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测量激光扫描共焦显微镜

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测量激光扫描共焦显微镜相关的方案

  • 激光扫描共聚焦显微镜精确测量有机包裹体气液比方法研究
    摘要 利用激光扫描共聚焦显微镜并结合三维重建软件可以精确获取有机包裹体的气液比。有机包裹体气泡部分采用透射光通道进行系列深度扫描,选取气泡直径最大处的扫描图象进行直径测量,并利用球体体积计算公式得到气泡体积,避免了由于油包裹体液相石油所发出的强烈荧光的遮挡造成的气泡体积偏小;将共聚焦扫描图象进行三维重建获取精确的有机包裹体总体积,与计算所得的气泡体积共同确定出有机包裹体的气液比。利用该方法对渤海湾盆地渤中凹陷BZ25-1-3井的一块流体包裹体样品的气液比进行了研究,测试的气液比为6.85%。精确获取有机包裹体的气液比不仅能为包裹体PVT性质的研究提供精确参数,还对流体包裹体微观性质的对比研究提供了借鉴,具有重要意义。
  • 激光扫描共聚焦显微镜精确测量有机包裹体气液比方法研究
    利用激光扫描共聚焦显微镜并结合三维重建软件可以精确获取有机包裹体的气液比。有机包裹体气泡部分采用透射光通道进行系列深度扫描,选取气泡直径最大处的扫描图象进行直径测量,并利用球体体积计算公式得到气泡体积,避免了由于油包裹体液相石油所发出的强烈荧光的遮挡造成的气泡体积偏小;将共聚焦扫描图象进行三维重建获取精确的有机包裹体总体积,与计算所得的气泡体积共同确定出有机包裹体的气液比。利用该方法对渤海湾盆地渤中凹陷BZ25-1-3井的一块流体包裹体样品的气液比进行了研究,测试的气液比为6.85%。精确获取有机包裹体的气液比不仅能为包裹体PVT性质的研究提供精确参数,还对流体包裹体微观性质的对比研究提供了借鉴,具有重要意义。
  • 采用升级Olympus共焦显微镜升级实现单分子跟踪和三维纳米成像
    耦合ISS的SMT系统到奥林巴斯共焦显微镜,激光扫描成像基于反馈算法,在扫描期间,根据要成像的物体的形状,连续地调整和确定激光束跟随的路径。该算法将激光光斑移动到离物体表面一定距离的位置,由于激光光斑的位置和离物体表面的距离是已知的参数,所以利用这些参数来重建物体的形状。三维细胞结构可以在几秒钟内分辨率达到20-40纳米,精度为2纳米。
  • LA-ICP-MS联合激光共聚焦扫描显微镜对HepG2细胞中铜转运蛋白1的双模式成像
    铜转运蛋白1(CTR1)是一种参与铜和顺铂摄取的转运蛋白。细胞CTR1迁移及其再分配的可视化在铜/顺铂暴露/转运中非常重要。然而,据我们所知,这是一项极具挑战性的任务。在此,通过将共聚焦激光扫描显微镜(CLSM)和激光剥蚀电感耦合等离子体质谱(LA-ICPMS)与抗CTR1抗体缀合的荧光/元素双功能标签相结合,开发了CTR1的双模式成像策略。标签由罗丹明B和锆金属有机框架(Zr-MOF)组成,用于CLSM荧光成像和LA-ICPMS元件成像。这种双模式成像策略促进了CTR1迁移的可视化,同时提供了通过摄取二价铜或顺铂在HepG2细胞中的CTR1重新分布的信息。目前的双模式成像策略为阐明涉及CTR1的生物学过程提供了深入的信息。
  • 共聚焦显微镜+半导体激光器+缺陷检测及尺寸测量
    利用共聚焦显微镜,进行半导体激光器的晶圆缺陷检测,以及波导结构的尺寸测量
  • 专访FV4000共聚焦显微镜幕后团队:探秘高性能探测器的诞生
    作为Evident生命科学领域旗舰产品,FLUOVIEW FV4000激光扫描共聚焦显微镜自发布以来便备受赞誉。其突破性的SilVIR探测器在多色成像领域表现出色,并有望成为新一代激光扫描显微镜的标杆。本期我们邀请到该款产品的研发团队,分享他们厚积薄发、精益求精的故事。
  • Olympus奥林巴斯共聚焦显微镜+PicoQuant共聚焦显微系统荧光寿命升级套件
    共聚焦型激光扫描显微镜广泛应用于生物化学,细胞生物学以及其它生命科学研究领域。时间分辨技术进一步加强了显微镜的功能,如:荧光共振能量转移(FRET)效率的荧光寿命量化测量利用时间分辨成像测量环境参数(pH,离子浓度)基于荧光团浓度的寿命测量基于寿命辨别分子间距的研究提高对荧光信号的甄别能力减少探测器的数量利用寿命衰减时间提高实验分析的精确度
  • IDS3010激光干涉仪在扫描荧光X射线显微镜中的应用
    在搭建具有纳米分辨率的X射线显微镜时,对于系统稳定性的要求提出了更高的要求。在整个过程中实验过程中,必须确保各个组件以及组件之间的热稳定性和机械稳定性。德国attocube的IDS3010激光干涉仪具有优异的稳定性和测量亚纳米位移的能力,表现出优异的性能。IDS3010在40小时内具有优于1.25nm的稳定性,并且在100赫兹带宽的受控环境中具有优于300pm的分辨率。因此,IDS3010是对所述X射线显微镜装置中使用的所有部件进行机械控制的不二选择,使得整个X射线显微镜实现了40nm的分辨率,而在数据收集所需的整个时间内系统稳定性优于45nm。
  • Scanning Thermal Microscopy扫描热显微镜方法
    扫描热显微镜是一种原子力成像模式,绘制样品表面热传导性的变化。与原子力其他测量材料特性模式(LFM,MFM,EFM)相似,扫描热数据能与形貌像数据同时获得。扫描热模式需要使用特殊的纳米制作的测温探针。
  • 扫描电子显微镜图像系统改造方法
    扫描电子显微镜是观察物质微观表面形貌的主要工具,它主要由真空系统、电子光学系统、图像系统和控制系统组成。现代扫描电子显微镜图像显示系统和控制系统都已经实现PC控制下的数字化,同时增加了图像处理功能,能够容易的与通用软件相结合,方便编辑报告、论文和信息传送。对于早期模拟图像系统和专用计算机控制的数字图像系统的扫描电子显微镜可以通过外接计算机图像采集系统实现模拟图像数字化,或图像系统数字化。什么是模拟图像数字化?就是将获取的图像模拟信号经过模数转换器(ADC)变成数据输入到计算机中存储、显示和处理。根据这种原理制成的图像系统,就是我们常说的被动式图像系统。其优点:采集卡电路简单,价格便宜。缺点:安装、调试困难,因为它需要和扫描电子显微镜的扫描系统同步,所以要改变原扫描电子显微镜内部电路,稍不小心就会造成事故,给扫描电子显微镜带来硬伤。另外,由于不能和扫描电子显微镜扫描真正同步,采集到的图像变形,最为明显的是圆变为椭圆,同时不能实时处理,只有将采集到的图像存储以后进行处理,才可以输出。什么是图像系统数字化?用数字扫描系统替代模拟扫描系统,由此获取的图像信号数据,完全对应电子束扫描点上的样品信息,图像显示分辨率对应电子束在样品上扫描过的行和列的点数,图像扫描和图像显示全数字化。需要说明的是现代数字扫描电子显微镜自定义分辨率值为:1024×1024,这是一个最佳值(从采集速度和分辨率两方面考虑),这和被动式图像系统所谓的图像分辨率不是一个概念。我们称这样的系统为主动式图像系统,国外升级扫描电子显微镜也是采用此种方法。其优点:图像质量高,速度快,不会产生图像变形等问题,安装简单,因为所有扫描电子显微镜都预留有外部图像控制接口,当外部控制信号到来时,内部扫描部分自动被旁路,显示部分被消隐,不需要改变任何内部电路结构。缺点:采集卡电路复杂,成本高。 综述,以上介绍了两种扫描电子显微镜改造图像系统的方法,最主要的区别在于是“被动式图像系统”还是“主动式图像系统”上,其中主动式图像系统是近年来国际上普遍使用的,因为被动式图像系统是一种早期图像数字化过渡产品,所谓的图像分辨率实质上是模拟信号取样点数,并非数字图像分辨率,像质较差,而主动式图像系统标称的分辨率才真正是数字图像分辨率,可以有效提高图像质量。
  • 医学、医疗设备的测量方法【激光显微镜】
    大多数医疗设备都直接用于人体,因此需要确保高水准的质量、安全性和有效性。此外,医疗设备技术革新很快,产品改良频繁,所以评估和检测的频率也很高。即使增加样品数,也能在相同条件下准确地自动评估和检测的测量仪,大幅缩短了作业时间。本次将介绍医学/医疗设备相关技术信息以及利用形状测量激光显微系统的检测案例。
  • 激光显微镜在半导体生产流程中的微观分析检测方案
    半导体行业在产品的小型化及多功能化、提高生产效率、削减成本等方面的竞争日趋激烈。在图形细微化、晶片大口径化发展的同时,市场对品质保障的要求越来越高,研究开发及检测的速度也变得重要了起来。这次将为您介绍使用基恩士VK-X系列形状测量激光显微镜,在半导体生产流程中的微观分析检测方案。
  • 显微镜法清洁度测试与扫描式清洁度测试对比
    显微镜法清洁度测试与扫描式清洁度是颗粒物清洁度测试两种主要的测试方法,关于两种测试手段的争论目前还在继续,本文主要简单介绍显微镜法清洁度测试与扫描式清洁度测试对比
  • 新型扫描探针显微镜(SPM)和扫描电子显微镜(SEM)关联成像技术介绍
    LiteScope™ 是一种独特的扫描探针显微镜(SPM)。 它设计用于轻松集成到各种扫描电子显微镜(SEM)中。 组合互补的SPM和SEM技术使其能够利用两者的优势。使用LiteScope™ 及其可更换探针系列,可以轻松进行复杂的样品分析,包括表面形貌,机械性能,电性能,化学成分,磁性能等的表征。
  • 共聚焦显微镜在芯片IC品质管理的应用
    共聚焦显微镜使用技术开发的光学轮廓仪,其共聚焦部分的主要优点是有着极高发光效率的照明硬件和高对比度算法。这些特点使系统成为测量有着陡峭斜面、粗糙的、反光表面和含有异种材料样品的理想设备。高品质干涉光学系统和集成压电扫描器是干涉轮廓仪部分的关键。这项技术对于测量非常光滑至适度粗糙的表面比较理想。这些技术的组合为轮廓仪提供了无限宽广的应用领域。
  • 环境扫描电子显微镜的成像特点
    环境扫描电子显微镜(ESEM)中所指的环境并非真正意义上的大气环境(760Torr),与传统扫描电子显微镜(SEM)样品室高真空库相比,ESEM 样品室的真空度可以很低(约达 20 Torr)。ESEM 是在传统的SEM 样品室中多一个 GSED 探头,因此,它在传统的 SEM 基础上增添了新的功能。其主要的特点是,可以观察合适量水分的样品和非导体材料样品,比如植物的叶片、动物中的昆虫、作物的籽粒、含结晶水的固体材料等。
  • 使用表面扫描成像(SSI)的共焦显微镜对具有不均匀或粗糙表面的样品进行拉曼成像
    为了在短时间内进行极快的测量,JASCO开发了表面扫描成像(SSI)。SSI用于在测量之前评估样品的表面形状作为载物台的高度信息,并在根据该表面形状信息扫描载物台时执行拉曼测量。使用SSI,即使是具有非常不均匀表面的样品现在也可以被测量,以在所有数据点上给出具有高S/N的良好拉曼光谱。关键词:拉曼,表面扫描成像,SSI,共聚焦拉曼成像
  • 扫描探针显微镜SPM用于氧化石墨烯的厚度表征
    氧化石墨烯是石墨烯的氧化物,因经氧化后,其上含氧官能团增多而使其性质较石墨烯更加活泼,可经由各种与含氧官能团的反应而改善其本身性质,从而具有良好的润湿性能、水分散性和表面活性,将在改善材料的热学、电学、力学等综合性能方面发挥重要作用。本文参考国家标准GB/T 40066-2021《纳米技术 氧化石墨烯厚度测量 原子力显微镜法》,采用岛津扫描探针显微镜测试了氧化石墨烯样品的表面形貌,并通过线性拟合法计算了氧化石墨烯的厚度,希望对氧化石墨烯的研究提供一定的帮助。
  • 岛津扫描探针显微镜在高分子材料中的应用
    扫描探针显微镜,它是各种显微镜的统称,通过多功能一体化后,可以实现材料表面的结构与性质的测量,如对材料表面的形貌、粗糙度、电流电势分布以及磁畴分布情况进行测量,可以说它是材料科学领域中一个不可或缺的表征仪器。说起材料,就不得不提它的重要性。纵观人类发展的历史,我们不难发现,生产技术每一次的革新都离不开材料的突破,材料决定了社会发展的进程。在这材料中,新能源材料与功能材料扮演着重要的角色。随着科技的发展,传统的不可再生能源已不能满足需求,需要发展像太阳能、氢能、核能、风能等新能源;单一功能的材料也不能满足发展的要求了,需要开发出具有特殊、多功能性的新材料,如万能材料石墨烯、碳纳米管以及具有无限可能的高分子材料。功能材料,就是指通过光、电、化学等作用后具有特定功能的材料,通过功能化后,实现同时具有两种甚至多种功能,如比普通钢材还硬的具有抗腐蚀性工程的塑料,具有抗菌、抗螨虫、低温远红外发热等功能的石墨烯改性纤维,具有生物相容性好的人造组织和器官,它们的出现,不仅关乎人民生活质量的改善和提高,更关乎一个国家未来的发展。“十二五”期间多项国家级技术发明一等奖、科技进步一等奖、自然科学一等奖等均颁发给了新材料领域的技术成果,足以可见发展新材料的重要性。扫描探针显微镜具有纳米级的分辨率,在生物、医学、材料、微电子等应用学科均有它的用武之地,它在新材料的应用以及今后的新材料发展中发挥着重要作用。
  • 岛津扫描探针显微镜在新能源及高分子材料中的整体解决方案
    扫描探针显微镜,它是各种显微镜的统称,通过多功能一体化后,可以实现材料表面的结构与性质的测量,如对材料表面的形貌、粗糙度、电流电势分布以及磁畴分布情况进行测量,可以说它是材料科学领域中一个不可或缺的表征仪器。说起材料,就不得不提它的重要性。纵观人类发展的历史,我们不难发现,生产技术每一次的革新都离不开材料的突破,材料决定了社会发展的进程。在这材料中,新能源材料与功能材料扮演着重要的角色。随着科技的发展,传统的不可再生能源已不能满足需求,需要发展像太阳能、氢能、核能、风能等新能源;单一功能的材料也不能满足发展的要求了,需要开发出具有特殊、多功能性的新材料,如万能材料石墨烯、碳纳米管以及具有无限可能的高分子材料。功能材料,就是指通过光、电、化学等作用后具有特定功能的材料,通过功能化后,实现同时具有两种甚至多种功能,如比普通钢材还硬的具有抗腐蚀性工程的塑料,具有抗菌、抗螨虫、低温远红外发热等功能的石墨烯改性纤维,具有生物相容性好的人造组织和器官,它们的出现,不仅关乎人民生活质量的改善和提高,更关乎一个国家未来的发展。“十二五”期间多项国家层面技术发明一等奖、科技进步一等奖、自然科学一等奖等均颁发给了新材料领域的技术成果,足以可见发展新材料的重要性。扫描探针显微镜具有纳米级的分辨率,在生物、医学、材料、微电子等应用学科均有它的用武之地,它在新材料的应用以及今后的新材料发展中发挥着重要作用。
  • 布鲁克公司发布完整的扫描电化学显微镜解决方案
    布鲁克独有的PeakForce SECM™ 模块是全球首创的完备商用解决方案,在基于原子力显微镜的扫描电化学显微镜上实现了小于100纳米的空间分辨率。
  • 扫描电子显微镜(SEM)低真空技术改造以提升观测能力的解决方案
    本文针对只能在高真空下使用的扫描电子显微镜(SEM)和光学显微镜,介绍了低真空升级改造的技术方案,通过增加低真空控制装置可实现低真空的精密控制,控制精度可达到1%以内,从而使普通电镜和光学显微镜具有低真空观察功能,拓展和挖掘现有设备应用范围和潜力。
  • 岛津扫描探针显微镜表征页岩微观孔隙结构
    采用岛津扫描探针显微镜SPM-9700HT,可以对页岩样品进行不同扫描范围下的测试,并准确清晰地表征页岩的孔形貌、孔结构分布、孔隙率、孔径分布。
  • 岛津扫描探针显微镜在能源电池材料中的应用
    扫描探针显微镜,它是各种显微镜的统称,通过多功能一体化后,可以实现材料表面的结构与性质的测量,如对材料表面的形貌、粗糙度、电流电势分布以及磁畴分布情况进行测量,可以说它是材料科学领域中一个不可或缺的表征仪器。说起材料,就不得不提它的重要性。纵观人类发展的历史,我们不难发现,生产技术每一次的革新都离不开材料的突破,材料决定了社会发展的进程。在这材料中,新能源材料与功能材料扮演着重要的角色。随着科技的发展,传统的不可再生能源已不能满足需求,需要发展像太阳能、氢能、核能、风能等新能源;单一功能的材料也不能满足发展的要求了,需要开发出具有特殊、多功能性的新材料,如万能材料石墨烯、碳纳米管以及具有无限可能的高分子材料。目前的新能源材料主要集中在绿色二次电池、氢能、燃料电池、太阳能电池和核能方面,当前的研究技术前沿包括了高能储氢材料、聚合物锂离子电池材料、多晶薄膜太阳能电池材料等。在自然能源利用(太阳能和风力发电)领域,人们努力去提高转化为电能的效率,如钙钛矿太阳能电池材料,经过十年的发展,其光电转化效率从最开始的3.8%到今天的24.2%。能源的获取很重要,如何去低损耗存储和可控释放同样重要,为了灵活应对电力需求,就有了我们今天的聚合物锂离子电池等可充放的大容量二次电池,这些都离不开材料的发展。扫描探针显微镜具有纳米级的分辨率,在生物、医学、材料、微电子等应用学科均有它的用武之地,它在新材料的应用以及今后的新材料发展中发挥着重要作用。
  • 扫描探针显微镜SPM用于人类头发的表面形貌表征
    由于遗传、年龄、营养、睡眠不足、精神压力等原因,乌黑靓丽的头发逐渐被干枯毛躁的白发取代。通过光学显微镜观察发现,头发由黑变白后,表面的鳞片结构也随之发生改变。本文使用岛津原子分辨率级别的扫描探针显微镜SPM-9700HT分别测试了人类黑头发和白头发的表面形貌结构,有望对白头发产生的机理研究提供一定的数据支持。
  • 不透明液体中样品原子力显微镜分析
    为了解决传统基于激光反射原理AFM在液体中测量样品过程中所遇到的问题。Quantum Design公司推出了基于全电系统的生物学AFM-AFSEM。使用AFSEM对液体中样品表征时,无需繁琐的制样过程,扫描探针进入液体中直接扫描即可。在扫描模式上,AFSEM可在对液体中样品扫描时提供接触和轻敲两种模式,扫描过程中尽可能减少对样品的损伤。由于AFSEM是一款基于全电系统的AFM,可以在不透明液体中对样品进行扫描。突破性地解决了以往AFM不能在不透明液体中扫描样品这一难题。后,由于AFSEM的体积仅有手掌大小,如图1所示,AFSEM可以与各种光学显微,电子显微镜,FIB等多平台结合。
  • 1小身材,大作用---日立新型扫描电子显微镜FlexSEM 1000
    日立高新技术公司于2016年4月15日在全球发布了新型扫描电子显微镜——FlexSEM 1000。该产品结构紧凑,占地面积小,但分辨率不输大型电镜,同时操作极其简便,几乎不用培训就可操作,即便是初次操作者也能快速拍出高质量图像。另外,新开发的导航功能「SEM MAP」可使用各种光学图片或电镜照片进行导航,一键就快速精准地切换至感兴趣的高倍率视野。
  • 扫描探针显微镜SPM用于蚊子翅膀的表面形貌表征
    蚊子独特的翅膀结构使其具有独特的飞行原理。本文使用岛津原子分辨率级别的扫描探针显微镜SPM-9700HT测试了蚊子翅膀边缘处鳞片的表面形貌结构,并进行了剖面数据分析,有望拓展人们对于蚊子等生物翅膀结构的深入认知。
  • 光片照明显微镜在小鼠心脏成像中的应用
    QLS-Scope光片照明显微镜具备SPIM-OPT成像模式,通过逐渐旋转样品并在每个层面进行快速SPIM扫描来收集360度光学数据。软件将不同的角度视图重建成一个单一的数据集。这一特性对于从数据中获得具有代表性的3D重建图像非常重要。
  • 利用低温强磁场光学显微镜(attoCFM)表征二维晶体材料单光子发射性质
    建伟院士课题组利用attocube公司的低温强磁场光学显微镜(attoCFM)研究发现了二维晶体材料单层二硒化钨(WSe2)中存在的由于缺陷态引起的单光子发射现象。先,通过低温磁场下对微米尺寸单层样品的光致发光谱精细扫描成像可以发现样品某些位置存在超窄发光光谱。超快激光光致发光谱的测量研究证实了该处发光点为单光子发射。随着低温强磁场下(改变磁场,改变入射光左旋与右旋性质等实验技术)进一步对光致发光谱的表征发现在零磁场下样品存在0.71meV的能量差并且该材料中存在超大激子g参数。经过分析,该单光子发射很可能是由中性激子被缺陷态束缚在二维晶体中引起的。
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