双能混合像素射线探测器

■ LARRY-USB3648线阵CCD探测器主要特点：◆ 有D7265和D7266两个型号的产品可供选择◆ D7266为科研级CCD芯片，无坏点，消除边缘散射◆ D7265为工业级CCD芯片◆ 有效象元数：3648像素◆ 像素点宽度为7µ m，可获得更高的分辨率◆ SEF信号增强功能◆ 光谱范围：200-1100nm（科研级）或320-1100nm（工业级）◆ 标准USB接口◆ 带有外触发控制和脉冲同步功能◆ 采样速度达到30 scans/s LARRY-USB3648线阵CCD主要技术规格表型号/参数D7265D7266光谱范围(nm)320-1100200-1100有效象元数36483648象元尺寸(&mu m)7(W) x 200(H)7(W) x 200(H)有效感光区间(mm)25.525.5满阱容量(e)94,00094,000饱和功率密度(nW/cm2@633nm)4.24.2单象元饱和功率(nW,@633nm)5.8× 10e-55.8× 10e-5增益(e/count,12-bit ADC)2323动态范围818818最大信噪比307307读出噪声(e, rms)115115读出噪声(counts, rms)551s内暗噪声(e, rms)1151151s内暗噪声(counts, rms)5510s内暗噪声(e, rms)27627610s内暗噪声(counts, rms)1212积分时间设置(ms, 软件设置)0.01-300000.01-30000触发模式自触发连续采样或外触发采样自触发连续采样或外触发采样外触发器TTL上升沿控制(400ns)TTL上升沿控制(400ns)单次采样时间(ms, USB)3030A/D转换精度12bits12bitsLARRY-USB3648线阵CCD选型表LARRY-USB3648线阵CCD探测器　工业级科研级　光谱适用范围320-1100nm200-1100nm internal USBD7265D7266软件选项　　　D7401SpectraArrayAcquision, control and analysis software for basic spectroscopic applications for Windows 98/W2k/XP.D7404SpectraSolveAdvanced spectroscopic applications software for WindowsD7421OEM Developers kitWith C++ and VC++ examplesD7422LabView driversWith Vis (virtual instruments) for LabView Version 5 or laterSEF信号增强功能 由于LARRY-USB3648具有7µ m的象元宽度，因而在光谱测量应用中可以得到更高的分辨率，但同时由于象元尺度变小，相对于14µ m象元尺寸的 CCD芯片，在信号强度上会降低；为了解决这个问题，Ames公司的LARRY-USB3648系列采用了新的像素合并技术，提供1X，2X，4X，8X 四种binning采样模式，并配合曲线平滑功能，极大地提升信噪比（如图）。

双能EIGER2 R混合像素光子计数X射线探测器 德科特思（DECTRIS）1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R250K500K1M4M探测器模块数量111 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]38.4 x 38.477.2 x 38.677.1 x 79.7155.1 X 162.2像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）3.5-30最大计数率（cps/mm2）6.9×108计数器深度（bit/threshold）2×16最大帧速率 [Hz]505010020采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.81.84.715

1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R500K1M4M探测器模块数量11 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]77.2 x 38.677.2 x 79.9155.2 X 162.5像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）4-113.5-30 3.5-30最大计数率（cps/mm2）3.6×108计数器深度（bit/threshold）2×16采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.83.915

EIGER2 R混合像素光子计数X射线探测器 1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R250K500K1M4M探测器模块数量111 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]38.4 x 38.477.2 x 38.677.1 x 79.7155.1 X 162.2像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）3.5-30最大计数率（cps/mm2）6.9×108计数器深度（bit/threshold）2×16最大帧速率 [Hz]505010020采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.81.84.715

EIGER2 R CdTe混合像素光子计数X射线探测器 1、产品特点： EIGER2 R CdTe 1M X 射线探测器将混合像素光子计数探测器的最新发展和碲化镉感光像素的高量子效率集合在一起。对于使用高能量 X 射线源或需要双阈值设置时， EIGER2 R CdTe 1M 是最优的选择。 DECTRIS 公司的专利即时触发技术使他们具有前所未有的高计数率能力，可以更精确地测量实验室X射线源 所能达到的最高强度。DECTRIS 公司的即时触发专利技术使 EIGER2 R CdTe 1M 探测器具有前所未有的高计 数率能力，可以更精确地测量实验室 X 射线光源所能达到的最高强度。EIGER2 R CdTe 1M 探测器具有两个能 量阈值，所以与上一代探测器相比，它在环境背景下拥有更低的暗电流和背景噪音。这大大提高了弱信号和长 时间曝光的信噪比，使得它在更短的测量时间下就能获得更好的数据质量。单光子计数与计数器连续读/写技术 相结合，克服了传统积分探测器容易饱和以及动态范围有限的问题。此外，感光像素直接将X射线转化为电信号 配合小到 75μm 的像素尺寸使得探测器具有更高的空间和角度分辨率。2、核心优势： – 最高的量子效率、更短的测试时间和更高质量的数据 – 即时触发技术使得计数率大幅度提高 – 双能阈值，可用于低背景和高背景的抑制 – 无读出噪音和暗电流，确保了最佳的信噪比 – 计数器具有同时读/写功能，确保了高动态范围和无饱和的图像3、应用领域： - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - μCT； - 其它； 4、技术参数：EIGER2 R CdTe500K1M4M探测器模块数量11 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]77.1 x 38.477.1 x 79.7155.1 X 162.2像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2能量范围[KeV]8-24.2阈值范围[KeV]4-30最大计数率（cps/mm2）9.8×108计数器深度（bit/threshold）2×16采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 水冷尺寸（WHD）[mm3]114 x 92 x 242114 x 133 x 242235 x 237 x 372重量 [kg]3.73.915

双能面阵EIGER2 R混合像素光子计数X射线探测器 德科特思（DECTRIS）1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R250K500K1M4M探测器模块数量111 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]38.4 x 38.477.2 x 38.677.1 x 79.7155.1 X 162.2像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）3.5-30最大计数率（cps/mm2）6.9×108计数器深度（bit/threshold）2×16最大帧速率 [Hz]505010020采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.81.84.715

1、产品特点： 我们一直持续致力于不断地探索研究、突破技术壁垒，以获得更为高效的测试过程及测试装置，使测试性能趋于完美。目前我们在同步辐射仪器及科学研究领域所取得的巨大成就已充分证明了这一点。 新型的EIGER X 系列探测器可以为要求极为苛刻的同步辐射应用提供极致的探测性能。具有连续读数能力以及千赫兹帧速率的成像能力为时间分辨类实验和XPCS提供了一种全新的手段，使得像ptychography类的慢速扫描成像技术成为可能。高分辨率和连续的衍射实验受益于较小的成像尺寸，通过X射线的直接转换可以获得卓越的点扩散函数。在理想情况下每单位面积的最高计数速率可以与持续增加的波束线亮度相匹配。 2、核心优势： - 混合成像计数：单光子成像计数模式下的X射线直接转换能力 - 千赫帧速率占空比 99% - 3μs时间下的连续采集模式 - 5μm像素尺寸的高空间分辨率 - 优秀的点扩散函数 - 计数速率高达每平方毫米每秒5亿次 - 无读出噪声和暗电流 - 极其紧凑的外壳 3、应用领域： -X射线光子相关光谱(XPCS) - Ptychography(叠层衍射)成像技术 - 时间分辨实验 - 大分子晶体学(MX) - 单晶衍射(SCD) - 粉末衍射(PD) - 表面衍射- 小广角/X光散射(粉煤灰/蜡)- X射线成像 4、技术参数：EIGER X 500K 1M4M9M16M探测器模块数量11 x 22 x 43 x 64 x 8有效面积：宽x高 [mm2]77.2 x 38.677.2 X 79.9155.2 x 162.5233.2 x 245.2311.2 x 327.8像素大小 [μm2]75 x 75总像素数量1030x514=529,4201030x1065=1,096,9502070 x 2167=4,485,6903110 x 3269=10,166,5904150X4371=18,139,650间隙宽度, 水平/垂直（像素）-/--/3710 / 3710 / 3710 / 37非灵敏区 [ % ]03.55.66.36.6缺陷像素0.03%最大帧频* [Hz]3000,4500**,9000**3000750238133计数器深度 [ bit ]12, 8, 412121212读出时间连续读数，3μs死区时间，工作循环99%***点扩散函数1 pixel探测器厚度 [μm]450阈值能量 [keV]2.7-18最大计数率 [phts/s/mm2]5• 108动态范围 [bit]16 或32数据格式HDF5 / NeXus尺寸（WHD）[mm3]114 x 92 x 242114 x 133 x 240235 x 237 x 372340 x 370 x 500400 x 430 x 500重量 [kg]3.33.9154155功耗 [w]70753007501200

DECTRIS混合像素X射线探测器EIGER2 R 500K1、产品特点： EIGER2 R 500为实验室衍射提供了最佳的解决方案。 到目前为止，所有的探测器都要求在像素大小、有效面积、最大计数率、低能量和高能量识别能力之间进行权衡。 混合光子计数EIGER2 R 500K探测器结合了高分辨率的小像素，高效的数据采集有效区域以及无与伦比的计数率，可以把测量的精确度提高到极致。 双能量识别与同时读出功能相结合，可同时实现广泛的背景抑制和高动态范围。 高帧率使仪器制造商能够提供复杂的0D，1D和2D数据采集模式。 所有这些优点都瑞士DECTRIS公司经过长期验证和创新所获得的独有的性能，这款探测器的可靠性、免维护的表现也处于行业领导地位。2、核心优势： - 具有高空间分辨率的大活动区域 - 高级计数率 - 高的动态范围 - 高效抑制荧光，宇宙和白色辐射 - 免维护3、应用领域 - 单晶衍射 - X射线粉末衍射 - X 射线小角散射SAXS / 广角度X射线散射（WAXS) 4、技术参数：EIGER2 R 500K像素大小 [μm2]75 x 75总像素数量1030 x 514=529,420有效面积：宽x高 [mm2]77.2 x 38.7探测器厚度 [μm]450点扩散函数 [pixel]1（FWHM）能量辨别阈值2阈值能量 [keV] 4-11计数器深度 [bit/threshold]2x16最大计数率 [cps/mm2]3.6 x 108采集模式同时读写/零死区时间动态范围 [bit] 32最大帧频 [Hz]40尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93重量 [kg]1.8

1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R500K1M4M探测器模块数量11 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]77.2 x 38.677.2 x 79.9155.2 X 162.5像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）4-113.5-30 3.5-30最大计数率（cps/mm2）3.6×108计数器深度（bit/threshold）2×16采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.83.915

1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R500K1M4M探测器模块数量11 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]77.2 x 38.677.2 x 79.9155.2 X 162.5像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）4-113.5-30 3.5-30最大计数率（cps/mm2）3.6×108计数器深度（bit/threshold）2×16采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.83.915

1、产品特点： PILATUS3 混合像素探测器可以为要求苛刻的同步辐射应用提供的探测表现。在新一代产品中，PILATUS系列X射线探测器已经达到了高水平的成熟度和稳定性。改进的PILATUS3系列探测器采用互补金属氧化物半导体（CMOS）读出集成电路（ASIC）即时再触发技术，其可以避免瘫痪性误计数，同时其可以增强高计数率情况下的表现，减少读出时间，并获得更准确的计数率。PILATUS3即时再触发技术克服了以前的光子计数探测器固有的计数率低的限制。PILATUS3系列光子计数探测器是我们一直以来不断完善单光子计数探测器的努力结晶。卓越的数据质量和快速的数据采集是PILATUS探测器系统的主要优点。卓越的数据质量是通过各种特性来实现的：不存在读出噪声和暗电流，尖锐的点扩散函数，并且高达20比特（~100万个计数）的高动态范围和计数器深度。目前先进的互补金属氧化物半导体（CMOS）集成电路（ASIC）和读出电子学设计能够保证快速的数据获取。PILATUS3现在的标准配置为450微米的硅传感器，以此提高量子效率。所有PILATUS3 M系统出了包括探测服务器之外，还包含一台高性能计算机，以此确保高速率稳定的数据采集而不需要用户额外增加计算机系统。 2、核心优势： –计数率高达每像素每秒1千万计数 –帧速率高达500Hz，即每秒钟可以采集500张图像 –读出时间仅为0.95毫秒 –单光子计数模式中的直接探测X射线 –无读出噪声 –无暗电流 –点扩散函数 –20位无溢出计数器 3、应用领域： –生物大分子晶体学（MX） –单晶衍射（SCD） –表面衍射 –连贯的X射线成像 –时间分辨实验 –小角散射与广角散射（SAXS/WAXS） –X射线衍射（XRPD）

X射线衍射仪线阵光子计数X射线探测器1、产品特点： MYTHEN系列微带探测器充分利用了混合光子计数（HPC）技术的所有优势：如无噪音、高速采集、耐辐射性能优越等，并以 此带来了最佳的实验室应用体验。MYTHEN2 R系列探测器有两种不同的尺寸：MYTHEN2 R 1K(含1280条微带）和 MYTHEN2 R 1D（含640条微带）。MYTHEN2 R 系列探测器结构紧凑，传感器位置对称， 适用于从便携式仪器到大型系统等各种不同 的衍射仪构造。DCS4探测器控制系统支持多模块系统组合， 能够获取更宽的角 度覆盖范围，最多可支持 4 台探测器同时工作。 MYTHEN2传感器微带宽度为50μm，具有三种可选厚度，分别为 320、450 和 1000 μm。同时微带分为两种长度： 4 mm长微带在低能X射线下有最佳的信噪比及极短的读出时间，因此可用于以钛靶光源进行测试的场合，特别适合原位残余应力分析；标准 8 mm 长微带具有最宽的有效面积和和最佳的分辨率，适用于所有X射线分析场合：与 1000μm 传感器共同使用时，可在实验室进行原本只能用同步辐射光源开展的PDF分析。2、核心优势： - 短微带，适用于钛靶及铬靶高产出测量场合； - 厚传感器，适用于银靶光源进行PDF测量； - 结构紧凑体积小，适用于各种尺寸的衍射仪和不同的预算； - 可实现多模块系统组合，覆盖更广的角度范围； - 无需维护及耗材。 3、应用领域： -X-射线粉末衍射和散射技术； - 残余应力测量； - 薄膜和织构分析； - PDF分析； - SAXS、WAXS、GISAXS； - 色散荧光光谱学 。4、技术参数 ：MYTHEN2 R 1K 1D微带数量1280640传感器厚度 [μm]320,450,1000微带宽度 [μm]50微带长度 [mm]8 and 4 (320 μm only)有效面积（宽*高）[mm2] 64 x 832 x 8 , 32 x 4动态范围 [bit]24能量范围 [KeV]4-40*读出时间 [μs]89帧频 [Hz]25点扩散函数 [strip]1能量分辨率2（r m s）[ev]687+5冷却方式风冷模块尺寸（WHD）[mm3]70 x 62 x 2238 x 62 x 22模块重量[g]180100DCS4尺寸（WHD）[mm3]110 x 30 x 160DCS4重量 [g]400 *低于4KeV的X-ray能量仅适用于320μm x 4mm的传感器。 注：所有规格如有变更，不做另行通知。

DECTRIS 混合像素光子计数线阵X射线探测器 MYTHEN2 R 1D1、产品特点： MYTHEN系列微带探测器充分利用了混合光子计数（HPC）技术的所有优势：如无噪音、高速采集、耐辐射性能优越等，并以 此带来了最佳的实验室应用体验。MYTHEN2 R系列探测器有两种不同的尺寸：MYTHEN2 R 1K(含1280条微带）和 MYTHEN2 R 1D（含640条微带）。MYTHEN2 R 系列探测器结构紧凑，传感器位置对称， 适用于从便携式仪器到大型系统等各种不同 的衍射仪构造。DCS4探测器控制系统支持多模块系统组合， 能够获取更宽的角 度覆盖范围，最多可支持 4 台探测器同时工作。 MYTHEN2传感器微带宽度为50μm，具有三种可选厚度，分别为 320、450 和 1000 μm。同时微带分为两种长度： 4 mm长微带在低能X射线下有最佳的信噪比及极短的读出时间，因此可用于以钛靶光源进行测试的场合，特别适合原位残余应力分析；标准 8 mm 长微带具有最宽的有效面积和和最佳的分辨率，适用于所有X射线分析场合：与 1000μm 传感器共同使用时，可在实验室进行原本只能用同步辐射光源开展的PDF分析。2、核心优势： - 短微带，适用于钛靶及铬靶高产出测量场合； - 厚传感器，适用于银靶光源进行PDF测量； - 结构紧凑体积小，适用于各种尺寸的衍射仪和不同的预算； - 可实现多模块系统组合，覆盖更广的角度范围； - 无需维护及耗材。 3、应用领域： -X-射线粉末衍射和散射技术； - 残余应力测量； - 薄膜和织构分析； - PDF分析； - SAXS、WAXS、GISAXS； - 色散荧光光谱学 。4、技术参数 ：MYTHEN2 R 1K 1D微带数量1280640传感器厚度 [μm]320,450,1000微带宽度 [μm]50微带长度 [mm]8 and 4 (320 μm only)有效面积（宽*高）[mm2] 64 x 832 x 8 , 32 x 4动态范围 [bit]24能量范围 [KeV]4-40*读出时间 [μs]89帧频 [Hz]25点扩散函数 [strip]1能量分辨率2（r m s）[ev]687+5冷却方式风冷模块尺寸（WHD）[mm3]70 x 62 x 2238 x 62 x 22模块重量[g]180100DCS4尺寸（WHD）[mm3]110 x 30 x 160DCS4重量 [g]400 *低于4KeV的X-ray能量仅适用于320μm x 4mm的传感器。 注：所有规格如有变更，不做另行通知。

1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R500K1M4M探测器模块数量11 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]77.2 x 38.677.2 x 79.9155.2 X 162.5像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）4-113.5-30 3.5-30最大计数率（cps/mm2）3.6×108计数器深度（bit/threshold）2×16采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.83.915

DECTRIS 混合像素光子计数线阵X射线探测器 MYTHEN2 R1、产品特点： MYTHEN系列微带探测器充分利用了混合光子计数（HPC）技术的所有优势：如无噪音、高速采集、耐辐射性能优越等，并以 此带来了最佳的实验室应用体验。MYTHEN2 R系列探测器有两种不同的尺寸：MYTHEN2 R 1K(含1280条微带）和 MYTHEN2 R 1D（含640条微带）。MYTHEN2 R 系列探测器结构紧凑，传感器位置对称， 适用于从便携式仪器到大型系统等各种不同 的衍射仪构造。DCS4探测器控制系统支持多模块系统组合， 能够获取更宽的角 度覆盖范围，最多可支持 4 台探测器同时工作。 MYTHEN2传感器微带宽度为50μm，具有三种可选厚度，分别为 320、450 和 1000 μm。同时微带分为两种长度： 4 mm长微带在低能X射线下有最佳的信噪比及极短的读出时间，因此可用于以钛靶光源进行测试的场合，特别适合原位残余应力分析；标准 8 mm 长微带具有最宽的有效面积和和最佳的分辨率，适用于所有X射线分析场合：与 1000μm 传感器共同使用时，可在实验室进行原本只能用同步辐射光源开展的PDF分析。2、核心优势： - 短微带，适用于钛靶及铬靶高产出测量场合； - 厚传感器，适用于银靶光源进行PDF测量； - 结构紧凑体积小，适用于各种尺寸的衍射仪和不同的预算； - 可实现多模块系统组合，覆盖更广的角度范围； - 无需维护及耗材。 3、应用领域： -X-射线粉末衍射和散射技术； - 残余应力测量； - 薄膜和织构分析； - PDF分析； - SAXS、WAXS、GISAXS； - 色散荧光光谱学 。4、技术参数 ：MYTHEN2 R 1K 1D微带数量1280640传感器厚度 [μm]320,450,1000微带宽度 [μm]50微带长度 [mm]8 and 4 (320 μm only)有效面积（宽*高）[mm2] 64 x 832 x 8 , 32 x 4动态范围 [bit]24能量范围 [KeV]4-40*读出时间 [μs]89帧频 [Hz]25点扩散函数 [strip]1能量分辨率2（r m s）[ev]687+5冷却方式风冷模块尺寸（WHD）[mm3]70 x 62 x 2238 x 62 x 22模块重量[g]180100DCS4尺寸（WHD）[mm3]110 x 30 x 160DCS4重量 [g]400 *低于4KeV的X-ray能量仅适用于320μm x 4mm的传感器。 注：所有规格如有变更，不做另行通知。

MYTHEN2 波长色散光子计数混合像素X射线探测器1、产品特点： MYTHEN系列微带探测器充分利用了混合光子计数（HPC）技术的所有优势：如无噪音、高速采集、耐辐射性能优越等，并以 此带来了最佳的实验室应用体验。MYTHEN2 R系列探测器有两种不同的尺寸：MYTHEN2 R 1K(含1280条微带）和 MYTHEN2 R 1D（含640条微带）。MYTHEN2 R 系列探测器结构紧凑，传感器位置对称， 适用于从便携式仪器到大型系统等各种不同 的衍射仪构造。DCS4探测器控制系统支持多模块系统组合， 能够获取更宽的角 度覆盖范围，最多可支持 4 台探测器同时工作。 MYTHEN2传感器微带宽度为50μm，具有三种可选厚度，分别为 320、450 和 1000 μm。同时微带分为两种长度： 4 mm长微带在低能X射线下有最佳的信噪比及极短的读出时间，因此可用于以钛靶光源进行测试的场合，特别适合原位残余应力分析；标准 8 mm 长微带具有最宽的有效面积和和最佳的分辨率，适用于所有X射线分析场合：与 1000μm 传感器共同使用时，可在实验室进行原本只能用同步辐射光源开展的PDF分析。2、核心优势： - 短微带，适用于钛靶及铬靶高产出测量场合； - 厚传感器，适用于银靶光源进行PDF测量； - 结构紧凑体积小，适用于各种尺寸的衍射仪和不同的预算； - 可实现多模块系统组合，覆盖更广的角度范围； - 无需维护及耗材。 3、应用领域： -X-射线粉末衍射和散射技术； - 残余应力测量； - 薄膜和织构分析； - PDF分析； - SAXS、WAXS、GISAXS； - 色散荧光光谱学 。4、技术参数 ：MYTHEN2 R 1K 1D微带数量1280640传感器厚度 [μm]320,450,1000微带宽度 [μm]50微带长度 [mm]8 and 4 (320 μm only)有效面积（宽*高）[mm2] 64 x 832 x 8 , 32 x 4动态范围 [bit]24能量范围 [KeV]4-40*读出时间 [μs]89帧频 [Hz]25点扩散函数 [strip]1能量分辨率2（r m s）[ev]687+5冷却方式风冷模块尺寸（WHD）[mm3]70 x 62 x 2238 x 62 x 22模块重量[g]180100DCS4尺寸（WHD）[mm3]110 x 30 x 160DCS4重量 [g]400 *低于4KeV的X-ray能量仅适用于320μm x 4mm的传感器。 注：所有规格如有变更，不做另行通知。

EIGER2 R混合像素光子计数X射线探测器进口二维双能阵列光子计数衍射仪X射线探测器1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R250K500K1M4M探测器模块数量111 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]38.4 x 38.477.2 x 38.677.1 x 79.7155.1 X 162.2像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）3.5-30最大计数率（cps/mm2）6.9×108计数器深度（bit/threshold）2×16最大帧速率 [Hz]505010020采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.81.84.715

1.EIGER 2 R: 您实验室的新一代混合光子探测技术EIGER 2 R 集合了所有混合光子计数探测器的先进技术。小尺寸像素与直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以在倒易空间内进行精细的样品测量。优越的计数率性能确保精确测量高强度X射线。利用该探测器系列的巨大动态范围，在零死时间同步读/写的状态下可进行长时间曝光。双能量识别有助于微弱信号和长时间曝光下的深度背景抑制和改善信噪比。由于具备可选择的真空兼容性，空气和窗口所产生的吸收和散射得以减弱。我们提供三种不同的型号满足您的需求。EIGER 2 R集合了所有混合光子计数探测器的先进技术。小尺寸像素与直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以在倒易空间内进行精细的样品测量。优越的计数率性能确保精确测量高强度X射线。利用该探测器系列的巨大动态范围，在零死时间同步读/写的状态下可进行长时间曝光。双能量识别有助于微弱信号和长时间曝光下的深度背景抑制和改善信噪比。由于具备可选择的真空兼容性，空气和窗口所产生的吸收和散射得以减弱。我们提供三种不同的型号满足您的需求。2.核心优势– 由于零背景噪音，出色的计数率和同时读写，所以具有很高的动态范围– 直接检测和小像素尺寸以获得光斑分离和最小背景重叠– 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景– 免维护，易于集成，可选真空兼容性3.应用领域– 大分子晶体学(MX)– 化学晶体学– 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）– 粉末衍射（PXRD）– X射线反射（XRR）4.技术规格EIGER2 R500K1M4M探测器模块数量11 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]77.2 x 38.677.1 x 79.7155.1 X 162.2像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）3.5-30计数率（cps/mm2）6.9×108计数器深度（bit/threshold）2×16帧速率 [Hz]5010020采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.84.715**所有规格如有更改，恕不另行通知。

采用DECTRIS混合像素技术的ELA® 探测器为电子能量损失谱（EELS）提供了前所未有的速度，灵敏度和动态范围，是用于EELS的理想电子计数探测器。它可以处理远远超过100pA的探针电流，同时记录高强度的零损峰和高损峰，并在全能量谱范围内进行单电子计数。其高帧频速率允许一次性快速获取元素面分布结果，特别适合电子束敏感材料的分析。得益于其无死区读出能力，您不仅不会在两帧图像之间丢失电子，确保能够收集样品所能提供的所有信息。与高分辨率光谱仪相结合，DECTRIS ELA 探测器将显著改进 EELS和4D-STEM 等应用发展，使您的实验在几分钟内完成，同时提高仪器的利用率，并大大减少操作时间。技术规格帧速率2,250 Hz at 16 bits4,500 Hz at 8 bits18,000 Hz with ROI mode计数能力 1 pA/pixel像素数1,024 x 512传感材料硅(Si)图像深度32 bits能量范围30-200 keV点扩散函数 1.3 pixel at 200 keV产品应用STO/BTO/LMSO多层膜的快速元素映射图像，采用零损失峰（ZLP），获取为32张单独的128 像素× 128像素图像，每张采集时间为8秒，对齐和求和(共4.3分钟)。从左到右:分为别Ti L2,3 edge，Ba M4,5 edge和La M4,5 edge的ZLP强度图像，类似于明场像，最后获得复合图像。(图片来源:NION Ltd.)六方氮化硼的EELS电子能量损失谱, E0 = 60 keV，电子束电流为105 pA，曝光时间100 s，能量色散设置为0.5 eV/channel，使用Nion UltraSTEM 200MC单球差扫描透射电子显微镜的Nion Iris EELS探测器获得。(图片来源:NION Ltd.)

EIGER2R双能乳腺X射线光子计数成像仪探测器1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R500K1M4M探测器模块数量11 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]77.2 x 38.677.2 x 79.9155.2 X 162.5像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）4-113.5-30 3.5-30最大计数率（cps/mm2）3.6×108计数器深度（bit/threshold）2×16采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.83.915

1、产品特点： 凭借高于95%的极高量子效率，及其高达155×162毫米的极大有效面积，PILATUS4 R CdTe探测器可对基于从铜（Cu）到銦（In）的任何X射线源的快速数据收集。特别是对于钼（Mo）、银（Ag）和銦（In）辐射，PILATUS4 R CdTe的性能优于任何配有硅传感器的HPC探测器—甚至包括目前拥有最厚的硅传感器的PILATUS3。 PILATUS4凭借出色的计数率和五探测器背景噪音的特点，实现了跨越十个数量级的广泛动态范围，高达200Hz的内部帧速，进一步优化了计数率校准，从而确保高强度测量的高度准确性。此外，PILATUS4还具备四个能量区分阈值，为劳厄衍射和光谱成像等应用带来了新的可能。2、核心优势 - 巨大且有效：有效成像面积高达155×162mm，量子效率超过95％ - 最大限度的高动态范围：通过零探测器背景噪音、卓越的计数率以及同步读/写技术，实现了最大限度的高动态范围。- 多功能性：覆盖了从铜（Cu）到銦（In）高量子效率；四个能量区分阈值适用于多色光应用。 3、应用领域 - 单晶衍射 - 小角X射线散射 - 光谱成像 - 劳厄衍射 4、技术参数： PILATUS4 R CdTe1M260K260K-W有效面积：宽×高 [mm² ]155.0 x 162.077.0× 79.5155.0 x 38.3像素阵列1033 x 1080513 × 5301033× 255像素大小 [μm² ]150 x 150能量范围 [keV]8 - 25 (8 - 100)【1】能量阈值数量4阈值范围 [keV]4-30（4-80）【1】计数率 [ph/s/pixel]5.0 x 106最大帧频 [Hz]10100100读出时间【2】 连续读出传感器材料CdTe传感器厚度[μm]1000点扩散函数1 pixel（FWHM）尺寸（WHD）[mm³ ]235 x 237 x 372114 x 133 x 242192 x 92 x 277重量 [kg]154.75.8 【1】可选择校准来扩展能量范围 【2】两次曝光之间的有效死时间＜100ns（最大损失1count/pixel）

DECTRIS ARINA® 可伸缩电子计数探测器是专门为4D STEM应用开发的。它采用了一个全新的专有集成电路设计（ASIC），结合高达每秒12万帧的理想速度、高动态范围和无噪音的读出能力，从而使高质量的数据采集达到传统STEM探测的原生速度。得益于DECTRIS的混合像素技术，ARINA可以采用不同的传感器材料，并能在30-300 KeV的整个能量范围内都有理想表现。它拥有结构紧凑的设计和一个20 mm乘20 mm或192像素乘192像素的有效区域。 DECTRIS ARINA 适合于停留时间低于10 μs的广泛 4D STEM应用，包括从晶相 和取向分布分析到层叠成像技术，以及使用虚拟探测器进行灵活的 STEM 图像重建。技术规格帧频(max)120,000 Hz计数率(max)10^⁸ el/s/pixel像素数192 x 192像素大小100 x 100 µ m² 传感器材料硅 (Si) 或CdZnTe能量范围30 - 300 keV探测器安装可伸缩产品应用使用DECTRIS ARINA探测器在200keV获得 的4D STEM实验结果。左上: 虚拟明场STEM图像。中间: 用差分相位对比法（DPC）进行局部电场的可视化。右下: 综合质心（iCoM）重建展示了Sm和B 原子的局部原子电位。叠加：SmB6沿110轴的原子结构，Sm为红 色球体，B为绿色球体。

BrillianSe非晶硒高分辨X射线探测器 加拿大KA Imaging推出了其专有的无定形硒（a-Se,非晶硒）BrillianSe&trade X射线探测器，用于高亮度成像。这款混合a-Se/CMOS的探测器采用具有高固有空间分辨率的a-Se光导体，可直接将X射线光子转换为电荷。然后，低噪声CMOS有源像素传感器（APS）读取电子信号。无需首先将X射线光子转换为可见光（这在间接闪烁体方法中是必需的），因此不需要减薄转换层以减少光学散射。BrillianSe非晶硒高分辨X射线探测器提供了一种独特的组合，使用8微米像素实现高空间分辨率，以及具有高达120 keV的能量的高探测量子效率（DQE）。这种组合可实现在低通量和高能量条件下进行高效成像，并可进行基于传播的（无光栅）相位对比增强，以提高低密度材料成像时的灵敏度。BrillianSe&trade X射线检测器具有1600万的像素（16M）。主要应用✔ 低密度材料相差对比边缘增强✔ 单光子灵敏度(50 keV)✔ 同步加速器、微纳CT等X射线探测系统，替换其原有探测器或搭建系统✔ 高能量(50 keV)布拉格相干衍射成像 技术介绍BrillianSe非晶硒高分辨X射线探测器直接转换技术允许使用厚转换层，并以100%填充因子运行，以获得高 DQE。在60kVp（2mm铝滤波）下，BrillianSe&trade 具有市场领先的高 DQE（10 cycles/mm时为36%）和小点扩散函数（PSF）（1.1 像素）的组合。这有助于低通量应用成像，例如X射线衍射、剂量敏感的蛋白晶体学以及对有和无相位对比的材料进行受通量限制的成像。在63keV 时，MTF在 Nyquist（奈奎斯特）频率下为10%。此外，在低能量（21 keV）下，使用透射条形靶标样可展示8微米的分辨率。JIMA空间分辨率标样(21kev)的BrillianSe图像。数字表示以微米为单位的条宽。左侧为横截面8μm的图案应用案例BrillianSe非晶硒高分辨X射线探测器具有16M像素，采用直接转换专有技术，对样品进行“吸收衬度+相位衬度”成像，大幅度提高样品中的低密度成分成像时的灵敏度，可用于硬x射线包括同步加速器线束。探测样品案例，如：芳纶等复合材料（Kevlar）、脑支架、硅通孔(TSV)、牙签、甜椒种子、药物胶囊、轻质骨料（混凝土）等。甜椒种子有相衬成像和无相衬成像（仅吸收衬度，无相位衬度）之对比采用BrillianSe非晶硒高分辨X射线探测器的X射线探测系统应用场景举例✔ 表征材料微观结构✔ 对现有零件几何形状进行逆向工程✔ 验证或校准仿真工作流✔ 应用到NDT(无损检测)和GD&T(几何尺寸和公差)检验方案✔ 监控生产过程✔ 确定问题的根本原因

DECTRIS混合像素X射线探测器 一、EIGER2 R探测器系列1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，EIGER2 R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R500K1M4M探测器模块数量11 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]77.2 x 38.677.2 x 79.9155.2 X 162.5像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）4-113.5-30 3.5-30最大计数率（cps/mm2）3.6×108计数器深度（bit/threshold）2×16采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.83.915 二、MYTHEN探测器系统1、产品特点： MYTHEN探测器系统完全转变了X-射线粉末衍射晶体学的标准定义，呈现出另一个层面：时间。这一令人振奋的新领域与MYTHEN2 X 探测器完美结合，开启了时间分辨和现场研究的新纪元。基于MYTHEN的条带尺寸和点扩散函数， MYTHEN2 X 在最高动态范围内引入了前所未有的帧速率，挑战了能量范围的极限。带有电子门控和外部触发的探测器控制系（DCS4）兼顾了定制化的多模块解决方案以及与其他系统完全同步顾了定制化的多模块解决方案以及与其他系统完全同步的探测器。时间层面并不是促使数据质量和系统灵活性之间的平衡，无论从现场应力测量到快速相变，MYTHEN2 X 深化了其细节，并能够在固态反应中进行观察。MYTHEN2 X 探测器是为对速度和数据质量无任何限制的高要求的用户而设计。2、核心优势： - 1000赫兹帧率； - 两个模块组合：1280和640数据带； - X-射线能量低至4keV的短数据带； - 适用于PDF测量的厚传感器； - 多模块系统满足您的要求； - 紧凑型外观，对称设计； - 无需维护和载体。3、应用领域： - 时间分辨试验； - X射线粉末衍射和散射技术； - 残余应力测量； - 薄膜与纹理分析； - PDF分析； - SAXS, WAXS, GISAXS； - 色散荧光光谱。4、技术参数：MYTHEN2 X1K1D微带数量1280640传感器厚度 [μm]320,450,1000微带宽度 [μm]50微带长度 [mm]8 and 4 (320 μm only)有效面积（宽*高）[mm2]64 x 832 x 8 , 32 x 4动态范围 [bit]24能量范围 [KeV]4-40*读出时间 [μs]89帧频 [Hz]1000点扩散函数 [strip]1能量分辨率2（r m s）[ev]687+5冷却方式风冷模块尺寸（WHD）[mm3]70 x 62 x 2238 x 62 x 22模块重量 [g]180100DCS4尺寸（WHD）[mm3]110 x 30 x 160DCS4重量 [g]400 *低于4KeV的X-ray能量仅适用于320μm x 4mm的传感器。 注：所有规格如有变更，不做另行通知。 PILATUS3 R探测器系列：三、1、产品特点： PILATUS3 R 混合光子计数（HPC）探测器经过重新设计，旨在实现最佳的数据质量。该系列探测器基于同步辐射技术，并融合了两种关键技术：单光子计数和混合像素技术，实现了更好的实验室体验。 PILATUS3 R 系列进一步完善了我公司实验室用系列探测器的独特优势： DECTRIS 的即时触发技术配合 PILATUS3 独特的技术优势，充分提升了计数率和计数率的准确校正。 PILATUS3 R 探测器的高计数率，使得其在处理高强度信号时显示了独特的优势。 DECTRIS 即时触发技术可被用来准确测量具有高强度衍射的样品，如小分子或无机复合物样品的高强度衍射峰。 单光子计数可消除所有的探测器噪音，从而得到优质的数据相对于同步辐射，实验室中的X射线源要微弱得多，只能得到较为微弱的衍射信号，因此通常需要较长的曝光时间。由于没有暗电流和读出噪音， PILATUS3 R 系列探测器比其它实验室用探测器具有更优的性能。 HPC 技术使得该系列探测器可直接探测X射线，比闪烁器探测器所产生的信号更为清晰。读出时间短并能连续采集信号的 PILATUS3 R 系列探测器可高效输出优质数据；较低的功耗和冷却要求可确保您轻松使用并最大限度的减少维护工作量。 PILATUS3 R 系列探测器专为您的实验室需求而量身定制，可提供无与伦比的同步辐射成熟技术。具有独特性能的PILATUS3 R 系列探测器，可助您从最具挑战性的样品中采集到最优质的实验数据。 2、核心优势： – 可在单光子计数模式下直接探测X射线； – DECTRIS即时触发技术，可实现全程连续计数； – 最高的局部和整体计数率； – 准确的计数率校正，可在最高计数率条件下获得最佳数据质量； – 无读出噪音和暗电流； – 出色的点扩散函数； – 高动态范围； – 读出时间短，帧频高。 3、应用领域： – 生物大分子晶体学（MX）； – 单晶衍射（SCD）； – X射线衍射（XRD）； – 小角和广角X射线散射（SAXS/WAXS）； – 表面衍射； – 漫散射； – 时间分辨实验； – 成像； – 无损检测。 4、技术参数：PILATUS3 R100K-A200K-A300K300K-W1M探测器模块数量1 x 11 x 21 x 33 x 12 x 5有效面积:宽*高[mm?]83.8 x 33.583.8 x 70.083.8 x 106.5253.7 x 33.5168.7 x 179.4像素大小 [μm?]172 x 172总像素数量487x195=94,965487x407=198,209487x619=301,4531475x195=287,625981x1043=1,023.183间隙宽度, 水平/垂直（像素）0- / 17- / 177 / -7 / 17非灵敏区 [ % ]04.35.50.97.2缺陷像素 0.03%最大帧频 [Hz]202020205读出时间 [ms]7点扩散函数1 pixel（FWHM）计数器深度20 bits（1,048,576 counts）阈值能量 [keV]3.5 - 183.5 - 182.7 - 182.7 - 182.7 - 18功耗 [W]30303636165尺寸（WHD）[mm?]156x115x284156x155x284158x193x262280x62x296265x286x455重量 [kg]4.55.47.57.025模块冷却风冷风冷水冷水冷水冷电子冷却风冷风冷水冷水冷风冷外接触发电压5V TTL能量校准铬，锰，铁，铜，镓，钼，银的Ka线标准配置450微米的硅传感器探测器可选配置1000微米的硅传感器--可用于真空可用于真空-

瑞士进口EIGER2 R 250K二维面阵2D衍射仪X射线探测器1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R250K500K1M4M探测器模块数量111 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]38.4 x 38.477.2 x 38.677.1 x 79.7155.1 X 162.2像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）3.5-30最大计数率（cps/mm2）6.9×108计数器深度（bit/threshold）2×16最大帧速率 [Hz]505010020采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.81.84.715

产品介绍：标准的MINIPIX设备配备了单个的Timepix探测器（256 x 256 ，像素大小55 μm），硅传感器厚度300μm。采用USB2.0的接口读出速率为30帧/秒（曝光时间为1ms）。能量敏感成像内置了一个小的装置，可用于新维度的辐射成像。小型化的MINIPIX可内置于用于难以成像的管道或受限的空间里。MINIPIX 可以匹配针孔或X射线镜片。系统可用于成像（X射线，中子，离子），辐射监测并识别单个颗粒（X射线，电子，α粒子等），能量检测是其应用的优势。通过USB界面来操控MINIPIX，相机通过PIXET LITE(supports MS Windows, Mac OS and LINUX)软件控制运行。可选择性购买PIXET 或Pixelman软件。这款设备的主要应用在识别单个颗粒并检测它们的能量，同样可用于成像（如X射线或中子成像） 产品特点：高空间分辨能力（55μm）超高的动态范围（无暗电流）能量敏感（能谱成像） 技术参数：主要应用：混合光子计数探测器MiniPIX在XRD分析领域的创新应用与进展快速射线成像（X射线，中子）粒子探测X射线衍射仪X射线应力仪

LynX T3 or M3光子计数型相机_X射线探测器LynX系列混合像素X射线探测器ASI公司出品的 LynX T3 or M3光子计数型相机_X射线探测器为混合像素区域探测器，55μm像素间距，适用范围广。在每个512×512像素(262K像素点)中，LynX探测器辨别或测量X射线能量的能力，为X射线探测、成像和断层扫描等应用提供了前所未有的可能性。LynX传感器（硅，砷化镓，碲化镉）被设计成一个像素阵列，并通过凸块接合(bump-bonds球)连接到集成在传感器下面的芯片的读出电路，将传感器的信号转换为电信号。每一个像素点都能够进行待测物体的计量、统计光子能量或计算出检测到量子的时间。LynX 120是基于Timepix ASIC（专用芯片）的一款多功能光子计数型探测器。每个像素要么计数被检测事件，测量沉积在像素中的能量值，要么测量探测光子的到达时间。读出速率高达120帧/秒。LynX 1800基于Medipix3RX ASIC，速度已改进。在连续读出模式下，可记录高达1800帧/秒的信号，死时间为零。在电荷累加模式下，可提高光谱性能，避免了像素间的电荷分配所造成的能量损失。此外，还可提供也基于Medipix3RX但带有每110μM凸块布置的LynX 1800s。在电荷累加模式下，它有4个能量阈值，允许在单个测量中计数不同能量窗口的X射线。特点和优点：直接、单光子探测优越的点扩展函数零噪音、高信噪比和宽动态范围短的读出时间和高的帧扫描速率模块化探测器，更大活性区域可选用高Z传感器材料，以便提高高能量效率主要应用：相衬成像（ptychography，光栅干涉）扫描SAXS / WAXS成像，小角X射线散射表面衍射时间分辨实验X射线和医学成像大分子晶体学断层摄影术能量分辨X射线计算机断层扫描快速生产线X射线检查电子显微镜质谱仪型号及配置：荷兰ASI公司(Amsterdam Scientific Instruments B.V.)出品的LynX T3 or M3光子计数型相机_X射线探测器有多种型号及配置可选：1）可选型号：LynX 120（Timepix技术，ToT、ToA等应用，帧频120f/s，阈值数1个）；LynX 1800（Medipix3RX技术，CSM&SPM模式等应用，帧频1800f/s，阈值数1或2个）；LynX 1800s（Medipix3RX技术，CSM&SPM模式等应用，帧频1800f/s，阈值数4或8个）；LynXT3（Timepix3技术，ToT、ToA、光子时间戳、速度映射成像和符合成像等应用，可与同步加速器或自由电子激光等配套，时间分辨率1.6纳秒，超高速帧频500 MHz，阈值数1个）等。2）可选传感器材料类型：Si, GaAs, CdTe, ... 常用硅，可选砷化镓（高能量用途），碲化镉（更高能量用途）。也可与中子转换器或微通道板(MCP,多通道电子倍增器)配套使用。3）可选传感器厚度：300um/500um/1000um（标配300um，高能量应用请选较厚的厚度）4）可选像素数：65k、262k、524k、1M、2M等不同活区面积。上述总有一款及其配置适合您的X射线检测和成像应用，欢迎选购！

DR是Digital Radiograph（便携式DR成像系统）的缩写。由平板探测器、X射线机、X射线机同步控制单元、控制模块、交流电缆线、数据线、接口盒、便携式电脑和软件等组成。平板探测器主要特点： 1、采用优质高效的HSG+闪烁体材料，闪烁体层厚度按照工业使用需求专门设计，使得探测器具有更好的光子捕获能力，获得更高的信噪比。2、优异的成像质量：选用成像质量稳定的DDA非晶硅成像板，采用140μm像素TFT工艺，使得空间分辨率和光子俘获效率均达到了最适合工业使用的均衡。3、成像板具有低散射及高灵敏度的特点，使成像系统具有高成像解析度及信噪比，16bit高动态范围图像灰度值范围大、厚度宽容度高、层次丰富、便于调节观看。4、超薄设计：特殊设计的超薄平板探测器厚度，可以插入排管缝隙、墙边管线等狭小空间，超窄边框成像盲区小于3mm，使管道弯头焊缝等位置也可以布置拍摄。5、远程操作：探测器内置无线模块的同时也配置有外部快装式高性能天线，无需外部放大模块就能满足大于100米的野外使用距离，现场使用更具便携性。6、在没有交流电源的野外，平板探测器可以采用内置电池供电，单电池工作时间持续6小时以上（标配两块电池）7、在固定场所作业时，可通过DC端口持续供电，免于频繁充电和更换电池。8、存储：探测器内部含有存储单元，可脱离工作站独立工作，可存储图像不少于200幅。9、校正：探测器内置校正文件，可便于现场校正使用。10、预览方式：无需专用软件即可通过手机、平板电脑的通用网络浏览器预览并共享图像。11、防护等级：可达IP67（提供第三方测试报告）12、图像软件可一键自动控制标配射线机与平板探测器的同步工作，可匹配主流品牌型号的脉冲射线机和高频恒压射线机，手动控制曝光。13、同时具备有线与无线通讯功能，成像板可由用户任意选择无线或有线连接电脑。14、具有多次曝光叠加降噪功能，叠加合成图片，消除随机噪声，提高图像信噪比 。15、具有能量融合、局部增强、腐蚀测量、多档灰度对比度预置一键调整图像等优化功能。16、软件支持用户二次开发不同应用。平板探测器技术参数：图片 型号PIXX3543N传感器非晶硅闪烁体硫氧化钆 GOS像素矩阵2560*3072像素区域350mm*427mm像素间距140μm能量范围40-300kvp动态范围16bit触发方式软件触发、AED自动触发、连续触发图像捕获时间3-5秒数据传输时间小于1秒尺寸420.5 x 461 x 15mm重量≤4.2kg外壳碳纤维/铝合金供电锂离子聚合物电池、DC直流防护等级IP67 rated无线标准Gigatit WIFI 802.11AC有线标准千兆以太网、RJ45端口便携移动双侧把手位应用：电力耐张线夹检测，电力GIS设备检测，无损检测，安检排爆，考古等领域。

简单介绍采用光纤锥耦合X射线探测器，最大限度的提高了光通量，用1：1的光纤面板，耦合效率可达到70%，大大提高了相机的探测能力。图像不失真，不需要对影像进行较正，可以让系统的软件变得更简单X射线探测器 的详细介绍 高耦合效率，降低设备X光源的投入影像不失真，让系统软件变得更简单 采用光纤锥耦合的X射线探测器，最大限度的提高了光通量，用1：1的光纤面板，耦合效率可达到70%，大大提高了相机的探测能力。图像不失真，不需要对影像进行较正，可以让系统的软件变得更简单。此相机广泛的应用于工业无损检测，如铸件和焊接检测、PCB板检测、工业CT等。 BGA检查 IC焊脚检查 二极管质量检查 金线检查 产品规格： 标准产品有以下三个型号，根据X光源不同，要求分辨率以及目标物的厚度不同，有可能需要改变荧光屏材料和厚度。我们向您提供完美的解决方案。 产品型号HR-25-X-RayHR-40-X-RayHR-75-X-RayCCD芯片2/3’’芯片，752*5822/3’’芯片，1392*10401.2’’芯片，2048*2048像素尺寸11.6um*11.2um6.45um*6.45um7.4um*7.4um输出格式标准CCIR模拟型号输出8bit或12bit数字信号输出8bit或12bit数字信号输出帧速视频速度17帧或30帧15帧计算机接口无1394或以太网接口以太网接口视场20mm*15mm（其它可选）32mm*24mm（其它可选）45um*45um荧光屏镀膜P43(其它可选)P43(其它可选)P43(其它可选)X光响应范围20kev-100kev20kev-100kev20kev-100kev入射光窗0.5mm厚铝膜（其它可选）0.5mm厚铝膜（其它可选）0.5mm厚铝膜（其它可选）分辨率50um≤50um，10lp/mm≤50um,11 lp/mm HR-75-X-Ray400万像素高分辨率；选用75:25的光纤锥耦合，视野可达到45mm X 45mm. HR-40-X-Ray140万像素高分辨率；选用40:11的光纤锥耦合，视野可达到32mm X 24mm. HR-25-X-Ray体积小巧，直径仅55mm,长68mm,易于安装；分辨率高；动态范围好。 量子效率曲线图（P43荧光屏（25mg/cm2）, 厚度：55um） 定制产品： 我们可根据客户的需求定制X-Ray相机 荧光屏类型和厚度附加层（如Alu,ITO）输入窗口类型和厚度相机电子部分（如计算机接口）制冷（针对于部分型号）真空接口视野大小空间分辨率 应用领域 医学成像设备：牙科X光成像眼科成像X射线断层成像局部骨骼成像 工业检测设备：PCB或BGA 检查半导体缺陷检查食品安全检查X光光斑成像无损探伤电线检查 安防设备：紫外线导弹预警距离选通激光雷达夜视相机爆炸物探测指纹获取火灾探测

1.EIGER2 R CdTe: 高能量 HPC 技术的全面优势EIGER2 R CdTe-X射线探测器将混合光子计数 (HPC) 技术的新一代研发成果和碲化镉感光器件的高量子效率集合在一起。因此，在使用高能量X射线源或需要双波长设置时，EIGER2 R CdTe-X射线探测器便会是您实验室的上佳选择。作为德科特思（DECTRIS） 公司的专利技术即时触发技术带来了前所未有的高计数率能力，以便更精确地测量实验室X射线源所能达到的高强度。EIGER2 R CdTe-X射线探测器配有两个能量鉴别阈值，与上一代相比，在环境背景下具有更低的暗计数。这极大地提高了弱信号和长时间曝光的信噪比，能够在更短的测量时间内提供更优质的数据质量。单光子计数与连续读/写数技术相结合，克服了所有积分探测器容易饱和以及动态范围有限的问题。除此之外，直接探测计数配合 75μm 的小像素尺寸使得探测器具有更高的空间和角度分辨率。2.核心优势– 由于零背景噪音，出色的计数率和同时读写，所以具有很高的动态范围– 直接检测和小像素尺寸以获得光斑分离和最小背景重叠– 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景– 由于直接检测 X 射线，没有图像滞后和余辉3.应用领域– 大分子晶体学(MX)– 化学晶体学– 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）– μCT 4、技术规格：型号EIGER2 R CdTe 500KEIGER2 R CdTe 1MEIGER2 R CdTe 4MEIGER2 R CdTe 2M-WEIGER2 XE CdTe 1M-W有效面积：宽x高 [mm2]77.1 X 38.477.1 x 79.7155.1 x 162.2311.1 x 38.4155.1 x 38.4像素大小 [μm2]75 x 75总像素数量1028x5121028 x 10622068 x 21624148 x 5122068 x 512帧频* [Hz]1001002050100计数器深度 [ bit ]3232323232读出时间连续读数点扩散函数1 pixel传感器材料CdTe传感器厚度 [μm]750能量范围 [keV]8-25 (8-100, with optional extended energy range calibration)计数率 [ph/s/pixel]5.5 x 106尺寸（WHD）[mm3]114 x 133 x 242235 x 237 x 372340 x 370 x 500400 x 430 x 500340 x 370 x 500重量 [kg]3.74.7159.75.8冷却方式水冷（模块）/风冷（电子学）水冷（模块）/风冷（电子学）水冷（模块）/风冷（电子学）水冷（模块）/风冷（电子学）水冷（模块）/风冷（电子学）**所有规格如有更改，恕不另行通知。