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实谱便捷式射线荧光仪

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实谱便捷式射线荧光仪相关的仪器

  • S1TITAN手持式X荧光光谱仪重量轻(1.23kg,测量范围Mg-U)、是基于X射线管技术的手持式XRF分析仪。快速的分析速度和准确性是S1TITAN 的两大特性。其他功能包括集成的彩色触摸屏、50kVX射线管、SMARTGrade 计时、SharpBeam优化X射线几何形状、硅漂移探测器,以及坚固的外壳,该外壳经过密封,可以防潮防尘。 S1TITAN系列都采用了布鲁克公司的SharpBeam技术,并配置了布鲁克技术X-FlashSDD探测器,向您提供快速分析时间。S1TITAN可以配备各种校准装置,这些装置经过优化,适用于各种样品材料—包括各种合金、不同的采矿与环境样品,以及受限制材料。 SharpBeam技术对探测器和放射管几何图形进行了优化。经优化的几何体具有许多理想的效果,包括:1、降低功率要求 2、减轻重量 3、提高测量度 4、提高探测限制 5、延长电池寿命手持式荧光光谱仪应用领域 QA/QC分析,材质识别(PMI) 1、工厂/精炼厂PMI检测;2、废金属回收 3、航空航天用合金;4、金及贵金属检测 5、矿山;6、矿石品位控制 7、岩芯分析;8、探矿;9、地质图 10、土壤分析;11、金属回收;12、玩具中的铅 13、ASTM-F963;14、RoHS 15、包装中的有害元素分析 16、儿童服装中的铅筛查
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  • CRONO移动式微区X射线荧光光谱仪是一款可移动且可重新配置的快速检测的微型XRF扫描仪。基于EDXRF技术,可对大型样品进行原位,非破坏性和快速检测。XRF组件完全集成到一个紧凑的测量头中,元素检测范围从Na到Am,即使在低于2keV或高于25keV时(例如Sn,Sb和Ba k激发)。测量头安装在电动机上,探测器芯片面积50m㎡。电动框架和移动拉杆可以很容易地拆卸运输。若将测量头安装在轻型三脚架上,CRONO又可以变成一款便携式的用于单点测量的便携式XRF。该系统完全非接触式工作,距离样品1厘米,同时由于监测系统的设置,该分析区域将shi终处于控制之下。CRONO拥有两种前端的技术支持。其中CUBE是CMOS前置放大器,同时数字脉冲处理器DANTE可对样品进行快速的实时扫描。CRONO的软件可以控制和查看每一个界面,并实时显示光谱和元素分布图,同时每一个像素点的光谱都被自动存储,报告工具可自动为每个单独检测或整个项目检测生成pdf格式的测量报告。50厘米x 40厘米绘画的元素分布图(左1图)。测量时间:30分钟,线扫描速度:20mm/s,准直器孔径2 mm,X射线管设置50 kV和100μA。从左2图:BaLα,PbLα,CaKα 元素浓度范围从高到低依次是红色,黄色,绿色,蓝色。
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  • 借助 XRF 光谱仪 Epsilon 3 系列的经验打造而成,Epsilon 4 是一款多功能台式 XRF 分析仪,广泛用于从研发到流程控制等各个领域中需要从氟 (F) 到镅 (Am) 元素分析的行业细分市场。 Epsilon 4 X射线荧光光谱仪 将激发和检测技术与成熟软件和智能设计相结合,其分析性能更接近于功率更高的落地式 XRF 光谱仪。Epsilon 4 任意位置由于较低的基础设施要求,可以将 Epsilon 4 放到生产过程中靠近生产线的任意位置。 其高性能使大多数应用能够在环境条件下运行,从而降低氦气或真空维护的成本。超越分析的价值能量色散式 X-射线荧光光谱仪可分析从碳 (C) 到镅 (Am) 的元素,涵盖从百万分之一以下到 100 wt% 的浓度。 将 Omnian 用于无标分析,当需要快速分析鉴定时,则使用 FingerPrint 来进行材料测试,或者使用 Stratos 来对涂层、表面层和多层结构进行快速、简单和非破坏性的分析。 还可以使用支持与 FDA 21 CFR 第 11 部分等法规合规的增强的数据安全性,或者使用 Oil-Trace 量化生物燃油混合燃料到新润滑油和使用过的润滑油。支持各类样品Epsilon 4 X射线荧光光谱仪可处理多种样本类型,包括固体、压片和疏松粉末、液体和滤膜。 在重量从几毫克到几千克的样品上,对从碳 (C) 氟到镅 (Am) 的元素进行非破坏性的定量分析,涵盖从 100% 到百万分之一以下的浓度范围。Epsilon 4 是稳健、可靠的传统系统替代方案,已在许多行业和应用领域中得到广泛应用,甚至在轻元素分析非常重要的环境中,包括:水泥生产、采矿、选矿、钢铁及有色金属、RoHS 筛选及定量、石油和石化、聚合物及相关行业、玻璃生产、法医学、制药、保健产品、环保、食品和化妆品。特点灵活的配置Epsilon 4 是高度灵活的分析工具,可在 10 瓦版本中用于从研发到过程控制等各个领域的元素分析 (F - Am)。 要实现更高的样品处理量或扩展的轻元素功能,并且处于更加具有挑战性的环境,可以使用 15 瓦版本,甚至可以对碳、氮和氧进行分析。新发展Epsilon 4 仪器将射线探测技术与分析软件结合到了一起。 15 瓦 X 射线管与大电流 (3 mA)、硅漂移探测器 SDD30 以及紧凑的光路设计相结合,提供了甚至超过 50 瓦功率 EDXRF 系统以及台式 WDXRF 系统的分析性能 - 同时还额外提高了能源利用效率。迅速、敏感利用可生成更高强度的硅漂移探测器技术实现迅速测量。探测器电路提供的线性计数率可超过 1,500,000 cps(在 50% 的死时间下),和计数率无关的分辨率通常高于 135 eV,可更好地分离光谱中的分析谱线。 这使得 Epsilon 4 光谱仪能够以全功率运行,因此与传统的 EDXRF 台式仪器相比,实现了更高的样品通量。降低氦气消耗量Epsilon 4 的高性能使得许多应用可以在空气环境中运行,无需较长的进样时间和费用来维护氦气或真空系统。 在空气中测量时,钠、镁和铝的低能量 X 射线光子对气压和温度变化很敏感。 内置温度和气压传感器可补偿这些大气变化,确保在各种气候条件下结果不受影响。
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  • 手持式X光荧光分析仪(HHXRF)的X-MET8000系列提供进行快速的合金等级鉴定及多种材料(固体和粉末金属、聚合物、木材、溶液、土壤、矿石、矿物等)的准确化学结构分析所需的性能。 X-MET方便、耐用且使用简单,可为您提供可靠的结果。我们提供多种型号的产品,符合您不同应用的所有分析需要和预算。为什么选择 X-MET 光谱仪卓越性能X-MET提供极好的轻元素 (镁、铝、硅、磷、硫、氯)分析,检测限度低,且可每天提供准确可靠结果。通过灵活的基本参数法(FP)法进行分析,从而测试多种材料;或若需结果可追溯和高度准确,则使用实证校准。操作简单大触摸屏和基于图标的用户界面,使用户只需要极少的培训便可开始操作。符合人体工学X-MET轻便(仅1.5公斤)、简洁、平衡性好,可供长时间使用,而疲劳度非常低。坚固耐用而拥有成本低符合IP54要求(等同于NEMA 3)、防水、防尘的X-MET可供室内外使用。通过MIL-STD-810G军用耐用标准测试。其可选的防扎窗口膜可预防在粗糙表面上测量导致探测器损坏而出现的高昂维修费用。高级数据管理完全灵活:可将多达100,000条结果保存在X-MET上,将报告输出到U盘或个人计算机,或自动将X-MET数据存储在LiveData云端。应 用X-MET8000 SmartX-MET8000 OptimumX-MET8000 Expert废金属回收√√√材料可靠性鉴定(PMI)检查√√制造与 PMI QA/QC√√√贵金属 √√√监管机构合规筛查(消费品、包装、原材料…)√√ X-MET8000 Expert CG环境土壤筛查√ X-MET8000 Optimum Geo√ X-MET8000 Expert Geo矿石和矿物√ X-MET8000 Optimum Geo√ X-MET8000 Expert Geo金属镀层厚度测量√√√ X-MET8000 Expert / Expert CG科技考古√√ X-MET8000 Expert / Expert CG / Expert Geo比较型号X-MET8000 SmartX射线管:40kV滤光片:单一检测器:大面积 SDD最高样本温度:400oC符合 IP54 等级Thick Kapton窗口:保护以预防探测器的窗户损坏校准:基本参数法(FP)内置摄像头 (可选)X-MET8000 OptimumX射线管:40kV or 50kV滤光片:6位滤光转换器检测器:大面积 SDD最高样本温度:100oC 或通过 HERO&trade 耐热窗户400oC(可选)符合 IP54 等级可选窗口防护罩:预防检测器的窗口损坏进行保护校准:基本参数法 (包括轻元素分析)内置摄像头(可选)小光班准直器(可选)针对所有元素(从镁到铀)进行优先分析的六位滤光片X-MET8000 ExpertX射线管:50kV滤光片:6位滤光转换器检测器:大面积 SDD最高样本温度:100oC 或通过 HERO&trade 耐热窗户400oC(可选)符合 IP54 等级可选窗口防护罩:预防检测器的窗口损坏进行保护校准方法:自动跳转的经验系数法(可进行追溯)内置摄像头小光班准直器 (可选) 针对所有元素,从镁到铀,的优先分析的六位滤光片
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  • S4 TStar — TXRF全反射X射线荧光光谱仪 数十年来,X 射线荧光(XRF)光谱法在多个行业中被广泛用于对固体和石油化工样品进行元素分析,检测限值低于PPb 量级。TXRF 扩展了XRF 的应用范围,可以分析液体样品、悬浮液和膜片中的超微量元素。优异的样品通用性S4 TStar 是一种通用性很强的工具,可以分析不同反射载体上的多种类型的样品。ICP 只能分析完全溶解的液体样品。图一:30 毫米石英片:对液体、固体和悬浮液进行元素分析图二:2 英寸晶片:污染分析、深度剖析和材料科学研究图三:显微镜载玻片:临床和生物学样品,直接分析细胞培养物、涂片和切片图四:矩形载体:尺寸小于54 毫米,用于膜片、滤片、纳米颗粒层 定制的反射介质 行业应用: 药品检测活性药物成分中的催化元素:液体或丸粒中的铅含量小于0.1 / 0.5ppm 食品粮农组织和世卫组织的食品标准:大米中的砷含量小于10 / 40ppb。 环境监测环境监测:地表水,废水、污泥和核废液中的污染物含量小于1 / 10ppb。
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  • 对于嵌入钢筋的混凝土成分,需要适当的深度来阻止氯离子的进入,从而提供防腐蚀保护。然而我们并不能总是提供合适的设计和养护,在某些情况下,由于混凝土中的孔隙溶液的高碱性,钢筋混凝土中的钢筋处于钝化状态。当氯离子含量到了一个临界值时,钢筋被活化并开始腐蚀。随之,钢筋混凝土结构开始开裂,强度开始下降,结构的正常服役寿命因此而缩短,因此需要拆除重建或者采取修补的措施以延长使用寿命。氯离子引起的钢筋腐蚀是沿海地区以及寒冷地区使用除冰盐常见的混凝土结构破坏的原因。每年由混凝土结构腐蚀引起的经济损失较大。因而,选择高抗氯离子渗透的混凝土,对处于有氯离子引起腐蚀的地区的钢筋混凝土结构的耐久性重要的意义。由于氯离子渗透现象的重要性,人们开发了许多试验方案来评估混凝土抗氯离子侵入的性能。 估算混凝土成分中氯离子渗透是使用寿命预测的一个主要参数。电化学测试方法具有快速,而较长期的测试方法可以提供更接近实际应用环境的条件。常用的标准试验方法NTBuild443“加速氯离子渗透法”和NTBuild492“非稳态氯离子迁移系数法”。除了这些标准试验之外,微区X射线荧光(Micro-XRF)方法用于测定氯化物扩散系数,但是需要开发多种校准曲线以考虑各种粘合剂系统的基质效应。 德国布鲁克微区X射线荧光光谱Micro-XRF分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析方法。 M4TORNADO采用了为用户提供了分析性能和方便的操控性。 1、采用多导毛细管聚焦镜,照射光斑小,空间分辨率高。 2、涡轮增速X-Y-Z样品台,借助放大倍数可变的摄像系统获得的样品影像,可在“飞行中”进行元素分布分析。 3、通过可选的双X射线光管和6个滤光片进行灵活的激发。 4、使用XFlash探测器高速地获取样品图谱,另外,使用多个探测器可以进一步提高测量速度。 5、基于无标样分析定量分析块状样品,分析多层膜样品。 6、具有便捷进样功能的可抽真空的样品室
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  • 能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面,元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪,针对一些珍贵的材质,可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图,实现测量点的准确定位,拥有直观的硬件和分析软件,加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美,具有1毫米的激光定位分析点,内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上,完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大,样品台可以快速移动的设计,从而检测速度fei常快,此外,控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器(SDD) 6、采用先进的探测器技术,能量分辨率140eV(MnKα),并具有高输出计数率(OCR),可实现快速分析,同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构,可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳,滤波片和准直器,为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上,使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何,三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择,满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台,完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究,艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描,使用户免于运输,避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品,拥有先进的元素分布图和光谱解析功能,可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料,可以通过移动扫描获得元素分布,从而扩展了这些材料的应用,从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置,直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野,教室或实验室中的物体和材料.
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  • TX3000全反射X射线荧光光谱仪是浪声科学经过多年XRF技术沉淀,专门设计研发用于元素分析和痕量分析的便携式光谱仪。其能够在极低的背景噪声条件下实现高灵敏度检测,可快速针对液体、悬浮液、固体和污染物,进行定量和半定量多重元素微量分析,为痕量元素分析领域提供了一种高效率、高灵敏度的解决方案。TX3000体积小巧,便于携带和运输,非常适合现场分析或移动实验室的需求。其具有制样简单、高性能、易用性、环保性和经济效益等特点,是科研、质量控制和环境监测等领域中不可或缺的分析工具。使用优势一键智能操作具备用户友好的操作界面,使得操作简单、直观,即便是非专业人员也能轻松掌握。多元素同时分析仪器可以同时检测铬、铅等8大主要重金属元素,也可以根据检测需求进行元素扩展,分析近30个元素,大大节省了分析时间。轻便易携设备小巧,一体化结构设计,不需要任何辅助设备及气体、液氮等,可拿到现场或野外进行检测分析。环境友好与传统X射线荧光光谱仪相比,TXRF采用特殊几何配置,有效降低了辐射暴露风险,更能保障操作人员安全。本土化服务国内生产厂家能够提供更快速的售后服务和技术支持,确保用户在使用过程中的问题能够得到及时解决。 微量样品需求该方法只需极少量的样品即可进行准确分析,非常适用于样品量有限的情况。高精度与高灵敏度仪器采用多层膜单色器和全反射光路设计,缩短了探测器到样品距离,提高了荧光产量,适用于痕量元素的精确测定。低背景噪声X光束以掠射角照射样品,降低了散射和荧光背景,实现了更低的背景噪声,检测低限可降低几个数量级。低运行成本相比进口设备,国产TXRF通常具有更高的性价比,同时设计用于低能耗运行,需要的样品量少,减少了对昂贵试剂和标准物质的需求,另外样品溶解程序不需要使用设备以及危害性化学品,成本效益极高。应用领域环境科学土壤、空气和水质的微量元素分析材料科学食品安全生物医学/生物制药文化遗产地质/冶金法医学化妆品规格参数尺寸360 ×365 × 265mm(L×H×W)重量18KG核心技术全反射X射线荧光(TXRF)元素范围Al(铝)—U(铀)含量范围ppb至100%样品类型液体、悬浮液、粉末、颗粒、金属、薄膜、组织、擦拭物、过滤材料等样品体积液体及悬浮液从1μl到50μl,颗粒最大直径为100μm,粉末最大为10μg样品座载玻片X射线管高亮度微焦斑固定靶点光源光学系统真空正交背靠背X射线人工多层反射聚焦镜探测器50mm2超大面积SDD探测器数据显示系统仪器一体自带显示器,超大工业级电容屏附件移液枪、移液枪吸头、研钵、抹刀、加热干燥装置等
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  • 手持式X射线荧光光谱仪采用人机工程学设计,轻便小巧,可提供现场对样品的快速无损分析,采用高清高亮大尺寸电容触控显示屏,操作方便,野外和复杂作业环境适应性强。手持式X射线荧光光谱仪功能高度集成,仅1台仪器便可满足材料分析、ROHS检测、选矿分析、环保等领域应用,X射线荧光光谱仪内置GPS、WIFI、蓝牙等功能,可记录检测区位地理信息,可联机进行数据传输,具有远程协助技术支持功能。分析元素范围:从钠(Na)到铀(U)1.1 合金分析模式:合金中各元素的含量分析,各元素的精度能够达到0.01%,同时软件还有报牌号功能,可以准确显示出测量合金的牌号,可实现5秒定性、8秒准确定量分析。1.2 ROHS检测模式:针对ROSH检测开发的软件,对采集的光谱信号进行数据处理、计算并显示测量结果,可自动保存测量报告。1.3土壤模式可同时测试Pb、As、Cr、Cu、Ni、Zn、Mn、Hg、Cd等重金属元素,检出限可达mg/Kg级别(以SiO2基体:Pb〈5mg/Kg、As〈3mg/Kg、Cr〈15mg/Kg、Cu〈10mg/Kg、Zn〈2mg/Kg、Ni〈5mg/Kg、Mn〈10mg/Kg,Hg〈1mg/Kg,Cd〈3mg/Kg);1.4 水质分析模式可测试Na到U之间的元素,检出限可达mg/L级别(以水基体:Pb〈1mg/L、As〈0.5mg/L、Cr〈2mg/L、Cu〈1mg/L、Zn〈2mg/L、Ni〈1mg/L、Mn〈2mg/L,Hg〈1mg/L,Cd〈1mg/L);2 检测分析时间:3-60秒(可调);3 重复性:RSD4%;4激发源:50KV/200uA,Ag靶,端窗一体化微型X光管及高压电源,匹配功率≤4W;5探测器:采用美国进口的新款25mm2,0.3mil,fast-SDD硅漂移探测器,能量分辨率可达125eV,探测器使用电制冷技术,无需长时间及频繁等待制冷,4096高通道MCA多道脉冲分析器;6 高性能处理器和存储器:CPU:Intel四核处理器/1.33GHz,内存2G,数据硬盘32G;7屏幕显示:高性能5.5寸高清高亮液晶显示电容触摸屏,操作灵敏,可更好应对现场测试强光照射下的数据观测;8准直和滤光系统: 6种滤光片同准直器达可达18种组合自动切换;9 软件分析模式:合金分析模式、ROHS分析模式、土壤分析模式、水质分析模式(根据客户需要配置);10 可自动存储测试结果,包含元素的种类、含量结果、及超标与否。储存数据及图谱超过10000组,可通过存储卡扩充容量,测试报告有EXCEL、BMP、PDF等格式,并可导出;11数据传输与处理:仪器可通过USB、WIFI、蓝牙联机传输数据或打印,同时可实现仪器与电脑屏幕同步使用等;12 开机密码保护,设置操作员和管理员两级操作权限,且仪器前部设置有样品感应装置,具空测时自动切断X射线源功能,确保使用人员安全;13 防辐射安全性:微型X光管整体化封装,仪器工作时X射线辐射剂量1μSV/h(提供CNAS认证第三方检测报告),可配置铅橡胶保护罩确保松散样品和小样品测试时的安全;14 分析数据自动统计功能:对多次测试可自动统计大值、小值,及标准偏差等;15 测试时间控制方式:具备扳机控制和软件控制模式操作仪器,也可实现USB与电脑连接操作等多种方式;16电池:可充电锂电池,容量6700mAh,充满电正常测试可使用6小时以上,仪器有电量显示功能;17内置GPS功能,可实时采集和记录测试区位的地理信息;18校准:随机配有标准校准片,进行能量校准后测试;19专业的软件功能,可实现谱图的比对放大缩小及导出功能,对各元素的特征能量总和进行独立计算,同时可依据客户要求设定固定测试报告模板,直接输出标准格式的测试报告,传输到打印机可实现现场数据的及时打印;20 仪器质量1.5Kg(含电池);21 工作环境适应性:湿度-20℃~+50℃, 相对湿度<90%;标样配置根据客户测量样品配备一款标样。(合金标样、RoHS标样、土壤标样等)标准附件AC220V充电器一个、EDX-P3600能量色散X荧光光谱仪一台
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  • 手持式X射线荧光光谱仪S350是使用全新大屏高分辨率液晶显示屏及新型数字多道数据处理器的手持式手持土壤重金属分析仪。可对土壤污染物进行原位测试与修复分析,可对污染土壤中的汞、镉、铅、砷、铜、锌、镍、钴、钒、铬、锰等重金属元素进行有效检测,还可根据客户需求定制增加检测元素。仪器不仅体积小、重量轻,可随身携带进行测量;而且性能卓越,堪比台式机,即使是重金属含量较低的土壤也能轻松测定。一、应用领域及特征性能卓越(用于现场,无损,快速,准确)精度高,速度快,接近实验室级的分析水平,可直观显示重金属元素百分比含量及ppm含量。整个分析过程仅需数秒便可完成,土壤鉴别只需1~2秒钟,一键式操作,即使非技术人员也可轻松掌握。无损检测(NDT)在不损害或不影响被检测对象使用性能,不伤害被检测对象内部组织,整个测试过程无任何损伤。分析软件基于windows系统的PC端/基于安卓系统的手机端都可以通过软件操作仪器,实现数据多平台(仪器,PC端,手机端,云端)同步,软件具有数据分析、谱图显示、报告打印等功能,仪器客户端具有通过电子邮件发送分析报告的功能;远程操控系统,基于windows系统的PC端/基于安卓系统的手机端都可以通过软件操作仪器,实现数据多平台(仪器,PC端,手机端,云端)同步,软件具有数据分析、谱图显示、报告打印等功能,仪器客户端具有通过电子邮件发送分析报告的功能; 应用领域1.污染现场中的污染金属成分确定,污染物跟踪,污染模式建立,污染边界的快速调查与测量。2.在污染现场中,有害物质的处理。3.污染现场控制,为污染治理方法的深度分析提供数据凭证。4.更快、更经济地监控矿区、工厂周围环境、尾矿、粉尘、土壤等污染源影响,实现可持续性发展。5.工作场所现场动态管控,有害元素检测,有害废料筛选。6.工业生产所产生的废液,废弃物、泄漏物的快速检测及管控。7.空气过滤器、擦尘布、尘埃、漆屑、薄片中的污染元素。8.涂料、油漆等表面喷、镀、涂覆层中有害重金属检测。9.污染水、废水中污染金属成份、污染模式、污染边界的迅速调查与测量。10.现场监测RCRA所涉及的金属和优先控制的污染金属。11.原土地、污染水、废水、等有害物质的现场处置处理并给污染控制、补救方法的深度分析提供理论依据。12.因环境污染而导致的疾病与很多重金属元素有关,如:癌症(Ni,Cr)、 肾病(As,Pb)、肝病(As,Cu)、15.肺尘症(Fe)、哮喘(Ni)帕金森氏综合症(Mn)。数据处理WIFI、无线蓝牙等多种方式进行数据传输,文件可采用E-mail发送、蓝牙同步传输、软件同步传输。 二、技术参数及规格S350手持式X荧光土壤成分分析仪探测器SI-PIN 探测组件激发源45KV/200uA-银靶端窗一体化微型X射线光管及高压源元素检测范围原子序数为14~92 硅(Si)到铀(U)之间元素分析重大金属污染元素:Si,S,K,Ca,Sc,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,Ga,Ge,As,Se,Rb,Sr,Y,Zr,Nb,Mo,Ag,Cd,Sn,Sb,I,Ba,Eu,Yb,Lu,Hf,Hg,Pb,Bi 共37个(可按需求定制添加)检测对象固体、粉末分析方法直读分析法+基本参数法(FP)软件*远程操控系统,基于windows系统的PC端/基于安卓系统的手机端都可以通过软件操作仪器,实现数据多平台(仪器,PC端,手机端,云端)同步,软件具有数据分析、谱图显示、报告打印等功能,仪器客户端具有通过电子邮件发送分析报告的功能;重量≤1.7KG(含电池)微电脑显示系统1、半透半反工业级定制触摸屏≥5英寸。2、分辨率1080*720电源可充电锂电池,标配6800mAh,电压:7.2V;可持续工作达8时;2、仪器具有热插拔功能,延时断电,更换电池是无需关机,电池自带电量显示;充电模式通用适配器充流供电;准直器、滤光片*1、特殊防辐射材料准直器,内径2MM/3MM2、无滤光片,省去切换时间,软件扣除本底干扰前端测试窗口*≤9mm*5mm“腰”型窗口摄像头具内置500万像素高清摄像头功能,可对被测物进行拍照,方便管理测试报告发送方式E-mail发送、蓝牙同步传输、软件同步传输数据传输方式Wifi、蓝牙检修方式远程软件升级与诊断、现场维修、诊断用户管理多级用户管理功能(可创建多个账号,做到人号对应,方便管理及数据追溯)保护盖仪器配有保护盖,具有仪器校准、防辐射、防损坏功能(非标配)物料感应与仪器状态提示机身具有物料感应功能,可以智能识别前方是否有测试物体存在。智能状态显示灯,通过智能状态显示灯显示三种工作状态(红色闪烁表示正在检测中,绿色闪烁表示前方没有待测物,绿色长亮表示前方有待测物)操作环境温度、湿度湿度≤90%-20℃ - +60℃安全性1、多重安全防护,不测试无辐射;2、工作时的辐射水平远低于国际安全标准,且具有无样品空测,自动关闭X光管功能。附件标配:1、三防军用保护箱,具有防水、防尘、减震作用。测试软件仪器端,PC端,手机端各1套可充电锂电池电池*2通用电池充电适配器*1可选配件:底座式测试支架、车载电池充电器、保护盖、蓝牙打印机 三、售后服务 1.质量保证:苏州百测检测科技有限公司开发的手持式光谱仪采用精密工艺研制而成,并完全符相关标准规定的质量要求。货品质量保证期为十二个月,从货物(调试)最终验收之日起算。2.技术培圳:手持式光谱仪产品的操作方法手持式光谱仪产品的保养方法3.售后服务: 多年来,公司在全球售出了众多的XRF分析仪器,为了更好的提供技术支持与维护。1.服务项目(A):公司为其全球范围内的公司产品提供售后服务。(B):公司为其全球范围内的佳谱仪器公司产品主机提供壹年的保修期。(C):为X射线管(X-tube),探测器(Detector)提供壹年的保修期。(D):所有维修过的仪器在更换部件后同部件问题提供壹年的续保期。2.下述物理性损坏不保修。(A):仪器承受很大的冲击力导致机器内部的冲击传感器由白色变成红色;(B):detector破损;(C):PDA破损;(D):仪器外壳破损;(E):附件丢失;(F):部件丢失;(G):仪器进水;3.如果仪器出现问题,不能正常操作,客户可拨打售后服热线进行维修; 维修方法如下:(A):网络维修:客户如果在国外或偏远地区可进行网络维修。(B):电话维修:客户打电话时尽可能的把不能操作的问题讲清楚,我公司技术人员可针对问题在电话里进行引导操作维修。(C):上门维修:如果电话维修未果,72小时内公司技术人员赶到现场进行维修;4.保外保修:保修期过后,客户均可享受终身维护的服务。5.保外优惠:维护过的客户,在下一次维护时可享受配件优惠。
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  • 大功率台式顺序波长色散型X射线荧光光谱仪固体、液体、粉末、合金和薄膜的元素分析氧到铀的元素分析与竞争对手的XRF系统相比Rigaku Supermini200在高分辨率仪器中提供了优越的基本参数和经验软件功能,占地面积小。作为一款高功率台式顺序波长色散x射线荧光(WDXRF)光谱仪,Supermini200具有独te的低成本(Coo)、高分辨率和低检测限(LLD),可用于几乎任何材料中通过铀(U)进行氧(O)元素分析。WDXRF性能好,成本低 Rigaku Supermini200光谱仪不仅是您的XRF元素分析需求的经济实惠的选择,运行成本也很低。P10气体用于流量比例检测器是唯yi的消耗品。Supermini200不需要冷却水、管道或外部冷水机,从而减少了系统维护,降低了系统的整体使用寿命成本和每年的耗材和维护预算。WDXRF用于轻元素性能该仪器的核心能力是分析具有广泛的轻元素和重元素的复杂基质材料,从痕量到高浓度水平。凭借其高功率(200 W) x射线管,Rigaku Supermini200为轻元素提供高XRF灵敏度,具有zhuo越的光谱分辨率,可解决复杂矩阵中的线重叠,而无需复杂的数学峰值反褶积。分析低浓度的轻元素(F、Na、Mg、Ca、Si、Al和P)很容易。对困难样品的最高分辨率Supermini200 WDXRF光谱仪配备了一个三位置晶体转换器,其中LiF(200)和PET作为标准晶体安装。RX25或Ge可以选择性地添加,RX25为从氧到镁的峰提供了非常高的分辨率。通过铀(O→U)分析氧分析固体,液体,粉末,合金和薄膜大气:氦或真空x射线管:50kv, 200w pd阳极主波束滤波器:Zr为标准 可选探测器:闪烁计数器和F-PC(S-PC不需要P10气体可选)晶体:3位转换器样品尺寸:可容纳直径51.5毫米的样品自动换样器(ASC)标准:10个样品位置(51.5 mm直径的样品)可选:12个样品位置(最大44mm直径的样品)真空:标准旋转泵电源:100 - 120V (50/ 60hz) 15A或200 - 240V (50/ 60hz) 10A操作简单2001年理学台式WDXRF代表了现代工业模式的转变,它即具有大WDXRF的优势又极大的降低了费用,安装也变得方便。推出的高功率200W 台式Supermini系统保持了台式机的所有优势。灵敏度高200W光源驱动使Supermini灵敏度满足在金属,水泥,环境和法规执行上超低检出限的要求。功能强大Supermini 灵活性强,可分析从F到U的固体,液体和粉末,在真空或充氦环境。标准配置12位自动进样器,自动操作。作为ZSX系列理学台式波长色散X射线荧光系统中的成员,Supermini配置了可以与其他成员共用的所有软件。数据处理功能强大且简单,使用理学标志的流程条界面进行定性和定量分析。大功率台式顺序波长色散型X射线荧光光谱仪特点高功率台式WDXRF光谱仪200W 射线光管缩短测量时间提高灵敏度适用于矿石分析使用MDL方法分析基体复杂样品安装方面的台式设计无需液氮及冷却循环水应对WEEE/RoHS & ELV 指令可以分析痕量重元素降低操作费用低P-10气体流量空冷光管CE认证高效分析12位自动进样器
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  • 仪器简介:PrimusII是理学公司最新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪,因采用了新型分光晶体,使轻元素分析(如C,B)灵敏度大幅度提高.超轻元素对应X射线光管,大功率4千瓦,薄窗,适合轻元素分析 48样品台,节省空间.1次滤波片,可去掉来自光管的特征谱线,减低背景.双真空,双泵设计,节省抽真空时间.防粉尘附件,可防止粉末掉入真空泵.微区分析可达500.适合少量样品分析. 软件在原有的SQX软件基础上进一步完善,采用对话方式,进行EZ扫描.应用模板,可将各种测试条件,以及前处理顺序设置其中.FP无标样分析,是理学公司多年来总结出的一套很好的分析方法,不设定测试成分也能准确分析.流程条,按顺序显示测试处理内容.标准样品,操作手册全中文提供,方便中国用户. 维修保养:PAS自动调整,芯线自动清洗.给用户带来方便.技术参数:硬件: 对应超轻元素的X射线光管 采用4kW、30μm薄窗X射线光管,可高灵敏度测试超轻元素。 采用新型光学系统 采用新型分光晶体,与第二代仪器分光晶体相比,大幅度提高了灵敏度。 48样品交换器 实现平台式共享化,最多可放置48个样品。 多样品交换器实现了省空间。 1次X射线滤光片 除去X射线光管的特征X射线光谱, 在减低背景干扰方面发挥威力。 双泵、双真空系统 采用双真空系统(样品室/预抽真空室)。 防止粉末样品的细微粉尘混入光学系统 的结构设计,样品交换实现更高效率。 粉末附件 电磁阀真空密封、防止细微粉尘进入 真空泵内。 定点分析 100μm的Mapping分辨率。可在CCD图像 上指定点、区域、线。定点最小直径500μm。 采用r-θ样品台,避免1次X射线的照射面、以及分光晶体的反射强度的干扰,可得到最佳灵敏度分析结果。 (无 r-θ 样品台) 节能、节省空间 节能功能(自动减少X射线光管输出) 减少冷却水量 5L/min(水温30?以下) PR气体流量减少(5mL/min) 省空间 采用联体设计,设置面积只占传统仪器70%的空间。 便于维护 PAS脉冲高度自动调整 F-PC芯线自动清洗 软件 新版SQX软件 在RIGAKU独有的基本参数法技术的基础上SQX(Scan Quant X),追加了新功能。 委托分析EZ扫描 采用对话框形式设定,可进行SQX分析。 定角测试模式 微量元素,采用谱峰和扣背景以一定时间记数方法,使用抑制统计变动的X射线强度,算出分析值。自动设定每个样品变化扣背景的位置。 应用模板 各种测试条件以及样品前处理顺序均设置其中。 散射线FP法 不需设定非测试成分,也可以准确分析。散射线强度计算,可以考虑几何学效果,没有样品量信息也可准确分析。不易加压成形的样品以及油状样品,使用SQX软件,可以简单、准确地进行分析。 流程条 测试、处理流程显示。根据流程条内容,击鼠标键,便可按顺序进行所需的测试、处理。 其它特点的软件功能 ? SQX分析功能 ? Mapping数据库 ? 材质辨别 ? 理论重叠校正 ? 自动程序运转 ? 校正投入量计算 应用软件包 应用软件包,设定样品(标准样品、漂移校正样品) CD-ROM(测试条件、校正常数等)、操作手册全盘提供。主要特点:特点: 轻元素(B,C)灵敏度大幅度提高 配备最新的、高强度的分光晶体RX-25,RX-61,RX-75 重金属的高灵敏度分析-采用最新型光学系统 高灵敏度微区分析-Mapping位置分辨率100μm 完美的无标样分析-最新的SQX软件 仪器设计充分考虑周边环境-节能、省空间
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  • STARK系列技术特点一、功能1. 采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度,测量方法满足GB/T 16921-2005标准(等同ISO3497:2000、 ASTM B568和DIN50987)。1.镀层元素范围:钛~铀,包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、铬、钯等。2.镀层层数:多至5层。3.测量点尺寸:圆形、方形测量点,圆形准直器Φ0.1~0.8mm等,方形准直器0.05mmX0.25mm、0.05mmX0.05mm等4.测量时间:通常35秒-180秒。5.样品台尺寸:450 x 300 (长x宽)。6.测量误差:通常小于5%,视样品具体情况而定。7.可测厚度范围:通常0.01微米到30微米,视样品组成和镀层结构而定。8.同时定量测量8个元素。9.定性鉴定材料达20个元素。10.自动测量功能:编程测量,自定测量;修正测量功能:底材修正,已知样品修正 定性分析功能:光谱表示,光谱比较;定量分析功能:合金成份分析 数据统计功能:x管理图,x-R管理图,直方柱图。 二、特点1.采用基本参数法校准,可在无标样情况下生成校准曲线以完成测量。2.X射线采用从上至下的照射方式,即使是表面高低不一的样品也可以正确测量。反之,如果是从下至上的照射方式,遇到表面凹凸的样品,无法调整Z轴距离,导致测量光程的变化,引起测量的误差。3.具有多种测试功能,仅需要一台仪器,即可解决多种测试4.相比其他分析设备,投入成本低5.仪器操作简单,便可获得很好的准确性和重现性6.综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀层分析:可分析四层以上厚度,独有的FP分析软件,真正做到无标准片亦能进行准确测量(需要配合纯材料),为您大大节省购买标准片的成本.完全超越其他品牌的所谓FP软件. 定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量. 光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度. 统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.
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  • 【公司介绍】 科迈斯(深圳)科学仪器有限公司是一家集研发、生产、销售、服务为一体,专门研究便携式元素分析仪器的企业。我们的任务是提供耐久的、实地测试的手持式X射线荧光光谱仪。科迈斯仪器总部位于深圳,苏州设有分公司-科迈斯(苏州)科学仪器有限公司。分公司负责手持式XRF光谱仅软硬件研发、应用方法研究以及华东大区仪器的售前售后。 KMX-RAY科迈斯仪器一直以为客户打造款性能卓越的元素成分光谱检测仪为己任,坚持不懈地致力于提升手持式XRF光谱仪的各项性能,以此问馈客户的厚爱和支持。 KMX-RAY科迈斯仪器在全球便携式光谱应用领域创造了巨大的价值,自推出市场以来,以其操作简单,快速识别,新技术等优点,迅速得到客户的认可。在合金牌号识别、矿物探矿和冶炼、考古、有害元素分析、刑事侦查、禁毒、制药、土壤重金属检测、环境修复、食品安全、材料分析科研院所、大学机构等多行业大量应用。【为什么选择科迈斯光谱仪】卓越性能科迈斯光谱仪提供极好的轻元素 (镁、铝、硅、磷、硫)分析,检测限度低,且可每天提供准确可靠结果。通过灵活的基本参数法(FP)法进行分析,从而测试多种材料;或若需结果可追溯和高度准确,则使用实证校准。操作简单大触摸屏和基于图标的用户界面,使用户只需要极少的培训便可开始操作。符合人体工学科迈斯手持光谱仪轻便、简洁、平衡性好,可供长时间使用,而疲劳度非常低。坚固耐用而拥有成本低符合IP54要求、防水、防尘的KMX-RAY可供室内外使用。其可选的防扎窗口膜可预防在粗糙表面上测量导致探测器损坏而出现的高昂维修费用。高级数据管理用户可以通过USB将数据方便、快速地导出到Excel表中,或通过打印机直接将数据打印出来。科迈斯K-8000手持式合金分析仪 产品参数重量净重1.50kg,上电池后1.65kg尺寸250mm*75mm*270mm(长*宽*高)激发源微型X射线光管与高压电源一体化装置标配:35KV固定高压、钨靶X射线光管、铝滤光片、无电机标配:50KV可变高压、铑靶X射线光管、6组滤光片、瑞士电机检测器标配:SI-PIN检测器(6mm2),分辨率s190ev选配:SDD检测器(25mm² ) 分辨率≤129ev仪器电源可充电锂电池(7.2V\6600mAh) 标配2个电池1个充电器标准片KMX 316不锈钢校准片数据存储32GB大容量数据存储卡,可存储8万组数据及光谱图数据传输Type-C数据传输测试报告客户自定义格式EXCEL测试报表分析软件K-MAX Ally plus6.0,免费升级迭代软件仪器操作与安全仪器操作与安全操作:无需选择测试曲线开机即可测,一触式“扳机”或点击触摸屏“开始/停止” 安全:“一键式”检测,软件自动定时锁、自动停止测试功能 仪器外壳采用大面积铝合金框架设计,更好地屏蔽X射线辐射.分析元素范围标配Si-PIN探测器:(29种元素)钛 (Ti)、钒 (V)、铬(Cr)、锰(Mn)、铁(Fe)、钴(Co)、镍(Ni)、铜(Cu)、锌(Zn)、铪(Hf)、钽(Ta)、钨 (W)、铅(Pb)、铋(Bi)、锆(Zr)、铌(Nb)、钼 (Mo)、镉(cd)、锡 (Sn)、锑(Sb)、铼(Re)、铟 (In)、金 (Au)、银(Ag )、铂(Pt)、钯(Pd)、钌(Ru)、铑 (Rh)、铱 (lr) 元素 选配SDD探测器:(34种元素)分析元素范围镁(Mg)、铝 (Al)、硅(Si)、硫(S)、磷 (P)、钛(Ti)、钒 (V)、铬(Cr)、锰(Mn)、铁 (Fe) 、钴(Co)、镍(Ni)、铜(Cu)、锌(Zn)、铪(Hf) 、钽(Ta)、钨(W)、铅(Pb)、铋 (Bi)、锆(Zr)、铌(Nb)、钼(Mo)、镉(Cd)、锡 (Sn)、锑(Sb)、铼 (Re)、铟 (ln)、金(Au)、银(Ag)、铂(Pt) 、钯(Pd)、钌(Ru)、铑(Rh) 、铱 (lr)元素 应用金属回收及未知材料 现场检测和快速分类,1-3 秒即可测出合金牌号和成分含量;常规钢材金牌号识别  快速 200、300、400、500、600 系列不锈钢及模具钢牌号;  铝合金牌号鉴定及成份分析,常见的 1-7 系列铝合金的分析。 高温合金牌号识别 GH2132、GH4169、GH3128、GH4145、GH3030、GH3039、GH4140、GH3600、 GH3625等系列合金。三元锂电池正极材料检测 NCM523、NCM622、NCM811 等材料。贵金属检测 快速检测:金、银、铂、铑、钯、钌、铱、锇等贵金属。科迈斯K-600手持式矿石分析仪规格表主要配置1、矿石分析仪主机1套 2、标准样品1个 3、原装可充电锂电池2块 4、充电座及电源线 5、U盘(32G)1个 6、加强型聚丙烯膜5片 7、标准手提防潮防震箱一只。标配模式矿石模式 选配模式:合金分析模式、土壤分析模式自诊断功能仪器可自动对硬件、软件、网络、电池等进行诊断,并会生成日志,便于快速排查出故障操作系统WindowCE 6.0操作系统,安全、放心测试方法基本参数法,支持经验系数法修正点触或扣动扳机控制测试开始,测试过程无需长扣扳机。根据客户需求,也可以一直按着扳机测试样品。滤光片配置8个滤光片,可根据测试元素自动切换 激发源大功率微型直板X射线管,W靶材,4W大功率X射线管,管电压50KV,电流最大可达100μA 采用KMX技术,更高X射线计数率,超低电子噪声设计。每次测试前,不需要外部标样,自动能量校准核查 探测器美国Moxtek Si-pin(6mm2)美国Amptek Si-pin(25mm2)德国KETEK SDD探测器检测元素可用于矿石、土壤环境中金属元素,Mg、Al、Si、P、S、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hf、Ta、W、Hg、Se、Au、Br、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb、Re、Ir、Pt、Hg、Ru、Rh、Pd等元素。(红色为SDD探测器配置)应用检测元素:标准配置可检测30多种元素,同时可按客户需求增加检测元素专业性:矿石专用版分析软件,采用智能一键测试1.个性化定制工作模式多种矿样模式选择和无限数目模式的自由添加,根据客户需求定制工作模式。2.充分挖掘矿山价值高清摄像头,可对被检测的矿脉或矿点部位进行更直观的观察,并对开采过程进行精确管理和控制,随时检测矿石品位。3.对选矿过程中原矿、精矿和尾矿等进行精确快速分析为矿石品位的测定、矿物贸易、加工以及再利用提供价值判定依据。4.环境监控对开采矿山周围土壤中的重金属进行监测和检测,评估矿山环境的修复情况,最大限度的监测好矿山周边的环境。科迈斯K-500手持式土壤重金属分析仪规格表重量主机:1.50kg,配电池后:1.65kg尺寸250mm x 75mmx270mm(长*宽*高)激发源大功率高性能X射线微型管靶材射线管靶材5种可选择金(Au)、银(Ag)、钨(W)、钽(Ta),钯(Pd)电压35KV-50kv电压(电压可变)滤波器多种可选择的滤波器,根据不同的被测物自动调节探测器高分辨率SI-PIN探测器(可选配SDD探测器)探测器制冷温度Peltier效应半导体制冷系统标准片外置316标准片/窗口保护盖(可选配内置标准片plus版本)电源标配2块锂电池(7.2v\6600mAh)处理器高性能ARM脉冲处理器操作系统Windows CE6.0系统数据传输双向接口U盘(32G)软件标准模式K-MAX Alloy Plus 6.0数据处理32G大容量数据存储卡:≥8万组数据及光谱图显示屏高分辨率TFT工业级彩色高清触摸屏,具备人体工学,坚固、防尘、防水,任何光线条件下清晰可见外形设计一体化机身设计,坚固,防水、防尘、防冻、防振,在恶劣的环境中均可正常使用。安全操作“一键式”检测,软件自动定时锁、自动停止测试功能 判断测试窗前无样品时2秒内自动关闭X射线。仪器外壳3/2采用6061铝合金框架设计,更好的屏蔽X射线。结果报告输出客户自定义格式的测试报表分析元素同时检测汞、镉、铅、砷、铜、锌、镍、钴、钒、铬、锰等元素,可根据客户需求定制增加检测元素.应用*专业性重金属分析软件,采用智能一键测试和智能判断功能可对污染土壤中的汞、镉、铅、砷、铜、锌、镍、钴、钒、铬、锰等重金属元素进行有效检测,还可根据客户需求定制增加检测元素。*土壤重金属普查内置GPS功能,在野外可随时搜索卫星信号,确定取样点的地理位置信息,快速普查超大范围的土壤地质污染区,建立污染地图,实时监控各区域的污染情况。对各类农业用地、居住用地、商业用地、工业用地等级进行重金属污染环境评价。*土壤重金属污染后的应急处理常用于污染事件发生后的应急处理。能快速、现场追踪污染异常,有效寻找“污点”地带,圈定污染区域边界,进行实时勘察。*助力污染区土壤修复对污染地带进行等级划分,圈定重点土壤污染区,按照划分好的区域进行重点优选治理,提高筛查效率,并实时监控污染区的土壤修复情况。
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  • 原理特点玻尔模型所描述的电子轨道和X射线荧光产生的原理X射线荧光的产生原理X射线管发出X射线照射样品,样品中所含的原子被激 发而产生原子特有的X射线。这种X射线被称为X射线 荧光。不同的元素波长(能量)不同。通过检测X射 线的波长,能够进行定性分析。X射线荧光的强度与 含量呈函数关系,检测元素特有的X射线的量值能够 进行定量分析。满足不同领域的应用■ 电子电气RoHS指令、无卤素等筛选分析半导体、存储装置、液晶、太阳能电池等的各种薄膜分析■ 汽车机械 应对ELV指令的筛选分析 各种机械零部件成分分析及镀层厚度、涂层附着量的检测■ 钢铁有色金属 原材料、合金、锡焊、贵金属的主要成分、残余成分的分析 炉渣的组成分析■ 矿业 选矿工艺的成色鉴别分析■ 窑业 陶瓷、水泥、玻璃、砖、粘土的分析■ 石油石油化学 油中硫的分析 润滑油中各种添加元素及混入元素的分析■ 化学工业无机有机原料和产品分析催化剂、颜料、涂料、橡胶、塑胶的分析■ 环境 土壤、排水、焚烧灰、过滤、PM2.5等成分分析■ 医药 合成时的残留催化剂分析 原药中不纯物分析、异物分析■ 农业食品 土壤、肥料、植物的分析 食品的原料分析、添加元素管理、溶入异物的分析■ 其它 考古学样品及宝石成分分析 玩具日用品中有害重金属元素测定等追求高速・ 高灵敏度・ 高精度的机型高速 — 计数量高达到30倍 —搭载高速电路,计数量高达以往型号(EDX-720)的30倍。通过改良算法和升级基本性能,缩短了测定时间, 进一步提高了操作便捷性。铜合金中的铅(Pb)的谱图比较铜合金中的铬(Cr)的谱图比较实际样品的比较分别用以往型号(EDX-720)和EDX-7200对无铅锡焊中所含的铅(Pb)进行分析,比较其重现性。测定时间与标准偏差(定量值的偏差)的关系满足目标分析精度所需的测定时间X射线荧光分析可以通过延长测定时间增加X射线荧光的计数来提高精度(重现性)。 搭载高计数率SDD检测器和高速电路的EDX-7200与以往型号(EDX-720)相比,能够在更短的时间内达到目标分 析精度。高灵敏度 — 检测下限提高6倍 —提高了金属分析中微量元素的检测下限。金属中的铅的检测下限基准(300秒)※ 检测下限值仅为示例,并非保证值。高分辨率能量分辨率的比较(样品:PPS树脂) 与搭载Si(Li)半导体检测器的以往型号(EDX-720)相比, 能量分辨率更胜一筹。不同元素峰值重叠的影响减少,分析结果更加可靠。无需液氮SDD检测器为电子制冷方式,无需液氮冷却。不仅可以免去繁琐的液氮补充作业,还可以降低运行成本。检测元素范围 ・ 用EDX-7200进行12Mg以下的轻元素分析时,推荐使用真空检测单元或者氦气置换检测单元(均为选购件)。・ 检测下限因样品基材和共存元素不同而有差异。・ 使用样品容器分析20Ca以下的轻元素时,由于薄膜吸收的原因,难以达到上述检测下限基准。卓越的通用性从微小样品到大型样品,从粉末样品到液体样品,灵活应对各类样品。可配备进行轻元素高灵敏度分析时所需的真空检测单元、氦气置换检测单元以及可实现自动连续测定的12位样品 转台(选购件)。4种准直器以及样品观察装置ø 1、3、5、10mm 四级自动切换根据样品尺寸的不同,照射直径可进行4级切换。微小异 物分析和不良分析时采用ø 1mm,少量样品时采用ø 3mm和 ø 5mm,可以根据样品的形状选择适合的照射直径。标配样品观察装置通过样品观察装置,可以确认X射线的照射位置。适用于 检测微小样品、检测由多个测样点组成的样品、使用微量 样品容器检测等情况。 自动切换5种一次滤光片使用一次滤光片降低X射线管产生的特性X射线和连续X射 线,从而提升检测灵敏度,尤其于分析微量元素时有效。 EDX-7200搭载5种(含OPEN共6种)一次滤光片,可以实 现软件操控自动切换。 准直器和一次滤光片自由组合准直器和一次滤光片独立驱动,可自由组合,共6×4种=24种组合可选。 同时,所有组合均可对应FP法进行定量分析。 真空检测单元(选购件)由于轻元素产生的X射线荧光在大气环境下易被吸收,所以需要在真空环境下提高轻元素的检测灵敏度。真空环境为100时,氦气置换和大气环境下的相对灵敏度真空环境和大气环境的分析结果比较(样品:钠钙玻璃)氦气置换检测单元(选购件)对于无法在真空环境下进行分析的样品(如液体、会产生气体等),可以通过氦气置换实现轻元素分析。升级了岛津特有的氦气置换系统(日本专利:「特许」No.5962855),且配备可实现短时间检测并减少氦气 消耗量的功能。氦气置换和大气环境下的谱图比较(EDX-7200/油中硫) 12位样品转台(选购件)配备样品转台可实现自动连续测定。特别是在真空氦气 环境下可实现高通量,从而显著提高检测效率。丰富的分析功能校准曲线法校准曲线法是指通过对标准样品的测定,依据X射线 荧光强度与标准样品的含量关系制作校准曲线,是对未知样品进行定量的方法。 校准曲线法需要选择与未知样品类型相近的标准样品 且需要制作各元素的校准曲线,从而实现准确度高的分析。可以进行吸收/激发校正、重叠校正等各种共存元素校正。 FP法根据理论计算而得出X射线强度的定量方法。对于难 以找到标准样品对应的未知样品,FP法是有效的定量 分析方法。配置自动设定平衡功能样品主要成分为C,H,O等时,FP法需要进行平衡(残 余成分)设定。如根据特征形状判定需要平衡设定时, 软件将自动进行。 背景FP法背景FP法指在仅计算X射线荧光(净峰)强度的传统FP法基 础上,增加计算散射X射线(背景)强度的方法。(日本 专利:「特许」No.5975181)在提升少量有机物样品的定量准确度、异型镀层样品的膜厚 测定、有机膜的膜厚测定方面效果显著。 薄膜FP法标配薄膜FP法。可检测多层膜的膜厚,同时对膜的组成进行 定量分析。薄膜FP法可对基板等基材、镀层结果、元素信息 进行设定。 匹配功能匹配功能是指将某种样品的分析结果与所保存的谱库 比较,按由高到低的顺序自动排列出接近的物质。谱库分为含量数据和强度数据两类,用户均可登录。 同时,含量数据更可手动直接录入。匹配结果具有设计感的外观460MM宽的紧凑机身,配置大型样品室460mm宽的紧凑机身,与以往型号(EDX-720)相比,宽度减少了20%。虽然机身紧凑,但却拥有可放置300(W)×275(D)×约100(H)mm样品(相当于A4大小)的大型样品室。识别度高的LED显示灯产生X射线时,分析仪器后面的X射线显示灯和前面的X-RAYS ON显示灯会点亮。分析时X射线显示灯的两侧亮起 蓝灯。操作人员不在分析现场也可对分析仪器的状态一目了然。“初次见面”也可轻松上手的软件PCEDX Navi为了使X射线荧光分析贴近每一个实验室,深入浅出的软件PCEDX Navi应运而生。 仅凭直觉即可操作的简洁界面,无论是初学者还是专家,都可以体验到便捷的操作环境。简洁的界面在一个界面内可以同时显示样品图像、选择分析条件、输入样品名称。在测定界面上可以直接切换准直器可以一边观察样品图像,一边切换准直器直径。 同时,选定的直径用黄色圆圈表示。自动保存样品图像测定开始时自动读取样品图像,与数据文件夹关联保存。
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  • 创想X射线荧光光谱仪 400-860-5168转4327
    EDXRF能量色散X射线荧光光谱分析仪产品概述能量色散X荧光光谱分析仪体积小、稳定性好、分析快速准确、运行成本低、操作维护方便、是控制产品质量的理想选择。可测定铅Pb、汞Hg、镉Cd、铬Cr、溴Br等元素。硅半导体探测器,通过智能激发和检测设计实现高灵敏度,用户可自定义多曲线多光谱拟和分析方法,适用于不同的应用场合。内容描述仪器型号EDX-6000能量色散X荧光光谱仪分析原理能量色散X射线荧光分析法分析元素范围Na(11)-U(92)任意元素检出下限Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm样品形状任意大小,任何不规则形状样品类型塑胶/金属/薄膜/粉末/液体等X射线管靶材钼(Mo)靶管电压5─50KV管电流1─1000uA样品照射直径2、5、8mm探测器美国进口Si-PIN探测器,高速脉冲高度分析系统高压发生器美国SPELLMAN高压发生器前置放大器美国进口前置放大器,与美国进口探测器兼容性好主放大器美国进口主放大器,与美国进口探测器兼容性好AD转换模块美国进口AD转换模块,与美国进口探测器兼容性好ADC2048道滤光片6种滤光片自动选择并自动转换样品观察130万彩色CCD摄像机分析软件专利软件产品 BX-V26版本,终身免费升级分析方法理论alpha系数法、基本参数法、经验系数法操作系统软件WINDOWS XP(正版)数据处理系统主机PC商务机型CPUP4 3.0内存512MB光驱8xDVD硬盘80G显示器17寸液晶显示器工作环境温度10-35С,湿度30-70%RH重量60Kg(主机部分)外形尺寸550(W)×450(D)×450(H)mm外部供电电源要求AC220±10%、50/60Hz测定条件大气环境测试样品时间100-300秒可调环境温度10℃-28℃环境湿度≤70 %RH(25℃室温)应用领域EDXRF能量色散X射线荧光光谱分析仪应用于石化产品,塑料和聚合物,食品和化妆品,环境,矿石,医药,建筑材料,中心实验室成品检验,金属材料等。工作原理采用的是X射线荧光分析原理,受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。仪器结构融合经验系数法、基本参数法(FP法)等分析方法,测试数据的准确性能得到全面保证。经验系数法:仪器依据对标准样品的测定,确定影响系数。对标准样品要求高,需和待测样品类型相近,校正模型简单。基本参数法(FP法):仪器根据实际检测物质,通过对多种物理量建模计算确定参数。对标准样品要求不高,计算较复杂,适合缺少对应标样的物质检测。软件功能1元素含量分析范围为2 PPm到99.99%2采用BG内标校正,提高非定性式样测量精度3用户自定义多曲线多光谱拟和分析方法4全自动定量分析报告 简捷准确5自适应初试化校正6光谱的自动获取和显示。7具有自动检测仪器工作状态的功能。8自动判别样品及自动分析。提供扩展接口,进一步作其他元素分析,从钙到铀元素。进口硬件1美国进口Si-PIN探测器,高速脉冲高度分析系统2美国SPELLMAN高压发生器3美国进口前置放大器,与美国进口探测器兼容性好4美国进口主放大器,与美国进口探测器兼容性好5美国进口AD转换模块,与美国进口探测器兼容性好
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  • X射线荧光光谱仪 400-860-5168转4210
    布鲁克S8 XRFX射线荧光光谱仪的详细资料 自上世纪60年代德国西门子推出全封闭型的X射线荧光光谱仪(XRF)以来,已经有50多年的商业化进程。布鲁克AXS公司(前身是德国西门子公司的X射线分析仪器部)一直坚持专业化的道路,领导着X射线分析技术发展的潮流。根据新的技术和对用户需求的深入了解,围绕分析测试任务的核心整体设计仪器和功能。2008年布鲁克成功推出S8 TIGER,在灵敏度、准确度、精密度、安全性、可靠性、操作简便性、分析速度、功能完备的分析软件等方面,把XRF分析技术又一次推向了全新的历史阶段。 2017年,第二代S8 TIGER成功推出,采用HighSenseTM技术,保证从铍(4Be)到镅(95Am)的所有元素提供高灵敏度。HighSense技术包括紧凑的HighSense光路、HighSense X射线发生器、HighSense X射线管、HighSense XS系列分光晶体、HighSense计数电子元件。凭借HighSense技术、高分辨率WDXRF技术以及对轻、中、重元素的检测,第二代S8 TIGER的XRF2 微区分析系统可提供高灵敏度、300μm的小光斑尺寸以及高的空间分辨率。 一、高灵敏度、高准确度及高精密度紧凑的HighSense光路HighSense光路,阳极—样品—探测器之间距离短,信号损失少,保证了高灵敏度HighSense高稳定性固态发生器采用新技术模块化设计的固态发生器,稳定性优于±0.00005%,可靠性好。S8 TIGER 1kW,激发电流50mA,激发电压50kV,同级别中强度高。配有内部水冷机,不需要外部水冷机,插上电源就可以使用。S8 TIGER 3kW,激发电流150mA,激发电压60kV,强度上堪比传统的4kW荧光仪。S8 TIGER 4kW,激发电流170mA,激发电压60kV,市场上好的荧光仪。HighSense低温X射线光管HighSense超尖锐端窗陶瓷光管,设计功率4200W,设计电压75kV,设计电流200mA。独特的双路水冷系统,除阳极冷却外,光管头部增加特殊冷却回路,避免光管头部热量对样品的影响,提高易挥发元素及低熔点样品测量的稳定性。提高了分析液体样品、低熔点样品的安全性。此外在阴极与铍窗之间增加隔板,避免蒸镀现象,光管强度不衰减。标配75 μm铍窗,HighSense光管50μm铍窗,强度提高15%,HighSense光管28μm铍窗,超轻元素强度提高50%。HighSense光管铍窗上有保护性涂层,耐腐蚀。高灵敏度、高稳定性的分光晶体HighSense系列人工合成晶体,大大提高了轻元素的检测能力,其中:XS-B晶体提高B元素分析灵敏度百分之百;XS-N晶体提高N元素分析灵敏度百分之百;XS-C显著地降低了背景,提高信噪比30%;XS-55晶体对O、F、Na、Mg元素的灵敏度也比常规的晶体提高了10%以上;XS-400晶体与LiF200晶体覆盖的元素完全相同,但是灵敏度提高了35%;XS-CEM人工多层膜晶体,测量Al—S间元素具有无以匹敌的长期稳定性,没有PET晶体的潮解现象,没有PET晶体随着时间的推移强度降低的现象,没有其它天然晶体的温度效应。是水泥、玻璃、矿物、采矿、地质、铝业等领域测量主含量Al、Si的晶体;XS-Ge-C锗弯晶提高P灵敏度40%,提高S灵敏度20%以上;XS-PET-C弯晶提高Al的灵敏度20%。HighSenseTM探测器技术及动态匹配TM功能 HighSenseTM流气正比计数器和闪烁计数器,极快的死时间校正,即刻显示PHA扫描图,数字信号传输,线性范围高达4Mcps(线性偏差≤1%)。动态匹配TM功能,软件自动降低电流,使高含量元素的计数不超过探测器的物理限制,测量更准确,低含量元素自动在满功率条件下测量,使痕量元素也能准确地测量。采用动态匹配功能探测器的高计数率可以达到13Mcps。动态匹配功能可以采用相同的谱线分析样品中从ppm到百分之百含量范围的成份。 HighSense高效的微区分析系统XRF2 借助HighSenseTM技术,第二代S8 TIGER能针对小到0.3mm并可选1.25mm的微小区域开展高灵敏度的元素定性、定量、无标样定量及元素分布分析,步长0.1mm。轻元素采用正比探测器,重元素采用闪烁探测器,灵敏度提高10倍,实现了同级别仪器里真正的微区分析。此外,高清摄像头能够对感兴趣区域拍摄图片,保证微区分析的针对性和重现性。 高透光性的真空封挡在测量液体和松散粉末样品时,程序控制的真空封档将样品室和光谱室分开,允许在固体和液体样品的分析之间快速地切换。由于只有很小的样品室充氦气(氮气),真空封挡显著地降低气体消耗量,同时探测器的稳定性更高,结果的精密度更好。在测量过程中,独特的真空封挡也可以在液体样品泄漏或有粉尘样品时保护光谱室,防止被污染。真空封挡是S8 TIGER的样品保护TM包的一部分。高精度光学定位测角仪采用高精度光学定位测角仪,定位精度高,测角仪直接到达预设角度,快速连续前进,无需反复调整,长期运行没有磨损。角度准确度优于±0.001°,角度重现性优于±0.0001°,扫描速度1200°/分钟,转角速度4800°/分钟。变动理论α系数法采用基本参数法单独地计算每一个样品的校正系数,从而进行全面的集成的基体效应校正,这就是变动理论α系数法。其显著的优点是:需要的标样量少、校正系数更可靠、校准曲线可以适当延伸、操作方便、不需要很多的经验来选择影响元素、对于大的材料范围和很宽的浓度范围都可以得到可靠的结果。同时兼容固定理论α系数法、经验α系数法基体效应校正,三种校正模式也可以混合使用。对于固定理论α系数法、变动理论α系数法、经验系数法及混合校正方法只需一个用户界面解决所有问题,非常易于使用。未知烧失量校正对于烧失量或烧增量很大的样品,通常的做法是将样品预先灼烧,然后根据烧失量进行反算或将烧失量输入到基体校正公式进行校正,分析全铁的时候还有用钴做内标的。布鲁克未知烧失量校正功能不用测量烧失量,软件会根据其它分析成分估算一个LOI,然后经过多次迭代和拟合,无需知道烧失量也可以进行准确的烧失量校正,大大地提高了分析速度也节约了分析成本。角度偏移校正校正价态、矿源差异等引起的峰位位移,测量结果更准确。独有技术几何校正通过直径–厚度–密度、直径–厚度–质量或直径–质量–密度三种样品制备选项对未达到X射线穿透饱和深度的样品进行几何校正,从而得到更准确的测量结果。独有技术制样校正软件对用熔融制样或粉末样需加粘合剂的制样方法,采用任意配比、随意称量、准确输入的方法,称样误差小,称样速度快,不同的制样方法可以共用同一工作曲线。独有技术P10气体密度稳定器在P10气体钢瓶与流气正比计数器之间安装有气体密度稳定器,使探测器里的气体密度始终保持恒定,保证测量结果精密度更高。流气计数器采用数字式压力控制,控制更精密。高稳定性的光谱室光谱室温度稳定性优于±0.05℃,避免了温度变化引起分光晶体的面间距变化,从而引起被测量元素光子衍射角度的变化。采用真空度控制测量对于固体样品,采用真空度控制测量,只有达到预设的真空度才开始测量,避免了吸潮样品在测试阶段真空度的不一致引起强度计数的差异。 二、高安全性、高可靠性 样品保护™ 功能,四重保护,保证仪器长期可靠运行在样品进入和退出样品室时采取独特的保护,使仪器的故障率低,维护成本少两个污染防护屏,分别保护光管和光谱室粉尘接收盘,收集掉落下来的样品颗粒 测量过程中的独特保护 光管保护屏DuraBeryllium™ 高强度铍窗,保护光管窗口 独特的高透光性真空封挡保护光谱室原位进样系统S8 TIGER采用了直接进样技术,即样品直接装入到仪器的测量位,保证样品到光管的距离不会变化。采用这种直接进样方法的样品室可以设计得很紧凑,又保证了抽真空和充氦气的快速可靠。传统的光谱仪使用样品转台系统来进样,转台上的2个位置经常会出现位置不准的问题,光管到样品的距离的细微变化都会降低分析精度,这时就需要维修,或放弃样品转台的第二个位置。同时这种设计不可避免地扩大了样品室的 体积,增加了进样机械装置的复杂性和保养维护难度。直接进样系统在进样和出样过程中,光管的高压关闭,是完全没有X射线的。在执行这些操作时,光管的灯丝加热电流一直是通的,维持光管的稳定性。1.直接进样代替分步进样,机械结构简单,零故障。2.避免样品在仪器内部过多的运动,避免粉尘积聚、 液体侧翻的风险。3.清洗样品室简单,不需要打开仪器,易于维护。 4.进样速度快。 等级密码保护功能对不同的人给予不同的用户许可权,对曲线参数、数据库、谱线库、仪器参数等加以保护。??双计算机控制系统。日常的分析采用触摸屏控制,保证操作简单而无失误,即使在恶劣的环境中仪器也能正常工作。对于应用开发、校正曲线回归、扩展评估等,通过另外一台计算机完成。两台计算机都可以完成日常分析控制,即使一台出现问题,也不影响测量工作全新设计的安全回路电路板全新设计的探测器、多道分析器、安全回路电路板、马达驱动板、4轴板等,仪器的运行更可靠。防尘设计防尘设计机柜,仪器整体密封,箱体内采用循环水冷却,避免了风冷容易在电路板上带来粉尘的缺点,仪器内部恒久保持洁净,可以在任何恶劣的环境下长期正常工作。产品认证经过德国第三方检测机构对技术指标、辐射保护、电器安全的严格测试,符合德国DIN54113射线防护和CE电器安全等“产品认证”,是德国政府核准的定型仪器。 三、操作简单 触屏控制™ 1. 直观的触摸屏,操作简单,无需 培训,仅需三步就可以得到准确的结果.2.实时显示及查找以前测试结果3.S8 TIGER实时状态显示4.在线帮助功能5.中文操作软件,在线的多语言界面自由切换快速的符合人体工程学的样品装载1.75位带有托盘的自动进样器,可识别样品类型2.60位大样品杯进样器,适合各种类型及形状样品3.108位不用样品杯进样器,机械手直接吸取样品 四、非常快的分析速度非常快的分析速度基于:高强度的X射线光管、快速运行的电子电路板、快速的内部通讯在保证分析精度的前提下,根据元素的含量不同,每个元素的测量时间在2-10秒钟。例如水泥样品中10个元素(Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、K2O、CaO、TiO2、MnO2、Fe2O3),从放入样品到显示结果不超过2分钟,分析速度完全可以和多通道荧光仪相媲美,而分析的灵活性和高准确度是多通道荧光仪所不具备的。 五、功能完备的分析软件SPECTRAplus V4定性、定量分析软件 SPECTRAplus V4是专为第二代S8 TIGER研发的功能强大的现代分析软件。SPECTRAplus V4包括了定性、定量分析的所有功能,运行在Windows 10环境。SPECTRAplus V4为简单、快速的操作而特别开发的,支持第二代S8 TIGER的独特的TouchControlTM触屏控制的全部功能。 SPECTRAplus V4支持网络功能,用网络中的任何计算机都可以实现全部的分析功能,如分析曲线开发、无标样评估、数据报表。网络计算机的数量没有限制。 SPECTRAplus V4定性分析软件具有交互及自动寻峰以及元素识别功能、自动背景扣除与平滑、高分辨显示样品谱图、坐标轴变换、自动提醒干扰谱线等功能。 SPECTRAplus V4定量分析软件具有集成的智能专家系统,确保用户充分利用S8 TIGER的分析性能创建用户自己特殊应用。分析曲线的自动导航功能从材料的定义到结果的输出,引导用户一步步完成,从开始就可以完成高质量的分析。可以灵活的输入制样参数及任何可用的化学信息。采用基本参数法进行完全一体化的基体校正(变动“理论α系数法”,计算每一个样品的校正系数),也可以采用理论系数法与经验系数法相结合的固定α系数法进行强度及强度/浓度混合模式的基体校正。用图形显示测量强度、校正强度及背景强度。用户可以指定结果输出格式,非常容易地编辑成报告格式。分析结果超出警戒线会自动显示与报警。全局或指定漂移校正功能。“Daily-Check-Routine”程序定期检查仪器,满足GLP要求。在线统计分析。 SPECTRAplus V4完全汉化,所有程序全部有中文界面、中文提示。并且版本可以保持与英文版同时升级,可以随时切换成中文、英文、法文等界面。 QUANT EXPRESSTM无标样软件包 QUANT EXPRESSTM允许在没有标准曲线的情况下对完全未知的样品进行自动分析。 QUANT EXPRESSTM提供了无以匹敌的分析灵活性。可以在2分钟之内采用扫描模式进行无标样分析,也可以对痕量级的元素进行准确测定。根据用户的需求,QUANT EXPRESSTM可以提供用于交互评估的扫描测量模式,也可以提供峰/背比测量模式。 QUANT EXPRESSTM是一体化分析智能的一部分。可以执行自动寻峰、元素与谱峰的识别、微区定性的元素分布及每一个单点的元素浓度显示、经背景与谱线重叠校正之后净强度的测定等。SPECTRAplus V4软件中独有的强大的变动α系数法基体校正功能,自动执行基体校正及不同类型样品(薄膜、无限厚或非无限厚样品)的校正。用户输入的样品的特性、已知元素的浓度和基体成分都可以集成到一起,进一步提高分析结果的准确度。 QUANT EXPRESSTM可以完全用于用户特定的标准曲线中,采用变动α系数法测定没有标样的元素。它是SPECTRAplus V4集成部分,作为专家系统提供任何应用的谱线设置。S8 TOOLS诊断、维护和服务软件独特的诊断、维护和服务软件包,允许直接控制和检查S8 TIGER的所有部件,确保仪器的控制和分析非常容易。操作过程中的故障很容易识别和消除,确保操作简单、维护方便及长时间正常运行。运行在Windows界面下的自诊断软件,非常直观,可以全面监测系统的几百种状态,您可以将整个状态存盘,发送给维修人员,从而可有效降低维修费用,缩短维修时间。 WebeX远程服务-维护-支持软件允许Bruker AXS专家通过网络进行远程支持,使第二代S8 TIGER达到好的可用性。专业解决方案软件包◆ML PLUS多层膜分析软件:采用先进的完全基本参数法,具有吸收法和发射法两种分析模式;薄层分析采用发射法,厚层分析采用吸收法(准确度更高)。可分析多达15层(每层16个元素)的镀膜样品,测定每层膜的厚度和元素含量。◆PETRO-QUANT软件,可以对油品、塑料、橡胶、聚合物等样品中的30个元素进行优化的无标样定量分析,以及预定义的EN、ISO、ASTM、DIN分析油品的方法和预校准分析曲线。为用户提供交钥匙方案,仪器安装后可以按照国际标准方法立刻进行常规分析。◆GEO-QUANT ADVANCED氧化物分析软件,是地质、矿物、采矿、耐火材料、玻璃与陶瓷业的解决方案,采用熔片法制样,可以分析氧化物中21个主、次元素。◆GEO-QUANT T软件,基于数百个国际参考样品建立的校准曲线,测量地质样品中微量、痕量元素,是地质方面的研究、监测、环保等全面解决方案。◆CEMENT-QUANT软件,采用国际标样建立的水泥工业完整的解决方案,可用于生料、水泥、熟料及采石厂来料中14个元素快速、简单、精密的定量分析。◆METAL-QUANT软件,金属材料的解决方案,可以分析铁基、钴基、镍基、铜基、铅基、锡基中23个主、次及痕量元素。◆POLMER-QUANT软件,用于分析聚合物中的微量和痕量成分。◆GEO-QUANT Iron Ore软件,可以分析铁矿石、铁精矿、球团矿、烧结矿等含铁矿物中20个主、次及痕量元素。
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  • X-MET8000 是一款手持式 X 射线荧光 (XRF) 分析仪,可提供快速无损的分析以及准确的牌号识别,实现理想的质检和质保。该分析仪将高性能 X 光管和大面积硅漂移探测器(SDD) 结合在一起,能够为客户提供各种质量检验应用。借助 X-MET8000,您可在数秒内得到实验室质检结果,并降低检测成本,缩短检测时间。结构旨在经久耐用X-MET8000 具备 IP54 防护等级(相当于 NEMA3),有着卓越的防尘和防水性能。X-MET8000 具有耐冲击外壳,且在显示屏、仪器头部及电池周围均采用环保密封和减震橡胶,可有效防止受到撞击。采用大面积散热器,即便在高温环境下也能提供理想的可靠性和稳定性。防护窗口(Expert 及 Optimum 型号的选购件)和高强度厚 Kapton 窗口(Smart 型号)可防止探头和X射线管在测试小部件与尖锐物品时受损。强大的数据管理功能可存储多达十万个检测结果,包括光谱谱图和样品图像(若配备相机)结果和报告可直接下载到 U 盘,或通过 USB 数据线传到PC 上,也可利用 WiFi 或蓝牙实现网络共享;可保存成 CSV 格式或防篡改的 PDF 格式,以确保数据完整性。使用 X-MET 报告生成器创建自己的报告(无需安装任何软件)。此类报告可以包括公司徽标、样品图像、分析结果、光谱图和额外的样品信息。借助我们的应用,您可以与供应商、客户或同事实时分享分析结果。全面的、可自定义的牌号库X-MET8000 内含有最全面的牌号库:预安装的、用户可选的AISI、DIN、JIS 和 GB 牌号库覆盖超过 1600 种合金。用户可对现有牌号库进行修改,添加新牌号(例如某个厂商或者产地特定牌号),或者创建自己的牌号库(例如特定的焊接材料牌号库)。预装牌号库包括:| 镍合金。| 不锈钢。| 铜合金。| 铝合金。| 钴合金。| 低合金钢。| 工具钢。| 钛合金。| 锆合金。
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  • X射线荧光光谱仪FEDX-M810:一、技术规格:1.分析元素范围:Na(11)-U(92)2.含量分析范围:1ppm-99.999% 3.样品种类:颗粒、固体、液体、粉末等4.分析精度:标准偏差≤0.1%(国标标样)5.X射线源靶材:Ag靶6.滤光系统:6种(Cu、Al、Mo、Ti、Fe等组合)7.准直器:6mm、4mm、3mm、1mm、0.5mm可选。8.真空系统:配置真空系统,优化样品分析环境,提高镁铝硅磷硫等轻元素的分析精度。9.仪器外观:台机结构;内设防震降噪装置、射线外溢屏蔽装置和四道散热装置;坚固耐用;确保仪器安全可靠稳定运行。10.X射线防护:符合GBZ 115-2002《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准》。二、核心硬件配置:1. 探测器1.1. 美国探测器Amptek FASTSDD/Peltier1.2. 分辨率≤130eV1.3. 输出计数率高至1000KCPS1.4. 峰化时间≤12.8μs1.5. 峰背比180002. X射线源2.1. 电压0-50KV、步进1KV连续可调2.2. 电流0-1000uA、步进1uV连续可调2.3. 最大功率50W3. 高压发生器3.1. 电压0 -50 KV3.2. 电流0-1000uA3.3. 最大功率50 W3.4. 8小时稳定性≤0.05%
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  • CRONO移动式微区X射线荧光光谱仪是一款可移动且可重新配置的快速检测的微型XRF扫描仪。基于EDXRF技术,可对大型样品进行原位,非破坏性和快速检测。XRF组件完全集成到一个紧凑的测量头中,元素检测范围从Na到Am,即使在低于2keV或高于25keV时(例如Sn,Sb和Ba k激发)。测量头安装在电动机上,探测器芯片面积50m㎡。电动框架和移动拉杆可以很容易地拆卸运输。若将测量头安装在轻型三脚架上,CRONO又可以变成一款便携式的用于单点测量的便携式XRF。该系统完全非接触式工作,距离样品1厘米,同时由于监测系统的设置,该分析区域将shi终处于控制之下。CRONO拥有两种前端的技术支持。其中CUBE是CMOS前置放大器,同时数字脉冲处理器DANTE可对样品进行快速的实时扫描。CRONO的软件可以控制和查看每一个界面,并实时显示光谱和元素分布图,同时每一个像素点的光谱都被自动存储,报告工具可自动为每个单独检测或整个项目检测生成pdf格式的测量报告。50厘米x 40厘米绘画的元素分布图(左1图)。测量时间:30分钟,线扫描速度:20mm/s,准直器孔径2 mm,X射线管设置50 kV和100μA。从左2图:BaLα,PbLα,CaKα 元素浓度范围从高到低依次是红色,黄色,绿色,蓝色。
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  • 仪器简介:德国斯派克分析仪器公司是现场金属检测的先驱者之一,凭借着先进的专业技术、丰富的经验, 及数十年来在X射线荧光光谱技术方面的领先优势, 斯派克公司推出了手持式X荧光分析仪―SPECTRO xSORT。仪器可在没有外接电源、没有空调的现场, 在数秒钟内, 获得以往只有实验室光谱仪才能达到的分析结果。 SPECTRO xSORT手持式X荧光光谱仪是紧凑型仪器,坚固耐用,符合人体工程学设计。小型化,高性能X射线管,保证了仪器对待测元素的高效的激发。特殊开发的SDD检测器,数据采集速度10倍于传统的检测器,具有独特的适应性及灵活性。仪器符合严格的德国X射线辐射标准,为用户提供一流的安全防护。其强大的数据传输及处理功能,可在现场打印,储存数据。GPS可将数据与大地坐标绑定,为数据回溯提供可靠的依据。 SPECTRO xSORT可用于地质,矿物,环境,RoHS,玩具等样品中各种元素的检测,及现场分析。技术参数:SPECTRO xSORT:技术参数 检测器  SDD  Mn Ką 分辨率:FWHM半峰宽170eV  输入计数率最大至250kcps 激发源  X射线管i  W阳极  最大40kV,50µ A 控制  集成,可拆卸的PDA Windows Mobile 操作系统  SD存储卡,蓝牙,无线LAN,USB口 光谱仪数据  长:314mm  宽:84mm  高:333mm  重量:1.45kg 电池重:290g  可充电锂电池  2-3小时连续工作时间  100-240V,+/-10%,50/60Hz充电器/变压器 软件  ICAL(智能逻辑标准化校准)  数据管理:存储数据的后处理和协议  分析模式: -从聚合物到合金等多种材料的RoHS检测和Pb的快速分析 -多次分析结果显示 -自动计平均值 -计算标准偏差和相对标准偏差  RoHS指令分选模式 -显示分析结果是否满足要求 -快速分析环保样品,如污染土壤及沉积物 -矿石,精矿及尾矿的鉴别主要特点:仪器采用与斯派克公司高性能实验室用台式荧光光谱仪相同的小型低能量的X射线管,保证了准确的离子激发效果。特殊开发的SDD检测器,数据采集速度10倍于传统的检测器,提高了仪器的分析灵活性。 所有重要元素可在几秒钟测定 SPECTRO xSORT可获得实验室级别的分析结果,只需几秒钟即可完成元素周期表S 到 U所有元素的分析。RoHS指令快速检测仅需30秒。污染土壤和沉积物分析仅需数秒钟。适用于采矿业,可鉴别矿石、精矿和尾矿。即使在现场,也可通过可选的GPS包将现场分析结果与实际的分析点准确对应。 特殊开发的SDD检测器,数据采集速度10倍于传统的检测器:  - 从S 到 U的所有相关元素可一次测定  - 全面校准:测定简单无需操作人员决策  - 在几秒钟可获得实验室级别的分析结果  - 元素分析速度极快
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  • 帕纳科Epsilon1是一台完全集成的台式XRF能谱仪,为多个行业量身定制解决方案,包含预校准的软件、验证样和样品杯等。现已发布下列五种解决方案:1, Epsilon1 - Surfur in fuels2, Epsilon1 - Additives in lubricating oils3, Epsilon1 - Research and education4, Epsilon1 - Mining5, Epsilon1 - Milk powderE1 - 润滑油Epsilon 1润滑油最便捷的润滑油添加剂分析手段您是否正在寻找一种经济安全的润滑油添加剂测试手段?Epsilon 1就是解决此类问题的理想方案。在抵达您手头之前,Epsilon 1已经预先校准完毕,可以直接用于分析应用,分析结果确保遵循ASTM D6481标准(该标准规范了X射线荧光能谱仪分析润滑油中磷、硫、钙和锌的方法和准确度)。E1 - 油中硫Epsilon 1油中硫最便捷的燃油中硫的分析手段您是否正在寻找一种经济安全的燃油硫测试技术?Epsilon 1就是解决此类问题的理想方案。在抵达您手头之前,Epsilon 1已经预先校准完毕,可以直接用于分析应用,分析结果确保遵循ASTM D4294、ISO 20847、ISO 8754、IP 496和JIS K 2541-4标准(这些标准规范了X射线荧光技术分析石油和汽油等石油制品中硫的方法和准确度)。Epsilon 1 矿业版E1 - 矿业版应用于岩石矿产的安全可靠的X射线定量分析手段您是否正在寻找一种准确可靠的X射线定量分析手段应用于岩石矿产的分析?Epsilon 1就是解决此类问题的理想方案。得益于其紧凑的造型和对优秀的环境适应性,Epsilon 1可以就近放置在需要分析样品的地方,比如矿山矿场的办公室内。由于只需要进行很少的(甚至没有)样品制备,Epsilon 1可以方便的对矿产、岩石、水洗沉积物甚至钻孔芯进行定性定量分析。在具有安全可靠、易用、无化学品添加和配气需求等特点的同时,Epsilon 1能够提供与简单湿法分析相近准确度的数据。此外,Epsilon 1已经在工厂预装了市场上领先的无标定量分析软件——Omnian。该软件能够分析几乎所有种类固体和液体样品中横跨周期表从钠到镅的所有组分。Epsilon 1 科研版E1 - 科研版科学家手边的X射线荧光仪您是否正在寻找一种灵活简便的科研分析仪器?Epsilon 1正是所有研究机构现有分析设备的完美补充。该仪器既可以快捷地对元素进行定性定量,也可以完成更加复杂的分析任务。很多现代分析技术手段可以广泛应用于工业生产和质量控制领域,而与课堂的应用无缘。我们研发的Epsilon 1分析仪器可以方便地将最新的XRF分析技术带入课堂和实验室中。其直观的分析界面,简单易行的制样方法和操作步骤,紧凑安全的仪器系统,将成为您从事研究工作的有力工具,并吸引学生更多地参与到科研工作中来。
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  • 产品简介 AT-X100手持式X射线荧光检测仪是专为应对土壤重金属检测方面难题而设计,其汇聚多项最新技术,轻巧便携,只需一键操作,即可对各种土壤及沉淀物(可检测固体、粉尘、粉末、实心体、碎片、泥浆过滤物质、薄膜层等有形物体)进行多元素分析和检测,并可快速得到可靠的分析数据,协助即时策略制定,检测成本远低于实验室分析。只需轻轻扣动扳机,即可在现场对元素进行快速检测。可在任何环境和天气条件下使用,便捷地检测RCRA 金属、主要的污染物以及中国环境部要求检测的物品,快速得到可靠的分析数据, 应用领域◆污染水、废水中污染金属成份、污染模式、污染边界的迅速调查与测量。◆原土地、污染水、废水、等有害物质的现场处置最小化处理并给污染控制、补救方法的深度分析提供理论依据。◆现场监测RCRA所涉及的金属和优先控制的污染金属。◆可对:沙粒、污泥、固体废弃物、泥土、泥浆;粉尘、灰尘、过滤物、薄膜层等分析。◆因环境污染而导致的疾病与很多重金属元素有关,如:癌症(Ni,Cr)、 肾病(As,Pb)、肝病(As,Cu)、肺尘症(Fe)、哮喘(Ni)帕金森氏综合症(Mn)。主要特点◆1、仪器体积更小、重量更轻,方便携带;◆一键操作:整个分析过程仅需数秒,无需准备样品就可直接对土壤分析,操作简单;◆性能卓越:精度高,速度快,直观显示元素百分比含量(小数点后三位)及ppm含量;◆无损检测(NDT):不损害、不影响被检测样品使用性能,整个测试过程无任何损伤;◆个性化对象筛选:多种自定义设置,可根据需要变更测试条件、变更阈值;◆智能分析软件:专业管理分析软件,轻松实现对仪器的远程操控;可自行标定仪器、自动校准、诊断仪器故障; ◆数据处理:采用EXCEL,PDF等格式,自定义设置分析报告包括检测结果、光谱谱图及其他样品信息(如产品描述、产地、批号等);
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  • 多元素分析高灵敏度X射线荧光光谱仪(HS XRF)高性能XRF台式机PHECDA-HE&HES1.概述高灵敏度X射线荧光光谱仪(HS XRF) 型号:PHECDA-HES型号:PHECDA-HE核心技术: 硬件:单色化聚焦技术HS XRF 软件:快速基本参数法Fast FP&bull 硬件核心技术:单色化聚焦激发技术 全聚焦双曲面弯晶将X射线管出射谱某一特定波长单色化并聚焦衍射至样品点,因此从样品出射的X射线除了样品中的元素被激发产生的荧光X射线和单色化入射谱线的散射线外,不存在连续散射背景,从而保证待测元素特征线具有极低的背景干扰。 &bull 软件核心技术:快速基本参数法快速基本参数法Fast FP2.0 XRF法面临的难题是基体效应、元素间吸收-增强效应、标准样品欠缺等问题,对于不同类型样品的定量分析带来挑战。 基本参数法是当前X射线荧光领域的研究前沿, 快速基本参数法(Fast FP)通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算,将物理学明确的物理现象建立相应的数学模型,基本参数法充分计算X射线光产生的各种效应,减少分析误差,通过少量标准物质(或定值样品)的校正得到更为精确的元素定量结果。&bull 高灵敏度X射线荧光光谱仪PHECDA与快速基本参数法联用提供行业解决方案:解决方案解决问题应用特点应用领域土壤无机元素分析 &bull 满足《GB15618-2018土壤环境质量农用地土壤环境污染风险管控标准》中重金属限量值检测要求 &bull 满足《GB36600-2018土壤环境质量建设用地土壤污染风险管控标准》中重金属限量值检测要求 &bull 各类土壤与沉积物中50多种无机元素含量分析 &bull 优化镉的检出能力,土壤镉的检出限达到0.06mg/kg &bull Fast FP算法消除土壤基体差异,达到土壤无机元素精确定量分析环境监测、地质地矿、土壤检测、大学科研水质重金属检测 &bull 满足地表水、地下水、生活饮用水、企业排污水等重金属限值含量检测 &bull 环境水质污染事件重金属含量现场快速检测 &bull 重金属富集膜片技术(HMET)与HS XRF联用,将水质重金属检出限降低至1-3ug/L环境水质应急监测、环境水质现场检测固废重金属检测 &bull 满足固废中27种毒性元素和7种氧化物快速定量分析 &bull 危废鉴别-毒性元素含量分析 &bull Fast FP对各类固体废物的基体自适应 &bull 样品处理简单,快速定量分析环境监测、环境司法鉴定、科学研究、固废处理企业PM2.5无机元素分析 &bull 满足《HJ 829-2017 环境空气 颗粒物中无机元素的测定 能量色散X射线荧光光谱法》 &bull 提供从PM2.5无机元素分析到污染源溯源数据分析 &bull PM2.5膜片中三十几种无机元素含量快速含量分析 &bull Fast FP完成无标样(或少标样)情况下PM2.5膜片元素含量分析 环境监测、空气污染源调查、科学研究食品重金属快速检测 &bull 满足《GB2762-2017食品安全国家标准 食品中污染物限量》中部分食品重金属限量值检测要求 &bull 水产品、肉类、调味品、水果蔬菜、粮食、茶叶等食品及其制品中铅、镉、砷、铬、镍、锡等重金属含量检测 &bull 提供全套食品前处理设备与方案,样品处理简单,检测速度快 &bull Fast FP软件对各类食品基体的自适应 &bull 与实验室参比方法高度一致性食品安全领域、公安系统食品安防、海关食品监管矿石全元素分析 &bull 铁矿石、铅矿石、铜精矿、锰矿石等无机元素含量分析 &bull 矿石中有害元素(铅、砷、汞、镉等)含量分析 &bull 稀土元素含量分析 &bull 提供现场矿石元素含量整体解决方案 &bull Fast FP算法对各类矿石产品的精确定量分析能力地质、矿产、有色、海关中药重金属含量检测 &bull 满足中国药典规定的中药重金属(铅、镉、砷、铜)限量值含量检测要求 &bull Fast FP算法对各类中药基体的适应与背景扣除 &bull 快速、简单、精确中药行业石化产品中金属元素含量分析 &bull 满足汽柴油产品中铁、锰、铅限量值含量检测 &bull 润滑油、机油、汽柴油等各类油品中金属元素含量分析 &bull 对石化产品中金属元素检出限达到0.1mg/kg水平 &bull 二十多种金属元素同步分析石油化工水泥窑协同处置 &bull 满足环保和建材行业对水泥窑协同处置中规定的从生料、熟料到水泥及水泥浸出物的重金属元素含量检测 &bull 水泥工业全元素(钠、镁、铝、硅、铁、钙、氯等)含量分析,分析添加材对水泥质量影响的判断 &bull Fast FP算法对各类样品基体的自适应 &bull 重金属膜片富集技术(HMET)满足水泥熟料浸出物中重金属含量检测建材工业、水泥企业 2.特点 高灵敏度X射线荧光光谱仪具备重金属痕量检测能力,快速基本参数法(Fast FP)提升元素精确定量水平,两项核心技术的结合,为XRF元素检测带来新的应用前景。 2.1 单色化聚集激发技术 高灵敏度XRF重金属分析仪采用双曲面弯晶单色化器,优化元素的激发效率与减少X射线管连续散射线背景,提升元素荧光射线的信噪比。 2.2采用高性能SDD探测器 硅漂移探测器(SDD)是能量色散X射线荧光光谱仪的核心部件,其性能取决于晶体面积、窗口材料、计数率、分辨率等,PHECDA 系列采用当今高性能的SDD探测器,确保元素分析性能。 2.3 Fast FP算法 (1)XRF分析的困难点是元素荧光强度不仅与样品中元素含量相关,也与其它元素含量有关,这就是所谓的基体吸收-增强效应,而这种物理效应,使得选择合适的标准样品成为困难,若选择的标准样品基体不一致、不能含盖待测样品的各元素含量范围,就会对实际样品分析带来误差。 (2)基本参数法(Fundamental parameters method)通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算,建立相应的数学模型,基本参数法消除了由于不同类型样品基体差异所产生的背景差异,减少分析误差,通过少数标准品的校正即可得到更为精确的元素定量结果。 2.4 优化镉元素检出能力 镉是有毒重金属,在环境保护和食品安全等领域备受关注,常规XRF对镉(Kα:23.1KeV)的激发和探测存在挑战,高灵敏度X射线荧光光谱仪通过对镉的单色化聚焦激发,对镉的检出限达到的0.06mg/kg水平。 2.5 高通量 PHECDA-HES 配置30位以上自动进样单元; 无需气体、真空等辅助设备3.规格 指标参数说明原理 单波长激发-能量色散X射线荧光光谱法元素范围 Mg-U检出限(mg/kg) Cd:0.06mg/kg Pb:0.4mg/kg Cr:1.0mg/kg 土壤基体,元素扫描时间300秒重复性 Cd:0.3mg/kg RSD<15% 土壤基体,元素扫描时间300秒样品种类 固体样品、液体样品、粉末样品、粘稠样品 提供不同样品的制备方案自动进样 PHECDA-HES配置30位自动进样单元,可条形码扫描软件 Fast FP软件系统,支持各种样品应用开发、谱图显示对比、无标定量、标样校正、元素定量分析、数据存储、网络传输富集技术 重金属富集膜片(HMET)与HS XRF联用技术,水质重金属检出限达到1~3ug/L详细技术参数与应用方案请咨询安科慧生工作人员! 4.应用4.1 痕量元素检出能力 单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪基于全聚焦性双曲面弯晶的单色化聚焦技术,提升元素信号强度的同时大幅降低散射线背景,大幅提升样品元素信噪比,从而将XRF对元素分析延伸至微量和痕量应用领域。 4.2 软件准确定量能力 安科慧生科研人员历时十几年成功开发先进的快速基本参数法(Fast FP),其通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算,建立相应的数学模型,快速基本参数法消除了由于不同类型样品基体差异所产生的背景差异,减少分析误差,通过少数标准品的校正即可得到元素定量分析结果。 高灵敏度X射线荧光光谱仪PHECDA系列与快速基本参数法(Fast FP)的强强联合,为以下行业提供完整的解决方案:应用领域解决方案编号编号环境保护 农用地和建设用地土壤无机元素含量分析 HMET+HS XRF联用应对环境水质重金属应急监测 固体废物重金属含量检测 PM2.5无机元素含量分析与数据溯源食品安全 食品中重金属含量快速测定-X射线荧光基本参数法 中药中重金属含量检测-HS XRF with Fast FP 化妆品中重金属含量检测-高灵敏度XRF重金属分析仪地质矿产 HS XRF与Fast FP对各类矿石元素含量分析 稀土元素含量快速检测高纯金属(合金)分析(铜)精矿元素含量分析其它 水泥窑协同处置重金属含量分析 石化产品中金属元素含量分析
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  • 仪器简介:PrimusIV上照射式X射线荧光光谱仪,因采用了新型分光晶体,使轻元素分析(如C,B)灵敏度大幅度提高.超轻元素对应X射线光管,大功率4kw,薄窗,适合轻元素分析 .1次滤波片,可去掉来自光管的特征谱线,减低背景.双真空,双泵设计,节省抽真空时间.防粉尘附件,可防止粉末掉入真空泵.微区分析适合少量样品分析. 软件在原有的SQX软件基础上进一步完善,采用对话方式,进行EZ扫描.应用模板,可将各种测试条件,以及前处理顺序设置其中.FP无标样分析,是理学公司多年来总结出的一套很好的分析方法,不设定测试成分也能准确分析.流程条,按顺序显示测试处理内容.标准样品,操作手册全中文提供,方便中国用户. 维修保养:PAS自动调整,芯线自动清洗.给用户带来方便.
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  • 手持式X光荧光分析仪(HHXRF)的X-MET8000系列提供进行快速的合金等级鉴定及多种材料(固体和粉末金属、聚合物、木材、溶液、土壤、矿石、矿物等)的准确化学结构分析所需的性能。 X-MET方便、耐用且使用简单,可为您提供可靠的结果。我们提供多种型号的产品,符合您不同应用的所有分析需要和预算。为什么选择 X-MET 光谱仪卓越性能X-MET提供极好的轻元素 (镁、铝、硅、磷、硫、氯)分析,检测限度低,且可每天提供准确可靠结果。通过灵活的基本参数法(FP)法进行分析,从而测试多种材料;或若需结果可追溯和高度准确,则使用实证校准。操作简单大触摸屏和基于图标的用户界面,使用户只需要极少的培训便可开始操作。符合人体工学X-MET轻便(仅1.5公斤)、简洁、平衡性好,可供长时间使用,而疲劳度非常低。坚固耐用而拥有成本低符合IP54要求(等同于NEMA 3)、防水、防尘的X-MET可供室内外使用。通过MIL-STD-810G军用耐用标准测试。其可选的防扎窗口膜可预防在粗糙表面上测量导致探测器损坏而出现的高昂维修费用。高级数据管理完全灵活:可将多达100,000条结果保存在X-MET上,将报告输出到U盘或个人计算机,或自动将X-MET数据存储在LiveData云端。应 用X-MET8000 SmartX-MET8000 OptimumX-MET8000 Expert废金属回收√√√材料可靠性鉴定(PMI)检查√√制造与 PMI QA/QC√√√贵金属 √√√监管机构合规筛查(消费品、包装、原材料…)√√ X-MET8000 Expert CG环境土壤筛查√ X-MET8000 Optimum Geo√ X-MET8000 Expert Geo矿石和矿物√ X-MET8000 Optimum Geo√ X-MET8000 Expert Geo金属镀层厚度测量√√√ X-MET8000 Expert / Expert CG科技考古√√ X-MET8000 Expert / Expert CG / Expert Geo比较型号X-MET8000 SmartX射线管:40kV滤光片:单一检测器:大面积 SDD最高样本温度:400oC符合 IP54 等级Thick Kapton窗口:保护以预防探测器的窗户损坏校准:基本参数法(FP)内置摄像头 (可选)X-MET8000 OptimumX射线管:40kV or 50kV滤光片:6位滤光转换器检测器:大面积 SDD最高样本温度:100oC 或通过 HERO&trade 耐热窗户400oC(可选)符合 IP54 等级可选窗口防护罩:预防检测器的窗口损坏进行保护校准:基本参数法 (包括轻元素分析)内置摄像头(可选)小光班准直器(可选)针对所有元素(从镁到铀)进行优先分析的六位滤光片X-MET8000 ExpertX射线管:50kV滤光片:6位滤光转换器检测器:大面积 SDD最高样本温度:100oC 或通过 HERO&trade 耐热窗户400oC(可选)符合 IP54 等级可选窗口防护罩:预防检测器的窗口损坏进行保护校准方法:自动跳转的经验系数法(可进行追溯)内置摄像头小光班准直器 (可选) 针对所有元素,从镁到铀,的优先分析的六位滤光片
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  • 致元素分析的您兼具优越分析性能和高操作性能的旗舰机型满足所有领域不同的应用电子电气RoHS指令、无卤素等筛选分析半导体、存储装置、液晶、太阳能电池等各种薄膜分析 汽车机械应对ELV指令的筛选分析各种机械零部件结构分析及镀层厚度、化学合成外膜附着量的检测 钢铁非金属原材料、合金、焊锡、贵金属的主要成分、残余成分的分析炉渣的组成分析 矿业选矿工艺的成色鉴别分析 窑业陶瓷、水泥、玻璃、砖、粘土的分析 石油石油化学油中硫元素的分析润滑油中各种添加元素及混入元素的分析化学工业无机有机原料和产品分析催化剂、颜料、涂料、橡胶、塑胶的分析 环境土壤、排水、焚烧灰、过滤、PM2.5等成分分析 医药合成时的残留催化剂分析原药中不纯物分析、异物分析 农业食品土壤、肥料、植物的分析食品的原料分析、添加元素管理、混入异物的分析 其它考古学样品及宝石成分分析 玩具日用品中有害重金属元素测定等460mm宽的紧凑身材,配备大容量的样品室460mm宽的紧凑身材,与我公司以往机型相比尺寸减少20%。而紧凑的机身,却拥有最大可放置200(W)×275(D)×约100(H)mm样品的大型样品室。“初次见面”也可轻松上手的软件PCEDX Navi为了使X射线荧光分析贴近每一个实验室,深入浅出的软件PCEDX Navi应运而生。凭直觉操作的浅显简单画面,使从初学者到专家的每一位用户都可以体验到便捷的操作环境。无与伦比的分析性能配置高性能半导体检测器,与最佳化的光学系统和一次滤光片的组合,实现前所未有的高灵敏度。从轻元素到重元素,全范围轻松应对。与以往配置液态氮的半导体检测器相比,检测下限可提升1.5~5倍,可应对高要求的研究分析。分辨率出色,分析多元素组成的样品可降低谱峰重叠的影响,提升分析结果的可靠性。另外,与以往机型相比可以在更短的时间内完成精确分析,高通量检测器最大可提高10倍,适用于高速分析的产品管理。无需液态氮的电子制冷半导体检测器有效控制运行成本,有利于提高产品维护性能。卓越的通用性从微小样品到大型样品,从粉末样品到液体样品,灵活应对各类样品。配备进行轻元素的高灵敏度分析时所需的真空检测单元、氦气置换检测单元,以及可实现自动连续测定的12位样品转台(选购件)。装置规格测定原理 X射线荧光分析方法测定方法 能量色散型测定对象 固体液体粉末测定范围 11Na - 92U (EDX-7000) 6C - 92U (EDX-8000)样品室尺寸 最大300(W)×275(D)×约100(H)mm一次滤光片 5种(含OPEN为6种)自动切换检测器类型 SDD液态氮供给 不要(电子制冷) 定量分析 工作曲线法、共存元素校正、FP法、薄膜FP法、背景FP法 FDA 21CFR Part11应对系统样品无损且无需前处理,通过X射线荧光,即可简单轻松实现对医药品中杂质的管理 分析只需4 Step!遵照制药界的FDA 21CFR Part11标准以提升效率为目标,使用LabSolutions CS进行数据管理通过X射线荧光可以实现对杂质的分析
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  • Vanta手持式X射线荧光分析仪  大幅提高现场和实验室的检测效率  使用Vanta手持式X射线荧光分析仪可在任何地点立即识别材料及其化学成份。Vanta系列利用智能云连接技术提供快速、准确的元素分析和材料辨别。我们的下一代Vanta手持式XRF分析仪(Vanta Max和Vanta Core)将Vanta系列的精度、速度和耐用性与改进的人体工程学设计、精简的界面和增强的连接性相结合,提高了工作效率。使用舒适且坚固耐用,可进行全天测试Vanta分析仪采用增强型人体工程学设计,是一种可在现场和实验室长时使用的高效工具。这些分析仪坚固耐用、易于操作,能够在恶劣环境中正常运行更长的时间。  ❯ 平衡式手柄可减轻手部疲劳  ❯ 握持安全舒适,适合全天时检测  ❯ 通过了4英尺坠落测试(MIL-STD-810G)  ❯ 符合IP54评级标准,防水防尘  ❯ 标准的3年质保,可保护您的投资  高效的工作流程  Vanta分析仪现在更加易于使用。使用现代、直观的界面和基于浏览器的软件选项,提高了工作效率。  ❯ 可通过可选配无线连接实现无缝数据集成,在PC机、平板电脑或智能手机上查看、共享和管理XRF结果  ❯ 通过自动软件更新,可即时享受新添功能  ❯ 可添加自定义分析功能的选项,提高了应用支持的水平  ❯ 可访问Evident Connect(Evident连接)云,无缝获取数据并使用多设备管理功能  Vanta分析仪的现代化界面易于使用和操控。  值得信赖的XRF技术  Vanta分析仪被全球数以千计的客户用于各种各样的应用中。以久经考验的性能为基础而打造的Vanta Max和Vanta Core分析仪,可进行精确度和准确度都很高的便携式XRF分析。  ❯ Vanta系列分析仪所Axon技术,使用超低噪声电子元件,可实现更高的X射线计数率,从而可以快速获得精确、可重复的结果。  ❯ Axon技术可使不同Vanta分析仪的各次检测都具有非同一般的高重复性能,因此无论您使用的是哪台分析仪,其开始检测与末次检测的准确性都别无二致。  X射线荧光的工作原理  X射线荧光(XRF)是一种利用X射线测量样件元素组成的无损检测技术。X射线荧光通过四个步骤发挥作用:  1. 发射:分析仪发射X射线。  2. 激发:X射线照射样件,后者发出荧光,将X射线反射回分析仪。  3. 测量:探测器对返回的X射线进行计数。探测器测量每条X射线的能量,从而形成频谱。频谱可以告诉我们存在哪些元素以及每种元素的含量。  4. 结果:能谱通过软件进行处理,并显示为样件的元素组成。在检测金属时,我们将得到的元素组成与某个特定的合金牌号相匹配。  Vanta手持式X射线荧光分析仪的应用领域  Vanta分析仪可为从合金辨别到考古遗址评估等各种各样的应用迅速提供分析结果。我们的Vanta分析仪可针对特定应用为用户提供一系列软件功能,从而可使操作员充分利用分析仪的性能。此外,其报告创建过程也得到简化,而且其分析结果还具有可追溯性。  金属废料和汽车催化剂回收  用于废料分拣的Vanta分析仪带有一个SmartSort功能,可以基于被测材料简单直观地延长或缩短检测时间,从而既节省了时间,又尽可能为用户提供了优质匹配结果。软件会将获得的结果与合金成分库中的数据进行自动比较,以将未知材料和已知合金进行快速匹配。用户使用牌号匹配信息功能,可为每个牌号编制信息,这些信息会在适当的情况下作为警告或指示出现在屏幕上。这些消息使操作员只需稍加培训即可轻松使用分析仪。在汽车催化剂回收方面,Vanta分析仪可快速分析贵金属含量,以进行准确的价格评估。  环境评估  Vanta分析仪可以方便地对土壤和其他材料进行筛查,以探测出污染金属。分析结果可以与GPS数据配对进行结果勘察,然后以无线方式被传输到地理信息系统(GIS),以绘制出污染性金属的位置图。这款分析仪可在场地定性、环境评估、房产评估及污染物跟踪方面快速得到具有决策性的结果。  材料可靠性鉴定(PMI)与制造工业质量控制/质量保证  Vanta分析仪可以根据美国石油学会推荐规程578(API-RP-578)验证是否在关键位置上安装了正确的合金,从而有助于确保精炼厂、石化工厂以及其他处理厂的安全。贵重或关键部件及机械的制造商和安装人员在了解了这些部件和机械装置使用了正确牌号的合金的情况下,就会放下心来,不用担心安全问题,尽管可能不知道材料的来源。Vanta分析仪可以测量任何样件基质上的镀 层、电涂层和其他涂层的厚度。Vanta系列分析 仪的可选全景摄像头、条形码读取器、可由用户定义的输入字段、连通性能以及丰富的数据报告功能,都可使检测人员充满信心,并提高分析仪追溯数据到野外现场的性能。  珠宝分析和贵金属辨别  Vanta分析仪可对包含金(Au)、银(Ag)、铂(Pt)和钯(Pd)在内的各种首饰和贵金属进行现场鉴定。该分析仪可对黄金合金(0-24K)的纯度进行准确分类,并可探测到镀金。  科研与教育  Vanta分析仪可提供定量元素信息,以指导研究实验,并辨别未知或复杂的材料。快速的结果使研究人员能够在适用的基于科学的项目中获得相关数据。  地球化学、勘探和采矿  Vanta分析仪是矿产勘探和采矿公司、地质顾问以及以地质为重点的学术、政府和研究机构的工具。它在任何环境下都能提供具有再现性的精确结果,以可靠性和坚固耐用作为设计的核心思想,以尽量缩短停工期。我们以地质中心型全球支持和培训为后盾,在协助客户开发适用的工作流程方面积累了丰富的经验,可以尽量发挥Vanta分析仪的效用。Vanta分析仪配有机载摄像头、准直器、GPS* 、探测器快门闸保护以及一系列以地质为重点的配件,将继续成为地球化学应用领域的优质选择。  合规和安全筛查  Vanta系列可筛查消费产品(如玩具、服装和鞋类)和电子设备中的铅(Pb)、镉(Cd)、砷(As)、汞(Hg)和铬(Cr)等有毒金属和危险物质,以遵守电气电子设备有害物质限制规定。安装了可选摄像头的Vanta分析仪可以自动归档样品图像和结果,从而成为一款完成合理测试方案的理想工具。出色的灵敏度使其能够达到较低的管制元素检出限,直观的界面可提供简单的通过/失败测定。  *仅限Vanta Max型号。  适合于各种预算的便携式X射线荧光分析仪型号  无论型号如何,每台Vanta手持式X射线荧光分析仪都经过精心设计,具有耐用性和分析性能。Evident生产的Vanta分析仪可以满足各种应用和预算需求。  Vanta Max  Vanta Max型号具有该系列强大的分析能力,适用于包括矿产勘探、学术研究、土壤测试和环境分析在内的各种强大应用。  Vanta Core  Vanta Core型号兼具高速度、低检出限(LOD)和宽元素范围等特性,是快速完成合金辨别的标准选择。  我们的承诺  Evident是XRF技术领域中的企业,在检测质量和分析结果的准确性方面久负盛名。我们致力于通过我们的全球销售网和消费者服务团队,在产品、应用、培训和技术方面,为我们的用户提供上乘的技术支持和售后服务。  用途广泛的X射线荧光分析仪配件  Vanta Max和Core型号可与可选配的X射线荧光分析仪附件配套使用,包括重新设计的土壤支架、野外台座和机套,以提高野外工作的效率。  土壤支架  Vanta土壤支架为Vanta分析仪提供了稳固的三点支撑。使用这个配件,您无需手持分析仪,就可以完成检测。在需要进行长时检测时,这个配件有助于轻松方便地完成检测。  野外台座  在检测较小的物件时,如放在杯中或袋中的样品,Vanta野外台座为分析仪提供了一个轻便、移动式检测台和一个屏蔽式样品舱。在需要离开办公室到较远的地方完成检测任务时,野外台座携带简单,使用方便。  机套  将Vanta分析仪放在Vanta机套中,不仅可使分析仪得到安全妥善的保护,而且还可方便地携带分析仪。  工作站  便携式Vanta工作站由电池供电,可以随时随地进行检测。 工作站有一个连锁的盖子,并提供360度屏蔽功能,可方便地对袋装样品、预先制备的样品、液体样品或包含珠宝和电路板在内的细小物件进行检测。在这种封闭式光束设置中,用户使用Vanta基于浏览器的软件操作分析仪。  Vanta的规格
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  • 仪器简介:SPECTRO MIDEX 配有高分辨的检测系统,并采用点对点激发,确保了仪器优异的分析性能。通过程序控制的四种准直系统,SPECTRO MIDEX 可根据不同分析要求,来调节元素分布分析的分辨率。SPECTRO MIDEX 在单位时间内接收的荧光脉冲数量比传统技术多2倍,这样就可以在短短的几个小时内完成深入细致的元素分布分析。对于钠等轻元素的分析,可采用在分析点充入氦气的方法进行分析。SPECTRO MIDEX 也非常适合于未知样品的点的快速分析,在2分钟内即可完成从钠到铀的全分析。   SPECTRO MIDEX 不仅是生产过程中理想的分析仪器,也适合各种科学研究和实验室分析,它可以分析体积很小的样品、研究材料组成,测定样品表面的元素成分等。主要特点:黄金珠宝、牙科合金材料及其他稀有金属的分析要求高精度,非破坏性而且测量点小。德国斯派克分析仪器公司新推出的SPECTRO MIDEX X 射线荧光能谱仪正是满足了这一要求,可最迅速、准确地提供分析数据。   SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射线管和高分辨率的检测系统,集准直、聚焦、样品激发于一体,是功能强大的金属分析仪SPECTRO MIDEX 适合分析体积很小的稀有金属或面积较小的样品。样品室配有易于调节的样品台。通过20倍变焦摄像机可精确地确定测量位置。仪器配有计算机和专业化的软件,使操作极为简便。测量点直径为0.7mm,样品的总测量时间不超过100秒。在测定稀有金属合金中的金含量时,样品的测量精度为0.15%。SPECTRO MIDEX 也可满足快速分析的需要,在2分钟内可完成从铝到铀的所有数十种元素的分析。   SPECTRO MIDEX 不仅仅适用于珠宝行业、贵金属检验机构,海关商检、造币工业等,还可完成其它分析任务如:非破坏性检查,贵金属分选,电子线路及电气元件的分析等。
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  • S4 TStar — TXRF全反射X射线荧光光谱仪 数十年来,X 射线荧光(XRF)光谱法在多个行业中被广泛用于对固体和石油化工样品进行元素分析,检测限值低于PPb 量级。TXRF 扩展了XRF 的应用范围,可以分析液体样品、悬浮液和膜片中的超微量元素。优异的样品通用性S4 TStar 是一种通用性很强的工具,可以分析不同反射载体上的多种类型的样品。ICP 只能分析完全溶解的液体样品。图一:30 毫米石英片:对液体、固体和悬浮液进行元素分析图二:2 英寸晶片:污染分析、深度剖析和材料科学研究图三:显微镜载玻片:临床和生物学样品,直接分析细胞培养物、涂片和切片图四:矩形载体:尺寸小于54 毫米,用于膜片、滤片、纳米颗粒层 定制的反射介质 行业应用: 药品检测活性药物成分中的催化元素:液体或丸粒中的铅含量小于0.1 / 0.5ppm 食品粮农组织和世卫组织的食品标准:大米中的砷含量小于10 / 40ppb。 环境监测环境监测:地表水,废水、污泥和核废液中的污染物含量小于1 / 10ppb。
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