高分辨率紫外波前传感器

国内首推科学级制冷型高分辨率ICCD 相机，在像增强器与科研制冷型的CCD相机之间，采用高分辨率的镜头耦合方式耦合成像， 获得60lp/mm 空间高分辨率，实现对高分辨率成像或高分辨瞬态光谱采集。 ● 科学级制冷型ICCD● 18mm口径二代高效像增强器● 宽光谱响应范围：S20:200-850nm & S25R：400-1100nm● 光学快门： 3ns● 延迟与门控调节精度：10ps● 阴极门控*高外同步频率 300KHZ ● 内置时序控制器DDG● 高空间分辨率：Std 50lp/mm，Option :60lp/mm● CCD芯片： 高分辨2750*2200像素阵列● 位深： 16bit● 制冷温度： -10℃ @ 风冷● 配合高分辨光谱仪实现瞬态光谱采集● 专业化数据采集控制软件独特亮点制冷型ICCD-10度芯片制冷温度，有效减低芯片暗噪声，安静读出超快光学门宽3ns 阴极光学门宽，实现**测量内置DDG内置精度10ps 门控与延迟控制发射器，方便随心控制自动步进STEP延迟和门控自动Step 步进功能，一键完成时间分辨光谱采集高空间分辨率高空间分辨率像增强器及镜头耦合，获得60lp/mm 空间分辨IOC 模式300kHZ阴极快门外同步频率，IOC 芯片累积模式提升信噪比Binning and ROI实现芯片FVB Binning以及 多通道光谱同时采集专业化软件采集控制&光谱仪控制，数据处理专业化界面，简单快捷ICCD像增强型高分辨率相机技术参数 CCD相机像素阵列2750*2200阵面尺寸12.48*9.98mm (15.972 mm Diag.)像素大小4.54um*4.54um传感器类型CCD Sensor读出噪声5e-暗电流0.02e- / pixel / s @-10℃位深16bitBining& ROIFVB: 垂直方向全Binning光谱模式& 多通道 ROI及FVB数字接口UBS2.0像增强器MCP光阴极S20BS25R有效口径18mm18mm光谱范围200-850nm400-1100nm峰值量子效率20% @440nm22%@720nm等效噪声（EBI） 2 x 10-7 lux @ 20 °C ± 2 °C 5 x 10-7 Lux光子增益1*1041.4*104荧光屏P20 /P43P43空间分辨率标准：50lp/mm ； 高分辨率选项： 60lp/mm光学门控宽度3ns （Mesh）Fast10ns, Slow 100ns内部DDG 控制延迟和门宽调节范围0-10s延迟和门宽调节精度10ps同步接口外触发输入，触发输出，直接触发输入（Direct gate）触发信号触发阈值 1-5V， 阻抗50欧姆，抖动100ps触发固有延迟40ns @ Direct gate , 120ns@ Ext外触发*增强器光阴极量子效率曲线型号选择SIC: Scientific Intensified Camera● 18/25 18或25m 口径增强器● U/F/S Ultrfast gate =3ns , Fast gate 10ns, Slow gate: 100ns● UV/VN：UV-VIS 200-900nm；VIS-NIR : 400-1100nm● 6M/4M : 600万像素 CCD 2750*2200 400万像素sCMOS 2048*2048● L/F: L高分辨镜头耦合 F 高通量光纤面板耦合 ICCD像增强型高分辨率相机常见型号列表

应用范围： 各种样品中低含量、微量和痕量的金属元素，以及部分非金属元素的定性和定量分析； 尤其适合分析样品量大，分析结果要求高的用户； 可广泛应用于 石油、化工、冶金、钢铁、地质、农业、环保、水质、食品、药品、疾控、材料、质检等行业 技术特点： 最高分辨率+最优异光学性能 　提高分析能力是根本，提高分辨率是关键，由此PQ9100高分辨率ICP应运而生。PQ9100高分辨率ICP独有0.003nm光学分辨率，是目前市场上分辨率最高的ICP，高分辨率能显著提高信背比并改善BEC(背景相当浓度)。同时，PQ9100采用原装的卡尔蔡司光学系统，保证了160nm-900nm波长连续全覆盖和优于0.0004nm的波长准确度。　　新一代CCD检测器 高灵敏度检测　　PQ 9100高分辨率ICP同时具有高灵敏度、高量子化效率的新一代CCD检测器，像数分辨率优于0.002nm，可自动选择最佳积分时间，具有至少6个数量级的动态监测范围，同时记录元素线与其直接光谱环境，自动扣除背景，可识别干扰谱线和小于5分钟的预热时间，能做到真正的开机即测。　　独特垂直炬管设计 独有双向观测技术　　PQ 9100高分辨率ICP采用创新巧妙的先进设计：垂直炬管、双向观测。垂直炬管的设计可防止水平炬管易产生的盐分、碳粒的凝结和水滴的产生，能提高有机样品和高盐样品的稳定性 而采用的顶部轴向和侧面侧向的双向观测设计，能满足不同浓度的同时测量，保证其灵敏度和检测限；而独特的智能测量，同时具备全浓度覆盖、无需分组测量、无需稀释等优势，做到同一样品同时采用轴向、侧向、轴向Plus、侧向Plus这4种观测方式测量，能满足各个元素浓度范围不同的测定要求。　　另外，通过轴向观测，能捕获最高光强度，同时采用冷锥加氩气反吹消除尾焰，氩气对光室和检测器的持续吹扫还能消除空气和水分等对紫外光的吸收。　　超强劲稳定的等离子体激发系统　　PQ 9100高分辨率ICP还配备高能量、高稳定的等离子体激发系统，包含自激式、利于能量传递的四绕组感应线圈、达40.68MHz频率、稳定性优于0.1%、高达1700W的功率和全自动质量流量气体控制的射频发射器。　　除了上述的显著特点外，PQ 9100高分辨率ICP具有先进的实时自我诊断系统(SCS)和人性化、智能化、系统化的分析软件，同时设计上也依据高效节省的理念，满足省时：开机即测(5分钟)；省气：无需提前和延时吹扫，所有吹扫气体和冷却气体都将引入等离子气充分利用；省事：高浓盐、有机样、高低浓度一次完成测定；省地：台式机，占用面积仅为0.63m2。

Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR产品负责人：姓名：沈工(Max)电话：（微信同号）邮箱：【Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR简介】随着光波波前探测技术的发展，各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类：一类是根据几何光学原理，测定波前几何像差或面型误差，主要有Shack－Hartmann 波前传感器，曲率传感器和Pyramid 波前传感器等；另一类是基于干涉测量原理，探测波前不同部分的干涉性，来获取波前信息，主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜 它们结构简单，抗干扰能力强，条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。作为低可至波长250 nm的高分辨率波前传感器，Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR非常适合于紫外光学测量，包括用于光刻或半导体应用紫外激光表征，以及透镜和晶圆的表面面型检测。【关于Phasics】Phasics是一家专注于高分辨率波前传感技术的法国公司。Phasics公司凭借其在测量方面的专业经验与独特的波前测量技术为客户提供全面的高性能波前传感器。 一、Phasics高分辨率紫外波前传感器/ 波前分析仪SID4-UV-HR主要特点低至190nm波长感光灵敏1 nm RMS高相位灵敏度355 x 280超高相位取样分辨率二、SID4-UV-HR 波前传感器产品功能波前像差测量基于四波剪切技术，Phasics 的波前传感器同时提供具有无与伦比的高分辨率的相位和强度测量。 波前传感器与其光束分析软件相结合，可提供完整的激光诊断：波前像差、强度分布、激光光束质量参数（M2、束腰尺寸和位置等）。Phasics 的波前分析仪可以放置在光学装置的任何一点，无论光束是准直的还是发散的。作为低可至波长250 nm的高分辨率波前传感器，SID4-UV非常适合于紫外光学测量，包括用于光刻或半导体应用紫外激光表征，以及透镜和晶圆的表面面型检测。 三、Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR应用领域紫外光学测量| 光刻或半导体应用紫外激光表征| 透镜和晶圆的表面面型检测| 自适应光学四、Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR主要规格波长范围190 - 400 nm靶面尺寸13.8 x 10.88 mm2空间分辨率38.88 μm取样分辨率355 x 280相位分辨率1 nm RMS绝对精度10 nm RMS取样速度30 fps实时处理速度 3 fps (全分辨率下)*接口种类CameraLink五、更多参数选型

Phasics大口径超高分辨率波前传感器SID4-UHR产品负责人：姓名：沈工(Max)电话：（微信同号）邮箱：【Phasics大口径超高分辨率波前传感器SID4-UHR简介】Phasics大口径超高分辨率波前传感器SID4-UHR可用于光学计量需求。它结合了SID4的易于光路搭建的特点，并拥有超高分辨率及相位精度。 Phasics大口径超高分辨率波前传感器/波前分析仪SID4-UHR的大口径传感器靶面可以实现对整个被测样品的实时波前测量。 Phasics大口径超高分辨率波前传感器SID4-UHR的产品特性使其非常适用于表面面型的检查（表面粗糙度、高频率波前像差及表面缺陷检测等）和光学组件的表征（镜头、物镜、非球面和自由曲面光学等）。 Phasics大口径超高分辨率波前传感器SID4-UHR搭载高性能相机，也可提供无与伦比的激光表征精度。 高达512 x 512（可选高至666 x 666）相位取样分辨率使SID4-UHR成为研究和工业领域中用于光学和激光计量的高性能工具。【关于Phasics】Phasics是一家专注于高分辨率波前传感技术的法国公司。Phasics公司凭借其在测量方面的专业经验与独特的波前测量技术为客户提供全面的高性能波前传感器。一、 Phasics大口径超高分辨率波前传感器SID4-UHR主要特点l 超高分辨率 512 x 512l 超大靶面分析尺寸: 15 x 15 mm2l 自消色差 非准直光入射 消色差二、Phasics大口径超高分辨率波前传感器SID4-UHR产品应用应用领域：激光行业| 自适应光学及等离子体检测| 光学元件及光学系统计量| 微观材料检测 激光行业 等离子体检测 光学元件及光学系统计量 微观材料检测三、Phasics大口径超高分辨率波前传感器SID4-UHR测量案例| 自适应光学 | 等离子体检测 四、Phasics大口径超高分辨率波前传感器SID4-UHR主要规格波长范围400-1100 nm靶面尺寸15 x 15 mm2空间分辨率29.6 μm取样分辨率512 x 512相位分辨率2 nm RMS绝dui精度15 nm RMS采集速率8 fps实时处理速度1 fps (全分辨率下)五、波前传感器更多参数选型

PHASICS波前分析仪/波前传感器/波前相差仪/波前探测器关键词：分析仪，PHASICS波前分析仪，波前传感器，波前像差仪、传感器、波前测试仪、波前探测器、激光波前分析仪、哈特曼波前分析仪、虹膜定位、哈特曼波前传感器、波前象差、高分辨率波前分析仪、波前测量仪、激光光束及波前分析仪、夏克 哈特曼、镜头MTF法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简单等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！PHASICS波前探测器配套的软件界面友好，可直观的输出高分辨率相位图和光束强度分布图。 法国PHASICS波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力，能为客户提供的各种自适应光学系统OA-SYS(Adaptive Optics Loops)，制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求，为客户推荐最合适的SID4波前传感器、可变形镜或空间光调制器、自适应光学系统操作软件等。图1 波前校正前与校正后对比 PHASICS波前探测器依据其四波横向剪切干涉专利技术，对哈特曼掩模技术进行了大的升级、改进。PHASICS波前传感器将400X300的超高分辨率和500um的超大动态范围完美结合在了一起。可以满足不同的客户的应用需求，可对激光光束进行光强、位相、PSF（点扩散函数）、MTF（调制传递函数）、OTF（光学传递函数）、波前像差、M^2等进行实时、简便、快速的测量。 第一部 产品介绍 SID4 UV-HR高分辨紫外波前传感器PHASICS公司将 SID4的波前测量波长范围扩展到190nm-400nm。SID4 UV-HR是一款适用于紫外波段的高分辨率波前传感器,非常适用于光学元件测量（例如印刷、半导体等等）和表面检测（半导体晶片检测等）。特点：u 高分辨率（250x250）u 通光孔径大（8.0mmx8.0mm）u 覆盖紫外光谱u 灵敏度高（0.5um）u 优化信噪比 图2 SID4-UV波前分析仪 SID4 波前传感器可用于400nm-1000nm 的激光的波前位相、强度分布，波前像差，激光的M2，泽尼克参数等进行实时的测量及参数输出。特点：? 波长范围：400-1100nm? 分辨率高（160x120） ? 消色差 ? 测量稳定性高 ? 对震动不敏感 ? 操作简单 ? 结构紧凑，体积小 ? 可用笔记本电脑控制 图3 SID4位相检测 SID4-HR 波前相差仪可用于检测各种透镜，光学系统的检测，可以对透镜、光学系统的进行实时的PSF（点扩散函数）、MTF（调制传递函数）、OTF（光学传递函数）、波前像差测量及参数输出。相对于传统的透镜检测设备像：传函仪、干涉仪，具有操作简便，测量精度高，参数输出方便等优点，正在被越来越多的客户推崇。特点：u 波长范围：400-1100nmu 高性能的相机，信噪比高u 实时测量，立即给出整个物体表面的信息（120000个测量点）u 曝光时间极短,保证动态物体测量u 操作简单 图4 SID4-HR图5 SID4-HR传递函数检测 SID4 NIR 波前分析仪主要针对1550 nm（1.5um-1.6um）激光的检测，具有分辨率高高灵敏度、高动态范围、操作简便等独特的优势。可用于光学测量，SID4 NIR是测量红外物体和红外透镜像差、PSF、MTF和焦距及表面质量的理想工具。特点：2 高分辨率（160x120） 2 快速测量 2 性价比高 2 绝对测量 2 对振动不敏感 图6 SID4 NIR激光波前检测 SID4 DWIR 波前仪具有宽波段测量的特点。可以实时的检测3-5um 和8-14um的波前位相，强度分布等响应的波前信息。可以很好的满足红外波段客户的波前检测需求。特点：u 光学测量：SID4 DWIR是测量红外物体特性（热成像和安全视觉）或红外透镜（CO2激光器）的理想工具，输出结果包括MTF，PSF，像差，表面质量和透镜焦距。 u 光束测量：（CO2激光器，红外OPO激光光源等等）SID4 DWIR提供详尽的光束特性参数：像差，M2，光强分布，光束特性等u 高分辨率（96x72） u 可实现绝对测量u 可覆盖中红外和远红外波段 大数值孔径测量，无需额外中转透镜 u 快速测量 对振动不敏感 u 可实现离轴测量 u 性价比高 图7 SID4 DWIR SID4产品型号参数汇总型号SID4SID4-HRSID4 UV-HRSID4 NIRSID4 DWIRSID4-SWIR孔径尺寸（mm2）3.6 x4.88.9 x11.88.0 x8.03.6x4.813.44x10.089.6x7.68空间分辨率(um)29.629.63229.6140120测量点数160x120300x400250x250160x12096x7280X64波长范围350-1100 nm350-1100 nm190-400 nm1.5-1.6μm3-5μm 8-14μm0.9- 1.7μm精准度10nm RMS10nm RMS10nm RMS15nm RMS75nm RMS10nm RMS动态范围100μm500μm200um100μm/~100μm采样速度60 fps10 fps30 fps60 fps50 fps60fps处理速度10fps3 fps1fps10fps20 Hz10Hz 第二部 SID4波前分析仪控制软件 SID4波前分析仪控制软件SID4波前分析仪控制软件与SID4 波前传感器配套提供的是一款完整的分析软件，其集成了高分辨率的相位图与强度分布图，测量光强分布和波前信息。借助Labview和C++ 可编程模块数据库（软件二次开发工具包），客户能够根据自身的需要编写各种相位测量与编译模块。Adaptive Optics Loops将SID4 Wavefront Sensor结合您的应用，选配合适的可变形镜或相位调制器，提供整套的自适应光学系统。减小任何一个光学系统的相差从来都不是简单的，我们的产品能为激光光束和成像系统带来更可靠，高精度的解决方案。图8 SID4控制界面SID4光学测量软件KaleoPhasics基于剪切干涉的波前传感器与专门设计的光学测量软件Kaleo结合，可以测量球面镜和非球面镜的像差及MTF等信息。只需要几秒钟，我们的仪器为您呈现绝大部分的光学参数，如焦距，光腰，MTF，像差，Zernike系数，曲率半径，PSF等。 第三部 SID4波前分析仪与传统哈特曼波前分析仪比较 与传统哈特曼波前传感器测量结果对比： 技术参数对比：PHASICSShack-Hartmann区别技术剪切干涉微透镜阵列PHASICS投放市场时，已经申请技术专利，是对夏克-哈特曼技术的升级重建方式傅里叶变换分区或模式法夏克-哈特曼波前探测器，局域导数以微透镜单元区域的平均值来近似，误差大强度对强度变化不敏感对强度变化灵敏PHASICS测量精度高，波前测量不依赖于强度水平校准用针孔校准、方便快捷安装困难，需要精密的调节台PHASICS使用方便取样点SID4-HR达300X400测量点128X128测量点（多个微透镜）PHASICS具有更高的分辨率数值孔径NA：0.5NA：0.1PHASICS动态范围更高分辨率29.6μm115μmPHASICS具有更高的空间分辨率测量精度2nm RMS5nm RMSPHASICS更好的测量精度获取频率60fps30fpsPHASICS获取速度快处理频率10Hz30HzPHASICS可满足大部分处理要求消色差无需对每个波长进行校准需要在每个波长处校正PHASICS更灵活，可以测试宽波段，而不需要校准 第四部 应用领域 ? 激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统波前像差检测? 激光光束性能、波前像差、M^2、强度等的检测? 红外、近红外探测? 平行光管/望远镜系统的检测与装调? 卫星遥感成像、生物成像、热成像领域? 球面、非球面光学元器件检测 (平面, 球面, 透镜)? 虹膜定位像差引导? 大口径高精度光学元器件检测? 激光通信领域? 航空航天领域OKO 可变形镜数字波前分析仪XY系列向列液晶空间光调制器XY系列铁电液晶空间光调制器

Phasics生产及销售世界最高分辨率的波前传感器。Phasics专利技术产品--4波横向剪切干涉，是在哈特曼基础上的进一步测试优化，这种技术可以直接测量以无与伦比的分辨率和高动态可调范围，可以测量任意波前。此项革新性的技术及产品已经被越来越多的行业所应用，其产品可用于激光光束质量分析，光学产品的EFL,曲率半径、MTF、PSF等各项指标的测量。如能对此类产品感兴趣，欢迎与我们取得联系。波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪 PHASICS波前探测器 Phasics公司利用革新的技术研发的SID4波前探测器，该仪器能够提供高分辨率的相位图，可直接测量高发散光束，光路调整方便等特点。1. 技术特点 ◆高分辨率（高达300 x400个采样点)◆消色差◆高动态范围◆高灵敏度◆操作简便◆设计简洁紧凑◆高性价比 2.技术优势◆高分辨率的相位图能够提供高分辨率的相位图。标准分辨率为160ｘ120个采样点，最高分辨率可达400ｘ300。高分辨率的探测器能精确测量镜片像差，并能做到较高的测量重复性。 ◆具有直接测量高发散光束的能力我们的波前探测技术具有直接测量光路系统相差的能力，并且无需额外的过渡镜（参见下图）。校准后的光束通过镜片后直接测试。探测器可以测量波前传输时球面波的偏差。尽管有极大的光束偏差（如数值孔径高达0.75），仍然可以做到光路系统与探测器间不使用过渡镜就能测试。 SID4波前探测器 测试条件下光路系统

Phasics生产及销售世界最高分辨率的波前传感器。Phasics专利技术产品--4波横向剪切干涉，是在哈特曼基础上的进一步测试优化，这种技术可以直接测量以无与伦比的分辨率和高动态可调范围，可以测量任意波前。此项革新性的技术及产品已经被越来越多的行业所应用，其产品可用于激光光束质量分析，光学产品的EFL,曲率半径、MTF、PSF等各项指标的测量。如能对此类产品感兴趣，欢迎与我们取得联系。波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪 PHASICS波前探测器 Phasics公司利用革新的技术研发的SID4波前探测器，该仪器能够提供高分辨率的相位图，可直接测量高发散光束，光路调整方便等特点。1. 技术特点 ◆高分辨率（高达300 x400个采样点)◆消色差◆高动态范围◆高灵敏度◆操作简便◆设计简洁紧凑◆高性价比 2.技术优势◆高分辨率的相位图能够提供高分辨率的相位图。标准分辨率为160ｘ120个采样点，最高分辨率可达400ｘ300。高分辨率的探测器能精确测量镜片像差，并能做到较高的测量重复性。 ◆具有直接测量高发散光束的能力我们的波前探测技术具有直接测量光路系统相差的能力，并且无需额外的过渡镜（参见下图）。校准后的光束通过镜片后直接测试。探测器可以测量波前传输时球面波的偏差。尽管有极大的光束偏差（如数值孔径高达0.75），仍然可以做到光路系统与探测器间不使用过渡镜就能测试。 SID4波前探测器 测试条件下光路系统

高分辨率激光干涉仪所属类别： ? 光学/激光测量设备 ? 波前分析仪 所属品牌：法国Phasics公司 产品简介高分辨率激光干涉仪便携式、高分辨率、高动态范围激光干涉仪！ 法国Phasics公司超分辨剪切干涉仪(High-resolution Interferometer)是一款便携式、高灵敏度、高精度的波前分析仪。法国Phasics公司超分辨剪切干涉仪基于波前分析的四波剪切干涉技术，与传统干涉仪相比较具有结构紧凑，使用方便，无需标准件，优秀的检测稳定性，直接测量任意的波前、高分辨率（300x400采样点），3D显示等优点。 关键词：干涉仪、激光干涉仪、球面干涉仪、激光平面干涉仪、干涉光刻、传函仪、白光干涉仪、Zygo、波前分析仪、波前传感器、迈克尔逊干涉仪、便携式干涉仪、光学传函仪法国Phasics公司超分辨激光干涉仪基于便携式、高灵敏度、高精度波前分析仪。该激光干涉仪采用四波剪切干涉专利技术，与传统干涉仪相比较具有结构紧凑，使用方便，无需标准件，优秀的检测稳定性，直接测量任意的波前、高分辨率（300x400采样点）、激光波长覆盖400-1100nm、消色差、高动态范围（500um）等优点。 法国Phasics公司超分辨剪切干涉仪可用于激光波前检测、激光强度检测、等离子体密度检测、透镜检测、高功率激光自适应、光刻机检测、精密光学元器件检测、光学系统装调、镜头模组检测、传递函数（MTF）检测等。法国Phasics公司超分辨剪切干涉仪并可实时检测为客户提供最优化的数据支持。 产品特点：1、直接测量、无需标准件 图一、检测光路 2、高灵敏度（是普通白光干涉仪的8.4倍）、对振动不敏感 图二 与传统的干涉仪检测结果对比3、三维立体显示 图三、波前三维检测视图4、实时显示泽尼克系数 图四、多阶泽尼克显示界面5、传递函数（MTF）检测 图五、传递函数检测界面 干涉仪应用领域： ? 激光光束性能、波前畸变、M^2、强度等的检测 ? 红外透镜检测? 激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统波前像差检测? 光刻机物镜检测? 大口径高精度光学元器件检测? 透镜、镜头模组检测? 传递函数测量? 等离子体密度检测? 高功率激光自适应 产品系列： 相关产品 超高速液晶空间光调制器 PHASICS波前分析仪/波前传感器/波前相差仪/波前探测器

法国Phasics 公司利用革新的技术研发的SID4 波前探测器，具有如下独特技术优势：●高分辨率的相位图，最高分辨率可达400ｘ300。●具有直接测量高发散光束的能力●消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。应用方向：●激光束质量分析●自适应光学●光学元件表面测量●生物成像●热成像，等离子体表面物理法国Phasics波前传感器主要型号相关参数如下： 型号SID4 SID4-HR SID4-DWIR SID4-SWIR SID4-NIR SID4-UV SID4 UV-HR 孔径3.6 × 4.8 mm2 8.9 × 11.8 mm2 13.44 × 10.08 mm2 9.6 × 7.68 mm2 3.6 × 4.8 mm2 7.4 × 7.4 mm2 8.0 × 8.0 mm2 空间分辨率29.6 μm 29.6 μm 68 μm 120 μm 29.6 μm 29.6 μm 32 μm 采样点/测量点160 × 120 400 × 300 160 × 120 80 × 64 160 × 120 250 × 250 250 × 250 波长400 nm ~ 1100 nm 400 nm ~ 1100 nm 3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm 0.9 ~ 1.7 μm 1.5 ~ 1.6 μm 250 ~ 450 nm 190 ~ 400 nm 动态范围 100 μm 500 μm N/A ~ 100 μm 100 μm 200 μm 200 μm 精度10 nm RMS 15 nm RMS 75 nm RMS 10 nm RMS 15 nm RMS 20 nm RMS 10 nm 灵敏度 2 nm RMS 2 nm RMS 25 nm RMS 3 nm RMS ( 高增益） 1 nm RMS ( 低增益） 11 nm RMS 2 nm RMS @ 250 nm, 2 μJ/cm2 0.5 nm 采样频率 60 fps 10 fps 50 fps 25/30/50/60 fps 60 fps 30 fps 30 fps 处理频率10 Hz ( 高分辨率) 3 Hz ( 高分辨率) 20 Hz 10 Hz ( 高分辨率）10 Hz 2 Hz ( 高分辨率）1 Hz 尺寸54 × 46 × 75.3 mm 54 × 46 × 79 mm 85 × 116 × 179 mm 50 × 50 × 90 mm 44 × 33 × 57.5 mm 53 × 63 × 83 mm 95 × 105 × 84 mm 重量250 g 250 g 1.6 kg 300 g 250 g 450 g 900 g

法国Phasics波前传感器法国Phasics 公司利用革新的技术研发的SID4 波前探测器，具有如下独特技术优势：●高分辨率的相位图，最高分辨率可达400ｘ300。●具有直接测量高发散光束的能力●消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。应用方向：●激光束质量分析●自适应光学●光学元件表面测量●生物成像●热成像，等离子体表面物理法国Phasics波前传感器主要型号相关参数如下： 型号SID4 SID4-HR SID4-DWIR SID4-SWIR SID4-NIR SID4-UV SID4 UV-HR 孔径3.6 × 4.8 mm2 8.9 × 11.8 mm2 13.44 × 10.08 mm2 9.6 × 7.68 mm2 3.6 × 4.8 mm2 7.4 × 7.4 mm2 8.0 × 8.0 mm2 空间分辨率29.6 μm 29.6 μm 68 μm 120 μm 29.6 μm 29.6 μm 32 μm 采样点/测量点160 × 120 400 × 300 160 × 120 80 × 64 160 × 120 250 × 250 250 × 250 波长400 nm ~ 1100 nm 400 nm ~ 1100 nm 3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm 0.9 ~ 1.7 μm 1.5 ~ 1.6 μm 250 ~ 450 nm 190 ~ 400 nm 动态范围 100 μm 500 μm N/A ~ 100 μm 100 μm 200 μm 200 μm 精度10 nm RMS 15 nm RMS 75 nm RMS 10 nm RMS 15 nm RMS 20 nm RMS 10 nm 灵敏度 2 nm RMS 2 nm RMS 25 nm RMS 3 nm RMS ( 高增益） 1 nm RMS ( 低增益） 11 nm RMS 2 nm RMS @ 250 nm, 2 μJ/cm2 0.5 nm 采样频率 60 fps 10 fps 50 fps 25/30/50/60 fps 60 fps 30 fps 30 fps 处理频率10 Hz ( 高分辨率) 3 Hz ( 高分辨率) 20 Hz 10 Hz ( 高分辨率）10 Hz 2 Hz ( 高分辨率）1 Hz 尺寸54 × 46 × 75.3 mm 54 × 46 × 79 mm 85 × 116 × 179 mm 50 × 50 × 90 mm 44 × 33 × 57.5 mm 53 × 63 × 83 mm 95 × 105 × 84 mm 重量250 g 250 g 1.6 kg 300 g 250 g 450 g 900 g

法国Phasics 公司利用革新的技术研发的SID4 波前探测器，具有如下独特技术优势：●高分辨率的相位图，最高分辨率可达400ｘ300。●具有直接测量高发散光束的能力●消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。应用方向：●激光束质量分析●自适应光学●光学元件表面测量●生物成像●热成像，等离子体表面物理法国Phasics波前传感器主要型号相关参数如下： 型号SID4 SID4-HR SID4-DWIR SID4-SWIR SID4-NIR SID4-UV SID4 UV-HR 孔径3.6 × 4.8 mm2 8.9 × 11.8 mm2 13.44 × 10.08 mm2 9.6 × 7.68 mm2 3.6 × 4.8 mm2 7.4 × 7.4 mm2 8.0 × 8.0 mm2 空间分辨率29.6 μm 29.6 μm 68 μm 120 μm 29.6 μm 29.6 μm 32 μm 采样点/测量点160 × 120 400 × 300 160 × 120 80 × 64 160 × 120 250 × 250 250 × 250 波长400 nm ~ 1100 nm 400 nm ~ 1100 nm 3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm 0.9 ~ 1.7 μm 1.5 ~ 1.6 μm 250 ~ 450 nm 190 ~ 400 nm 动态范围 100 μm 500 μm N/A ~ 100 μm 100 μm 200 μm 200 μm 精度10 nm RMS 15 nm RMS 75 nm RMS 10 nm RMS 15 nm RMS 20 nm RMS 10 nm 灵敏度 2 nm RMS 2 nm RMS 25 nm RMS 3 nm RMS ( 高增益） 1 nm RMS ( 低增益） 11 nm RMS 2 nm RMS @ 250 nm, 2 μJ/cm2 0.5 nm 采样频率 60 fps 10 fps 50 fps 25/30/50/60 fps 60 fps 30 fps 30 fps 处理频率10 Hz ( 高分辨率) 3 Hz ( 高分辨率) 20 Hz 10 Hz ( 高分辨率）10 Hz 2 Hz ( 高分辨率）1 Hz 尺寸54 × 46 × 75.3 mm 54 × 46 × 79 mm 85 × 116 × 179 mm 50 × 50 × 90 mm 44 × 33 × 57.5 mm 53 × 63 × 83 mm 95 × 105 × 84 mm 重量250 g 250 g 1.6 kg 300 g 250 g 450 g 900 g

Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR【Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR简介】随着光波波前探测技术的发展，各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类：一类是根据几何光学原理，测定波前几何像差或面型误差，主要有Shack－Hartmann 波前传感器，曲率传感器和Pyramid 波前传感器等；另一类是基于干涉测量原理，探测波前不同部分的干涉性，来获取波前信息，主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜 它们结构简单，抗干扰能力强，条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR是一款高性价比的高分辨率波前传感器，专门用于测量和对准1550 nm光通信波段中使用的激光光源和透镜。【关于Phasics】Phasics是一家专注于高分辨率波前传感技术的法国公司。Phasics公司凭借其在测量方面的专业经验与独特的波前测量技术为客户提供全面的高性能波前传感器。 一、Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR主要特点160 × 120 高相位取样分辨率1550 nm 高性价比解决方案体积轻小便于光学系统内集成二、SID4-NIR 波前传感器产品功能波前像差测量基于四波剪切技术，Phasics 的波前传感器同时提供具有无与伦比的高分辨率的相位和强度测量。 波前传感器与其光束分析软件相结合，可提供完整的激光诊断：波前像差、强度分布、激光光束质量参数（M2、束腰尺寸和位置等）。Phasics 的波前分析仪可以放置在光学装置的任何一点，无论光束是准直的还是发散的。Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR是一款高性价比的高分辨率波前传感器，专门用于测量和对准1550 nm光通信波段中使用的激光光源和透镜。 三、Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR应用领域激光 |自适应光学及等离子体检测 |光学计量及光学系统对准四、Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR主要规格波长范围1.5-1.6 μm靶面尺寸4.73 x 3.55 mm2空间分辨率29.6 μm取样分辨率160 x 120相位分辨率 11 nm RMS绝对精度15 nm RMS取样速度 60 fps实时处理速度 10 fps (全分辨率下)*接口种类FireWire IEEE1394B五、更多参数选型

1920x1152高分辨率液晶空间光调制器(衍射效率：88%！)所属类别： 调制器--空间光调制器 所属品牌：美国Meadowlark optics公司 产品简介1920 x 1152高分辨率液晶空间光调制器！ 1920 x 1152高分辨率纯相位液晶空间光调制器！ 1920x1152高分辨率液晶空间光调制器（LC_SLM）是美国Meadowlark Optics公司2016年推出的一款产品。该款空间光调制器（SLM）具有分辨率高、大面阵（17.7x10.6 mm）、高填充因子（95.7%）、高衍射效率（88%）、高刷新速率（868Hz）、相位调制稳定性好（1%）等特点。 空间光调制器、纯相位空间光调制器、SLM、液晶空间光调制器、反射式空间光调制器、空间光调制器价格、调制器、相位调制器 液晶空间光调制器的英文名称是Spatial light modulator,即SLM，是一类能将信息加载于一维或两维的光学数据场上，可利用光的固有速度、并行性和互连能力的器件，SLM能够实时对二维空间的像素点进行单独的的位相、光强进行调制。 1920x1152高分辨率液晶空间光调制器（LC_SLM）是美国Meadowlark Optics公司2016年推出的一款高分辨相位调制型SLM产品。这款空间光调制器是基于LCOS（Liquid Crystal on Silicon）技术的反射型光调制器。LCOS技术通过精确的控制电压信号控制液晶的旋转角度及旋转的速度，最终可以实现位相的精确调制。1920x1152高分辨率液晶空间光调制器采用扭曲向列液晶材料，利用扭曲向列液晶的双折射效应，实现了对光束的波前调制。Meadowlark Optics调制器具备多项专利设计，在光能利用率、像素串扰、位相调制的线性度等方面的技术都处于世界领先行列，可实现纯位相调制、位相振幅混合调制。光路搭建方便！ 图1. 液晶取向与加载电压示意图 图2. Meadowlark空间光调制器光路图 主要特点：? 空间分辨率高（1920 x 1152）? 大面阵（17.7x10.6 mm）? 高填充因子（95.7%）? 高衍射效率（88%）? 高刷新速率（868Hz）? 相位调制稳定性好（ 0.1%）? 400-1620nm宽波段选择 图3. Meadowlark SLM 与其他品牌SLM位相纹波比较 主要应用领域： 光学操纵激?? 显微成像? 成像&投影? 光束分束? 相位调制? 光学镊子? 全息投影等 产品主要参数： 相关产品 超高速DMD数字微镜阵列 PHASICS波前分析仪/波前传感器/波前相差仪/波前探测器 ALPAO 可变形镜 1um 中高功率飞秒激光器（20~400mW）

高分辨率数字输出位移传感器 YKD60-D62系列PDF下载★高分辨率,数字(积分)输出: 高达 142 pulses/mm★量程：0 ~ 1092 mm （YKD62系列）★尺寸：56 x 64 x 81 mm★重量：170 g★工作温度：-40 ℉~+185 ℉° (-40 ℃~+85 ℃)

SID4 DWIR & SID4 LWIR-640 & SID4 IR-MCT(红外光) a. 基于专利技术的SID4 DWIR是一个独特的波前分析仪，它覆盖中红外波段和远红外波段(3-5um& 8- 14um), 对于MWIR和LWIR，它提供了高分辨率的测量(160 x 120)范围，是完全适合红外目标，镜头测试或光束测量的红外激光器(二氧化碳、光参量来源…) b.SID4 LWIR是一个超高分辨率波前传感器，在长波红外区域(8-14um)相位的专利技术以及非制冷焦平面阵列技术使它简洁且易于使用, 因此很容易集成到光具座，远红外线镜头测试或激光光束测量链(二氧化碳激光器, LWIR来源……)。 c.这种独特的波前分析仪拥有极高分辨率和超高灵敏度，并且它在短波红外成像的范围从1.2um到5.5um，因此它完全适在低光红外源,如以黑体或镜头为目标的测试或红外光谱的激光光束测量。 主要特点及推荐应a. SID 4 DWIR 特点高分辨率 160*120 双频 MWIR&LWIR波段消色差 兼容黑体高数值孔径测量 没有中继透镜 应用1. 光学测量, SID4 DWIR在描述红外目标(热成像和安全愿景)，红外镜头(CO2激光器)，MTF,PSF,以及Zernike畸变是非常完美的工具，它也可测试多个波长可能存在的色差2. 在表征激光束的CO2激光器或红外激光源，SID4 DWIR提供了一个全面的光束特性(畸变,M2,强度剖面图,光束参数…)b．SID4 LWIR 特点高分辨率 160*120 消色差 8-14um超长波段 1.2-5.5um高数值孔径测量 没有中继透便于集成应用 1. 对于光学计量,SID4 LWIR是一种独特的工具，用来描述光学的红外热成像,安全性或安全愿景等，并且它也是组成CO2激光器的光学部件，它提供了MTF和畸变。由于它的简洁性，因此可以在工作台或者生产线上进行简单的集成。2. 在激光计量方面,SID4 LWIR给出了全面的光束特性(M2,Strehl radio,强度剖面图,光束参数…)。它适用于远红外线光束测量如CO2激光器,LWIR光参量激光器等 c. SID4 IR-MCT特点超高灵敏度 3nm RMS@3uW/cm^2高分辨率 160*128 即使在低通量条件下依然具有高精确度超长波段 1.2-5.5um高数值孔径测量 在F/1前没有中继透镜上一代冷却MCT探测器应用1. 对于光学计量,SID4 IR-MCT是一种独特的工具，用于描述红外目标或镜头MTF以及畸变和WFE。其高灵敏度也可以和黑体一起进行高光谱测试2. 在激光计量方面,在低红外光范围，量子级联激光器或红外光谱激光器，SID4红外是现有唯一的工具。它提供了一个完整的光束特征参数(畸变,M2,强度剖面图,光束参数……) 具体详细参数参数单位SID4 DWIRSID4 LWIRSID4 IR-MCT波长范围um3-5and8-148-141.2-5.5孔径尺寸mm^210.88*8.1616*129.60*7.68最大孔径mm^2F/1空间分辨率um6810060精确度nm RMS7575相位和强度抽样160*120160*120160*128灵敏度nm RMS@uW/cm^225nm RMS25nm RMS3nm RMS@3uW/cm^2动态范围um300采集率fps5024140实时处理频率fps(full resolution)101020检测技术Cooled MCT尺寸(w*h*l)mm85*115*19396*110*90135*140*240重量kg~1.6~0.85~3.5

意大利SpotOptics夏克-哈特曼波前传感器Spot Optics 夏克-哈特曼波前传感器可覆盖超宽光谱多波长，包括紫外（157nm-400nm）、可见近红外（400-1064nm）、短波红外（900-1700nm）、中波红外（2-5.4μm）和长波红外（8-14μm）。测量时不受口径限制（如果扩束系统受限，用准直物镜确保与传感器NA匹配）；实现轴上和轴外波前测量，甚至扫描全视场，以及多视场同时测量；可测量多种出瞳形状：圆形、椭圆形、带中心遮拦（中心孔）、六边形等；提供Single Pass、Double Pass两种测量光路来已满足不同应用要求；IOPTINO系列波前传感器+电子自准直仪双通道，结构紧凑，尺寸仅150x100x50mm, 重量400g；电子自准直仪可用于光路调试。Spotoptics波前传感器中的微透镜阵列可自行更换，以满足不同波长的测量需求。 Spotoptics OMI系列波前传感器灵活多变用于研发、还有Optino、OPAL300、5 Stars、STELLA系列等波前测量系统应用于快速量产； 应用范围激光方面：可进行激光光束波前及光束质量分析，mW～MW，支持10.6um CO2激光；可替代光束质量分析仪使用，获得比光束质量分析仪更完整的激光波前信息；天文望远镜：用于大型天文望远镜共位相误差测量，自带主动温度补偿；美国6.5米毫米波望远镜使用puntino测量波前；高速测量：实时显示测量结果，较高速波前采集频率达到8000 Hz，可应用于分析ms级响应的液体镜头；还可进行变温下FFL变化量测试；变温下MTF测量；其他应用：用于主动光学系统、自适应光学系统；光学元件均匀性测量，非球面等；非破坏性光学元件折射率测量，非球面测量等。 对比试验数据（测试波长：632.8 nm）：

天津瑞利光电科技有限公司优势经销法国IMAGINE OPTIC波前传感器HASO 3 - 128 GE2产品型号：HASO 3 - 128 GE2关键字：IMAGINE OPTIC波前传感器HASO 3 - 128 GE2关键字描述：产品介绍：高分辨率：16,384个独立测量点大光圈尺寸为14.6 x 14.6mm² 同时独立测量相位和强度可用动态范围大温度稳定，可长期测量HASO 3 128 GE2提供了波前传感器实现的高水平性能。它已成功用于光学计量和激光诊断的苛刻应用中，是科学或行业中苛刻的光学计量应用的候选者。HASO 3 128 GE2随第三代波前分析软件WaveView一起提供。只需单击几下，您就可以访问波前测量，重建等。WaveView提供了150多种功能，并且可选的附加组件使您可以更进一步地计算PSF，MTF，斯特列尔比和M² 。WaveKit（或软件开发套件–SDK）将使您能够将HASO 4宽带与任何OEM产品和系统连接。根据要求，可以开发完全适合您的应用案例的定制软件解决方案。工程团队将确保可持续的产品集成和维护，从而延长产品的使用寿命。参数：孔径尺寸：14.6 x 14.6mm² 微透镜数量：128 x 128倾斜动态范围：±3°（1500λ）聚焦动态范围–min.局部曲率半径：15 mm聚焦动态范围–max.NA： 0.1重复性（rms）：λ/ 200相对模式（rms）下的波前测量精度：约为λ/ 150绝对模式（rms）下的波前测量精度：约为λ/ 100倾斜测量灵敏度（rms）：1 µ rad焦点测量灵敏度（rms）：2.510-4 m-1空间采样：约为110 µ m采集频率（顺序采集）：max.7.5 Hz处理频率（CPU 3Ghz，512 Mb RAM）：5.0 Hz工作波长范围：400 – 1100 nm校准波长范围：A（400 – 600 nm）B（500 – 700 nm）C（630 – 900 nm）D（800 – 1100 nm）扩展的波长范围：A +（400 – 700 nm）和B +（500 – 900 nm）尺寸/重量：115 x 51 x 60毫米/ 400克工作温度：15 – 30°C接口/电源：Giga以太网/ 12 V / 6 W操作系统：Windows 7和10随附HASOv3计量软件外部触发：是天津瑞利光电科技有限公司于2016年成立，坐落于渤海之滨天津，地理位置得天独厚，交通运输便利，进出口贸易发达。凭借着欧洲的采购中心，我们始终为客户提供欧美工业技术、高新科技等发达国家原装进口的光电设备、光学仪器、机电设备及配件、电气成套设备、工业自动化控制设备产品，同时拥有多个品牌的授权经销和代理权。

光源环境光传感器高分辨率校准光源SL-X 产品介绍：SL-X是一个标准光源可模拟标准室内/室外光谱，具有以下特点：1. 可模拟多种标准光源光谱输出2. 高光强与高动态范围3. 高精度16 bit光强分辨率控制4. 智能控制 5. 应用于各种光传感器的检测与性能测试光源环境光传感器高分辨率校准光源SL-X 特点：可模拟多种标准光源光谱输出SL-X采用多光谱光源技术，可以模拟多种的标准光谱，如D50、冷白光4150K、水平光、A光源等等，可以作为各种ALS光传感器的标准校准光源。高光强与高动态范围：SL-X可提供0.1 Lux 到100,000 Lux光强输出，动态范围达100 dB。可以提供各种ALS光传感器进行光强线性度校准或测试，满足不同环境与情境的光线模拟。高精度16 bit光强分辨率控制SL-X具备极高的光强输出分辨率控制16 bit，达到≤ 1 lux的输出强度。光强输出变化曲线可透过简便的软件程序，全自动调变，可快速模拟各种环境光源变动条件。智能控制SL-X并可透过Hand-shake或Trigger方式，与各种ALS光传感器互相沟通。如此，可全自动完成超高精度的ALS输出校准曲线。应用于各种光传感器的检测与性能测试手机或平板的屏下光传感器、屏下指纹辨识对环境光的抗干扰测试、测试LiDAR传感器所需的环境光模拟器、车载摄影机、动态范围参数测试与抗环境光干扰测试。SL-X可应用于各种环境光传感器的检测与性能测试。例如手机或平板的屏下光传感器、屏下指纹辨识对环境光的抗干扰测试、测试LiDAR传感器所需的环境光模拟器、车载摄影机、动态范围参数测试与抗环境光干扰测试。光源环境光传感器高分辨率校准光源SL-X 规格 ：Area照射面积：35cm x 35cmIntensity：0.1 lux~105k lux；1~100,000 lux @6500kSteps：@0.5 lux (low light mode)；@1 lux step (100,000 steps) (high intensity mode)光强度输出动态范围：5个量级 (100dB)Color Temperature 色温可调：2300k~6500k (adjustable)应用： 各种ALS光传感器 光强响应输出线性度测试与校准多信道光谱颜色传感器输出线性度测试与校准TFT Light Sensor 光强响应线性度测试与校准FoD屏下指纹辨识模块抗光扰模拟测试。高敏感度光-频率转换器(light-to-frequency sensor)光谱色温图：

SM540高分辨率CCD光谱仪(SM540 High Resolution CCD Spectrometer)型号：SM540商品简介：SM540是一款高分辨率的光谱仪，在100nm范围的分辨率为0.05nm，而SM400和SM440在100nm范围内的分辨率仅为0.15nm，因此SM540的分辨率是SM400和SM440的两倍还要多。SM540可直接通过内置狭缝或经光纤耦合进光，支持标准可拆卸式接口SMA 905，FC光纤耦合器或者定制光纤接口。结合Spectral Product特殊的紫外镀膜工艺，可以提供从紫外到近红外全波段的光谱测量，测量范围：200-1050nm。详细技术参数：型号SM540 High Resolution CCD Spectrometer探测器TOSHIBA TCD1304 紫外增强镀膜像素:3648像元尺寸:8μmx200μm灵敏度：160V/(lx s)@660nm电脑接口USB1.1/2.0 16位500KHZ(最高可配置8通道)温度漂移0.01nm/℃焦比3.9狭缝5, 10, 25, 50, 100, 200, 400μm光纤接口SMA905 或 FC光纤耦合器有效光谱测量范围200-1050nm分选滤波器长通滤波器,线性可变滤波器，根据所需光谱范围选择光谱分辨率0.15-10nm（主要根据光栅和狭缝的选择）杂散光0.05% @ 632nm (整体?0.1%)产品尺寸(CM)18 H X 17 W X 8 D产品重量1.8kg应用软件SM32Pro

法国ALPAO的WFS-VIS &WFS-SWIR是两款基于Shack-Hartmann原理的波前传感器，主要用于实时测量大气湍流引起的波前失真。两款产品分别适用于可见光波段和近红外波段，其中，WFS-SWIR使用优异的InGaAs传感器。Alpao波前传感器具有高灵敏度和高工作频率的显著优点，而且专门针对延迟进行了优化，以满足用户在严苛条件下的要求。 哈特曼波前传感器WFS-SWIR核心特点：l 高灵敏度：量子效率QE70%@1500nml 高工作频率：高达3kHzl 优化大气校正 哈特曼波前传感器型号及参数：ModelSWIR WFS-69SWIR WFS-97SWIR WFS-277SWIR WFS-468Sensor typeInGaAsAcquisition frequency3kHz2kHz1kHzSensor maximum quantum efficiency90% at 600nmNumber of microlenses8x810x1016x1623x23Microlens pitch240μm264μm240μm167μmSpectral range0.9μm - 1.7μmInterfaceCamera LinkDynamic in tip-tilt / focus (PtV)1 0μm10μm15μm10μmResidual WFE error on closed loop *20nm RMSAbsolute precision *λ/20 RMSRepeatability *10nm RMSTypical noise (RMS) 700 electron(low gain)Typical noise (RMS) 150 electron(high gain)Operating temperature0°C to 30°CRecommended DMDM69DM97DM277DM468备注*: 在良好的光量条件下且没有波前扰动。

EQ4000 高分辨光纤光谱仪 闻奕光电的旗舰产品EQ4000高分辨光纤光谱仪采用特殊光学设计和高像素CCD，能够提供最高0.035 nm的光学分辨率，为激光表征、气体吸收测量和等离子分析等应用提供最佳的光谱测量。EQ4000高分辨光纤光谱仪可以配备经特殊紫外敏化处理的深紫外 CCD，能够将光谱探测范围拓展至深紫外波段。同时，EQ4000系列光纤光谱仪具有高分辨率同时具有高性价比，为您最大限度地节省资金。 产品特点 1、EQ4000光纤光谱仪采用USB2.0接口，USB供电2、光学分辨率可至~0.035nm (FWHM)，分辨率依赖于光栅刻线和狭缝宽度3、多种光栅选择，可对客户需要的波段进行增强4、EQ4000光纤光谱仪拥有电子快门，防止探测器饱和5、具有宽谱段技术，PG4000 EX全波段光纤光谱仪探测范围可达200-1100 nm6、可选狭缝5, 10, 25, 50, 100和200 um，狭缝宽度会影响灵敏度和光学分辨率7、可选的高阶滤光片用于滤除二阶及三阶光谱，EQ4000 EX全波段光纤光谱仪采用EX可变高阶滤光片 关键技术 EX宽谱段技术EX技术是闻奕光电的核心技术之一，包括了EX全波段滤光片技术和EX可变波长闪耀光栅技术。EX技术可以将光谱仪一次采谱波段拓展至深紫外190 nm至近红外1100 nm波段。 产品性能探测器（典型值） 项目值类型：Toshiba TCD1304DG 线阵CCD探测范围：300 – 1100 nm像素：3648像素像素尺寸：8 um x 200 um像素阱深：~100,000 electrons灵敏度：130 photons/count at 400 nm 60 photons/count at 600 nm光学平台项目值设计：f/4, 对称交叉光路焦距：100 mm入射狭缝：5, 10, 25, 50, 100和200 nm，或者无狭缝光栅选择：从紫外至近红外光栅EX光栅：提供200-1100 nm宽谱段范围探测器聚光镜：可选购消二级滤光片：OFLV-200-1100其他滤光片：长波通滤光片光纤接口：SMA905光谱仪 项目值波长范围：依赖光栅选择光学分辨率：~0.035-8.4 nm FWHM信噪比：300:1A/D分辨率：16位暗背景：12 RMS counts灵敏度：2 x 10^8 (系统) 单次采集1300:1积分时间：1毫秒至2秒杂散光： 0.05% at 600 nm 0.10% at 435 nm矫正线性度：99.8%

高分辨率单色仪产品负责人：谷工(Givin)电话：（微信同号）邮箱：高分辨率单色仪M833是一种独特的高口径双色散单色光谱仪，其紧凑的设计结合了高光谱分辨率的长聚焦仪器和极低杂散光，这是拉曼光谱的基本要求，以及任何其他低光强应用。产品特点：极低杂散光含有独特高光圈(f# 1:5.5)的紧凑型长焦仪器(F=833毫米)M833I提供成像模式三对光栅两个输入和两个输出口全电脑控制SOLARLS.LAB软件DLL and/or VI程序模组应用领域：拉曼光谱发射和荧光光谱学分析任务需要高分辨率的范围从紫外线到红外多通道光谱规格信息：

德国METROLUX的ML4560波前传感器 波前传感器由传感器头部和新软件raylux ML1240组成，它具有高动态范围及高精度。传感器头部为预校准的，基准波前已置于软件之内。无需再校准即可进行高精度的测量。该软件包括激光波前的分析，并且光束质量分析软件beamlux ML1200符合ISO标准。运用ML3743摄像头，可随意的对光束进行分析。CCD-Sensor2/3”Dynamic12bitPixel #1392 x 1040 Wavelength rangewith optional converter350 nm - 1100 nm 190 nm - 350 nmPupil size8.97 x 6.71 mmMax. frame rate15 fpsSpatial Resolution200 μmNumber of Sub Apertures45 x 34Dynamic Range (Tilt) ± 1,6° (730 lamda)Wavefront Accuracy 16 μradDynamic Range (Focus)72 mm (370 lamda)Accuracy 5 x 10-4 /mSystem Accuracy10 nmRepeatability100 nmWavefront Accuracy50 nmMetrolux 激光M平方计 具有完备的激光光束分析软件 可进行单脉冲M2测量 wavelength400-700nm//700-1100 nmothers on requestLaserbeam diameter6mmothers on requestEnergy Density 5 J/cm² with additional attenuatorPower Density 1000 W/cm² with additional attenuator Single pulse detection 1000 Hz M² 1..20accuracy +-3%Measuring frequency5 Hz Attenuation1...1.000.000automatic

波前传感器1.HASO4宽带主要特点：?全光谱范围校准在350 nm -1100nm?λ/ 100绝对精度超过600λ动态范围?专利测量相位和强度，同时和独立?内部专利微透镜阵列技术制造?20Hz，全分辨率?WaveView或HASO v3.2，行业最完整的软件包包括在内?WaveKit (SDK of WaveView)兼容C，LabVIEW和MATLAB详细参数：描述规格孔径7.0 x 5.2 mm2微透镜数68 x 50倾斜动态范围 ± 3° (600 λ)聚焦动态范围±0.018 m to ± ∞ (450 λ)可重复性(rms) λ/200绝对模式下波前测量精度 (rms)λbetween 350 and 600 nmλbetween 600 and 1100 nm 6nm λ/100空间分辨率~ 105 μm最大采集频率20 Hz外部触发TTL signal校准光谱范围350-1100 nm尺寸 / 重量46x56x56 mm?/150g工作温度15-30° C接口 / 功耗USB 3.0 / 2.9 WEthernet / 2.9 W操作系统Win XP, Win 7 (x86/x64) 2.HASO4 可见光主要特点：10 nm rms精度在整个可见光谱(单色或多色)优化为大波长范围(400 – 700nm)专利测量相位和强度，同时和独立内部专利的微透镜阵列技术制造帧速率的100 Hz，全分辨率WaveView业界最完整的软件包包括在内WaveKit SDK兼容C，LabVIEW和MATLABC-mount兼容入口孔径——外部触发功能详细参数：描述全解析度孔径3.6 x 4.6 mm2 微透镜数32 x 40倾斜动态范围 ± 3° (400 λ) 聚焦动态范围± 0.018 m to ± ∞ (350 λ) 聚焦动态范围 - maximum NA0.1可重复性 (rms) 7.5 nm绝对模式下波前测量精度 (rms)10 nm倾斜测量灵敏度 (rms)5 μrad聚焦测量灵敏度(rms)310-3m-1空间分辨率~ 110 μm最大采集频率100 Hz工作波长范围400 - 700 nm扩展波长范围not available吃寸 / 重量42x 42 x 42 mm /150g工作温度15 – 30° C接口/ 供电电源USB 3.0 / 2.7 W via USB操作系统Win 7 (x86 / x64)WaveView metrology softwareincluded外触发器yes 3.HASO4 FIRST主要特点：λ/ 100绝对精度超过400λ动态范围专利测量相位和强度，同时和独立内部专利的微透镜阵列技术生产帧率100 Hz为高速高分辨率或150 Hz为高速采集HASOv3，业界最完整的软件包包括在内核心引擎SDK HASOv3兼容的C + +，LabVIEW和MATLABC-mount兼容入口孔径----外部触发功能详细参数：描述全解析度高速*孔径3.6 x 4.6 mm2 1.8 x 2.3 mm2微透镜数32 x 4016 x 20倾斜动态范围 ± 3° (400 λ) ± 3° (200 λ)聚焦动态范围± 0.018 m to ± ∞ (350 λ) ± 0.018 m to ± ∞ (100 λ)聚焦动态范围- maximum NA0.10.1可重复性 (rms) λ/200 λ/200相对模式下波前测量精度 (rms)1~ λ/150~ λ/150绝对模式下波前测量精度(rms)2~ λ/100~ λ/100倾斜测量灵敏度(rms)5 μrad10 μrad聚焦测量灵敏度 (rms)310-3m-1610-3m-1空间分辨率~ 110 μm~ 110 μm最大采集频率100 Hz160 Hz工作波长范围350 - 1100 nm校准波长in the 400-1100 nm range, details on request3尺寸/重量42x 42 x 42 mm /150g工作温度15 – 30° C接口 / 供电电源USB 3.0 / 2.7 W via USB操作系统Win XP, Win 7 (x86 / x64)WaveView metrology softwareincluded外部触发器yes 4.HASO3 32主要特点：?工作波长范围在400到1100纳米之间?高分辨率- 1280独立测量点?孔径尺寸4.9 x 6.1mm2?相位和强度同时和独立测量?真正的绝对测量?无与伦比的精度和动态范围详细参数：描述规格孔径4.9 x 6.1 mm2微透镜数32 x 40倾斜动态范围±3° (520λ)聚焦动态范围 - 最小局部曲率半径20 mm聚焦动态范围 - maximum NA 0.1可重复性 (rms) λ/200相对模式下波前测量精度(rms)1~λ/150绝对模式下波前测量精度(rms)2~λ/100倾斜测量灵敏度 (rms)3 μrad聚焦测量灵敏度 (rms)110-3 m-1空间分辨率~160 μm最大采集评频率 (sequential acquisition)50 Hz处理频率(CPU 3Ghz, 512 Mb RAM)20 Hz工作波长范围350 - 1100 nm校准波长A (400 - 600 nm), B (500 - 700 nm), C (630 - 900 nm), D (800 - 1100 nm)扩展波长范围*A+ (400 - 700 nm), B+ (500 - 900 nm), C+ (630 - 1100 nm)尺寸/ 重量75 x 62 x 68 mm / 510 g工作温度15 - 30° C接口 / 供电电源FireWire / 12 V / 6 W操作系统 Win 7 (x86 / x64)HASOv3 metrology softwareincluded外触发器yes 5.HASO3 128 GE2主要特点：?工作波长范围在400到1100纳米之间?最高分辨率- 16384独立测量点?最大孔径尺寸14.6 x 14.6mm2?相位和强度同时和独立测量?真正的绝对测量?无与伦比的精度和动态范围?温度稳定为长期的测量详细参数：描述规格孔径14.6 x 14.6 mm2微透镜数128 x 128倾斜动态范围±3° (1500 λ)聚焦动态范围 - 最小局部曲率半径15 mm聚焦动态范围 - maximum NA 0.1可重复性 (rms) λ/200相对模式下波前测量精度 (rms)1~λ/150绝对模式下波前测量精度(rms)2~λ/100倾斜测量灵敏度 (rms)1 μrad聚焦测量灵敏度(rms)2.510-4 m-1空间分辨率~110 μm最大采集频率(sequential acquisition)7.5 Hz处理频率(CPU 3Ghz, 512 Mb RAM)5.0 Hz工作波长范围350 - 1100 nm校准波长范围A (400 - 600 nm), B (500 - 700 nm), C (630 - 900 nm), D (800 - 1100 nm)扩展波长范围*A+ (400 - 700 nm), B+ (500 - 900 nm), C+ (630 - 1100 nm)尺寸 / 重量115 x 51 x 60 mm / 400 g工作温度15 - 30° C接口/ 供电电源Giga Ethernet / 12 V / 6 W操作系统Win 7 (x86 / x64)HASOv3 metrology softwareincluded外触发器yes 6.HASO HP 16主要特点：?λ/ 200 rms的最高绝对精度?λ/ 300 rms的最高相对精度?相位和强度同时和独立的测量?真正的绝对测量?无与伦比的精度和动态范围?温度稳定为长期的测量详细参数：描述规格孔径4.7 x 5.8 mm2微透镜数16 x 20倾斜动态范围±3° (500λ)聚焦动态范围 - 最小局部曲率半径40 mm聚焦动态范围- maximum NA 0.06可重复性 (rms) λ/400相对模式下波前测量精度(rms)1~λ/300绝对模式下波前测量精度(rms)2~ λ/200倾斜测量灵敏度(rms)1 μrad聚焦测量灵敏度 (rms)210-4 m-1空间分辨率~290 μm最大采集频率 (sequential acquisition)50 Hz处理频率(CPU 3Ghz, 512 Mb RAM)30 Hz工作波长范围350 - 1100 nm校准波长400 - 600 nm, 500 - 700 nm, 630 - 900 nm, 800 - 1100 nm扩展波长范围*400 - 700 nm, 500 - 900 nm, 650 - 1100 nm尺寸 / 重量75 x 62 x 68 mm / 510 g工作温度15 - 30° C接口 / 供电电源Fire Wire / 12 V / 6 W操作系统Win 7 (x86 / x64)HASOv3 metrology softwareincluded外触发器yes 7.HASO3 FAST主要特点：?工作波长范围在400到1100nm之间?最高速度905 Hz?λ/ 150 rms的最高相对精度?真正的绝对测量λ/ 100 rms?相位和强度同时和独立的测量?无与伦比的精度和动态范围详细参数：描述规格孔径1.7 x 1.7 mm2微透镜数14 x 14倾斜动态范围±3°聚焦动态范围- 最小局部曲率半径± 0.025 m聚焦动态范围- maximum NA0.1可重复性 (rms) λ/200相对模式下波前测量精度 (rms)1~λ/150绝对模式下波前测量精度 (rms)2~ λ/100倾斜测量灵敏度 (rms)6 μrad聚焦测量灵敏度 (rms)510-3 m-1空间分辨率~110 μm最大采集频率(sequential acquisition)905 Hz处理频率(CPU 3Ghz, 512 Mb RAM)800 Hz工作波长范围on request校准波长on request扩展波长范围*400 - 700 nm, 500 - 900 nm, 650 - 1100 nm尺寸 / 重量115 x 51 x 60 mm / 400 g工作温度15 - 30° C接口 / 供电电源Cam Link / 12 V / 6 W操作系统Win 7 (x86 / x64)HASOv3 metrology softwareincluded外触发器yes

NaturaSpec高分辨率地物光谱仪 产品简介： NaturaSpec高分辨率地物光谱仪作为野外便携式应用光谱仪可提供更高分辨率和更高灵敏度。光谱范围覆盖350-2500nm，分辨率高达2.5nm@700nm、5.5nm@1500nm、5.8nm@2100nm；具备三个高灵敏度探测器：一个1024单元紫外增强型硅探测器和两个512单元制冷加强型InGaAs探测器，提升了分辨率及灵敏度，同时具有极高的噪声控制水准。 特点：高光谱率、高灵敏度和等效辐射噪声性能大阵列制冷型探测器、全息光栅、无运动光学部件，数据可靠性高一键式测量，实现自动积分、自动曝光和自动光谱数据采集及存储软件操作简单方便、功能强大。此仪器可用于辐亮度、光谱反射率、光谱透过率、CIE颜色等测量适用于对分辨率要求高的定量遥感、星载或机载高光谱数据地面定标、矿物鉴定、土壤研究等应用 基本参数：光谱范围350–2500nm光谱分辨率2.7nm @ 700nm 5.5nm @ 1500nm 5.8nm @ 2100nm等效噪声辐射0.3x10-9 W/cm2/nm/sr @700nm 0.1x10-9 W/cm2/nm/sr @1500nm 2.5x10-9 W/cm2/nm/sr @2100nm探测器1024单元紫外加强型硅线阵 (350–1000nm)512单元增强型InGaAs线阵列 SWIR1512单元增强型InGaAs线阵列 SWIR2重量约5.7Kg电池轻便锂离子充电电池

NX-2600整片基板带对准可多层次纳米压印加高分辨率光刻系统经过了大量的实时实地验证，质量可靠，性能优越稳定。具备全部压印模式：热固化、紫外固化和压印。基于独特专利保护的Nanonex气垫软压技术（ACP），不论模版或基板背面粗糙程度如何，或是模版或基板表面波浪和弧形结构，NX-2600均可对其校正补偿从而获得无与伦比的压印均匀性， ACP消除了基板与模版之间侧向偏移，有效地延长了模版使用寿命。通过微小热容设计可获得快速的热压印周期，最终得到快速的工艺循环。 主要特点：所有形式的纳米压印l 热塑化l 紫外固化l 热压与紫外压印同时进行l 热固化 气垫软压技术(ACP)l Nanonex专利技术l 完美的整片基板纳米压印均匀性l 高通量 低于10nm分辨率 亚1微米正面对准精度 背面对准可选项 快速工艺循环时间（小于60秒） 灵活性l 4″, 6″, or 8″压印面积可选l 各种尺寸及不规则形状模板与基板均可压印l 方便用户操作 基于超过12年、15代产品开发经验的自动化压印操作 Nanonex压印系统经过大量实时实地验证，质量可靠，性能优越稳定 全自动纳米压印 纳米压印系统参数 热塑压印模块 l 温度范围0～250℃l 加热速度300℃/分钟 l 制冷速度150℃/分钟 l 压力范围0 ～ 3.8 MPa（550 psi） 紫外固化模块 l 200W窄带紫外光源 l 365纳米或395纳米波长可选 l 全自动化控制 对准模块 l X, Y, Z, Theta平台 l 分场光学和CCD相机 基板装载 l 标配纳米压印系统可装载4″基板 l 6″和8″基板可选 l 各种尺寸及不规则形状模板及基板均可压印 l 独特专利保护ACP技术可最大限度保护基板和模板，特别对于象磷化铟（InP）等极易碎模板和基板给予最大限度保护。 光刻 l 标配5”模板，标配4”直径基板 l 其他尺寸可以提供 l 500瓦紫外水银灯光源 应用领域：纳米电子和光电子、显示器、数据存储介质、先进材料、生物科技、纳米流道等

Shack-Hartmann 波前传感器产品特点：●对机械噪声和振动不敏感●宽波长范围●可测连续、脉冲辐射，包括飞秒脉冲●可测波前形状、光斑强度，同时估算光斑质量●传感器可以容易地集成到自适应光学系统（AOS）产品应用：●科学研究中心，教学和研究实验室●生产激光系统和激光设备工具的公司●使用激光辐射作为设备的生产企业，特别是需要精密光束控制的企业●研发光学测试设备的生产企业●医学治疗和诊断中心性能参数：型号11WFS-prime波长范围，nm400-1100传感器口径（格式），mm1/3”(1/2”)-4.5x2.8(6.4x4.8)相机分辨率744x480像素（基础版本1/3”相机）微透镜阵列参数（间距-焦长，mm）0.15-6（基础版本）微透镜个数30x18（42×32）帧速60Hz波前精度Wavelength/10倾斜波前动态范围Wavelength*50尺寸55×55×70mm测量结果显示：表格显示：PV，RMS。根据Zernike模型的波前像差系数（最高36），赛德尔像差系数（倾斜、散焦、像散、慧差、球差），激光光斑特性参数。图形窗口：哈特曼图形光束相位和强度分布的多种3D、2D图像（灰度图或彩图），合成条纹和梯度图根据数据的获取而改变。光束的点分布函数提供焦点的强度分布。不同的光束口径（圆形、椭圆、矩形、多边形）。验证选项。报告以多种格式保存，可以打印图片。 软件：用户友好图形化界面，有菜单、热点按钮、帮助。附件：1）光学接口：用于光束准直的调整系统，最高100mm2）中性密度滤光片（30%，1%，0.1%，?25mm，光学质量λ/10）带装配3）平面参考波阵面源（准直器，单波长光纤耦合激光器，支架）4）STANDA面包板和光机械

请选择合适的型号NX-B100多功能整片基板纳米压印系统（热压印）zui大75毫米直径压印面积 热压印加热速度200℃/分钟 制冷速度60℃/分钟NX-B200多功能整片基板纳米压印系统（热压印和紫外压印）zui大75毫米直径压印面积 热压印和紫外压印加热速度200℃/分钟 制冷速度60℃/分钟58mW/cm2紫外LED光源；365纳米或395纳米波长可选；全自动化控制NX-1000多功能整片基板纳米压印系统（热压印）标配4英寸,6或8英寸压印面积可选 热压印 加热速度300℃/分钟 制冷速度150℃/分钟NX-2000多功能整片基板纳米压印系统（热压印和紫外压印）标配4英寸,6或8英寸压印面积可选 热压印和紫外压印加热速度300℃/分钟 制冷速度150℃/分钟200W窄带紫外光源；365纳米或395纳米波长可选；全自动化控制NX-2500多功能整片基板带对准功能多层次的纳米压印系统标配4英寸,6或8英寸压印面积可选热压印和紫外压印加热速度300℃/分钟 制冷速度150℃/分钟200W窄带紫外光源；365纳米或395纳米波长可选；全自动化控制带对准功能（亚1微米对准精度） 多层次的纳米压印对准模块 1μm 3σ对准准确率 X, Y, Z, Theta平台分场光学和CCD相机NX-2600多功能整片基板带对准功能多层次的纳米压印和高分辨率光刻系统可选背面对准标配4英寸,6或8英寸压印面积可选热压印和紫外压印加热速度300℃/分钟 制冷速度150℃/分钟200W窄带紫外光源；365纳米或395纳米波长可选；全自动化控制带对准功能（亚1微米对准精度） 多层次的纳米压印对准模块 1μm 3σ对准准确率 X, Y, Z, Theta平台分场光学和CCD相机标配5”模板,标配4”直径基板 ? 其他尺寸可以提供500瓦紫外水银灯光源

Geotek公司介绍：英国Geotek公司是世界上畅销的岩心（岩芯）设备MSCL（Multi Sensor Core Logger岩心（岩芯）综合测试系统，又称多参数岩心（岩芯）扫描仪）的设计者和制造商。世界上几乎每个从事岩心（岩芯）研究工作的实验室（科学研究、工程勘探、石油钻探等）都安装了MSCL，用户超过220个。MSCL性能非常稳定可靠、结实耐用，既适合实验室也适合于野外，已经广泛用于全球各国的岩心（岩芯）库、地质重点实验室、野外临时实验室、海上调查船、深海钻探船和工程船等。Geotek是科学家们用的最多的岩心（岩芯）分析设备。地球上有岩心（岩芯）的地方就有Geotek产品。If a core is worth taking, it' s worth logging....岩心（岩芯）宝贵，数据无价。高分辨率XRF岩芯扫描仪MSCL-XRF上图MSCL-XRF可进行高分辨率的XRF化学元素扫描+高清光学表面扫描（可见光成像和紫外荧光成像）+颜色光谱扫描+点状磁化率测量 MSCL是目前世界上功能全的岩心（岩芯）地球物理和化学性质综合测试集成系统，应用于海底沉积物柱状样、湖泊沉积物柱状样、岩石岩心（岩芯）等。MSCL的特点是不破坏样品，多种测量同步、快速、准确、高效率、全自动的测量。最多可以测量的10种参数包括：P波速度、伽玛密度、电阻率、磁化率、颜色光谱、自然伽玛辐射、表面高清光学成像、高分辨率XRF元素浓度、高光谱成像、可见光近红外地物光谱等，客户根据自己的需要自由选择。不同的MSCL具备不同的结构，可直接测量储藏在塑料管内的整个岩心（岩芯），也可测量剖开岩心（岩芯）。有些测量可以隔着铝制的或者不锈钢材质进行，但通常来说隔着塑料的测量效果要好一些。多型号的MSCL配置具有很多优势，可针对不同的岩心（岩芯），不同的操作条件，不同的场合进行测量，达到最佳效果。上图为安装高分辨率XRF的MSCL-XYZ多岩心（岩芯）扫描工作站，可同时测量长达9m的剖开的岩心（岩芯）2013年底，经过近5年的研发和大量的测试工作，先进的岩心（岩芯）XRF扫描系统MSCL-XRF正式推向市场，除了高分辨率的XRF化学元素扫描，还可以同时集成另外5种传感器，包括高清光学线性扫描成像（选配紫外荧光成像）、颜色光谱、近红外地物光谱、点状磁化率、高光谱成像。另一个MSCL-XRF吸引科学家的地方是其性价比极高，XRF的数据质量高，价格低。Geotek耗时5年研制成功的高分辨率XRF传感器与同类产品比较，具备显著的技术特点和价格优势：Geotek高分辨率XRF传感器Geotek新的XRF传感器优势一览：1.Design of x-ray tube, optic, detector for best performance 5年研发，更新空间结构设计，带来优秀的测量效果2.Price advantage性能强，但价格适中！3.Improved and market leading detection limits 极大提高了检测限4.Lowest level of spectral contamination and artefacts - very clean low background spectra Bloom效应小，背景噪音低5.Improved light element detection as seen with Mg sensitivity figure较轻元素的灵敏度明显提高(比如Mg）6.Better geometry with closer coupling of source and detector geometry in relation to the sample giving faster signal collection 空间结构设计使得X源和XRF检测器距离样品很近，数据质量和扫描速度都明显提高7.Much lower power requirements for X-ray source giving longer life and higher stability 低功耗的X光管，寿命更长（大于1万小时，是同行的2倍或5倍），稳定性更好，无需水冷8.Higher reliability, lower service costs over life time 稳定性更高，3到10年的运行维护费用低9.New software features which will give faster “on the fly” analysis, data and results 软件能够立即得到分析结果，扫描分析速度快10.New and unique algorithms and quantitive analysis models for more accurate analysis 独特的算法，可更精确的分析元素11.No post measurement data processing required 不需要复杂的后期处理12.Better integration with other measurement techniques 与其他4～10种传感器集成高光谱成像传感器SpecCam4

一, Dynamic Optics 夏克-哈特曼 快速CMOS波前传感器 Dynamic Optics Shack Hartmann 夏克-哈特曼波前传感器使用起来方便灵活快捷。它可以高精度地测量波前畸变。Photon Loop软件可以与任何类型的相机接口，并控制任何类型的变形镜。我们的波前传感器可以在任何光谱范围内进行测量，具有很高的分辨率、精度和帧率。技术参数快速CMOS传感器即插即用的解决方案，具有出色灵敏度这款波前传感器在可见-近红外光谱范围内具有出色的灵敏度、帧率和准确性。它是计量学和可变形镜控制的理想选择。 产品应用精确波前测量快速像差采集闭环自适应光学系统光学元件质量检验关键规格高精度(高达λ/200)快速捕获(最高1 kHz)价格优惠 快速CMOS传感器 描述数据小透镜阵150 um间距，5.2mm焦距(可定制)帧频500fps，100个质心(要求1kHz)传感器尺寸9mm x 7.13mm孔径:9mm触发器外部触发器5V通信USB 3.0变形镜控制控制器比例积分控制器校准影响功能和Hadamard控制闭环和开环编程可通过TCP-IP进行编程与其他变形镜的兼容性Alpao、Adaptica、OKO、BMC、Thorlabs和Dynamic Optics 短波红外（SWIR）光谱范围的理想解决方案这款波前传感器具有出色的灵敏度、帧速率和精度。它是计量和变形镜控制的理想选择。 描述数据小透镜阵150um间距，5.2mm焦距(可定制)帧频600fps(全帧)传感器尺寸640 x 512(15um)沟通USB 3.0或摄像头链接变形镜控制控制器比例积分控制器校准影响功能和Hadamard控制闭环和开环设计可通过TCP-IP进行编程与其他变形镜的兼容性Alpao、Adaptica、OKO、BMC、Thorlabs和Dynamic Optics 二,ISDI 晶圆级CMOS图像传感器ISDI是高性能CMOS图像传感器领域的创新者，提供定制传感器设计和标准产品。产品范围包括专用设计到大批量制造。ISDI成立于2010年，团队由一群在CMOS图像传感器方面拥有丰富知识和经验的半导体设计师组成，他们从科研项目获得了经验。自成立以来，ISDI已从科学传感器的设计师发展为广泛应用的晶圆级成像设备的制造商。数字接口设计可以直接连接到FPGA或ASIC。对于50μm和100μm传感器，开发板可配备相机链、USB或GigEVision连接，用于快速评估传感器性能，这些也可作为成像系统硬件快速原型设计的参考。所有传感器均设计用于X射线环境下的低噪声操作，适用于光纤板（FOP）键合或直接沉积型闪烁体。ISDI 晶圆级CMOS图像传感器,ISDI 晶圆级CMOS图像传感器通用参数CMOS图像传感器: 产品系列多功能、功能丰富的图像传感器，结合了ISDIZhuan利的抗辐射低噪声像素结构。特点:滚动快门曝光可切换高低满井来提高和降低灵敏度芯片上的温度传感器动态可编程感兴趣区域(ROI)有效面积 (h x v) cm分辨率(h x v)最大帧率( fps)数据输出包装尺寸(cm)单芯片ADCRow time ( ROI) µ s低满井Low full well高满井High full well低频焊LFW 高频焊HFWTY-222221.7 x 22.02173 x 220111268 x LVDS27.0 x 21.8 16/14 bit 8.2 360 ke- 3.2 Me- 72.7dB 81.0dBTY-151114.5 x 11.01451 x 110011222 x LVDS14.5 x 13.5TY-141214.0 x 12.01401 x 120011618 x LVDS14.0 x 14.4TY-11077.2 x 11.1721 x 111011212 x LVDS7.2 x 13.5HP-161516.1 x 15.01610 x 15009224 x LVDS16.1 x 17.6 14 bit 7.1 365 ke- 3.0 Me- 70.2dB 73.6dBHP-230123.3 x 0.762331 x 7648044 x LVDS23.5 x 6.1HP-150114.8 x 0.761484 x 7648028 x LVDS15.0 x 6.1IS-313130.9 x 30.73095 x 307366300 x CMOS31.2 x 35.5 14 bit 9.8 410 ke- 2.6 Me- 72.0dB 74.0dBIS-212120.6 x 20.52063 x 204966200 x CMOS20.6 x 25.3IS-151010.3 x 15.31031 x 15366650 x CMOS10.3 x 17.7IS-051010.3 x 5.11031 x 51219850 x CMOS10.3 x 7.4IS-151211.5 x 14.81537 x 198430 (86 @ 2*2 binning)6 x analogue11.5 x 16.3none17 290 ke- 2.8 Me- 70.5dB 74.4dBIS-120711.5 x 6.51537 x 86468 (192 @ 2*2 binning)6 x analogue11.5 x 7.9none17PS-282428.0 x 24.05606 x 48022972 x LVDS28.1 x 28.814 bit14.2 260 ke- 2.0 Me- 69.9dB 73.6dBPS-141214.0 x 12.02802 x 24002918 x LVDS14.1 x 14.414 bit14.2PS-120611.96 x 6.02391 x 12005916 x LVDS12.0 x 8.414 bit14.2PS-06065.4 x 6.01071 x 1200598 x LVDS5.35 x 8.414 bit14.2IS-131313.0 x 13.02600 x 260016 (30 @ 2*1 binning)7 x analogue13.1 x 15.5none24150 ke-2.0 Me-64.4dB75.1dB三, Pulstec PWS-1000 高速波前传感器 400-800nm 光束直径2.0-4.6mmPULSTEC该传感器基于Shack-Hartmann方法，能够实时测量光源和光学像差。它能够测量Zernike多项式项(15/24/36)，赛德尔像差因子和一般波前磨损。它还具有干涉条纹、二维/三维相位图、强度分布和点扩散函数等功能。测试结果(好或不好)可以按给定值测量。Pulstec PWS-1000 高速波前传感器 400-800nm 光束直径2.0-4.6mm,Pulstec PWS-1000 高速波前传感器 400-800nm 光束直径2.0-4.6mm产品特点高速处理，实时测量:图形3Hz，数值10hz。适用于对相干性不敏感的各种光束测量。设计紧凑轻巧，适用于各类设备。采用IEEE1394接口，方便接入电脑。产品应用通过波前测量确定光束质量光学透明元件测试自适应光学波前传感器光学反射组件测试通用参数测量波长400-800nm *1激光束直径2.0-4.6mm精确性1/100λ RMS (3σ) *2可重复性1/5002RMS (3σ) *2数据更新Max. 10Hz外部界面IEEE1394 (6pin)*1 需要获取每个波长的参考值。*2受光束强度分布影响，jue对波前误差测量环境。相关产品参考激光二极管源点源 (Point Source)平行光源波长405±5nm650 ＋5/-0nm780±5nm405±5nm650 ＋5/-0nm780±5nm波长差＜1／50λ RMS偏振圆形标准差激光功率控制自动电源控制 (APC)激光温度控制比例积分控制激光头尺寸179× Φ 44.5mm (L× Φ)253× Φ44.5mm (L× Φ )激光器重量大约 1.0kg大约1.4kg驱动器尺寸152×61.5×167mm (W×H×D)驱动器重量大约1.2kg电源供给AC 100-240V／50-60Hz (30W)NA0.9准直镜波长405nm和655nm焦距2.4mm (@405nm)/ 2.54mm (@655nm)数值孔径(NA)o.9(405nm)/0.7(@655nm)作业距离超过1.0mm重量大约150g玻璃盖板波长405nm655nm基板厚度 0.0875mm0. 1mm0.6mm