导体损伤程度试验装置

别名：建筑涂料透水性试验装置（漏斗）、卡斯通管

医用注射器拉拔试验装置 英斯特朗5544电子万能材料试验系统和标准的压盘装置可以测试医用注射器拉拔性能

一、产品介绍 1、非损伤微测系统专用流速传感器（组织样品专用传感器8-10um） 型号：XY-CGQ01 价格：68元/支，10支起订 本传感器适用于测定组织样品的所有离子传感器，特别针对Cl-、NO3-、NH4+测试时信号采集不稳定而开发出的新型传感器，使得测定上述三种离子时，信号的稳定性大大提高。 技术参数： 材料：硼硅酸盐玻璃微管 长度：50毫米 尖端直径：8-10微米 末端直径：外径1.5毫米/内径1.05毫米 管壁厚度：0.225微米 响应时间：300毫秒 空间分辨率：5微米2、非损伤微测系统专用流速传感器（组织样品专用传感器4-5um） 型号：XY-CGQ-01 价格：68元/支，10支起订 用于非损伤测量组织样品专用的流速传感器 技术参数： 材料：硼硅酸盐玻璃微管 长度：50毫米 尖端直径：4-5微米 末端直径：外径1.5毫米/内径1.05毫米 管壁厚度：0.225微米 响应时间：300毫秒 空间分辨率：5微米3、非损伤微测系统专用流速传感器（细胞样品专用传感器1-2um） 型号：XY-CGQ-02 价格：79元/支，10支起订 用于非损伤测量细胞样品专用的流速传感器 技术参数： 材料：硼硅酸盐玻璃微管 长度：50毫米 尖端直径：1-2微米 末端直径：外径1.5毫米/内径1.05毫米 管壁厚度：0.225微米 响应时间：300毫秒 空间分辨率：5微米4、膜电位专用流速传感器 型号：XY-CGQ-03 价格: 51元/支，10支起订 专门用于测量膜电位的流速传感器 技术参数： 材料：硼硅酸盐玻璃微管 导液丝：有 长度：50毫米 尖端直径：1-2微米 末端直径：外径1.5毫米/内径0.84毫米 管壁厚度：0.33微米 响应时间：300毫秒 空间分辨率：5微米5、离子交换剂微容器(LIX Holder 载体) 型号：XY-LIX-01 价格: 34元/支，10支起订 装载离子交换剂的微量容器 技术参数： 材料：硼硅酸盐玻璃微管 长度：50毫米 尖端直径：35-45微米 末端直径：外径1.5毫米/内径1.05毫米 管壁厚度：0.225微米 6、膜电位专用流速传感器 型号：XY-CGQ-04 价格: 34元/支，10支起订 用于传感器动态校正 技术参数： 材料：硼硅酸盐玻璃微管 长度：50毫米 尖端直径：10微米 末端直径：外径1.5毫米/内径1.05毫米 管壁厚度：0.225微米

?小型半导体冷热冲击试验箱；中型冷热冲击试验箱用途 Application小型半导体冷热冲击试验箱；中型冷热冲击试验箱用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温和极低温的连续环境下所能承受的程度，借以在最短时间内试验其因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害，适用的对象包括金属、塑料、橡胶、电子。。。等材料，可作为其产品改进的依据或参考。◆小型半导体冷热冲击试验箱；中型冷热冲击试验箱特点 Features一、三箱设备区分为高温区、低温区、测试区三部分，测试样品完全静止于测试区。采用独特之蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击,完成冷热温度冲击测试。二、可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，执行冷热冲击条件时，可选择2箱或3箱之功能并具有高低温试验机的功能,相比于2箱冲击它还可选择做常温冲击。◆执行与满足标准 Standards implemented and met.GB/T2423.1-2008 低温试验方法Test method of low tempemture testGB/T2423.2-2008 高温试验方法Test method of high temperature testGB/T2423.22-2012 温度变化试验Test of temperature chantgeGJB150.5-86温度冲击试验Test of temperature shockGJB360.7-87温度冲击试验Test of temperature shockGJB367.2-87温度冲击试验Test of temperature shockQC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等◆多种欧美名牌企业进口压缩机（Compressor）为达到顾客对产品做极低的温度测试，爱佩科技为设备配备了复叠式制冷系统。并采用低温级为R23或R508B，高温级为R404或R507的“绿色环保”制冷剂，根据美国环保部门标准，该类制冷剂禁用日期还未确定；为使该制冷系统获取更佳的制冷效果，爱佩科技为机械配备了世界著名企业法国泰康（TECUMSEH）公司生产的全封闭式压缩机，对于设备制冷有更高要求的则采用德国比泽比（Bitzer）或德国谷轮公司（DWM COPELAND）生产的半封闭式压缩机，顾客可以很方便的从制冷行业中购买到其配件乃整机，不用担心售后麻烦及维修成本。 2、温度范围及升降温恢复时间可安客户要求非标订制 ※ 注：1、另可供客户尺寸大小非标订制 3、温度分布均匀测试方法，依照内箱离各边1/10距离有效空间量测。安全装置漏电断路器（200.220.380V AC）配线用断路器（400/41 5V AC）高温试验箱温度过升防止用温度开关低温试验箱温度过升防止用温度开关试验区温度过升过冷防止器（控制器）试验区温度过冷过冷防止器（另外装备）高温试验箱温度过升防止器（控制器） 低温试验箱温度过升防止器（控制器）

小型半导体恒温恒湿试验箱；中型恒温恒湿试验箱售后服务◆ 负责将设备运输到客户指定地点的一楼，并承担相关费用◆ 工程师亲自上门，免费安装调试设备至正常运作◆ 工程师会免费培训贵公司设备使用人员，使其具备日常操作及维护之能力◆ 发货之日起，对设备进行免费保固壹年（天灾、电力异常、操作及保养不当、自行检修或改装而造成的损坏除外）；半年一次到厂定期保养；技术支援终生免费◆ 我司技术力量雄厚，对其他厂家的环试产品（包含国外同类产品）也能提供维修、改造、升级和长期的维护服务，欢迎来电咨询。小型半导体恒温恒湿试验箱；中型恒温恒湿试验箱安全功能：1.独立限温报警系统，超过限制温度即自动中断运行，并声光报警提示操作者。保证实验安全运行不发生意外。2.温度偏高、偏低和超温报警。3.压缩机过热、过流、过载保护，风机过热保护，缺水保护等。方便的数据处理（选配)可连接打印机或485通讯接口，具有USB数据转移接口（U盘），用电脑显示，并打印温湿度和时间曲线，为试验过程数据储存与回放提供有力保证。 用途范围：小型半导体恒温恒湿试验箱；中型恒温恒湿试验箱适用于生物化工、航空航天产品、信息电子仪器仪表、材料、电工、电子产品、各种电子元器件在高低温或湿热环境下，检验其各项性能指标。小型半导体恒温恒湿试验箱；中型恒温恒湿试验箱产品特点：1.国际品牌压缩机和循环风机，使温度分布均匀。环保制冷剂（R134a）效率高，能耗低，促进节能。2.独特风道循环系统，保证工作室温湿度均匀，直径￠25mm测试孔，便于操作于测试。3.采用进口304镜面不锈钢内胆，四角半圆弧过渡，搁板支架可以自由装卸，便于箱内的清洗工作。4.多段可编程控制，可以简化复杂的试验过程，真正实现自动控制和运行。（交变箱具有此功能）产品设计：1.顺应世界环保潮流，全新无氟设计，绿色环保。2.采用干湿球式或电容式湿度传感器，多功能多段可编程温湿度控制器，模糊PID控制器，控温控湿精确波动小。3.进口温湿度控制器寿命长，高精度CFL20字×6行LCD显示器，键盘输入，操作简便。小型半导体恒温恒湿试验箱；中型恒温恒湿试验箱规格型号：型号AP-HX-80AP-HX-150AP-HX-225AP-HX-408AP-HX-800AP-HX-1000内容积(L)801502254088001000内部尺寸(cm)40×50×4050*60*5050×75×6060×85×80100×100×85100×100×100外部尺寸(cm)90*90*15095*150*10595×165×115105×175×135145×190×135145×190×155重量(Kg)300320350400600700性能温度范围-73℃，-60℃-40℃，-20℃，0℃， 150℃， 180℃湿度范围20%RH ～98%RH温度波动度±0.5℃升温速率≥3°C/min降温速率≥1°C/min材料内体材料SUS304镜面不锈钢板外壳材料SUS304拉丝不锈钢板或防锈处理冷轧钢板（喷塑）绝缘材料恒温恒湿箱专用超细玻璃棉 聚胺脂泡沫调节器制冷方式机械式二元制冷方式制冷机全封闭（法国泰康或德国谷轮）压缩机制冷剂R23/ R404A冷凝方式风冷或水冷加热器镍铬合金不锈管加热器鼓风机离心风机气流方式宽带式强迫气流循环（上出下进）控制器操作界面恒温恒湿机专用液晶触摸显示屏，中英文切换运转方式恒定运转、程序运转程序记忆容量120组可编程序、每个程序最大999（段）设定指标范围温度：-100℃ 300℃分辨率温度：0.01℃输入PT100或T型热电偶控制方式PID控制通讯功能恒温恒湿机专用RS-232接口(配送光盘)打印功能日本横河6点记录仪（选购件）附属功能上下限报警、自诊断、报警显示（故障原因）、定时装置（自动开机、关机）

顶空分析装置 ▲ LS-1型 ▲ HS-1型 顶空分析装置用于气相色谱分析，对于液体、固体或液固混合的样品，分析在常温或较高温度有一定蒸汽分压的挥发组分，能满足国家2010版国家药典规定的药品中溶剂残留的测定要求，已售出数百套，经济实用，深受广大用户的青睐。该顶空分析装置曾在第七次色谱学术报告会（北京昌平）上交流过。 规格：10ml, 20ml, 50ml, 100ml 250ml 500ml 侧孔针头是经过特殊加工处理的针头，其出口在针头的侧面，而针尖是密封的，专门用于气相色谱气体进样，不堵针，不损伤顶空瓶进样口密封垫，也不损伤气相色谱仪进样口密封垫，延长密封垫寿命，提高分析成功率。 HS-1型每套所包含物品： 序号 名称 规格 数量 1 PP聚丙稀套 　 10组/套 2 硅橡胶垫 &phi 8mm 20个/包 3 硅橡胶垫 &phi 30mm 20个/包 4 聚四氟密封垫 &phi 30mm 100个/包 5 顶空瓶 10-100毫升　 12个 6 侧孔针头 5.5#-7# 10只 7 玻璃注射器 1毫升 1个 8 气密性进样器 1毫升 1个 9 干式加热器 常温+10-120℃　 1台 　 10 两个单道定时器 0-99.59min 1台 　 11 保险丝 　2A 2支 　 12 中文说明书　 1套 　 价格：HS-1型8,800.00元/套；LS-1型2,800.00元/套（包括1~7项）

FZG Test RigFZG试验台（耗材产品：齿轮）品牌：FZG型号：Test Gears Type A型号1，Test Gears Type A (20 mm)Used for tests according ISO 14635-1, DIN 51354-2 (old), ASTM D-5182, CEC –L-07-A96 Price per set (wheel and pinion)A型试验齿轮(20mm)用于按照ISO 14635-1, DIN 51354-2(旧)，ASTM D-5182, CEC -L-07-A96进行试验型号2，Test Gears Type A (10 mm)For test procedure A10/16,6/R/90 und S-A10/16,6/R/90 Price per set (wheel and pinion）测试齿轮A型(10mm)用于测试程序a10 /16,6/R/90和s - a10 /16,6/R/90(车轮和小齿轮)型号3，Test Gears Type C-PTFor test procedure: Pitting test Price per set (wheel and pinion)测试程序:点蚀试验(车轮和小齿轮)型号4，Test Gears Type C-GF (C-MPT)For test procedure: Greyshading- or Micropitting test Price per set (wheel and pinion)测试齿轮C-GF (C-MPT)测试程序:灰化或微点蚀测试(齿轮和小齿轮)型号5，Test Gears Type C-PTXFor test procedure: Practice Relevant Pitting Test Price per set (wheel and pinion)测试程序:实践相关点蚀试验(车轮和小齿轮)图片： 价格：1.45-1.6万保修期限：耗材无产地：进口（德国）适用仪器：FZG Test Rig, Flender Oil Foam Tester, Filtration Test RigFZG试验台，弗兰德油泡沫测试仪，过滤试验台产品介绍：本公司在该网站拍摄的产品都为实物。保证原产地进口。High-quality lubricating oils are used in gear and worm gear units. These can be either synthetic or mineral, according to the application. High specific loads in modern gear units mean that rigorous requirements are made on the quality of gear unit oils.高质量的润滑油用于齿轮和蜗轮传动装置。根据应用情况，这些材料可以是合成的，也可以是矿物的。现代齿轮传动装置的高比负荷意味着对齿轮传动装置油的质量有严格的要求。By mixing appropriate additives with the oil the resistance of the gears to damage through seizing, grey staining and pitting on the tooth flanks can be increased. Additives also affect the aging resistance and foam characteristics of the oil.通过将适当的添加剂与油混合，可以提高齿轮的抗卡扣、灰色染色和齿侧点蚀损伤的能力。添加剂也会影响油的耐老化性和泡沫特性。Excessive foam generation affects the load-bearing capacity of gears and bearings. Moreover, excessive foam generation in gear unit oils also causes oil leaks on shaft sealing rings and vent screws.产生过多的泡沫影响齿轮和轴承的承载能力。此外，齿轮箱油中产生的过多泡沫也会导致轴密封圈和排气螺钉漏油。Oil manufacturers normally test the foam characteristics of oils by the ANSI/ASTM D 892 method and the DIN 51566 method based on it, by which air is blown into an oil sample for a specified time. As the results of this test often does not correspond to the foam characteristics observed in gear units, a more practical test arrangement has been devised.油制造商通常通过ANSI/ASTM D 892方法和基于该方法的DIN 51566方法测试油的泡沫特性，通过该方法将空气吹入油样品中指定时间。由于这种试验的结果往往不符合在齿轮装置中观察到的泡沫特性，因此设计了一种更实际的试验安排。In the case of the Flender Oil Foaming Test System a pair of gears is rotated in the oil to be tested, thereby mixing air into the oil. In this way the behaviour of oils with regard to air absorption, oil-air dispersion and surface foam and their degeneration can be quickly tested in the test apparatus and under marginal conditions of the kind occurring in gear units在Flender油泡沫测试系统中，一对齿轮在待测油中旋转，从而将空气混合到油中。这样，油在空气吸收、油-气分散和表面泡沫方面的性能及其退化就可以在试验装置和齿轮装置中发生的那种边缘条件下迅速试验出来售后服务：产品货期：3-6个月（部份型号有现货）电话支持响应：24小时内。无理由退换货：不支持是否提供合同：是提供产品资料：是（出厂测试资料）

FZG Test RigFZG试验台（耗材产品：齿轮）品牌：FZG型号：Test Gears Type A型号1，Test Gears Type A (20 mm)Used for tests according ISO 14635-1, DIN 51354-2 (old), ASTM D-5182, CEC –L-07-A96 Price per set (wheel and pinion)A型试验齿轮(20mm)用于按照ISO 14635-1, DIN 51354-2(旧)，ASTM D-5182, CEC -L-07-A96进行试验型号2，Test Gears Type A (10 mm)For test procedure A10/16,6/R/90 und S-A10/16,6/R/90 Price per set (wheel and pinion）测试齿轮A型(10mm)用于测试程序a10 /16,6/R/90和s - a10 /16,6/R/90(车轮和小齿轮)型号3，Test Gears Type C-PTFor test procedure: Pitting test Price per set (wheel and pinion)测试程序:点蚀试验(车轮和小齿轮)型号4，Test Gears Type C-GF (C-MPT)For test procedure: Greyshading- or Micropitting test Price per set (wheel and pinion)测试齿轮C-GF (C-MPT)测试程序:灰化或微点蚀测试(齿轮和小齿轮)型号5，Test Gears Type C-PTXFor test procedure: Practice Relevant Pitting Test Price per set (wheel and pinion)测试程序:实践相关点蚀试验(车轮和小齿轮)图片： 价格：1.45-1.6万保修期限：耗材无产地：进口（德国）适用仪器：FZG Test Rig, Flender Oil Foam Tester, Filtration Test RigFZG试验台，弗兰德油泡沫测试仪，过滤试验台产品介绍：本公司在该网站拍摄的产品都为实物。保证原产地进口。High-quality lubricating oils are used in gear and worm gear units. These can be either synthetic or mineral, according to the application. High specific loads in modern gear units mean that rigorous requirements are made on the quality of gear unit oils.高质量的润滑油用于齿轮和蜗轮传动装置。根据应用情况，这些材料可以是合成的，也可以是矿物的。现代齿轮传动装置的高比负荷意味着对齿轮传动装置油的质量有严格的要求。By mixing appropriate additives with the oil the resistance of the gears to damage through seizing, grey staining and pitting on the tooth flanks can be increased. Additives also affect the aging resistance and foam characteristics of the oil.通过将适当的添加剂与油混合，可以提高齿轮的抗卡扣、灰色染色和齿侧点蚀损伤的能力。添加剂也会影响油的耐老化性和泡沫特性。Excessive foam generation affects the load-bearing capacity of gears and bearings. Moreover, excessive foam generation in gear unit oils also causes oil leaks on shaft sealing rings and vent screws.产生过多的泡沫影响齿轮和轴承的承载能力。此外，齿轮箱油中产生的过多泡沫也会导致轴密封圈和排气螺钉漏油。Oil manufacturers normally test the foam characteristics of oils by the ANSI/ASTM D 892 method and the DIN 51566 method based on it, by which air is blown into an oil sample for a specified time. As the results of this test often does not correspond to the foam characteristics observed in gear units, a more practical test arrangement has been devised.油制造商通常通过ANSI/ASTM D 892方法和基于该方法的DIN 51566方法测试油的泡沫特性，通过该方法将空气吹入油样品中指定时间。由于这种试验的结果往往不符合在齿轮装置中观察到的泡沫特性，因此设计了一种更实际的试验安排。In the case of the Flender Oil Foaming Test System a pair of gears is rotated in the oil to be tested, thereby mixing air into the oil. In this way the behaviour of oils with regard to air absorption, oil-air dispersion and surface foam and their degeneration can be quickly tested in the test apparatus and under marginal conditions of the kind occurring in gear units在Flender油泡沫测试系统中，一对齿轮在待测油中旋转，从而将空气混合到油中。这样，油在空气吸收、油-气分散和表面泡沫方面的性能及其退化就可以在试验装置和齿轮装置中发生的那种边缘条件下迅速试验出来售后服务：产品货期：3-6个月（部份型号有现货）电话支持响应：24小时内。无理由退换货：不支持是否提供合同：是提供产品资料：是（出厂测试资料）

高低温交变湿热试验箱,可程式恒温恒湿试验箱,调温调湿试验箱,可编程低温恒温恒湿试验箱 P系列代表的是采用Q8-901中英文彩色触摸屏式人机界面（画面对谈式）电脑控制的可程式恒温恒湿试验箱.可选配USB曲线记录,数据储存装置. 用途 P系列可程式恒温恒湿试验箱广泛用于电工、电子、航天、航空、仪器仪表等行业作、材料、零部件设备等的加速湿热试验，交变温度试验，以便对试品在给定的环境条件下的行为性能作出评价。 特点 ●人机对话式触摸屏输入系统，操作简单易学，功能强大，并可于LCD画面上了解程式设定之曲线及监测过程； ●可设定程式120组，1200段，循环次数可达999次，每段时间最大设定99小时59分； ●具有RS232通信接口，可通过PC随意控制和监视，还可选配RS485接口，USB曲线记录和数据储存装置,使用便捷； ●具有9组PID参数调节，以达到稳定、精准之控制； ●具有程式修正、清除、预约、启动、停电、记忆、按键锁定等功能； ●具有多种报警功能，故障发生同时，可通过荧幕故障显示，消除故障； ●独特送风循环设计，温湿度分布均匀性佳； ●具有自动防霜装置的真空双重玻璃，可清晰观察试验箱内的试品； ●前置式自动进水装置，方便增加加湿水。 执行标准.中国国家标准分为强制性国标（GB）和推荐性国标（GB/T） 中国国家标准,GB 10586-89湿热试验箱技术条件 中国国家标准,GB 10592-89高、低温试验箱技术条件 中国国家标准,GB/T10589-1989低温试验箱技术条件 　 满足标准 国际电工委员会标准,IEC68-2-03_试验方法Ca_稳态湿热 国际电工委员会标准,IEC68-2-01_试验方法A_冷 国际电工委员会标准,IEC68-2-02_试验方法B_干热 美国军用标准,MIL-STD-810F-507.4 湿度 美国军用标准,MIL-STD-810F-501.4 高温 美国军用标准,MIL-STD-810F-502.4 低温 美国军用标准,MIL-STD883C方法1004.2温湿度组合循环试验 美国军用标准,MIL-STD810D方法502.2 美国军用标准,MIL-STD810方法507.2程序3 日本工业标准,JIS C60068-2-3-1987 试验Ca:湿热、稳态 日本工业标准,JIS C60068-2-2-1995 试验B:干热 日本工业标准,JIS C60068-2-1-1995 试验A:低温 美国半导体行业标准,JESD22-A101-B-2004 恒定温湿度试验 美国半导体行业标准,JESD22-A103-C-2004 高温储存试验 美国半导体行业标准,JESD22-A119-2004 低温储存试验 中国国家标准,GB/T 2423.1-2001 低温 中国国家标准,GB/T 2423.2-2001 高温 中国国家标准,GB/T 2423.3-1993 恒定湿热试验方法 中国国家标准,GB2423.34-86 温湿度组合循环试验 中国国家标准,GB/T2423.4-93方法 中国国家军用环境试验设备方法,GJB150.9-8 湿热试验 型 号 高低温交变湿热试验箱,可程式恒温恒湿试验箱,调温调湿试验箱 RP-150 RP-225 RP-408 RP-800 LP-150 LP-225 LP-408 LP-800 SP-150 SP-225 SP-408 SP-800 温度范围 -20℃ ~150℃ -40℃ ~150℃ -70℃ ~150℃ 温度波动度 ± 0.5 ℃ 温度偏差 ± 2 ℃ 湿度范围 20%-98%RH 湿度均匀度 ± 2/-3%RH （&ge 75%RH 以上时） 升温时间 -20℃~+100℃约80分钟 -40℃ ~+100℃约90分钟 -70℃ ~+100℃约90分钟 降温时间 +20℃~-20 ℃约50分钟 +20℃~-40 ℃约80分钟 +20℃~-70℃约90分钟 内空尺寸(mm) 150型500× 600× 500 225型500× 750× 600 408型600× 850× 800 800型1000× 1000× 800 外形尺寸(mm) 150型500× 600× 500 225型500× 750× 600 408型600× 850× 800 800型1000× 1000× 800 功率(KW) 3 3.5 5 7 5 5.5 6.5 8.4 7.3 7.8 9 12 电源 220V 50HZ/60HZ 380V 50HZ/60HZ 冷却方式 风冷 风冷（或水冷） 风冷 水冷 制冷机组 法国泰康全封闭压缩机组或德国谷轮半封闭压缩机组 控制器 进口中英文液晶触摸屏可编程温湿控制器 加热器 镍铬合金电加热器 加湿器 不锈钢护套加湿器（表面蒸发） 外壳材料 防锈处理，冷轧钢板静电喷塑 内壁材料 SUS304 优质不锈钢板 隔热材料 超细玻璃纤维或聚胺脂泡沫塑料 标准配置 ￠ 50mm 测试孔盖一个，搁板两块，搁条四根，照明灯（荧光灯）一盏 选配部件 通讯接口（ RS485 ），USB曲线记录和数据储存装置,打印机，记录仪，远程监控计算机及软件，搁板，搁条，铂电阻 PT100 等 实验方法标准 GB2423.2-89,GB/T2423.3-93, GB/2423.4-93 GB2423.22-87Nb,GB2423.34-86,GJB150.9-86 备注 内、外尺寸标注为：宽W× 高H× 深D ；降温时间为：环境湿度20℃，空载时测得

FZG Test RigFZG试验台（耗材产品：齿轮）品牌：FZG型号：Test Gears Type A型号1，Test Gears Type A (20 mm)Used for tests according ISO 14635-1, DIN 51354-2 (old), ASTM D-5182, CEC –L-07-A96 Price per set (wheel and pinion)A型试验齿轮(20mm)用于按照ISO 14635-1, DIN 51354-2(旧)，ASTM D-5182, CEC -L-07-A96进行试验型号2，Test Gears Type A (10 mm)For test procedure A10/16,6/R/90 und S-A10/16,6/R/90 Price per set (wheel and pinion）测试齿轮A型(10mm)用于测试程序a10 /16,6/R/90和s - a10 /16,6/R/90(车轮和小齿轮)型号3，Test Gears Type C-PTFor test procedure: Pitting test Price per set (wheel and pinion)测试程序:点蚀试验(车轮和小齿轮)型号4，Test Gears Type C-GF (C-MPT)For test procedure: Greyshading- or Micropitting test Price per set (wheel and pinion)测试齿轮C-GF (C-MPT)测试程序:灰化或微点蚀测试(齿轮和小齿轮)型号5，Test Gears Type C-PTXFor test procedure: Practice Relevant Pitting Test Price per set (wheel and pinion)测试程序:实践相关点蚀试验(车轮和小齿轮)图片： 价格：1.45-1.6万保修期限：耗材无产地：进口（德国）适用仪器：FZG Test Rig, Flender Oil Foam Tester, Filtration Test RigFZG试验台，弗兰德油泡沫测试仪，过滤试验台产品介绍：本公司在该网站拍摄的产品都为实物。保证原产地进口。High-quality lubricating oils are used in gear and worm gear units. These can be either synthetic or mineral, according to the application. High specific loads in modern gear units mean that rigorous requirements are made on the quality of gear unit oils.高质量的润滑油用于齿轮和蜗轮传动装置。根据应用情况，这些材料可以是合成的，也可以是矿物的。现代齿轮传动装置的高比负荷意味着对齿轮传动装置油的质量有严格的要求。By mixing appropriate additives with the oil the resistance of the gears to damage through seizing, grey staining and pitting on the tooth flanks can be increased. Additives also affect the aging resistance and foam characteristics of the oil.通过将适当的添加剂与油混合，可以提高齿轮的抗卡扣、灰色染色和齿侧点蚀损伤的能力。添加剂也会影响油的耐老化性和泡沫特性。Excessive foam generation affects the load-bearing capacity of gears and bearings. Moreover, excessive foam generation in gear unit oils also causes oil leaks on shaft sealing rings and vent screws.产生过多的泡沫影响齿轮和轴承的承载能力。此外，齿轮箱油中产生的过多泡沫也会导致轴密封圈和排气螺钉漏油。Oil manufacturers normally test the foam characteristics of oils by the ANSI/ASTM D 892 method and the DIN 51566 method based on it, by which air is blown into an oil sample for a specified time. As the results of this test often does not correspond to the foam characteristics observed in gear units, a more practical test arrangement has been devised.油制造商通常通过ANSI/ASTM D 892方法和基于该方法的DIN 51566方法测试油的泡沫特性，通过该方法将空气吹入油样品中指定时间。由于这种试验的结果往往不符合在齿轮装置中观察到的泡沫特性，因此设计了一种更实际的试验安排。In the case of the Flender Oil Foaming Test System a pair of gears is rotated in the oil to be tested, thereby mixing air into the oil. In this way the behaviour of oils with regard to air absorption, oil-air dispersion and surface foam and their degeneration can be quickly tested in the test apparatus and under marginal conditions of the kind occurring in gear units在Flender油泡沫测试系统中，一对齿轮在待测油中旋转，从而将空气混合到油中。这样，油在空气吸收、油-气分散和表面泡沫方面的性能及其退化就可以在试验装置和齿轮装置中发生的那种边缘条件下迅速试验出来售后服务：产品货期：3-6个月（部份型号有现货）电话支持响应：24小时内。无理由退换货：不支持是否提供合同：是提供产品资料：是（出厂测试资料）

无锡吉致电子25年研发生产——钨抛光液/W CMP Slurry/W 抛光液/半导体研磨液/CMP抛光液/化学机械抛光液/CMP化学机械抛光液slurry/CMP集成电路抛光液钨W抛光液作用: 吉致电子钨W抛光液适用于8-12吋氧化硅镀膜片的抛光。特选粒径均一的SiO2水溶胶为磨料，抛光清洗后晶圆表面粗糙度低、颗粒残留少。与国内外同类产品相比，具有易清洗、表面粗糙度低等特点.我司产品优点： 1.悬浮性好，不易沉淀，使用方便。2.颗粒分散均匀，不团聚，软硬度适中，有效避免抛光过程中由于颗粒团聚导致的工件表面划伤缺陷。3.运用抛光过程中的化学新作用，提高抛光速度，改善抛光表面的质量。4.分散性好、乳液均一，程度提升抛光速率的同时降低微划伤的概率，可以提高抛光精度。5.无粉尘产生，关注环保和人体健康安全。可定制化：我们的抛光液可以根据客户需求定制不同的PH、粒径、浓度、稳定离子等。包裝方式：25KG/桶(也可依客户需求)吉致电子CMP抛光液/Slurry抛光液价格：吉致电子的CMP金属抛光液生产技术是引进国外生产技术和设备，特殊化学配方制备而成。吉致电子抛光液品质可以媲美进口同类产品。本土化生产使吉致电子CMP抛光液产品交货周期快，品质好，抛光液价格实惠亲民。吉致电子CMP抛光耗材适用范围吉致电子科技有限公司拥有成熟的加工工艺，为不锈钢、铜、铝、陶瓷、导光板、五金产品、蓝宝石、光学玻璃等各类抛光加工服务。为您提供可靠有效抛光解决方案！

Drierite气体干燥装置26800 26840气体干燥装置DRIERITE实验室空气和气体干燥装置是一种多功能干燥机。该装置适用于大多数实验室应用。在大气压或高达90 psig的压力下，它将干燥空气至-100°F的露点。通过橡胶软管到干燥机底部入口的简单连接即可立即获得干燥空气或气体的流动。该装置还提供1/8英寸SS NPT配件（库存号26840）。涂有塑料涂层的安装夹可单独购买。管线中有两个单元和必要的阀，可以实现连续流动，以便在备用塔保持使用状态的同时，重新填充用尽的塔。注意：请勿在含有磷酸酯，合成润滑剂，烃类溶剂，甲醇，丙酮，清漆溶剂或其他有机物的蒸气或液体存在的情况下使用此塑料柱。应用：实验室气体干燥装置可在任何地方使用，以提供干燥的空气或气体，例如：覆盖，样品制备，仪器保护，反应混合物，吹扫，真空释放，干燥空气排放

小型半导体高低温温控箱；小型高低温温控箱详细介绍：可程式恒温恒湿环境试验机能模拟各种温湿度环境满足GB/T2423, GJB150A1/4各种恶劣环境下的可靠性机稳定性能等参数，将给您提供预测和改进产品质量及可靠性的依据。该系列产品适用于航空航天产品、信息电子仪器仪表、材料、电工、电子产品、各种电子元气件在湿热环境下、检验其各项性能指标。小型半导体高低温温控箱；小型高低温温控箱主要优势：1.采用圆弧造型及雾面线条处理，高质感外观，并采用平面无反作用把手，操作容易，安全可靠 2.全封闭结构，采用强力循环马达，低嗓音冷冻装置 3.附有防震台垫，使得机台在运转过程中能保持安静及稳定 4.具有被测试件通电测试功能(负载测试) 5.采用飞利浦照明窗口灯、内置耐高温除雾装置，便于观察箱内产品试验情况 6.具有多种保护装置，性能安全可靠。广西恒温恒湿试验箱生产商｜河南触控式恒温恒湿箱｜恒温恒湿价格执行与满足标准： GB/T10589-1989低温试验箱技术条件GB/T10586-1989湿热试验箱技术条件GB/T10592-1989高低温试验箱技术条件GB2423.1-89低温试验Aa , AbGB2423.1-93(IEC68-2-3)恒定湿热试验 CaMIL-STD810D方法502.2GB/T2423.4-93（MIL-STD810）方法507.2程序3 GJB 150.9-8温热试验GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2温湿度组合循环试验小型半导体高低温温控箱；小型高低温温控箱主要技术参数：1.内部尺寸：(W×H×D)65×85×80cm（尺寸多，有不同型号）2.外部尺寸：(W×H×D)105×175×135cm（尺寸多，有不同型号）3.重量：约400Kg 4.调温调湿方式：平衡调温调湿方式(BTHC)PID智能调节5.温度范围：0 ℃， -20 ℃， -40 ℃， -60 ℃， -70 ℃ ~150 ℃ 20%-98%R.H6.温湿度控制精度：±0.2℃ ±2.5%RH7.温湿箱内均匀度：±0.5℃ ~±0.2℃ ±4.0%RH8.控制器解析精度：±0.01%℃ ±1%R.H9.升温速率：≥ 2.5°C/min 10.降温速率：平均1°C/min11.内体材料：SUS#304 镜面不锈钢板13.外壳材料：SUS#304拉丝不锈钢板或防锈处理冷轧钢板(喷塑)14.绝缘材料：超细玻璃棉 聚胺脂泡沫15.制冷方式：机械式二元制冷方式16.制冷机：全封闭(法国泰康或德国谷轮)压缩机 17.制冷剂：R23/ R404A18.冷凝方式：风冷或水冷19.加热器：镍铬合金不锈管加热器20.加湿器：不锈钢加湿筒21.鼓风机：离心风机22.气流方式：宽带式强迫气流循环(上出下进)23.恒温恒湿仪操作界面：液晶触摸显示屏，中英文切换24.运转方式：恒定运转、程序运转25.程序记忆容量：120 组可编程序、每个程序最大100 (段)26.设定指标范围：温度：-100℃ 300℃ 湿度：99.9%R.H27.分辨率：温度：0.1℃ 湿度：0.1%R.H28.输入：PT100或T型热电偶29.控制方式：PID控制 30.通讯功能：RS-232 接口31.打印功能：日本横河6点记录仪(选购件)32.附属功能：上下限报警、自诊断、报警显示(故障原因)、定时装置(自动开机、关机)、相序保护33.供水方式：循环供水34.供水箱：内置手拉式(30Kg容量)35.水质：电阻率500Ω.M 36.标准配置：观察窗(双层中空钢化玻璃)1个 测试孔￠50mm(位于左边)1个 样品架2层，箱内照明灯(荧光灯)1个 供水箱1个 37.安全装置：电源用漏电保护器，防干烧装置，水系统保护装置，极限高低温保护，温度偏差报警，压缩机超压，过载，缺水，缺相等保护。小型半导体高低温温控箱；小型高低温温控箱售后服务用户的满意是我们服务的宗旨，完善的售后服务使您解除一切后顾之忧，我们坚信一个好的企业卖出去的不仅仅是一台好的产品，更重要的是良好的服务。东莞市爱佩试验设备有限公司负责对本公司产品提供以下售后服务： 1.技术培训：操作使用、日常维护保养、常见故障检测和排除 2.定期回访：设备巡检，排除故障隐患，传递最新消息 3.备品、备件专项储备支持 4.售后服务部提供维修服务的快速响应 5.专职维修人员确保及时、有效地排除故障

半导体致冷器(TE)也叫热电致冷器,是一种热泵，它的优点是没有滑动部件,应用在一些空间受到限制,可靠性要求高,无致冷剂污染的场合。半导体致冷器的工作运转是用直流电流，它既可致冷又可加热，通过改变直流电流的极性来决定在同一致冷器上实现致冷或加热,这个效果的产生就是通过热电的原理。 半导体致冷器是利用半导体材料的珀尔帖效应制成的。所谓珀尔帖效应，是指当直流电流通过两种半导体材料组成的电偶时，其一端吸热，一端放热的现象。重掺杂的Ｎ型和Ｐ型的碲化铋主要用作ＴＥＣ的半导体材料，碲化铋元件采用电串联，并且是并行发热。ＴＥＣ包括一些Ｐ型和Ｎ型对（组），它们通过电极连在一起，并且夹在两个陶瓷电极之间；ＴＥＣ组件每一侧的陶瓷电极的作用是防止由ＴＥＣ电路引起的激光器管芯的短路；ＴＥＣ的控制温度可达３０℃－４０℃，当有电流从ＴＥＣ流过时，电流产生的热量会从ＴＥＣ的一侧传到另一侧，在ＴＥＣ上产生&Prime 热&Prime 侧和&Prime 冷&Prime 侧，这就是ＴＥＣ的加热与致冷原理。是致冷还是加热，以及致冷、加热的速率，由通过它的电流方向和大小来决定。在实际应用中，ＴＥＣ通常安装在热沉和组件外壳之间。其冷侧与激光器芯接触，起到致冷作用，它的热侧与散热片接触，把热量散到外部去，这也只是一种最普遍的情况。在对激光器工作温度的稳定性要求较高的场所，一般都采用双向温控，即在常温和高温时对激光器制冷，在低温环境中则制热；半导体致冷器在电流方向逆转时，原来的冷端和热端的位置就互换；则贴近激光器芯的一则就变成了热端，对激光器芯加热。

符合ASTM D6319-00ae3，ASTM D5250－00e4，EN455-2,ISO11193-1,ISO/AWI 11193－2标准

符合ASTM4.30标准及美国食品及药物管理局（FDA）的最新要求

在半导体清洗机中，PFA三通扩口接头作为一种重要的配件，其性能和品质对于整个清洗机的运行效果起着决定性的作用。针对这一关键配件，我们对其进行了深入研究和优化，以期在半导体清洗过程中实现更高的效率和更优质的清洗效果。　　首先，我们采用了高品质的PFA材料制造这一接头。PFA，即全氟烷氧基聚合物，具有出色的化学稳定性和耐高温性能，能够在半导体清洗过程中抵抗各种化学试剂的侵蚀，确保接头的长期稳定运行。　　其次，我们对PFA三通扩口接头的结构进行了精心设计。通过优化接头内部的流道设计，我们实现了更加顺畅的流体传输，提高了清洗液在半导体表面的覆盖率和冲洗效果。同时，扩口设计使得接头能够方便地与其他管道进行连接，提高了设备的整体安装效率和便利性。　　此外，我们还注重接头的密封性能。在接头的设计和制造过程中，我们采用了先进的密封技术，确保接头在高压、高温等恶劣环境下仍能保持良好的密封效果，防止清洗液泄漏对设备造成损害。　　最后，我们针对半导体清洗机的特殊需求，对PFA三通扩口接头进行了定制化生产。根据不同客户的清洗需求和设备配置，我们提供了多种规格和型号的接头供客户选择，以满足不同场景下的应用需求。　　综上所述，通过优化PFA三通扩口接头的材质、结构、密封性能和定制化生产等方面，我们为半导体清洗机提供了更加可靠、高效的配件解决方案，助力半导体产业的快速发展。

环境试验设备市场，风云再起，竞争日趋激烈，已近白热化，雅士林始终保持从容的心态，用真诚感动客户，用实力占领市场，用创新完善自我。雅士林不仅可以为客户提供标准化产品环境测试的解决方案，还可以为客户量身定做，提供符合用户要求的非标产品。 北京雅士林试验设备有限公司是环境与可靠性试验设备的专业制造厂商，具有丰富的环试行业经验，拥有先进的设计、制造、销售管理平台及完善的售后服务体系，是中国环境试验设备领域的知名企业之一。 以下是关于"振动试验机"的技术资料,请参考:产品作用:振动试验机是提升您跃入高品质领域的利器，模拟产品在于制造，组装运输及使用执行阶段中所遭遇的各种环境，用以鉴定产品是否忍受环境振动的能力，适用于电子、机电、光电、汽机车、玩具 等各行各业的研究、开发、品管、制造。是您提高产品质量可靠性不可多得的试验机。专业生产的试验设备符合GB、GJB、ISO、BS、ASTM、UL、JIS、CE等试验标准，求实、创新、科技创造品质是我们企业的精神。产品广泛用于大专院校、航空、航天、军事、造船、电工、电子、医疗、汽摩等领域，免费提供全方位技术指导及人员操作培训，拥有雄厚的技术力量，先 进的生产工艺，北京雅士林人将以勤谨务实精益求精的态度致力于环境试验设备事业的发展。产品功能：正弦波、调频、扫频、可程式、倍频、对数、振幅、最大加速度、时间控制、485通讯接口、简易定加速度、简易定振幅型号：LD-T LD-HP LD-TP振幅:5mm(可调）最大加速度:20g振动方向:垂直/水平/垂直+水平振动波形:正弦波振动机功率（KW）2.2KW工作台尺寸(L*W):50cm*50cm{最大（3*3）}电源电压（V）:220± 20%最大电流（A）:10注：1g=9.8m/s2 加速度=0.002*f2*D(单位g) f=频率(单位Hz)振动试验机所符合以下之相关标准: GB2423、IEC 68-2-6（FC）、JJG189-97、GB/T 13309-91 售后服务1、安装调试：我公司负责免费送货至客户指在地点, 并派专业技术人员免费安装调试，培训2～5名操作员到会操作为止。2、售后服务承诺：公司产品均保修一年，终身维护。若产品出现问题，在接到报修电话15分钟响应，48小时内由我司专业维修人员上门处理。 本公司主要产品有：盐雾腐蚀试验箱/二氧化硫试验箱/高温试验箱/低温试验箱/高低温试验箱/高低温湿热试验箱/高低温交变湿热试验箱/台式恒温恒湿试验箱/恒温恒湿试验箱/精密干燥试验箱/真空干燥箱/高低温冲击试验箱/紫外光加速老化试验机/氙灯耐气候试验箱/换气式老化试验箱/臭氧老化试验箱/防锈油脂湿热试验箱/砂尘试验箱/箱式淋雨试验箱/摆管淋雨试验装置/滴水试验装置/霉菌试验箱/盐雾试验室/大型高低温步入试验室/恒温恒湿试验室/盐雾恒温恒湿高温复合试验箱/温度老化室/真空紫外老化试验箱/机械式跌落试验台/振动试验台/台式氙灯试验箱 /药品稳定性试验箱 典型客户有：中科院，中国航天，北京大学，清华大学，ABB，现代汽车，摩托罗托，北京计量院、武警装备研究院、公安部第一研究所等

多模光纤跳线，FC/PC或SMA接头至裸纤特性一端为裸纤的多模光纤跳线另一端为FC/PC(2.0 mm窄键)或SM905接头多模光纤纤芯?400 μm，跳线长度为3 m?3 mm橘色松套管光纤镀有?730 ± 30 μm Tefzel® 膜可以定制跳线这些多模光纤跳线由FT400EMT阶跃折射率多模光纤构成，一端为FC/PC或SMA905接头，另一端为经过平切的裸纤。库存标准跳线的长度为3 m。FC/PC或SMA905终端具有长为15 cm的?3 mm松套管。跳线的裸纤端镀有?730 ± 30 μm的蓝色Tefzel膜，且平切角为0°。每根跳线包含一个防尘帽，以防灰尘落入FC/PC或SMA905接头或其他损害。其他用于FC/PC终端的CAPF塑料光纤保护帽和CAPFM金属螺纹光纤保护帽，以及用于SMA终端的CAPM塑料光纤保护帽和CAPMM金属螺纹保护帽都单独出售。跳线的平切端包含一个塑料保护套。请注意，这类跳线还不能熔接。不过，使用Thorlabs的Vytran® 切割机和熔接机可将跳线中的光纤熔接到实验装置中。这些跳线不适合需要光纤传输高光功率的应用，因为过高的功率会使接头中使用的环氧树脂受热过度而造成损害。详细信息请看损伤阈值标签。Thorlabs还提供除无接头光纤之外的其他跳线选项，它们可以兼容高功率。下表中包含了相关链接。如果需要长度较短的光纤，Thorlabs推荐使用适合切割大芯径光纤的S90R红宝石光纤刻划刀，以及T21S31光纤剥除工具。我们也提供光纤终端清洁和修理套件。有关光纤抛光和切割的详细步骤和其他信息，请看我们的光纤终端指南。 跳线的裸纤端In-Stock Multimode Fiber Optic Patch Cable SelectionStep IndexGraded IndexFiber BundlesUncoatedCoatedMid-IROptogeneticsSpecialized ApplicationsSMA FC/PC FC/PC to SMA Square-Core FC/PC and SMAAR-Coated SMA HR-Coated FC/PC Beamsplitter-Coated FC/PCFluoride FC and SMALightweight FC/PC Lightweight SMA Rotary Joint FC/PC and SMAHigh-Power SMA UHV, High-Temp. SMA Armored SMA Solarization-Resistant SMAFC/PC FC/PC to LC/PC多模光纤教程在光纤中引导光光纤属于光波导，光波导是一种更为广泛的光学元件，可以利用全内反射(TIR)在固体或液体结构中限制并引导光。光纤通常可以在众多应用中使用；常见的例子包括通信、光谱学、照明和传感器。比较常见的玻璃(石英)纤维使用一种称之为阶跃折射率光纤的结构，如右图所示。这种光纤的纤芯由一种折射率比外面包层高的材料构成。在光纤中以临界角入射时，光会在纤芯/包层界面产生全反射，而不会折射到周围的介质中。为了达到TIR的条件，发射到光纤中入射光的角度必须小于某个角度，即接收角，θacc。根据斯涅耳定律可以计算出这个角：其中，ncore为纤芯的折射率，nclad为光纤包层的折射率，n为外部介质的折射率，θcrit为临界角，θacc为光纤的接收半角。数值孔径(NA)是一个无量纲量，由光纤制造商用来确定光纤的接收角，表示为：对于芯径(多模)较大的阶跃折射率光纤，使用这个等式可以直接计算出NA。NA也可以由实验确定，通过追踪远场光束分布并测量光束中心与光强为zui大光强5%的点之间的角度即可；但是，直接计算NA得出的值更为准确。光纤的全内反射光纤中的模式数量光在光纤中传播的每种可能路径即为光纤的导模。根据纤芯/包层区域的尺寸、折射率和波长，单光纤内可支持从一种到数千种模式。而其中zui常使用两种为单模(支持单导模)和多模(支持多种导模)。在多模光纤中，低阶模倾向于在空间上将光限制在纤芯内；而高阶模倾向于在空间上将光限制在纤芯/包层界面的附近。使用一些简单的计算就可以估算出光纤支持的模(单模或多模)的数量。归一化频率，也就是常说的V值，是一个无量纲的数，与自由空间频率成比例，但被归为光纤的引导属性。V值表示为：其中V为归一化频率(V值)，a为纤芯半径，λ为自由空间波长。多模光纤的V值非常大；例如，芯径为?50 μm、数值孔径为0.39的多模光纤，在波长为1.5 μm时，V值为40.8。对于具有较大V值的多模光纤，可以使用下式近似计算其支持的模式数量：上面例子中，芯径为?50 μm、NA为0.39的多模光纤支持大约832种不同的导模，这些模可以同时穿过光纤。单模光纤V值必须小于截止频率2.405，这表示在这个时候，光只耦合到光纤的基模中。为了满足这个条件，单模光纤的纤芯尺寸和NA要远小于同波长下的多模光纤。例如SMF-28超单模光纤的标称NA为0.14，芯径为?8.2 μm，在波长为1550 nm时，V值为2.404。衰减来源光纤损耗，也称之为衰减，是光纤的特性，可以通过量化来预测光纤装置内的总透射功率损耗。这些损耗来源一般与波长相关，因光纤的使用材料或光纤的弯曲等而有所差异。常见衰减来源的详情如下：吸收标准光纤中的光通过固体材料引导，因此，光在光纤中传播会因吸收而产生损耗。标准光纤使用熔融石英制造，经优化可在波长1300 nm-1550 nm的范围内传播。波长更长(2000nm)时，熔融石英内的多声子相互作用造成大量吸收。使用氟化锆、氟化铟等氟氧物玻璃制造中红外光纤，主要是因为它们处于这些波长范围时损耗较低。氟化锆、氟化铟的多声子边分别为~3.6 μm和~4.6 μm。光纤内的污染物也会造成吸收损耗。其中一种污染物就是困在玻璃纤维中的水分子，可以吸收波长在1300 nm和2.94 μm的光。由于通信信号和某些激光器也是在这个区域里工作，光纤中的任意水分子都会明显地衰减信号。玻璃纤维中离子的浓度通常由制造商控制，以便调节光纤的传播/衰减属性。例如，石英中本来就存在羟基(OH-)，可以吸收近红外到红外光谱的光。因此，羟基浓度较低的光纤更适合在通信波长下传播。而羟基浓度较高的光纤在紫外波长范围时有助于传播，因此，更适合对荧光或UV-VIS光谱学等应用感兴趣的用户。散射对于大多数光纤应用来说，光散射也是损耗的来源，通常在光遇到介质的折射率发生变化时产生。这些变化可以是由杂质、微粒或气泡引起的外在变化；也可以是由玻璃密度的波动、成分或相位态引起的内在变化。散射与光的波长呈负相关关系，因此，在光谱中的紫外或蓝光区域等波长较短时，散射损耗会比较大。使用恰当的光纤清洁、操作和存储存步骤可以尽可能地减少光纤jian端的杂质，避免产生较大的散射损耗。弯曲损耗因光纤的外部和内部几何发生变化而产生的损耗称之为弯曲损耗。通常包含两大类：宏弯损耗和微弯损耗宏弯损耗造成的衰减微弯损耗造成的衰减宏弯损耗一般与光纤的物理弯曲相关；例如，将其卷成圈。如右图所示，引导的光在空间上分布在光纤的纤芯和包层区域。以某半径弯曲光纤时，在弯曲外半径的光不能在不超过光速时维持相同的空间模分布。相反，由于辐射能量会损耗到周边环境中。弯曲半径较大时，与弯曲相关的损耗会比较小；但弯曲半径小于光纤的推荐弯曲半径时，弯曲损耗会非常大。光纤可以在弯曲半径较小时进行短时间工作；但如果要长期储存，弯曲半径应该大于推荐值。使用恰当的储存条件(温度和弯曲半径)可以降低对光纤造成yong久性损伤的几率；FSR1光纤缠绕盘设计用来zui大程度地减少高弯曲损耗。微弯损耗由光纤的内部几何，尤其是纤芯和包层发生变化而产生。光纤结构中的这些随机变化(即凸起)会破坏全内反射所需的条件，使得传播的光耦合到非传播模中，造成泄露(详情请看右图)。与由弯曲半径控制的宏弯损耗不同，微弯损耗是由制造光纤时在光纤内造成的yong久性缺陷而产生。包层模虽然多模光纤中的大多数光通过纤芯内的TIR引导，但是由于TIR发生在包层与涂覆层/保护层的界面，在纤芯和包层内引导光的高阶模也可能存在。这样就产生了我们所熟知的包层模。这样的例子可在右边的光束分布测量中看到，其中体现了包层模包层中的光强比纤芯中要高。这些模可以不传播(即它们不满足TIR的条件)，也可以在一段很长的光纤中传播。由于包层模一般为高阶模，在光纤弯曲和出现微弯缺陷时，它们就是损耗的来源。通过接头连接两个光纤时包层模会消失，因为它们不能在光纤之间轻松耦合。由于包层模对光束空间轮廓的影响，有些应用(比如发射到自由空间中)中可能不需要包层模。光纤较长时，这些模会自然衰减。对于长度小于10 m的光纤，消除包层模的一种办法就是将光纤缠绕在半径合适的芯轴上，这样能保留需要的传播模式。在FT200EMT多模光纤与M565F1 LED的光束轮廓中，展现了包层而不是纤芯引导的光。入纤方式多模光纤未充满条件对于在NA较大时接收光的多模光纤来说，光耦合到光纤的的条件(光源类型、光束直径、NA)对性能有着极大影响。在耦合界面，光的光束直径和NA小于光纤的芯径和NA时，就出现了未充满的入纤条件。这种情况的常见例子就是将激光光源发射到较大的多模光纤。从下面的图和光束轮廓测量可以看出，未充满时会使光在空间上集中到光纤的中心，优先充满低阶模，而非高阶模。因此，它们对宏弯损耗不太敏感，也没有包层模。这种条件下，所测的插入损耗也会小于典型值，光纤纤芯处有着较高的功率密度。展示未充满条件的图(左边)和使用FT200EMT多模光纤进行的光束轮廓测量(右边)。多模光纤过满条件在耦合界面，光束直径和NA大于光纤的芯径和NA时就出现了过满的情况。实现这种条件的一个方法就是将LED光源的光发射到较小的多模光纤中。过满时会将整个纤芯和部分包层裸露在光中，均匀充满低阶模和高阶模(请看下图)，增加耦合到光纤包层模的可能性。高阶模比例的增加意味着过满光纤对弯曲损耗会更为敏感。在这种条件下，所测的插入损耗会大于典型值，与未充满光纤条件相比，会产生较高的总输出功率。 展示过满条件的图(左边)和使用FT200EMT多模光纤进行的光束轮廓测量(右边)。多模光纤未充满或过满条件各有优劣，这取决于特定应用的要求。如需测量多模光纤的基准性能，Thorlabs建议使用光束直径为光纤芯径70-80%的入纤条件。过满条件在短距离时输出功率更大；而长距离(10 - 20 m)时，对衰减较为敏感的高阶模会消失。键槽对准FC/PC和FC/APC跳线键槽对准FC/PC和FC/APC跳线带有2.0 mm窄键或2.2 mm宽键，可以插入匹配元件对应的槽中。键槽对准对于正确对齐所连光纤跳线的纤芯至关重要，能够zui大程度地减少连接的插入损耗。例如，Thorlabs精心设计和制造用于FC/PC和FC/APC终端跳线的匹配套管，以确保正确使用时能够实现良好的对准。为了达到zui佳对准，需将跳线上的对准键插入对应匹配套管上的槽中。Thorlabs提供带有2.2 mm宽键槽或2.0 mm窄键槽的匹配套管。宽键槽匹配套管2.2 mm宽键槽匹配套管兼容宽键和窄键接头。但是，将窄键接头插入宽键槽时，接头可在匹配套管内轻微旋转(如左下方的动画所示)。这种配置对于FC/PC接头的跳线是可以接受的，但对于FC/APC应用，我们还是建议使用窄键槽匹配套管，以实现zui优对准。窄键槽匹配套管2.0 mm窄键槽匹配套管能够实现带角度窄键FC/APC接头的良好对准，如右下方的动画所示。因此，它们不兼容具有2.2 mm宽键的接头。请注意，Thorlabs制造的所有FC/PC和FC/APC跳线都使用窄键接头。宽键匹配套管和接头之间的匹配窄键匹配套管和接头之间的匹配 宽键槽匹配套管和窄键接头窄键接头插入宽键槽匹配套管之后，接头还有旋转空间。对于窄键FC/PC接头而言，这一点可以接受，但对于窄键FC/APC接头而言，这会产生很大的耦合损耗。 损伤阀值激光诱导的光纤损伤以下教程详述了无终端(裸露的)、有终端光纤以及其他基于激光光源的光纤元件的损伤机制，包括空气-玻璃界面(自由空间耦合或使用接头时)的损伤机制和光纤玻璃内的损伤机制。诸如裸纤、光纤跳线或熔接耦合器等光纤元件可能受到多种潜在的损伤(比如，接头、光纤端面和装置本身)。光纤适用的zui大功率始终受到这些损伤机制的zui小值的限制。虽然可以使用比例关系和一般规则估算损伤阈值，但是，光纤的jue对损伤阈值在很大程度上取决于应用和特定用户。用户可以以此教程为指南，估算zui大程度降低损伤风险的安全功率水平。如果遵守了所有恰当的制备和适用性指导，用户应该能够在指定的zui大功率水平以下操作光纤元件；如果有元件并未指定zui大功率，用户应该遵守下面描述的"实际安全水平"该，以安全操作相关元件。可能降低功率适用能力并给光纤元件造成损伤的因素包括，但不限于，光纤耦合时未对准、光纤端面受到污染或光纤本身有瑕疵。Quick LinksDamage at the Air / Glass InterfaceIntrinsic Damage ThresholdPreparation and Handling of Optical Fibers空气-玻璃界面的损伤 空气/玻璃界面有几种潜在的损伤机制。自由空间耦合或使用光学接头匹配两根光纤时，光会入射到这个界面。如果光的强度很高，就会降低功率的适用性，并给光纤造成yong久性损伤。而对于使用环氧树脂将接头与光纤固定的终端光纤而言，高强度的光产生的热量会使环氧树脂熔化，进而在光路中的光纤表面留下残留物。损伤的光纤端面未损伤的光纤端面裸纤端面的损伤机制光纤端面的损伤机制可以建模为大光学元件，紫外熔融石英基底的工业标准损伤阈值适用于基于石英的光纤(参考右表)。但是与大光学元件不同，与光纤空气/璃界面相关的表面积和光束直径都非常小，耦合单模(SM)光纤时尤其如此，因此，对于给定的功率密度，入射到光束直径较小的光纤的功率需要比较低。右表列出了两种光功率密度阈值：一种理论损伤阈值，一种"实际安全水平"。一般而言，理论损伤阈值代表在光纤端面和耦合条件非常好的情况下，可以入射到光纤端面且没有损伤风险的zui大功率密度估算值。而"实际安全水平"功率密度代表光纤损伤的zui低风险。超过实际安全水平操作光纤或元件也是有可以的，但用户必须遵守恰当的适用性说明，并在使用前在低功率下验证性能。计算单模光纤和多模光纤的有效面积单模光纤的有效面积是通过模场直径(MFD)定义的，它是光通过光纤的横截面积，包括纤芯以及部分包层。耦合到单模光纤时，入射光束的直径必须匹配光纤的MFD，才能达到良好的耦合效率。例如，SM400单模光纤在400 nm下工作的模场直径(MFD)大约是?3 μm，而SMF-28 Ultra单模光纤在1550 nm下工作的MFD为?10.5 μm。则两种光纤的有效面积可以根据下面来计算：SM400 Fiber:Area= Pi x (MFD/2)2 = Pi x (1.5μm)2 = 7.07 μm2= 7.07 x 10-8cm2 SMF-28 Ultra Fiber: Area = Pi x (MFD/2)2 = Pi x (5.25 μm)2= 86.6 μm2= 8.66 x 10-7cm2为了估算光纤端面适用的功率水平，将功率密度乘以有效面积。请注意，该计算假设的是光束具有均匀的强度分布，但其实，单模光纤中的大多数激光束都是高斯形状，使得光束中心的密度比边缘处更高，因此，这些计算值将略高于损伤阈值或实际安全水平对应的功率。假设使用连续光源，通过估算的功率密度，就可以确定对应的功率水平：SM400 Fiber: 7.07 x 10-8cm2x 1MW/cm2= 7.1 x10-8MW =71 mW (理论损伤阈值) 7.07 x 10-8cm2x 250 kW/cm2= 1.8 x10-5kW = 18 mW (实际安全水平)SMF-28 Ultra Fiber: 8.66 x 10-7cm2x 1MW/cm2= 8.7 x10-7MW =870mW (理论损伤阈值) 8.66 x 10-7cm2x 250 kW/cm2= 2.1 x10-4kW =210 mW (实际安全水平)多模(MM)光纤的有效面积由纤芯直径确定，一般要远大于SM光纤的MFD值。如要获得zui佳耦合效果，Thorlabs建议光束的光斑大小聚焦到纤芯直径的70 - 80%。由于多模光纤的有效面积较大，降低了光纤端面的功率密度，因此，较高的光功率(一般上千瓦的数量级)可以无损伤地耦合到多模光纤中。Estimated Optical Power Densities on Air / Glass InterfaceaTypeTheoretical Damage ThresholdbPractical Safe LevelcCW(Average Power)~1 MW/cm2~250 kW/cm210 ns Pulsed(Peak Power)~5 GW/cm2~1 GW/cm2所有值针对无终端(裸露)的石英光纤，适用于自由空间耦合到洁净的光纤端面。这是可以入射到光纤端面且没有损伤风险的zui大功率密度估算值。用户在高功率下工作前，必须验证系统中光纤元件的性能与可靠性，因其与系统有着紧密的关系。这是在大多数工作条件下，入射到光纤端面且不会损伤光纤的安全功率密度估算值。插芯/接头终端相关的损伤机制有终端接头的光纤要考虑更多的功率适用条件。光纤一般通过环氧树脂粘合到陶瓷或不锈钢插芯中。光通过接头耦合到光纤时，没有进入纤芯并在光纤中传播的光会散射到光纤的外层，再进入插芯中，而环氧树脂用来将光纤固定在插芯中。如果光足够强，就可以熔化环氧树脂，使其气化，并在接头表面留下残渣。这样，光纤端面就出现了局部吸收点，造成耦合效率降低，散射增加，进而出现损伤。与环氧树脂相关的损伤取决于波长，出于以下几个原因。一般而言，短波长的光比长波长的光散射更强。由于短波长单模光纤的MFD较小，且产生更多的散射光，则耦合时的偏移也更大。为了zui大程度地减小熔化环氧树脂的风险，可以在光纤端面附近的光纤与插芯之间构建无环氧树脂的气隙光纤接头。我们的高功率多模光纤跳线就使用了这种设计特点的接头。曲线图展现了带终端的单模石英光纤的大概功率适用水平。每条线展示了考虑具体损伤机制估算的功率水平。zui大功率适用性受到所有相关损伤机制的zui低功率水平限制(由实线表示)。 光纤内的损伤阈值除了空气玻璃界面的损伤机制外，光纤本身的损伤机制也会限制光纤使用的功率水平。这些限制会影响所有的光纤组件，因为它们存在于光纤本身。光纤内的两种损伤包括弯曲损耗和光暗化损伤。弯曲损耗光在纤芯内传播入射到纤芯包层界面的角度大于临界角会使其无法全反射，光在某个区域就会射出光纤，这时候就会产生弯曲损耗。射出光纤的光一般功率密度较高，会烧坏光纤涂覆层和周围的松套管。有一种叫做双包层的特种光纤，允许光纤包层(第二层)也和纤芯一样用作波导，从而降低弯折损伤的风险。通过使包层/涂覆层界面的临界角高于纤芯/包层界面的临界角，射出纤芯的光就会被限制在包层内。这些光会在几厘米或者几米的距离而不是光纤内的某个局部点漏出，从而zui大限度地降低损伤。Thorlabs生产并销售0.22 NA双包层多模光纤，它们能将适用功率提升百万瓦的范围。光暗化光纤内的第二种损伤机制称为光暗化或负感现象，一般发生在紫外或短波长可见光，尤其是掺锗纤芯的光纤。在这些波长下工作的光纤随着曝光时间增加，衰减也会增加。引起光暗化的原因大部分未可知，但可以采取一些列措施来缓解。例如，研究发现，羟基离子(OH)含量非常低的光纤可以抵抗光暗化，其它掺杂物比如氟，也能减少光暗化。即使采取了上述措施，所有光纤在用于紫外光或短波长光时还是会有光暗化产生，因此用于这些波长下的光纤应该被看成消耗品。制备和处理光纤通用清洁和操作指南建议将这些通用清洁和操作指南用于所有的光纤产品。而对于具体的产品，用户还是应该根据辅助文献或手册中给出的具体指南操作。只有遵守了所有恰当的清洁和操作步骤，损伤阈值的计算才会适用。安装或集成光纤(有终端的光纤或裸纤)前应该关掉所有光源，以避免聚焦的光束入射在接头或光纤的脆弱部分而造成损伤。光纤适用的功率直接与光纤/接头端面的质量相关。将光纤连接到光学系统前，一定要检查光纤的末端。端面应该是干净的，没有污垢和其它可能导致耦合光散射的污染物。另外，如果是裸纤，使用前应该剪切，用户应该检查光纤末端，确保切面质量良好。如果将光纤熔接到光学系统，用户首先应该在低功率下验证熔接的质量良好，然后在高功率下使用。熔接质量差，会增加光在熔接界面的散射，从而成为光纤损伤的来源。对准系统和优化耦合时，用户应该使用低功率；这样可以zui大程度地减少光纤其他部分(非纤芯)的曝光。如果高功率光束聚焦在包层、涂覆层或接头，有可能产生散射光造成的损伤。高功率下使用光纤的注意事项一般而言，光纤和光纤元件应该要在安全功率水平限制之内工作，但在理想的条件下(ji佳的光学对准和非常干净的光纤端面)，光纤元件适用的功率可能会增大。用户首先必须在他们的系统内验证光纤的性能和稳定性，然后再提高输入或输出功率，遵守所有所需的安全和操作指导。以下事项是一些有用的建议，有助于考虑在光纤或组件中增大光学功率。要防止光纤损伤光耦合进光纤的对准步骤也是重要的。在对准过程中，在取得zui佳耦合前，光很容易就聚焦到光纤某部位而不是纤芯。如果高功率光束聚焦在包层或光纤其它部位时，会发生散射引起损伤使用光纤熔接机将光纤组件熔接到系统中，可以增大适用的功率，因为它可以zui大程度地减少空气/光纤界面损伤的可能性。用户应该遵守所有恰当的指导来制备，并进行高质量的光纤熔接。熔接质量差可能导致散射，或在熔接界面局部形成高热区域，从而损伤光纤。连接光纤或组件之后，应该在低功率下使用光源测试并对准系统。然后将系统功率缓慢增加到所希望的输出功率，同时周期性地验证所有组件对准良好，耦合效率相对光学耦合功率没有变化。由于剧烈弯曲光纤造成的弯曲损耗S90RM119L03FC/PCb toFlat Cleave不锈钢插芯陶瓷插芯产品型号公英制通用M118L03

适用范围：橡胶、硅胶等弹性体的拉伸测试 可选A或B型接头：A接头 轴外径20mm长度30mm（配锁 紧母）B接头 内孔20mm深30mm 插销孔径10mm，插销孔中心到接头端面距离14.5mm。不配接头时夹具体M12内牙可夹持试样宽度35mm, 夹持厚度4mm。

半导体清洗设备配件中的耐高温PFA阀门，无疑是保障整个清洗流程稳定运行的关键一环。PFA阀门，以其卓越的高温耐受性能，成为半导体清洗设备中不可或缺的组成部分。在半导体制造过程中，清洗环节对设备配件的性能要求极高，特别是在高温环境下，阀门必须能够保持稳定的工作状态，确保清洗效果达到预期。　　PFA阀门以其独特的材料特性，在高温环境下展现出优异的性能。PFA，即全氟烷氧基聚合物，具有出色的耐高温、耐腐蚀和耐磨损等特性，使得阀门在高温、高压、强腐蚀的半导体清洗环境中能够长期稳定运行。此外，PFA阀门还具有良好的密封性能，能够有效防止清洗液泄漏，确保清洗过程的安全性和可靠性。　　在半导体清洗设备中，耐高温PFA阀门的应用广泛。它不仅能够满足设备对高温清洗的需求，还能确保清洗过程中不会产生有害物质，从而保障半导体产品的质量和安全。同时，PFA阀门的维护成本相对较低，使用寿命长，有助于降低设备运行成本，提高生产效率。　　总之，半导体清洗设备配件中的耐高温PFA阀门，以其卓越的性能和广泛的应用领域，为半导体制造业的发展提供了有力保障。随着半导体技术的不断进步和清洗工艺的日益完善，耐高温PFA阀门将在未来的半导体制造过程中发挥更加重要的作用，推动整个行业的持续发展和创新。

一、SYD-2430石油产品冰点试验器用途 本仪器是按照国家标准GB/T2430《喷气燃料冰点测定法》、国家石油化工行业标准SH/T0090《发动机冷却液冰点测定法》规定的要求设计制造的。选择不同的配置，可分别用于喷气燃料、发动机冷却液及其浓缩液冰点等指标的测定，是一款多用途的冰点试验器。 销售热线：15300030867 联系电话：15300030867二、SYD-2430石油产品冰点试验器技术参数 1、 工作电源： AC 220V± 10%；50Hz。 2、 工作冷槽： 不锈钢冷槽，双层真空玻璃观察窗。 3、 冷槽控温： +20℃～-70℃。 4、 控温精度： ± 0.5℃。 5、 浴液搅拌： 搅拌电机自动搅拌，功率6W，1200r/m。 6、 制冷系统： 新型制冷压缩机。 7、 试样搅拌： 电磁搅拌，0～120次/分钟，连续可调。 8、 环境温度： &le 30℃。 9、 相对湿度： &le 85%。 10、整机功耗： 不大于2000W。 三、SYD-2430石油产品冰点试验器成套 1、主件 主机 温度计（-37~2℃、-54~-15℃） 双壁冷却管 单壁小试管 温度计档圈（1#） 恒温浴盖 电磁搅拌机 电源线 (自制) 电磁搅拌机座 搅拌器 试管塞2、选配件 喷气燃料冰点试验装置 苯结晶点试验装置

半导体清洗机作为半导体生产线上不可或缺的关键设备，对于提高生产效率、保障产品质量具有重大意义。而PFA卡套式接头作为半导体清洗机的重要配件，其性能和质量直接影响到设备的运行稳定性和使用寿命。　　PFA卡套式接头以其独特的优势在半导体清洗机领域得到了广泛应用。首先，PFA材料具有优异的耐腐蚀性，能够抵抗各种强酸、强碱和有机溶剂的侵蚀，从而确保在半导体清洗过程中不会发生泄漏或污染。其次，卡套式设计使得接头的安装和拆卸变得非常简单快捷，提高了设备的维护效率。此外，PFA卡套式接头还具有良好的密封性和耐高温性能，能够满足半导体清洗机在高温、高压环境下的稳定运行需求。　　然而，为了确保半导体清洗机的稳定运行和延长使用寿命，对PFA卡套式接头的选用和维护也需格外注意。在选用时，应优先选择品牌知名度高、质量有保障的厂家生产的接头，确保接头的材质、尺寸和性能符合设备要求。同时，在安装和使用过程中，应严格按照操作规程进行，避免过度用力或不当操作导致接头损坏。　　在维护方面，应定期对PFA卡套式接头进行检查和更换。一旦发现接头出现磨损、老化或变形等现象，应及时进行更换，以免影响到整个半导体清洗机的正常运行。此外，对于长期未使用的设备，也应定期对接头进行清洗和保养，以确保其始终处于良好的工作状态。　　总之，PFA卡套式接头作为半导体清洗机的重要配件，其性能和质量对于保障设备的稳定运行具有重要意义。因此，在选用、安装、使用和维护过程中，都应给予足够的重视和关注。

半导体光伏清洗设备配件中的PFA氟材料NPT接头，是确保设备高效、稳定运行的关键组件之一。这一接头以其卓越的耐化学腐蚀性能和优异的耐高温特性，在半导体光伏清洗设备中发挥着不可替代的作用。　　PFA氟材料，作为一种高性能的特种塑料，具有极强的化学稳定性和良好的机械性能。它能够在极端的工作环境下保持稳定的性能，不受强酸、强碱等腐蚀性物质的侵蚀，从而确保接头的长期可靠性。同时，PFA氟材料还具有良好的耐高温性能，能够在高温下保持稳定的物理和化学性质，满足半导体光伏清洗设备对高温工作条件的需求。　　NPT接头，作为连接管道和设备的关键部件，其密封性和连接强度直接影响到整个系统的稳定性和安全性。采用PFA氟材料制作的NPT接头，不仅能够提供优异的密封性能，有效防止泄漏和污染，还能够承受较高的压力和温度波动，确保设备的稳定运行。　　此外，PFA氟材料NPT接头还具有优良的绝缘性能和低摩擦系数，能够减少设备运行过程中因摩擦而产生的热量和磨损，延长设备的使用寿命。同时，其轻便的材质和易于加工的特点，使得接头的安装和维护变得更加便捷和高效。　　综上所述，半导体光伏清洗设备配件中的PFA氟材料NPT接头，以其卓越的耐化学腐蚀性能、耐高温特性以及优良的密封性和连接强度，为设备的稳定运行提供了有力的保障。

Minderheit明德赫 AE Cleanerr温和碱性清洗剂碱性清洗剂-液体浓缩原液--具有氧化作用，不含表面活性剂。可有效除去培养基、细胞、组织血液、蛋白质、放射性污染和其它有机残留。适用范围 自动清洗细胞和组织培养基、细菌学，病毒学，核医学，食品工业 和油漆工业中实验室器皿，以及药房中的输液瓶，气瓶和设备。 机械清洗药品瓶和动物饲养笼。 特 性 具有良好的清洁作用，不会对材料造成损伤。 不适用有色金属和轻金属。用法用量 用于机械清洗。使用剂量根据污染程度进行调整， 一般使用剂量为3-4ml/L

在现代半导体工业中，清洗设备的重要性不言而喻。作为半导体清洗设备的关键组成部分，PFA扩口法兰接头不仅承载着传递介质的重要任务，更在设备的稳定运行和延长使用寿命方面发挥着至关重要的作用。　　PFA扩口法兰接头以其独特的性能和优势，在半导体清洗设备中占据了不可或缺的地位。这种接头采用PFA材质，具有优异的耐腐蚀性和耐高温性，能够抵御清洗过程中产生的各种化学物质的侵蚀，确保设备的长期稳定运行。同时，其扩口设计使得接头在连接时更加紧密，有效防止了介质泄漏的发生，进一步提升了设备的安全性和可靠性。　　然而，正如任何精密设备一样，PFA扩口法兰接头也需要定期的维护和保养。在使用过程中，我们需要密切关注接头的运行状态，定期检查其是否出现磨损或老化现象。一旦发现问题，应及时进行更换或维修，以避免因接头问题导致整个清洗设备的故障。　　此外，随着半导体技术的不断发展，对清洗设备的要求也越来越高。因此，我们还需要不断研发新型的PFA扩口法兰接头，以满足日益严格的工艺需求。例如，我们可以尝试优化接头的结构设计，提高其承压能力和耐腐蚀性 或者研发新型的PFA复合材料，以进一步提升接头的性能和寿命。　　总之，PFA扩口法兰接头作为半导体清洗设备的关键配件，其性能和使用寿命直接影响到整个设备的运行效果和稳定性。因此，我们需要对其给予足够的重视和关注，确保其始终保持在最佳的工作状态。

尺寸：每50mm(2")重复，一卷幅宽34英寸，25米/卷AATCC多纤维布为美国原装进口,型号:NO.10号,又名:多纤维参比织物,AATCC六色布、AATCC多纤布、六种纤维布。用于ISO、AATCC、M&S(玛沙)的色牢度测试中，评价色转移程度。评级中使用ISO或AATCC标准之褪色、沾色灰卡/AATCC标准九级比色卡(AATCC标准中使用)本产品符合之标准:AATCC 15,61,101,106,107,132,163 BS 1006 ISO 105 ASTM D204 M&S C3,C4A,C5,C6,C7,C11... 或更多...原装尺寸:每片2"*2",原装每包500片.组成成份:醋酯纤维-漂白棉-尼龙66-涤纶(达可纶54)-腈纶(奥纶)-精纺羊毛用于色牢度测试中，评价色转移程度。美国进口Testfabrics，10号多纤维布 又称AATCC六色布、AATCC多纤布、六种纤维布。6种成分：醋酯纤维、漂白棉、尼龙66、涤纶(达可纶54)、腈纶(奥纶)、精纺羊毛醋酸纤维、棉、尼龙、涤纶、丙烯酸纤维、羊毛Diacetate, Bleached Cotton, Polyamide, Polyester, Acrylic, Wool举例：AATCC Test Method 15-2002 简要说明这一测试方法用于判断有色织品耐汗的坚牢度,可用于染色、印花和其它着色的纺织纤维、纱和各种各样的织物,也可用测试织品上的染料。仪器和材料1、玻璃片或PVC板(试样57×57 mm)2、烘箱(38±1)°C.3、耐汗试验装置:砝码10.0 lb即4.51kg5、AATCC标准多纤维附布No.106、AATCC标准九级比色卡7、AATCC褪色灰卡及沾色灰卡8、测试溶液(现配,参考标准档)9、PH计,精确度到0.0110、轧水器(可用两片玻璃片夹压)测试试样6×6+2cm的试样,并附带一大小相等的一块AATCC No.10标准多纤维附布,将多纤维附布和试样缝在一起,如果需要使用未染色的原坯布,将试样夹在多纤维附布和原坯布之间。测试程序1、将每块测试样品分别放于9cm×2cm的试剂槽内,加入人工汗液至1.5cm深,将试样完全浸泡30+2min,偶尔搅动一下,使其完全润湿。对于很难润湿的织物,将湿过的试样交替通过一轧车,直到被试液完全渗透。2、30+2min后,使每块样品都经过轧车,长边先进。确保每块样品为初始重量的2.25+0.05倍。有些织物在通过轧车后无法保持此重量,则用AATCC吸墨纸(白色)使其保持在规定的轧液率范围内。为了获得一致的结果,一块布上裁下的试样,在同一实验中,应有相同的轧液率,不会因为带液量的增加而使沾色等级增加。3、将每块测试样品集中放于一带标记的PVC板或普通玻璃片上,多纤维附布的每块布条要与玻璃片长边垂直。4、将测试试样分别放在耐汗试验装置所附带的21个PVC板片之间。不管试样多少,21个玻璃片都要放入实验器,然后在顶部再放两块玻片作为弹性补偿,放3.63Kg的砝码,使玻片总压力为4.54Kg,扭动螺丝锁紧压力板。将耐汗试验装置垂直放置于烘箱内。5、把固定好的样品放入烘箱在38+1℃(100+2F)条件下烘6小时+5分钟,定期检查烘箱温度确保整个实验一直保持规定温度范围。6、6小时+5分钟后,将样品从烘箱中取出,试样及所附多纤附布要分开晾放,在一处理过的环境里)21+1℃,65+5%RH)晾放一夜。评估1、通常情况—令人不满意的汗渍色牢度效果可能是由于染料的渗色或泳移或也可能因为着色织物的颜色改变.这种讨厌的褪色应该被注意,如果不是表面颜色渗色,则可能就是这种褪色行为. 另一方面,也可能是无表面褪色的渗色,或既有渗色又有褪色.2、通过参考AATCC标准褪色灰卡评估测试样品的褪色等级：5 级—可忽略的改变或无变化,同灰卡第五级.4.5级—颜色变化等同于灰卡4-5级4 级—颜色变化等同于灰卡4级3.5级—颜色变化等同于灰卡3-4级3 级—颜色变化等同于灰卡3级2.5级—颜色变化等同于灰卡2-3级2 级—颜色变化等同于灰卡2级1.5级—颜色变化等同于灰卡1-2级1 级—颜色变化等同于灰卡1级3、评价多纤维附布中每种材料的沾色情况,及未染色原织物(如果被用)沾色情况,通过AATCC标准沾色灰卡5级及AATCC标准九级比色卡5 级—没有颜色转移或可忽略的颜色转移。4.5级—颜色转移情况等同于沾色灰卡4-5级之间或AATCC标准九级比色卡中的4.5级。4 级—颜色转移情况等同于沾色灰卡4级或AATCC5级及AATCC标准九级比色卡中的4级。3.5级—颜色转移情况等同于沾色灰卡3-4级之间或AATCC标准九级比色卡中的3.5级。3 级—颜色转移情况等同于沾色灰卡3级或AATCC5级及AATCC标准九级比色卡中的3级。2.5级—颜色转移情况等同于沾色灰卡2-3级之间或AATCC标准九级比色卡中的2.5级。2 级—颜色转移情况等同于沾色灰卡2级或AATCC5级及AATCC标准九级比色卡中的2级。1.5级—颜色转移情况等同于沾色灰卡1-2级之间或AATCC标准九级比色卡中的1.5级。1 级—颜色转移情况等同于沾色灰卡1级或AATCC5级及AATCC标准九级比色卡中的1级。报告注明样品褪色等级和多纤维附布中每种纤维的沾色等级,并写明在沾色评估中用的是哪种灰卡（沾色灰卡或5级及AATCC标准九级比色卡）

在半导体清洗设备中，PFA石英卡套接头扮演着举足轻重的角色。它以其出色的性能和耐用性，为半导体清洗设备的稳定运行提供了有力保障。然而，随着半导体技术的飞速发展，对于PFA石英卡套接头的性能要求也日益严格。因此，对于其研发和生产，我们需要不断探索和创新，以满足市场的需求。　　PFA石英卡套接头的优点在于其优良的耐腐蚀性、耐高温性和耐磨损性。这些特性使得它在半导体清洗过程中能够抵御各种化学物质的侵蚀，保持稳定的性能。同时，其独特的结构设计使得安装和拆卸变得更为便捷，提高了工作效率。　　然而，随着半导体清洗设备对清洗精度和效率的要求不断提高，PFA石英卡套接头的性能也需要不断升级。例如，我们需要进一步提高其耐腐蚀性能，以应对更为复杂的清洗环境 同时，还需要优化其结构设计，使其更加适应自动化生产线的需求。　　为了满足这些需求，我们需要加大研发力度，不断探索新的材料和技术。例如，可以尝试采用新型的PFA材料，以提高接头的耐腐蚀性和耐高温性 同时，也可以借鉴其他领域的先进技术，对PFA石英卡套接头的结构进行优化和创新。　　总之，PFA石英卡套接头作为半导体清洗设备的重要配件，其性能的提升和创新对于半导体产业的发展具有重要意义。我们期待未来能够有更多的技术突破，为半导体清洗设备的发展注入新的活力。

流程简述： 化工原理是化工、生物、食品、制药等专业必修课。化工原理实验是大部分学校必做的实验。因此化工原理实验被列为重点实验内容之一。东方仿真使用自主开发平台，利用动态数学模型实时模拟真实实验现象和过程，通过3D仿真实验装置交互式操作，产生和真实实验一致的实验现象和结果。每位学生都能亲自动手做实验，观察实验现象，记录实验数据，验证公式、原理定理。另外，该系统还配备开放的标准实验思考题生成器。该系统分为教师站和学生站。通过网络，教师站上的监控和管理程序方便地对学生站运行的实验仿真软件进行实时的监控和管理。本仿真软件以北京化工大学实验装置为主，兼顾华东理工大学的实验装置。包括了所有典型的化工原理实验装置。培训工艺：1.1 、离心泵特性曲线测定1.2 、流量计的认识和校核1.3 、流体阻力系数测定1.4 、传热（水-蒸汽）实验1.5 、传热（空气-蒸汽）实验1.6 、精馏（乙醇-水）实验1.7 、精馏（乙醇-丙醇）实验1.8 、吸收（氨-水）实验一1.9 、吸收（氨-水）实验二1.10 、丙酮吸收实验1.11 、干燥实验1.12 、板框过滤实验建议配置：学员站：CPU：奔腾E2140或更强的CPU（或AMD Athlon X2 4000）内存：1G以上显卡和显示器：分辨率1024x768以上硬盘空间：至少1G剩余空间操作系统：Windows XP SP2/SP3教师站：CPU：奔腾E5200或更强的CPU（或AMD Athlon X2 5000）内存：1G以上（推荐2G以上）显卡和显示器：分辨率1024x768以上硬盘空间：至少1G剩余空间操作系统：Windows Server 2003 SP2网络要求：网络必须稳定通畅(统一式激活)

热膨胀芯(TEC)光纤跳线特性热膨胀芯增大了模场直径(MFD)，便于耦合不仅更容易进行自由空间耦合，还能保持单模光纤的光学性能工作波长范围：980 - 1250 nm或1420 - 1620 nm光纤的TEC端镀有增透膜，以减少耦合损耗库存的光纤跳线：2.0 mm窄键FC/PC(TEC)到FC/PC接头2.0 mm窄键FC/PC(TEC)到FC/APC接头具有带槽法兰的?2.5 mm插芯到可以剪切的裸纤如需定制配置，请联系技术支持Thorlabs的热膨胀芯(TEC)光纤跳线进行自由空间耦合时，对位置的偏移没有单模光纤那样敏感。利用我们的Vytran® 光纤熔接技术，通过将传统单模光纤的一端加热，使超过2.5 mm长的纤芯膨胀，就可制成这种光纤。在自由空间耦合应用中，光纤经过这样处理的一端可以接受模场直径较大的光束，同时还能保持光纤的单模和光学性能(有关测试信息，请看耦合性能标签)。TEC光纤经常应用于构建基于光纤的光隔离器、可调谐波长的滤光片和可变光学衰减器。我们库存有带TEC端的多种光纤跳线可选。我们提供两种波长范围：980 nm - 1250 nm 和1460 nm - 1620 nm。光纤的TEC端镀有增透膜，在指定波长范围内平均反射率小于0.5%，可以减少进行自由空间耦合时的损耗。光纤的这一端具有热缩包装标签，上面列出了关键的规格。接头选项有2.0 mm窄键FC/PC或FC/APC接头、?2.5 mm插芯且可以剪切熔接的裸光纤。?2.5 mm插芯且可以剪切的光纤跳线具有?900 μm的护套，而FC/PC与FC/APC光纤跳线具有?3 mm的护套(请看右上表，了解可选的组合)。我们也提供定制光纤跳线。更多信息，请联系技术支持。 自由空间耦合到P1-1550TEC-2光纤跳线光纤跳线镀有增透膜的一端适合自由空间应用(比如，耦合)，如果与其他接头端接触，会造成损伤。此外，由于镀有增透膜，TEC光纤跳线不适合高功率应用。清洁镀增透膜的接头端且不损坏镀膜的方法有好几种。将压缩空气轻轻喷在接头端是比较理想的做法。其他方法包括使用浸有异丙醇或甲醇的无绒光学擦拭纸或FCC-7020光纤接头清洁器轻轻擦拭。但是请不要使用干的擦拭纸，因为可能会损坏增透膜涂层。Item #PrefixTECEnd(AR Coated)UncoatedEndP1FC/PC (Black Boot)FC/PCP5FC/PC (Black Boot)FC/APCP6?2.5 mm Ferrule with Slotted FlangeScissor CutCoated Patch Cables Selection GuideSingle Mode AR-Coated Patch CablesTEC Single Mode AR-Coated Patch CablesPolarization-Maintaining AR-Coated Patch CablesMultimode AR-Coated Patch CablesHR-Coated Patch CablesStock Single Mode Patch Cables Selection GuideStandard CablesFC/PC to FC/PCFC/APC to FC/APCHybridAR-Coated Patch CablesThermally-Expanded-Core (TEC) Patch CablesHR-Coated Patch CablesBeamsplitter-Coated Patch CablesLow-Insertion-Loss Patch CablesMIR Fluoride Fiber Patch Cables耦合性能由于TEC光纤一端的纤芯直径膨胀，进行自由空间耦合时，它们对位置的偏移没有标准的单模光纤那样敏感。为了进行比较，我们改变x轴和z轴上的偏移，并测量自由空间光束耦合到TEC光纤跳线和标准光纤跳线时的耦合损耗(如右图所示)。使用C151TMD-C非球面透镜，将光耦合到标准光纤和TEC光纤。在980 nm 和1064 nm下，测试使用1060XP光纤的跳线和P1-1060TEC-2光纤跳线，同时，在1550 nm下，测试使用1550BHP光纤的跳线和P1-1550TEC-2光纤跳线。通过MBT616D 3轴位移台，让光纤跳线相对于入射光移动。 下面的曲线图展示了所测光纤跳线的光纤耦合性能。一般而言，对于相同的x轴或z轴偏移，TEC光纤跳线比标准跳线的耦合损耗低。而在x轴或z轴偏移为0 μm 时，标准跳线与TEC跳线的性能相似。总而言之，这些测试结果表明，TEC光纤对光纤位置的偏移远远没有标准光纤那样敏感，同时还能在zui佳光纤位置保持相同的耦合损耗。请注意，这些测量为典型值，由于制造公差的存在，不同批次跳线的性能可能有所差异。测量耦合性能装置的示意图。上图显示了用于测量耦合性能的测试装置。1060XP标准光纤和P1-1060TEC-2热膨胀芯光纤之间的耦合性能比较图。1060XP标准光纤和P1-1060TEC-2热膨胀芯光纤之间的耦合性能比较图。11550BHP标准光纤和P1-1550TEC-2热膨胀芯光纤之间的耦合性能比较图。 损伤阀值激光诱导的光纤损伤以下教程详述了无终端(裸露的)、有终端光纤以及其他基于激光光源的光纤元件的损伤机制，包括空气-玻璃界面(自由空间耦合或使用接头时)的损伤机制和光纤玻璃内的损伤机制。诸如裸纤、光纤跳线或熔接耦合器等光纤元件可能受到多种潜在的损伤(比如，接头、光纤端面和装置本身)。光纤适用的zui大功率始终受到这些损伤机制的zui小值的限制。虽然可以使用比例关系和一般规则估算损伤阈值，但是，光纤的jue对损伤阈值在很大程度上取决于应用和特定用户。用户可以以此教程为指南，估算zui大程度降低损伤风险的安全功率水平。如果遵守了所有恰当的制备和适用性指导，用户应该能够在指定的zui大功率水平以下操作光纤元件；如果有元件并未指定zui大功率，用户应该遵守下面描述的"实际安全水平"该，以安全操作相关元件。可能降低功率适用能力并给光纤元件造成损伤的因素包括，但不限于，光纤耦合时未对准、光纤端面受到污染或光纤本身有瑕疵。关于特定应用中光纤功率适用能力的深入讨论，请联系技术支持。Quick LinksDamage at the Air / Glass InterfaceIntrinsic Damage ThresholdPreparation and Handling of Optical Fibers空气-玻璃界面的损伤空气/玻璃界面有几种潜在的损伤机制。自由空间耦合或使用光学接头匹配两根光纤时，光会入射到这个界面。如果光的强度很高，就会降低功率的适用性，并给光纤造成yong久性损伤。而对于使用环氧树脂将接头与光纤固定的终端光纤而言，高强度的光产生的热量会使环氧树脂熔化，进而在光路中的光纤表面留下残留物。损伤的光纤端面未损伤的光纤端面裸纤端面的损伤机制光纤端面的损伤机制可以建模为大光学元件，紫外熔融石英基底的工业标准损伤阈值适用于基于石英的光纤(参考右表)。但是与大光学元件不同，与光纤空气/璃界面相关的表面积和光束直径都非常小，耦合单模(SM)光纤时尤其如此，因此，对于给定的功率密度，入射到光束直径较小的光纤的功率需要比较低。右表列出了两种光功率密度阈值：一种理论损伤阈值，一种"实际安全水平"。一般而言，理论损伤阈值代表在光纤端面和耦合条件非常好的情况下，可以入射到光纤端面且没有损伤风险的zui大功率密度估算值。而"实际安全水平"功率密度代表光纤损伤的zui低风险。超过实际安全水平操作光纤或元件也是有可以的，但用户必须遵守恰当的适用性说明，并在使用前在低功率下验证性能。计算单模光纤和多模光纤的有效面积单模光纤的有效面积是通过模场直径(MFD)定义的，它是光通过光纤的横截面积，包括纤芯以及部分包层。耦合到单模光纤时，入射光束的直径必须匹配光纤的MFD，才能达到良好的耦合效率。例如，SM400单模光纤在400 nm下工作的模场直径(MFD)大约是?3 μm，而SMF-28 Ultra单模光纤在1550 nm下工作的MFD为?10.5 μm。则两种光纤的有效面积可以根据下面来计算：SM400 Fiber:Area= Pi x (MFD/2)2 = Pi x (1.5μm)2 = 7.07 μm2= 7.07 x 10-8cm2 SMF-28 Ultra Fiber: Area = Pi x (MFD/2)2 = Pi x (5.25 μm)2= 86.6 μm2= 8.66 x 10-7cm2为了估算光纤端面适用的功率水平，将功率密度乘以有效面积。请注意，该计算假设的是光束具有均匀的强度分布，但其实，单模光纤中的大多数激光束都是高斯形状，使得光束中心的密度比边缘处更高，因此，这些计算值将略高于损伤阈值或实际安全水平对应的功率。假设使用连续光源，通过估算的功率密度，就可以确定对应的功率水平：SM400 Fiber: 7.07 x 10-8cm2x 1MW/cm2= 7.1 x10-8MW =71 mW (理论损伤阈值) 7.07 x 10-8cm2x 250 kW/cm2= 1.8 x10-5kW = 18 mW (实际安全水平)SMF-28 UltraFiber: 8.66 x 10-7cm2x 1MW/cm2= 8.7 x10-7MW =870mW (理论损伤阈值)8.66 x 10-7cm2x 250 kW/cm2= 2.1 x10-4kW =210 mW (实际安全水平)多模(MM)光纤的有效面积由纤芯直径确定，一般要远大于SM光纤的MFD值。如要获得zui佳耦合效果，Thorlabs建议光束的光斑大小聚焦到纤芯直径的70 - 80%。由于多模光纤的有效面积较大，降低了光纤端面的功率密度，因此，较高的光功率(一般上千瓦的数量级)可以无损伤地耦合到多模光纤中。 Estimated Optical Power Densities on Air / Glass InterfaceaTypeTheoretical Damage ThresholdbPractical Safe LevelcCW(Average Power)~1 MW/cm2~250 kW/cm210 ns Pulsed(Peak Power)~5 GW/cm2~1 GW/cm2a. 所有值针对无终端(裸露)的石英光纤，适用于自由空间耦合到洁净的光纤端面。b. 这是可以入射到光纤端面且没有损伤风险的zui大功率密度估算值。用户在高功率下工作前，必须验证系统中光纤元件的性能与可靠性，因其与系统有着紧密的关系。c. 这是在大多数工作条件下，入射到光纤端面且不会损伤光纤的安全功率密度估算值。插芯/接头终端相关的损伤机制有终端接头的光纤要考虑更多的功率适用条件。光纤一般通过环氧树脂粘合到陶瓷或不锈钢插芯中。光通过接头耦合到光纤时，没有进入纤芯并在光纤中传播的光会散射到光纤的外层，再进入插芯中，而环氧树脂用来将光纤固定在插芯中。如果光足够强，就可以熔化环氧树脂，使其气化，并在接头表面留下残渣。这样，光纤端面就出现了局部吸收点，造成耦合效率降低，散射增加，进而出现损伤。与环氧树脂相关的损伤取决于波长，出于以下几个原因。一般而言，短波长的光比长波长的光散射更强。由于短波长单模光纤的MFD较小，且产生更多的散射光，则耦合时的偏移也更大。为了zui大程度地减小熔化环氧树脂的风险，可以在光纤端面附近的光纤与插芯之间构建无环氧树脂的气隙光纤接头。我们的高功率多模光纤跳线就使用了这种设计特点的接头。曲线图展现了带终端的单模石英光纤的大概功率适用水平。每条线展示了考虑具体损伤机制估算的功率水平。zui大功率适用性受到所有相关损伤机制的zui低功率水平限制(由实线表示)。确定具有多种损伤机制的功率适用性光纤跳线或组件可能受到多种途径的损伤(比如，光纤跳线)，而光纤适用的zui大功率始终受到与该光纤组件相关的zui低损伤阈值的限制。例如，右边曲线图展现了由于光纤端面损伤和光学接头造成的损伤而导致单模光纤跳线功率适用性受到限制的估算值。有终端的光纤在给定波长下适用的总功率受到在任一给定波长下，两种限制之中的较小值限制(由实线表示)。在488 nm左右工作的单模光纤主要受到光纤端面损伤的限制(蓝色实线)，而在1550 nm下工作的光纤受到接头造成的损伤的限制(红色实线)。对于多模光纤，有效模场由纤芯直径确定，一般要远大于SM光纤的有效模场。因此，其光纤端面上的功率密度更低，较高的光功率(一般上千瓦的数量级)可以无损伤地耦合到光纤中(图中未显示)。而插芯/接头终端的损伤限制保持不变，这样，多模光纤的zui大适用功率就会受到插芯和接头终端的限制。请注意，曲线上的值只是在合理的操作和对准步骤几乎不可能造成损伤的情况下粗略估算的功率水平值。值得注意的是，光纤经常在超过上述功率水平的条件下使用。不过，这样的应用一般需要专业用户，并在使用之前以较低的功率进行测试，尽量降低损伤风险。但即使如此，如果在较高的功率水平下使用，则这些光纤元件应该被看作实验室消耗品。光纤内的损伤阈值除了空气玻璃界面的损伤机制外，光纤本身的损伤机制也会限制光纤使用的功率水平。这些限制会影响所有的光纤组件，因为它们存在于光纤本身。光纤内的两种损伤包括弯曲损耗和光暗化损伤。弯曲损耗光在纤芯内传播入射到纤芯包层界面的角度大于临界角会使其无法全反射，光在某个区域就会射出光纤，这时候就会产生弯曲损耗。射出光纤的光一般功率密度较高，会烧坏光纤涂覆层和周围的松套管。有一种叫做双包层的特种光纤，允许光纤包层(第二层)也和纤芯一样用作波导，从而降低弯折损伤的风险。通过使包层/涂覆层界面的临界角高于纤芯/包层界面的临界角，射出纤芯的光就会被限制在包层内。这些光会在几厘米或者几米的距离而不是光纤内的某个局部点漏出，从而zui大限度地降低损伤。Thorlabs生产并销售0.22 NA双包层多模光纤，它们能将适用功率提升百万瓦的范围。光暗化光纤内的第二种损伤机制称为光暗化或负感现象，一般发生在紫外或短波长可见光，尤其是掺锗纤芯的光纤。在这些波长下工作的光纤随着曝光时间增加，衰减也会增加。引起光暗化的原因大部分未可知，但可以采取一些列措施来缓解。例如，研究发现，羟基离子(OH)含量非常低的光纤可以抵抗光暗化，其它掺杂物比如氟，也能减少光暗化。即使采取了上述措施，所有光纤在用于紫外光或短波长光时还是会有光暗化产生，因此用于这些波长下的光纤应该被看成消耗品。制备和处理光纤通用清洁和操作指南建议将这些通用清洁和操作指南用于所有的光纤产品。而对于具体的产品，用户还是应该根据辅助文献或手册中给出的具体指南操作。只有遵守了所有恰当的清洁和操作步骤，损伤阈值的计算才会适用。安装或集成光纤(有终端的光纤或裸纤)前应该关掉所有光源，以避免聚焦的光束入射在接头或光纤的脆弱部分而造成损伤。光纤适用的功率直接与光纤/接头端面的质量相关。将光纤连接到光学系统前，一定要检查光纤的末端。端面应该是干净的，没有污垢和其它可能导致耦合光散射的污染物。另外，如果是裸纤，使用前应该剪切，用户应该检查光纤末端，确保切面质量良好。如果将光纤熔接到光学系统，用户首先应该在低功率下验证熔接的质量良好，然后在高功率下使用。熔接质量差，会增加光在熔接界面的散射，从而成为光纤损伤的来源。对准系统和优化耦合时，用户应该使用低功率；这样可以zui大程度地减少光纤其他部分(非纤芯)的曝光。如果高功率光束聚焦在包层、涂覆层或接头，有可能产生散射光造成的损伤。高功率下使用光纤的注意事项一般而言，光纤和光纤元件应该要在安全功率水平限制之内工作，但在理想的条件下(ji佳的光学对准和非常干净的光纤端面)，光纤元件适用的功率可能会增大。用户首先必须在他们的系统内验证光纤的性能和稳定性，然后再提高输入或输出功率，遵守所有所需的安全和操作指导。以下事项是一些有用的建议，有助于考虑在光纤或组件中增大光学功率。要防止光纤损伤光耦合进光纤的对准步骤也是重要的。在对准过程中，在取得zui佳耦合前，光很容易就聚焦到光纤某部位而不是纤芯。如果高功率光束聚焦在包层或光纤其它部位时，会发生散射引起损伤使用光纤熔接机将光纤组件熔接到系统中，可以增大适用的功率，因为它可以zui大程度地减少空气/光纤界面损伤的可能性。用户应该遵守所有恰当的指导来制备，并进行高质量的光纤熔接。熔接质量差可能导致散射，或在熔接界面局部形成高热区域，从而损伤光纤。连接光纤或组件之后，应该在低功率下使用光源测试并对准系统。然后将系统功率缓慢增加到所希望的输出功率，同时周期性地验证所有组件对准良好，耦合效率相对光学耦合功率没有变化。由于剧烈弯曲光纤造成的弯曲损耗可能使光从受到应力的区域漏出。在高功率下工作时，大量的光从很小的区域(受到应力的区域)逃出，从而在局部形成产生高热量，进而损伤光纤。请在操作过程中不要破坏或突然弯曲光纤，以尽可能地减少弯曲损耗。用户应该针对给定的应用选择合适的光纤。例如，大模场光纤可以良好地代替标准的单模光纤在高功率应用中使用，因为前者可以提供更佳的光束质量，更大的MFD，且可以降低空气/光纤界面的功率密度。阶跃折射率石英单模光纤一般不用于紫外光或高峰值功率脉冲应用，因为这些应用与高空间功率密度相关。MFD定义模场直径的定义模场直径(MFD)是对在单模光纤中传播的光的光束尺寸的一种量度。它与波长、纤芯半径以及纤芯和包层的折射率具有函数关系。虽然光纤中的大部分光被限制在纤芯内传播，但仍有极小部分的光在包层中传播。对于高斯功率分布，MFD是指光功率从峰值水平降到1/e2时的直径。MFD的测量通过在远场使用变孔径法来完成MFD的测量。在光纤输出的远场处放置一个通光孔径，然后测量强度。在光路中放置连续变小的通光孔径，测量每个通光孔径下的强度水平；然后以功率和孔径半角(或数值孔径)的正弦为坐标作图得到数据。使用彼得曼第二定义确定MFD，该数学模型没有假设功率分布的特定形状。使用汉克尔变换可以从远场测量值确定近场处的MFD大小TEC光纤跳线，980 nm - 1250 nmItem #Fiber TypeOperating WavelengthMode Field DiameteraAR CoatingbMax AttenuationcNAdCladding/Coating DiameterConnectorsJacketTECStandardTECStandardP1-1060TEC-21060XP980 - 1250 nm12.4 ± 1.0 μm6.2 ± 0.5 μm850 - 1250 nm≤2.1 dB/km @980 nm≤1.5 dB/km @ 1060 nm0.070.14125 ± 0.5 μm /245 ± 10 μmFC/PC (TEC) to FC/PC?3 mmFT030-YP5-1060TEC-2TEC光纤跳线，1460 - 1620 nm，镀增透膜，FC/PC(TEC)到FC/APC，2 mP6-1550TEC-2TEC光纤跳线，1460 - 1620 nm，镀增透膜，?2.5 mm插芯(TEC)到裸纤，2 m