扫描热探针塞导热系数仪

SPM的工作原理是基于微观或介观范围的各种物理特性，通过原子线度的极细探针在被研究物质的表面上方扫描时检测探针—样品两者之间的相互作用,以得到被研究物质的表面特性，不同类型的SPM之间的主要区别在于它们的针尖特性及其相应的针尖----样品相互作用方式的不同。

【技术参数】型号FS-1500制造厂商Asylum Research探针描述硅基探针；Al反射层类型轻敲模式（SOFT)应用快扫描【产品详情】悬臂描述Lever1234Spring k (N/m)6 (1.5 - 21.0)---Freq (kHz)1500 (700 - 2000)---Length (μm)35 (30 - 40)---Width (μm)42 (37 - 47)---Thickness (μm)0.8 (0.6 - 1.0)---Shapetriangular---MaterialSilicon---Reflex Coating (nm)Al (30)---针尖描述Tip radius (nm)Tip height (μm)3 +/- 1Front angle (°)20 +/- 1Back angle (°)35 +/- 1Side angle (°)30 +/- 1Tip shape3-sidedTip materialSiliconTip coating (nm)none

NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) MESPUnmountedStandard MFM Coated Tips, 2.8N/m, 75kHz, Co/Cr Reflective Coating1020探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

高品质的光阑，专为扫描电镜和透射电镜、电子探针、聚焦离子束和X-射线仪而设计。高精密的钻孔和形状，可以避免电子散射。孔径符合制造商预先设计的严格的公差。材质有铂合金（Pt / Ir ，95:5 ％ ）、钼（Mo），金（Au）。每种孔径厚度的光阑又有A、B、C、D四种不同规格和形状，孔径可用于目前所有品牌的EM系统制造商： FEI /飞利浦，日本电子，日立，蔡司/ LEO ， CAMECA ，拓普康，TESCAN， CamScan等 。用户也可根据自己的实际需要设计加工新的光阑。产品包装实拍图：产品编号产品名称规格产地OZ63400黄金光阑直径：3mm 20um,AU中国

NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm)DNISPUnmountedDiamond Tip, 100 - 300N/m, 35 - 65kHz140探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中—ScanAsyst Air ScanAsyst Air，是空气中智能成像模式ScanAsyst 专用探针，仅适用于具有Scansyst成像的AFM。其中包含：Dimension Icon,Multimode8,Bioscope Catalyst,Bioscope Resolve. ScanAsyst 利用一种专门的曲线采集方法和复杂的算法，对图像质量进行持续的监测，并能自动地对参数进行适当的调整。因此：- 无论用户的专业技术水平如何，图像自动优化都能更快获取更一致的结果。- 可直接控制力的强弱，调到超低力，从而保护易碎样品和针尖不受损坏。 实现了悬臂调节的消除，定位调整，获得最大优化让液态成像变得简单。 氮化硅单悬臂探针，所有ScanAsyst针尖都有2度的悬臂弯曲。详细规格： 延展阅读：关于布鲁克：布鲁克公司以先进的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。 布鲁克AFM探针制造中心独特优势：*Class100级别的无尘室*先进的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。 原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式：主要分为：扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构：悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius：一般为10nm到几十nm。制作工艺：半导体工艺制作 指标：探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm)MSCTUnmountedSharpened, 6 Cantilevers, 0.01-0.50N/m, Au Reflective Coating探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) SCM-PICUnmountedPt/ Ir Coated Tips, 0.2N/m 13kHz, Pt/Ir Reflective Coating1020探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) NP-O10UnmountedTipless, 4 Cantilevers, 0.06-0.58N/m, Au Reflective Coating探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。Doped Diamond这个系列的探针在针尖的一侧涂有可导电的金刚石涂层。由于金刚石的硬度很高，所以涂层也很耐磨。这类探针的典型应用包括：扫描扩散电阻显微镜 (SSRM)，扫描电容显微镜 (SCM)，和隧道/导电原子力显微镜。NameMountDescriptionPackSizeTipRadius(nm) DDESP-10UnmountedDopedDLCCoatedTips,42N/m,320kHz,AlReflectiveCoating1035

NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) SCM-PITUnmountedPt/ Ir Coated Tips, 2.8N/m 75kHz, Pt/Ir Reflective Coating1020探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中—ScanAsyst Air ScanAsyst Air，是空气中智能成像模式ScanAsyst 专用探针，仅适用于具有Scansyst成像的AFM。其中包含：Dimension Icon,Multimode8,Bioscope Catalyst,Bioscope Resolve.ScanAsyst 利用一种专门的曲线采集方法和复杂的算法，对图像质量进行持续的监测，并能自动地对参数进行适当的调整。因此：- 无论用户的专业技术水平如何，图像自动优化都能更快获取更一致的结果。- 可直接控制力的强弱，调到超低力，从而保护易碎样品和针尖不受损坏。 实现了悬臂调节的消除，定位调整，获得最大优化让液态成像变得简单。 氮化硅单悬臂探针，所有ScanAsyst针尖都有2度的悬臂弯曲。详细规格： 延展阅读：关于布鲁克：布鲁克公司以先进的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造中心独特优势：*Class100级别的无尘室*先进的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式：主要分为：扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构：悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius：一般为10nm到几十nm。制作工艺：半导体工艺制作指标：探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

AFM探针/原子力探针/导电探针(DDESP-10) AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。 Doped Diamond这个系列的探针在针尖的一侧涂有可导电的金刚石涂层。由于金刚石的硬度很高，所以涂层也很耐磨。这类探针的典型应用包括：扫描扩散电阻显微镜 (SSRM)，扫描电容显微镜 (SCM)，和隧道/导电原子力显微镜。 NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) DDESP-10UnmountedDoped DLC Coated Tips, 42N/m, 320kHz, Al Reflective Coating1035

Doped Diamond这个系列的探针在针尖的一侧涂有可导电的金刚石涂层。由于金刚石的硬度很高，所以涂层也很耐磨。这类探针的典型应用包括：扫描扩散电阻显微镜 (SSRM)，扫描电容显微镜 (SCM)，和隧道/导电原子力显微镜。 NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) DDESP-10UnmountedDoped DLC Coated Tips, 42N/m, 320kHz, Al Reflective Coating1035作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。

在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) OBL-10UnmountedAu Coated tips 2 Cantilevers, 0.006-0.03N/m, Au Reflective Coating探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

NEXT-TIP SL公司成立于2012年，是西班牙研究委员会 (CSIC) 的衍生公司。其生产的TERS针增强拉曼探针和纳米红外探针，基于纳米粒子沉积技术，形成具有可控尺寸和成分的纳米颗粒涂层，具有超高的横向分辨率，大大提高了使用寿命。TERS针增强拉曼探针Next-Tip TERS 探针的出色性能与其形态特征有关。这些探头的设计经过开发，具有优异的 AFM 性能和超强的拉曼信号。突破针增强拉曼探针的限制：&bull 高可靠性，使用户能够专注于样品的表征。&bull 高达3 nm的超高分辨率&bull 超高灵敏度，可获得完全清晰/稳定的光谱，质量优于传统TERS。增强因子和对比度增强系数 (EF) 值是根据探针针的增强电场来量化拉曼信号的增强的参数。这个参数基于对比度值。对比度值根据在同一点的近场和远场扫描收集的实验数据计算。金TERS探针保证对比度高于20，银TERS探针保证对比度高于40，使得Next-Tip TERS 探针的增强系数高达105 -106。寿命银镀层的TERS探针由另一层金纳米粒子保护，以避免氧化和污染，保持等离激元的效应。致密的金纳米颗粒涂层提升了金属层厚度，大大提高了探针的耐用性。此外，纳米颗粒沿探针表面形成的不规则结构延长了其测量的寿命。性能可控的涂层沉积过程可实现坚固探头的高可重复性和高分辨率。此外，这种涂层工艺可以在针的点放置一个或两个纳米颗粒，实现超高空间分辨率。测量显示 AFM 分辨率小于5 nm，TERS 分辨率小于10 nm。TERS针增强拉曼探针类型高分辨率TERS在锐的硅基针上附着尤其致密，不规则和锐的纳米颗粒涂层，可获得超高空间分辨率和高质量的成像。基础TERS: 通过致密、不规则、颗粒状坚固的纳米颗粒涂层，用优化的涂层产生超强的拉曼信号，获得准确的成像和光谱数据。各型号参数对比银芯基础TERS探针高分辨金TERS探针高分辨银芯TERS探针型号NT-EASY-TERS-70银NT-EASY-TERS-300银NT-TERS-E-85金NT-TERS-E-335金NT-TERS-E-85银NT-TERS-E-335金共振频率（kHz）703008533585335力常数（N/m）2262.8452.845悬臂长度（μm）240160240160240160TERS针增强拉曼探针 测量结果1L MoS2/AuCNT/Graphene Oxide单层过渡金属二硫化物（TMDC）拉曼激发模式高精度表征参考文献：Alvaro Rodriguez, Matěj Velický , Jaroslava &Rcaron áhová, Viktor Zólyomi, János Koltai, Martin Kalbá&ccaron , and Otakar Frank. Activation of Raman modes in monolayer transition metal dichalcogenides through strong interaction with gold. Phys. Rev. B 105, 195413 – Published 10 May 2022. DOI: https://doi.org/10.1103/PhysRevB.105.195413Nano IR纳米红外探针纳米红外光谱的原理是基于一个锐的金属涂层前沿，激发激光束落在该前沿上。探针针的电磁场由于局部表面等离激元共振和避雷针效应的共同作用而具有局域限制和增强的效果。更强的纳米红外信号Next-Tip探针得到的红外信号比常用AFM探针高出几倍（约5倍）。下图显示了使用相同带宽激光源的两种探针在硅上获取的未标准化的近场振幅光谱。更高的纳米红外信噪比与使用标准的探针得到的光谱相比，使用Next-Tip探针得到的光谱具有更小的背景干扰，从而得到更高的SNR和更清晰的光谱。下图显示了使用两种探头在13.6秒内记录的PMMA的三阶解调纳米红外吸收光谱。Nano IR纳米红外探针类型各型号参数对比象鼻形金字塔形型号NT-IR-E-85NT-IR-E-335NT-IR-P-75NT-IR-P-330共振频率（kHz）8533575330力常数（N/m）2.8452.842悬臂长度（μm）240160225125

【技术参数】型号SSS-NCHR制造厂商NanoWorld探针描述硅基探针 超尖探针类型轻敲模式 非接触模式应用普通样品,扫描形貌【产品详情】悬臂描述Lever1234Spring k (N/m)42 (10 - 130)---Freq (kHz)330 (204 - 497)---Length (μm)125 (115 - 135)---Width (μm)30 (30 - 45)---Thickness (μm)4.0 (3 - 5)---Shaperectangular---MaterialSilicon---Reflex Coating (nm)Al---针尖描述Tip radius (nm)2Tip height (μm)12.5 +/- 2.5Front angle (°)25 +/- 2Back angle (°)15 +/- 2Side angle (°)22.5 +/- 2Tip shape4-sidedTip materialSiliconTip coating (nm)none

Strep 标签作为目前最广泛使用的亲和纯化系统标签之一的 Strep 标签，它有多种突出优点：纯化过程温和，目的蛋白纯度高（＞95%），特异性强，能兼容多种表达系统：包括原核、酵母、昆虫、哺乳动物细胞或是植物细胞等。因此 Strep 标签可以简单迅速的实现重组蛋白的克隆，表达，纯化，和检测分析。 Strep 标签与配基不断升级 基于链霉亲和素 ( Streptavidin）和生物素（ Biotin ）之间强烈的相互作用，科学家运用一系列蛋白质工程手段，从短肽文库中筛选获取链霉亲和素可逆性结合的短肽亲和标签，同时也对链霉亲和素的蛋白序列进行改进，双管齐下并且经过不断优化改造，得到了非常稳定的 Strep-Tactin XT ( Extreme Tight )，能高效且可逆的结合短肽标签 Strep-tag。Strep-Tactin XT 与 Twin-Strep-tag 不仅亲和力非常强，而且结合仍保持可逆，因此可以广泛应用于纯化检测系统。 小鳄生物此次针对 Strep 标签，推出了两款探针：与 Twin-Strep-tag 蛋白亲和力非常强的 Strep-Tactin XT 探针和与 Strep-tag II 蛋白结合的 Strep-tag II 探针。 两款探针均可从复杂样品中特异性捕获蛋白，从而获得可靠的数据；还可多次再生，节约检测成本。扫描下方二维码获取更多产品资料

【技术参数】型号TL-CONT制造厂商NanoWorld探针描述无针尖探针 软悬臂类型接触模式应用普通样品,扫描形貌【产品详情】悬臂描述Lever1234Spring k (N/m)0.2 (0.02 - 0.77)---Freq (kHz)13 (6 - 21)---Length (μm)450 (440 - 460)---Width (μm)50 (42.5 - 57.5)---Thickness (μm)2.0 (1.0 - 3.0)---Shaperectangular---MaterialSilicon---Reflex Coating (nm)none---针尖描述noneTip radius (nm)-Tip height (μm)-Front angle (°)-Back angle (°)-Side angle (°)-Tip shapeno tipTip materialno tipTip coating (nm)none

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针。布鲁克AFM探针制造优势：*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。Doped Diamond这个系列的探针在针尖的一侧涂有可导电的金刚石涂层。由于金刚石的硬度很高，所以涂层也很耐磨。这类探针的典型应用包括：扫描扩散电阻显微镜 (SSRM)，扫描电容显微镜 (SCM)，和隧道/导电原子力显微镜。 NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) DDDDESP-10UnmountedDoped DLC Coated Tips, 42N/m, 320kHz, Al Reflective Coating1035

【技术参数】型号CDT-NCHR制造厂商NanoWorld探针描述导电金刚石镀层探针 硅基探针类型非接触模式，轻敲模式应用普通样品,扫描形貌【产品详情】悬臂描述Lever1234Spring k (N/m)42 (10 - 130)---Freq (kHz)330 (204 - 497)---Length (μm)125 (115 - 135)---Width (μm)30 (22.5 - 37.5)---Thickness (μm)4.0 (3.0 - 5.0)---Shaperectangular---MaterialSilicon---Reflex Coating (nm)Al (30)---针尖描述Tip radius (nm)150 +/- 50Tip height (μm)12.5 +/- 2.5Front angle (°)25 +/- 2Back angle (°)15 +/- 2Side angle (°)22.5 +/- 2Tip shape4-sidedTip materialSiliconTip coating (nm)doped diamond (100)

【技术参数】型号FMR制造厂商NanoWorld探针描述硅基探针；Al反射层类型轻敲模式 软探针 (气相)应用普通样品，形貌扫描【产品详情】悬臂描述Lever1234Spring k (N/m)2.8 (1.2 - 5.5)---Freq (kHz)75 (60 - 90)---Length (μm)225 (220 - 230)---Width (μm)28 (23 - 33)---Thickness (μm)3.0 (2.5 - 3.5)---Shaperectangular---MaterialSilicon---Reflex Coating (nm)Al (30)---针尖描述Tip radius (nm)8 +/- 2Tip height (μm)12.5 +/- 2.5Front angle (°)25 +/- 2Back angle (°)15 +/- 2Side angle (°)22.5 +/- 2Tip shape4-sidedTip materialSiliconTip coating (nm)none

【技术参数】型号ASYELEC.01-R2制造厂商Asylum Research探针描述硅基探针；Ti/Ir反射层；针尖镀Ti/Ir类型电学模式应用导电模式,静电力模式,表面电势模式,扫描电容模式,压电力模式 CAFM EFM KPFM SCM PFM【产品详情】悬臂描述Lever1234Spring k (N/m)2.8 (1.4 - 5.8)---Freq (kHz)75 (58 - 97)---Length (μm)240 (233 - 245)---Width (μm)35 (30 - 40)---Thickness (μm)3.0 (2.5 - 3.5)---Shaperectangular---MaterialSilicon---Reflex Coating (nm)Ti/Ir (5/20)---针尖描述Tip radius (nm)25Tip height (μm)12.5 +/- 2.5Front angle (°)20 +/- 1Back angle (°)35 +/- 1Side angle (°)30 +/- 1Tip shape3-sidedTip materialSiliconTip coating (nm)Ti/Ir (5/20)

AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备。探针针尖半径一般为10到几十nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用领域的显微镜，如AFM（范德法力），静电力显微镜EFM（静电力）磁力显微镜MFM（静磁力）侧向力显微镜LFM（探针侧向偏转力）等， 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。型号种类备注HQ:XSC11/AlBS轻敲四悬臂、多功能硅探针，基片背面镀铝的反射层HQ:DEP-XSC11轻敲导电低噪音导电硅探针，四悬臂，多功能，镀铂HQ:NSC18/Co-Cr/AlBS磁性一个悬臂梁针尖，针尖镀钴铬，磁性探针，基片背面镀铝的反射层HQ:CSC37/AlBS接触三个悬臂梁针尖，基片背面镀铝的反射层HQ:CSC37/tipless/Cr-Au接触三悬臂无针尖探针，镀铬金HQ:CSC17/Pt接触导电单悬臂，镀铂HQ:NSC15/AlBS轻敲单个悬臂梁针尖，基片背面镀铝的反射层NSC11/AlBS轻敲两个三角型悬臂梁针尖，基片背面镀铝的反射层NSC15/AlBS轻敲单个悬臂梁针尖，基片背面镀铝的反射层NSC18/AlBS轻敲单个悬臂梁针尖，基片背面镀铝的反射层NSC19/AlBS轻敲单个悬臂梁针尖，基片背面镀铝的反射层NSC35/AlBS轻敲三个悬臂梁针尖，基片背面镀铝的反射层CSC11/AlBS接触两个三角型悬臂梁针尖，基片背面镀铝的反射层CSC37/AlBS接触三个悬臂梁针尖，基片背面镀铝的反射层CSC38/AlBS接触三个悬臂梁针尖，基片背面镀铝的反射层NSC18/Co-Cr轻敲一个悬臂梁针尖，针尖镀钴铬，磁性探针CSC38/Cr-Au接触三个悬臂梁针尖，针尖镀铬金，导电探针NP-S接触接触模式氮化硅探针，液体中轻敲成像和力测量。四悬臂0.06-0.58N/m 反射面镀金PPP-NCHR-20轻敲PPP硅探针用于增强SPM图片分辨率PPP-SEIHR-20轻敲PPP硅探针用于增强SPM图片分辨率AN-NSC10轻敲适用于非接触模式、轻敲模式、间断模式和近距离接触模式；长：125μm；弹性系数：40N/m；共振频率：300kHz。AN-NSC01轻敲适用于非接触模式、轻敲模式、间断模式和近距离接触模式；长：225μm；弹性系数：1.6N/m；共振频率：61kHz。ACCESS-50轻敲超稳定、超细前倾针尖，可直接观察针尖在样品上的工作情况HYDRA6R-200N-20轻敲具有长且尖、低弹性系数的矩形悬臂，高分辨率；主要应用于接触模式，但同时也可用于轻敲和非接触模式；HA--_NC（新）轻敲新型高精度探针，50根/盒。每个基片有两根长方形的多晶硅悬臂和尖锐硅针尖（典型值10nm）。共振频率120/200 KHz,弹性常数3.4/5.8N/mNSG01轻敲NSG01系列轻敲模式SPM探针，50根/盒，共振频率115-190KHz，弹性系数2.5-10N/m，仅有一个悬臂和针尖NSG03轻敲NSG03系列轻敲模式SPM探针，50根/盒，共振频率90-116KHz，弹性系数0.5-2.2N/m，仅有一个悬臂和针尖NSG10轻敲NSG10系列轻敲模式SPM探针，50根/盒，共振频率190-325KHz，弹性系数5.5-22.5N/m，仅有一个悬臂和针尖NSG20轻敲NSG20系列轻敲模式SPM探针，50根/盒，共振频率260-630KHz，弹性系数28-91N/m，仅有一个悬臂和针尖NSG01S轻敲NSG01S系列轻敲模式SPM探针，50根/盒，每根针尖附有SEM校准照片，共振频率115-190KHz，弹性系数2.5-10N/m，仅一个悬臂和针尖NSG10S轻敲NSG10S系列轻敲模式SPM探针，50根/盒，每根针尖附有SEM校准照片，共振频率190-325KHz，弹性系数5.5-22.5N/m，仅一个悬臂和针尖NSG20S轻敲NSG20S系列，50根/盒，每根针尖附有SEM校准照片，共振频率260-630KHz，弹性系数28-91N/m，仅有一个悬臂和针尖NSG10 DLC/10/50超细超细类金刚石碳（DLC）探针，10根/盒，典型曲率半径1nm，生长在NSG10和NSG01系列探针上NSC0510/20°/5超细NSC05 10°/20°轻敲模式，5根/盒，有10度和20度倾角的须状物针尖NSG01/Au/Pt/TiN/WuC/50导电NSG01系列轻敲模式SPM探针（分别镀金、镀铂、镀氮化钛、镀碳化钨导电层），50根/盒，共振频率115-190KHz，弹性系数2.5-10N/mNSG10/Au/Pt/TiN/WuC/50导电NSG10系列轻敲模式SPM探针（分别镀金、镀铂、镀氮化钛、镀碳化钨导电层），50根/盒，共振频率190-325KHz，弹性系数5.5-22.5N/mNSG20/Au/Pt/TiN/WuC/50导电NSG20系列轻敲模式SPM探针（分别镀金、镀铂、镀氮化钛、镀碳化钨导电层），50根/盒，共振频率260-630KHz，弹性系数28-91N/mNSG03/Au/Pt/TiN/WuC/50导电NSG03系列轻敲模式SPM探针（分别镀金、镀铂、镀氮化钛、镀碳化钨导电层），50根/盒，共振频率90-116KHz，弹性系数0.5-2.2N/mNSG01/Co/50磁性NSG01系列轻敲模式SPM探针（镀钴铬磁性层），50根/盒，共振频率115-190KHz，弹性系数2.5-10N/mNSG03/Co/50磁性NSG03系列轻敲模式SPM探针（镀钴铬磁性层），50根/盒，共振频率90-116KHz，弹性系数0.5-2.2N/mNSG11/tipless/50无针尖无针尖NSG11系列，每头两个悬臂，50根/盒，共振频率115-190KHz，190-325KHz，弹性系数2.5-10 N/m,5.5-22.5N/mNSG20/tipless/50无针尖无针尖NSG20系列，50根/盒，一个三角形悬臂，共振频率260-630KHz，弹性系数28-91N/mMF001/002/003/004SNOM一套10根/盒SNOM探针（波长400-550nm）（波长450-600nm）（波长600-680nm），（波长780-970nm），没有音叉DCP11/50金刚石镀层轻敲模式镀金刚石导电探针DCP11系列，50根/盒，每根探针有两个悬臂，共振频率190-325KHz，115-190KHz；弹性系数5.5-22.5N/m，2.5-10N/m。稳定的、非破坏性的金刚石镀层可供长期使用。DCP20/50金刚石镀层轻敲模式镀金刚石导电探针DCP20系列，50根/盒，每根探针有一个悬臂，共振频率260-630KHz；弹性系数28-91N/m，AFM氧化刻蚀的理想探针。CSG01接触CSG01系列接触模式SPM探针，50根/盒，共振频率7-14KHz，弹性系数0.01-0.08N/m，仅有一个悬臂和针尖CSG10接触CSG10系列接触模式SPM探针，50根/盒，共振频率14-28KHz，弹性系数0.03-0.2N/m，仅有一个悬臂和针尖CSG01S接触CSG01系列接触模式SPM探针，50根/盒，每根针尖附有SEM校准照片，共振频率7-14KHz，弹性系数0.01-0.08N/m，仅有一个悬臂和针尖CSC0510/20°/5超细接触模式须型SPM探针，5根/盒，有10度和20度倾角的须状物针尖CSG10/Pt/TiN/50导电CSG11系列轻敲模式SPM探针（分别镀金、镀铂、镀氮化钛导电层），50根/盒，共振频率14-28KHz，弹性系数0.03-0.2N/m0.03-0.2N/mCSG01/Au/Pt/TiN/50导电CSG01系列轻敲模式SPM探针（分别镀金、镀铂、镀氮化钛导电层），共振频率7-14KHz，弹性系数0.01-0.08N/mCSG10/Au/Pt/TiN/50导电CSG10系列轻敲模式SPM探针（分别镀金、镀铂、镀氮化钛导电层），50根/盒，共振频率14-28KHz，弹性系数0.03-0.2N/m更多其他型号探针，请联系我们：sales@sunano.com.cn 021-5683191，92

常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

Omniprobe公司提供扫描电子和离子束显微镜纳米实验设备，处于行业领先水平。钨探针针尖由Omniprobe公司生产，包括 AutoProbe? 200, AutoProbe? AutoProbe? 250, 300, Short-Cut?, OmniGIS? 和 SST? 400-1 。l 钨/镍探针针尖Tungsten /Nickel Probe Tips常规设计，镍管柄、钨尖，钨尖尺寸：半径0.5um，13o锥角。使用寿命长。货号产品名称规格75960-01钨/镍探针针尖Tungsten/Nickel Probe Tip10/bxl 钨探针针尖Tungsten Probe Tips常规设计，钨尖尺寸：半径0.5um，13o锥角。使用寿命长。货号产品名称规格75960-02钨探针针尖All Tungsten Probe Tip10/bxl 原位探针针尖In-Situ Probe Tips常规的钨针尖，不锈钢柄，适合AutoProbe? 300、原位探针针尖更换系统和Short-Cut? 。钨尖尺寸：半径0.5um，8-10o锥角。 货号产品名称规格75960-03原位探针针尖In-Situ Probe Tip10/bxl Xtreme Access ?” 钨探针针尖 Tungsten Probe Tips常规设计，钨尖尺寸：半径小于0.5um，13o锥角。使用寿命长。货号产品名称规格75960-04XA ?” 钨探针针尖 Tungsten Probe Tip10/bxl Autoprobe 250钨探针针尖Tungsten Probe Tips常规设计，钨尖尺寸：半径小于0.5um，6o锥角。使用寿命长。（兼容Short-Cut?）货号产品名称规格75960-05AP250钨探针针尖 Tungsten Probe Tip10/bxl Xtreme Access Short-Cut? Probe Tips常规设计，钨尖尺寸：半径小于0.5um，6o锥角。使用寿命长。（兼容Short-Cut?）货号产品名称规格75960-06XA Short Cut Tungsten Probe Tip10/bxl XA探针针尖夹持器 Probe Point Holder适合 ?”钨探针针尖，, #75960-04 和 #75960-06. 货号产品名称规格75961-10 XA探针针尖夹持器 Probe Point Holder个l AP250 探针针尖夹持器Probe Tip HolderAutoProbe? 250探针针尖夹持器适合的钨针尖是75960-05.兼容 Short-Cut?。货号产品名称规格75961-105AP250 探针针尖夹持器Probe Tip Holder个

详情请咨询：18994392037（同VX）李经理 AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用域的显微镜，如AFM(范德华力)，静电力显微镜EFM(静电力)磁力显微镜MFM(静磁力)侧向力显微镜LFM(探针侧向偏转力)等， 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。原子力显微镜的探针主要有以下几种:(1)、 非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针:常用的产品，分辨率高，使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损，分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。(2)、 导电探针:通过对普通探针镀20-40纳米厚的Pt(以及别的提高镀层结合力的金属，如Au、Cr、Ti和Pt与Ir的合金等)得到。导电探针应用于EFM，KFM，SCM等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差，使用时导电镀层容易脱落，导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖，金刚石镀层针尖，全金刚石针尖，全金属丝针尖，这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。(3)、磁性探针:应用于MFM，通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备，分辨率比普通探针差，使用时导电镀层容易脱落。(4)、大长径比探针:大长径比针尖是为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点:不太常用的产品，分辨率很高，使用寿命一般。技术参数:针尖高度 9μm 长径比5:1 针尖半径 10 nm。(5)、类金刚石碳AFM探针/全金刚石探针:一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜，另外一种是全金刚石材料制备(价格很高)。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性，减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。还有生物探针(分子功能化)，力调制探针，压痕仪探针 Park四面体探针测微悬臂的特点，在于探针位于测微悬臂的Z端，由此易于清楚确认探针与样品的位置关系，从而迅速而准确地对准测定位置。为满足客户多种特殊需求，此产品备有标准型、铂膜型和四面刃型三种类型的硅探针可供选择。 OMCL-AC240TS 10M 微软型(Medium-soft Silicon Cantilever) 适用于测量易受损(Soft)的样品 在轻敲模式中拥有Z微小的弹性系数2 N/m的硅悬臂,适合用来观测局部解剖的表面与柔软样品的黏弹性 Medium-soft Silicon Cantilever Spring constant of 2 N/m (norminal) is smallest of silicon cantilevers, suitable for observing surface ography ａnd viscoelasticity of soft samples.(2n/m,70khz) AFM的测量模式：※接触式(Contact mode)： 探针与材料表面间的距离为(2~3nm)。在扫描时，针尖与样品表面轻轻接触，产品微弱的排斥力使探针偏移，从而使得样品表面形貌的图像。※非接触式(Non-contact mode)： 探针与材料表面总维持着一定的距离(低于20nm)。非接触式为轻敲式的衍生，一样是利用探针跳动来扫描，但是探针始终都不接触表面。 ※轻敲式(Tapping mode又称 AC mode)： 介于接触式和非接触式之间，探针与材料表面间的距离为(5nm)。以探针震荡方式，探针在试片上跳动，当探针震荡至波谷时微接触样品。 Park探针选用小贴士： AC160TS:Tapping Mode,用於較硬的sample,適用半導體材料,金屬材料,Polymer,DVD… AC240TS:Tapping Mode,用於較軟的sample,適用生命科學:DNA,細胞,薄膜,蛋白質…

为Faro Arm便携式坐标测量机提供了完整的替换探头，测针和附件产品系列，适合所有FARO臂和Faro Gage臂的球探针和测针。有2毫米，3毫米，4毫米，6毫米，9毫米规格，请致电我们咨询最适合您的产品 17806282711 合作、共赢！美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

主要特征：由于下降速度的控制可高度重复针头的接触条件，可在控制器上单独控制针尖压力。运动针制导系统使用精密红宝石球探针和抛光碳化钨实心针，具有精确的圆角针间距精度±0.01mm，无侧隙。探针在原位制导设备中进行更改和改变，不用担心乱序或者精度值下降，或在指导单位下完成探针的更换。千分尺控制片位移来测定余斜面片的电阻率梯度和连接点钢铰链式盖板，在测量过程中消除光电干扰。速度控制：空气阻尼器控制探针下降速度，从而保证了每次探针测量的接触条件相同。弹簧是用于升降杆，倾向于降低针头。该阻尼器与杆相连接，导致杆被活塞延缓升降速度。技术指标探针材质碳化钨，Φ=0.5mm，L=26mm，450夹角，针尖曲率R=25μm（大到500μm）探针间距1.00mm，1.27mm，1.59mm，公差±0.01mm行程4mm针尖绝缘电阻500V时，2*105Ω针尖压力0~100g（通过特别的张力计可调）待测样品薄片，Φ≤76mm安装表球轴承坐标表0~25mm*0.01mm螺纹千分尺（其他可供预定）带有旋转工作台Φ=76mm，H=14mm真空切片适配器包装尺寸480mm*320mm*320mm（H）净重7kg毛重9kg

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