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单位最近要采购监测植物根系生长的仪器,现在接触的有两家进口的BTC-100和CI-600、还有一家国产仪器rootscanner,各家都在展示自己的优点。各位不知有没有用过,说说使用心得,帮助我做出选择。
[size=16px] 植物根系分析仪的检测结果准确性取决于多个因素,包括仪器的质量和性能、操作的正确性、样本的准备和处理等。以下是一些影响植物根系分析仪检测结果准确性的关键因素: 仪器质量和性能: 使用高质量的根系分析仪通常会提高结果的准确性。精密仪器通常具有更高的分辨率和稳定性,能够更精确地测量根系的参数。 操作的正确性: 操作人员需要按照仪器的操作手册和相关方法正确地操作仪器。错误的操作可能导致结果的偏差。 样本准备和处理: 样本的准备和处理对于根系分析的准确性至关重要。根系样本应该被适当地清洗、固定和处理,以避免任何外部因素的干扰。 数据分析和解释: 数据的分析和解释也是确保准确结果的重要步骤。使用适当的分析方法和软件来处理和解释数据是关键。 环境因素: 根系分析的环境因素,如温度、湿度和光照条件,也可能影响结果的准确性。这些因素需要在分析中加以考虑。 根系生长阶段: 不同生长阶段的植物根系可能具有不同的形态和特性。因此,在分析时需要考虑植物的生长阶段。 根系分析仪的校准: 定期校准根系分析仪以确保其性能和测量的准确性是重要的。校准可以帮助纠正仪器的误差。 总之,为了确保云唐植物根系分析仪的检测结果准确,需要注意上述因素,并严格按照操作规程执行。此外,可以通过与其他方法或仪器的比较来验证结果的准确性,以确保所得数据的可靠性。[img=,690,690]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/09/202309131026366807_8752_6098850_3.jpg!w690x690.jpg[/img][/size]
反射式高能电子衍射仪(Reflection High-Energy Electron Diffraction )是MBE系统中最重要的原位分析和监控仪器,在表面重构、表面相以及晶体生长细节研究中发挥重要作用,有MBE“眼睛”之称。主要由高能电子衍射枪和荧光屏构成。电子枪和荧光屏分别处在样品的两侧,在样品前方留下很大的空间,实实时监控成为可能。工作时,高能电子枪发射10-20KV的电子束以下于5度的掠射角入射到样品表面发生衍射。高能电子的能量虽高,既有很强的穿透能力,但由于是掠入射,高能电子仅作用于表面2-3个原子层,使得RHEED具有很高的表面灵敏度。另一方面,在这种散射装置中,被散射的电子相对较少,而反射电子信号很强,这样就能够从荧光屏上得到很强的RHEED图案,从而得出样品的表面信息。主要是表面的结构和平整度,如台阶、小岛、凸线、微滴表面脱附、表面生长动力学及有关衬底清洁程度和合适的生长条件等信息;同时RD(Reflectance-difference)与RHEED互为补充给出有关表现再构的信息。分析表面以下5微米深度内的状况(化学组分、杂质污染)及50埃深度以内的重掺杂分布使用俄歇分析仪(AES)。二次离子质谱(SIMS)侧重表面分析(分辨率大于100微米)和纵向分布(分辨率在50埃左右)。另外,进行表面形貌分析的还有扫描反射电子显微仪、二次电子显微仪等。