扫描卡尔文探针测试系统

扫描NV探针显微镜SNVM 扫描NV探针显微镜（Scanning nitrogen-vacancy probe microscope，SNVM）是一款结合了金刚石氮-空位色心（Nitrogen-Vacancy, NV）光探测磁共振（Optically Detected Magnetic Resonance, ODMR）技术和原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）扫描成像技术的量子精密测量仪器，可实现对磁性样品高空间分辨率、高灵敏度、定量无损的磁成像。应用领域测试案例

Dimension Edge 原子力显微镜 Dimension家族新成员，闭环扫描，极高性价比快速测量、结果准确、图像分辨率高测试范围广，适用于任何样品的测试先进的纳米尺度测量，适用于各技术水平Dimension Edge性价比高，大样品台AFM的最佳解决方案Dimension Edge&trade 原子力显微镜采用最新技术， 其仪器性能、测试功能和操作性在同类产品中处于最高水平。基于顶级的Dimension Icon平台, Dimension Edge系统的整体设计使其 具有低漂移、低噪音的特点, 大大提高了数据获取速度和可靠性，使用这台全新的仪器，几分钟时间即可获得高质量、可发表的专业数据。这些检测性能的提高，并没有影响仪器的价格，绝对低于您对如此高性能原子力显微镜的支出预算。此外，视觉反馈集成化和预配置可选功能辅助用户获得更高质量的测量结果。整套仪器充满人性化的设计，适用于各个研究阶段和科研水平的用户。 性价比最高的闭环Dimension系列AFM 专利的传感器设计既获得了闭环的精度，又具有 开环的噪音水平。 显著地降低噪音和漂移，在大样品台AFM上实现 了小样品台AFM的成像性能。 显微镜和电路的设计既保证了高成像性能，又使 得价格适中。快速，精确，高分辨的测量结果 全新的可视化操作界面,整体采用流程式设计，确保快速简便的设定各步骤参数 5百万像素 的高分辨率相机和马达驱动可编程平台，提供快速样品导航和高效多点测量 从大范围扫描到最高分辨检测的无缝过渡 可在短时间内获得准确结果。适用于任何样品上的任何应用的解决方案开放式平台设计可适应各种实验和样品的需求。 新仪器的设计和软件利用了最完备的Bruke AFM扫描模式和检测技术，满足最前沿的应用需求。 内置的信号路由模块，帮助研究者根据新的研究方向和实验需求，自定义检测模式。 先进的纳米级测量能力，适用于各研究水平 创新型模块化设计，不提高仪器成本的前提下，实现更高的测量性能。 最新的8型软件，凝聚10几年AFM专业研发精华，常规扫描模式外，根据实验需求，配备各种备选模式。 完整的控制平台，既可直观导航，又可进行强大的编程控制。DIMENSION系列AFM提供了最优质的AFM性能 Dimension Edge原子力显微镜既具有卓越性能，保留了Dimension ICON系统的诸多技术创新，中等价位的价格 与仪器功能达到了最好的平衡。其中最核心的技术是 Bruker创新性的闭环扫描，结合温度补偿位置传感器和模 块化的低噪音控制电路，这套针尖扫描部件把闭环噪音减 小到了单个化学键长度。为了最大限度的发挥这一优点，扫描器被固定在一个坚固的，具有漂移补偿的桥梁结构上。此桥梁结构基于FPGA的温度控制并快速稳定到极低的漂移速率。因此，Dimension Edge原子力显微镜结合了高生产效率，高精度，大样品台的样品通用性，闭环操作 和以前仅在小样品台、开环仪器上才能获得的高分辨率图像等特点，能够获得任何样品的真实图像，实现突破性的实验成果。完备的AFM功能 Dimension Edge既包含了各种常规的扫描模式和Bruker专利技术，还提供了针对各种具体应用领域的解决方案，例如纳米级的电学测量，可控环境下的材料表征等。这些功能都能够在广泛应用中获得精确成像和单点谱线测量，例如从太阳能和半导体器件的表征和多相聚合物材料成像，到从单分子到全细胞的生命科学样品的原位成像和单个纳米颗粒的研究。 电学表征Dimension Edge不仅仅是把一个AFM探针连接到低噪音电流放大器上，而是开发了Dark Lift模式，Dark Lift是在导电原子力数据把光电效应从样品的本征电导性中清晰分离的唯一方法。它是基于布鲁克已申请专利的，应用磁力显微镜和静电力显微镜中著名 的抬起模式（Lift Mode）。系统利用这两种性能以确保在静电电势成像应用的最优化测试。迄今为止，结合了Dark Lift模式的闭环（常损耗量）的扫描电容显微镜（SCM）依然是对掺杂浓度表征的最精确的解决方案。然而，如果研究者想要以最高灵敏度来探测小电压的变化，也可很容易地把抬起模式 与表面电势显微镜结合起来。Dimension Edge系统通过双频的方法，能够为任何静电电势成像的应用提高理想的解决方案。 布鲁克纳米表面仪器部开通优酷视频专辑Bruker Nano Surfaces YouKu Channel — 欢迎订阅优酷上Bruker Nano Surfaces的相关视频，观看最新的AFM产品和相关技术进展，以及历届网络研讨会和培训资料，精彩内容持续更新中！布鲁克纳米表面仪器部 Bruker Nano Surfaces北京办公室 北京市海淀区中关村南大街 11号光大国信大厦6层 6218室上海办公室 上海市徐汇区漕河泾开发区桂平路 418号新园科技广场 19楼

仪器简介：Innova扫描探针显微镜（SPM）具有高扫描分辨率、出色品质，可应用于物理、生命科学和材料科学等诸多领域。Innova具有很强的灵活性，能以较低成本满足各种科研应用要求。采用独一无二的闭环扫描线性系统，卓越的设计及工艺确保测量精度以及接近于开环运行时的噪音水平。Innova可以轻松的在90微米扫描管上实现原子级分辨率。集成的高分辨率彩色光学系统，以及可编程和电动Z轴载物台，使得寻找、对准被测区域，更换针尖或样品更加快速简便。技术参数：闭环扫描管：XY 90 &mu m，Z 7.5 &mu m开环扫描管：XY 5 &mu m, Z 1.5 &mu m样品尺寸： X-50 mm x 50 Y-mm x Z-18 mm电动Z轴载物台：Z轴行程： 18mm光学系统： 摄像头： 轴线彩色CCD，带电动变焦视场： 1.24mm x0.25mm (电动变焦，10x物镜)分辨率： 2&mu m，标准10x物镜(50x物镜0.75&mu m)电子电路：20位DAC控制器，100kHz、± 10v ADCs，数字反馈器件系统软件：用于数据采集和分析的SPMLab&trade v7.0，Windows® XP主要特点：Innova在同类SPM中，性价比最高· 独有的闭环扫描控制，在开环噪声水平上提供三维精确测· 高分辨光学系统辅助精确探针定位· 快速更换探针, 开放的样品台设计使得使用更方便，更容易· 拥有所有SPM操作模式，为科学研究提供更高的应用灵活性· 卓越的信号读录与输入功能便于用户自己设计研究方法 布鲁克纳米表面仪器部开通优酷视频专辑Bruker Nano Surfaces YouKu Channel &mdash 欢迎订阅优酷上Bruker Nano Surfaces的相关视频，观看最新的AFM产品和相关技术进展，以及历届网络研讨会和培训资料，精彩内容持续更新中！布鲁克纳米表面仪器部 Bruker Nano Surfaces 北京办公室 北京市海淀区中关村南大街 11号光大国信大厦6层 6218室电话： 传真：上海办公室 上海市徐汇区漕河泾开发区桂平路 418号新园科技广场 19楼E-mail： 产品咨询热线：

AFM5500M II全自动扫描探针显微镜除了配置高精度平板扫描器和各种测量自动化功能，还有两种共享坐标样品台功能。通过多种设备的关联解析，实现了单个设备无法实现的多维缺陷评价和故障解析。主要特点1. AFM自动化测量&bull 通过自动化控制大大提高效率，自动探针安装，自动光轴调整，自动参数优化；&bull 排除人为操作失误导致的测量误差，一键自动测量/处理/分析（提高整体测试效率） 2. 可靠性排除机械原因造成的误差大范围水平扫描采用管型扫描器的原子力显微镜，针对扫描器圆弧运动所产生的曲面，通常通过软件校正方式获得平面数据。但是，用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响，图片上经常发生扭曲效果。AFM5500M搭载了全新研发的水平扫描器，可实现不受圆弧运动影响的准确测试。 样品 ：硅片上的非晶硅薄膜高精角度测量普通的原子力显微镜所采用的扫描器，在竖直伸缩的时候，会发生弯曲（crosstalk）。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。AFM5500M中搭载的全新扫描器，在竖直方向上不会发生弯曲（crosstalk） ，可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像。样品 : 太阳能电池(由于其晶体取向具有对称结构)* 使用AFM5100N（开环控制）时 3. 利用探针评价功能进行探针尖端直径管理4. SIS模式可有效提高数据可靠性 SIS（Sampling Intelligent Scan）样品智能扫描模式只有在需要测量样品形貌和物性信息时才靠近测量点，自动控制探针位置，完全消除对测量不利的水平力，可测量吸附力较大或粗糙的样品，同时可大幅降低对探针的磨损和对样品的损伤，有效提高数据的可靠性。5. 支持机械物性/电磁物性等广泛的物性测量扫描探针显微镜是一种不仅可以测量形貌，还支持各种物性检测的显微镜。AFM5500MⅡ支持可同时获取弹性模量、形变、吸附力和摩擦力等各种机械物性的SIS-ACCESS/SIS-QuantiMech功能、以及导电性、压电分布和表面电位等各种电磁物性测量。6. 新的表面电位势测量模式 AM-KFM/FM-KFM（可用于定量和灵敏度等不同场景）除调幅开尔文力显微镜(AM-KFM)外，AFM5500MⅡ还新增了调频开尔文力显微镜(FM-KFM)。FM-KFM与AM-KFM相比，信号主要来自于探针的尖端，电位检测灵敏度更高，在电位的定量分析上更胜一筹。AM-KFM适用于单一材料间的电位和功函数对比等，FM-KFM适用于测量需要进行精细周期结构和海岛结构量化的复合材料，两种模式通过点击即可自由切换。7. 使用AFM、SEM、CSI等不同显微镜观察同一位置，实现多维度解析通过SEM、AFM、CSI等进行样品的同一位置测试，可以对目标视野进行多维度解析，实现数据的参照对比。日立高新可以提供特有的SEM/AFM/CSI同视野观察，实现联动分析。使用共享样品台进行坐标联动，或通过全新的AFM标记功能，可以在AFM、SEM、CSI之间快速、轻松地锁定同一视野，进一步扩大了联动分析的应用范围。

M370扫描电化学工作站在扫描探针电化学领域中是一个全新的概念，以超高分辨率，非接触式，空间分析电化学测量的特点而设计。M370是一个模块化的系统，可实现当今所有微区扫描探针电化学技术以及激光非接触式微区形貌测试：- 扫描电化学显微镜(SECM)- 扫描振动电极测试(SVET)- 扫描开尔文(Kelvin)探针测试(SKP)- 微区电化学阻抗测试(LEIS)- 扫描电解液微滴测试(SDS)- 非触式微区形貌测试(OSP) M370利用纳米级分辨率的快速精确，闭环x,y,z定位系统，并连同一个便捷的数据采集系统使用户依据自己的实验选择配置。此系统设计灵活且人体工程学设计方便确保池体，样品和探针的进入。 1.扫描电化学显微镜系统SECM370SECM370是一款精密的扫描微电极系统，具有极高空间分辨率，在溶液中可检测电流或施加电流于微电极与样品之间。用于检测，分析，或改变样品在溶液中的表面和界面化学性质。 应用* 研究通过膜的流量* 监测生物活性* 动力学参数确定* 影像固定化酶* 活细胞监测* 流体-流体界面* 化学成像的生物系统* 燃料电池材料的研究* 微区ISE* 表面改性* 腐蚀科学 2.扫描卡尔文探针测试系统SKP370扫描卡尔文探针系统SKP370，是一种无接触，无破坏性的仪器，可以用于测量导电，涂膜，或半导体材料，与样品探针之间的功函差。这种技术是用一个振动电容探针来工作的，通过调节一个外加的前级电压测量样品表面和扫描探针的参比针尖之间的功函差。功函和表面状况相关。SKP的独特性质使在潮湿环境甚至是气态环境中也可以测量，将不可能研究变为现实。 应用- 能量系统- 偶极层形成- 显示技术- 电荷分析- 费米能级测定- 光电压光谱- 腐蚀- 涂层- 传感器- 太阳能蓄电池 3.扫描振动电极测试系统SVP370SVP370(SVET)扫描振动电极技术是一种非破坏性扫描，利用振动探针，测量电化学化学样品表面产生的电特性。确保用户可以实时测定和定量局部电化学反应以及腐蚀。 应用* 生物活性监测* 镀膜/涂层研究* 表面污染* 表面应力腐蚀* 丝状腐蚀* 传感器 4.微区电化学阻抗测试系统LEIS370微区电化学阻抗测试系统结合了电化学阻抗EIS技术和微区扫描技术，可以精确的测试局部微区的阻抗以及相应参数。 应用* 薄膜阻抗复杂成像* 池生长介质直接成像* 光点化合反应特征化* 电池* 传感器* 金属以及合金的钝化* 燃料池* 腐蚀 5.电解液微滴扫描系统SDS370电解液微滴系统可以限定液体与样品的接触面，从而对于液滴与样品直接接触面内的电化学和腐蚀反应进行测量。这样就可以在空间分辨率上提供电化学活性，并使其限定在样品特定量化表面。 应用* 表征表面氧化物* 涂层研究* ISFET特征化* 点腐蚀* 流速对局部腐蚀的影响 6.非触式微区形貌测试系统OSP370使用非接触式激光位移传感器，OSP370模块可快速准确地对非触表面进行高精度测量。在不接触样品表面的情况下，它可以在10mm的高度范围内提供小于1微米高度分辨率的3D表面特写影像。 配件各种可选配件，包括各种可选探针，可选池体(Environmental TriCellTM,&mu TriCellTM,和Shallow &mu TriCellTM)，长工作距离光学视频显微镜(VCAM2)和3D表面阴影渲染软件(3DlsoPlotTM)。能配置到一个特定的应用程序并升级，使M370独特灵活，同时保持顶端的性能。

开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)。材料表面的功函数通常由最上层的1-3层原子或分子决定，所以开尔文探针是一种最灵敏的表面分析技术。 我们的开尔文探针系统包括：□ 单点开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□ 扫描开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□ 超高真空(UHV)开尔文探针；□ 湿度控制的腐蚀开尔文探针； 扫描开尔文探针系统 (ASKP) ASKP系统是一款可以被大多数客户所接收的高端扫描开尔文探针系统，它是在SKP基础之上包括了彩色相机/TFT显示器、2毫米和50微米探针、外部数字示波镜等配置，其规格如下：□ 2毫米，50微米探针；□ 功函数分辨率 1-3 meV(2毫米针尖)，5-10 meV(50微米针尖)；□ 针尖到样品表面高度可以达到400纳米以内；□ 表面势和样品形貌3维地图；□ 探针扫描或样品扫描选配；□ 彩色相机、调焦镜头、TFT显示器和专业的光学固定装置；□ 参考样品(带相应的扫描开尔文探针系统的形貌)；□ 备用的针尖放大器；□ 24个月超长质保期； 仪器的特色□ 全球第一台商用的完全意义上的开尔文探针系统；□ 最高分辨率的功函数和表面势，最好的稳定性和数据重现性；□ 非零专利技术(Off-null,ON) ——ON信号探测系统在高信号水平下工作，与基于零信号原理(null-based,LIA)的系统相比，不会收到噪声的影响拥有高灵敏度；□ 高度调节专利技术 ——我们的仪器在测量和扫描时可以控制针尖的高度。因为功函数受　　　　　　　　　　　　　　　样品形貌的影响，针尖与样品表面距离的调节意味着数据的高重现性且不会漂移；□ 该领域内，拥有最好的信噪比；□ 快速响应时间 ——测量速度在0.1-10秒间，远快于其他公司产品；□ 功能强的驱动器 ——选用Voice-coil(VC)驱动器，与通常的压电驱动器相比，VC驱动器频率要稳定得多、控制的针尖振幅大得多、支持平行多探针操作、支持不同直径探针操作；□ 所有开尔文探针参数的全数字控制；ON 非零探测 Off Null detection HR 高度调节模式 Height Regulation mode SM 实际开尔文探针信号监控 Monitoring of the actual Kelvin probe signal UC 用户通道，同时测量外部参数 User Channels, simultaneous measurement of external parameters DC 电流探测系统去除漂移效应 Current Detection system rejects stray capacity effects PP 平行板震动模式 Ideal, Parallel Plate Oscillation Mode SA 信号平均 Signal Averaging (often termed Box-Car Detection) WA 功函数平均 Work Function Averaging, Difference and Absolute reporting DC 所有探针及探测参数的数字控制 Digital Control of all Probe and Detection Parameters QT 针尖快速改变 Quick-change Tip, variable spatial resolution DE 数据输出 Data Export to Excel, Origin, or 3rd party software OC 输出通道 Output Channel: TTL switching of external circuit FC 法拉第笼(电磁干扰防护罩) Faraday Cage (EMI Shield) RS 金-铝参考样品 Gold-Aluminium Reference Sample 额外选配项 SPV 表面光伏电压软硬件包 Surface Photovoltage Software and Hardware Package RH 相对湿度腔 Relative Humidity Chamber AC 控制气体进口的环境单元 Ambient Cell for controlled Gas Inlet EDS 外部数据示波镜 External Digital Oscilloscope OPT 彩色相机 Color Camera, TFT Screen and Optical Mounts ST 针尖置换 Replacement Tips GCT 镀金的针尖替换 Gold Coated Replacement Tips XYZ 25.4毫米手动3维控制台 3-axis 25.4 mm Manual Stage 应用领域 吸附，电池系统，生物学和生物技术，催化作用，电荷分析，涂层，腐蚀，沉积，偶极层形成，显示技术，教育，光/热散发，费米级扫描，燃料电池，离子化，MEMs，金属，微电子，纳米技术，Oleds，相转变，感光染色，光伏谱学，高分子半导体，焦热电，半导体，传感器，皮肤，太阳能电池，表面污染，表面化学，表面光伏，表面势，表面物理，薄膜，真空研究，功函数工程学；

锥形光纤探针扫描系统锥形光纤探针扫描系统GalvoStation是一种单通道光电激光设备，锥形光纤探针扫描系统设计用于使用Lambda Fibers进行空间选择性光传输和收集。GalvoStation允许将Lambda光纤发出的光限制在其有效长度的子位置。锥形光纤探针扫描系统在有效长度范围内，可以沿光纤轴任意扫描活性子位点。锥形光纤探针扫描系统利用这一特性，可以对不同深度分辨率的大脑区域进行光刺激，以便使用多电极阵列记录不同深度的光致电生理信号，或在深度分辨率的纤维光度测定实验中收集来自不同大脑区域的荧光信号。用锥形光纤探针Lambda Fibers的位置选择性光传输/收集的轴向分辨率由子站点长度表示。锥形光纤探针扫描系统GalvoStation可以配备一个或两个激光源，并可选地包括一个光路，用于组合光传输和收集与单个探头。下表列出了带有相关应用程序的选项集示例。Laser wavelengths[nm]Collectionband [nm]Application example405 + 473500 – 550基于等吸收控制的GCaMP空间选择性光纤光度法473N/A基于ChR2的空间选择光遗传学405 + 561600 – 650基于等吸收控制的RCaMP空间选择性光纤光度法锥形光纤探针扫描系统组成：完整的GalvoStation系统由GalvoStation(1)，其电源(2)，一个或两个激光驱动器(3)，一个DAQ板(可选，4)和一个光电探测器(可选，5)组成。根据所选的配置，系统提供了一组补片光纤和所需的所有电缆。2根2m长的D-Sub15电缆。一根探针跳线(SMA905到护套)。一根传感器跳线(SMA905到FC/PC)。三根0.5米长的BNC电缆。4根2000米长的BNC电缆。三个BNC-Tee适配器。一根2米长的3针DIN电缆。3根C13交流电缆。一个DAQ电源。还包括一个入门工具包。由:一根5pack Lambda-plus fibers(光纤类型和短管规格由客户定义，包括一张校准幻灯片) 一根探针跳线(与Lambda-plus fibers类型相同) 一根传感器跳线。如果要使用旋转接头，则在订单中指定的连接器将提供额外的跳接线。设备提供的探针跳线建议与Lambda-plus fibers和TaperScan软件进行配套使用蕞佳。GalvoStation提供的传感器跳线基于高数值孔径光纤，适合与光电探测器(可选包括)一起使用。如果与您自己的光电探测器一起使用，请参考制造商的光电探测器跳线的选择和购买指南。锥形光纤探针Lambda-plus fibersLambda-plus fibers是在不同批次的光纤中选择具有严格的锥度长度和锥度轮廓公差的光纤，用于恒定的子位点长度，强烈推荐给GalvoStation和ThetaStation用户。TaperScan—GalvoStation控制软件TaperScan软件可用于GalvoStation的完全控制。它允许选择Lambda fibers的有源子站点，操作激光源及其光功率水平。实现了两种操作模式:手动模式用于直接手动控制Lambda fibers的空间选择性光发射，以及协议模式，可以对单源(例如光遗传刺激)和双源(例如具有等吸光控制的光纤测光)刺激程序进行编程。手动版锥形光纤探针扫描器Thetastation是一种光机械工具，设计用于使用Lambda fibers进行空间选择性光传输。该设备允许限制和手动扫描Lambda fibers在其有效长度的子站点发出的光。通过这样做，可以独立探测植入Lambda fibers的组织区域的子部分:这种能力在光遗传学实验中提供了额外的自由度，当沿着一个轴延伸的读出技术与定点选择性光传输(例如线性微电极阵列)同时使用时，这一点特别相关。一般性建议：建议使用激光光源。使用单模(SM)输入跳线以获得蕞佳传输效率。Lambda fiber的发光子区域的位置和尺寸以及传输效率需要作为千分尺螺杆位置的函数进行校准。关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

开尔文探针表面光电压谱开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)。材料表面的功函数通常由上层的1-3层原子或分子决定，所以开尔文探针是一种灵敏的表面分析技术。我们的开尔文探针系统包括：□单点开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□扫描开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□超高真空(UHV)开尔文探针；□湿度控制的腐蚀开尔文探针； 扫描开尔文探针系统 (ASKP)ASKP系统是一款可以被大多数客户所接收的高端扫描开尔文探针系统，它是在SKP基础之上包括了彩色相机/TFT显示器、2毫米和50微米探针、外部数字示波镜等配置，其规格如下：□2毫米，50微米探针；□功函数分辨率 1-3 meV(2毫米针尖)，5-10 meV(50微米针尖)；□针尖到样品表面高度可以达到400纳米以内；□表面势和样品形貌3维地图；□探针扫描或样品扫描选配；□彩色相机、调焦镜头、TFT显示器和专业的光学固定装置；□参考样品(带相应的扫描开尔文探针系统的形貌)；□备用的针尖放大器； 仪器的特色 □分辨率的功函数和表面势，稳定性和数据重现性；□该领域内，拥有好的信噪比；□快速响应时间 ——测量速度在0.1-10秒间，远快于其他公司产品；□功能强的驱动器 ——选用Voice-coil(VC)驱动器，与通常的压电驱动器相比，VC驱动器频率要稳定得多、控制的针尖振幅大得多、支持平行多探针操作、支持不同直径探针操作；□所有开尔文探针参数的全数字控制；ON非零探测 Off Null detectionHR高度调节模式 Height Regulation modeSM实际开尔文探针信号监控 Monitoring of the actual Kelvin probe signalUC用户通道，同时测量外部参数 User Channels, simultaneous measurement of external parametersDC电流探测系统去除漂移效应 Current Detection system rejects stray capacity effectsPP平行板震动模式 Ideal, Parallel Plate Oscillation ModeSA信号平均 Signal Averaging (often termed Box-Car Detection)WA功函数平均 Work Function Averaging, Difference and Absolute reportingDC所有探针及探测参数的数字控制Digital Control of all Probe and Detection ParametersQT针尖快速改变 Quick-change Tip, variable spatial resolutionDE 数据输出 Data Export to Excel, Origin, or 3rd party softwareOC输出通道 Output Channel: TTL switching of external circuitFC法拉第笼(电磁干扰防护罩) Faraday Cage (EMI Shield)RS金-铝参考样品 Gold-Aluminium Reference Sample额外选配项SPV表面光伏电压软硬件包 Surface Photovoltage Software and Hardware PackageRH相对湿度腔 Relative Humidity ChamberAC控制气体进口的环境单元 Ambient Cell for controlled Gas InletEDS外部数据示波镜 External Digital OscilloscopeOPT彩色相机 Color Camera, TFT Screen and Optical MountsST针尖置换 Replacement TipsGCT镀金的针尖替换 Gold Coated Replacement TipsXYZ25.4毫米手动3维控制台 3-axis 25.4 mm Manual Stage 应用领域 吸附，电池系统，生物学和生物技术，催化作用，电荷分析，涂层，腐蚀，沉积，偶极层形成，显示技术，教育，光/热散发，费米级扫描，燃料电池，离子化，MEMs，金属，微电子，纳米技术，Oleds，相转变，感光染色，光伏谱学，高分子半导体，焦热电，半导体，传感器，皮肤，太阳能电池，表面污染，表面化学，表面光伏，表面势，表面物理，薄膜，真空研究，功函数工程学；

开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)。材料表面的功函数通常由最上层的1-3层原子或分子决定，所以开尔文探针是一种最灵敏的表面分析技术。 我们的开尔文探针系统包括：□ 单点开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□ 扫描开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□ 超高真空(UHV)开尔文探针；□ 湿度控制的腐蚀开尔文探针； 扫描开尔文探针系统 (ASKP) ASKP系统是一款可以被大多数客户所接收的高端扫描开尔文探针系统，它是在SKP基础之上包括了彩色相机/TFT显示器、2毫米和50微米探针、外部数字示波镜等配置，其规格如下：□ 2毫米，50微米探针；□ 功函数分辨率 1-3 meV(2毫米针尖)，5-10 meV(50微米针尖)；□ 针尖到样品表面高度可以达到400纳米以内；□ 表面势和样品形貌3维地图；□ 探针扫描或样品扫描选配；□ 彩色相机、调焦镜头、TFT显示器和专业的光学固定装置；□ 参考样品(带相应的扫描开尔文探针系统的形貌)；□ 备用的针尖放大器；□ 24个月超长质保期； 仪器的特色□ 全球第一台商用的完全意义上的开尔文探针系统；□ 最高分辨率的功函数和表面势，最好的稳定性和数据重现性；□ 非零专利技术(Off-null,ON) ——ON信号探测系统在高信号水平下工作，与基于零信号原理(null-based,LIA)的系统相比，不会收到噪声的影响拥有高灵敏度；□ 高度调节专利技术 ——我们的仪器在测量和扫描时可以控制针尖的高度。因为功函数受　　　　　　　　　　　　　　　样品形貌的影响，针尖与样品表面距离的调节意味着数据的高重现性且不会漂移；□ 该领域内，拥有最好的信噪比；□ 快速响应时间 ——测量速度在0.1-10秒间，远快于其他公司产品；□ 功能强的驱动器 ——选用Voice-coil(VC)驱动器，与通常的压电驱动器相比，VC驱动器频率要稳定得多、控制的针尖振幅大得多、支持平行多探针操作、支持不同直径探针操作；□ 所有开尔文探针参数的全数字控制；ON 非零探测 Off Null detection HR 高度调节模式 Height Regulation mode SM 实际开尔文探针信号监控 Monitoring of the actual Kelvin probe signal UC 用户通道，同时测量外部参数 User Channels, simultaneous measurement of external parameters DC 电流探测系统去除漂移效应 Current Detection system rejects stray capacity effects PP 平行板震动模式 Ideal, Parallel Plate Oscillation Mode SA 信号平均 Signal Averaging (often termed Box-Car Detection) WA 功函数平均 Work Function Averaging, Difference and Absolute reporting DC 所有探针及探测参数的数字控制 Digital Control of all Probe and Detection Parameters QT 针尖快速改变 Quick-change Tip, variable spatial resolution DE 数据输出 Data Export to Excel, Origin, or 3rd party software OC 输出通道 Output Channel: TTL switching of external circuit FC 法拉第笼(电磁干扰防护罩) Faraday Cage (EMI Shield) RS 金-铝参考样品 Gold-Aluminium Reference Sample 额外选配项 SPV 表面光伏电压软硬件包 Surface Photovoltage Software and Hardware Package RH 相对湿度腔 Relative Humidity Chamber AC 控制气体进口的环境单元 Ambient Cell for controlled Gas Inlet EDS 外部数据示波镜 External Digital Oscilloscope OPT 彩色相机 Color Camera, TFT Screen and Optical Mounts ST 针尖置换 Replacement Tips GCT 镀金的针尖替换 Gold Coated Replacement Tips XYZ 25.4毫米手动3维控制台 3-axis 25.4 mm Manual Stage 应用领域 吸附，电池系统，生物学和生物技术，催化作用，电荷分析，涂层，腐蚀，沉积，偶极层形成，显示技术，教育，光/热散发，费米级扫描，燃料电池，离子化，MEMs，金属，微电子，纳米技术，Oleds，相转变，感光染色，光伏谱学，高分子半导体，焦热电，半导体，传感器，皮肤，太阳能电池，表面污染，表面化学，表面光伏，表面势，表面物理，薄膜，真空研究，功函数工程学；

扫描开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置用于导电材料的功函或半导体或绝缘体材料表面的表面电势，表面功函由材料表面最顶部的1-3层原子或分子决定，因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界最高分辨率的测试系统 主要特点： ● 功函分辨率 3meV ● 扫描面积：5mm to 300mm（四种型号，每种型号扫描面积不同） ● 扫描分辨率：317.5nm ● 自动高度调节 应用领域： ● 有机和非有机半导体 ● 金属 ● 薄膜 ● 太阳能电池和有机光伏材料 ● 腐蚀 升级附件： ● 空气光发射系统 ● 表面光电压(QTH or LED) ● SPS表面光电压光谱(400-1000nm) ● 金或不锈钢探针，直径0.05mm to 20mm ● 相对湿度控制和氮气环境箱

开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)。材料表面的功函数通常由最上层的1-3层原子或分子决定，所以开尔文探针是一种最灵敏的表面分析技术。 扫描开尔文探针系统 (SKP)：SKP5050系统是一款可以被大多数客户所接收的高端扫描开尔文探针系统，它是在SKP基础之上包括了彩色相机/TFT显示器、2毫米和50微米探针、外部数字示波镜等配置，其规格如下：□ 2毫米，50微米探针；□ 功函数分辨率 1-3 meV(2毫米针尖)，5-10 meV(50微米针尖)；□ 针尖到样品表面高度可以达到400纳米以内；□ 表面势和样品形貌3维地图；□ 探针扫描或样品扫描选配；□ 彩色相机、调焦镜头、TFT显示器和专业的光学固定装置；□ 参考样品(带相应的扫描开尔文探针系统的形貌)；□ 备用的针尖放大器； 仪器特色：□ 全球第一台商用的完全意义上的开尔文探针系统；□ 最高分辨率的功函数和表面势，最好的稳定性和数据重现性；□ 非零专利技术(Off-null,ON) ——ON信号探测系统在高信号水平下工作，与基于零信号原理(null-based,LIA)的系统相比，不会收到噪声的影响拥有高灵敏度；□ 高度调节专利技术 ——我们的仪器在测量和扫描时可以控制针尖的高度。因为功函数受样品形貌的影响，针尖与样品表面距离的调节意味着数据的高重现性且不会漂移；□ 该领域内，拥有最好的信噪比；□ 快速响应时间 ——测量速度在0.1-10秒间，远快于其他公司产品；□ 功能强的驱动器 ——选用Voice-coil(VC)驱动器，与通常的压电驱动器相比，VC驱动器频率要稳定得多、控制的针尖振幅大得多、支持平行多探针操作、支持不同直径探针操作；□ 所有开尔文探针参数的全数字控制；ON 非零探测 Off Null detection HR 高度调节模式 Height Regulation modeSM实际开尔文探针信号监控 Monitoring of the actual Kelvin probe signalUC用户通道，同时测量外部参数 User Channels, simultaneous measurement of external parametersDC电流探测系统去除漂移效应 Current Detection system rejects stray capacity effectsPP平行板震动模式 Ideal, Parallel Plate Oscillation ModeSA信号平均 Signal Averaging (often termed Box-Car Detection)WA功函数平均 Work Function Averaging, Difference and Absolute reportingDC所有探针及探测参数的数字控制 Digital Control of all Probe and Detection ParametersQT针尖快速改变 Quick-change Tip, variable spatial resolutionDE 数据输出 Data Export to Excel, Origin, or 3rd party softwareOC输出通道 Output Channel: TTL switching of external circuitFC法拉第笼(电磁干扰防护罩) Faraday Cage (EMI Shield)RS金-铝参考样品 Gold-Aluminium Reference Sample额外选配项SPV表面光伏电压软硬件包 Surface Photovoltage Software and Hardware PackageRH相对湿度腔 Relative Humidity ChamberAC控制气体进口的环境单元 Ambient Cell for controlled Gas InletEDS外部数据示波镜 External Digital OscilloscopeOPT彩色相机 Color Camera, TFT Screen and Optical MountsST针尖置换 Replacement TipsGCT镀金的针尖替换 Gold Coated Replacement TipsXYZ25.4毫米手动3维控制台 3-axis 25.4 mm Manual Stage应用领域：吸附，电池系统，生物学和生物技术，催化作用，电荷分析，涂层，腐蚀，沉积，偶极层形成，显示技术，教育，光/热散发，费米级扫描，燃料电池，离子化，MEMs，金属，微电子，纳米技术，Oleds，相转变，感光染色，光伏谱学，高分子半导体，焦热电，半导体，传感器，皮肤，太阳能电池，表面污染，表面化学，表面光伏，表面势，表面物理，薄膜，真空研究，功函数工程学； 参考用户：吉林大学、哈工大、大连理工大学、湖南大学、浙江大学、复旦大学、华中科技大学、华南理工大学、合肥工大、中科院纳米中心、中科院理化所、中科院高能所等...

双探针扫描电子显微镜是一种将形貌表征技术（扫描电子显微镜）与电学测试技术（双探针电学测量系统）结合在一起的测试系统。双探针扫描电镜主要包括真空系统、电子光学系统、样品台和探针系统等四个组成部分，如图1所示。其中真空系统用于提供样品形貌表征和测试所需的真空环境，电子光学系统用于扫描电子成像，样品台可以提供特定的样品取向和温度控制，而探针系统可以提供样品电学测试所需的电极并且能够精确位移。通过以上各部分的精确配合可以实现低维纳米结构与微纳器件特性的局域物性测量。 图1 双探针扫描电子显微镜系统的示意图近年来，随着人们对低维材料光电特性研究的深入，对测试系统的成像分辨率、测量精度、温度变化、外场激发等条件要求越来越高。同时，该设备由于自身局限性以及部件老化问题，存在一些应用上的不足：1）电子光学系统的物镜直径达100mm，而工作距离只有0-20mm，因此探针竖直方向移动的空间十分有限，如图4所示；2）由于扩散泵的效率较低，而且工作寿命已达极限，因此腔体的真空度已经不能满足测量场发射等特性所需的真空条件；3）缺少研究材料光电特性的有效手段，而光电特性分析是研究材料的带隙特征的有效手段。技术创新完成后能够解决的具体科研问题及其意义改造后的双探针扫描电子显微镜系统可以解决原系统中高精度局域测量存在的诸多问题，具体可分为以下几个方面：（1）解决原系统成像分辨率低、对导电能力低的材料成像质量差的问题。宽带隙材料由于具有较高的击穿电压，电子饱和速率高等，是制备各种高功率、高频器件的理想材料。但是宽带隙材料的导电能力差，特别是对于纳米尺寸的材料，在电镜下的观察和定位较为困难。而且此系统组装年限较长，成像质量有所下降，对宽带隙材料的观察更为困难。通过改进电子光学系统可以有效提高对宽带隙材料的成像质量，有助于电学测试的定位。（2）解决原系统中探针定位精度低、可操控性差的问题。原系统物镜直径为100mm，而工作距离仅为0-20mm，电子光学系统物镜与样品之间空间较小，因此外加探针或者光路只能以接近水平方向靠近样品表面，样品的定位以及探针自由移动均受到非常大的限制。改造后的系统采用较小直径和较长焦距的物镜，样品上方空间增大，探针和光路能够以较小角度达到样品表面，增加了操作的自由度。同时新的探针系统位移精度增加，有助于低维纳米材料电学特性的测量。（3）引入新的光源后此系统可用于材料光电特性的测量，弥补了电子能带表征手段的不足。在半导体光谱的研究中，利用光激发的电子行为可以很好的表征材料的电子能带结构，因此引入激励光源可以更加有效的表征半导体材料电子能带的特征。同时，对于半导体晶体材料，不同晶面往往具有不同的光学和电学特性。利用探针的精确定位能力，可以研究微米乃至纳米尺寸半导体材料不同晶面的光电特性，避免了生长大面积晶体的技术困难。成果及应用领域 本项目通过对原系统的改造，提高了系统的成像分辨率、真空度和探针的精确定位能力，增大了探针移动的自由度，增添了激励光源，可以为纳米尺寸低维材料的场发射器件、光敏器件、能源器件等的物性测量提供服务。系统新功能的开发将会为固态量子、超导、纳米、表面、光学、半导体等多个领域中研究的开展起到重要的支撑与促进作用。

卡尔文生物科技新推出KW-PT 小动物跑步机（动物实验跑台），适用于大、小鼠。仅一台仪器即可实现大、小鼠通用。 所有参数设置均在仪器上的触摸屏上完成，方便快捷。触屏还能够监测实验进度，显示实验结果，方便实时观察数据，修正实验。 小动物跑步机的速度设定范围在1-100m/min，精度1mm/min，有匀速模式、加速模式、定角度坡道模式可选。跑道可手动倾斜，0-45° 。仪器可自动检测跑步速度、距离与相对距离。 小动物跑步机的另一大特色在于电击网格。当需要进行厌恶刺激时，可对动物进行电击，电击范围0-5mA，精度0.01mA。 配有软件专门用于设计实验方案及管理实验数据。 KW-PT 小动物跑步机产品特点： 1、跑步机结构采用玻纤材质，重量轻强度高。 2、2mm厚度跑步带，特殊表面处理避免对足底损伤。 3、一体化设计，无外围连线，整体美观，集成度高，节约实验场地 4、自动化角度升降系统，无需人工调节角度，省时省力 5、人机对话采用7英寸全彩TFT屏，适合现代流行趋势 6、6跑道模块化设计灵活调整跑道数和跑道的宽度 7、86进口伺服电机带信号反馈系统，实时采集不丢速带补偿。 8、闭环反馈控制。控制精度高，实时性强，速度控制范围0.0-100.0m/min，精度达1mm/min。 9、电刺激：采用直流恒流电流可调的刺激方式，刺激范围0.1-5mA，步进0.01mA. 10、电击次数采用电感原理，解决了以往对管检测的一系列问题。 11、系统可预设置电击次数，当动物达到设定的电击次数后，结束实验，记录各项数据。 12、带电击延迟功能，可将声电作为条件信号开展行为学实验。 13、带电击耐受设置，到达耐受时间后停止电击，对动物的保护机制。 14、加速度可以自由设定，可设置分段加速度。 15、刺激声音频率可调。 16、数据浏览及打印：系统自动保存60组实验数据，实验员可以浏览任意实验数据，并同时提供打印和上传至电脑，方便用户后期处理数据。 17、跑台倾角45°可调。 18、模拟按键控制：电刺激、发光、发声。 19、数据自动存储，也可以通过USB导出。 20、采集指标：实验时间、运动距离、电击次数、力竭时间 21、使用电压220V50HZ，总功率160W。 22、重约25公斤。 技术参数： 1、显示方式：7寸触摸 2、触摸屏分辨率：800X600 3、通道数：6通道 4、通道尺寸：500×90×160mm 5、外形尺寸：623×380×680mm 6、适用动物：大小鼠通用 7、速度可调范围：1-100m/min 8、加速方式：均匀加速和减速 9、中途加速度：有 10、精度1mm/min； 11、坡度调整范围：0°—45° 12、坡度调节方式：电动调节 13、调节信号：声光电 14、刺激方式：直流脉冲式 15、刺激动作：4路跳变无死角 16、电击范围：0.00-5.00mA 17、采集指标：实验时间、运动距离、电击次数、力竭时间

Scanning Thermal probe system热扫描探针系统，可以和任何主流的的AFM进行联用。可以同时获得形貌 & 纳米尺度的热导率以及温度分布，非常适合应用在纳米线/碳纤维/聚合物复合材料等领域 模块性能：可以同时实现样品表面形貌扫描和材料相关热学性能测试1） 温度；2） 温度梯度变化曲线；3） 定性热导率；4） 相变温度；5） 定性热容量； 模块优势：1）高性价比，能实现热学扫描及热学性质测试的功能，价格仅为其为同类产品的一半； 2）精细测量，能达到20nm区域测温；3）耐高温，针尖在700℃高温下也不易变形； 模块扫描机制： 目前国内的国家纳米科学中心，中山大学，美国希捷硬盘公司在华的工厂均采购了这个模块。 以下是一些典型的SThM热导率测试以及温度分布的测试案例： 1）左半部分纳米线的形貌图以及温度分布的对应，右半部分为碳膜/Bi2Te3（热电材料）的形貌图以及热导率图对应。 2）碳纤维与环氧树脂复合材料形貌与热导率对应 3）聚合物纤维PCL-Coll_形貌与温度分布对应

ARS纳米级超稳超低振动型低温探针台的设计具有极大的灵活性，可用于无损器件测试。探针配置和系统设计可以根据您的具体实验要求进行定制。 系统标准温度配置为低温5K，可选450K和800K高温度选项。 探针台采用ARS闭式循环制冷机，ARS制冷机为气动驱动GM制冷机，它具有一级冷台制冷能力高和固有的低振动相结合的特点，使其成为纳米科学和敏感器件测量的理想选择。 ARS探针台都采用高质量的真空元件，高抛光的不锈钢真空腔室和镀镍的高纯铜辐射屏蔽提供了干净的样品环境。低发射率和高导热率的镀镍和铜防热辐射屏使样品台具有更大的冷却能力。 ARS不仅是探针台的生产商，也是制冷机的生产商，这确保了集成制造的一致性，并能对系统提供整体的售后保障。 应用案例：● 电磁特性● 微波特性● 低频，高频特性● MEMS● 纳米电子学● 超导特性● 纳米器件光电性能● 量子点及纳米线● 单电子● 低电流物理特性 特点备注温度范围： 6K-350K振动优于50纳米10英寸不锈钢真空室7英寸镀镍无氧铜防热辐射屏2.25英寸镀金无氧铜样品台高纯石英观察窗蓝宝石防热辐射屏冷窗多至6个三维微操作探针臂可选直流DC/高频RF/微波/光纤探针探针臂控温系统：高精度4通道控温仪、用于测量样品温度的校准行硅二极管温度计（±12mK）、加热器温度计安装位置：1、冷头温度计，用于诊断2、样品台温度计及加热器，用于控制样品台温度，实现精确控温3、样品温度计，用于精确测量样品温度4、冷屏温度计及加热器，用于控制加热冷屏温度，实现快速换样7:1显微观测系统，3微米分辨率，环形光源可升级16:1显微观察系统规格及技术参数制冷方式闭循环制冷，无需液氦温度范围6K-350K（可选更高制冷量DE215冷头冷台温度 4K,安装高温隔热台高温度可达800K）温度稳定性优于50mK泵抽真空时间机械泵约45分钟分子泵约10分钟降温时间约4小时至10K（DE2010S冷头）真空腔不锈钢真空腔直径10英寸上盖安装高纯石英窗口防热辐射屏镀镍无氧铜防热辐射屏直径7英寸上盖蓝宝石冷窗热连接至1级冷头样品台镀金无氧铜样品台2.25英寸直径样品台连接接地（标准）绝缘（可选）偏压，通过同轴电缆至外部BNC接头（可选）偏压到Guard，通过同轴或三同轴电缆连接到外部三同轴接头（可选）探针臂位移台手动驱动不锈钢焊接波纹管连接X方向（轴向）2英寸行程Y方向（横向）1英寸行程（标准） 2英寸行程（可选）Z方向（垂直方向）0.5英寸行程刻度10微米灵敏度5微米振动氦气减震， 30-50纳米（峰对峰）温度计安装4个温度计，2套加热器4个温度计位置：1个DT-670B-SD温度计安装于防热辐射屏用于防热辐射屏的快速升温1个DT-670B-SD安装于样品台底部用于控温1个DT-670B-SD安装于冷头位置用于诊断1个校准型DT-670-CU-4M温度计安装在样品台顶部样品附近，用于精确测温2套加热器位置：1套50W筒状加热器安装在样品台底部用于控温1套100W加热器安装在防热辐射屏上用于系统快速升温显微观测系统标准7:1显微镜4.2毫米-0.61毫米视野工作距离：89毫米数值孔径：0.024-0.08光源：环形光源分辨率：3微米安装手动三维位移台高分辨率24英寸显示器可选16:1显微镜12.8毫米-0.8毫米视野工作距离：89毫米数值孔径：0.0090-0.15光源：环形光源分辨率：2微米安装手动三维位移台高分辨率24英寸显示器探针臂直流/低频探针臂微型同轴电缆接头：SMA或BNC频率：0-100兆赫兹阻抗：50欧姆包含接地屏蔽接头三同轴电缆接头：三同轴接头频率：0-100兆赫兹阻抗：50欧姆卡尔文探针电缆：同轴或三同轴接头：SMA/BNC/三同轴频率：0-100兆赫兹针尖材料：钨针（标准）镀金钨针（可选）铍铜镀金（可选）针尖半径：0.5微米（其他半径可选）GSG高频探针臂0-40GHz接头：K型接头电缆：半刚性同轴电缆针尖：钨针或铍铜针尖0-50GHz接头：2.4电缆：半刚性同轴电缆针尖：钨针或铍铜针尖0-67GHz接头：1.85电缆：半刚性同轴电缆针尖：钨针或铍铜针尖光纤探针臂紫外/可见 或 可见/红外接头：SMA905公头光纤样品端：抛光裸头尺寸：100微米-400微米单模或多模 典型案例PS-CCMicro-photoluminescence cryogen-free probe station with custom piezoelectric-positioned XY motion.PS-CCUltra-low vibration probe station with XYZ motion and objective lens

FPP扫描四点探针测试仪 产品性能 设计：可与同一仪器中的其他测量结合使用（参见TLM-SCAN++）易于清洁的玻璃真空吸盘关闭盖子时自动开始测量 PROBE HEADS：在几秒钟内改变由软件认可碳化钨针尖端半径：0.25 mm 软件：显示的映射具有可选择的颜色方案和数据标记以及缩放，直方图，线扫描等功能单击图像重新测量单个点电流电压扫描测试线性度自动编号 规格：10 x 10MAP的持续时间： 4 分钟。最大 测试电流： 30毫安重量： 16公斤L′W′H厘米： 36 ′ 48 ′ 24 用途光伏测试 包装泡沫纸箱售后服务保修一年,一个月内包换

FPP扫描四点探针测试仪 产品性能 设计：可与同一仪器中的其他测量结合使用（参见TLM-SCAN++）易于清洁的玻璃真空吸盘关闭盖子时自动开始测量 PROBE HEADS：在几秒钟内改变由软件认可碳化钨针尖端半径：0.25 mm 软件：显示的映射具有可选择的颜色方案和数据标记以及缩放，直方图，线扫描等功能单击图像重新测量单个点电流电压扫描测试线性度自动编号 规格：10 x 10MAP的持续时间： 4 分钟。最大 测试电流： 30毫安重量： 16公斤L′W′H厘米： 36 ′ 48 ′ 24 用途光伏测试 包装泡沫纸箱售后服务保修一年,一个月内包换

超高真空低温四探针扫描探针显微镜美国RHK Technology 成立于1981 年。作为SPM 工业中的领军仪器制造商，RHK-Technology 始终保持着鲜明的特色：创新性、可靠性、产品设计的开放性与的客户支持。凭借着其优异的系统设计、精良的制造工艺、再加上与著名科学家的紧密合作，二十多年来RHK Technology 源源不断地向全科学家们输送着先进的、高精度的科学分析仪器。变温QuadraProbe UHV 4-探针SPM系统是RHK公司生产的多探针UHV SPM系统中的一种，该系统提供了多种分析功能、配备了多个超高真空室和相应的电子控制单元与软件，可以大地满足客户全面的研究应用需要。基本系统中提供了低温4探针扫描隧道显微镜（SPM），扫描电子显微镜（SEM），样品准备室和用于传输样品和针的快速进样室。其他的设备如扫描俄歇显微镜（SAM）也可选配以满足客户特别的研究需要。技术参数：- 样品温度：10K（LHe）； 80K（LN2）- 扫描范围：1.5μm（300K）；500nm （10K）- X，Y，Z粗进针：±1.5mm/step motion- 样品定位精度：±1.5mm- STM分辨率：四个探针均可实现HOPG的原子分辨- SEM分辨率：小于20nm- 针材料：钨或者铂、金等金属修饰的钨针。 主要特点：- 四个探针都能实现原子分辨；- 真正的样品和针低温操作（10K），得到佳的高分辨谱图；- 探针与样品立地传输与准备；- 所有探针具有先进的控制操作；- 用户可编程控制的开放性控制环境；- 制冷采用Bath Cryostat构造，大地减少了液氦的消耗；- 可升到非接触式AFM；- 样品台处配有可选择的超导磁体；- 通过光纤实现样品的光学激发。

开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)。材料表面的功函数通常由最上层的1-3层原子或分子决定，所以开尔文探针是一种最灵敏的表面分析技术。 我们的开尔文探针系统包括：□ 单点开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□ 扫描开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□ 超高真空(UHV)开尔文探针；□ 湿度控制的腐蚀开尔文探针； 扫描开尔文探针系统 (ASKP) ASKP系统是一款可以被大多数客户所接收的高端扫描开尔文探针系统，它是在SKP基础之上包括了彩色相机/TFT显示器、2毫米和50微米探针、外部数字示波镜等配置，其规格如下：□ 2毫米，50微米探针；□ 功函数分辨率 1-3 meV(2毫米针尖)，5-10 meV(50微米针尖)；□ 针尖到样品表面高度可以达到400纳米以内；□ 表面势和样品形貌3维地图；□ 探针扫描或样品扫描选配；□ 彩色相机、调焦镜头、TFT显示器和专业的光学固定装置；□ 参考样品(带相应的扫描开尔文探针系统的形貌)；□ 备用的针尖放大器；□ 24个月超长质保期； 仪器的特色□ 全球第一台商用的完全意义上的开尔文探针系统；□ 最高分辨率的功函数和表面势，最好的稳定性和数据重现性；□ 非零专利技术(Off-null,ON) ——ON信号探测系统在高信号水平下工作，与基于零信号原理(null-based,LIA)的系统相比，不会收到噪声的影响拥有高灵敏度；□ 高度调节专利技术 ——我们的仪器在测量和扫描时可以控制针尖的高度。因为功函数受　　　　　　　　　　　　　　　样品形貌的影响，针尖与样品表面距离的调节意味着数据的高重现性且不会漂移；□ 该领域内，拥有最好的信噪比；□ 快速响应时间 ——测量速度在0.1-10秒间，远快于其他公司产品；□ 功能强的驱动器 ——选用Voice-coil(VC)驱动器，与通常的压电驱动器相比，VC驱动器频率要稳定得多、控制的针尖振幅大得多、支持平行多探针操作、支持不同直径探针操作；□ 所有开尔文探针参数的全数字控制；ON 非零探测 Off Null detection HR 高度调节模式 Height Regulation mode SM 实际开尔文探针信号监控 Monitoring of the actual Kelvin probe signal UC 用户通道，同时测量外部参数 User Channels, simultaneous measurement of external parameters DC 电流探测系统去除漂移效应 Current Detection system rejects stray capacity effects PP 平行板震动模式 Ideal, Parallel Plate Oscillation Mode SA 信号平均 Signal Averaging (often termed Box-Car Detection) WA 功函数平均 Work Function Averaging, Difference and Absolute reporting DC 所有探针及探测参数的数字控制 Digital Control of all Probe and Detection Parameters QT 针尖快速改变 Quick-change Tip, variable spatial resolution DE 数据输出 Data Export to Excel, Origin, or 3rd party software OC 输出通道 Output Channel: TTL switching of external circuit FC 法拉第笼(电磁干扰防护罩) Faraday Cage (EMI Shield) RS 金-铝参考样品 Gold-Aluminium Reference Sample 额外选配项 SPV 表面光伏电压软硬件包 Surface Photovoltage Software and Hardware Package RH 相对湿度腔 Relative Humidity Chamber AC 控制气体进口的环境单元 Ambient Cell for controlled Gas Inlet EDS 外部数据示波镜 External Digital Oscilloscope OPT 彩色相机 Color Camera, TFT Screen and Optical Mounts ST 针尖置换 Replacement Tips GCT 镀金的针尖替换 Gold Coated Replacement Tips XYZ 25.4毫米手动3维控制台 3-axis 25.4 mm Manual Stage应用领域 吸附，电池系统，生物学和生物技术，催化作用，电荷分析，涂层，腐蚀，沉积，偶极层形成，显示技术，教育，光/热散发，费米级扫描，燃料电池，离子化，MEMs，金属，微电子，纳米技术，Oleds，相转变，感光染色，光伏谱学，高分子半导体，焦热电，半导体，传感器，皮肤，太阳能电池，表面污染，表面化学，表面光伏，表面势，表面物理，薄膜，真空研究，功函数工程学；目前通过我司购买的的开尔文探针测试系统，目前在南昌航空大学工作正常，运行稳定。。

如有需要请通过伯英科技联系我们。多功能扫描探针显微镜（带纳米力学测试功能）型号：NT-206，是集多功能于一身的原子力显微镜，带有复杂的硬件与软件分析系统，可分析形貌与力学性能，分辨率为纳米级别。可添加：纳米压痕、划痕、磨损，附着力、摩擦力测试，纳米光刻等功能。A probe is positioned above journal neck of watch gearEmbedded videosystem in combination with motorized XY micropositioning stage provide convenient tuning of the instrument and its fine targeting onto the features on the sample surface. All that dramatically enhances the instrument' s functionality when researching micro- and nanosize objects.To meet requirements of specific research tasks, AFM NT-206 can include specialized changeable probe holders for microtribometry and adhesiometry or for nanoindentation.NT-206 ::: Description ::: Features ::: Delivery set ::: Software 多功能扫描探针显微镜（带纳米力学测试功能）技术指标：Measurement modes:测量模式： Motion patterns at the measurements: - area (matrix) - line - single point.Contact static AFM 接触静态Lateral force microscopy /with contact static AFM/ 横向力显微镜/用静态接触AFMNon-contact dynamic AFM 非接触式动态AFMIntermittent contact AFM (similar to Tapping Mode) 间隙接触（敲击）Phase contrast imaging /with intermittent contact AFM/ 相衬成像/用间隙接触AFMTwo-pass mode (for static and dynamic AFM) 6. 两回合模式（适合静态与动态AFM）Two-pass mode with varying separation (for static and dynamic AFM) /Original technique!/两回合模式，伴随变化的间距，Multicycle scanning (for static and dynamic AFM) /Original technique!/多回合扫描（适合静态与动态AFM）Multilayer scanning with varying load (for static and dynamic AFM) /Original technique!/多回合扫描，伴随变化的载荷（适合静态与动态AFM）Electrostatic force microscopy (two-pass technique) *, **静电力显微镜（双回合技术）Current mode *, **电流模式Magnetic force microscopy (two-pass technique) *, **磁力显微镜（双回合技术）Static force spectroscopy (with calculation of quantitative parameters, surface energy and elastic modulus in the measurement point)静态力谱（在测量点，计算定量参数、表面能与弹性模量）Dynamic force spectroscopy动态力谱Dynamic frequency force spectroscopy /Original technique!/动态频率力谱Nanoindentation *纳米压痕Nanoscratching *纳米划痕Linear nanowear *线性纳米磨损Nanolithography (with control of i load, ii depth and iii bias voltage) *纳米光刻（控制力，深度，偏压）Microtribometry * /Original technique!/微观摩擦力计量Microadhesiometry * /Original technique!/微观附着力计量Shear-force microtribometry * /Original technique!/剪切力微观摩擦力计量Temperature-dependent measurements (under all above modes) *基于温度的测量（适用于所以以上模块）Note. * - Specialized accessories or rig required*需要特殊的附件或工具 ** - Specialized probes required **需要特殊的探针Scan field area:扫描面积from 5x5 micron up to 50x40 micronsMaximum range of measured heights:最大高度范围from 2 to 4 micronLateral resolution (plane XY):侧面分辨率1–5 nm (depending on sample hardness)Vertical resolution (direction Z):竖直分辨率0.1–0.5 nm (depending on sample hardness)Scanning matrix:扫描矩阵Up to 1024x1024 pointsScan rate:扫描速度40–250 points per second in X-Y planeNonlinearity correction :非线性校正A software nonlinearity correction providedMinimum scanning step:最小扫描步阶0.3 nmScanning scheme:扫描步骤The sample is moved in X-Y plane (horizontal) and in Z-direction (vertical) under stationary probe.Scanner type:扫描器类型A piezoceramic tube.Cantilevers (probes):悬臂（探针）Commercial AFM cantilevers of 3.4x1.6x0.4 mm. Recommended are probes from Mikromasch or NT-MDT. Checked for operation with probes by BudgetSensor and NanosensorsCantilever deflection detection system:悬臂倾斜探测系统Laser beam scheme with four-quadrant position-sensitive photodetectorSample size:样品尺寸Up to 30x30x8 mm (w–d–h) extending block insert allows measurement of samples with height up to 35 mmHigh voltage amplifier output: 高压放大器输出+190 VADC:16 bitOperation environment:操作环境Open air, 760+40 mm Hg col., T = 22+4°С, relative humidity 70%Range of automated movement of measuring head:测量头自动移动范围10x10 mm in XY plane for micropositioning of probe relative measured sample at step 2.5 micron with optical visual monitoringOverall dimensions:总尺寸Scanning unit: 185x185x290 mm Control electronic unit: 195x470x210 mmField of view of embedded videosystem:植入视频系统的视场1x0.75 mm, visualization window 640x480 pixel, frame rate up to 30 fps.Vibration isolation:防震隔离Additional antivibration table is recommendedHost computer:控制计算机Not less than: Celeron 2.2, RAM 256 MB, HDD 80 GB, VRAM 128 MB, monitor 17" 1024x768x32 bit, Windows XP SP1, 2 USB port. Recommended: Core i5 or equivalent, RAM 2 GB, HDD 320 GB, VRAM 1 GB, monitor 1600x1200x32 bit, Windows XP SP2 or higher, 2 free USB port.Software:软件Special control software SurfaceScan and the AFM image processing package SurfaceView / SurfaceXplorer are included. * Before measurements, the probe can be positioned to necessary place over the sample with help of automated motorized stage. To provide monitoring for the scan area and objects below the probe, the instrument embeds a videosystem allowing to watch the probe motion over the sample surface. Videosystem and the motorized stage for the probe positioning over sample are included in base set by default. A combination of these two options allows rather flexible selection of objects to be measured on the sample surface at direct visual monitoring by the opeartor.多功能扫描探针显微镜（带纳米力学测试功能）组成模块： DELIVERY SETNT-206 ::: Description ::: Features ::: Delivery set ::: Software ::: BASIC SETScanning unit (atomic force microscope)Includes a base platform with embedded XY positioning stage and a detachable measuring head with integrated video systemControl electronic unit with the connetcion cables in the set (the case variants)Software package including:The software runs under Win32. Supplied on CD. Updates available at this site in section ARCHIVE SOFTWAREAFM control software SurfaceScan for driving complex and data acqusition and visualization .SurfaceView and SurfaceXplorersoftware package for the measured data processing, visualization and analysis.The software can include plug-ins for processing AFM-data obtained with other microscopes.A set of drivers for connection of control electronic unit with host PC and running videosystem.Note:1 Base set includes also the control software (for Win32) and user manual.多功能扫描探针显微镜（带纳米力学测试功能）可选配件 ::: ADDITIONAL ACCESSORIES (optional)A specialized antivibration rackA changeable probe holderChangeable scaners for ranges: 5x5x2 um10x10x3 um20x20x3.5 um40x40x3.5 um50x50x3.5 um90x90x3.5 umSet for scanning the sample emmersed in liquid mediumThermocell: a changeable sample platform for measured sample heating up to 150 °С with stand-allone controllerA changeable holder for conducting probesExtending block insert allowing measurement of thick samples with height up to 35 mmA changeable microtribometer-adhesiometer unitOption: a set of AFM probes(Prod. by Mikromasch)A changeable shear-force microtribometer unitOption: a set of calibration test gratings(Prod. by Mikromasch)A changeable nanoindentor unit多功能扫描探针显微镜（带纳米力学测试功能）软件 SOFTWARENT-206 ::: Description ::: Features ::: Delivery set ::: SoftwareControl software for AFM NT-206 SurfaceScan is a 32-bit Windows application. It runs under Windows XPsp2/Vista/7 operating systems.The control software provides all preliminary tunings and settings necessary for the AFM operation: visual control over the laser-beam detection system adjustment, tuning of the cantilever oscillations (in dynamic modes), feed-back system adjusting, sample positioning under the probe and sample approach to the probe before measurements and removal after the measurements. A full-field or any reduced area within the full field of the scanner can be selected for measurements.Operator can watch any combination of acquired AFM/LFM images in data visualization window or switch to look at them in one window. Additionally, profile of currenly acquired line can be monitored as well.Acquired data are saved in files of special format that can be then processed, visualised (in 2-D and 3-D presentation) and analysed with a specialized software package SurfaceView or SurfaceXplorer.

RHC020-气氛控制扫描开尔文探针开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置用于导电材料的功函或半导体或绝缘体材料表面的表面电势，表面功函由材料表面最顶部的1-3层原子或分子决定，因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界最高分辨率的测试系统 RHC020 是控制气氛检测样品的理想解决方案，50x50mm样品加热器可将样品温度升至100℃，采用先进的电子和硬件系统即时监测温度和湿度变化，附加表面光伏SPV020及表面光电压谱SPS030模块，可对光敏感样品进行强度或波长可变的激发。 技术参数： ● 2mm和50μm探针 ● 功函分辨率1-3meV（2mm探针），5-10meV（50μm探针，光学防震台） ● 50mmX50mm最大扫描面积 ● 318纳米定位分辨率 ● 跟踪系统自动控制样品和探针距离● 附加手动高度控制（25.4mm KP 平移） ● 过零信号检测系统抑制寄生电容 ● 50mmX50mm样品加热器 ● 自动相对湿度控制至1%（10-100%RH）选件 ● 直插型探针支架：2mm-50μm ● 自动温度控制 ● 表面光伏模块SPV020和SPS030

SPM Aarhus 150极其稳定且用途广泛的SPM Aarhus 150 SPECS，适用于最终的扫描探针显微镜应用SPM Aarhus 150是一款非常稳定且省时的仪器。专门设计的3千克质量的可变温度扫描仪平台，带有集成的低噪声液氮（LN 2）冷却装置确保了卓越的SPM性能。要特别注意将流动冷却器与样品台分离，但要确保它们之间的永久冷却连接。为此，使用专用的柔性铜丝编织物将超重的扫描仪平台连接至流动低温恒温器，而不会影响SPM Aarhus的出色稳定性。样品架和SPM台之间紧密的机械和热接触可实现极其精确的样品温度控制和稳定性。在低于130K的温度下，典型的冷却时间少于60分钟。从室温下插入样品到低于130 K的“准备SPM”，典型的时间跨度为20分钟。对于温度上升，甚至在高达400 K的高温下也可以对样品进行反加热。从室温到低温恒温器的快速冷却过程中以及在运行中均可实现2消耗。初始冷却期间消耗约20 l LN 2，而典型的LN 2在130 K下运行期间的耗油量约为每小时10升。通过将SPM机制整合为一个STM / AFM单元，可以使用KolibriSensor™ 轻松将SPM Aarhus 150升级为AFM。SPM Aarhus 150通过在90至400K之间的可变温度下显示出最高的热稳定性而又不损害其原始机械稳定性，从而树立了新的标准。直接原位光学通道允许样品照明和光诱导过程的研究。另外，蒸发口允许在样品表面上原位沉积并在扫描过程中研究生长过程。规格书SPM奥尔胡斯150安装安装法兰150CF控制电子纳诺尼斯SPC 260性能温度稳定性优于±2 K（150 K ... 400 K）灵敏度z范围±175纳米漂移率0.05 nm / min（垂直），0.15 nm / min（纬度）稳定性10 pm运作方式现场访问镜面反射和蒸发扫描范围1.500纳米x 1.500纳米温度控制2个用于样品和扫描仪的受控子系统操作模式STM原子力显微镜感测器STM提示Kolibri传感器可选配件STM技巧Kolibri传感器样品架所需配件STM技巧Kolibri传感器样品架工作压力10 -11至10 -7 mbar

布鲁克Dimension Edge 扫描探针显微镜系统 Dimension家族新成员，闭环扫描，极高性价比快速测量、结果准确、图像分辨率高测试范围广，适用于任何样品的测试先进的纳米尺度测量，适用于各技术水平Dimension Edge性价比高，大样品台AFM的解决方案Dimension® Edge&trade 原子力显微镜采用新技术， 其仪器性能、测试功能和操作性在同类产品中处于高水平。基于Dimension Icon® 平台, Dimension Edge系统的整体设计使其 具有低漂移、低噪音的特点, 大大提高了数据获取速度和可靠性，使用这台全新的仪器，几分钟时间即可获得高质量、可发表的专业数据。这些检测性能的提高，并没有影响仪器的价格，低于您对如此高性能原子力显微镜的支出预算。此外，视觉反馈集成化和预配置可选功能辅助用户获得更高质量的测量结果。整套仪器充满人性化的设计，适用于各个研究阶段和科研水平的用户。 性价比高的闭环Dimension系列AFM 专利的传感器设计既获得了闭环的精度，又具有 开环的噪音水平。 显著地降低噪音和漂移，在大样品台AFM上实现 了小样品台AFM的成像性能。 显微镜和电路的设计既保证了高成像性能，又使 得价格适中。快速，精确，高分辨的测量结果 全新的可视化操作界面,整体采用流程式设计，确保快速简便的设定各步骤参数 5百万像素 的高分辨率相机和马达驱动可编程平台，提供快速样品导航和高效多点测量 从大范围扫描到高分辨检测的无缝过渡 可在短时间内获得准确结果。适用于任何样品上的任何应用的解决方案开放式平台设计可适应各种实验和样品的需求。 新仪器的设计和软件利用了最完备的Bruke AFM扫描模式和检测技术，满足最前沿的应用需求。 内置的信号路由模块，帮助研究者根据新的研究方向和实验需求，自定义检测模式。 先进的纳米级测量能力，适用于各研究水平 创新型模块化设计，不提高仪器成本的前提下，实现更高的测量性能。 新的8型软件，凝聚10几年AFM专业研发精华，常规扫描模式外，根据实验需求，配备各种备选模式。 完整的控制平台，既可直观导航，又可进行强大的编程控制。DIMENSION系列AFM提供了优质的AFM性能 布鲁克Dimension Edge 扫描探针显微镜系统 既具有卓越性能，保留了Dimension ICON系统的诸多技术创新，中等价位的价格 与仪器功能达到了平衡。其中最核心的技术是 Bruker创新性的闭环扫描，结合温度补偿位置传感器和模 块化的低噪音控制电路，这套针尖扫描部件把闭环噪音减 小到了单个化学键长度。为了大限度的发挥这一优点，扫描器被固定在一个坚固的，具有漂移补偿的桥梁结构上。此桥梁结构基于FPGA的温度控制并快速稳定到极低的漂移速率。因此，Dimension Edge原子力显微镜结合了高生产效率，高精度，大样品台的样品通用性，闭环操作 和以前仅在小样品台、开环仪器上才能获得的高分辨率图像等特点，能够获得任何样品的真实图像，实现突破性的实验成果。 完备的AFM功能 布鲁克Dimension Edge 扫描探针显微镜系统 既包含了各种常规的扫描模式和Bruker专利技术，还提供了针对各种具体应用领域的解决方案，例如纳米级的电学测量，可控环境下的材料表征等。这些功能都能够在广泛应用中获得精确成像和单点谱线测量，例如从太阳能和半导体器件的表征和多相聚合物材料成像，到从单分子到全细胞的生命科学样品的原位成像和单个纳米颗粒的研究。 电学表征Dimension Edge不仅仅是把一个AFM探针连接到低噪音电流放大器上，而是开发了Dark Lift模式，Dark Lift是在导电原子力数据把光电效应从样品的本征电导性中清晰分离的方法。它是基于布鲁克已申请专利的，应用磁力显微镜和静电力显微镜中的抬起模式（Lift Mode）。系统利用这两种性能以确保在静电电势成像应用的优化测试。迄今为止，结合了Dark Lift模式的闭环（常损耗量）的扫描电容显微镜（SCM）依然是对掺杂浓度表征的最精确的解决方案。然而，如果研究者想要以高灵敏度来探测小电压的变化，也可很容易地把抬起模式 与表面电势显微镜结合起来。Dimension Edge系统通过双频的方法，能够为任何静电电势成像的应用提高理想的解决方案。

Nanonics多探针平台在纳米材料表征和加工应用中的独特性石墨烯的发现开启了新一代材料的进化史.这引领了低维度纳米材料和混合材料的多样发展.这些材料的发现也导致了对研究平台的反思,新的平台必须适应这些下一代基础材料的纳米表征和加工,以及相应的应用和新器件开发. 对于这种平台的一个基本的要求就是具有能将纳米成像和纳米操作以及其他探测台整合的能力.在Nanonics Imaging Ltd公司进行这一开拓之前,这种联用通常需要在线的扫描电镜（SEM）来有效的指导纳米操作探针进行纳米材料的研究。FEI Inc公司提供的SEM集成纳米操作台正是实例。但是，即使有SEM的指导的纳米操作台也会对这种纳米材料造成物理损伤或者引入有害的电荷。用户真正需要的是能够在原子级别来反映样品结构和性能的平台，这涵盖了高灵敏度的电学，热学，光学甚至化学的纳米表征。这正是Nanonics Imaging Ltd. MultiProbeMultiView 4000 (MV 4000)平台的独特之处。 这个多探针平台可以充分的集成所有扫描探针显微镜的功能，包括结构和性能的纳米成像。 同时保证纳米探针的超精细分辨率，又不会引入电子束伤害。并可以有效地使用常规的纳米探针用于纳米操作应用。因此，Nanonics多探针平台将多探针AFM探针同时用于结构和性能应用测试，并将先进的纳米操作台开放的联用起来。这项技术将扫描探针显微镜和探针塔的所有优势结合了起来。 为了提供这样的系统，Nanonics不仅在仪器设计方面取得了突破，而且还开拓了NanoToolKitTM专利探针的设计用于超精细的结构和性能成像。这些探针实现了一个探针能够真正的碰触另外一个探针。 这甚至可以允许一个AFM探针对另外一个AFM探针或者纳米操作探针进行成像。纳米操作探针和AFM探针的区别是不具有反馈和成像功能。 为了开启这一新领域，Nanonics在建立之后的20年中一直致力于研究现有单探针或多探针AFM设备中灵敏的AFM反馈机制。这种方法采用了音叉反馈。这种反馈机制非常的灵敏，甚至允许用户用于研究单个光子的作用力。 除了使用这种特有的成像模式，Nanonics平台也可以使用常规的AFM激光反馈模式和AFM硅悬臂达到出色的AFM扫描效果。这种悬臂探针需要反射的激光用于反馈调节。另外，这些探针无法相互之间接触因此无法进行多探针应用，这是他的固有限度。并且由于这种反馈机制明显很低的力灵敏度，纳米材料和元器件的研究并不想采用。 一个主要的局限是这种基于激光束的反馈会在材料上引入电荷，在基本表征测试中引入背景噪音。这些电荷会掩盖这些材料与众不同的物理现象。因此，能够在没有干扰的情况下测试电学，热学和光学特性是对于理解材料基本物理和器件功能必不可少的要求。除却多探针的优势以外，不束缚于外部激光反馈干扰的测试这些功能特性与传统的AFM技术相比具有更大的优势。 无光学干扰的优势对于多探针AFM集成的功能测试也尤其重要，如此探针才能真正物理意义上的接触彼此。这才能实现在两个探针纳米量级的距离变化情况下进行传导机制的测试。 因此，Nanonics多探针集成SPM平台实现了多种独特的测试功能。这是首个被引入国家科学基金会支持的报告的系统。Nanonics平台还在多个方面继续创新。首先，在这些研究中真空环境搭配加热/制冷的环境控制具有重要意义。Nanonics平台可将环境控制与扫描探针显微镜领域的成像功能结合。在我们的研究中需要将温度升至最高350摄氏度，这通过Nanonics平台是可以实现的。这一需求还需要搭配改进后的常规纳米操作台用于样品的精确操纵，这也可以通过Nanonics的系统来实现。而且，这些系统的设计都保证了完全开放自由的光学轴。这使标准的研究级光学显微镜可以与系统完美集成，用于从高真空系统的上方和下方观察样品。这种光学的灵活性在以往从未被实现。为了实现这一目的，SPM系统的结构和探针的设计都必须保证没有任何光学吸收，这对于器件研究尤为重要。传统AFM系统中都无法实现这样沿着光轴上下观察的设计。Nanonics系统提供的全视野不仅对于上述提到的未来升级非常必要，而且利用研究级高放大倍数的光学显微镜用户可以快速的将探针之间的距离缩短到微米量级。当然，所有的功能都同时保证AFM扫描的极限噪音在0.2nm级别伸直更低。新一代材料研究的中心还在于在线光谱表征。这些材料都具有很多重要的光谱特性，是非常必要的表征手段。除此之外，光致发光和振动光谱的研究也很必要。Nanonics是在1990年度就将振动光谱和扫描探针显微镜联用起来的公司。为了这一联用，Nanonics研发了第一台探针和样品都可以扫描的系统。样品扫描对于振动光谱是必要的，而Nanonics这种联用系统的首篇文章在1999年就发表了。这种联用功能现在可以复制到多探针系统上，实现了基于上述所有扫描探针，探针台，和真空功能的化学表征，用于研究材料在电运载过程中的化学性质改变。自从开发了第一套集成扫描探针和振动光谱联用系统，Nanonics多年来也一直努力创新于近场扫描成像领域，将独特的等离子探针引入振动光谱测试，实现纳米级别的振动光谱联用，如TERs（针尖增强拉曼测试）。 Nanonics在近场光学成像领域的专业性早已获得世界范围内的认可，使用多探针系统的成果也很广泛的用于顶级文章的发表。这些功能考虑到了纳米光学成像的多样性。针对这些新材料，还有一个重要应用就是使用纳米光源在没有背景干扰的情况下激发纳米光电效应。这对于研究这些低维度材料及其合成材料在金属接触的局部效应下的能量级非常必要。最后，多探针表征和纳米加工的特有结合也可以通过这个平台实现。在最近发表的一篇文章中，具有Nanonics NanoToolKitTM专利设计的纳米加工探针用于在纳米级别氧化一个纳米结构，并记录由于氧化引起的化学势变化。市面上其他能提供气体纳米加工的系统都结合了SEM和聚焦离子束技术，如FEI Inc和Hitachi High-Technology Corporation公司提供的双束产品。这种设备的价格都超过了一百万美金，并且不能提供实时在线测试以及其他Nanonics平台提供的很多优势。比如上面Patsha用户发表的文章中强调的扫描探针显象模式中的在线化学势成像是这种双束系统所不能提供的。总而言之，专利获奖的Nanonics探针平台可以允许科研人员有效的完成多种独特的测试表征功能。

主要特点新型潘式扫描探头，具备qPlus AFM功能,模块化设计,易于维护可选光学通道，适于光学实多源MBE样品制备，可原位沉积袖珍型进样室，快速传输样品 STM 系统性能测试数据 该光学兼容低温扫描探针显微镜系统的详细工作发表在近期的《科学仪器评论》杂志上【Review of Scientific Instruments 89, 113705 (2018) doi: 10.1063/1.5046466】文章链接：Https://aip.scitation.org/doi/10.1063/1.5046466 技术参数扫描探头光耦合兼容模块化设计，兼容qPlus AFM功能工作温度≤5KX/Y/Z粗移动范围2×2×8mmX/Y/Z扫描范围6×6×2μm @ RT1.5×1.5×0.5μm @ LHe低温维持时间≥50h(液氦容积4L、液氮容积15L）温度稳定性＜0.2nm/h分辨率原子级分辨率样品台X/Y轴±12.5mm，手动Z轴450mm，步进电机自转±180°，手动公转±180°，手动温度范围120K~室温 (LN2冷却)室温~1450K（E-Beam加热）蒸发源 最多6个DN40CF(O.D. 2.75'')5个DN63CF(O.D. 4.5'')1个可选项光学通道，适用于光学实验反射高能电子衍射仪低能电子衍射仪离子枪（3KeV/5KeV）

PAN式低温扫描探针显微镜系统 Pan式低温扫描探针显微镜析系统是由美国RHK Technology公司制造的，主要特点包括：- PAN STM/AFM扫描头体积小（2.96”X1.55”)- 集成了样品X-Y-Z方向的大范围移动（5mmX5mmX10mm）- 工作温度包括了低温300mK、RT、VT和HT多种范围- 内置弹簧和涡流阻尼减震系统，原位针与样品更换- 兼容多种Flow式或Bath式低温恒温器与磁体- 与RHK新全数字R9控制器一同使用适用于拓扑缘体、低温超导、表面结构、电学测量等表面科学研究中。 主要技术参数:- 工作模式：STM与非接触式AFM- 温度范围：300mK RT VT HT- X-Y-Z位移范围：5mmX5mmX10mm - 扫描范围：5umX5um （RT）- 样品尺寸：10mmX10mm- 扫描头尺寸：40mmX70mm 结构紧凑，体积小：内置减震系统、可水平或垂直放置 Pan式低温扫描探针显微镜结构其紧凑，核心部分尺寸在~40X70mm左右；内置有弹簧和涡流阻尼减震系统；根据用户的要求，可以提供水平放置配置和垂直放置配置两种；初次之外，它兼容常用的低温恒温器和磁体，并提供相应的集成方案。原位样品与探针更换：操做简单、快速；性能可靠 在低温和超高真空环境中，样品和针的原位更换一直是使用者非常关心的问题。为此，RHK公司为Pan式低温扫描探针显微镜开放了一套性能可靠、操作简单快速的原位样品与针更换装置，并提供了多个样品与针的放置室。Pan式低温扫描探针显微镜中使用的样品架灵活多样，可充分满足各种实验要求，如原位加热、样品剥离、样品轰击等等；同时，它还兼容其他的商业化扫描探针显微镜中所配备的样品架。 兼容各种磁体和恒温器为充分满足科学家的要求，RHK与磁体和恒温器制造商紧密合作，开发了低温扫描探针显微镜整机系统和立扫描头模块系统，根据用户的特殊要求提供了一整套的解决方案。 RHK公司将上先进的全数字扫描探针显微镜控制器R9集成到Pan式扫描探针显微镜中，集中研发力量，推出了噪音低的R9扫描控制系统和IVP-R9前置放大器。应用案例： Si(111)表面7X7重构，4KBi2Se3表面形貌，4K部分用户名单： - University Of Texas- University of Maryland- University of Chicago- Columbia University- Technischen Universitat Berlin- Academica Sinica (2)- Georgia Institute of Technology- Weizmann Institute of Science- Indian Association for the Cultivation of Science......

ARS 闭循环电磁铁探针台美国ARS 公司的PS-CC闭循环探针台用于样品的非破坏性检测，测试灵活，可提供0.6T的水平磁场并配备双极电源。该设备广泛应用于直流（DC），射频（RF）,MEMS, 纳米电子，超导性，纳米电路的光电特性，量子点和量子线，非破坏性测试等。 该款探针台使用DE204、DE210或DE215系列冷头，整个测试过程中无需使用任何制冷剂（液氦/液氮）。可根据不同测试要求，选用不同型号冷头，以便样品最低温度到达13K、10K、7K或 4K。所有的ARS闭式循冷头均采用高制冷量的一级冷头，该设计可使系统快速降温并最大程度降低系统热负载。气动驱动GM冷头一级制冷量高，固有振动小，是该领域的理想选择。 该系统配有硬涂层铝制真空罩和高抛光的无氧铜防热辐射屏。高质的真空器件至关重要，可以使样品获得更高的真空环境，更洁净的表面，更好的电接触。 ARS既生产冷头又生产探针台的一站式生产确保了该产品的稳定性能，也利于系统的诊断和服务。 The above picture shows the 4 probes connected to the vacuum chamber.This is a side profile of the table top and does not show the cryocooler underneath.The above picture shows the sample space inside the probe station.应用案例：● 电磁特性● 微波特性● 低频，高频特性● MEMS● 纳米电子学● 超导特性● 纳米器件光电性能● 量子点及纳米线● 单电子● 低电流物理特性 特点备注温度范围： 7K-400K其他温区可选样品区0.6T水平磁场样品区振动优于 1微米12英寸×5英寸不锈钢真空室5.5英寸 × 2.875英寸镀镍无氧铜防热辐射屏1英寸方形镀金无氧铜样品台高纯石英观察窗蓝宝石防热辐射屏冷窗多至4个三维微操作探针臂可选直流DC/高频RF/微波/光纤探针探针臂控温系统：高精度4通道控温仪、用于测量样品温度的校准行硅二极管温度计（±12mK）、加热器温度计安装位置：1、冷头温度计，用于诊断2、样品台温度计及加热器，用于控制样品台温度，实现精确控温3、样品温度计，用于精确测量样品温度4、冷屏温度计及加热器，用于控制加热冷屏温度，实现快速换样7:1显微观测系统，3微米分辨率，环形光源可升级16:1显微观察系统规格及技术参数制冷方式闭循环制冷，无需液氦温度范围7K-400K（可选更高制冷量DE215冷头冷台温度 4K,安装高温隔热台高温度可达800K）磁场范围-0.6T至+0.6T磁体型号GMW5403EG磁场方向水平方向极面76毫米水冷需求：2升/分钟，0.8bar电源：双极型电源电压±20V电流±40A高斯计：LS475DSP霍尔传感器LS HGCT-3020温度稳定性优于50mK泵抽真空时间机械泵约45分钟分子泵约10分钟降温时间约2.5小时至10K（DE204P冷头）真空腔无磁不锈钢真空腔12英寸×5英寸上盖安装高纯石英窗口防热辐射屏镀镍无氧铜防热辐射屏5.5英寸 × 2.875英寸上盖蓝宝石冷窗热连接至1级冷头样品台镀金无氧铜样品台1英寸方形接地（标准）绝缘（可选）偏压，通过同轴电缆至外部BNC接头（可选）偏压到Guard，通过同轴或三同轴电缆连接到外部三同轴接头（可选）探针臂位移台手动驱动不锈钢焊接波纹管连接X方向（轴向）2英寸行程Y方向（横向）1英寸行程（标准）Z方向（垂直方向）0.5英寸行程刻度10微米灵敏度5微米振动三级减震，振动小于1微米温度计安装4个温度计，2套加热器4个温度计位置：1个DT-670B-SD温度计安装于防热辐射屏用于防热辐射屏的快速升温1个DT-670B-SD温度计安装于样品台底部用于控温1个DT-670B-SD温度计安装于冷头位置用于诊断1个校准型CX-1070-CU-4L温度计安装在样品台顶部样品附近，用于精确测温2套加热器位置：1套50W筒状加热器安装在样品台底部用于控温1套100W加热器安装在防热辐射屏上用于系统快速升温显微观测系统标准7:1显微镜4.2毫米-0.61毫米视野工作距离：89毫米数值孔径：0.024-0.08光源：环形光源分辨率：3微米安装手动三维位移台高分辨率24英寸显示器可选16:1显微镜12.8毫米-0.8毫米视野工作距离：89毫米数值孔径：0.0090-0.15光源：环形光源分辨率：2微米安装手动三维位移台高分辨率24英寸显示器探针臂直流/低频探针臂微型同轴电缆接头：SMA或BNC频率：0-100兆赫兹阻抗：50欧姆包含接地屏蔽接头三同轴电缆接头：三同轴接头频率：0-100兆赫兹阻抗：50欧姆卡尔文探针电缆：同轴或三同轴接头：SMA/BNC/三同轴频率：0-100兆赫兹针尖材料：钨针（标准）镀金钨针（可选）铍铜镀金（可选）针尖半径：0.5微米（其他半径可选）GSG高频探针臂0-40GHz接头：K型接头电缆：半刚性同轴电缆针尖：钨针或铍铜针尖0-50GHz接头：2.4电缆：半刚性同轴电缆针尖：钨针或铍铜针尖0-67GHz接头：1.85电缆：半刚性同轴电缆针尖：钨针或铍铜针尖光纤探针臂紫外/可见 或 可见/红外接头：SMA905公头光纤样品端：抛光裸头尺寸：100微米-400微米单模或多模

电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜是由德国PANCO公司与德国宇航中心联合研发的热电材料精细测量设备，该设备主要用来测量热电材料中电势和塞贝克系数的二维分布情况。集成化、自动化的设计方案使系统使用非常方便。的稳定性和可靠性彰显了传统德国制造业的优良品质。全新推出的二代电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜（PSM II）在代的基础上具有更高的位置分辨率和更高的测量精度。产品特点：+ 可以测量Seebeck系数二维分布的商业化设备。+ 的力学传感器可以确保探针与样品良好的接触。+ 采用锁相技术，精度超过大型测试设备。+ 快速测量、方便使用，可测块体和薄膜。主要技术参数： + 位置定位精度：单向 0.05 μm；双向 1 μm+ 大扫描区域：100 mm × 100 mm 典型值+ 局部测量精度：5 μm（与该区域的热传导有关）+ 信号测量精度：100 nV（采用高精度数字电压表）+ 测量结果重复性：重复性误差优于3%+ 塞贝克系数测量误差： 3% (半导体)； 5% (金属)+ 电导率测量误差： 4%+ 测量速度：测量一个点的时间4-20秒应用领域：1、热电材料，超导材料，燃料电池，导电陶瓷以及半导体材料的均匀度测量2、测量功能梯度材料的梯度3、观察材料退化效应4、监测 NTC/PTC 材料的电阻漂移5、固体电介质材料中的传导损耗6、阴材料的电导率损耗7、GMR 材料峰值温度的降低，电阻率的变化8、样品的质量监控系统组成部分+ 三矢量轴定位平台及其控制器+ 定位操纵杆+ 加热、测温探针+ 力学接触探测系统+ 模拟多路器+ 数字电压表+ 锁相放大器+ 摄像探测系统+ 带有专用控制软件和数据接口的计算机+ 样品台与样品夹具样品夹具加热测温探针部分测试数据1、塞贝克系数测量Bi2Te2.85Se0.15梯度材料表面的塞贝克系数分布（数据来源，PANCO实验室）2、接触电阻测量存在界面的样品通过该设备还可以测量出界面处的接触电阻。通过测量电阻率随针位置的变化，可以得到样品界面处的接触电阻。接触电阻可以通过连续测量界面两侧的电势分布计算得到，图中ΔR正比于接触电阻。（数据来源，PANCO实验室）全球部分用户名单：Beijing University of TechnologyCorning CompanyKorea Research Institute of Standards and ScienceShanghai Institute of Ceramics, CASGermany Air Force Research LabSimens Company Gwangju Institute of Science and Technology Hamburg University Munich University

Dimension Edge 原子力显微镜 Dimension家族新成员，闭环扫描，极高性价比快速测量、结果准确、图像分辨率高测试范围广，适用于任何样品的测试先进的纳米尺度测量，适用于各技术水平Dimension Edge性价比高，大样品台AFM的最佳解决方案Dimension Edge&trade 原子力显微镜采用最新技术， 其仪器性能、测试功能和操作性在同类产品中处于最高水平。基于顶级的Dimension Icon平台, Dimension Edge系统的整体设计使其 具有低漂移、低噪音的特点, 大大提高了数据获取速度和可靠性，使用这台全新的仪器，几分钟时间即可获得高质量、可发表的专业数据。这些检测性能的提高，并没有影响仪器的价格，绝对低于您对如此高性能原子力显微镜的支出预算。此外，视觉反馈集成化和预配置可选功能辅助用户获得更高质量的测量结果。整套仪器充满人性化的设计，适用于各个研究阶段和科研水平的用户。 性价比最高的闭环Dimension系列AFM 专利的传感器设计既获得了闭环的精度，又具有 开环的噪音水平。 显著地降低噪音和漂移，在大样品台AFM上实现 了小样品台AFM的成像性能。 显微镜和电路的设计既保证了高成像性能，又使 得价格适中。快速，精确，高分辨的测量结果 全新的可视化操作界面,整体采用流程式设计，确保快速简便的设定各步骤参数 5百万像素 的高分辨率相机和马达驱动可编程平台，提供快速样品导航和高效多点测量 从大范围扫描到最高分辨检测的无缝过渡 可在短时间内获得准确结果。适用于任何样品上的任何应用的解决方案开放式平台设计可适应各种实验和样品的需求。 新仪器的设计和软件利用了最完备的Bruke AFM扫描模式和检测技术，满足最前沿的应用需求。 内置的信号路由模块，帮助研究者根据新的研究方向和实验需求，自定义检测模式。 先进的纳米级测量能力，适用于各研究水平 创新型模块化设计，不提高仪器成本的前提下，实现更高的测量性能。 最新的8型软件，凝聚10几年AFM专业研发精华，常规扫描模式外，根据实验需求，配备各种备选模式。 完整的控制平台，既可直观导航，又可进行强大的编程控制。DIMENSION系列AFM提供了最优质的AFM性能 Dimension Edge原子力显微镜既具有卓越性能，保留了Dimension ICON系统的诸多技术创新，中等价位的价格 与仪器功能达到了最好的平衡。其中最核心的技术是 Bruker创新性的闭环扫描，结合温度补偿位置传感器和模 块化的低噪音控制电路，这套针尖扫描部件把闭环噪音减 小到了单个化学键长度。为了最大限度的发挥这一优点，扫描器被固定在一个坚固的，具有漂移补偿的桥梁结构上。此桥梁结构基于FPGA的温度控制并快速稳定到极低的漂移速率。因此，Dimension Edge原子力显微镜结合了高生产效率，高精度，大样品台的样品通用性，闭环操作 和以前仅在小样品台、开环仪器上才能获得的高分辨率图像等特点，能够获得任何样品的真实图像，实现突破性的实验成果。完备的AFM功能 Dimension Edge既包含了各种常规的扫描模式和Bruker专利技术，还提供了针对各种具体应用领域的解决方案，例如纳米级的电学测量，可控环境下的材料表征等。这些功能都能够在广泛应用中获得精确成像和单点谱线测量，例如从太阳能和半导体器件的表征和多相聚合物材料成像，到从单分子到全细胞的生命科学样品的原位成像和单个纳米颗粒的研究。 电学表征Dimension Edge不仅仅是把一个AFM探针连接到低噪音电流放大器上，而是开发了Dark Lift模式，Dark Lift是在导电原子力数据把光电效应从样品的本征电导性中清晰分离的唯一方法。它是基于布鲁克已申请专利的，应用磁力显微镜和静电力显微镜中著名 的抬起模式（Lift Mode）。系统利用这两种性能以确保在静电电势成像应用的最优化测试。迄今为止，结合了Dark Lift模式的闭环（常损耗量）的扫描电容显微镜（SCM）依然是对掺杂浓度表征的最精确的解决方案。然而，如果研究者想要以最高灵敏度来探测小电压的变化，也可很容易地把抬起模式 与表面电势显微镜结合起来。Dimension Edge系统通过双频的方法，能够为任何静电电势成像的应用提高理想的解决方案。 布鲁克纳米表面仪器部开通优酷视频专辑Bruker Nano Surfaces YouKu Channel — 欢迎订阅优酷上Bruker Nano Surfaces的相关视频，观看最新的AFM产品和相关技术进展，以及历届网络研讨会和培训资料，精彩内容持续更新中！布鲁克纳米表面仪器部 Bruker Nano Surfaces北京办公室 北京市海淀区中关村南大街 11号光大国信大厦6层 6218室上海办公室 上海市徐汇区漕河泾开发区桂平路 418号新园科技广场 19楼

UHV-KP020超高真空扫描开尔文探针开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置用于导电材料的功函或半导体或绝缘体材料表面的表面电势，表面功函由材料表面最顶部的1-3层原子或分子决定，因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界最高分辨率的测试系统 UHV-KP020 是超高真空室的一个完美补充工具，可靠的和可重复的可轻松获得，包括高质量的线性解码器，使得探针和样品的定位变得简单， 无与伦比的跟踪系统在测试过程中始终将探针和样品恒定的分开。对于薄膜研究，亚单层范围检测是很平常的；也可选购SPV020或SPS030表面光电压模块用于光敏材料研究。 技术参数： ● 功函分辨率1-3meV（2-10mm探针） ● 用户自定针尺寸（2-10mm） ● 用户自定探针长度（法兰到样品） ● DN40（2.75' ' 安装端口）-其他可选 ● 50mm手动平移器（100mm可选） ● 真空度2X10-11mbar ● 跟踪系统自动控制样品和探针距离 ● 过零信号检测系统抑制寄生电容 选件： ● 电动平移器 ● UHVSKP ● 表面光电压模块SPV020和SPS030