手持式四探针电阻测量仪

名称：四探针电阻测量仪图片：品牌：KLA 集团旗下品牌 Filmetreics型号：R50用途：金属膜均匀性分布、离子掺杂和注入表征、薄膜厚度和电阻率分布、以及非接触膜厚等量测。优势 :1)接触式四点探针(4PP)和非接触式电涡流(EC)2) 100mm Z行程，高精度控制 3)导体和半导体薄膜电阻，10个数量级范围适用 4)测试点自定义编辑，包括矩形、线性、极坐标 以及自定义配置 5)200mm XY电动平台 6)RSMapper软件灵活易用 7)兼容KLA所有电阻测试探针应用市场：1）半导体 2）化合物半导体 3）先进封装4）平板和VR显示 5）印刷电路 6）穿戴设备 7）导电材料8）太阳能

四探针半导体电阻率测量仪HRDZ-300C并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成图表和报表。能便携全自动测量导线、棒材电阻率、电导率等参数。应用电流–电压降四端子测量法、单片机技术及自动检测技术。其性能完全符合GB/T3048.2及GB/T3048.4中的相关技术要求。广泛应用于冶金、电力电工、电线电缆、电机电器、高等院校、科研单位等行业。硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等提供中文或英文两种语言操作界面选择，满足国内及国外客户需求四探针半导体电阻率测量仪HRDZ-300C方阻计算和测试原理如下：　　直线四探针测试布局如图8，相邻针距分别为S1、S2、S3,根据物理基础和电学原理：　　当电流通过1、4探针，2、3探针测试电压时计算如下：　　四探针半导体电阻率测量仪HRDZ-300C工作原理图　　四探针半导体电阻率测量仪HRDZ-300C步骤及流程　　1. 开启电源，预热5分钟.　　2. 装配好探头和测试平台.　　3. 设定所需参数.　　4. 测量样品　　5. 导出数据.　　优点描述：　　1. 自动量程　　2. 准确稳定性.　　3. 双电组合测试方法　　4. 标准电阻校准仪器　　5. PC软件运行　　6. 同时显示电阻、电阻率、电导率数据.　　7. 可显示5位数字.　　8. 中、英文界面四探针半导体电阻率测量仪HRDZ-300C性能特点1. 体积小巧、重量轻。2. 全中文菜单操作，操作简单方便。3. 测量速度快，数据精确稳定。4. 具有自动放电和放电指示功能，减少误操作，保证设备及人员安全。

机器是双系统控制模式，可电脑控制，也可以触摸屏控制。 数据处理：测试数据可显示测试点的 X, Y 坐标，电流电压范围，电阻，电阻率等。 图谱功能画面：制图软件可根据样品形状，测量点数量和位置，测量点的方阻值绘出2D, 3D MAP图. 控制系统：机器是双系统控制模式，可电脑控制，也可以触摸屏控制 有伺服电机，高精度走位，探头压力传感器，设有多重压力感应保护机制。测量区域封闭无尘空间，减少污染。 机器参数1．方阻测量范围：1x10E-6ohm/sq~5x10E6ohm/sq2．四探针探头测量金属类型：铝 / 钛 / 镍钒 / 金/ 铜 等金属3．四探针探头测量金属厚度：100A～10μm4．四探针系统电流量程：1μA , 10μA , 100μA ,1mA , 10mA , 50mA , 500mA 七档5．四探针标准晶圆方阻重复性：1，≤±0.1%（同点静态测量）2，≤±0.2% （动态多点测量）6．四探针标准晶圆测量精度：≤±1%（典型晶圆）7．量测区域：以探针头的中心到晶圆的边缘距离3mm8．测试图形： 1，极地图形（在对位晶圆的notch) 2，矩形图形（无效边缘排除以外进行选择） 3，直线扫描（可以是直径，半径或沿直径的点到点，最小距离0.1mm) 4，用户自定义（使用模板） 9．测量图形表示：可以为轮廓图，3D图，water上显示的数据图数据表示10．探针自清洁功能：陶瓷片清洁11．所有设备测量的数据文件可以被导入到Excel，Word文档，工作站等，数据图形可以合并

1.恒奥德仪器手持式四探针测试仪四探针检测仪 配件型号HAD-3 HAD-3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.HAD 标准。仪器成套组成：由HAD-3主机、选配的四探针探头等二分组成，也可加配测试台。仪器所有参数设定、能转换采用轻触按键输入；具有零位、满度自校能；手动/自动转换量程可选；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。配探头，也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。详见《四探针探头特点与选型参考》点击入仪器具有测量度、灵敏度、稳定性好、智能化程度、结构紧凑、使用简便等特点。仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。 三、基本术参数1. 测量范围、分辨率电 阻： 0.010 ～ 50.00kΩ, 分辨率0.001 ～ 10 Ω电 阻 率： 0.010～ 20.00kΩ-cHAD， 分辨率0.001 ～ 10 Ω-cHAD方块电阻： 0.050～ 100.00kΩ/□ 分辨率0.001 ～ 10 Ω/□ 2. 可测材料尺寸手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台决定如下：直 径：HADT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130HADHAD。HADT-C方测试台直接测试方式180HADHAD×180HADHAD。长()度：测试台直接测试方式 H≤100HADHAD。.测量方位: 轴向、径向均可. 量程划分及误差等 2.声波泥水界面计污泥水界面计声波泥水界面仪 型号DQF-QFWJ-100 测量原理传感器发出声波遇到泥层会反射，测出发射波和反射波之间的时间，就可以得出传感器到泥层的距离H；传感器到池子底面的距离是用户设置的L；这样就可以得到泥层的厚度D=L-H。参数:测量范围：0.5~10m准确度：±1.0%分辨率：1mm标 定：出厂标定，可现场校验 显 示：液晶显示 模拟输出：4～20mA、大负载750W继电器输出：报警继电器输出 继电器容量：AC230V、5A数字接口：可选RS485供电电源：AC220V±10%材 质：PC防护等：IP65作温度：-20~60℃材 质：316不锈钢、PVC连接方式：G1管螺纹 传感器线缆：10米（其他长度可在订货中说明） 防护等：IP68作温度：0~60℃环境湿度：相对湿度≤90%过程压力：0.6MPa 3.红外辐照计/红外辐照度计 型号:HAD-IR850 标 1、波长选择：本仪器有如下两种波长的红外探测器可供选择： （1）中心波长850nm； （2）中心波长940nm；2、测量范围：1uw/cm2~999.9k uw/cm2；3、测量度：5%；4、显示刷新率：1次／秒；5、供电电源：9V叠层电池；6、耗：＜20mW 7、作环境条件：温度0~40℃、湿度：＜90％；8、仪表尺寸：130mm×65mm×25mm 4.多能土壤腐蚀速度测量仪 型号 HAD-ZKW180 术特点】 采用五个相同材质电环组合联结成组合式电化学探头，有效地降低了测量腐蚀电流密度时土壤介质IR降的影响；其中辅助电（CE ）研究电（WE ）和 参比电（RE）的连接方式以（CE-WE-RE）表示，组合式电化学探头连接方式为（1-5，2-4 ，3 ）。研究电（WE ）和参比电（RE） 的面积为5cm2 ； 运用四电探针，采用相对较低的测量电压，准确测定土壤电阻率，避免压测量带来的读数困难和土壤电解成理化性能破坏； 采用标准铂电、硫酸铜电用于测量土壤氧化还原电位； 在探头聚四氟缘棒上固定度测温元件测量土壤温度； 运用预孔器方法，测量时对土壤原有结构的破坏很小且不用开挖； 前端采用锥形设计以保证探头和土壤间有良好的接触； 探头通过打磨可重复利用。 1 土壤腐蚀性评定 多能土壤腐蚀速度测量仪 应用域 Ø 输油、气埋地管线、城市埋地管线外腐蚀评价 Ø 混凝土腐蚀性评定 Ø 水溶液腐蚀介质腐蚀性评定 Ø 等等 多能土壤腐蚀速度测量仪 术标 Ø 仪器正常使用的环境条件： • 温度：0 ℃至40 ℃. • 相对湿度：≤80%RH Ø 土壤温度测量范围：零下10℃至100℃，误差：2 ℃ Ø 土壤氧化还原电位测量范围：±2000mV，误差：≤1% Ø 土壤电阻率测量范围：0至10KΩm，误差：≤2% 土壤化电阻测量范围：40Ω至300KΩ，误差：≤3% 土壤腐蚀速度测量范围：1 ×10-4至2 mm/a 蓄电池充电时间6小时，充电时可正常作。次充电后可持续作24小时 5.初粘性和持粘性测试仪/斜面滚法、胶粘带瞬间粘合力测试仪/初粘性测试仪 型号:CZYG 适用于压敏胶带等相关产品行初粘性测试试验，具A斜面滚法B斜槽滚法两种试验方法，转换方式简单易行。特点: 采用斜面滚法的测试原理，测试试样的瞬间粘附性能 按照家标准设计的测试钢，确保了测试数据的准性 测试倾斜角度可以按照用户的需求行自由调整 应用: 基础应用 胶粘制品 适用于各种胶粘类制品的初粘性测试，如压敏胶带、用贴剂、不干胶标签、保护膜等 作原理：采用A法斜面滚法和B法斜槽滚法 1. A法通过钢和压敏胶粘带试样粘性面之间以微小压力发生短暂接触时，胶粘带对钢的粘附作用来测试试样初粘性。将钢滚过平放在倾斜板上的胶粘带粘性面，根据规定长度的粘性面能够粘住的钢尺寸，评价其初粘性大小。 2. B法将规定大小的钢滚过倾斜槽，测量其在水平板上的胶粘带粘性面上滚动的距离来评价其初粘性的大小。 术参数:可调倾角： 0-60° 台面宽度： 120mm 试区宽度： 80mm 标准钢： 1/32-1英寸 药典46枚钢 外形尺寸： 14（B）×32（L）×18（H）cm 重 量： 13 kg 配置:主要由倾斜板、放器、支架、可调水平底座及钢盒等分构成 6.单体支柱测压仪 测压仪 型号HAD-40Z HAD-40Z单体支柱测压仪也称为外平衡仪表，用以检测单体液压支柱初撑力（作阻力）的增压式。 HAD-40Z单体支柱测压仪术参数： ⑴ 量程： 0 ～ 40MPa ；⑵ 显示方式：微表式；⑶ 度： 2.5%FS ；⑷ 作介质：含 2% 乳化液或乳化油；⑸ 重量： 1.3 ㎏；⑹ 每桶液体充液次数： 90 ～ 100 7.测力环/ 土用测力环 测力装置 应力环 型号:HAD-100KN 测力环与路面材料强度试验仪主机及相应附件配套使用，可做无侧限抗压强度、承载比、马歇尔稳定度、劈裂试验、回弹簧模量等试验。规格：150KN、100KN、60KN、30KN、7.5KN、2KN能简介：测力环结构合理、操作方便，适用于各种型号路面材料强度试验仪、承载比试验仪、电动应变无侧限压力仪、土基试验仪等公路仪器标准力值的试验。术参数：示值重复性相对误差不大于0.3% 示值回程相对误差不大于1.5% 示值长期稳定度（三个月）不大于0.3% 回零偏差不大于0.2个分度 灵敏度所不大于0.2个分度对应的力值8.智能化γ辐射仪/智能化伽玛辐射仪 型号 HAD-2000 仪器特点 灵敏度、能量响应范围宽、耗低、稳定性好、操作方便，中文显示被测石材的A、B、C类别，亦可显示计数率和吸收剂量率。 术标 1.测量模式 常规测量：每3s测量次，显示每秒的平均值； 定时测量：可自行选择10s、30s、60s、300s、600s中的 档测量，仪器显示每秒钟的平均值 2.测量范围：（0.01～100）μGy/h 3.能量阈：40keV 4.测量线性：放射性强度γ与计数率CPS的相关系数≥0.999 5.长期稳定性：≤6%（连续作8h） 6.准确度：＜20％ 7.灵敏度：1μGy/h（103nGy/h）的计数≥350s-1 8.电源：3节1号电池 9.耗：≤100mW 10.使用环境 温度：（0～40）℃ 湿度：≤90%（40℃） 11.外形尺寸及重量（含包装箱）：（350×200×250）㎜；6㎏ 仪器认证 中计量科学研究院检定并出具检定证书 9.活化仪/吸附管老化仪/老化仪 型号:HAD-TH-10 HAD-TH-10 型活化仪是在热解吸的基础上，为提作效率而研制设计的检 测配套件。其特点是具有立控温系统，不需外接其何控温设备，即可 立成 1 — 10 支吸附管的活化过程，自带流量计，显示直观，操作简单。 术参数： ◆ 电源：220VAC 50Hz ◆ 率：300VA ◆ 控温范围：室温~400℃ ◆ 控温度：±1℃ ◆ 定时范围：1分钟~99小时59分钟 ◆ 流量调节范围：0~1000ml/分钟 ◆ 次多活化数量：10支吸附管 ◆ 吸附管长度：110mm以上（却省） ◆ 外型尺寸：x宽x深 225 x 265 x 345 ◆ 净重：约7.5kg 10凝胶化时间测试仪/凝胶化时间检测仪/酚醛树脂凝胶化 型号：HAD-YGT-A 产品说明： 常温HAD-YGT-A型凝胶化时间测试仪术规范： ►温度：室温—230.0℃ 意调节 ►温度度：±0.5℃，四位LED显示 ►热盘尺寸：￠50×2.5 ｍｍ ►温度控制：欧姆龙固态继电器PID控制 ►时钟：0—999.9秒计时，带“启动/停止”和“归零”开关 ►温度和时间控制与热盘是二个并列的组合体（参考照片） ►外形尺寸（W×D×H）：342×170×190mm ►机体重量（㎏）：约18㎏ ►电 源：220V,50HZ,600W 本公司主营 不锈钢采水器，弯曲测量装置，鼓风干燥箱，色度计，化学试剂沸点测试仪，提取仪，线缆探测仪，溶解氧测定仪，活性炭测定仪，磁导率仪，比浊仪，暗适应仪，旋转仪，酸度计，硅酸根测定仪，过氧化值测定仪，腐蚀率仪，电阻率测定仪，耐压测定仪，污泥比组测试仪，粉体密度测试仪，机械杂质测定仪，运动粘度测试仪，过氧化值酸价测定仪，噪声源，土壤腐蚀率仪，直流电阻测试仪，厌氧消化装置，耐压测试仪，甲醛检测仪，硅酸根测试仪，PH酸度计，测振仪，消解仪，读数仪，空气微生物采样器，，双波长扫描仪，涂层测厚仪，土壤粉碎机，钢化玻璃表面平整度测试仪，腐蚀率仪，凝固点测试仪，水质检测仪，涂层测厚仪，土壤粉碎机，气体采样泵，自动结晶点测试仪，凝固点测试仪，干簧管测试仪，恒温水浴箱，汽油根转，气体采样泵，钢化玻璃测试仪，水质检测仪，PM2.5测试仪，牛奶体细胞检测仪，氦气浓度检测仪，土壤水分电导率测试仪，场强仪，采集箱，透色比测定仪，毛细吸水时间测定仪，氧化还原电位计 测振仪，二氧化碳检测仪，CO2分析仪，示波谱仪，黏泥含量测试仪，汽车启动电源，自动电位滴定仪，，干簧管测试仪，电导率仪，TOC水质分析仪，微电脑可塑性测定仪，风向站，自动点样仪，便携式总磷测试仪，腐蚀率仪，恒温水浴箱，余氯检测仪，自由膨胀率仪，离心杯，混凝土饱和蒸汽压装置，颗粒强度测试仪，斯计，自动涂膜机，，气象站，动觉方位仪，，气味采集器，雨量计，四合气体分析仪，乳化液浓度计，溶解氧仪，温度测量仪，薄层铺板器，温度记录仪，老化仪，噪音检测仪，恒温恒湿箱，分体电阻率测试仪，初粘性和持粘性测试仪，红外二氧化碳分析仪，氢灯，动觉方位仪，冷却风机，油脂酸价检测仪，粘数测定仪，菌落计数器，气象站，雨量计，凯氏定氮仪，荧光增白剂，啤酒泡沫检测仪，发气性测试仪，低频信号发生器，油液质量检测仪，计数器，漏电流测试仪，标准测力仪，毛细吸水时间测定仪，大气采样器，流速仪，继电器保护测试仪，体积电阻率测试仪，侧面光检测仪，照度计，体化蒸馏仪，涂布机，恒温加热器，老化仪，烟气分析仪 本产品价格仅为配件价格，由于检测参数不同对仪器的终要求也不同，所展示的价格并非产品终价格，如给您带来不便请谅解请您在购买前联系我们客服人员，我们会给你确认产品信息，术参数以及报价，我们会以优惠的价格，诚恳的态度为您服务，期待您的来电！ 以上参数资料与图片相对应

1. 恒奥德手持式探针防腐层绝缘电阻测量仪 型号HAD-DS1自动释放充电电荷 1、产品特性 HAD-DS1是5量程测量绝缘电阻的高压绝缘电阻计 IEC 61010-1，-2-030(CAT III 600V /CAT IV 300V 污染度 2) IEC 61010-031(手持式探针要求标准) l 自动放电功能： 测试电容性负荷的绝缘电阻时，测量后自动释放充电电荷。放电状态可在电压模式中确认。 l 背光功能便于在阴暗光线或夜间工作。 l 条形图显示测量结果。 l 带电线路警告标志和蜂鸣警告。 l 自动关机功能：为避免忘记关机造成的电池浪费，测量后 10 分钟无操作时仪器将自动关机。 自动测量和 PI 测量（极化指数测量），DAR 测量（诱电吸收比测量）。 2、技术指标 l 测量范围和精确度(温度/湿度: 23±5º C,45～75%RH)2. 大屏幕LCD中文水中甲醛测定仪 型号：HAD-H309 HAD-H309技术参数1、测量范围：0.05～5.00mg/L（超过量程可稀释测定）2、最小分辨率：0.01 mg/L3、示值误差: ≤5%(F.S)4、重复性 ：≤3%5、光学稳定性：≤0.002A/20min6、外形尺寸：主机 266mm×200mm×130mm7、功耗：30W8、重量：500g 光学稳定性强，不易受到各种光的干扰，因而仪器精度高、稳定性好。2、大屏幕LCD中文显示，中文菜单操作，简便、直观。3、可保存标准曲线10条及199个测定值（含带时间标签年、月、日、时、 分、秒的测量值、吸光值及透光率）。数据断电不丢失。4、主机机壳采用模后ABS材料，防腐蚀性好。5、采用高性能、低功耗16位单片机系统，性能极佳。6、十几年的水质监测仪器生产经验，确保产品的 3.内燃机车增压器振动测试仪 速度、测速度、测位移 型:H706D 1.1主要特点/性能描述 能够测量多种参数：（测加速度、测速度、测位移、测各种波形、超过10小时的长波形），是监控仪器。 1.2 主要技术指标： &bull 测量量程，频程和频响误差： &bull 加速度Acc：0.1 to 199.9 m/s2 10Hz~1000Hz &bull 速度VEL：0.1 to 199.9 mm/s 10Hz~1000Hz &bull 位移dISP：1 to 2000 µ m 10 Hz~500Hz &bull 精度： 5 2个字 &bull 内存容量：32MB RAM/256MB Flash存储（可扩展最大支持32G） &bull 显示屏幕：支持触摸输入，分辩率：320×240彩色3.5英寸QVGA显示屏，TFT-LCD、65K色 &bull 外部接口：USB接口（1个USB Slave B 型接口）扩展插槽：SD卡存储接口（最大支持32G） &bull 数据存储：200万组双通道振动振值 或 超过6万个1024点波形 或连续5天不间断的长波形 &bull 频谱分析：400线 1.单一振值：用于测量双通道单一振值【加速度、速度、位移】 2.四振值：用于同时测量双通道加速度、速度、位移。 3.波形：同时测量双通道加速度、速度、位移、包络中的一种波形 5.长波形：用于长时间保存连续波形，便于捕捉间歇性故障 在单一振值页面，点击要测的振值进行测量切换，比如点击红色方框内的区域 4.全自动氮吹仪 全自动操作氮气浓缩仪 型号H18307 7、可以定量加注溶剂样品，全自动操作。选配 技术参数: 2、样品数量：同时浓缩处理1-12个样品； 3、样品瓶体积：10ml，50ml，100ml或150mL，或其他规格； 4、终点检测：每一个工作通道均配有的光学传感器，自动、独立地检测终点； 5、终点体积：可定容的体积分别为1.0mL、0.5mL或近干（~0.1mL，适当延长吹扫时间亦可将溶剂吹干），不同规格的浓缩瓶可以同时交叉使用； 6、水浴温度：室温-95℃（±0.5℃）； 7、氮吹时间：0-9999s； 8、气体压力：氮吹工作气压，0~0.1MPa（压力间隔变化为0.01MPa）； 9、外接氮气压力范围：0.2~0.8MPa；外接允许最大气压，1.0MPa； 10、气体消耗量：最大吹扫气压（0.1MPa）下，每通道约500mL/min（约17cfm）； 11、定容灵敏度：十级可调，保证不同颜色或透光度的溶剂的浓缩定容更为准确； 12、控制方式：用户可根据实际情况，自行选用手动方式或智能方式控制吹扫终点； 13、报警提示：仪器在开盖、浓缩完成、水浴水量或氮气压力不足时，均会自动报警提示； 14、其他：电源，220V/60Hz； 15、仪器尺寸，650×450×308mm； 16、重量：20Kg。 5.原油含水测定仪操作简便 石油产品含水分析仪 型号：HAD-T6533 原油含水测定仪按T6533-2012分析标准要求设计的，是针对含水原油或石油产品进行含水分析的主要仪器之一。是石油开采行业和石油科研单位对油田采油过程中的采出液（即含水原油）进行含水测定的机器 仪器原理: 利用不同物质的比重差异特性，对样品加温,在破乳剂的作用下使束缚水变成游离水；同时在离心力的作用下，使样品分离成水层和油层，即可换算出含水量（详见标准GB／T6533-2012）。 1. 操作简便：高性能微机控制数字显示、触摸面板、变频电机驱动；分析温度、分析时间、工作状态、累计工作时间的记忆和显示均是由微机自动控制完成。 2.分析效率高：使用该机进行原油含水测定，分析时间一般只需5-15分钟。 3．各种保护 安全可靠：设有超速，超温，不平衡、等多种保护，并有自我诊断保护功能，电子门锁，确保人身和仪器安全。 4. 电机直接驱动，整机噪声小。 电源电压：220V（±10%） 50Hz 容量：16×100ml 离心力：2000N 温度范围：室温～80℃±2℃ 样品装入：对称放入 分析时间：0～99 min设置 整机噪声： ≤65dB 6. T12583润滑油摩擦磨损性能试验机四球法型号HAD-T0204 标准： GB/T12583-98 润滑剂极压性能测定法（四球机法） GB3142-82 润滑剂承载能力测定法（四球法） SH/T0189-92 润滑油抗磨性能测定法（四球机法） SH/T0202-92 润滑脂极压性能测定法（四球机法） SH/T0204-92 润滑脂抗磨性能测定法（四球机法） 技术参数： 试验力范围：（无级可调） 60N~10kN 试验力示值相对误差：±1% 试验力长时保持示值误差：±1%F.S 摩擦力测试范围：0~300N 摩擦力测试误差：±3% 主轴转速范围:（无级可调） 200~2000r/min 主轴转速误差：±5 r/min 摩擦副温度控制范围：室温~250○C 摩擦副温度控制误差：±2℃ 试验时间控制范围：1秒~999小时 主轴转速控制范围：1~99999999转 试验用钢球：φ12.7mm 外形尺寸：980*570*1700 （mm） 重量：500kg 电源：380V 220V50HZ 60A 温度：室温---65度。相对湿度：40%--60%。 无腐蚀介质、电磁干扰。 2. 大屏幕LCD中文水中甲醛测定仪 型号：HAD-H309 HAD-H309技术参数1、测量范围：0.05～5.00mg/L（超过量程可稀释测定）2、最小分辨率：0.01 mg/L3、示值误差: ≤5%(F.S)4、重复性 ：≤3%5、光学稳定性：≤0.002A/20min6、外形尺寸：主机 266mm×200mm×130mm7、功耗：30W8、重量：500g 光学稳定性强，不易受到各种光的干扰，因而仪器精度高、稳定性好。2、大屏幕LCD中文显示，中文菜单操作，简便、直观。3、可保存标准曲线10条及199个测定值（含带时间标签年、月、日、时、 分、秒的测量值、吸光值及透光率）。数据断电不丢失。4、主机机壳采用模后ABS材料，防腐蚀性好。5、采用高性能、低功耗16位单片机系统，性能极佳。6、十几年的水质监测仪器生产经验，确保产品的 3.内燃机车增压器振动测试仪 速度、测速度、测位移 型:H706D 1.1主要特点/性能描述 能够测量多种参数：（测加速度、测速度、测位移、测各种波形、超过10小时的长波形），是监控仪器。 1.2 主要技术指标： &bull 测量量程，频程和频响误差： &bull 加速度Acc：0.1 to 199.9 m/s2 10Hz~1000Hz &bull 速度VEL：0.1 to 199.9 mm/s 10Hz~1000Hz &bull 位移dISP：1 to 2000 µ m 10 Hz~500Hz &bull 精度： 5 2个字 &bull 内存容量：32MB RAM/256MB Flash存储（可扩展最大支持32G） &bull 显示屏幕：支持触摸输入，分辩率：320×240彩色3.5英寸QVGA显示屏，TFT-LCD、65K色 &bull 外部接口：USB接口（1个USB Slave B 型接口）扩展插槽：SD卡存储接口（最大支持32G） &bull 数据存储：200万组双通道振动振值 或 超过6万个1024点波形 或连续5天不间断的长波形 &bull 频谱分析：400线 1.单一振值：用于测量双通道单一振值【加速度、速度、位移】 2.四振值：用于同时测量双通道加速度、速度、位移。 3.波形：同时测量双通道加速度、速度、位移、包络中的一种波形 5.长波形：用于长时间保存连续波形，便于捕捉间歇性故障 在单一振值页面，点击要测的振值进行测量切换，比如点击红色方框内的区域 4.全自动氮吹仪 全自动操作氮气浓缩仪 型号H18307 7、可以定量加注溶剂样品，全自动操作。选配 技术参数: 2、样品数量：同时浓缩处理1-12个样品； 3、样品瓶体积：10ml，50ml，100ml或150mL，或其他规格； 4、终点检测：每一个工作通道均配有的光学传感器，自动、独立地检测终点； 5、终点体积：可定容的体积分别为1.0mL、0.5mL或近干（~0.1mL，适当延长吹扫时间亦可将溶剂吹干），不同规格的浓缩瓶可以同时交叉使用； 6、水浴温度：室温-95℃（±0.5℃）； 7、氮吹时间：0-9999s； 8、气体压力：氮吹工作气压，0~0.1MPa（压力间隔变化为0.01MPa）； 9、外接氮气压力范围：0.2~0.8MPa；外接允许最大气压，1.0MPa； 10、气体消耗量：最大吹扫气压（0.1MPa）下，每通道约500mL/min（约17cfm）； 11、定容灵敏度：十级可调，保证不同颜色或透光度的溶剂的浓缩定容更为准确； 12、控制方式：用户可根据实际情况，自行选用手动方式或智能方式控制吹扫终点； 13、报警提示：仪器在开盖、浓缩完成、水浴水量或氮气压力不足时，均会自动报警提示； 14、其他：电源，220V/60Hz； 15、仪器尺寸，650×450×308mm； 16、重量：20Kg。 5.原油含水测定仪操作简便 石油产品含水分析仪 型号：HAD-T6533 原油含水测定仪按T6533-2012分析标准要求设计的，是针对含水原油或石油产品进行含水分析的主要仪器之一。是石油开采行业和石油科研单位对油田采油过程中的采出液（即含水原油）进行含水测定的机器 仪器原理: 利用不同物质的比重差异特性，对样品加温,在破乳剂的作用下使束缚水变成游离水；同时在离心力的作用下，使样品分离成水层和油层，即可换算出含水量（详见标准GB／T6533-2012）。 1. 操作简便：高性能微机控制数字显示、触摸面板、变频电机驱动；分析温度、分析时间、工作状态、累计工作时间的记忆和显示均是由微机自动控制完成。 2.分析效率高：使用该机进行原油含水测定，分析时间一般只需5-15分钟。 3．各种保护 安全可靠：设有超速，超温，不平衡、等多种保护，并有自我诊断保护功能，电子门锁，确保人身和仪器安全。 4. 电机直接驱动，整机噪声小。 电源电压：220V（±10%） 50Hz 容量：16×100ml 离心力：2000N 温度范围：室温～80℃±2℃ 样品装入：对称放入 分析时间：0～99 min设置 整机噪声： ≤65dB 6. T12583润滑油摩擦磨损性能试验机四球法型号HAD-T0204 标准： GB/T12583-98 润滑剂极压性能测定法（四球机法） GB3142-82 润滑剂承载能力测定法（四球法） SH/T0189-92 润滑油抗磨性能测定法（四球机法） SH/T0202-92 润滑脂极压性能测定法（四球机法） SH/T0204-92 润滑脂抗磨性能测定法（四球机法） 技术参数： 试验力范围：（无级可调） 60N~10kN 试验力示值相对误差：±1% 试验力长时保持示值误差：±1%F.S 摩擦力测试范围：0~300N 摩擦力测试误差：±3% 主轴转速范围:（无级可调） 200~2000r/min 主轴转速误差：±5 r/min 摩擦副温度控制范围：室温~250○C 摩擦副温度控制误差：±2℃ 试验时间控制范围：1秒~999小时 主轴转速控制范围：1~99999999转 试验用钢球：φ12.7mm 外形尺寸：980*570*1700 （mm） 重量：500kg 电源：380V 220V50HZ 60A 温度：室温---65度。相对湿度：40%--60%。 无腐蚀介质、电磁干扰。 7. 液晶微机路灯控制智能仪器/微机路灯控制智能仪器 型HAD-WLK2000-10 HAD-WLK2000-10系列是一种采用液晶显示的微机路灯控制智能仪器。其中HAD-WLK2000-10G采用高精度TCXO时闻集成模块为计时元件，高性能单片机为核心，采取特殊的抗干扰措施，具有走时精确，运行可靠的特点。 主要技术参数: 负载功率：～220V 10A 适应温度：－20℃ ～+50℃ 走时精度：＜±1秒/天（普） ＜±0.1秒/天（高） 掉电运行：十年（累计）外型尺寸：19.5×12×6.5CM 8. 标准 GB5211平磨仪/平磨测试仪/平磨检测仪 型号：SP/PM240-II 1、用途及特点： 标准 GB5211.19《着色颜料相对着色力和冲淡色的测定目视比较法》中必备仪器。 本机可作颜料、涂料、油墨行业专业的物理性能检验仪器。整机结构紧凑，外观简洁，转数和负荷变换方便，玻璃盘装拆简便。采用微机控制，液晶屏显示，参数设置方便。当输入参数错误时，控制器将自动显示提示信息，当出现过流和断相时，控制器也将显示提示信息。达到了控制可靠、操作简单的目的。 2、技术参数： 3.1外型尺寸：580*368*472（mm） 3.2整机净重：93Kg 3.3磨盘直径：240mm 3.4荷载： 43 Kg、64 Kg、100 Kg 3.5砝码重量： 1.75 Kg、1.75 Kg、2.92 Kg 3.6电源电压：三相，380V，±5%，50Hz 3.7电机功率：0.55Kw 3.8电机转速：1440转 3.9玻璃盘转速：75转/分±5转/分 3.10设定圈数显示范围：1-9999 3.11运转圈数显示范围：0-9999 3.12累计次数显示范围显示：00-99 3.13功率：0.55Kw 9. ＬＣＤ显示氧化锆分析仪/氧分析仪 型号:HAD-ZrO2 氧化锆氧量分析仪由转换器和检测器（俗称氧探头）组成，在检测器的核心元件氧化锆浓差电池上，采用了纳米材料和先进的生产工艺，在电极涂层上添加抑制电极老化的添加剂。大大提高了氧化锆测量探头的精度和使用寿命。检测器采用直插式探头结构，不需取样系统，能及时反映锅炉内燃烧状况，如与自控装置配合使用，可有效地控制燃烧状况。转换器采用单片机智能化设计，汉字液晶显示，使数据显示、 1. 通用性较强，可以直接替换其它厂家氧量分析仪。 2. 大屏幕蓝底白字ＬＣＤ显示。 3. 全中文操作菜单(出口产品可以提供英文菜单)。 4. 氧量量程0-２５％内自由设定（最低量程0-5%）。 5. 温度采用ＰＩＤ控温，恒温点７００℃和７５０℃（可现场选择）。 6. 可设置氧量上、下限报警指示，温度上、下限报警指示。 7. 本底电势一键校正。 8. 可用标准气在线校准。 9. 4-20mA标准电流输出与主电路光电隔离，可直接远传进入DCS系统。 � � � 10. 多种故障信息提示。 二、工作原理 氧化锆是一种高温电解质浓差电池，在数百度的高温环境下，具有能 产生氧离子迁移的导电性能，由于被测气体（烟气或其它气体）与参比气 体（空气或其它气体）在氧化锆两侧铂电极的氧分压不同，在两极间有一 定数量的氧离子迁移而产生了氧浓差电势，其电势值与氧浓度的关系，可 以用能斯特（Nernst）公式来表示： E=RT/4F×LnP1/P2 式中：E—氧浓差电势（V） R—理想气体常数（8.314J/moLK） T—绝对温度值（K） F—法拉第常数（96500c/moL） P1—参比气体分压（空气） P2—被测气体分压 10.打印智能单段爆速仪/打印单段爆速仪 型号XZZ-BSZ—1一：概 述 XZZ-BSZ—1型智能单段bao速仪采用高性能8位微处理器，面板式微型打印机,数字显示，功耗低，体积小，重量轻，交直流两用。 该机测量范围宽，使用操作简单，可以直接测量zhayao、导bao索等的bao速，非电管的延期时间，配光电二极管可测导bao管的bao速，配上适当的探针或传感器，还可以测各种微小时间或高速运动物体的速度。所测数据经微处理器处理后，可直接显示出速度、时间等，并可通过装在本机上的面板式微型打印机打印出来。 可存50个数据,并可打印出每个数据的bao速、时间,多个数据的平均速度、平均时间.只要不清除,断电后可永久保存.机内有10MHZ的标准频率，具有很高的稳定度，保证了仪器的测试精度。二：技 术 性 能1.测量范围 0.1μs－－－－100s 2.晶振频率 10MHz（1×10-5）3.可存数据 50个4.显示方式 六位数字显示，符号自动变换5.误 差 ±0.001%±1个字6.探针方式 通—断、断—通、光电、压电方式自动识别7.电 源 交流 220v±10% 直流 4.5v—6.5v （四节1号电池）8.功 耗 交流220v 2.2w 直流6v 2w9.工作环境 温度 －－10℃—40℃ 湿度 80%（40℃）10.外形尺寸 宽x高x深=210x68x26011.重 量 2.5Kg （不包括电池） 以上参数资料与图片相对应

ST2258C型多功能数字式电阻率、薄膜方阻测试仪简介一、结构特征 二、概述 2.1基本功能和依据标准：ST2258C型多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、智能化综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》等并参考美国 A.S.T.M 标准。 2.2仪器成套组成：由ST2258C四探针主机、选配的四探针探头、选配四探针测试台等部分组成。2.3优势特征：1：本测试仪特赠设测试结果自动分类功能，可分类10类。2：可定制USB通讯接口，便于其拓展为集成化测试系统中的测试模块。3：8档位超宽量程。 同行一般为五到六档位。4:仪器小型化、手动/自动一体化。5:仪器操作简便、性能稳定，所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入，简便而且免除模拟定位器的不稳定。2.4探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。详情见《四探针探头型号规格特征选型参照表》1配高耐磨的碳化钨探针探头，如ST2253-F01型，以测试硅等半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；2配不伤膜的球形或平头镀金铜合金探针探头，如ST2558B-F01型，可测金属箔、碳纸等导电薄膜，也可测陶瓷、玻璃或PE膜等基底上导电涂层膜， 如金属镀膜、喷涂膜、ITO膜、电容卷积膜等材料的薄膜涂层电阻率/方阻。3配专用箔上涂层探头，如ST2558B-F02型，也可测试锂电池电池极片等箔上涂层电阻率/方阻。4换上四端子测试夹具，还可对电阻器的体电阻进行测量。。2.5测试台选配：根据不同材料特性需要，测试台可有多款选配。详情见《四探针测试台型号规格特征选型参照表》四探针法测试固体或薄膜材料选配SZT-A型或SZT-B型（电动）或SZT-C型（快速恒压）或SZT-F型（太阳能电池片）测试台。二探针法测试细长棒类材料选配SZT-K型测试台.平行四刀法测试橡塑材料选配SZT-G型测试台。 2.6适用范围：仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校四探针法对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试三、基本技术参数 1.测量范围、分辨率（括号内为可向下拓展1个数量级）电 阻：10.0×10-6～ 200.0×103 Ω, 分辨率1.0×10-6～ 0.1×103 Ω（1.0×10-6～ 20.00×103 Ω, 分辨率0.1×10-6～ 0.01×103Ω）电 阻 率：10.0×10-6～ 200.0×103Ω-cm 分辨率1.0×10-6～ 0.1×103 Ω-cm（1.0×10-6～ 20.00×103Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103Ω-cm）方块电阻：50.0×10-6～ 900.0×103Ω/□ 分辨率5.0×10-6～ 0.5×103 Ω/□（5.0×10-6～ 100.0×103Ω/□ 分辨率0.5×10-6～ 0.1×103 Ω/□）2.材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)直 径： SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限长(高)度： 测试台直接测试方式 H≤100mm, 手持方式不限.测量方位: 轴向、径向均可3.3量程划分及误差等级满度显示200.020.002.000200.020.002.000200.020.00测试电流0.1μA1.0μA10μA100μA1.0mA10mA100mA1.0A常规量程kΩ-cm/□kΩ-cm/□Ω-cm/□mΩ-cm/□基本误差±2%FSB±4LSB±1.5%FSB±4LSB±0.5%FSB±2LSB±1.0%FSB±4LSB3.4四探针探头（选配其一或加配全部）(1)碳化钨探针：Φ0.5mm，直线探针间距1.0mm，探针压力: 0～2kg 可调(2)薄膜方阻探针：Φ0.7mm，直线或方形探针间距2.0mm，探针压力: 0～0.6kg 可调3.5.电源输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：3.6.外形尺寸、重量：主 机： 220mm（长）×245 mm（宽）×100mm（高）， 净 重：≤2.5kg

探针式植物茎流测量仪采用热消散探针法测量树干瞬时茎流密度，可以长期连续观测树木的液流，有利于研究树木和大气之间的水分交换规律，并以此为观测手段，长期监测森林生态系统对环境变化的影响。对于造林绿化、森林管理和林业管理等具有重要的理论指导意义和应用价值。　　工作原理　　植物茎流测量仪采用法国学者Granier在20世纪80年代后发明的一种测定SapFlow的新方法，即热消散探针法(恒定热流传感器法)。该方法的数据采集具有准确稳定的特点，而且可以连续不间断的读取数据，因而数据具有系统性。该测定系统由一对长33mm的热消散探针组成，安装时将探针上下相隔10cm-15cm插入树木的边材中，上方的探针缠绕电阻丝，供以直流电加热，下方探针不加热，保持与周围边材组织的温度相同，两探针的温差变化反应树木的液流密度。　　仪器特点　　双探针，配有相应的钻孔工具，容易插拔，可以反复使用　　采用热消散法，可恒温加热　　可以长期连续监测　　不锈钢探针，采用Teflon涂层，持久耐用　　采用高精度T型热电偶直接与数据分析仪连接　　采用大容量SD卡存储　　技术指标　　测量指标：瞬时液流密度　　测量通道：单通道　　存储容量：2GB　　采样时间间隔：1-99分钟可调　　显示：320×160液晶显示屏　　电源：8.4V可充电锂电池(也可选用太阳能电池供电)　　工作温度：10℃-60℃　　工作湿度：0-100RH

四探针电阻率测试仪/四探针电阻率仪/方阻测试仪/方阻仪/四探针电阻率测定仪（自动测试台+带软件） 型号：KDK-KDY-1四探针电阻率/方阻测试仪（以下简称电阻率测试仪）是用来测量半导体材料（主要是硅单晶、锗单晶、硅片）电阻率，以及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。它主要由电气测量份（简称：主机）、测试架及四探针头组成。本仪器的特点是主机配置双数字表，在测量电阻率的同时，另块数字表（以分之几的度）适时监测程的电流变化，免除了测量电流/测量电阻率的转换，更及时掌控测量电流。主机还提供度为0.05%的恒流源，使测量电流度稳定。本机配有恒流源开关，在测量某些箔层材料时，可免除探针尖与被测材料之间接触火花的发生，地保护箔膜。“小游移四探针头”，探针游移率在0.1～0.2%。保证了仪器测量电阻率的重复性和准确度。本机如加配HQ-710E数据处理器，测量硅片时可自动行厚度、直径、探针间距的修正，并计算、打印出硅片电阻率、径向电阻率的百分变化、平均百分变化、径向电阻率不均习庋。给测量带来很大方便。2、主机能数（1）测量范围：可测电阻率：0.0001～19000Ω?cm可测方块电阻：0.001～1900Ω?□（2）恒流源：输出电流：DC 0.001～100mA 五档连续可调量程：0.001～0.01mA0.01～0.10mA0.10～1.0mA1.0～10mA10～100mA恒流度：各档均低于±0.05%（3）直流数字电压表：测量范围：0～199.99mV灵敏度：10μV基本误差：±（0.004%读数+0.01%满度）输出电源：≥1000ΩM（4）供电电源：AC 220V±10% 50/60 Hz 率：12W（5）使用环境：温度：23±2℃ 相对湿度：≤65%无较强的电场干扰，无强光直接照射（6）重量、体积：主机重量：7.5kg体积：365×380×160（单位：mm 长度×宽度×度）备注：等测量时（测电阻率），度3%电气测量时（测电阻），度在0.3%以内 备注：仪器包括：主机台；测试架（包括台面）个；四探针头1个；软件

电阻率测试仪,四探针方阻电阻率测试仪, 适用范围Widely used：1.覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试2.硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，3.EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，4.抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等， 功能描述Description：四探针单电测量方法液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出.选配：PC软件进行数据管理和处理.提供中文或英文两种语言操作界面选择 满足标准：1.硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）.2.GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》.3.GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.4.GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》. FT-343双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围：10-3～2×105Ω/□2.电阻率范围：10-4～2×106Ω-cm3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.2%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针 FT-345双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试参数资料1.方块电阻范围：10-3～2×103Ω/□2.电阻率范围：10-4～2×104Ω-cm3.测试电流范围：10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.3%读数5.电阻精度：≤0.5%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针 四探针电阻率/方阻测试仪,四探针测量仪,探针测试仪,导体电阻,体积电阻测试仪,四探针法测电阻,方块电阻测试仪,薄膜或涂层方块电阻测试仪

四探针低电阻率测试仪技术参数：1.电阻率：10-5～2×106Ω-cm2.电 阻：10-5～2×106Ω3.电导率：5×10-6～105ms/cm4.分辨率： 小0.1μΩ测量误差±（0.05%读数±5字）5.测量电压量程： 2mV 20mV 200mV 2V 测量精度±（0.1%读数）6.分辨率： 0.1uV 1uV 10uV 100uV7.电流输出：直流电流 0～1000mA 连续可调，由交流电源供电。量程：1μA，10μA，100µ A，1mA，10mA，1000mA, 误差：±0.2%读数±2字8.显示方式：液晶显示电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算9.传感器压力：200kg (其他规格可以定制)10.粉末测量装置 模具：内径10mm；高：25mm；加压方式：手动液压加压/自动加压方式（选购）11.电源：220±10% 50HZ/60HZ12.主机外形尺寸：330mm*350mm*120mm13.净重量：约6kg14.标配外选购：1）.标四探针低电阻率测试仪本标准修改采用SEMIMF84-1105《硅片电阻率测定四探针法》和SEMIMF397-1106《硅棒电阻率测定两探针法》。本标准与SEMIMF84-1105和SEMI MF 397-1106相比,主要变化如下:--中厚度修正系数F(W/S)表格范围增加 一按中文格式分直排四探针法、直流两探针法进行编排。本标准代替GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》和GB/T 1552-1995《硅、锗单品电阻率测定直排四探针法》。本标准与GB/T 1551-1995和GB/T 1552-1995相比，主要有如下变化:一一删除了锗单晶测定的相关内容 一用文字描述代替了原标准GB/T 1551-1995和GB/T1552-1995中的若干记录测试数据的表格 --修改了直排四探针法中计算公式 --补充了干扰因素。本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会提出。本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会归口。本标准起草单位:信息产业部专用材料质量监督检验中心、中国电子科技集团公司第四十六研究所。本标准主要起草人:李静、何秀坤、张继荣、段曙光。本标准所代替标准的历次版本发布情况为:--GB1552-1979、GB1551--1979、GB5251--1985、GB5253-1985、GB 6615-1986 GB/T 1551-1995、GB/T1552--1995。四探针低电阻率测试仪1范围本方法规定了用直排四探针法测量硅单晶电阻率的方法.本方法适用于测量试样厚度和从试样边缘与任一探针端点的最近距离二者均大于探针间距的4倍的硅单晶体电阻率以及测量直径大于探针间距10倍、厚度小于探针间距4倍的硅单晶圆片的电阻率。本方法可测定的硅单晶电阻率范围为1X10-Ω・ cm~3X10' Ω.cm.2环境要求环境温度为23℃±1℃,相对湿度不大于65%。3干扰因素3.1光照可能严重影响观察电阻率,特别是近似本征材料。因此,所有测试应在暗室进行,除非是待测样品对周围的光不敏感。3.2当仪器放置在高频于扰源附近时,测试回路中会引入虚假电流，因此仪器要有电磁屏蔽。3.3试样中电场强度不能过大,以避免少数载流子注入。如果使用的电流适当,则用该电流的两倍或一半时,引起电阻率的变化应小于0.5%。3.4由于电阻率受温度影响,一般测试适用温度为23℃±1 ℃.3.5对于厚度对测试的影响,仲裁测量要求厚度按本方法的6.3规定测量,一般测量用户可以根据实际需要确定厚度的要求偏差。3.6由于探针压力对测量结果有影响,测量时应选择合适的探针压力。3.7仲裁测量时选择探针间距为1.59mm,非仲裁测量可选择其他探针间距。4方法提要排列成一直线的四根探针垂直地压在距离边缘6mm以上的平坦试样表面上,将直流电流I在两外探针间通入试样,测量内侧两探针间所产生的电势差V,根据测得的电流和电势差值,按式(1)计算电阻率。对圆片试样还应根据几何修正因子进行计算。测量示意图见图1.p=2xs￥..…………--…(1)式中:一电阻率,单位为欧姆厘米(Ωcm) V-测得的电势差,单位为毫伏(mV) I一通入的电流,单位为毫安(mA) S一探针间距,单位为厘米(cm).四探针低电阻率测试仪直排四探针测量示意图5测量仪器5.1探针装置由以下几部分组成。5.1.1探针用钨,碳化钨或高速钢等金属制成,针尖呈圆锥型,夹角为45°~150*,尖端初始标称半径为25 μm~50 μm。5.1.2探针压力,每根探针压力为1.75 N士0.25 N或4.0N±0.5N,分别用于硅单晶棒的电阻率测量,也可选择其他合适的探针压力。5.1.3绝缘性,一探针(包括连接弹簧和外部引线)与任何其他探针或装置任一部分之间绝缘电阻大于10’Ω.5.1.4探针排列和间距,四根探针的尖端应成等间距直线排列。仲裁测量时,探针间距(相邻探针之间的距离)标称值应为1.59mm。其他标称间距如1.00mm和0.6mm用于非仲裁测量,探针间距按7.2测定。5.1.5探针架,能在针尖几乎无横向移动的情况下使探针下降到试样表面.5.2电学测量装置由下列几部分组成。5.2.1任何满足7.1.6要求的电路均可用来进行电学测量。推荐电路(见图2)包括下述几部分。电位选择开关恒流源标准电阻数字电压表0.001mA一100mA电流选择开关探针装置圈2推荐电路图5.2.2恒流源,电流范围为10-'A~10-*A,纹波系数不大于士0.1%,稳定度优于士0.05%。5.2.3电流换向开关。5.2.4标准电阻,0.01 0~100000Ω.0.05级.5.2.5双刀双掷电位选择开关,图2推荐电路需要这一开关来选择测量标准电阻或试样上电势差。5.2.6数字电压表,可用来测量以毫伏为单位的电势差或者连同电流源一起校准到能直接读出电压-电流比值。测量满量程为0.2mV~50mV,分辨率为±0.05%(3&half 位有效数字),输入阻抗大于10°倍试样电阻率。如试样电阻率仅限定在某一数值范围内,一个较小满量程范围就足够了。5.3样品架/台,用于固定试样的合适夹具。5.4散热器,用一直径至少为100 mm,厚为38 mm的铜块来支撑圆片试样和起散热器作用(图3)。它应包括一个容纳温度计的小孔,使温度计能放置在离试样10mm范围内的散热器中心区。散热器上放一片10 μm~25μm厚的云母片,使试样和散热器电绝缘。在云母片和铜块间、温度计孔中填充矿物油活动有机硅散热以减少热阻。散热器安放应能使探针尖端阵列中心在试样中心的1mm以内。散热四探针低电阻率测试仪GB/T 1551-2009器应与电学测量装置的接地端相连接。为了迅速对准试样中心,可在散热器表面加工一个与铜块同心的浅圆环。一样品云母片38mm温度计100mm图3带有样品、云母片和温度计的散热器5.5 研磨或喷砂设备,用以提供平坦的试样表面。研磨设备应能将圆片试样研磨到厚度变化不大于试样中心处厚度值的±1.0%，5.6机械或电子厚度测量仪,能测量试样不同位置的厚度,精度优于±1.0%。5.7千分尺或游标卡尺,分辨率优于士0.05 mm。5.8微移动机构,能以0.05 mm~0.10mm增量使探针装置或硅表面以垂直于探针尖端连线方向并平行于硅表面移动。5.9 工具显微镜,分辨率为1μm。5.10显微镜至少放大400倍。5.11温度计或其他测温仪器0℃~40℃,分度值为0.1℃。5.12欧姆计,能指示大于10°Ω绝缘电阻。5.13超声波清洗器,具有适当频率(18 kHz~45 kHz)和功率。5.14化学实验室器具(如塑料烧杯、量筒、处理和清洗酸及其蒸气所需的设备等)。6试样制备6.1 试样用W14#(粒径为10μm)金刚砂研磨上下表面,保证无机械损伤、无沾污物。6.2在不包括参考面或参考缺口的圆周上测量直径3次,计算试样的平均直径D。试样直径应大于10倍平均探针间距S,直径变化不大于D的D/5S%,记下D值。6.3在试样上测量9个点的厚度(见图4)。要求各测量点厚度与试样中心点厚度的偏差不大于士1.0%,记下试样的中心厚度W.

四探针电阻率方块电阻测试仪便于查看的显示/直观的操作性：高亮度、超清晰4.3寸彩色LCD显示；操作易学，直观使用；基本设置操作简单，方阻、电阻、电阻率、电导率和分选结果；多种参数同时显示。精度高：电阻基本准确度： 0.05％；方阻基本准确度：3%；电阻率基本准确度：3%整机测量最大相对误差：≤±3%；整机测量标准不确定度：≤±3%四位半显示读数；八量程自动或手动测试；6. 测量范围宽： 电阻：10-4Ω～105Ω ；方阻：10-4Ω/□～105Ω/□；7. 正反向电流源修正测量电阻误差8. 恒流源：电流量程分为： 1uA、10uA、100uA、1mA、10mA 、100mA六档；仪器配有恒流源开关可有效保护被测件，即先让探针头压触在被测材料上，后开恒流源开关，避免接触瞬间打火。为了提高工作效率，如探针带电压触单晶对材料及测量并无影响时，恒流源开关可一直处于开的状态。9. 可配合多种探头进行测试；也可配合多种测试台进行测试。10. 校正功能：可手动或自动选择测试量程 全量程自动清零。11. 厚度可预设，自动修正样品的电阻率,无需查表即可计算出电阻率。12. 自动进行电流换向,并进行正反向电流下的电阻率(或方块电阻)测量,显示平均值.测薄片时,可自动进行厚度修正。13. 双电测测试模式，测量精度高、稳定性好.14. 具备温度补偿功能，修正被测材料温漂带来的测试结果偏差。15. 比较器判断灯直接显示，勿需查看屏幕，作业效率得以提高。3档分选功能：超上限，合格，超下限，可对被测件进行HI/LOW判断，可直接在LCD使用标志显示；也可通过USB接口、RS232接口输出更为详细的分选结果。16. 测试模式：可连接电脑测试、也可不连接电脑单机测试。17. 丰富的接口，Handler接口、RS232接口、USB HOST、USB DEVICE。实现远程控制。U盘可记录测试数据18. 软件功能（选配）：软件可记录、保存、各点的测试数据；可供用户对数据进行各种数据分析。标配：测试平台一套、主机一套、电源线数据线一套。四探针电阻率方块电阻测试仪GB/T 11073硅片径向电阻率变化的测量方法提要探针与试样压力分为小于0.3N及0.3 N¯ 0.8N两种。以下文件中的条款通过本标准的引用商成为本标准的条款。但凡注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括订正的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的新版本。但凡不注日期的引用文件，其新版本适用于本标准。GB/T 1552硅、储单晶电阻率测定直排四探针法样品台和操针架样品台和探针架应符合GB/T152 中的规定。样品台上应具有旋转360"的装置。其误差不大于士5"，测量装置测量装置的典型电路叉图1，范围本标准规定了用直排四探针测量硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的方法。本标准适用于测量直径大于15.9mm的由外延、扩散、离子注人到硅片表面上或表面下形成的薄层的平均薄层电阻。硅片基体导电类型与被测薄层相反。适用于测量厚度不小于0.2 μm的薄层，方块电阻的测量范围为10A-5000n.该方法也可适用于更高或更低照值方块电阻的测量，但其测量准确度尚未评估。使用直排四探针测量装置、使直流电流通过试样上两外探件，测量两内操针之间的电位差，引人与试样几何形软有关的修正因子，计算出薄层电阻。四探针电阻率方块电阻测试仪电位差计和电流计或数字电压表，量程为1mV¯ 100mV,分辨率为0.1%，直流输入阻抗不小250μm的半球形或半径为50 μm~125 μm的平的圆截面。探针(带有弹簧及外引线)之间或探针系统其他部分之间的绝缘电照至少为10°Ω.探针排列和间距，四探针应以等距离直线排列，探针阀距及针突状况应符合GB/T 552 中的规定。R=1(R +R, )…………………………(3)R2=与(R +R，)计算试样平均直径D与平均操针间距S之比，由表3中查出修正因子F，也可以见GB/T11073中规定的几何修正因子。 9.4计算几何修正因子F，见式(4)。对于薄层厚度小于3μm的试样，选用针尖半径为100μm250μm的半球形探针或针尖率径为50μm~125 pm平头探针，针尖与试样间压力为0.3 N¯ 0.8Ni对于薄层厚度不小于3μ的试样，选用针尖半径为35μm100 pm 半球形操针，针尖与试样间压力不大于 0.3 N.Rr=V R,/V=V/I,…… … R,=V,R,/V_=V,/I,-双刀双撑电位选择开关。四探针电阻率方块电阻测试仪规格型号 300c电阻10-7～2×107Ω2.电阻率范围10-8～2×108Ω-cm3.电导率5×10-8～108s/cm4.测试电流范围1μA，10μA，100µ A，1mA，10mA，1000mA5.测量电压量程 测量电压量程：2mV 20mV 200mV 2V测量精度:±（0.1%读数）分辨率： 0.1uV 1uV 10uV 100uV6.电流精度±0.1%读数7.电阻精度≤0.3% 8.显示读数 液晶显示：电阻值、电阻率、电导率值、温度、单位自动换算、横截面、高度、电流、电压等9.测试方式四端测量法10.测量装置（治具）选购1.标准方体和圆柱体测量装置：测试行程：L70mm*W：60mm2.定制治具11.工作电源 AC 220V±10%.50Hz功 耗：30WH12. 主机外形尺寸约330mm*350mm*120mm 13.净重量约6kgNet14.标配外选购 1.标准校准电阻1-5个；2.PC软件一套；3.电脑和打印机依据客户要求配置；4.计量证书1份四探针电阻率方块电阻测试仪定。欧娇表，能指示阻值高达10°日的漏电阻，温度针0℃-40℃，小刻度为0.1℃。光照、高频、需动、强电磁场及温醒度等测试环境会影响测试结果，甲醇、99.5%，干燥氮气。测量仪器探针系统操针为具有45"~150°角的圆罐形破化鸭振针，针实半径分别为35μm~100μm.100 μm…… … ………(5)电压表输入阻抗会引入测试误差，硅片几何形状，表面粘污等会影响测试结果，R(TD-R_xF式中:计算每一测量位置的平均电阻R.，见式(3).试剂优级纯，纯水，25℃时电阻率大于2MN.cm,s=号(二[R，(TD-瓦(7D羽yt ..计算每一测量位置在所测温度时的薄层电阻(可根据薄层电阻计算出对应的电阻率并修正到23℃，具体见表4)见式(5).用干净涂题颗子或吸笔将试样置于样品台上，试样放置的时间应足够长，到达热平衡时，试样温度为23 ℃±1℃.接通电流，令其任一方向为正向，调节电流大小见表1所给出的某一合适值，测量并记录所得数据，所有测试数据至少应取三位有效数字。改变电流方向，测量、记录数据。关断电流，抢起探针装置，对仲裁测量，探针间距为1.59

覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.概述：采用四端测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，实验室；是检验和分析导体材料和半导体材料质量的工具。可配置不同测量装置测试不同类型材料之电阻率。液晶显示，温度补偿功能，自动量程，自动测量电阻，电阻率，电导率数据。恒流源输出；选配：PC软件过程数据处理和标准电阻校准仪器，薄膜按键操作简单，中文或英文两种语言界面选择，电位差计和电流计或数字电压表，量程为1mV¯ 100mV,分辨率为0.1%，直流输入阻抗不小250μm的半球形或半径为50 μm~125 μm的平的圆截面。探针(带有弹簧及外引线)之间或探针系统其他部分之间的绝缘电照至少为10°Ω.探针排列和间距，四探针应以等距离直线排列，探针阀距及针突状况应符合GB/T 552 中的规定。R=1(R +R, )…………………………(3)R2=与(R +R，)计算试样平均直径D与平均操针间距S之比，由表3中查出修正因子F，也可以见GB/T11073中规定的几何修正因子。 9.4计算几何修正因子F，见式(4)。对于薄层厚度小于3μm的试样，选用针尖半径为100μm250μm的半球形探针或针尖率径为50μm~125 pm平头探针，针尖与试样间压力为0.3 N¯ 0.8Ni对于薄层厚度不小于3μ的试样，选用针尖半径为35μm100 pm 半球形操针，针尖与试样间压力不大于 0.3 N.Rr=V R,/V=V/I,…… … R,=V,R,/V_=V,/I,-双刀双撑电位选择开关。.定。欧娇表，能指示阻值高达10°日的漏电阻，温度针0℃-40℃，小刻度为0.1℃。光照、高频、需动、强电磁场及温醒度等测试环境会影响测试结果，甲醇、99.5%，干燥氮气。测量仪器探针系统操针为具有45"~150°角的圆罐形破化鸭振针，针实半径分别为35μm~100μm.100 μm…… … ………(5)电压表输入阻抗会引入测试误差，硅片几何形状，表面粘污等会影响测试结果，R(TD-R_xF式中:计算每一测量位置的平均电阻R.，见式(3).试剂优级纯，纯水，25℃时电阻率大于2MN.cm,s=号(二[R，(TD-瓦(7D羽yt ..计算每一测量位置在所测温度时的薄层电阻(可根据薄层电阻计算出对应的电阻率并修正到23℃，具体见表4)见式(5).用干净涂题颗子或吸笔将试样置于样品台上，试样放置的时间应足够长，到达热平衡时，试样温度为23 ℃±1℃.接通电流，令其任一方向为正向，调节电流大小见表1测量范围电阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm方 阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□电 阻：1×10-5～2×105 Ω ，分辨率：1×10-6～1×102 Ω 材料尺寸(由选配测试台决定和测试方式决定)直 径：A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm， 方测试台直接测试方式180mm×180mm， 长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm, 测量方位: 轴向、径向均可

双电测电四探针方阻电阻率测试仪环境要求环境温度为23℃±1℃,相对湿度不大于65%。干扰因素光照可能严重影响观察电阻率,特别是近似本征材料。因此,所有测试应在暗室进行,除非是待测样品对周围的光不敏感。3.2当仪器放置在高频于扰源附近时,测试回路中会引入虚假电流，因此仪器要有电磁屏蔽。3.3试样中电场强度不能过大,以避免少数载流子注入。如果使用的电流适当,则用该电流的两倍或一半时,引起电阻率的变化应小于0.5%。3.4由于电阻率受温度影响,一般测试适用温度为23℃±1 ℃.3.5对于厚度对测试的影响,仲裁测量要求厚度按本方法的6.3规定测量,一般测量用户可以根据实际需要确定厚度的要求偏差。3.6由于探针压力对测量结果有影响,测量时应选择合适的探针压力。3.7仲裁测量时选择探针间距为1.59mm,非仲裁测量可选择其他探针间距。4方法提要直排四探针测量示意图5测量仪器5.1探针装置由以下几部分组成。5.1.1探针用钨,碳化钨或高速钢等金属制成,针尖呈尽可能使用非导电的工作桌工作台。操作人员和待测物之间不得使用任何金属。操作人员的位置不得有跨越待测物去操作或调整测试仪器的现象。测试场所必须随时保持整齐、干净，不得杂乱无章。测试站及其周边之空气中不能含有可燃气体或在易燃物质。4.3.4人员资格本仪器为精密仪器，必须由训练合格的人员使用和操作。4.3.5安全守则操作人员必须随时给予教育和训练，使其了解各种操作规则的重要性，并依安全规则操作。圆锥型,夹角为45°~150*,尖端初始标称半径为25 μm~50 μm。5.1.2探针压力,每根探针压力为1.75 N士0.25 N或4.0N±0.5N,分别用于硅单晶棒的电阻率测量,也可选择其他合适的探针压力。5.1.3绝缘性,一探针(包括连接弹簧和外部引线)与任何其他探针或装置任一部分之间绝缘电阻大于10’Ω.5.1.4探针排列和间距,四根探针的尖端应成等间距直线排列。仲裁测量时,探针间距(相邻探针之间的距离)标称值应为1.59mm。其他标称间距如1.00mm和0.6mm用于非仲裁测量,探针间距按7.2测定。5.1.5探针架,能在针尖几乎无横向移动的情况下使探针下降到试样表面.双电测电四探针方阻电阻率测试仪技术参数：1.电阻率：10-5～2×106Ω-cm2.电 阻：10-5～2×106Ω3.电导率：5×10-6～105ms/cm4.分辨率： 小0.1μΩ测量误差±（0.05%读数±5字）5.测量电压量程： 2mV 20mV 200mV 2V 测量精度±（0.1%读数）6.分辨率： 0.1uV 1uV 10uV 100uV7.电流输出：直流电流 0～1000mA 连续可调，由交流电源供电。量程：1μA，10μA，100µ A，1mA，10mA，1000mA, 误差：±0.2%读数±2字8.显示方式：液晶显示电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算9.传感器压力：200kg (其他规格可以定制)10.粉末测量装置 模具：内径10mm；高：25mm；加压方式：手动液压加压/自动加压方式11.电源：220±10% 50HZ/60HZ12.主机外形尺寸：330mm*350mm*120mm双电测电四探针方阻电阻率测试仪安全要点● 非合格的操作人员和不相关的人员应远离测试区。● 万一发生问题，请立即关闭电源并及时处理故障原因。双电测电四探针方阻电阻率测试仪衣着规定操作人员不可穿有金属装饰的衣服或戴金属手饰和手表等，这些金属饰物很容易造成意外的感电。4.3.7医学规定绝对不能让有心脏病或配戴心律调整器的人员操作。4.4测试安全程序规定 一定要按照规定程序操作。操作人员必须确定能够完全自主掌控各部位的控制开关和功能。双电测电四探针方阻电阻率测试仪操作流程和测试步骤1.使用前期准备--测试前准备工作：1.1.开机预热：将220V电源插头插入电源插座，打开电源开关，让仪器预热15分钟，保证测试数据稳定。若测试仪无法正常启动，请按以下步骤检查：①检查电源线是否接触良好；②检查后面板上的电源开关是否已经打开③检查保险丝是否熔断，如有必要，请更换保险丝④_x0001_ 如经上述检查无误后，测试仪仍未正常启动，请联系本公司进行解决。

RF-O2 手持式光纤氧气测量仪 手持式光纤氧气测量仪（FireSting GO2）采用最先进的REDFLASH光极传感器技术，由欧洲Pyroscience公司及Graz大学等科学家研制生产。具有独立存储数据、LCD显示屏、机身小巧便携等功能，可与所有RF-O2传感器连接使用，更加简化和提高实验研究。由于Pyro Science氧传感器即插即用、灵敏度高、维护率极低等优势，已在科学研究领域及工业应用中获得广泛应用。其主要功能特点如下(请联系eco-lab实验室（；）。 l 可连接更多光纤氧气传感器，包括所有的探针式、探头式、流通池、呼吸瓶、非接触式。l 自动温度补偿和压力补偿。l 测量范围广。l 先进的REDFLASH 技术。优势及特点：1. LCD显示屏2. 适用于所有光纤氧气传感器3. 多种操作模式4. 应用领域广泛5. 可充电电池6. 机身小巧便携，功能强大7. 长期数据存储测量原理： REDFLASH光极O2传感器技术，利用独特的O2敏感REDFLASH指示剂，通过610-630nm调制红光激发，REDFLASH指示剂发出760-790nm红外荧光，荧光强度随接触的O2分子浓度升高而发生荧光淬灭，这种荧光动态通过光纤传输到测量仪，测量仪灵敏地检测其相位漂移并据此换算成O2浓度。 应用领域：1) 水体溶解氧测量监测、藻类及藻类生物膜光合作用与呼吸作用测量监测2) 植物光合作用与呼吸作用测量监测3) 水生动物（鱼类、水生昆虫等无脊椎动物、浮游动物等呼吸代谢测量4) 陆生动物、实验动物、动物组织、血液等呼吸代谢测量5) 土壤、湿地、海洋沉积、河湖沉积剖面O2测量6) 生物反应器、发酵过程、酶动力学、细胞培养等O2测量监测7) 粮食食品储运、葡萄酒等O2测量监测8) 污水处理、沼气、垃圾填埋场、有机物降解等O2测量监测操作模式：l 独立使用FireSting GO2进行操作。l 可用智能手机或平板电脑进行操作。l USB连接电脑进行操作。 技术指标：1. 单通道氧气传感器，包括：探针式、探头式、非接触式、呼吸瓶、流通池。2. 单通道温度传感器3. 激发光源620nm，监测器760nm（NIR）4. 采样频率：每秒4次5. 内置气压传感器，自动进行压力补偿。6. 内置温度传感器，自动进行温度补偿。7. LCD显示屏及USB接口8. 内存：2GB9. APP:安卓10. 检出限：标准传感器0.02%O2，痕量传感器0.005% O211. 测量范围：标准传感器0-50% O2，痕量传感器0-10% O212. 精度：两点校准的情况下：0.2%（在20% O2时），0.02%（在10% O2时）.13. 环境条件：0-50°C（无结露环境）14. 大小：52x97x20mm，重150g 可连接的光线氧气传感器类型：（各自详细介绍请见RF-O2 FireSing O2简介） 产地：欧洲

冠测仪器双极板电容水分测定仪GEST-20042产品名称：全自动炭纸及双极板电阻仪 产品型号：GEST-20042参考标准：GB/T20042.7-2014质子交换膜燃料电池第7部分_炭纸特性测试方法GB/T 20042.6-2011 质子交换膜燃料电池 第6部分：双极板特性测试方法一、产品概述：本仪器主要应用于测试质子交换膜燃料电池用炭纸、及双极板电阻特性测试专用仪器。本仪器依据用户的实际测试需求研发，为用户降低采购成本，本仪器既可以测试垂直方向电阻率，也可以测试水平方向电阻率，真正实现了一台设备，解决炭纸、双极板电阻特性的测试需求。本仪器结构组成以下部分组成：1、力值加载系统：由伺服电机为动力源进行加载，精确控制压力，无噪音，连续加载2、电阻测量系统：电阻测量范围宽，满足多种测试量程的需求3、系统控制采集：10寸触摸屏进行控制操作，页面实时显示测试数据，并可以打印测试数据4、镀金测量电极：50mm镀金电极测试二、优势特点：1、14寸/10寸触摸屏显示，支持远程升级2、同时支持水平电阻测试（四探针法）和垂直电阻测试（2探针法）3、测试过程实时显示压力、压强、压缩厚度、压缩率、电压、电阻、电流、电阻率、电导率4、电阻率显示单位及电导率多种单位可选5、可对单点测试的试验结果进行打印6、多种测试模式：恒压力、恒压强、梯度压力、梯度压强、压缩比7、梯度多点测试结果，能够自动统计各梯度之间的电阻差值，并自动计算百分比8、可以梯度模式测试的结果进行在线查看及数据导出9、测试过程全自动化，试验完成后自动复位

探针式植物茎流测量仪IN-JL01来因科技采用热消散探针法测量树干瞬时茎流密度，可以长期连续观测树木的液流，有利于研究树木和大气之间的水分交换规律，并以此为观测手段，长期监测森林生态系统对环境变化的影响。对于造林绿化、森林管理和林业管理等具有重要的理论指导意义和应用价值。工作原理 植物茎流测量仪采用法国学者Granier在20世纪80年代后发明的一种测定Sap Flow的新方法，即热消散探针法（恒定热流传感器法）。该方法的数据采集具有准确稳定的特点，而且可以连续不间断的读取数据，因而数据具有系统性。该测 定系统由一对长33mm的热消散探针组成，安装时将探针上下相隔10cm-15cm插入树木的边材中，上方的探针缠绕电阻丝，供以直流电加热，下方探针不 加热，保持与周围边材组织的温度相同，两探针的温差变化反应树木的液流密度。仪器特点 双探针，配有相应的钻孔工具，容易插拔，可以反复使用采用热消散法，可恒温加热可以长期连续监测不锈钢探针，采用Teflon涂层，持久耐用采用高精度T型热电偶直接与数据分析仪连接采用大容量SD卡存储技术指标测量指标：瞬时液流密度测量通道：单通道存储容量：2GB采样时间间隔：1-99分钟可调显示：320×160液晶显示屏电源：8.4V可充电锂电池(也可选用太阳能电池供电)工作温度：10℃-60℃

Signatone四点探针与电阻率测试设备 Signatone 公司生产制造的QuadPro 制程发展电阻率测量系统包含了手动和自动的测量系统。手动系统包含一个滚珠轴承的四点探针机台，为因应使用的需要，手动机台往后可以升级增加自动机台的功能．自动机台系统是由计算机控制马达带动的，在测量100毫米、125 毫米、150 毫米、200 毫米、300 毫米的待测样品时，可设定自动测量9、25、49、或121 个测试点．系统使用四点探针，双架构测试方式，并整合了目前最佳的测量仪表可达到在1mΩ/□至2MΩ/□间小于1% 的误差．系统的准确度(Accuracy)与校准(Calibration)可追朔至美国国家标准局(NIST)。其它特点：平均电阻率(Resitivity)、电阻率标准差(Standard Deviation)、平均片电阻(Sheet Resistance)、片电阻标准差电阻温度系数(TCR, Temperature Coefficient of Resistance)使用自动温度控制器与温控待测样品载台(选用)及仪表测量电阻温度系数测量结果可以用二维(2D)或三维(3D)方式图形表示采用双架构测试方式(Dual Configuration)以达到最佳的系统准确性(Accuracy)与重复性(Repeatability)待测样品大小可由10 毫米到300 毫米在每个待测样品可上可自动测量高达49个可追朔至美国国家标准局的测试点QuadPro Automatic System (自动系统)自动的QuadPro 系统包括计算器、歩进马达控制单元、机台本体、200 毫米或者300 毫米隔离的待测样品载台(Isolated Chuck)。系统软件的设计让使用者可针对测量需求选择在每个待测样品上测量1、5、9、25 或者49 个自动测试点，并可自动绘图显示测量结果。使用者并可设定测试点在待测样品上的分布为方型或圆性。为提升测量数据的准确性与统计的有效性，软件可定义待测样品边缘的测量数据是否被采用。在测量开始时，系统软件自动搜集阻值范围，并据以作最佳的仪表设定。系统采用的双架构测试方式可消除因四点探针头结构误差所产生的测量误差，以提升系统测量的重复性和准确度。系统软件会控制并纪录每个测量点的位置与测量值，测量的结果如片电阻、电阻率和V /I(电压/电流)可在同一个测量结果的表格中表示。在完成全部测试点测量时，系统会用等高线图展示测量结果，此等高线图可在二维图与三维图间轻易的切换观看．电阻率与片电阻的平均值及标准差都会显示在等高线图上 QuadPro TCR Option (电阻温度系数测量选用项)电阻温度系数量测选用项整合了待测样品温度控制、仪表控制与温度系数运算的能力以完成电阻温度系数量测的功能。Signatone 提供了多种温度范围的温控待测样品载台系统供使用者选用。使用者可依测量需要设定开始温度、截止温度与在每个温度点停留多少时间后在开始量测。温度与量测得到的电阻值会存在同一个表格或图表内，以方便后续的分析使用。一般最常被采用的温控待测样品载台系统为室温至350°C。但是除了350°C 温控待测样品载台系统之外，Signatone 也提供低至-55°C 与高至600°C 的温控待测样品载台系统。一般QuadPro 的系统架构包括一台吉时利(Keithley)的2400 仪表(Source Measurement Meter)。吉时利2400 可测量的电阻范围为1mΩ至2MΩ。若使用者要测量更高电阻的材料，QuadPro 的系统架构将包括安捷伦(Agilent)的4156 参数分析仪，并采用隔离式的三轴系统架构，如此架构的QuodPro 系统的电阻测量范围为100mΩ 至10GΩ。为达到最佳的量测准确度，QuadPro 采用了美国ASTM 标准F84-99 测试方法的双架构测试方式以补偿因为四点探针头间距可能不精确或量测接近导电层边缘而造成的量测误差．Signatone 同时也提供准确度可追朔至美国国家标准局(NIST)的校准片，适当的使用校准片和QuadPro 提供的校准程序，可确保系统的准确性优于1%．Four Point Probe Head (四点探针头)Signatone 提供了两大系列的四点探针头供使用者选用；SP4 系列和HT4系列．SP4 系列四点探针头是被大多数应用所采用的四点探针头，它是由直线排列的塑钢探针所组成．SP4 系列四点探针头提供了下列选项以适应各种应用：探针间距：0.040、0.050、0.0625 英寸探针针压：45、85、180 克探针材质：碳化钨(Tungsten Carbide)、锇(Osmium)探针半径：0.0016、0.005、0.010 英寸HT4 系列四点探针头表面看起来与SP4 系列四点探针头类似，但是HT4系列四点探针头适用陶瓷做的，故适用于高温与高电阻的测量，HT4 系列四点探针头可工作至650oC，而且HT4 系列四点探针头的耐高温同轴接线设计使其可测量的电阻值高达10GΩ．探针间距：0.050、0.0625 英寸探针针压：180 克探针材质：碳化钨(Tungsten Carbide)、锇(Osmium)探针半径：0.0016、0.005、0.010 英寸QuadPro Test & Calibration (测试与校准)Pro4-440N configuration (系统架构)电压与电流(V/I)的量测结果会记录在软件内．系统采用了美国ASTM 标准F84-99 测试方法的双架构测试方式以补偿因为四点探针头间距可能不精确或量测接近导电层边缘而造成的量测误差．Signatone 同时也提供准确度可追朔至美国国家标准局(NIST)的校准片，适当的使用校准片和QuadPro 提供的校准程序，可确保系统的准确性优于1%．Pro4-440N 系统的标准范围是1mΩ/□至800KΩ/□．Pro4 Manual Four-Point Probe with Computerized Measurement System(Pro4 手动四点探针台与测量软件)Signatone 自1968 年就已经开始提供业界四点探针电阻率量测系统，其中的Pro4 系列手动四点探针台提供了简易且方便量测片电阻率(Sheet Resistivity)与体电阻率(Bulk Resistivity)的有效方法。使用者只要手动下针并操作软件上的量测按键，软件会自动控制吉时利仪表做最佳的电流设定并得到准确的量测。Pro4-440N configuration (系统架构)电压与电流(V/I)的量测结果会记录在软件内．系统采用了美国ASTM 标准F84-99 测试方法的双架构测试方式以补偿因为四点探针头间距可能不精确或量测接近导电层边缘而造成的量测误差．Signatone 同时也提供准确度可追朔至美国国家标准局(NIST)的校准片，适当的使用校准片和QuadPro 提供的校准程序，可确保系统的准确性优于1%．Pro4-440N 系统的标准范围是1mΩ/□至800KΩ/□．Pro4 Software (软件)使用者只需输入待测样品的大小、形状、待测样品边缘不包括部分的大小与测量点数，Pro4 软件会控制系统的测量、测量资料的撷取、显示、打印与资料的输出(Export)，使用者可设定要显示的参数(如电阻、片电阻或电压/电流)，也可以定义良品/不良品(Pass/Fail)的条件．测量点会在软件上以图样标示出来，同时提醒使用者将探针移至待测点．测量结束，测量数据的平均值、标准差、最大值与最小值会被标示出来，同时可打印测量数据含良品/不良品的报表．Pro4-4400 configuration (系统架构) Pro4-4400 系统与Pro4-440N 相同，但是不含计算器．使用者需自备计算器，计算器需含窗口软件与一个RS-232 接口．Pro4 用于测量芯片或其它材料的电阻率或片电阻． Pro4 使用双架构测试方式和自动设定仪表以保证测量的准确性．系统包括手动四点探针台、二个四点探针头、吉时利仪表(Keithley 2400)与软件． Pro4-4000 configuration (系统架构) Pro4-4000 不包括计算器与仪表，但是包含软件．使用者需自备计算器与吉时利仪表(Keithley 2400)系统包括手动四点探针台、二个四点探针头与软件．Manual Four-Point Probes (手动四点探针台)Signatone 生产各式电阻率测量设备，包括简易型四点探针台与四点探针头． S-302-4右图是四吋的四点探针台，可测量大至四吋的芯片，含四吋铁氟龙(Teflon)待测样品载台。四点探针台也有6"、8”与12”的． Four Point Probe Heads (四点探针头)除了四点探针台之外，Signatone 也生产四点探针头。SP4 系列四点探针头是设计给在室温使用的。HT4 系列四点探针头是设计给在高温使用的。一般四点探针头是由四支直线排列的探针组成，但是Signatone 也提供不同排列方式的订制探针头，例如四支针成矩形排列．

YSI Proplus已经停产，替代型号ProQuatroYSI Proplus所用电缆和电极，正常供应中。YSI ProPlus手持式野外多参数测量仪YSI专业系列手持式野外/实验测量仪是YSI秉承不断满足客户新需求的经营理念，历经数年研制并经客户测试的新产品。YSI ProPlus是本系列中的旗舰产品，拥有久经考验、YSI声誉保证的传感器技术，结合多项突破性设计，功能更齐全、性能更稳定、操作更方便，外形设计匠心独具，并高度耐碰撞。广泛应用于地表水、饮用水的水质测量；污水处理厂的溢流：湿地监测：盐潮入侵调研；实验室BOD测试及其它项目。单参数溶氧仪，请参考型号PRO20便携式溶氧仪proplus产品特点：- 多种参数选择：溶解氧、BOD、pH、ORP、电导率、氨氮、硝氮、氯化物和温度；- 电缆、探头均可在野外由用户自行更换，无需特殊工具；- 主机、电缆、探头三体分开；同一主机可配不同长度、不同参数接口的电缆以满足不同的应用需要；- IP67防水等级，电池仓与仪器电路仓各自独立分隔并密封，即使电池仓进水也不影响或损坏仪器电路；- 借助标配的USB线连接ProPlus主机和计算机，不仅能为主机供电，亦可运用易于操作的Data Manager中文软件设置主机、管理分析数据以及查看图形数据与表格数据。proplus其他优势：- 提供两种溶解氧探头的选择-原电池法或极谱法；- MS军方接头，快速插拔，防水，连接可靠稳固；- 电缆的接头部分可耐受30万次弯折，经久耐用；- 不锈钢探头保护套，坚固耐撞，更易于沉入水中；- 夜光键盘和背景光显示屏便于在昏暗环境下操作；- 按人体工程学设计，手感舒适，外观精致；- 图形显示、内置详细的帮助信息；- 寿命长、耗材少，平均使用成本低；- 自动识别缓冲液；- 自动稳定功能并可锁定读数；- 主机中文操作界面；- 超长保修期：proplus主机两年，电缆一年。proplus系统技术指标（4米电缆+探头）：参数测量原理测量范围分辨率准确度校准工作深度溶解氧%空气饱和度极谱法或原电池法0-500%0.1%或1%空气饱和度（可选）0-200%：读数之±2%或2%空气饱和度，以较大者为准；200-500%：读数之±6%1点或带0%的两点校准毫克/升0-50mg/L0.1或0.01mg/L（可选）0-20mg/L：读数之±2%或0.2mg/L,以较大者为准；20-50mg/L：读数之±6%1点或带0%的两点校准温度野外耐固型电缆-5至70℃0.1±0.2℃4m实验室级别电缆5至70℃0.1±0.35℃电导率*四电极流通式电导测量管法0-200mS/cm0.001-0.1mS/cm(视量程而定)读数之±0.5%或0.001mS/cm，以较大者为准（4m电缆）；读数之±1%或0.001mS/cm，以较大者为准(20m电缆)1点盐度由电导率和温度计算得出0-70ppt0.01ppt读数之±1%或0.1ppt，以较大者为准1点pH玻璃复合电极法0-140.01±0.21,2,3,4,5或6点（可选）***ORP铂电极法-1999至1999mV0.1mV±20mV1点铵氮离子选择电极法0-200mg/L-N(0-30℃)0.1mg/L-N读数之±10%或2mg/L-N，以较大者为准1,2或3点（可选）17m硝氮**离子选择电极法0-200mg/L-N(0-30℃)0.1mg/L-N读数之±10%或2mg/L-N，以较大者为准1,2或3点（可选）17m氯化物**离子选择电极法0-1000mg/L-Cl(0-40℃)0.1mg/L-Cl读数之±15%或5mg/L-Cl，以较大者为准1,2或3点（可选）17m总溶解固体由电导率和温度计算得出0-100g/L(可输入0.30至1.00，默认值为0.64)0.001，0.01，0.1 g/L气压压阻法50-110kPa0.01kPa0.4kPa(温度变化在校准点±15℃之内)1点注：*由此计算出的参数有电阻率、盐度、比电导度和总溶解固体 **离子电极仅适用于淡水***另：US，NIST或自定义缓冲液proplus主机技术指标：参数测量范围分辨率准确度酸碱度-2.60至16.600.1mV(0.01pH单位)±0.1mV(±0.01pH单位)氧化还原电位-1999到+1999mV0.01mV±0.5mV电导率0.0-200 mS/cm0.001mS/cm或0.1μS/cm-0.1mS/cm(视量程而定)全量程之±0.3%±1位溶解氧0.00-90mg/L0-550%0.01mg/L 0.1%全量程之±0.2%（550%空气饱和度）上1位（10时，采用1.25PE盖膜）温度-10至100℃0.1℃全量程±0.1% 1位其它技术指标：内 存 可存储2000组数据软 件 Data Manager软件，数据管理、仪器设置、实时研究，查看图形、表格数据尺 寸 8.3cm(宽)╳21.6cm(长)╳2.3cm（厚）重 量 475G（含电池）电 源 2节2号碱性电池电 缆 备有1m、4m 10m 20m 30m和100m可供选择保修期 主机：两年；电缆；一年；传感器：一年（铵氮、硝氮、氯化物、原电池溶解氧半年）补偿功能 气压补偿：溶解氧；盐度补偿：溶解氧；温度补偿：溶解氧、电导率、盐度、酸碱度、氨氮、硝氮和氯化物更多产品信息，请咨询广州佰微仪器科技有限公司（佰科汇）

1:便携式四探针电阻率测试仪 四探针电阻率测试仪 四探针电阻率检测仪 四探针电阻率测定仪 型号：KDK-KDY-1A概述便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。本仪器按照半导体材料电阻率的际及家标准测试方法有关规定。它主要由电器测量份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。为减小体积，本仪器用同块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由宽的恒流源提供，随时可行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分材料也可以用来作产品检测。对1～100&Omega &bull cm标准样片的测量瓿差不过± 3%，在此范围内达到家标准机的水平。测量范围：可测量 电阻率：0.01～199.9&Omega &bull cm。可测方块电阻：0.1～1999&Omega /口当被测材料电阻率&ge 200&Omega &bull cm数字表显示0.00。（2）恒流源：输出电流：DC 0.1mA～10mA分两档10mA量程：0.1～1mA 连续可调10mA量程：1mA ～10mA连续可调恒流度：各档均优于± 0.1%适合测量各种厚度的硅片（3） 直流数字电压表测量范围：0～199.9mv灵敏度：100&mu v准确度：0.2%（± 2个字）（4） 供电电源：AC：220V ± 10% 50/60HZ 率8W（5） 使用环境：相对湿度&le 80%（6） 重量、体积重量：2.2 公斤体积：宽210× 100× 深240（mm）（7）KD探针头压痕直径：30/50&mu m间距：1.00mm探针合力：8± 1N针材：TC2:· 数字式硅晶体少子寿命测试仪 型号：KDK-LT-100C为解决太阳能单晶、多晶少子寿命测量，特按照标GB/T1553及SEMI MF-1535用频光电导法研制出了数字式少子寿命测试仪。 该设备是按照家标准GB/T1553&ldquo 硅单晶少数载流子寿命测定的频光电导衰减法&rdquo 。频光电导衰减法在我半导体集成电路、晶体管、整流器件、核探测器行业已运用了三十多年，积累了丰富的使用经验，经过数次十多个单位巡回测试的考验，证明是种成熟可靠的测试方法，特别适合于硅块、硅棒研磨面的少子体寿命测量；也可对硅片行测量，给出相对寿命值。方法本身对样品表面的要求为研磨面，制样简便。 KDK-LT-100C数字式硅晶体少子寿命测试仪有以下特点：1、 可测量太阳能多晶硅块、单晶硅棒少数载流子体寿命。表面无需抛光，直接对切割面或研磨面行测量。同时可测量多晶硅检验棒及集成电路、整流器、晶体管硅单晶的少子寿命。2、 可测量太阳能单晶及多晶硅片少数载流子的相对寿命，表面无需抛光、钝化。3、配备软件的数字示波器，液晶屏上直接显示少子寿命值，同时显示动态光电导衰退波形，并可联用打印机及计算机。4、配置两种波长的红外光源：a、红外光源，光穿透硅晶体深度较深&ge 500&mu m，有利于准确测量晶体少数载流子体寿命。b、短波长红外脉冲激光器，光穿透硅晶体深度较浅&asymp 30&mu m，但光强较强，有利于测量低阻太阳能硅晶体。5、测量范围宽广测试仪可直接测量：a、研磨或切割面：电阻率&ge 0.3&Omega &bull ㎝的单晶硅棒、定向结晶多晶硅块少子体寿命，切割片的少子相对寿命。b、抛光面：电阻率在0.3～0.01&Omega &bull ㎝范围内的硅单晶、锗单晶抛光片。寿命可测范围 0.25&mu S&mdash 10ms 温馨提示：以上产品资料与图片相对应。

硅片基体导电类型与被测薄层相反。适用于测量厚度不小于0.2 μm的薄层，方块电阻的测量范围为10A-5000n.该方法也可适用于更高或更低照值方块电阻的测量，但其测量准确度尚未评估。使用直排四探针测量装置、使直流电流通过试样上两外探件，测量两内操针之间的电位差，引人与试样几何形软有关的修正因子，计算出薄层电阻。覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.导体材料电阻率测试仪GB/T 11073硅片径向电阻率变化的测量方法提要探针与试样压力分为小于0.3N及0.3 N¯ 0.8N两种。以下文件中的条款通过本标准的引用商成为本标准的条款。但凡注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括订正的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的新版本。但凡不注日期的引用文件，其新版本适用于本标准。GB/T 1552硅、储单晶电阻率测定直排四探针法样品台和操针架样品台和探针架应符合GB/T152 中的规定。样品台上应具有旋转360"的装置。其误差不大于士5"，测量装置测量装置的典型电路叉图1，范围本标准规定了用直排四探针测量硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的方法。本标准适用于测量直径大于15.9mm的由外延、扩散、离子注人到硅片表面上或表面下形成的薄层的平均薄层电阻。

导体材料电阻率测试仪GB/T 11073硅片径向电阻率变化的测量方法提要探针与试样压力分为小于0.3N及0.3 N¯ 0.8N两种。以下文件中的条款通过本标准的引用商成为本标准的条款。但凡注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括订正的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的新版本。但凡不注日期的引用文件，其新版本适用于本标准。GB/T 1552硅、储单晶电阻率测定直排四探针法样品台和操针架样品台和探针架应符合GB/T152 中的规定。样品台上应具有旋转360"的装置。其误差不大于士5"，测量装置测量装置的典型电路叉图1，范围本标准规定了用直排四探针测量硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的方法。本标准适用于测量直径大于15.9mm的由外延、扩散、离子注人到硅片表面上或表面下形成的薄层的平均薄层电阻。硅片基体导电类型与被测薄层相反。适用于测量厚度不小于0.2 μm的薄层，方块电阻的测量范围为10A-5000n.该方法也可适用于更高或更低照值方块电阻的测量，但其测量准确度尚未评估。使用直排四探针测量装置、使直流电流通过试样上两外探件，测量两内操针之间的电位差，引人与试样几何形软有关的修正因子，计算出薄层电阻。覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.

一、手持式土壤检测仪 土壤测量仪产品简介：土壤水分温度盐分PH测定仪采用一体化结构设计，可快速准确测量土壤中含水量、温度、电导率（盐分）、酸碱度，可对多处样地、不同土壤深度的水分含量温度盐分和PH进行快速检测和长期连续监测。广泛应用于土壤墒情检测、旱作节水灌溉、精细农业、林业、地质勘探、植物培育、水利、环保等领域。二、手持式土壤检测仪 土壤测量仪功能介绍：1、本机体积小巧、美观，操作简单方便，性能可靠，野外携带较为方便。主机连接传感器后可以手动存储记录也可通过主机任意设置采样间隔，自动存储记录数据。2、大屏幕彩色液晶显示屏，全程跟踪记录各个被测环境因子的数值、组数、低电压示警，主机内置大容量存储器，可储存三十万条数据，具有断电数据自动存储保护功能。3、各个传感器插入主机后，主机具有自动识别功能，传感器一致性好，可按需求自行组合传感器，不同参数的传感器接口可以互相转换，对测量精度没有影响。4、手持式土壤检测仪 土壤测量仪器具有多通道自动检测扩展功能，可以实现多个传感器同时接入的同步检测。5、上位机软件功能强大，随时可以通过USB接口将记录中的数据导出到计算机上，并可以存储为EXCE表格文件，生成数据曲线，以供其它分析软件进一步进行数据处理。具有设置超限区域着色功能，超限数据变色预警，可作为环境评价的一个依据。6、仪器可加配4G联网功和能数据管理平台，将本机存储的被测点环境因子测量历史数据无线上传到智慧云农业平台，方便用户进行数据管理和长期分析。三、手持式土壤检测仪 土壤测量仪技术参数：测量参数：土壤容积含水量 单位：%(m3/m3) 测试灵敏度：±0.01 %(m3/m3) 量程：0-100%(m3/m3) 测量精度：0-50%(m3/m3)范围内)±2%(m3/m3) 　 　50-100%(m3/m3)范围内)±3%(m3/m3) 分辨率：0.1%土壤温度范围：-40-120℃ 测量精度：±0.2℃ 分辨率：±0.1℃土壤盐分范围：0-20ms 测量精度：±2% 分辨率：±0.1msPH测量范围：0-14 分辨率：0.1 测量精度：±0.2%集成电极：土壤水分，土壤温度，土壤盐分三合一，集成到一个传感器；ph复合电极：电极为复合电极，自动温度补偿，测试更稳定更准确。手持式土壤检测仪 土壤测量仪器尺寸：10×21×3.5cm供电方式：锂电池供电、交流电两种方式 软件：上位机软件免费赠送

老鼠发情周期测量仪（Rat Vaginal Estrous Cycle Monitor）主要是为了获得大鼠、小鼠在发情交配周期的精确信息而开发的设备。通过测量大鼠、小鼠阴道黏膜上皮细胞层的电阻抗数据，来判断老鼠的发情交配周期。阴道黏膜上皮细胞层的电阻抗是通过插入阴道的探针以1千赫兹（1Khz）的频率来测量的，该设备的测量范围是：0-19.9kohm（千欧姆）。老鼠在发情周期阶段的阻抗明显升高，与其他阶段发情周期相比，阻抗达到3千欧姆（3kohm）时被认为是发情前期阶段。 P为发情前期EIV变化(老鼠发情周期中)，EIV显示了发情前期的高值，和发情期的周期性变化常规测定方法（阴道涂片法）是比较麻烦的，还需要操作人员有一定的技巧，并且浪费时间和人力。大鼠阴道阻抗检测仪是一个可靠的，省时省力的设备，操作简单，初学者也很容易掌握使用。型号：MK-12 鼠孕期测量仪的主要特点： 测定大小鼠发情前期阶段的好方法； 强大的工具，提高繁殖效率； 重复性好，测量效率高； 操作简单； 电池供电，使用方便；MP-35A 规格： 控制：面板电源按钮开关 数据输出：LCD屏幕显示 电源：2AA镍氢电池，可充电 电池寿命：30小时 探针接口：插孔式 声音等级： 70 dB (A) 测量范围：0-19.9KOhm 精度：±1% ±1 digit 校准：自动 测量频率：1KHZ 重量： 0.2kg 尺寸：10(w)x14(d)x3(h)cm 探针尺寸（大鼠）：55mm x 4.5mm OD 探针尺寸（小鼠）：50mm x 3.5mm OD请关注玉研仪器的更多相关产品。如对产品细节和价格感兴趣，敬请来电咨询！

AM40手持式溶解氧测量仪产品介绍： AM40手持式溶解氧测量仪主要由MF41N传感器和AM40数据记录仪组成。MF41N传感器的指示电极Pt阴极、对应电极Ag/AgCl阳极、电池电解质和待测溶液形成回路。Pt阴极与Ag/AgCl阳极之间的700mV极性电压，使得待测材料中的氧分子，被催化还原为氢氧根离子。通过氧化，在阳极产生的银离子，与电解质溶液中的氯离子反应形成氯化银。回路中扩散电流的大小是氧气含量的量度。产品特点：同时测量溶解氧和温度AM40适用于地表水,污水，废水处理等可同时显示溶解氧浓度mg/l和氧饱和度%LCD显示屏，背光易于空气校准自动进行常规校准USB接口，软件数据存储功能,符合GLP(优良实验室规范)要求记录大/小值存储4000组数据防水等级IP65技术参数：MF41N传感器1.氧浓度测量范围：0 - 200%空气饱和度；0-20 mg/L质量浓度（15℃）；2.材质：膜头—硅，PVC，不锈钢 1.4571（可选择钛金属），基体—PVC，传感器柄—PVC；3.大小：直径18mm，长度120mm；4.响应时间：t90 180s (25℃)；5.水流影响： 5% (25℃)；6.工作温度：-5 - 50℃；7.温度补偿：在传感器内部进行5 - 50℃自动补偿，温度传感器B(20℃): 2900 KB(20℃): 2800 K；8.温度传感器：铂电阻Pt 1000；9.电气连接：8针VARIOPIN-插头，IP 68 保护级别 (KVP线缆，长20m)；10.连接：在轴上用于安装浸入式流量阀的为PG 16螺纹，垂直安装或者30°倾斜安装；AM 40数据记录仪11.显示：背光式LCD显示屏，128 × 64 Pixel；12.接口：电位隔离式HMG USB接口；13.电源：3节AA，IEC R6，LR6，1.5V电池；14.工作环境温度：-10 - 55℃；15.工作环境相对湿度：湿度95%（不冷凝）；16.电池兼容性：依据EN 61326 B类抗干扰试验：静态放电（ESD EN 61000-4-2）空气放电：± 8 kV接触放电：± 4 kVB标准电磁场（EN 61000-4-3）场强：10 V/mA标准快速瞬变（脉冲；EN 61000-4-4）信号线：±1 kV，5/50 ns，5 kHzB标准干扰放射试验：干扰电压和射频干扰场强测量（EN 55011）极限值类别B；17.接口：BK连接器（4针接口插槽）；18.外壳：ABS(丙烯腈-丁二烯-苯乙烯)材质，防护等级IP 65；19.尺寸：200 × 95 × 40 mm（BHT）；20.质量：290 g（包含电池）；21.氧含量测量范围： 0 - 2000 mg/l；22.温度测定范围：-10.0 - 100.0℃。

MP200手持式总辐射测量仪名称：手持式总辐射测量仪 型号：MP200 产地：美国用途：太阳短波辐射（总辐射）对于进行蒸散率计算、能量平衡研究和太阳能板净辐射利用率等有着非常重要的意义。MP系列手持式总辐射测量仪可用于测量达到地球表面的短波辐射，计算出总辐射值。特点：响应时间快自清洁式圆顶传感器头防水防尘经校准的硅光传感器精度高手持式设计方便携带 数据实时显示并可通过软件导出技术规格：探头主体光谱范围360nm~1120nm量程0~1999 W/m2视角180°校准误差±5%重复性1%非稳定性（长期漂移）2%/年非线性1%（≤1750W/m2）响应时间1ms方向响应±5%（75°天顶角）温度响应0.04±0.04%/℃工作环境0~50℃，90%非冷凝环境；分离式探头30m防水探头尺寸2.4cm（直径）×2.8cm（高）线缆长度2m读数表主体记录模式人工/自动记录容量99组数据外形尺寸12.6cm（长）×7.0cm（宽）×2.4cm（厚）供电CR2320纽扣电池×1重量180g产地：美国点将科技-心系点滴，致力将来！ table： (上海) (北京) (昆明) (合肥) Email: (上海) (北京) (昆明) (合肥) 扫描点将科技官方微信，获取更多服务：

SCTS-2000系型双电测式四探针测试仪关键词：双电测，导电薄膜，导体SCTS-2000系型双电测式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测-改进形范德堡测量方法测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高正确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。一、主要特点： 1、 根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；2、 也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。3、 换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。4、由主机、选配的四探针探头、测试台以及PC软件等部分组成。 二、基本技术参数3.1 测量范围 电阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm 方 阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□ 电 阻：1×10-5～2×105 Ω ，分辨率：1×10-6～1×102 Ω3.2 材料尺寸(由选配测试台决定和测试方式决定) 直 径：圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限 SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限. 长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm, 手持方式不限. 测量方位: 轴向、径向均可3.3. 4-1/2 位数字电压表： (1)量程： 20.00mV～2000mV (2)误差：±0.1%读数±2 字3.4 数控恒流源 (1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100µ A，1mA，10mA，100mA，1A (2)误差：±0.1%读数±2 字3.5 四探针探头（选配其一或加配全部） (1)碳化钨探针：Φ0.5mm，直线探针间距1.0mm，探针压力: 0～2kg 可调 (2)薄膜方阻探针：Φ0.7mm，直线或方形探针间距2.0mm，探针压力: 0～0.6kg 可调3.6 电源 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：20W3.7 外形尺寸： 主机 220mm（长）×245 mm（宽）×100mm（高）

操作流程和测试步骤1.使用前期准备--测试前准备工作：1.1.开机预热：将220V电源插头插入电源插座，打开电源开关，让仪器预热15分钟，保证测试数据稳定。若测试仪无法正常启动，请按以下步骤检查：①检查电源线是否接触良好；②检查后面板上的电源开关是否已经打开③检查保险丝是否熔断，如有必要，请更换保险丝④ 如经上述检查无误后，测试仪仍未正常启动，请联系本公司进行解决。本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，压强 配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.

MQ 500手持式光合有效辐射测量仪名称：手持式光合有效辐射测量仪 型号：MQ 500 产地：美国用途： MQ-500手持式全光谱光合有效辐射计，采用记录仪和光合有效辐射探头的分体式设计，新一代光量子探头拥有更优异的光谱响应范围，能够覆盖389nm~692nm（±5nm）光谱范围，量程达到4000 μmol/m2/s，显著提高了其对LED光源的测量准确性，能够更好地满足自然光和人工光源的测量需求。得益于探头的防水式设计，MQ-500既可以用于野外自然环境、温室和人工气候室等环境的光量子通量密度（PPFD）测量，也可以用于水族箱、海洋等水下测量环境。 MQ-500手持式光合有效辐射计可用于测量400--700nm的光合有效辐射（Photosynthetically Available Radiation，PAR）。它具备数据记录功能，能够记录99个手动测量数据。在自动模式下，测量仪会每30秒测量一次，并每30分钟存储一次平均数值，同时还能对每日数据进行均值计算，至多存储99个日均值。其自带的显示屏能够让您及时获得测量数据。通过AC-100数据线，您能够轻松将测量仪中存储的数据导入计算机。 在日常使用中，低角度进入传感器的辐射经常会被反射掉，导致数值低估，因此Apogee所采用的辐射传感器采用了弧形顶部设计，从而能够接收更多的低角度入射辐射，减少余弦响应误差。 MQ系列手持式光合有效辐射计采用的具有创新性的蓝色镜片能够将测量日光（直射辐射、散射辐射或植物冠层反射辐射等）以及荧光灯、金属卤化物灯和高压钠灯等电子光源的误差降低到5%以内，有效提高传感器的精度。对于LED光源（蓝、绿、红、冷白、中性白和暖白）的测量误差亦小于10%。此外，MQ系列所采用的光量子探头采用防水设计，即使是在潮湿、雨淋甚至水下环境，也能正常使用（MQ-100除外）。 特点： 手持式设计，方便携带 光合有效辐射探头和读数表分体式或一体式设计 响应时间快 数据实时显示 自带内存，数据可存储下载 技术参数：MQ500光谱范围389nm~692nm（±5nm）光谱选择性10%（412nm~682nm±5nm）量程0~4000 μmol/m2/s校准误差±5%重复性0.5%非稳定性（长期漂移）2%/年非线性1%（≤4000μmol/m2s）响应时间1ms视角180°方向响应±5%（75°天顶角）方位误差 0.5%倾斜误差 0.5%温度响应-0.11 ±0.03%/℃工作环境0~50℃，90%非冷凝环境；分离式探头30m防水防护等级IP68记录模式人工/自动记录容量99组数据供电CR2320纽扣电池×1外形尺寸（记录仪）12.6cm（长）×7.0cm（宽）×2.4cm（厚）探头尺寸2.4cm（直径）×3.7cm（高）探头外壳材料阳极电镀铝探头数量1个线缆长度2m重量100g 可选附件：序号名称型号产品规格说明图片1数据线AC-100将测量仪数据下载到电脑，含软件，软件也可在官网下载 产地：美国点将科技-心系点滴，致力将来！ table： (上海) (北京) (昆明) (合肥) Email: (上海) (北京) (昆明) (合肥) 扫描点将科技官方微信，获取更多服务：

R54电阻率测量仪 高级薄膜电阻率测绘系统Filmetrics R54是KLA薄膜电阻和导电率测绘系统的新产品。R54是代表了KLA超过45年的电阻测量技术的新作。自从1975年我们第一台电阻率测试仪问世以来，KLA公司系列产品已经改变了导电薄膜得薄膜电阻和厚度的测量方式。从半导体制造到实现可穿戴技术所需的柔性电子产品，薄膜电阻监控对于任何使用导电薄膜的行业都至关重要。R54在功能上针对金属薄膜均匀性测绘、离子注入表征和退火特性、薄膜厚度和电阻率测量以及非接触式薄膜厚度测量进行了优化。系统优势测试点自定义编辑,包括矩形、线性、极坐标以及自定义配置可选最多可容纳300毫米圆形或A4（210mm*297mm）样品导体和半导体薄膜电阻，10个数量级范围适用接触式四点探针(4PP)和非接触式电涡流(EC)配置封闭系统便于测量光敏或者环境敏感样品15mm 最大样品高度高精度 X-Y 平台业内最小的 EC 探头尺寸应用市场半导体先进封装平板和VR显示穿戴设备化合物半导体太阳能印刷电路导电材料R54规格参数R54应用RsMapper软件:测量自动化地图模式生成器，内置的地图模式生成器使您轻松生成需要测量的斑点图案样品的相关区域，从而节省了数据采集期间的时间。这只是您可以使用的一些参数。进行调整以自定义地图的属性:圆形或正方形地图径向或矩形图案中心或边缘排除点密度

手持式 ADV 流速流量测量仪产品介绍： 手持式 ADV 流速流量测量仪只需轻按数键，即可测到实验室精度的实时流速或断面流量数据，是日常流量检测、环境监测和水文应用的测量工具。基于国际上常用、可选的流量测量方法（包括ISO和USGS标准）和计算程序，在测得所需数据后，只需轻按一个键，即可自动计算出流量。使用标配的 软件，能够快速下载和报告数据，并支持包括中文在内的多国语言。手持式ADV特别为野外测量设计，仪器配套包括能很容易安装在测杆上的手持式操作显示器和便携式ADV探头。新增内置的SmartQC智能质量控制监测功能，每测量一个数据即可判定该数据的可靠和准确程度，对超过设定的限值会给予警告和提示。坚固的结构能够抵御恶劣气候，背光显示功能便于在昏暗的环境中读取数据。使用非散失性内存，当电池能量耗尽时，不会遗失或破坏数据。仪器本身无需率定和校准。产品特点：可测流速zui高达4.5米/秒可测流速zui低至0.001米/秒(无与伦bi的低流速测量性能)实验室精度的多普勒点流速仪可选的自动流量计算国际标准，包括ISO和USGS标准等记录每次测量中变化的水位、额定流量可随时安装在测杆上，方便测量轻巧、坚固、防水液晶屏实时显示流速和流量智能自动质量控制，获得精确数据二维或三维流速测量使用非散失性内存，电池能量耗尽时，不会遗失或破坏数据内置温度传感器无需校准技术参数：流速测量范围：0.001至4.5米/秒分 辨 率：0.0001米/秒准 确 度：实测流速之±1％， ±0.0025米/秒环境工作温度：-20℃至50℃存储温度：-20℃至50℃电源8节5号电池(碱性电池、镍氢电池或镍铬电池)电池寿命：可连续工作25小时(碱性电池)物理参数重量：1.8公斤探头宽度：13厘米显示器防水规格：能承受1米水压标准配置带2米电缆的二维侧视式点流速探头(可测zui小深度为0.02米)手持式仪器，配有液晶屏可实时显示流速自动流量计算方法，包括基于ISO/USGS标准的部分中间法、部分平均法和日本方法流速测量方法：一点法、二点法、三点法、Kreps法、五点法和多点法内存：可记录64次流量测量或存储150,000多个独立的流速样本数据文件：高达20组，包括测验时的水位、额定流量、时间标记和用户注释QA/QC：自动数据回顾，流量不确定计算RS232通讯协议，测量结果可上传至计算机生成报表中文软件：波束检验、数据存取、可视数据和用户自定义报告兼容流量处理软件内置温度传感器，分辨率为0.1℃耐固防水仪器携带箱可选配置二维/三维侧视式ADV探头三维俯式ADV探头5米电缆1.2米顶置式智能定位和水深测杆2.4米或5米深度测杆应用：天然溪流 / 浅宽河道 / 灌溉渠道 / 堰板/堰槽 / 人工渠道 / 污水排放口 / 沼泽 / 湿地 / 矿道