环境可控型原子力显微镜

AFM5300E是一款环境型原子力显微镜，它的环境控制单元可以使样品在大气中、真空中、溶液中等环境中进行测量。AFM5300E还具有高低温控制功能，可以检测温度对样品表面形貌和物理特性的影响。 特点1. 环境控制功能（大气，真空，液体，温控等）AFM5300E能够实现高真空的测试环境，几乎避免了样品表面吸附水对测试的影响，实现精确的物理特性测量。 真空环境下可以实现更大范围的温度控制。另外，新开发的『温度扫描功能』可监视样品Z方向的热胀冷缩，通过控制反馈信号，使悬臂在变温环境下连续测试样品表面的物理特性。（3857581号、3926638号）●大气中　●液体中　●真空中　●特殊气氛（流量控制）●温度控制 加热?冷却(-120～300℃)　高温(室温～800℃)●湿度控制(0～80%)●外加磁场（水平、垂直、面内旋转、max 5000 Oe ）2. 简便操作（综合型Holder Flange）通过采用『综合型Holder Flange开合功能』，样品和扫描器更換更为方便的同时，免去了以往环境型SPM的样品更換后的所需的光轴调整。 也省去测试模式切换时的支架更換环节。3. 卓越的高性能采用了『Swing Cancel功能』，减轻了样品的浮动，降低了漂移。提高了纳米分析性能，提升了可信度。 漂移量：0.015nm/sec以下4. 通过减轻表面吸附水的影响，提高了电气性能的检测精度真空环境下减轻样品表面吸附的水分和污染物的影响，因而实现高分辨高灵敏的电学性能分析。

Nanowizard V 第五代生物型原子力显微镜（BioAFM最新一代产品充满各种创新 25年引领生物原子力显微镜技术的研发和创新 全球超过1000家用户的广泛认可8500多篇在生物学领域具有影响的文章 拥有专注于高清晰成像和其它应用的探针研发支持丰富的功能为实现科学研究突破铺平了道路：PeakForce-QI, PeakForce Tapping, PeakForce QNM, QI 单分子力谱技术 单细胞力谱技术 DirectOverlay 2实现AFM与先进光学技术的绝佳整合 全新V8软件 新的ExperimentPlanner和ExperimentControl功能 高数值孔径显微镜整合，多维度环境控制等各类高级整合方案完美的性能，更高的效率 NanoWizardV 诠释了BioAFM的美好未来 无与伦比的易用性 高速成像可用于捕捉动力学过程以及提高实验效率 自动化、高分辨成像

AFM5500M是操作性和测量精度大幅提高，配备4英寸自动马达台的全自动型原子力显微镜。设备在悬臂更换，激光对中，测试参数设置等环节上提供全自动操作平台。新开发的高精度扫描器和低噪音3轴感应器使测量精度大幅提高。并且，通过SEM-AFM共享坐标样品台可轻松实现同一视野的相互观察分析。 特点 1. 自动化功能高度集成自动化功能追求高效率检测 降低检测中的人为操作误差 4英寸自动马达台自动更换悬臂功能2. 可靠性排除机械原因造成的误差大范围水平扫描 采用管型扫描器的原子力显微镜，针对扫描器圆弧运动所产生的曲面，通常通过软件校正方式获得平面数据。但是，用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响，图片上经常发生扭曲效果。 AFM5500M搭载了全新研发的水平扫描器，可实现不受圆弧运动影响的准确测试。 样品 ：硅片上的非晶硅薄膜高精角度测量 普通的原子力显微镜所采用的扫描器，在竖直伸缩的时候，会发生弯曲（crosstalk）。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。 AFM5500M中搭载的全新扫描器，在竖直方向上不会发生弯曲（crosstalk） ，可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像。 样品 : 太阳能电池(由于其晶体取向具有对称结构)* 使用AFM5100N（开环控制）时 3. 融合性亲密融合其他检测分析方式通过SEM－AFM的共享坐标样品台，可实现在同一视野快速的观察分析样品的表面形貌，结构，成分，物理特性等。SEM-AFM在同一视野观察实例（样品：石墨烯/SiO2）上图是AFM5500M拍摄的形貌像（AFM像）和电位像（KFM像）分别和SEM图像叠加的应用数据。 通过分析AFM图像可以判断，SEM对比度表征石墨烯层的厚薄。 石墨烯层数不同导致表面电位（功函数）的反差。 SEM图像对比度不同，可以通过SPM的高精度3D形貌测量和物理特性分析找到其原因。 与其他显微镜以及分析仪器联用正在不断开发中。

美国Anasys公司的AFM+可以提供全面的原子力显微功能，具有强大的分析能力，使得AFM不仅仅是一个普通的成像工具，还可以进行材料纳米级尺度的成分分析，热性能和机械性能的分析。AFM+的主要特点：简洁的安装与操作 □ AFM+为最便利的使用而设计制造。探针预装在金属圆片上，确保探针位置的准确性和装针的便捷□ 仪器集几十年AFM设计大师的经验之大成，即使初次使用也能快速获取结果完整的AFM工作模式 □ 包含所有常规成像模式：接触、轻敲、相位、侧向力、力调制、力曲线□ 独有高分辨率低噪音的闭环成像□ 基于DI传承的多功能AFM，实现纳米热学，力学，电学和磁学测量：l 纳米热分析模块（nanoTA, SThM）l 洛仑兹接触共振模块（LCR）l 导电原子力显微镜镜（CAFM）l 开尔文电势显微镜（KPFM）l 磁力显微镜（MFM）l 静电力显微镜（EFM）独有的可升级功能□ 热学性能：独有的热探针技术，提供纳米级红外分析□ 机械性能：洛伦兹接触共振模式能够提供宽频纳米机械分析□ 化学性能：可升级具有纳米红外光谱技术，实现局部化学组分分析□ 近场成像：可升级具有散射式近场光学成像和光谱采集功能

WET-SPM 为原子力显微镜实验提供各种环境。真空，各种气体（氮，氧等），可控湿度，温度，超高温，超低温，气体吹扫等环境。 一体浇注舱体，大型观察孔和手套箱设计，可自由地在分析室内部进行前处理，方便在不同环境中操作。实现了原位扫描，可追踪在温度、湿度、压力、光照、气氛浓度等发生变化时的样品变化。 WET-SPM系列可控环境舱原子力显微镜信息由岛津企业管理（中国）有限公司/岛津（香港）有限公司为您提供，如您想了解更多关于WET-SPM系列可控环境舱原子力显微镜报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

◆ 光学金相显微镜和原子力显微镜一体化设计，功能强大◆ 同时具备光学显微镜和原子力显微镜成像功能，两者可同时工作，互不影响◆ 可同时在普通空气环境、液体环境、温度控制环境、惰性气体控制环境下工作◆ 样品扫描台和激光检测头封闭式设计，内部可充放特殊气体，无需增加密封罩◆ 激光检测采用了垂直光路设计，配合气液两用型探针架可在液体下工作◆ 单轴驱动样品自动垂直接近探针，使针尖垂直于样品扫描◆ 马达控制加压电陶瓷自动探测的智能进针方式，保护探针及样品◆ 超高倍光学定位系统，实现探针和样品扫描区域精确定位◆ 集成扫描器非线性校正用户编辑器，纳米表征和测量精度优于98%技术参数应用案例

AFM5300E是一款环境型原子力显微镜，它的环境控制单元可以使样品在大气中、真空中、溶液中等环境中进行测量。AFM5300E还具有高低温控制功能，可以检测温度对样品表面形貌和物理特性的影响。特点1. 环境控制功能（大气，真空，液体，温控等）AFM5300E能够实现高真空的测试环境，最大限度减小样品表面吸附水对测试的影响，实现精确的物理特性测量。 真空环境下可以实现更大范围的温度控制。另外，新开发的『温度扫描功能』可监视样品Z方向的热胀冷缩，通过控制反馈信号，使悬臂在变温环境下连续测试样品表面的物理特性。（专利3857581号、专利3926638号）●大气中　●液体中　●真空中　●特殊气氛（流量控制）●温度控制 加热?冷却(-120～300℃)　高温(室温～800℃)●湿度控制(0～80%)●外加磁场（水平、垂直、面内旋转、max 5000 Oe ）2. 简便操作（综合型Holder Flange）通过采用『综合型Holder Flange开合功能』，样品和扫描器更換更为方便的同时，免去了以往环境型SPM的样品更換后的所需的光轴调整。 也省去测试模式切换时的支架更換环节。3. 卓越的高性能采用了『Swing Cancel功能』，减轻了样品的浮动，降低了漂移。提高了纳米分析性能，提升了可信度。 漂移量：0.015nm/sec以下4. 通过减轻表面吸附水的影响，提高了电气性能的检测精度真空环境下减轻样品表面吸附的水分和污染物的影响，因而实现高分辨高灵敏的电学性能分析。

【产品简介】 Nanosurf Bio原子力显微镜在倒置显微镜平台上可以提供高精度、高分辨率和成像功能，实现原位实时获取AFM图像和光学图像。可以在空气或液体环境中对DNA、蛋白质、细胞等成像和结构以及分子间作用力、细胞吸附力等生物力学进行检测，是生物/生命科学领域用户最理想的显微镜。 【仪器参数】 最大扫描范围100μm10μm 最大Z向范围10μm3μm Z向分辨率0.152nm0.046nm XY向分辨率1.525nm0.152nm

仪器简介：瑞士Nanosurf公司，全球知名的专业研发扫描探针显微镜制造商和技术服务供应商，在扫描探针显微镜领域有超过15年的研发经验，一直致力于新型扫描探针显微镜的创新性研发和制造。目前已推出新一代低噪音-快速扫描-超高稳定性的AFM 和大扫描范围Nanite AFM系统。瑞士Nanosurf公司承诺提供最高品质的服务和客户支持，同时还提供纳米技术的OEM 客户定制，外包等业务。easyScan 2原子力显微镜是瑞士Nanosurf公司在原有easyScan原子力显微镜基础上更新而来，增进了该原子力显微镜的便携性，精确性和可靠性，有更强的抗干扰能力。目前easyScan 系列原子力显微镜已经在50多个国家销售了近2000台。是工业质量控制，纳米材料研发者的完美工具。技术参数：easyScan2 AFM原子力显微镜： 1. 两种可供选择的原子力显微镜扫描头 (1) 大扫描范围 最大扫描范围：X和Y方向110um x 110um xy轴分辨率： 1.7nm 最大扫描范围： Z方向20um z轴分辨率： 0.34nm Z噪音标准（RMS）： 0.4nm(2) 高分辨率 最大扫描范围：X和Y方向10um*10um xy轴分辨率：0.15nm 最大扫描范围：Z方向1.8um z轴分辨率：0.027nm Z噪音标准（RMS）：0.07nm 扫描速度：1800个数据点/秒 传感半径： 15nm 典型负载： 10nN 扫描仪质量：350g 反馈回路宽带：3kHz 自动进场范围：5mm 没有使用危险的高电压2. 电子控制器 数据采集时，可以和任何标准计算计串行端口连接 三个轴都有16位的数据收集与控制系统 轴输出电压：+12V 扫描速度：1-20分/框 1024样品/直线 动态频率范围：15-300KHz 动态频率分辨率：15-300KHz 外部电源 功率消耗量25VA 电子控制器质量2.5kg 3. 软件 软件在Windows 操作系统上运行 测量数据可以实现可视化 不同的窗体的扫描数据可以被同时显示 线观察，点观察，三维观察 在线数学计算功能（减，平均值等等） 类似于粗糙度（Ra，Rq）、顶点剖面、厚度、距离和几何分析的数据分析 可以实现多数据输出 定制显示器、工作场所 安装非常简便主要特点： easyScan2 AFM原子力显微镜：允许快速的、在原位无破坏性的、高分辨率的处理控制。 自动激光对准芯片技术，无需人工手动调节。设计小巧、紧凑；使用简便、舒适 。所有的功能可以在一台计算机上进行 。独立的；适合大、小形状各异的样品 。样品自动进场 。与标准计算机串行端口连接（不需要接口卡） 。特殊的扫描仪设计，确保低震动灵敏度 。

Nanowizard V 第五代生物型原子力显微镜（BioAFM最新一代产品充满各种创新 25年引领生物原子力显微镜技术的研发和创新 全球超过1000家用户的广泛认可8500多篇在生物学领域具有影响的文章 拥有专注于高清晰成像和其它应用的探针研发支持丰富的功能为实现科学研究突破铺平了道路：PeakForce-QI, PeakForce Tapping, PeakForce QNM, QI 单分子力谱技术 单细胞力谱技术 DirectOverlay 2实现AFM与先进光学技术的绝佳整合 全新V8软件 新的ExperimentPlanner和ExperimentControl功能 高数值孔径显微镜整合，多维度环境控制等各类高级整合方案完美的性能，更高的效率 NanoWizardV 诠释了BioAFM的美好未来 无与伦比的易用性 高速成像可用于捕捉动力学过程以及提高实验效率 自动化、高分辨成像

SPM-9700HT 原子力显微镜可在大气中简单的进行高倍表面观察，可直接观察非导电样品，并可精确测定样品表面的高程差。探可测定样品的物理性质。追加可控气氛分析室可升级为可控气氛原子力显微镜探知未来原子力显微镜（AFM）是在样品表面用微小的探针进行扫描，通过高倍率观察三维形貌和局部物理特性的显微镜总称。SPM-9700HT更是性能高、速度快、操作简单的新一代扫描探针显微镜。 产品规格 观察倍率：千~数百万倍 可测定高度：1μm（可选配0.3μm、5μm、7μm及13μm） 样品尺寸：?24mmx8mm

用于研发的灵活与多功能的原子力显微镜仪器简介：FlexAFM原子力显微镜是Nanosurf公司新研发的在大气环境和液体环境下都可以进行测试，并且可与倒置光学显微镜和温度样品台联用。可以满足绝大多数研究的需要。瑞士Nanosurf公司，全球知名的专业研发扫描探针显微镜制造商和技术服务供应商，在扫描探针显微镜领域有超过15年的研发经验，一直致力于新型扫描探针显微镜的创新性研发和制造。目前已推出新一代低噪音-快速扫描-超高稳定性的AFM 和大扫描范围Nanite AFM系统。瑞士Nanosurf公司承诺提供最高品质的服务和客户支持，同时还提供纳米技术的OEM 客户定制，外包等业务。技术参数：1，FLEXAFM原子力显微镜测量模式：接触式原子力显微镜（大气和液态环境），真正非接触式原子力显微镜（大气和液态环境），横向力/摩擦力显微镜（LFM），导电原子力显微镜，磁力显微镜（MFM），开尔文探针（Kelvin Probe），扫描热原子力显微镜（SThM），电容和静电力显微镜（EFM），高级的纳米光刻和纳米操作能力，音叉原子力显微镜，三维扫描成像。2，扫描范围：100 um；10 um3，Z方向范围：10um；3 um4，XY方向驱动分辨率：0.152 nm5，Z方向驱动分辨率：0.046 nm6，最小Z方向测量噪音水平：0.15nm7，样品尺寸：直径100mm主要特点：1，FlexAFM无论是在大气环境下还是在液体环境下都可以进行测试，操作和测试的方便程度是完全一样，没有什么区别。2，灵活弯曲结构的扫描头设计，可以引用于平的或粗糙的样品表面。XY-扫描通过电磁驱动，XY平面的运动是完全线性的 。Z方向的运动是通过压电陶瓷来驱动，Z方向的运动速度很快。3，激光光束进入液体时会发生一定偏移，通常实验时需要耐心和复杂的调整。而FlexAFM 使用了专利SureAlign&trade 的激光光学系统，无论是在大气下还是在液体中根本不需要做任何调整。所以FlexAFM 的激光信号永远处于最佳状态。4，两个方向的视窗，非常方便观察和针尖逼近。并且由于特别的设计，使得无论在大气环境还是液体环境得到同样质量的视像。5，FlexAFM 使用"Liquid Ready" easyScan 2控制器, 可以扩展STM 等技术。为了材料研发上的成功,科学家们依赖专业的工具来快速地提供需要的信息,不管是否是手头的任务. 通过开发关键技术与设计, Nanosurf使得Flex-Axiom成为一款迄今为止强大多功能而且灵活的AFM, 非常方便地进行各种各样材料研发方面的应用. 配合功能强大的C3000控制器, Flex-Axiom还可以进行更多复杂的材料表征应用. 几百个研究用户，多方面应用实例Flex-Axiom是您可信赖的工具，不管是在表面形貌还是计量成像上，不管在大气中还是液体环境中. 当然Flex-Axiom不仅仅可以用于表面形貌测量, 比如还可以进行高级纳米机械性能、电学或者磁学性能表征. 该系统更能有效地用于样品的微纳米操纵功能. Topography, KPFM, and MFM images of the same area of a stainless steel sample 精确而优越的性能方便您研发上的需求Flex-Axiom使用特殊的线性电磁平板扫描器用于XY移动. 该扫描器在全范围内的平均线性度误差小于0.1%, 属于AFM市场上的顶配. Z轴由压电驱动, 带有位置传感器可以实现闭环操作. 高敏感的悬臂梁探测系统可以测量到MHz测量范围. Flex-Axiom的测量头配置的是全功能的, 带有数字反馈与两个双通道锁放的最新24位C3000控制器.Imaging of single and multiple pyrene nanosheets and height analysis with sub-nanometer accuracy. Data courtesy: Mykhailo Vybornyi, University of Berne, Switzerland 模块化设计: 让您今天的预算物有所值，让您未来有更多机会增加配置或需求Flex-Axiom带有模块化的样品台设计与各种探针底座类型, 可以满足您当前与今后的需求. 基于C3000控制器, Flex-Axiom可配置14种AFM操作功能, 甚至更多可扩展功能, 可以进行更多材料开发上面的高级测量与实验研究. ECS 204电化学样品台, 举例来说, 可以进行样品的电化学与以及样品周围的环境控制, 这样就可以开发更多新的应用. 跟一些我们的高级研发用户一起, 用于大范围纳米刻蚀、手套箱内操作、磁阻感应功能都已经被开发出来. Large-area nano-lithography (Dr. Lu Shin Wong, Manchester, UK) Flex-Axiom in glove box (Dr. Philip Kim, Harvard University, US) Magneto-resistive sensing (Dr. Jo?o Gaspar, Braga, PT) Flex-Axiom的模块化概念可以轻松地让它升级到其他FlexAFM产品线 (如用于生命科学的Flex-Bio, 用于自动纳米机械性能分析的Flex-ANA以及用于细胞与纳米操纵的Flex-FPM)， 给您的Flex-Axiom系统提供了更多的升级与扩展的可能性. Flex-Bio Flex-ANA Flex-FPM 开发所有的实践细节，有益于日常操作FlexAFM视频选件集成了两个摄像头用于顶视与侧视, 可以让您快速地找到感兴趣区域并逼近针尖到样品表面位置，然后进行全自动逼近. Camera optics Top view Side view带有定位槽结构的探针底座可使用带有定位沟槽的探针. 该探针底座提供了微米级别定位精度, 更换探针无需调节激光； 可以让您更换探针后依然方便地找到样品同样的位置. Flex-Axiom 配件与附件 Flex-Axiom系统的核心是FlexAFM测量头与C3000控制器，它们由I100电气转接盒连接. 基于标准配置, Flex-Axiom具有多个选件与附件可以供选择, 专门设计用来提高更稳定与可靠的结果, 或者提供了更多新型测量功能与实验的可信性: 各种探针底座类型 FlexAFM视频选件，顶视与侧视双光学ECS 204 电化学样品台ATS 204 自动移动台Isostage主动式防震台环境控制来进行干燥或者低氧环境操作 高级隔声罩用于保护外界噪声与其他干扰

Nanosurf AFSEM真空环境用原子力显微镜产品主要特点:实时在您的真空环境中进行AFM分析方便集成在SEM中进行相关AFM分析兼容于大多数电镜而不影响SEM正常操作可适配真空腔室环境兼容大气环境测量操作简便而直观

拉曼原子力显微镜型　号FM-NanoviewRa-AFM更新时间2022-10-17所属分类拉曼原子力显微镜产品描述：拉曼原子力显微镜FM-NanoviewRa-AFM◆ 同时集成拉曼光谱仪和原子力显微镜的功能，观测样品三维形貌的同时还可以分析样品的物质组分；◆ 内置10X复消色差光学系统，无需调焦，同时看到探针针尖和拉曼激光光斑；◆ 不移动样品可以从相同的点同时采集AFM和拉曼数据，原位检测样品的形貌信息与化学信息；◆ 激光检测头、激光耦合器和样品扫描台集成一体，稳定可靠；◆ 精密激光及探针。产品概述　　拉曼原子力显微镜技术参数 　　◆ 工作模式：接触、轻敲、F-Z力曲线测量、RMS-Z曲线测量、摩擦力/侧向力、振幅/相位、磁力和静电力 　　◆ 样品尺寸：Φ≤90mm，H≤20mm 　　◆ 扫描范围：XY向20um，Z向2um(可选配XY向50um，Z向5um) 　　◆ 扫描分辨率：XY向0.2nm，Z向0.05nm 　　◆ 样品移动范围：0~20mm 　　◆ 光学放大倍数10X，光学分辨率1um(可选配20X，光学分辨率0.8um) 　　◆ 扫描速率0.6Hz~4.34Hz，扫描角度0~360° 　　◆ 扫描控制：XY采用18-bit D/A，Z采用16-bit D/A 　　◆ 数据采样：14-bit A/D、双16-bit A/D多路同步采样 　　◆ 反馈方式：DSP数字反馈 　　◆ 反馈采样速率：64.0KHz 　　◆ 通信接口：USB2.0/3.0 　　◆ 运行环境：WindowsXP/7/8/10操作系统 　　拉曼光谱仪： 　　◆ 激光波长：532±0.05nm,可选配785±0.05nm 　　◆ 激光连续输出功率：500Mw(50-600mW连续可调) 　　◆ 激光波长稳定性：0.05nm 　　◆ 激光功率稳定性：2%(两小时内) 　　◆ 激光器寿命：10000小时 　　◆ 拉曼漂移范围：50-4000cmˉ¹ 　　◆ 光谱分辨率：3cmˉ¹ 　　◆ 动态范围：8000:1 　　◆ 积分时间：17毫秒-100秒 　　◆ 线性度：99.8% 　　◆ 运行环境：WindowsXP/7/8操作系统 　　◆ 自动寻峰：支持 　　◆ 拉曼数据库：3000多种常见数据(选配)，支持升级 　　◆ 开发式拉曼数据库：支持 　　◆ 拉曼数据导入导出：支持 　　◆ 分析软件：Raman Analysis 2

AFM5500M是操作性和测量精度大幅提高，配备4英寸自动马达台的全自动型原子力显微镜。设备在悬臂更换，激光对中，测试参数设置等环节上提供全自动操作平台。新开发的高精度扫描器和低噪音3轴感应器使测量精度大幅提高。并且，通过SEM-AFM共享坐标样品台可轻松实现同一视野的相互观察分析。 特点 1. 自动化功能高度集成自动化功能追求高效率检测 降低检测中的人为操作误差 4英寸自动马达台自动更换悬臂功能2. 可靠性排除机械原因造成的误差大范围水平扫描 采用管型扫描器的原子力显微镜，针对扫描器圆弧运动所产生的曲面，通常通过软件校正方式获得平面数据。但是，用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响，图片上经常发生扭曲效果。 AFM5500M搭载了全新研发的水平扫描器，可实现不受圆弧运动影响的准确测试。 样品 ：硅片上的非晶硅薄膜高精角度测量 普通的原子力显微镜所采用的扫描器，在竖直伸缩的时候，会发生弯曲（crosstalk）。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。 AFM5500M中搭载的全新扫描器，在竖直方向上不会发生弯曲（crosstalk） ，可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像。 样品 : 太阳能电池(由于其晶体取向具有对称结构)* 使用AFM5100N（开环控制）时 3. 融合性亲密融合其他检测分析方式通过SEM－AFM的共享坐标样品台，可实现在同一视野快速的观察分析样品的表面形貌，结构，成分，物理特性等。SEM-AFM在同一视野观察实例（样品：石墨烯/SiO2）上图是AFM5500M拍摄的形貌像（AFM像）和电位像（KFM像）分别和SEM图像叠加的应用数据。 通过分析AFM图像可以判断，SEM对比度表征石墨烯层的厚薄。 石墨烯层数不同导致表面电位（功函数）的反差。 SEM图像对比度不同，可以通过SPM的高精度3D形貌测量和物理特性分析找到其原因。 与其他显微镜以及分析仪器联用正在不断开发中。

alpha300 RA –在一个系统里面集成化学成分分析和纳米级别的结构成像alpha300 RA 是市场上首个高度集成的拉曼原子力显微镜系统，可以在标准的Alpha 300R共聚焦拉曼系统上通过标准模块升级即可完成拉曼原子力系统联用，获得原位的AFM和Raman图像的叠加。alpha300 RA 独特的设计理念使联用系统既保留300R强大的化学组分分析能力，同时加入微纳级别的表面形貌等特性的分析能力，使研究者能对样品进行深度完善的分析和理解。 alpha300 RA 让拉曼和原子力两种互补的技术得以在一套系统里面实现，两种技术的性能完全不受联用的影响，而且使用同一个操作软件，使得操作和分析变得简单应用。拉曼和原子力显微镜使用不同的显微镜物镜，只需要简单转动物镜转盘，成像软件即可原位完成两种技术的图像对比，叠加和分析 此外alpha300 RA可进一步升级来配合TERS (高分辨拉曼)测量 拉曼原子力显微镜系统主要特点l 所有alpha300 R (拉曼) 和alpha300 A (原子力) 的性能集成到一个显微镜系统内l 优异的原位化学组分分析（拉曼）和微纳级别表面特征分析（原子力）的结合l 原子力和拉曼同时进行的绝佳选择l 严格原位，完全不需要在测量过程中移动样品l 只需要转动物镜转盘即可在两种测量技术之间简单切换 拉曼原子力显微镜系统应用实例 多组分高分子混合物，包含了1:1:1比例的聚苯乙烯（PS），充油丁苯橡胶（SRB）和丙烯酸乙基己酯（EHA）的原位拉曼及原子力图像对标最左边的拉曼成像: 绿色代表PS, 红色代表SRB，蓝色代表EHA.第二至第五张图像分别是样品的表面拓扑结构，相位，粘附力和粘度 金刚石压砧在单晶硅表面的压痕的应力分析，原位拉曼原子力图像左图：10x10um原子力表面拓扑结构和深度轮廓图，右图压痕周边的应力拉曼图像，紫色为未受应力影响，黄色为压力应变，灰色为张力应变 拉曼原子力显微镜系统性能通用拉曼操作模式l 拉曼光谱成像：连续扫描的拉曼高光谱全谱成像，每个样品点都能获得完整的拉曼光谱l 平面2D和包含深度Z方向的3D成像模式l 快速和慢速时间序列l 单点及Z方向深度扫描l 光纤耦合的UHTS 系列光谱仪，专为弱光应用的拉曼光谱设计l 共聚焦荧光显微镜功能l 明场显微镜功能 通用原子力显微镜操作模式l 接触模式l AC 模式（轻敲模式）l 数字脉冲力模式 (DPFM)l 抬高模式l 磁力显微镜模式 (MFM)l 静电力显微镜模式 (EFM)l 相位成像模式l 力曲线分析l 微纳操控及微纳印刷l 横向力模式 (LFM)l 化学力模式 (CFM)l 电流探测模式l 其他可选 基本显微镜指标l 研究级别的光学显微镜，6孔物镜转盘l 明场CCD相机，代替目镜观察样品l LED明场科勒照明l 电动XYZ样品台，25x25x20mm平移范围l 主动隔震平台 各类拉曼升级选项（如true surface等）l 多种激光可选择l 多种光谱仪可选择l 自动共聚焦拉曼成像l 自动多区域多点测量l 可升级超快拉曼图像模式(需配置EMCCD和Piezo样品台，可获得每秒1300张光谱的速度)l 可升级落射荧光照明l 自动聚焦功能l 显微镜观察法可选，如暗场，像差，偏光，微分干涉等 超高通光量UHTS光谱仪l 各类透射式波长优化谱仪可选 (UV, VIS or NIR)，均为弱光拉曼光谱设计l 光纤耦合，70%超高光通量l 优异的成像质量，光谱峰形对称无像差 控制电脑WITec控制和数据采集，处理软件

Park NX12原子力显微镜用于分析化学的全能型原子力显微镜多功能原子力显微镜平台，满足纳米级测量的需求原子力显微镜（AFM)有纳米级分辨率成像以及电，磁，热和机器性能测量的能力。纳米管扫描系统可用于高分辨率扫描离子电导显微镜（SICM).倒置光学显微镜（IOM）便于透明材料研究和荧光显微镜一体化。—————————————————————————————————————————通过验证的NX10性能通过倒置光学显微镜样品平台，Park NX12将Park原子力显微镜的多功能性和准确性相结合。这使得使用者更容易的使用纳米管技术去研究透明，不透明，或软或硬的样品。出众的电化测试平台电池，燃料电池，传感器和腐蚀等电化学研究是个快速增长的领域，然后许多原子力显微镜不能直接满足其特殊的需求。Park NX12的人性化设计，为快速操作提供便利，从而达到化学研究人员要求的功能性和灵活性。这主要包括：多功能易用电化学池惰性气体和湿度的环境控制选项双恒电位仪的兼容性研究人员可利用Park NX12平台实现各种电化学应用：扫描电化学显微镜(SECM)扫描电化学池显微镜(SECCM)电化学原子力显微镜（EC-AFM）和电化学扫描隧道显微镜( EC-STM)—————————————————————————————————————————考虑建立多用户设备Park NX12力求重新构建，以适应许多用户设备需求。其他原子力显微镜解决方案缺乏必要的多功能性，难以满足该设备中用户的多重需求，很难合理控制设备成本。然而，Park NX12旨在能够容纳标准环境原子力显微镜成像，液体扫描探针显微镜，光学和纳米光学成像，使其成为灵活的原子力显微镜之一。模块化设计Park NX12是专门针对专业电化学研究人员需求量身定制的原子力显微镜平台。它基于化学和电化学性质，气体和液体中介质的特性，为扫描探针显微镜提供了一个通用的解决方案，可用于广泛的不透明和透明材料。Park NX12基于其广泛的可视光投置到扫描探针的扫描探针显微镜技术的纳米管，易用性强。Park NX12具有高精准度，是多用户设备和职业研究人员的理想平台。多功能应用Park NX12功能广泛，包括液体中的PinPoint &trade 和纳米力学，倒置光学显微镜定位透明样品，离子电导显微镜软样品成像，以及改善透明样品光学性能的可视性。—————————————————————————————————————————综合性的力谱方法Park NX12提供了一种在液态和空气中的纳米力学表征的完整套餐，使其成为广泛应用中的理想选择。模块化NX12模块化设计，安装简单，兼容性强，可以满足您的多种实验需求。适合早期职业研究人员的有竞争力的价格和灵活性早期职业研究人员通常没有足够的预算购买价格高昂的原子力显微镜。Park NX12不仅是经济实惠的入门之选，同时还提供了可随着职业发展而不断壮大的模块化平台。它不同于其他价格相近的原子力显微镜，Park NX12配有先进的研究级精度和功能，可为在空气和液体中的透明和不透明材料提供其表面形态纳米级分辨率。这使得新的化学，材料科学或生物化学实验室的理想投资回报成为可能。—————————————————————————————————————————Park SmartScan&trade 自动模式下的单击成像Park NX12配备了我们的SmartScan&trade 操作系统，使其成为市场上高速易使用的原子力显微镜之一。其界面直观给力，即使是未经培训的用户也可以无需监控，快速扫描样品。这使得专业研究人员能够将他们的经验专注在解决更大的问题和开发更好的方案。易使用性共享实验室的用户通常背景各异，经验水平各异。NX12为每个用户提供简单的点击界面和自动化SmartScan&trade 模式。打开原子力显微镜系统后，具体操作如下1. 点击 “设置”系统出现一个小窗口，通过动画演示指导您如何仪器设置和放置待成像的样品。一般情况下，这一步仅需几分钟。2. 点击 “定位”系统自动对悬臂进行频率扫描，让 Z 轴扫描仪向样品靠近，并自动对焦样品，使用户看到成像目标区域后进行操作，移动到目标区域。3. 点击 “成像”系统设置实现优化设置所必要的参数，然后启用悬臂，开始扫描样品。持续扫描，直至获得完整图像。结束悬臂将从样本上移开，准备进行下一次样品成像操作。—————————————————————————————————————————Park NX12 技术参数扫描器Z 扫描器柔性引导高推动力扫描器扫描范围 : 15 µ m (可选 30 µ m)高度信号噪声等级: 30 pm0.5 kHz bandwidth, rms (typical)XY 扫描器闭环控制的柔性引导XY扫描器扫描范围 : 100 µ m × 100 µ m驱动台Z 位移台行程范围 : 25 mm (Motorized)聚焦样品台行程范围 : 15 mm (Motorized)XY位移台行程范围 : 10 mm x 10 mm (Motorized)样品架样品尺寸 : 开放空间 up to 50 mm x 50 mm, 厚度 up to 20 mm (建议使用 SPM 模式的样品尺寸小于 40 x 40 mm)样品重量 : 500 g光学10倍 (0.23 N.A.)超长工作距离镜头 (1µ m分辨率)样品表面和悬臂的直观同轴影像视野 : 840 × 630 µ m (带10倍物镜)CCD : 500万像素。120万像素 (可选)软件SmartScan&trade AFM系统控制和数据采集的专用软件智能模式的快速设置和简易成像手动模式的高级使用和更精密的扫描控制XEIAFM数据分析软件电子集成功能4通道数字锁相放大器弹性系数校准(热方法，可选)数据Q控制AFM 模式(*可选项)标准成像真正非接触式原子力显微镜PinPoint&trade 原子力显微镜接触式原子力显微镜横向力显微镜 (LFM)相位成像轻敲式原子力显微镜力测量力-距离(F/d)光谱力谱成像 介电/压电性能*静电力显微镜 (EFM)动态接触式静电力显微镜 (EFM-DC)压电力显微镜 (PFM)高压压电力显微镜机械性能力调制显微镜 (FMM)纳米压痕*纳米刻蚀*高压纳米刻蚀*纳米操纵*磁学特性*磁力显微镜 (MFM)可调制磁力显微镜电性能导电原子力显微镜 (C-AFM)*IV 谱线*扫描开尔文探针显微镜 (KPFM)扫描电容显微镜 (SCM)*扫描电阻显微镜 (SSRM)*扫描隧道显微镜 (STM)*光电流测绘 (PCM)*化学性能*功能化探针的化学力显微镜电化学显微镜 (EC-AFM)原子力显微镜选项电化学电池电化学电池通用液体电池的电化学工具包电化学选项恒电位仪双恒电位仪 温度控制温控台 1 -25 °C to +170 °C温控台 2 Ambient to +250 °C温控台 3 Ambient to +600 °C液下探针柄专为在一般液体环境中成像而设计对大多数包括酸在内的缓冲溶液具有抗腐蚀性可在液体中进行接触式和非接触式原子力显微镜成像隔音罩独立型 AE 204Z 扫描头15 μm Z Scanner AFM head30 μm Z Scanner AFM head15 μm Z Scanner SICM module30 μm Z Scanner SICM module环境控制选项手套箱活细胞室液体池通用液体池有液体/气体灌注的开放式或封闭式液体池 温度控制范围: 0 °C to +110 °C (in air), 4 °C to +70 °C (with liquid)电化学池开放式液体池磁场发生器施加平行于样品表面的外部磁场可调磁场范围 : -300 ~ 300 gauss由纯铁芯和两个电磁线圈组成高级模式的入门套件易用于包含专用探针和样品的高级模式

多功能原子力显微镜-AFM利用微悬臂下方的探针和样品表面距离缩小到纳米级，探针和样品表面的分子间作用力使得悬臂受力形变。探针针尖和样品之间的作用力与距离有强烈的依赖关系，即可以通过检测悬臂受力的弯曲程度,从而获得样品表面形貌信息。不同于电子显微镜只能提供二维图像，多功能原子力显微镜-AFM能提供真实的三维表面图。同时,AFM不需要对样品的任何特殊处理,如镀铜或碳，这种处理对样品会造成不可逆转的伤害。第三，电子显微镜需要运行在高真空条件下,原子力显微镜在常压下甚至在液体环境下都可以良好工作。这样可以用来研究生物宏观分子,电池材料，甚至活的生物组织。利用微悬臂探针结构对导体、半导体、绝缘品等固体材料进行三维样貌表征,纵向噪音水平低至0.03nm(开环)，可实现样品表面单个原子层结构形貌图像绘制。AFM最大的特点是可以测量表面原子之间的力,AFM可测量的最小力的量级为10-14-10-16N。多功能原子力显微镜-AFM还可以测量表面的弹性,塑性、硬度、黏着力等性质,AFM还可以在真空,大气或溶液下工作,在材料研究中获得了广泛的研究。多功能原子力显微镜-AFM由本公司自主研发,稳定性强，可拓展性良好，提供定制服务 可拓展横向力显微镜 静电力显微镜 磁力显微镜 扫描开尔文探针显微镜 刻蚀和纳米操作等。该产品作为高速、高精度物质形貌表征工具,可以为高端科研与企业生产研发提供更多的选择与助力。 具体产品介绍详见下图：

AFM5500M是操作性和测量精度大幅提高，配备4英寸自动马达台的全自动型原子力显微镜。设备在悬臂更换，激光对中，测试参数设置等环节上提供全自动操作平台。新开发的高精度扫描器和低噪音3轴感应器使测量精度大幅提高。并且，通过SEM-AFM共享坐标样品台可轻松实现同一视野的相互观察分析。特点1. 自动化功能高度集成自动化功能追求高效率检测，降低检测中的人为操作误差2. 可靠性排除机械原因造成的误差，大范围水平扫描采用管型扫描器的原子力显微镜，针对扫描器圆弧运动所产生的曲面，通常通过软件校正方式获得平面数据。但是，用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响，图片上经常发生扭曲效果。AFM5500M搭载了新研发的水平扫描器，可实现不受圆弧运动影响的准确测试。高精角度测量普通的原子力显微镜所采用的扫描器，在竖直伸缩的时候，会发生弯曲（crosstalk）。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。AFM5500M中搭载的全新扫描器，在竖直方向上不会发生弯曲（crosstalk） ，可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像。3. 融合性亲密融合其他检测分析方式通过SEM－AFM的共享坐标样品台，可实现在同一视野快速的观察分析样品的表面形貌，结构，成分，物理特性等。上图是AFM5500M拍摄的形貌像（AFM像）和电位像（KFM像）分别和SEM图像叠加的应用数据。 通过分析AFM图像可以判断，SEM对比度表征石墨烯层的厚薄。 石墨烯层数不同导致表面电位（功函数）的反差。 SEM图像对比度不同，可以通过SPM的高精度3D形貌测量和物理特性分析找到其原因。与其他显微镜以及分析仪器联用正在不断开发中。

原子力显微镜（工业型）产品简介基于专利的、源自德国的主动式针尖技术，百及纳米科技开发了下一代工业智能型原子力显微镜系统，针对工业领域应用提供快速、智能的样品形貌表征，适用于工业型检错、质量评定和量化测量等，尤其适用于检测大尺寸晶圆或光学晶圆。系统集成了大尺寸样品位移台、全自动光学导航系统和配套自动控制软件，可对大尺寸样品进行的光学成像定位，根据光学成像结果自动标定多个准确测量区域，并根据缺陷/待测结构的特点进行模式识别，智能选取原子力显微镜测量参数，在样品多个位置间自动移动，进行可重复的高分辨率测量，生成检测书面报告，整个过程无需人工参与，实现对大尺寸样品形貌的智能化、自动化的高速、高质量纳米级测量。产品特点： 顶级自动化功能、测量过程无需激光调节、即插即用式针尖更换方案、快速自动进针， 针对高深宽比的沟槽或孔洞结构，采用特制的长针尖提供微纳米结构的三维形貌准确测量， 可升级至多针尖并行测量模式，大幅提高微纳结构表征的范围和效率， 可升级为基于针尖光刻的微纳米结构高性能加工系统，大气环境下快速直写5nm以下结构。功能指标样品尺寸100 mm x 100 mm (4英寸) 至 300 mm x 300 mm (12英寸)成像分辨率优于1 nm (水平方向：0.3 nm, 垂直方向：0.2 nm)样品台定位精度运动精度优于1nm，重复精度优于10nm，采用闭环回路定位准确控制。单场扫描范围 (X, Y, Z)35μm x 35μm x 10μm （备选: 100μm x 100μm x 30μm）测量模式1. 非接触式（形貌、相位、误差） 接触式&力曲线2. 扩展模式(导电探针(C-AFM)、开尔文探针力显微镜 (KPFM)、磁力显微镜 (MFM)、扫描针尖光刻 (SPL)等)

仪器简介：NTEGRA平台是一个革命性的技术概念，在拥有所有SPM技术：原子力/磁力/静电力/表面电势/导电原子/扫描电容/压电力/纳米刻蚀等功能的同时，还能配备近场光学显微镜/共聚焦拉曼/外加磁场/超声原子力/纳米压痕等功能！。Prima则是这个平台中的基础SPM，可以在此基础上根据科 研需求提供多达40 中SPM 功能，其中的每种功能都有一套在其专业领域有着杰出表现的独特配置。可选择配备独一无二的双扫描结构可以将扫描范围扩展最大到200x200um。技术参数：在大气环境下：扫描隧道显微镜/ 原子力显微镜(接触 +半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/力谱线/粘附力成像/磁力显微镜/静电力显 微镜/扫描电容显微镜/开尔文探针显微镜/扩展电阻成像/纳米压痕/刻蚀: 原子力显微镜(电压+力)/压电力模式/超声原子力/外加磁场/温度控制/气氛控制等功能。在液体环境下：原子力显微镜(接触+半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/粘附力成像/力谱/刻蚀:测量头部：AFM和SPM可选配液相模式和纳米压痕测量头 扫描方式：样品扫描、针尖扫描、双扫描最大样品尺寸：样品扫描：直径40mm，厚度15mm。针尖扫描：样品无限制 XY样品定位装置：移动范围5× 5um，精度5um 扫描范围：90× 90× 9um（带传感器/闭环控制），可选配低电压模式实现原子级分辨XY方向非线性度：&le 0.5%（带传感器/闭环控制） Z方向噪音水平（带宽1000Hz时的RMS值）：闭环控制扫描器（典型值0.04nm，最大0.06nm）光学显微系统：配备高数值孔径物镜后，分辨率可由3um提升至1um样品温度控制：室温~300℃ 主要特点：Ntegra Prima 是一个基本的SPM 系统，在这平台上可以根据科研需要提供40 种SPM 功能。 Ntegra Aura 是一款能在气氛控制以及低真空环境下工作的SPM，专门用于电磁等测量。 Ntegra Therma 只有10nm/h 热漂移能长时间可靠工作，并且能在-30℃~300℃环境下测量。 Ntegra Maximus 能够测量100mm 的大样品，在半自动模式下可以连续工作。 Ntegra Solaris 是一款近场光显微镜，能够提供所有近场探测模式，从而突破衍射极限。 Ntegra Vita 能与倒置显微镜联用，专门用于生物方面的检测。 Ntegra Tomo 能与超薄切片机联用，且制备用于研究的纳米片层的新鲜表面（也适用于电镜）。 Ntegra Spectra 集成了AFM-SNOM-Confocal-Raman 从而实现针尖增强（TERS）

【产品简介】　　Nanofirst3600Ｂ是一款完全由苏州海兹思纳米科技有限公司自主研发、设计、生产的高性价比的原子力显微镜（AFM），本产品获得了1７项国家专利，并成功省报了智能化高精度三维轮廓仪研制项目和智能化高精度原子力轮廓仪项目。 　　该产品具有性能稳定，操作简便和实用性强等优点，可实现高分辨纳米、亚纳米测试。适合于高校纳米科技教学、科学研究、纳米材料及粉体分析、电化学测量、生物制药和工业现场测试。作为专业AFM制造商，海兹思具有十多年的AFM技术经验和积累，能够提供及时的专业技术支持和售后服务。【实验箱配件列表】 1. 3600B型原子力显微镜，包括：(1)AFM主机；(2)控制系统；(3)防震隔音箱及外围设备。 2. 工具盒：钳子、镊子、样品基片、轻敲探针、接触探针等。 3. 软件安装盘。【特点用途】 ●为科研和教学应用设计，用于各类纳米材料样品测量表征； ●关机电一体式结构设计，使用操作更加人性化； ●集成接触模式和动态力模式原子力显微镜、摩擦力显微镜功能； ●多通道图像同步采集显示，实时观测形貌图、摩擦力图、振幅图等； ●定点实时测试F-Z曲线、f-RMS曲线、RMS-Z曲线等多种曲线功能； ●设置“扫描频率安全上限”功能，可限制最快扫描频率，保护探针； ●图像获取文件连续存盘和自定义文件名，当前全部工作环境参数同步保存功能； ●配备高精度二维纳米移动装置，可实现样品扫描区域精确定位； ●高精度探针-样品定位系统，配备可变倍光学放大CCD观测系统，直接定位到高倍CCD任意可视的微米级区域进行扫描； ●高精度和大范围的压电陶瓷扫描器，可根据不同京都和扫描范围选择； ●支持扫描器灵敏度在线校正功能，对扫描精度可实行实时校正； ●可增配模式：磁力、相位和静电力。【主要技术指标】

产品特点：GATTA-AFM纳米标尺具有准确、高度平行的结构，可以完美地用于检测或优化原子力显微镜。在实际环境中测试原子力显微镜可以达到的分辨率非常重要，不仅可以测出原子力显微镜达到产品标称分辨率的可能性，还可以测出实际使用时可达到的极限。如今GATTA也提供适合测试的GATTA-AFM纳米标尺，现在，有了GATTA原子力显微镜纳米标尺之后，就有了足够的测试样品，这些样本用DNA做成，呈现70nm*90nm*2nm（高）的长方体形状。技术参数：

Bruker原子力显微镜-- Dimension FastScan Bruker公司的AFM具有多项zhuan li技术，以其卓yue的性能广泛应用于科研和工业界各领域Dimension FastScanTM 原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM），在不损失Dimension Icon超高的分辨率和卓yue的仪器性能前提下，zui大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新，从根本上解决了AFM成像速度慢的难题，大大缩短了各技术水平的AFM用户获得高质量数据的时间,是世界上扫描速度zui快的原子力显微镜。 应用：应用于科研和工业界各领域，涵盖了聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，MEMS制造，金属/合金/金属蒸镀的性质研究，液晶材料性能表征，分子器件，生物传感器，分子自组装结构，光盘存储，薄膜性能表征等领域的监测等各类科研和生产工作。原子力显微镜的工作模式是以针jian与样品之间的作用力的形式来分类的。主要有以下3种操作模式：接触模式（contact mode) ，非接触模式（ non - contact mode) 和敲击模式( tapping mode）。 特征：u 高xiao率 l 在空气或液体中成像速度是原来速度的 100 倍，自动激光调节和检测器调节，智能进针，大大缩短了实验时间。 l 自动测量软件和高速扫描系统完mei结合，大幅提高了实验数据的可信度和可重复性。 u 高分辨率 l FastScan 精确的力控制模式提高图像分辨率的同时，延长了探针的使用寿命。扫描速度 20Hz 时仍能获得高质量的 TappingModeTM图像，扫描速度 6Hz 仍能获得高质量的ScanAsyst 图像。 l 低噪音，温度补偿传感器展现出亚埃级的噪音水平。 u 在任何样品上均有表现 l 闭环控制的 Icon和 FastScan扫描管极大地降低了 Z方向噪音，使它们 Z 方向的噪音水平分别低于 30pm 和 40 pm，具有极低的热漂移率，可得到超高分辨的真实图像。 l Fast Scan 可以对不同样品进行测量，保证高度从埃级到 100 多纳米的样品高精度无失真扫描

AFM5500M是操作性和测量精度大幅提高，配备4英寸自动马达台的全自动型原子力显微镜。设备在悬臂更换，激光对中，测试参数设置等环节上提供全自动操作平台。新开发的高精度扫描器和低噪音3轴感应器使测量精度大幅提高。并且，通过SEM-AFM共享坐标样品台可轻松实现同一视野的相互观察分析。特点 1. 自动化功能 高度集成自动化功能追求高效率检测 降低检测中的人为操作误差 ? 4英寸自动马达台 自动更换悬臂功能2. 可靠性排除机械原因造成的误差大范围水平扫描 采用管型扫描器的原子力显微镜，针对扫描器圆弧运动所产生的曲面，通常通过软件校正方式获得平面数据。但是，用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响，图片上经常发生扭曲效果。AFM5500M搭载了最新研发的水平扫描器，可实现不受圆弧运动影响的准确测试。 样品 ：硅片上的非晶硅薄膜高精角度测量 普通的原子力显微镜所采用的扫描器，在竖直伸缩的时候，会发生弯曲（crosstalk）。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。AFM5500M中搭载的全新扫描器，在竖直方向上不会发生弯曲（crosstalk） ，可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像。 样品 : 太阳能电池(由于其晶体取向具有对称结构) * 使用AFM5100N（开环控制）时 3. 融合性亲密融合其他检测分析方式通过SEM－AFM的共享坐标样品台，可实现在同一视野快速的观察分析样品的表面形貌，结构，成分，物理特性等。 SEM-AFM在同一视野观察实例（样品：石墨烯/SiO2） 上图是AFM5500M拍摄的形貌像（AFM像）和电位像（KFM像）分别和SEM图像叠加的应用数据。 通过分析AFM图像可以判断，SEM对比度表征石墨烯层的厚薄。 石墨烯层数不同导致表面电位（功函数）的反差。 SEM图像对比度不同，可以通过SPM的高精度3D形貌测量和物理特性分析找到其原因。 与其他显微镜以及分析仪器联用正在不断开发中。

仪器简介：NTEGRA平台是一个革命性的技术概念，在拥有所有SPM技术：原子力/磁力/静电力/表面电势/导电原子/扫描电容/压电力/纳米刻蚀等功能的同时，还能配备近场光学显微镜/共聚焦拉曼/外加磁场/超声原子力/纳米压痕等功能！。Prima则是这个平台中的基础SPM，可以在此基础上根据科 研需求提供多达40 中SPM 功能，其中的每种功能都有一套在其专业领域有着杰出表现的独特配置。可选择配备独一无二的双扫描结构可以将扫描范围扩展最大到200x200um。技术参数：在大气环境下：扫描隧道显微镜/ 原子力显微镜(接触 +半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/力谱线/粘附力成像/磁力显微镜/静电力显 微镜/扫描电容显微镜/开尔文探针显微镜/扩展电阻成像/纳米压痕/刻蚀: 原子力显微镜(电压+力)/压电力模式/超声原子力/外加磁场/温度控制/气氛控制等功能。在液体环境下：原子力显微镜(接触+半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/粘附力成像/力谱/刻蚀:测量头部：AFM和SPM可选配液相模式和纳米压痕测量头 扫描方式：样品扫描、针尖扫描、双扫描最大样品尺寸：样品扫描：直径40mm，厚度15mm。针尖扫描：样品无限制 XY样品定位装置：移动范围5×5um，精度5um 扫描范围：90×90×9um（带传感器/闭环控制），可选配低电压模式实现原子级分辨XY方向非线性度：≤0.5%（带传感器/闭环控制） Z方向噪音水平（带宽1000Hz时的RMS值）：闭环控制扫描器（典型值0.04nm，最大0.06nm）光学显微系统：配备高数值孔径物镜后，分辨率可由3um提升至1um样品温度控制：室温~300℃ 主要特点：Ntegra Prima 是一个基本的SPM 系统，在这平台上可以根据科研需要提供40 种SPM 功能。 Ntegra Aura 是一款能在气氛控制以及低真空环境下工作的SPM，专门用于电磁等测量。 Ntegra Therma 只有10nm/h 热漂移能长时间可靠工作，并且能在-30℃~300℃环境下测量。 Ntegra Maximus 能够测量100mm 的大样品，在半自动模式下可以连续工作。 Ntegra Solaris 是一款近场光显微镜，能够提供所有近场探测模式，从而突破衍射极限。 Ntegra Vita 能与倒置显微镜联用，专门用于生物方面的检测。 Ntegra Tomo 能与超薄切片机联用，且制备用于研究的纳米片层的新鲜表面（也适用于电镜）。 Ntegra Spectra 集成了AFM-SNOM-Confocal-Raman 从而实现针尖增强（TERS）

仪器简介：NTEGRA平台是一个创新性的技术概念，在拥有所有SPM技术：原子力/磁力/静电力/表面电势/导电原子/扫描电容/压电力/纳米刻蚀等功能的同时，还能配备近场光学显微镜/共聚焦拉曼/外加磁场/超声原子力/纳米压痕等功能！。Prima则是这个平台中的基础SPM，可以在此基础上根据科 研需求提供多达40 中SPM 功能，其中的每种功能都有一套在其专业领域有着杰出表现的独特配置。可选择配备独特的双扫描结构可以将扫描范围扩展到200x200um。技术参数：在大气环境下：扫描隧道显微镜/ 原子力显微镜(接触 +半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/力谱线/粘附力成像/磁力显微镜/静电力显 微镜/扫描电容显微镜/开尔文探针显微镜/扩展电阻成像/纳米压痕/刻蚀: 原子力显微镜(电压+力)/压电力模式/超声原子力/外加磁场/温度控制/气氛控制等功能。在液体环境下：原子力显微镜(接触+半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/粘附力成像/力谱/刻蚀:测量头部：AFM和SPM可选配液相模式和纳米压痕测量头 扫描方式：样品扫描、针尖扫描、双扫描样品尺寸：样品扫描：直径40mm，厚度15mm。针尖扫描：样品无限制 XY样品定位装置：移动范围5×5um，精度5um 扫描范围：90×90×9um（带传感器/闭环控制），可选配低电压模式实现原子级分辨XY方向非线性度：≤0.5%（带传感器/闭环控制） Z方向噪音水平（带宽1000Hz时的RMS值）：闭环控制扫描器（典型值0.04nm，不超过0.06nm）光学显微系统：配备高数值孔径物镜后，分辨率可由3um提升至1um样品温度控制：室温~300℃ 主要特点：Ntegra Prima 是一个基本的SPM 系统，在这平台上可以根据科研需要提供40 种SPM 功能。 Ntegra Solaris 是一款近场光显微镜，能够提供所有近场探测模式，从而突破衍射极限。 Ntegra Spectra 集成了AFM-SNOM-Confocal-Raman 从而实现针尖增强（TERS）

百及纳米ParcanNano 高速原子力显微镜AFM系统 产品简介公司以全球独家专利的探针技术为核心竞争力，技术源自于德国伊尔默瑙工业大学 Rangelow 教授，致力于主动式探针技术在微纳米结构制备和表征方面的研发，及其相关设备的产业化。 本款扫描探针显微镜使用主动式智能探针，集传感器、驱动器和可功能化的探针于一身，实现自激发和自传感，无需复杂的激光校准，是取代现有 AFM 激光传感的巨大改进，具有极高性价比优势。该系统可在大气、液态及真空环境下实现对微纳米结构的高速、高效表征，成像精度达到 0.3 nm 的极限精度。 产品拥有像美国麻省理工学院、加州伯克利国家实验室、荷兰德尔夫特大学和清华大学等国内外知名科研客户，以及韩国三星、荷兰 ASML 等高端工业客户。扫描示例：

艾博纳原子力显微镜（AFM）维持纳米研究的前沿技术，具有原子级超高分辨率，高水平的性能。可在大气和液体环境中对样品进行探测或进行纳米操控。其测试功能强大、操作简单，除配备接触模式、非接触模式、轻敲模式，也可选配用户需要的模式。我们的系统经过专业的设计，可对测试结果进行各类数据分析，更加方便、快捷完成测试需求。 艾博纳原子力显微镜（AFM）配备了高精度的电 动X、Y、Z轴平移台，具备滚珠丝杠和交叉滚柱导轨，确保了精确的样品操作和定位。此外，该设备具有研究级的顶视视频光学显微镜，提供清晰的样 品观察。它还包括多个扫描仪，以优化扫描条件， 支持系统的定制和扩展。设备的模块化设计允许用 户根据需求添加额外的功能和模式，如图像记录器 、光刻和液体扫描。简易的探头更换机制和激光杆的广泛调节范围提供了额外的操作便利。

仪器简介：Nanite 原子力显微镜系统是纳米测量和成像的完美工具。该系统提供三维数据。原子力显微镜测量是非破坏性的，无需制备样品。此外，机械运动平台允许批量的，预编程测量，使用大型花岗岩自动X/Y/Z样品台可测试尺寸达180mm样品的不同区域，用户甚至可以定制更大的移动样品台。Nanite设计灵活、操作简单，是您理想的全自动研究级AFM系统。瑞士Nanosurf公司，全球知名的专业研发扫描探针原子力显微镜制造商和技术服务供应商，在扫描探针原子力显微镜领域有超过15年的研发经验，一直致力于新型扫描探针原子力显微镜的创新性研发和制造。目前已推出新一代低噪音-快速扫描-超高稳定性的AFM 和大扫描范围Nanite AFM系统。瑞士Nanosurf公司承诺提供最高品质的服务和客户支持，同时还提供纳米技术的OEM 客户定制，外包等业务。技术参数：原子力显微镜测量模式: 接触式原子力显微镜，真正非接触式原子力显微镜，横向力/摩擦力显微镜（LFM），导电原子力显微镜，磁力显微镜（MFM），开尔文探针（Kelvin Probe），扫描热原子力显微镜（SThM），电容和静电力显微镜（EFM），高级的纳米光刻和纳米操作能力，音叉原子力显微镜，三维扫描成像。 ● 原子力显微镜扫描器最大测量范围：110um X & Y range，22um Z range ● 大尺寸样品台，全自动测量最大直径为160mm样品。 ● PZT/Voice Coil双模式技术AFM ● 全自动运动平台，马达驱动 ● 专利批处理软件，自动图像拼接缝合技术，可以测量超大样品的三维形貌像 ● 先进的32-bit DSP控制器，专利反馈技术(扫描范围10um时最高扫描20 Hz,消除爬行现象) ● 可以进行纳米压痕和划痕实验 ● 专利光学系统， XY闭环扫描技术 ● 独特开放性软硬件构架设计, 并开放所有源代码供您的二次开发主要特点：● 原子力显微镜扫描器最大测量范围：110um X & Y range，22um Z range● 大尺寸样品台，全自动测量最大直径为160mm样品。● PZT/Voice Coil双模式技术AFM● 全自动运动平台，马达驱动● 专利批处理软件，自动图像拼接缝合技术，可以测量超大样品的三维形貌像● 先进的32-bit DSP控制器，专利反馈技术(扫描范围10um时最高扫描20 Hz,消除爬行现象)● 可以进行纳米压痕和划痕实验● 专利光学系统， XY闭环扫描技术● 独特开放性软硬件构架设计, 并开放所有源代码供您的二次开发