多功能光电化学测试系统

光电化学电池测量系统功能 测试种类：光电化学类太阳能电池 光谱范围：300-1100nm 白光光源：模拟太阳光光源ABA级 光功率：400uW/cm2 可测量参数：电池的光谱响应度、量子效率、短路电流、I/V曲线、I/T曲线、V/T曲线测试、光功率测试、支持多种通用的电化学测量方法，如CV等 可测样品尺寸：50mmX50mm 可测样品模式：直流测试法、直流偏置光测试法 光电化学电池测量系统特点 使用模拟太阳光光源 光电化学太阳能电池专用配置方案 双光源任选，波长连续可调单色光源+全光谱太阳光模拟 三电极测试方法 一体式架构，操作更简单方便 一键式测量方法 U盘式电化学工作站： 电位范围：±5V 电位分辨率：10uV 电位零误差：100uV 全电位范围控制误差： 1mV 电流测量精度：0.1% 电流分辨率：100pA 电流范围：±50uA~±5mA 电化学工作站可扩展微电流功能，分辨率：1pA 大电流功能：1A/12V

电化学由于其在电池、燃料电池、腐蚀、合成和催化等各个领域的广泛应用而受到越来越多的关注。在电化学系统中，会发生各种复杂的过程，包括物质的吸附、解吸和扩散，表面重建，电荷转移，表面和物种之间化学键的形成或断裂以及发生在电化学界面化学反应等。因此，电化学界面的结构决定了整个电化学系统的电化学响应以及材料的性质和性能电化学的研究主要涉及电化学界面的结构、性质和性能之间的内在关系，以促进电化学设备的合理设计。电化学表征技术主要基于电信号的测量，包括电流和电势，这些方法可以根据电化学理论分析电信号来获得丰富的信息，包括界面性质的热力学和动力学信息、表面上反应物的数量以及电极的反应性。然而，由于反应物的化学指纹信息缺乏，很难在没有经验的情况下确定化学结构。另外，从整个电极表面的响应测量得到的电信号，是针对整个电极的，对于非均匀电极的结构和性能无法进行研究。因此，需要开发具有丰富化学信息和高空间分辨率（低至几个纳米）的原位表征方法，以全面了解电化学界面和过程。 电化学-针尖增强拉曼光谱（ EC-TERS）是一种具有纳米尺度空间分辨率分子指纹信息的技术，可以用于实现上述目标。 EC-TERS联用优势● 分子水平的一致性：拉曼光谱可以提供分子水平的信息，可以检测到电化学界面上的单个分子。这使得我们能够研究电化学反应的瞬间变化。● 高空间分辨率：通过使用针尖增强拉曼光谱（TERS）技术，可以在纳米探针上实现高空间分辨率。这使得我们能够研究界面的局部结构。● 可以在液体环境下工作：拉曼光谱可以在液体环境下进行测量，这对于研究电化学修饰过程非常重要。传统的电化学表征技术通常需要在干燥的条件下进行测量，而拉曼光谱可以在多孔溶液中直接进行测量。● 化学指纹信息：拉曼光谱可以提供化学指纹信息，通过分析拉曼光谱的峰位和强度，可以研究反应的中间体、吸附物和反应产物。● 非破坏性测量：拉曼光谱是一种非破坏性测量技术，不需要对样品进行特殊处理或标记。这使得我们能够对电化学界面进行实时监测。EC-TERS方案电化学-针尖增强拉曼光谱测试系统系统采用倒置显微镜结构，底部激发，底部拉曼信号收集。兼容常规拉曼测试、常规电化学拉曼测试，针尖增强拉曼测试。电化学池位于XY压电位移台上，可以进行纳米级的步进移动； 探针链接XYZ压电位移台，可进行三维精细调节；从而实现探针-激光-样品三位一体。 电化学-针尖增强拉曼光谱测试系统技术参数 光谱分辨率2cm-1激发光源532nm激光器，100mW633nm激光器，15mW光谱仪焦距320mm，配置3块光栅探测器≥2000*256像素，300-1000nm响应，峰值效率高于90%，芯片深度制冷到-60℃常规拉曼空间分辨率1um@XY方向

作为清洁、环保、源源不断的一种能源，太阳能的综合利用越来越受到重视。在科学研究方面，已衍生出光化学反应、光催化反应、光降解、光合成、光敏纳米材料等多种纯粹光化学的研究方向。由于在光照状态下，通常都会产生光电子，从而引出与电化学联合应用的各种研究方向，如：PEC光致电量子点QDs、太阳能电池、上转换光致发光、PEC光电化学等。 多功能LED光源系统由PalmSens4便携式电化学分析仪和多功能LED光源系统构成，可实现多种光电化学测量，同时光源和电化学测试两者同步控制。也可以通过蓝牙方式控制，把整体放入暗箱、手套箱等各种密封的环境中，确保不受外部环境的干扰。应用举例：光照ON-OFF测量，脉冲光照下的I ~ t曲线不同光源照射下，单色光光照下的I ~ V (J ~ V)曲线。不同光源照射下，交流阻抗EIS的测试光电化学阴极保护应用--摘自某次学术会议的交流海报光致电量子点应用：样品中含有两种分子，分别对590nm和365nm有响应：--摘自Anal. Chem. 2016,88,8698-8705综合近几年国内相关会议的资料，我公司的PS-PEC008光源系统有如下的特点：全部采用高光率的大功率LED单色光源。常规的氙灯或卤素灯优势在于混合白光的高光度，但经单色仪或滤光片后，光强大大减弱。而本系统则提供最大可达200mW/cm2的发光强度！远超于氙灯或卤素灯的单色光源。LED光源是纯粹的冷光源，具有超长寿命，高稳定性，没有长时间运行后光强减弱或光谱偏移等问题。发光没热量，尤其适用于低能量的研究应用，避免了激光照射后给样品带来的加热效应。采用电子元件的瞬间切断技术，避免了电子快门所带来的边缘效应及开关噪声等烦恼，可满足实验中高达1ms的取样间隔要求。本多功能LED光源系统还可通过配套的光纤，从而可把光源引入到其他大型设备的测试腔中，从而与大型设备合作，进行原位测量。LED光源系统特点：全部采用进口大功率LED单株集成阵列，提供更高的单波长光照强度。提供多达25种单波长LED光源，波长范围从365nm至980nm，包括了近紫外、可见光和近红外区范围，用户可依据需要进行选购；多个照射光源的切换极其方便，不需关停设备即可切换LED灯。光照与闭光之间的切换，采用了瞬间切断的技术，避免了遮光轮片余辉的影响；配套多款信号控制盒，可使用电脑，安卓手机，仪器控制等多种控制模式，用户可根据不同的实际使用需要去选用。主要参数：型号：PS-PEC008光源个数：每个光源盒含8个不同波长的10WLED灯，其中波长在PSTrace电化学软件中设定。光强调节需通过调整测试样品和光源间的距离。各种单色光光源365 ~ 370nm370 ~ 380nm375 ~ 385nm385 ~ 395nm390 ~ 400nm395 ~ 405nm410 ~ 420nm415 ~ 425nm425 ~ 435nm430 ~ 440nm445 ~ 455nm455 ~ 465nm465 ~ 475nm485 ~ 495nm495 ~ 505nm515 ~ 525nm550 ~ 560nm585 ~ 595nm590 ~ 600nm605 ~ 615nm625 ~ 635nm660nm740nm808nm850nm940nm970~980nm3200K白光4500K白光5000K白光5500K 白光6500K 白光光源光窗直径：12mm；LED灯电功率：10W；LED光输出功率：5.4W；LED使用寿命：大于20000小时。

Modulab XM PhotoEchem光电测试系统 是一套可表征染料敏化电池的整体集成式光学测试系统。而且该体系可用于可见光谱-光电化学领域的研究，例如，氧化铁催化光解水等。Solartron Analytical作为超过二十年的行业领导者，认识到许多仪器使用者对仪器技术本身并不很熟悉，因此推出此产品的核心理念是对海量数据的分析实现“一键式”操作，研发并提供综合成套的技术解决方案。而对于有经验的使用者，ModuLab提供了功能强大的实验步骤设置软件，用户可自行建立和发展最适合的新的实验方案。该系统具有以下特点： 频域和时域的测试技术，包括：IMPS，IMVS，阻抗，光电压衰减，电量抽取和I-V曲线和IPCE测量 对有效扩散系数的计算和电子寿命的“自动”数据分析的“一键式”操作，适合于对频域测试技术比较陌生的使用者。 带有NIST(美国国家标准与技术研究院测试标准)可追溯校准文件的光源，并且日常可以对其进行校验检查 长期稳定的卓越热效管理的光源 提供一系列的高亮度单色LED光源 软件包含全套电化学测试技术，包括：循环伏安(C-V)，恒电压-电流测试，系列的阻抗测试方法以及交流伏安法 辅助分压功能可用于同时检测阳极和阴极的阻抗和电压 Solartron Analytical的频率响应分析（FRA）技术，包含单波，频率扫描和多波技术 完美兼容ModuLab 和 ModuLab XM全部功能不仅是一个光电化学测试体系Modulab XM PhotoEchem集合了功能强大的ModuLab频率响应分析（FRA）和恒电位仪技术。现有Modulab 系统通过配备选项卡和光学工作台即可升级为Modulab XM PhotoEchem。丰富的实验程序包： 为光电化学测试系统专门研发设计的专用软件套装，包括： 强度调制光电流谱（IMPS） 强度调制光电压谱（IMVS） 阻抗谱 I-V曲线 电量抽取 短路 暗室电量抽取 光电压衰减 光电转化效率（IPCE）控制光学平台进行以上测试技术可以使研究人员开发出更多光电研究的测试技术。 如需了解更多关于ModuLab XM恒电位仪及频率响应分析（FRA）技术，请参阅ModuLab样本。

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PECK205多功能光电化学池，将各电极分别插入光电化学池的相应位置，从加液口加入电解液，连接各电极至电化学工作站，调用电化学工作站的有关测试功能，即可开展相应的研究或测试工作。 PECK205多功能光电化学池安装图1—四氟密封塞。使用导电玻璃做工作电极时，要使用四氟密封塞堵住池体后的电极孔；2—O型密封圈。请注意用于工作电极和排液口的O型密封圈尺寸是不同的，排液口的O型密封圈小一些。3—四氟池体；4—四氟基座；5—顶紧螺丝。把电解池插在基座4上，左右移动调节好位置后，拧紧此螺丝使电解池固定；6—四氟密封圈，平的一面朝里，有凸起的一面朝外放进窗口里，再放石英窗口片；7—石英窗片；8—石英窗口密封螺丝。依次将6和7放进窗口，用8拧紧密封；9—导电玻璃顶紧螺丝。作用是使导电玻璃固定并且把导电信号传导到接线柱A上；10和11—参比电极和对电极，参比电极和对电极的位置可互换；12—导电玻璃。尺寸为10×45×1mm；A、B、C为三电极接丝柱，当使用导电玻璃为工作电极时，A只能做工作电极接线柱，使用其它电极做工作电极时三个接线柱用户可自定义；13—加液口；14—工作电极四氟密封螺丝。当使用玻碳，铂电极等做工作电极时，如图依次在电极上套上密封螺丝和O型圈，将14拧在池体上，调节好电极进入池体的位置，拧紧即可。15－工作电极；16－排液口四氟密封塞。

随着全球变暖问题的持续升温，利用太阳光生产绿色清洁能源的技术在不断发展。对太阳光利用的效率是评价材料优劣的重要参数之一，尤其是对全光谱不同波长光的利用效率需要通过单色光光电转化效率来评价。泊菲莱科技推出的IPCE 1000光电化学测试系统是一套可精准测定材料单色光光电转换效率的系统，搭配高灵敏度、强抗干扰能力的锁相放大系统以及斩光系统，可对单色光光强以及光电流进行精准、稳定测量。应用领域 ▲特别适用●较为适用 ○可以使用▲ 光电化学反应过程中的光电转化效率测量▲ 电化学反应的I-V、I-t和V-t测试▲ 光对电极材料电化学行为影响的研究▲ 光电协同催化反应研究TiO2样品IPCE测试曲线样品:TiO2（二氧化钛） 工作电极：TiO2对电极：Pt电极参比电极：Ag/AgCl电极电解液：0.1 M Na2SO4溶液偏压：0.3 V产品特点灵敏度高，抗干扰能力强 IPCE 1000光电化学测试系统采用美国Standford SR830锁相放大器，对弱电流进行放大，可测量1 pA~1 mA范围内光电流；采用Standford SR540斩波器，在4~3.7 kHz宽频率范围可调，利用光电流信号与光信号的时间相关性，结合锁相放大器的滤波功能，可过滤环境光以及电流扰动的干扰，进一步提高电流检测的灵敏度。双光栅结构设计，极优的单色光准确性IPCE 1000光电化学测试系统的单色仪采用双光栅结构设计，前后狭缝0.01~3 mm可调，可确保输出单色光准确度为±0.2 nm，单色光半波带宽≤10 nm，输出光单色性显著优于光源+滤光片组合方式。波长连续可调，可测量全光谱光电转换效率IPCE 1000光电化学测试系统的单色仪波长200~1000 nm（双光栅：1200 L/mm & 600 L/mm）连续可调，最小调节波长为1 nm。与光源+滤光片组合方式相比，可以测量氙灯光源光谱范围内任意波长下的光电转换效率，尤其适用于通过改性拓宽光谱吸收范围的催化材料IPCE的测量。紫外增强设计，确保紫外响应催化剂测量的准确性IPCE 1000光电化学测试系统的光源进行紫外光增强处理，输出光强提升近20倍，可显著提高紫外区输出光谱；同时光强检测器也进行升级，将紫外区光谱响应度提升近两个数量级，确保紫外响应型催化剂测量的准确性，尤其适用于光电转换效率较低的紫外响应催化剂的测量。多种测量模式，满足不同测试需求IPCE 1000光电化学测试系统样品测试通过电化学工作站进行测试，测量模式多样化，可测定不同波长的I-V曲线，确定催化剂的光电响应偏压区间，也可测试不同偏压下的光电转换效率，还可直接用电化学工作站测定样品的LSV，I-t曲线等。开放式测试平台，适应多种实验条件IPCE 1000光电化学测试系统检测平台采用开放式模块化设计，有以下几种测试场景： 1. 可以选用标配三电极反应器进行测试光电化学IPCE测试； 2. 可选用Labsolar-6A微量气体检测系统搭配三电极反应器或双室反应器，实现IPCE和产物检测等数据的同步测量；3. 可根据自身实验需求，设计定制反应器以适配外加磁场或热场等能量场，实现多场协同下催化剂IPCE的原位测量；4. 设计定制反应器与在线红外和质谱等分析检测设备联用，实现微量产物的快速检测。本文素材来源

可控强度调制光电化学谱仪 IMPS / IMVS系统可以完成 IMPS和IMVS等多种光电化学测试功能。可控强度调制光电化学谱仪 IMPS / IMVS 采用实时闭环快速控制技术来调节和调制光强, 从而保证了光源的绝对稳定性和可靠性。 在仪器匹配的光源内装有光强传感器, 工作时系统自动比较并计算测得的实际光强与设定值的偏差并加以快速校正,这样就消除了由于光源器件的非线性、老化、以及温度漂移产生的光强输出误差。仪器还可以直接输入单位为（W/cm2）的具体数值校正光源，非常方便。札纳CIMPS光电化学系列产品的型号：CIMPS-ProZennium Pro 电化学工作站 PP212 外置恒电位/恒电流仪，用于光源强度调制和驱动 EPC42控制模块 光具座，传感器，光感放大反馈系统 CIMPS及Thales软件CIMPS-X Zennium X 电化学工作站 PP212 外置恒电位/恒电流仪，用于光源强度调制和驱动 EPC42控制模块 光具座，传感器，光感放大反馈系统 CIMPS及Thales软件CIMPS可以配置以下各种配件选件：CIMPS-abs、CIMPS-QE/IPCE、CIMPS-dtr、CIMPS-emit、CIMPS-fit，光电化学池、365nm-1550nm 智能光源 可选光源：Zahner的光电化学系统使用独特的智能LED单色光源，每一个光源都有可溯源的NIST标准的标定数据。系统自动识别每一个光源的标识芯片，标识芯片中包含光源的所有信息。光源单元具有自动过载保护功能。 CIMPS应用方法：使用Zahner 的CIMPS系统测量光电输运函数与执行电化学阻抗或循环伏安法实验一样方便。Zahner公司的Thales软件已经内置了多种标准的光电测试技术。模拟与拟合软件SIM允许用户自定义各种不同的等效电路元件以及电子输运函数，极大的降低了光电输运函数中频率依赖性关系分析的难度。CIMPS软件能够实现以下光电化学实验：静态光电压曲线/静态光电流曲线IMPS/IMVS动态光致电压效率，动态光致电流效率 填充因子(FF)，开路电压（Voc)），短路电流(Isc)，功率(Pmax)，峰值转化效率(PCE)可编辑的时域谱测量，瞬态光强度下电压，电流时间谱斩光伏安法-CLV电荷抽取等方法-Charge extraction常规电化学测量（EIS，IV等）

CEL-PECX2000氙灯光电化学测试系统，可以提供强光下的单色光输出，实现自动更换滤光片、调整光斑大小、电磁快门、标配多功能光电池、样品池水平自动调节等功能，采用PLC工控，触屏软件统一反控控制调节，实现光电化学的测试分析。主要应用于光电催化PEC、电化学分析、染料敏化电池、催化剂及材料光电性能评价分析等领域。 CEL-PECX2000氙灯光电化学测试系统可应用于各种光电化学反应的研究，如研究光激发分子或离子在激发态时的氧化还原反应现象、规律及应用；研究光直接影响电极过程的电化学、光能与电能和化学能的转换测量；光电化学电池的光电转化测量；光电化学合成和富集等。 产品优势1)采用300W高稳定氙灯光源，实现全波段输出，解决了氙灯的强热量问题；2) 配置滤光片轮，实现滤光片自动更换；3)电化学池可实现三维调节，水平自动调节，4)ITO电极、玻碳电极实现即插即用；5)全系统采用PLC控制；6)整个光路全封闭无任何外界干扰；7) 系统温度和反应器温度实时监控。 部分波长(未加透镜)nm365405420435450500550600670730850参考光功率密度mw/cm280467373373347387360347427400293 CEL-PECX2000氙灯光电化学测试系统技术参数规格参数光源300W氙灯光源（CEL-PF300-T8）光路光路采用全封闭设计，样品室与光路一体成型，无任何漏光点。滤光片20个可选波长，自由变换。标配自动更换滤光片，（φ25.4）10片常用滤光片：365nm、405nm、420nm、450nm、475nm、500nm、520nm、550nm、600nm、650nm标配手动更换滤光片，（M62）10片特种滤光片：334nm、350nm、380nm、435nm、578nm、630nm、670nm、700nm、730nm、765nm单色光光强连续可调，可见区单色光输出能量300mw/cm2，出光口25mm，可调光阑调节1-20mm温度采用双点控温，系统温度和反应池温度，实时监控屏幕显示快门自动快门Shutter用于控制照射时间（0.1ms）样品池ITO电极、玻碳电极实现即插即用，标配辅助电极样品台三维调节，水平自动调节240mm配件光学水平底板、耦合接头、汇聚透镜、封闭光路套筒、方形光斑出口屏幕7寸触摸屏控制，内部采用PLC控制选配美国PINE、美国艾德茂、德国札纳、CHI电化学工作站；CEL-FZ-A/NP2000光功率计 P4000 光纤光谱仪；PECK125、PECK45S可控温光电池 标配多功能光电化学池

MEC-16型多功能微机电化学分析仪是由电脑控制的多功能电化学分析系统。在视窗操作平台下，可完成几十种电化学研究与分析方法。仪器可配静汞电极、悬汞电极及各类固体电极。技术指标： 恒电位/恒电流 电位范围：-10.0～+10.0 V 扫描速度：0.001～1000 V/s 电位分辨率：0.0001 V 电流范围：-0.25～+0.25 A 电流检测下限：50pA 电流灵敏度：1× 10-11～0.1A/V 主要方法：循环伏安法；线性扫描伏安(极谱)法；线性扫描循环伏安法；线性扫描溶出伏安法；阶梯扫描伏安(极谱)法；阶梯扫描循环伏安法；阶梯扫描溶出伏安法；Tafel曲线；差示脉冲伏安(极谱)法；差示脉冲循环伏安法；差示脉冲溶出伏安法；常规脉冲伏安(极谱)法；常规脉冲循环伏安法；常规脉冲溶出伏安法；差示常规脉冲伏安(极谱)法；差示常规脉冲循环伏安法；差示常规脉冲溶出伏安法；方波伏安(极谱)法；方波循环伏安法；方波溶出伏安法；多电位阶跃功能；计时电位分析法；线性电流计时电位分析法；计时电流法；电流--时间曲线；计时库仑法；电位溶出分析；开路电位&mdash 时间曲线；控制电流电解库仑法；四脉冲恒电流法等。主要特点： 窗口管理 界面友好 中文提示 一目了然 多种方法 任选随用 功能强大 方便实用广泛应用于化工、冶金、地质、环保、教学、科研、大专院校、卫生等部门。

仪器简介： MEC-16B型多功能微机电化学分析仪是由电脑控制的多功能电化学分析系统。在视窗操作平台下，可完成几十种电化学研究与分析方法。仪器可配静汞电极、悬汞电极及各类固体电极。技术参数：技术指标： 恒电位/恒电流 电位范围：-10.0V～+10.0V 电流范围：-500mA～+500mA 槽压：± 30V 电位分辨率：0.1mV 扫描速度：0.001V/s～1000V/s 电流检测下限：&le 50pA 方波频率：1～250Hz 方波幅度：0.001～0.5V 电解时间：0.05～200000s 脉冲振幅：0.001～0.5V 脉冲宽度：0.004～10s 主要方法：循环伏安法；线性扫描伏安(极谱)法；线性扫描循环伏安法；线性扫描溶出伏安法；阶梯扫描伏安(极谱)法；阶梯扫描循环伏安法；阶梯扫描溶出伏安法；Tafel曲线；差示脉冲伏安(极谱)法；差示脉冲循环伏安法；差示脉冲溶出伏安法；常规脉冲伏安(极谱)法；常规脉冲循环伏安法；常规脉冲溶出伏安法；差示常规脉冲伏安(极谱)法；差示常规脉冲循环伏安法；差示常规脉冲溶出伏安法；方波伏安(极谱)法；方波循环伏安法；方波溶出伏安法；多电位阶跃功能；计时电位分析法；线性电流计时电位分析法；计时电流法；电流--时间曲线；计时库仑法；电位溶出分析；开路电位&mdash 时间曲线；控制电流电解库仑法；四脉冲恒电流法等。主要特点：特点： 窗口管理 界面友好 中文提示 一目了然 多种方法 任选随用 功能强大 方便实用广泛应用于化工、冶金、地质、环保、教学、科研、大专院校、卫生等部门。

Modulab XM DSSC 是一套可表征染料敏化电池的整体集成式光学测试系统。而且该体系可用于可见光谱-光电化学领域的研究，例如，氧化铁催化光解水等。Solartron Analytical作为超过二十年的行业领导者，认识到许多仪器使用者对仪器技术本身并不很熟悉，因此推出此产品的核心理念是对海量数据的分析实现“一键式”操作，研发并提供综合成套的技术解决方案。而对于有经验的使用者，ModuLab提供了功能强大的实验步骤设置软件，用户可自行建立和发展最适合的新的实验方案。该系统具有以下特点： 频域和时域的测试技术，包括：IMPS，IMVS，阻抗，光电压衰减，电量抽取和I-V曲线 对有效扩散系数的计算和电子寿命的“自动”数据分析的“一键式”操作，适合于对频域测试技术比较陌生的使用者。 带有NIST(美国国家标准与技术研究院测试标准)可追溯校准文件的光源，并且日常可以对其进行校验检查 长期稳定的卓越热效管理的光源 提供一系列的高亮度单色LED光源 软件包含全套电化学测试技术，包括：循环伏安(C-V)，恒电压-电流测试，系列的阻抗测试方法以及交流伏安法 辅助分压功能可用于同时检测阳极和阴极的阻抗和电压 Solartron Analytical的频率响应分析（FRA）技术，包含单波，频率扫描和多波技术 完美兼容ModuLab 和 ModuLab XM全部功能不仅是一个光电化学测试体系ModuLab XM DSSC集合了功能强大的ModuLab频率响应分析（FRA）和恒电位仪技术。现有Modulab 系统通过配备选项卡和光学工作台即可升级为ModuLab XM DSSC。丰富的电化学测试软件包括： 循环伏安（阶梯和线性扫描） 电位阶跃法 常规和差分脉冲 电位控制/电流控制阻抗（单波或多波/快速傅立叶转换分析） 交流伏安控制光学平台进行以上测试技术可以使研究人员开发出更多DSSC的测试技术。 如需了解更多关于ModuLab XM恒电位仪及频率响应分析（FRA）技术，请参阅ModuLab样本。

Modulab XM DSSC 是一套可表征染料敏化电池的整体集成式光学测试系统。而且该体系可用于可见光谱-光电化学领域的研究，例如，氧化铁催化光解水等。Solartron Analytical作为超过二十年的行业领导者，认识到许多仪器使用者对仪器技术本身并不很熟悉，因此推出此产品的核心理念是对海量数据的分析实现“一键式”操作，研发并提供综合成套的技术解决方案。而对于有经验的使用者，ModuLab提供了功能强大的实验步骤设置软件，用户可自行建立和发展最适合的新的实验方案。该系统具有以下特点： 频域和时域的测试技术，包括：IMPS，IMVS，阻抗，光电压衰减，电量抽取和I-V曲线 对有效扩散系数的计算和电子寿命的“自动”数据分析的“一键式”操作，适合于对频域测试技术比较陌生的使用者。 带有NIST(美国国家标准与技术研究院测试标准)可追溯校准文件的光源，并且日常可以对其进行校验检查 长期稳定的卓越热效管理的光源 提供一系列的高亮度单色LED光源 软件包含全套电化学测试技术，包括：循环伏安(C-V)，恒电压-电流测试，系列的阻抗测试方法以及交流伏安法 辅助分压功能可用于同时检测阳极和阴极的阻抗和电压 Solartron Analytical的频率响应分析（FRA）技术，包含单波，频率扫描和多波技术 完美兼容ModuLab 和 ModuLab XM全部功能不仅是一个光电化学测试体系ModuLab XM DSSC集合了功能强大的ModuLab频率响应分析（FRA）和恒电位仪技术。现有Modulab 系统通过配备选项卡和光学工作台即可升级为ModuLab XM DSSC。丰富的电化学测试软件包括： 循环伏安（阶梯和线性扫描） 电位阶跃法 常规和差分脉冲 电位控制/电流控制阻抗（单波或多波/快速傅立叶转换分析） 交流伏安控制光学平台进行以上测试技术可以使研究人员开发出更多DSSC的测试技术。 如需了解更多关于ModuLab XM恒电位仪及频率响应分析（FRA）技术，请参阅ModuLab样本。

仪器简介： VersaScan微区扫描电化学工作站是一个建立在电化学扫描探针的设计基础上的，进行超高测量分辨率及空间分辨率的非接触式微区形貌及电化学微区测试系统。它是提供给电化学及材料测试以极高空间分辨率的一个测试平台。每个VersaSCAN都具有高分辨率，长工作距离的闭环定位系统并安装于抗震光学平台上。不同的辅助选件都安装于定位系统上，辅助选件包括，如电位计，压电振动单元，或者激光传感器，为不同扫描探针试验，定位系统提供不同的功能。VersaSTAT恒电位仪和Signal Recovery 7230锁相放大器和定位系统整合在一起，由以太网来控制，保证小信号的精确测量。它 是一个模块化配置的系统，可以实现如下现今所有微区扫描探针电化学技术以及激光非接触式微区形貌测试：Scanning Electrochemical Microscopy (SECM) 扫描电化学显微镜Scanning Vibrating Electrode Technique (SVET) 扫描振动电极测试Scanning Kelvin Probe (SKP) 扫描开尔文探针测试Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy (LEIS) 微区电化学阻抗测试Scanning Droplet Cell (SDC) 扫描电解液微滴测试Non-Contact Surface Profiling (OSP) 非触式光学微区形貌测试以上每项技术使用不同的测量探针，且安装位置与样品非常接近，但是不接触到样品。随着探针测试的进行，改变探针的空间位置。然后将所记录的数据对探针位置作图，针对不同技术，该图可以呈现微区电化学电流，阻抗，相对功函或者是表面形貌图。应用： 不锈钢和铝等材料的点蚀检测、成长过程在线监测等； 有机和金属涂层缺陷和完整性研究； 金属/有机涂层界面的腐蚀的机制与检测； 有机涂层的剥离和脱落机制； 钝化处理的不锈钢焊接热影响区的电位分布；  干湿循环的碳钢和不锈钢的阴极区和阳极区的分布行为； 薄液层下氧还原反应和金属的腐蚀过程的特征； 模拟不同大气环境的腐蚀电位在线监测； 铝合金等材料在大气环境中局部腐蚀敏感性； 铝合金的丝状腐蚀(filiform corrosion)； 硅烷L-B膜修饰金属表面的结构和稳定性； 锌-铁偶合金属界面区的电位分布特征； 磷化处理锌表面的碳微粒污染检测； 检测微小金属表面的应力分布和应力腐蚀开裂； 检测金属和半导体材料微小区域的表面清洁度，缺陷，损伤和均匀程度； 研究和评价气相缓蚀剂性能； 电化学传感器；

仪器简介：高性能的V3电化学工作站将为您的科研带来极大的方便。 1. ± 650mA/± 10V的极化范围，支持多数电化学应用：腐蚀、能源、传感器、生物电化学。 2. 2A电流输出可选，最大到20A，支持化学电源、燃料电池、电镀。 3. 良好的电流测试精度，用于腐蚀、涂层评价以及微电极分析。 4. 内建FRA频响分析仪（可选），支持电化学阻抗测试，频率范围10&mu Hz－1M Hz技术参数：系统技术参数 电极接线 二、三、四电极（并有接地线） 数据采集 数据采集 3x16bit (500k) 时间分辨率 10us 自动噪声滤波 可用 功率放大器 电压范围 ± 12V 电流输出 650mA(标配)、2A（内置选配） 带宽 1MHz 稳定性 高速/高稳定性（可根据具体试验设置以提高精度） 回转速度 &ge 8V/&mu s 升压时间 (-1.0V to +1.0V) 350ns 电位控制（电位模式） 应用电位 ± 10V 电位分辨率 300nV（± 10mV）、300&mu V（± 10V） 电位精度 ± 0.2% 最大扫速 5000V/s 最大扫速精度 300&mu V（± 10V） 电流控制 应用电流 650mA&mdash 200nA；2A－200nA（可选） 电流分辨率 1/32000全程 电流精度 ± 0.2% 最大电流范围/分辨率 ± 650mA/60uA 最小电流范围/分辨率 ± 200nA/6pA 差分静电计 最大输入范围 ± 10V 带宽 ± 10MHz 输入阻抗 1012&Omega 漏电流 5pA 共态抑制比（CMRR） 60dB（100kHz） 电位测试 电压量程 ± 10V 电位分辨率 6uV 电位精度 ± 0.2% 电流测试 电流量程 650mA&mdash 200nA；2A－200nA（可选） 电流分辨率 120fA 电流精度 ± 0.2% 带宽 1MHz 带宽噪声滤波 有 IR补偿 正反馈 有 动态补偿 有 阻抗模块 模式 电位/电流 频率范围 10uHz～1MHz 最小交流电压 0.1mV 界面 数字输入/输出 5TTL/2TTL 辅助电压输入 1－10V，阻抗10k&Omega , 频率1kHz, 200kHz，BNC接口 电压输出 1－10V ，阻抗1k&Omega ，BNC接口 电脑/软件 连接方式 USB模式（即插即用） 操作系统 Win XP Win2000 电脑配置 P4（1GHz，512MB） 软件 V3－Stadio 综述 电压范围 250V 体积（长X宽X高） 421X387X89mm 使用温度范围 10-50° C 湿度 80% 理想温度 25° C Dummy Cell 内建 CE 认证 通过主要特点：是一款由普林斯顿集40多年经验全新研发的满足多种用途的恒电位/恒电流仪。V3支持进行全面的电化学应用，包含腐蚀、能源、传感器、纳米技术及研究电化学；配备功能强大、应用方便的VersaStudio软件，使V3成为一款在现今市场上极具性价比的电化学工作站。 由 VersaSTAT 3 完成的电化学测试技术，可以广泛使用于腐蚀领域，包含线性极化曲线 Linear Polarization Resistance (LPR), 电化学阻抗谱Electrochemical Impedance Spectroscopy (EIS), 以及在不同极化水平下的电化学阻抗谱。 配合VersaStudio软件的选择，一系列的伏安法及腐蚀应用都可以实现，例如腐蚀中的多种分析技术，线性极化曲线LPR, 塔菲尔曲线Tafel等。伏安法中的单次及多次循环伏安，阶梯及脉冲伏安。电化学阻抗谱测试也可以选择添加。四种不同功能的 VersaStudio software造就四种VersaSTAT电化学综合测试系统: &bull VersaSTAT100 基本伏安技术 &bull VersaSTAT200 高级电化学测试技术 &bull VersaSTAT300 完整腐蚀测试技术 &bull VersaSTAT400 全功能电化学综合测试技术 完全的VersaStudio软件支持全系列VersaSTAT电化学工作站，包括大电流扩展和电流放大设备。各种系统综合性的软硬件完美结合，使VersaStudio可以致力于各个领域中的研究，并且通过不同的预算不断升级。

仪器简介：高性能的V3电化学工作站将为您的科研带来极大的方便。 1. ± 650mA/± 10V的极化范围，支持多数电化学应用：腐蚀、能源、传感器、生物电化学。 2. 2A电流输出可选，最大到20A，支持化学电源、燃料电池、电镀。 3. 良好的电流测试精度，用于腐蚀、涂层评价以及微电极分析。 4. 内建FRA频响分析仪（可选），支持电化学阻抗测试，频率范围10&mu Hz－1M Hz技术参数：系统技术参数 电极接线 二、三、四电极（并有接地线） 数据采集 数据采集 3x16bit (500k) 时间分辨率 10us 自动噪声滤波 可用 功率放大器 电压范围 ± 12V 电流输出 650mA(标配)、2A（内置选配） 带宽 1MHz 稳定性 高速/高稳定性（可根据具体试验设置以提高精度） 回转速度 &ge 8V/&mu s 升压时间 (-1.0V to +1.0V) 350ns 电位控制（电位模式） 应用电位 ± 10V 电位分辨率 300nV（± 10mV）、300&mu V（± 10V） 电位精度 ± 0.2% 最大扫速 5000V/s 最大扫速精度 300&mu V（± 10V） 电流控制 应用电流 650mA&mdash 200nA；2A－200nA（可选） 电流分辨率 1/32000全程 电流精度 ± 0.2% 最大电流范围/分辨率 ± 650mA/60uA 最小电流范围/分辨率 ± 200nA/6pA 差分静电计 最大输入范围 ± 10V 带宽 ± 10MHz 输入阻抗 1012&Omega 漏电流 5pA 共态抑制比（CMRR） 60dB（100kHz） 电位测试 电压量程 ± 10V 电位分辨率 6uV 电位精度 ± 0.2% 电流测试 电流量程 650mA&mdash 200nA；2A－200nA（可选） 电流分辨率 120fA 电流精度 ± 0.2% 带宽 1MHz 带宽噪声滤波 有 IR补偿 正反馈 有 动态补偿 有 阻抗模块 模式 电位/电流 频率范围 10uHz～1MHz 最小交流电压 0.1mV 界面 数字输入/输出 5TTL/2TTL 辅助电压输入 1－10V，阻抗10k&Omega , 频率1kHz, 200kHz，BNC接口 电压输出 1－10V ，阻抗1k&Omega ，BNC接口 电脑/软件 连接方式 USB模式（即插即用） 操作系统 Win XP Win2000 电脑配置 P4（1GHz，512MB） 软件 V3－Stadio 综述 电压范围 250V 体积（长X宽X高） 421X387X89mm 使用温度范围 10-50° C 湿度 80% 理想温度 25° C Dummy Cell 内建 CE 认证 通过主要特点：是一款由普林斯顿集40多年经验全新研发的满足多种用途的恒电位/恒电流仪。V3支持进行全面的电化学应用，包含腐蚀、能源、传感器、纳米技术及研究电化学；配备功能强大、应用方便的VersaStudio软件，使V3成为一款在现今市场上极具性价比的电化学工作站。 由 VersaSTAT 3 完成的电化学测试技术，可以广泛使用于腐蚀领域，包含线性极化曲线 Linear Polarization Resistance (LPR), 电化学阻抗谱Electrochemical Impedance Spectroscopy (EIS), 以及在不同极化水平下的电化学阻抗谱。 配合VersaStudio软件的选择，一系列的伏安法及腐蚀应用都可以实现，例如腐蚀中的多种分析技术，线性极化曲线LPR, 塔菲尔曲线Tafel等。伏安法中的单次及多次循环伏安，阶梯及脉冲伏安。电化学阻抗谱测试也可以选择添加。四种不同功能的 VersaStudio software造就四种VersaSTAT电化学综合测试系统: &bull VersaSTAT100 基本伏安技术 &bull VersaSTAT200 高级电化学测试技术 &bull VersaSTAT300 完整腐蚀测试技术 &bull VersaSTAT400 全功能电化学综合测试技术 完全的VersaStudio软件支持全系列VersaSTAT电化学工作站，包括大电流扩展和电流放大设备。各种系统综合性的软硬件完美结合，使VersaStudio可以致力于各个领域中的研究，并且通过不同的预算不断升级。

仪器简介：*VersaSTAT(V3 和MC两个系列)是一款由PAR集40多年经验全新研发的恒电位/恒电流仪。MC和V3支持进行全面的电化学技术测试；配备功能强大、应用方便的电化学软件，是一款在现今市场上极具性价比的电化学工作站。*应用：腐蚀研究全球每年由于腐蚀从而造成亿万美元的损失，占发达国家的GDP 5％左右。腐蚀已经严重影响到我们的生活，危害到人类的生活安危。盐雾腐蚀测试一直被广泛应用于腐蚀研究。盐雾腐蚀测试实验通常需要持续几个月的时间才能得到结果。然而通过电化学仪器，采用动态电位扫描或动态电流扫描技术可以在短时间内得到相类似的结果。MC和V3电化学工作站支持电化学测试技术中的腐蚀应用。1)线性极化电阻和塔菲尔分析（腐蚀电流，极化电阻Rp，腐蚀速度等参数）2)电化学阻抗（快速，无损测试）3)电化学阻抗各种极化，通过电化学阻抗信息探讨腐蚀方式，拟合等效电路。化学电源、燃料电池、超级电容器研究V3电化学工作站可以用来进行小型化学电源、燃料电池、超级电容器的研究、参数分析。1)充电/放电等循环充放电技术2)高速GSM/CDMA电池脉冲放电研究3)电化学阻抗广泛应用于电池特征参数的研究4)可选内建2A大电流装置可以测试小电源，也可选配更大电流扩展器测试大电源。传感器研究MC和V3由于优异的电流测试精度，可以用于描述电位放大器、电流放大器和生物传感器。生物电化学研究：直流腐蚀分析技术通常用于假性等材料的腐蚀行为研究。新合金材料和填充材料技术的不断进步和发展，但是腐蚀依然存在，并造成破坏，MC和V3可以通过ASTMFR129标准，采用动电位极化测试广泛应用于腐蚀研究。常规测试与教学研究MC和V3工作站只需极低的耗材、简单的使用。强大的电化学测试技术运用于电化学研究和基础教学实验演示。MC和V3软件功能强大，可以进行复杂实验条件设定。软件方便简单，便于新手掌握。而且您还可以PAR得到全方位的技术支持、帮助，使得MC和V3工作站成为您教学设备的首选电化学仪器。Studio软件完全的Studio软件支持全系列电化学工作站，包括大电流扩展和电流放大设备。各种系统综合性的软硬件完美结合，使Studio可以致力于各个领域中的研究，并且通过不同的预算不断升级；技术参数：系统技术参数:电极接线 二、三、四电极（并有接地线）数据采集 3x16bit (500k)时间分辨率 10us 自动噪声滤波 可用功率放大器电压范围 ± 12V电流输出 650mA(标配)、2A（内置选配）功放带宽 1MHz稳定性 高速/高稳定性（可根据具体试验设置以提高精度）回转速度 ≥ 8V/μs升压时间 (-1.0V to +1.0V)350ns电位控制（电位模式）应用电位 ± 10V电位分辨率 300nV（±10mV）、300μV（±10V）电位精度 ±0.2%最大扫速 5000V/s最大扫速精度 300μV（± 10V）电流控制施加电流 650mA—200nA；2A－200nA（可选）电流分辨率 1/32000全量程电流精度 ±0.2%最大电流范围/分辨率 ±650mA/60uA最小电流范围/分辨率 ±200nA/6pA差分静电计最大输入范围 ±10V带宽 ±10MHz输入阻抗 10*12Ω漏电流 5pA共态抑制比（CMRR） 60dB（100kHz）电位测试电压量程 ±10V电位分辨率 6uV电位精度 ±0.2%电流测试电流量程 650mA—200nA；2A－200nA（可选）电流分辨率 120fA电流精度 ±0.2%带宽 1MHz带宽噪声滤波 有IR补偿正反馈 有动态补偿 有阻抗模块模式 电位/电流频率范围 10uHz～1MHz最小交流电压 0.1mV界面数字输入/输出 5TTL/2TTL辅助电压输入 1－10V，阻抗10kΩ, 频率1kHz, 200kHz，BNC接口电压输出 1－10V ，阻抗1kΩ，BNC接口通讯方式 USB模式（即插即用）主要特点：1、±650mA/±10V的极化范围， 支持多数电化学应用、腐蚀、传感器、生物电化学。2、2A电流输出可选，最大到20A， 支持化学电源、燃料电池、电镀。3、120fA的电流分辨率及良好的电流测试精度(±0.2%)， 用于腐蚀、涂层评价以及微电极分析。4、内建FRA频响分析仪（可选）， 支持电化学阻抗测试，频率范围10μHz－1M Hz

仪器简介：集50年电化学工作站软硬件研发及生产先进经验的普林斯顿应用研究，即将在2013年6月份正式上市PARSTAT&trade MC多通道电化学工作站。 每个PARSTAT MC主机箱可以配置多达8个独立的通道。每个通道的电化学工作站卡都标准提供多种强大功能。 8个通道可以同时同步地进行平行实验，既可以进行不同电化学池中不同实验设置的测试，又可以在同一电化学池的同一环境条件下，进行多个工作电极的测试。通道数可根据需求购买，并可以随时添加。任一一个通道的拆卸和安装都可以在其他通道测试过程中进行，完全不干扰正在进行的测试实验，并且用户可自行进行更换。 这种设计的优点在于用户可以根据预算定制需要的通道，在今后的使用中，不需要添加昂贵的费用，就可以增加工作通道，提高工作效率。 PARSTAT MC 主要特点:强大模块设计PMC-500模块：500mA~2μAPMC-1000模块：2 A ～ 4 nA (120 fA 分辨率)PMC-2000模块：+/-30V极化电位及槽压 10μHz~7MHz 交流阻抗频率扫描范围 1MS/s数据采集速率任何一个通道的安装和拆卸，完全无需打断其他通道的实验快速数据采集速度达 500 kS/sec，适用于快速实验采用功能强大的电化学数据采集和分析软件VersaStudio标准浮地功能，使同一化学池中多个样品的测试成为可能。

仪器简介：集50年电化学工作站软硬件研发及生产先进经验的普林斯顿应用研究，即将在2013年6月份正式上市PARSTAT&trade MC多通道电化学工作站。 每个PARSTAT MC主机箱可以配置多达8个独立的通道。每个通道的电化学工作站卡都标准提供多种强大功能。 8个通道可以同时同步地进行平行实验，既可以进行不同电化学池中不同实验设置的测试，又可以在同一电化学池的同一环境条件下，进行多个工作电极的测试。通道数可根据需求购买，并可以随时添加。任一一个通道的拆卸和安装都可以在其他通道测试过程中进行，完全不干扰正在进行的测试实验，并且用户可自行进行更换。 这种设计的优点在于用户可以根据预算定制需要的通道，在今后的使用中，不需要添加昂贵的费用，就可以增加工作通道，提高工作效率。 PARSTAT MC 主要特点:强大模块设计PMC-500模块：500mA~2μAPMC-1000模块：2 A ～ 4 nA (120 fA 分辨率)PMC-2000模块：+/-30V极化电位及槽压 10μHz~7MHz 交流阻抗频率扫描范围 1MS/s数据采集速率任何一个通道的安装和拆卸，完全无需打断其他通道的实验快速数据采集速度达 500 kS/sec，适用于快速实验采用功能强大的电化学数据采集和分析软件VersaStudio标准浮地功能，使同一化学池中多个样品的测试成为可能。

仪器简介：CS系列电化学工作站具有出色的稳定性和精确度，先进的硬件和功能完善的软件，为涉及能源、材料、生命科学、环保等领域的科技工作者提供了优秀的科研平台。具体应用于：1）电合成、电沉积（电镀）、阳极氧化等反应机理研究；2）电分析化学研究；电化学传感器的性能研究；3）新型能源材料（锂离子电池、太阳能电池、燃料动力电池和超级电容器等）、先进功能材料以及光电材料的性能研究；4）金属材料在不同介质（水/混凝土/土壤等）中的腐蚀研究与耐蚀性评价；5）缓蚀剂、水质稳定剂、涂层以及阴极保护效率的快速评价应用领域1）研究电化学机理；物质的定性定量分析；2）常规电化学测试，包括电合成、电镀和电池性能评价；3）功能材料和能源材料的机理和制备研究；4）缓蚀剂、水质稳定剂、涂层以及阴极保护效率快速评价以及氢渗测试等；5）金属材料在导电性介质（包括水/混凝土等环境）中的腐蚀电化学测试。1、硬件参数指标 恒电位电位控制范围：±10V恒电流控制范围：±2.0A电位控制精度：0.1%@Fullscale±1mV 电流控制精度：0.1%@Fullscale电位分辨率：10mV(100Hz), 3mV(10Hz)电流灵敏度：1pA电位上升时间：1mS(10mA), 10mS(2A)参比电极输入阻抗：1012W||20pF电流量程：2nA～2 A ， 共10档槽压：±21V最大输出电流：2.0ACV 和LSV扫描速度：0.001mV～10V/sCA和CC脉冲宽度：0.0001～65000s电流扫描增量：1mA @1A/mS电位扫描时电位增量：0.076mV @1V/mSSWV频率：0.001～100KHzDPV和NPV脉冲宽度：0.0001～1000sAD数据采集：16bit@1MHz, 20bit @1KHzDA分辨率：16bit, 建立时间：1mSCV的最小电位增量：0.075mVIMP频率：10mHz~1MHz低通滤波器：8段可编程电流与电位量程：自动设置接口通讯模式：USB2.0 2、电化学阻抗功能指标 信号发生器：频率响应：10mHz~1MHz频率精确度：0.005%交流信号幅值：1mV~2500mV信号分辨率：0.1mV RMS直流偏压：-10~+10VDDS输出阻抗：50W波形：正弦波，三角波，方波正弦波失真：1%扫描方式：对数/线性，增加/下降信号分析器：最小积分时间：10mS 或者循环的最长时间最大积分时间：106个循环或者105S测量时间延迟：0~105秒直流偏置补偿：电位自动补偿范围：-10V~+10V电流补偿范围：-1A~+1A带宽调整(Bandwidth) ：自动或手动设置，共8级可调 3、CorrTest测量与控制软件主要功能稳态极化：开路电位测量（OCP）、恒电位极化（I-t曲线测试)、恒电流极化、动电位扫描（TAFEL曲线）、动电流扫描（DGP）暂态极化：任意恒电位阶梯波、任意恒电流阶梯波、多电位阶跃（VSTEP）、多电流阶跃（ISTEP）计时分析：计时电位法（CP）、计时电流法（CA）、计时电量法（CC）伏安分析：线性扫描伏安法（LSV）#、线性循环伏安法（CV）交流阻抗：电化学阻抗（EIS）～频率扫描、电化学阻抗（EIS）～时间扫描、电化学阻抗（EIS）～电位扫描（Mott-Schottky曲线）、恒电流阻抗测试腐蚀测量：动电位再活化法（EPR）、电化学噪声（EN）、电偶腐蚀测量（ZRA）、氢扩散测试、晶间腐蚀测量电池测试：电池充放电测试、恒电流充放电、恒电流滴定GITT、恒电位滴定PITT其他：圆盘电极测试及转速控制、溶液电阻测量（IR降）、溶液电阻正反馈补偿（IR补偿） 4、仪器配置1）仪器主机1台；2）CorrTest测试与分析软件1套3）电源线、USB数据线、电极电缆线各1条4）模拟电解池1个（仪器自检器件）CS Studio测量与控制软件主要功能 功能方法CS120HCS150HCS300HCS310HCS350H稳态极化开路电位测量(OCP) ● ● ● ● ●恒电位极化(i-t曲线) ● ● ● ● ●恒电流极化 ● ● ● ●动电位扫描(TAFEL曲线) ● ● ● ● ●动电流扫描(DGP) ● ● ● ●暂态极化任意恒电位阶梯波 ● ● ● ● ●任意恒电流阶梯波 ● ● ● ●恒电位阶跃(VSTEP) ● ● ● ● ●恒电流阶跃(ISTEP) ● ● ● ●计时分析计时电位法(CP) ● ● ●计时电流法(CA) ● ● ●计时电量法(CC) ● ● ●伏安分析线性扫描伏安法(LSV)# ● ● ● ● ●线性循环伏安法(CV) ● ● ● ● ●阶梯循环伏安法(SCV)# ● ●方波伏安法(SWV)# ● ●差分脉冲伏安法(DPV)# ● ●常规脉冲伏安法(NPV)# ● ●常规差分脉冲伏安法(DNPV)# ● ●差分脉冲电流检测法(DPA) ●双差分脉冲电流检测法(DDPA) ●三脉冲电流检测法(TPA) ●积分脉冲电流检测法(IPAD) ●交流伏安法(ACV)# ● ●二次谐波交流伏安(SHACV) ● ●傅立叶变换交流伏安(FTACV) ● ●交流阻抗电化学阻抗(EIS)～频率扫描 ● ●电化学阻抗(EIS)～时间扫描 ● ●电化学阻抗(EIS)～电位扫描 ● ●腐蚀测量循环极化曲线(CPP) ● ● ● ● ●线性极化曲线(LPR) ● ● ● ● ●动电位再活化法(EPR) ● ● ● ●电化学噪声(EN) ● ● ● ●电偶腐蚀测量(ZRA) ● ● ● ●氢扩散测试(HDT)* ● ● ● ●电池测量电池充放电测试 ● ● ● ●恒电流充放电 ● ● ● ●光电测量电致调光测量* ●光谱仪测量* ●扩展测量盘环电极测试* ● ● ● ●数字记录仪 ● ● ● ● ● 注：*氢扩散及旋转盘环电极测试需配置CS1002恒电位/恒电流仪或采用CS2350双恒电位仪。*光电测量功能用户选配。伏安分析中带#号的方法包括相应的溶出伏安方法。*产品3年质保。

仪器简介： CS系列电化学工作站具有出色的稳定性和精确度，先进的硬件和功能完善的软件，为涉及能源、材料、生命科学、环保等领域的科技工作者提供了优秀的科研平台。具体应用于：1）电合成、电沉积（电镀）、阳极氧化等反应机理研究；2）电分析化学研究；电化学传感器的性能研究；3）新型能源材料（锂离子电池、太阳能电池、燃料动力电池和超级电容器等）、先进功能材料以及光电材料的性能研究；4）金属材料在不同介质（水/混凝土/土壤等）中的腐蚀研究与耐蚀性评价；5）缓蚀剂、水质稳定剂、涂层以及阴极保护效率的快速评价。 1、硬件参数指标 恒电位电位控制范围：±10V恒电流控制范围：±2.0A电位控制精度：0.1%@Fullscale±1mV 电流控制精度：0.1%@Fullscale电位分辨率：10mV(100Hz), 3mV(10Hz)电流灵敏度：1pA电位上升时间：1mS(10mA), 10mS(2A)参比电极输入阻抗：1012W||20pF电流量程：2nA～2 A ， 共10档槽压：±21V最大输出电流：2.0ACV 和LSV扫描速度：0.001mV～10V/sCA和CC脉冲宽度：0.0001～65000s电流扫描增量：1mA @1A/mS电位扫描时电位增量：0.076mV @1V/mSSWV频率：0.001～100KHzDPV和NPV脉冲宽度：0.0001～1000sAD数据采集：16bit@1MHz, 20bit @1KHzDA分辨率：16bit, 建立时间：1mSCV的最小电位增量：0.075mVIMP频率：10mHz~1MHz低通滤波器：8段可编程电流与电位量程：自动设置接口通讯模式：USB2.0 2、电化学阻抗功能指标 信号发生器：频率响应：10mHz~1MHz频率精确度：0.005%交流信号幅值：1mV~2500mV信号分辨率：0.1mV RMS直流偏压：-10~+10VDDS输出阻抗：50W波形：正弦波，三角波，方波正弦波失真：1%扫描方式：对数/线性，增加/下降信号分析器：最小积分时间：10mS 或循环的最长时间最大积分时间：106个循环或者105S测量时间延迟：0~105秒直流偏置补偿：电位自动补偿范围：-10V~+10V电流补偿范围：-1A~+1A带宽调整(Bandwidth) ：自动或手动设置，共8级可调 3、CorrTest测量与控制软件主要功能稳态极化：开路电位测量（OCP）、恒电位极化（I-t曲线)、恒电流极化、动电位扫描（TAFEL曲线）、动电流扫描（DGP）暂态极化：任意恒电位阶梯波、任意恒电流阶梯波、多电位阶跃（VSTEP）、多电流阶跃计时分析：计时电位法（CP）、计时电流法（CA）、计时电量法（CC）伏安分析：线性扫描伏安法（LSV）#、线性循环伏安法（CV）、阶梯循环伏安法（SCV）#、方波伏安法（SWV）#、差分脉冲伏安法（DPV）#、常规脉冲伏安法（NPV）#、常规差分脉冲伏安法（DNPV）#、差分脉冲电流检测法（DPA）、双差分脉冲电流检测法（DDPA）、三脉冲电流检测法（TPA）、积分脉冲电流检测法（IPAD）、交流伏安法（ACV）#、二次谐波交流伏安（SHACV）、傅里叶变换交流伏安（FTACV）（标#号的方法包括相应的溶出伏安分析方法）交流阻抗：电化学阻抗（EIS）～频率扫描、电化学阻抗（EIS）～时间扫描、电化学阻抗（EIS）～电位扫描（Mott-Schottky曲线）、恒流阻抗测试腐蚀测量：动电位再活化法（EPR）、电化学噪声（EN）、电偶腐蚀测量（ZRA）、氢扩散测试、晶间腐蚀测量电池测试：电池充放电测试、恒电流充放电、恒电流滴定GITT、恒电位滴定PITT其他：圆盘电极测试以及转速控制、溶液电阻测量（IR降）、溶液电阻正反馈补偿（IR补偿） 4、仪器配置1）仪器主机1台；2）CorrTest测试与分析软件1套3）电源线/USB数据线各1条4）电极电缆线（含噪声测量线）1条5）模拟电解池1个（仪器自检器件）

优势特点 半导体材料光电催化反应在具有不同类型（电子和离子）电导的两个导电体的界面上进行的一种催化过程，同时具有光催化和电催化的特点。光电催化法近年来日益受到重视的废水处理技术、光解水制氢、CO2催化还原为有机物、固氮成氨等，在光照和外加电场的作用下，电子-空穴对得到有效分离，从而提高催化效率的作用。 CEL-SLF-Vertex光电化学测试分析系统为中教金源自主研发的光电催化系统，可配合美国Admiral，德国Zahner，PINE，CHI等电化学工作站，系统可二次升级开发，解决客户定制化要求。光电催化系统可实现波长的连续可调，应用材料表征、光电测试、电化学分析、光催化及IPCE测试等多领域中。CEL-SLF-Vertex光电化学测试分析系统的技术参数及优势1)光源稳定性好，优于0.5% ；集成度高，系统整合在一块光学平板上，光路稳定且便于运输；2)光路经过优化，达到的光输出效率50mw/cm2 光谱范围300-1600nm，输出带宽连续可调，0.1～30nm；3)单色仪配有充氮气专用口，便于在紫外和近红外有大气吸收谱的波段范围内使用；光学室和机械传动室严格分开，避免后者产生杂散光及润滑油微量挥发对光学件的污染；单色仪机体为铸件一体结构，保证光学系统稳定性。4)电脑软件可实现氙灯光源、单色仪、滤光片轮、快门、光功率计和电化学工作站的实时在线控制及数据采集；5)自动快门Shutter用于控制照射时间（0.1ms）,DK25；屏蔽暗室30cm*30cm*35cm，可调高度；6)反应池可选中教金源PECK系列光电反应池，并标配适用电极；7) 标配Admiral Squidstat Plus电化学工作站，强大的软件功能实现电化学功能的全覆盖，尤其在交流阻抗EIS测试，并可实现二次开发升级。8)标配CEL-HXF300/HXUV300系列氙灯光源，即可单独使用，也可以配合滤光片实现光电催化实验。9)光源可调部分覆盖了紫外区、可见区、红外区，可选光源有很多种，可选光源有氘灯、碘钨灯、氙灯光源、汞灯光源等，其中氙灯应用很广泛，并且具有连续的的全光谱。CEL-SLF-Vertex光电化学测试分析系统 配置 光源CEL-PF300-T8系列氙灯光源、CEL-S500系列氙灯光源、卤钨灯光源单色仪CEL-IS151双光栅扫描单色仪、CEL-IS302三光栅扫描单色仪滤光片轮电动滤光片轮IFW6配件光学水平底板、耦合接头、汇聚透镜、封闭光路套筒等快门自动快门Shutter用于控制照射时间（0.1ms）,DK25样品暗室样品屏蔽暗室30cm*30cm*35cm反应池PECK系列光电反应池电极电极夹、工作电极、参比电极、定制电极电化学工作站美国Admiral，德国Zahner，PINE，CHI等电化学工作站常用可选配件，系统中有很多辅助配件可以帮助系统更方便的完成光电分析。 1）CEL-NP2000强光光功率计/CEL-FZ-A功率计用于监控输出光的光功率密度2）AULTT-P4000 光纤光谱仪 用于监测输出光的光谱3）自动快门 Shutter用于控制照射时间4）三维四探针样片台用于放置样品，并精确调整距离5）5mm液晶光纤/石英光纤用于单色光的引出照射6）定制光学暗箱 用于摒弃杂散光的影响和电磁屏蔽7）光学小平台 用于调整系统中各仪器的高度使光路水平8）电化学工作站电信号数据采集9）各种电化学反应池 用于光电反应

优势特点 氙灯光源为全光谱光源，光谱覆盖范围为200-2500nm，又有与太阳光相匹配的光谱吸收，应用范围非常广泛。在光化学、电化学、光电测试、光物理测试等方面除了全光谱的需求外，还需要连续的单色光用于科学研究，为了满足多数科研工作者的要求，中教金源公司采用公司现有的各种氙灯光源（光催化氙灯CEL -HX、模拟日光氙灯CEL-S500,S150），匹配多种单色仪开发出了系列波长可调氙灯光源，实现的波长连续可调，应用到光电测试，IPCE计算等多领域中。产品应用 可调单色光源覆盖了紫外区、可见区、红外区，可选光源有很多种，可选光源有氘灯、碘钨灯、氙灯光源、汞灯光源等，其中氙灯应用广泛，并且具有连续的的全光谱。规格参数型号配置输出光强输出光谱nm应用CEL-SLA可调单色光源CEL-S500氙灯 光源+单色仪+配件连续输出2.00 mw/cm2200-1600nm单色光半波带宽1-20nm光电测试、电化学分析、光催化及IPCE测试CEL-SLF可调单色光源CEL-HXF300氙灯 光源+单色仪+配件连续输出10.00 mw/cm2200-1600nm单色光半波带宽1-20nm光电测试、电化学分析、光催化及IPCE测试CEL-SLB可调单色光源光源+滤光片多点输出200.00 mw/cm2200-1600nm单色光半波带宽10-20nm光催化及IPCE测试

电化学由于其在电池、燃料电池、腐蚀、合成和催化等各个领域的广泛应用而受到越来越多的关注。在电化学系统中，会发生各种复杂的过程，包括物质的吸附、解吸和扩散，表面重建，电荷转移，表面和物种之间化学键的形成或断裂以及发生在电化学界面化学反应等。因此，电化学界面的结构决定了整个电化学系统的电化学响应以及材料的性质和性能电化学的研究主要涉及电化学界面的结构、性质和性能之间的内在关系，以促进电化学设备的合理设计。电化学表征技术主要基于电信号的测量，包括电流和电势，这些方法可以根据电化学理论分析电信号来获得丰富的信息，包括界面性质的热力学和动力学信息、表面上反应物的数量以及电极的反应性。然而，由于反应物的化学指纹信息缺乏，很难在没有经验的情况下确定化学结构。另外，从整个电极表面的响应测量得到的电信号，是针对整个电极的，对于非均匀电极的结构和性能无法进行研究。因此，需要开发具有丰富化学信息和高空间分辨率（低至几个纳米）的原位表征方法，以全面了解电化学界面和过程。 电化学-针尖增强拉曼光谱（ EC-TERS）是一种具有纳米尺度空间分辨率分子指纹信息的技术，可以用于实现上述目标。 EC-TERS联用优势● 分子水平的一致性：拉曼光谱可以提供分子水平的信息，可以检测到电化学界面上的单个分子。这使得我们能够研究电化学反应的瞬间变化。● 高空间分辨率：通过使用针尖增强拉曼光谱（TERS）技术，可以在纳米探针上实现高空间分辨率。这使得我们能够研究界面的局部结构。● 可以在液体环境下工作：拉曼光谱可以在液体环境下进行测量，这对于研究电化学修饰过程非常重要。传统的电化学表征技术通常需要在干燥的条件下进行测量，而拉曼光谱可以在多孔溶液中直接进行测量。● 化学指纹信息：拉曼光谱可以提供化学指纹信息，通过分析拉曼光谱的峰位和强度，可以研究反应的中间体、吸附物和反应产物。● 非破坏性测量：拉曼光谱是一种非破坏性测量技术，不需要对样品进行特殊处理或标记。这使得我们能够对电化学界面进行实时监测。EC-TERS方案电化学-针尖增强拉曼光谱测试系统系统采用倒置显微镜结构，底部激发，底部拉曼信号收集。兼容常规拉曼测试、常规电化学拉曼测试，针尖增强拉曼测试。电化学池位于XY压电位移台上，可以进行纳米级的步进移动； 探针链接XYZ压电位移台，可进行三维精细调节；从而实现探针-激光-样品三位一体。 电化学-针尖增强拉曼光谱测试系统技术参数 光谱分辨率2cm-1激发光源532nm激光器，100mW633nm激光器，15mW光谱仪焦距320mm，配置3块光栅探测器≥2000*256像素，300-1000nm响应，峰值效率高于90%，芯片深度制冷到-60℃常规拉曼空间分辨率1um@XY方向

仪器简介：ModuLab XM是模块化的电化学量测系统，其核心是一高速、高性能的恒电位/恒电流仪，能精准地进行控制和测量。有一系列模块供选购，以使电化学测试系统符合特殊应用所需，包括：燃料电池开发、电化学分析、纳米技术及腐蚀/涂层研究。各个选购模块进行各自独立的校正，因此增加模块到ModuLab XM系统就像&ldquo 即插即用&rdquo 般地简单!仪器的前面板可轻易取下，然后插入新的模块，而当仪器再次开机时，新的模块即可由软件快速侦测出来。 ModuLab XM系统不仅可以像&ldquo 即插即用&rdquo 般地以许多方式设定配置，而且可以由在一台仪器上从单通道升级为多通道。从一个机箱一台恒电位仪，到同一机箱搭配许多台恒电位仪，或多个机箱、每个机箱各有多台恒电位仪之扩充系统。多台恒电位仪可用一部PC作控制，或者多部PC整合到一个系统中，从而依需要控制全部恒电位仪群组。同时随时都可增加额外的恒电位仪及选购件到每个机箱内。 ModuLab XM系统运用最先进的Over-Sampling采样信号处理技术，无论使用哪种组合，且即使是在10KV/s的最大的扫描速率之下操作，都能提供超平滑的循环伏安波形。该信号发生器性能可确保待测体系不受步进与暂态杂波所干扰，因为ModuLab XM的&ldquo 平滑扫描&rdquo 就是这个意思。所使用的DSP高精度数字技术能确保在整个扫描速度范围下可有精准的波形产生与分析，而无需改变操作模式或连接。 ModuLab XM系统的每项选件都经过精心的设计，以便与核心恒电位/恒电流仪及其它选件无间隙地结合，以扩大系统控制与测量之功能，给予研究人员毫无限制的测试平台。ModuLab系统提供的软件既灵活、功能丰富，又容易使用。提供大量的实验类型可供选择，从标准的开路、循环伏安法测试到复杂的包括样品准备的多步骤顺序、高级别的实验技术及综合的阻抗分析&hellip 。ModuLab XM软件运用在实验开发所有阶段的曲线图形，所以用户可确切知道要应用什么波形到电解池上。当参数被输入软件，将显示实验运行时应用到电解池的实时波形图及连接图，使用者可检查电解池是否正确连接，并在实验开始前作好调整。软件内的连接图增强了拓展性能，使系统组态能快速简便地再配置设定，以适应任何类型的测试。软件允许自由选择数据采集模式，不管所选择的实验类型为何。例如，运行脉冲伏安实验，可选择高采样速率，如此可分析脉冲的实际形状(电压与电流)，以便在脉冲上选择最理想的测量点。 主要特点&bull 高性能&ldquo 即插即用&rdquo 模块，即可扩展功能又可扩展通道&bull 64MS/s平滑扫描-LSV、LSP、CV&bull 高达1MS/s数据采集-脉冲、CV&bull 100aA电流分辨率&bull ± 25A电流-扫描/脉冲&bull ± 100V槽压与极化&bull 10&mu &Omega 微阻抗测量&bull ＞100T&Omega 超高阻抗测量&bull 多种高速EIS技术

仪器简介：ModuLab XM是模块化的电化学量测系统，其核心是一高速、高性能的恒电位/恒电流仪，能精准地进行控制和测量。有一系列模块供选购，以使电化学测试系统符合特殊应用所需，包括：燃料电池开发、电化学分析、纳米技术及腐蚀/涂层研究。各个选购模块进行各自独立的校正，因此增加模块到ModuLab XM系统就像&ldquo 即插即用&rdquo 般地简单!仪器的前面板可轻易取下，然后插入新的模块，而当仪器再次开机时，新的模块即可由软件快速侦测出来。 ModuLab XM系统不仅可以像&ldquo 即插即用&rdquo 般地以许多方式设定配置，而且可以由在一台仪器上从单通道升级为多通道。从一个机箱一台恒电位仪，到同一机箱搭配许多台恒电位仪，或多个机箱、每个机箱各有多台恒电位仪之扩充系统。多台恒电位仪可用一部PC作控制，或者多部PC整合到一个系统中，从而依需要控制全部恒电位仪群组。同时随时都可增加额外的恒电位仪及选购件到每个机箱内。 ModuLab XM系统运用最先进的Over-Sampling采样信号处理技术，无论使用哪种组合，且即使是在10KV/s的最大的扫描速率之下操作，都能提供超平滑的循环伏安波形。该信号发生器性能可确保待测体系不受步进与暂态杂波所干扰，因为ModuLab XM的&ldquo 平滑扫描&rdquo 就是这个意思。所使用的DSP高精度数字技术能确保在整个扫描速度范围下可有精准的波形产生与分析，而无需改变操作模式或连接。 ModuLab XM系统的每项选件都经过精心的设计，以便与核心恒电位/恒电流仪及其它选件无间隙地结合，以扩大系统控制与测量之功能，给予研究人员毫无限制的测试平台。ModuLab系统提供的软件既灵活、功能丰富，又容易使用。提供大量的实验类型可供选择，从标准的开路、循环伏安法测试到复杂的包括样品准备的多步骤顺序、高级别的实验技术及综合的阻抗分析&hellip 。ModuLab XM软件运用在实验开发所有阶段的曲线图形，所以用户可确切知道要应用什么波形到电解池上。当参数被输入软件，将显示实验运行时应用到电解池的实时波形图及连接图，使用者可检查电解池是否正确连接，并在实验开始前作好调整。软件内的连接图增强了拓展性能，使系统组态能快速简便地再配置设定，以适应任何类型的测试。软件允许自由选择数据采集模式，不管所选择的实验类型为何。例如，运行脉冲伏安实验，可选择高采样速率，如此可分析脉冲的实际形状(电压与电流)，以便在脉冲上选择最理想的测量点。 主要特点&bull 高性能&ldquo 即插即用&rdquo 模块，即可扩展功能又可扩展通道&bull 64MS/s平滑扫描-LSV、LSP、CV&bull 高达1MS/s数据采集-脉冲、CV&bull 100aA电流分辨率&bull ± 25A电流-扫描/脉冲&bull ± 100V槽压与极化&bull 10&mu &Omega 微阻抗测量&bull ＞100T&Omega 超高阻抗测量&bull 多种高速EIS技术

光催化的实质是光电子催化，光生载流子作为反应物参与反应，就光催化反应动力学和机理研究而言，光电化学测试技术是一种非常重要和有效的手段。 半导体光催化技术治理环境污染物是从上世纪80 年代逐渐发展起来的一种高级氧化技术，在常温和常压下，只利用催化剂、光和空气就能将污染物破坏并最终矿化为无毒的二氧化碳、水和无机离子等，有望缓解日益严峻的环境污染问题。 当用能量等于或高于半导体吸收阈值的光照射块状半导体时，半导体的价带电子可被激发跃迁到导，同时在价带产生相应的空穴，从而在半导体内部产生电子-空穴对。 光生电子-空穴对在空间电荷层电场的作用下，空穴迁移到半导体粒子表面与溶液中的电子供体发生氧化反应，而电子与电子受体发生还原反应, 或者向电极基底运动并通过外电路到达对电极参与还原反应。 光激发产生的电子和空穴至少经历以下途径：载流子的扩散、俘获、复合和界面电荷转移. 其中复合和界面电荷转移是两个相互竞争的过程，界面电荷转移最终实现光能的利用。主要应用： 光电化学、光电催化研究的光谱响应IPCE、量子效率QE、样品池的光谱透过率、光谱响应下的量子效率和光电流，实现了直流、交流分析，原电池分析，光电化学实验分析等。测试项目： 光电化学样品的光谱响应IPCE，量子效率QE，光谱透过率，短路电流密度、表面均匀度等，测试样品室内放入样品和不放入样品时标准探测器的光谱电流/电压值，测量光电反应池的光谱透过率，也可以测量玻璃的光谱透过率。 光电实验原理： 光源在不同波长的辐射能量不同，探测器在不同波长的响应度也不同，因此，所测得的响应电流也会有较大的不同。系统采用了相关检测法，利用信号在时间上的相关性，把深埋于噪声中的周期信号提取出来。具体做法是：将光源经过斩波器调制成具有固定频率（参考频率）的周期信号，则探测器也输出具有相同频率的电信号，经过锁相放大器将含有参考频率的电信号检出，而其它频率的信号（噪声）则被抑制掉，从而提高了系统的信噪比，保证了测量准确度。规格参数：1.控制模式：软件控制、全自动扫描、自动消除误差、自动扣除背景；2.光谱范围：300-1100nm（可选200-2500nm）；扫描间隔 ≥1nm连续可调；光谱扫描 全自动、连续；3.测试结果重复性RSI 0.3%（光电流）4.工作模式：交流模式AC、电化学直流模式DC，斩波频率 5-1000Hz5.样品台：电动双位样品台（标准参比、样品），自动对比分析，置于屏蔽安室内。6.选配偏置光源 配置一路、两路、可应对复杂的光电分析测试7.单色仪：1）焦距300mm采用非对称水平Czerny-Turner光路，消慧差设计，可确保谱线对称和良好的光学分辨率；2）消二次色散设计，有效抑制杂散光；3)入口可与我公司各种光源配套使用，可配光纤接口连接光纤；4）可连接我公司任意一款单点探测器和其它附件；5）小模数精密研磨蜗轮蜗杆，长寿命设计，运行平稳舒适，噪声低；6）※配有充氮气专用口，便于在紫外和近红外有大气吸收谱的波段范围内使用；7）配有步进电机细分驱动器，光谱准确度和重复性高；8）狭缝设计独特设计，刃口自动保护，宽度调节对称性好，寿命长；9）软件可实现波长的任意调整及延时设置，USB2.0计算机接口；10）内部光学室和机械传动室严格分开，避免后者产生杂散光及润滑油微量挥发对光学件的污染，单色仪机体为铸件一体结构，保证光学系统稳定性。8.光源：500W氙灯光源，采用欧司朗进口灯泡，波动0.01%。9.标准探测器：紫外增强型硅探测器（300-1100nm），选配铟镓砷探测器（800-1600nm）。10.电化学工作站：选配Ivium电化学工作站，及其他品牌；

仪器简介： VersaScan微区扫描电化学工作站是一个建立在电化学扫描探针的设计基础上的，进行超高测量分辨率及空间分辨率的非接触式微区形貌及电化学微区测试系统。它是提供给电化学及材料测试以极高空间分辨率的一个测试平台。每个VersaSCAN都具有高分辨率，长工作距离的闭环定位系统并安装于抗震光学平台上。不同的辅助选件都安装于定位系统上，辅助选件包括，如电位计，压电振动单元，或者激光传感器，为不同扫描探针试验，定位系统提供不同的功能。VersaSTAT恒电位仪和Signal Recovery 7230锁相放大器和定位系统整合在一起，由以太网来控制，保证小信号的精确测量。它 是一个模块化配置的系统，可以实现如下现今所有微区扫描探针电化学技术以及激光非接触式微区形貌测试：Scanning Electrochemical Microscopy (SECM) 扫描电化学显微镜 -AC-SECM 无氧化还原介质扫描电化学显微镜 -Stylus-Probe 柔性探针技术-等距离扫描电化学显微镜Scanning Vibrating Electrode Technique (SVET) 扫描振动电极测试Scanning Kelvin Probe (SKP) 扫描开尔文探针测试Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy (LEIS) 微区电化学阻抗测试Scanning Droplet Cell (SDC) 扫描电解液微滴测试Non-Contact Surface Profiling (OSP) 非触式光学微区形貌测试 Ion Selective Probe (ISP) 表面离子浓度成像系统以上每项技术使用不同的测量探针，且安装位置与样品非常接近，但是不接触到样品。随着探针测试的进行，改变探针的空间位置。然后将所记录的数据对探针位置作图，针对不同技术，该图可以呈现微区电化学电流，阻抗，相对功函或者是表面形貌图。应用： 不锈钢和铝等材料的点蚀检测、成长过程在线监测等； 有机和金属涂层缺陷和完整性研究； 金属/有机涂层界面的腐蚀的机制与检测； 有机涂层的剥离和脱落机制； 钝化处理的不锈钢焊接热影响区的电位分布；  干湿循环的碳钢和不锈钢的阴极区和阳极区的分布行为； 薄液层下氧还原反应和金属的腐蚀过程的特征； 模拟不同大气环境的腐蚀电位在线监测； 铝合金等材料在大气环境中局部腐蚀敏感性； 铝合金的丝状腐蚀(filiform corrosion)； 硅烷L-B膜修饰金属表面的结构和稳定性； 锌-铁偶合金属界面区的电位分布特征； 磷化处理锌表面的碳微粒污染检测； 检测微小金属表面的应力分布和应力腐蚀开裂； 检测金属和半导体材料微小区域的表面清洁度，缺陷，损伤和均匀程度； 研究和评价气相缓蚀剂性能； 电化学传感器；