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高分辨率数字波前分析仪

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高分辨率数字波前分析仪相关的仪器

  • 紧凑型高分辨率 NMR为化学教育和化学分析的所有普通应用提供经济型 NMR。Fourier 300 使人人均可使用 NMR。它以极其小巧的体型、较轻的重量以及最重要的是最低成本,提供强劲性能。利用其全新的强大探测技术和独特的按钮式电源开关概念,该产品十分易于安放和操控。Fourier 300 由 NMR 市场的全球领先者设计并制造,从行业标准操作软件 TopSpin? 中获益匪浅。因而,为化学教育和化学分析提供了理想的解决方案。 功能紧凑型高分辨率 NMR 光谱仪化学教育和分析的理想选择行业标准 NMR 软件 TopSpin极具成本效益易于操控和安放常规和先进 NMR 技术包括 COSY、NOESY、HSQC、HMBC技术细节数字 RF 300 MHz NMR 光谱仪成熟的屏蔽超导磁铁功能强大的全新 FOURIER 1H/13C 探头极小的安放空间台式电子柜(35 x 60 厘米)氘数字锁可变样本温度控制简易 2D 的 Z 型梯度,填隙低噪音核磁共振 (NMR)适用于生命科学和材料研究应用的 NMR 解决方案与分析仪核磁共振光谱仪可用于研究分子结构、各种分子、动力学或分子动力学之间的相互作用、生物混合物的组成或合成解决方案或复合材料。活性分子大小各异——从小型有机分子或代谢物到中型肽或天然产品,直到分子重量达数十 kDa 的蛋白质。NMR 与其他结构和分析技术相辅相成,例如 X 射线、结晶学和质谱分析法。NMR 的优点在于其具备独特的能力,允许对液态和固态分子进行无损和定量研究,并允许研究生物体液。Bruker NMR 产品系列包括 Fourier、NanoBay、AVANCE 和 DNP-NMR 光谱仪,以及 JuiceScreener、WineScreener 和 Metabolic Profiler 等专用系统。
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  • SYNAPT XS高分辨率质谱仪没有研究,就制定的决策,容易是盲目的在科研领域,研究进展缓慢和成本不断上升俨然已成为一项挑战。SYNAPT XS质谱仪具有极致灵活性,可提供更大的选择自由度,能够打破这些壁垒,支持任何应用的科学创新和技术成功。 • 创新技术作为基石,提供最优异的分析性能• SONAR和HDMSE提供一套独特的工具包,用于解析复杂混合物• 离子淌度功能大大增加了峰容量和分析选择性• CCS测量可提高化合物鉴定的准确性创新技术提供最优异的分析性能凭借沃特世高级质谱“SELECT SERIES”传承下来的技术基石,内置先进的创新技术,确保使用该平台的科学家处于质谱分析的最前沿,同时维持SYNAPT的易用性和成熟的客户端工作流程。StepWave XS重新设计的分段四极杆传输光学元件,提升棘手化合物的分析灵敏度,同时进一步提高分析稳定性。Extended ToF 针对最复杂的样品,提供兼容UPLC的质量分辨率、耐受各种基质的动态范围和定量分析结果,同时提供卓越的性能指标。更大的分析选择自由度为有效解决固有难题,分析人员对各种分析策略的需求不断增加,因此,SYNAPT XS将高性能与极致灵活性相结合。竞争对手的系统大多存在入口选项有限、扫描功能局限性或需要多个平台等问题。与之相比,只有沃特世能够提供全方位的高性能LC-MS解决方案,该方案经过专门设计,能够提供更大的分析选择自由度以支持科学研究。SONAR和HDMSE提供了一套独特的工具包,用于解析复杂混合物完整的分析策略需要结合适当的互补技术才能得到更全面的数据信息。借助SYNAPT XS上基于SONAR和IMS的非数据依赖型采集(DIA)操作模式,分析人员能够利用互补机制,以独一无二的方式解析复杂混合物。两种类型的采集均提高了分析峰容量,提供“清晰明了”的碎片数据,但它们基于不同的分子特性。这提供了一种真正独有的研究工具包,适用于深入解析复杂混合物。离子淌度和CCS测量传统质谱仪基于m/z分离组分。SYNAPT XS还支持在离子淌度实验中,使用分子大小、形状和电荷作为其碰撞截面(CCS)的函数,对分子进行分离。 除离子淌度能提供额外的分离维度、增加峰容量和分析选择性以外,CCS测量还可提供额外的分子标识。离子CCS的测量结果有助于确定离子名称或研究其结构。运用离子淌度技术,显著提高了科学家分析复杂混合物和复杂分子的范围和可信度。CID与ETD碎裂功能TriWave的双碰撞室结构可进行碰撞诱导解离(CID)和/或电子转移解离(ETD)碎裂,且分辨率高、质量测定准确,能够拓展MS/MS检测能力。 高解析度四极杆包括4 KDa、8 KDa或32 KDa质量数范围,适用于从小分子到大分子的MS/MS分析TAP碎裂时间校准平行(TAP)碎裂是T-Wave IMS设计所独有的采集模式。它使用户能够利用TriWave配置,允许将IMS前T-Wave和IMS后T-Wave作为两个单独的碰撞室运行。得到的CID-IMS-CID仪器操作有助于对组分进行超高可信度的结构表征。TAP碎裂与传统MSn或MS/MS技术相比,具备卓越的碎片离子覆盖率、灵敏度和准确性,在构建完整结构方面有着不容置疑的优势。
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  • 国内首推科学级制冷型高分辨率ICCD 相机,在像增强器与科研制冷型的CCD相机之间,采用高分辨率的镜头耦合方式耦合成像, 获得60lp/mm 空间高分辨率,实现对高分辨率成像或高分辨瞬态光谱采集。 ● 科学级制冷型ICCD● 18mm口径二代高效像增强器● 宽光谱响应范围:S20:200-850nm & S25R:400-1100nm● 光学快门: 3ns● 延迟与门控调节精度:10ps● 阴极门控*高外同步频率 300KHZ ● 内置时序控制器DDG● 高空间分辨率:Std 50lp/mm,Option :60lp/mm● CCD芯片: 高分辨2750*2200像素阵列● 位深: 16bit● 制冷温度: -10℃ @ 风冷● 配合高分辨光谱仪实现瞬态光谱采集● 专业化数据采集控制软件独特亮点制冷型ICCD-10度芯片制冷温度,有效减低芯片暗噪声,安静读出超快光学门宽3ns 阴极光学门宽,实现**测量内置DDG内置精度10ps 门控与延迟控制发射器,方便随心控制自动步进STEP延迟和门控自动Step 步进功能,一键完成时间分辨光谱采集高空间分辨率高空间分辨率像增强器及镜头耦合,获得60lp/mm 空间分辨IOC 模式300kHZ阴极快门外同步频率,IOC 芯片累积模式提升信噪比Binning and ROI实现芯片FVB Binning以及 多通道光谱同时采集专业化软件采集控制&光谱仪控制,数据处理专业化界面,简单快捷ICCD像增强型高分辨率相机技术参数 CCD相机像素阵列2750*2200阵面尺寸12.48*9.98mm (15.972 mm Diag.)像素大小4.54um*4.54um传感器类型CCD Sensor读出噪声5e-暗电流0.02e- / pixel / s @-10℃位深16bitBining& ROIFVB: 垂直方向全Binning光谱模式& 多通道 ROI及FVB数字接口UBS2.0像增强器MCP光阴极S20BS25R有效口径18mm18mm光谱范围200-850nm400-1100nm峰值量子效率20% @440nm22%@720nm等效噪声(EBI) 2 x 10-7 lux @ 20 °C ± 2 °C 5 x 10-7 Lux光子增益1*1041.4*104荧光屏P20 /P43P43空间分辨率标准:50lp/mm ; 高分辨率选项: 60lp/mm光学门控宽度3ns (Mesh)Fast10ns, Slow 100ns内部DDG 控制延迟和门宽调节范围0-10s延迟和门宽调节精度10ps同步接口外触发输入,触发输出,直接触发输入(Direct gate)触发信号触发阈值 1-5V, 阻抗50欧姆,抖动100ps触发固有延迟40ns @ Direct gate , 120ns@ Ext外触发*增强器光阴极量子效率曲线型号选择SIC: Scientific Intensified Camera● 18/25 18或25m 口径增强器● U/F/S Ultrfast gate =3ns , Fast gate 10ns, Slow gate: 100ns● UV/VN:UV-VIS 200-900nm;VIS-NIR : 400-1100nm● 6M/4M : 600万像素 CCD 2750*2200 400万像素sCMOS 2048*2048● L/F: L高分辨镜头耦合 F 高通量光纤面板耦合 ICCD像增强型高分辨率相机常见型号列表
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  • Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR产品负责人:姓名:沈工(Max)电话:(微信同号)邮箱:【Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR简介】随着光波波前探测技术的发展,各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类:一类是根据几何光学原理,测定波前几何像差或面型误差,主要有Shack-Hartmann 波前传感器,曲率传感器和Pyramid 波前传感器等;另一类是基于干涉测量原理,探测波前不同部分的干涉性,来获取波前信息,主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜 它们结构简单,抗干扰能力强,条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。作为低可至波长250 nm的高分辨率波前传感器,Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR非常适合于紫外光学测量,包括用于光刻或半导体应用紫外激光表征,以及透镜和晶圆的表面面型检测。【关于Phasics】Phasics是一家专注于高分辨率波前传感技术的法国公司。Phasics公司凭借其在测量方面的专业经验与独特的波前测量技术为客户提供全面的高性能波前传感器。 一、Phasics高分辨率紫外波前传感器/ 波前分析仪SID4-UV-HR主要特点低至190nm波长感光灵敏1 nm RMS高相位灵敏度355 x 280超高相位取样分辨率二、SID4-UV-HR 波前传感器产品功能波前像差测量基于四波剪切技术,Phasics 的波前传感器同时提供具有无与伦比的高分辨率的相位和强度测量。 波前传感器与其光束分析软件相结合,可提供完整的激光诊断:波前像差、强度分布、激光光束质量参数(M2、束腰尺寸和位置等)。Phasics 的波前分析仪可以放置在光学装置的任何一点,无论光束是准直的还是发散的。作为低可至波长250 nm的高分辨率波前传感器,SID4-UV非常适合于紫外光学测量,包括用于光刻或半导体应用紫外激光表征,以及透镜和晶圆的表面面型检测。 三、Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR应用领域紫外光学测量| 光刻或半导体应用紫外激光表征| 透镜和晶圆的表面面型检测| 自适应光学四、Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR主要规格波长范围190 - 400 nm靶面尺寸13.8 x 10.88 mm2空间分辨率38.88 μm取样分辨率355 x 280相位分辨率1 nm RMS绝对精度10 nm RMS取样速度30 fps实时处理速度 3 fps (全分辨率下)*接口种类CameraLink五、更多参数选型
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  • Phasics大口径超高分辨率波前传感器SID4-UHR产品负责人:姓名:沈工(Max)电话:(微信同号)邮箱:【Phasics大口径超高分辨率波前传感器SID4-UHR简介】Phasics大口径超高分辨率波前传感器SID4-UHR可用于光学计量需求。它结合了SID4的易于光路搭建的特点,并拥有超高分辨率及相位精度。 Phasics大口径超高分辨率波前传感器/波前分析仪SID4-UHR的大口径传感器靶面可以实现对整个被测样品的实时波前测量。 Phasics大口径超高分辨率波前传感器SID4-UHR的产品特性使其非常适用于表面面型的检查(表面粗糙度、高频率波前像差及表面缺陷检测等)和光学组件的表征(镜头、物镜、非球面和自由曲面光学等)。 Phasics大口径超高分辨率波前传感器SID4-UHR搭载高性能相机,也可提供无与伦比的激光表征精度。 高达512 x 512(可选高至666 x 666)相位取样分辨率使SID4-UHR成为研究和工业领域中用于光学和激光计量的高性能工具。【关于Phasics】Phasics是一家专注于高分辨率波前传感技术的法国公司。Phasics公司凭借其在测量方面的专业经验与独特的波前测量技术为客户提供全面的高性能波前传感器。一、 Phasics大口径超高分辨率波前传感器SID4-UHR主要特点l 超高分辨率 512 x 512l 超大靶面分析尺寸: 15 x 15 mm2l 自消色差 非准直光入射 消色差二、Phasics大口径超高分辨率波前传感器SID4-UHR产品应用应用领域:激光行业| 自适应光学及等离子体检测| 光学元件及光学系统计量| 微观材料检测 激光行业 等离子体检测 光学元件及光学系统计量 微观材料检测三、Phasics大口径超高分辨率波前传感器SID4-UHR测量案例| 自适应光学 | 等离子体检测 四、Phasics大口径超高分辨率波前传感器SID4-UHR主要规格波长范围400-1100 nm靶面尺寸15 x 15 mm2空间分辨率29.6 μm取样分辨率512 x 512相位分辨率2 nm RMS绝dui精度15 nm RMS采集速率8 fps实时处理速度1 fps (全分辨率下)五、波前传感器更多参数选型
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  • 高分辨率激光干涉仪 400-860-5168转2831
    高分辨率激光干涉仪所属类别: ? 光学/激光测量设备 ? 波前分析仪 所属品牌:法国Phasics公司 产品简介高分辨率激光干涉仪便携式、高分辨率、高动态范围激光干涉仪! 法国Phasics公司超分辨剪切干涉仪(High-resolution Interferometer)是一款便携式、高灵敏度、高精度的波前分析仪。法国Phasics公司超分辨剪切干涉仪基于波前分析的四波剪切干涉技术,与传统干涉仪相比较具有结构紧凑,使用方便,无需标准件,优秀的检测稳定性,直接测量任意的波前、高分辨率(300x400采样点),3D显示等优点。 关键词:干涉仪、激光干涉仪、球面干涉仪、激光平面干涉仪、干涉光刻、传函仪、白光干涉仪、Zygo、波前分析仪、波前传感器、迈克尔逊干涉仪、便携式干涉仪、光学传函仪法国Phasics公司超分辨激光干涉仪基于便携式、高灵敏度、高精度波前分析仪。该激光干涉仪采用四波剪切干涉专利技术,与传统干涉仪相比较具有结构紧凑,使用方便,无需标准件,优秀的检测稳定性,直接测量任意的波前、高分辨率(300x400采样点)、激光波长覆盖400-1100nm、消色差、高动态范围(500um)等优点。 法国Phasics公司超分辨剪切干涉仪可用于激光波前检测、激光强度检测、等离子体密度检测、透镜检测、高功率激光自适应、光刻机检测、精密光学元器件检测、光学系统装调、镜头模组检测、传递函数(MTF)检测等。法国Phasics公司超分辨剪切干涉仪并可实时检测为客户提供最优化的数据支持。 产品特点:1、直接测量、无需标准件 图一、检测光路 2、高灵敏度(是普通白光干涉仪的8.4倍)、对振动不敏感 图二 与传统的干涉仪检测结果对比3、三维立体显示 图三、波前三维检测视图4、实时显示泽尼克系数 图四、多阶泽尼克显示界面5、传递函数(MTF)检测 图五、传递函数检测界面 干涉仪应用领域: ? 激光光束性能、波前畸变、M^2、强度等的检测 ? 红外透镜检测? 激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统波前像差检测? 光刻机物镜检测? 大口径高精度光学元器件检测? 透镜、镜头模组检测? 传递函数测量? 等离子体密度检测? 高功率激光自适应 产品系列: 相关产品 超高速液晶空间光调制器 PHASICS波前分析仪/波前传感器/波前相差仪/波前探测器
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  • 1920x1152高分辨率液晶空间光调制器(衍射效率:88%!)所属类别: 调制器--空间光调制器 所属品牌:美国Meadowlark optics公司 产品简介1920 x 1152高分辨率液晶空间光调制器! 1920 x 1152高分辨率纯相位液晶空间光调制器! 1920x1152高分辨率液晶空间光调制器(LC_SLM)是美国Meadowlark Optics公司2016年推出的一款产品。该款空间光调制器(SLM)具有分辨率高、大面阵(17.7x10.6 mm)、高填充因子(95.7%)、高衍射效率(88%)、高刷新速率(868Hz)、相位调制稳定性好(1%)等特点。 空间光调制器、纯相位空间光调制器、SLM、液晶空间光调制器、反射式空间光调制器、空间光调制器价格、调制器、相位调制器 液晶空间光调制器的英文名称是Spatial light modulator,即SLM,是一类能将信息加载于一维或两维的光学数据场上,可利用光的固有速度、并行性和互连能力的器件,SLM能够实时对二维空间的像素点进行单独的的位相、光强进行调制。 1920x1152高分辨率液晶空间光调制器(LC_SLM)是美国Meadowlark Optics公司2016年推出的一款高分辨相位调制型SLM产品。这款空间光调制器是基于LCOS(Liquid Crystal on Silicon)技术的反射型光调制器。LCOS技术通过精确的控制电压信号控制液晶的旋转角度及旋转的速度,最终可以实现位相的精确调制。1920x1152高分辨率液晶空间光调制器采用扭曲向列液晶材料,利用扭曲向列液晶的双折射效应,实现了对光束的波前调制。Meadowlark Optics调制器具备多项专利设计,在光能利用率、像素串扰、位相调制的线性度等方面的技术都处于世界领先行列,可实现纯位相调制、位相振幅混合调制。光路搭建方便! 图1. 液晶取向与加载电压示意图 图2. Meadowlark空间光调制器光路图 主要特点:? 空间分辨率高(1920 x 1152)? 大面阵(17.7x10.6 mm)? 高填充因子(95.7%)? 高衍射效率(88%)? 高刷新速率(868Hz)? 相位调制稳定性好( 0.1%)? 400-1620nm宽波段选择 图3. Meadowlark SLM 与其他品牌SLM位相纹波比较 主要应用领域: 光学操纵激?? 显微成像? 成像&投影? 光束分束? 相位调制? 光学镊子? 全息投影等 产品主要参数: 相关产品 超高速DMD数字微镜阵列 PHASICS波前分析仪/波前传感器/波前相差仪/波前探测器 ALPAO 可变形镜 1um 中高功率飞秒激光器(20~400mW)
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  • WALLIS是专用于Zeta电位仪WALLISζ是一种创新的zeta电位仪,专门用于表征纳米颗粒悬浮液。它基于重新审视的现代版激光多普勒电泳(LDE)技术,提供独特且无与伦比的测量分辨率。它是Cordouan的VASCO粒度分析仪的补充,用于研究胶体溶液的稳定性和性质。Zeta电位仪是胶体悬浮液的基本性质。基本上与浸没在溶剂中的颗粒表面上附着的电荷数密切相关。因此,通过诸如双电层(EDL)的物理模型所描述的非常复杂的方式,zeta电位仪与颗粒-颗粒相互作用和配方稳定性相关联。zeta电位仪的主要优势?没有电渗效应---消除了测量中的假峰?改进型LDE技术(LDE)---高效,可靠和简单?增强的分辨率---比通常的相关器技术好10倍?高分辨率测量---准确且可重复的zeta电位分析?易于使用和直观的图形用户界面软件(GUI)---交钥匙操作?用于长寿命电极的新材料---减少维护和消耗 成本效益好?专为标准一次性比色杯和石英比色杯设计---易于填充 ?分辨率比流行的电泳光散射法提高10倍;Zeta电位仪的技术参数Zeta电位仪范围 :-500 mV至500 mV 电泳迁移率范围:10-10 - 10-7 m2/ Vs适用粒径范围(用于zeta测量): 1纳米至100微米样品浓度 :0.0001%至10%W/%(取决于溶剂)样品池内的温度控制范围 :10°C至70°C +/- 0.1°C(取决于比色杯样品池材料)样品池选项 :具有光学质量窗口的比色杯样品池,与有机溶剂兼容样品量: 通常750μL(Hellma样品池 - 10 mm光程)zui大样品电导率: 300 mS/cm样品类型: 水和有机溶剂 - pH:1-14(取决于比色杯样品池材料)zeta电位仪的信号处理测量技术: 激光多普勒电泳(LDE)激光源:高可靠性20mW二极管激光器@ 635 nm,带自动光衰减系统。可根据要求提供其它波长激光器测量角度 :在17°单角检测zeta电位数据处理算法: 快速傅立叶变换分辨率: 流态迁移率 = 10-10m2/ Vs,或 Zeta = 0.1 mV(在水相)探测器 :雪崩式光电二极管 - APDzeta电位仪的常规参数电脑接口: USB 2.0 - Windows XP,Win 7外形尺寸: 33厘米 x 33厘米 x 38厘米(HWD)重量: 16公斤功率: 100-115 / 220-240 VAC,50/60 Hz,zui大100 Wzeta电位仪的系统标准CE认证: CE标志产品 - I类激光产品,EN 60825-1:2001,CDRHISO标准 ISO :13099-2:2012 - 胶体系统 - zeta电位测定方法第2部分:光学方法
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  • WALLIS是专用于Zeta电位仪WALLISζ是一种创新的zeta电位仪,专门用于表征纳米颗粒悬浮液。它基于重新审视的现代版激光多普勒电泳(LDE)技术,提供独特且无与伦比的测量分辨率。它是Cordouan的VASCO粒度分析仪的补充,用于研究胶体溶液的稳定性和性质。Zeta电位仪是胶体悬浮液的基本性质。基本上与浸没在溶剂中的颗粒表面上附着的电荷数密切相关。因此,通过诸如双电层(EDL)的物理模型所描述的非常复杂的方式,zeta电位仪与颗粒-颗粒相互作用和配方稳定性相关联。zeta电位仪的主要优势?没有电渗效应---消除了测量中的假峰?改进型LDE技术(LDE)---高效,可靠和简单?增强的分辨率---比通常的相关器技术好10倍?高分辨率测量---准确且可重复的zeta电位分析?易于使用和直观的图形用户界面软件(GUI)---交钥匙操作?用于长寿命电极的新材料---减少维护和消耗 成本效益好?专为标准一次性比色杯和石英比色杯设计---易于填充 ?分辨率比流行的电泳光散射法提高10倍;Zeta电位仪的技术参数Zeta电位仪范围 :-500 mV至500 mV 电泳迁移率范围:10-10 - 10-7 m2/ Vs适用粒径范围(用于zeta测量): 1纳米至100微米样品浓度 :0.0001%至10%W/%(取决于溶剂)样品池内的温度控制范围 :10°C至70°C +/- 0.1°C(取决于比色杯样品池材料)样品池选项 :具有光学质量窗口的比色杯样品池,与有机溶剂兼容样品量: 通常750μL(Hellma样品池 - 10 mm光程)zui 大样品电导率: 300 mS/cm样品类型: 水和有机溶剂 - pH:1-14(取决于比色杯样品池材料)zeta电位仪的信号处理测量技术: 激光多普勒电泳(LDE)激光源:高可靠性20mW二极管激光器@ 635 nm,带自动光衰减系统。可根据要求提供其它波长激光器测量角度 :在17°单角检测zeta电位数据处理算法: 快速傅立叶变换分辨率: 流态迁移率 = 10-10m2/ Vs,或 Zeta = 0.1 mV(在水相)探测器 :雪崩式光电二极管 - APDzeta电位仪的常规参数电脑接口: USB 2.0 - Windows XP,Win 7外形尺寸: 33厘米 x 33厘米 x 38厘米(HWD)重量: 16公斤功率: 100-115 / 220-240 VAC,50/60 Hz,zui大100 Wzeta电位仪的系统标准CE认证: CE标志产品 - I类激光产品,EN 60825-1:2001,CDRHISO标准 ISO :13099-2:2012 - 胶体系统 - zeta电位测定方法第2部分:光学方法
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  • PHASICS波前分析仪/波前传感器/波前相差仪/波前探测器关键词:分析仪,PHASICS波前分析仪,波前传感器,波前像差仪、传感器、波前测试仪、波前探测器、激光波前分析仪、哈特曼波前分析仪、虹膜定位、哈特曼波前传感器、波前象差、高分辨率波前分析仪、波前测量仪、激光光束及波前分析仪、夏克 哈特曼、镜头MTF法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简单等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析,眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案!PHASICS波前探测器配套的软件界面友好,可直观的输出高分辨率相位图和光束强度分布图。 法国PHASICS波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力,能为客户提供的各种自适应光学系统OA-SYS(Adaptive Optics Loops),制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求,为客户推荐最合适的SID4波前传感器、可变形镜或空间光调制器、自适应光学系统操作软件等。图1 波前校正前与校正后对比 PHASICS波前探测器依据其四波横向剪切干涉专利技术,对哈特曼掩模技术进行了大的升级、改进。PHASICS波前传感器将400X300的超高分辨率和500um的超大动态范围完美结合在了一起。可以满足不同的客户的应用需求,可对激光光束进行光强、位相、PSF(点扩散函数)、MTF(调制传递函数)、OTF(光学传递函数)、波前像差、M^2等进行实时、简便、快速的测量。 第一部 产品介绍 SID4 UV-HR高分辨紫外波前传感器PHASICS公司将 SID4的波前测量波长范围扩展到190nm-400nm。SID4 UV-HR是一款适用于紫外波段的高分辨率波前传感器,非常适用于光学元件测量(例如印刷、半导体等等)和表面检测(半导体晶片检测等)。特点:u 高分辨率(250x250)u 通光孔径大(8.0mmx8.0mm)u 覆盖紫外光谱u 灵敏度高(0.5um)u 优化信噪比 图2 SID4-UV波前分析仪 SID4 波前传感器可用于400nm-1000nm 的激光的波前位相、强度分布,波前像差,激光的M2,泽尼克参数等进行实时的测量及参数输出。特点:? 波长范围:400-1100nm? 分辨率高(160x120) ? 消色差 ? 测量稳定性高 ? 对震动不敏感 ? 操作简单 ? 结构紧凑,体积小 ? 可用笔记本电脑控制 图3 SID4位相检测 SID4-HR 波前相差仪可用于检测各种透镜,光学系统的检测,可以对透镜、光学系统的进行实时的PSF(点扩散函数)、MTF(调制传递函数)、OTF(光学传递函数)、波前像差测量及参数输出。相对于传统的透镜检测设备像:传函仪、干涉仪,具有操作简便,测量精度高,参数输出方便等优点,正在被越来越多的客户推崇。特点:u 波长范围:400-1100nmu 高性能的相机,信噪比高u 实时测量,立即给出整个物体表面的信息(120000个测量点)u 曝光时间极短,保证动态物体测量u 操作简单 图4 SID4-HR图5 SID4-HR传递函数检测 SID4 NIR 波前分析仪主要针对1550 nm(1.5um-1.6um)激光的检测,具有分辨率高高灵敏度、高动态范围、操作简便等独特的优势。可用于光学测量,SID4 NIR是测量红外物体和红外透镜像差、PSF、MTF和焦距及表面质量的理想工具。特点:2 高分辨率(160x120) 2 快速测量 2 性价比高 2 绝对测量 2 对振动不敏感 图6 SID4 NIR激光波前检测 SID4 DWIR 波前仪具有宽波段测量的特点。可以实时的检测3-5um 和8-14um的波前位相,强度分布等响应的波前信息。可以很好的满足红外波段客户的波前检测需求。特点:u 光学测量:SID4 DWIR是测量红外物体特性(热成像和安全视觉)或红外透镜(CO2激光器)的理想工具,输出结果包括MTF,PSF,像差,表面质量和透镜焦距。 u 光束测量:(CO2激光器,红外OPO激光光源等等)SID4 DWIR提供详尽的光束特性参数:像差,M2,光强分布,光束特性等u 高分辨率(96x72) u 可实现绝对测量u 可覆盖中红外和远红外波段 大数值孔径测量,无需额外中转透镜 u 快速测量 对振动不敏感 u 可实现离轴测量 u 性价比高 图7 SID4 DWIR SID4产品型号参数汇总型号SID4SID4-HRSID4 UV-HRSID4 NIRSID4 DWIRSID4-SWIR孔径尺寸(mm2)3.6 x4.88.9 x11.88.0 x8.03.6x4.813.44x10.089.6x7.68空间分辨率(um)29.629.63229.6140120测量点数160x120300x400250x250160x12096x7280X64波长范围350-1100 nm350-1100 nm190-400 nm1.5-1.6μm3-5μm 8-14μm0.9- 1.7μm精准度10nm RMS10nm RMS10nm RMS15nm RMS75nm RMS10nm RMS动态范围100μm500μm200um100μm/~100μm采样速度60 fps10 fps30 fps60 fps50 fps60fps处理速度10fps3 fps1fps10fps20 Hz10Hz 第二部 SID4波前分析仪控制软件 SID4波前分析仪控制软件SID4波前分析仪控制软件与SID4 波前传感器配套提供的是一款完整的分析软件,其集成了高分辨率的相位图与强度分布图,测量光强分布和波前信息。借助Labview和C++ 可编程模块数据库(软件二次开发工具包),客户能够根据自身的需要编写各种相位测量与编译模块。Adaptive Optics Loops将SID4 Wavefront Sensor结合您的应用,选配合适的可变形镜或相位调制器,提供整套的自适应光学系统。减小任何一个光学系统的相差从来都不是简单的,我们的产品能为激光光束和成像系统带来更可靠,高精度的解决方案。图8 SID4控制界面SID4光学测量软件KaleoPhasics基于剪切干涉的波前传感器与专门设计的光学测量软件Kaleo结合,可以测量球面镜和非球面镜的像差及MTF等信息。只需要几秒钟,我们的仪器为您呈现绝大部分的光学参数,如焦距,光腰,MTF,像差,Zernike系数,曲率半径,PSF等。 第三部 SID4波前分析仪与传统哈特曼波前分析仪比较 与传统哈特曼波前传感器测量结果对比: 技术参数对比:PHASICSShack-Hartmann区别技术剪切干涉微透镜阵列PHASICS投放市场时,已经申请技术专利,是对夏克-哈特曼技术的升级重建方式傅里叶变换分区或模式法夏克-哈特曼波前探测器,局域导数以微透镜单元区域的平均值来近似,误差大强度对强度变化不敏感对强度变化灵敏PHASICS测量精度高,波前测量不依赖于强度水平校准用针孔校准、方便快捷安装困难,需要精密的调节台PHASICS使用方便取样点SID4-HR达300X400测量点128X128测量点(多个微透镜)PHASICS具有更高的分辨率数值孔径NA:0.5NA:0.1PHASICS动态范围更高分辨率29.6μm115μmPHASICS具有更高的空间分辨率测量精度2nm RMS5nm RMSPHASICS更好的测量精度获取频率60fps30fpsPHASICS获取速度快处理频率10Hz30HzPHASICS可满足大部分处理要求消色差无需对每个波长进行校准需要在每个波长处校正PHASICS更灵活,可以测试宽波段,而不需要校准 第四部 应用领域 ? 激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统波前像差检测? 激光光束性能、波前像差、M^2、强度等的检测? 红外、近红外探测? 平行光管/望远镜系统的检测与装调? 卫星遥感成像、生物成像、热成像领域? 球面、非球面光学元器件检测 (平面, 球面, 透镜)? 虹膜定位像差引导? 大口径高精度光学元器件检测? 激光通信领域? 航空航天领域OKO 可变形镜数字波前分析仪XY系列向列液晶空间光调制器XY系列铁电液晶空间光调制器
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  • BOSA系列高分辨率光学频谱仪简介光通讯领域的新进展要求对相关信号、元器件和子系统进行更精密的表征测量。以足够的分辨率测量光学频谱是性能测试及确保兼容与合规所必须的。Aragon Photonics Labs 生产的、多用途的高分辨光学频谱分析仪BOSA 系列。技术Aragon Photonics 全光学技术 采用受激布里渊散射(stimulated Brillouin scattering, SBS) 之非线性效应所导致的窄带滤波效应。通过采用一台外腔式可调谐激光器(TLS) 来泵浦SBS,滤波器沿感兴趣的频率范围扫描,得到高分辨率的光学频谱。相对于被动滤波器, SBS 增益提高了动态范围,同时,SBS 的阈值特性消除了所有外差式OSA 本振边带及线型杂讯导致的人为误差,在提供高分辨率的同时达到无杂讯信噪比。基于SBS 核心技术,Aragon 发展了光学频谱之偏振和位相测量的独到解决方案,提供全面的光信号表征手段。软件功能与特性 峰值分析功能:一秒解析频率梳并导出为ASCII 文件。 OSNR 测量应用:设定信号和噪声的宽度以及它们之间的距离,自动获得OSNR 值。 轨迹锁定:采用自动设定的或用户定义的部分频谱,锁定轨迹并获取准确的平均结果。 可变分辨率:获取更易与用户的旧OSA 设备对比的结果。 功率积分:测量用户定义频谱范围内的光信号总功率。 双通道偏振测量:同时看到信号的两路分离正交偏振分量。 轻松自动化:通过GPIB 或以太网,利用SCPI 指令远程操控BOSA。BOSA系列高分辨率光学频谱仪主要优势 高分辨率 (10 MHz / 0.08 pm) 以及窄滤波线型 市面精度 (0.5 pm) 卓越的无伪讯信噪比 (80 dB) ; 高可靠度 独到的光谱分辨偏振测量 光学位相频谱测量:啁啾测量,眼图,星座图… 集成可调谐激光器及器件分析仪,强大多功能应用 100G/400G 收发器测试 激光与光源频谱测试 非线性激光动力学 网络分析:DWDM, Flexigrid, OSNR 新一代调制格式:: OFDM, Nyquist, QAM, DP-QPSK… 脉冲激光与光频梳BOSA MODELSBOSA 100 用户自备TLS,节省成本 10 MHz 分辨率 所有选项可升级BOSA 400 一体全集成,独立使用 10 MHz 分辨率 快扫描 (20 nm/s) 高精度 (0.5 pm)BOSA lite 高性价比 20 MHz 分辨率 2.5 nm/s 扫描 可提供一体型号 (BOSA lite+)
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  • 高分辨率数字输出位移传感器 YKD60-D62系列PDF下载★高分辨率,数字(积分)输出: 高达 142 pulses/mm★量程:0 ~ 1092 mm (YKD62系列)★尺寸:56 x 64 x 81 mm★重量:170 g★工作温度:-40 ℉~+185 ℉° (-40 ℃~+85 ℃)
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  • 诺坦普 NanoTemper超高分辨率蛋白稳定性分析仪 Panta (SLS)技术参数:产品简介:NanoTemper PR Panta,结合微量差示扫描荧光nanoDSF (nano Differential Scanning Fluorimetry)技术、动态光散射DLS (Dynamic Light Scattering)技术以及背反射(Backreflection)技术,首次实现了在整个热升温过程中,【同时且实时地】检测样品构象、粒径和聚集变化,实现对生物制剂高分辨率的、特有结构域的稳定性表征,监测整个生物制剂研发流程中的关键环节,加速生物药开发进程。应用领域:生物制剂的开发过程漫长而复杂,从候选分子到最终变成产品都需要检测一系列重要参数作为支持。从上游筛选、构建或改造候选分子,到制剂优化、可开发性评估,以及下游生产工艺优化,PR Panta 都可以始终如一地为候选分子提供全面的参数稳定性表征和可信赖的结果,精准比较不同团队和不同批次样品的构象与胶体稳定性数据时保持一致性。产品优势:【同时且实时】:首次实现在整个升温过程中实时监测和记录,同时提供构象稳定性、粒径及聚集数据,并在结构域水平上获得全面且完整的稳定性信息;【超高分辨率】:误差值在±0.008的高分辨率,检测多个热变性时可有效区分具有相似Tm的结构域,弥补由于监测技术瓶颈而忽略掉的关键信息;【高特异性】:可有效区分生物制剂信号与缓冲液或细胞间质信号;【数据精准、重复性好】:Tm误差范围仅为±0.1 °C,提供真实的检测结果;【通量灵活、操作简便】:无论是上游制剂开发还是下游工艺优化,无论浓度高低,一台Panta即可满足整个流程的稳定性检测需求,节约成本和时间。
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  • 鼎阳四通道2GHz带宽多功能高分辨率数字示波器SDS6204 H12 Pro 高分辨率示波器,满足更高精度的测试需求 12-bit高分辨率ADC采样,更好地呈现波形细节; 优秀的本底噪声,在2GHz全带宽下的底噪值仅为153 μVrms,让12-bit ADC充分发挥性能; 典型值±0.5%的直流增益精度优秀的用户界面和用户体验 配备12.1 英寸TFT-LCD 大显示屏,分辨率1280*800; 电容式触摸屏,专门为示波器操作定义的各种手势,极大地提高了仪器操控效率; 内嵌WebServer,可直接通过网页远程访问和操作示波器; 支持鼠标和键盘操作;覆盖多种行业的串行协议触发和解码SDS6000 Pro提供多种串行协议触发和解码,覆盖多个行业。 I2C, SPI 嵌入式串行协议触发及解码UART PC串行协议触发及解码CAN, CAN FD, LIN, FlexRay ,SENT 汽车串行协议触发及解码I2S 音频串行协议触发及解码MIL-STD-1553B 航空航天串行协议触发及解码Manchester 以太网串行协议解码强大的测量功能SDS6000 Pro可测量超过50种参数,包括水平类、垂直类、通道间延时类和混合测量类。参数统计功能可显示任意参数的五种测量值:当前值、平均值、最小值、最大值、标准差;可同时测量统计12种不同的参数。直方图统计可以直观地显示参数的概率分布情况;趋势图可反应参数随时间的变化规律。此外,对水平方向上的测量(如周期、脉宽等),摒弃了传统的一帧只获得一个测量值的方法,将一帧中的所有指定水平项目的测量值都计算出来并纳入统计,大大提高了测试效率规格参数带宽350 MHz 、500 MHz 、1 GHz、2 GHz实时采样率5 GSa/s、10 GSa/s(2 GHz带宽型号)通道数4 + EXT存储深度250 Mpts/CH、500 Mpts/CH(2 GHz带宽型号)最高波形捕获率750,000 wfm/s(Sequence模式)接口USB 3.0 Host x2,USB 2.0 Host x2,USB 2.0 Device,LAN,micro SD卡, HDMI, 外触发输入,辅助输出(TRIG OUT,PASS/FAIL)测量超过50种参数测量,并支持直方图和趋势图统计数据分析和数据处理工具搜索、导航、历史、模板测试、数字万用表、波特图、电源分析(选配)、波形直方图、计数器、抖动和眼图分析(选配)屏幕12.1 英寸电容式触摸显示屏,分辨率1280*800触发类型边沿(Edge)、斜率(Slope)、脉宽(Pulse width)、窗口(Window)、欠幅(Runt)、间隔(Interval)、超时(Dropout)、码型(Pattern)、视频(Video)、第N边沿、延迟、建立/保持时间、串行触发串行触发和解码(标配) I2C, SPI, UART, CAN, LIN串行触发和解码(选配)CAN FD, FlexRay, I2S, MIL-STD-1553B, SENT, Manchester数字通道(选件)16 路,500 MSa/s采样率, 12.5 Mpts/ch存储深度;16 路,1 GSa/s采样率, 50 Mpts/ch存储深度(2 GHz带宽型号)信号发生器(选件)外置单通道隔离,最高输出频率25 MHz,采样率125 MSa/s,波形长度16 kpts标配探头SP3050A,500 MHz,每通道 1 套(SDS6104 Pro和SDS6054 Pro)详细资料,请联系我们北京博宇讯铭科技有限公司地址:北京市大兴区欣雅街15号院5号楼5层503 北京博宇讯铭科技有限公司(博宇科技)位于北京市大兴区 兴创国际中心A座;我们致力于为电子产品的教学、研发、生产、出厂检测,提供可靠的电子测量仪器、射频测试仪器与系统型方案;供应:示波器、记录仪、数据采集仪、信号发生器、频谱分析仪、信号源、网络分析仪、电池测试仪、电源、电子负载、安规测试仪、功率分析仪、热像仪、万用表、充放电测试集成设备、无线充电检测系统等;
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  • BeamOn HR高分辨率光斑分析仪以色列Duma Optronics 公司于1989年成立,是一家专业从事激光光束自动化测量系统研发和生产的公司。其生产的光束质量分析仪产品类型丰富,功能全面。公司的Beam Analysis光束质量分析仪主要有三种类型:CCD类型分析仪(最新产品)、亚毫米光束分析仪、刀口法类型分析仪。-用高分辨高动态范围12位CCD相机-可检测连续和脉冲光束的位置、功率、光强分布-USB2.0接口,具有完整的联机帮助程序-实时显示光束2D/3D图像,检测光束尺寸和高斯拟合-通过RS232或者TCP/IP协议与其它电脑数据共享主要参数:参数数值相机类型CCD 1/2"像素4.65μm x 4.65μm探测器响应面积6.47mmX4.83mm光谱范围350 – 1310nm1550nm±50nm最大帧速15fps at 1392x1040, 30 fps with binning (2X)成像分辨率1392X1040快门速度0.6s-1μs增益X1 to X23动态范围60dB(无衰减片)损伤阈值50W/cm2(有衰减片)灵敏度5nW/cm2@633nm, 60μW/mm2@1310nm22μW/mm2饱和度2mW/cm210mW/mm2电源6V, 4Watts
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  • 波前分析仪CLAS-2D 400-860-5168转1980
    美国LUMETRICS公司自主研发的CLAS-2DTM系列波前分析仪(CLAS-2D™ , CLAS-XP™ , CLAS-HP™ , CLAS- NearIR-320™ , CLAS-NearIR-640™ )能够快速、简单、准确的测量激光光束的波前相位参数,例如波前倾斜,峰谷误差,均方根波前误差,像散,球差,聚焦误差/准直。LUMETRICS公司的波前分析仪是集四波横向剪切干涉仪,光束质量分析仪,自准直仪和四象限探测器为一体的快速、紧凑型波前分析仪器。运用独特的算法能够精确测量三个波段的波前参数:300nm -1100 nm, 1100nm - 1700nm和8 um- 9.2 um。另外, 美国LUMETRICS波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力,能为客户提供的各种自适应光学系统OA-SYS(Adaptive Optics Loops),制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求,为客户推荐最合适的波前传感器、可变形镜或空间光调制器、自适应光学系统操作软件等。波前分析仪产品特点:CLAS-2DTM系列波前分析仪具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析,眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案!LUMETRICS波前探测器配套的软件界面友好,可直观的输出高分辨率相位图和光束强度分布图。波前分析仪应用范围:? 激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统波前像差检测? 激光光束性能、波前像差、M2、强度等的检测? 红外、近红外探测? 平行光管/望远镜系统的检测与装调? 卫星遥感成像、生物成像、热成像领域? 球面、非球面光学元器件检测 (平面, 球面, 透镜)? 虹膜定位像差引导? 大口径高精度光学元器件检测? 激光通信领域? 航空航天领域 CLAS-2DTM产品型号汇总 COMPLETE CLAS-XP System型号81000-0081000-4681000-4781000-4881000-4981000-50焦距(mm)2.02.0474.758.1915.4825.08灵敏度λ/30λ/30λ/50λ/100λ/150λ/200动态范围120λ120λ80λ60λ40λ30λ透镜尺寸(mm)0.0720.0720.1080.1440.1980.252透镜阵列102*102102*10268*6851*5137*3729*29 COMPLETE CLAS-HP System型号81000-2081000-2181000-2381000-24焦距(mm)4.987.7819.9229.62灵敏度λ/100λ/150λ/200λ/250动态范围211λ169λ105λ115λ透镜尺寸(mm)0.1120.1400.2240.280透镜阵列128*128102*10264*6451*51 COMPLETE CLAS-Near IR 320 System型号81000-3281000-3381000-3481000-3581000-3681000-27焦距(mm)25.6936.9911.4417.8725.749.3灵敏度λ/83λ/100λ/46λ/58λ/70λ/50动态范围44λ37λ78λ63λ53λ55λ透镜尺寸(mm)0.4000.4800.3200.4000.4800.225透镜阵列24*1920*1630*2424*1920*1671*56
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  • pLAS-300 便携式激光氟化氢测量仪产品概述pLAS激光气体分析仪是基于可调谐半导体激光吸收光谱(TDLAS)技术原理,对特定波长的气体吸收谱线进行扫描分析,并结合数字化的锁相放大器以及长光程气室等先进技术实现气体的浓度测量.为目前国际最先进的气体测量方法之一,该仪表具有高分辨率,响应速度快,稳定可靠的测量,采用抽取式安装方法可满足过程分析和环境监测等应用的要求。产品特点可靠的长光程加热气室设计超低浓度测量,分辨率可达0.1ppm特殊的多线光谱扫描算法,动态的粉尘和水分干扰补偿免标定设计,维护简单,使用成本低典型应用电解铝厂碳素厂垃圾焚烧 钢铁冶金
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  • 高分辨率光频谱仪 400-860-5168转1980
    采用光纤内受激布里渊散射所具备的背向传播、窄增益线宽、陡峭线型、偏振敏感特性,BOSA提供通讯波段(C、L、O)10MHz分辨率的频谱测量。与外差测量方式相比,受激布里渊散射无边带伪讯,其无伪讯信噪比达到80dB,并可扩展至位相、偏振测试,成为一台超高分辨的复频谱分析仪。主要优势l 高分辨率 (10 MHz / 0.08 pm) 以及窄滤波线型l 高精度 (0.5 pm)l 无伪讯信噪比 (80 dB) ; 高可靠度l 光谱分辨偏振测量l 光学位相频谱测量:啁啾测量,眼图,星座图… l 集成可调谐激光器及器件分析仪,强大多功能主要应用l 相干光通讯l 光器件测试l DWDMl 非线性激光动力学l 光频梳测量l 窄线宽激光器信噪比测试l 半导体激光器模式分析 技术指标型号BOSA 400 波段CC+LO性能光学分辨率10 MHz @1550 nm10 MHz @1310 nm波长范围1525-1565nm1525-1615nm1265-1345nm波长精度±0.5 pm±0.5 pm±1.0 pm无杂讯动态范围80 dB进近动态范围40 dB @ ±0.2 pm60 dB @ ±0.4 pm校准输入功率范围+13 to -70 dBm最高安全输入总功率+20 dBm灵敏度-70 dBm / 10 MHz功率准确度±0.5 dB偏振测试两路正交偏振,完整偏振光谱功能测量速率20 nm/s波长校准内置原子频标扩展功能Option 10: 1MHz 线宽可调激光输出Option 20 - 器件分析:插损/回损等光谱测量Option 30:偏振光谱测量Option 40:位相测量
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  • Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR【Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR简介】随着光波波前探测技术的发展,各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类:一类是根据几何光学原理,测定波前几何像差或面型误差,主要有Shack-Hartmann 波前传感器,曲率传感器和Pyramid 波前传感器等;另一类是基于干涉测量原理,探测波前不同部分的干涉性,来获取波前信息,主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜 它们结构简单,抗干扰能力强,条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR是一款高性价比的高分辨率波前传感器,专门用于测量和对准1550 nm光通信波段中使用的激光光源和透镜。【关于Phasics】Phasics是一家专注于高分辨率波前传感技术的法国公司。Phasics公司凭借其在测量方面的专业经验与独特的波前测量技术为客户提供全面的高性能波前传感器。 一、Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR主要特点160 × 120 高相位取样分辨率1550 nm 高性价比解决方案体积轻小便于光学系统内集成二、SID4-NIR 波前传感器产品功能波前像差测量基于四波剪切技术,Phasics 的波前传感器同时提供具有无与伦比的高分辨率的相位和强度测量。 波前传感器与其光束分析软件相结合,可提供完整的激光诊断:波前像差、强度分布、激光光束质量参数(M2、束腰尺寸和位置等)。Phasics 的波前分析仪可以放置在光学装置的任何一点,无论光束是准直的还是发散的。Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR是一款高性价比的高分辨率波前传感器,专门用于测量和对准1550 nm光通信波段中使用的激光光源和透镜。 三、Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR应用领域激光 |自适应光学及等离子体检测 |光学计量及光学系统对准四、Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR主要规格波长范围1.5-1.6 μm靶面尺寸4.73 x 3.55 mm2空间分辨率29.6 μm取样分辨率160 x 120相位分辨率 11 nm RMS绝对精度15 nm RMS取样速度 60 fps实时处理速度 10 fps (全分辨率下)*接口种类FireWire IEEE1394B五、更多参数选型
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  • 高分辨率单色仪 400-860-5168转2831
    高分辨率单色仪产品负责人:谷工(Givin)电话:(微信同号)邮箱:高分辨率单色仪M833是一种独特的高口径双色散单色光谱仪,其紧凑的设计结合了高光谱分辨率的长聚焦仪器和极低杂散光,这是拉曼光谱的基本要求,以及任何其他低光强应用。产品特点:极低杂散光含有独特高光圈(f# 1:5.5)的紧凑型长焦仪器(F=833毫米)M833I提供成像模式三对光栅两个输入和两个输出口全电脑控制SOLARLS.LAB软件DLL and/or VI程序模组应用领域:拉曼光谱发射和荧光光谱学分析任务需要高分辨率的范围从紫外线到红外多通道光谱规格信息:
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  • KUBTEC高分辨小动物数字X 光机 Kubtec高分辨数字x射线系统专为科学研究、法医分析等实验室而设计。在保持高分辨同时快速的图像采集和强大的综合图像分析软件带来细节和效率提升。 KUBTEC高分辨小动物数字X 光机 原理X线之所以能使样本组织在荧屏上或胶片上形成影像,需具备3个条件:一是基于X线的穿透性、荧光效应和感光效应;二是基于样本组织之间必须有密度差异。当X线透过不同样本组织时,因密度差异造成X线吸收的程度不同,最终到达检测器或胶片上的X线密度即有差异。这样就形成明暗或黑白对比不同的影像。 KUBTEC高分辨小动物数字X 光机特点1. 高分辨率:提供10LP/mm的高分辨率同时高速成像,动物接收剂量率低,将对实验造成影响降至最低。2. 高度比度:通过较低管电压达到较高的对比度,超过65000级灰度对比3. 高速成像:19秒内从KUBTEC 高分辨率图像中获得实验动物骨密度及身体成分4. 低剂量:在最高分辨率拍摄时曝光剂量业界Z低,KUBTEC在保证高分辨率同时保证动物接收最低剂量,保证动物可以在一段时间内多次扫描,动态分析评估身体成份。5. 大成像视野:扫描范围(基本:120mm×150mm,可选:240mm×300mm)可以分析小动物如小鼠,大鼠和中型动物如狗、猫、兔子及豚鼠的骨密度和骨矿含量、脂肪和瘦肉,大视野配合锥形Xray扫描对动物体重无限制。6. 白光成像:采用HD CCD 采集同时拍摄全彩白光成像,方便叠合比对定位7. 锥形扫描: 保证检测范围内对动物样本摆放位置无要求,位置变化不影响分辨率的效果。8. 多重安全保障系统:KUBTEC多重连锁技术可以有效阻隔辐射,保证设备表面剂量低于环境本底,保护研究者。如一旦任何连锁检测有异常,立即停止X线输出。9. 软件功能强大: l 分析软件功能强大,多种数据保存格式(如CSV/Excel格式)方便调用。l 样本遗忘提醒功能:样本长时间放置于仓室内而无操作,系统会自动警告提醒及时取出样品。l 数据结果可以直接输入Solidworks,形成工程图直接3D打印输出。l 局部放大自动比对功能l 6位置ROI 画中画局部放大分析功能l Blender 功能,全彩图片与x ray 图片可调任意透明度,完成准确定位分析l AEC(全自动曝光控制)以及手动控制两种模式l 软件功能与Leica 等病理软件完全融合,可以自由调用l 软件功能允许动物佩戴金属耳钉以及其他标签情况下准确进行骨密度及身体成分测量 KUBTEC高分辨小动物数字X 光机测量指标骨骼研究、关节炎症、癌症、骨质疏松、脂肪比、骨密度测定,动物分类学研究,动物代谢研究等。 适用标本:大鼠、小鼠、家兔、小鸡、鱼等动物以及其他组织样本,测量区域面积内无重量限制。 KUBTEC高分辨小动物数字X 光机产品规格检测方式:低电压高对比度密度测定法发射模式:单能和双能 可切换X射线成像模式采集模式:全自动AEC 采集或手动采集扫描方式:锥形光束影像分辨率:10.0LP/MM(48um pixels size)扫描区域: 最大230 mm x 300 mm扫描时间:全身扫描时间19秒ROI区域:6个ROI区域数值分析,ROI 部分自动放大形成画中画方便分析成分分布:可以直接身体各成分分布图可测目标:大鼠、小鼠、家兔、小鸡、鱼等动物活体及组织样本,测量区域面积内无重量限制数据输出:结果数值及影像转换存储校准功能:全自动校准, 零预热时间安全防护:全封闭式铅箱防护,无需房间做任何额外防护。安全认证:符合美国及加拿大,中国等全球主要国家安全标准,获得Healthy Environments and Consumer Safety Branon 认证以及CSA International实验室安全认证。FDA认证: 具备FDA 备案号0610044-00网络远程连接访问 n KUBTEC 简介美国KUBTEC公司是世界知名医疗及实验室X光设备生产商,KUBTEC在面向样本X光成像、低剂量成像、科学研究、法医分析、无损检测和X线辐照等领域的数字X射线设备上面提供最具创新性的工具。KUBTEC的产品使医疗专业人员能够为患者提供良好的护理质量,同时也为实验室科研人员提供了高性能的实验室X射线设备支持科学研究。 l KUBTEC为全球乳腺放射科医生、乳腺外科医生、临床医生和病理学家以及科学家、实验室提供了一整套成像解决方案。KUBTEC 的MOZART 系列提供了当前唯一利用3D层析X射线摄影断层技术的术中乳腺样本成像,帮助最大限度地保留乳房,同时保正完整地切除乳房肿瘤,使乳腺癌切除术后再次手术的概率减少超50%。 l KUBTEC公司是全球领先的低剂量数字x射线照相(DR)系统的主要开发商, KUB 250是第一款真正便携式的,获得FDA批准用于新生儿重症监护病房(NICU)的低剂量数字x射线系统,在为世界上为新生儿提供的分辨率最高的低剂量成像系统同时减少40%以上的辐照剂量。 l KUBTEC的XPERT实时样本X光成像系统提供清晰成像效果,通过缩短处理时间来让病人感到更加舒适,且支持开展床旁手术。 l XPERT/PARAMETER系列数字化X光放射系统(DR)可以提供最高分辨率、切合实际应用的成像系统,提升实验室的科研及工作效率。广泛应用在标本X光成像、科学研究、法医分析、无损检测、辐照生物学等领域。 l XCELL 系列生物学辐照仪在全球大型实验室广泛应用,且可提供定制服务满足不同研究需要。 l KUBTEC 已通过ISO 9001和ISO 13485认证,设计制造符合美国、加拿大和欧洲中国等全球主要国家的辐射安全标准的设备,在全球范围内提供系统制造、培训支持。 n 产品线n 数字化X光机1. 高分辨小动物数字X 光机2. 动物骨密度及身体成分分析系统-SXA&DXA3. 植物学专用数字化X光分析系统4. 数字放射自显影成像系统5. 3D X射线数字成像系统6. X射线病理分析系统7. X射线法医鉴定系统8. X光无损检测系统 n X射线辐照仪1. 桌面式小样本生物学X线辐照仪XCELL 502. 桌面式生物学X线辐照仪 XCELL 1403. 生物学X射线辐照仪 XCELL 1604. 生物学X射线辐照仪 XCELL 2255. 生物学X射线辐照仪 XCELL 3206. 生物学X射线辐照仪 XCELL 3507. X射线诊疗系统 n Kubtec 软件包1. Kubtec DIGICOM通用分析软件包2. Kubtec 种质资源研究专用软件包3. Assistant 成像软件包4. Kubtec DIGIMUS 动物身体成份分析软件包
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  • 高分辨率数字CCD相机ORCA-05GORCA-05G是一款高分辨率数字相机,使用逐行扫描隔行CCD,没有机械快门。它除了具有137万像素的高分辨率以外,还有12位数字输出的宽动态范围,以及在可见光到近红外波段的高灵敏,这使得该相机具有很广的应用范围,可进行低光量成像。欢迎您登陆滨松中国全新中文网站 查看该产品更多详细信息!特性--可见光到近红外波段灵敏度高--使用不带机械快门的逐行扫描隔行CCD--抗高光溢出功能--宽动态范围--读出噪声小,为6到8电子--43帧/秒的高帧率(8×8拼接)应用--常规荧光显微成像--绿色荧光蛋白应用--DNA和染色体倍性分析--红光以及近红外荧光应用--荧光原位杂交研究--运动性和运动分析--结合DIC/相位以及荧光显微成像--组织学、病理学和细胞学--金相显微成像--失效分析--半导体检测--X射线闪烁体读出配置规格表产品型号C8484-05G02相机头类型自然风冷型成像设备带微透镜的逐行扫描隔行CCD(interline CCD)有效像素数1344 (H)×1024 (V)像素尺寸6.45 μm (H)×6.45 μm (V)有效面积8.67 mm (H)×6.60 mm (V)满阱容量15 000电子读出速度8.9帧/秒像素时钟速率14.7 MHz/pixel读出噪声典型值10电子rms曝光时间10 μs到1 s动态范围1500:1*1模拟增益1×, 5×子阵列支持信号读出lEEE1394-1995相机控制基于IIDC 1394的数字相机规格,版本1.30外部触发模式边沿触发、电平触发触发输出积分输出、可编程时序输出、触 发准备输出A/D转换器12位镜头卡口C卡口电源DC+8 V 到 DC+30 V功耗8 VA环境存储温度-10 °C到+ 50 °C环境工作温度0 °C到+ 40 °C环境工作/存储湿度无凝结下最大70 %*1:由满阱容量和平均读出噪声的比例计算而来。光谱响应外形尺寸图
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  • SX1300采用新的SXGA InGaAs探测器技术,1280x1024高分辨率,5um像元间距,在0.4um~1.7um波段具有极高的灵敏度。该机芯具有很低的暗电流和高动态范围,精确TEC温度控制进一步降低了读出噪声。整机结构紧凑、性能稳定,体积小,功耗低,具备较强的环境适应性。可广泛应用于光电任务载荷、科学研究,安防监控、机器视觉、工业检测、系统集成等领域。产品特点: 光谱响应:高分辨率,1280x1024 小像元间距,仅为5um宽光谱响应,0.4um~1.7um25Hz/50Hz/100Hz/130Hz白天~低照度成像,透雾、霾、沙尘成像; 全局曝光模式、AGC、自动曝光、实时图像校正和增强;窗口模式,帧频可进一步提高;数字视频输出与模拟视频输出可选; USB/SDI/GigE/Cameralink多种接口方式;C口,提供其他光学接口转换;上电自检,故障自动上报。技术参数:※探测器 探测器类型 InGaAs焦平面 光谱响应 0.4um ~ 1.7um 像素 1280 x 1024 像间距 5um 量子效率 75%@0.4um ~ 1.7um 动态范围 57dB 噪声 200e ※图像 帧频 50Hz 曝光时间 20us ~ 19ms ADC 8bit/10bit/12bit 板载图像处理 自动曝光 自动增益控制 非均匀性校正(offset & gain) 失效像素替换 自动对比度增强(可调节)※接口 相机控制 RS422外部触发 TTL数字输出 PAL模拟输出 USB/CameraLink※电源电源输入 DC12±3V 功耗 ≤5W(TEC off)※环境适应性 工作温度 -20℃~+60℃ 存储温度 -20℃~+60℃ ※物理特性重量 ≤310g 尺寸 77mmx55mmx73mm 外形尺寸
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  • 产品概述ER2000是一款高分辨率的微型光纤光谱仪。该系列光谱仪采用长焦C-T交叉光路,具有高分辨率、高采集速度的特点。该系列光谱仪非常适合于高分辨率要求的场合,如等离子体检测、激光波长分析、LED荧光粉色度分析、气体成分分析等。产品说明高分辨率----采用对称式交叉C-T光路设计,100毫米长焦成像设计和高线数平面全息光栅,可提供高达0.1nm的分辨率;轻便----尺寸更小、更薄,方便集成到设备中;快速开发----提供软件开发工具,封装所有功能,一处添加,多处调用;支持定制----波长范围从190nm到1100nm可选,狭缝从5um到250um可选;
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  • ARGOWING超高分辨率多光谱相机姓名:曹工(Leo)电话:(微信同号)邮箱:以色列数字农业技术开发公司Agrowing基于Sony现有的并且经过良好验证的传感器,开发研制出了三组多镜头系统,兼容多款索尼数码相机,例如R10C、Alpha6000、Alpha6300、Alpha 7Rxx等等。Agrowing的传感器相比其他任何现有的传感器,具有更高的分辨率和质量,克服了多光谱农业图像采集的一些主要问题。通过每像素0.5毫米以下的多光谱图像采集,获取到了更精细更准确的数据。Argowing超高分辨率多光谱相机主要特点:所有色度波段的连续数字对齐,无论获取距离。能捕捉每个像素1mm甚至0.5mm的高分辨率多光谱图像,并且能够进行人工智能分析、机器学习和分类。镜片全部由玻璃和金属制成,不受环境的影响。拥有更广泛的动态范围,更多的波段和更高的分辨率。克服了同步和视差这类多光谱相机设计的典型问题。传感器可拍摄多光谱视频。传感器带可根据客户需求定制(滤镜部分有起订量要求)。传感器的制造质量是索尼的品质。Argowing超高分辨率多光谱相机产品参数: 类别Sony MCU R10CSony Alpha 6x00Sony Alpha 7Rxx-QuadSony Alpha 7Rxx-Sextuple光谱通道35nm带宽 450 550 650 850nm35nm带宽450 550 710 850nm(含两个镜头,可互换)35nm带宽 450 550 650 850nm35nm带宽450 550 710 850nm(含两个镜头,可互换)30nm 20nm 和 15nm*带宽405 430 450 550 560 570 650 685 710* 85030nm 20nm 和 15nm* 带宽 405 430 450 490 525 550 560 570 630 650 685 710* 735 850nm光谱图像分辨率单通道为800万像素 (3600x2200像素),适用于 2100万像素的相机单通道为1000万像素 (3850x2600像素),适用于 2430万像素的相机单通道为800万像素 (3600x2200像素),基于索尼Alpha 7Rii的传感器单通道为750万像素 (2780x2650像素),基于索尼 Alpha 7Riv 的传感器有效焦距25mm25mm25mm21.8mm聚焦方式及范围手动,0.4m-∞手动,0.4m-∞手动,2m-∞手动,2m-∞F值6.06.06.05.6尺寸规格60×35.2mm60×35.2mm60×35.2mm60×35.2mm镜头重量144g144g181g191gDJI Accessories Coming Soon!!! Argowing 原始图像及波段数据
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  • 中图仪器SuperViewW高分辨率3d白光干涉仪能够以优于纳米级的分辨率,测试各类表面并自动聚焦测量工件获取2D,3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。SuperViewW高分辨率3d白光干涉仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能;(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能;(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能;(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能;(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能;(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。中图高分辨率3d白光干涉仪的特殊光源模式,可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求,中图仪器SuperView W1的复合型EPSI重建算法,解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下,只需要确定起点和终点,即可自动扫描,重建其超光滑的表面区域,不见一丝重叠缝隙。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例:在3C领域,可以测量蓝宝石屏、滤光片、表壳等表面粗糙度;在LED行业,可以测量蓝宝石、碳化硅衬底表面粗糙度;在光纤通信行业,可以测量光纤端面缺陷和粗糙度;在集成电路行业,可以测量硅晶片或陶瓷晶片表面粗糙度;在EMES行业,可以测量台阶高度和表面粗糙度;在军事领域,可以测量蓝宝石观察窗口表面粗糙度。性能特色1、高精度、高重复性1)采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统,保证测量精度高;2)隔振系统,能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动,消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声,保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用,获得高测量重复性;2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰,在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄,可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外,另在Z轴上设计有机械电子传感器,当镜头触碰到样品表面时,仪器自动进入紧急停止状态,最大限度的保护仪器,降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机,在无外接气源的条件下也可稳定工作。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配:3孔手动选配:5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸(长×宽×高)700×606×920㎜恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 中海达——iBeam 8120高分辨率浅水型多波束系统新推出拥有完全知识产权条带浅水多波束测深仪——iBeam 8120。设备具备便携,换能器小巧、安装方便;测深精度高,满足IHO特级精度和《水运工程测量规范》要求;测深范围从0.5~300m。可广泛应用于疏浚、航道测量、水利工程、地质调查等多个行业和领域。采集导航软件配置自主开发HiMAX MBE软件,中文界面,符合国人操作习惯,简单易用。系统组成l iBeam 8120水下换能器:发射换能器和接收换能器,15米甲板电缆(可选配不同长度)l 声纳处理系统l 运输箱l 换能器导流罩l 显控软件产品参数发射频率200kHz波束覆盖角30°~140°(在线可调)测深分辨率1cm波束角1.5° x 1.5°波束数512个(最大)测深范围0.5m-500m声纳换能器耐压水深50m最大ping率60Hz工作模式等角/等距模式横摇稳定±10°输入电压220VAC/50Hz功耗200W温度(工作/存储)声纳系统:-2℃~40℃/-30℃~55℃换能器端:-2℃~30℃/-30℃~55℃换能器线缆长度标配15m (其它长度可定制)换能器重量/尺寸17.5kg(空气中)/ 420 x 320 x 200mm甲板单元重量/尺寸2.5kg/410 x 330 x 50mm 更多关键词:浅水型多波束系统,多波束系统,高分辨率多波束系统
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  • G Cell光影细胞科技是依托清华大学深圳研究生院而创建的一家创新型技术企业,拥有先进完备的光学检测实验平台和一支源自清华大学的高素质年轻化的技术骨干。公司作为实验室设备行业与互联网行业的跨界组合,致力于打造新一代的实验室智能设备。GAT-Gai高分辨率单(多)通道步态分析系统可通过将实验动物置于步行台,使其从步行台的一端行走到另一端,在此过程中,实验动物行走时所表现的步态,系统采用脚印光亮折射技术,检测分析出步行周期、在何种姿态下所对应的病症,进而评估其受关节炎、神经受损等病症影响的程度。可用于研究脑疾病、神经系统损伤、肌肉相关损伤、骨关节疾病与外伤等模型动物的运动机能。
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  • UV-VIS高分辨率光谱仪 YSM-8102简介YSM-8102系列高分辨率光谱仪,采用高分辨率光机平台,仅有手掌大小的体积,却带来更高的分辨率。优化的光路设计使光学分辨率最高可至0.06nm。 用户通过选择不同的光栅配置可以获得不同的光学分辨率和光谱响应范围。 YSM-8102-02系列,采用滨松S11639线阵探测器,动态范围最大可至10000:1,积分时间最低可至0.5ms, 同时信噪比提高到600:1,适合于通用性光谱分析与检测,支持RS232/RS422通讯,增强了抗干扰性能,更适合应用于工业和科研领域。特点光学分辨率最高可至0.06nm手掌般大小的尺寸,操作简便交叉非对称C-T光路结构,干涉滤光片消二级衍射SMA905光纤接口,方便地通过光纤和其他设备连接可选择的波长范围和光学分辨率USB2.0数据传输和供电,支持RS232/RS422通信,支持多种触发方式软件功能强大,可自动计算峰值波长和带宽功能支持二次开发,支持OEM集成应用激光器中心波长、半高宽和稳定性测量LED测量LIBS应用太阳光谱测试荧光光谱测量颜色测量激光光谱测量典型数据标准汞灯光谱图(*不同光谱仪因为探测器和光学系统的差异,测量的汞灯光谱数据会有差异)技术参数
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  • | 产品概述HSR2000是一款具备高速技术、精细光谱分辨能力的微型光纤光谱仪。HSR2000可以配置成单通道、双通道、三通道、四通道或者多通道(*多可配置成8个不同的通道)。主要适用于需要高速检测和高分辨率光谱检测的领域,如等离子体监控、激光脉冲检测、化工过程分析等。产品说明高分辨率---采用对称式交叉C-T光路设计,*效的降低了杂散光,提高了系统分辨率;高速----焦距更长,分辨率更高,支持多通道数据采集,*快可以达到1ms的采集速度;快速开发----提供软件开发工具,封装所有功能,一处添加,多处调用;支持定制-----波长范围从190nm到1100nm可选,狭缝从5um到250um可选;
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