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扫描卡尔文探针测试系统

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扫描卡尔文探针测试系统相关的耗材

  • 大面积扫描开尔文探针系统配件
    大面积扫描开尔文探针系统配件能够在垂直方向移动开尔文探针实现电动控制开尔文探针与样品的距离。 样品安装到真空吸盘上,真空吸盘可带着样品移动150x150mm位移,从而实现开尔文扫描探针系统大面积扫描样品表面。大面积扫描开尔文探针系统配件特色: 电动控制开尔文探针与样品的距离 电动控制样品XY移动范围150 mm x 150 mm 具有编码器的主动定位定位追踪系统 Z方向步进大小: 625 nm X - and Y-方向: 5 μm / microstep 功函分辨率:: 1 meV with 1.4 mm tip diameter on metals 最小的探针直径: 0.1 mm 集成法拉第防护功能 框架表面镀金 开尔文探针头采用纯金工艺 最大外形尺寸: 50 cm (W) x 60 cm (D) x 25 cm (H) 最大样品尺寸: 150 mm x 150 mm 真空样品吸盘 包含参考样品标准: HOPG, Au on Si, Al/Au-edge, Potential Check 可选配温度和湿度传感器
  • 单点开尔文扫描探针系统配件
    单点开尔文探针系统配件是全球首款用于室温条件和普通实验室条件下的系统,具有极为紧凑结构,可安放到各种环境箱或防尘罩中,探针头与振荡薄膜一起使用,预放大器集成到探针头中,方便更换。 单点开尔文扫描探针系统配件参数 探针与样品表面之间采用电动控制调节距离 Z轴定位分辨率: 5 μm 功函分辨率: 1 meV with 1.4 mm tip diameter on metals 最小的探针直径: 0.1 mm 集成法拉第防护功能 开尔文探针头采用纯金工艺,底板表面镀金 样品架磁性固定到底板上 样品架直径:40mm 带有 3 mm 孔用于标准SEM样品架子 最大可测样品尺寸: 100 mm x 100 mm (mounted on Base plate) 振动隔离腿设计 包括参考样品材料: HOPG, Au on Si 配备汤姆森控制器和计算机 可选配温度和湿度传感器
  • 高分辨率扫描探针显微镜配件
    高分辨率扫描探针显微镜配件是欧盟革命性的高分辨率扫描探针显微镜,SPM显微镜, 它具有目前世界上最为紧凑的机构构成,同时可作为扫描探针显微镜和原子力显微镜使用。高分辨率扫描探针显微镜配件有不同类型的纳米定位平台,包括各种扫描位移台,以确保用户大面积扫描样品,扫描探针显微镜具有最佳的多功能性,可提供EFM, MFM, STM, Phase Imaging, CAFM, KPM 等诸多模式供用户使用。 高分辨率扫描探针显微镜配件特色双光学样品观察(正置和倒置)扫描尺度高达 250 μm全自动样品拾取X-Y 扫描尺寸100 x 100μm (高压模式) 10 x 10 μm (低压模式)高电压模式闭环分辨率: 2 nm高电压模式开环分辨率: 0.2 nm闭环线性: 0.1%.Z 方向扫描尺寸:10 μm (高压模式)1 μm (l低压模式)分辨率: 0.16 nm (高压模式), 0.02 nm (低压模式)高分辨率扫描探针显微镜配件特色 适合样品大小: 可容纳不同结构的直径最高达到30mm的样品。扫描探针显微镜控制系统: 数字控制器和模拟反馈系统,具有高分辨率和低噪音的特点。扫描探针显微镜,SPM显微镜采集软多窗口应用的基于Windows 系统开发的软件,控制所有的硬件工作。
  • AFM探针/原子力探针/导电探针(DDESP-10)
    Doped Diamond这个系列的探针在针尖的一侧涂有可导电的金刚石涂层。由于金刚石的硬度很高,所以涂层也很耐磨。这类探针的典型应用包括:扫描扩散电阻显微镜 (SSRM),扫描电容显微镜 (SCM),和隧道/导电原子力显微镜。 NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) DDESP-10UnmountedDoped DLC Coated Tips, 42N/m, 320kHz, Al Reflective Coating1035作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。 布鲁克AFM探针制造优势:*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,全面的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • AFM探针/原子力探针/导电探针(DDESP-10)
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。Doped Diamond这个系列的探针在针尖的一侧涂有可导电的金刚石涂层。由于金刚石的硬度很高,所以涂层也很耐磨。这类探针的典型应用包括:扫描扩散电阻显微镜 (SSRM),扫描电容显微镜 (SCM),和隧道/导电原子力显微镜。 NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) DDESP-10UnmountedDoped DLC Coated Tips, 42N/m, 320kHz, Al Reflective Coating1035
  • 太赫兹近场探针
    Eachwave推出的低温砷化镓光电导太赫兹近场探针系列是新一代的高性能光电导型微探针,利用此太赫兹近场探针,样品表面的近场太赫兹电场可被以被空前的分辨率测量,信号质量好,噪声低。这些太赫兹探针可以无缝的与激发波长低于860nm的THz-TDS系统配合使用。THz近场探针提供了一个低成本的解决方案,可将您的THz-TDS升级为高分辨率的近场扫描成像系统。产品特点:— 市场上最小的太赫兹近场探针— 专利设计— 空间分辨率可达3um— 探测频率范围:0-4THz— 适用于所有基于激光的THz系统 — 安装可兼容标准的光机械组建— 集成过载保护电路横向场太赫兹近场探针规格参数TeraSpike TD-800-X-HRHRS最小空间分辨率3um20umPC gap size1.5um2um暗电流 @1V 偏置电压0.5nA0.5nA光电流1uA0.6uA激发波长700..860mW平均激发功率0.1-4mW接头类型SMP纵向场太赫兹近场探针规格参数TeraSpike TD-800-A-500GN最大空间分辨率8 um8 umPC gap size5 um2 um暗电流 @1V 偏置电压0.4 nA0.4 nA光电流0.5 uA0.1 uA激发波长700..860mW平均激发功率0.1-4mW接头类型SMP反射式太赫兹近场探针 反射式太赫兹近场探针是一款收发一体化的太赫兹近场探针产品。探针具有双天线结构,此结构极大的缩短了太赫兹的传输路径,可有效的应用于太赫兹近场时域谱测试以及成像测试系统中。规格参数 型号暗电流@1V偏压光电流激发波长平均激发功率链接头TeraSpike TD-800-TR.5 1.5nA 0.5uA700-860nm0.1-4mW2×SMP适用于1550nm波长的太赫兹近场探针规格参数型号脉冲上升时间带宽激发波长激发功率悬臂材料TeraSpike TD-1550-Y-BF1ps0.01-2.5THz700-1600nm 0.1-4mWInGaAs(n-type)
  • FARO 测针 探针
    为Faro Arm便携式坐标测量机提供了完整的替换探头,测针和附件产品系列,适合所有FARO臂和Faro Gage臂的球探针和测针。有2毫米,3毫米,4毫米,6毫米,9毫米规格,请致电我们咨询最适合您的产品 17806282711 合作、共赢!美国热电:直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡:金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗:疲劳试验机、万能试验机; 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密:圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如:激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测:便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务,帮客户挖掘新的赢利空间!上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址:青岛市城阳区山河路702号上海地址:上海浦东新区川沙路1098号新美测(青岛)测试科技有限公司提供测试服务:静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等;动态疲劳测试主要包括:拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等
  • 布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中—ScanAsyst Air AFM探针
    布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中—ScanAsyst Air ScanAsyst Air,是空气中智能成像模式ScanAsyst 专用探针,仅适用于具有Scansyst成像的AFM。其中包含:Dimension Icon,Multimode8,Bioscope Catalyst,Bioscope Resolve. ScanAsyst 利用一种专门的曲线采集方法和复杂的算法,对图像质量进行持续的监测,并能自动地对参数进行适当的调整。因此:- 无论用户的专业技术水平如何,图像自动优化都能更快获取更一致的结果。- 可直接控制力的强弱,调到超低力,从而保护易碎样品和针尖不受损坏。 实现了悬臂调节的消除,定位调整,获得最大优化让液态成像变得简单。 氮化硅单悬臂探针,所有ScanAsyst针尖都有2度的悬臂弯曲。详细规格: 延展阅读:关于布鲁克:布鲁克公司以先进的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。 布鲁克AFM探针制造中心独特优势:*Class100级别的无尘室*先进的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系,确保探针性能 在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,全面的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。 原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式:主要分为:扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构:悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius:一般为10nm到几十nm。制作工艺:半导体工艺制作 指标:探针的指标主要分三个部分,分别对应了基片,微悬臂梁,和针尖三个部分。1. 基片,就是基片的长,宽,高,各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁,分为矩形梁和三角形悬臂梁,他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数,一般来说,接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖,针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有,曲率半径(Tip Radius),探针高度(Tip Height),对应于四面体的指标,前角(Front Angel),后角(Back Angel),侧角(Side Angel),还有一个是Tip Set Back,对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质:1. 轻敲探针:一般是单晶硅,型号如RTESP;2. 接触模式探针:材质是SiN,而新型号的SNL接触探针,悬臂梁是SiN,而针尖则Si(曲率半径2nm左右),这种探针可以提供接触模式下的分辨率图;3. 功能探针:如磁力探针(MESP),导电探针,则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr,SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍: 常用探针型号介绍1. 轻敲模式,RTESPA-300,TESP,FESP2. 接触模式,SNL,NP,3. 智能扫描模式:Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜,MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜,导电AFM,等电学测量模式,DDESP,SCM-PIT,SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针,大长径比探针。
  • 四探针测试探头
    340-TT四探针测试探头探针间距选择1mm;2mm;3mm探针材质选择:铜/钨钢针探针尖形态选择:尖针,半球型
  • 汲取式光纤探针系统
    汲取式光纤探针对于过程中的实时在线样品检测和实验室应用特别有用。在一个液态样品不能用比色皿测量的情况下,汲取式光纤探针附件能够测量其吸光度和透过率。反射式光纤探针结合S-3100使用可以生成小的光感系统以测量固体表面的反射。
  • MPI半导体晶圆测试配件悬臂探针卡
    产品概要:MPl悬臂探针卡广泛应用于金凸点和焊盘晶圆测试,用于显示驱动器、逻辑和存储设备。基本信息:MPI的悬臂式探头是对细间距、小焊盘尺寸、高速、清洁少、多DUT、高引脚数和超低泄漏要求的相应解决方案。技术优势:1、使用对角线或托架应用程序执行多个DUT配置,以实现超常规对齐和平面度2、减少高温或低温试验期间的热变形3、R+和U+结构的高速解决方案,用于严格的Pl和Sl应用4、通过先进的探针材料和设计,稳定低接触电阻性能5、交付周期短,是工程设备的理想选择应用方向:MPl悬臂探针卡广泛应用于金凸点和焊盘晶圆测试,用于显示驱动器、逻辑和存储设备。
  • AFM探针针尖
    Omniprobe公司提供扫描电子和离子束显微镜纳米实验设备,处于行业领先水平。钨探针针尖由Omniprobe公司生产,包括 AutoProbe? 200, AutoProbe? AutoProbe? 250, 300, Short-Cut?, OmniGIS? 和 SST? 400-1 。 l 钨/镍探针针尖Tungsten /Nickel Probe Tips 常规设计,镍管柄、钨尖,钨尖尺寸:半径0.5um,13o锥角。使用寿命长。货号产品名称规格75960-01钨/镍探针针尖Tungsten/Nickel Probe Tip10/bx l 钨探针针尖Tungsten Probe Tips常规设计,钨尖尺寸:半径0.5um,13o锥角。使用寿命长。货号产品名称规格75960-02钨探针针尖All Tungsten Probe Tip10/bx l 原位探针针尖In-Situ Probe Tips常规的钨针尖,不锈钢柄,适合AutoProbe? 300、原位探针针尖更换系统和Short-Cut? 。钨尖尺寸:半径0.5um,8-10o锥角。 货号产品名称规格75960-03原位探针针尖In-Situ Probe Tip10/bx l Xtreme Access ?” 钨探针针尖 Tungsten Probe Tips 常规设计,钨尖尺寸:半径小于0.5um,13o锥角。使用寿命长。货号产品名称规格75960-04XA ?” 钨探针针尖 Tungsten Probe Tip10/bx l Autoprobe 250钨探针针尖Tungsten Probe Tips常规设计,钨尖尺寸:半径小于0.5um,6o锥角。使用寿命长。(兼容Short-Cut?)货号产品名称规格75960-05AP250钨探针针尖 Tungsten Probe Tip10/bx l Xtreme Access Short-Cut? Probe Tips常规设计,钨尖尺寸:半径小于0.5um,6o锥角。使用寿命长。(兼容Short-Cut?)货号产品名称规格75960-06XA Short Cut Tungsten Probe Tip10/bx l XA探针针尖夹持器 Probe Point Holder适合 ?”钨探针针尖,, #75960-04 和 #75960-06. 货号产品名称规格75961-10 XA探针针尖夹持器 Probe Point Holder个 l AP250 探针针尖夹持器Probe Tip HolderAutoProbe? 250探针针尖夹持器适合的钨针尖是75960-05.兼容 Short-Cut?。货号产品名称规格75961-105AP250 探针针尖夹持器Probe Tip Holder个
  • 近红外反射附件(NIRA)和NIR探针
    IR近红外反射附件(NIRA)和NIR探针的详细资料: 详情请联系吴小姐:15080317079 近红外反射附件(NIRA)和NIR探针 Spectrum 400/100N/One NTS用近红外反射附件(NIRA) PerkinElmer的近红外反射附件(NIRA)及相关的一系列附件尤其适合用于分析片剂、粉末、固体颗粒和气泡材料等样品,以及玻璃小瓶中、凝胶剂和粘稠液体中的样品。 对于Spectrum 400系列,有一款附件可以安装在设备的右侧,这样样品仓就能空出来留作其他用途。 特色和优势 Ø 适用于不同容器中的各种样品 Ø 设计精巧,集成化,零校准,零设置。一旦连接好了样品仓,该附件就成为了整个系统的一部分,能随时使用 Ø 可重复性更强,操作简单 Ø 水平样品台,方便采样定位 Ø 大采集角和大光斑尺寸,保证最佳采样效果 Ø 集成了性能高、稳定性好的InGaAs检测系统标准 Ø 各种能用于不纯固体或液体样品的可选附件 Ø 速拆控制杆配合自动参数设置让您在几秒钟内就能实现附件的拆卸和更换 与标准附件套件一起提供,套件中包括样品定位器,标准样和样品处理工具。 近红外反射附件 (NIRA) 右手安装型只适用于Spectrum 400 L125401N 近红外反射附件 (NIRA) 安装样品仓的用于Spectrum 400/100N/One NTS L1240050 近红外反射附件 (NIRA)右手安装的只适用于Spectrum 100 L125403L NIRA的附件和耗材 RHS NIRA用固体旋转样品支架 1 L1250042 固体旋转样品架适用于样品仓NIRA 1 L1240053 NIRA穿透反射液体采样附件启动器套件1 L1185153 备用玻璃样品盘适用于NIRA固体旋转样品架 5 L1181257 高性能样品盘适用于NIRA固体旋转样品架1 L1185305 一次性4mL带盖玻璃小瓶15mm x 45mm 100 L9001029 NIRA Spectralon校准 1 L1245028 NIR远程固体采样系统 专为远程固体或粉末采样设计,工作范围可达10m。它包含手柄用户界面和液晶显示器,让用户能够持续地进行远程操作,从而提高工作效率。该设计不仅实现了快速清洁,而且即使在危险环境中也不会导致触电事故。适用于Spectrum 400和Spectrum 100N. 特色和优势 Ø 包含高性能触发光纤探针,便于固体或粉末采样 Ø Spectrum软件光纤采样接口自动识别 Ø 手柄用户界面和液晶显示屏实现持续远程操作 Ø 危险环境中也不会导致触电事故。无电气接口 Ø 光学扫描场深更大,改善了对较厚玻璃容器内的样品的测量效果 Ø 光斑尺寸更大(-6mm),改善了对颗粒粗杂质多的样品的测量效果 Ø 配备保护盖和探针保护套,背景采集符合Spectralon标准 Ø 模块化,可拓展,智能化&mdash 与其他Spectrum 400和100高级采样选项相同。附件更换简单,完全的即插即用操作 Ø 探针尖端装有蓝宝石窗片,坚固耐用,易清洁 远程固体采样系统2m L1250030 远程固体采样系统3m L1250037 远程固体采样系统5m L1250031 远程固体采样系统10m L1250032
  • 近红外反射附件(NIRA)和NIR探针
    IR近红外反射附件(NIRA)和NIR探针的详细资料: 详情请联系吴小姐:15080317079 近红外反射附件(NIRA)和NIR探针 Spectrum 400/100N/One NTS用近红外反射附件(NIRA) PerkinElmer的近红外反射附件(NIRA)及相关的一系列附件尤其适合用于分析片剂、粉末、固体颗粒和气泡材料等样品,以及玻璃小瓶中、凝胶剂和粘稠液体中的样品。 对于Spectrum 400系列,有一款附件可以安装在设备的右侧,这样样品仓就能空出来留作其他用途。 特色和优势 Ø 适用于不同容器中的各种样品 Ø 设计精巧,集成化,零校准,零设置。一旦连接好了样品仓,该附件就成为了整个系统的一部分,能随时使用 Ø 可重复性更强,操作简单 Ø 水平样品台,方便采样定位 Ø 大采集角和大光斑尺寸,保证最佳采样效果 Ø 集成了性能高、稳定性好的InGaAs检测系统标准 Ø 各种能用于不纯固体或液体样品的可选附件 Ø 速拆控制杆配合自动参数设置让您在几秒钟内就能实现附件的拆卸和更换 与标准附件套件一起提供,套件中包括样品定位器,标准样和样品处理工具。 近红外反射附件 (NIRA) 右手安装型只适用于Spectrum 400 L125401N 近红外反射附件 (NIRA) 安装样品仓的用于Spectrum 400/100N/One NTS L1240050 近红外反射附件 (NIRA)右手安装的只适用于Spectrum 100 L125403L NIRA的附件和耗材 RHS NIRA用固体旋转样品支架 1 L1250042 固体旋转样品架适用于样品仓NIRA 1 L1240053 NIRA穿透反射液体采样附件启动器套件1 L1185153 备用玻璃样品盘适用于NIRA固体旋转样品架 5 L1181257 高性能样品盘适用于NIRA固体旋转样品架1 L1185305 一次性4mL带盖玻璃小瓶15mm x 45mm 100 L9001029 NIRA Spectralon校准 1 L1245028 NIR远程固体采样系统 专为远程固体或粉末采样设计,工作范围可达10m。它包含手柄用户界面和液晶显示器,让用户能够持续地进行远程操作,从而提高工作效率。该设计不仅实现了快速清洁,而且即使在危险环境中也不会导致触电事故。适用于Spectrum 400和Spectrum 100N. 特色和优势 Ø 包含高性能触发光纤探针,便于固体或粉末采样 Ø Spectrum软件光纤采样接口自动识别 Ø 手柄用户界面和液晶显示屏实现持续远程操作 Ø 危险环境中也不会导致触电事故。无电气接口 Ø 光学扫描场深更大,改善了对较厚玻璃容器内的样品的测量效果 Ø 光斑尺寸更大(-6mm),改善了对颗粒粗杂质多的样品的测量效果 Ø 配备保护盖和探针保护套,背景采集符合Spectralon标准 Ø 模块化,可拓展,智能化&mdash 与其他Spectrum 400和100高级采样选项相同。附件更换简单,完全的即插即用操作 Ø 探针尖端装有蓝宝石窗片,坚固耐用,易清洁 远程固体采样系统2m L1250030 远程固体采样系统3m L1250037 远程固体采样系统5m L1250031 远程固体采样系统10m L1250032
  • 近红外反射附件(NIRA)和NIR探针
    IR近红外反射附件(NIRA)和NIR探针的详细资料: 详情请联系吴小姐:15080317079 近红外反射附件(NIRA)和NIR探针 Spectrum 400/100N/One NTS用近红外反射附件(NIRA) PerkinElmer的近红外反射附件(NIRA)及相关的一系列附件尤其适合用于分析片剂、粉末、固体颗粒和气泡材料等样品,以及玻璃小瓶中、凝胶剂和粘稠液体中的样品。 对于Spectrum 400系列,有一款附件可以安装在设备的右侧,这样样品仓就能空出来留作其他用途。 特色和优势 Ø 适用于不同容器中的各种样品 Ø 设计精巧,集成化,零校准,零设置。一旦连接好了样品仓,该附件就成为了整个系统的一部分,能随时使用 Ø 可重复性更强,操作简单 Ø 水平样品台,方便采样定位 Ø 大采集角和大光斑尺寸,保证最佳采样效果 Ø 集成了性能高、稳定性好的InGaAs检测系统标准 Ø 各种能用于不纯固体或液体样品的可选附件 Ø 速拆控制杆配合自动参数设置让您在几秒钟内就能实现附件的拆卸和更换 与标准附件套件一起提供,套件中包括样品定位器,标准样和样品处理工具。 近红外反射附件 (NIRA) 右手安装型只适用于Spectrum 400 L125401N 近红外反射附件 (NIRA) 安装样品仓的用于Spectrum 400/100N/One NTS L1240050 近红外反射附件 (NIRA)右手安装的只适用于Spectrum 100 L125403L NIRA的附件和耗材 RHS NIRA用固体旋转样品支架 1 L1250042 固体旋转样品架适用于样品仓NIRA 1 L1240053 NIRA穿透反射液体采样附件启动器套件1 L1185153 备用玻璃样品盘适用于NIRA固体旋转样品架 5 L1181257 高性能样品盘适用于NIRA固体旋转样品架1 L1185305 一次性4mL带盖玻璃小瓶15mm x 45mm 100 L9001029 NIRA Spectralon校准 1 L1245028 NIR远程固体采样系统 专为远程固体或粉末采样设计,工作范围可达10m。它包含手柄用户界面和液晶显示器,让用户能够持续地进行远程操作,从而提高工作效率。该设计不仅实现了快速清洁,而且即使在危险环境中也不会导致触电事故。适用于Spectrum 400和Spectrum 100N. 特色和优势 Ø 包含高性能触发光纤探针,便于固体或粉末采样 Ø Spectrum软件光纤采样接口自动识别 Ø 手柄用户界面和液晶显示屏实现持续远程操作 Ø 危险环境中也不会导致触电事故。无电气接口 Ø 光学扫描场深更大,改善了对较厚玻璃容器内的样品的测量效果 Ø 光斑尺寸更大(-6mm),改善了对颗粒粗杂质多的样品的测量效果 Ø 配备保护盖和探针保护套,背景采集符合Spectralon标准 Ø 模块化,可拓展,智能化&mdash 与其他Spectrum 400和100高级采样选项相同。附件更换简单,完全的即插即用操作 Ø 探针尖端装有蓝宝石窗片,坚固耐用,易清洁 远程固体采样系统2m L1250030 远程固体采样系统3m L1250037 远程固体采样系统5m L1250031 远程固体采样系统10m L1250032
  • 近红外反射附件(NIRA)和NIR探针
    IR近红外反射附件(NIRA)和NIR探针的详细资料: 详情请联系吴小姐:15080317079 近红外反射附件(NIRA)和NIR探针 Spectrum 400/100N/One NTS用近红外反射附件(NIRA) PerkinElmer的近红外反射附件(NIRA)及相关的一系列附件尤其适合用于分析片剂、粉末、固体颗粒和气泡材料等样品,以及玻璃小瓶中、凝胶剂和粘稠液体中的样品。 对于Spectrum 400系列,有一款附件可以安装在设备的右侧,这样样品仓就能空出来留作其他用途。 特色和优势 Ø 适用于不同容器中的各种样品 Ø 设计精巧,集成化,零校准,零设置。一旦连接好了样品仓,该附件就成为了整个系统的一部分,能随时使用 Ø 可重复性更强,操作简单 Ø 水平样品台,方便采样定位 Ø 大采集角和大光斑尺寸,保证最佳采样效果 Ø 集成了性能高、稳定性好的InGaAs检测系统标准 Ø 各种能用于不纯固体或液体样品的可选附件 Ø 速拆控制杆配合自动参数设置让您在几秒钟内就能实现附件的拆卸和更换 与标准附件套件一起提供,套件中包括样品定位器,标准样和样品处理工具。 近红外反射附件 (NIRA) 右手安装型只适用于Spectrum 400 L125401N 近红外反射附件 (NIRA) 安装样品仓的用于Spectrum 400/100N/One NTS L1240050 近红外反射附件 (NIRA)右手安装的只适用于Spectrum 100 L125403L NIRA的附件和耗材 RHS NIRA用固体旋转样品支架 1 L1250042 固体旋转样品架适用于样品仓NIRA 1 L1240053 NIRA穿透反射液体采样附件启动器套件1 L1185153 备用玻璃样品盘适用于NIRA固体旋转样品架 5 L1181257 高性能样品盘适用于NIRA固体旋转样品架1 L1185305 一次性4mL带盖玻璃小瓶15mm x 45mm 100 L9001029 NIRA Spectralon校准 1 L1245028 NIR远程固体采样系统 专为远程固体或粉末采样设计,工作范围可达10m。它包含手柄用户界面和液晶显示器,让用户能够持续地进行远程操作,从而提高工作效率。该设计不仅实现了快速清洁,而且即使在危险环境中也不会导致触电事故。适用于Spectrum 400和Spectrum 100N. 特色和优势 Ø 包含高性能触发光纤探针,便于固体或粉末采样 Ø Spectrum软件光纤采样接口自动识别 Ø 手柄用户界面和液晶显示屏实现持续远程操作 Ø 危险环境中也不会导致触电事故。无电气接口 Ø 光学扫描场深更大,改善了对较厚玻璃容器内的样品的测量效果 Ø 光斑尺寸更大(-6mm),改善了对颗粒粗杂质多的样品的测量效果 Ø 配备保护盖和探针保护套,背景采集符合Spectralon标准 Ø 模块化,可拓展,智能化&mdash 与其他Spectrum 400和100高级采样选项相同。附件更换简单,完全的即插即用操作 Ø 探针尖端装有蓝宝石窗片,坚固耐用,易清洁 远程固体采样系统2m L1250030 远程固体采样系统3m L1250037 远程固体采样系统5m L1250031 远程固体采样系统10m L1250032
  • 文天精策 磁吸式探针
    创新测试探针设计,尺寸小,适用空间要求低。底部通过磁铁吸附在底板上,适用于功能材料、电路板、半导体等的测试。
  • MPI晶圆测试配件TITAN&trade 探针
    产品概要:MPI公司通过引入独特的TITAN-RC探针来扩展RF TITAN探针的系列。新的探针模型的特点是触头宽度减小了33%,减小到20μm,TITAN-RC探针与进一步减小RF器件和IC的焊盘尺寸的行业趋势完全吻合,大大降低了下一代商用RF和毫米波硅器件和IC的测试成本,它可以为铝焊盘金属化小至30 x 35μm的硅器件获得准确且可重复的测量结果。基本信息: ME MS技巧 MPI TITAN&trade 探针经过精准制造,具有完美匹配的50Ω的MEMS触点。由于出色的探头电气特性(最小的插入损耗和串扰以及高的回波损耗),它们可确保在较宽的频率范围内提供无与伦比的校准和测量结果。 独特的接触结构与市场上的其他针尖不同,由于独特的突起式针尖设计,MPI TITAN&trade RF探头可提供出色的实时可视性。首次,即使对于没有经验的操作人员,也无需使用探头对准标记,就可以将RF探头高精度地定位在校准标准件或DUT 上。技术优势:1、提供宽范围的Probe选择:DC-220Ghz2、单双信号规格3、针距范围 50 μm 至 1250 μm4、至高 10 瓦功率型射频组件的特性量测5、TITAN-RC版本探针具有GSG尖端配置,探针间距为50μm至150μm应用方向:应用于晶圆校准和测量。
  • 反射式光纤探针系统
    反射式光纤探针结合scinco S-3150或者S-4100使用可以生成小的光感系统以测量固体表面的反射。
  • 拉曼探针/近红外光纤探针 L1320002
    坚固耐用且用途广泛的拉曼光纤探针和附件近红外光纤探针适用于Raman IdentiCheck、RamanStation400F、RamanFlex 400 和RamanMicro 200F珀金埃尔默的光纤探针可将光谱仪移到样品近处,从而使结果更容易收集。只需点击几次,您就能对一系列样品类型进行分析——甚至在环境不受控或空间有限的情况下也不例外。这种简单易用的附件可提供诸如原位分析和反应监测等相当多的附加功能,从而将使您的实验室从中受益。近红外光纤探针产品描述部件编号拉曼探针 不锈钢探针、7.5 mm工作距离、5米电缆;光谱范围是230-3500 cm-1L1320002浸液套筒 它是拉曼探针的一个选配附件,由带有蓝宝石窗片的不锈钢壳体组成。该套筒允许拉曼探针在温度高达200°C时浸入液体内。L1320030触发式光纤拉曼探针,5 m不锈钢探针、7.5mm工作距离、5 m电缆;也包括带有触发器的手柄和7.5 mm活动触头;光谱范围是230-3500 cm-1L1320030触发式光纤拉曼探针,20 m不锈钢探针、7.5mm工作距离、20 m电缆;也包括带有触发器的手柄和7.5 mm活动触头;光谱范围是230-3500 cm-1L1320031用于触发式光纤探针的浅(10 cm)浸液套筒;这是光纤探针的一种可选不锈钢浸液套筒L1320070拉曼探针:长不锈钢探针,350 mm长,适用于非接触式浸液,可在不超过200°C / 1500psi的较高温度和压力下使用,5 M电缆。光谱范围是230-3500 cm-1L1320011拉曼探针:最长不锈钢探针,适用于非接触式浸液,可在不超过500°C / 3000 psi的较高温度和压力下使用,5 M电缆。光谱范围是230-3500 cm-1L1320012用于拉曼探针的吹扫护套:最大规格,当最大号探针在200°-500°C的温度下运行时必须配备此部件L1320013活动触头 7.5 mm工作距离、替换部件;可通过直接接触样品而对光纤探针的工作距离进行优化并降低Spectrum外源光线受污染的风险L1320324用于光纤探针和触发式光纤探针的工作距离超长型透镜:这种附件可将工作距离从7.5mm提高到25 mmL1320071
  • AFM探针/原子力显微镜探针/磁性探针(MESP)
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) MESPUnmountedStandard MFM Coated Tips, 2.8N/m, 75kHz, Co/Cr Reflective Coating1020
  • 原子力探针/afm探针/轻敲模式/轻敲探针/形貌表征/RTESPA-300
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • AFM探针/原子力显微镜探针/磁性探针(MESP) AFM探针
    NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) MESPUnmountedStandard MFM Coated Tips, 2.8N/m, 75kHz, Co/Cr Reflective Coating1020探针的指标主要分三个部分,分别对应了基片,微悬臂梁,和针尖三个部分。1. 基片,就是基片的长,宽,高,各种探针的基片尺寸是基本一致的。 2. 悬臂梁,分为矩形梁和三角形悬臂梁,他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数,一般来说,接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖,针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有,曲率半径(Tip Radius),探针高度(Tip Height),对应于四面体的指标,前角(Front Angel),后角(Back Angel),侧角(Side Angel),还有一个是Tip Set Back,对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质:1. 轻敲探针:一般是单晶硅,型号如RTESP; 2. 接触模式探针:材质是SiN,而新型号的SNL接触探针,悬臂梁是SiN,而针尖则Si(曲率半径2nm左右),这种探针可以提供接触模式下的分辨率图;3. 功能探针:如磁力探针(MESP),导电探针,则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr,SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍: 常用探针型号介绍1. 轻敲模式,RTESPA-300,TESP,FESP 2. 接触模式,SNL,NP,3. 智能扫描模式:Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜,MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜,导电AFM,等电学测量模式,DDESP,SCM-PIT,SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针,大长径比探针。
  • Gator Strep-Tactin XT 探针
    Strep 标签作为目前最广泛使用的亲和纯化系统标签之一的 Strep 标签,它有多种突出优点:纯化过程温和,目的蛋白纯度高(>95%),特异性强,能兼容多种表达系统:包括原核、酵母、昆虫、哺乳动物细胞或是植物细胞等。因此 Strep 标签可以简单迅速的实现重组蛋白的克隆,表达,纯化,和检测分析。 Strep 标签与配基不断升级 基于链霉亲和素 ( Streptavidin)和生物素( Biotin )之间强烈的相互作用,科学家运用一系列蛋白质工程手段,从短肽文库中筛选获取链霉亲和素可逆性结合的短肽亲和标签,同时也对链霉亲和素的蛋白序列进行改进,双管齐下并且经过不断优化改造,得到了非常稳定的 Strep-Tactin® XT ( Extreme Tight ),能高效且可逆的结合短肽标签 Strep-tag® 。Strep-Tactin® XT 与 Twin-Strep-tag 不仅亲和力非常强,而且结合仍保持可逆,因此可以广泛应用于纯化检测系统。 小鳄生物此次针对 Strep 标签,推出了两款探针:与 Twin-Strep-tag 蛋白亲和力非常强的 Strep-Tactin XT 探针和与 Strep-tag II 蛋白结合的 Strep-tag II 探针。 两款探针均可从复杂样品中特异性捕获蛋白,从而获得可靠的数据;还可多次再生,节约检测成本。扫描下方二维码获取更多产品资料
  • 布鲁克 AFM探针/原子力显微镜探针/氮化硅探针
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) OBL-10UnmountedAu Coated tips 2 Cantilevers, 0.006-0.03N/m, Au Reflective Coating1030
  • 布鲁克 AFM探针/原子力显微镜探针/导电探针
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) SCM-PICUnmountedPt/ Ir Coated Tips, 0.2N/m 13kHz, Pt/Ir Reflective Coating1020
  • 原子力探针高分辨/智能成像探针/ SCANASYST-FLUID+/液下环境
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • 原子力显微镜探针/高分辨/智能成像探针/SNL-10
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • 原子力显微镜探针/afm探针/生物样品/细胞成像/MLCT
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • AFM探针/导电原子力/导电探针/SCM-PIT-V2
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
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