单点开尔文探针扫描系统

产品概要：英铂为您提供MPI品牌的DC、各类开尔文探针，以供产品测试使用。基本信息：技术优势：DC探针：适用于常规漏电流测试开尔文探针：更低的漏电流和更好的可靠性，可以适用于高低温下的测试应用方向：适用于各种晶圆测试。

SPM的工作原理是基于微观或介观范围的各种物理特性，通过原子线度的极细探针在被研究物质的表面上方扫描时检测探针—样品两者之间的相互作用,以得到被研究物质的表面特性，不同类型的SPM之间的主要区别在于它们的针尖特性及其相应的针尖----样品相互作用方式的不同。

【技术参数】型号FS-1500制造厂商Asylum Research探针描述硅基探针；Al反射层类型轻敲模式（SOFT)应用快扫描【产品详情】悬臂描述Lever1234Spring k (N/m)6 (1.5 - 21.0)---Freq (kHz)1500 (700 - 2000)---Length (μm)35 (30 - 40)---Width (μm)42 (37 - 47)---Thickness (μm)0.8 (0.6 - 1.0)---Shapetriangular---MaterialSilicon---Reflex Coating (nm)Al (30)---针尖描述Tip radius (nm)Tip height (μm)3 +/- 1Front angle (°)20 +/- 1Back angle (°)35 +/- 1Side angle (°)30 +/- 1Tip shape3-sidedTip materialSiliconTip coating (nm)none

高品质的光阑，专为扫描电镜和透射电镜、电子探针、聚焦离子束和X-射线仪而设计。高精密的钻孔和形状，可以避免电子散射。孔径符合制造商预先设计的严格的公差。材质有铂合金（Pt / Ir ，95:5 ％ ）、钼（Mo），金（Au）。每种孔径厚度的光阑又有A、B、C、D四种不同规格和形状，孔径可用于目前所有品牌的EM系统制造商： FEI /飞利浦，日本电子，日立，蔡司/ LEO ， CAMECA ，拓普康，TESCAN， CamScan等 。用户也可根据自己的实际需要设计加工新的光阑。产品包装实拍图：产品编号产品名称规格产地OZ63400黄金光阑直径：3mm 20um,AU中国

Doped Diamond这个系列的探针在针尖的一侧涂有可导电的金刚石涂层。由于金刚石的硬度很高，所以涂层也很耐磨。这类探针的典型应用包括：扫描扩散电阻显微镜 (SSRM)，扫描电容显微镜 (SCM)，和隧道/导电原子力显微镜。 NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) DDESP-10UnmountedDoped DLC Coated Tips, 42N/m, 320kHz, Al Reflective Coating1035作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。Doped Diamond这个系列的探针在针尖的一侧涂有可导电的金刚石涂层。由于金刚石的硬度很高，所以涂层也很耐磨。这类探针的典型应用包括：扫描扩散电阻显微镜 (SSRM)，扫描电容显微镜 (SCM)，和隧道/导电原子力显微镜。NameMountDescriptionPackSizeTipRadius(nm) DDESP-10UnmountedDopedDLCCoatedTips,42N/m,320kHz,AlReflectiveCoating1035

AFM探针/原子力探针/导电探针(DDESP-10) AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。 Doped Diamond这个系列的探针在针尖的一侧涂有可导电的金刚石涂层。由于金刚石的硬度很高，所以涂层也很耐磨。这类探针的典型应用包括：扫描扩散电阻显微镜 (SSRM)，扫描电容显微镜 (SCM)，和隧道/导电原子力显微镜。 NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) DDESP-10UnmountedDoped DLC Coated Tips, 42N/m, 320kHz, Al Reflective Coating1035

多种探针支架供选配，如：常规支架，真空支架，射频支架，2D支架，开尔文支架等......

汲取式光纤探针对于过程中的实时在线样品检测和实验室应用特别有用。在一个液态样品不能用比色皿测量的情况下，汲取式光纤探针附件能够测量其吸光度和透过率。反射式光纤探针结合S-3100使用可以生成小的光感系统以测量固体表面的反射。

NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) MESPUnmountedStandard MFM Coated Tips, 2.8N/m, 75kHz, Co/Cr Reflective Coating1020探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

产品概要：MPI提供了完整的探针臂产品组合，如：同轴、三轴、高压版本、开尔文、射频，所有这些都能在高达300°C的温度下运行。基本信息：简便快速，无需工具所有标准MPI探针臂均采用适用宽温度范围(-60°C…300°C)的不锈钢管设计开发，并由独特的通用探针支架固定，可轻松快速且免工具更换针杆、高度和角度调整；更换探针臂，适用于各种不同的设置，通用探头支架与所有MPI MicroPositioner兼容。高度指示器所有MPI探针针杆均具有适合高度刻度，可以非常快速，轻松地进行主动设置。直流探头尖端支架所有直流探头尖端支架的设计均易于更换和调节探头。探头尖端可以固定在任何变量上，也可以预先配置45°、60°、及与针杆平行等三种角度可选，用于在不同应用中进行特定的尖端散射控制。开尔文探针架MPI Kelvin探头支架与DUT尖端尽可能分离，并提供：垂直自找平探头尖端对准 专用力和感测电缆布置 快速方便地更换探针。这是精确进行超低噪声，阻抗或脉冲IV测量的新基准。开尔文探头甚至使新手用户都可以执行快速而准确的测量，从而易于重新配置4TP连接或/和进行脉冲IV测试。免工具垂直高度调整独特的无需工具的垂直高度调整以及内置的毫米刻度，可快速切换适配高度。轻松更换RF探头MPI独特的螺丝磁力吸附，搭配射频支臂能够迅速实现探针更换。 Mitutoyo 千分尺 MPI旗下均采用Mitutoyo千分尺，以保证1um级的移动，可准确进行定位。技术优势：1、耐高温2、角度调整方便快捷3、轻松更换RF探头4、具有直流探头尖端支架和开尔文探针架应用方向：可在高达300°C的温度下使用。

Eachwave推出的低温砷化镓光电导太赫兹近场探针系列是新一代的高性能光电导型微探针，利用此太赫兹近场探针，样品表面的近场太赫兹电场可被以被空前的分辨率测量，信号质量好，噪声低。这些太赫兹探针可以无缝的与激发波长低于860nm的THz-TDS系统配合使用。THz近场探针提供了一个低成本的解决方案，可将您的THz-TDS升级为高分辨率的近场扫描成像系统。产品特点：— 市场上最小的太赫兹近场探针— 专利设计— 空间分辨率可达3um— 探测频率范围：0-4THz— 适用于所有基于激光的THz系统— 安装可兼容标准的光机械组建— 集成过载保护电路横向场太赫兹近场探针规格参数TeraSpike TD-800-X-HRHRS最小空间分辨率3um20umPC gap size1.5um2um暗电流 @1V 偏置电压光电流1uA0.6uA激发波长700..860mW平均激发功率0.1-4mW接头类型SMP纵向场太赫兹近场探针规格参数TeraSpike TD-800-A-500GN最大空间分辨率8 um8 umPC gap size5 um2 um暗电流 @1V 偏置电压光电流0.5uA0.1 uA激发波长700..860mW平均激发功率0.1-4mW接头类型SMP反射式太赫兹近场探针 反射式太赫兹近场探针是一款收发一体化的太赫兹近场探针产品。探针具有双天线结构，此结构极大的缩短了太赫兹的传输路径，可有效的应用于太赫兹近场时域谱测试以及成像测试系统中。规格参数型号暗电流@1V偏压光电流激发波长平均激发功率链接头TeraSpike TD-800-TR.5 0.5uA700-860nm0.1-4mW2×SMP适用于1550nm波长的太赫兹近场探针规格参数型号脉冲上升时间带宽激发波长激发功率悬臂材料TeraSpike TD-1550-Y-BF0.01-2.5THz700-1600nm0.1-4mWInGaAs(n-type)

【技术参数】型号SSS-NCHR制造厂商NanoWorld探针描述硅基探针 超尖探针类型轻敲模式 非接触模式应用普通样品,扫描形貌【产品详情】悬臂描述Lever1234Spring k (N/m)42 (10 - 130)---Freq (kHz)330 (204 - 497)---Length (μm)125 (115 - 135)---Width (μm)30 (30 - 45)---Thickness (μm)4.0 (3 - 5)---Shaperectangular---MaterialSilicon---Reflex Coating (nm)Al---针尖描述Tip radius (nm)2Tip height (μm)12.5 +/- 2.5Front angle (°)25 +/- 2Back angle (°)15 +/- 2Side angle (°)22.5 +/- 2Tip shape4-sidedTip materialSiliconTip coating (nm)none

Omniprobe公司提供扫描电子和离子束显微镜纳米实验设备，处于行业领先水平。钨探针针尖由Omniprobe公司生产，包括 AutoProbe? 200, AutoProbe? AutoProbe? 250, 300, Short-Cut?, OmniGIS? 和 SST? 400-1 。l 钨/镍探针针尖Tungsten /Nickel Probe Tips常规设计，镍管柄、钨尖，钨尖尺寸：半径0.5um，13o锥角。使用寿命长。货号产品名称规格75960-01钨/镍探针针尖Tungsten/Nickel Probe Tip10/bxl 钨探针针尖Tungsten Probe Tips常规设计，钨尖尺寸：半径0.5um，13o锥角。使用寿命长。货号产品名称规格75960-02钨探针针尖All Tungsten Probe Tip10/bxl 原位探针针尖In-Situ Probe Tips常规的钨针尖，不锈钢柄，适合AutoProbe? 300、原位探针针尖更换系统和Short-Cut? 。钨尖尺寸：半径0.5um，8-10o锥角。 货号产品名称规格75960-03原位探针针尖In-Situ Probe Tip10/bxl Xtreme Access ?” 钨探针针尖 Tungsten Probe Tips常规设计，钨尖尺寸：半径小于0.5um，13o锥角。使用寿命长。货号产品名称规格75960-04XA ?” 钨探针针尖 Tungsten Probe Tip10/bxl Autoprobe 250钨探针针尖Tungsten Probe Tips常规设计，钨尖尺寸：半径小于0.5um，6o锥角。使用寿命长。（兼容Short-Cut?）货号产品名称规格75960-05AP250钨探针针尖 Tungsten Probe Tip10/bxl Xtreme Access Short-Cut? Probe Tips常规设计，钨尖尺寸：半径小于0.5um，6o锥角。使用寿命长。（兼容Short-Cut?）货号产品名称规格75960-06XA Short Cut Tungsten Probe Tip10/bxl XA探针针尖夹持器 Probe Point Holder适合 ?”钨探针针尖，, #75960-04 和 #75960-06. 货号产品名称规格75961-10 XA探针针尖夹持器 Probe Point Holder个l AP250 探针针尖夹持器Probe Tip HolderAutoProbe? 250探针针尖夹持器适合的钨针尖是75960-05.兼容 Short-Cut?。货号产品名称规格75961-105AP250 探针针尖夹持器Probe Tip Holder个

常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm)DNISPUnmountedDiamond Tip, 100 - 300N/m, 35 - 65kHz140探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

Strep 标签作为目前最广泛使用的亲和纯化系统标签之一的 Strep 标签，它有多种突出优点：纯化过程温和，目的蛋白纯度高（＞95%），特异性强，能兼容多种表达系统：包括原核、酵母、昆虫、哺乳动物细胞或是植物细胞等。因此 Strep 标签可以简单迅速的实现重组蛋白的克隆，表达，纯化，和检测分析。 Strep 标签与配基不断升级 基于链霉亲和素 ( Streptavidin）和生物素（ Biotin ）之间强烈的相互作用，科学家运用一系列蛋白质工程手段，从短肽文库中筛选获取链霉亲和素可逆性结合的短肽亲和标签，同时也对链霉亲和素的蛋白序列进行改进，双管齐下并且经过不断优化改造，得到了非常稳定的 Strep-Tactin XT ( Extreme Tight )，能高效且可逆的结合短肽标签 Strep-tag。Strep-Tactin XT 与 Twin-Strep-tag 不仅亲和力非常强，而且结合仍保持可逆，因此可以广泛应用于纯化检测系统。 小鳄生物此次针对 Strep 标签，推出了两款探针：与 Twin-Strep-tag 蛋白亲和力非常强的 Strep-Tactin XT 探针和与 Strep-tag II 蛋白结合的 Strep-tag II 探针。 两款探针均可从复杂样品中特异性捕获蛋白，从而获得可靠的数据；还可多次再生，节约检测成本。扫描下方二维码获取更多产品资料

布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中—ScanAsyst Air ScanAsyst Air，是空气中智能成像模式ScanAsyst 专用探针，仅适用于具有Scansyst成像的AFM。其中包含：Dimension Icon,Multimode8,Bioscope Catalyst,Bioscope Resolve. ScanAsyst 利用一种专门的曲线采集方法和复杂的算法，对图像质量进行持续的监测，并能自动地对参数进行适当的调整。因此：- 无论用户的专业技术水平如何，图像自动优化都能更快获取更一致的结果。- 可直接控制力的强弱，调到超低力，从而保护易碎样品和针尖不受损坏。 实现了悬臂调节的消除，定位调整，获得最大优化让液态成像变得简单。 氮化硅单悬臂探针，所有ScanAsyst针尖都有2度的悬臂弯曲。详细规格： 延展阅读：关于布鲁克：布鲁克公司以先进的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。 布鲁克AFM探针制造中心独特优势：*Class100级别的无尘室*先进的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。 原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式：主要分为：扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构：悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius：一般为10nm到几十nm。制作工艺：半导体工艺制作 指标：探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

【技术参数】型号TL-CONT制造厂商NanoWorld探针描述无针尖探针 软悬臂类型接触模式应用普通样品,扫描形貌【产品详情】悬臂描述Lever1234Spring k (N/m)0.2 (0.02 - 0.77)---Freq (kHz)13 (6 - 21)---Length (μm)450 (440 - 460)---Width (μm)50 (42.5 - 57.5)---Thickness (μm)2.0 (1.0 - 3.0)---Shaperectangular---MaterialSilicon---Reflex Coating (nm)none---针尖描述noneTip radius (nm)-Tip height (μm)-Front angle (°)-Back angle (°)-Side angle (°)-Tip shapeno tipTip materialno tipTip coating (nm)none

反射式光纤探针结合scinco S-3150或者S-4100使用可以生成小的光感系统以测量固体表面的反射。

在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm)MSCTUnmountedSharpened, 6 Cantilevers, 0.01-0.50N/m, Au Reflective Coating探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

【技术参数】型号CDT-NCHR制造厂商NanoWorld探针描述导电金刚石镀层探针 硅基探针类型非接触模式，轻敲模式应用普通样品,扫描形貌【产品详情】悬臂描述Lever1234Spring k (N/m)42 (10 - 130)---Freq (kHz)330 (204 - 497)---Length (μm)125 (115 - 135)---Width (μm)30 (22.5 - 37.5)---Thickness (μm)4.0 (3.0 - 5.0)---Shaperectangular---MaterialSilicon---Reflex Coating (nm)Al (30)---针尖描述Tip radius (nm)150 +/- 50Tip height (μm)12.5 +/- 2.5Front angle (°)25 +/- 2Back angle (°)15 +/- 2Side angle (°)22.5 +/- 2Tip shape4-sidedTip materialSiliconTip coating (nm)doped diamond (100)

【技术参数】型号FMR制造厂商NanoWorld探针描述硅基探针；Al反射层类型轻敲模式 软探针 (气相)应用普通样品，形貌扫描【产品详情】悬臂描述Lever1234Spring k (N/m)2.8 (1.2 - 5.5)---Freq (kHz)75 (60 - 90)---Length (μm)225 (220 - 230)---Width (μm)28 (23 - 33)---Thickness (μm)3.0 (2.5 - 3.5)---Shaperectangular---MaterialSilicon---Reflex Coating (nm)Al (30)---针尖描述Tip radius (nm)8 +/- 2Tip height (μm)12.5 +/- 2.5Front angle (°)25 +/- 2Back angle (°)15 +/- 2Side angle (°)22.5 +/- 2Tip shape4-sidedTip materialSiliconTip coating (nm)none

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针。布鲁克AFM探针制造优势：*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。Doped Diamond这个系列的探针在针尖的一侧涂有可导电的金刚石涂层。由于金刚石的硬度很高，所以涂层也很耐磨。这类探针的典型应用包括：扫描扩散电阻显微镜 (SSRM)，扫描电容显微镜 (SCM)，和隧道/导电原子力显微镜。 NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) DDDDESP-10UnmountedDoped DLC Coated Tips, 42N/m, 320kHz, Al Reflective Coating1035

NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) SCM-PICUnmountedPt/ Ir Coated Tips, 0.2N/m 13kHz, Pt/Ir Reflective Coating1020探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

【技术参数】型号ASYELEC.01-R2制造厂商Asylum Research探针描述硅基探针；Ti/Ir反射层；针尖镀Ti/Ir类型电学模式应用导电模式,静电力模式,表面电势模式,扫描电容模式,压电力模式 CAFM EFM KPFM SCM PFM【产品详情】悬臂描述Lever1234Spring k (N/m)2.8 (1.4 - 5.8)---Freq (kHz)75 (58 - 97)---Length (μm)240 (233 - 245)---Width (μm)35 (30 - 40)---Thickness (μm)3.0 (2.5 - 3.5)---Shaperectangular---MaterialSilicon---Reflex Coating (nm)Ti/Ir (5/20)---针尖描述Tip radius (nm)25Tip height (μm)12.5 +/- 2.5Front angle (°)20 +/- 1Back angle (°)35 +/- 1Side angle (°)30 +/- 1Tip shape3-sidedTip materialSiliconTip coating (nm)Ti/Ir (5/20)

IR近红外反射附件(NIRA)和NIR探针的详细资料：详情请联系吴小姐：15080317079近红外反射附件(NIRA)和NIR探针 Spectrum 400/100N/One NTS用近红外反射附件(NIRA)PerkinElmer的近红外反射附件(NIRA)及相关的一系列附件尤其适合用于分析片剂、粉末、固体颗粒和气泡材料等样品，以及玻璃小瓶中、凝胶剂和粘稠液体中的样品。对于Spectrum 400系列，有一款附件可以安装在设备的右侧，这样样品仓就能空出来留作其他用途。特色和优势Ø 适用于不同容器中的各种样品Ø 设计精巧，集成化，零校准，零设置。一旦连接好了样品仓，该附件就成为了整个系统的一部分，能随时使用Ø 可重复性更强，操作简单Ø 水平样品台，方便采样定位Ø 大采集角和大光斑尺寸，保证最佳采样效果Ø 集成了性能高、稳定性好的InGaAs检测系统标准Ø 各种能用于不纯固体或液体样品的可选附件Ø 速拆控制杆配合自动参数设置让您在几秒钟内就能实现附件的拆卸和更换与标准附件套件一起提供，套件中包括样品定位器，标准样和样品处理工具。近红外反射附件 (NIRA) 右手安装型只适用于Spectrum 400L125401N近红外反射附件 (NIRA) 安装样品仓的用于Spectrum 400/100N/One NTS L1240050近红外反射附件 (NIRA)右手安装的只适用于Spectrum 100L125403LNIRA的附件和耗材RHS NIRA用固体旋转样品支架 1 L1250042固体旋转样品架适用于样品仓NIRA 1 L1240053NIRA穿透反射液体采样附件启动器套件1 L1185153备用玻璃样品盘适用于NIRA固体旋转样品架 5 L1181257高性能样品盘适用于NIRA固体旋转样品架1 L1185305一次性4mL带盖玻璃小瓶15mm x 45mm 100 L9001029NIRA Spectralon校准 1 L1245028NIR远程固体采样系统专为远程固体或粉末采样设计，工作范围可达10m。它包含手柄用户界面和液晶显示器，让用户能够持续地进行远程操作，从而提高工作效率。该设计不仅实现了快速清洁，而且即使在危险环境中也不会导致触电事故。适用于Spectrum 400和Spectrum 100N.特色和优势Ø 包含高性能触发光纤探针，便于固体或粉末采样Ø Spectrum软件光纤采样接口自动识别Ø 手柄用户界面和液晶显示屏实现持续远程操作Ø 危险环境中也不会导致触电事故。无电气接口Ø 光学扫描场深更大，改善了对较厚玻璃容器内的样品的测量效果Ø 光斑尺寸更大(-6mm)，改善了对颗粒粗杂质多的样品的测量效果Ø 配备保护盖和探针保护套，背景采集符合Spectralon标准Ø 模块化，可拓展，智能化&mdash 与其他Spectrum 400和100高级采样选项相同。附件更换简单，完全的即插即用操作Ø 探针尖端装有蓝宝石窗片，坚固耐用，易清洁远程固体采样系统2m L1250030远程固体采样系统3m L1250037远程固体采样系统5m L1250031远程固体采样系统10m L1250032

IR近红外反射附件(NIRA)和NIR探针的详细资料：详情请联系吴小姐：15080317079近红外反射附件(NIRA)和NIR探针 Spectrum 400/100N/One NTS用近红外反射附件(NIRA)PerkinElmer的近红外反射附件(NIRA)及相关的一系列附件尤其适合用于分析片剂、粉末、固体颗粒和气泡材料等样品，以及玻璃小瓶中、凝胶剂和粘稠液体中的样品。对于Spectrum 400系列，有一款附件可以安装在设备的右侧，这样样品仓就能空出来留作其他用途。特色和优势Ø 适用于不同容器中的各种样品Ø 设计精巧，集成化，零校准，零设置。一旦连接好了样品仓，该附件就成为了整个系统的一部分，能随时使用Ø 可重复性更强，操作简单Ø 水平样品台，方便采样定位Ø 大采集角和大光斑尺寸，保证最佳采样效果Ø 集成了性能高、稳定性好的InGaAs检测系统标准Ø 各种能用于不纯固体或液体样品的可选附件Ø 速拆控制杆配合自动参数设置让您在几秒钟内就能实现附件的拆卸和更换与标准附件套件一起提供，套件中包括样品定位器，标准样和样品处理工具。近红外反射附件 (NIRA) 右手安装型只适用于Spectrum 400L125401N近红外反射附件 (NIRA) 安装样品仓的用于Spectrum 400/100N/One NTS L1240050近红外反射附件 (NIRA)右手安装的只适用于Spectrum 100L125403LNIRA的附件和耗材RHS NIRA用固体旋转样品支架 1 L1250042固体旋转样品架适用于样品仓NIRA 1 L1240053NIRA穿透反射液体采样附件启动器套件1 L1185153备用玻璃样品盘适用于NIRA固体旋转样品架 5 L1181257高性能样品盘适用于NIRA固体旋转样品架1 L1185305一次性4mL带盖玻璃小瓶15mm x 45mm 100 L9001029NIRA Spectralon校准 1 L1245028NIR远程固体采样系统专为远程固体或粉末采样设计，工作范围可达10m。它包含手柄用户界面和液晶显示器，让用户能够持续地进行远程操作，从而提高工作效率。该设计不仅实现了快速清洁，而且即使在危险环境中也不会导致触电事故。适用于Spectrum 400和Spectrum 100N.特色和优势Ø 包含高性能触发光纤探针，便于固体或粉末采样Ø Spectrum软件光纤采样接口自动识别Ø 手柄用户界面和液晶显示屏实现持续远程操作Ø 危险环境中也不会导致触电事故。无电气接口Ø 光学扫描场深更大，改善了对较厚玻璃容器内的样品的测量效果Ø 光斑尺寸更大(-6mm)，改善了对颗粒粗杂质多的样品的测量效果Ø 配备保护盖和探针保护套，背景采集符合Spectralon标准Ø 模块化，可拓展，智能化&mdash 与其他Spectrum 400和100高级采样选项相同。附件更换简单，完全的即插即用操作Ø 探针尖端装有蓝宝石窗片，坚固耐用，易清洁远程固体采样系统2m L1250030远程固体采样系统3m L1250037远程固体采样系统5m L1250031远程固体采样系统10m L1250032

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在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) NP-O10UnmountedTipless, 4 Cantilevers, 0.06-0.58N/m, Au Reflective Coating探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。