高温高压表界面测量系统

依阳系列人机界面集成测控系统EyoungHMI系列人机界面集成测控系统是一套以低功耗嵌入式CPU为核心、基于Windows CE操作系统的高性能人机界面，拥有多尺寸高亮度TFT真彩色液晶屏，四线电阻式触摸屏。EyoungHMI系列人机界面集成测控系统主要具有以下突出特点：（1）放弃了以往以PLC为核心添加模块的操作控制理念，EyoungHMI系列人机界面集成测控系统则是以嵌入了操作系统的人机界面为核心，在与传统的操作面板/人机界面进行比较，EyoungHMI系列人机界面集成测控系统表现出优异性价比和完美性能，是多元化产品市场中理想的应用选择；（2） 可与几乎所有厂商的PLCs、控制器、变频器、网络摄像机和传感器等多种工业设备无缝相连，完美协作；（3） 借助自带的多种通讯接口可与所有厂家的大型高精度数字繁用表、数据采集器及其它测量设备和仪器轻松相连，充分发挥测量设备和仪器的精度和功能，并可通过串口、以太网、USB下载运行和存储数据。（4） 可以根据实际需要轻松进行画面编辑和工艺过程中的数据和曲线显示，从而创建多种应用解决方案。

HTC350电加热高温样品室由德国LAUDA Scientific公司研发生产，是LAUDA Scientific新一代接触角测量仪LSA系列的可选附件，用于在高温下测量接触角和表界面张力等。

现货供应德国克吕士/Kruss-k6表面张力仪K6，操作说明书，现货销售，办事处，技术参数：销售热线，15300030867,13718811058，张经理欢迎您的来电咨询！手动控制，手动读数测量功能：表界面张力测量范围：1-90mN/m分辨率：1mN/m

高温高压池(HTHP)是一款非常有用的附件，可以进行一系列实验；最高温度800℃，最高压力1000psi(68大气压)；样品在样品腔内，可以采用透射，反射或者分解模式进行测量；高温高压池有4个气体口，可以进行一系列的反应或催化剂实验。最高温度800℃,最高压力为1000psi(相当于70atm)，适合于催化剂研究、氧化研究、燃烧研究、固体燃料研究等。 点击高温/高压透射池查阅更详细的资料。在真空条件下，约10-4bar(10-1torr)时，可以达到最高温度。在高压即1000psi(70个大气压)下，这个附件的最高温度为550~600℃。高温高压池，P/N5850，有两种模式，可以做透射谱或样品分解：采用透射模式，将样品压成13mm的小片，放入响应的加热柱上。光束穿过在样品腔内被气氛包围的样品。采用分解模式，将13mm样品小片或样品粉末、流体或橡胶装物质放在一个独立的盘中，这个样品盘放在样品加热柱上。由于加热或减压，蒸汽从分解盘上升起，光束穿过气体获得红外光谱。高温高压池，P/N5855，可以做反射谱：样品必须是直径为13mm的样品片，在这种情况下，光束必须从高温高压池的底部的窗口进入高温高压池，然后光束在样品表面反射后又从原窗口出来。

用于固体样品在一个温度范围从室温到800℃,压力范围从10-3Torr真空到500 psi高压的环境中的研究。高温高压池的标配窗片是ZnSe，ZnSe在中红外和机械强度之间有一个很好的平衡。也可以采用其他窗片，整个高温高压池的池体采用耐久和耐化学腐蚀的316不锈钢。温控器提供低电压及过温保护,确保系统安全。水冷却的夹套确保高温高压池在高温状态的外壳还保持在低温状态，而当压力高于建议的压力安全极限时，安全阀&lsquo 爆破隔膜&rsquo 立刻激活。Environmental Chamber高温高压池Selector 光学单元（http://www.instrument.com.cn/netshow/SH102133/Q1194776.htm）相结合，非常适合于化学动力学研究，例如，催化、表面分析、聚合和配位化学。

用途：AMS油水界面计是一款经济型装置，可测量井口下30米深度，是浅井测量或高水位测量的理想设备。AMS油水界面计测量地下水中漂浮或下沉的油层厚度。这类设备被广泛应用于精炼厂、溢油污染修复公司、垃圾填埋场及现场清理项目。技术规格：传感器直径15.8毫米测量深度30米测量精度3毫米供电9V电池指示功能声光信号重量3.5公斤产地：美国

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比如口红、比如香烟的过滤嘴、烟丝等等管状的样品，横截面颜色可以作为抽检的一个很好的实验方法，一插，一测，颜色就出来了，准确方便。

超级多功能量子效率测量系统配件成功问世，一套量子效率测试系统可以测量：薄膜厚度, 折射率，透过率，光学常数, 光谱响应，外量子效率和内量子效率。多功能量子效率测量系统配件是特别为太阳能光伏电池（器件）的测量而设计开发的新一代量子效率测试系统。它可以测量光伏器件的光谱响应（Spectral Response, SR, A/W),外量子效率（External Quantum Efficiency, EQE/IPCE,%) 和内量子效率（Internal Quantum Efficiency, IQE,%）多功能量子效率测量系统配件特色×光路全部采用光纤传导替代自由空间光系统（Free-Space Optics)， 从而可以保证用户长时间使用而不需要准直或调节光路，也不需要日常频繁地移动光学器件或维护，×光路传导系统也规避了周围环境光线对测量的影响。×快速测量EQE/IQE测量（5分钟内就可测量串联光伏电池的全部特性）；×真正全部匹配各种光伏技术（C-Si,多晶硅,硅薄膜电池, CIS/CIGS,有机光谱电池等）；×根据用户的需求提供订制化服务；×集成其它光学测量功能，如”薄膜厚度测量“功能。内量子效率测量系统测量方法多功能量子效率测量系统配件由300-1100nm的光源和1/4m的单色仪构成。内部还配置电动的6位滤波片轮实现高精度地测量。而光电流（Photocurrent)测量是通过锁相放大器和数字控制的chopper实现的。 外量子效率测量系统的软件控制光源（LED),使用高性能光电二极管作为参考，可对串联电池进行偏置测量（Biasing Measurement)。多功能量子效率测量系统配件对于内量子效率（IQE)的测量是通过使用两个积分球与一个微型光谱仪联合实现的。其中微型光谱仪用于确定反射率和透过率，标定（校准）单色仪的输出光谱带宽。对于我们还有重要的配件供用户选择：安装样品的温度控制基座和外部电压偏倚源共选择。多功能量子效率测量系统配件的软件全天候控制这个套系统。该软件基于LABVIEW构建，不仅可以控制系统工作，处理电子和光谱测量，还具有极其广泛的拓展性。软件采用”指导提示性”界面设计，指导用户一步步完成实验操作，从而大大方便用户的使用。即使没有使用经验的人员也能在软件的提示下工作。量子效率测试系统软件提供如下两个工作模块：1) EQE－模块用于测量外部量子效率，控制所有二级模块如温度和偏置测量等》2) IQE－模块用于反射率和透过率，计算内量子效率，定义单色仪的输出带宽，不要激光和特殊校准配件和程序。

铂金板法测量的是液体的表面（或界面)张力的平衡值，铂金环法测试的是液体的表面（或界面)的*大力值。相比较，铂金板法具有如下的优点：　　1.铂金板法可测量液体表面（或界面）张力随时间的变化：铂金板法测量时是一直接触被测液体的，只要液体的表面张力发生变化，测试值就会有变化，如果选用数据处理软件还可观测的表面张力随时间的变化曲线。　　2.可方便地测量中高粘度液体的表面张力：铂金环法测试时需要铂金环向上提升，在此过程中除了表面张力的作用外还有粘力作用。　　3.测试精度高：铂金板不易变形，铂金环太容易变形。环的不规则圆、不平整会影响表面张力的测试精度4.使用方便：铂金板测试值就是表面张力值，不需换算；铂金环测试的是*大力值，需要换算。铂金板清洗方便，不易变形。

1. 铂金板、铂金环两种测试方法兼用2. 全自动测量，铂金板测试时，显示值即为表面张力值；3. 使用白金环测试方法时，显示值自动锁定试样的*大力值，然后通过附送的计算软件计算表面张力值或选用数据处理软件由计算机自动计算；4. 铂金环尺寸：丝半径为0.185mm，环半径为9.55mm，环周长为60mm； 铂金板法测量的是液体的表面（或界面)张力的平衡值，铂金环法测试的是液体的表面（或界面)的*大力值。相比较，铂金板法具有如下的优点：　　1.铂金板法可测量液体表面（或界面）张力随时间的变化：铂金板法测量时是一直接触被测液体的，只要液体的表面张力发生变化，测试值就会有变化，如果选用数据处理软件还可观测的表面张力随时间的变化曲线。　　2.可方便地测量中高粘度液体的表面张力：铂金环法测试时需要铂金环向上提升，在此过程中除了表面张力的作用外还有粘力作用。　　3.测试精度高：铂金板不易变形，铂金环太容易变形。环的不规则圆、不平整会影响表面张力的测试精度4.使用方便：铂金板测试值就是表面张力值，不需换算；铂金环测试的是*大力值，需要换算。铂金板清洗方便，不易变形。

HTHP原位高温/高压三模式反应池在极端条件下进行的原位分析附件，三种测试模式产品简介 高科技产品和现代工业生产过程需要在极端温度和压力条件下的原位分析。Specac的高温高压池在全世界应用非常稳定，效果出色，能解决非常复杂的实验Specac高温/高压池有能力再创造这些条件，进行光谱分析样品或模拟实验室的过程。样品池设计用于高光学通量，并允许在多种目的分析配置、透射、反射和双重之间进行简单交换(见图1，2，3)。 图1投射分析模式 图2反射分析模式 图3 双重分析模式主要特征ü极端条件光谱仪--可编程控制温度最高可达800℃,压力范围从真空到1000psiü多目的分析仪--透射、镜面反射和双重模式ü优化设计--允许在分析模式之间进行简单交换ü安全和可靠的结构--坚固耐用的结构、经过安全验证的电子器件以及安全隔膜应用范围ü组件失效分析ü分解研究ü原位反应监测ü表面反射率测试ü过程气体分析，催化反应典型的应用如下：q催化剂和氧化还原反应，在特定温度和特定压力下气体会在固体表面发生反应，我们可以用红外光谱记录整个反应过程。q样品在不同的物理状态下具有多态性。q固体燃料，即煤和油，在加热下挥发的蒸汽可以进行定性和定量分析。q高温高压对气体/蒸汽的影响。q高温高压对固体物质的透射和反射产生的影响。特性及操作高温/高压池可以使用透射、镜面反射和双重模式来分析固体样品，以及静态或流动传输模式的过程气体。样品温度可高达800℃，样品池可在真空到1000psi压力下使用。样品池窗片和主体可独立加热和控制到高达200℃的温度，可阻止内部的材料凝结后附着到ZnSe窗片上。水冷上下部分阻止对光谱仪样品仓内的样品过度加热，维持表面在一个安全的温度。可通过更换样品池主体上的光学加压窗片组件并安装到基板上来进行透射(最大样品尺寸13mm)和镜面反射模式切换。简单的重新定位样品支架/加热器组件，将加热的样品放到光束下的器皿中，即可获得分解模式。样品在不同温度得到的气体可以被分析出来。样品池可为气体分析或清洗提供稳定的气流。样品池体积为80ml。样品池温度使用一个可手动或通过计算机编程的专用的控制器来调节。设计结合了一系列重要安全特征。尤其是，样品池的所有的电源供应都符合加拿大标准协会(CSA)规定(30V或更低)，温控器在热电偶输入上安装有开路探测可阻止过热。样品池本身安装了一个安全隔板可防止偶然的过压，如有需要，其可以安装到通风橱中或其他地方。标准的样品池是耐用的316不锈钢制成的，如有需要可以拆开进行彻底的清洁。订购信息GS05850高温/高压池不含反射附件包括:带ZnSe窗片的光学器件单元和仪器基板、透射/双重样品支架，可编程高稳定性温控器。请指定光谱仪制造厂家和型号。GS05855高级高温/高压样品池系统含反射附件包括:带ZnSe窗片的光学器件单元和仪器基板、透射/双重样品支架，反射模式楔形加压窗片组件和反射模式基板，可编程高稳定性温控器。请指定光谱仪制造厂家和型号。GS05860反射模式套装包括:可将GS05850 HTHP样品池转化成高级的HTHP样品池(GS05855)的部件套装GS05865密封套件备件GS05867 ZnSe样品池窗片备件(经过测试和认证的)GS05868分解盘--备用件(2个)GS05869"安全隔板"备件可选项GS05870 HTHP样品池ESKGS28000 RS232连接包GS28001 USB连接包GS28002 RS485连接包

LED光电测量系统配件是一款进口的满足LED电光参数和性能测量的系统，它可以测量LED, OLED,激光等任何发光光源的光电参数和特性,可快速而准确地测量各种发光光源辐射，光度学，色度以及效率参数。为了测量各种光源，孚光精仪公司为LED光电测量系统配件提供各种类型的灯具，光采样选项和电探针附件。这种齐全的附件配备，使得这套LED光谱分析系统能够适合世界上任何商业标准封装或作为实验样品的各种发光器件的测量，使用积分球可以更为有效地收集光辐射，而不受光发射角的分布影响。其它光采样附件也可配置，以满足标准测量的要求，能够适应外部光源测量的需要，融入最好的输出功率等级和精度的测量工具，也可根据用户的要求提供定制系统，更可以根据用户已有的仪器提供定制服务。LED光电测量系统配件参数发射光谱 Emission Spectrum辐射通量 Radiant Flux (W)辐照度 Irradiance (W/cm2)亮度 Luminance (Cd/m2)色度坐标Chromaticity Coordinates（x,y)色纯度 Color Purity主波长 Dominant Wavelength峰值波长 Peak Wavelength发光效率Luminous Efficiency (Cd/A)外部量子效率 External Quantum EfficiencyLED光电测量系统配件软件*能够把所有重要参数测量结果展现到一个屏上，这个独具特色能够帮助用户更好地全面监测发光。×控制采集点血和光谱数据，精确控制测量样品的供电, (具有外部源仪表接口，用户能以所需电压或电流范围扫描测试）×集合所有电学和光谱参数，用户还能获得“外部量子效率”和“发光效率”之类的重要指标；*实时测量发光器件OLED测量系统配件规格组成：光谱仪，光纤，积分球，样品台，仪表，数据接口，软件光谱范围：200-850nm或 350-1000nm探测器：2048像素Si CCD阵列采光周期： 1毫秒--65秒光谱分辨率：1.5nm(FHWM)电压源 测量范围：±5μV - ±200V电流源测量范围：±10pA - ±1A电源要求：110/230VAC,系统尺寸：320x360x180mm系统重量：9.8kg

TRIME土壤剖面水测量系统测管探管产品规格：序号名称型号规格描述1TRIME透明探管QT-3030081米PC管44x42mm带钢箍,1个橡胶塞子,1个盖子,1个橡胶环.2TRIME透明探管QT-3030091.5米PC管44x42mm带钢箍,1个橡胶塞子,1个盖子,1个橡胶环.3TRIME透明探管QT-3030102米PC管44x42mm带钢箍,1个橡胶塞子,1个盖子,1个橡胶环.4TRIME透明探管QT-3030123米PC管44x42mm带钢箍,1个橡胶塞子,1个盖子,1个橡胶环.

现货销售供应德国克吕士/Kruss-K11质控型表面张力仪K11，主要特点，操作说明书，现货供应，办事处：咨询热线，15300030867,010-82752485-815欢迎您的来电咨询！﹡全自动测量表面/界面张力，测量系统精确、耐用﹡位置移动快速、精确﹡液体密度测定﹡友好界面，操作简单﹡存储测量参数，数据输出到计算机和打印机中﹡软件进行数据管理现货销售供应德国克吕士/Kruss-K11质控型表面张力仪K11，主要特点，操作说明书，现货供应，办事处，技术参数：﹡测量范围：1-999mN/m，密度：1-2200kg/m3﹡测量分辨率：0.1 mN/m，0.01 mN/m (K11HRX)；密度分辨率：1kg/m3﹡测量速度：12.5数据/秒﹡样品重量最大值：50g (K11)，100g (K11HRX)﹡最大提升距离：110 mm；提升速度：0.1 - 500 mm/min；位置分辨率：0.1mm﹡温度范围：-10 to 130°C；温度测量：-60 to 450 °C，Pt100；温度分辨率：+/- 0.1 °C﹡仪器体积(LxWxH)：370mm x 300mm x 540mm；重量：16kg﹡电源：85-264V AC, 40-60Hz；功率：40W(运行)，5W(预热)；接口：RS232C

高温/高压透射池：最高温度800℃,最高压力为1000psi（相当于70atm），适合于催化剂研究、氧化研究、燃烧研究、固体燃料研究等。 点击高温/高压透射池查阅更详细的资料。在真空条件下，约10-4bar（10-1torr）时，可以达到最高温度。在高压即1000psi（70个大气压）下，这个附件的最高温度为550~600℃。 高温高压池，P/N5850，有两种模式，可以做透射谱或样品分解： 采用透射模式，将样品压成13mm的小片，放入响应的加热柱上。光束穿过在样品腔内被气氛包围的样品。 采用分解模式，将13mm样品小片或样品粉末、流体或橡胶装物质放在一个独立的盘中，这个样品盘放在样品加热柱上。由于加热或减压，蒸汽从分解盘上升起，光束穿过气体获得红外光谱。高温高压池，P/N5855，可以做反射谱： 样品必须是直径为13mm的样品片，在这种情况下，光束必须从高温高压池的底部的窗口进入高温高压池，然后光束在样品表面反射后又从原窗口出来。

ISS HPCell 高压仓系统包含压力样品仓，静压泵， 控制系统以及数据采集模块。整套系统可直接装配于ISS公司的所有荧光光谱测试系统中，也可作为独立附件适配于其他品牌的光谱仪系统。HPcell系统特别为荧光光谱测量做了特别设计，可在4000Bar（400MPa）压强下进行样品荧光测量（固体和液体样品比色皿）。压力仓设计预留三个10mm直径石英窗口，分别置于压力仓成三个面上，可成90°角L型或T型放置。可升级预留4窗口设计，可完成荧光光谱或吸收光谱等测量。蓝宝石窗口可选可到4000Bar。HPCell压力仓具有10mm直径高通光能力，对于样品的激发光源可适配激光器，LED和准直氙灯等光源。具有高数值孔径（NA=0.18），以确保荧光测量的灵敏度。HPCell可适配ISS全线荧光光谱产品；其标准耦合底座也能适配市面常见的商业光谱仪器，如果压力仓不能适配于现有样品腔，可通过光纤进行系统连接，HPCell具有极强的系统扩展性。窗口选择HPCell的窗口材质为石英（SiO2）或蓝宝石窗片（单晶氧化铝）；窗口通过精密器件耦合固定在炮管插塞上，具有稳固设计。光学通光窗口的选择，可根据具体应用和测量条件进行选择。石英窗口的标准最大压强为3000bar（300MPa）。ISS配置的石英窗口具有熔融石英紫外级通光能力，熔融石英是一种多晶体，各项同性材料，没有晶体指向性；此窗口可适配偏振测量。蓝宝石窗口的标准最大压强为4000bar（400MPa），但是，由于单晶氧化铝是合成物，是一种六方单晶各项异性材料，在不同晶体指向上具有明显不同的折光能力，因此蓝宝石窗口不能进行偏振测量。下图为两种材料的透光能力，两者都能在深紫外200nm具有较强通透能力；石英窗口可达2000nm，蓝宝石可达5000nm。控温系统压力仓为不锈钢合金铸成，具有优秀的热传导能力。此性质对于光谱学中的控温测量具有极强的应用。压力仓外部预留水浴循环通道，可通过外部液体循环流通加热和冷却仓内的样品；设计的适应控温范围为-20℃ ~ +60℃.压力发生器液静压是HPCel系统通过挠性管连接的手动压力泵进行加压产生。静压泵包含一个容器存储乙醇，控制阀能够控制加压液体在回路中流通。压力表能显示控制阀的压强大小。所有的部件都被集成到一个独立的基体上，便于与光谱仪系统联用。可选自动控制压力系统。ISS Vinci多功能控制分析软件能够控制自动加压，软件可根据编程设定，在不同压强下连续测量，自动启动和终止，无需操作者中途做任何干预。尽管水也能作为加压的中间媒介，但是一般多选择光谱级乙醇作为加压媒介；为了最大限度的减少压力仓体的氧化腐蚀。高压测量比色皿装置HPCell可适配方形和圆形比色皿；比色皿被放置在固定夹持装置内，夹持装置放置在HPCell内。使用聚四氟乙烯的塞子将比色皿内的液体与压力液分割开；分割塞类似活塞传动装置，可以把液体压力传导到比色皿内部的样品上。应用 吸收和反射光谱氟硅酸钠（Prodan）混合棕榈胆磷（DPPC）在多层脂囊中，反射光谱受压力的影响。20℃下，三羟甲基氨基甲烷缓冲液(1o mM, pH=8.0)作为缓冲液，包含0.8M 乙醇，激发波长359nm(Courtesy of Prof. Parkson L.-G. Chong, Temple University, Philadelphia, PA, USA)荧光寿命测量压力对金葡菌核酸酶的荧光寿命影响。使用频域法荧光寿命测量，对比大气压和高压下寿命值的区别，使用ISS频域荧光光谱仪及HPCell系统。激发波长295nm，发射监测波长为350nm；高压 (2 Kbar) 数据：蓝色（相位）和红色（调制）曲线标准大气压下数据：绿色（相位）和紫色（调制）曲线 参考文献1．Circular Dichroism and Site-directed Spin Labeling Reveal Structural and Dynamical Features of High-pressure States of Myoglobin. Lerch, M.T., Horwitz, J., McCoy, J., Hubbell, W.L. Proc Natl Acad Sci U S A., 2013, 110(49), E4714-22.2．Misplaced Helix Slows Down Ultrafast Pressure-Jump Protein Folding Prigozhin, M.B., Liu, Y., Wirth, A.J., Kapoor, S., Winter, R., Schulten, K., Gruebele, M. PNAS, 2013, 110(20), 8087-8092.3．Refolding of Endostatin From Inclusion Bodies Using High Hydrostatic Pressure Chura-Chambi, R.M., Genova, L.A., Affonso, R., Morganti, L. Analytical Biochemistry, 2008, 379, 32-39.4．pH Dependence of the Dissociation of Multimeric Hemoglobin Probed by High Hydrostatic Pressure Bispo, J.A.C., Santos, J.L.R., Landini, G.F., Goncalves, J.M., Bonafe, C.F.S. Biophysical Chemistry, 2007, 125, 341-349.5．Proton Dependence of Tobacco Mosaic Virus Dissociation by Pressure Santos, J.L.R., Bispo, J.A.C., Landini, G.F., Bonafe, C.F.S. Biophysical Chemistry, 2004, 111, 53-61.

现货供应销售德国克吕士Kruss便携式表面张力仪，操作说明书，售后服务，国内办事处，总代，主要特点：销售热线，15300030867,010-82752485-815张经理，欢迎您的来电咨询！1.测量表/界面张力2.液体密度测量3.自动测量或手动测量（可选）4.测量结果直接显示在显示屏上5.自动存储测量参数、校准数据和结果6.内置充电电池，可便携现货供应销售德国克吕士Kruss便携式表面张力仪，操作说明书，售后服务，国内办事处，总代，主要特点，技术参数：测量范围：-表/界面张力范围：1 ... 999 mN/m-密度测量范围围：1 ... 2200 kg/m3-温度范围：-10 ... 100°C精度：-表/界面张力：+/- 0.1 mN/m-密度：1 kg/m3-温度：0.1°C (可选)样品：-测量台速度：0.15 ... 1.5 mm/s-移动距离75 mm环法校正公式: Zuideman& Waters, Harkins & Jordan显示分辨率: 320 x 240 pixel输出: RS232, USB功率: max. 10 W电压: 100 ... 240 VAC / 47 ... 63 Hz重量: 11 kg尺寸: 270 x 420 x 350 mm (WxHxD)

唐海红 13120400643便携式浊度、悬浮物和污泥界面检测仪在市政和工业废水、 饮用水以及河流检测中是一种非常理想的远程监测工具。该仪器可以做监测过程中的一种优化工具，也可以作为校准或验证在线传感器的一种简便方法。 特点和优点： ● 一台仪器可以监测三个参数 ● 多条校准曲线，便于使用 ● 简便的污泥界面测量 ● 气泡补偿测量保证更高的精度 ● 测量材质，使用寿命长 ● 使用可充电电池供电 技术指标： 操作模式： 单点测量，间歇测量或连续测量 显示： 24mmLCD显示屏，防紫外处理，字母显示4行，每行16字节 操作温度： 0-60℃ 操作压力： 0-10bar 相对湿度： 0-95%相对湿度 电源要求： 测定仪：6节镍氢可充电电池或6节AA标准电池 一体化充电器： 115/230Vac，50/60Hz 传感器电缆线长度： 10米 便携仪防护等级： IP55 传感器防护等级： IP68 输入电流： 约60mA 液接材料： 传感器外壳：不锈钢；传感器视窗：蓝宝石 数据存储： 最多可以存储290个测量值 重量： 测定仪：0.6Kg；传感器：1.6Kg 尺寸： 便携仪：110× 230× 40mm；传感器：290× 40mm；便携箱：320× 450× 110mm

JHYC应变应力测量系统应用范围1.适用于测点相对集中，被测物理量缓慢变化的试验中。2.主要用于静态结构应力分析及静载荷强度研究中测量结构件及材料任意点的静态应力应变及残余应力。3.广泛应用于桥梁、建筑物、飞机、船舶、车辆、起重机械、压力容器等结构静载荷测试、安全和健康状态测试。4.接入不同的传感器，可对力、荷重、压力、扭矩、位移、电压、电流等进行采集。5.可用于实验性测量，也可用于长期监控测量。JHYC应变应力测量系统功能特点1.全数字电路，精度高，稳定性好，具有极强抗干扰性能力仪器采用全数字电路，每通道独立AD、独立MCU，所有通道同步采样，仪器检定指标达到0.1级，显示精度0.1。采用独特的硬件隔离技术，系统具有极强的现场抗干扰性能力。2.配合不同传感器实现多种物理量测量，功能强大，性价比高。仪器通过软件选择不同的输入类型即可轻松接入不同传感器，实现你所需要的物理量的测测量，操作简单方便。3.具有多种补偿方式，能适应各种环境下的测量要求仪器具有桥路、长导线、公共，软件多种补偿方式，稳定性好。尤其是公共补偿方式，可方便快捷的对模块上10个通道进行同时补偿，避免了繁琐的桥路补偿，节约测量成本和时间。4.简洁的面板设计，闪烁式通道及状态指示灯仪器面板简洁大方，省掉一切不必要的端口，简化了测量接线难度。每个模块的状态和通道状态用高亮指示灯闪烁指示，一目了然。5.设置简单，操作方便快捷，海量存贮适合各种应变花和传感器，仪器桥路和配置采用菜单式设计，只需选择测量类型，软件控制仪器完成自动配置和清零，全量程自动平衡，不损失测量范围，无需复杂专业的测前设置。应变片和仪器连接简单方便，主机与计算机usb接口连接，即插即用。可进行不间断或间断性长时间在线测量，数据存储量取决于计算机硬盘大小。6.具有掉电自动保存测量数据功能在测量过程中，如出现意外断电，仪器可自动保存断电前的所有测量数据，并自动形成测量文件，防止意外丢失测量数据。JHYC应变应力测量系统软件功能1.软件操作、自动识别、显示方式灵活仪器设置全软件操作，所有功能嵌与同一软件内。具有自动识别系统配置，程控设置仪器的量程、测量类型、滤波及采样参数，完成信号的实时采集、处理、分析等功能，具有多种显示方式。2.应变实时显示，被测物理量直接显示多通道应变值实时显示，实时绘制时域曲线。根据传感器的输出灵敏度，完成被测物理量单位量纲的归一化，并直接显示被测物理量。3.数据实时保存，自动生成报表，功能多样软件可对历史数据回放浏览，具有多样的浏览工具、截图工具，浏览中可对数据进行去直流、去趋势、数据统计、数据的截取、删除、另存、导出、数字滤波器等操作。并自动生成测试报告，在线打印。4.每个通道都可根据测量需求选择测量类型，简单方便可根据每通道接入的传感器类型，各通道选择不同的输入类型、工程单位、标定值、调零、补偿方式等。实现对不同物理量的实时同步测量。5.任意通道间X-Y绘图功能，可实时显示相关物理量间的关系曲线6.提供分析功能软件具有时域和频谱分析功能，对历史数据进行滤波，微分和积分计算，数据统计等数据处理功能。南京聚航科技是应变仪生产商，种类多样，型号齐全，欢迎广大客户咨询！

TSS Portable 便携式悬浮物、污泥界面、浊度测量仪配件信息货号描述LXV320.99.00002仅TSSPortable便携式浊度、悬浮物和污泥界面监测仪便携仪LXV321.99.00002仅TSS浊度、悬浮物和污泥界面传感器；带有10米长的电缆和插头LZY607充电器：供充电电池使用；含4个转接器（可在西班牙、美国、英国、香港、马来西亚、新加坡、澳大利亚、新西兰和中国使用）LZY606电池座LZY604可充电的镍氢电池，6节LZY605硬质便携仪器箱；带手柄，空箱

X-Cite® 荧光照明配件光功率测量系统 X-Cite® 荧光照明配件光功率测量系统的独特设计专门用于测量荧光显微设备的光功率，具有绝佳的精准性和易用性。它以瓦特为单位显示数据，不仅可用于实验，还可以用于设备的安装和故障排除。该系统包括X-Cite® XP750传感器，外形小巧别致，专门设计用于显微镜载物台。它具有多种功能，可以对X-Cite® 照明器或其他任何落射荧光光源的输出功率进行测量。为了实现zui终的可重复性，X-Cite® XR2100会利用光导管输入端口或物体平面上的X-Cite® XP750光功率计获得的功率数据，来校准X-Cite® exacte照明器。功能和优势:功能优势X-Cite® XP750小巧的显微镜载玻片尺寸适合标准的显微镜压片夹，更方便的直接从物镜测光，无需移除或重新配置设备兼容灯泡，激光和 LED 光源不仅技术ling先，还能适配多种显微镜，更经济探测面积高达 – 10mm同时适用低倍和高倍物镜无聚焦要求快速精确测量宽广的波长和功率测量范围适合多样化的用途和显微镜配置根据NIST/NRC标准进行校对测量结果准确，深受用户信任* NIST指美国国家标准技术研究所（ National Institute of Standards and Technology）**NRC指（美国）全国科学研究委员会（National Research Council）***建议每12个月对 X-Cite® XR2100 和 X-Cite® XP750校准一次。Lumen Dynamics集团获得更多信息。XP750规格规格内含物体平面功率传感器，配备电缆和连接器，适用于X-Cite® XR2100设备功率范围5μW-500mW测量分辨率0.01μW-1mW误差***±6%响应时间600ms（起始），3s（确保稳定显示）校准符合NRC** 标准波长范围320nm-750nm灯管类型/光源兼容性X-Cite® exacte，X-Cite® 120系列，汞/HBO，金属卤化物灯，氙灯，LED，激光物镜兼容性4X-63X，空气耦合，FOV直径小于10mm显示通过X-Cite® XR2100显示波长选择使用X-Cite® XR2100的上/下按钮或直接使用PC界面，以1nm为度量进行调节数据容量经X-Cite® XR2100PC控制查看/改变设置，确定波长，记录多个物镜的数据/滤光片/强度设置，下载/输出存储数据指令协议通过X-Cite® XR2100电源重量2.9oz (82g)尺寸（无盖）3″ x 1″ x 0.35″ (75mm x 25mm x 9mm)世界认证通过 X-Cite® XR2100质保一年X-Cite® 包含的技术受下列保护：US#6,437,861 US#7,335,901*NIST指美国国家标准技术研究所（ National Institute of Standards and Technology）**NRC指（美国）全国科学研究委员会（National Research Council）***建议每12个月对 X-Cite® XR2100 和 X-Cite® XP750校准一次。Lumen Dynamics集团获得更多信息。

Nalgene 6917 高温高压消毒篮，聚丙烯?可装入实验室器具进行高温高压消毒或清洗。其光滑表面不会刮擦塑料或玻璃器具。可高温高压灭菌订货信息：Nalgene 6917 高温高压消毒篮，聚丙烯目录编号 6917-0127-0150-0230L×W×H，mm154×123×105*178×168×156*239×230×233*L×W×H，in.6-1/16×4-7/8×4-1/86-1/8×6-5/8×79-3/16×9-1/16×9-7/16每盒数量111每箱数量666* 顶部尺寸

未灭菌，高温高压通用吸头，可用于大多数微型移液器内表面光滑，滞留最少量的分配液体订购信息：提供96个吸头，散装或盒装。

高压消解罐 高压消解罐：也叫压力溶弹、高压釜、闷罐、消化罐、聚四氟乙烯高压罐、钢衬消化罐等。 新发布的《食品中农药最大残留限量》(GB2763-2014)在科学性、针对性和实用性上都有显着提升，力求用最严谨的标准，为最严格的监管、最严厉的处罚、最严肃的问责，确保人民群众“舌尖上的安全”提供法定的技术依据。新标准规定了387种农药在284种(类)食品中3650项限量指标，较2012年颁布实施的《食品中农药最大残留限量》(GB2763-2012)，新增加了65种农药、43种(类)、1357项限量指标。此次新发布标准具有以下特点：一是扩大了食品农产品种类。二是覆盖了农业生产常用农药品种。三是重点增加了蔬菜、水果等鲜食农产品的限量标准。四是新标准基本与国际标准接轨。我公司对此推出高压消解罐，解决了样品消解难题。内杯可配套我单位赶酸仪后期做赶酸、前期预消解专用，广泛用于气相、液相、等离子光谱质谱（ICP–MS）、原子吸收和原子荧光等化学分析方法的样品前处理，食品、地质、冶金、环保、商检、化工、核工等系统，消解农残、稀土、食品、水产品等中铅、铬、砷、汞、铜、镉等重金属消解及样品前处理；另外：进口聚四氟乙烯（TFM）材料，金属元素空白值低，铅、铀含量小于0.01ppb,无溶出与析出，其中TFM与四氟相比最大的优点：同等实验条件下，其高温反应下的抗变形性、耐渗透性以及可恢复性均优于四氟乙烯材质；高压消解罐特点：1、密封性好：高压消解罐的内杯凹凸榫槽设计,内杯盖尖底设计，方便实验结束后样品收集。2、安全：设计独特，做工精细，杯顶有泄气孔，安全系数高即使在温度失控的情况下，只会内杯变形，外罐不会坏；精选材质，未添加回料，洁净的加工环境，优化了加工工艺，确保极低的本底。3、消解效率高，能力强，能消解许多传统方法难以消解的样品，适应面广。4、内杯元素空白值低，提高分析的准确度和精密度，降低了工作强度和对环境的污染5、内杯/外罐顺序编号，方便均等机会使用。6、成本低，使用简便。前期后期投入少，操作简单操作人员使用前无需要培训，维护简单。品名规格 （ml）材质工作温度℃压力高压消解罐5内杯：实验级高纯PTFE/进口TFM外罐：国标不锈钢 PTFE:200℃TFM:230℃5MPa10152025305060100200250500其他规格可定制高压消解罐：利用罐体内高温高压密封体系（强酸货强碱）的环境来达到快速消解难溶物质的目的，可使消解过程大为缩短，且使被测组份的挥发损失降到最小，提高测定的准确性，是测定微量元素及痕量元素时消解样品的得力助手。我公司独家研发的“消解罐TFM内杯”特性：1、耐高低温：-200～+260℃。耐压：5Mpa 2、国内独家研发的TFM内杯消解罐，内杯/外罐数码防伪编号，方便均等机会使用。内杯盖尖底设计，方便实验结束后样品收集； 3、与PTFE相比：高温高压下抗变形、耐渗透、可恢复性更好，透明度稍好，且高温下硬度是聚四氟乙烯的2倍；4、具有极高的表面光洁度，内、外壁光滑不挂水，易清洗；5、极低的金属溶出与析出，防污染，且不粘附样品，适用于痕量、超痕量、微量分析等；6.经特殊工艺精加工，密封性能好；7.耐强酸强碱，王水、氢氟酸、各种有机溶剂等。 专注自然成！期待与您的合作！

AFM/STM横截面样品台AFM/STM样品台全部采用优质磁性不锈钢（430合金）制成，因此可以方便地连接到AFM系统的磁性样品架上。横截面座12mm直径，4.5mm高和3.5mm特征深度将与市场上大多数AFM系统兼容。产品信息：货号产品名称74000-0190° Mount - Adhesive required，需使用导电胶来安装样品。74000-0290° Mount with Spring Clip，有弹簧夹子方便地安装薄横截面样品74000-03Vise w/Set Screw and Allen Key，厚度为4mm，包括六角扳手74000-04Dual Vise w/Set Screw and Allen Key，厚度为1mm。包括六角扳手价格仅供参考，详情电询

A1200界面张力测定仪装 箱 单序号物品名称数量单位规格型号备注1自动界面张力测定仪1台A12002电源线1根3铂金环1套4挂件1个5砝码1个2克6打印纸1卷7张力杯2个8保险丝2个1A9说明书1本10合格证1份11装箱清单1份

飞纳孔径统计测量分析系统将飞纳电镜和孔径测量统计分析系统结合在一起，孔径的可视化分析变得非常容易。快速、操作简单并能得到高分辨率图像的飞纳电镜集成孔径分析系统，创造出统计分析孔洞数据的强大工具。孔径测量系统应用领域- 电池薄膜行业- 制药行业- 过滤行业- 筛网行业- 生物行业- 化工行业- 造纸行业- 烟草行业- 纺织行业- 陶瓷行业- 食品行业- 有孔材料行业孔径测量系统功能孔径统计分析测量系统是基于飞纳电镜的孔径分析工具，用户直接从飞纳电镜获取拍摄的图片并对孔洞直径、面积等一系列参数进行统计测量，实现样品孔径可视化分析，并生成数据统计报告。应用该系统，可以在建模、研发和质量控制中有新的发现和创新孔径测量系统优势- 直接从飞纳电镜获取图片- 快速生成分析图像- 便捷的操作，提高工作效率- 无限制的图像采集，可轻松存储于网络或优盘，便于共享、交流- 附有高清图片的统计学数据- Phenom的易用性和对环境的良好适应力，用户可以将试样最大程度视觉化

多模光纤跳线，兼容超高真空和高温多模光纤跳线特性 兼容超高真空(UHV)：真空水平低至1 x10-10Torr无护套光纤设计zui大程度地减少了表面区域，以减少气体释放使用兼容真空的环氧树脂和304不锈钢SMA905接头所有产品经过清洁，然后以双层真空密封的包装形式发货兼容Thorlabs的SMA真空馈通 兼容高温：镀聚酰亚胺膜的光纤，能够在zui高250 °C下连续工作耐热元件和跳线设计 数值孔径0.22的阶跃折射率光纤纤芯?100、?200、?400或?600 μm波长范围180 nm - 1150 nm(高羟基)或380 nm - 2200 nm(低羟基)库存标准产品长度有0.5 m和1 m 提供定制长度和纤芯尺寸；Thorlabs兼容超高真空和高温的多模光纤跳线属于兼容真空的系列产品，适用于气压低至10-10Torr的UHV环境及zui高250 °C下的连续工作。高羟基跳线的工作范围为180 - 1150 nm，而低羟基跳线的工作范围为380 - 2200 nm。库存纤芯?100、?200、?400或?600 μm的标准跳线长度有0.5 m和1 m。低羟基和高羟基兼容UHV高温跳线的光纤衰减数据兼容超高真空这些跳线具有无护套光纤设计，zui大程度地减少了表面区域，以减少低至10-10Torr真空环境下的气体释放速率。每根跳线两端都有兼容真空的SMA905接头和由304不锈钢制成的套管。跳线中使用的环氧树脂(型号353NDPK)经过NASA测试适合低释气应用。组装的跳线同样经过严格测试，确保在这些UHV环境下释气zui少(详情请看工作标签)。这些跳线可与我们的SMA真空馈通和ADASMAV兼容真空的匹配套管配合使用。兼容高温对于高温条件，这些跳线经过设计和测试，能够在zui高250 °C的环境下连续工作(8小时)或在zui高280 °C的环境下间歇使用(一分钟只一小时)。组成跳线的材料都是耐热的；我们使用镀聚酰亚胺膜的光纤、304不锈钢光纤接头和耐高温的环氧树脂。产品在高温炉中经过测试，确保跳线满足高温条件下的光学规格(详情请看工作标签)。每根跳线有两个金属保护盖，防止插芯端受到灰尘污染或其他损害。SMA905终端跳线更换用的CAPM(橡胶)和CAPMM(金属)保护盖单独提供。请注意，保护盖既不兼容真空，也不耐热。定制兼容UHV和高温的跳线这些光纤跳线为需要在高真空或高温环境中工作的应用提供了一种集成光纤的解决方案。为了兼容大量的实验设备，我们可以生产不同纤芯尺寸或不同长度的光纤跳线。请注意，我们仅提供SMA接头。In-Stock Multimode Fiber Optic Patch Cable SelectionStep IndexGraded IndexFiber BundlesUncoatedCoatedMid-IROptogeneticsSpecialized ApplicationsSMAFC/PCFC/PC to SMASquare-Core FC/PC and SMAAR-Coated SMAHR-Coated FC/PCBeamsplitter-Coated FC/PCFluoride FC and SMALightweight FC/PCLightweight SMARotary Joint FC/PC and SMAHigh-Power SMAUHV, High-Temp. SMAArmored SMASolarization-Resistant SMAFC/PCFC/PC to LC/PC工作这些兼容超高真空和高温的跳线经过严格测试，确保在极端的环境下能够维持机械完整性和光学性能。组装和测试过程中确定连续工作和间歇工作的zui高温度和真空条件。连续工作连续工作定义为在指定真空或高温条件下连续使用时间超过8小时。为了测试这种用途，我们将跳线放置在高真空(1 x 10-9 Torr)或高温(250 °C)环境8小时，并监测插入损耗。在这些条件下，对跳线进行跳线粘合和插入损耗测试，以分别确定机械完整性和光学性能。间歇工作间歇工作是指在指定的温度条件下1分钟至1小时的使用时间。这些条件是根据光纤跳线制造和组装中使用的材料特性而不是基于测试来确定的。因此，如果在这些条件下长时间使用，Thorlabs无法保证跳线的机械性能和光学性能。多模光纤教程弯曲损耗因光纤的外部和内部几何发生变化而产生的损耗称之为弯曲损耗。通常包含两大类：宏弯损耗和微弯损耗。宏弯损耗造成的衰减微弯损耗造成的衰减宏弯损耗一般与光纤的物理弯曲相关；例如，将其卷成圈。如右图所示，引导的光在空间上分布在光纤的纤芯和包层区域。以某半径弯曲光纤时，在弯曲外半径的光不能在不超过光速时维持相同的空间模分布。相反，由于辐射能量会损耗到周边环境中。弯曲半径较大时，与弯曲相关的损耗会比较小；但弯曲半径小于光纤的推荐弯曲半径时，弯曲损耗会非常大。光纤可以在弯曲半径较小时进行短时间工作；但如果要长期储存，弯曲半径应该大于推荐值。使用恰当的储存条件(温度和弯曲半径)可以降低对光纤造成yong久性损伤的几率；FSR1光纤缠绕盘设计用来zui大程度地减少高弯曲损耗。微弯损耗由光纤的内部几何，尤其是纤芯和包层发生变化而产生。光纤结构中的这些随机变化(即凸起)会破坏全内反射所需的条件，使得传播的光耦合到非传播模中，造成泄露(详情请看右图)。与由弯曲半径控制的宏弯损耗不同，微弯损耗是由制造光纤时在光纤内造成的yong久性缺陷而产生。包层模虽然多模光纤中的大多数光通过纤芯内的TIR引导，但是由于TIR发生在包层与涂覆层/保护层的界面，在纤芯和包层内引导光的高阶模也可能存在。这样就产生了我们所熟知的包层模。这样的例子可在右边的光束分布测量中看到，其中体现了包层模包层中的光强比纤芯中要高。这些模可以不传播(即它们不满足TIR的条件)，也可以在一段很长的光纤中传播。由于包层模一般为高阶模，在光纤弯曲和出现微弯缺陷时，它们就是损耗的来源。通过接头连接两个光纤时包层模会消失，因为它们不能在光纤之间轻松耦合。由于包层模对光束空间轮廓的影响，有些应用(比如发射到自由空间中)中可能不需要包层模。光纤较长时，这些模会自然衰减。对于长度小于10 m的光纤，消除包层模的一种办法就是将光纤缠绕在半径合适的芯轴上，这样能保留需要的传播模式。在FT200EMT多模光纤与M565F1 LED的光束轮廓中，展现了包层而不是纤芯引导的光。入纤方式多模光纤未充满条件对于在NA较大时接收光的多模光纤来说，光耦合到光纤的的条件(光源类型、光束直径、NA)对性能有着极大影响。在耦合界面，光的光束直径和NA小于光纤的芯径和NA时，就出现了未充满的入纤条件。这种情况的常见例子就是将激光光源发射到较大的多模光纤。从下面的图和光束轮廓测量可以看出，未充满时会使光在空间上集中到光纤的中心，优先充满低阶模，而非高阶模。因此，它们对宏弯损耗不太敏感，也没有包层模。这种条件下，所测的插入损耗也会小于典型值，光纤纤芯处有着较高的功率密度。展示未充满条件的图(左边)和使用FT200EMT多模光纤进行的光束轮廓测量(右边)。多模光纤过满条件在耦合界面，光束直径和NA大于光纤的芯径和NA时就出现了过满的情况。实现这种条件的一个方法就是将LED光源的光发射到较小的多模光纤中。过满时会将整个纤芯和部分包层裸露在光中，均匀充满低阶模和高阶模(请看下图)，增加耦合到光纤包层模的可能性。高阶模比例的增加意味着过满光纤对弯曲损耗会更为敏感。在这种条件下，所测的插入损耗会大于典型值，与未充满光纤条件相比，会产生较高的总输出功率。展示过满条件的图(左边)和使用FT200EMT多模光纤进行的光束轮廓测量(右边)。多模光纤未充满或过满条件各有优劣，这取决于特定应用的要求。如需测量多模光纤的基准性能，Thorlabs建议使用光束直径为光纤芯径70-80%的入纤条件。过满条件在短距离时输出功率更大；而长距离(10 - 20 m)时，对衰减较为敏感的高阶模会消失。损伤阀值激光诱导的光纤损伤以下教程详述了无终端(裸露的)、有终端光纤以及其他基于激光光源的光纤元件的损伤机制，包括空气-玻璃界面(自由空间耦合或使用接头时)的损伤机制和光纤玻璃内的损伤机制。诸如裸纤、光纤跳线或熔接耦合器等光纤元件可能受到多种潜在的损伤(比如，接头、光纤端面和装置本身)。光纤适用的zui大功率始终受到这些损伤机制的zui小值的限制。虽然可以使用比例关系和一般规则估算损伤阈值，但是，光纤的jue对损伤阈值在很大程度上取决于应用和特定用户。用户可以以此教程为指南，估算zui大程度降低损伤风险的安全功率水平。如果遵守了所有恰当的制备和适用性指导，用户应该能够在指定的zui大功率水平以下操作光纤元件；如果有元件并未指定zui大功率，用户应该遵守下面描述的"实际安全水平"该，以安全操作相关元件。可能降低功率适用能力并给光纤元件造成损伤的因素包括，但不限于，光纤耦合时未对准、光纤端面受到污染或光纤本身有瑕疵。Quick LinksDamage at the Air / Glass InterfaceIntrinsic Damage ThresholdPreparation and Handling of Optical Fibers空气-玻璃界面的损伤空气/玻璃界面有几种潜在的损伤机制。自由空间耦合或使用光学接头匹配两根光纤时，光会入射到这个界面。如果光的强度很高，就会降低功率的适用性，并给光纤造成yong久性损伤。而对于使用环氧树脂将接头与光纤固定的终端光纤而言，高强度的光产生的热量会使环氧树脂熔化，进而在光路中的光纤表面留下残留物。损伤的光纤端面未损伤的光纤端面多模(MM)光纤的有效面积由纤芯直径确定，一般要远大于SM光纤的MFD值。如要获得zui佳耦合效果，Thorlabs建议光束的光斑大小聚焦到纤芯直径的70 - 80%。由于多模光纤的有效面积较大，降低了光纤端面的功率密度，因此，较高的光功率(一般上千瓦的数量级)可以无损伤地耦合到多模光纤中。Estimated Optical Power Densities on Air / GlassInterfaceaTypeTheoretical DamageThresholdbPractical SafeLevelcCW(Average Power)~1 MW/cm2~250 kW/cm210 ns Pulsed(Peak Power)~5 GW/cm2~1 GW/cm2所有值针对无终端(裸露)的石英光纤，适用于自由空间耦合到洁净的光纤端面。这是可以入射到光纤端面且没有损伤风险的zui大功率密度估算值。用户在高功率下工作前，必须验证系统中光纤元件的性能与可靠性，因其与系统有着紧密的关系。这是在大多数工作条件下，入射到光纤端面且不会损伤光纤的安全功率密度估算值。插芯/接头终端相关的损伤机制有终端接头的光纤要考虑更多的功率适用条件。光纤一般通过环氧树脂粘合到陶瓷或不锈钢插芯中。光通过接头耦合到光纤时，没有进入纤芯并在光纤中传播的光会散射到光纤的外层，再进入插芯中，而环氧树脂用来将光纤固定在插芯中。如果光足够强，就可以熔化环氧树脂，使其气化，并在接头表面留下残渣。这样，光纤端面就出现了局部吸收点，造成耦合效率降低，散射增加，进而出现损伤。与环氧树脂相关的损伤取决于波长，出于以下几个原因。一般而言，短波长的光比长波长的光散射更强。由于短波长单模光纤的MFD较小，且产生更多的散射光，则耦合时的偏移也更大。为了zui大程度地减小熔化环氧树脂的风险，可以在光纤端面附近的光纤与插芯之间构建无环氧树脂的气隙光纤接头。我们的高功率多模光纤跳线就使用了这种设计特点的接头。曲线图展现了带终端的单模石英光纤的大概功率适用水平。每条线展示了考虑具体损伤机制估算的功率水平。zui大功率适用性受到所有相关损伤机制的zui低功率水平限制(由实线表示)。光纤内的损伤阈值除了空气玻璃界面的损伤机制外，光纤本身的损伤机制也会限制光纤使用的功率水平。这些限制会影响所有的光纤组件，因为它们存在于光纤本身。光纤内的两种损伤包括弯曲损耗和光暗化损伤。弯曲损耗光在纤芯内传播入射到纤芯包层界面的角度大于临界角会使其无法全反射，光在某个区域就会射出光纤，这时候就会产生弯曲损耗。射出光纤的光一般功率密度较高，会烧坏光纤涂覆层和周围的松套管。有一种叫做双包层的特种光纤，允许光纤包层(第二层)也和纤芯一样用作波导，从而降低弯折损伤的风险。通过使包层/涂覆层界面的临界角高于纤芯/包层界面的临界角，射出纤芯的光就会被限制在包层内。这些光会在几厘米或者几米的距离而不是光纤内的某个局部点漏出，从而zui大限度地降低损伤。Thorlabs生产并销售0.22 NA双包层多模光纤，它们能将适用功率提升百万瓦的范围。光暗化光纤内的第二种损伤机制称为光暗化或负感现象，一般发生在紫外或短波长可见光，尤其是掺锗纤芯的光纤。在这些波长下工作的光纤随着曝光时间增加，衰减也会增加。引起光暗化的原因大部分未可知，但可以采取一些列措施来缓解。例如，研究发现，羟基离子(OH)含量非常低的光纤可以抵抗光暗化，其它掺杂物比如氟，也能减少光暗化。即使采取了上述措施，所有光纤在用于紫外光或短波长光时还是会有光暗化产生，因此用于这些波长下的光纤应该被看成消耗品。制备和处理光纤通用清洁和操作指南建议将这些通用清洁和操作指南用于所有的光纤产品。而对于具体的产品，用户还是应该根据辅助文献或手册中给出的具体指南操作。只有遵守了所有恰当的清洁和操作步骤，损伤阈值的计算才会适用。安装或集成光纤(有终端的光纤或裸纤)前应该关掉所有光源，以避免聚焦的光束入射在接头或光纤的脆弱部分而造成损伤。光纤适用的功率直接与光纤/接头端面的质量相关。将光纤连接到光学系统前，一定要检查光纤的末端。端面应该是干净的，没有污垢和其它可能导致耦合光散射的污染物。另外，如果是裸纤，使用前应该剪切，用户应该检查光纤末端，确保切面质量良好。如果将光纤熔接到光学系统，用户首先应该在低功率下验证熔接的质量良好，然后在高功率下使用。熔接质量差，会增加光在熔接界面的散射，从而成为光纤损伤的来源。对准系统和优化耦合时，用户应该使用低功率；这样可以zui大程度地减少光纤其他部分(非纤芯)的曝光。如果高功率光束聚焦在包层、涂覆层或接头，有可能产生散射光造成的损伤。高功率下使用光纤的注意事项一般而言，光纤和光纤元件应该要在安全功率水平限制之内工作，但在理想的条件下(ji佳的光学对准和非常干净的光纤端面)，光纤元件适用的功率可能会增大。用户首先必须在他们的系统内验证光纤的性能和稳定性，然后再提高输入或输出功率，遵守所有所需的安全和操作指导。以下事项是一些有用的建议，有助于考虑在光纤或组件中增大光学功率。要防止光纤损伤光耦合进光纤的对准步骤也是重要的。在对准过程中，在取得zui佳耦合前，光很容易就聚焦到光纤某部位而不是纤芯。如果高功率光束聚焦在包层或光纤其它部位时，会发生散射引起损伤使用光纤熔接机将光纤组件熔接到系统中，可以增大适用的功率，因为它可以zui大程度地减少空气/光纤界面损伤的可能性。用户应该遵守所有恰当的指导来制备，并进行高质量的光纤熔接。熔接质量差可能导致散射，或在熔接界面局部形成高热区域，从而损伤光纤。连接光纤或组件之后，应该在低功率下使用光源测试并对准系统。然后将系统功率缓慢增加到所希望的输出功率，同时周期性地验证所有组件对准良好，耦合效率相对光学耦合功率没有变化。由于剧烈弯曲光纤造成的弯曲损耗可能使光从受到应力的区域漏出。在高功率下工作时，大量的光从很小的区域(受到应力的区域)逃出，从而在局部形成产生高热量，进而损伤光纤。请在操作过程中不要破坏或突然弯曲光纤，以尽可能地减少弯曲损耗。用户应该针对给定的应用选择合适的光纤。例如，大模场光纤可以良好地代替标准的单模光纤在高功率应用中使用，因为前者可以提供更佳的光束质量，更大的MFD，且可以降低空气/光纤界面的功率密度。阶跃折射率石英单模光纤一般不用于紫外光或高峰值功率脉冲应用，因为这些应用与高空间功率密度相关。SMA-SMA光纤跳线，兼容超高真空和高温，?100 μm，数值孔径0.22Item #PrefixFiberOperatingRangeCoreDiameterCladdingDiameterCoatingDiameterNABend RadiusVacuum LevelaContinuous OperatingTemperatureaMV11LHigh OH,Polyimide Coated180 - 1150 nmb100 ± 3 μm120 ± 3 μm140 ± 4 μm0.22≥6 mm (Short Term)≥11 mm (Long Term)1 x 10-10Torr250 °C (Max)MV12LLow OH,Polyimide Coated380 - 2200 nm这些跳线可以在低至10-10Torr的真空环境和zui高250 °C的温度下连续工作(8小时)。它们也可以在zui高280 °C的温度下间歇工作(1分钟至1小时)。在波长300 nm以下时可能发生负感现象。我们还提供抗负感多模光纤。产品型号公英制通用MV11L05NEW!CustomerInspired! SMA光纤跳线，兼容UHV和高温，?100 μm，数值孔径0.22，高羟基，0.5米MV11L1NEW!CustomerInspired! SMA光纤跳线，兼容UHV和高温，?100 μm，数值孔径0.22，高羟基，1米MV12L05NEW!CustomerInspired! SMA光纤跳线，兼容UHV和高温，?100 μm，数值孔径0.22，低羟基，0.5米MV12L1NEW!CustomerInspired! SMA光纤跳线，兼容UHV和高温，?100 μm，数值孔径0.22，低羟基，1米SMA-SMA光纤跳线，兼容超高真空和高温，?200 μm，数值孔径0.22Item #PrefixFiberOperatingRangeCoreDiameterCladdingDiameterCoatingDiameterNABend RadiusVacuum LevelaContinuous OperatingTemperatureaMV21LHigh OH,Polyimide Coated180 - 1150 nmb200 ± 4 μm220 ± 4 μm239 ± 5 μm0.22≥11 mm (Short Term)≥22 mm (Long Term)1 x 10-10Torr250 °C (Max)MV22LLow OH,Polyimide Coated380 - 2200 nm这些跳线可以在低至10-10Torr的真空环境和zui高250 °C的温度下连续工作(8小时)。它们也可以在zui高280 °C的温度下间歇工作(1分钟至1小时)。在波长300 nm以下时可能发生负感现象。我们还提供抗负感多模光纤。产品型号公英制通用MV21L05NEW!CustomerInspired! SMA光纤跳线，兼容UHV和高温，?200 μm，数值孔径0.22，高羟基，0.5米MV21L1NEW!CustomerInspired! SMA光纤跳线，兼容UHV和高温，?200 μm，数值孔径0.22，高羟基，1米MV22L05NEW!CustomerInspired! SMA光纤跳线，兼容UHV和高温，?200 μm，数值孔径0.22，低羟基，0.5米MV22L1NEW!CustomerInspired! SMA光纤跳线，兼容UHV和高温，?200 μm，数值孔径0.22，低羟基，1米SMA-SMA光纤跳线，兼容超高真空和高温，?400 μm，数值孔径0.22Item #PrefixFiberOperatingRangeCoreDiameterCladdingDiameterCoatingDiameterNABend RadiusVacuum LevelaContinuous OperatingTemperatureaMV41LHigh OH,Polyimide Coated180 - 1150 nmb400 ± 8 μm440 ± 9 μm480 ± 7 μm0.22≥22 mm (Short Term)≥44 mm (Long Term)1 x 10-10Torr250 °C (Max)MV42LLow OH,Polyimide Coated380 - 2200 nm这些跳线可以在低至10-10Torr的真空环境和zui高250 °C的温度下连续工作(8小时)。它们也可以在zui高280 °C的温度下间歇工作(1分钟至1小时)。在波长300 nm以下时可能发生负感现象。我们还提供抗负感多模光纤。产品型号公英制通用MV41L05NEW!CustomerInspired! SMA光纤跳线，兼容UHV和高温，?400 μm，数值孔径0.22，高羟基，0.5米MV41L1NEW!CustomerInspired! SMA光纤跳线，兼容UHV和高温，?400 μm，数值孔径0.22，高羟基，1米MV42L05NEW!CustomerInspired! SMA光纤跳线，兼容UHV和高温，?400 μm，数值孔径0.22，低羟基，0.5米MV42L1NEW!CustomerInspired! SMA光纤跳线，兼容UHV和高温，?400 μm，数值孔径0.22，低羟基，1米SMA-SMA光纤跳线，兼容超高真空和高温，?600 μm，数值孔径0.22Item #PrefixFiberOperatingRangeCoreDiameterCladdingDiameterCoatingDiameterNABend RadiusVacuum LevelaContinuous OperatingTemperatureaMV63LHigh OH,Polyimide Coated180 - 1150 nmb600 ± 10 μm660 ± 10 μm710 ± 10 μm0.22≥33 mm (Short Term)≥67 mm (Long Term)1 x 10-10Torr250 °C (Max)MV64LLow OH,Polyimide Coated380 - 2200 nm这些跳线可以在低至10-10Torr的真空环境和zui高250 °C的温度下连续工作(8小时)。它们也可以在zui高280 °C的温度下间歇工作(1分钟至1小时)。在波长300 nm以下时可能发生负感现象。我们还提供抗负感多模光纤。产品型号公英制通用MV63L05NEW!CustomerInspired! SMA光纤跳线，兼容UHV和高温，?600 μm，数值孔径0.22，高羟基，0.5米MV63L1NEW!CustomerInspired! SMA光纤跳线，兼容UHV和高温，?600 μm，数值孔径0.22，高羟基，1米MV64L05NEW!CustomerInspired! SMA光纤跳线，兼容UHV和高温，?600 μm，数值孔径0.22，低羟基，0.5米MV64L1NEW!CustomerInspired! SMA光纤跳线，兼容UHV和高温，?600 μm，数值孔径0.22，低羟基，1米

薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪，可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器，可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪，比如标准吸收/透过率，反射率的测量，薄膜的测量，薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件：核心模块----光谱仪；外壳模块----各种精密精美的仪器外壳；工作面积模块----测量工作区域；光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件；测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型，不同光谱范围和光源，满足各种测量应用