光无损探伤仪

GTS&mdash Ⅰ型60Co&gamma 射线探伤机GTS型60Co&gamma 射线探伤机，广泛应用于各种焊接件、铸件和炮弹装药弹体的无损检验。该机操作简便，安全可靠，该系列产品畅销全国十几个省、市、自治区，受到了用户的好评。该系列产品由I型和II型机组成，其配套产品有HY9135型&gamma 探伤微机自动控制仪、HY131x、&gamma 辐射场报警装置、HY132&gamma 剂量仪、HY133&gamma 剂量报警仪、钴机和铱机两用的公制暴光计算尺。 该产品于1991年通过部级鉴定以来，多次获得国际博览会及全国高新技术新产品展览会金奖，并于1992年被国家科委评为年度国际新产品 相关产品： GTS&mdash Ⅱ型60Co&gamma 射线探伤机 YTS&mdash Ⅰ型192Ir&gamma 射线探伤机 YTS&mdash Ⅲ型192Ir&gamma 射线探伤机 STS型75Se&gamma 射线探伤机

蓝色LED光源， 广泛用于核酸或蛋白质凝胶染色的观察。与传统的紫外透射仪相比:-蓝光光源，使实验人员的易暴露部位，如：眼睛、脸、手等部位免受紫外线伤害-对核酸片段无损伤，不会因照射导致片段断裂、交联、替换等损害-环保节能长效冷光源，无需经常更换灯管，省钱免维护产品优势:紧凑– 节省实验室空间小巧 - 方便移动安全 - 对人和样品无损伤精确 - 灵敏度高均一 - 可以观察胶的任何位置人性化 - 方便观察和切胶通用技术参数1. 蓝色LED激发光源：470nm，无需蓝色滤光片2. 光强比普通的透射光强3倍3. 光强从100%到50%可以调节4. 黄色滤光屏：可以屏蔽蓝光，让发射光透过，滤光屏可以自由翻转，在任意位置固定，方便切胶5. 检 测的灵敏度0.1ng6. 变异系数：7. 观察面积：16×20cm8. LED光源的寿命：5万个小时9. 体积：28×34×8cm（D×W×H），占用空间少10. 重量：3kg11.用途：用于EB替代荧光染料的激发，如SYBR? Safe, SYBR Gold, SYBR? Green I & II, SYPRO? Ruby, SYPRO? Orange, Coomassie Fluor? Orange stains, GelGreen, GelRed 和 Lumitein? Protein Gel Stain等，凝胶观察和切胶操作

适合不同应用的便携尺寸轻薄机身铝合金外壳设计桌面占用空间小高发光效率，低散热照明均匀度 80 %470nm 无害蓝光用于野广泛DNA 安全染料染色先进的 Transblue ST 将其 580nm 琥珀色滤光板与机身分开，使观测仪更薄更轻。 与上一代 Transblue ST 一样，它配备了安全的 470nm 蓝光 LED 灯。 成像尺寸为 153x153 毫米，您可以在观测仪上放置任何中小型凝胶。Transblue ST 还与我们的成像系统兼容，例如 Glite 600 BW。Transblue ST 适用于以下应用：EtBr、GelRed、GelGreen、SYBR Gold、GelSafe、ECO Safe 和大多数 DNA 安全染色染料。规格Trans-Blue ST材料铝合金蓝光波长470nm可见范围6"x6" (153x153mm)滤光板琥珀色滤光板尺寸 (WxHxD)7.9"x7.9"x0.6" (200x200x13.9mm)重量1.68lb (760g)电源DC 12V, 2A

微泄漏无损密封测试仪MLT-V100（T）产品介绍：MLT系列微泄漏无损密封测试仪依据《ASTM F2338-2013 包装泄漏的标准检测方法-真空衰减法》 标准研发。专业适用于各种空的/预充式 注射器、水针及粉针瓶（玻璃/塑料）、灌装压盖瓶、奶粉罐、其他硬质包装容器、电器元件等试样的无损正、负压的微泄漏测试。本产品采用先 进的设计和严谨、科学的计算方法保证了其快速测试和高准确度及高稳定性。亦可满足用户的非标准（软件或测试夹具）定制。执行标准：《ASTM F2338-13 包装泄漏的标准检测方法-真空衰减法》 《USP1207美国药典标准 》 《药品GMP指南——无菌药品》11.1密封完整性测试 《中国药典》2020年版四部 微生物检查法 《化学药品注射剂包装系统密封性研究技术指南（试行）》《YYT 0681.18-2020 无菌医疗器械包装试验方法第18部分：用真空衰减法无损检验包装泄漏》技术优势：● 内置10吋触摸屏电脑 与外置电脑可选； ● 单样检测过程用时在15S内（管路、腔体的抽真空，保压和样品测试时间）； ● 可精确显示泄漏孔径（≥1μm）及泄漏量 ； ● 测试腔与主机为分体布局，一套测试腔适用5种以上规格试样； ● 测试腔为铝合金或不锈钢制造，气动夹持； ● 内置流量计，一键完成流量校准； ● 具备零点、漏孔、流量3种校准方式； ● 测试结果具备压力衰减、泄漏孔径、泄漏流量三种判断模式 ● 测试结果流量误差≤0.1sccm ● 真空分辨率≤1pa/0.01mbar/0.0001psi ● 具备（kpa/mbar/pa/psi）等测试单位转换 ● 可检测西林瓶，输液袋，隐形眼镜、奶粉罐，电子配件等各种软、硬试样的正负压力衰减测试； 微泄漏无损密封测试仪MLT-V100（T） 微泄漏无损密封测试仪MLT-V100（T）

BH3084B个人射线剂量仪主要技术指标符合国家标准和国际标准，广泛适用于辐照站、海关、工业无损探伤、核电站、核潜艇、同位素应用和医疗钴治疗等领域。 BH3084B个人射线剂量仪是采用新型单片机技术制作而成的智能型仪器，主要用来监测X、&gamma 射线照射人体后人体的吸收剂量。同时该仪器声光报警频率与剂量率成正比，所以也可定性监测剂量率大小。技术参数：BH3084C技术指标 探 测 器：GM计数管　 量 程：0.1&mu Sv～1MSv 相对误差：± 20%（137Cs） 欠压指示：当电池电力不足时仪器停止工作，缺电指标灯亮 体 积：121mm × 71mm × 21mm 重 量：110克。主要特点：BH3084C个人射线剂量仪主要技术指标符合国家标准和国际标准，广泛适用于辐照站、海关、工业无损探伤、核电站、核潜艇、同位素应用和医疗钴治疗等领域。 BH3084C个人射线剂量仪是采用新型单片机技术制作而成的智能型仪器，主要用来监测X、&gamma 射线照射人体后人体的吸收剂量。同时该仪器声光报警频率与剂量率成正比，所以也可定性监测剂量率大小

一 、技术参数探 测 器：GM计数管　 量 程：0.1&mu Sv～1MSv 剂量率 ：0.01&mu Sv/h～1MSv/h 相对误差：± 20%（137Cs） 欠压指示：当电池电力不足时仪器停止工作，缺电指标灯亮 体 积：121mm × 71mm × 21mm 重 量：110克。二、 主要特点： BH3084个人射线剂量仪主要技术指标符合国家标准和国际标准，广泛适用于辐照站、海关、工业无损探伤、核电站、核潜艇、同位素应用和医疗钴治疗等领域。BH3084个人射线剂量仪是采用新型单片机技术制作而成的智能型仪器，主要用来监测X、&gamma 射线照射人体后人体的吸收剂量。同时个人射线剂量仪声光报警频率与剂量率成正比，所以也可定性监测剂量率大小

唐海红 13120400643FD-3007K型袖珍式同位素辐射仪功能与特点　　 FD-3007K-A &gamma 袖珍辐射仪是依据国际放射防护委员会（ICRP）的建议和中国放射卫生防护基本标准的规定研制的新一代多功能辐射仪，集剂量率和累计剂量于一体，增加安全防护报警和放射性场所划分报警，提供多次累计剂量的&ldquo 保持&rdquo 功能， 适用于：监测X射线和 &gamma 射线，广泛应用于核电站、加速器、同位素应用、工业X、&gamma 射线无损探伤、&gamma 辐照等领域中的工作人员进行个人安全防护监测。 本仪器具有灵敏度高、功能全、功耗低、体积小、读数清晰等特点，是一种理想的个人辐射防护仪器。 主要技术指标 剂量率测定范围：0~99.99&mu Sv/h 累计剂量测定范围：0~999.9&mu Sv 剂量率固有误差：&le 20% 报警阈值：2.50&mu Sv/h、20&mu Sv/h 重量与尺寸：190g、132× 72× 32(mm)

重庆不锈钢管件厂家的不锈钢管件在制作过程中比其他管件多探伤和热处理两道工序。其他程序相同。因为有的管件处理不当后，就会扭曲，这是不允许的。另外，推头后一般都是前端外径大，要通过整形模进行整形。由于焊缝的存在，所以要进行无损探伤。由于有焊接应力的存在，所以还要进行热处理。　　不锈钢管件的加工方法也有很多种。很多还属于机械加工类的范畴，用的最多的是冲压法、锻压法、滚轮加工法、滚轧法、鼓胀法、拉伸法、弯曲法、和组合加工法。　　重庆不锈钢管件厂家的不锈钢管件工艺解说：　　滚轮法：在管内放置芯止回阀外周用滚轮推压，用于圆缘加工。　　滚轧法：一般不用芯轴，适合于厚壁管内侧圆缘。　　鼓胀法：一种是在管内放置橡胶，上方用冲子压缩，使管子凸出成形 另一种方法是液压鼓胀成形，在管子中部充入液体，靠液体压力把管子鼓成所需要的形状，像我们常用的波纹管的生产大部分用的是这种方法。　　锻压法：用型锻机将管子端部或一部分予以冲伸电动蝶阀使外径减少，常用型锻机有旋转式、连杆式、滚轮式。

HL-192火灾现场勘查装备检测箱HL-192火灾现场勘查装备检测箱主要用于火灾事故现场清理、提取物证、现场分析鉴定等序号产品名称参数数量1便携式气相色谱仪检测油类和有机溶剂选配2便携式红外光谱仪检测油类和有机溶剂选配3微量易燃液体探测仪充电式，可测量汽油、煤油、柴油及各种有机溶剂得蒸发浓度，灵敏度：50×10 -6，检测范围：0×10 -6-19990×10 -6，LCD显示，声光报警14可燃气体探测仪充电式，检测一氧化碳、氢气、氨气、液化石油气、甲烷等可燃气体浓度，并发出声光报警，同事具备防爆功能。15可燃气体检测管可检汽油、煤油、柴油等易燃液体蒸汽，两种检测浓度，加配采样器16薄层色谱分析装置展开板不少于2种，显色方式不少于3种，并配有使用指南17炭化浓度测定仪金属手持，弹簧联动，精度1mm18金属硬度检验仪测量范围：HLD(170-960),液晶显示，带有打印存储功能19混凝土强度测定仪标称动能：0.735J110数字温度计测量范围：测量范围0℃-750℃，精度：±1%，加配杆式和表面式探头111望远镜倍率不低于7×35112现场勘查灯最大射程不低于500米，最高连续工作时间不低于3h113碘钨灯有手持、固定支架和连接线，功率1000W以上114剩磁仪量程：0mT-100 mT，分辨率：0.1mT，LCD显示115寻线器具有液晶显示和声光报警功能116万用表可测量交直流电压、直流电流、电阻等117接地电阻测量仪数字式，测量范围：0Ω-1000Ω，精度：0.2Ω118绝缘电阻测试仪测量范围测量范围：1Ω-2000MΩ，准确度:(±4%+2)119防爆静电电压表测量范围：0kV-40 kV 绝对误差120便携式金相显微镜放大倍数0倍-800倍,具有偏光功能,四孔物镜,300万像素,可连接电脑,最低倍率不低于50,要配有载物台及卤素灯,同时还要配有抛光,预麿装置及试验材料试剂等装置121体视显微镜倒置式双目镜,目镜10X/20mm，物镜4X/58mm122非金属超声波探伤仪工作频率：10kHz-200kHz,10kHz-1MHz，五档扫描宽度，发射电压：200V,500V,1000V123移动硬盘存储容量不小于320GB124录音笔录音时间不低于70h125数码照相机像素不低于800万，带方角，微距功能126数码摄像机硬盘式127现场勘查工具箱包括清理，破拆，物证标识，照明，绘图，记录，测量，警戒，样品提取等工具128火灾现场物证提取装置满足气，固，液三类物证提取，固体样品要求有碳片提取装置，气体样品要求有气泵129激光测距仪激光式，测量范围不小于60m，精度：3mm选配30物证存放柜存放火灾现场提取物证131火场助燃剂显色装置通过显色剂颜色变化判定助燃剂成分132火灾痕迹演示系统演示各种火灾痕迹的特征和形成规律133火灾调查知识查询系统液晶显示，可查询火灾调查方法，化危品，电气，燃料特性等多种参数

透射浸入式探头光纤束特性Y型跳线光纤束和探头jian端，用于透射浸入式探头实时测量吸光率和透射率波长范围400-900 nm光纤束的Y型节点处具有可调夹具光源端照亮样品样品分支带有?1/4英寸探头光谱仪端接收从样品发出的反射光加强型不锈钢套管和消应力套管SMA905接头，刻有光纤配置探头jian端长度各异，范围在2 mm-20 mm(单独出售)需要一根光纤束和一个探头jian端Thorlabs的透射浸入式探头光纤束极其适合在液态样品中测量透射率和吸光率。与基于比色皿的装置不同，探头jian端浸入样品中；液体可以自由流入探头jian端的开口里面。这种方式可以直接测量样品，非常适合需要实时测量的应用，比如，监测化学反应或水质测试(详情请看应用标签)。完整的透射浸入式探头需要购买一根光纤束和一个探头jian端。我们分叉跳线的铝制Y型节点十分耐用，包含一个可调光纤夹具，可以使用8-32 锁定螺丝固定。示意图展现了穿过光纤束和探头jian端的光路(红色表示)。?1/4英寸探头和探头jian端由316不锈钢制造，安装了高质量的透镜和反射镜，以便将探头jian端进入液体时，zui大程度地减少透射损耗。如右图所示，光纤束中的光在光纤束的样品端被准直。不同长度的透射浸入式探头jian端可以安装在探头端。在探头jian端里，光会穿过样品两次；一次是在光从光纤束射出时，再次是经反射镜的反射光射入探头jian端的一端时。光路越长，测量的灵敏度越高，但总透射损耗也会增加。样品发出的透射光和散射光由光纤束外面的六根光纤收集，并引导至光纤束的光谱仪端。这种连接光谱仪与光源的方式显著减少了光束射出并重新射入光纤时受到的阻挡。光谱仪端可以旋转，以便达到光纤束与光谱仪之间的zui佳对准位置，zui后再拧紧SMA接头。TP22透射浸入式探头光纤束的波长范围为400-900 nm，带有两个SMA905终端的分支。它们兼容Thorlabs的CCD光谱仪等大多数光谱仪，以及大多数光源，包括Thorlabs的宽带光纤耦合光源。每个SMA905终端的分支刻有光纤配置；光源端具有单根光纤，而光谱仪端具有由六根光纤和一根暗纤构成的圆形光纤束。暗纤不会总是处于相同的位置，但Thorlabs保证，暗纤永远不会处于中心位置。Y型节点处的滑动夹具可以通过拧紧8-32螺丝而锁定。探头支架Thorlabs提供探头支架和夹臂(下方有售)，可在浸入样品介质时夹住样品端的探头。这些可调组件可在测量时固定光纤。夹臂可以垂直或以45°夹持探头。常见的透射浸入式探头装置使用了Thorlabs的TP22透射浸入式光纤束和探头jian端、CCD光谱仪和宽带光纤耦合光源。注意：光纤束光谱仪端中暗纤的位置随机，但不会处于光纤束的中心位置。应用使用透射浸入式探头测量吸收光谱利用比尔定律，通过光被样品吸收的量，就可以确定吸收光谱的浓度。一般会通过将样品放置在比色皿内，使用台式光谱仪进行测量。在样品不方便提取或取样的情况下，就可以使用透射浸入式探头，让用户进行实时测量。探头jian端相当于便携式比色皿，一边引导光通过样品，一边让样品自由地流过样品开口。透射浸入式探头非常适合需要实时测量的应用，比如化学加工或环境监测。透射光和散射光都由光谱仪测量，这就意味着，这种方法比台式测量法的动态范围要低。仔细挑选探头jian端和吸收波长，有助于优化测量效果。为了展示透射浸入式探头在这些应用中的使用方法，右图曲线显示了四种不同食用色素的吸收光谱，这些样品以相同浓度与水混合，经测量所得。将SLS201L宽带光源连接到光源分支，将CCS200光谱仪连接到光谱仪分支。将长度为5 mm的TPT205探头jian端连接到样品分支。与预计效果一样，在视觉可以观察到的颜色区域，每个光谱体现出较低的吸光率。通过在不同已知食用色素浓度下进行样品测量，可让用户制作出校准曲线，以便确定未知样品的浓度。损伤阀值激光诱导的光纤损伤以下教程详述了无终端(裸露的)、有终端光纤以及其他基于激光光源的光纤元件的损伤机制，包括空气-玻璃界面(自由空间耦合或使用接头时)的损伤机制和光纤玻璃内的损伤机制。诸如裸纤、光纤跳线或熔接耦合器等光纤元件可能受到多种潜在的损伤(比如，接头、光纤端面和装置本身)。光纤适用的zui大功率始终受到这些损伤机制的zui小值的限制。虽然可以使用比例关系和一般规则估算损伤阈值，但是，光纤的jue对损伤阈值在很大程度上取决于应用和特定用户。用户可以以此教程为指南，估算zui大程度降低损伤风险的安全功率水平。如果遵守了所有恰当的制备和适用性指导，用户应该能够在指定的zui大功率水平以下操作光纤元件；如果有元件并未指定zui大功率，用户应该遵守下面描述的"实际安全水平"该，以安全操作相关元件。可能降低功率适用能力并给光纤元件造成损伤的因素包括，但不限于，光纤耦合时未对准、光纤端面受到污染或光纤本身有瑕疵。Quick LinksDamage at the Air / Glass InterfaceIntrinsic Damage ThresholdPreparation and Handling of Optical Fibers空气/玻璃界面有几种潜在的损伤机制。自由空间耦合或使用光学接头匹配两根光纤时，光会入射到这个界面。如果光的强度很高，就会降低功率的适用性，并给光纤造成yong久性损伤。而对于使用环氧树脂将接头与光纤固定的终端光纤而言，高强度的光产生的热量会使环氧树脂熔化，进而在光路中的光纤表面留下残留物。损伤的光纤端面未损伤的光纤端面多模(MM)光纤的有效面积由纤芯直径确定，一般要远大于SM光纤的MFD值。如要获得zui佳耦合效果，Thorlabs建议光束的光斑大小聚焦到纤芯直径的70 - 80%。由于多模光纤的有效面积较大，降低了光纤端面的功率密度，因此，较高的光功率(一般上千瓦的数量级)可以无损伤地耦合到多模光纤中。Estimated Optical Power Densities on Air / GlassInterfaceaTypeTheoretical DamageThresholdbPractical SafeLevelcCW(Average Power)~1 MW/cm2~250 kW/cm210 ns Pulsed(Peak Power)~5 GW/cm2~1 GW/cm2所有值针对无终端(裸露)的石英光纤，适用于自由空间耦合到洁净的光纤端面。这是可以入射到光纤端面且没有损伤风险的zui大功率密度估算值。用户在高功率下工作前，必须验证系统中光纤元件的性能与可靠性，因其与系统有着紧密的关系。这是在大多数工作条件下，入射到光纤端面且不会损伤光纤的安全功率密度估算值。插芯/接头终端相关的损伤机制有终端接头的光纤要考虑更多的功率适用条件。光纤一般通过环氧树脂粘合到陶瓷或不锈钢插芯中。光通过接头耦合到光纤时，没有进入纤芯并在光纤中传播的光会散射到光纤的外层，再进入插芯中，而环氧树脂用来将光纤固定在插芯中。如果光足够强，就可以熔化环氧树脂，使其气化，并在接头表面留下残渣。这样，光纤端面就出现了局部吸收点，造成耦合效率降低，散射增加，进而出现损伤。与环氧树脂相关的损伤取决于波长，出于以下几个原因。一般而言，短波长的光比长波长的光散射更强。由于短波长单模光纤的MFD较小，且产生更多的散射光，则耦合时的偏移也更大。为了zui大程度地减小熔化环氧树脂的风险，可以在光纤端面附近的光纤与插芯之间构建无环氧树脂的气隙光纤接头。我们的高功率多模光纤跳线就使用了这种设计特点的接头。曲线图展现了带终端的单模石英光纤的大概功率适用水平。每条线展示了考虑具体损伤机制估算的功率水平。zui大功率适用性受到所有相关损伤机制的zui低功率水平限制(由实线表示)。确定具有多种损伤机制的功率适用性光纤跳线或组件可能受到多种途径的损伤(比如，光纤跳线)，而光纤适用的zui大功率始终受到与该光纤组件相关的zui低损伤阈值的限制。例如，右边曲线图展现了由于光纤端面损伤和光学接头造成的损伤而导致单模光纤跳线功率适用性受到限制的估算值。有终端的光纤在给定波长下适用的总功率受到在任一给定波长下，两种限制之中的较小值限制(由实线表示)。在488 nm左右工作的单模光纤主要受到光纤端面损伤的限制(蓝色实线)，而在1550 nm下工作的光纤受到接头造成的损伤的限制(红色实线)。对于多模光纤，有效模场由纤芯直径确定，一般要远大于SM光纤的有效模场。因此，其光纤端面上的功率密度更低，较高的光功率(一般上千瓦的数量级)可以无损伤地耦合到光纤中(图中未显示)。而插芯/接头终端的损伤限制保持不变，这样，多模光纤的zui大适用功率就会受到插芯和接头终端的限制。请注意，曲线上的值只是在合理的操作和对准步骤几乎不可能造成损伤的情况下粗略估算的功率水平值。值得注意的是，光纤经常在超过上述功率水平的条件下使用。不过，这样的应用一般需要专业用户，并在使用之前以较低的功率进行测试，尽量降低损伤风险。但即使如此，如果在较高的功率水平下使用，则这些光纤元件应该被看作实验室消耗品。光纤内的损伤阈值除了空气玻璃界面的损伤机制外，光纤本身的损伤机制也会限制光纤使用的功率水平。这些限制会影响所有的光纤组件，因为它们存在于光纤本身。光纤内的两种损伤包括弯曲损耗和光暗化损伤。弯曲损耗光在纤芯内传播入射到纤芯包层界面的角度大于临界角会使其无法全反射，光在某个区域就会射出光纤，这时候就会产生弯曲损耗。射出光纤的光一般功率密度较高，会烧坏光纤涂覆层和周围的松套管。有一种叫做双包层的特种光纤，允许光纤包层(第二层)也和纤芯一样用作波导，从而降低弯折损伤的风险。通过使包层/涂覆层界面的临界角高于纤芯/包层界面的临界角，射出纤芯的光就会被限制在包层内。这些光会在几厘米或者几米的距离而不是光纤内的某个局部点漏出，从而zui大限度地降低损伤。Thorlabs生产并销售0.22 NA双包层多模光纤，它们能将适用功率提升百万瓦的范围。光暗化光纤内的第二种损伤机制称为光暗化或负感现象，一般发生在紫外或短波长可见光，尤其是掺锗纤芯的光纤。在这些波长下工作的光纤随着曝光时间增加，衰减也会增加。引起光暗化的原因大部分未可知，但可以采取一些列措施来缓解。例如，研究发现，羟基离子(OH)含量非常低的光纤可以抵抗光暗化，其它掺杂物比如氟，也能减少光暗化。即使采取了上述措施，所有光纤在用于紫外光或短波长光时还是会有光暗化产生，因此用于这些波长下的光纤应该被看成消耗品。制备和处理光纤通用清洁和操作指南建议将这些通用清洁和操作指南用于所有的光纤产品。而对于具体的产品，用户还是应该根据辅助文献或手册中给出的具体指南操作。只有遵守了所有恰当的清洁和操作步骤，损伤阈值的计算才会适用。安装或集成光纤(有终端的光纤或裸纤)前应该关掉所有光源，以避免聚焦的光束入射在接头或光纤的脆弱部分而造成损伤。光纤适用的功率直接与光纤/接头端面的质量相关。将光纤连接到光学系统前，一定要检查光纤的末端。端面应该是干净的，没有污垢和其它可能导致耦合光散射的污染物。另外，如果是裸纤，使用前应该剪切，用户应该检查光纤末端，确保切面质量良好。如果将光纤熔接到光学系统，用户首先应该在低功率下验证熔接的质量良好，然后在高功率下使用。熔接质量差，会增加光在熔接界面的散射，从而成为光纤损伤的来源。对准系统和优化耦合时，用户应该使用低功率；这样可以zui大程度地减少光纤其他部分(非纤芯)的曝光。如果高功率光束聚焦在包层、涂覆层或接头，有可能产生散射光造成的损伤。高功率下使用光纤的注意事项一般而言，光纤和光纤元件应该要在安全功率水平限制之内工作，但在理想的条件下(ji佳的光学对准和非常干净的光纤端面)，光纤元件适用的功率可能会增大。用户首先必须在他们的系统内验证光纤的性能和稳定性，然后再提高输入或输出功率，遵守所有所需的安全和操作指导。以下事项是一些有用的建议，有助于考虑在光纤或组件中增大光学功率。要防止光纤损伤光耦合进光纤的对准步骤也是重要的。在对准过程中，在取得zui佳耦合前，光很容易就聚焦到光纤某部位而不是纤芯。如果高功率光束聚焦在包层或光纤其它部位时，会发生散射引起损伤使用光纤熔接机将光纤组件熔接到系统中，可以增大适用的功率，因为它可以zui大程度地减少空气/光纤界面损伤的可能性。用户应该遵守所有恰当的指导来制备，并进行高质量的光纤熔接。熔接质量差可能导致散射，或在熔接界面局部形成高热区域，从而损伤光纤。连接光纤或组件之后，应该在低功率下使用光源测试并对准系统。然后将系统功率缓慢增加到所希望的输出功率，同时周期性地验证所有组件对准良好，耦合效率相对光学耦合功率没有变化。由于剧烈弯曲光纤造成的弯曲损耗可能使光从受到应力的区域漏出。在高功率下工作时，大量的光从很小的区域(受到应力的区域)逃出，从而在局部形成产生高热量，进而损伤光纤。请在操作过程中不要破坏或突然弯曲光纤，以尽可能地减少弯曲损耗。用户应该针对给定的应用选择合适的光纤。例如，大模场光纤可以良好地代替标准的单模光纤在高功率应用中使用，因为前者可以提供更佳的光束质量，更大的MFD，且可以降低空气/光纤界面的功率密度。阶跃折射率石英单模光纤一般不用于紫外光或高峰值功率脉冲应用，因为这些应用与高空间功率密度相关。定制光纤束Thorlabs乐于给您供应定制的带随机或确定光纤配置的直光纤束和扇出光纤束。有下表列出了我们当前能生产的一些光纤束。我们正在扩展生产能力，所以如果此处没有您所要求的光纤束也可以联系我们。一些定制光纤束的要求将超出我们的一般的生产工艺技术范围。所以我们不能保证能够制造出的光纤束配置符合您的特殊应用要求。但是，我们的工程师也非常乐于与您一起确定Thorlabs是否能够生产符合您需要的光纤束。如需报价，请提供给我们您的光纤束配置图。样品光纤束接头配置定制1转4束扇出型光缆定制带SMA905接头的石英光纤束Custom Bundle CapabilitiesBundle ConfigurationStraightaFan Out (2 or More Legs)a,bFiber TypesSingle ModeStandard (320 to 2100 nm), Ultra-High NA (960 to 1600 nm),Dispersion Compensating (1500 to 1625 nm), Photosensitive (980 to 1600 nm)Multimode0.10 NA Step Index (280 to 750 nm), 0.22 NA Step Index (190 to 2500 nm),0.39 NA Step Index (300 to 2200 nm), Multimode Graded Index (750 to 1450 nm),Multimode ZrF4 (285 nm to 4.5 μm)Tubing OptionscThorlabs' Stock Furcation Tubing, Stainless Steel Tubing or Black Heat Shrink TubingConnectorsSMA905 (?2 mm Max Cored), FC/PC (?800 μm Max Cored),?1/4" Probe, or Flat-Cleaved Unterminated FiberLength Tolerancee±0.14 mActive Area GeometryfRound or LinearAngle PolishingOn Special Request. Available for up to ?105 μm Core on Single Fiber End.Please Inquire for More Information.在一束20根光纤中，一般zui多有一根是暗纤，即一束中95%的光纤都是完好的。对于每支中不止一根光纤的光纤束，有5-10%的光纤是暗纤。这些光纤束不适合要求均匀功率分布的应用。套管的选择会被光纤类型、光纤数量和长度所限制。一般来说，在定制光纤束中会使用不止一种套管，尤其是分叉光纤束。它代表公共端光纤的zui大纤芯直径。分离端光纤的纤芯直径算入了公共端纤芯直径。光纤束的长度公差≤2 m。我们不能保证在分叉光纤束公共端处光纤或几何结构之间的距离。我们的光缆工程师可以协助设计符合您应用的光纤束。请提供您定制光纤束的图纸，我们可以更快地给您报价。透射浸入式探头光纤束-需要一根Item #HydroxylContentWavelength Rangea(Click for Plot)FiberItem #SourceLegSampleLegbSpectrometerLegFiberCore DiameterFiberCladding DiameterNAcMinimum Bend RadiusShort TermdLong TermeTP22High OH400 - 900 nmFG200UEASMA9051 Fiber?1/4" ProbeSMA9056 Fibers200 ± 4 μm220 ± 2 μm0.22 ± 0.0219 mm53 mm光纤束和探头(下方提供)内置的光学元件指明了波长范围和衰减曲线。样品分支的末端可以用蘸有丙酮或甲醇的擦镜纸清洁。光纤束的数值孔径与单根光纤的数值孔径相同受到不锈钢套管限制。受到光纤限制。产品型号公英制通用TP22透射浸入式探头，?200 μm，高羟基，400 - 900 nm，SMA905转?1/4英寸探头，2 m透射浸入式探头jian端-需要一个带开口的探头jian端，用于在液体样品中测量透射率或吸光率长度为2 mm、5 mm、10 mm或20 mm探头jian端有宽带反射镜，镀-E02介质膜这些透射浸入式探头jian端可以安装到上方出售的透射浸入式探头光纤束。探头jian端有一个样品开口，可在测量时让液体样品自由流入测量区域。每个jian端末端有一面反射镜(前表面镀有-E02介质膜)，可以反射从探头光纤束射出的光。反射镜表面上的保护膜可让其浸入液体中。使用丙酮和超声清洗机可以清洗探头jian端，以便重复使用。请注意，安装介质膜反射镜的端盖用环氧树脂粘在探头的外壳上，不应拆除。jian端的长度有2 mm、5 mm、10 mm或20 mm可选。长度越长，探头jian端中光与样品介质相互作用的长度就越长；因此，使用较长的探头jian端，有助于提高信噪比，以便用于低吸光率的样品。相反，较短的探头jian端比较适合处理高吸光率的样品。一般而言，长度越长，探头的透射损耗也越大(请看上表中的波长范围曲线图)。因此，根据实验选择合适的光源和探头长度，对于优化测量效果十分关键。Item #TPT202TPT205TPT210TPT220Wavelength Range (Click for Plot)400 - 900 nmLength (Distance from Probe Lens to Mirror)2 mm5 mm10 mm20 mmOptical Path Length4 mm10 mm20 mm40 mmMirror Coating-E02Mirror Reflectance (Click for Plot)aRavg99% (400 - 900 nm)b波长为505 nm时测量。入射角为0°，波长为400-900 nm时，-E02介质膜会满足规定的反射率，波长越长，入射角越大，性能越低。产品型号公英制通用TPT202透射浸入式探头jian端，长度2 mmTPT205透射浸入式探头jian端，长度5 mmTPT210透射浸入式探头jian端，长度10 mmTPT220透射浸入式探头jian端，长度20 mm可调探头支架可以牢固地夹持样品分支上的?1/4英寸光学探头可以相对于样本以90°或45°定位探头可以调节高度的夹臂，zui高可以容纳55 mm(2.16英寸)的样品?6英寸(?152.4 mm)的底座，可以网格和同心圆更换用的夹臂组件单独出售Thorlabs的RPS可调探头支架可以夹持?1/4英寸光纤束探头，当相对于样品呈45°时，可以进行漫反射测量，当相对于样品呈90°时，可以进行反射测量。每个支架包含可调夹臂(单独出售)、刻有公制高度刻度的?1/2英寸光学接杆，以及刻有同心圆和网格图样的?6英寸(?152.4 mm)底座。使用TS25H手拧螺丝可将样品分支上的?1/4英寸探头固定在RPA夹臂上。利用TS25H手拧螺丝可以调节夹臂的高度。夹臂有一个装有弹簧、可伸缩的Delrin™ jian端。装有弹簧的jian端具有足够的作用力，可在zui后的定位调节完成时固定夹臂，以便精确调节高度。使用RPS支架时，使用内附的光学接杆可容纳zui高为55 mm(2.16英寸)的样品。对于更高的样品，可以使用更长的英制或公制?1/2英寸接杆(请看右图)轻松替换内附的接杆。使用底座下面的M6带帽螺丝可以将接杆固定到底座，也可以使用3/16英寸或5 mm球头起子将其拆下。如果用英制?1/2英寸接杆替代原接杆，就需要SH25S063 1/4"-20带帽螺丝。更换用的RPA接杆夹臂单独出售。通过将这些夹臂固定在?1/2英寸接杆上，也可以在自定义光机械装置中将其用来安装?1/4英寸探头。RPS带有TR8接杆，可以安装透射浸入式探头。产品型号公英制通用RPS可调光纤探头支架，用于?1/4英寸探头RPA更换用的夹臂，可调光纤探头支架，用于?1/4英寸探头

液化气采样钢瓶、液化气采样器、采样钢瓶、取样气瓶、气体采样钢瓶，符合SH/T0233-92《液化石油气采样法》标准，适用于乙烯、丙烯、丁二烯、乙烷、丁烷、液化石油气、天然气及相同操作条件下的气体、液体采样、储存和运输。气体采样瓶的产品结构： 采用一次性挤压成型气瓶、直通减压针型阀、三通防爆减压针型阀、指针式压力表等组成；产品经严格的X光无损探伤和气密、耐压等检验后出厂；产品主要规格有:100ML、200 ML、250ML、500ML、1000ML、2000 ML、2500ML、3000ML、5000ML。 气体采样瓶技术参数： 1、工作压力：4Mpa&mdash 20 Mpa； 2、设计气压：7Mpa&mdash 35 Mpa； 设计水压：8Mpa&mdash 38Mpa；3、工作温度：－40℃～50℃；-60℃～150℃； 4、瓶体材质：316L；5、适用介质：温度、压力在规定范围内，对316L无腐蚀的液态、气态气体； 6、配有防爆装置。产品附件：可以根据客户要求对内壁衬防腐涂层，防止气体样品中微量元素被不锈钢表面吸附，并装配压力表和预留容积管、带防暴片装置。 另有快速接头（按钮式快速接头）、连接软管（各种材质）可供选择；快速接头可实现压力系统中快速联接和分离，密封性能好，无需旋转、扭转或拧紧可完成连接操作，广泛应用于各个领域，与液化气采样器配套使用，可以提高工作效率。 采样钢瓶的选择：对于采样容积、压力较大（一般容积在50ml以上、压力在4Mpa以上）的气体可选择液化石油气采样钢瓶（取样器）；对于压力较小的气体可使用耐压瓶（石油气体取样瓶）。注：压力表(260元/个)、金属软管（450元/米）为选购产品。高压液化气采样钢瓶 高压液化石油气采样钢瓶 高压液化石油气采样气瓶：产品符合SH/T0233-92《液化石油气采样法》及GB/T 13289-2014 《工业用乙烯液态和气态采样法》， GB/T13290-2014《工业用丙烯和丁二烯液态采样法》等标准。材质：316L工作压力：16Mpa、20Mpa；设计压力：30Mpa、35Mpa；操作温度：-40℃-+50℃；适用范围：乙烯、丙烯、液化石油气、丁二烯及相同操作条件下的其它气体、液体的样品采集、储存及运输。规格：200ml-4000ml 具体详情请电询陕西普洛帝测控技术有限公司！普洛帝、Puluody、普勒、Pull为PLDMC公司注册的商标！有关技术阐述、参数、服务均为普洛帝测控拥有，普洛帝保留对经销商、用户的知情权！有关技术阐述、参数、服务均为普洛帝测控拥有，普洛帝保留对经销商、用户的知情权！我司核心产品：液化石油气采样钢瓶、天然气采样钢瓶、无缝液化气采样钢瓶 、液化石油气采样钢瓶 液化石油气采样器、液化石油气取样器、液化气取样器、 液化石油气采样钢瓶等。

仪器简介： 对于蓝光辐射对眼睛的辐射危害，PMA2121蓝光安全探测器为众多职业提供了一个精确，简便，廉价的测量方法。雇主，政府安全管理人员，以及安全部门经理可以用该探测器确保工人不会受到过多的蓝光照射。经过广泛的医学研究，这样的辐射可以引发对眼睛永久的损害以至于出现视觉缺陷。 PMA2121可以显示由ACGIH（American Conference of Governmental Industrial Hygienists）规定有效地蓝光危害辐射值。可以产生蓝光危害的光源包括：单色的以及准直激光，准直弧光灯，或者钨灯。比较起连续光源，闪光灯因为其有限的能量而一般不会产生危害。 为了使视网膜不因长期蓝光照射而产生光化学损伤，对于照射角度小于0.011弧度的光源，最大照射极限不能超过10mJ/cm2每10000秒（大约2小时，47分钟）。对于照射时间超过100000秒的辐射，不能超过1uW/cm2技术参数：光谱响应Follows ACGIH blue hazard action spectrum Figure 1角响应5% for angles 范围2,000 μW/cm2, 20,000 mW/cm2显示分辨率0.01 μW/cm2, 0.1 mW/m2操作环境32 to 120 °F (0 to +50 °C) no precipitation电缆1ft, retractable to 5ft (0.3m/1.5m)直径1.6" (40.6 mm)高度1.8" (45.8 mm)重量7.1 oz. (200 grams)主要特点：高灵敏度动态范围 2*105卓越的长期稳定性余弦修正NIST 可溯源校准简便操作应用：工业以及实验室安全测试焊接工作环境监测印刷UV 固化以及照相平版印刷照明安全眼镜测试环境试验

一、产品介绍1、非损伤微测系统专用流速传感器（组织样品专用传感器8-10um） 型号：XY-CGQ01 价格：68元/支，10支起订 本传感器适用于测定组织样品的所有离子传感器，特别针对Cl-、NO3-、NH4+测试时信号采集不稳定而开发出的新型传感器，使得测定上述三种离子时，信号的稳定性大大提高。 技术参数：材料：硼硅酸盐玻璃微管长度：50毫米尖端直径：8-10微米末端直径：外径1.5毫米/内径1.05毫米管壁厚度：0.225微米响应时间：300毫秒空间分辨率：5微米2、非损伤微测系统专用流速传感器（组织样品专用传感器4-5um） 型号：XY-CGQ-01 价格：68元/支，10支起订 用于非损伤测量组织样品专用的流速传感器 技术参数：材料：硼硅酸盐玻璃微管长度：50毫米尖端直径：4-5微米末端直径：外径1.5毫米/内径1.05毫米管壁厚度：0.225微米响应时间：300毫秒空间分辨率：5微米3、非损伤微测系统专用流速传感器（细胞样品专用传感器1-2um） 型号：XY-CGQ-02 价格：79元/支，10支起订 用于非损伤测量细胞样品专用的流速传感器 技术参数：材料：硼硅酸盐玻璃微管长度：50毫米尖端直径：1-2微米末端直径：外径1.5毫米/内径1.05毫米管壁厚度：0.225微米响应时间：300毫秒空间分辨率：5微米4、膜电位专用流速传感器 型号：XY-CGQ-03 价格: 51元/支，10支起订 专门用于测量膜电位的流速传感器 技术参数：材料：硼硅酸盐玻璃微管导液丝：有长度：50毫米尖端直径：1-2微米末端直径：外径1.5毫米/内径0.84毫米管壁厚度：0.33微米响应时间：300毫秒空间分辨率：5微米5、离子交换剂微容器(LIX Holder 载体) 型号：XY-LIX-01 价格: 34元/支，10支起订 装载离子交换剂的微量容器 技术参数：材料：硼硅酸盐玻璃微管长度：50毫米尖端直径：35-45微米末端直径：外径1.5毫米/内径1.05毫米管壁厚度：0.225微米6、膜电位专用流速传感器 型号：XY-CGQ-04 价格: 34元/支，10支起订 用于传感器动态校正 技术参数：材料：硼硅酸盐玻璃微管长度：50毫米尖端直径：10微米末端直径：外径1.5毫米/内径1.05毫米管壁厚度：0.225微米

这款混合像元探测器是全球领先的基于Medipix2/Timepix technology技术的像素探测器，它能够实现零背景噪音成像，非常适合粒子追踪和X射线成像等应用。由位于瑞士的欧洲核子研究组织CERN的17个研究所75个科学家联合研究完成。这款混合像元探测器采用世界领先的无界Medipix2/Timepix芯片传感器 (CERN)，仅仅2平方分米的尺寸，具有一流的读取电路，提出最佳性能。统的CCD或CMOS成像技术以模拟方式积分入射辐射能量的总和进行成像，而这款探测器数字化单光子计数入射光子或粒子，直接转换成可探测的电信号被进一步处理，这种技术不仅实现零噪音成像，而且实现超高亮度和锐度的图像。致电离辐射探测需要对CCD或CMOS相机探测器配备闪烁材料做成的荧光屏，这种结构的探测器在分辨率，灵敏度和帧频等指标上存在限制。这种革命性的辐射成像探测器就克服了诸多限制，它提供256x256个像素阵列，单个像素可达55x55微米，可当个像素成像，具有如下工作模式：单光子计数模式：当个像素每秒记录高达100000光子数（100000cps）.整个探测器的计数能力高达65亿cps，而且能量阈值可以设定。能量模式（TOT）:每个像素测量单个光子能量，非常适合全谱X射线成像和辐射监测，不仅可以对辐射粒子的轨迹成像，还可以测量粒子能量，非常适合辐射监测，因为粒子轨迹的形状对于不同辐射类型而言是独特的，这种技术也颠覆了现在辐射监测的方法。到达时间模式（TOA）单个像素计算入射时间，非常适合辐射粒子追踪和时间飞行测量。产品特点 高对比度高动态范围无噪音实时监测256x256像素单光子计数阵列传感器面积14.1x14.1mm^2单个像素55um超大面积产品应用天文学，粒子物理，医学成像，光谱成像，粒子追踪，电子显微镜，无损检测，质谱学，X射线成像，X射线衍射，X射线荧光光谱

低损耗反射镜 和 cw/ns-Laser [1030–1064 nm] 连续/纳秒激光镜片反射率和透光率的主要曲线低损耗反射镜的反射特性曲线和中心波长的定义（CWL） 和带宽 (__)低损耗反射镜的透射特性曲线和中心波长的定义（CWL） 和带宽 (__) CWLRCWL[%]TCWL[ppm]λR[%]T[ppm]SubstrateDimensionsNo.ImperfectionsItem #350(±7) nm 99.973035 nm99.9650? 12.7 I t 6.35 I CC 1000? 25.0 I t 6.35 I CC 1000R13S13?e85/ 2 x 0.016?e205/ 2 x 0.04 I ?e10 5/ 2 x 0.016140970140949520(±10) nm 99.992065 nm99.99100? 12.7 I t 6.35 I CC 1000? 25.0 I t 6.35 I CC 1000R13S13?e85/ 2 x 0.016?e205/ 2 x 0.04 I ?e10 5/ 2 x 0.016140969140964640(±15) nm 99.9920100 nm99.99100? 12.7 I t 6.35 I CC 1000? 25.0 I t 6.35 I CC 1000R13S13?e85/ 2 x 0.016?e205/ 2 x 0.04 I ?e10 5/ 2 x 0.016140968140965760(±15) nm 99.99515110 nm99.99100? 12.7 I t 6.35 I CC 1000? 25.0 I t 6.35 I CC 1000R13S13?e85/ 2 x 0.016?e205/ 2 x 0.04 I ?e10 5/ 2 x 0.016140967140966960(±20) nm 99.99520110 nm99.99100? 12.7 I t 6.35 I CC 1000? 25.0 I t 6.35 I CC 1000R13S13?e85/ 2 x 0.016?e205/ 2 x 0.04 I ?e10 5/ 2 x 0.0161409921409741 045(±20) nm 99.99520120 nm99.99100? 12.7 I t 6.35 I CC 1000? 25.0 I t 6.35 I CC 1000R13S13?e85/ 2 x 0.016?e205/ 2 x 0.04 I ?e10 5/ 2 x 0.0161409731409711 260(±20) nm 99.99515190 nm99.99100? 12.7 I t 6.35 I CC 1000? 25.0 I t 6.35 I CC 1000R13S13?e85/ 2 x 0.016?e205/ 2 x 0.04 I ?e10 5/ 2 x 0.0161409911409751 392(±20) nm 99.99515200 nm99.99100? 12.7 I t 6.35 I CC 1000? 25.0 I t 6.35 I CC 1000R13S13?e85/ 2 x 0.016?e205/ 2 x 0.04 I ?e10 5/ 2 x 0.0161409891409761 550(±20) nm 99.9950130 nm99.99100? 12.7 I t 6.35 I CC 1000? 25.0 I t 6.35 I CC 1000R13S13?e85/ 2 x 0.016?e205/ 2 x 0.04 I ?e10 5/ 2 x 0.0161409871409771 670(±20) nm 99.9925180 nm99.99100? 12.7 I t 6.35 I CC 1000? 25.0 I t 6.35 I CC 1000R13S13?e85/ 2 x 0.016?e205/ 2 x 0.04 I ?e10 5/ 2 x 0.0161409861409801 980(±20) nm 99.9940180 nm99.99100? 12.7 I t 6.35 I CC 1000? 25.0 I t 6.35 I CC 1000R13S13?e85/ 2 x 0.016?e205/ 2 x 0.04 I ?e10 5/ 2 x 0.0161409841409812 300(±30) nm 99.9940220 nm99.99100? 12.7 I t 6.35 I CC 1000? 25.0 I t 6.35 I CC 1000R13S13?e85/ 2 x 0.016?e205/ 2 x 0.04 I ?e10 5/ 2 x 0.016140983140982cw/ns-Laser [1030–1064 nm]连续/纳秒激光镜片a Laser Mirror 0° 激光反射镜b Pump Mirror 0° 泵浦镜c1 Turning Mirror 22.5 – 45°, 1030 – 1064 nm 调谐镜c2 Turning Mirror 22.5 – 45°, 515 – 532 nm 调谐镜d1 Turning Mirror 45°, 1030 – 1064 nm 调谐镜d2 Turning Mirror 45°, 515 – 532 nm 调谐镜l1 Non-Polarizing Beamsplitter 45°, 1030 nm 非偏振分束器l2 Non-Polarizing Beamsplitter 45°, 1064 nm 非偏振分束器l3 Non-Polarizing Beamsplitter 45°, 515 nm 非偏振分束器l4 Non-Polarizing Beamsplitter 45°, 532 nm 非偏振分束器n Separator 45° 分离器o1 Thin Film Polarizer 56°, 1030 nm 薄膜偏振片o2 Thin Film Polarizer 56°, 1064 nm 薄膜偏振片o3 Thin Film Polarizer 56°, 515 nm 薄膜偏振片o4 Thin Film Polarizer 56°, 532 nm 薄膜偏振片p Window 0° 窗片a Laser Mirror 0° Layertec激光反射镜Coating 141321HR s,p (0 – 10°, 1030 – 1064 nm) 99.95 %LIDT6/ 50 J/cm2 1064 nm 7 ns ? 270 μm YERTECSubstrate DimensionsNo.ImperfectionsItem #? 12.7 mm | t 6.35 mmA45/ 1 x 0.04141864? 25.0 mm | t 6.35 mmB45/ 3 x 0.04141868? 50.0 mm | t 9.5 mmC35/ 4 x 0.063141866b Pump Mirror 0° Layertec泵浦镜S2: Coating 141325HR s,p (0–10°, 1030–1064 nm) 99.95 %R s,p (0–10°, 808 nm) S1: Coating 141355AR s,p (0–10°, 808 nm) LIDT6/ 30 J/cm2 1064 nm 7 ns ? 270 μmLAYERTECSubstrate DimensionsNo.ImperfectionsItem #? 12.7 mm | t 6.35 mmA45/ 1 x 0.04141877? 25.0 mm | t 6.35 mmB45/ 3 x 0.04141881c1 Turning Mirror 22.5–45°, 1030–1064 nm Layertec调谐镜Coating 141496Ag + multilayerHR s,p (22.5–45°, 1030–1064 nm) 99.7 %for application outside the resonatorno transmission @ VIS / NIRSubstrate DimensionsNo.ImperfectionsItem #? 25.0 mm | t 6.35 mmB45/ 3 x 0.04141942? 50.0 mm | t 9.5 mmC35/ 4 x 0.06314194525 × 25 mm | t 6.35 mmD25/ 3 x 0.0414195425 × 36 mm | t 6.35 mmE25/ 4 x 0.0414195850 × 50 mm | t 9.5 mmF35/ 4 x 0.063141960c2 Turning Mirror 22.5-45°, 515-532 nm Layertec调谐镜Coating 141497Ag + multilayerHRs,p (22.5-45°, 515-532nm) 99.7 %for application outside the resonatorno transmission @ VIS / NIRSubstrate DimensionsNo.ImperfectionsItem #? 25.0 mm | t 6.35 mmB45/ 3 x 0.0414194925 x 25 mm | t 6.35 mmD25/ 3 x 0.04141956d1 Turning Mirror 45°, 1030-1064 nm Layertec调谐镜Coating 141327HRs,p (45°, 1030 -1064 nm) 99.95 %LIDT6/ 50 J/cm2 1064 nm 7 ns ? 270μmSubstrate DimensionsNo.ImperfectionsItem #? 12.7 mm | t 6.35 mmA45/ 1 x 0.04141896? 25.0 mm | t 6.35 mmB45/ 3 x 0.04141500? 50.0 mm | t 9.5 mmC35/ 4 x 0.06314190425 x 25 mm | t 6.35 mmD25/ 3 x 0.0414195325 x 36 mm | t 6.35 mmE25/ 4 x 0.0414195750 x 50 mm | t 9.5 mmF35/ 4 x 0.063141959d2 Turning Mirror 45°, 515 - 532 nm Layertec调谐镜Coating 141329HRs,p (45°, 515-532 nm) 99.9%LIDT6/ 10 J/cm2 532 nm 7 ns 10Hz ?270μmSubstrate DimensionsNo.ImperfectionsItem #? 25.0 mm | t 6.35 mmB45/ 3 x 0.0414194625 x 25 mm | t 6.35 mmD25/ 3 x 0.04141955l1 Non-Polarizing Beamsplitter 45°, 1030 nm Layertec非偏振分束器S2: Coating 141335PRs,p (45°, 1030 nm) = 50 (±3) %I Rs - Rp I S1: Coating 141331ARs,p (45°,1030 - 1064 nm) I Rs - Rp I Substrate DimensionsNo.ImperfectionsItem #? 25.0 mm | t 3.05 mmB35/ 3 x 0.04141604L2 Non-Polarizing Beamsplitter 45°, 1064 nm Layertec非偏振分束器S2: Coating 141338PRs,p (45°, 1064 nm) = 50 (±3) %I Rs – Rp I S1: Coating 141331ARs,p (45°, 1030-1064 nm) I Rs – Rp I Substrate DimensionsNo.ImperfectionsItem #? 25.0 mm | t 3.05 mmB35/ 3 x 0.04141607L3 Non-Polarizing Beamsplitter 45°, 515 nm Layertec非偏振分束器S2: Coating 141344PRs,p (45°,515 nm) = 50 (±3) %I Rs – Rp I S1: Coating 141341ARs,p (45°,515-532 nm) I Rs –Rp I Substrate DimensionsNo.ImperfectionsItem #? 25.0 mm | t 3.05 mmB35/ 3 x 0.04141608L4 Non-Polarizing Beamsplitter 45°, 532 nm Layertec非偏振分束器S2: Coating 141346PRs,p (45°, 532 nm) = 50 (±3) %I Rs - Rp I S1: Coating 141341ARs,p (45°, 515 - 532 nm) I Rs - Rp I Substrate DimensionsNo.ImperfectionsItem #? 25.0 mm | t 3.05 mmB35/ 3 x 0.04141609N Separator 45° Layertec分离器S2: Coating 141359HRs,p (45°,515- 532nm) 99.8 %Rs (45°, 1030 - 1064nm) Rp (45°, 1030- 1064nm) S1: Coating 141377ARs,p (45°, 1030-1064 nm) Substrate DimensionsNo.ImperfectionsItem #? 25.0 mm | t 3.05 mmB35/ 3 x 0.04141892? 25.0 mm | t 6.35 mmB45/ 3 x 0.04141895O1 Thin Film Polarizer 56°, 1030 nm Layertec薄膜偏振片S2: Coating 141352TFP (56° *, 1030 nm) Rs 99.9 % Rp *specifications will be achieved by ±2° angle adjustmentS1: Uncoated Brewster angle ? Rp (56°) ~ 0 %O2 Thin Film Polarizer 56°, 1064 nm Layertec薄膜偏振片S2: Coating 141353TFP (56° *, 1064 nm) Rs 99.9 % Rp *specifications will be achieved by ±2° angle adjustmentS1: Uncoated Brewster angle ? Rp (56°) ~ 0 %Substrate DimensionsNo.ImperfectionsItem #? 25.0 mm | t 3.05 mmB35/ 3 x 0.04141536O3 Thin Film Polarizer 56°, 515 nm Layertec薄膜偏振片S2: Coating141350TFP (56° *, 515 nm) Rs 99.9% Rp *specifications will be achieved by ±2° angle adjustmentS1: Uncoated Brewster angle ? Rp (56°) ~ 0 %Substrate DimensionsNo.ImperfectionsItem #? 25.0 mm | t 3.05 mmB35/ 3 x 0.04141537O4 Thin Film Polarizer 56°, 532 nm Layertec薄膜偏振片S2: Coating 141351TFP (56°*, 532 nm) Rs 99.9 % Rp *specifications will be achieved by ±2° angle adjustmentS1: Uncoated Brewster angle ? Rp (56°) ~ 0%Substrate DimensionsNo.ImperfectionsItem #? 25.0 mm | t 3.05 mmB35/ 3 x 0.04141539P Window 0° Layertec窗片S2+S1: Coating 141348AR (0°, 515-532 nm) AR (0°, 1030-1064 nm) Substrate DimensionsNo.ImperfectionsItem #? 12.7 mm | t 1 mmA25/ 1 x 0.04141890? 25.0 mm | t 3.05 mmB35/ 3 x 0.04141885德国Layertec公司创建于 1990年. 凭借多年在光学镜片的设计开发和生产经验，已成为全球知名的光学镜片厂商，LAYERTEC的镜片品质非常出众,广泛赢得客户的赞誉。光学镜片应用波长范围从157-2940nm,包括了科研以及工业上主流的激光器的应用，材质有YAG, Sapphire,CaF2,IR-fused silica,Fused Silica,BK7，尺寸大部份为0.5inch-2inch。Layertec专注于提供激光光学元件的镀膜，波长范围从 VUV（157nm及以下） 到 NIR波段（～4um）。最常见的光学镀膜类型是高反射镜（从正入射或者AOI=45°的转向镜），用于输出耦合的部分反射镜，以及分束器和用于窗口和透镜的抗反射膜。对于更复杂的激光器镀膜，包括3个以上波长的高反射率（例如激光器波长和倍频波长），以及3个以上波长的高透射率（例如泵浦波长，倍频或者抑制其他激光波长）。宽带反射镜，针对平滑群延迟和群延迟色散光谱优化的反射镜，这些在宽带激光输出应用中会用到，例如染料激光器，钛宝石激光器，光参量震荡器（OPO）和飞秒激光器。除了反射率和透射率，激光应用的镀膜必须满足低光学损耗和高激光损伤阈值。在VIS和NIR波段的溅射光学镀膜具有低杂散光和低吸收损耗（数量级都在10–5）。磁控溅射镀膜的HR镜反射率或者部分反射镜的反射透射率之和都超过99.9%。最近测量了在溅射和蒸发镀膜中的NIR波长吸收损耗都在3-30ppm。在VIS-NIR波长范围，蒸发镀膜会产生杂散光损失大约10-3级，在UV和VUV波长可以达到10-2。尽管如此，蒸发镀膜在UV波长的吸收损耗比较低。在CW和纳秒激光器光学元件的损伤主要跟热效应有关，例如增大的吸收，镀膜材料的固有吸收或者缺陷造成的吸收， 或者 镀膜较差的热导率 以及较低的熔化温度。 高能量的镀膜要求控制镀膜材料的固有特性以及减少膜层的缺陷。皮秒和飞秒激光元件的激光损伤主要是场强效应造成的。针对这类激光器的高功率镀膜要求非常特殊的设计。根据ISO 11254-1 (cw- LIDT and 1 on 1–LIDT, 例如单脉冲 LIDT), ISO 11254-2 (S on 1, 例如多脉冲 LIDT) 以及 ISO 11254-3 (一定数量的脉冲LIDT )标准中对激光损伤阈值LIDT的定义要求激光系统工作在单频模式下，精确的光束诊断和在线/离线损伤探测系统。因为这个原因，数量有限的配有少数几种激光器的测量系统可以使用（例如Laserzentrum Hannover 公司的1064nm）。对于比较特殊的激光器波长例如氩离子激光器（488nm或者514nm），没有测量系统可以用来验证LIDT数据。

Q-SUN氙灯测试箱系列使用氙弧灯管重现最逼真的全光谱太阳光，包括紫外线，可见光和红外线。对于许多材料来说，必须进行全光谱曝露，以提供精确的模拟，尤其是做颜色变化和日晒色牢度测试时。然而，氙灯光线必须要经过适当的过滤，以使每个特定的应用程序都能得到需要的光谱。光谱的差异可能会影响老化的速度和类型。Q-SUN滤光片氙灯必须经过适当的过滤，以使每个特定的应用得到合适的光谱。 光谱的差异可能会影响速度和老化的类型。 三类滤光片可模拟各种服务环境。 应用或测试方法决定了应使用哪种滤光片。 下面是一些有用的部件号。 参见Q-SUN试验箱页面，滤光片标签以获取更多详细信息。Q-SUN滤光片部件号X-7460 Q-SUN Xe-1 & Xe-3 Daylight-Q 滤光片X-10271 Q-SUN Xe-1 及 Xe-3 Daylight-BB 滤光片X-10586 Q-SUN Xe-1 及 Xe-3 Daylight-F 滤光片X-10266 Q-SUN Xe-1 及 Xe-3 Window-Q 滤光片X-10214 Q-SUN Xe-1 及 Xe-3 Window-B/SL 滤光片X-10857 Q-SUN Xe-1 & Xe-3 Window SF-5 滤光片X-10110 Q-SUN Xe-1 及 Xe-3 Window-IR 滤光片X-10180 Q-SUN Xe-1 及 Xe-3 Extended UV-Quartz 滤光片X-6502 Q-SUN Xe-1 及 Xe-3 UV-Q/B 滤光片XR-11234-KQ-SUN B02 Window-B/SL 滤光罩(AATCC), 14个内Window-B/SL及滤光片1部硼硅外滤光罩XR-11233-KQ-SUN B02 Window-B/SL 滤光罩(ISO), 14个内Window-IR及滤光片1个硼硅外滤光罩XR-11232-K Q-SUN B02 Window-IR 内滤光片替换套件，2件套Atlas Weather-Ometer® 设备的替代过滤片，价格更低针对Atlas Weather-Ometer® Ci35, Ci35A, Ci65, Ci65A, Ci4000, Ci5000型号的设备，Q-Lab将提供可替代的过滤片。这些过滤片价格更低，并且经过滤之后的光谱能量分布与Atlas提供的完全相同。并满足广泛的测试标准包括ISO, ASTM,SAE和 AATCC。Atlas Weather-Ometer® 过滤片型号X-10893-K Boro外过滤片 (For Ci35/Ci65) X-10888-K Boro外过滤片 (Atlas part #20-2796-00 for Ci4000) X-10894-K Boro外过滤片 (Atlas part #20-3128-00 for Ci5000)X-10891-K Boro内过滤片 (Atlas part #20-2341-00 for Ci35/Ci65 and Ci4000) X-10892-K Boro内过滤片 (Atlas part #20-3132-00 for Ci5000) X-10889-K 石英内部过滤片 (Atlas part #20-6506-00 Ci35/Ci65 and Ci4000) X-10890-K 石英内部过滤片 (Atlas part #20-3133-00 Ci5000) ® Weather-Ometer是亚太拉斯材料测试公司的注册商标。

PosiTector 200型 测厚仪,适用于木材、混凝土、塑料等基材用于测量木材、混凝土、塑料等基材上涂层厚度。高级型：最多测量3层并带有图形显示应用成熟的超声波技术在许多行业无损测量涂层厚度，如混凝土、木材、复合材料等价格低廉使用简单非破坏性PosiTector 200 超声波测厚仪使用简单，价格低廉而且是非破坏性。可用于测量木材，混凝土及其它基材上涂层厚度。 简 单 直接测量，测量大多数涂层时无需调校菜单操作双色指示灯，适于嘈杂环境重置功能可以即时恢复出厂设置 耐 用 耐溶剂、酸、油、水和灰尘，防护等级满足或超出IP5X显示屏耐划伤/溶剂，适用于恶劣环境防震保护橡胶皮套，带皮带夹主机与探头两年保修 精 确 灵敏传感器，使测量迅速且准确（最多40个读数/分钟)成熟的无损超声波技术，符合ASTM D6132与ISO 2808标准校准证书可追溯NIST 多种功能 连续显示/更新平均值、标准偏差和测量次数内部存储最多10000个数据，最多可分1000组内置时钟可对存储的结果标注时间、日期输出提供USB、红外和串行接口，可与打印机和电脑进行简单通讯背光显示，可用于阴暗环境英制/公制两种单位，可相互转换多种显示语文选择 可选配件 - 标准片&mdash &mdash 符合 ISO 和其它质量标准- PosiSoft 分析软件:可以输入注释可以打印和显示基本的数据分布图和直方图可以输出到一个文件或试算表中提供连接打印机和计算机的数据线红外打印机 - 使用电池和红外线接收数据 整套包括 耐用的携带，3节AAA电池、说明书、具有NIST可追朔性的校准证书，保修一年。尺寸:146 x 64 x 31mm重量:105g（不含电池）1. 阅读容易，防划花，液晶显示2. 指示灯在噪音环境中，方便确认读数3. 红外线接口用于无线打印4. RS232 接口用于下载5. 坚固外壳，耐溶剂、酸、油、水和灰尘6. 压力恒定，探头测量面为塑料，不会划伤测量面7. 舒适把手，减少操作人员的疲劳8. 柔软连接线 技术参数 B/标准B/高级C/标准C/高级量 程13-1000um0.5-40mils 25-1000um分辨率 0.1mils2um精度 ± 0.1mils + 3% 读数± 2um +3% 读数测量速度 45 读数 / 分钟

红外 (IR) 薄膜分束器Ø3 - 5µm 的平均 R/T 比为 45/55Ø没有来自第二表面反射的重影Ø消除光束位移Ø还提供用于 VIS-NIR 的薄膜分束器红外 (IR) 薄膜分束器采用安装在铝制框架中的薄硝化纤维素分束膜，设计为具有 3 - 5µm 的 45R/55T 分束比。 薄硝酸纤维素膜消除了第二表面反射和光束位移，同时最大限度地减少了光路长度的变化。 铝制框架在框架下侧具有安装孔，便于安装和集成到 OEM 系统中。红外 (IR) 薄膜分束器是 MWIR 应用的理想选择，包括 MWIR 成像、红外光谱、火焰检测和红外探测器的一般用途。注意：这些分束器的硝化纤维膜非常薄且易碎。 不得接触膜，只能使用空气进行清洁。 我们建议使用鼓风机，因为来自压缩空气的力可能会损坏膜。通用规格基材:Nitrocellulose反射/透射比 (R/T):45/55波长范围 (nm):3000 - 5000镀膜:Dielectric镀膜规格:45/55 @ 3000 - 5000nm构造 :Pellicle外壳:Black Anodized Aluminum折射率 nd:1.5表面质量:40-20厚度 (μm):2 +0.3/-0.2产品型号Dia. (mm)CA (mm)产品编码19.0512.7#19-28034.9025.4#19-28163.5050.8#19-28288.9076.2#19-283114.30101.6#19-284165.10152.4#19-285技术数据低损耗 IBS 镀膜激光偏振器Ø1064nm Nd:YAG 设计波长Ø在 45° AOI 具有 10,000:1 的高消光比Ø低损耗离子束溅射 (IBS) 镀膜Ø采用 10-5 表面质量的 UV 熔融石英基片低损耗 IBS 镀膜激光偏振器用于传输 p 偏振光，同时反射 s 偏振光，消光比高达 10000:1。这些偏振器具有离子束溅射 (IBS) 镀膜，设计用于在 45° 入射角下实现最佳的低损耗性能。它们由紫外熔融石英基片制成，与高功率激光器一起使用时可将热效应降至低，并且具有 10-5 的激光级表面质量。低损耗 IBS 涂层薄膜激光偏振器非常适合与 1064nm Nd:YAG 激光器一起使用，以分离或组合 s 偏振和 p 偏振激光。如果您的应用需要具有定制尺寸、镀膜或其他激光应用要求的低损耗 IBS镀膜激光偏振器，请与我们联系。注意：这些光学元件边缘上的箭头指向薄膜偏振片镀膜。产品型号DWL (nm)消光比CA (mm)表面质量Dia. (mm)厚度 (mm)产品编码106410,000:12010-525.406.35#16-747爱特蒙特光学® F-Theta 透镜Ø激光扫描应用的理想选择Ø扫描场上的衍射受限，波前误差低Ø长工作距离和大扫描区域Ø还提供振镜、扩束器和激光源Edmund Optics® F-Theta 透镜旨在在扫描系统的图像平面提供平场，并与检流计、扩束器和激光源结合使用。 这些 F-Theta 透镜具有紧凑的外形，提供高达 273 毫米的各种焦距和高达 164 毫米 (X) x 164 毫米 (Y) 的大扫描场。 这些透镜针对常见的光纤激光源和 Nd:YAG 基波或二次谐波进行了优化，设计波长为 532nm 和 1064nm，具有通用安装螺纹，可轻松集成到振镜系统中。 爱特蒙特光学® F-Theta 透镜是用于激光扫描和激光加工应用（包括激光打标、雕刻、切割、钻孔和 3D 建模）的经济高效的解决方案。产品型号DWL (nm)扫描角 (°)扫描场 (mm)类型WD (mm)产品编码532±22.6856.5 x 56.5F-Theta Lens94.5#15-185532±25.00101.8 x 101.8F-Theta Lens193.5#15-1861064±18.6035.4 x 35.4F-Theta Lens72.1#15-1781064±22.6856.5 x 56.5F-Theta Lens107.9#15-1791064±22.6286.0 x 86.0F-Theta Lens171.2#15-1801064±28.50116.2 x 116.2F-Theta Lens188.1#15-1811064±25.00157.0 x 157.0F-Theta Lens304.6#15-1821064±24.10164.0 x 164.0F-Theta Lens313.0#15-183光散射膜Ø散射 UV 到 NIR 范围的照明光线Ø柔性聚合物基片Ø易于根据尺寸进行切割Ø另外提供玻璃散射片L光散射膜由 TAC 聚合物材料制成，可对 UV 到 NIR 范围的照明光线提供散射。可以轻松地根据尺寸对这种薄膜进行切割，以满足应用要求，可以使用轻松地根据尺寸对这种薄膜进行切割，以满足应用要求，可以使用光学胶粘剂将其粘附到玻璃表面。光散射膜非常适用于机器视觉、视觉检测和自动检测应用，以散射LED 光源，从而产生无热点的均匀照明。若您的应用需要自定义尺寸的光散射膜，或需要将光散射膜层压到光学组件（例如光学窗口片、有色玻璃和聚合物偏振片）上，请联系我们。通用规格涂层:Uncoated厚度 (mm):0.13 ±0.005波长范围 (nm):300 - 1100注意:Protective film on both surfaces should be removed before use产品型号涂层尺寸 (mm)产品编码Uncoated100 x 100#17-683Uncoated300 x 300#17-682技术数据E 系列无边缘运动光学反射镜安装座Ø用于安装分光镜和透射式光学元件的 120° 无边缘Ø价格实惠Ø对实验和 OEM 系统不可或缺的安装座E 系列无边缘运动光学反射镜安装座可提供许多对于研发、原型制造和系统集成领域的应用而言不可或缺的功能。这些安装座具有 120° 切口，非常适用于安装分光镜和透射式光学元件，若以 45° 角安装，还能容纳更宽的光束路径。两个 M6 x 0.25 (101.6 TPI) 调节螺丝可提供平稳的移动，可以通过手或内六角扳手（扳手大小 2mm）驱动，以实现翻转和倾斜的光学调整与对齐 (±3.5°)。可以拆卸调节螺丝旋钮，从而使外形更紧凑。E 系列无边缘运动光学反射镜安装座具有安装孔，这些孔是埋头孔（设计目的为容纳 M4 或 8-32 安装硬件）和 M6 x 1.0 内螺纹孔（用于提高安装的多用性，以及与TECHSPEC® 公制不锈钢安装接杆和底座接杆的直接兼容性）。通用规格光学类型:Circular调节螺丝数目:2构造 :Aluminum Plates, Stainless Steel Screws, and Brass Thread BushingsMin. Thickness of Compatible Optics (mm):2微倾斜角度 (°) :±3.5微翻转角度 (°) :±3.5调节螺丝螺距 (mm):0.25Compatible Post:M6 x 1.0, M4 x 0.7, 8-32产品型号兼容光学大小 (mm)Optical Axis Height产品编码12.5/12.725.40#17-27825/25.425.40#17-27950/50.838.10#17-280

粒子探测器配件是全球领先的粒子追踪探测器和粒子追迹探测器，它基于Medipix2/Timepix technology技术的像素探测器，它能够实现零背景噪音成像。粒子探测器配件数字化单光子计数入射光子或粒子，直接转换成可探测的电信号被进一步处理，这种技术不仅实现零噪音成像，而且实现超高亮度和锐度的图像，非常适合粒子追踪和辐射监测，单光子计数等应用，能够识别3-5keV的辐射粒子或光子。不仅可以识别当个粒子，并且可以区分不同的粒子。单光子计数模式：当个像素每秒记录高达100000光子数（100000cps）.整个探测器的计数能力高达65亿cps，而且能量阈值可以设定。能量模式（TOT）:每个像素测量单个光子能量，非常适合全谱X射线成像和辐射监测，不仅可以对辐射粒子的轨迹成像，还可以测量粒子能量，非常适合辐射监测，因为粒子轨迹的形状对于不同辐射类型而言是独特的，这种技术也颠覆了现在辐射监测的方法。到达时间模式（TOA）单个像素计算入射时间，非常适合辐射粒子追踪和时间飞行测量。粒子探测器配件特点高对比度高动态范围无噪音实时监测256x256像素单光子计数阵列传感器面积14.1x14.1mm^2单个像素55um超大面积天文学，粒子物理，医学成像，光谱成像，粒子追踪，电子显微镜，无损检测，质谱学，X射线成像，X射线衍射，X射线荧光光谱。

英国Starna公司是国际著名的专业生产光谱仪用各种比色池，光学元件以及认证用标准参比材料的厂家。作为全球比色池生产的领导者，Starna公司早在十九世纪五十年代就开发并完美实现了全熔融无损光学表面技术制造比色池，先进的制造技术以及卓越的产品品质使得Starna成为全球各仪器厂家宝贵的合作伙伴。 四面石英，双光路，带塞子 光程1mm 和10mm样品体积0.4ml 还有2*10mm，3*10mm，4*10mm，5*10mm光程池可选。

Q-SUN滤光片氙灯必须经过适当的过滤，以使每个特定的应用得到合适的光谱。 光谱的差异可能会影响速度和老化的类型。 三类滤光片可模拟各种服务环境。 应用或测试方法决定了应使用哪种滤光片。 下面是一些有用的部件号。Q-SUN滤光片部件号X-7460 Q-SUN Xe-1 & Xe-3 Daylight-Q 滤光片X-10271 Q-SUN Xe-1 及 Xe-3 Daylight-BB 滤光片X-10586 Q-SUN Xe-1 及 Xe-3 Daylight-F 滤光片X-10266 Q-SUN Xe-1 及 Xe-3 Window-Q 滤光片X-10214 Q-SUN Xe-1 及 Xe-3 Window-B/SL 滤光片X-10857 Q-SUN Xe-1 & Xe-3 Window SF-5 滤光片X-10110 Q-SUN Xe-1 及 Xe-3 Window-IR 滤光片X-10180 Q-SUN Xe-1 及 Xe-3 Extended UV-Quartz 滤光片X-6502 Q-SUN Xe-1 及 Xe-3 UV-Q/B 滤光片XR-11234-K Q-SUN B02 Window-B/SL 滤光罩(AATCC), 14个内Window-B/SL及滤光片1部硼硅外滤光罩XR-11233-K Q-SUN B02 Window-B/SL 滤光罩(ISO), 14个内Window-IR及滤光片1个硼硅外滤光罩XR-11232-K Q-SUN B02 Window-IR 内滤光片替换套件，2件套Atlas Weather-Ometer?设备的替代过滤片针对Atlas Weather-Ometer? Ci35, Ci35A, Ci65, Ci65A, Ci4000, Ci5000型号的设备，Q-Lab将提供可替代的过滤片。这些过滤片价格更低，并且经过滤之后的光谱能量分布与Atlas提供的完全相同。并满足广泛的测试标准包括ISO, ASTM,SAE和 AATCC。Atlas Weather-Ometer?过滤片型号X-10893-K Boro外过滤片 (For Ci35/Ci65)X-10888-K Boro外过滤片 (Atlas part #20-2796-00 for Ci4000)X-10894-K Boro外过滤片 (Atlas part #20-3128-00 for Ci5000)X-10891-K Boro内过滤片 (Atlas part #20-2341-00 for Ci35/Ci65 and Ci4000)X-10892-K Boro内过滤片 (Atlas part #20-3132-00 for Ci5000)X-10889-K 石英内部过滤片 (Atlas part #20-6506-00 Ci35/Ci65 and Ci4000)X-10890-K 石英内部过滤片 (Atlas part #20-3133-00 Ci5000)

安捷伦进样探针的性能等同于铂金埃尔默原子吸收系统，并且在日常使用中具有良好的稳定性。 确保与珀金埃尔默仪器兼容 享有安捷伦全方位支持保证，可确保部件不会导致仪器故障或者停机 原厂珀金埃尔默系统认证的部件 AA、ICP-OES 和 ICP-MS 消耗品、标准品和服务的全套产品系列可确保您的珀金埃尔默系统具有最佳运行性能 世界一流的技术支持团队将为您解答与部件匹配、功能或者针对特定应用的问题和担忧，帮助您的珀金埃尔默系统实现最佳性能 库存和现货全球供应，24 小时至 48 小时送达（在大部分区域） 提供操作指南和原理视频，确保您在使用我们的部件和备件时，能够实现珀金埃尔默系统的最佳性能 安捷伦包装中的许多部件都具有耐用且坚固的设计，可在运输过程中提供最佳保护，确保部件无损伤到达

Psypro水势测量系统由Psypro水势测量记录仪与相匹配的系列传感器（样品室）组成，用以在实验室或野外快捷、方便地测定土壤或叶片的水势。该系统可以自动测量、记录和存储数据。具有数字显示功能。同时可连接最多8个样品室。三 特点和可选件C-52样品室：用以测量土壤、离体叶片或溶液的水势；有三种规格：直径9.5 mm ,深4.5 mm 适用于土壤和其它较大样品；直径7 mm ,深2.5mm 适用于叶片；直径9.5 mm ,深1.25 mm 适用于标准滤纸片；C-30样品室：可容纳大量土壤样品，整个叶片和大量液体样品；PST-55 土壤水势探头：不锈钢材质，原位埋设，测量土壤水势；L-51/L-51A叶水势探头：无损、原位测量叶水势；L-51A专用测量草类叶片；LP-27markhart叶片榨汁器：用来提取细胞液。

【产品名称】三环SERS 芯片（P 型）【产品简介】三环SERS芯片（也称纳米陶瓷探针）。该产品是以陶瓷材料为基底，采用表面增强拉曼技术，通过真空镀膜工艺制造而成，是一种具有检测功能的高科技产品。三环SERS芯片具有灵敏度高、简单易行、快速精准等优势，可以快速获得常规拉曼光谱不易得到的谱图信息，便于在各种复杂环境下不同物质的检测分析，从而实现快速、精准、无损检测。三环SERS芯片与拉曼光谱仪配套使用对物质分子的拉曼信号可以提供快速和准确的检测，同时可对信号提供4-8个数量级的增强。【产品特点】（1）灵敏性--对拉曼活性物质实现微量及痕量检测（2）指纹性--保留丰富的固有拉曼位移信息（3）快捷性--现场提供快速简捷的检测（4）无损性--在不破坏物质结构的基础上对其进行检测【应用领域】三环SRES芯片具有优异的拉曼增强作用，适用于痕量物质检测和科学研究中。----食品安全 ----环境检测----生物医药----公共安全 ----科学材料【典型案例】（1）农残检测:百草枯、敌草快。（2）爆炸物检测:高氯酸根、硝酸根。（3）水产药物检测:孔雀石绿、亚甲基蓝、结晶紫。（4）食品添加剂检测:苏丹红。【使用目的】（1）物质结构、性质分析、分子活性机理研究。（2）未知物检测、确认、真假判别验证。（3）现场快速检测。【储存方式】（1）未开封的芯片：放置在避光、洁净、干燥处常温保存。（2）已开封未使用的芯片：装回原来干净的包装盒，放置在避光、洁净、干燥处常温保存。【有效期】未开封状态下通常为6个月，开封后应尽快使用，否则SERS活性会显著下降。【参数详情】尺寸标准尺寸5*5mm、3*3mm、2.5*2.5mm可定制其他尺寸芯片有效面积25mm2、9 mm2、6.25mm2 等芯片表面金属Ag 及其修饰物激光激发波长/检测条件633nm、785nm 等10~20X 物镜倍率（建议）增强倍率100 万倍（此数值为可吸附在表面的大多数待测分子的结果）@R6G

铜网厚碳支持膜主要用于在200kV或300kV的电镜下,观察纳米材料的形貌像。由于200kV以上电镜的电子束对样品的穿透能力强，同时对样品和支持膜的损伤程度也较大。碳支持膜的厚度需要更厚一些，以避免高强电子束对样品的损伤。同时，对于一些具有化学腐蚀的样品，推荐使用该产品。因此，厚碳支持膜在这个方面的应用具有明显优势。膜总厚度：15-30 nm大包装100枚/盒。 中镜科仪200目、230目、300目、400目铜载网，中镜科仪生产，支持膜厚度15-30nm 。产品编号Prod.No.载网材质Material载网目数Mesh载网产地Made in支持膜产地Made in支持膜厚度（nm)Thickness包装UnitBZ31022a铜200目中镜科仪中镜科仪15-30100枚/盒BZ310223a铜230目中镜科仪中镜科仪15-30100枚/盒BZ31023a铜300目中镜科仪中镜科仪15-30100枚/盒BZ31024a铜400目中镜科仪中镜科仪15-30100枚/盒中包装50枚/盒。 中镜科仪200目、230目、300目、400目铜载网，中镜科仪生产，支持膜厚度15-30nm 。产品编号Prod.No.载网材质Material载网目数Mesh载网产地Made in支持膜产地Made in支持膜厚度（nm)Thickness包装UnitBZ31022b铜200目中镜科仪中镜科仪15-3050枚/盒BZ310223b铜230目中镜科仪中镜科仪15-3050枚/盒BZ31023b铜300目中镜科仪中镜科仪15-3050枚/盒BZ31024b铜400目中镜科仪中镜科仪15-3050枚/盒【存储】：室温避光干燥保存(建议放干燥器或者干燥箱内)、防污染、防震荡，存贮条件良好正常可保存1年左右。【使用注意】：取用时采用高精尖镊子小心操作，防止产生弯折等破坏。存在有机膜，不能与有机溶剂接触。面向样品盒有字母的一面是铺膜的一面。

安捷伦进样探针的性能等同于铂金埃尔默原子吸收系统，并且在日常使用中具有良好的稳定性。 确保与珀金埃尔默仪器兼容 享有安捷伦全方位支持保证，可确保部件不会导致仪器故障或者停机 原厂珀金埃尔默系统认证的部件 AA、ICP-OES 和 ICP-MS 消耗品、标准品和服务的全套产品系列可确保您的珀金埃尔默系统具有最佳运行性能 世界一流的技术支持团队将为您解答与部件匹配、功能或者针对特定应用的问题和担忧，帮助您的珀金埃尔默系统实现最佳性能 库存和现货全球供应，24 小时至 48 小时送达（在大部分区域） 提供操作指南和原理视频，确保您在使用我们的部件和备件时，能够实现珀金埃尔默系统的最佳性能 安捷伦包装中的许多部件都具有耐用且坚固的设计，可在运输过程中提供最佳保护，确保部件无损伤到达

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产品信息Iris自适应光学系统Iris分段式可变形镜Alpao自适应光学系统适用于高功率激光加工的Iris变形镜所属类别： ? 调制器 ? 可变形反射镜/自适应光学系统所属品牌：美国Iris AO公司产品简介Iris AO公司针对激光加工应用专门设计的分立镜面MEMS变形镜具有专业的水冷系统与镀膜技术，大幅提高了损伤阈值，适用于高功率激光加工系统，可对光学元件带来的像差予以校正，并有效提高激光的光束质量！关键词：变形镜，DM，deformable mirror，MEMS，分立镜面变形镜，分立式变形镜，分立式MEMS变形镜 ，分离镜面变形镜，Discrete MEMS deformable mirror，Iris变形镜，微变形镜，MEMS变形镜，静电变形镜，像差校正、场镜像差校正、F-Theta Lens像差校正适用于高功率激光加工的Iris变形镜在高功率激光精细加工领域，光束质量对于加工精度与质量至关重要。通常光束质量的影响主要来自激光器本身的光束质量的波动与激光加工系统中光学元器件引入的光学像差。在该领域，所使用的激光器的腔镜会受到激光的直接辐照而产生对激光能量的吸收，特别是随着功率的提高，腔镜吸收的能量也随之增加，腔镜温度升高而产生热变形。腔镜热变形将引起腔内光束的光程发生变化，使得谐振腔的工作参数偏离设计值，从而引起腔内模式发生改变，致使波前相位高频成分及Zernike高阶像差增大，波前畸变程度也将变大，输出光束质量退化，输出功率下降，从而影响激光微加工的精度和质量。而激光加工系统中的光学元器件所引入的光学像差则不可避免地会导致激光光束质量下降。Iris分立镜面MEMS变形镜，采用全球领先的分立镜面混合表面微加工工艺技术，是美国Iris AO公司专门为高功率激光精细加工过程中腔镜热变形和光学器件像差造成的波前畸变进行校正补偿而开发的新型封装变形镜器件，是改善高功率激光精细加工应用中光束质量，提供加工精度与加工质量的有效工具。Iris使用独创MEMS专利技术制造的变形镜采用111个内切孔径3.5或7.0mm的驱动器，37片PTT镜片单元组成蜂窝状阵列。每一个镜面单元可以在三个自由度方向上，伸缩，翻倒，倾斜独立控制。产品特点和优势： 专业介质镀膜可承受高功率激光 配有水冷散热系统，更利于散热并提高产品寿命 配有清除有机物的清洗口，避免水冷系统阻塞 体积紧凑，方便集成 高性价比权威测试结果：1. 全球领先的激光微加工系统制造商使用紫外脉冲激光器（355nm，15W平均功率，ps脉冲）对Iris AO的新型封装并镀膜的PTT111变形镜进行测试显示： Iris变形镜在5W激光功率下测试60小时，10W激光功率下测试70小时，15W激光功率下测试80小时，均没有显示影响光束质量的损坏迹象。在激光功率15W测试时入射到变形镜上的是一束光斑直径大约1mm的激光。测试显示即使在更高的功率强度上，变形镜也没有出现永久损坏的迹象。2. 另一位业内领先的激光加工系统制造商Raydiance Inc.( http://www.raydiance.com/)公司利用平均功率10W的1550nm飞秒脉冲激光器成功对镀金薄膜的PTT111DM和采用新型封装PTT111DM进行测试对比。测试显示这种专为激光应用开发与优化的最新封装，进一步增大镀金薄膜变形镜所能承受的平均功率。3. 测试显示Iris分立镜面MEMS变形镜无需热沉就可以承受300W/cm2平均功率密度，在进行热沉和改善镀膜后，变形镜可以承受3KW/cm2的平均功率密度。对于脉冲激光，变形镜可以承受峰值功率密度1.7GW/cm2。在使用新型封装后，变形镜所能承受的功率密度进一步增大，并且无损连续工作时间显著延长。以上测试均表明专业表面介质薄膜以及为适应恶劣环境进行的新型封装对提高变形镜的损伤阈值与高功率激光下的工作性能非常有效。Iris AO公司下一步将进行1000小时的超长时间测试，来进一步验证和改善这种新型封装镀膜变形镜的承受高功率激光的性能。目前Iris AO由于出色的研发实力，已赢得了美国国家航空航天局的Phase II SBIR项目资金，用来支持其进一步发展变形镜在高功率激光器方面的应用。Iris AO将进一步开发适用更宽波长范围的镀膜技术，适用从288nm到1600nm激光器，（深紫外准分子激光器到ND:YAG激光器），为激光微加工、激光精细加工和激光整形行业应用提供优秀的波前校正与光斑整形方案。分享到 : 人人网 腾讯微博新浪微博 搜狐微博 网易微博

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