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声学多海底形貌监测系统

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  • 利用声学特性的无损检测技术___超声波检测技术

    利用声学特性的无损检测技术___超声波检测技术无损检测导论（2005年元月电子修订版）夏纪真 编著 第二章无损检测技术及其应用 无损检测技术的基础是物质的各种物理性质或它们的组合以及与物质相互作用的物理现象。迄今为止，包括在工业领域已获得实际应用的和已在实验室阶段获得成功的无损检测方法已达五、六十种甚至更多，随着工业生产与科学技术的发展，还将会出现更多的无损检测方法与种类。本书仅能就几个主要方面作简单扼要的介绍。除了对于工业上已经广泛应用的五大常规无损检测技术（超声波检测、磁粉检测、涡流检测、渗透检测和射线照相检测）给予一定的工艺介绍外，对其他方法仅作概念性介绍。若需对其中某项方法作深入了解时，应查阅相应方法的专业技术介绍资料。§2.1 利用声学特性的无损检测技术§2.1.1 超声波检测技术什么是超声波？超声波有什么特性？声波是指人耳能感受到的一种纵波，其频率范围为16Hz~2KHz。当声波的频率低于16Hz时就叫做次声波，高于2KHz则称为超声波。一般把频率在2KHz到25MHz范围的声波叫做超声波。它是由机械振动源在弹性介质中激发的一种机械振动波，其实质是以应力波的形式传递振动能量，其必要条件是要有振动源和能传递机械振动的弹性介质（实际上包括了几乎所有的气体、液体和固体），它能透入物体内部并可以在物体中传播。利用超声波在物体中的多种传播特性，例如反射与折射、衍射与散射、衰减、谐振以及声速等的变化，可以测知许多物体的尺寸、表面与内部缺陷、组织变化等等，因此是应用最广泛的一种重要的无损检测技术--超声检测技术。例如用于医疗上的超声诊断（如B超）、海洋学中的声纳、鱼群探测、海底形貌探测、海洋测深、地质构造探测、工业材料及制品上的缺陷探测、硬度测量、测厚、显微组织评价、混凝土构件检测、陶瓷土坯的湿度测定、气体介质特性分析、密度测定……等等。超声波具有如下特性：1）超声波可在气体、液体、固体、固熔体等介质中有效传播。2）超声波可传递很强的能量。3）超声波会产生反射、干涉、叠加和共振现象。4）超声波在液体介质中传播时，达到一定程度的声功率就可在液体中的物体界面上产生强烈的冲击（基于“空化现象”）--从而引出了“功率超声应用“技术--例如“超声波清洗”、“超声波钻孔”、“超声波去毛刺”（统称“超声波加工”）等。5）利用强功率超声波的振动作用，还可用于例如塑料等材料的“超声波焊接”。工业无损检测技术中应用的超声波检测（UltrasonicTesting，简称UT）是无损检测技术中发展最快、应用最广泛的无损检测技术，占有非常重要的地位。在超声波检测技术中用以产生和接收超声波的方法最主要利用的是某些晶体的压电效应，即压电晶体（例如石英晶体、钛酸钡及锆钛酸铅等压电陶瓷）在外力作用下发生变形时，将有电极化现象产生，即其电荷分布将发生变化（正压电效应），反之，当向压电晶体施加电荷时，压电晶体将会发生应变，亦即弹性变形（逆压电效应）。因此，利用压电晶体制成超声波换能器（探头），对其输入高频电脉冲，则探头将以相同频率产生超声波发射到被检物体中去，在接收超声波时，探头则产生相同频率的高频电信号用于检测显示。除了利用压电效应以外，在某些情况下也利用磁致伸缩效应（强磁材料在磁化时会发生变形的现象，可用作振源或用于应变测量），也有利用电动力学方法（例如本章后面叙述的电磁-声或涡流-声方法）。（3）耦合方法的确定-超声探头与被检工件之间存在空气时，超声波将被反射而无法进入被检工件，因此在它们之间需要使用耦合介质（耦合剂），视耦合方式的不同，可以分为：接触法-超声探头与工件检测面直接接触，其间以机油、变压器油、润滑脂、甘油、水玻璃（硅酸钠Na2SiO3）或者工业胶水、化学浆糊等作为耦合剂，或者是商品化的超声检测专用耦合剂。水浸法-超声探头与工件检测面之间有一定厚度的水层，水层厚度视工件厚度、材料声速以及检测要求而异，但是水质必须清洁、无气泡和杂质，对工件有润湿能力，其温度应与被检工件相同，否则会对超声检测造成较大干扰。接触法和水浸法是超声检测中最主要应用的两种耦合方式，此外还有水间隙法、喷水柱法、溢水法、地毯法、滚轮法等多种特殊的耦合方式。（4）检测条件的准备-选择适当的超声探伤仪、超声探头、参考标准试块（或者采用计算法时的计算程序或距离-波幅曲线、AVG或DGS曲线等），以及在检测前对仪器的校准（时基线校正、起始灵敏度设定等）。[/si

  • 测量材料动态的3D形貌，效果请看视频，基于菲涅尔衍射的数字全息重建技术

    数字全息显微镜DHM测量材料动态的3D形貌，亚纳米分辨率，基于菲涅尔衍射的数字全息重建技术 [table=100%][tr][td][img=动态3D细胞监测,690,138]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/11/201711241018_01_1546_3.jpg!w690x138.jpg[/img]仅0.001秒即可测出物体三维形貌，并且是亚纳米的分辨率。不同于传统白光干涉仪、共聚焦显微镜、扫描探针轮廓仪等需要扫描的成像方式，DHM仅需0.001秒采集单张全息图即可测出物3D形貌信息，做到了快速动态监测。 和传统全息术不一样的是没有采用干板而是采用CCD记录全息图，全息图中 光强图：提供与传统显微镜一样对比度的图像 相位图：提供量化数值，得以对被测物体进行精确三维测量 该系统为预放大全息显微镜，其中的相位图解析中用到了大量的算法，实时相位解包裹技术 实时形貌测量的案例二：石墨烯薄膜受力形变实时测量[img=薄膜形变实时测量,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/11/201711241030_01_1546_3.gif!w384x216.jpg[/img][img=MEMS面内面外运动测量,201,220]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/11/201711241030_02_1546_3.gif!w201x220.jpg[/img][/td][/tr][/table]

  • 微纳形貌分析利器——4D微纳形貌动态表征DHM

    微纳形貌分析利器——4D微纳形貌动态表征DHM

    科研史上前所未有的观测手段——数字全息DHM可高速实时测量三维形貌，达到了亚纳米精度。克服了传统AFM、CLSM等需要扫描进行三维成像的特性。 表征透明/半透明三维形貌Ø 测量厚度从几纳米到几十微米Ø 可测最高三层透明薄膜Ø 测量薄膜折射率Ø 微纳器件动态三维形貌时序图（1000fps）， 还可测频率响应（高达25MHz） 主要应用北京大学 搭建平面应变鼓膜实验平台测量纳米薄膜的动态力学性能天津大学 微结构表面形貌和运动特性测量华中科技大学 微纳制造与测试，微小光学元件检测，微电子制造封装与测试清华大学 透射式全息显微镜，测量透明样品形貌，还可以测量材料光学参数、内部结构以及缺陷杂质等 • 超快速高精度的三维成像，大面积三维形貌表征，表面粗糙度，MEMS振动测量分析，表征微流体器件和微颗粒三维追踪测试配合MEMS Analysis Tool、光学反射软件Reflectometry Analysis等专用软件实现更多功能[img=,600,400]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131406_01_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131407_01_1546_3.gif[/img][img=,690,]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131406_02_1546_3.jpg[/img]

  • 【分享】微结构决定的具有均一米状形貌的新奇银纳米颗粒的高产率合成

    金属纳米颗粒由于其良好的电学、光学、热导、催化以及磁学性质而得到广泛的研究。近年来，金属纳米颗粒奇异的光学性质引起人们极大的兴趣。其中，金银纳米颗粒由于在可见和红外光频区有着很好的表面等离子体共振性质而格外引人注目，在表面增强光谱、生物检测等方面具有巨大的应用前景。通过控制纳米颗粒的形貌可以有效的调制金属纳米颗粒的表面等离子体共振性质。因此，获得不同形貌的金属纳米颗粒是最近兴起的表面等离子体光子学研究领域中重要的研究方向之一。 最近，中国科学院物理研究所/北京凝聚态物理国家实验室徐红星研究员研究组的梁红艳同学和王文忠教授首次用多羟基醇还原法合成了一种外形为纺锤状的银纳米颗粒（Ag Nanorice），并与李建奇研究员研究组的杨槐馨副研究员合作，发现这种银纳米颗粒为六方相和立方相交生形成，内部存在孪晶，堆垛层错，多重调制等多种缺陷结构，并且缺陷密度在银纳米颗粒的不同部位有着明显区别，这种微结构突破了传统银纳米颗粒常规的单晶、孪晶特性，决定了具有均一米状形貌的新奇银纳米颗粒的高产率合成。该项研究的意义不仅在于为有效调制表面等离子体共振特性提供新的纳米结构，还在于这种堆垛结构可能打破晶体生长时晶体结构对形貌的限制，为设计合成所需形貌晶体带来曙光。这将丰富纳米晶体结构控制生长的内涵，深化对金属晶体生长规律的认识，拓展金属纳米结构在光谱分析、超灵敏检测等方向的应用，因而具有十分重要的实际意义。 该工作发表于近期的J. Am. Chem. Soc. 131，6068-6069（2009）上。此项研究获得国家自然科学基金委杰出青年基金,科技部重大项目,中科院知识创新工程和教育部的“985”和“211”等项目的资助。

  • 【原创大赛】碳钢表面局部腐蚀形貌

    【原创大赛】碳钢表面局部腐蚀形貌

    1、在腐蚀溶液总逐渐添加缓蚀剂后碳钢表面腐蚀形貌图1是Q235碳钢不同缓蚀剂的溶液中经过慢速动电位扫描达到孔蚀电位时的表面形貌。从图1可以看出，添加咪唑啉季铵盐后，金属表面孔蚀变化情况为小孔增多，但蚀孔深度有所下降，金属的溶解量减少。 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271424_568111_2590289_3.png图1碳钢在含不同缓蚀剂的NaNO2+NaCl溶液中极化后的扫描电镜图2、未添加缓蚀剂时不同PH下碳钢表面孔蚀形貌不同pH条件下碳钢表面发生孔蚀时的表面形貌如图2所示。在pH =6.64时，蚀孔区域相对较集中，小孔周围覆盖有腐蚀产物，pH=10时试样表面蚀孔增多，但蚀孔一般较浅，蚀孔密集，有向全面腐蚀发展的趋势；pH=4时试验表面蚀孔区域与为发生孔蚀区域区分明显，孔蚀趋于多个连成一片，形成大的蚀坑。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271427_568114_2590289_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271427_568115_2590289_3.png图2不同pH条件下，碳钢在缓蚀剂溶液中的表面形貌3、 添加少量缓蚀剂时不同PH下碳钢表面孔蚀形貌当添加少量缓蚀剂时，不同pH条件下的孔蚀形貌变化如图3所示，与未添加咪唑啉季铵盐相比，试验表面在各个pH条件下小孔均有所增加，不同pH条件下的孔深变化情况基本与未添加咪唑啉季铵盐溶液体系保持一致。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271426_568112_2590289_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271426_568113_2590289_3.png图3添加少量缓蚀剂时，不同pH条件下的孔蚀形貌：(a)未调节pH；(b) pH =10；(c) pH=4 pH=7.02与pH=10时，试样表面小孔较多，且发生孔蚀的区域较大，当pH=4时，试样表面蚀孔明显减少，发生腐蚀区域较小，但是试样表面形貌变化较大，基本呈现坑蚀特征。4、缓蚀剂含量增加后，碳钢表面孔蚀形貌缓蚀剂含量增加后，不同pH条件下的孔蚀形貌变化如图4所示，与前两种体系相比：为确定pH条件下，体系蚀孔变浅，蚀孔数目相对于添加少量缓蚀剂时有减少，但仍比未添加咪唑时的蚀孔数目多；pH=10时，蚀孔数目明显减少，且深度变小；pH=4时，蚀孔深度和数目均减小，试验局部腐蚀得到明显的抑制。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271433_568116_2590289_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271433_568117_2590289_3.png图4缓蚀剂含量增加后，不同pH条件下的孔蚀形貌：(a)为调节pH；(b) pH =10；(c) pH=4

  • 微纳形貌分析利器——4D微纳形貌动态表征

    微纳形貌分析利器——4D微纳形貌动态表征

    科研史上前所未有的观测手段——数字全息可高速实时测量三维形貌，达到了亚纳米精度。克服了传统AFM、CLSM等需要扫描进行三维成像的特性。 表征透明/半透明三维形貌Ø 测量厚度从几纳米到几十微米Ø 可测最高三层透明薄膜Ø 测量薄膜折射率Ø 微纳器件动态三维形貌时序图（1000fps）， 还可测频率响应（高达25MHz） 主要应用北京大学 搭建平面应变鼓膜实验平台测量纳米薄膜的动态力学性能天津大学 微结构表面形貌和运动特性测量华中科技大学 微纳制造与测试，微小光学元件检测，微电子制造封装与测试清华大学 透射式全息显微镜，测量透明样品形貌，还可以测量材料光学参数、内部结构以及缺陷杂质等 • 超快速高精度的三维成像，大面积三维形貌表征，表面粗糙度，MEMS振动测量分析，表征微流体器件和微颗粒三维追踪测试配合MEMS Analysis Tool、光学反射软件Reflectometry Analysis等专用软件实现更多功能[img=,690,]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131349_01_1546_3.jpg[/img][img=,600,400]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131350_01_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131351_01_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131354_01_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131351_04_1546_3.gif[/img][img=,384,]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131358_01_1546_3.jpg[/img]

  • 微纳形貌分析利器——4D微纳形貌动态表征DHM

    微纳形貌分析利器——4D微纳形貌动态表征DHM

    科研史上前所未有的观测手段——数字全息DHM可高速实时测量三维形貌，达到了亚纳米精度。克服了传统AFM、CLSM等需要扫描进行三维成像的特性。 表征透明/半透明三维形貌Ø 测量厚度从几纳米到几十微米Ø 可测最高三层透明薄膜Ø 测量薄膜折射率Ø 微纳器件动态三维形貌时序图（1000fps）， 还可测频率响应（高达25MHz） 主要应用北京大学 搭建平面应变鼓膜实验平台测量纳米薄膜的动态力学性能天津大学 微结构表面形貌和运动特性测量华中科技大学 微纳制造与测试，微小光学元件检测，微电子制造封装与测试清华大学 透射式全息显微镜，测量透明样品形貌，还可以测量材料光学参数、内部结构以及缺陷杂质等 • 超快速高精度的三维成像，大面积三维形貌表征，表面粗糙度，MEMS振动测量分析，表征微流体器件和微颗粒三维追踪测试配合MEMS Analysis Tool、光学反射软件Reflectometry Analysis等专用软件实现更多功能[img=,600,400]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131410_01_1546_3.gif[/img][img=,690,]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131410_02_1546_3.jpg[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131410_03_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131410_04_1546_3.gif[/img]

  • 【求助】SEM中如何解决样品形貌对EDS信号产额的影响？

    今天有人问我SEM样品喷金对EDS的影响。我觉得金肯定会对低能信号产生明显吸收，这样定量结果就不可信。但是如果如果能看到信号，定性分析不会受太大影响。我对SEM经验很少，完全是根据TEM的经验这么说的。由此我想到另一个问题。如果样品表面起伏比较大，比如有个小山包，或者球形颗粒，那么背向EDS探头的一侧的信号是否会受明显影响？这种影响在定量分析中如何考虑？虽然软件里都有ZAF校正，但是那个只考虑样品内部对X光信号的影响，样品形貌千差万别，这个因素是无法预先设定的。我用TEM比较多，把样品朝EDS探头转动十多度可以有效避免样品内部对低能信号的吸收。形貌的影响不必考虑，因为TEM样品表面不会有太大起伏。形貌的因素可以忽略。但是在SEM里，这个因素好象不能轻易忽略。

  • AFM形貌图

    AFM形貌图

    下图是用AFM扫描得到的形貌图，但是形貌图上面的拉丝部分是什么造成的，并且背景区域差别很大，没有换针尖，但是扫描过很多次都是同一个现象；另外AFM拖尾现象是什么样的？[img=,690,553]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/10/201810131049573862_3327_3489127_3.png!w690x553.jpg[/img][img=,690,553]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/10/201810131049573862_3327_3489127_3.png!w690x553.jpg[/img]

  • 【分享】发几幅原子力显微镜与扫描声学显微镜的成像图片，感兴趣的可以看一下。

    【分享】发几幅原子力显微镜与扫描声学显微镜的成像图片，感兴趣的可以看一下。

    [img=321,361]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/06/201006151922_224731_2089405_3.jpg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/06/201006151923_224732_2089405_3.jpg[/img] [size=4]A[/size] [size=4] BPMN-PT光电晶体的原子力显微镜(AFM)形貌像(A)及对应的扫描探针声学像(B) 声学像显示铁电畴结构信息[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/06/201006151926_224733_2089405_3.jpg[/img] A BLiNbO3 人工晶体电畴结构的压电响应像(PFM)(A)和对应的SPAM像(B) PFM： 国际公认的用于观察电畴结构的一种方法 SPAM： 得到了与PFM相同的结果[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/06/201006151929_224734_2089405_3.jpg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/06/201006151929_224735_2089405_3.jpg[/img] A BLaSrMnO/LAO薄膜的的AFM形貌像(A)和对应的SPAM声学像(B) SPAM声学像清楚地显示了不同尺寸不同高度的晶粒分布[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/06/201006151949_224739_2089405_3.jpg[/img] A[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/06/201006151950_224740_2089405_3.jpg[/img] B非晶碳膜的AFM形貌像(A)和对应的SPAM声学像(B) (薄膜厚度100nm, 衬底是硅) SPAM像显示了“薄膜－衬底”界面处的缺陷[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/06/201006151952_224741_2089405_3.jpg[/img] A[img=456,360]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/06/201006151953_224742_2089405_3.jpg[/img] BBi4Ti2.985W0.015O12 电子陶瓷的AFM形貌像(A)和SPAM声学像(B)，SPAM声学像清楚地显示了晶粒、晶界、杂质集聚[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/06/201006152002_224748_2089405_3.jpg[/img] A[img=350,370]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/06/201006152002_224749_2089405_3.jpg[/img] BBi0.5(NaxK1-x)0.5）TiO3 电子陶瓷的AFM形貌像(A)和SPAM声学像(B) SPAM声学像显示了电畴结构信息篇幅所限，就不多传了！ [/size]

  • 孪晶界的腐蚀形貌分析

    http://bcs.duapp.com/emuchnet/2013/0729/w133h199107_1375086047_676.jpg材料为一种三元半导体化合物，材料为闪锌矿结构，空间点群为216，性质类似于HgCdTe。面心立方的孪晶为孪晶，符合西格玛3的重合位置点阵模型图中所示为孪晶的两个非共格孪晶界的腐蚀形貌。右边的孪晶界上有呈针叶状对称分布的黑线，孪晶界下侧有腐蚀坡的存在。其他区域的腐蚀形貌表明每条黑线代表一个蚀坑。左边的孪晶界上也有黑线的存在，但明显不呈对称性分布。孪晶界的左侧有腐蚀坡的存在。http://bcs.duapp.com/emuchnet/2013/0729/w133h199107_1375086439_707.jpg此图为上图的缩小图。下侧的孪晶界为上图中右边的孪晶界。上侧的孪晶界并未在上图显现出来，其下侧也有腐蚀坡的存在。想请教一下各位，（1）黑线可能代表什么位错呢？有没有可能是孪晶界上的错配位错？就好比不对称倾侧晶界两边的错配位错一样。（2）黑线为何在右边的孪晶界上呈对称性分布，而在左边的孪晶界却不呈对称性分布。已经证明这两条孪晶界都是非共格。（3）腐蚀坡是什么呢？为何不是都位于孪晶内部，而是这条孪晶界（图1中的右边的孪晶界）上位于基体，而平行于这条孪晶界的那一条孪晶界（图2中的上边的孪晶界）上却位于孪晶内部。（4）有没有类似形貌的腐蚀形貌。

  • 创新方法——超高速实时测3D形貌测量，样片展示

    创新方法——超高速实时测3D形貌测量，样片展示

    1、红细胞3D2、粗糙度表面形貌3、加热可降解材料的挥发4、石墨烯薄膜受力形变测量原理是全息术：CCD采集物光与参考光干涉形成的全息图包含了物体的相位信息，再实时数值重建3D形貌。优点：1、超高速大面积3D形貌非扫描实时成像，成像速率能做到1000fps 2、纵向能做到亚纳米分辨率 3、非接触成像，无损样品，无惧振动[img=红细胞3D,384,244]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710090950_01_1546_3.png[/img][img=表面形貌粗糙度测量,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710090950_02_1546_3.png[/img][img=加热可降解材料的挥发,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710090950_03_1546_3.gif[/img][img=石墨烯薄膜形变,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710090950_04_1546_3.gif[/img][img=微热板,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710090950_05_1546_3.gif[/img][img=液体透镜结构形变,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710090950_06_1546_3.gif[/img]

  • 微观看世界+磷酸铁锂粉形貌

    微观看世界+磷酸铁锂粉形貌

    看到有人发电池材料的相关照片，我也发几张磷酸铁锂粉的形貌像仪器型号：TESCAN VEGA 3 LMU 钨灯丝电镜测试条件：见照片信息栏10kV加速电压下的形貌：http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/09/201409170858_514116_2054130_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/09/201409170858_514117_2054130_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/09/201409170858_514118_2054130_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/09/201409170858_514119_2054130_3.jpg3kV加速电压下的形貌：http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/09/201409170901_514120_2054130_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/09/201409170901_514121_2054130_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/09/201409170901_514122_2054130_3.jpg

  • 【原创】为什么在腐蚀样品的时候，有时候显示枝晶形貌，而有时为晶界形貌？

    我最近采用一种腐蚀溶液，对一个钢材进行腐蚀，可是相同的样品，并采用相同的腐蚀剂，腐蚀时间也基本相同，在显微镜下看，有几个试样显示枝晶形貌，而有另外几个试样显示的确实晶粒的形貌？这是为什么啊？谁能从金属学角度帮我解释一下，枝晶和晶粒之间的关系啊？在腐蚀的时候，达到什么条件，显示枝晶，什么条件显示的是晶粒啊？？。。。。不知道说明白了没？谢谢各位大牛了.

  • AFM 形貌图

    AFM 形貌图

    [img=原子力显微镜形貌图,690,299]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/02/201902131040260712_6929_728_3.png!w690x299.jpg[/img]

  • 创新方法——超高速实时测3D形貌测量，样片展示

    创新方法——超高速实时测3D形貌测量，样片展示

    1、红细胞3D2、粗糙度表面形貌3、光敏聚合物受光形变4、石墨烯薄膜受力形变测量原理是全息术：CCD采集物光与参考光干涉形成的全息图包含了物体的相位信息，再实时数值重建3D形貌。优点：1、超高速大面积3D形貌非扫描实时成像，成像速率能做到1000fps 2、纵向能做到亚纳米分辨率 3、非接触成像，无损样品，无惧振动[img=,384,244]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710091001_01_1546_3.png[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710091001_02_1546_3.jpg[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710091001_03_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710091001_04_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710091001_05_1546_3.gif[/img]

  • 紧急求救:扫描电镜观察块状固体的晶体形貌时遇到的问题

    前两天,发现用扫描电镜做块状固体的晶体型貌时,选用背散射电子,但是很难观察到"晶体"形貌,后检查发现,当使用背散射电子观察晶体形貌时,操作盘的CONTRAST控制键失效,BRIGHT控制键有效,当使用二次电子观察"表面"形貌时,两控制键都有效,这使得我们不能观察晶体形貌.请问各位有何解决办法?谢谢!

  • 【原创】分享疲劳条纹形貌

    【原创】分享疲劳条纹形貌

    最近工作中偶得一组疲劳条纹和二次裂纹的形貌，觉得有点意思，发出来与大家共享。1 疲劳条纹形貌扩展方向由下至上，扩展成扇形，一圈一圈的，每遇到受力状态发生变化，便会重新形成扇形条纹。[img=middle]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/04/201004190913_213111_1633980_3.jpg[/img]2 二次裂纹扩展方向由下至上，每遇到受力状态发生变化便会转向，呈锯齿状。[img=middle]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/04/201004190915_213112_1633980_3.jpg[/img]

  • 【讨论】Al的腐蚀形貌分析

    【讨论】Al的腐蚀形貌分析

    这是两个Al在NaCl溶液中的腐蚀形貌在NaCl中腐蚀一段时间后洗去腐蚀产物做的sem第一个样品可以明显的看到腐蚀晶界，可是第二个形貌却大相径庭请高手指点一下怎么回事啊[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/08/200808231001_105428_1637724_3.jpg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/08/200808231001_105430_1637724_3.jpg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/08/200808231002_105431_1637724_3.jpg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/08/200808231002_105432_1637724_3.jpg[/img]

  • 【求助】沉淀相形貌观察

    对于一些固态相变析出的第二相，如何根据其在照片中的特征确定其三维形貌？plate，needle，rods在某个方向观察效果是一样。如何确定他们的 差别呢？

  • 【求助】关于AFM形貌图转化为ASCII后的数据问题

    小弟最近需要将AFM形貌图转化为ASCII形式输出后进行处理（不是造假），我得图片最早是用nanoscopeIII做的，用自带的nanoscopeIII软件转化后得到的文件用记事本或者origin打开后就是一堆数据，根本看不懂哪些是x,y,z下面是我得一些图片（见附件）：

  • AFM表征球面形貌！！！！！

    有没有人用AFM表征过球面形貌，如直径2-3mm的钢球、红宝石球，Si3N4球。做的过程中需要注意些什么？请各位大虾指导！

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