光离子质谱同时测量系统

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光离子质谱同时测量系统相关的厂商

  • 长沙质谱佳科技有限公司 银牌1年
    400-860-5168转6112
    质谱佳科技是国内专业从事分析仪器维修等技术服务、进口二手分析仪器销售和租赁的领先企业，原厂工程师团队为客户在色谱、光谱、质谱仪的维护保养、维修、仪器认证、技术升级、仪器搬迁，软硬件操作培训等多方面提供完善的技术支持和整体解决方案。 质谱佳科技在美国、欧洲、日本有着良好的合作伙伴，凭借优质的进货渠道和专业的选品团队为客户提供优质的二手仪器。主营品牌有：Thermo（赛默飞）、AB Sciex（爱博才思） 、Agilent (安捷伦)、Waters（沃特世）、Shimadzu（岛津）等，另外质谱佳科技还提供分析仪器配件、耗材的销售。 质谱佳科技总部位于长沙，通过设在上海、海口等地的分公司，形成服务全国的网络。为制药、食品、环保、三方检测、新能源等多个行业以及高校、科研院所、政府实验室等客户提供方便快捷的本地化服务。
    主营产品： 二手分析仪器   维修保养   真空泵   液质联用仪  
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  • 北京艾飞拓科技有限公司（IONTOF中国代表处） 银牌3年
    400-860-5168转5050
    北京艾飞拓科技有限公司作为德国 IONTOF 公司的中国总代理，成立于2012年。主要负责飞行时间二次离子质谱仪（ToF-SIMS，新一代型号ToFSIMS M6）、低能离子散射能谱仪（LEIS，型号Qtac100）和高分辨磁力显微镜（hr-MFM，型号VLS-80）这三类产品，在中国大陆及港澳地区的销售、售后、宣传、培训、技术服务等工作。公司成员来自北京大学、中科院物理所等一流院校研究生，“以物理学、材料学、国际贸易等专业背景打造核心团队，秉承引进国际质谱领域先进技术的理念，以提高我国材料分析技术为核心目标，密切与国内多所高校、研究机构、科技公司合作，共同攻克技术难题。”IONTOF是由Alfred Benninghoven教授，Dr.Ewald Niehuis和Thomas Heller先生于1989年创立，创始人Prof.Benninghoven教授是国际静态二次离子质谱的奠基人，他们团队始终带领国际二次离子术的发展，从上世纪80年代初开始，Benninghoven教授和他的研究组就致力于飞行时间二次离子质谱的系统和应用研究。依托于明斯特大学和州纳米中心的技术和人才优势，TOF-SIMS已经发展成为无可替代的表面分析手段。TOF.SIMS 5从2003年定型到现在已经成为市场上相当成功的飞行时间二次离子质谱系统。到2016年，世界上已经有超过350套高性能的TOF.SIMS系统成功地应用在世界各地的公司和学术研究机构中。获取更多资讯，请访问艾飞拓官网：www.iontof.com.cn，或扫描下方二维码关注“IONTOF-CHINA”微信公众号。
    主营产品： 二次离子质谱   离子散射能谱  
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  • CAMECA SAS 铜牌12年
    400-860-5168转2751
    自1929年成立以来，CAMECA不断为国际一流科研机构提供大型材料分析仪器，并为半导体行业的精准测量需求提供解决方案。CAMECA在多个尖端微量分析技术上开拓进取，精益求精，所提供的设备包括： 二次离子质谱仪(SIMS) ，三维原子探针断层分析术(APT) ，电子探针微量分析 (EPMA) ，低能量电子激发X射线发射光谱(LEXES) CAMECA的总部邻近法国巴黎，分支机构遍及美国，德国，日本，韩国，中国，中国台湾，以及一个全球代理商网络，充分保证我们的支持服务惠及所有用户。 2007年，CAMECA加入AMETEK Inc.，成为这家全球电子和机电产品领先供应商的一部,隶属 AMETEK 材料分析部。
    主营产品： 二次离子质谱   电子探针  
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光离子质谱同时测量系统相关的仪器

  • 赛默飞NEPTUNE Plus多接收等离子质谱仪 400-611-9236
    Thermo ScientificTM NEPTUNE Plus系统整合了TRITON Plus多接收分析器和ELEMENT 2 ICP离子源、接口界面，是赛默飞多接收器质谱技术和高分辨ICP-MS多年经验的结晶。作为“第三代”MC-ICP-MS，NEPTUNE Plus第一次整合了高灵敏度、灵活多接收检测器、动态变焦调节和多接收离子计数能力，是实现高精度同位素比值测量的最佳选择。 NEPTUNE Plus具有以下出色的特性： 卓越的灵敏度：NEPTUNE Plus采用专用Jet接口技术，给整个质量范围内的灵敏度带来10-20倍的提升； 虚拟放大器：赛默飞专有的虚拟放大器技术可消除杯系数，通过软件更换放大器连接，有利于维持仪器的稳定性； 灵活的多接收检测系统：NEPTUNE Plus可安装9个Faraday杯和8个离子计数器，可实现所有被要求同位素的平行检测。
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    厂商： 赛默飞色谱与质谱
    品牌： 赛默飞/Thermo Fisher
    型号： NEPTUNE Plus
    价格： 500万 - 700万元
  • 聚光科技大气细颗粒物在线质谱监测系统 400-877-2799
    产品背景 近年来，我国雾霾频发使大气能见度下降，严重影响人们的日常生活和身心健康。针对严重的气溶胶颗粒污染状况，聚光科技与德国吉森大学展开合作，引进国际领先的单颗粒气溶胶质谱技术，推出大气颗粒物质谱监测系统LAMPAS（Laser Mass Analyzer for Particles in the Airborne State)，其经历二十多年发展，并在欧洲多个地方展开环境实地监测。该系统可广泛用于环境监测站、气象局、科研院所等环境空气质量监测场所中气溶胶颗粒物粒径和化学成分在线监测及在线源解析。产品特点 现场实时在线监测、高时间分辨率，在线分析颗粒物污染来源； 实现单颗粒气溶胶直接进样与精确粒径测量； 可测量几乎所有种类的气溶胶颗粒； 颗粒物粒径和化学成分同时测量，多成分正负离子同时检测； 无需繁琐的前处理，获得单颗粒质谱信息，更准确反映颗粒物的真实信息； 强大的数据记录与处理功能； 体积小，结构紧凑，仪器稳定性和机动性强； 总打击率高。产品原理 LAMPAS-3.0由进样系统、测径系统、激光电离系统和飞行时间质谱仪（ TOF-MS）组成，气溶胶颗粒通过差分真空透镜加速准直进入真空室；随后在测径区，由两束测径激光测量其空气动力学直径，并同时触发电离激光器；激光电离产生的正、负离子通过双极TOF-MS检测其化学成分。LAMPAS-3.0可获得气溶胶单颗粒物粒径大小和化学成分信息，同时通过将颗粒物谱图进行分类处理，实现颗粒物在线源解析功能。应用领域 环境监测：大气细颗粒物源解析，新粒子生成与灰霾形成机制，颗粒物混合状态； 机动车辆排放监测； 生物领域； 医疗领域； 极端气候研究； 工业过程监测：粉末生产，半导体加工； 吸入毒理学研究
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    厂商： 聚光科技（杭州）股份有限公司
    品牌： 聚光科技/FPI
    型号： LAMPAS-3.0
    价格： 面议
  • 等离子质谱仪PerkinElmer 400-860-0650
    仪器简介：NexION&trade 300，为您提供ICP-MS前所未有的稳定性，灵活性与卓越性能，是ICP-MS发展史上第一次真正意义的革命性突破。 NexION&trade 300 是ICP-MS历史上第一次在一台仪器中同时提 供简单、方便的碰撞池和具有异常出色检出能力的真正反应池的创新仪器。 拥有专利的通用池技术（UCT, Universal Cell TechnologyTM）， 分析工作者现在就可以对任意样品或应用选择最合适的干扰消除技术。没有使用碰撞和反应气体种类的限制！没有分析质量范围的限制！没有实验 条件的折衷！没有模式切换的漫长等待！拥有了它，就可以获得更佳的准确性，更低的检出 限，更快的分析速度和更简单、更贴近客户的操作软件，这是市场上任何其他ICP-MS仪器所无 法企及的。 独一无二的三锥接口（Triple Cone Interface）设计和四极杆离子偏转器（Quadruple Ion Deector） 供了仪器信号长时间的稳定性。这个创新的离子路径设计，前所未有地去除了未电离组分 （阻止了它们进入通用池），保持了整个仪器的干净，使仪器漂移最小，并且完全不需要清 洗通用池。主要特点：PerkinElmer公司最新推出领先一代（Next generation---- NexION）的ICP-MS 300型则包括了3C、3D和3Q： 3C：三个锥（cone），使真空压力差下降更平缓，减小离子束的扩散和对仪器内部的沾污； 3D：三个模式（mode），标准模式、碰撞池模式、反应池模式，人无我有，人有我新。 3Q：三个四级杆（quadrupole），第一个分开电离的和未电离的（离子和中性粒子），第二个分开单原子离子和多原子离子（待分析离子和干扰离子），第三个将待分析的离子之间一个个地分开。第一个四级杆就是离子透镜，但这个离子透镜永远不会变脏也不需要维护，确保了仪器的长期稳定性。
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    厂商： 珀金埃尔默企业管理（上海）有限公司
    品牌： 珀金埃尔默/PerkinElmer
    型号： NexION
    价格： 面议
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  • 地质地球所发明使用二次离子质谱仪同时分析非金属元素和金属元素的系统和方法
    p　　二次离子质谱(SIMS)和溅射中性粒子质谱(SNMS)是表面分析科学和材料科学中广泛应用的分析技术。使用离子溅射固体表面能够引起光子、电子、中性粒子和二次离子的发射。SIMS技术探测溅射产生二次离子，SNMS技术探测溅射产生中性粒子。由于二次离子的产率和基体相关，SIMS技术具有显著的基体效应，需要标准样品进行分析校正。中性粒子是溅射产物的主要组成部分，SNMS将中性粒子后离子化进行质谱分析，定量更加可靠。IMS1280型SIMS通常使用O2-分析金属元素，使用Cs+分析非金属元素，很难同时对金属元素和非金属元素进行分析。/pp　　中国科学院地质与地球物理研究所工程师唐国强等人在以上背景下，发明了一种使用二次离子质谱仪同时分析非金属元素和金属元素的系统和方法，并于近日获得国家发明专利授权(发明名称：使用二次离子质谱仪同时分析非金属元素和金属元素的系统和方法 发明人：唐国强，赵洪 专利号：ZL 2013 1 0654614.7)。/pp　　该发明使用SIMS分析二次离子，用SNMS对中性粒子分析，可以在线获得样品中更多的信息，保留了微区分析的特点，没有基体效应。其特点有：分隔的真空腔体有利于溅射中性粒子的收集和离子化 中性粒子的离子化可以使用电子轰击、热电离、激光共振等成熟的离子化技术 质量分析器可以使用小型的四极杆或者飞行时间质量分析器，基于电场的独立小型质量分析器有利于减小仪器体积和缩短分析时间。/pp　　该发明将SIMS和SNMS两种技术结合起来应用在IMS1280型SIMS上，能够同时分析样品中的金属元素和非金属元素，具有很大的进步意义。/pp style="text-align: center "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201512/insimg/8eb1bbcd-7c77-43e4-9eeb-d923de6e388c.jpg" title="W020151218354254671408.jpg"//pp　　图1：2.一次离子 7.样品 8.真空腔 9.二次离子 21.中性粒子 22.中性粒子 23.泵 24.小型质量分析器 25.离子 26.真空腔 27.接口 28.接口 29.接口。/p
    时间： 2015-12-22
    作者： 环保-学雷
  • 国内首套双束聚焦离子束与飞行时间二次离子质谱联用系统即将投入使用
    核工业北京地质研究院分析测试研究中心是以核能材料、放射性标准物质的制备、地质矿产和环境分析测试技术研究与服务为主的综合性检测实验室技术机构，也是核工业地质行业的仲裁分析测试实验室，是地质行业同位素分析、微束分析等领域的权威机构。核工业北京地质研究院分析测试研究中心采购了两台特殊的质谱仪，今年两台设备同时到货、安装。一台是法国CAMACA公司的IMS 1280-hr高分辨二次离子质谱仪，另一台是TESCAN公司的双束聚焦离子束与飞行时间二次离子质谱联用系统。CAMECA公司工程师正在调试设备TESCAN公司专家正在进行应用培训 之所以采购两台二次离子质谱，是因为高分辨质谱仪以极佳的检出限以及超高的分辨能力和精度著称，但成像及原位分析能力较差；而联用系统是扫描电镜（SEM）、聚焦离子束（FIB）和飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS），三者的结合，具有sem的二维高分辨成像和成分、结构等分析能力，结合fib的微区分析与加工能力，实现成分和结构的三维分析；FIB与TOF-SIMS的联用，相比于大型质谱仪具有更高的空间分辨率、更快速的成像速度、更优异的成像能力，同时操作也更简单灵活。整套联用系统可同时进行原位超轻元素、同位素分析能力，此外还可以对元素、同位素等进行二维、三维成像分析。TESCAN公司在电子显微镜和聚焦离子束领域有多项创新，是扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术的开拓者，也是行业领域的技术领导者。TESCAN研发部的专家libor sedlá?ek博士 这是国内首套双束聚焦离子束与飞行时间二次离子质谱联用系统，TESCAN十分重视和核工业北京地质研究院的合作，研发部的专家libor sedlá?ek博士，专程到北京进行培训，并和中心主任郭冬发研究员、书记范光研究员等专家进行了交流。我们将继续跟踪双束聚焦离子束与飞行时间二次离子质谱联用系统的最新应用进展，分多个篇幅进行介绍，我们也欢迎感兴趣的用户前来参观和交流。
    时间： 2017-04-26
    作者： 泰思肯
  • 安捷伦科技发布世界首款三重串联四极杆电感耦合等离子质谱系统
    安捷伦科技发布世界首款三重串联四极杆电感耦合等离子质谱系统 2012 年 1 月 10 日，北京&mdash &mdash 安捷伦科技公司（纽约证交所：A）日前宣布发布安捷伦 8800 三重串联四极杆 ICP-MS（ICP-QQQ），它是全球独一无二的仪器。该款新型 ICP-QQQ 系统的性能优于单四极杆 ICP-MS，进行 MS/MS 运行时在反应模式下具有可控且持续的干扰消除能力。ICP-QQQ 还能满足高端应用需求，具有单四极杆仪器所没有的灵活分析能力。 安捷伦 8800 采用独特的 QQQ 配置，能够控制进入碰撞反应池的离子，因此即使样品组成有所不同，也能保持一致、可预见的反应条件。该款新仪器在一系列的新型反应模式中提供一键式运行，能够始终有效地消除复杂样品中未知元素带来的干扰。安捷伦 8800 还能如同单四极杆 ICP-MS 一样运行，确保复制现有方法和类似方法的安全性。 西班牙奥维耶多大学物理分析化学系教授 Jorge Ruiz Encinar 谈到：&ldquo 安捷伦 8800 ICP-QQQ 不仅具有标准 ICP-MS 一样的操作便利性，而且检测含磷、含硫化合物的检测限比 LC-ICP-MS 更出色。&rdquo 8800 ICP-QQQ 可在众多应用中用于分析样品中的未知元素，包括： 超痕量分析高纯样品中受干扰的元素（氯化氢中的锗和砷；硫酸中的钒和钛等）。对土壤、岩石和植物体内的低含量成分进行可靠地分析，这些分析中可能同时存在多价和二价离子干扰。在生命科学应用中定量分析 DNA/核苷酸 和蛋白/多肽中的硫磷元素。 安捷伦科技副总裁光谱产品经理 Philip Binns 表示：&ldquo 安捷伦 8800 ICP-QQQ 的推出代表了 ICP-MS 仪器的变革，为高端研究和解决复杂的分析难题带来了前所未有的灵活性。8800 是安捷伦非同凡响的 7700 系列 ICP-MS 的新成员，仍然秉承了单四极杆 ICP-MS 的高性能标准。我们的产品组合部分包括 8800、7700 、最新推出的 4100 MP-AES以及其他原子光谱仪器，安捷伦在原子光谱领域的龙头地位愈加稳如泰山。&rdquo 要了解有关 8800 三级串联四极杆 ICP-MS（ICP-QQQ）的详细信息，请访问 www.agilent.com/chem/icpqqq。 关于安捷伦科技 安捷伦科技公司（纽约证交所：A）是全球领先的测量公司，同时也是通信、电子、生命科学和化学分析领域的技术领导者。公司的 18,700 名员工为 100 多个国家的客户提供服务。在 2011 财政年度，安捷伦的业务净收入为66 亿美元。要了解安捷伦科技的信息，请访问：www.agilent.com.cn。
    时间： 2012-01-10
    作者： 安捷伦
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  • 二次离子质谱分析技术及其应用2

    4 SIMS的研究和应用... 144.1 元素及同位素分析... 144.2 颗粒物微分析研究... 164.3 团簇、聚合物分析及生物医学等方面的研究... 174.4 SIMS在化合物半导体材料分析中的应用... 194.4.1 常规分析... 204.4.2 最低测量极限... 214.4.3 高分辨率SIMS分析... 234.4.4 解剖分析... 245 SIMS的新进展... 256 几种新型号二次离子质谱仪采用的新技术... 266.1 NANO SIMS 50型二次离子质谱仪... 286.1.1 小束斑离子枪和短工作距离的二次离子接收透镜的新设计... 286.1.2 二次离子接受器由单种离子接收改为多种离子同时接收... 29

  • 【原创】二次离子质谱分类

    [size=5][b] [/b][/size]　　采用脉冲一次离子源（LMIG, Cs, C60,Au，O2+,Ar+）等轰击样品，然后收集从样品表面激发出来的二次离子，采用质谱检测器（飞行时间、四极杆、扇形磁过滤、离子阱等），来收集这些二次离子，并且根据他们的质荷比（ｍ／ｚ）将它们分离，据此来判断分析材料的成分。　　 　　二次离子质谱仪分为静态- 二次离子质谱仪(S-SIMS) 和动态二次离子质谱仪(D-SIMS) ，其区分的标准就是根据入射的一次离子的剂量一般10^12atoms/cm2，成为静态二次离子质谱仪，一般采用飞行时间检测器，主要用于生物医药的有机物分析，半导体材料的污染物分析，存储材料分析，可以坚定有机的分子碎片。在分析过程中，材料表面的吸附物质及化学状态，对谱峰影响巨大。这也就是二次离子质谱中的“基体效应”。静态－二次离子质谱是一种无破坏的表面分析方法。最常见的静态- 二次离子质谱仪是飞行时间二次离子质谱仪。飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS: Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry）利用一次脉冲离子轰击样品，通过表面激发出的二次离子的飞行时间测量其质量（m/z 100,000），以分析样品的表面组成。　　动态－二次离子质谱仪，入射的一次离子的剂量一般10^1５atoms/cm2，对表面形成大量的溅射作用，是一种破坏性分析，主要用于地质研究，同位素定年分析，半导体掺杂的深度分析。主要采用的一次离子源为气体等离子源（Ａｒ／Ｏ２）或Ｃｓ离子源，一般要求样品导电性要好。

  • 二次离子质谱分析技术及其应用1

    1 二次离子质谱学发展简史... 42 SIMS的原理和仪器结构... 52.1 原理... 52.2 质谱分析器(质谱计) 62.2.1 磁质谱计... 72.2.2 四极质谱计... 72.2.3 飞行时间质谱计... 82.2.4 其他质量分析器... 102.3 SIMS仪器类型... 103 SIMS与其它表面分析技术的比较... 113.1 SIMS的主要优缺点... 113.2 与其它微分析技术比较... 134 SIMS的研究和应用... 144.1 元素及同位素分析... 144.2 颗粒物微分析研究... 164.3 团簇、聚合物分析及生物医学等方面的研究... 174.4 SIMS在化合物半导体材料分析中的应用... 194.4.1 常规分析... 204.4.2 最低测量极限... 214.4.3 高分辨率SIMS分析... 234.4.4 解剖分析... 245 SIMS的新进展... 256 几种新型号二次离子质谱仪采用的新技术... 26[url=http://bbs.in

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  • 配套112FR-NEPTUNE Plus多接收等离子质谱仪用PFA进样管
    CETAC ASX-112FR-NEPTUNE Plus多接收等离子质谱仪用进样瓶、进样管材料：PFA或四氟体积：10、35ml可定制型号：NJ-ZH
    供应商： 南京滨正红仪器有限公司
    品牌： 南京滨正红
    价格： ¥300400
  • 定制CETAC自动进样杯PFA多接收质谱仪进样管
    CETAC ASX-112FR-NEPTUNE Plus多接收等离子质谱仪用进样瓶、进样管材料：PFA或四氟体积：10、35ml可定制型号：NJ-ZH
    供应商： 南京滨正红仪器有限公司
    品牌： 南京滨正红
    价格： ¥0450
  • X-Cite® 荧光照明配件光功率测量系统
    X-Cite® 荧光照明配件光功率测量系统 X-Cite® 荧光照明配件光功率测量系统的独特设计专门用于测量荧光显微设备的光功率，具有绝佳的精准性和易用性。它以瓦特为单位显示数据，不仅可用于实验，还可以用于设备的安装和故障排除。该系统包括X-Cite® XP750传感器，外形小巧别致，专门设计用于显微镜载物台。它具有多种功能，可以对X-Cite® 照明器或其他任何落射荧光光源的输出功率进行测量。为了实现zui终的可重复性，X-Cite® XR2100会利用光导管输入端口或物体平面上的X-Cite® XP750光功率计获得的功率数据，来校准X-Cite® exacte照明器。功能和优势:功能优势X-Cite® XP750小巧的显微镜载玻片尺寸适合标准的显微镜压片夹，更方便的直接从物镜测光，无需移除或重新配置设备兼容灯泡，激光和 LED 光源不仅技术ling先，还能适配多种显微镜，更经济探测面积高达 – 10mm同时适用低倍和高倍物镜无聚焦要求快速精确测量宽广的波长和功率测量范围适合多样化的用途和显微镜配置根据NIST/NRC标准进行校对测量结果准确，深受用户信任* NIST指美国国家标准技术研究所（ National Institute of Standards and Technology）**NRC指（美国）全国科学研究委员会（National Research Council）***建议每12个月对 X-Cite® XR2100 和 X-Cite® XP750校准一次。Lumen Dynamics集团获得更多信息。XP750规格规格内含物体平面功率传感器，配备电缆和连接器，适用于X-Cite® XR2100设备功率范围5μW-500mW测量分辨率0.01μW-1mW误差***±6%响应时间600ms（起始），3s（确保稳定显示）校准符合NRC** 标准波长范围320nm-750nm灯管类型/光源兼容性X-Cite® exacte，X-Cite® 120系列，汞/HBO，金属卤化物灯，氙灯，LED，激光物镜兼容性4X-63X，空气耦合，FOV直径小于10mm显示通过X-Cite® XR2100显示波长选择使用X-Cite® XR2100的上/下按钮或直接使用PC界面，以1nm为度量进行调节数据容量经X-Cite® XR2100PC控制查看/改变设置，确定波长，记录多个物镜的数据/滤光片/强度设置，下载/输出存储数据指令协议通过X-Cite® XR2100电源重量2.9oz (82g)尺寸（无盖）3″ x 1″ x 0.35″ (75mm x 25mm x 9mm)世界认证通过 X-Cite® XR2100质保一年X-Cite® 包含的技术受下列保护：US#6,437,861 US#7,335,901*NIST指美国国家标准技术研究所（ National Institute of Standards and Technology）**NRC指（美国）全国科学研究委员会（National Research Council）***建议每12个月对 X-Cite® XR2100 和 X-Cite® XP750校准一次。Lumen Dynamics集团获得更多信息。
    供应商： 武汉提沃克科技有限公司
    品牌： Lumen Dynamics
    价格： ￥1
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