单波长介质膜高反射镜

来自奥地利、美国和瑞士的科学家组成的国际科研团队，研制出了首个中红外波长范围超级反射镜，有望用于测量微量温室气体或用于切割和焊接的工业激光器等领域。研究论文发表于最新一期《自然通讯》杂志。在可见光波长范围内，现有金属反射镜的反射率为99%。在近红外范围，专用反射镜涂层的反射率高达99.9997%；但迄今最好的中红外反射镜的反射率为99.99%，光子丢失率是近红外超反射镜的33倍。人们一直希望将超反射镜技术扩展到中红外领域，以促进很多领域取得重大进展，如测量与气候变化有关的微量气体、分析生物燃料，以及提升广泛应用于工业和医疗领域的切割激光器和激光手术刀的性能等。此次，研究团队研制出的中红外超反射镜的反射率高达99.99923%。为制造出中红外超级反射镜，研究团队结合传统薄膜涂层技术与新型半导体材料和方法，开发出一种新涂层工艺。为此，他们先研制出直径为25毫米的硅基板，然后让高反射半导体晶体结构在10厘米的砷化镓晶片上生长，接着将其分成更小的圆形反射镜，再将这些反射镜安装到硅基板上，得到了超级反射镜并证明了其性能。[b]研究人员指出，这款新型超反射镜的一个直接应用是显著提高中红外气体分析光学设备的灵敏度，可准确计量微量环境标志物，如一氧化碳等。[/b][来源：科技日报]

红外反射镜的镀膜材质有镀金、镀银、镀铝的，性能上相差多少呢？还有号称“金刚石加工切削整体合金反射镜,光路传输效率更高于一般金属镀层技术的反射镜”的，这种合金反射镜是什么材质的？

红外镜面反射附件的反射镜表面是镀金的，最近用它做远红外波动好像特别大，不知道它低波数能截止到多少？请大侠们指教

红外显微镜反射所使用的的反射镜片坏了，载玻片上镀铝的那种。哪里可以买到便宜的反射镜片？请提供厂家、型号、价格，万分感谢！！！[em09511][em09511][em09507]

大家好，我有个测量问题一直有疑问，想请教大家。我需要测量镀在玻璃上的红外高反膜层，波长从2000nm - 16000nm，使用的仪器是PE的spectrum 3 + pike 积分球，积分球使用MCT检测器，用液氮冷却。我测量之前，先使用附带的金反射镜，把积分球调到sample 或者 用样片，把积分球调到reference档 进行背景扫描。1. 测量的结果很奇怪，超过50%的点的反射率大于了100%，导致算出来的发射率接近0，这肯定是不正常的。 是不是需要把金反射镜送到计量科学院进行标定？2. 对同一样片，在不同的时间，测出的结果差异很大，这个正常吗？ 比如今天测发射率7%，明天测9%，感觉稳定性一般。3. 光阑的大小对结果影响也很大，光阑一般选择多大合适呢？谢谢大家。我被这个问题整得焦头烂额，但又不知道问谁。今天终于找到组织了，希望各位老师给与指教。

大家帮忙给看看这些反射镜参数的表示代表什么意思：AlMgF2, CL1.5×2.00, 260mmROC AlMgF2, FL1.25×1.50我知道AlMgF2是反射镜上面镀的膜，其余的表示什么意思，希望高手不吝赐教！！！

863计划新材料领域“蓝绿色垂直腔面发射半导体激光器”课题近日取得重大突破，在我国（除台湾地区外）首次实现了室温光泵条件下氮化物面发射激光器（VCSEL）的受激发射，所得器件重要性能指标超过了国际报道的最好水平。这标志着我国氮化物面发射激光器研究已进入世界先进行列。该成果由厦门大学、中国科学院半导体研究所和厦门三安电子有限公司组成的合作研究团队，经过将近一年的艰苦研发，攻克高质量增益区材料的生长、高反射介质膜分布布拉格反射镜的制作和蓝宝石衬底剥离等关键技术难题后得以实现。所使用的增益区是研究团队自主设计的由纳米级尺寸氮化物量子阱材料构成的新型特殊结构，利用该结构容易获得光场波峰与增益区峰值高的匹配因子，使激射阈值降低了一个量级。激光剥离后氮化物材料的表面平整度小于几个纳米，可以直接沉积反射镜，免除了减薄抛光工艺，简化了制作过程。该研究得到激射峰值波长449.5纳米，激射阈值6.5毫焦/平方厘米，半高宽小于0.1纳米。以上结果在国际上处于前沿先进水平。氮化物面发射激光器在激光显示、激光照明、激光高密度存储、激光打印，水下通信等方面有着广阔的应用前景。该成果为进一步研制实用化氮化物面发射激光器奠定了重要的基础。来源：科技部

反射率仪的测试波长是多少？ c84-III型反射率测试仪，天津世博伟业化玻仪器有限公司，射出的是绿光。谁知道测试波长是多少？请给出答案的出处，例：XX国家标准。谢谢！

看到红外光谱仪的反射镜表面发雾，能不能清洗，如何清洗？

在测量光催化剂能隙的时候，如何通过紫外可见反射光谱图确定 光催化剂的 吸收波长阈值λg（吸收边）？我看网上都说是截止法，是软件直接可以的出来吗？还是手动作图？

TU1800紫外分光光度计，一开机机器进行参数初始化自检，当自检完钨灯定位和氘灯定位时，进入到波长检查，提示错误。拆开外壳，观察光源室。当自检程序进入到钨灯定位和氘灯定位时，钨灯和氘灯相继打开，然后凹面反射镜转动，先反射钨灯光经过入射狭缝，再返回转动反射氘灯的紫外光经过入射狭缝，此时自检程序自动转到波长检查，但问题出现了：正常情况下在氘灯定位时，紫外光经过入射狭缝后，自检程序会控制凹面反射镜把紫外光定位到入射狭缝，进行波长检查。但是，现在的情况是凹面反射镜在氘灯定位后，就不动了，紫外光不能进入到入射狭缝，所以就不能进行波长检查了。。。所以就提示错误了。忽略这个错误，进入到光度测量，把波长设置到500nm，进行测量，看到凹面反射镜把钨光定位到入射狭缝，可见光正常进入到入射狭缝，即是可见光区没问题，可以进行测量。然后设置波长为250nm，进行测量，看到凹面反射镜没有转动到入射狭缝的位置，在之前的一个位置就停住了，和自检错误时的位置一样，此时不能测量。关机二、三个小时左右，再开机，又正常了，但20分钟后，出现紫外光区出现错误，关机，再开机又出现自检错误。请问有朋友遇到过这个情况吗？帮忙分析一下。。。谢谢

量友[url=http://www.gfjl.org/home.php?mod=space&uid=212892][b][color=#333333]daijia2046[/color][/b][/url]问：[color=#444444]请问介质膜干涉滤光片有什么用啊？就[/color][color=#444444]4[/color][color=#444444]个波长，按照范围来说，氧化钬跟镨钕也能覆盖啊？[/color]

摘要：1 波长不准故障的检修 在正常使用下，如果显示波长不准，根据波长自检和自校原理，故障是由光电管没有检测到亮线引起的。当显示波长不准时，应首先检查出流动相使用得是否合适，波长设定是否超出仪器的使用范围。当排除了这些人为因素后，利用仪器的自校功能进行一次波长校正（校正方法见使用说明书）。校正后如仍显示波......1 波长不准故障的检修 在正常使用下，如果显示波长不准，根据波长自检和自校原理，故障是由光电管没有检测到亮线引起的。当显示波长不准时，应首先检查出流动相使用得是否合适，波长设定是否超出仪器的使用范围。当排除了些人为因素后，利用仪器的自校功能进行一次波长校正（校正方法见使用说明书）。校正后如仍显示波长不准，则按面板上的Func键，把波长设定为254nm，并且使检测池充满甲醇或乙晴，查看SMPL EN（流通池）和REF EN（参比池）的吸光度值。如果流通池和参比池的值相差很大，则故障是由光栅部分污染或氘灯能量降低引起的，按面板上的VP和Func键，查看氘灯的使用时间是否超过2000小时。如果氘灯使用时间过长，即使氘灯能够正常启动，有时也发不出0nm,486nm和656nm亮线，从而引起波长不准。这时，需要换新的氘灯。如果氘灯使用时间不长，则故障是由光栅部分引起的。 2 光栅部分的检修与调试 光栅部分主要是由M1、M2、M3、石英窗口和光栅组成的，是整光路的核心。反射镜镜面的光洁度越高，光电池接受到的光就越强，仪器的灵敏度就越高。如果紫外光长时间故地功能照射镜面的一个地方，会在镜面上产生光斑。如果使用环境不干燥，会在镜面上生成霉斑。如果使用环境不洁净，灰尘也会对镜面造成污染。这些都将使镜面的光洁度下降，严重时会使光电池无法检测出氘灯的亮线，从而引起波长不准。　 如果故障是由石英透镜污染或光斑造成的，应该先把瞎缝从底板上卸下来，用脱脂棉或纱布沾无水乙醇反复擦洗透镜，直至擦洗干净为止，然后重新装上狭缝。如果故障是由反射镜M1、M2、M3镜面的光斑，霉斑或污染造成的，用甲醇稀释的棉胶液（化学试剂商店有卖），在有光斑、霉斑或污染的镜面上均匀地涂抹一层，待甲醇蒸发后，会在镜面膜上形成一层薄膜，这时用镊子从镜子边缘把这层薄膜慢慢取下来。用镊子取薄膜时，一定要小心，不能划伤镜面。而光栅是一个相当于1600条/mm沟槽的全息光栅，当光栅上有光斑、霉斑或污染时，不能使用棉胶液涂抹或擦拭，只能连同处理后不能恢复光洁度的反射镜M1、M2、M3一起更换。 在更换光栅部分的任何一个器件之后，都必须对光路进行调试。首先，按shift键，开启电源，待氘灯点燃后，把波长设定为0nm，然后再把模板（调试光路的专用模具）放在反射镜M1、M2、M3和光栅上，如果没有模板，可把画有一竖线的白纸放在检测池的窗口处，使竖线正好位于流通池和参比池的中间，查看0nm亮线，是否与竖线重合，如果亮线不垂直，可拧松光栅支架上的光栅固定螺丝，轻轻转动光栅的位置，使亮线垂直。如果亮线左右偏离竖线，则应调氘灯或反射镜M2的位置，使亮线与竖线重合。如果亮线不能同时照射在流通池和参比池的窗口上，应用内六角扳手调整M2上面的螺丝，使亮线同时穿过流通池和参比池窗口。调整完后，关闭电源，盖上光栅室的上盖，重新启动电源，待仪器自检后，再进行一次波长自动校正。一般情况下，只要0nm亮线调整准确，486nm、656nm亮线经过波长自动校正后，都能将波长的误差控制在±1nm以内，使仪器显示CHECK GOOD。 光路的修理和调试是一个非常细致的工作，在修理或调试时，为了避免手不小心触摸到反射镜镜面而造成新的污染，一定要带上干净的手套。特别是在调试光路时，为了减少杂散光引起的波长调试误差，最好在光线比较暗的室内调试。当需要更换光栅部分的多个器件时，最好是更换一个调试一次，调好位置的器件，在更换下一个器件时不需要在重新调试。来源：沈阳药科大学

1 波长不准故障的检修 在正常使用下，如果显示波长不准，根据波长自检和自校原理，故障是由光电管没有检测到亮线引起的。当显示波长不准时，应首先检查出流动相使用得是否合适，波长设定是否超出仪器的使用范围。当排除了这些人为因素后，利用仪器的自校功能进行一次波长校正（校正方法见使用说明书）。校正后如仍显示波长不准，则按面板上的Func键，把波长设定为254nm，并且使检测池充满甲醇或乙晴，查看SMPL EN（流通池）和REF EN（参比池）的吸光度值。如果流通池和参比池的值相差很大，则故障是由光栅部分污染或氘灯能量降低引起的，按面板上的VP和Func键，查看氘灯的使用时间是否超过2000小时。如果氘灯使用时间过长，即使氘灯能够正常启动，有时也发不出0nm,486nm和656nm亮线，从而引起波长不准。这时，需要更换新的氘灯。如果氘灯使用时间不长，则故障是由光栅部分引起的。 2 光栅部分的检修与调试 光栅部分主要是由M1、M2、M3、石英窗口和光栅组成的，是整个光路的核心。反射镜镜面的光洁度越高，光电池接受到的光就越强，仪器的灵敏度就越高。如果紫外光长时间故地功能照射镜面的一个地方，会在镜面上产生光斑。如果使用环境不干燥，会在镜面上生成霉斑。如果使用环境不洁净，灰尘也会对镜面造成污染。这些都将使镜面的光洁度下降，严重时会使光电池无法检测出氘灯的亮线，从而引起波长不准。　如果故障是由石英透镜污染或光斑造成的，应该先把瞎缝从底板上卸下来，用脱脂棉或纱布沾无水乙醇反复擦洗透镜，直至擦洗干净为止，然后重新装上狭缝。如果故障是由反射镜M1、M2、M3镜面的光斑，霉斑或污染造成的，用甲醇稀释的棉胶液（化学试剂商店有卖），在有光斑、霉斑或污染的镜面上均匀地涂抹一层，待甲醇蒸发后，会在镜面膜上形成一层薄膜，这时用镊子从镜子边缘把这层薄膜慢慢取下来。用镊子取薄膜时，一定要小心，不能划伤镜面。而光栅是一个相当于1600条/mm沟槽的全息光栅，当光栅上有光斑、霉斑或污染时，不能使用棉胶液涂抹或擦拭，只能连同处理后不能恢复光洁度的反射镜M1、M2、M3一起更换。 在更换光栅部分的任何一个器件之后，都必须对光路进行调试。首先，按shift键，开启电源，待氘灯点燃后，把波长设定为0nm，然后再把模板（调试光路的专用模具）放在反射镜M1、M2、M3和光栅上，如果没有模板，可把画有一竖线的白纸放在检测池的窗口处，使竖线正好位于流通池和参比池的中间，查看0nm亮线，是否与竖线重合，如果亮线不垂直，可拧松光栅支架上的光栅固定螺丝，轻轻转动光栅的位置，使亮线垂直。如果亮线左右偏离竖线，则应调氘灯或反射镜M2的位置，使亮线与竖线重合。如果亮线不能同时照射在流通池和参比池的窗口上，应用内六角扳手调整M2上面的螺丝，使亮线同时穿过流通池和参比池窗口。调整完后，关闭电源，盖上光栅室的上盖，重新启动电源，待仪器自检后，再进行一次波长自动校正。一般情况下，只要0nm亮线调整准确，486nm、656nm亮线经过波长自动校正后，都能将波长的误差控制在±1nm以内，使仪器显示CHECK GOOD。 光路的修理和调试是一个非常细致的工作，在修理或调试时，为了避免手不小心触摸到反射镜镜面而造成新的污染，一定要带上干净的手套。特别是在调试光路时，为了减少杂散光引起的波长调试误差，最好在光线比较暗的室内调试。当需要更换光栅部分的多个器件时，最好是更换一个调试一次，调好位置的器件，在更换下一个器件时不需要在重新调试。（转帖，与大家分享）[em07]

请教，哪些镜面可用于红外反射。比如表面镀银，金，铝等。自制反射镜面采用哪种方法。

哪里有卖尺寸小的椭球面反射镜，用于将红外光源调成平行光，材料金属，内表面镀金，直径1.5cm左右，有的话联系我，邮箱mjfcool@163.com

请问反射镜该如何调（SPI3800N,SPA400)?其具体结构是怎样？

请各位大虾们讨论讨论DAD检测器狭缝的作用，全波长190~900纳米通过流通池后进入狭缝，因为狭缝宽度远小于波长，会发生单狭缝衍射现象，衍射后波长的光是如何运行的？是发射到光栅上，由光栅上分光？还是发射的反光镜上，有衍射光谱反射到二极管上？为什么低宽度狭缝会提高分辨率？

光度计里面为何安装反射镜，光源直射不可以吗？谢谢！

从一些资料看到关于截止波长的观点。1，溶剂的紫外截止波长指当小于截止波长的辐射通过溶剂时，溶剂对此辐射产生强烈吸收，此时溶剂被看作是光学不透明的，它严重干扰组分的吸收测量。 2，其测量是将溶剂装入1cm的比色皿，以空气为参比，逐渐降低入射波长，溶剂的吸光度A＝1时的波长称为溶剂的截止波长。也称极限波长。 疑问，比如 水的紫外截止波长为200nm，甲醇的紫外截止波长为205nm，乙腈的紫外截止波长为190nm。 是不是我们在200nm 就不能使用水来做溶剂。在205nm就不能使用甲醇来做溶剂，190nm就不能使用乙腈来做溶剂。希望知道的版友都来讨论一下

朋友们，我现在有一种膜，可以选择一定角度的入射角透过，而其他角度全部反射，我不知道这种膜怎么设计，另外我想测试一下，同一波长，列如850nm波长，测试其60-80角度的通过率反射率，该用啥仪器来测试来，用知道的朋友告知一声，比较急，谢谢了在此

红外光谱的光源出来后为何要用椭圆反射镜？求解．

不考虑非弹性反射，吸收波长、能量损失等问题的前提下，单色光传播遇到障碍物时如果这个障碍物尺寸小于或等于单色光的波长的话是不是只发生衍射而不发生障碍物的反射了呢？还有就是如果障碍物是尺寸较大物体（尺寸远大于波长）的话，那它的边缘部分（假设这个物体是个球体，从球表面开始往球心方向发展的尺寸小于波长的球壳部分）这种情况下是否也不存在单色光的反射而只存在单色光的衍射呢？还望各位大大不吝赐教。非常感谢。

不考虑非弹性反射，吸收波长、能量损失等问题的前提下，单色光传播遇到障碍物时如果这个障碍物尺寸小于或等于单色光的波长的话是不是只发生衍射而不发生障碍物的反射了呢？还有就是如果障碍物是尺寸较大物体（尺寸远大于波长）的话，那它的边缘部分（假设这个物体是个球体，从球表面开始往球心方向发展的尺寸小于波长的球壳部分）这种情况下是否也不存在单色光的反射而只存在单色光的衍射呢？还望各位大大不吝赐教。非常感谢。

镜片反射率 波长在400nm时　数据偏小　哪位老师能告诉我有那些因素会影响测量结果导致结果偏小

请各位推荐 测光学薄膜反射光谱的仪器波长范围：400 ~ 1600 nm最好在深圳能提供服务

分光光度计检定波长误差和杂散光项目的意义 分光光度计可用于许多部门的化学物质定量分析，也是被纳入强制检定目录的计量仪器，它的准确度在实验中极其重要。目前我国的计量检定规程规定分光光度计计检定中需要检定波长误差、透射比测量准确度、杂散光等参数，其中，波长误差和杂散光的检定是经常不被重视的项目。这两项参数到底有没有检定的不要呢？今天我们就讨论一下这些参数进行检定的意义与目的。 一、波长误差 波长误差定义为波长测量值与真实值之差，其实质是仪器波长指示器的波长读数与单色系统实际给出的波长值之差。分光光度计的波长误差包括系统误差和随机误差。波长系统误差根据来源可分为两种情况： 1、波长机构误差：来源于仪器单色系统与波长装置在制造中的缺陷。如仪器单色系统内的色散元件、透镜或反射镜，波长装置中的度盘刻线、传动机构等零部件在制造过程中不可避免存在一定的加工误差。这些加工误差对生产过程来说是随机产生的，但对仪器就形成了固有的系统误差。 2、波长调整误差：由于单色系统与波长装置未调节到最佳状态造成的。有可能是波长装置各部件与狭缝的相对位置未处于最佳状态，或使用过程中相对位置移开了最佳状态，由此产生的误差可能很大，但可以通过调整减小或消除。 当仪器存在波长误差时，若分析中采用绝对测量法测量样品浓度，测量结果与波长有密切关系，因此时根据波长指示器设置的波长测定点实际已偏离了文献在提供吸收系数或计算公式时规定的波长。当规定的波长测定点位于尖锐的吸收峰上时，波长点的较小位移也会引起吸光度测量值的较大变化。在与已知浓度标样比较求得未知浓度的相对测量法中，如果波长误差在已知和未知样品分别测量中大小与方向基本相同，已知和未知样品同时在仪器上直接比对，波长误差对测量结果的影响可忽略不计。 二、杂散光 杂散光全称杂散辐射率，定义为仪器探测器在给定标称波长处所吸收的辐射中，夹杂有不属于入射辐射光束的或入射光束带通以外的辐射光线通量和总辐射光线通量之比，其主要来源有： 1、仪器内部光学元件加工时造成的散射缺陷及元件表面受灰尘、油污、划痕等造成的污染、擦伤； 2、单色器暗盒内部表面涂料的性质、表面不平整、划痕等造成的反射、散射； 3、狭缝口的缺陷； 4、狭缝较宽带入的带通之外的辐射及暗盒与吸收样品室未盖严从外部漏入的光线； 5、未经样品吸收而直达检测器的标称波长及被样品部分吸收的非标称波长的剩余部分； 6室内环境空气不清洁，由悬浮微粒造成的散射。 杂散光给分光光光度计测量带入的误差不可低估，是一重要分量。当杂散光不被样品吸收时，吸光度测量值总是低于其真实值，且随样品浓度增大吸光度增高而误差增大。当杂散光有可能被样品吸收时，对吸光度测量值的影响就比较复杂，不仅与杂散光的波长分布有关，还与被测样品的光谱特性有关，但总是使测量值高于真实值。所以杂散光会对采用绝对测量法测量时带入误差。用相对测量法求未知样品浓度时，由于杂散光影响吸光度与浓度的线性关系，只有在未知样品与已知样品同时比对且浓度较接近时，引起的影响可忽略不计。 结束语 可见检定规程所规定的所有检定项目都是有实际的检测意义的，这些参数、指标在仪器使用过程中如果存在较大的误差，就会对测量结果产生明显影响，所以在检定过程中，严格执行检定规程是十分必要的。

用于样品表面、金属板上涂层薄膜的红外光谱测定。甚至用于单分子层的解析。入射光经反射镜照射到样品表面，其反射光再经另一反射镜进入仪器。反射吸收测定的原理是，只有与基板垂直的偶极矩变化可以被选择性地检测。

近红外波长瓦斯浓度检测技术 检测在煤炭、化工、石油和其它工业，尤其在矿物质的开采中极为重要。瓦斯气体是一种可燃、可爆性气体，其爆炸上限为１５Vol％，下限为5Vol％。 其引发的事故在矿山开采历史上造成了极大的危害。很久以来各国科学工作者对瓦斯浓度的测量作了不懈的努力。现已研制出的干式、湿式气敏元件、热电阻瓦斯传感器、半导体气敏元件等都在瓦斯浓度检测中起到了良好的作用，大大降低了瓦斯事故发生率。 近几年来，光导纤维传感技术在世界上逐渐兴起。光纤传感器具有一些常规传感器无可比拟的优点，如灵敏度高，响应速度快，动态范围大，防电磁干扰，超高绝缘，无源性，防燃防爆，适于远距离遥测，体积小,可灵活柔性挠曲等，很适于在恶劣和危险环境中应用，因而得到广泛重视。光纤瓦斯传感器的研究起步较晚，直到上世纪八十年代才有人报导了光纤瓦斯检测的实验。现在瓦斯检测的方法主要有两种，一是利用瓦斯气体的光谱吸收检测浓度；二是利用瓦斯浓度和折射率的关系用干涉法测折射率。 单波长吸收比较型 吸收法的基本原理均是基于光谱吸收，不同的物质具有不同特征吸收谱线。单波长吸收比较型属吸收光谱型传感器，根据Lambert定律：I=I0e-μcL 其中I，I0为吸收后和吸收前射线强度 μ为吸收系数 L为介质厚度 c为介质的浓度 从上式可以看出，根据透射和人射光强之比，可以得知气体的浓度。单波长吸收比较型的原理图见图１。 选择合适波长的光源。脉冲发生器使激光器发出脉冲光，或采用快速斩波器将连续光转变成脉冲光（斩波频率为数KHz），经透镜耦合进入光纤，并传输到远处放置的待测气体吸收盒，由气体吸收盒输出的光经接收光纤传回。干涉滤光片选取瓦斯吸收率最强的谱线，由检测器接收，经锁相放大器后送入计算机处理，根据强度的变化测量瓦斯浓度。 窄带谱线吸收型 瓦斯传感系统中，检测器所检测的光，其谱线宽度一般为0.02μm-0.1μm，而瓦斯气体的吸收谱线远窄于0.02μm。瓦斯在波长1.6μm-1.7μm的吸收谱线如下图所示。 由于检测谱线宽度远大于吸收谱线，即光谱中被吸收的成份很小，不利于高灵敏度检测。如果选择瓦斯吸收峰的窄带波长，则可获得大的检测对比度。但是选择单一波长则会由于模式噪声造成严重的干涉噪声，为了避免这个问题可以采用梳状滤波器来选择多个瓦斯峰位谱线，以降低光源的相干性，降低模式噪声。