近红外荧光寿命测量系统

产品简介：LifeSpec II 是一款结构紧凑，高度集成化，高性能的荧光寿命测试光谱仪，与高频闪脉冲飞秒和皮秒激光器联用。这个系统是一个全自动化的解决方案，适合基础研究和常规实验室应用。它的零时间色散光学设置对于测量超快衰减提供了强大的技术支持。技术特点：荧光寿命范围低至5ps（依赖于检测器和光源）采用先进的时间相关单光子计数技术双光栅发射单色器相减模式设计，大限度抑制杂散光，防止脉冲展宽，到达零时间色散标配紫外可见区检测，可升级到近红外可选多种激发光源 EPL脉冲激光二极管：375~670nm可选 EPLED脉冲LED：265~360nm可选 耦合超连续激光器、耦合多种型号飞秒激光器可选检测器 蓝敏光电倍增管、红敏光电倍增管、MC-PMT、NIR PMT

荧光和荧光寿命分子包含多个单能态S0、S1、S2… 和三重态T1… ，每个能态都包含多个精细的能级。正常情况下，大部分电子处在*低能态即基态S0 的*低能级上，当分子被光束照射，会吸收光子能量，电子被激发到更高的能态S1 或S2 上，在S2 能态上的电子只能存在很短暂的时间，便会通过内转换过程跃迁到S1 上，而S1 能态上的电子亦会在极短时间内跃迁到S1 的*低能级上，而这些电子会存在一段时间后通过震荡弛豫辐射跃迁到基态，这个过程会释放一个光子，即荧光。此外，亦会有电子跃迁至三重态T1 上，再由T1 跃迁至基态，我们称之为磷光。荧光特性研究荧光特性时，主要在以下几方面进行分析：激发光谱，发射光谱、荧光强度、偏振荧光、荧光发光量子产率、荧光寿命等。其中荧光寿命（Fluorescence Lifetime）是指荧光分子在激发态上存在的平均时间（纳秒量级）。荧光寿命测试荧光寿命一般在几纳秒至几百纳秒之间，如今主要有两类测试方法：时域测量和频域测量时间稳定性实验测试曲线：1 时域测量由一束窄脉冲将荧光分子激发至较高能态S1，接着测量荧光的发射几率随时间的变化。其中目前广泛应用的是时间相关单光子计数，即TCSPC(Time Correlated Single Photon Counting)时间相关单光子计数(TCSPC) 实现了从百ps-ns-us 的瞬态测试，此方法对数据的获取完全依赖快速探测器和高速电路。用统计的方法计算样品受激后发出的第一个( 也是*一的一个) 光子与激发光之间的时间差，也就是下图的START( 激发时刻) 与STOP( 发光时刻) 的时间差。由于对于Stop 信号的要求，所以TCSPC 一般需要高重复频率的光源作为激发源，其重复至少要在100KHz 以上，多数的光源都会达到MHz 量级；同时，在一般情况下还要对Stop 信号做数量上的控制，做到尽量满足在一个激发周期内，样品产生且只产生一个光子的有效荧光信号，避免光子对的出现。2 频域测量对连续激发光进行振幅调制后，分子发出的荧光强度也会受到振幅调制，两个调制信号之间存在与荧光寿命相关的相位差，因此可以测量该相位差计算荧光寿命。 左图为正弦调制激发光（绿色）频域显示，发射光信号（红色）相应的相位变化频域显示。右图为对应不同寿命的调制和相位的频域显示。TM- 调制寿命，TP- 相位寿命。[1]显微荧光寿命成像技术（FLIM）显微荧光寿命成像技术（Fluorescence Lifetime ImagingMicroscopy，FLIM）是一种在显微尺度下展现荧光寿命空间分布的技术，由于其不受样品浓度影响，具有其他荧光成像技术无法代替的优异性能，目前在生物医学工程、光电半导体材料等领域是一种重要的表征测量手段。FLIM 一般分为宽场FLIM 和激光扫描FLIM。宽场FLIM（Wide Field FLIM,WFM）该技术是用平行光照明并由物镜聚焦样品获得荧光信号，再由一宽场相机采集荧光成像。宽场FLIM 常用于快速获取大面积样品成像。时域或是频域寿命采集都可以应用在宽场成像FLIM 上。宽场FLIM 有更高帧率和低损伤的优势。2 激光扫描FLIM（Laser Scanning FLIM,LSM）激光扫描FLIM 是针对选定区域内的样品逐点获取其荧光衰减曲线，再经过拟合最终合成荧光寿命图像。相比宽场FLIM，其在空间分辨率、信噪比方面有更大的优势。扫描方式有两种：一种是固定样品，移动激光进行扫描，一种是固定激光，电动位移台带动样品移动进行扫描。显微荧光寿命成像系统RTS2-FLIM应用材料科学领域宽禁带半导体如GaN、SiC 等体系的少子寿命mapping 测量量子点如CdSe@ZnS 等用作荧光寿命成像显微镜探针钙钛矿电池/LED 薄膜的组分分析、缺陷检测铜铟镓硒CIGS，铜锌锡硫CZTS 薄膜太阳能电池的组分、缺陷检测镧系上转换纳米颗粒GaAs 或GaAsP 量子阱的载流子扩散研究生命科学领域细胞体自身荧光寿命分析自身荧光相对荧光标记的有效区分活细胞内水介质的PH 值测量局部氧气浓度测量具有相同频谱性质的不同荧光标记的区分活细胞内钙浓度测量时间分辨共振能量转移（FRET）：纳米级尺度上的远差测量，环境敏感的FRET 探针定量测量代谢成像：NAD(P)H 和FAD 胞质体的荧光寿命成像显微荧光寿命成像系统RTS2-FLIM应用案例1 用荧光分子对海拉细胞进行染色用荧光分子转子Bodipy-C12 对海拉细胞（宫颈癌细胞的一种） 进行染色。(a) 显微荧光寿命成像图，寿命范围1ns（蓝色）到2.5ns（红色）；(b) 荧光寿命直方图，脂肪滴的短寿命约在1.6ns 附近，细胞中其他位置寿命较长，在1.8ns 附近。用荧光分子转子的时间分辨测量*大的好处在于荧光寿命具备足够清晰的标签特性，且与荧光团的浓度无关。[2]2 金属修饰荧光金属修饰荧光：(a) 荧光寿命是荧光团到金表面距离的函数；(b) 用绿色荧光蛋白（GFP）标记乳腺腺癌细胞的细胞膜的共聚焦xz 横截面，垂直比例尺：5m；(c) b 图的FLIM 图，金表面附近的GFP 荧光寿命缩短。[2]3 钙钛矿太阳能电池下图研究中，展示了一种动态热风（DHA）制备工艺来控制全无机PSC 的薄膜形态和稳定性，该工艺不含有常规的有害反溶剂，可以在大气环境中制备。同时，钙钛矿掺有钡（Ba2+） 碱金属离子（BaI2:CsPbI2Br）。这种DHA 方法有助于形成均匀的晶粒并控制结晶，从而形成稳定的全无机PSC。从而在环境条件下形成完整的黑色相。经过DHA处理的钙钛矿光伏器件，在0.09cm小面积下，效率为14.85%，在1x1cm的大面积下，具有13.78%的*高效率。DHA方法制备的器件在300h后仍然保持初始效率的92%。4 MQWs 多量子阱研究在(a) 蓝宝石和(b) GaN 上生长的MQWs 的共焦PL mapping 图像。具有较小尺寸的发光团的最高密度是观察到在GaN 上生长的MQWs。在(c) 蓝宝石和(d)GaN 上生长的MQWs 的共焦TRPL mapping 图。仅对于在GaN 上生长的MQWs，强的PL 强度区域与较长PL 衰减时间的区域很好地匹配。在(e) 蓝宝石和(f)GaN 上生长的MQWs 在A 点和B 点测量的局部PL 衰减曲线，均标记在图中。对于在GaN 上生长的MQWs，点A 和B 之间的PL 衰减时间差更高。显微荧光寿命成像系统FLIM参数配置北京卓立汉光仪器有限公司提供的显微荧光寿命成像系统是基于显微和时间相关单光子计数技术，配合高精度位移台得到微观样品表面各空间分布点的荧光衰减曲线，再经过用数据拟合，得到样品表面发光寿命表征的影像。是光电半导体材料、荧光标记常用荧光分子等类似荧光寿命大多分布在纳秒、几十、几百纳秒尺度的物质的选择。参数指标：系统性能指标光谱扫描范围200-900nm最小时间分辨率16ps荧光寿命测量范围500ps-1μs@ 皮秒脉冲激光器空间分辨率≤1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器荧光寿命检测IRF≤2ns配置参数激发源及匹配光谱范围（光源参数基于50MHz 重复频率）375nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：30ps，平均功率1.5mW，荧光波段：400-850nm405nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：25ps，平均功率2.5mW，荧光波段：430-920nm450nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：50ps，平均功率1.9mW，荧光波段：485-950nm488nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：70ps，平均功率1.3mW，荧光波段：500-950nm510nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：75ps，平均功率1.1mW，荧光波段：535-950nm635nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：65ps，平均功率4.3mW，荧光波段：670-950nm660nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：60ps，平均功率1.9mW，荧光波段：690-950nm670nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：40ps，平均功率0.8mW，荧光波段：700-950nm科研级正置显微镜落射明暗场卤素灯照明，12V，100W5 孔物镜转盘，标配明场用物镜：10×，50×，100×监视CCD：高清彩色CMOS 摄像头，像元尺寸：3.6μm*3.6μm，有效像素：1280H*1024V，扫描方式：逐行，快门方式：电子快门电动位移台高精度电动XY 样品台，行程：75*50mm（120*80mm 可选），最小步进：50nm，重复定位精度：＜ 1μm光谱仪320mm 焦距影像校正单色仪，双入口、狭缝出口、CCD 出口，配置三块68×68mm 大面积光栅，波长准确度：±0.1nm，波长重复性：±0.01nm，扫描步距：0.0025nm，焦面尺寸：30mm(w)×14mm(h)，狭缝缝宽：0.01-3mm 连续电动可调探测器：制冷型紫外可见光电倍增管，光谱范围：185-900nm（标配，可扩展）光谱CCD（可扩展PLmapping）低噪音科学级光谱CCD（LDC-DD），芯片格式：2000x256，像元尺寸：15μm*15μm, 探测面：30mm*3.8mm，背照式深耗尽芯片，低暗电流，*低制冷温度-60℃ @25℃环境温度，风冷，最高量子效率值95%时间相关单光子计数器（TCSPC）时间分辨率：16/32/64/128/256/512/1024ps… … 33.55μs，死时间＜ 10ns，*高65535 个直方图时间窗口，瞬时饱和计数率：100Mcps，支持稳态光谱测试；OmniFluo-FM 荧光寿命成像专用软件控制功能：控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等数据处理功能：自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示图像处理功能：直方图、色表、等高线、截线分析、3D 显示等操作电脑品牌操作电脑，Windows 10 操作系统软件界面控制测试界面测试软件的界面遵循“All In One”的简洁设计思路，用户可在下图所示的控制界面中完成采集数据的所有步骤：包括控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等。数据处理界面功能丰富的荧光寿命数据处理软件，充分挖掘用户数据中的宝贵信息。可自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示。自主开发的一套时间相关单光子计数（TCSPC）荧光寿命的拟合算法，可对荧光衰减曲线中最多包含4 个时间组分的荧光过程进行拟合，获得每个组分的荧光寿命，光子数比例，计算评价函数和残差。TCSPC 荧光寿命通常并非简单的指数衰减过程，而是与光源及探测器相关的仪器响应函数（IRF）与荧光衰减过程相互卷积的结果，因此适当的拟合方法和参数选择对获得正确可靠的荧光寿命非常重要。该软件可导入实际测量的IRF 对衰减曲线进行卷积计算和拟合。但是大多数情况下， IRF 很难正确的从实验获得，针对这种情况，软件提供了两种无需实验获取IRF 的拟合方法：1.通过算法对数据上升沿进行拟合，获得时间响应函数IRF，然后对整条衰减曲线进行卷积计算和拟合得到荧光寿命。2.对于衰减时间远长于仪器响应时间的，可对衰减曲线下降沿进行直接的指数拟合。该软件经过大量测试，可以很好的满足各种场合的用户需求。MicroLED 微盘的荧光强度像（3D 显示）：

荧光和荧光寿命分子包含多个单能态S0、S1、S2…和三重态T1…，每个能态都包含多个精细的能级。正常情况下，大部分电子处在*低能态即基态S0 的*低能级上，当分子被光束照射，会吸收光子能量，电子被激发到更高的能态S1 或S2 上，在S2 能态上的电子只能存在很短暂的时间，便会通过内转换过程跃迁到S1 上，而S1 能态上的电子亦会在极短时间内跃迁到S1 的*低能级上，而这些电子会存在一段时间后通过震荡弛豫辐射跃迁到基态，这个过程会释放一个光子，即荧光。此外，亦会有电子跃迁至三重态T1 上，再由T1 跃迁至基态，我们称之为磷光。荧光特性研究荧光特性时，主要在以下几方面进行分析：激发光谱，发射光谱、荧光强度、偏振荧光、荧光发光量子产率、荧光寿命等。其中荧光寿命（Fluorescence Lifetime）是指荧光分子在激发态上存在的平均时间（纳秒量级）。荧光寿命测试荧光寿命一般在几纳秒至几百纳秒之间，如今主要有两类测试方法：时域测量和频域测量时间稳定性实验测试曲线：1 时域测量由一束窄脉冲将荧光分子激发至较高能态S1，接着测量荧光的发射几率随时间的变化。其中目前广泛应用的是时间相关单光子计数，即TCSPC(Time Correlated Single Photon Counting)时间相关单光子计数(TCSPC) 实现了从百ps-ns-us 的瞬态测试，此方法对数据的获取完全依赖快速探测器和高速电路。用统计的方法计算样品受激后发出的*一个( 也是唯一的一个) 光子与激发光之间的时间差，也就是下图的START( 激发时刻) 与STOP( 发光时刻) 的时间差。由于对于Stop 信号的要求，所以TCSPC 一般需要高重复频率的光源作为激发源，其重复至少要在100KHz 以上，多数的光源都会达到MHz 量级；同时，在一般情况下还要对Stop 信号做数量上的控制，做到尽量满足在一个激发周期内，样品产生且只产生一个光子的有效荧光信号，避免光子对的出现。2 频域测量对连续激发光进行振幅调制后，分子发出的荧光强度也会受到振幅调制，两个调制信号之间存在与荧光寿命相关的相位差，因此可以测量该相位差计算荧光寿命。 左图为正弦调制激发光（绿色）频域显示，发射光信号（红色）相应的相位变化频域显示。右图为对应不同寿命的调制和相位的频域显示。TM- 调制寿命，TP- 相位寿命。[1]显微荧光寿命成像技术（FLIM）显微荧光寿命成像技术（Fluorescence Lifetime ImagingMicroscopy，FLIM）是一种在显微尺度下展现荧光寿命空间分布的技术，由于其不受样品浓度影响，具有其他荧光成像技术无法代替的优异性能，目前在生物医学工程、光电半导体材料等领域是一种重要的表征测量手段。FLIM 一般分为宽场FLIM 和激光扫描FLIM。宽场FLIM（Wide Field FLIM,WFM）该技术是用平行光照明并由物镜聚焦样品获得荧光信号，再由一宽场相机采集荧光成像。宽场FLIM 常用于快速获取大面积样品成像。时域或是频域寿命采集都可以应用在宽场成像FLIM 上。宽场FLIM 有更高帧率和低损伤的优势。2 激光扫描FLIM（Laser Scanning FLIM,LSM）激光扫描FLIM 是针对选定区域内的样品逐点获取其荧光衰减曲线，再经过拟合*终合成荧光寿命图像。相比宽场FLIM，其在空间分辨率、信噪比方面有更大的优势。扫描方式有两种：一种是固定样品，移动激光进行扫描，一种是固定激光，电动位移台带动样品移动进行扫描。FLIM 应用材料科学领域宽禁带半导体如GaN、SiC 等体系的少子寿命mapping 测量量子点如CdSe@ZnS 等用作荧光寿命成像显微镜探针钙钛矿电池/LED 薄膜的组分分析、缺陷检测铜铟镓硒CIGS，铜锌锡硫CZTS 薄膜太阳能电池的组分、缺陷检测镧系上转换纳米颗粒GaAs 或GaAsP 量子阱的载流子扩散研究生命科学领域细胞体自身荧光寿命分析自身荧光相对荧光标记的有效区分活细胞内水介质的PH 值测量局部氧气浓度测量具有相同频谱性质的不同荧光标记的区分活细胞内钙浓度测量时间分辨共振能量转移（FRET）：纳米级尺度上的远差测量，环境敏感的FRET 探针定量测量代谢成像：NAD(P)H 和FAD 胞质体的荧光寿命成像OmniFluo-FLIM系列显微荧光寿命成像系统应用案例1 用荧光分子对海拉细胞进行染色用荧光分子转子Bodipy-C12 对海拉细胞（宫颈癌细胞的一种） 进行染色。(a) 显微荧光寿命成像图，寿命范围1ns（蓝色）到2.5ns（红色）；(b) 荧光寿命直方图，脂肪滴的短寿命约在1.6ns 附近，细胞中其他位置寿命较长，在1.8ns 附近。用荧光分子转子的时间分辨测量*大的好处在于荧光寿命具备足够清晰的标签特性，且与荧光团的浓度无关。[2]2 金属修饰荧光金属修饰荧光：(a) 荧光寿命是荧光团到金表面距离的函数；(b) 用绿色荧光蛋白（GFP）标记乳腺腺癌细胞的细胞膜的共聚焦xz 横截面，垂直比例尺：5 m；(c) b 图的FLIM 图，金表面附近的GFP 荧光寿命缩短。[2]3 钙钛矿太阳能电池下图研究中，展示了一种动态热风（DHA）制备工艺来控制全无机PSC 的薄膜形态和稳定性，该工艺不含有常规的有害反溶剂，可以在大气环境中制备。同时，钙钛矿掺有钡（Ba2+） 碱金属离子（BaI2:CsPbI2Br）。这种DHA 方法有助于形成均匀的晶粒并控制结晶，从而形成稳定的全无机PSC。从而在环境条件下形成完整的黑色相。经过DHA处理的钙钛矿光伏器件，在0.09cm小面积下，效率为14.85%，在1x1cm的大面积下，具有13.78%的*高效率。DHA方法制备的器件在300h后仍然保持初始效率的92%。4 MQWs 多量子阱研究在(a) 蓝宝石和(b) GaN 上生长的MQWs 的共焦PL mapping 图像。具有较小尺寸的发光团的*高密度是观察到在GaN 上生长的MQWs。在(c) 蓝宝石和(d)GaN 上生长的MQWs 的共焦TRPL mapping 图。仅对于在GaN 上生长的MQWs，强的PL 强度区域与较长PL 衰减时间的区域很好地匹配。在(e) 蓝宝石和(f)GaN 上生长的MQWs 在A 点和B 点测量的局部PL 衰减曲线，均标记在图中。对于在GaN 上生长的MQWs，点A 和B 之间的PL 衰减时间差更高。OmniFluo-FLIM系列显微荧光寿命成像系统参数配置北京卓立汉光仪器有限公司提供的显微荧光寿命成像系统是基于显微和时间相关单光子计数技术，配合高精度位移台得到微观样品表面各空间分布点的荧光衰减曲线，再经过用数据拟合，得到样品表面发光寿命表征的影像。是光电半导体材料、荧光标记常用荧光分子等类似荧光寿命大多分布在纳秒、几十、几百纳秒尺度的物质的不二选择。参数指标：系统性能指标光谱扫描范围200-900nm*小时间分辨率16ps荧光寿命测量范围500ps-1μs@ 皮秒脉冲激光器空间分辨率≤1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器荧光寿命检测IRF≤2ns配置参数激发源及匹配光谱范围（光源参数基于50MHz 重复频率）375nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：30ps，平均功率1.5mW，荧光波段：400-850nm405nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：25ps，平均功率2.5mW，荧光波段：430-920nm450nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：50ps，平均功率1.9mW，荧光波段：485-950nm488nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：70ps，平均功率1.3mW，荧光波段：500-950nm510nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：75ps，平均功率1.1mW，荧光波段：535-950nm635nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：65ps，平均功率4.3mW，荧光波段：670-950nm660nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：60ps，平均功率1.9mW，荧光波段：690-950nm670nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：40ps，平均功率0.8mW，荧光波段：700-950nm科研级正置显微镜落射明暗场卤素灯照明，12V，100W5 孔物镜转盘，标配明场用物镜：10×，50×，100×监视CCD：高清彩色CMOS 摄像头，像元尺寸：3.6μm*3.6μm，有效像素：1280H*1024V，扫描方式：逐行，快门方式：电子快门电动位移台高精度电动XY 样品台，行程：75*50mm（120*80mm 可选），*小步进：50nm，重复定位精度：＜ 1μm光谱仪320mm 焦距影像校正单色仪，双入口、狭缝出口、CCD 出口，配置三块68×68mm 大面积光栅，波长准确度：±0.1nm，波长重复性：±0.01nm，扫描步距：0.0025nm，焦面尺寸：30mm(w)×14mm(h)，狭缝缝宽：0.01-3mm 连续电动可调探测器：制冷型紫外可见光电倍增管，光谱范围：185-900nm（标配，可扩展）光谱CCD（可扩展PLmapping）低噪音科学级光谱CCD（LDC-DD），芯片格式：2000x256，像元尺寸：15μm*15μm, 探测面：30mm*3.8mm，背照式深耗尽芯片，低暗电流，*低制冷温度-60℃ @25℃环境温度，风冷，*高量子效率值95%时间相关单光子计数器（TCSPC）时间分辨率：16/32/64/128/256/512/1024ps……33.55μs，死时间＜ 10ns，*高65535 个直方图时间窗口，瞬时饱和计数率：100Mcps，支持稳态光谱测试；OmniFluo-FM 荧光寿命成像专用软件控制功能：控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等数据处理功能：自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示图像处理功能：直方图、色表、等高线、截线分析、3D 显示等操作电脑品牌操作电脑，Windows 10 操作系统 FLIM 软件界面控制测试界面测试软件的界面遵循“All In One”的简洁设计思路，用户可在下图所示的控制界面中完成采集数据的所有步骤：包括控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等。数据处理界面功能丰富的荧光寿命数据处理软件，充分挖掘用户数据中的宝贵信息。可自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示。自主开发的一套时间相关单光子计数（TCSPC）荧光寿命的拟合算法，可对荧光衰减曲线中*多包含4 个时间组分的荧光过程进行拟合，获得每个组分的荧光寿命，光子数比例，计算评价函数和残差。TCSPC 荧光寿命通常并非简单的指数衰减过程，而是与光源及探测器相关的仪器响应函数（IRF）与荧光衰减过程相互卷积的结果，因此适当的拟合方法和参数选择对获得正确可靠的荧光寿命非常重要。该软件可导入实际测量的IRF 对衰减曲线进行卷积计算和拟合。但是大多数情况下， IRF 很难正确的从实验获得，针对这种情况，软件提供了两种无需实验获取IRF 的拟合方法：NO.1 通过算法对数据上升沿进行拟合，获得时间响应函数IRF，然后对整条衰减曲线进行卷积计算和拟合得到荧光寿命。NO.2对于衰减时间远长于仪器响应时间的，可对衰减曲线下降沿进行直接的指数拟合。该软件经过大量测试，可以很好的满足各种场合的用户需求。MicroLED 微盘的荧光强度像（3D 显示）：测试案例

近中红外荧光光谱系统近中红外具体指哪个波段？红外波，是电磁频谱中的重要组成部分。相较于我们常说的可见光波段，是人眼所无法看到的成分。红外辐射覆盖从700nm到1mm的范围，常见地按照波段进行区分，红外分为以下几个部分：近红外（0.751.4μm）、短波红外（1.4-3μm）、中红外（3-8μm）、长波红外（8-15μm）、远红外（15-1000μm），所以近中红外区我们大致概括为700nm到8μm范围。红外与电磁波谱的关系波段波长范围应用领域近红外0.75 - 1.4μm材料科学、光纤通信，医学领域短波红外1.4 - 3μm电信和军事应用中红外3 - 8μm化学工业和天文学长波红外8 - 15μm天文望远镜和光纤通信远红外15 - 1000μm通常用于癌症治疗不同红外区的波段及应用近中红外荧光材料的典型应用——近中红外激光晶体Er:YAG和Cr,Er:YAG激光晶体棒的图片由于3μm中红外波段激光在军工领域、激光理疗设备及环境监测等领域有着重要的应用前景，稀土离子掺杂的固体激光材料因此得到广泛关注及大量研究。较早被研究的材料有基于808nm、980nm激光器激发的Er3+的2.7μm发射（4I11/2-4I13/2跃迁），随着半导体激光器在短波长逐渐成熟，衍生出了Ho3+离子掺杂的LiYF4，使用640nm的激光激发可产生1.2μm（5I6-5I8），2.0μm（5I7-5I8），2.8-3μm（5I5-5I7）均具有较强的荧光，再有硫系玻璃如Ho3+掺杂的Ge-Ga-S-CsI玻璃，在900nm激发下能够发射2.81μm（5I6-5I7）和3.86μm（5I5-5I6）。近中红外客户案例与实测数据1) 掺铒微晶玻璃的中红外荧光光谱在众多激光玻璃材料中，由于Er离子掺杂的氟化物玻璃具有较低的声子能量、优异的中红外透过特性、较高的激光损伤阈值，因此它是目前实现2.7μm波段光纤激光器的候选材料并备受关注，其2.7μm波段发光源于Er3+离子的4I11/2-4I13/2跃迁。采用卓立汉光中红外荧光测试系统，系统组成：980nm激光器、Omni-λ5015i影像校正型红外单色仪、红外镀金反射式样品室、液氮制冷型InSb探测器（光谱响应范围1-5.5um）。掺铒中红外荧光微晶玻璃PL谱测试结果，发射峰在2.7μm左右。2) 近中红外荧光光谱系统配置808nm，980nm激光器掺Er离子样品发射在1550nm，2730nm左右。3) 近中红外荧光光谱系统PbS量子点ns寿命测量及时间分辨荧光光谱碲酸盐玻璃掺杂硫酸锌YAG:Er晶体系统性能及指标稳态测试发射光谱：1-5.5μm（选配探测器拓宽光谱范围）瞬态测试荧光寿命衰减尺度：μs-ms-s（需配置示波器，具体视激发光源而定）激发光源连续激光808nm、980nm、1064nm、1550nm、1940nm等OPO可调谐激光器可选输出范围：3000-3450nm，2700-3100nm，650-2400nm，410-2400nm，210-2400nm。重复频率：20Hz，脉冲：≤6ns，mJ级别的单脉冲能量纳秒固体激光器2940nm，1064nm，532nm等光路切换外置3路激光切换装置，通过推拉装置进行光路切换，无需移动或调整激光样品仓结构红外专用镀金反射式样品仓，带两个激光吸收阱，带高通滤光片插槽样品架标配：液体、粉末、薄膜样品架光谱仪光路结构Czerny-Turner（CT）光路设计，焦距：320mm，杂散光：1*10-5光栅配置配置三块进口光栅，尺寸：68mm×68mm光子计数型探测模块近红外光电倍增管950-1700nm，TE制冷型，制冷温度：-60℃，最小有效面积Ø 1.6mm，增益：1×106，阳极暗计数：2.5×105，阳极脉冲上升时间：0.9ns近红外光电倍增管300-1700nm，液氮制冷型，制冷温度：-80℃，最小有效面积3×8mm，增益：1×106，阳极暗计数：2.5×105，阳极脉冲上升时间：3ns单光子计数器计数率：100Mcps，采样速率：1MB/S，四通道模拟输入：1-10V，通道数：10000时间相关单光子计数器计数率：100Mcps，分辨率：16/32/64/128/256/512/1024ps，通道数：65535模拟信号型探测模块TE-InGaAs探测器800-1700nm，TE制冷型，制冷温度：-40℃，光敏面直径：3mm，峰值响应度：0.9 A/W，配置温控器及前置放大器，温度稳定度：±0.5℃，信号输出模式：电流TE-InGaAs探测器800-2600nm，TE制冷型，制冷温度：-40℃，光敏面直径：3mm，峰值响应度：1.2 A/W，配置温控器及前置放大器，温度稳定度：±0.5℃，信号输出模式：电流LN-InSb探测器1-5.5μm，液氮制冷型，制冷温度：77K，光敏面尺寸：Ø 2mm，峰值响应度：3A/W，配置前置放大器，信号输出模式：电流LN-MCT探测器2-12μm（另有14μm、16μm、22μm选项），液氮制冷型，制冷温度：77K，光敏面尺寸：1×1mm，峰值响应度：3x103V/W，配置前置放大器，信号输出模式：电压锁相放大器参考信号通道，频率范围：50mHz至102kHz，输入阻抗：1MΩ/25pF，输入信号类型：方波或正弦波，相位分辨率：0.01°，相位漂移：低于10kHz 0.1°/℃；高于10kHz：0.5°/℃斩波器频率范围：标配20~1KHz（ 10孔），30~1.5KHz（15孔），60~3KHz（30孔），TTL/COMS电平输入输出，频率稳定性：250ppm/℃，频率漂移：1%，输入输出连接器：BNC时序控制器可编程延时发生器脉冲通道个数：6个，一个T（时钟基准），其他为CH1-CH5，单个脉冲周期：最小值100ns（10MHz），最大值1s（1Hz），单个脉冲宽度：≥50ns，脉冲延迟：100ns-1s（基于T通道时钟），脉冲输出高电平：T，CH1-CH2：5±0.5V/20mA；CH3:4.5V±0.5V/100mA（适用于50Ω输入阻抗外设）；CH4-CH5:3.3±0.5V/高阻，分辨率：1μs，上升时间：4-6ns电源：USB供电：5V/500mA，通讯接口：USB2.0，输出接口：SMA示波器示波器模拟带宽：500 MHz，通道数：4+ EXT，实时采样率：5GSa/s(交织模式），2.5GSa/s(非交织模式)，存储深度：250Mpts/ch(交织模式)，125 Mpts/ch(非交织模式)电脑及软件标配电脑标配操作系统Windows系统Omni-Win控制软件稳态测试功能：激发扫描，发射扫描，同步扫描，三维扫描瞬态测试功能：动力学扫描，寿命扫描，时间分辨光谱扫描可选功能：温度控制扫描光学平台阻尼隔振光学平台尺寸（L×W×H）：1500mm×1000mm×800mm阻尼隔振光学平台尺寸（L×W×H）：1800mm×1200mm×800mm相关文章成果液氮制冷型MCT检测器1、基于全光纤结构的2-6.5μm红外高能量超连续光源输出光谱测量[1] (a) 不同长度的As2S3光纤输出光谱测量 (b) 4m As2S3 光纤在不同输入光能量下的输出光谱2、PPLN晶体中通过温度调谐自由差频产生的连续波2.9-3.8μm 随机激光光谱测量[2]2.9μm-3.8μm可调谐中红外随机激光光谱测量液氮制冷型InSb检测器1、中红外发光硫卤玻璃陶瓷中红外发光研究[3]，通过引入Ga2S3纳米晶，极大增强了硫卤玻璃陶瓷位于2.3和3.8μm处的中红外发光强度。下图为440℃不同热处理时间下的硫卤玻璃陶瓷中红外发射光谱测试，浅蓝曲线为主体玻璃陶瓷的发光。硫卤玻璃陶瓷中红外发射光谱2、能量转移相关的Ho3+掺杂Yb3+敏化氟铝酸玻璃的中红外2.85μm发光研究[4]Ho3+/Yb3+ 掺杂氟铝酸玻璃的中红外荧光光谱TE制冷型InGaAs检测器Bi:CsI晶体的超宽近红外发光光谱[5]300K不同激发波长下Bi:CsI 晶体的近红外发光光谱参考文献：【1】Bin Yan etal, Optics Express, Vol. 29, No. 3【2】Bo Hu etal, Science China-Information Sciences , August 2023, Vol. 66【3】Shixun Dai etal, Journal of Non-Crystalline Solids 357 (2011) 2302–2305【4】Beier Zhou etal，Journal of Quantitative Spectroscopy & Radiative Transfer, 149(2014)41–50【5】Liangbi Su etal, OPTICS LETTERS , Vol. 36, No. 23, December 1, 2011

近红外荧光寿命测量系统 具有亚纳秒到皮秒的时间分辨率的近红外（650—1700 nm）荧光寿命测量系统。欢迎您登陆滨松中国全新中文网站 查看该产品更多详细信息！产品实例：产品图像产品型号产品名称测量波长范围制冷方式探测器时间分辨率 C7990-01近红外荧光寿命测量系统650 nm 到 1400 nm液氮制冷 (制冷时间：约 2 h)约 600 ps C7990-02近红外荧光寿命测量系统650 nm 到 1700 nm液氮制冷 (制冷时间：约 2 h)约 600 ps C7990-11近红外荧光寿命测量系统950 nm 到 1400 nm热电制冷(制冷时间：约30 min)约 300 ps C7990-12近红外荧光寿命测量系统950 nm 到 1700 nm热电制冷(制冷时间：约30 min)约 300 ps C7990-21近红外荧光寿命测量系统950 nm to 1400 nm液氮制冷约 100 ps C7990-22近红外荧光寿命测量系统950 nm 到 1700 nm液氮制冷约 100 ps

荧光寿命/瞬态吸收分析系统 欢迎您登陆滨松中国全新中文网站 查看该产品更多详细信息！产品目录：紧凑型荧光寿命测量仪Quantaurus-Tau 紧凑单盒型荧光寿命测量系统用于操作简单而高精度地测量荧光寿命和光致发光谱。皮秒荧光寿命测量系统 采用二维光子计数法来测量多光谱荧光寿命的高灵敏度和高时间分辨率（5 ps）荧光寿命测量系统。近红外荧光寿命测量系统 具有亚纳秒到皮秒的时间分辨率的近红外（650—1700 nm）荧光寿命测量系统。紧凑型近红外光致发光寿命测量仪 紧凑型近红外光致发光寿命测量仪是专门为测量近红外波段（580—1400 nm）光致发光谱（PL Spectrum）和光致发光寿命（PL Life）而设计的。

仪器简介： HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）----荧光光谱仪器的全球，提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。 荧光寿命光谱是研究样品受激后辐射出的紫外，可见，或近红外荧光与时间的变化。可利用荧光的衰减测定皮秒到秒，或更长的寿命范围。 HORIBA Scientific提供的研究级荧光寿命光谱仪有模块化或紧凑型设计，可按应用需求定制光谱仪。 Fluorocube将新的迷你化光源和检测技术与成熟的TCSPC电子系统，及自动化操作结合起来，提供灵活和界面友好的光子计数寿命系统。 可选附件 激发/发射单色仪：Seya-Namioka型，波长可调（200~800 nm），与样品仓盖之间集成安全锁，同步手动调节狭缝宽度（1~32nm） 四位光束控制反射镜（可选） 偏振器 红外扩展 PPD 模块 (例如PPD-850C 或 PPD-900C) NIR检测器（~1700nm） 固体样品支架 低温附件 低荧光背景滤光片 技术参数： 寿命范围从皮秒至秒 基于滤光片实现波长选择(可选激发/发射单色仪) 外循环液体控温样品架 PPD 光子检测模块（标配） 检测器范围185nm-650nm，可升级至850nm（与样品仓盖之间配有安全锁） Fluorocub计时电子装置，皮秒到秒寿命范围（依赖于激发光源） 综合分析软件 可选偏振器测量自旋相关时间 NanoLED和SpectraLED二管激发光源覆盖全波长范围主要特点： 灵敏度高：单光子计数技术 准确性好：计时电路无需校正 灵活性强：可选多种光源，寿命响应范围宽 模块化：可以根据需要定制模块配件 方便性：全电脑控制，易于操作 Fluorocube产品系列： FluoroCube NL：滤光片分光系统及二管激发光源---基本的荧光寿命测量系统 FluoroCube-01-NL：发射单色器及二管激发光源---基本的荧光寿命测量系统 FluoroCube-11-NL：带有激发/发射单色器和二管激发的寿命体系 FluoroCube-10-CF：激发单色器（滤光片检测通道）和闪光灯激发的寿命系统 FluoroCube-11-CF：激发/发射单色器和闪光灯激发（5000U）的寿命系统 PhosphoCube-10-XF：激发单色器（滤光片检测通道）和微妙氙灯闪光灯激发的磷光寿命系统 PhosphoCube-11-XF：激发/发射单色器和微秒氙灯激发的磷光寿命系统注：具体配置、价格请咨询当地销售工程师

显微拉曼荧光寿命成像系统 德国S&I GmbH成立于1995年，是一家专门从事科研级拉曼光谱分析设备的制造公司，也是美国普林斯顿仪器（Princeton Instruments）在欧洲的OEM客户,其设备以优异的灵活性，高灵敏及易操作性著称。MonoVista CRS+系列产品定位：服务于科学研究的强大“光谱成像综合分析平台”。l S&I公司擅长于提供各种科研级定制化的解决方案；l 根据用户的应用需求，适用并可拓展不同的配置；l 在保证系统自动控制与高可靠性情况下，适合各种光学测试；l 显微拉曼光谱 /显微荧光 / 荧光寿命TCSPC成像/ l 变温红外光谱 / 时间分辨光谱 / 暗场光谱/ l 适用高压科学研究要求的开放式测试环境，如大样品系统，低温，强磁，高温等。l Monovista CRS+系统是基于共聚焦显微镜设计的多功能光谱成像分析系统；l 应用领域：高压科学材料,半导体材料特性,碳纳米材料，钙钛矿材料，生物细胞研究等MonoVista CRS+ 特点：激光器深紫外到近红外波长范围多达内置4个波长激光器，外置外接大型激光器紫外和可见光/近红外双光束路径自动控制激光选择自动对准，聚焦和校准功能超高拉曼光谱分辨率 ＜0.9cm-1 @ 633 nm低波数拉曼,可测试到 +/- 10 cm-1高波数范围: 9000cm-1（@ 532nm）热电制冷和液氮制冷探测器正置/倒置/双显微镜空间分辨率：XY 1um Z 2um步进电机和压电驱动XYZ位移台快速3D拉曼Mapping荧光寿命成像Mapping功能集成控制液氮温度冷热台集成液氦温度低温恒温器可结合拉曼成像和原子力显微镜成像自动控制的偏振光谱功能L-Crystine的超低波数拉曼（正反斯托克斯）CCL4的超高拉曼分辨率TCSPC荧光寿命测试功能2 激光波长从375纳米到810纳米2 时间通道数：65536 ,分辨精度：4ps 2 各通道采集延时调节范围 ：± 100 ns，2 寿命时间抖动误差：12ps2 最大计数率：10MHz 最大同步率：84 MHz2 多种探测器选项，探测器通道：2个2 二维寿命成像，XY扫描压电位移台2 扫描台，范围可达几厘米，XY扫描精度优于500nm 2 固有响应时间：95ns2 仪器响应函数（IRF）200ps荧光寿命测试曲线荧光寿命MappingVistaControl硬件控制界面拉曼Mapping与显微图像对比MonoVista CRS+ 定制系统应用案例Monovista显微光路+宏光路拉曼+AFM Monovista与低温，强磁测试条件(HPSTAR)

昊量光电新推出紧凑型，USB驱动的便携式FLIM荧光寿命测量TDC，专为荧光寿命成像和光谱测量而设计。它的尺寸小重量轻，允许极大的便携性，可以通过USB供电连接使其能够在便携式设置甚至户外使用。TDC卡上的I/O设计是可定制的，一些通道可以配置为荧光采样或成像重建信号，如像素，线和帧时钟。此外，信道可用于与其他正在使用的设备同步数据采集，如声光偏转器，压电位移台和其他一般实验室设备。此FLIM荧光寿命测量TDC还提供强大的数据重建和分析软件。 l 便携式FLIM荧光寿命测量TDC主要技术指标：l 300 ps单发精度(σ/√2)l 24或48 ps的蕞小时间bin分辨率l 1.5 ns死区l 80MHz蕞大激光同步速率l 0.5% RMS微分非线性l 传输速率高达100 M计数/秒l 每个输入通道的峰值计数率高达640 Mcounts/sl 26个通道l 11 SMA单端输入LVTTL 50Ohml 1 SMA激光触发(同步)LVTTL 50Ohm信号l 1 SMA激光触发输出(同步输出)LVTTL 50Ohm用于调制外部脉冲激光源l 13 USB-C LVDS输入/输出可配置 紧凑便携，USB供电 荧光寿命成像与光谱，同步各类外围仪器便携式FLIM荧光寿命测量TDC软件特点：l 实时成像和荧光衰减直方图数据重建l 实时FLIM相量图分析l 人工智能驱动的相量图分析技术l 用于数据采集和重构的软件API (Rust, C, c++， c#， Python, node.js， .NET)l MATLAB, Python, HDF5， .SVG flim相量和成像数据导出l 云数据存储l 通过社交媒体，即时消息，聊天和电子邮件分享结果l 支持平台:Windows、Linux 便携式FLIM荧光寿命测量TDC主要应用：荧光寿命成像——相量分析法当引入相量分析方法时，可以很容易地处理FLIM图像中包含的信息。这种方法允许寿命分布的图形表示(相量图)，使FLIM图像更快地读取。事实上，FLIM相量图的解释很简单，FLIM与相量的组合使研究人员能够轻松地在同一样本中分离不同的寿命种群。荧光相关光谱（FCS）荧光相关光谱(FCS)是一种研究和定量分子动力学的技术。顾名思义，FCS是基于荧光分子在观测量内外扩散时荧光波动的时间相关性分析。它被认为是一种单分子技术，因为荧光分子在探测体积内外的连续波动可以用来确定样品中一个或几个物种的单个性质。荧光共振能量转移（FRET）近红外光谱（NIRS） 此外，我们还提供匹配的单光子探测器，皮秒半导体激光器，CFD等系统基础组件更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。您可以通过我们昊量光电的官方网站了解更多的产品信息，或直接来电咨询。

显微拉曼荧光寿命成像系统 德国S&I GmbH成立于1995年，是一家专门从事科研级拉曼光谱分析设备的制造公司，也是美国普林斯顿仪器（Princeton Instruments）在欧洲的OEM客户,其设备以优异的灵活性，高灵敏及易操作性著称。 显微拉曼荧光寿命成像系统，型号：MonoVista CRS+系列产品定位：服务于科学研究的强大“光谱成像综合分析平台”。lS&I公司擅长于提供各种科研级定制化的解决方案；l根据用户的应用需求，适用并可拓展不同的配置；l在保证系统自动控制与高可靠性情况下，适合各种光学测试；l显微拉曼光谱 /显微荧光 / 荧光寿命TCSPC成像/l变温红外光谱 / 时间分辨光谱 / 暗场光谱/l适用高压科学研究要求的开放式测试环境，如大样品系统，低温，强磁，高温等。 lMonovista CRS+系统是基于共聚焦显微镜设计的多功能光谱成像分析系统；应用领域：高压科学材料,半导体材料特性,碳纳米材料，钙钛矿材料，生物细胞研究等。 低波数性能： Stokes/Anti-Stokes spectrum from L-Cystine显微拉曼荧光寿命成像系统特点：l深紫外到近红外波长范围l多达 4 个集成多线激光器，可选配外接大型激光器端口l紫外和可见光/近红外双光束路径l自动控制激光选择l自动对准，聚焦和校准功能l超高拉曼光谱分辨率，例如 FWHM＜25px -1 @ 633 nml利用低波数拉曼附件，低波数可测试到 +/- 10 cm-1 l高波数范围可达 225000px-1（@ 532nm），适用于光致发光l热电制冷和液氮制冷探测器l正置/倒置/双显微镜l步进电机和压电驱动 XYZ 位移台l快速拉曼 mappingl集成控制加热/冷却台，液氦温度低温恒温器l可结合拉曼成像和原子力显微镜成像l自动控制的偏振光谱功能 硬件与激光选择软件自动切换 荧光扣减与背景抑制功能 同一样品不同成分的拉曼成像图显微拉曼荧光寿命成像系统定制应用案例 Monovista显微光路+宏光路拉曼+AFM Monovista与低温，强磁测试条件(HPSTAR)

产品简介滨松荧光寿命测量系统C16361Quantaurus-Tau 是一款用于测量亚纳秒到毫秒范围内的荧光寿命的紧凑型系统。操作非常简单，只需将样品放置到样品室，然后在测量软件上输入几个条件，即可在短时间内高精度地测量荧光寿命和 PL 光谱。在典型测量中，只需 60 秒即可获得分析结果。产品特点采用光子计数法（时间相关的单光子计数）进行高灵敏度测量；时间分辨率优于 100 ps（通过去卷积）；溶液样品的冷却功能 (-196 °C)（选项）；磷光测量（选项）；荧光光谱测量；7 种激发波长；分析不同的样品形式（薄膜、固体、溶剂和粉末）；2 种探测器选择。产品用途有机金属络合物、荧光探针、钙钛矿 PV 材料、OLED 材料、量子点、LED 磷光体产品参数型号C16361-01C16361-02样品固体（薄膜、粉末）固体（薄膜、粉末）探测器类型标准NIR波长范围300 nm 至 800 nm380 nm 到 1030 nm激发光源七种类型的 LED 光源（280 nm、340 nm、365 nm、405 nm、470 nm、590 nm、630 nm）七种类型的 LED 光源（280 nm、340 nm、365 nm、405 nm、470 nm、590 nm、630 nm）激发光源切换软件控制软件控制单色仪Czerny-Turner 单色仪Czerny-Turner 单色仪测量时间范围4 ns 到 10 s/全刻度4 ns 到 10 s/全刻度磷光测量磷光激发波长（280 nm、340 nm、365 nm、405 nm、442 nm、470 nm、589 nm、632 nm）磷光激发波长（280 nm、340 nm、365 nm、405 nm、442 nm、470 nm、589 nm、632 nm）时间轴通道512 通道、1024 通道、2048 通道、4096 通道512 通道、1024 通道、2048 通道、4096 通道总时间分辨率 1.0 ns 半宽度（带 590 nm LED 的 IRF） 1.0 ns 半宽度（带 590 nm LED 的 IRF）分析功能荧光寿命分析（通过指数函数拟合，至多可分析五种成分）和光谱分析荧光寿命分析（通过指数函数拟合，至多可分析五种成分）和光谱分析支持的操作系统Windows 10 ProWindows 10 Pro该产品全部数据来源于：http://www.hamamatsu.com.cn/本站所发布内容（含图片），版权归原出处所有（无法查证版权的或未注明出处的均来源于网络搜集）。转载内容（视频、文章、广告等）只以信息传播为目的，仅供学习参考，不代表本平台认同其观点和立场。内容的真实性、准确性和合法性由原作者负责。

仪器简介： HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）荧光光谱仪器可提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。 荧光寿命光谱是研究样品受激后辐射出的紫外，可见，或近红外荧光与时间的变化。可利用荧光的衰减测定皮秒到秒，或更长的寿命范围。 HORIBA Scientific提供的研究级荧光寿命光谱仪有模块化或紧凑型设计，可按应用需求定制光谱仪。 Fluorocube推出的迷你化光源和检测技术与成熟的TCSPC电子系统，及自动化操作结合起来，提供最灵活和界面友好的光子计数寿命系统。技术参数： &bull 寿命范围从皮秒至秒 &bull 基于滤光片实现波长选择(可选激发/发射单色仪) &bull 外循环液体控温样品架 &bull PPD 光子检测模块（标配） &bull 检测器范围185nm-650nm，可升级至850nm（与样品仓盖之间配有安全锁） &bull Fluorocub计时电子装置，皮秒到秒寿命范围（依赖于激发光源） &bull 综合分析软件 &bull 可选偏振器测量自旋相关时间 &bull NanoLED和SpectraLED二极管激发光源覆盖全波长范围主要特点： &bull 灵敏度高：单光子计数技术 &bull 准确性好：计时电路无需校正 &bull 灵活性强：可选多种光源，寿命响应范围宽 &bull 模块化：可以根据需要定制模块配件 &bull 方便性：全电脑控制，易于操作可选附件 &bull 激发/发射单色仪：Seya-Namioka型，波长可调（200~800 nm），与样品仓盖之间集成安全锁，同步手动调节狭缝宽度（1~32nm） &bull 四位光束控制反射镜（可选） &bull 偏振器 &bull 红外扩展 PPD 模块 (例如PPD-850C 或 PPD-900C) &bull NIR检测器（~1700nm） &bull 固体样品支架 &bull 低温附件 &bull 低荧光背景滤光片 Fluorocube产品系列： &bull FluoroCube NL：滤光片分光系统及二极管激发光源---基本的荧光寿命测量系统 &bull FluoroCube-01-NL：发射单色器及二极管激发光源---基本的荧光寿命测量系统 &bull FluoroCube-11-NL：带有激发/发射单色器和二极管激发的寿命体系 &bull FluoroCube-10-CF：激发单色器（滤光片检测通道）和闪光灯激发的寿命系统 &bull FluoroCube-11-CF：激发/发射单色器和闪光灯激发（5000U）的寿命系统 &bull PhosphoCube-10-XF：激发单色器（滤光片检测通道）和微妙氙灯闪光灯激发的磷光寿命系统 &bull PhosphoCube-11-XF：激发/发射单色器和微秒氙灯激发的磷光寿命系统

仪器简介：LifeSpecII系列超快荧光寿命光谱仪专门为超快荧光寿命的测量而设计。在设计过程中，LifeSpecII系列超快荧光寿命光谱仪着重解决了传统光路的构架对待测超快信号的脉冲展宽效应，从而大幅度提高了荧光寿命测量的精度。 LifeSpecII系列超快荧光寿命光谱仪可以搭配不同的激发光源和探测器，以保证用户获得不同的荧光寿命测量范围。技术参数：主要技术指标： - 光学结构: 激发光路与发射光路垂直 - 工作原理: 时间相关单光子探测 - 寿命范围: ~5ps-50us - 光谱带宽: 1nm~40nm - 时间色散: 零（运用双减单色仪） - 光衰减器: 电脑控制连续可调衰减率 - 可选激发光源 皮秒脉冲半导体激光器 (多种波长可选) 皮秒脉冲LEDs (多种波长可选) 皮秒脉冲固体激光器 飞秒脉冲激光器 (可选配多种品牌和型号) - 可选探测器 蓝敏PMT 185~650nm 红敏PMT 185~870nm 带有微通道板PMT 200~850nm 近红外PMT 300nm-1400/1700nm主要特点：主要技术特点： - 荧光寿命测试范围5ps至ms范围（由激发光源与探测器决定） - 采用最先进的时间相关单光子计数技术（TCSPC）进行荧光寿命测量,具有最高的测量精度 - 采用大尺寸样品室，更便于对样品的操作 - 运用独特的光路设计,防止脉冲展宽并消除色散，使短寿命测试结果更加精准 - 光谱测量范围可覆盖紫外-可见-近红外 - 可以与多种高重复频率的飞秒或皮秒脉冲激光器配合使用,提高实验室已有设备的利用率 - 紧凑型一体化设计,占用空间更小 - 便于操作的荧光寿命分析软件 主要测量功能： - 荧光寿命/瞬态光谱测试 - 时间分辨荧光光谱 - 准稳态光谱测试 - 全自动时间分辨各项异性光谱测量（需要电动偏振器选件） - 温度扫描过程中的荧光寿命及时间分辨荧光光谱测量（需选择制冷机或TE制冷样品架选件）

DeltaHub——DeltaFlex的关键部件 超短的死时间（10ns）：配合高重复频率的激光光源和高速检测器，可实现无损失的光子计数，达到快速采集数据和准确的分析结果。 超快寿命测试技术：真正实现了荧光寿命动力学测试，采集时间低至1ms（全球同类产品中 快），支持1ms-10,000min无间断寿命动态监测。新型脉冲半导体光源 DeltaFlex配置新型脉冲半导体光源作为荧光和磷光的激发光源（四大类型，百种可选），即插即用，无需校准，而且终身免维护。 其中DeltaDiode光源的重复频率可达100MHz，是超快寿命测试的 选择光源，同时可配置用于磷光测定的SpectraLED光源。与氙闪灯相比，SpectraLED具有265-1275nm宽波长的覆盖范围，以及实用方便、测试速度更快和信号无拖尾的优点。科研级模块化设计 在DeltaFlex系统上无需更换控制器和检测器，即可实现11个数量级（25ps-1s）范围内的荧光寿命测试。系统采用科研级模块化设计，配合全新的F-Link技术，可自动识别各类部件，软件直接接入、附件即插即用，能够无限满足升级需求。尤其是其中采用了行业优先的寿命拟合软件，没有费用开放数十种主流专业拟合功能，可单独于仪器操作。 多种光谱仪可选，配合像差校正光栅，覆盖200-1600nm宽光谱范围，完美实现时间分辨发射谱功能，支持100条发射波长动态连续监测，软件自动获得衰减相关光谱参数。 荧光寿命技术是科研中强有力的工具，可广阔用于物理、化学、材料、信息、生物和医学等领域。主要应用：FRET(Forster共振能量转移)Stern-Volmer猝灭稀土发光时间分辨和磷光各向异性分子互作，蛋白结构变化太阳能材料单线态氧测试光物理技术参数：基于滤光片或单色仪实现波长选择皮秒超快集成化PPD光子检测模块（标配）可升级NIR检测器（~1700nm）综合分析受命拟合软件，开放数十种拟合功能标准液体样品架，加载温度传感器和搅拌装置大尺寸样品仓，配置高效UV级光学部件F-Link即插即用型交互界面主要特点：超宽寿命测试范围25ps-1s 超快测试时间（低至1ms），完美实现动态反应分析超微量样品测试，低至1μL综合分析软件，5指数寿命拟合高稳定性设计，使用维护简单高度自动化，一键测量分析大尺寸样品仓设计，强劲的附件兼容能力高性能荧光、磷光寿命测试功能

HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）----荧光光谱仪器的全球leader，提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。荧光寿命光谱是研究样品受激后辐射出的紫外，可见，或近红外荧光与时间的变化。可利用荧光的衰减测定皮秒到秒，或更长的寿命范围。HORIBA Scientific提供的研究级荧光寿命光谱仪有模块化或紧凑型设计，可按应用需求定制光谱仪。Fluorocube将全新的迷你化光源和检测技术与成熟的TCSPC电子系统，及自动化操作结合起来，提供 灵活和界面友好的光子计数寿命系统。主要特点：灵敏度高：单光子计数技术准确性好：计时电路无需校正灵活性强：可选多种光源，寿命响应范围宽模块化：可以根据需要定制模块配件方便性：全电脑控制，易于操作

武汉东隆科技为德国PicoQuant的中国区独家代理，欢迎您来电垂询！FluoTime 300“ EasyTau”是一款用于稳态，寿命和磷光测量的全自动的高性能荧光光谱仪。FluoTime 300包含测量稳态光谱和荧光衰减曲线所需的完整光学和电子元件，凭借时间相关单光子计数（TCSPC）或者多通道测量（MCS）技术，有效记录稳态光谱以及几皮秒到几秒的荧光衰减。该系统光源采用皮秒脉冲二极管激光器，LED或氙灯（连续和脉冲）。多种单光子探测器选项可实现从UV到IR范围的各种系统配置。该系统极限灵敏度水拉曼信噪比为29000：1。FluoTime 300可用于研究从几皮秒到几秒的荧光和磷光衰减过程，并且拥有丰富的升级附件可选，是大多研究和分析不可或缺的标准系统。应用领域:时间分辨荧光/磷光光谱稳态荧光光谱单线态氧荧光上转换研究荧光各向异性测试量子产率测试光化学研究LED，OLED，量子点研究特点：模块化的全自动系统设计时间分辨和稳态双工作模式简单易用的向导式软件和第三方开发工具荧光寿命时间测量范围从ps-ms灵敏度可达26000：1（水拉曼信噪比）参数：光学结构l L型工作模式l 稳态、TCSPC和MCS灵敏度l 典型信噪比优于29000:1 (PMA 175探测器)，激发和发射光路中使用双单色仪，基于水拉曼光谱，激发波长350nm，光谱带宽5nm，积分时间1s荧光寿命范围l 40ps到10μs，采用PMT探测器和TCSPC模式的计数模块；l 10 ps 至 10 µ s，配有 Hybrid 检测器、TCSPC 电子元件和合适的激光器；l 10 ps 至 10 µ s，配有 MCP-PMT 检测器、TCSPC 电子元件和合适的激光器；l 大于几百ms，采用任何探测器和MCS模式的计数模块。激发光源l 皮秒脉冲二极管激光器或LED，波长从260nm-1990nm可选，重复频率高达80MHz，共用驱动单元l 高功率和紫外激光器（VisUV、VisIR）l 亚微秒脉冲氙灯l 300W CW同轴氙灯l 支持外部激光器，如钛宝石激光器、脉冲DPSS或白光激光器单色仪l Czerny-Turner结构l 聚焦长度：300mm，单出口或者双出口；双单色仪焦距长度为2 x 300 mm，单出口或双出口（发射端的+、-模式切换）；l 1200g/mm光栅，闪耀波长为500nm；600g/mm光栅，闪耀波长为1250nm；（其他光栅可选）；l 狭缝宽度在0mm至10mm之间可调（连续可调，完全电动），色散2.7 nm / mm（单单色仪，聚焦长度300mm）l 杂散光抑制比典型值1:10-5（单单色仪），1:10-8（双单色仪）。探测器l 光电倍增管PMT系列，185~920nm可选；l 微通道光电倍增管MCP-PMT系列，185~910nm可选；l 紫外/可见光-近红外PMT波长范围为200nm至1010nm；l 近红外光电倍增管NIR-PMT系列，950~1700nm可选；l 混合式光电倍增管Hybrid-PMT系列，200~900nm可选。软件l 操作简单，功能全面，基于Windows系统的分析软件；l 在工作区数据归档，数据导出功能和数据运算；l 使用向导进行标准化测量的辅助模式；l 完全控制所有硬件参数的定制模式；l 用于常规测量自动化的脚本模式；l 远程执行脚本（将自动化扩展到第三方设备）；l 荧光寿命光谱分析基于数卷积处理，高至五阶指数的衰减函数，含杂散光校正，寿命分布曲线，各向异性测试，全局分析，严密错误分析等功能。

仪器简介： HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）荧光光谱仪器可提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。 荧光寿命测试系统-DeltaPro，其高性能以及简单实用的特点，对TCSPC系统有了新的定义。 DeltaHub---DeltaPro的核心部件，超短的死时间（10ns）配合高重复频率的激光光源和高速检测器可实现无损失的光子计数，到达到快速采集数据和准确的分析结果。 DeltaPro配置新型脉冲半导体光源作为荧光和磷光的激发光源。有两种系统配置可选：DeltaPro-NL 型，配置NanoLED光源，重复频率可达1MHz；DeltaPro-DD型，配置DeltaDiode光源，重复频率可达100MHz，极端测定速度的可选光源。 DeltaPro-NL 和DeltaPro-DD都可配置用于磷光测定的SpectraLED光源。与氙闪灯相比，SpectraLED具有多种波长可选，实用方便和无噪音的优点。 多种光源可选，软件直接控制，因此在DeltaPro系统上无需更换控制器，即可实现25ps~1s的寿命测定。当选择NanoLED 或 DeltaDiode激光二极管光源时，系统可以测定25ps~10µ s的寿命，当选择SpectraLED，系统可以测定1µ s~1s的寿命。可选附件： · 单色仪Monochromators · 手动或电动偏振器 · 自动光学部件 · 红外扩展 PPD 模块 (例如PPD-850C 或 PPD-900C) · NIR检测器（~1700nm） · 固体样品支架 · 更多光源见 技术参数： · 基于滤光片实现波长选择(可选单色仪) · PPD 光子检测模块（标配） · 可升级NIR 检测器（~1700nm） · 综合分析软件 · 标准液体样品架，加载温度传感器和搅拌装置 · 大尺寸样品仓，配置UV级光学部件 · F-link 即插即用型交互界面主要特点： · 采集速度快：1ms即可获得短寿命 · 灵敏度高：单光子计数技术 · 准确性好：计时电路无需校正 · 灵活性强：寿命响应范围25ps~1s · 模块化：根据需求选择升级 · 紧凑型：占地小 · 方便性：电脑通过USB2.0控制系统（无需PCI卡） · 性价比高

产品主要应用：主要用于UV~NIR(OLED、 Micro OLED、QLED、发光电化学池（LEC）、钙钛矿LED、钙钛矿 Micro LED......)器件的可靠性检测与评估.主要功能：- 多通道相对寿命测试/预老化测试- 多范围电流/光电流选择- 多模式测试CC/CV/PC/PV/PCV- 多 Recipe操作- 电源CC/CL模式- 紧凑型定制化JIG- 可选相对I-V-L测试功能- 可选温度环境测试- 可选寿命预测功能- 可选紫外到近红外光谱区间测试

仪器简介： HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）荧光光谱仪器可提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。 TemPro 使得寿命测试系统价格不再昂贵，可满足用户使用时间相关单光子计数（TCSPC）技术，基于这个最灵敏的荧光检测方法研究荧光动力学。 HORIBA Scientific提供的TemPro系统，采用功能强大的时域技术，可以测量宽范围荧光寿命（皮秒至秒范围），满足荧光和磷光寿命的测定。TemPro具有光源易替换的特点，脉冲激光二极管覆盖宽范围波长（255nm至近红外区）。可升级发射单色仪，实现时间分辨发射谱（TRES）的测量。可选附件： · 单色仪 · 偏振器 · 红外扩展 PPD 模块 (例如PPD-850C 或 PPD-900C) · NIR检测器（~1700nm） · 固体样品支架 · 更多光源见 技术参数：寿命范围从皮秒至秒基于滤光片实现波长选择(可选单色仪)PPD 光子检测模块（标配）检测器范围185nm-650nm，可升级至850nm综合分析软件可选偏振器测量自旋相关时间NanoLED和SpectraLED二极管激发光源覆盖全波长范围主要特点： · 灵敏度高：单光子计数技术 · 准确性好：计时电路无需校正 · 灵活性强：寿命响应范围100ps~1s · 紧凑型：占地小 · 方便性：电脑通过USB2.0控制系统（无需PCI卡） · 性价比高

FluoTime250将用于时间分辨发光光谱学所需的全部光学元件和电子元件集成到一个紧凑的全自动设备中。PicoQuant基于丰富的脉冲激光源和时间相关单光子计数方面的经验完成了Fluotime250的基础设计。FluoTime250旨在帮助用户快速、可靠地执行常规和复杂测量，而这些性能都得益于全自动硬件组件和向导式的多功能系统软件。再借助自定义模式和集成脚本语言，高级用户可以完全控制光谱仪的各个功能。在其基本配置中，FluoTime250使用电动滤光片轮进行波长选择 。可选配UV / VIS光谱范围的单色仪，将来自PicoQuant的探测器以及各种半导体激光器或LED连接到光谱仪上，还可以通过一系列附件和易于更换的样品架进一步适应您的应用要求。虽然FluoTime 250体积小巧，但是却非常灵敏，它能准确地检测浓度低至10pMol（在coumarin样品上测量）样品的荧光衰减。特点：全自动紧凑型模块化系统基于滤光片技术的发射波长选择，及小型单色仪选项TCSPC和MCS工作模式软件具有测量向导和脚本选项可测寿命范围从皮秒到毫秒 应用领域：FluoTime 250是一款适用于常规和研究应用领域的高性能荧光寿命光谱系统。可用于研究各种样品并进行多种应用，包括：荧光/磷光衰减曲线时间分辨各向异性时间分辨发射谱（需配置单色仪）寿命动力学 产品参数：光学结构l L型工作模式l TCSPC和MCS灵敏度l 低至10pMol（测量coumarin样品，采用400nm激发，500nm探测）荧光寿命范围l 40ps到10μs，采用PMT探测器和TCSPC模式的计数模块；l 10 ps到10 µ s，采用Hybrid系列探测器、TCSPC模式的计数模块和合适的激光器；l 大于几百ms，采用任何探测器和MCS模式的计数模块。激发光源l 波长范围从250nm~1550nm的皮秒脉冲半导体激光器或者LED系列，重复频率高达80MHz，普通激光器驱动器；单色仪l Czerny-Turner，单单色仪结构l 聚焦长度： 150 mm，单出口l 杂散光抑制比典型值1:10-5（单单色仪）探测器l 光电倍增管PMT系列，185~920nm可选l 混合式光电倍增管Hybrid-PMT系列，200~900nm可选l 近红外光电倍增管NIR-PMT系列，950~1400nm可选软件l 操作简单，功能全面，具有分析功能l 在工作区数据归档，数据导出功能和数据运算l 几种典型测量方案的程序向导功能l 能进行全硬件控制的自定义测量模式l 支持远程执行的自动化脚本语言（将自动化功能扩展至第三方设备）l 荧光寿命光谱分析和基于数卷积处理，高至5阶指数的衰减函数，含杂散光校正，寿命分布曲线，各向异性测试分析，全局分析，严密错误分析等功能。

功能：微区荧光寿命衰减曲线测量；微区PL谱激发光斑：＜1um；光学相机视场：小于0.5mm荧光寿命范围达：5ps--10s，最宽的测量区间 全集成的基于PC软件系统，确保数据质量；可选：1. 高脉冲激光光源；可选266-1030nm波长光源，可接入4个激光器；2. 可选配：液氮变温控制工作台；3. 可升级选配：自动工作台, 获得FLIM功能；4. 皮秒检测器（波长和冷冻可选）；5. 时间分辨率≤1ps；6. 时间抖动 jitter time ＜10ps；7. 计时速率＞65MHz/channel 8. 同时采集信号通道≥8 channel；9. 微区光谱波长范围：360-1100nm；10. 寿命采集波长范围：400-1050nm；（可选红外二区波段）11. 分光，可以选用扫描单色仪；也可以采用滤光片；推荐理由：深紫外和红外激发波长可兼顾；微区荧光寿命；荧光寿命动力学；TCSPC 时间相关单光子计数技术；Picosecond to millisecond TCSPC (time-correlated single-photon counting) for measuring fast fluorescence decays

别名：NIR-II红外相机，NIR-II红外制冷相机，NIR-II红外低温相机，NIR-II红外成像，NIR-II红外制冷成像，NIR-II红外低温成像，NIR-II近红外成像相机，NIR-II近红外制冷成像相机，NIR-II近红外低温成像相机NIR-II近红外科研成像相机，NIR-II近红外科研制冷成像相机，NIR-II近红外科研低温成像相机，NIR-II近红外二区荧光成像相机，NIR-II近红外二区荧光制冷成像相机，NIR-II近红外二区荧光低温成像相机，相机部分：1、InGaAs 成像模块采用TEC电制冷方式，芯片工作温度达到-60℃或更低，且芯片工作温度可调；2、InGaAs成像模块有效像素数量不少于640 x 512，每个像元尺寸不小于15微米；3、InGaAs成像模块在900-1700nm具有高灵敏度，量子效率不低于70%；4、对于微弱信号可实现不短于99秒的连续曝光；5、能够实现近红外二区与彩色可见光的实时同步成像，且精确融合图像能够实时展示。6、近红外二区成像具备过曝光预警功能。成像窗宽窗位可手动自由调节。且具备灰度图像自动增强功能。7、可见光成像部分具备自动增益，自动曝光，自动白平衡功能，能够自动进行伽马矫正。融合算法先进，用户可以根据需求确定近红外与可见光融合的有效阈值。8、红外图像、可见光图像和二者融合图像可以同时显示。拍照和录像数据可一键采集，且拍照和录像保存后可再次进行后续数据分析并不失融合。9、成像参数与激光激发参数能够自动保存。激光部分：1、荧光激发光源采用两种波长激光光源（808nm, 980 nm），功率可调且总功率≥20瓦；2、每种荧光激发光源各采用两根液芯匀光光纤，分布两侧，保证无死角照射。3、每根光纤末端配备准直器，可调整荧光激发光的均匀照射。4、可通过系统软件实现激光控制。5、激光参数自动保存在成像参数中。暗室及控制系统：1、标配软件具备成像参数设置功能，如曝光时间、增益、相机工作温度、内外触发等，具备红外成像窗宽/窗位手动和自动调节功能；2、可通过软件去除背景，实现成像的平场校正等功能；3、能够实现100μs寿命材料的荧光寿命成像；4、可同时装载至少5个发射光滤片，标配滤片数量不少于4个；5、具备荧光寿命成像专用软件模块，可通过软件调节激发光照明时间、相机曝光时间和激发光与相机曝光间隔时间，具有延时成像能力；6、寿命图像与材料单光子寿命分析结果误差在10μs以内；7、具备5通道以上小动物气体麻醉功能；8、能够实现小鼠全身成像和局部成像，视野范围可调，最大视野范围不小于10cm x 8cm；9、动物载物台可电控升降，行程不小于50cm；10、动物载物台具有加温保暖功能；应用：适合从事生物学、医学、天文学等科研工作者，特别适用于生物医学荧光成像、材料学荧光成像、荧光偏振成像、荧光寿命成像、天文成像和激光光斑分析等多种科研领域及军事、高端安防等应用领域。荧光寿命成像展示：左图：荧光成像 右图：荧光寿命成像NIR-I区与NIR-II区，成像范围、深度、清晰度对比：近红外二区成像在不通波长下成像比较： 通过尾静脉注射PBS溶液中的NM-NPs雌性BALB/c小鼠。用1000LP、1250LP、1400LP滤光片进行160mW cm&minus 2808 nm激光激发，当波长在1000~1400 nm之间变化时，血管的清晰度明显提高，1400LP滤光片NIR-II荧光成像的空间分辨率明显提高，清晰度显著提高。 近红外二区成像在缺血性脑卒中应用：（RENPs应用于近红外二区脑血管成像）稀土纳米颗粒（RENPs）是一类稀土离子掺杂的荧光纳米材料，能够在近红外光激发下发射出位于第二近红外区的荧光。且其具有长荧光寿命、窄发射谱带、高光/化学稳定性、低毒性和可调谐荧光发射波长等优势，有望在生物分析和疾病诊断等领域发挥重要作用。利用染料敏化RENPs的复合材料，成功实现了非侵入性、高分辨率脑血管成像，清晰观察到脑血管网络结构及细小的毛细血管结构，并可实时监测生理过程中血液动力学及血管结构的变化。（比率型近红外二区纳米探针监测脑卒中示意图）缺血性脑卒中（Ischemic Stroke, IS）是导致长期残疾以及死亡的主要原因之一，该疾病的严重程度具有时间依赖性，及时评估IS对于该疾病的治疗以及预后起着至关重要的作用。利用比率型近红外二区纳米探针可有效富集在脑缺血病灶位点，可视化氧化应激水平用于及时评估IS。利用近红外二区成像的优势，该探针具有深层的脑组织穿透深度；基于目标物调控染料敏化RENPs发光的原理，该探针对高活性氧物种呈现优异的响应性能。综合以上功能，该探针通过可视化探针在病灶位点的富集程度以及氧化应激水平，在IS发生30min时即可对其进行监测，并评估其严重程度（传统磁共振成像则在IS发生24h才可观察到显著的信号变化）。近红外二区成像用于慢性肝脏疾病无创监测（a、高脂饮食小鼠模型中，体内肝脏处的自发荧光 b、离体肝脏的荧光成像）准非酒精性脂肪性肝病（NAFLD），由于缺乏用于监测炎症和肝纤维化进程的无创方法，肝活检仍是临床诊断NAFLD的金标。非酒精性脂肪性肝病的病理发展中氧化应激是关键驱动力之一，肝损伤和坏死性炎症由驱动纤维化的活性氧簇（ROS, Reactive oxidative species）介导，内源性脂褐素（lipofusion）是ROS的副产物，在808nm激光激发下，能够在近红外范围内被检测到，因此脂褐素的红外成像用于无创评估坏死性炎症活动和纤维化阶段，实现慢性肝病的无创监测。近红外二区成像联合酶激活的纳米探针用于术中进行快速组织病理学分析准确的分析病理组织是肿瘤手术成功的关键之一，一种可被基质金属蛋白酶(MMP)14激活的NIR-II纳米探针A&MMP@Ag2S-AF7P，可用于体内外神经母细胞瘤诊断和非破坏性的组织病理学分析。（1）A&MMP@Ag2S-AF7P在正常组织中的荧光可以忽略不计；但是在神经母细胞瘤组织中，其荧光信号会由于过表达的MMP14抑制了Ag2S量子点和A1094之间的荧光共振能量转移(FRET)过程而被快速激活。（2）与此同时,暴露的膜渗透多肽R9 (TAT-peptide)可以使得该纳米探针被癌细胞有效地内化，进而产生优越的T/N组织信号比值。该探针可以对病灶进行富集定位通过红外二区实时成像描绘出明确的肿瘤边缘，用于癌症手术或组织活检。

恒光智影自主研发最新的近红外二区小动物活体荧光成像系统-MARS。这是一款多色成像系统，可实现全波段（400-1700 nm）荧光，X射线，CT多模态成像。这款产品突破了传统荧光活体成像系统的局限，具有从微观到宏观，由细胞至活体的全视野成像能力，可以实现更深，更快，更清晰的成像效果。在肿瘤研究，动物模型成像，血管成像，纳米药物开发，药物制剂，靶向治疗，及脑科学研究等方向提供新的影像解决方案。 1. 活体穿透深度高于 15 mm2. 空间分辨率优于 3 μm3. 荧光寿命分辨率优于 5 μs4. 高速采集速度优于 1000 fps（帧每秒）5. 精准光热治疗模块6. 可定制多模态系统 （X射线辐照、荧光寿命、一区荧光成像、原位成像光谱，CT等） 可实现小鼠颅内血管成像，皮下肿瘤成像，大鼠褐色脂肪及血管成像，小鼠肝肺成像，淋巴管与淋巴结成像，肠道系统成像的应用案例。您也可以在恒光智影的网站上找到更多的应用案例和视频：上海恒光智影医疗科技有限公司为您提供恒光智影 近红外二区小动物活体荧光成像系统的参数、价格、型号、原理等信息，恒光智影 近红外二区小动物活体荧光成像系统产地为上海、品牌为恒光智影，型号为MARS，价格为面议，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务。

激光共焦多维成像系统： FLIM / FCS 时间分辨的空间分辨显微系统： ISS 推出新一代的快速荧光寿命成像系统FLIM/PLIM。成像速度可达 20 fps （@256×256），自由选择1×1到4096×4096像元分辨率；同时获取荧光寿命成像和共焦强度成像数据，保持单分子级的检测灵敏度。 用于化学、纳米、能源、生物等学科方向，单分子、活细胞、微区成像及形貌、能级结构和能量传递特征的机理研究。满足上转换量子点及相关材料的寿命成像测试。。 ISS以整机的荧光寿命成像系统为己任，实现共焦三维扫描模块（针孔，二维振镜、压电台或自动工作台）和时间分辨模块的完美结合，提供＜100ps-100ms的全时域荧光寿命检测；同时软件融合Phasor Plots荧光寿命直读半圆规的矢量图技术，可视化、直观的提供荧光寿命分布及数值。 荧光寿命成像数据分析进入直读时代。 ISS 激光共焦扫描荧光寿命成像系统，还可以同时满足以下特殊需要： 1. 双光子的荧光寿命 FLIM/PLIM 成像； 2. 深紫外激发的荧光寿命 FLIM / PLIM 成像； 3. 红二区荧光寿命 FLIM /PLIM 成像； 4. 激光扫描大视场活体成像 FLIM /PLIM ； 5. 光谱采集及光谱成像； 6. AFM联用--活细胞工作站联用--冷冻及加热工作台联用； 7. 纳米颗粒三维跟踪；（专有技术） 主要功能描述：（可以选择双光子功能）激光共焦荧光强度成像LCM；荧光寿命成像FLIM，磷光寿命成像PLIM；上转换荧光（寿命）成像，稀土发光（寿命）成像，延迟荧光（寿命）成像；荧光波动成像FFS（FCS，FCCS, PCH，N&B, RICS， FLCS，scan-FCS），FLIM-FRET成像；荧光定量成像；单量子点发光（寿命）成像，单分子及单分子荧光共振转移成像smFRET，包括交替激发PIE成像；稳态及瞬态偏振成像；微区荧光光谱采集 400-1100nm；反聚束测试（含专业软件）；活细胞工作站升级（含多孔板）仪器特点： 实时直读式获得荧光寿命数值及变化趋势，FRET效率分布；选择350nm-1100nm加上900nm-1700nm波长范围检测器，2-4通道检测器，用于成像，FLIM-FRET；可以升级无波长干扰AFM（正置或倒置），实现同区域形貌和FLIM同步测试；紫外-可见-红外激发波长，单波长或超连续激光器；单光子或双光子的激光器； 主要技术指标 1. 荧光寿命测试范围：100ps-100ms；2. 最小时间分辨率≤1ps；3. 数据计数速率：65 MHz/channel4. 检测通道：upto 8 channels；5. 标配xy振镜扫描，5kHz扫描频率，配合xy闭环自动台实现大区域扫描；6. Phasor plots 用于数据分析；7. 光谱采集；400-1100nm8. 扫描透射成像；9. 界面聚焦系统；10. 变温附件；77k-500k；

激光共焦多维荧光成像系统： FLIM / FCS 时间分辨的空间分辨显微系统： ISS 推出新一代的快速荧光寿命成像系统FLIM/PLIM。成像速度可达 20 fps （@256×256），自由选择1×1到4096×4096像元分辨率；同时获取荧光寿命成像和共焦强度成像数据，保持单分子级的检测灵敏度。 用于化学、纳米、能源、生物等学科方向，单分子、活细胞、微区成像及形貌、能级结构和能量传递特征的机理研究。满足上转换量子点及相关材料的寿命成像测试。。 ISS以整机的荧光寿命成像系统为己任，实现共焦三维扫描模块（针孔，二维振镜、压电台或自动工作台）和时间分辨模块的完美结合，提供＜100ps-100ms的全时域荧光寿命检测；同时软件融合Phasor Plots荧光寿命直读半圆规的矢量图技术，可视化、直观的提供荧光寿命分布及数值。 荧光寿命成像数据分析进入直读时代。 ISS 激光共焦扫描荧光寿命成像系统，还可以同时满足以下需要： 1. 双光子的荧光寿命 FLIM/PLIM 成像； 2. 深紫外激发的荧光寿命 FLIM / PLIM 成像；266nm 355nm 3. 红二区荧光寿命 FLIM /PLIM 成像； 4. 激光扫描大视场活体成像 FLIM /PLIM ； 5. 光谱采集及光谱成像； 6. AFM联用--活细胞工作站联用--冷冻及加热工作台联用； 7. 纳米颗粒三维跟踪；（专有技术） 主要功能描述：（单/双光子功能） 激光共焦荧光强度成像LCM；荧光寿命成像FLIM，磷光寿命成像PLIM；上转换荧光（寿命）成像，稀土发光（寿命）成像，延迟荧光（寿命）成像；荧光波动成像FFS（FCS，FCCS, PCH，N&B, RICS， FLCS，scan-FCS）， FLIM-FRET成像；荧光定量成像；单量子点发光（寿命）成像，单分子及单分子荧光共振转移成像smFRET，包括交替激发PIE成像；稳态及瞬态偏振成像；微区荧光光谱采集 400-1100nm；反聚束测试（含专业软件）；活细胞工作站升级（含多孔板）仪器特点： 实时直读式获得荧光寿命数值及变化趋势，FRET效率分布；选择350nm-1100nm加上900nm-1700nm波长范围检测器，2-4通道检测器，用于成像，FLIM-FRET；可以升级无波长干扰AFM（正置或倒置），实现同区域形貌和FLIM同步测试；紫外-可见-红外激发波长，单波长或超连续激光器；单光子或双光子的激光器； 主要技术指标 1. 荧光寿命测试范围：100ps-100ms；2. 最小时间分辨率≤1ps；3. 数据计数速率：65 MHz/channel4. 检测通道：upto 8 channels；5. 标配xy振镜扫描，5kHz扫描频率，配合xy闭环自动台实现大区域扫描；6. Phasor plots 用于数据分析；7. 光谱采集；400-1100nm8. 扫描透射成像；9. 界面聚焦系统；10. 变温附件；77k-500k；

仪器简介： HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）----荧光光谱仪器的全球领导者，提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。 新一代荧光寿命测试系统-DeltaPro，其独一无二的高性能以及简单实用的特点，对TCSPC系统有了新的定义。HORIBA科学仪器部从上世纪70年代开始一直专注于TCSPC系统的开发，保持着荧光系统设计和生产的世界领导者。 DeltaPro配置新型高频脉冲半导体光源作为荧光和磷光的激发光源，软件直接控制、即插即用，可选波长覆盖范围从250nm至近红外区。因此在DeltaPro系统上无需更换控制器，即可实现25ps~1s范围的寿命测定。当选择NanoLED 或 DeltaDiode激光二极管光源时，系统可以测定25ps~10μs范围的寿命，当选择SpectraLED，系统可以测定1μs~1s范围的寿命。 DeltaPro系统的模块式设计，可按照应用需求进行后期系统升级。 特征 滤光片式波长选择方便、快捷的USB2.0控制系统（无需PCI卡）综合分析软件检测器范围185~650nm（可升级至850或900nm）标准液体样品架、加载温度传感器和搅拌装置可选偏振器测试旋转相关时间激发光源可选Deltadiode、NanoLED和spectraLED，覆盖UV~NIR全范围波长配置DeltaDiode激发光源，重复频率可达100MHz F-link 即插即用型交互界面 多种测试模式可选寿命模式---测试25ps~1s范围的寿命动力学TCSPC模式---1~10000条衰减曲线连续可选，1ms~1min/decay各向异性---去卷积分析获得较短的旋转相关时间 規格 最小寿命 25ps（Diode激光光源）*最短测定时间 1ms*重复频率 NanoLED 10KHz~1MHz，DeltaDiode 10KHz~100MHz， SpectraLED 0.1Hz~10KHz，Diode控制器 Deltapro-NL：NanoLED和SpectraLEDDeltapro-DD：DeltaDiode和SpectraLED系统响应（FWHM 200ps FWHW PPD/TBX和激光二极管死时间 10ns时间范围 10ns~11s（DeltaPro-DD）波长选择 可换滤光片（选配） 检测器响应范围 250~650nm标配，250~850nm和300~900nm可选PC界面 USB2.0 PC（不包含）。Windows XP或Windows 7，32/64位英文操作系统系统尺寸 1875px*1125px*625px，不含电脑*依赖于样品和系统配置

激光共焦多维成像系统： FLIM / FCS 时间分辨的空间分辨显微系统： ISS 推出新一代的快速荧光寿命成像系统FLIM/PLIM。成像速度可达 20 fps （@256×256），自由选择1×1到4096×4096像元分辨率；同时获取荧光寿命成像和共焦强度成像数据，保持单分子级的检测灵敏度。 用于化学、纳米、能源、生物等学科方向，单分子、活细胞、微区成像及形貌、能级结构和能量传递特征的机理研究。满足上转换量子点及相关材料的寿命成像测试。。 ISS以整机的荧光寿命成像系统为己任，实现共焦三维扫描模块（针孔，二维振镜、压电台或自动工作台）和时间分辨模块的完美结合，提供＜100ps-100ms的全时域荧光寿命检测；同时软件融合Phasor Plots荧光寿命直读半圆规的矢量图技术，可视化、直观的提供荧光寿命分布及数值。 荧光寿命成像数据分析进入直读时代。 ISS 激光共焦扫描荧光寿命成像系统，还可以同时满足以下特殊需要： 1. 双光子的荧光寿命 FLIM/PLIM 成像； 2. 深紫外激发的荧光寿命 FLIM / PLIM 成像； 3. 红二区荧光寿命 FLIM /PLIM 成像； 4. 激光扫描大视场活体成像 FLIM /PLIM ； 5. 光谱采集及光谱成像； 6. AFM联用--活细胞工作站联用--冷冻及加热工作台联用； 7. 纳米颗粒三维跟踪；（专有技术） 主要功能描述：（可以选择双光子功能）激光共焦荧光强度成像LCM；荧光寿命成像FLIM，磷光寿命成像PLIM；上转换荧光（寿命）成像，稀土发光（寿命）成像，延迟荧光（寿命）成像；荧光波动成像FFS（FCS，FCCS, PCH，N&B, RICS， FLCS，scan-FCS），FLIM-FRET成像；荧光定量成像；单量子点发光（寿命）成像，单分子及单分子荧光共振转移成像smFRET，包括交替激发PIE成像；稳态及瞬态偏振成像；微区荧光光谱采集 400-1100nm；反聚束测试（含专业软件）；活细胞工作站升级（含多孔板）仪器特点： 实时直读式获得荧光寿命数值及变化趋势，FRET效率分布；选择350nm-1100nm加上900nm-1700nm波长范围检测器，2-4通道检测器，用于成像，FLIM-FRET；可以升级无波长干扰AFM（正置或倒置），实现同区域形貌和FLIM同步测试；紫外-可见-红外激发波长，单波长或超连续激光器；单光子或双光子的激光器； 主要技术指标 1. 荧光寿命测试范围：100ps-100ms；2. 最小时间分辨率≤1ps；3. 数据计数速率：65 MHz/channel4. 检测通道：upto 8 channels；5. 标配xy振镜扫描，5kHz扫描频率，配合xy闭环自动台实现大区域扫描；6. Phasor plots 用于数据分析；7. 光谱采集；400-1100nm8. 扫描透射成像；9. 界面聚焦系统；10. 变温附件；77k-500k；

近红外二区小动物活体成像系统 MARS 拥有完整的小动物活体光学成像系统，并可个性化定制，满足不同需求。 MARS的近红外二区相机采用Teledyne Princeton Instruments 的NIRvana系列，其出色的量子效率与先进的噪声抑制技术为高品质成像提供保证。 FAST与Pathfinder两套定制的光学方案能实现不同场景的实验需求，从大视场下对小鼠的整体拍摄，到局部的微观分析，我们独特的光学解决方案在保证空间分辨率的前提下，为您提供优异的光通量与信号强度。 MARS系统采用别具匠心的整体设计，开放的用户界面带来独特的便捷性与灵活性。模块化的设计可以方便用户扩展功能，并可整合超声，光声，CT断层扫描，荧光寿命，PET-CT，MRI等成像系统，提供无缝多模态成像解决方案。 小鼠血管荧光成像， 使用水溶性D-A-D小分子染料（QY≈1.2%）

Asiagene NIR2020 近红外I区和近红外II区生物医学荧光成像系统是上海亚晶生物科技有限公司自主研发的大型高端设备。 主机包含：1.暗箱2.科研一级CCD相机（光谱范围：400-1700nm）3.近红外探测器4.荧光光路及照明系统5.小动物麻醉系统6.操作分析软件7.电源线和数据线8.操作说明 其中暗箱：1.内部铺有吸光性能良好的材料；2.可以装配近红外探测器配备；3.多位波段滤光片及切换装置；4.可装配多个波段光源，并分别控制及采集5.可以支持小动物麻醉系统6.配备自动升降台，可以随时调整样品台高度7.配备小动物恒温模块，保证成像时动物体温8.配备明场光源 近红外探测器：1.探测器芯片：铟镓砷探测器2.分辨率：640(h)×512(v)；3.带宽：900-1,700nm；4.峰值量子效率（peak QE）：85%；5.保持信号完整性：65,535灰度值；6.扫描频率：4×18 MHz；7.InGaAs探测器运行能力：99.5%；8.输入像素尺寸：15×15μm；9.输入传感器尺寸：9.6×7.68 mm；10.读出杂讯：High gain mode 27-35 电子

荧光和荧光寿命分子包含多个单能态S0、S1、S2… 和三重态T1… ，每个能态都包含多个精细的能级。正常情况下，大部分电子处在*低能态即基态S0 的*低能级上，当分子被光束照射，会吸收光子能量，电子被激发到更高的能态S1 或S2 上，在S2 能态上的电子只能存在很短暂的时间，便会通过内转换过程跃迁到S1 上，而S1 能态上的电子亦会在极短时间内跃迁到S1 的*低能级上，而这些电子会存在一段时间后通过震荡弛豫辐射跃迁到基态，这个过程会释放一个光子，即荧光。此外，亦会有电子跃迁至三重态T1 上，再由T1 跃迁至基态，我们称之为磷光。荧光特性研究荧光特性时，主要在以下几方面进行分析：激发光谱，发射光谱、荧光强度、偏振荧光、荧光发光量子产率、荧光寿命等。其中荧光寿命（Fluorescence Lifetime）是指荧光分子在激发态上存在的平均时间（纳秒量级）。荧光寿命测试荧光寿命一般在几纳秒至几百纳秒之间，如今主要有两类测试方法：时域测量和频域测量时间稳定性实验测试曲线：1 时域测量由一束窄脉冲将荧光分子激发至较高能态S1，接着测量荧光的发射几率随时间的变化。其中目前广泛应用的是时间相关单光子计数，即TCSPC(Time Correlated Single Photon Counting)时间相关单光子计数(TCSPC) 实现了从百ps-ns-us 的瞬态测试，此方法对数据的获取完全依赖快速探测器和高速电路。用统计的方法计算样品受激后发出的第一个( 也是*一的一个) 光子与激发光之间的时间差，也就是下图的START( 激发时刻) 与STOP( 发光时刻) 的时间差。由于对于Stop 信号的要求，所以TCSPC 一般需要高重复频率的光源作为激发源，其重复至少要在100KHz 以上，多数的光源都会达到MHz 量级；同时，在一般情况下还要对Stop 信号做数量上的控制，做到尽量满足在一个激发周期内，样品产生且只产生一个光子的有效荧光信号，避免光子对的出现。2 频域测量对连续激发光进行振幅调制后，分子发出的荧光强度也会受到振幅调制，两个调制信号之间存在与荧光寿命相关的相位差，因此可以测量该相位差计算荧光寿命。 左图为正弦调制激发光（绿色）频域显示，发射光信号（红色）相应的相位变化频域显示。右图为对应不同寿命的调制和相位的频域显示。TM- 调制寿命，TP- 相位寿命。[1]显微荧光寿命成像技术（FLIM）显微荧光寿命成像技术（Fluorescence Lifetime ImagingMicroscopy，FLIM）是一种在显微尺度下展现荧光寿命空间分布的技术，由于其不受样品浓度影响，具有其他荧光成像技术无法代替的优异性能，目前在生物医学工程、光电半导体材料等领域是一种重要的表征测量手段。FLIM 一般分为宽场FLIM 和激光扫描FLIM。宽场FLIM（Wide Field FLIM,WFM）该技术是用平行光照明并由物镜聚焦样品获得荧光信号，再由一宽场相机采集荧光成像。宽场FLIM 常用于快速获取大面积样品成像。时域或是频域寿命采集都可以应用在宽场成像FLIM 上。宽场FLIM 有更高帧率和低损伤的优势。2 激光扫描FLIM（Laser Scanning FLIM,LSM）激光扫描FLIM 是针对选定区域内的样品逐点获取其荧光衰减曲线，再经过拟合最终合成荧光寿命图像。相比宽场FLIM，其在空间分辨率、信噪比方面有更大的优势。扫描方式有两种：一种是固定样品，移动激光进行扫描，一种是固定激光，电动位移台带动样品移动进行扫描。显微荧光寿命成像系统RTS2-FLIM应用材料科学领域宽禁带半导体如GaN、SiC 等体系的少子寿命mapping 测量量子点如CdSe@ZnS 等用作荧光寿命成像显微镜探针钙钛矿电池/LED 薄膜的组分分析、缺陷检测铜铟镓硒CIGS，铜锌锡硫CZTS 薄膜太阳能电池的组分、缺陷检测镧系上转换纳米颗粒GaAs 或GaAsP 量子阱的载流子扩散研究生命科学领域细胞体自身荧光寿命分析自身荧光相对荧光标记的有效区分活细胞内水介质的PH 值测量局部氧气浓度测量具有相同频谱性质的不同荧光标记的区分活细胞内钙浓度测量时间分辨共振能量转移（FRET）：纳米级尺度上的远差测量，环境敏感的FRET 探针定量测量代谢成像：NAD(P)H 和FAD 胞质体的荧光寿命成像显微荧光寿命成像系统RTS2-FLIM应用案例1 用荧光分子对海拉细胞进行染色用荧光分子转子Bodipy-C12 对海拉细胞（宫颈癌细胞的一种） 进行染色。(a) 显微荧光寿命成像图，寿命范围1ns（蓝色）到2.5ns（红色）；(b) 荧光寿命直方图，脂肪滴的短寿命约在1.6ns 附近，细胞中其他位置寿命较长，在1.8ns 附近。用荧光分子转子的时间分辨测量*大的好处在于荧光寿命具备足够清晰的标签特性，且与荧光团的浓度无关。[2]2 金属修饰荧光金属修饰荧光：(a) 荧光寿命是荧光团到金表面距离的函数；(b) 用绿色荧光蛋白（GFP）标记乳腺腺癌细胞的细胞膜的共聚焦xz 横截面，垂直比例尺：5m；(c) b 图的FLIM 图，金表面附近的GFP 荧光寿命缩短。[2]3 钙钛矿太阳能电池下图研究中，展示了一种动态热风（DHA）制备工艺来控制全无机PSC 的薄膜形态和稳定性，该工艺不含有常规的有害反溶剂，可以在大气环境中制备。同时，钙钛矿掺有钡（Ba2+） 碱金属离子（BaI2:CsPbI2Br）。这种DHA 方法有助于形成均匀的晶粒并控制结晶，从而形成稳定的全无机PSC。从而在环境条件下形成完整的黑色相。经过DHA处理的钙钛矿光伏器件，在0.09cm小面积下，效率为14.85%，在1x1cm的大面积下，具有13.78%的*高效率。DHA方法制备的器件在300h后仍然保持初始效率的92%。4 MQWs 多量子阱研究在(a) 蓝宝石和(b) GaN 上生长的MQWs 的共焦PL mapping 图像。具有较小尺寸的发光团的最高密度是观察到在GaN 上生长的MQWs。在(c) 蓝宝石和(d)GaN 上生长的MQWs 的共焦TRPL mapping 图。仅对于在GaN 上生长的MQWs，强的PL 强度区域与较长PL 衰减时间的区域很好地匹配。在(e) 蓝宝石和(f)GaN 上生长的MQWs 在A 点和B 点测量的局部PL 衰减曲线，均标记在图中。对于在GaN 上生长的MQWs，点A 和B 之间的PL 衰减时间差更高。显微荧光寿命成像系统FLIM参数配置北京卓立汉光仪器有限公司提供的显微荧光寿命成像系统是基于显微和时间相关单光子计数技术，配合高精度位移台得到微观样品表面各空间分布点的荧光衰减曲线，再经过用数据拟合，得到样品表面发光寿命表征的影像。是光电半导体材料、荧光标记常用荧光分子等类似荧光寿命大多分布在纳秒、几十、几百纳秒尺度的物质的选择。参数指标：系统性能指标光谱扫描范围200-900nm最小时间分辨率16ps荧光寿命测量范围500ps-1μs@ 皮秒脉冲激光器空间分辨率≤1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器荧光寿命检测IRF≤2ns配置参数激发源及匹配光谱范围（光源参数基于50MHz 重复频率）375nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：30ps，平均功率1.5mW，荧光波段：400-850nm405nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：25ps，平均功率2.5mW，荧光波段：430-920nm450nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：50ps，平均功率1.9mW，荧光波段：485-950nm488nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：70ps，平均功率1.3mW，荧光波段：500-950nm510nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：75ps，平均功率1.1mW，荧光波段：535-950nm635nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：65ps，平均功率4.3mW，荧光波段：670-950nm660nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：60ps，平均功率1.9mW，荧光波段：690-950nm670nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：40ps，平均功率0.8mW，荧光波段：700-950nm科研级正置显微镜落射明暗场卤素灯照明，12V，100W5 孔物镜转盘，标配明场用物镜：10×，50×，100×监视CCD：高清彩色CMOS 摄像头，像元尺寸：3.6μm*3.6μm，有效像素：1280H*1024V，扫描方式：逐行，快门方式：电子快门电动位移台高精度电动XY 样品台，行程：75*50mm（120*80mm 可选），最小步进：50nm，重复定位精度：＜ 1μm光谱仪320mm 焦距影像校正单色仪，双入口、狭缝出口、CCD 出口，配置三块68×68mm 大面积光栅，波长准确度：±0.1nm，波长重复性：±0.01nm，扫描步距：0.0025nm，焦面尺寸：30mm(w)×14mm(h)，狭缝缝宽：0.01-3mm 连续电动可调探测器：制冷型紫外可见光电倍增管，光谱范围：185-900nm（标配，可扩展）光谱CCD（可扩展PLmapping）低噪音科学级光谱CCD（LDC-DD），芯片格式：2000x256，像元尺寸：15μm*15μm, 探测面：30mm*3.8mm，背照式深耗尽芯片，低暗电流，*低制冷温度-60℃ @25℃环境温度，风冷，最高量子效率值95%时间相关单光子计数器（TCSPC）时间分辨率：16/32/64/128/256/512/1024ps… … 33.55μs，死时间＜ 10ns，*高65535 个直方图时间窗口，瞬时饱和计数率：100Mcps，支持稳态光谱测试；OmniFluo-FM 荧光寿命成像专用软件控制功能：控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等数据处理功能：自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示图像处理功能：直方图、色表、等高线、截线分析、3D 显示等操作电脑品牌操作电脑，Windows 10 操作系统软件界面控制测试界面测试软件的界面遵循“All In One”的简洁设计思路，用户可在下图所示的控制界面中完成采集数据的所有步骤：包括控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等。数据处理界面功能丰富的荧光寿命数据处理软件，充分挖掘用户数据中的宝贵信息。可自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示。自主开发的一套时间相关单光子计数（TCSPC）荧光寿命的拟合算法，可对荧光衰减曲线中最多包含4 个时间组分的荧光过程进行拟合，获得每个组分的荧光寿命，光子数比例，计算评价函数和残差。TCSPC 荧光寿命通常并非简单的指数衰减过程，而是与光源及探测器相关的仪器响应函数（IRF）与荧光衰减过程相互卷积的结果，因此适当的拟合方法和参数选择对获得正确可靠的荧光寿命非常重要。该软件可导入实际测量的IRF 对衰减曲线进行卷积计算和拟合。但是大多数情况下， IRF 很难正确的从实验获得，针对这种情况，软件提供了两种无需实验获取IRF 的拟合方法：1.通过算法对数据上升沿进行拟合，获得时间响应函数IRF，然后对整条衰减曲线进行卷积计算和拟合得到荧光寿命。2.对于衰减时间远长于仪器响应时间的，可对衰减曲线下降沿进行直接的指数拟合。该软件经过大量测试，可以很好的满足各种场合的用户需求。MicroLED 微盘的荧光强度像（3D 显示）：