测试测试用探针台样品台

科研级大型手动探针台是一款专为半导体领域设计的大型晶圆探针台，它可用于高达14半导体晶圆的测量，并在全球范围内首次实现XYZ，theta多维控制。大型手动探针台提供一种连续使用的工具，它可以提供XYZ,Theta的控制，并采用Z轴反向驱动技术控制Z轴运动。它的多功能性，极高的性价比和简化操作的设计是得它成为最受欢迎的手动探大型手动探针台针台。最近的若干年中，一些价格适中，操作方便的探针台从笨重而昂贵的探针台系列中脱颖而出，成为探针台发展的主流方向。这些新型探针台非常方便用户的使用，极大提高了用户效能和测量速度，同时也为研发工程师提供了多功能方案。 我们设计的这款探针台的价格仅为传统探针价格的2/3, 为客户提供了操作简单的手动探针台方案。大型手动探针台采用直线向前运动设计，操作非常简单容易，更加方便晶圆装卸，真空样品台控制，样品旋转，捆绑探针用于可重复的图案化。用户不需要学习软件，因为它采用了常见的显微镜取代视频相机，用户直接在视场找到探针就可测量。大型手动探针台可用于所有实验室环境和工艺环境。 它的尺寸是39' ' 长, 26' ' 宽，19.5' ' 高，非常适合空间狭小的测试环境，操作人员可距离探针台更近操作。 大型手动探针台的样品台吸盘可旋转380度而没有反冲问题，因此样品台真空吸盘可以反过来使用也不需要调整真空。这个14英寸的样品真空吸盘可一次性同时安装4个6英寸的晶圆，非常方便各个晶圆的比较测量。所有的探针都可定位到14英寸真空吸盘表面的任何位置，这就不需要用户因为探针位不足导致的探针样品再定位问题发生。所有的同心环真空都是彼此独立，这样就实现了所有17个对角真空控制多个装置同时测量。 大型手动探针台的定位器特别设计，压力不会突发性地压着探针冲向样品。手动探针台采用了龙门式设计结构，可以负载重量更大的样品。

Eachwave推出的低温砷化镓光电导太赫兹近场探针系列是新一代的高性能光电导型微探针，利用此太赫兹近场探针，样品表面的近场太赫兹电场可被以被空前的分辨率测量，信号质量好，噪声低。这些太赫兹探针可以无缝的与激发波长低于860nm的THz-TDS系统配合使用。THz近场探针提供了一个低成本的解决方案，可将您的THz-TDS升级为高分辨率的近场扫描成像系统。产品特点：— 市场上最小的太赫兹近场探针— 专利设计— 空间分辨率可达3um— 探测频率范围：0-4THz— 适用于所有基于激光的THz系统 — 安装可兼容标准的光机械组建— 集成过载保护电路横向场太赫兹近场探针规格参数TeraSpike TD-800-X-HRHRS最小空间分辨率3um20umPC gap size1.5um2um暗电流 @1V 偏置电压0.5nA0.5nA光电流1uA0.6uA激发波长700..860mW平均激发功率0.1-4mW接头类型SMP纵向场太赫兹近场探针规格参数TeraSpike TD-800-A-500GN最大空间分辨率8 um8 umPC gap size5 um2 um暗电流 @1V 偏置电压0.4 nA0.4 nA光电流0.5 uA0.1 uA激发波长700..860mW平均激发功率0.1-4mW接头类型SMP反射式太赫兹近场探针 反射式太赫兹近场探针是一款收发一体化的太赫兹近场探针产品。探针具有双天线结构，此结构极大的缩短了太赫兹的传输路径，可有效的应用于太赫兹近场时域谱测试以及成像测试系统中。规格参数 型号暗电流@1V偏压光电流激发波长平均激发功率链接头TeraSpike TD-800-TR.5 1.5nA 0.5uA700-860nm0.1-4mW2×SMP适用于1550nm波长的太赫兹近场探针规格参数型号脉冲上升时间带宽激发波长激发功率悬臂材料TeraSpike TD-1550-Y-BF1ps0.01-2.5THz700-1600nm 0.1-4mWInGaAs(n-type)

便携式微型探针台配件是多用途多功能探针台，可适合2.5“‘晶圆和2.5' ' x 6.5' ' 印刷电路板测试使用。便携式微型探针台配件特点仅仅有3.2kg 重量，非常方便携带。其Z轴定位通过一个数字读取的精确探针实现。便携式微型探针台配件参数 X=13.5 inches, Y=7.125 inches, Z=8.0 inches. Weight: 6.5 pounds

PELCO AFM 探针分辨率测试标样， 含样品座

PELCO AFM 探针分辨率测试标样， 含样品座

340-TT四探针测试探头探针间距选择1mm；2mm；3mm探针材质选择：铜/钨钢针探针尖形态选择：尖针，半球型

PELCO AFM 探针分辨率测试标样， 不含样品座

PELCO AFM 探针分辨率测试标样， 不含样品座

晶圆探针台,硅片探针台由中国领先的进口精密仪器和实验室仪器旗舰型服务商-孚光精仪进口销售！孚光精仪精通光学,服务科学,欢迎垂询！晶圆探针台适合显微镜使用,尺寸小,重量轻,价格低硅片探针台适合科研院所和企业的实验室使用。非常适合小于4英寸的晶圆测量,也可用于LED/LD/PD灯光的光强和波长测量晶圆探针台主要指标：硅片探针台chuck stage (吸盘位移台）：3' ' x3' ' 行程 晶圆探针台chuck theta （吸盘theta角）：0-30度硅片探针台platen （压盘）：6个微定位器晶圆探针台工作环境要求：晶圆探针台电力：110VAC， 60Hz 硅片探针台真空：-250mmHg, 7Liter/min晶圆探针台尺寸：320x320x400mm ( WxDxH,带显微镜尺寸）硅片探针台重量：20kg (带显微镜重量）晶圆探针台附件：晶圆探针台chuck stage push to position硅片探针台chuck stage vacuum based movement晶圆探针台microscope tilting mechanism and quick right angle switchover硅片探针台light intensity/wavelength measurement adapter晶圆探针台RF prob/cables硅片探针台acitive probeslow current/ capacitance probeshigh voltage probeultrasonic cutterCCTVPhotomicrographicspackaged device holderPCB holderThermal systemsLiquid crystal kit晶圆探针台Vibration free tabletop硅片探针台shielding box晶圆探针台Test bench硅片探针台Instrument case晶圆探针台chuck vacuum pattern硅片探针台gold plated chuck晶圆探针台和欧洲进口的硅片探针台,显微镜使用,适合小于4英寸的晶圆测量,是理想的硅片仪器.

产品概要：MPl悬臂探针卡广泛应用于金凸点和焊盘晶圆测试，用于显示驱动器、逻辑和存储设备。基本信息：MPI的悬臂式探头是对细间距、小焊盘尺寸、高速、清洁少、多DUT、高引脚数和超低泄漏要求的相应解决方案。技术优势：1、使用对角线或托架应用程序执行多个DUT配置，以实现超常规对齐和平面度2、减少高温或低温试验期间的热变形3、R+和U+结构的高速解决方案，用于严格的Pl和Sl应用4、通过先进的探针材料和设计，稳定低接触电阻性能5、交付周期短，是工程设备的理想选择应用方向：MPl悬臂探针卡广泛应用于金凸点和焊盘晶圆测试，用于显示驱动器、逻辑和存储设备。

产品概要：MPI公司通过引入独特的TITAN-RC探针来扩展RF TITAN探针的系列。新的探针模型的特点是触头宽度减小了33%，减小到20μm，TITAN-RC探针与进一步减小RF器件和IC的焊盘尺寸的行业趋势完全吻合，大大降低了下一代商用RF和毫米波硅器件和IC的测试成本，它可以为铝焊盘金属化小至30 x 35μm的硅器件获得准确且可重复的测量结果。基本信息： ME MS技巧 MPI TITAN&trade 探针经过精准制造，具有完美匹配的50Ω的MEMS触点。由于出色的探头电气特性(最小的插入损耗和串扰以及高的回波损耗)，它们可确保在较宽的频率范围内提供无与伦比的校准和测量结果。 独特的接触结构与市场上的其他针尖不同，由于独特的突起式针尖设计，MPI TITAN&trade RF探头可提供出色的实时可视性。首次，即使对于没有经验的操作人员，也无需使用探头对准标记，就可以将RF探头高精度地定位在校准标准件或DUT 上。技术优势：1、提供宽范围的Probe选择：DC-220Ghz2、单双信号规格3、针距范围 50 μm 至 1250 μm4、至高 10 瓦功率型射频组件的特性量测5、TITAN-RC版本探针具有GSG尖端配置，探针间距为50μm至150μm应用方向：应用于晶圆校准和测量。

产品简介 探针作为探针台的核心附件之一，主要用途是接触连接待测件电极，为半导体芯片的电参数测试提供一个导通条件，从不同应用场景可分为钨钢探针，钨钢镀金探针，镀金软针，钨钢角度探针等，被广泛应用于半导体及光电等行业的测试。产品优势进口钨钢探针，优异的导电性能；钨探测线细而柔韧，因此可最大限度地减少对被测样品的损坏；可测电流范围1fA-1A；多款针尖直径可选，满足不同应用需求；产品示意图针杆长度32mm，直径0.5mm。针尖直径有（1-3-5-10-30-50-150-300-500）um可选。

手动多功能微型探针台是一款手动多功能探针台，可用于4' ' 晶圆或4“x6.5”印刷电路板。为用户提供了价格低廉而功能强大的选择。手动多功能微型探针台特点它的重量轻，非常灵活多用，非常方便用户转移或携带出去实验，可手动从前部操作，没有阻挡物，用户可以增加显微镜方便探针定位。磁性安装面方便定位手动多功能微型探针台应用可用于晶圆测量，也可用于毫米波，微波测量，差分探针，单探针，RF的PCB测量师，汽车以及手持式测量。可以用在实验，办公室，还可以用在其它地方。可以为用户定制用于特别应用，比如多孔连接器，PCBA等手动多功能微型探针台参数尺寸：22x9x 8英寸重量：4.5Kg

Bruker台阶仪探针布鲁克台阶仪（探针式表面轮廓仪）探针，是布鲁克台阶仪（探针式表面轮廓仪）探针。 品 名 台阶仪探针 2µ m 台阶仪探针 12.5µ m台阶仪探针 25µ m型 号838-031-5838-031-3838-031-4品 名台阶仪探针 10µ m台阶仪探针 100nm台阶仪探针 5µ m型 号838-031-6838-030-938-030-1品 名台阶仪探针 2.5µ m型 号838-031-2

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。

产品介绍探针作为探针台的核心附件之一，主要用途是接触连接待测件电极，为半导体芯片的电参数测试提供一个导通条件，从不同应用场景可分为钨钢探针，钨钢镀金探针，镀金软针，钨钢角度探针等，被广泛应用于半导体及光电等行业的测试。产品优势进口钨钢探针，优异的导电性能；探测线细而柔韧，最大限度减少对集成电路的损坏；可测电流范围1fA-1A 多款针尖直径可选，满足不同应用需求 产品示意图针杆长度38mm，直径0.5mm。针尖直径有（1-3-5-10-30-50-150-300-500）um可选。

产品简介探针作为探针台的核心附件之一，主要用途是接触连接待测件电极，为半导体芯片的电参数测试提供一个导通条件，从不同应用场景可分为钨钢探针，钨钢镀金探针，镀金软针，钨钢角度探针等，被广泛应用于半导体及光电等行业的测试。产品优势进口钨钢探针，优异的导电性能；谱量特有的镀金工艺，保证针体机械属性的同时，进一步优化其导电性能；可测电流范围1fA-1A；多款针尖直径可选，满足不同应用需求；产品示意图针杆长度38mm，直径0.5mm。针尖直径有（1-3-5-10-30-50-150-300-500）um可选。

产品概要：英铂为您提供MPI品牌的DC、各类开尔文探针，以供产品测试使用。基本信息：技术优势：DC探针：适用于常规漏电流测试开尔文探针：更低的漏电流和更好的可靠性，可以适用于高低温下的测试应用方向：适用于各种晶圆测试。

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。

产品概要：MPI提供了完整的探针臂产品组合，如：同轴、三轴、高压版本、开尔文、射频，所有这些都能在高达300°C的温度下运行。基本信息：简便快速，无需工具所有标准MPI探针臂均采用适用宽温度范围(-60°C…300°C)的不锈钢管设计开发，并由独特的通用探针支架固定，可轻松快速且免工具更换针杆、高度和角度调整；更换探针臂，适用于各种不同的设置，通用探头支架与所有MPI MicroPositioner兼容。高度指示器所有MPI探针针杆均具有适合高度刻度，可以非常快速，轻松地进行主动设置。 直流探头尖端支架所有直流探头尖端支架的设计均易于更换和调节探头。探头尖端可以固定在任何变量上，也可以预先配置45°、60°、及与针杆平行等三种角度可选，用于在不同应用中进行特定的尖端散射控制。开尔文探针架MPI Kelvin探头支架与DUT尖端尽可能分离，并提供：垂直自找平探头尖端对准 专用力和感测电缆布置 快速方便地更换探针。这是精确进行超低噪声，阻抗或脉冲IV测量的新基准。开尔文探头甚至使新手用户都可以执行快速而准确的测量，从而易于重新配置4TP连接或/和进行脉冲IV测试。免工具垂直高度调整 独特的无需工具的垂直高度调整以及内置的毫米刻度，可快速切换适配高度。轻松更换RF探头MPI独特的螺丝磁力吸附，搭配射频支臂能够迅速实现探针更换。 Mitutoyo 千分尺 MPI旗下均采用Mitutoyo千分尺，以保证1um级的移动，可准确进行定位。技术优势：1、耐高温2、角度调整方便快捷3、轻松更换RF探头4、具有直流探头尖端支架和开尔文探针架应用方向：可在高达300°C的温度下使用。

布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中—ScanAsyst Air ScanAsyst Air，是空气中智能成像模式ScanAsyst 专用探针，仅适用于具有Scansyst成像的AFM。其中包含：Dimension Icon,Multimode8,Bioscope Catalyst,Bioscope Resolve. ScanAsyst 利用一种专门的曲线采集方法和复杂的算法，对图像质量进行持续的监测，并能自动地对参数进行适当的调整。因此：- 无论用户的专业技术水平如何，图像自动优化都能更快获取更一致的结果。- 可直接控制力的强弱，调到超低力，从而保护易碎样品和针尖不受损坏。 实现了悬臂调节的消除，定位调整，获得最大优化让液态成像变得简单。 氮化硅单悬臂探针，所有ScanAsyst针尖都有2度的悬臂弯曲。详细规格： 延展阅读：关于布鲁克：布鲁克公司以先进的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。 布鲁克AFM探针制造中心独特优势：*Class100级别的无尘室*先进的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。 原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式：主要分为：扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构：悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius：一般为10nm到几十nm。制作工艺：半导体工艺制作 指标：探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

MEMS技巧MPI TITAN™ 探针经过精确制造，具有完美匹配的50ΩMEMS触点。由于出色的探头电气特性（最小的插入损耗和串扰以及高的回波损耗），它们可确保在最宽的频率范围内提供无与伦比的校准和测量结果。独特的接触结构与市场上的其他针尖不同，由于独特的突起式针尖设计，MPI TITAN™ RF探针可提供出色的实时可视性。首次，即使对于没有经验的操作人员，也无需使用探头对准标记，就可以将RF探头高精度地定位在校准标准件或DUT焊盘上。减少接触探针MPI公司通过引入TITAN-RC探针来扩展RF TITAN探针的系列。新的探针模型的特点是触头尖端的宽度减小了33％，减小到20μm。TITAN-RC探针与进一步减小RF器件和IC的焊盘尺寸的行业趋势完全吻合，大大降低了下一代商用RF和毫米波硅器件和IC的测试成本。对于铝焊盘金属化小至30 x 35μm的Si器件，它可以获得准确且可重复的测量结果。TITAN-RC探针具有GSG探针配置，探针间距为50μm至150μm。杰出的寿命TITAN™ 探针技术的最强功能之一是其均匀的磨损：经过数十万次探针循环后，探针尖端的长度自然会缩小。然而，由于独特的探头设计，其电气特性保持不变。因此，TITAN™ 探针的使用寿命超过了同类探针技术的使用寿命。 最后但并非最不重要的一点是，TITAN™ 探针以实惠的价格脱颖而出。

MEMS技巧MPI TITAN™ 探针经过精确制造，具有完美匹配的50ΩMEMS触点。由于出色的探头电气特性（最小的插入损耗和串扰以及高的回波损耗），它们可确保在最宽的频率范围内提供无与伦比的校准和测量结果。独特的接触结构与市场上的其他针尖不同，由于独特的突起式针尖设计，MPI TITAN™ RF探针可提供出色的实时可视性。首次，即使对于没有经验的操作人员，也无需使用探头对准标记，就可以将RF探头高精度地定位在校准标准件或DUT焊盘上。减少接触探针MPI公司通过引入TITAN-RC探针来扩展RF TITAN探针的系列。新的探针模型的特点是触头尖端的宽度减小了33％，减小到20μm。TITAN-RC探针与进一步减小RF器件和IC的焊盘尺寸的行业趋势完全吻合，大大降低了下一代商用RF和毫米波硅器件和IC的测试成本。对于铝焊盘金属化小至30 x 35μm的Si器件，它可以获得准确且可重复的测量结果。TITAN-RC探针具有GSG探针配置，探针间距为50μm至150μm。杰出的寿命TITAN™ 探针技术的最强功能之一是其均匀的磨损：经过数十万次探针循环后，探针尖端的长度自然会缩小。然而，由于独特的探头设计，其电气特性保持不变。因此，TITAN™ 探针的使用寿命超过了同类探针技术的使用寿命。 最后但并非最不重要的一点是，TITAN™ 探针以实惠的价格脱颖而出。

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MEMS技巧MPI TITAN™ 探针经过精确制造，具有完美匹配的50ΩMEMS触点。由于出色的探头电气特性（最小的插入损耗和串扰以及高的回波损耗），它们可确保在最宽的频率范围内提供无与伦比的校准和测量结果。独特的接触结构与市场上的其他针尖不同，由于独特的突起式针尖设计，MPI TITAN™ RF探针可提供出色的实时可视性。首次，即使对于没有经验的操作人员，也无需使用探头对准标记，就可以将RF探头高精度地定位在校准标准件或DUT焊盘上。减少接触探针MPI公司通过引入TITAN-RC探针来扩展RF TITAN探针的系列。新的探针模型的特点是触头尖端的宽度减小了33％，减小到20μm。TITAN-RC探针与进一步减小RF器件和IC的焊盘尺寸的行业趋势完全吻合，大大降低了下一代商用RF和毫米波硅器件和IC的测试成本。对于铝焊盘金属化小至30 x 35μm的Si器件，它可以获得准确且可重复的测量结果。TITAN-RC探针具有GSG探针配置，探针间距为50μm至150μm。杰出的寿命TITAN™ 探针技术的最强功能之一是其均匀的磨损：经过数十万次探针循环后，探针尖端的长度自然会缩小。然而，由于独特的探头设计，其电气特性保持不变。因此，TITAN™ 探针的使用寿命超过了同类探针技术的使用寿命。 最后但并非最不重要的一点是，TITAN™ 探针以实惠的价格脱颖而出。

bruker afm探针氮化硅针尖ScanAsyst利用一种的曲线采集方法和复杂的算法，对图像质量进行持续的监测，并能自动地对参数进行适当的调整。因此无论用户的专业技术水平如何，图像自动优化都能更快获取更*的结果。-可直接控制力的强弱，调到超低力，从而保护易碎样品和针尖不受损坏。实现了悬臂调节的消除，定位调整，获得zui大优化让液态成像变得简单。仅适用于具有Scansyst成像的AFM。其中包含：DimensionIcon,Multimode8,BioscopeCatalyst,BioscopeResolve.【SCANASYST-AIR】brukerafm探针规格几何:旋转对称尖端高度h:2.5-8.0m前角FA:152.5背角BA:252.5侧角SA:17.52.5尖端半径Nom:2nm尖端半径最大:12nm尖端挫折TSBNom:5m尖端回缩TSBRNG:3-7m悬臂规范材料:氮化硅几何:三角悬臂梁数量:1悬臂厚度Nom:0.65m悬臂厚度RNG:0.6-0.7m背面涂层:反光铝

为Faro Arm便携式坐标测量机提供了完整的替换探头，测针和附件产品系列，适合所有FARO臂和Faro Gage臂的球探针和测针。有2毫米，3毫米，4毫米，6毫米，9毫米规格，请致电我们咨询最适合您的产品 17806282711 合作、共赢！美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

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四点探针头是用于方阻测试设备上的精密零件，我公司生产的探头能适配到国内外所有的方阻测试设备上，稳定性和一致性十分优秀；无缝替代由国外生产的探头JANDEL、CDE等国外品牌，打破国外技术垄断和封锁。探针的针尖材料一般是用碳化钨。每一种探头的主要选择配置参数： A，探头主体材料及外形尺寸 B，针尖半径 C，针头的间隔 D，针头的负载 E，针头排列，线型，或者正方形。 F，连接方式： 连接器，或导线联接及长度主要的应用领域： 硅片电阻率的测量。 晶圆的电阻率的4点测量。 外延、离子注入层的4点电阻测量。 金属薄膜和其他薄膜的4点电阻测量。

MPI射频探针MEMS技巧MPI TITAN™ 探针经过精确制造，具有完美匹配的50ΩMEMS触点。由于出色的探头电气特性（最小的插入损耗和串扰以及高的回波损耗），它们可确保在最宽的频率范围内提供无与伦比的校准和测量结果。独特的接触结构与市场上的其他针尖不同，由于独特的突起式针尖设计，MPI TITAN™ RF探针可提供出色的实时可视性。首次，即使对于没有经验的操作人员，也无需使用探头对准标记，就可以将RF探头高精度地定位在校准标准件或DUT焊盘上。减少接触探针MPI公司通过引入TITAN-RC探针来扩展RF TITAN探针的系列。新的探针模型的特点是触头尖端的宽度减小了33％，减小到20μm。TITAN-RC探针与进一步减小RF器件和IC的焊盘尺寸的行业趋势完全吻合，大大降低了下一代商用RF和毫米波硅器件和IC的测试成本。对于铝焊盘金属化小至30 x 35μm的Si器件，它可以获得准确且可重复的测量结果。TITAN-RC探针具有GSG探针配置，探针间距为50μm至150μm。杰出的寿命TITAN™ 探针技术的最强功能之一是其均匀的磨损：经过数十万次探针循环后，探针尖端的长度自然会缩小。然而，由于独特的探头设计，其电气特性保持不变。因此，TITAN™ 探针的使用寿命超过了同类探针技术的使用寿命。 最后但并非最不重要的一点是，TITAN™ 探针以实惠的价格脱颖而出。