倍布氏压痕测量显微镜

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多功能纳米压痕仪配件通过扫描材料表面实现对材料力学性能的纳米尺度的高精度测量，精确给出硬度，弹性模量，杨氏模量等材料力学性能。多功能纳米压痕仪配件特色最高位移测量能力可达300mkm, 最高负载科大100mN。实现静态压痕和动态压痕测量以及sclerometry测量具备原子力显微镜和纳米硬度测量仪的功能采用模块化设计，可广泛集成原子力显微镜，光学显微镜，激光干涉仪器等尖端材料表面测量仪器，为用户提供综合性材料微观力学测试方案。多功能纳米压痕仪配件选型4D紧凑型多功能纳米压痕仪4D紧凑型是全球结构最为紧凑小巧的纳米硬度测试仪，它采用纳米压痕法测量材料硬度和弹性模量（杨氏模量），负载高达2N,广泛用于材料力学性能测量研究。也非常适合大学或研究单位的纳米压痕仪测量硬度的教学或演示教学。4D标准型多功能纳米压痕仪4D标准型具有测量材料硬度，弹性模量和其它力学性能的功能。它采用静态和动态纳米压痕技术以及sclerometry方法测量材料性能。并且可以接触式或半接触式地测量材料表面形貌，采用光学显微镜高精度地对压头和样品进行精确互动性定位。多功能纳米压痕仪4D标准型还可以接入另外的传感器或测量模块，实现对材料表面进行其它测量。4D+增强型多功能纳米压痕仪4D+增强型配置是全球功能最多的多功能纳米硬度测量仪器。它具有纳米压痕仪和原子力显微镜的功能，具备了所有的物理和力学性能测量能力。它具有原子力显微镜测量模块，能够以纳米级分辨率研究压痕后留下的表面痕迹和图像，并能够全自动测量，可以批量处理分析测量结果。

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MPXS8-T 连续变倍体视显微镜最大的 特点是在不影响目镜观察的同时能使用 CCD数码摄像装置，并可通过视频端与 电脑、监视器、电视机视频端连接。 技术参数： 聚焦 立杆高度300mm 升降范围105mm 光源 上光源20W可调卤素灯 下光源5W荧光灯

ZSA302 连续变倍体视显微镜产品参数：物镜连续变倍，变倍比1：7.2，物镜倍率０.7～５倍，三目，透反射照明,大视野、高眼点物镜组合，视场更加宽阔舒适、更清晰；防静电功能，确保敏感元件不受静电的危害；超长工作距离，适宜于各种标本的观察；同轴照明系统，适宜于常规无法观察的标本；宽电压适应范围符合CE标准的开关电源，对数型电位调节，亮度调节更均匀；各种大物镜、目镜齐全ZSA302 连续变倍体视显微镜

AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用域的显微镜，如AFM(范德华力)，静电力显微镜EFM(静电力)磁力显微镜MFM(静磁力)侧向力显微镜LFM(探针侧向偏转力)等， 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。原子力显微镜的探针主要有以下几种:(1)、 非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针:常用的产品，分辨率高，使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损，分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。(2)、 导电探针:通过对普通探针镀20-40纳米厚的Pt(以及别的提高镀层结合力的金属，如Au、Cr、Ti和Pt与Ir的合金等)得到。导电探针应用于EFM，KFM，SCM等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差，使用时导电镀层容易脱落，导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖，金刚石镀层针尖，全金刚石针尖，全金属丝针尖，这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。(3)、磁性探针:应用于MFM，通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备，分辨率比普通探针差，使用时导电镀层容易脱落。(4)、大长径比探针:大长径比针尖是为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点:不太常用的产品，分辨率很高，使用寿命一般。技术参数:针尖高度 9μm 长径比5:1 针尖半径 10 nm。(5)、类金刚石碳AFM探针/全金刚石探针:一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜，另外一种是全金刚石材料制备(价格很高)。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性，减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。还有生物探针(分子功能化)，力调制探针，压痕仪探针 Park四面体探针测微悬臂的特点，在于探针位于测微悬臂的Z端，由此易于清楚确认探针与样品的位置关系，从而迅速而准确地对准测定位置。为满足客户多种特殊需求，此产品备有标准型、铂膜型和四面刃型三种类型的硅探针可供选择。 具有高品质的解析度，共振频率在300 kHz与26 N/m的弹性系数, 大大的降低了破坏样品的机率； 外观设计：新产品的侧壁垂直面更便于探针的夹取； TipView设计：锋利的探头放置在后的悬臂。TipView设计便于精确探测定位； 测量环境：适用于空气中测量； 测量模式：AC（动态）模式； OMCL-AC160TS 10M的针尖适用于一般标准表面形貌量测，适用于以下sample: 1、pss蓝宝石基板的表面形貌量测； 2、太阳能板的表面形貌量测； 3、玻璃面板等各式有机材料、无机材料的表面形貌的量测 OMCL-AC160TS 10M均可直接代替以下品牌型号针尖： 1、Nanoworld 的NCHR/Arrow NCR 2、Appnano的ACTA 3、Bruker的TESPA/ORTESPA； 4、NT-MDT的NSG30 5、Budget Sensors的Tap300-G 详情请咨询：18994392037（同VX）李经理

红外显微镜配件专门为微电子研发和制造而设计的显微镜，它是一款科研级显微热成像仪，在微米尺度给出电子器件和芯片的温度分布，能够非接触式地测量电子器件的温度分布，查找热点hotspots。红外显微镜配件对于分析和诊断半导体器件热表现非常有用，可用于探测热点和缺陷 电子元件和电路板故障诊断 测量结温 甄别芯片键合缺陷 测量热阻封装 确立热设计规则等领域，可以有效地检测微尺度半导体电路的热问题和MEMS器件的热问题。就MEMS的研发而言：空间温度分布和热响应时间这两个参数对于微反应器,微型热交换器,微驱动器,微传感器之类的MEMS器件非常重要。到目前为止，还有非接触式的办法测量MEMS器件的温度，红外成像显微镜能够给出20微米空间分辨率的热分布图像，是迄今为止测量MEMS器件热分布的有力工具。红外显微镜配件光学载物台：坚固而耐用，具有隔离振动的功能；聚焦位移台：用于相机的精密聚焦和定位；X-Y位移台：用于快速而精密地把测量区域定位到相机的视场中； 热控制台： 具有加热和制冷功能，用于精密器件的温度控制；红外显微镜配件应用*半导体IC裸芯片热检测 *探测集成电路的热点（hotspots）和短路故障*探测并找到元件和电路板上缺陷 *测量半导体结点温度（结温）*辨别固晶/焊线/点胶缺陷*测量封装热阻 *确立热设计规则 *激光二极管性能和失效分析*MEMS热成像分析*光纤光学热成像检测*半导体气体传感器的热分析*测量微交换器的热传输效率 *微反应器的热成像测量*微激励器的温度测量*生物标本温度分析 *材料的热性能检测*红外显微镜热流体分析 热分析软件红外显微镜配件分析软件。 这种软件能够帮助您非常容易而快速地获得温度信息，同时，它可以产生实时的（real time）带状图、拍摄并回放图像序列以及在图像上选择任何大小形状的区域，从而为您提供不同视角和建设性的数据分析手段。

XTL-3系列 连续变倍体视显微镜产品参数：载物台Φ85调焦范围大于45mm物镜变倍物镜（0.7×~3.0× 变倍比：4.28:1）④标准配套表XTL-3系列连续变倍体视显微镜XTL-3系列序号名称配置备注XTL-3XTL-3AXTL-3B1主机XTL-3●2主机XTL-3A●3主机XTL-3B●4变倍物镜●●●0.7×~3.0× 变倍比：4.28:1510X开涅尔目镜●●●●●●WF10X-20615X开涅尔目镜○○○○○○WF15X-15710X开涅尔分划目镜○○○WF10X-2086V10W卤钨灯●●96V10W(带反光)●●●●10载物台●●φ8511眼罩○○○○○○注：●为必备件，○为可选件。XTL-3系列 连续变倍体视显微镜

50X Nikon CF IC Epi Plan DI Interferometry Objective50倍 尼康干涉物镜镜头类型 Mirau放大率:100X数字孔径 NA:0.70焦深(μm):0.56视场, 1/2" 传感器:0.08 x 0.06mm视场, 2/3" 传感器:0.011 x 0.08mm视场，20直径视场目镜 (mm) :0.2视场，25直径视场目镜 (mm) :0.25焦距 FL (mm):2.0生产商:Nikon安装螺纹:RMS分辨能力 (μm):0.4类型:Mirau重量 (g):200.00工作距离 (mm):2.0Regulatory ComplianceRoHS:符合标准生产商 NikonRoHS 豁免用于三维表面形貌仪，表面轮廓仪，白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号：MicroXAM系列，Newview7000系列，Newview8000系列，Wyko各型号，Contour Elite系列，ContourGT系列，Talysurf系列，SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后，发现市场不够大，或者发现放大倍数不够用，都可以联系我们，以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计，市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备，90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司，B公司，Z公司都是采用Nikon镜头。价格会有所波动，欢迎来电咨询。

50X Nikon CF IC Epi Plan DI Interferometry Objective50倍 尼康干涉物镜镜头类型 Mirau放大率 50X数字孔径 NA 0.55工作距离 (mm) 3.4焦距 FL (mm) 4.0分辨能力 (μm) 0.5焦深(μm) 0.9视场，25直径视场目镜 (mm) 0.5视场，20直径视场目镜 (mm) 0.22视场, 2/3" 传感器 0.18 x 0.13mm视场, 1/2" 传感器 0.13 x 0.10mm支架 C-Mount安装螺纹 RMS重量 (g) 150生产商 NikonRoHS 豁免用于三维表面形貌仪，表面轮廓仪，白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号：MicroXAM系列，Newview7000系列，Newview8000系列，Wyko各型号，Contour Elite系列，ContourGT系列，Talysurf系列，SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后，发现市场不够大，或者发现放大倍数不够用，都可以联系我们，以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计，市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备，90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司，B公司，Z公司都是采用Nikon镜头。价格会有所波动，欢迎来电咨询。

详情请咨询：18994392037（同VX）李经理 AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用域的显微镜，如AFM(范德华力)，静电力显微镜EFM(静电力)磁力显微镜MFM(静磁力)侧向力显微镜LFM(探针侧向偏转力)等， 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。原子力显微镜的探针主要有以下几种:(1)、 非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针:常用的产品，分辨率高，使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损，分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。(2)、 导电探针:通过对普通探针镀20-40纳米厚的Pt(以及别的提高镀层结合力的金属，如Au、Cr、Ti和Pt与Ir的合金等)得到。导电探针应用于EFM，KFM，SCM等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差，使用时导电镀层容易脱落，导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖，金刚石镀层针尖，全金刚石针尖，全金属丝针尖，这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。(3)、磁性探针:应用于MFM，通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备，分辨率比普通探针差，使用时导电镀层容易脱落。(4)、大长径比探针:大长径比针尖是为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点:不太常用的产品，分辨率很高，使用寿命一般。技术参数:针尖高度 9μm 长径比5:1 针尖半径 10 nm。(5)、类金刚石碳AFM探针/全金刚石探针:一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜，另外一种是全金刚石材料制备(价格很高)。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性，减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。还有生物探针(分子功能化)，力调制探针，压痕仪探针 Park四面体探针测微悬臂的特点，在于探针位于测微悬臂的Z端，由此易于清楚确认探针与样品的位置关系，从而迅速而准确地对准测定位置。为满足客户多种特殊需求，此产品备有标准型、铂膜型和四面刃型三种类型的硅探针可供选择。 OMCL-AC240TS 10M 微软型(Medium-soft Silicon Cantilever) 适用于测量易受损(Soft)的样品 在轻敲模式中拥有Z微小的弹性系数2 N/m的硅悬臂,适合用来观测局部解剖的表面与柔软样品的黏弹性 Medium-soft Silicon Cantilever Spring constant of 2 N/m (norminal) is smallest of silicon cantilevers, suitable for observing surface ography ａnd viscoelasticity of soft samples.(2n/m,70khz) AFM的测量模式：※接触式(Contact mode)： 探针与材料表面间的距离为(2~3nm)。在扫描时，针尖与样品表面轻轻接触，产品微弱的排斥力使探针偏移，从而使得样品表面形貌的图像。※非接触式(Non-contact mode)： 探针与材料表面总维持着一定的距离(低于20nm)。非接触式为轻敲式的衍生，一样是利用探针跳动来扫描，但是探针始终都不接触表面。 ※轻敲式(Tapping mode又称 AC mode)： 介于接触式和非接触式之间，探针与材料表面间的距离为(5nm)。以探针震荡方式，探针在试片上跳动，当探针震荡至波谷时微接触样品。 Park探针选用小贴士： AC160TS:Tapping Mode,用於較硬的sample,適用半導體材料,金屬材料,Polymer,DVD… AC240TS:Tapping Mode,用於較軟的sample,適用生命科學:DNA,細胞,薄膜,蛋白質…

瑞士Lyncee Tec SA www.lynceetec.com 瑞士Lyncee Tec SA公司的数字全息显微镜&ldquo DHM（Digital Holographic Microscopy）是划时代性的高科技技术产品，科学史上第一次, 数字全息显微镜可以直接观测到纳米尺度的分辨率,即时得到样品三维型貌,并且是无接触式的无损测量。 DHM 1000 Family将波长630nm的半导体激光分成照射到试料的光和参照光两部分来使用。共包括两大品种，一种是试料反射光与参照光进行干涉的&ldquo 技术参数： 测量原理： 反射式数字全相术干涉显微镜 （R1000系列） 或 穿透式数字全相术干涉显微镜（T1000 系列） 取像型式： 强化与量化的相位对比影像 光源： 单波长雷射光源 样品台： 手动3 轴, x, y, z 各可位移25毫米 选配：较大位移的样品台 选配：软件自动控制的2轴或3轴样品台 照相机： 1392 x 1040 像素, 8 bits 可选物镜： 1.25x, 2.5x, 5x, 10x, 20x, 50x, 63x, 100x 选配：长工作距离物镜, 油浸渍物镜 物镜安装： 单物镜安装, 双物镜的滑动块或四物镜的转盘安置 计算机： 应为DHM配置含最新的Pentium? 处理器和视窗XP 专业版个人电脑为佳, 显示则需19寸, 1280 x 1024 像素的显示屏 软件： Lyncee Tec专利的&ldquo 袋熊"经典软件, 是利用C++ 和 .NET技术,专为在视窗XP?的3维表面成型, 曲面测量, 步进高度与粗度测量写成的. 选配工作模式： 垂直扫描与频闪观测模式 性能 垂直的分辨率（＊） 瞬间：0.2° （在空气中0.2奈米） 空间：0.6° （在空气中0.6奈米） 垂直数字聚焦范围 视区50倍深度（取决于物镜） 垂直测量范围： 对平滑样品, 取决於测量区域的深度 340 奈米 （用选配的垂直扫描模式, 范围可以测得更高） 横向的分辨率 （＊＊）: 取决于物镜： 用油浸渍的物镜（1.4 NA）, 最低可测到300奈米， 可视区域： 取决于物镜可达到4.40毫米 横向取样： 1024 x 1024 像素 （全像照相） 撷取影像速率 实时影像：15 fps （512 x 512 像素）, 4 fps （1024 x 1024像素） 离线重建：15 fps （1024 x 1024） （10000 fps速率为选配） 样品照明： 低至 1?W/cm2 最大样品尺寸： H x W：200毫米 x 123毫米 （R1000系列） 50毫米 x 150毫米 （T1000 系列） 工作距离： 取决于物镜：从 0.30毫米 至 20毫米 取样反射率 （R1000系列）： 低至小於1% 撷取时间： 单一影像撷取, 低至小於 1微秒 （无扫描机械装置, 无相位移） 主要特点： 实时监测影像 获取与重建速率（标准15 fps, 大于15 fps为选配） 非常快速, 使得影像可以实时监看. 观看动态事件的过程和活细胞的相互作用现象由此变为可能. 坚固 & 稳定 非常短的取像时间 （数微秒） 使得此设备在测量时, 几乎不受外在的振动影响, 用防震台面也变得不需要. DHM? 的坚固与稳定性, 允许非常微弱, 缓慢的变形或移动, 需稳定性非常好或时间超常的测量. 高分辨率 沿着垂直 （Z） 轴的分辨率,小于1奈米. 横向的分辨率 （在XY平面） 取决于物镜的数值孔徑 （用油浸渍的物镜可测得300奈米）, 像传统的光学显微镜. 非接触式 & 完全非侵入式测量 低功率可见光的样品照明 （至少低于共焦式显微镜10"000倍）, 与试片表面不接触, DHM? 可以保存你样品完整的特性. 此外, 生物试片可以直接观看不需染色, 因此可以防止化学性或物理性的危害. 值得有效的解决方案 DHM? 的安装费与操作费用都非常低廉. 适应性与弹性使它们在高分辨率显微镜领域非常有竞争性. 这些特性使DHM?在研发和制程品管上, 成为非常值得, 有效的工具. 友善的操作 无须样品准备, 无须特别的环境 （温度, 真空, ...）, 样品不需高精准度的位置与方向摆放, DHM? 简化技术, 让使用者可以非常容易并快速的获得准确的测量. 功能强大三维空间处理软件 可以用相同的仪器, 不同的操作模式去延伸你的应用范围. DHM-提供了无与伦比特有的数字工具, 改善了仪器使用的容易性与耐用性, 也增加了测量的准确性与稳定性. 标准和先进的量测接口, 使外在控制可在欢乐和弹性的环境中达成. 瑞士Lyncee Tec SA公司的数字全息显微镜&ldquo DHM（Digital Holographic Microscopy）是划时代性的高科技技术产品，科学史上第一次, 数字全息显微镜可以直接观测到纳米尺度的分辨率,即时得到样品三维型貌,并且是无接触式的无损测量。DHM 1000 Family将波长630nm的半导体激光分成照射到试料的光和参照光两部分来使用。共包括两大品种，一种是试料反射光与参照光进行干涉的&ldquo R1000 series&rdquo ，另一种是试料透过光与参照光进行干涉的&ldquo T1000 series&rdquo 。照射到试料上的光线与参照光产生的干涉图案使用CCD相机，作为数字数据保存下来，由此算出三维数据。计算三维数据时使用的是专用软件&ldquo Koala Software&rdquo 。 应用： 其主要应用是在MEMS研发中用于测量工作，以及在生产线用于缺陷检测。与上述用途中现在经常使用的共焦显微镜相比，在同行分辨率下能够更高速地进行测量。垂直方向的分辨率为0.6nm，水平方向为200nm～300nm（取决于物镜）。使用1.25倍率的物镜时视野为4mm× 4mm，可以15视野/秒的速度进行测量。因此，1cm见方的试料几分钟即可完成观察。使用现有共焦显微镜时，同等范围的观察则需要几个小时～10小时。 此次的产品最大可将观察速度扩展至1万视野/秒。由于摄影速度快，因此不需除震台，可用来检测流水线上的产品。 u 材料科学 u MEMS/MOEMS 微型词典系统 u Micro-optics 显微光学 u Semiconductor 半导体 u Nanotechnology纳米技术 u 生命科学 u Cellular biology 细胞生物 u Biochips生物芯片 u Bio-sensors生物传感器

瑞士Lyncee Tec SA www.lynceetec.com 瑞士Lyncee Tec SA公司的数字全息显微镜&ldquo DHM（Digital Holographic Microscopy）是划时代性的高科技技术产品，科学史上第一次, 数字全息显微镜可以直接观测到纳米尺度的分辨率,即时得到样品三维型貌,并且是无接触式的无损测量。DHM 1000 Family将波长630nm的半导体激光分成照射到试料的光和参照光两部分来使用。共包括两大品种，一种是试料反射光与参照光进行干涉的&ldquo技术参数：测量原理： 反射式数字全相术干涉显微镜 （R1000系列） 或穿透式数字全相术干涉显微镜（T1000 系列）取像型式： 强化与量化的相位对比影像光源： 单波长雷射光源样品台： 手动3 轴, x, y, z 各可位移25毫米选配：较大位移的样品台选配：软件自动控制的2轴或3轴样品台照相机： 1392 x 1040 像素, 8 bits可选物镜： 1.25x, 2.5x, 5x, 10x, 20x, 50x, 63x, 100x选配：长工作距离物镜, 油浸渍物镜物镜安装： 单物镜安装, 双物镜的滑动块或四物镜的转盘安置计算机： 应为DHM配置含最新的Pentium? 处理器和视窗XP 专业版个人电脑为佳, 显示则需19寸, 1280 x 1024 像素的显示屏软件： Lyncee Tec专利的&ldquo 袋熊"经典软件, 是利用C++ 和 .NET技术,专为在视窗XP?的3维表面成型, 曲面测量, 步进高度与粗度测量写成的.选配工作模式： 垂直扫描与频闪观测模式性能垂直的分辨率（＊） 瞬间：0.2° （在空气中0.2奈米）空间：0.6° （在空气中0.6奈米）垂直数字聚焦范围 视区50倍深度（取决于物镜）垂直测量范围： 对平滑样品, 取决於测量区域的深度340 奈米 （用选配的垂直扫描模式, 范围可以测得更高）横向的分辨率 （＊＊）: 取决于物镜： 用油浸渍的物镜（1.4 NA）, 最低可测到300奈米，可视区域： 取决于物镜可达到4.40毫米横向取样： 1024 x 1024 像素 （全像照相）撷取影像速率 实时影像：15 fps （512 x 512 像素）, 4 fps （1024 x 1024像素）离线重建：15 fps （1024 x 1024） （10000 fps速率为选配）样品照明： 低至 1?W/cm2最大样品尺寸： H x W：200毫米 x 123毫米 （R1000系列）50毫米 x 150毫米 （T1000 系列）工作距离： 取决于物镜：从 0.30毫米 至 20毫米取样反射率 （R1000系列）： 低至小於1%撷取时间： 单一影像撷取, 低至小於 1微秒 （无扫描机械装置, 无相位移）主要特点：实时监测影像获取与重建速率（标准15 fps, 大于15 fps为选配） 非常快速, 使得影像可以实时监看. 观看动态事件的过程和活细胞的相互作用现象由此变为可能.坚固 & 稳定非常短的取像时间 （数微秒） 使得此设备在测量时, 几乎不受外在的振动影响, 用防震台面也变得不需要. DHM? 的坚固与稳定性, 允许非常微弱, 缓慢的变形或移动, 需稳定性非常好或时间超常的测量.高分辨率沿着垂直 （Z） 轴的分辨率,小于1奈米. 横向的分辨率 （在XY平面） 取决于物镜的数值孔徑 （用油浸渍的物镜可测得300奈米）, 像传统的光学显微镜.非接触式 & 完全非侵入式测量低功率可见光的样品照明 （至少低于共焦式显微镜10"000倍）, 与试片表面不接触, DHM? 可以保存你样品完整的特性. 此外, 生物试片可以直接观看不需染色, 因此可以防止化学性或物理性的危害.值得有效的解决方案DHM? 的安装费与操作费用都非常低廉. 适应性与弹性使它们在高分辨率显微镜领域非常有竞争性. 这些特性使DHM?在研发和制程品管上, 成为非常值得, 有效的工具.友善的操作无须样品准备, 无须特别的环境 （温度, 真空, ...）, 样品不需高精准度的位置与方向摆放, DHM? 简化技术, 让使用者可以非常容易并快速的获得准确的测量.功能强大三维空间处理软件可以用相同的仪器, 不同的操作模式去延伸你的应用范围. DHM-提供了无与伦比特有的数字工具, 改善了仪器使用的容易性与耐用性, 也增加了测量的准确性与稳定性. 标准和先进的量测接口, 使外在控制可在欢乐和弹性的环境中达成.瑞士Lyncee Tec SA公司的数字全息显微镜&ldquo DHM（Digital Holographic Microscopy）是划时代性的高科技技术产品，科学史上第一次, 数字全息显微镜可以直接观测到纳米尺度的分辨率,即时得到样品三维型貌,并且是无接触式的无损测量。DHM 1000 Family将波长630nm的半导体激光分成照射到试料的光和参照光两部分来使用。共包括两大品种，一种是试料反射光与参照光进行干涉的&ldquo R1000 series&rdquo ，另一种是试料透过光与参照光进行干涉的&ldquo T1000 series&rdquo 。照射到试料上的光线与参照光产生的干涉图案使用CCD相机，作为数字数据保存下来，由此算出三维数据。计算三维数据时使用的是专用软件&ldquo Koala Software&rdquo 。应用：其主要应用是在MEMS研发中用于测量工作，以及在生产线用于缺陷检测。与上述用途中现在经常使用的共焦显微镜相比，在同行分辨率下能够更高速地进行测量。垂直方向的分辨率为0.6nm，水平方向为200nm～300nm（取决于物镜）。使用1.25倍率的物镜时视野为4mm× 4mm，可以15视野/秒的速度进行测量。因此，1cm见方的试料几分钟即可完成观察。使用现有共焦显微镜时，同等范围的观察则需要几个小时～10小时。 此次的产品最大可将观察速度扩展至1万视野/秒。由于摄影速度快，因此不需除震台，可用来检测流水线上的产品。u 材料科学u MEMS/MOEMS 微型词典系统u Micro-optics 显微光学u Semiconductor 半导体u Nanotechnology纳米技术u 生命科学u Cellular biology 细胞生物u Biochips生物芯片u Bio-sensors生物传感器

10X Nikon CF IC Epi Plan DI Interferometry Objective10倍 尼康干涉镜头 CF IC Epi Plan类型 Mirau放大率 10X数字孔径 NA 0.30工作距离 (mm) 7.4焦距 FL (mm) 20.0分辨能力 (μm) 0.92焦深(μm) 3.04视场，25直径视场目镜 (mm) 2.5视场，20直径视场目镜 (mm) 2视场, 2/3" 传感器 0.88 x 0.66mm视场, 1/2" 传感器 0.64 x 0.48mm支架 C-Mount安装螺纹 RMS重量 (g) 125生产商 NikonRoHS 符合标准用于三维表面形貌仪，表面轮廓仪，白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号：MicroXAM系列，Newview7000系列，Newview8000系列，Wyko各型号，Contour Elite系列，ContourGT系列，Talysurf系列，SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后，发现市场不够大，或者发现放大倍数不够用，都可以联系我们，以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计，市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备，90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司，B公司，Z公司都是采用Nikon镜头。欢迎来电咨询。

5X Nikon CF IC Epi Plan TI Interferometry Objective5倍 尼康白光干涉镜头类型 Michelson放大率:5X数字孔径 NA:0.13焦深(μm):16.2视场, 1/2" 传感器:1.28 x 0.96mm视场, 2/3" 传感器:1.76 x 1.32mm视场，20直径视场目镜 (mm) :2.2视场，25直径视场目镜 (mm) :5.00焦距 FL (mm):40.0生产商:Nikon安装螺纹:RMS分辨能力 (μm):2.1重量 (g):280.00工作距离 (mm):9.3RoHS:符合标准生产商 NikonRoHS 豁免用于三维表面形貌仪，表面轮廓仪，白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号：MicroXAM系列，Newview7000系列，Newview8000系列，Wyko各型号，Contour Elite系列，ContourGT系列，Talysurf系列，SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后，发现市场不够大，或者发现放大倍数不够用，都可以联系我们，以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计，市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备，90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司，B公司，Z公司都是采用Nikon镜头。价格随时有波动，欢迎来电咨询。

体式荧光显微镜附件--通用光源FMA-04经济灵巧，适用于现在的中低端荧光体式显微镜。可直接观察荧光目标，使用方便。荧光可根据荧光蛋白获取，如青色，绿色，黄色和红色荧光蛋白或荧光染料。激发光源安装在目镜的外部，因此不需要对显微镜进行结构改造。激发光源：高亮度LED光源数目：根据仪器不同而不同。A.如果您能够提供您体式显微镜的尺寸和调焦环，将光源放置在它上面并用三个螺丝固定(1)。将目镜尺寸结合环插入在定距环上方的孔内（或光源）。然后您就可以将体式荧光显微镜附件--通用光源MMA-03安装在目镜螺丝上。B.将光源连接6V电源，通过电源连接器(3)上方的开关打开电源C.然后使用放大镜将显微镜在均匀颜色亮度的平面聚焦D.转动旋转滤光器把手（4）到“无过滤”或两个白点位置，旋转调焦盘(5)聚焦蓝色激发光，光强度在光斑的中心最强。E.转动旋转滤光器把手（4）到需要的位置获取荧光。定制特殊适配器须提供以下数据：1.显微镜制造商2.显微镜型号3.目镜型号4.D1：目镜直径（mm）5.D2：管直径（mm）6.L1:目镜桶长度（mm）7.F max：在最小放大倍数时的焦距（mm）8.F min：在最大放大倍数时的焦距（mm）Position/mark on the filter holderEmission filters forBand width wavelength(nm)Green-Green dotsGFP500-515Green-Yellow dotsGFP&YFP500-550Yellow-Yellow dotsYFP515-550

立体显微镜配件由中国领先的进口精密仪器和实验室仪器旗舰型服务商-孚光精仪进口销售！孚光精仪精通光学,服务科学，更多关于立体显微镜配件欢迎咨询！光学照明研究公司提供高品质的光纤照明系统，该系统的价格不到与其相似系统的一半。不包括聚焦透镜，当产物需要聚焦/准直时可以加上聚焦透镜从远距离使用。光纤照明/光源的替换灯泡分叉型鹅颈光纤光管Tritech研究公司的高品质分叉型光纤导光管将光源分为两束定向光束。放置之后，“鹅颈”鞘保持它的形状，所以光会留在用户想要的位置。如果需要从超过几英寸处（几厘米）获得光，可以添加聚焦透镜得到。光纤光管的聚焦透镜这个镜头用于Tritech研究公司的高品质的光纤导光管（单，双叉）。通过放置透镜，光纤束可以聚焦，并在一定程度上准直。立体显微镜配件的LED双鹅颈照明灯这个21世纪的双鹅颈式照明灯是6瓦的LED，给样品提供的光量与150瓦卤素灯光纤导光管系统提供的光量相近。比传统卤素显微镜照明灯的主要改进有：节能25倍灯泡寿命长40倍静音运行（不需要风扇）不论光线水平，白色光谱保持不变最小的额外热量此系统包括二个23英寸（59厘米）的鹅颈照明灯，放在用户瞄准的地方不动。立体显微镜配件 带测微计目镜（放大倍数10X，15X，20X）此目镜内置测微计，有10X和20X两个放大倍数。购买SMT-1体视显微镜时，此目镜可能是可选三个免费配件之一，也可能需要单独购买。SMT1的有节臂杆支架，带底座支架版立柱直径为32毫米。后面是直径为25mm的聚焦架与直径为32毫米的阻杆。立柱高400mm。SMT1的有节臂杆支架，台钳版立柱直径为32毫米。后面是直径为25mm的聚焦架与直径为32毫米阻杆。立柱高400mm。该表钳可以打开到75mm。立体显微镜配件 灯泡 这个6伏15瓦的钨丝灯泡有自然的视野灯体和灰镜座，适用于原始的显微镜型号。这款SMT-1立体显微镜系统的更换灯泡有100小时的寿命。立体显微镜系统灯泡 这些12伏10瓦特卤素灯泡带有方形灯体和米色的人体工学底座，适合新的显微镜型号。这种SMT-1立体显微镜系统的新更换灯泡有2000小时的寿命。SMT1球轴承悬臂架，底座支架版立柱直径为32毫米。后面是直径为25mm的聚焦架与直径为32mm的阻杆。立杆高400mm。SMT1球轴承臂支架，台钳版立柱直径为32mm。后面是直径为25mm的聚焦架与直径为32毫米的阻杆。立柱高400mm。该台钳可以打开到75mm。SMT1C-口三目光电管和数码摄像机一起使用包括：双光圈光桥 C口适配器。请注明您的摄像机所需的去放大的水平。例如，“1/2英寸的”芯片照相机是使用0.65倍适配器的效果最好。如果使用1倍适配器，通过相机目镜看到图像的中心放大版本。如果使用0.35倍适配器，会看到一个“小插图”（通过目镜看到整个圆形图像在一个黑色的矩形内。）SMT1系统的10X目镜（一对）目镜放大倍数为10X，15X，20X，成对用于SMT1立体显微镜。该目镜包括一对匹配的眼镜片，订购SMT1立体显微镜系统时，您可以选择这种目镜作为3个免费的配件之一，也可以单独订购目镜。SMT1系统的10X测微目镜这是一个10X单目镜，内置测微计分划板，这样用户就可以测量样品的尺寸或标记样品位置，以便其他人可以精确观察到同一点。订购SMT1立体显微镜系统时，可以选择此目镜为的3个免费的配件之一，也可以单独订购。SMT1系统的15X目镜（一对）目镜放大倍数为10X，15X，20X，成对用于SMT1立体显微镜。该目镜包括一对匹配的眼镜片，订购SMT1立体显微镜系统时，您可以选择这种目镜作为3个免费的配件之一，也可以单独订购目镜。SMT1系统的20X目镜（一对）目镜放大倍数为10X，15X，20X，成对用于SMT1立体显微镜。该目镜包括一对匹配的眼镜片，订购SMT1立体显微镜系统时，您可以选择这种目镜作为3个免费的配件之一，也可以单独订购目镜。立体显微镜系统的0.5X物镜附加物镜用于SMT1立体显微镜，有0.5X，1.0X，1.5X，2.0X放大倍数。您可以选择这种物镜作为3个免费的配件之一，也可以单独订购此物镜。立体显微镜系统的1.5X物镜附加物镜用于SMT1立体显微镜，有0.5X，1.0X，1.5X，2.0X放大倍数。您可以选择这种物镜作为3个免费的配件之一，也可以单独订购此物镜。立体显微镜配件的2.0X物镜附加物镜用于SMT1立体显微镜，有0.5X，1.0X，1.5X，2.0X放大倍数。您可以选择这种物镜作为3个免费的配件之一，也可以单独订购此物镜。用于SMT1显微镜的三目更新T-口 与数码相机一起使用包括：双光圈光桥 3.5X单反投影镜头 摄影目镜 T-2螺纹连接光电管

布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中—ScanAsyst Air ScanAsyst Air，是空气中智能成像模式ScanAsyst 专用探针，仅适用于具有Scansyst成像的AFM。其中包含：Dimension Icon,Multimode8,Bioscope Catalyst,Bioscope Resolve. ScanAsyst 利用一种专门的曲线采集方法和复杂的算法，对图像质量进行持续的监测，并能自动地对参数进行适当的调整。因此：- 无论用户的专业技术水平如何，图像自动优化都能更快获取更一致的结果。- 可直接控制力的强弱，调到超低力，从而保护易碎样品和针尖不受损坏。 实现了悬臂调节的消除，定位调整，获得最大优化让液态成像变得简单。 氮化硅单悬臂探针，所有ScanAsyst针尖都有2度的悬臂弯曲。详细规格： 延展阅读：关于布鲁克：布鲁克公司以先进的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。 布鲁克AFM探针制造中心独特优势：*Class100级别的无尘室*先进的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。 原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式：主要分为：扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构：悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius：一般为10nm到几十nm。制作工艺：半导体工艺制作 指标：探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。