耗小于10-4；极性高聚物则具有较高的介电常数和介质损耗，并且极性愈大，这两个值愈高。高聚物的交联通常能阻碍极性基团的取向，因此热固性高聚物的介电常数和介质损耗均随交联度的提高而下降。酚醛树脂就是典型的例子，虽然这种高聚物的极性很强，但只要固化比较完全，它的介质损耗就不高。相反，支化使分子链间作用力减弱，分子链活动能力增强，介电常数和介质损耗均增大。高聚物的凝聚态结构及力学状态对介电性景响也很大。结品能抑制链段上偶极矩的取向极化，因此高聚物的介质损耗随结晶度升高而下降。当高聚物结晶度大于70%时，链段上的偶极的极化有时完全被抑制，介电性能可降至低值，同样的道理，非晶态高聚物在玻璃态下比在高弹态下具有更低的介质损耗。此外，高聚物中的增塑利、杂质等对介电性能也有很大景响。介质损耗（dielectric loss ）指的是绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。介质损耗因数（dielectric loss factor）指的是衡量介质损耗程度的参数。功能介绍1.自动停机：试样破坏后，移动横梁自动停止移动（或自动返回初始位置、2.自动换档：根据试验力大小自动切换到适当的量程，以确保测量数据的准确性3.条件模块：试验条件和试样原始数据可以建立自己的标准模块的形式存储；方便用户的调用和查看，节省试验时间4.自动变速：试验过程的位移速度或加载速度可按预先编制、设定的程序自动完成也可手动改变5.自动程制：根据试验要求，用户可方便的建立自己的试验模板（方法、，便于二次调用，可实现试验加载速度、应力、应变的闭环试验控制6.自动保存：试验结束，试验数据和曲线计算机自动保存，杜绝因忘记存盘而引起的数据丢失7.测试过程：试验过程及测量、显示、分析等均由微机完成8.批量试验：对相同参数的试样，一次设定后可顺次完成一批试验9.试验软件：中文Windows用户界面，操作简便10.显示方式：数据与曲线随试验过程动态显示11.曲线遍历：试验完成后，可对曲线进行放大再分析，用鼠标查到试验曲线上各点对应的数据

QS37系列陶瓷工频介电常数介质损耗测定仪QS37型介质损耗测试仪主要用于测量高压工业绝缘材料的介质损失角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路。电桥由桥体、指另仪、跟踪器组成，本电 桥特别适用测量各类绝缘油和绝缘材料的介损（tgδ）及介电常数（ε）。工频介电常数介质损耗测试仪测量范围及误差在Cn＝100pF R4＝3183.2（Ω）（即10K/π）时测量项目测量范围测量误差电容量Cx40pF--20000pF±0.5% Cx±2pF介质损耗tgδ0～1±1.5％tgδx±1×10-4在Cn＝100pF R4＝318.3（Ω）（即1K/π）时测量项目测量范围测量误差电容量Cx4pF--2000pF±0.5% Cx±2pF介质损耗tgδ0～0.1±1.5％tgδx±1×10-4辅桥的技术特性工作电压220V 50Hz输入阻抗〉10-12 MΩ输出阻抗〉0.6Ω放大倍数〉0.99不失真跟踪电压0～12V（有效值）指零装置的技术特性工作电压220V 50HZ在50Hz时电压灵敏度不低于1X10-6V／格电流灵敏度不低于2X10-9A／格二次谐波减不小于25db三次谐波减不小于50db 2.3 工作电压说明 本电桥原理上虽然不受实验电压的限制，但在实际使用中，Z高电压往往受副桥防护电压和桥臂功率以及标准电容的工作电压的限制，Z低电压又要受到测量灵敏度的限制。在使用中，本电桥桥顶A，B对V点的电压Z高不超过11V（见图2）R3桥臂各盘的电流不超过下列规定： 10X1kW Imax￡15mA 10X100W Imax￡120mA 10X10W Imax￡150mA用户在使用前应注意以上的问题。如不清楚，可根据实验电压及标准电容量，按以下公式来计算出大概的工作电流。I=ωV C2.4 电容量及介损显示精度： 电容量： ±0.5% Cx±3pF 介 损： ±0.5％tgd±1×10-42.5 辅桥的技术特性： 工作电压±12V，50Hz 输入阻抗1012 W 输出阻抗0.6 W 放大倍数0.99 不失真跟踪电压 0～12V（有效值）2.6 指另装置的技术特性： 工作电压±12V 在50Hz时电压灵敏度不低于1×10-6V／格， 电流灵敏度不低于2X10-9A／格 二次谐波 减不小于25db三次谐波 减不小于50db3.1电桥外形图 3.2电桥结构介绍QS37型高压电桥外形见图（１）所示。桥体部分为提高抗外部电磁场的干扰，结构上采用双屏蔽，主体由Ｃｘ，Ｃｎ，Ｒ３，Ｒ４及Ｃ４组成。QS37型高压电桥由Ｒ３，Ｒ４和Ｃ４两桥臂组成半桥，另外半桥由Ｃｘ，Ｃｎ两桥臂通过双屏蔽电缆线与Ｒ３，Ｒ４和Ｃ４连接，组成完整的西林电桥。电桥通过在顶桥A、B之间产生的不平衡电压，并在指另仪的μA表上观察电桥平衡情况。为了消除寄生参数，提高测量精度，本电桥采用等电位方法来消除寄生参数对主桥影响。这一部分辅与指另仪在本电桥中，已和主桥体有机的结合为一体。3.3 特点①辅桥自动平衡，简化操作过程。②桥体具有双层屏蔽，抗干扰能力强。③电桥所用转换开关，均采用轻压力开关，具有分档清淅、手感好、接触性能良好、摩擦小、使用寿命长、全封闭不用清洗等优点。④电桥采用的一切外部插头，插座，均能与国外高压标准电容器通用。⑤为使电桥在实际使用中处于安全工作状态在桥顶Ａ，Ｂ与地之间各有一个放电管，起辉电压为交流６０Ｖ左右。3.4桥体的组成 电桥各臂的组成 di一臂：由被测对象Ｃｘ组成Ｚ1。 第二臂：由高压标准电容器Ｃｎ组成Ｚ2。 第三臂：由十进电阻器１０×（１０００＋１００＋１０＋１＋０．１）欧姆和滑线电阻（０－0.13）欧姆组成Ｚ3。 第四臂：由十进电容臂１０×（０.１＋０.０１＋０．００１＋０．０００１）ＵＦ和可变电容器１００ｐＦ组成Ｃ４再与电组Ｒ４并联组成Ｚ４。4.电桥工作原理QS37型高压电桥采用典型的西林电桥线路。结构采用了双层屏蔽。并通过辅桥的辅助平衡，消除寄生参数对电桥平衡的影响。辅桥由电位自动电位跟踪器与内层屏蔽（Ｓ）组成。自动电位跟踪器由电子元器件组成。它在桥顶Ｂ处取一输入电压，通过放大后，在内屏蔽（Ｓ）产生一个与Ｂ电位相等的电压。当电桥平衡时，Ａ，Ｂ，Ｓ三点电位必然相等，从而达到自动跟踪的目的,见图2。本电桥在平衡过程中，辅桥采用自动电位跟踪，在主桥平衡过程的同时，辅桥也自动跟踪始终处于平衡的状态，用户只要对主桥平衡进行操作就能得到可靠的所需数据。同时也有效地抑制了电压波动对平所带来的影响。在指另部分，采用了指针式电表指示，视觉直观，分辨清楚，克服了以往振动式检流计的缺点。 4.1 测试原理及公式推导： 本装置所得测试结果，是基于电桥处于平衡的基础上得到的数据。当电桥处于来平衡状态时（桥顶Ａ，Ｂ处于电位不相等）指另仪上就有电流指示。其表达式为：Ｉg={(Ｚ2Ｚ3-Ｚ1Ｚ4)／[Ｚg(Ｚ1+Ｚ2)+Ｚ1Ｚ2(Ｚ3+Ｚ4)Ｚ3Ｚ4(Ｚ1+Ｚ2)}Ｕ式中： Ｕ为施加在桥体上的测量电压 Ｚ1,Ｚ2,Ｚ3,Ｚ4分别为桥体四个桥臂的组抗。 Ｚｇ为指另仪的输入阻抗。要使电桥平衡（Ｉｇ）就必使表达式中的Ｚ2Ｚ3－Ｚ1Ｚ4=０，而以上阻抗又可通过换算，Z后得出以下结论： Ｃｘ＝Ｒ４×Ｃｎ／Ｒ３ tgd = ω Ｒ４ Ｃ４为方便用户读数实际电桥中tgd的数据为直读在10K/π为C4直读、1K/π为C4乘以0.1我们采取相对固定Ｒ４电阻，分别调节Ｒ３和Ｃ４使桥路平衡，从而测得试品的电容值Ｃｘ和介质损耗ｔｇ。本电桥为了直读出损耗值，取电阻Ｒ４的阻值为角频率（ｆ＝５０Ｈｚ）若干倍。4.2 公式说明a．频率对介质损耗正公式： 本电桥额定的工作频率ｆ＝５０Ｈｚ，在实际工作频率偏离额定频率时可用修正式进行修正： ｔｇ＝ｆ'tgd／f 式中:ｆ为额定工作频率（ｆ＝５０Ｈｚ） ｆ'为实际工作频率 tgd 为电桥测得损耗值 tgd 为被测试品介质耗角正切的实际值 b．电容值Ｃｘ的测量 Ｃｘ＝Ｒ４Ｃｎ／（Ｒ３＋Ｒ０） Ｃｘ 被测电容值 Ｒ４，Ｃｎ 为电桥固有值 Ｒ３ 为桥读数值 Ｒ０为Ｒ３桥臂上零电阻 上式中可知Ｒ３电阻越大，Ｒ０对测量误差影响越小。C.将平整干净的试样放入上、下电极之间，试样应覆盖整个测量电极表面，在高压电桥上测量并记录此时的电容CX和损耗角tgδ，此时tgδ为直读值。εr以下式计算：εr=CX*h/(0.08854*A)式中:CX---实测电容值(pF)h----试样总厚度(cm)A(电极有效面积)-----π(d+0.2) 2/4(cm) 25.装置的成套性①ＱＳ37型高压电桥 1套②FY108型电位自动跟踪器 1台③AZ21b型指零仪 1台④双屏蔽测量电缆 2根⑤转换接线盒 1只⑥电源线 1根⑦使用说明书 1份

工频介电常数及介质损耗测试仪LJD-C QS37系列一、产品概述本仪器是一种的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，测量各种绝缘材料、绝缘套管、绝缘液体、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）。具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压，抗干扰能力强， 测试时间短等优点。本测试仪采用变频电源技术，利用单片机和电子技术进行自动频率变换、模/数转换和数据运算，达到抗干扰能力强、测试速度快、精度高、操作简便的功能。二、性能特点1、仪器测量准确度高，可满足油介损测量要求，因此只需配备标准油杯，和专用测试线即可实现油介损测量。2、采用变频技术来消除现场50Hz工频干扰，即使在强电磁干扰的环境下也能测得可靠的数据。3、过流保护功能，在试品短路或击穿时仪器不受损坏。4、内附标准电容和高压电源，便于现场测试，减少现场接线。5、仪器采用大屏幕液晶显示器，测试过程通过汉字菜单提示既直观又便于操作。三、技术指标技术指标 1、试验环境温度：10℃～30℃（LCD液晶屏应避免长时间日照） 2、相对湿度：20%～80% 3、供电电源：电压：220V±10% 4、外形尺寸：长*宽*高=470mm*320mm*360mm 5、重量：16kg 6、输出功率：1.5KVA 7、显示分辨率：3位、4位（内部全是6位） 8、测试方法：正接法、反接法、外接试验电压法 9、测量范围：内接试验电压：tgδ：99.9%Cx ：50 pF＜Cx（2.5KV）＜0.3UF2.5KV Cx＜0.3uF0.5KV Cx＜1.5uF外接试验电压：由外接试验变压器输出功率而定 10、基本测量误差：介质损耗（tgδ）：1%±0.09% 电容容量（Cx）：1.5%±1pF 11、分辨率： tgδ：0.01% Cx ：0.1pF 12、试样要求：直径为50MM、100MM、38MM四、配套清单序号 名称 数量 单位1 介损自动测试仪 1 台2 高压输出屏蔽电缆 1 根3 试品输入电缆 1 根4 AC 220V/10A电源线 1 根5 打印纸 2 卷6 保险管5A 4 支7 接地线 1 根8 出厂检验报告 1 份9 产品说明书 1 份五、电极选择 选择不同的电极测试固体和液体材料1、 固体材料电极直径分别有:38mm 50mm 100mm,随机标配一套电极100MM(也可以根据试样规格进行订制)2、 测试液体需要容量为：15cm３

高聚物的交联通常能阻碍极性基团的取向，因此热固性高聚物的介电常数和介质损耗均随交联度的提高而下降。酚醛树脂就是典型的例子，虽然这种高聚物的极性很强，但只要固化比较完全，它的介质损耗就不高。相反，支化使分子链间作用力减弱，分子链活动能力增强，介电常数和介质损耗均增大。高聚物的凝聚态结构及力学状态对介电性景响也很大。结品能抑制链段上偶极矩的取向极化，因此高聚物的介质损耗随结晶度升高而下降。当高聚物结晶度大于70%时，链段上的偶极的极化有时完全被抑制，介电性能可降至低值，同样的道理，非晶态高聚物在玻璃态下比在高弹态下具有更低的介质损耗。此外，高聚物中的增塑利、杂质等对介电性能也有很大景响。介质损耗（dielectric loss ）指的是绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。介质损耗因数（dielectric loss factor）指的是衡量介质损耗程度的参数。功能介绍1.自动停机：试样破坏后，移动横梁自动停止移动（或自动返回初始位置、2.自动换档：根据试验力大小自动切换到适当的量程，以确保测量数据的准确性3.条件模块：试验条件和试样原始数据可以建立自己的标准模块的形式存储；方便用户的调用和查看，节省试验时间4.自动变速：试验过程的位移速度或加载速度可按预先编制、设定的程序自动完成也可手动改变5.自动程制：根据试验要求，用户可方便的建立自己的试验模板（方法、，便于二次调用，可实现试验加载速度、应力、应变的闭环试验控制6.自动保存：试验结束，试验数据和曲线计算机自动保存，杜绝因忘记存盘而引起的数据丢失7.测试过程：试验过程及测量、显示、分析等均由微机完成8.批量试验：对相同参数的试样，一次设定后可顺次完成一批试验9.试验软件：中文Windows用户界面，操作简便10.显示方式：数据与曲线随试验过程动态显示11.曲线遍历：试验完成后，可对曲线进行放大再分析，用鼠标查到试验曲线上各点对应的数据

陶瓷材料的损耗陶瓷材料的介质损耗主要来源于电导损耗、松弛质点的极化损耗和结构损耗。此外，表面气孔吸附水分、油污及灰尘等造成的表面电导也会引起较大的损耗。在结构紧密的陶瓷中，介质损耗主要来源于玻璃相。为了改善某些陶瓷的工艺性能，往往在配方中引人此易熔物质（如黏土），形成玻璃相，这样就使损耗增大。如滑石瓷、尖晶石瓷随黏土含量增大，介质损耗也增大。因面一般高频瓷，如氧化铝瓷、金红石等很少含有玻璃相。大多数电陶瓷的离子松弛极化损耗较大，主要的原因是：主晶相结构松散，生成了缺固济体、多品型转变等。高分子材料的损耗高分子聚合物电介质按单体单元偶极矩的大小可分为极性和非极性两类。一般地，偶极矩在0~0.5D（德拜）范围内的是非极性高聚物；偶极矩在0.5D以上的是极性高聚物。非极性高聚物具有较低的介电常数和介质损耗，其介电常数约为2，介质损耗小于10-4；极性高聚物则具有较高的介电常数和介质损耗，并且极性愈大，这两个值愈高。高聚物的交联通常能阻碍极性基团的取向，因此热固性高聚物的介电常数和介质损耗均随交联度的提高而下降。酚醛树脂就是典型的例子，虽然这种高聚物的极性很强，但只要固化比较完全，它的介质损耗就不高。相反，支化使分子链间作用力减弱，分子链活动能力增强，介电常数和介质损耗均增大。高聚物的凝聚态结构及力学状态对介电性景响也很大。结品能抑制链段上偶极矩的取向极化，因此高聚物的介质损耗随结晶度升高而下降。当高聚物结晶度大于70%时，链段上的偶极的极化有时完全被抑制，介电性能可降至低值，同样的道理，非晶态高聚物在玻璃态下比在高弹态下具有更低的介质损耗。此外，高聚物中的增塑利、杂质等对介电性能也有很大景响。介质损耗（dielectric loss ）指的是绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。介质损耗因数（dielectric loss factor）指的是衡量介质损耗程度的参数。

ZJD-A型固体绝缘材料介电常数测试仪技术方案书一、符合标准：ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法；GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法；GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法；二、主机及夹具参数：项目/型号ZJD-BZJD-AZJD-C信号源DDS数字合成信号频率范围10KHZ-70MHZ10KHZ-110MHZ100KHZ-160MHZ信号源频率覆盖比7000:111000:116000:1采样精度11BIT12BIT信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数Q值测量范围1～1000自动/手动量程Q值量程分档30、100、300、1000、自动换档或手动换档Q分辨率4位有效数，分辨率0.1Q测量工作误差＜5%电感测量范围1nH～8.4H,；分辨率0.11nH～140mH；分辨率0.1电感测量误差＜3%电容直接测量范围1pF～2.5uF1pF～25uF调谐电容误差分辨率±1pF或＜1%主电容调节范围30～540pF17～240pF谐振点搜索自动扫描自身残余电感扣除功能有大电容值直接显示功能有介质损耗系数精度万分之一介电常数精度千分之一LCD显示参数F,L,C,Q,LT,CT,波段等准确度150pF以下±1pF；150pF以上±1%Q合格预置范围5～1000声光提示环境温度0℃～+40℃消耗功率约25W电源220V±22V，50Hz±2.5Hz极片尺寸38mm/50mm(二选一)极片间距可调范围≥15mm材料测试厚度0.1-10mm夹具插头间距25mm±0.01mm夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）测微杆分辨率0.001mm测试极片材料测量直径Φ38mm/50mm，厚度可调 ≥ 15mm三、配置：序号标准配置单位/数量1主机一台2S916夹具一套3电感组九只4电源线一根选配：USB模块、液体杯（测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm）我司经营产品包括：ZJC系类电压击穿试验仪ATI系类体积表面电阻率测试仪ZJD系类介电常数测试仪LDQ-2漏电起痕试验仪JF系类氧指数测定仪CZF系类水平垂直燃烧测定仪WDW系类电子万能试验机XRW系列热变形维卡温度测定仪XNR系类熔体流动速率测定仪ZJJ系类冲击试验机MDJ系类固体/液体等材料的密度测试仪WZY系类万能材料制样机我司产品在全国各省市、地区均有用户、其中包括：质检单位、科研院所、大中院校、国家电网、电科院、材料学院、安监局、应急管理厅、航空航天、纳米研究、能源、电子半导体、涂料、造纸、石油化工、汽车研究、大型工厂、生产企业实验室等。产品范围包括：电学、力学、燃烧、制样、建材、橡胶塑料薄膜等。

薄膜塑料介电常数测试定仪Q表正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。薄膜塑料介电常数测试定仪其他a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。薄膜塑料介电常数测试定仪1. 平板电容器极片尺寸：φ25.4mm\φ50mm极片间距可调范围和分辨率：≥10mm，±0.01mm2. 园筒电容器电容量线性：0.33pF / mm±0.05 pF长度可调范围和分辨率：≥0～20mm，±0.01mm3. 夹具插头间距：25mm±1mm4. 夹角损耗角正切值：≤4×10－4（1MHz时）5、数显电极薄膜塑料介电常数测试定仪维修保养本测试装置是由精密机械构件组成的测微设备，所以在使用和保存时要避免振动和碰撞，要求在不含腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存，不能自行拆装，否则其工作性能就不能保证，如测试夹具受到碰撞，或者作为定期检查，要检测以下几个指标：1. 平板电容器二极片平行度不超过0.02mm。2. 园筒电容器的轴和轴同心度误差不超过0.1mm。3. 保证二个测微杆0.01mm分辨率。4. 用精密电容测量仪（±0.01pF分辨率）测量园筒电容器，电容呈线性率，从0~20mm，每隔1mm测试一点，要求符合工作特性要求。薄膜塑料介电常数测试定仪性能特点◎ 4.3寸TFT液晶显示◎ 中英文可选操作界面◎ 最高1MHz的测试频率，10mHz分辨率◎ 平衡测试功能◎ 变压器参数测试功能◎ 最高测试速度:13ms/次◎ 电压或电流的自动电平调整（ALC）功能◎ V、I 测试信号电平监视功能◎ 内部自带直流偏置源◎ 可外接大电流直流偏置源◎ 10点列表扫描测试功能◎ 30Ω、50Ω、100Ω可选内阻◎ 内建比较器，10档分选和计数功能◎ 内部文件存储和外部U盘文件保存◎ 测量数据可直接保存到U盘◎ RS232C、 USB 、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口显示范围|Z|, R, X 0.01mΩ —99.9999 MΩDCR 0.01 mΩ —99.9999 MΩ|Y|, G, B 0.00001µ S —99.9999 SC 0.00001 pF —9.9999 FL 0.00001 µ H —9999.99 HD 0.00001 —9.9999Q 0.00001 —9999.9θ(DEG) -179.999º —179.999 º θ(RAD) -3.14159 —3.14159

绝缘材料的介质损耗自动测量解决方案简介 满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法 概述介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。 仪器的技术指标 1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023。 b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。 c．标称误差项 目GDAT-A频率范围10kHz～10MHz；固有误差≤5％±满度值的2％；工作误差≤7％±满度值的2％；频率范围10MHz～160MHz；固有误差≤6％±满度值的2％；工作误差≤8％±满度值的2％。 电极分开调节 圆筒电极 与平板电极 分开测量不能用一体电极 精度较差！ 特点：量程高，精度好！无需换算彩色触摸屏系统可设置 无需切换 工作原理 1．“Q”的定义 Q表是根据串联谐振原理设计，以谐振电压的比值来定位Q值。“Q”表示元件或系统的“品质因数”，其物理含义是在一个振荡周期内贮存的能量与损耗的能量之比。对于电抗元件(电感或电容)来说，即在测试频率上呈现的电抗与电阻之比。 或 …………………………… (1) 图 一在图（一）所示的串联谐振电路中，所加的信号电压为Ui，频率为f，在发生谐振时 或 ………………………………(2) 回路中电流 …………………………………………(3) 故电容两端的电压 …………………………………(4) 即谐振时电容上的电压与输入电压之比为Q。Q表就是按上述原理设计的。 整机工作原理： 工作原理框图如图二所示。它以ATM128单片机作为控制核心，实现对各种功能的控制。DDS数字直接合成信号源为Q值测量提供了一个优质的高频信号。信号源输出一路送到程控衰减器和自动稳幅放大控制单元，该单元根据CPU的指令对信号衰减后送往信号激励放大器，同时对信号检波后送出一直流控制信号到压控信号源实现自动稳幅。信号激励部分输出送到一个宽带分压器，由分压器馈给测试调谐回路一个恒定幅度的信号。当测试回路处于谐振状态时，在调谐电容CT两端的信号幅度将是分压器提供的信号幅度Q倍。在CT两端取得的调谐信号被信号放大单元适当放大后送到检波和数字取样单元，检波后送到控制中心CPU去进行数据处理。 A调谐电容带动传感器，不断地将电容变化的信息送往中心控制CPU，经处理后计算出电容值，再根据频率值计算出谐振时的频率值。 C调谐电容有步进马达带动，根据不同电容值由CPU计算脉冲数去控制马达。电容值可预置并可电容搜索。 A/C型Q表工作频率值、频段、主调电容器值、谐振电感值、Q值、Q值比较设置状态、Q值量程、手/自动状态、频率或电容搜索指示、Q值调谐指示带都显示在液晶屏上，如图三所示。 整个显示屏共分为四行第一行：左边 信号源频率指示，共6位； 右边 信号源虚拟频段指示（1-4）。第二行：左边 调谐电容指示值，4位； 右边 电感指示值，4位。第三行：左边 Q值指示值； 右边 Q值合格比较状态 。第四行：左边 Q值量程，手动/自动切换指示/调谐点自动搜索指示；右边上部 Q值量程范围指示；右边下部 Q值调谐光带指示。 四、结构特性 A/C型Q表采用了较低的台式机箱，面板采用PC丝印面板，美观大方。 各主要功能单元，除了显示部分为了显示方便和调谐测试回路，放大单元为了减小分布参数，安装在面板上外，其余都安装在机内底板上，详见图四面板示意图。 A．A/C型前面板各功能键说明 1．工作频段选择/1按键，每按一次，切换至低一个频段工作；先按12键后,再按此键，功能为数字键1。2. 工作频段选择/2按键，每按一次，切换至高一个频段工作；先按12键后,再按此键，功能为数字键2。3．Q值低一档量程选择（手动方式时有效）/3按键；先按12键后，再按此键，功能为数字键3。4．Q值高一档量程选择（手动方式时有效）/4按键；先按12键后，再按此键，功能为数字键4。5．谐振点频率搜索/5按键，按此键显示屏第四行左部出现SWEEP时，表示仪器正工作在频率自动搜索被测量器件的谐振点，如需退出搜索，再按此键；先按12键后,再按此键，功能为数字键5。6．A：数字键6，先按12键后有效；C：谐振点电容搜索/6按键，按此键后，电容指示不断在变化，步进马达发出轻微的声响时仪器正工作在电容自动搜索被测量器件的谐振点，如需退出搜索，再按此键；先按12键后,再按此键，功能为数字键6。7．Q值合格范围比较值设定/7按键，按此键后，显示屏第三行右部出现COMP字符，当Q合格时，显示OK，並同时鸣响蜂鸣器，Q不合格时，显示NO。设置Q值合格范围详细说明见后页。先按12键后,再按此键，功能为数字键7。8．Q值量程自动/手动控制方式选择/8按键，按此键后，显示屏第四行左部出现D对应的指示：AUTO（自动），MAN（手动）；先按12键后,再按此键，功能为数字键8。9．数字键9，先按12键后有效。10．数字键0，先按12键后有效。11．小数点键, 先按12键后有效。12．复合键频率/电容按键，第一次按下（频率指示数在闪烁）为频率数输入，单位为MHz。例：要输入79.5MHz，按一次此键，频率指示数在闪烁，然后输入79.5，再按一下此键即可。第二次按下（电容指示数在闪烁）为电容数输入，数输入要满4位。例：要输入79.5P，按二次此键，电容指示数在闪烁，然后输入0795，要输入180.5P，输入1805，有效数后为0的，可以不输入0直接再按一下此键结束输入。13．频率调谐数码开关。14．A：主调电容调谐（长寿命调谐慢转结构）； C：主调电容调谐数码开关。15．电源开关。16．液晶显示屏。17．测试回路接线柱：A左边两个为电感接入端，右边两个为外接电容接入端；C后边两个为电感接入端，前边两个为外接电容接入端。18．电感测试范围所对应频率范围表。B．后面板各功能键说明 1．～220V电源输入三芯插座，内含保险丝0.5A／220V；2．信号源工作频率监测输出端（阻抗1kΩ）。五、使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法） A．直接法 a．将被测线圈接在“Lx”接线柱上； b．选择适当的工作频段和工作频率； c．先调调谐电容器到谐振点，即Q表读数达最大，此读数即为被测电感的有效Q值(Qe)，若需得到被测电感的真实Q值（QT），则应先测出线圈分布电容C0，然后照下式修正 C1是调谐电容器谐振时读数，如谐振时C1的读数很大，C0只占很小比例，则有效Q值(Qe)和真实Q值(QT)差别可以忽略。当Q值量程选择自动切换时，在调谐时，如遇量程自动转换，应停顿一下，待Q值稳定后，根据读数值变大或变小，确定继续调电容的方向。B．变容法a．照直读法“a-d”进行，记下谐振时电容读数C1和Q1；b．调节主调电容数码开关，使Q值二次指示均为Q1的0.707时，记下此时两次电容读数的差数ΔC， 倘要得到精确结果，则线圈的分布电容应加在C1之内，并应使主调电容作多次偏调，然后取其平均读数。测Q值较高的线圈时，Q值下降到0.707 Q1时，电容偏调很小，读数误差较大，这时可将主电容作较大偏调(10％以内)，记下偏调数ΔC和偏调后的Q值读数Q2，这时Q值表达式为： C. 变频法a．按直读法“a-d”进行，记下谐振时读数C1和Q1以及频率读数f0；b．改变信号源的频率使Q值二次指示为Q1的0.707(一次容性失谐，一次感性失谐)，记下此时二次频率读数差值Δf，这时回路的真实QT为： 注：Δf是频率偏调数，Q1为谐振时Q表读数，Q2是偏调后Q表读数。3．高频线圈电感值的测量a．将被测线圈接在“Lx”接线柱上，接触要良好；b．根据线圈大约电感值，按所需选一个合适的频率以保证能谐振；c．如要得到真实电感数（LT），必须先测得电感分布电容量C0，如分布电容较小的话，在调到谐振点后，记下主调电容C1，然后再将主调电容量调在“C1+C0”值上，这时度盘的电感读数乘以对应的倍数，就是所求真实电感读数，也可按以下公式计算求得： f被测电感小于1μH时，按上法测得电感值还应减去仪器中测试回路本身剩余电感“L0”（A L0约26nH,，C L0约7nH）。4．高频线圈分布电容C0的测量A．倍频率法如线圈的分布电容较大，可用此法作近似测试。将被测线圈按在“Lx””接线柱上，调调谐电容器到最大电容数值，调讯号源频率到谐振，令谐振时频率和指示调谐电容分别是f1和C1。然后将讯号源频率调到f2 (f2=n f1)，再调电容器度盘到谐振点，此时电容读数为C2，根据下式即可求出分布电容量（测量时微调电容到零） 如取n=2，则为：C0=（C1－4C2）/ 3。若取不同C1进行多次测量后取一个平均值，则测试结果将较为准确。 B．自然频率法（此法可获得较准确的结果） a．将被测线圈接在“Lx”接线柱上； b．将微调电容器度盘调至零，调谐电容器度盘调到最大电容值C1； c．调讯号源频率，使回路谐振，该频率为f1； d．取下被测线圈，换上一个能在调谐电容器调节范围内和十倍于f1频率谐振的电感； e．讯号源调到10 f1位置，调节调谐电容器到谐振点； f．将被测线圈接在“Cx”两端，调节调谐电容器达谐振，此时视电容读数是增加还是减小。若增加，则应将振荡器频率调高些，若减小，则频率调低些； g．再取下被测线圈，调节主调电容达到谐振； h．重复步骤“f”、“g”直到某一频率，被测线圈接上“Cx”两端和不接上均不改变谐振点，这一频率即为被测线圈的自然谐振频率f2，它的C0数值为：C0=C1 (f1／f2)2注：测量中所需辅助线圈可由LKI-l电感组提供便利。 5．电容器容量的测量 A. 在测量范围内的小于主调电容量的电容器的测量a．选一个适当的谐振电感接到“Lx”的两端；b．将调谐电容器调到最大值附近，令这个电容是C1，如未知电容是小数值的，C1应调到较小电容值附近，以便达到尽可能高的分辨率；c．调讯号源的频率，使测试回路谐振，令谐振器Q的读数为Q1；d．将被测电容接在“Cx”两端，调节调谐电容器，使测试电路再谐振，令新的调谐电容值为C2和指示Q值为Q2。被测电容的有效电容为：Cx= C1－C2电容器损耗角正切为： C0为回路谐振电感的自身电容。B．大于调谐电容量的电容器用可替代法测量a. 取一只适当容量的标准电容量，其容量为C3，将它接在“Cx”接线柱上；b．按5A／a-c各测试步骤；c．取下标准电容器，将被测电容接到“Cx”接线柱，调节调谐电容器到谐振，此时主调电容量读数为C2，则Cx可由下式得到：Cx=C3+ C1－C26．Q合格范围预置功能使用（AS2853A暂时只能设置下限值）Q合格范围预置功能特别适用于工厂需大批量测试某同一规格元件的Q值，当该元件Q值超过某一给定值或在一定范围内即为合格，这时液晶显示屏显示“OK”，仪器同时鸣叫提醒，这样可减轻工人视力疲劳，同时大大加快了测试速度。 Q合格范围预置的步骤（例150-170）：a．选择要求的测试频率；b．用一只合格元件或一只辅助线圈调谐主调电容，使Q值读数指示在所需预置Q值位置上；例150，按一下Q值设置键，使显示屏第三行显示“COMP OK”，同时仪器发出鸣叫声，Q值大于150值，液晶屏第三行显示“COMP 150”；c．再调谐主调电容，使Q值读数指示在所需预置Q值位置上；例170，再按一下Q值设置键，液晶屏第三行显示“COMP 170150”，此时Q合格范围预置功能的设置就结束了；d．换上要测试的器件，微调谐振电容至谐振点，如果该器件的Q值在设定范围内（例150-170），Q合格指示“comp OK”，同时仪器发出鸣叫。如果该器件的Q值设定超出该范围，Q合格指示“comp NO”，如需取消已设置的合格值，只要再按一下设置键即可。7．谐振点频率自动搜索功能的使用如果你对电感元件无法确定它的数值时，你就可用该功能来帮你寻找出它的谐振频率点。步骤如下：a．把元件接以接线柱上；b．主调电容调到约中间位上；c．按一下频率搜索按键，显示屏左下部显示“SWEEP””，仪器就进入搜索状态。仪器从最低工作频率一直搜索到最高工作频率，如果你的元件谐振点在频率覆盖区间内，搜索结束后，将会自动停在元件的谐振频率点附近。如果临时要退出搜索状态，可再按一次搜索键，仪器会退出搜索操作。8．谐振点电容自动搜索功能的使用如果你想在已知的频率找出被测量器件的谐振频率点时，你就可用该功能来帮你寻找出它的谐振点。步骤如下：a．把元件接以接线柱上；b．频率设置为所需的频率；c．按一下电容搜索按键，仪器就进入电容搜索状态，仪器从最小电容一直搜索到最大电容，如果你的元件谐振点在电容覆盖区间内，搜索结束后，主电容将会自动停在元件的谐振频率点附近。如果临时要退出搜索状态，可再按一次搜索键，仪器会退出搜索操作。9．频率调谐开关的使用。A/C的频率调谐采用了数码开关，它能辨别使用者的要求，来调节频率变化的速率(频率变化值／档)。在你快速调节该开关时，频率变化速率也加快，当你缓慢调节开关时，频率变化速率也慢下来。因此在调谐时接近所需的频率时，应放缓调节速度，当你调节的频率超出工作频段的频率时，仪器会自动选择低一个或高一个频段工作。六、维修1．新购仪器的检查新购的仪器最好能先用LKI-1电感组，将各个电感在各个不同频率测试Q值，把测试的情况，例使用的电感号、测试频率Q读数、电容读数等多次测得数及测试环境条件逐一详细记录，并把记录保存起来，以供以后维修时作参考。LKI-1电感组是专供测试时作辅助电感用的，不能把这些电感当作高精度的标准电感看待。随着测试环境条件不同，测得电感器Q值和分布电容可能略有不同。2．使用和保养高频Q表是比较精密的阻抗测量仪器，在合理使用和注意保养情况下，才能保证长期稳定和较高的测试精度。a．熟悉本说明书，正确地使用仪器；b．使仪器经常保持清洁、干燥；c．本仪器保用期为18个月，如发现机械故障或失去准确度，可以原封送回本厂，免费修理。附表二 各Q值均值回路指示值 和测试回路平均残量修正系数表线圈号测试频率QeBQG-2（No.81014）C修正系数1100kHz1142400kHz135136131MHz134128.50.9642MHz1544.5MHz1831931.0554.5MHz17012MHz237236.21612MHz23425MHz3052810.92725MHz2181700.7850MHz2572520.98Qe：标准有效Q值A型Q表在测试Q值时，已对测试回路的残量作了修正，故不再需要对Q值进行均值修正。 七、产品的交收检验1．检验环境要求a．环境温度：20℃±2℃，相对湿度50％；b．供电电源：220V±10V，50Hz±1Hz；c．被检设备要预热30分钟以上。2．检验设备要求a. 设备应在计量后的有效使用期内；b. 检验设备应按仪器规定预热。3．Q值指示检验a．检验设备：BQG-2标准线圈一套；b．把标准Q值线圈接入A/C表电感接线柱上；c．选择标准Q值线圈所规定的检定频率；d．A/C Q表的Q值读数的相对误差应符合二.1.C条中的固有误差之规定。4．调谐电容器准确度检验a. 测试时如发现干扰，应断开内部信号源；b．设备连接如图六所示，连接线应尽量短，尽可能减小分布电容；

绝缘材料介电常数介质损耗测试仪 是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。绝缘材料介电常数介质损耗测试仪采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。绝缘材料介电常数介质损耗测试仪本测试装置是由二只测微电容器组成，平板电容器一般用来夹持被测样品，园筒电容器是一只分辨率高达0.0033pF的线性可变电容器，配用仪器作为指示仪器，绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化，由园筒电容器的刻度读值变化值而换算得到的。同时，由平板电容器的刻度读值变化而换算得到介电常数。仪器的技术指标1．Q值测量范围：2～10232．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；3．电感测量范围：自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能4.5nH-100mH 分别有0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九个电感组成。4．电容直接测量范围：1～460pF 5．主电容调节范围： 30～500pF 6．电容准确度 150pF以下±1.5pF；150pF以上±1% 7．信号源频率覆盖范围10KHz-70MHz （双频对向搜索 确保频率不被外界干扰）另有GDAT-C 频率范围10KHz-70MHz及200KHZ-160M8、型号频率指示误差：1*10-6 ±1 Q值合格指示预置功能范围：5～1000Q值自动锁定，无需人工搜索9．Q表正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃ b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。10．其他a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。11．产品配置：a.测试主机一台；b.电感一套；c.夹具一 套 性能特点：1. 平板电容器极片尺寸：φ25.4mmφ50mm极片间距可调范围和分辨率：≥10mm，±0.01mm2. 园筒电容器电容量线性：0.33pF / mm±0.05 pF长度可调范围和分辨率：≥0～20mm，±0.01mm3. 夹具插头间距：25mm±1mm4. 夹角损耗角正切值：≤4×10－4（1MHz时）5、数显电极维修保养本测试装置是由精密机械构件组成的测微设备，所以在使用和保存时要避免振动和碰撞，要求在不含腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存，不能自行拆装，否则其工作性能就不能保证，如测试夹具受到碰撞，或者作为定期检查，要检测以下几个指标：1. 平板电容器二极片平行度不超过0.02mm。2. 园筒电容器的轴和轴同心度误差不超过0.1mm。3. 保证二个测微杆0.01mm分辨率。4. 用精密电容测量仪（±0.01pF分辨率）测量园筒电容器，电容呈线性率，从0~20mm，每隔1mm测试一点，要求符合工作特性要求。北广精仪公司简介北广精仪公司是一家专业从事检测仪器，自动化设备生产的高新科技企业公司，“精细其表，精湛于内”是北广精仪一惯秉承的原则。其先进的设计风格，卓越的制造技术和完善的服务体系，为科研机构、大专院校，企业和质量检测机构提供的产品和优质的服务。北广公司保持以发展与中国测试产业相适应的应用技术为主线，通过与产业界协调发展的方式提高本公司的竞争实力和技术含量。与此同时，本公司自成立以来，坚持走"研发生产"相结合的道路，借助国家工业研究院的理论知识和强劲的科研实力，在消化、吸收国际进生产技术的基础上，大胆创新、锐意改革、努力创造，开发出具有中国特色的新产品，为提高中国的科研及产品质量作出了应有的贡献。经营理念： 一、诚信待户 顾客至上 全心全意为顾客考虑，使顾客能切身感受到人性化的仪器。 二、检测 保质保量 检测是我们的责任 保质保量是我们对客户的郑重承诺 三、技术 创新理念 储备的开发人才，引进世界技术，采用先进的设计理念，打造精良的检测仪器。北广产品广泛应用于国防、大专院校以及检测所等行业，本公司以技术的创新为企业的发展方向，以新型实用的产品引导客户的需求北广公司所供产品严格按照国家标准生产制造，严谨的制造环节确保每一台出厂仪器质量和性能的卓越，服务优质，质优价廉 确保您的放心 ！LKI-1电感组电感No电感量准确度%Q值≥分布电容约略值谐振频率范围 MHz适合介电常数测试频率ZJD-BZJC-C10.1μH±0.05μH2005pF20~7031~10350MHz20.5μH±0.05μH2005pF10~3714.8~46.615MHz32.5μH±5%2005pF4.6~17.46.8~21.410MHz410μH±5%2006pF2.3~8.63.4~10.555MHz550μH±5%2006pF1~3.751.5~4.551.5MHz6100μH±5%2006pF0.75~2.641.06~3.201MHz71mH±5%1508pF0.23~0.840.34~1.020.5MHz85mH±5%1308pF0.1~0.330.148~0.390.25MHz910mH±5%908pF0.072~0.260.107~0.320.1MHz注意: 可定制100MHz电感. 其他相关产品：BDJC-50KV型电压击穿强度试验仪BDJC-100KV型电压击穿强度试验仪BEST-121型体积表面电阻测试仪BEST-212型体积表面电阻率测试仪BEST-991型导体和防静电材料电阻率测试仪GDAT-A型介电常数及介质损耗测试仪GDAC-C型介电常数及介质损耗测试仪BQS-37工频介电常数介质损耗测试仪BLD-600V漏电起痕试验仪BLD-6000V高压漏电起痕试验仪BDH-20KV耐电弧试验仪BWK-300系类热变形维卡温度测定仪BRT-400Z系类熔体流动速率测定仪M-200橡胶塑料滑动摩擦磨损试验机BYH-B球压痕硬度计JF-3型数显氧指数测定仪CZF-5水平垂直燃烧试验机HMLQ-500落球回弹仪HMYX-2000海绵压陷硬度测试仪BWN系类电子试验机