面扫描和点分析一样不?有什么区别么?[em0806]点分析是电子探针测试的么?
请问大家有没有给扫描探针做过地线,其对地线电阻要求高不高,需要达到多少欧姆以下?谢谢!
我想问下大伙,有没有知道上海卓伦的扫描探针显微镜好用还是中科奥纳的扫描探针显微镜好用呢?另大家还有没有人知道国内有没有做得比较成熟的显微镜厂商呢?希望大家踊跃发言。
单位最近要安装一台电子探针,我想找点资料看一下,请问电子探针是扫描电镜吗?在仪器信息网上能找到电子探针的资料吗?如果能的话,告诉我在哪个版块?知道的请说一下,谢谢了!
本人菜鸟,请问各位大神电子探针的面扫描图像怎么解释?可以看出样品均不均匀吗?
AFM的两种扫描方式样品扫描和探针扫描各有什么优缺点? 是否可以将这两种方式结合起来消除各自的缺点呢? 请大家交流心得
如题:扫描探针电脑失控会崩溃吗?
请问,电子探针与扫描电镜的区别是什么?
前言:扫描探针显微镜它包括扫描隧道显微镜、原子力显微镜、扫描近场光学显微镜、静电力显微镜、磁力显微镜等20多个品种的庞大显微镜家族。这类显微镜的问世不仅仅是显微技术的长足发展,而且标志着一个科技新纪元——纳米科技时代的开始。这类显微镜自问世以来,在物理学、化学、医学、生物学、微电子学与材料科学等领域获得了极为广泛的应用,并一直是国内外科技人员研究的热点。作为仪器使用技术人员,虽不能开发出更出色的仪器,但是如何充分利用它,如何让它发挥到极至得到理想的结果,是我们仪器使用者应该探索的。实验室不容忽视的温湿度变化,对扫描探针显微镜测试结果影响有多大呢?本文研究了扫描探针显微镜,在四种不同湿度环境下(实验室温度调节受限这里不做研究)测试三种不同材料表面形貌,并对测试结果进行对比,得出仪器最佳使用湿度环境。 一、仪器介绍http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191701_669577_2224533_3.jpg 图A图A为布鲁克公司型号为Nano man VS 扫描探针显微镜http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2016082509141228_01_2224533_3.jpg 图B图B为海瑞弗公司的精密空调机(有快速除湿功能) 二、测试过程及分析选择一个阴雨天气,首先关闭精密空调机除湿功能,等待室内湿度加大,湿度显示90%时,对实验材料表面扫描成像(不需要抬起探针保持扫描状态)开启除湿机,湿度显示80%时保存一张形貌图,等湿度降到70%、60%分别保存一张形貌图。如此,重复以上操作步骤,分别对普通载玻片、普通硅片、非晶材料三种不同材料表面测试,得到如下图结果。 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2016082509174389_01_2224533_3.jpg http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2016082509175648_01_2224533_3.jpg 上图随机选取普通载玻片某个区域,在湿度90%时,图1.1a、b区域,出现非常明显的干扰条纹,这种条纹的出现,一般是由于测试表面比较湿或者样品在微动引起的。这里很明显是因为空气湿度过大,在载玻片表面已经形成了水珠,对扫描过程干扰过强导致扫描失败。再看图1.2,这时候湿度降到80%,强烈的干扰条纹基本消失,但是图片上颗粒状不明显,棱角模糊,这是因为样品表面还残留着一层水膜,有的区域探针无法穿透水膜扫描到真实的样品表面,所以扫描出来的图像在感官上有一种朦胧的感觉。再看图1.3湿度降到70%,图像上的颗粒明显,棱角清晰,这说明残留水膜基本消失。图1.4湿度降至60%的时候已经达到理想效果。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2016082509192148_01_0_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2016082509193007_01_2224533_3.jpg上图非晶材料做完纳米压痕实验后残留的一个压痕印迹,图2.1湿度90%时虽然没有出现强烈干扰条纹,但是a、b区域有着很厚的水膜,显然扫不出清晰的图片。图2.2湿度80%,可见上半部小部分处于模糊状态,水膜未彻底消失,当湿度降至70%[color=windowtex
如题,不知哪位老师有扫描探针显微镜的讲学课件?可否给我学习一下?不甚感激!
哪位有“扫描探针显微技术理论与应用”这本书的电子版?本人急需一用,谢谢!
是不是有些电子探针就有扫描电镜的功能呢?做矿物(比如锆石)的阴极发光图像是用的什么仪器阿?有人知道吗?谢谢!
【英文篇名】 The introduction of Scanning Probe Microscope and its application in optical disc R&D 【作者】 李伟权 【作者单位】 光盘及其应用国家工程研究中心 【刊名】 记录媒体技术 , China Mediatech, 编辑部邮箱 2004年 04期 期刊荣誉:ASPT来源刊 CJFD收录刊 【摘要】 本文简要介绍了扫描探针显微镜的原理和技术特点,并详细地阐述了它在光盘研究与开发中的应用。一、扫描探针显微镜扫描探针显微镜(ScanningProbeMicroscope),简称SPM。SPM技术是80年代发展起来的一种突破性的 【英文摘要】 The principle and technical features of Scanning Probe Microscope are introduced. Its application in R&D of optical disc is also illustrated in detail. 【DOI】 cnki:ISSN:1672-1268.0.2004-04-013 [img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=98699]扫描探针显微镜及其在光盘开发中的应用[/url]
山东大学从美国维柯公司DI分部购进扫描探针显微镜一套,该设备是属于多功能配套设备。它包含如下功能:①原子力显微镜;②隧道力显微镜;③电力显微镜;④磁力显微镜;⑤摩擦力显微镜。工作模式可分为:接触式,非接触式,敲打式,力调制等。功能之全是国际上一流的。为此,山东大学于2001年9月9日派遣任可、刘宜华、孙大亮三人赴美国圣巴巴拉市维柯公司DI分部接受培训(扫描探针显微镜生产厂家为美国、、、、、、、
[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=124996]扫描探针电子显微镜综述[/url]++++分享:扫描探针电子显微镜综述
扫描探针显微镜废针的改造再利用及分辨率的提高前言:扫描探针显微镜(SPM)一般操作模式有轻敲模式,接触模式,非接触模式等。我们实验室一般采用接触和轻敲模式,由于这两种模式都会与样品有接触,这就不可避免的给探针尖端造成磨损使其变钝,由于针尖较粗,探针的侧面将先于针尖与样品发生接触,从而引起所成图像的失真,将导致扫描出来的图片有严重的“加宽效应”影响图像准确度,造成探针严重浪费增加检测成本。本人在一次做纳米颗粒搬迁实验的过程中,本来是想用探针去移动一个细小颗粒a,结果颗粒粘附到针尖上了,之后扫描出来的粉末颗粒尺寸明显变小,如下图(一)B图和C图作对比明显(框定区域为扫描区域)B图颗粒大于C图。通过这个现象,如果在磨损后的探针针尖上,堆积上一层金字塔形纳米级的金颗粒,会不会使磨损的探针针尖变得更加尖锐呢?如果可以的话以此①可以提高扫描样品时探针的分辨率②减小由于探针针尖不够尖锐带来的“加宽效应”③可以使磨损探针再利用减少耗材成本。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011628_480183_2224533_3.jpg图(一)原理:通过对钝探针针尖堆积纳米金颗粒使其变得尖锐,如图二http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011628_480184_2224533_3.jpg图(二)实验设备:BRUKER布鲁克公司的扫描探针显微镜,仪器型号:Nanoman VSLeica莱卡的高真空镀膜仪,型号:LEICA EM SCD 500 探针为多次使用后磨损严重的废针,如图三http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011629_480185_2224533_3.jpg图(三)实验过程:选取一块玻璃片,取少量粉末颗粒分散在其上,然后在玻璃片上划一道刻痕做个标记。目的是为了保证整个扫描过程都能找到同一个区域同一个粉末上做比较,以次确保实验的有效性,如图四http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011629_480186_2224533_3.jpg图(四)随机选取一颗探针,不做任何处理在标记处扫描图像。如下图五http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312020832_480224_2224533_3.jpg图(五)在图像里头随机选取两个粉末,上面颗粒命名为A,下面颗粒命名为B,进行测量其尺寸分别为A=163nm,B=204nm;如图五http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011629_480187_2224533_3.jpg图(六)取下探针放在另一快玻璃片上,然后放如高真空镀膜仪内,镀膜时间为20s。取出玻璃片拿下探针,可以明显看到玻璃片上探针放置处遮挡了玻璃片没有镀上膜的痕迹。如图六http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011630_480188_2224533_3.jpg图(七)装上探针,寻找到同一区域,同一粉末颗粒,仪器使用的扫描速率尺寸等条件不变。扫描后对颗粒测量A=127nm; B=172nm.如图七http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011630_480189_2224533_3.jpg[
AFM扫描探针污染后是如何再利用的 对于做过AFM扫描探针显微镜大多数人来说,都遇到过这样的事,扫描探针在对蛋白质,多肽,DNA分子等形貌成像时,是很容易被污染的,时常带有少量物质粘到针尖上,使图片质量下降,甚至无法成像,从而使针尖报废,提高了检测成本。 对此我专门做了个实验。 选用轻敲模式的针尖,针尖参数如图1所示MODEL:RTESPhttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/07/201107051924_303256_2224533_3.jpg 仪器公司:美国VEECO;仪器型号:NANOMAN VS 首先我们来看下新针尖成像的图片2。尺寸如图2,扫描速率1.5HZ。其他参数仪器自动调节。果然是新针尖,新针尖的成像很清晰,针尖本身对负面成像没影响。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/07/201107051925_303258_2224533_3.jpg 我们在看看,这是进过很多次扫过蛋白质分子后被污染的针尖成像。(仪器型号,参数等条件跟上面一样)很明显,图片3上出现了一道一道的波浪纹,图片3严重失真,甚至出现了没发成像(图4)。由此可见污染后的探针是不能在用于检测的。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/07/201107051926_303259_2224533_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/07/201107051926_303260_2224533_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/07/201107051926_303261_2224533_3.jpg 但是就这样报废了吗?一根针便宜的几十RMB,贵的要几百RMB。如果都报废的话,一盒针尖用不了多久又得掏钱买,要是经费充足的话还好说,要是不足的话,可要珍惜着用啊。总之这可都是RMB买来的,要珍惜着用才是。 到底怎么解决这类问题呢?现在我把针尖取下来,取下来干嘛呢!丢了它。当然不是。 首先我用紫外灯照射30分钟左右。如图5所示。然后用镊子夹住针尖放入倒有丙酮溶液的烧杯中,等待浸泡半小时左右如图6所示,然后拿出放入干燥器中晾干。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/07/201107051927_303262_2224533_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/07/201107051930_303264_2224533_3.jpg把清晰过的针尖装上到扫描头上,然后进行常规扫描,得到如图7效果。明显效果出现了,一道一道的波浪纹没有了。这说明针尖上粘有的蛋白质有效地去除了,这样就赚了几十上百RMB,就有效地延长了针尖的使用寿命,降低了检测成本。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/07/201107051930_303265_2224533_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/07/201107051931_303266_2224533_3.jpg
扫描探针显微镜同其它的显微镜相比,历史比较短,只有20年的时间,大家了解的少一些,这个版也相对冷清了一些,但是发展相当迅速,大有取代SEM的趋势(大胆!^_^)。希望大家多发贴,发贴的内容主要集中在以下方面:1. 扫描隧道显微镜(STM)的构造、原理;2. 原子力显微镜(AFM)的构造、原理;3. 其它扫描探针显微镜,如MFM,EFM,LFM等的结构和原理;4.扫描探针显微镜的各种成像模式:如接触模式,轻敲模式,非接触模式以及相位成像模式等等;5.扫描探针显微镜的各种模式的技巧;6.各类扫描探针显微镜在各个方面的应用:物理,化学,材料,生物等等,包括各种制样技术;7.纳米蚀刻,纳米操纵等等;8.扫描探针显微镜的发展方向。 欢迎补充!欢迎交流![em61] [em61] [em61] [em61] [em61]
实验室里同时有扫描电镜和电子探针,感觉扫描电镜的成像比电子探针的强多了,景深大,立体感强,那为什么扫描电镜不同时配上能谱和波谱,这样不就不用再买电子探针了?敬请各位大牛解惑,谢谢!
我们有一台扫描探针显微镜(AFM),准备对外做样品,大家扫描一个样品一般怎么收费?如果对外出租用费用怎么计。
扫描探针显微镜操作规程一、 接触模式:Contact mode1. 开启设备1.1 依次打开电脑、变压器电源、SPM 控制器电源。1.2 双击SPM 快捷方式,出现SPM manager 窗口,单击setting 的data path,预设数据的存储目录,待SPM 控制器电源显示栏底部显示ready 后点击online。2.固定样品,安装到检测台2.1 检查AFM 头部,确保探针与样品台之间有足够的空间放样,如果距离不够,点击工具栏中release 按钮,直至距离足够时,点击stop。2.2 用双面胶将样品固定于铁片中心上,随后将其置于样品台的中心位置。样品的最大尺寸不超过24mm(直径),8mm(高度)。3. 选择扫描模式在setting 下拉菜单中选择mode and scanner,选中扫描模式(contact mode)和扫描器的大小,点击ok。4. 光路调节4.1 打开setting 下拉菜单中scanner condition,将其operating 值设为0。4.2 打开setting 下拉菜单中panel display,选中vertical deflection,调节激光控制旋钮(样品台右边的前后旋钮),使激光打在悬臂尖端,至少保证信号显示面板上一半的LED 指示灯发亮。4.3 若显示面板上的数值在-5-5 之间,直接调节检测器控制旋钮(垂直方向,即样品台左边的后面旋钮)至显示面板上的数值为0;若显示面板上数值的绝对值大于5,需先调节反光镜使其在-5-5 之间(保持信号显示面板上至少一半的LED 指示灯发亮),再用同样方法将数值调零。4.4 选中panel display 中的horizontal deflection,调节检测器控制旋钮(水平方向,即样品台左边的前面旋钮)至显示面板上的数值为[
我们现在想用Veeco公司的DI3100扫描探针显微镜的扫描隧道模式下,想进行纳米加工。但问题是探针和试件间距离很近时,加1~15V范围内的脉冲电压,探针针尖材料滑移和试件瞬间产生接触,这样的话不知道这个仪器的隧道电流反馈系统能否接受这突然增大的电流。望各位老师和用过此设备的各位高手请多多指教,谢谢!
领导要求调查一下扫描探针(原子力)显微镜,打算购买一个,我看了一下,国内外的很多家单位都有产品,这下不知道怎么搞了,也不知道性能上怎么区分啊。我们的要求是首先满足最低要求,能观测三维形貌,测量厚度,其次再考虑其他的功能模块。也就是说满足首先条件,预留其他功能窗口,大家帮忙推荐一下。也可以直接发我的信箱guigxms@163.com,宋。谢谢
[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=156349]扫描探针显微镜技术及其应用[/url]
[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=42366]扫描电子显微分析与电子探针[/url]
第一次接触电子探针,请问电子探针面扫描右边的的AVE和LEVEL代表的是什么意思呀~ 第四张图CP是什么意思呀 感谢各位了~[img=,690,552]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/07/202307141900121562_7545_6036933_3.jpg!w690x552.jpg[/img]
[b] [/b][color=windowtext][b] 扫描探针显微镜在纳米力学测试中的应用[/b][/color][b] [/b][color=windowtext][b] [/b][/color][b] [/b][color=windowtext][b]一、什么是扫描探针显微镜[/b][/color][b] [color=windowtext] 扫描探针显微镜([/color][color=windowtext]Scanning Probe Microscope, SPM[/color][color=windowtext])是在扫描隧道显微镜基础上发展起来的各种新型探针显微镜的统称。是国际上近年发展起来的表面分析仪器,其分辨率高、实时、实空间、原为成像,对样品无特殊要求,可在大气、常温环境甚至溶液中成像,同时具备纳米操纵及加工功能等。广泛应用于纳米科技、材料科学、物理、化学和生命科学等领域,并取得许多重要成果。[/color][color=windowtext] [/color][color=windowtext]二、扫描探针显微镜特点[/color]1、 [color=windowtext]SPM[/color][color=windowtext]具有极高的分辨率[/color]2、 [color=windowtext]SPM[/color][color=windowtext]得到的是实时的、真实的样品表面的高分辨三维图像。[/color]3、 [color=windowtext]SPM[/color][color=windowtext]可以观察单个原子层的局部表面结构。而不是体相或整个表面的平均性质。[/color]4、 [color=windowtext]SPM[/color][color=windowtext]使用环境宽松,可在大气、低温、常温、高温下工作。[/color] [/b][color=windowtext][b]三、扫描探针显微镜在纳米力学测试中原位成像的应用[/b][/color][b] [/b][color=windowtext][b]下面以某系非晶材料为例,说一说扫描探针显微镜的具体应用[/b][/color][b] 1、 [color=windowtext]采用某公司超纳米压痕仪对非晶样品表面纳米压入[/color][/b][color=windowtext][b][/b][/color][color=windowtext][b]压入参数:[/b][/color][b] [/b][table][tr][td][b] [/b][color=windowtext][b] [/b][/color][b] [/b][/td][td][b] [color=windowtext]加载速率[/color][color=windowtext](mN/min)[/color] [/b][/td][td][b] [color=windowtext]保载时间[/color][color=windowtext](S)[/color] [/b][/td][td][b] [color=windowtext]卸载速率[/color][color=windowtext](mN/min)[/color] [/b][/td][td][b] [color=windowtext]最大载荷([/color][color=windowtext]mN)[/color] [/b][/td][/tr][tr][td][b] [color=windowtext]点[/color][color=windowtext]1[/color] [/b][/td][td][b] [/b][color=windowtext][b]60[/b][/color][b] [/b][/td][td][b] [/b][color=windowtext][b]10[/b][/color][b] [/b][/td][td][b] [/b][color=windowtext][b]60[/b][/color][b] [/b][/td][td][b] [/b][color=windowtext][b]30[/b][/color][b] [/b][/td][/tr][/table][b] [color=windowtext]加卸载曲线[/color][color=windowtext]图[/color][color=windowtext]([/color][color=windowtext]一[/color][color=windowtext])[/color][/b][color=windowtext][b][/b][/color][color=windowtext][b][img=,690,563]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709300951_01_2224533_3.jpg[/img][/b][/color][b][color=windowtext]通过[/color][color=windowtext]SPM[/color][color=windowtext]原位成像[/color][color=windowtext]图(二、三)[/color][/b][color=windowtext][b][/b][/color][color=windowtext][b][/b][/color][color=windowtext][b][img=,401,470]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709300951_02_2224533_3.jpg[/img][img=,690,442]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709300951_03_2224533_3.jpg[/img][/b][/color][b] [/b][color=windowtext][b] [/b][/color][b] [color=windowtext] SPM[/color][color=windowtext]原位成像压痕图明显看到三角形边出现似有规律性台阶堆积现象,然而加载曲线比较光滑,丝毫没有异像。于是通过改变在加载速率[/color][/b][color=windowtext][b][/b][/color][color=windowtext][b]压入参数:[/b][/color][b] [/b][table][tr][td][b] [/b][color=windowtext][b] [/b][/color][b] [/b][/td][td][b] [color=windowtext]加载速率[/color][color=windowtext](mN/min)[/color] [/b][/td][td][b] [color=windowtext]保载时间[/color][color=windowtext](S)[/color] [/b][/td][td][b] [color=windowtext]卸载速率[/color][color=windowtext](mN/min)[/color] [/b][/td][td][b] [color=windowtext]最大载荷([/color][color=windowtext]mN)[/color] [/b][/td][/tr][tr][td][b] [color=windowtext]点[/color][color=windowtext]2[/color] [/b][/td][td][b] [/b][color=windowtext][b]3[/b][/color][b] [/b][/td][td][b] [/b][color=windowtext][b]10[/b][/color][b] [/b][/td][td][b] [/b][color=windowtext][b]60[/b][/color][b] [/b][/td][td][b] [/b][color=windowtext][b]30[/b][/color][b] [/b][/td][/tr][/table][b] [color=windowtext]加载曲线[/color][color=windowtext]图(四)[/color][/b][color=windowtext][b][/b][/color][color=windowtext][b][/b][/color][color=windowtext][b][img=,690,567]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709300952_01_2224533_3.jpg[/img][/b][/color][color=windowtext][b][/b][/color][color=windowtext][b][/b][/color][b] [color=windowtext]SPM[/color][color=windowtext]原位成像[/color][color=windowtext]图(五、六)[/color][img=,401,469]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709300953_01_2224533_3.jpg[/img][img=,690,437]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709300953_02_2224533_3.jpg[/img][/b][color=windowtext][b] [/b][/color][b] [color=windowtext]四、结论[/color][color=windowtext] 图(五、六)图(二、三)现象基本一致,然而采用低速率的加载曲线,出现了明显小平台,在排除外界震动等因素的情况下,我认为在采用仪器压入法研究材料的纳米力学性能时,常规加载速率很可能由于仪器的灵敏度导致无法捕捉到更多的微观信息,如果没有借助[/color][color=windowtext]SPM[/color][color=windowtext]成像(为什么没有推荐扫描电镜的原因,因为扫描电镜属于二次电子成像,无法得到样品表面凹凸高度信息)很可能就发现不了非晶材料的这种滑移等微观信息,不能更深入的研究材料的纳米力学性能。这就是为什么在仪器压入法进行纳米力学性能测试的时候引入[/color][color=windowtext]SPM[/color][color=windowtext]原位成像技术。[/color] [color=windowtext]SPM[/color][color=windowtext]在纳米尺度上是人类观察、改造世界的一种新工具,目前被广发应用于教学、科研及工业领域,特别是半导体集成电路、光盘工业、胶体化学、医疗检测、存储磁盘、电池工业、光学晶体等领域;随着[/color][color=windowtext]SPM[/color][color=windowtext]的不断发展,它正在进入食品、石油、地质、矿产及计量领域。[/color][/b][color=windowtext][b][/b][/color][color=windowtext][b][/b][/color][color=windowtext][/color]
电子探针辐射大还是扫描电镜辐射大?对身体伤害程度?
最新版的JJF 1351-2012 扫描探针显微镜校准规范
电子探针辐射大还是扫描电镜辐射大?对身体伤害程度?