极紫外远紫外波前传感器

Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR产品负责人：姓名：沈工(Max)电话：（微信同号）邮箱：【Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR简介】随着光波波前探测技术的发展，各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类：一类是根据几何光学原理，测定波前几何像差或面型误差，主要有Shack－Hartmann 波前传感器，曲率传感器和Pyramid 波前传感器等；另一类是基于干涉测量原理，探测波前不同部分的干涉性，来获取波前信息，主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜 它们结构简单，抗干扰能力强，条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。作为低可至波长250 nm的高分辨率波前传感器，Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR非常适合于紫外光学测量，包括用于光刻或半导体应用紫外激光表征，以及透镜和晶圆的表面面型检测。【关于Phasics】Phasics是一家专注于高分辨率波前传感技术的法国公司。Phasics公司凭借其在测量方面的专业经验与独特的波前测量技术为客户提供全面的高性能波前传感器。 一、Phasics高分辨率紫外波前传感器/ 波前分析仪SID4-UV-HR主要特点低至190nm波长感光灵敏1 nm RMS高相位灵敏度355 x 280超高相位取样分辨率二、SID4-UV-HR 波前传感器产品功能波前像差测量基于四波剪切技术，Phasics 的波前传感器同时提供具有无与伦比的高分辨率的相位和强度测量。 波前传感器与其光束分析软件相结合，可提供完整的激光诊断：波前像差、强度分布、激光光束质量参数（M2、束腰尺寸和位置等）。Phasics 的波前分析仪可以放置在光学装置的任何一点，无论光束是准直的还是发散的。作为低可至波长250 nm的高分辨率波前传感器，SID4-UV非常适合于紫外光学测量，包括用于光刻或半导体应用紫外激光表征，以及透镜和晶圆的表面面型检测。 三、Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR应用领域紫外光学测量| 光刻或半导体应用紫外激光表征| 透镜和晶圆的表面面型检测| 自适应光学四、Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR主要规格波长范围190 - 400 nm靶面尺寸13.8 x 10.88 mm2空间分辨率38.88 μm取样分辨率355 x 280相位分辨率1 nm RMS绝对精度10 nm RMS取样速度30 fps实时处理速度 3 fps (全分辨率下)*接口种类CameraLink五、更多参数选型

意大利SpotOptics夏克-哈特曼波前传感器Spot Optics 夏克-哈特曼波前传感器可覆盖超宽光谱多波长，包括紫外（157nm-400nm）、可见近红外（400-1064nm）、短波红外（900-1700nm）、中波红外（2-5.4μm）和长波红外（8-14μm）。测量时不受口径限制（如果扩束系统受限，用准直物镜确保与传感器NA匹配）；实现轴上和轴外波前测量，甚至扫描全视场，以及多视场同时测量；可测量多种出瞳形状：圆形、椭圆形、带中心遮拦（中心孔）、六边形等；提供Single Pass、Double Pass两种测量光路来已满足不同应用要求；IOPTINO系列波前传感器+电子自准直仪双通道，结构紧凑，尺寸仅150x100x50mm, 重量400g；电子自准直仪可用于光路调试。Spotoptics波前传感器中的微透镜阵列可自行更换，以满足不同波长的测量需求。 Spotoptics OMI系列波前传感器灵活多变用于研发、还有Optino、OPAL300、5 Stars、STELLA系列等波前测量系统应用于快速量产； 应用范围激光方面：可进行激光光束波前及光束质量分析，mW～MW，支持10.6um CO2激光；可替代光束质量分析仪使用，获得比光束质量分析仪更完整的激光波前信息；天文望远镜：用于大型天文望远镜共位相误差测量，自带主动温度补偿；美国6.5米毫米波望远镜使用puntino测量波前；高速测量：实时显示测量结果，较高速波前采集频率达到8000 Hz，可应用于分析ms级响应的液体镜头；还可进行变温下FFL变化量测试；变温下MTF测量；其他应用：用于主动光学系统、自适应光学系统；光学元件均匀性测量，非球面等；非破坏性光学元件折射率测量，非球面测量等。 对比试验数据（测试波长：632.8 nm）：

PHASICS波前分析仪/波前传感器/波前相差仪/波前探测器关键词：分析仪，PHASICS波前分析仪，波前传感器，波前像差仪、传感器、波前测试仪、波前探测器、激光波前分析仪、哈特曼波前分析仪、虹膜定位、哈特曼波前传感器、波前象差、高分辨率波前分析仪、波前测量仪、激光光束及波前分析仪、夏克 哈特曼、镜头MTF法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简单等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！PHASICS波前探测器配套的软件界面友好，可直观的输出高分辨率相位图和光束强度分布图。 法国PHASICS波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力，能为客户提供的各种自适应光学系统OA-SYS(Adaptive Optics Loops)，制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求，为客户推荐最合适的SID4波前传感器、可变形镜或空间光调制器、自适应光学系统操作软件等。图1 波前校正前与校正后对比 PHASICS波前探测器依据其四波横向剪切干涉专利技术，对哈特曼掩模技术进行了大的升级、改进。PHASICS波前传感器将400X300的超高分辨率和500um的超大动态范围完美结合在了一起。可以满足不同的客户的应用需求，可对激光光束进行光强、位相、PSF（点扩散函数）、MTF（调制传递函数）、OTF（光学传递函数）、波前像差、M^2等进行实时、简便、快速的测量。 第一部 产品介绍 SID4 UV-HR高分辨紫外波前传感器PHASICS公司将 SID4的波前测量波长范围扩展到190nm-400nm。SID4 UV-HR是一款适用于紫外波段的高分辨率波前传感器,非常适用于光学元件测量（例如印刷、半导体等等）和表面检测（半导体晶片检测等）。特点：u 高分辨率（250x250）u 通光孔径大（8.0mmx8.0mm）u 覆盖紫外光谱u 灵敏度高（0.5um）u 优化信噪比 图2 SID4-UV波前分析仪 SID4 波前传感器可用于400nm-1000nm 的激光的波前位相、强度分布，波前像差，激光的M2，泽尼克参数等进行实时的测量及参数输出。特点：? 波长范围：400-1100nm? 分辨率高（160x120） ? 消色差 ? 测量稳定性高 ? 对震动不敏感 ? 操作简单 ? 结构紧凑，体积小 ? 可用笔记本电脑控制 图3 SID4位相检测 SID4-HR 波前相差仪可用于检测各种透镜，光学系统的检测，可以对透镜、光学系统的进行实时的PSF（点扩散函数）、MTF（调制传递函数）、OTF（光学传递函数）、波前像差测量及参数输出。相对于传统的透镜检测设备像：传函仪、干涉仪，具有操作简便，测量精度高，参数输出方便等优点，正在被越来越多的客户推崇。特点：u 波长范围：400-1100nmu 高性能的相机，信噪比高u 实时测量，立即给出整个物体表面的信息（120000个测量点）u 曝光时间极短,保证动态物体测量u 操作简单 图4 SID4-HR图5 SID4-HR传递函数检测 SID4 NIR 波前分析仪主要针对1550 nm（1.5um-1.6um）激光的检测，具有分辨率高高灵敏度、高动态范围、操作简便等独特的优势。可用于光学测量，SID4 NIR是测量红外物体和红外透镜像差、PSF、MTF和焦距及表面质量的理想工具。特点：2 高分辨率（160x120） 2 快速测量 2 性价比高 2 绝对测量 2 对振动不敏感 图6 SID4 NIR激光波前检测 SID4 DWIR 波前仪具有宽波段测量的特点。可以实时的检测3-5um 和8-14um的波前位相，强度分布等响应的波前信息。可以很好的满足红外波段客户的波前检测需求。特点：u 光学测量：SID4 DWIR是测量红外物体特性（热成像和安全视觉）或红外透镜（CO2激光器）的理想工具，输出结果包括MTF，PSF，像差，表面质量和透镜焦距。 u 光束测量：（CO2激光器，红外OPO激光光源等等）SID4 DWIR提供详尽的光束特性参数：像差，M2，光强分布，光束特性等u 高分辨率（96x72） u 可实现绝对测量u 可覆盖中红外和远红外波段 大数值孔径测量，无需额外中转透镜 u 快速测量 对振动不敏感 u 可实现离轴测量 u 性价比高 图7 SID4 DWIR SID4产品型号参数汇总型号SID4SID4-HRSID4 UV-HRSID4 NIRSID4 DWIRSID4-SWIR孔径尺寸（mm2）3.6 x4.88.9 x11.88.0 x8.03.6x4.813.44x10.089.6x7.68空间分辨率(um)29.629.63229.6140120测量点数160x120300x400250x250160x12096x7280X64波长范围350-1100 nm350-1100 nm190-400 nm1.5-1.6μm3-5μm 8-14μm0.9- 1.7μm精准度10nm RMS10nm RMS10nm RMS15nm RMS75nm RMS10nm RMS动态范围100μm500μm200um100μm/~100μm采样速度60 fps10 fps30 fps60 fps50 fps60fps处理速度10fps3 fps1fps10fps20 Hz10Hz 第二部 SID4波前分析仪控制软件 SID4波前分析仪控制软件SID4波前分析仪控制软件与SID4 波前传感器配套提供的是一款完整的分析软件，其集成了高分辨率的相位图与强度分布图，测量光强分布和波前信息。借助Labview和C++ 可编程模块数据库（软件二次开发工具包），客户能够根据自身的需要编写各种相位测量与编译模块。Adaptive Optics Loops将SID4 Wavefront Sensor结合您的应用，选配合适的可变形镜或相位调制器，提供整套的自适应光学系统。减小任何一个光学系统的相差从来都不是简单的，我们的产品能为激光光束和成像系统带来更可靠，高精度的解决方案。图8 SID4控制界面SID4光学测量软件KaleoPhasics基于剪切干涉的波前传感器与专门设计的光学测量软件Kaleo结合，可以测量球面镜和非球面镜的像差及MTF等信息。只需要几秒钟，我们的仪器为您呈现绝大部分的光学参数，如焦距，光腰，MTF，像差，Zernike系数，曲率半径，PSF等。 第三部 SID4波前分析仪与传统哈特曼波前分析仪比较 与传统哈特曼波前传感器测量结果对比： 技术参数对比：PHASICSShack-Hartmann区别技术剪切干涉微透镜阵列PHASICS投放市场时，已经申请技术专利，是对夏克-哈特曼技术的升级重建方式傅里叶变换分区或模式法夏克-哈特曼波前探测器，局域导数以微透镜单元区域的平均值来近似，误差大强度对强度变化不敏感对强度变化灵敏PHASICS测量精度高，波前测量不依赖于强度水平校准用针孔校准、方便快捷安装困难，需要精密的调节台PHASICS使用方便取样点SID4-HR达300X400测量点128X128测量点（多个微透镜）PHASICS具有更高的分辨率数值孔径NA：0.5NA：0.1PHASICS动态范围更高分辨率29.6μm115μmPHASICS具有更高的空间分辨率测量精度2nm RMS5nm RMSPHASICS更好的测量精度获取频率60fps30fpsPHASICS获取速度快处理频率10Hz30HzPHASICS可满足大部分处理要求消色差无需对每个波长进行校准需要在每个波长处校正PHASICS更灵活，可以测试宽波段，而不需要校准 第四部 应用领域 ? 激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统波前像差检测? 激光光束性能、波前像差、M^2、强度等的检测? 红外、近红外探测? 平行光管/望远镜系统的检测与装调? 卫星遥感成像、生物成像、热成像领域? 球面、非球面光学元器件检测 (平面, 球面, 透镜)? 虹膜定位像差引导? 大口径高精度光学元器件检测? 激光通信领域? 航空航天领域OKO 可变形镜数字波前分析仪XY系列向列液晶空间光调制器XY系列铁电液晶空间光调制器

features:? Hartmann wavefront sensor for coherent and incoherent radiation?Compact and self-supporting?Achromatic?Actinic characterization of: EUVL plasma sources Free Electron Lasers HHG beams?Real-time optics adjustment?Single-pulse repeatability λ/116 (wrms) for EUV (λ =13.5 nm)Specifications:?Wavelength range 1 nm... 60 nm (quantumconverter)?Field of view 9.0mm x 6.7 mm(larger on request)?Dynamic range14 bit?Hartmann plate precision pinholes ?75μm, 250μm pitch?Tilt range±10°?x/y translation range±10mm?UHV compatiblemounted on CF63 flange

Phasics生产及销售世界最高分辨率的波前传感器。Phasics专利技术产品--4波横向剪切干涉，是在哈特曼基础上的进一步测试优化，这种技术可以直接测量以无与伦比的分辨率和高动态可调范围，可以测量任意波前。此项革新性的技术及产品已经被越来越多的行业所应用，其产品可用于激光光束质量分析，光学产品的EFL,曲率半径、MTF、PSF等各项指标的测量。如能对此类产品感兴趣，欢迎与我们取得联系。波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪 PHASICS波前探测器 Phasics公司利用革新的技术研发的SID4波前探测器，该仪器能够提供高分辨率的相位图，可直接测量高发散光束，光路调整方便等特点。1. 技术特点 ◆高分辨率（高达300 x400个采样点)◆消色差◆高动态范围◆高灵敏度◆操作简便◆设计简洁紧凑◆高性价比 2.技术优势◆高分辨率的相位图能够提供高分辨率的相位图。标准分辨率为160ｘ120个采样点，最高分辨率可达400ｘ300。高分辨率的探测器能精确测量镜片像差，并能做到较高的测量重复性。 ◆具有直接测量高发散光束的能力我们的波前探测技术具有直接测量光路系统相差的能力，并且无需额外的过渡镜（参见下图）。校准后的光束通过镜片后直接测试。探测器可以测量波前传输时球面波的偏差。尽管有极大的光束偏差（如数值孔径高达0.75），仍然可以做到光路系统与探测器间不使用过渡镜就能测试。 SID4波前探测器 测试条件下光路系统

Phasics生产及销售世界最高分辨率的波前传感器。Phasics专利技术产品--4波横向剪切干涉，是在哈特曼基础上的进一步测试优化，这种技术可以直接测量以无与伦比的分辨率和高动态可调范围，可以测量任意波前。此项革新性的技术及产品已经被越来越多的行业所应用，其产品可用于激光光束质量分析，光学产品的EFL,曲率半径、MTF、PSF等各项指标的测量。如能对此类产品感兴趣，欢迎与我们取得联系。波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪 PHASICS波前探测器 Phasics公司利用革新的技术研发的SID4波前探测器，该仪器能够提供高分辨率的相位图，可直接测量高发散光束，光路调整方便等特点。1. 技术特点 ◆高分辨率（高达300 x400个采样点)◆消色差◆高动态范围◆高灵敏度◆操作简便◆设计简洁紧凑◆高性价比 2.技术优势◆高分辨率的相位图能够提供高分辨率的相位图。标准分辨率为160ｘ120个采样点，最高分辨率可达400ｘ300。高分辨率的探测器能精确测量镜片像差，并能做到较高的测量重复性。 ◆具有直接测量高发散光束的能力我们的波前探测技术具有直接测量光路系统相差的能力，并且无需额外的过渡镜（参见下图）。校准后的光束通过镜片后直接测试。探测器可以测量波前传输时球面波的偏差。尽管有极大的光束偏差（如数值孔径高达0.75），仍然可以做到光路系统与探测器间不使用过渡镜就能测试。 SID4波前探测器 测试条件下光路系统

概述紫外辐射传感器我公司研发的一款专业测量紫外线辐射强度的产品，本产品基于进口光敏元件，接收紫外光波电信号，将紫外线转换为可测量的电信号原理，实现紫外线的在线监测。特点 （1）传感器体积小巧化设计，测量精度高，响应速度快，互换性好。（2）测量大气中的太阳紫外线辐射UVA波段。（3）光谱范围：波长280～400nm，峰值355nm。（4）可以测量紫外线强度，UV指数，UV等级等参数。（5）真正实现低成本、低价格、高性能，法兰安装方式，简单方便。（6）性能可靠，确保正常工作，数据传输效率高。适用范围紫外辐射传感器本产品可以广泛应用在环境监测、气象监测、农业大棚、花卉培养等环境中，也可以测量大气中以及人造光源等环境下的紫外线。产品参数测量范围：0～30W/m2，0～150 W/m2；（其他量程也可定做）单位换算：1mW/cm2＝10W/m2分 辨 率：0.01 W/m2整体功耗：＜0.15W准 确 度：±2%输出信号：A：电压信号（0～2V，0～5V，0～10V三者选一） B：4～20mA（电流环） C：RS485（标准Modbus-RTU协议，设备默认地址：01）供电电压：5～24V DC（当输出信号为0～2V，RS485时） 12～24V DC（当输出信号为0～5V，0～10V，4～20mA时）稳定时间：＜1秒响应时间：＜1秒紫外线长期稳定性：3%/年工作环境：－30℃～85℃电缆规格：2米3线制（模拟信号）；2米4线制（RS485）（电缆长度可选）

产品简介紫外辐射传感器采用光电测探器，接收紫外光波电信号。该产品用来测量大气中的太阳紫外线辐射（UVAβ波长范围）的精密仪器，与数据采集仪配合使用可提供公众所关心的信息：UV指数、UV红斑测量，UV对人体的影响及UV特殊的生物学和化学效应，因此倍受气象、工业、建筑、医学方面的重视，广泛应用于暴晒引起的红斑剂量、综合环境生态效应、气候变化的研究及紫外线监测和预报。技术参数测量范围：0～200W/m2余弦响应：≤4%（太阳高度角为30°时）响应时间：≤1S（99%）工作环境：温度-50℃～50℃额定电压：300V温度等级：80℃结构尺寸

产品简介：　　紫外辐射传感器采用光电测探器，接收紫外光波电信号。该产品用来测量大气中的太阳紫外线辐射(UVAβ波长范围)的精密仪器，与数据采集仪配合使用可提供公众所关心的信息：UV指数、UV红斑测量，UV对人体的影响及UV特殊的生物学和化学效应，因此倍受气象、工业、建筑、医学方面的重视，广泛应用于暴晒引起的红斑剂量、综合环境生态效应、气候变化的研究及紫外线监测和预报。　　技术参数：　　测量范围：0～200W/m2　　余弦响应：≤4%(太阳高度角为30°时)　　响应时间：≤1S(99%)　　工作环境：温度-50℃～50℃　　额定电压：300V　　温度等级：80℃

产品简介：SU-100紫外辐射传感器用于测量250~400 nm紫外波段的光照辐射参数。测量单位有μmol/m2/s或W/m2两种，传感器顶部采用圆顶状设计，可以防止水分聚集，传感器头部采用特殊材质，可以在潮湿的环境中使用，以防止内部冷凝。 产品特征：? 宽泛的测量范围250~400 nm? 测量单位密度单位(μmol/m2/s)和能量通量密度[W/ m2)? 自清洁 传感器顶部采用圆顶状设计，可以防止水分聚集，传感器头部采用特殊材质，可以在潮湿的环境中使用，以防止内部冷凝。? 输出（可选） 模拟或者数字输出。? 典型应用案例 野外测量紫外辐射(不建议长期连续测量)；实验室使用人造光源(例如杀菌灯)测量紫外辐射。技术参数：光谱范围250~400 nm绝对精度±10%均匀性±5%重复性±1%输出响应0.2 mV=1(μmol/m2/s，0.58 mV=1 W/m2，全日光=35 mV（175 μmol/m2/s，60 W/m2）输出校准系数5.0 (μmol/m2/s=1 mV，1.7W/m2=1 mV输出范围0~60 mV（0~300 μmol/m2/s，0~102W/m2）输入电源无，自供电响应时间1mS长期漂移3%/年工作环境-25~+55℃，0~100% RH，可在露天或水下使用重量75克电缆标准5米，可延长制造商：美国Apogee

紫外NMOS图像传感器 这些器件具有出色的输出线性度，是需要紫外高灵敏度的高精度光度计测的理想选择。滨松有NOMS 40多种在售， 欢迎您登陆滨松中国全新中文网站 查看该产品更多详细信息！可选像素：128像素 256像素 512像素 1024像素 2048像素部分产品：产品图像产品型号产品名称感光面积像素尺寸总像素个数线速率（典型）光谱响应范围（最小值） S3901-1024QNMOS线阵图像传感器51.2 x 2.5 mm50 x 2500 μm10241950200 nm S3901-128QNMOS线阵图像传感器6.4 x 2.5 mm50 x 2500 μm12815600200 nm S3901-256FNMOS线阵图像传感器12.8 x 2.5 mm50 x 2500 μm2567800360 nm S3901-256QNMOS线阵图像传感器12.8 x 2.5 mm50 x 2500 μm2567800200 nm S3901-512FNMOS线阵图像传感器25.6 x 2.5 mm50 x 2500 μm5123900360 nm S3901-512QNMOS线阵图像传感器25.6 x 2.5 mm50 x 2500 μm5123900200 nm S3902-128QNMOS线阵图像传感器6.4 x 0.5 mm50 x 500 μm12815600200 nm S3902-256QNMOS线阵图像传感器12.8 x 0.5 mm50 x 500 μm2567800200 nm S3902-512QNMOS线阵图像传感器25.6 x 0.5 mm50 x 500 μm5123900200 nm S3903-1024QNMOS线阵图像传感器25.6 x 0.5 mm25 x 500 μm10241950200 nm

德国METROLUX的ML4560波前传感器 波前传感器由传感器头部和新软件raylux ML1240组成，它具有高动态范围及高精度。传感器头部为预校准的，基准波前已置于软件之内。无需再校准即可进行高精度的测量。该软件包括激光波前的分析，并且光束质量分析软件beamlux ML1200符合ISO标准。运用ML3743摄像头，可随意的对光束进行分析。CCD-Sensor2/3”Dynamic12bitPixel #1392 x 1040 Wavelength rangewith optional converter350 nm - 1100 nm 190 nm - 350 nmPupil size8.97 x 6.71 mmMax. frame rate15 fpsSpatial Resolution200 μmNumber of Sub Apertures45 x 34Dynamic Range (Tilt) ± 1,6° (730 lamda)Wavefront Accuracy 16 μradDynamic Range (Focus)72 mm (370 lamda)Accuracy 5 x 10-4 /mSystem Accuracy10 nmRepeatability100 nmWavefront Accuracy50 nmMetrolux 激光M平方计 具有完备的激光光束分析软件 可进行单脉冲M2测量 wavelength400-700nm//700-1100 nmothers on requestLaserbeam diameter6mmothers on requestEnergy Density 5 J/cm² with additional attenuatorPower Density 1000 W/cm² with additional attenuator Single pulse detection 1000 Hz M² 1..20accuracy +-3%Measuring frequency5 Hz Attenuation1...1.000.000automatic

SUV-A/SUV-B精密紫外辐射传感器-紫外辐射表 全新SUV系列为太阳紫外辐射光谱的每一部分提供测量解决方案。得益于*新的检测器技术，数字信号处理和Modbus输出，在已取得成功的SUV5辐射计基础上经过重新设计，形成专用的UVA，UVB和UVE（UV 指数）型号，并使其比市场上其它产品更加智能化。 紫外线（UV）辐射是到达地球的太阳光谱的一部分。在人眼不可见范围内，紫外线辐射被分解为不同的波长，即三种类型的紫外线：UVA，UVB和UVC。它们的波长从A减小到C，但强度却随之增加，这意味着波长越短，产生破坏的可能性越大。幸运的是，只有UVA和UVB射线才能穿透地球的大气层。全新SUV-A和SUV-B可以测量单个波长的紫外辐照强度。产品特点：UVA占到达到地球表面的紫外线辐射的95％可用于日晒机器床可穿透第二层皮肤会导致某些类型的太阳灼伤造成皮肤生皱和过早老化渗透云彩和玻璃窗 -使用防晒霜SmartExplorer软件 技术指标：技术性能参数SUV-ASUV-B光谱响应315 – 400nm280 – 315nm输出范围0 - 90W/㎡0 - 9W/㎡响应时间（95%）0.2秒0.2秒非稳定性（变化/年）＜5%＜5%非线性(全量程)＜1%＜1%方向误差＜5W/㎡＜5W/㎡温度响应（-20~+50℃）＜2%＜2%光谱选择性＜20%＜20%视野180°180°分辨率0.1°0.1°电源电压5 ~ 30VDC5 ~ 30VDC模拟输出V-版本0 ~ 1V0 ~ 1V输出范围-10~90W/㎡-1~9W/㎡串行输出RS-485 ModbusRS-485 Modbus串行输出范围0~400W/㎡0~400W/㎡功耗 (12VDC时)V-版本: 55mWV-版本: 55mWA-版本: 100mWA-版本: 100mW工作温度-40~ +60°C-40~ +60°C湿度范围0 ~ 100.00%RH0 ~ 100.00%RH防护等级IP67IP67线缆长度10米10米重量0.6kg0.6kg

法国ALPAO的WFS-VIS &WFS-SWIR是两款基于Shack-Hartmann原理的波前传感器，主要用于实时测量大气湍流引起的波前失真。两款产品分别适用于可见光波段和近红外波段，其中，WFS-SWIR使用优异的InGaAs传感器。Alpao波前传感器具有高灵敏度和高工作频率的显著优点，而且专门针对延迟进行了优化，以满足用户在严苛条件下的要求。 哈特曼波前传感器WFS-SWIR核心特点：l 高灵敏度：量子效率QE70%@1500nml 高工作频率：高达3kHzl 优化大气校正 哈特曼波前传感器型号及参数：ModelSWIR WFS-69SWIR WFS-97SWIR WFS-277SWIR WFS-468Sensor typeInGaAsAcquisition frequency3kHz2kHz1kHzSensor maximum quantum efficiency90% at 600nmNumber of microlenses8x810x1016x1623x23Microlens pitch240μm264μm240μm167μmSpectral range0.9μm - 1.7μmInterfaceCamera LinkDynamic in tip-tilt / focus (PtV)1 0μm10μm15μm10μmResidual WFE error on closed loop *20nm RMSAbsolute precision *λ/20 RMSRepeatability *10nm RMSTypical noise (RMS) 700 electron(low gain)Typical noise (RMS) 150 electron(high gain)Operating temperature0°C to 30°CRecommended DMDM69DM97DM277DM468备注*: 在良好的光量条件下且没有波前扰动。

6490紫外辐射传感器主要应用于Davis Vantage Pro2和Vantage Pro Plus气象站，测量紫外线光谱的日灼部分，并可以显示紫外线指数、剂量率以及每日和总累积剂量。多层过滤器提供了与红斑作用光谱相匹配的光谱响应，扩散体提供了很好的余弦反应。两片外套将辐射热量降到很低，通过对流冷却传感器，并避免集水或灰尘。标准线缆长度0.6米。兼容老款Vantage Pro气象站。若要安装在雨量筒旁边，需要额外配置辐射安装支架（6673）。技术参数：基本操作温度-40~ +65℃存储温度-45~ +70℃光谱响应(10%点)280到360纳米（红斑作用光谱）余弦响应±4%读数（0~ 65°入射角)；±9%读数（65~ 85°入射角）线缆长度0.6m线缆类型4芯，26AWG接头类型标准RJ-11I/O规格绿线输出0~ 2.5VDC，150mV每UV Index，360mV每MED/h红线和黑线接地黄线+3 VDC ±10%；2.4mA外壳材料防紫外线PVC尺寸51mm*70mm*57mm重量226g紫外辐射剂量分辨率和单位0.1MEDs~ 19.9MEDs；1MEDs超过19.9MEDs测量范围0 ~ 199MEDs精度±5% 每日总量漂移±2%每年更新间隔50秒到1分钟紫外辐射指数分辨率和单位0.1 Index测量范围0~ 16 Index精度±5%满量程

S-Ultra.Sens使用非色散紫外(non-dispersive ultra-violet，NDUV)技术，是一种通过滤光片对入射光进行滤光，以获取待测气体在紫外波段中的特征吸收波段，再将特征吸收波段的光通过分光仪分成两束，分别送入样品池和参考池，然后通过两个探测器对光强度进行探测，最后通过基于Lambert-Beer定律的双除法运算处理技术来获得待测气体浓度的光学技术。S-Ultra.Sens采用了特殊的LED/ EDL-技术，以获得稳定的光源发射。形成一个高分辨率的气体分析系统，可以检测小于1ppm的气体浓度变化。 整个结构可以拆卸，使维护/服务更容易。不同的元器件之间采用o形环连接密封。不锈钢样气池涂有一层保护层。长度为100mm。可集成三种不同的光源，针对对于NO、NO2和SO2混合气体检测。 我们使用AlGaN-LED作为非色散紫外的光源，可以覆盖360nm到230nm。并且为了延长紫外光源的寿命，我们使用特殊光源控制板 ，可延长紫外光源寿命至3年以上，解决了紫外光源易损耗的难点。 S-Ultra.Sens适用于各类复杂工业环境下的气体浓度检测，在超低量程表现出优质的检测精度。对于氮氧化物的检测能够精确分出一氧化氮和二氧化氮的气体浓度，适用于超低排放烟气的检测。 典型被测气体（其他检测气体和浓度，请与我们联系）： S-Ultra.SensNO0-300ppmS-Ultra.SensO30-100ppmS-Ultra.SensO3+CnHmO3 0-25ppm / CnHm 0-500ppmS-Ultra.SensH2SH2S 0-100ppm / 0-500ppm / 0-1500ppm / 0-5000ppmS-Ultra.SensH2S (背景气 CH4)H2S 0-100ppmS-Ultra.SensNO/NO2/SO2NO 0-300ppm / NO2 0-200ppm / SO2 0-200ppmS-Ultra.SensSO2/NO2SO2 0-1000ppm / NO2 0-1000ppmS-Ultra.SensNO2/N2ONO2 0-2000ppm / N2O 0-2000ppmS-Ultra.SensN2O0-1000ppmS-Ultra.SensSO20-100ppm / 0-500ppmS-Ultra.SensSO2 双量程0-1000ppm (LDL 1ppm), 0-30000ppm(LDL 20ppm) 产品优势：&blacksquare 快速读取时间 ≈ 200ms&blacksquare 高动态范围&blacksquare 无H2O 的无交叉干扰影响&blacksquare 坚固的传感器设计&blacksquare 可拆卸式结构设计&blacksquare 使用 O 形圈密封元器件，提高气密性&blacksquare 低功耗 1 瓦 @ 24 伏直流&blacksquare 支持不同的接口 (RS 232、CAN open）&blacksquare 可配备两个气室 产品技术参数： 检测原理NDUV紫外吸收内部加热温度42度T90响应时间 3s@1L/min数字分辨率（@zero)1ppm...0.1 Vol.%检出限（3sigma)±0.5%FS重复性±1%FS线性度±1%FS稳定性（零点）±1%FS稳定性（满量程点）±1%FS温度偏离（零点）±1%FS per 10K（典型值）温度偏离（满量程点）±1%FS per 10K（典型值）压力偏离±0.015% /mbar运行温度10...40℃存储温度-10...60℃环境湿度0-95% 相对湿度（非冷凝）环境气压800...1200 mbar预热时间60min (取决于热量隔离情况和环境温度)30min @20℃环境温度开启时间2 min (到达预热温度后)气体流入温度 -2℃...40℃气体流入湿度Max. 10℃ (非冷凝)气体流量0.2...1L/min (稳定流量)通讯输出信号RS232 9P-Sub-D 和 2x5pin 2.45mm 接头运行电源24VDC±0.3V 3A平均功率4W (预热时 max. 55W)

一, Dynamic Optics 夏克-哈特曼 快速CMOS波前传感器 Dynamic Optics Shack Hartmann 夏克-哈特曼波前传感器使用起来方便灵活快捷。它可以高精度地测量波前畸变。Photon Loop软件可以与任何类型的相机接口，并控制任何类型的变形镜。我们的波前传感器可以在任何光谱范围内进行测量，具有很高的分辨率、精度和帧率。技术参数快速CMOS传感器即插即用的解决方案，具有出色灵敏度这款波前传感器在可见-近红外光谱范围内具有出色的灵敏度、帧率和准确性。它是计量学和可变形镜控制的理想选择。 产品应用精确波前测量快速像差采集闭环自适应光学系统光学元件质量检验关键规格高精度(高达λ/200)快速捕获(最高1 kHz)价格优惠 快速CMOS传感器 描述数据小透镜阵150 um间距，5.2mm焦距(可定制)帧频500fps，100个质心(要求1kHz)传感器尺寸9mm x 7.13mm孔径:9mm触发器外部触发器5V通信USB 3.0变形镜控制控制器比例积分控制器校准影响功能和Hadamard控制闭环和开环编程可通过TCP-IP进行编程与其他变形镜的兼容性Alpao、Adaptica、OKO、BMC、Thorlabs和Dynamic Optics 短波红外（SWIR）光谱范围的理想解决方案这款波前传感器具有出色的灵敏度、帧速率和精度。它是计量和变形镜控制的理想选择。 描述数据小透镜阵150um间距，5.2mm焦距(可定制)帧频600fps(全帧)传感器尺寸640 x 512(15um)沟通USB 3.0或摄像头链接变形镜控制控制器比例积分控制器校准影响功能和Hadamard控制闭环和开环设计可通过TCP-IP进行编程与其他变形镜的兼容性Alpao、Adaptica、OKO、BMC、Thorlabs和Dynamic Optics 二,ISDI 晶圆级CMOS图像传感器ISDI是高性能CMOS图像传感器领域的创新者，提供定制传感器设计和标准产品。产品范围包括专用设计到大批量制造。ISDI成立于2010年，团队由一群在CMOS图像传感器方面拥有丰富知识和经验的半导体设计师组成，他们从科研项目获得了经验。自成立以来，ISDI已从科学传感器的设计师发展为广泛应用的晶圆级成像设备的制造商。数字接口设计可以直接连接到FPGA或ASIC。对于50μm和100μm传感器，开发板可配备相机链、USB或GigEVision连接，用于快速评估传感器性能，这些也可作为成像系统硬件快速原型设计的参考。所有传感器均设计用于X射线环境下的低噪声操作，适用于光纤板（FOP）键合或直接沉积型闪烁体。ISDI 晶圆级CMOS图像传感器,ISDI 晶圆级CMOS图像传感器通用参数CMOS图像传感器: 产品系列多功能、功能丰富的图像传感器，结合了ISDIZhuan利的抗辐射低噪声像素结构。特点:滚动快门曝光可切换高低满井来提高和降低灵敏度芯片上的温度传感器动态可编程感兴趣区域(ROI)有效面积 (h x v) cm分辨率(h x v)最大帧率( fps)数据输出包装尺寸(cm)单芯片ADCRow time ( ROI) µ s低满井Low full well高满井High full well低频焊LFW 高频焊HFWTY-222221.7 x 22.02173 x 220111268 x LVDS27.0 x 21.8 16/14 bit 8.2 360 ke- 3.2 Me- 72.7dB 81.0dBTY-151114.5 x 11.01451 x 110011222 x LVDS14.5 x 13.5TY-141214.0 x 12.01401 x 120011618 x LVDS14.0 x 14.4TY-11077.2 x 11.1721 x 111011212 x LVDS7.2 x 13.5HP-161516.1 x 15.01610 x 15009224 x LVDS16.1 x 17.6 14 bit 7.1 365 ke- 3.0 Me- 70.2dB 73.6dBHP-230123.3 x 0.762331 x 7648044 x LVDS23.5 x 6.1HP-150114.8 x 0.761484 x 7648028 x LVDS15.0 x 6.1IS-313130.9 x 30.73095 x 307366300 x CMOS31.2 x 35.5 14 bit 9.8 410 ke- 2.6 Me- 72.0dB 74.0dBIS-212120.6 x 20.52063 x 204966200 x CMOS20.6 x 25.3IS-151010.3 x 15.31031 x 15366650 x CMOS10.3 x 17.7IS-051010.3 x 5.11031 x 51219850 x CMOS10.3 x 7.4IS-151211.5 x 14.81537 x 198430 (86 @ 2*2 binning)6 x analogue11.5 x 16.3none17 290 ke- 2.8 Me- 70.5dB 74.4dBIS-120711.5 x 6.51537 x 86468 (192 @ 2*2 binning)6 x analogue11.5 x 7.9none17PS-282428.0 x 24.05606 x 48022972 x LVDS28.1 x 28.814 bit14.2 260 ke- 2.0 Me- 69.9dB 73.6dBPS-141214.0 x 12.02802 x 24002918 x LVDS14.1 x 14.414 bit14.2PS-120611.96 x 6.02391 x 12005916 x LVDS12.0 x 8.414 bit14.2PS-06065.4 x 6.01071 x 1200598 x LVDS5.35 x 8.414 bit14.2IS-131313.0 x 13.02600 x 260016 (30 @ 2*1 binning)7 x analogue13.1 x 15.5none24150 ke-2.0 Me-64.4dB75.1dB三, Pulstec PWS-1000 高速波前传感器 400-800nm 光束直径2.0-4.6mmPULSTEC该传感器基于Shack-Hartmann方法，能够实时测量光源和光学像差。它能够测量Zernike多项式项(15/24/36)，赛德尔像差因子和一般波前磨损。它还具有干涉条纹、二维/三维相位图、强度分布和点扩散函数等功能。测试结果(好或不好)可以按给定值测量。Pulstec PWS-1000 高速波前传感器 400-800nm 光束直径2.0-4.6mm,Pulstec PWS-1000 高速波前传感器 400-800nm 光束直径2.0-4.6mm产品特点高速处理，实时测量:图形3Hz，数值10hz。适用于对相干性不敏感的各种光束测量。设计紧凑轻巧，适用于各类设备。采用IEEE1394接口，方便接入电脑。产品应用通过波前测量确定光束质量光学透明元件测试自适应光学波前传感器光学反射组件测试通用参数测量波长400-800nm *1激光束直径2.0-4.6mm精确性1/100λ RMS (3σ) *2可重复性1/5002RMS (3σ) *2数据更新Max. 10Hz外部界面IEEE1394 (6pin)*1 需要获取每个波长的参考值。*2受光束强度分布影响，jue对波前误差测量环境。相关产品参考激光二极管源点源 (Point Source)平行光源波长405±5nm650 ＋5/-0nm780±5nm405±5nm650 ＋5/-0nm780±5nm波长差＜1／50λ RMS偏振圆形标准差激光功率控制自动电源控制 (APC)激光温度控制比例积分控制激光头尺寸179× Φ 44.5mm (L× Φ)253× Φ44.5mm (L× Φ )激光器重量大约 1.0kg大约1.4kg驱动器尺寸152×61.5×167mm (W×H×D)驱动器重量大约1.2kg电源供给AC 100-240V／50-60Hz (30W)NA0.9准直镜波长405nm和655nm焦距2.4mm (@405nm)/ 2.54mm (@655nm)数值孔径(NA)o.9(405nm)/0.7(@655nm)作业距离超过1.0mm重量大约150g玻璃盖板波长405nm655nm基板厚度 0.0875mm0. 1mm0.6mm

光学调整架，用于波前传感器两个80 TPI调节器，用于进行±4°的俯仰和倾斜精调每转调节8 mrad平台可以拆下并固定到任一安装臂上，实现左手或右手配置拆卸旋钮后，露出带六角凹口的调节螺丝Thorlabs的KM100WFS和KM200PM(/M)平台调整架为我们基于CMOS的Shack-Hartmann波前传感器提供可调控制。请注意，传感器的光轴不会居于接杆中心。右边的视频展现了KM100WFS左右手配置的转换方法。KM200PM(/M)也可以使用这种方法。KM100WFS可以安装WFS20波前传感器，且具有与KM100PM平台相似的设计。WFS20高速波前传感器可利用板前沿的两个#8通孔和附带的8-32螺丝进行安装。DCU CCD相机和WFS20传感器也可以安装在KM100WFS上。KM200PM(/M)比KM100WFS大，通过安装板前边缘旁边的两个#8(M4)通孔可以安装WFS20传感器。WFS30和WFS40通过8-32螺孔安装。较大的尺寸，更多的螺孔数目，使其具有更多的安装选项。利用两个带3/32英寸六角的4-40螺丝[KM200PM/M使用带2 mm(5/64英寸)六角的M2.5螺丝]，可以将平台固定到前板。安装平台的这两部分使用两个3-48螺丝(5/64英寸(2 mm)内六角)组合在一起。此外，还可以根据用户提供的自定义安装方案替换安装板。

Thorlabs WFS20-K1波前传感器 光学测量仪特性三种小型传感头选项：通用型*大孔径，11.26 mm方形区域*高速度，帧率高达1120 fps包含高质量光刻微透镜阵列(MLA)安装在可更换的磁性支架中针对传感头单独校准套件包含传感头组件和额外的300 µ m微透镜阵列实时测量波前和强度分布适用于连续或脉冲光源USB连接便于PC操作通过TCP/IP实时数据读取灵活的软件选项GUI软件仪器驱动程序包，用于C编译器LabWindows&trade /CVILabVIEW&trade DataSocket实时数据传输.Net用于波前传感器的光学调整架，单独提供Thorlabs的快速Shack-Hartmann波前传感器能够精确测量入射光束的波前形状和强度分布。这些波前传感器包含CMOS传感头和微透镜阵列(MLA)，封装在便于存储和携带的外壳中。波前传感器的性能由传感头和MLA的组合共同确定。我们提供三种传感头：通用型、大孔径和高速度版本。同样，也提供三种不同微透镜间距和焦距的MLA选项，以便根据应用实现最佳准确度和波前动态范围。这些波前传感器的型号包含前缀和后缀，前缀表示传感头类型(WFS30*、WFS40*或WFS20)，后缀表示MLA类型(-5C、-7A或-14AR)或套件类型(-K1或-K2)。套件包含一个传感头和两个MLA。每种传感头用的触发电缆单独出售，使用TTL触发信号时可以另外购买。发货清单标签里面列出了每种型号中所含元件的清单。

美国Eppley紫外辐射传感器TUVR型相对简单的探测器测量的太阳紫外线辐射。 易于操作的结合性能的准确性可比和日射强度计用于记录总数的短波辐射(0.295到0.385μm)使这对紫外线测量仪器一个有吸引力的仪器。该仪器利用密封硒阻挡层细胞保护的石英窗口。 操作在低光照水平和最低电流消耗的条件下,为了保证很高的性能稳定在长时间的曝光。 一个特别设计的聚四氟乙烯扩散器不仅降低了可接受的水平的辐射通量,而且还提供了关闭遵守朗伯余弦定律。 一个封装窄带(干扰)过滤器限制光电池的光谱响应波长间隔0.295到0.385μm,微不足道的二次传播。黄铜建设的单位,包括可调螺丝和一个圆形的精神水平校准证书可追溯到国家标准与技术研究所(NIST)包括在内。规范?灵敏度:150μV / Wm-2。阻抗:1500欧姆。温度依赖性:±0.3% /°C在环境温度范围-40 + 40°C。线性:从0到70 Wm-2±2%。响应时间:毫秒。余弦:从标准化0 - 70°±3.5%天顶角。机械振动:测试20 g的无破损。校准:参考埃普利二级标准组的紫外线辐射仪。尺寸:直径5.75英寸、5.75英寸高。重量:6磅。

法国Phasics 公司利用革新的技术研发的SID4 波前探测器，具有如下独特技术优势：●高分辨率的相位图，最高分辨率可达400ｘ300。●具有直接测量高发散光束的能力●消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。应用方向：●激光束质量分析●自适应光学●光学元件表面测量●生物成像●热成像，等离子体表面物理法国Phasics波前传感器主要型号相关参数如下： 型号SID4 SID4-HR SID4-DWIR SID4-SWIR SID4-NIR SID4-UV SID4 UV-HR 孔径3.6 × 4.8 mm2 8.9 × 11.8 mm2 13.44 × 10.08 mm2 9.6 × 7.68 mm2 3.6 × 4.8 mm2 7.4 × 7.4 mm2 8.0 × 8.0 mm2 空间分辨率29.6 μm 29.6 μm 68 μm 120 μm 29.6 μm 29.6 μm 32 μm 采样点/测量点160 × 120 400 × 300 160 × 120 80 × 64 160 × 120 250 × 250 250 × 250 波长400 nm ~ 1100 nm 400 nm ~ 1100 nm 3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm 0.9 ~ 1.7 μm 1.5 ~ 1.6 μm 250 ~ 450 nm 190 ~ 400 nm 动态范围 100 μm 500 μm N/A ~ 100 μm 100 μm 200 μm 200 μm 精度10 nm RMS 15 nm RMS 75 nm RMS 10 nm RMS 15 nm RMS 20 nm RMS 10 nm 灵敏度 2 nm RMS 2 nm RMS 25 nm RMS 3 nm RMS ( 高增益） 1 nm RMS ( 低增益） 11 nm RMS 2 nm RMS @ 250 nm, 2 μJ/cm2 0.5 nm 采样频率 60 fps 10 fps 50 fps 25/30/50/60 fps 60 fps 30 fps 30 fps 处理频率10 Hz ( 高分辨率) 3 Hz ( 高分辨率) 20 Hz 10 Hz ( 高分辨率）10 Hz 2 Hz ( 高分辨率）1 Hz 尺寸54 × 46 × 75.3 mm 54 × 46 × 79 mm 85 × 116 × 179 mm 50 × 50 × 90 mm 44 × 33 × 57.5 mm 53 × 63 × 83 mm 95 × 105 × 84 mm 重量250 g 250 g 1.6 kg 300 g 250 g 450 g 900 g

技术参数： Specifications Sensor Head ML4010波前传感器 CCD-Sensor 2/3&rdquo Dynamic 12bit Pixel # 1392 x 1040 Wavelength range with optional converter 350 nm - 1100 nm 190 nm - 350 nm Pupil size 8.97 x 6.71 mm Max. frame rate 15 fps Spatial Resolution 200 &mu m Number of Sub Apertures 45 x 34 Dynamic Range (Tilt) ± 1,6° (730 lamda) Wavefront Accuracy 16 &mu rad Dynamic Range (Focus) 72 mm (370 lamda) Accuracy 5 x 10-4 /m System Accuracy 10 nm Repeatability 100 nm Wavefront Accuracy 50 nm 主要特点：raylux software ML1205 &bull 快速在线波前计算&bull Computation of Zernike polynomial terms (tilt, defocus, astigmatism,...) &bull Automatic gain and shutter control &bull Automatic synchronization with pulsed lasers &bull Noise and background control &bull Decrease measurement errors by averaging &bull Numerical data files of wavefront &bull 2D/3D display of wavefront viewable from any angle or elevation with zoom &bull Progression view (time dependent view of all important parameters) &bull M2 and beam divergence analysis &bull Additional beam analysis in compliance to ISO &bull Far field analysis &bull Near field analysis &bull Store and recall screens in single or video fashion &bull Fully flexible screen format including save configuration

UVR1系列紫外辐射传感器UVR1-T：宽频总紫外辐射传感器UVR1-A：宽频UV-A辐射传感器UVR1-B：窄频UV-B辐射传感器 　　Middleton Solar公司的UVR1系列精密过滤器辐射表，用于测量总太阳紫外辐射。UVR1-T和UVR1-A适用于空气污染监测，UVR1-B适用于生物和人体红斑监测。 性能参数响应时间0.5s，10%—90%分辨率 0.1%，全量程非稳定性 (每年) ?3%非线性 1%方向性误差(余弦+ 方位角) ± 2% (0°—85°天顶角)边频误差(%信号，典型)UVR1-T & UVR1-A：可忽略UVR1-B：2.5% (夏天), 7% (冬天)温度误差可忽略（打开加热）特点※ 可忽略余弦误差，卓越的稳定性※ 海洋级铝制外壳，阳极电镀处理，密封处理，抗腐蚀※ 大口径(25mm)接口过滤器，具有非常好的长期稳定性※ 窄的内部视角，避免过滤器带通失真※ 无热误差，由于探测器和过滤器处于一个恒温状态※ 大面积UV硅光二极管探测器，积分前置放大器※ 累积腔余弦修正散射※ 独立的探测器和加热器停止支持※ 干燥的、密封的※ 传感器温度输出※ 提供简易的安装工具※ 含有用户手册和标定证书 总技术性能参数光谱响应范围和辐照度UV-T：280-400nm；0-73 W.m-2UV-A：315-400nm；0-70 W.m-2UV-B：280-315nm；0-3 W.m-2探测器类型，有效面积UV硅光二极管＋放大器，25 mm2中心波长，半功率带宽UVR1-T：340 ±3.5nm；70 ±3.5nmUVR1-A：355 ±3.5nm；40 ±3.5nmUVR1-B：307 ±0.9nm；7.5 ±1.5nm灵敏度（典型）UVR1-T & UVR1-A：25 mV/W.m-2UVR1-B：350 mV/W.m-2黑暗偏移(50℃环境温度变化)±1.5mV (30℃ & 40℃加热器)±2.5mV (50℃加热器)工作环境温度(加热器开；关)-30—45℃(开)；-20—60℃(关)热控制：加热器置位点选择置位点稳定30℃；40℃(默认) 50℃ 2.5℃(50℃环境变化)供电需求(加热器开)5.5—14.5VDC，单电源*大12W，典型2W稳定电流消耗加热器＋探测器关闭： 1mA温度信号(探测器/过滤器)；精度10mV/℃(例如：0.4V = 40℃)；±1℃顶罩 UVR1-A：玻璃UVR1-T & UVR1-B：熔融石英电缆6m；7芯安装底盘中心M10孔，65mm P.C.D上附加一对M4孔重量1.1kg (电缆除外)

典型应用紫外（UV）吸收水质自动在线分析仪适用于污水处理的过程控制和水质监测。可应用于地下水、地表水、生活污水中等领域高锰酸盐指数的实时监测。测量原理紫外（UV）传感器采用多光谱测量技术，使用紫外LED 作为光源，综合分析有机物及浊度等信息，并针对不同的水样，有一定的自动判别能力，在水质监测中光吸收系数与化学需氧量或高锰酸盐指数具有相关性时，可将UV 仪的光吸收系数折算成化学需氧量或高锰酸盐指数。在实际应用中，具有良好的适应性。产品特点及优势● 光学技术、维护量小、实用性好；● 选用316L 不锈钢，经久耐用，寿命长；● 多光谱测量原理，包含紫外，可见，近红外多光谱，可实现对COD 等有机物参数的测量，以及消除浊度、色度等因素的干扰；● 物理方法测量，无需消耗任何化学试剂；● 快速响应，快速测量，最短测量周期1 分钟

天津瑞利光电科技有限公司优势经销法国ALPAO波前传感器SH-CMOS-fast产品型号：SH-CMOS-fast关键字：ALPAO波前传感器SH关键字描述：ALPAO Shack–Hartmann（SH）波前传感器（WFS）是专门为自适应光学设计的WFS的系列。产品介绍：ALPAO Shack–Hartmann（SH）波前传感器（WFS）是专门为自适应光学设计的WFS的系列。它们具有好的性能，可与每个自适应光学系统配合使用。可以根据需要选择灵敏度，速度和光谱范围。所有的ALPAO SH都适合ALPAO DM和ALPAO软件以及实时计算机。&bull 针对AO优化：适应 DM的油炸配置的子学生数量，延迟更少&bull 速度：频率高达5kHz，延迟低至5μs（SH-CMOS-fast）&bull 高灵敏度：SNR = 1的光子通量低至3个光子/帧/子孔径（EMCCD）参数：子光圈数：63×63微镜头间距：112 μm帧频：2030 HzSNR = 1的光子：1000 ph./fr/子光圈重复性：2 nmRMS光谱范围：VIS峰量子效率：50%天津瑞利光电科技有限公司于2016年成立，坐落于渤海之滨天津，地理位置得天独厚，交通运输便利，进出口贸易发达。凭借着欧洲的采购中心，我们始终为客户提供欧美工业技术、高新科技等发达国家原装进口的光电设备、光学仪器、机电设备及配件、电气成套设备、工业自动化控制设备产品，同时拥有多个品牌的授权经销和代理权。

法国ALPAO的WFS-VIS &WFS-SWIR是两款基于Shack-Hartmann原理的波前传感器，主要用于实时测量大气湍流引起的波前失真。两款产品分别适用于可见光波段和近红外波段，其中，WFS-VIS使用先进的EMCCD传感器，WFS-SWIR使用优异的InGaAs传感器。Alpao波前传感器具有高灵敏度和高工作频率的显著优点，而且专门针对延迟进行了优化，以满足用户在严苛条件下的要求。 WFS-VIS WFS-SWIRWFS-VIS核心特点：l 高灵敏度：量子效率QE95%@600nml 高工作频率：高达1.8kHzl 优化大气校正 型号及参数：ModelVIS WFS-69VIS WFS-97VIS WFS-277VIS WFS-468Sensor typeEMCCDAcquisition frequency1838Hz1004HzSensor maximum quantum efficiency90% at 600nmNumber of microlenses8x810x1016x1623x23Microlens pitch192μm307μm192μm133μmSpectral range250 - 1100nmInterfaceCamera LinkDynamic in tip-tilt / focus (PtV)1 0μm20μm15μm10μmResidual WFE error on closed loop *20nm RMSAbsolute precision *λ/20 RMSRepeatability *10nm RMSTypical noise (RMS) 0.1 electronOperating temperature0°C to 30°CRecommended DMDM69DM97-15DM277DM468备注*: 在良好的光量条件下且没有波前扰动。

法国Phasics波前传感器法国Phasics 公司利用革新的技术研发的SID4 波前探测器，具有如下独特技术优势：●高分辨率的相位图，最高分辨率可达400ｘ300。●具有直接测量高发散光束的能力●消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。应用方向：●激光束质量分析●自适应光学●光学元件表面测量●生物成像●热成像，等离子体表面物理法国Phasics波前传感器主要型号相关参数如下： 型号SID4 SID4-HR SID4-DWIR SID4-SWIR SID4-NIR SID4-UV SID4 UV-HR 孔径3.6 × 4.8 mm2 8.9 × 11.8 mm2 13.44 × 10.08 mm2 9.6 × 7.68 mm2 3.6 × 4.8 mm2 7.4 × 7.4 mm2 8.0 × 8.0 mm2 空间分辨率29.6 μm 29.6 μm 68 μm 120 μm 29.6 μm 29.6 μm 32 μm 采样点/测量点160 × 120 400 × 300 160 × 120 80 × 64 160 × 120 250 × 250 250 × 250 波长400 nm ~ 1100 nm 400 nm ~ 1100 nm 3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm 0.9 ~ 1.7 μm 1.5 ~ 1.6 μm 250 ~ 450 nm 190 ~ 400 nm 动态范围 100 μm 500 μm N/A ~ 100 μm 100 μm 200 μm 200 μm 精度10 nm RMS 15 nm RMS 75 nm RMS 10 nm RMS 15 nm RMS 20 nm RMS 10 nm 灵敏度 2 nm RMS 2 nm RMS 25 nm RMS 3 nm RMS ( 高增益） 1 nm RMS ( 低增益） 11 nm RMS 2 nm RMS @ 250 nm, 2 μJ/cm2 0.5 nm 采样频率 60 fps 10 fps 50 fps 25/30/50/60 fps 60 fps 30 fps 30 fps 处理频率10 Hz ( 高分辨率) 3 Hz ( 高分辨率) 20 Hz 10 Hz ( 高分辨率）10 Hz 2 Hz ( 高分辨率）1 Hz 尺寸54 × 46 × 75.3 mm 54 × 46 × 79 mm 85 × 116 × 179 mm 50 × 50 × 90 mm 44 × 33 × 57.5 mm 53 × 63 × 83 mm 95 × 105 × 84 mm 重量250 g 250 g 1.6 kg 300 g 250 g 450 g 900 g

荷兰Kipp&Zonen宽波紫外辐射传感器CUV5是原CUV4的升级型号，主要应用于气象观测、材料测试、照明监测以及用太阳模拟器进行的老化实验等领域。CUV5在继承原CUV4高品质的基础之上，改进了玻璃保护罩，采用了对UVB具有更好穿透性的材料制作，并进一步提高了灵敏度（尤其是小于300nm的波长）。高品质的保护罩和散射器为CUV5提供了优异的方向灵敏度，传感器能够以坐标曲线的方式直观显示测量数据。全密封的防水设计既使其能够在各种恶劣环境下正常工作，也使仪器的安装、维护工作变得十分方便。CUV5标配10米电缆，同时，您也可以根据需要选配25米或50米的电缆。需要用户注意到是，CUV5并不适合于测量某一特定波长的紫外辐射，如UV-A、UV-B、UV-E等。如需对这些特定紫外辐射进行测量，我们推荐您选用Kipp&Zonen的UVS系列紫外辐射传感器。 主要技术参数光谱波长：280~400nm输出范围：0~400 W/m2灵敏度：300~500μV/W/m2最大辐射强度：400W/m2响应时间：1s方向误差：5%（80°时）非稳定性（年变化）：5%非线性：1%温度依赖性：-0.1%/℃阻抗：10 kΩ工作温度：-40℃~80℃电缆：10m（标准），25m或50m（可选）

法国Phasics 公司利用革新的技术研发的SID4 波前探测器，具有如下独特技术优势：●高分辨率的相位图，最高分辨率可达400ｘ300。●具有直接测量高发散光束的能力●消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。应用方向：●激光束质量分析●自适应光学●光学元件表面测量●生物成像●热成像，等离子体表面物理法国Phasics波前传感器主要型号相关参数如下： 型号SID4 SID4-HR SID4-DWIR SID4-SWIR SID4-NIR SID4-UV SID4 UV-HR 孔径3.6 × 4.8 mm2 8.9 × 11.8 mm2 13.44 × 10.08 mm2 9.6 × 7.68 mm2 3.6 × 4.8 mm2 7.4 × 7.4 mm2 8.0 × 8.0 mm2 空间分辨率29.6 μm 29.6 μm 68 μm 120 μm 29.6 μm 29.6 μm 32 μm 采样点/测量点160 × 120 400 × 300 160 × 120 80 × 64 160 × 120 250 × 250 250 × 250 波长400 nm ~ 1100 nm 400 nm ~ 1100 nm 3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm 0.9 ~ 1.7 μm 1.5 ~ 1.6 μm 250 ~ 450 nm 190 ~ 400 nm 动态范围 100 μm 500 μm N/A ~ 100 μm 100 μm 200 μm 200 μm 精度10 nm RMS 15 nm RMS 75 nm RMS 10 nm RMS 15 nm RMS 20 nm RMS 10 nm 灵敏度 2 nm RMS 2 nm RMS 25 nm RMS 3 nm RMS ( 高增益） 1 nm RMS ( 低增益） 11 nm RMS 2 nm RMS @ 250 nm, 2 μJ/cm2 0.5 nm 采样频率 60 fps 10 fps 50 fps 25/30/50/60 fps 60 fps 30 fps 30 fps 处理频率10 Hz ( 高分辨率) 3 Hz ( 高分辨率) 20 Hz 10 Hz ( 高分辨率）10 Hz 2 Hz ( 高分辨率）1 Hz 尺寸54 × 46 × 75.3 mm 54 × 46 × 79 mm 85 × 116 × 179 mm 50 × 50 × 90 mm 44 × 33 × 57.5 mm 53 × 63 × 83 mm 95 × 105 × 84 mm 重量250 g 250 g 1.6 kg 300 g 250 g 450 g 900 g

加拿大Resonance公司的极紫外光源EUV-X-L Flow Lamp，包含了先进的极紫外技术，具有以下特点： 1.主要的谱线超过10E15 photons/sec/ster 2.可以提供25nm以下波段的极紫外灯源 3.便携，质量小于1mg 4.可以连接单色仪，变成可调光源 5.杂散光低等。 极紫外EUV光源可以用在生物、化学、物理等研究领域，如有需求请联系我司，谢谢。