衍射光强自动记录系统

多地开始实施闯红灯自动记录系统地方计量检定规程 还有不到一个月的时间，新修订的《机动车驾驶证申领和使用规定》就要开始实施，其中“驾驶机动车违反道路交通信号灯通行一次记6分”的规定被社会广为关注。而今年第10期《中国计量》杂志正好刊登了一篇由郑州市质检中心电子警察检测室主任安志军撰写的《检定规程解读》，也同样引起计量检定人员关于闯红灯自动记录系统是否需要进行计量检定话题的关注与讨论。 “规程已从去年12月开始实施，解读是为了帮助计量检定人员更好地理解规程和更准确地进行检定。”作为河南省地方计量检定规程《闯红灯自动记录系统》的主要起草人之一，安志军一直坚持认为，规范闯红灯自动记录系统等交通技术监控系统的管理，并对此进行计量监督管理是非常必要的。“现在安装的闯红灯自动记录系统多是具有精确测量违法位置、违法时间、速度、车辆识别等功能的综合系统。系统所测量显示的违法时间、违法位置、速度等数据，需要经过计量检定，才能保证其准确性。”作为专门负责“电子警察”检测工作的安志军，这些年一直在为规程的起草、制定、发布和实施忙碌着。 在河南省2011年9月7日发布、同年12月1日起实施的《闯红灯自动记录系统》（JJG-豫158－2011）地方计量检定规程中，规定“闯红灯自动记录系统，是安装于道路交通路口，自动记录机动车闯红灯行为的监控系统，主要由闯红灯检测单元、图像采集单元和计算机管理单元组成。”规程还从闯红灯捕获率、记录有效率、计时误差、车辆号牌识别、测速误差、接地电阻6个方面提出了计量性能要求，并分别对检定方法、检定设备等作出了规定。规程明确提出，该规程适用于闯红灯自动记录系统的首次检定、后续检定和使用中的检查，检定周期一般不超过一年。随着我国机动车数量的不断增加，交通技术监控系统的应用，一方面能够缓解日益繁忙的道路交通管理与警力严重不足之间的矛盾，另一方面在一定程度上消除了道路交通管理在时间和空间上的“盲点”。例如，安装于道路交通路口的闯红灯自动记录系统就能24小时对机动车驾驶员违反道路交通信号灯通行的违法行为进行监控、记录，并上传数据。 据了解，公安部已于2009年和2010年分别发布了公共安全行业标准《闯红灯自动记录系统通用技术条件》和《闯红灯自动记录系统验收技术规范》。“这两项行业标准对系统的通用技术条件及验收标准进行了规范。但是，系统长时间不停地工作，性能应当具有稳定性、可靠性。定期对系统的计量性能进行检定，能保证其量值的准确可靠，为道路交通安全管理和执法提供可靠的保证。我们出台的地方计量检定规程就是为了保障全省闯红灯自动记录系统数据的准确可靠，建立起长效的计量监管机制。”安志军说。 河南的地方计量检定规程是在借鉴湖南、安徽、甘肃等地的地方计量规程基础上制定的。作为我国第一批制定发布闯红灯自动记录系统地方计量检定规程的省份，湖南省质监局早在2008年就发布了《机动车闯红灯自动记录系统》和《道路交通违法行为电子监测系统》两个地方标准，和与之配套的《闯红灯自动记录系统检定规程》和《道路交通违法行为监测系统检定规程》两项地方计量检定规程。据该省业内一位不愿透露姓名的人士介绍，现在，长沙市已基本按年检的方式实现了对全市闯红灯自动记录系统的计量检定，对未经检定或检定不合格的技术监控设备，实施限期整改或停用等处理措施，对检定合格的在用技术监控设备的安装、检定、使用和修理等进行全面建档。甘肃的地方计量检定规程也是在2008年开始实施的。据甘肃省计量院机动车检测线项目组负责人高得成介绍，全省闯红灯自动记录系统目前的受检率为30%左右。“在所有的计量性能中，时间频率的计量是最为重要的。”高得成告诉记者，闯红灯自动记录系统的计时误差包括两项内容：时刻误差和日差。他解释：“如果当前时刻误差超过最大允许误差，就会出现同一辆机动车按从A路口到B路口的顺序行驶时，在B路口被监控记录的时刻却早于在A路口被监控记录的时刻。系统的时刻计量不准就会影响到执法的公正性和严肃性；如果日差超过最大允许误差，就会出现当前仍是绿灯持续亮的时间，但闯红灯自动记录系统由于计时误差，认为此时已是红灯亮的时间，从而将此时通过路口的机动车误认为闯红灯。[

GA/T 496-2009 闯红灯自动记录系统通用技术条件[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=174133]GAT 496-2009 闯红灯自动记录系统通用技术条件.pdf[/url]

目前仓库的温湿度是手动记录的，每天一次，有客户审计时说是双休日和节假日没有记录，不知道有没有使用自动记录仪的，想了解一下具体情况，比如价格、数据的准确性、使用的方便性等等

温湿度变化对仪器性能稳定性等有影响，因此实验室设备对温湿度都有严格要求，那么你们的温湿度是自己抄写还是仪器自动记录的？CNAS对这块有木有苛刻的要求，欢迎讨论？

[color=#1a1a1a]请问有没有一种小型装置（直径不超过15毫米），可以比较精确的（±1°C）测量较宽的温度范围（室温至上千°C）并能自动记录温度的变化存储在存储卡或其他记忆体中？谢谢！[/color]

天津（高校）哪里有带积分球的、自动记录数据的紫外可见光分光光度计，要做固体试样的反射谱 。我们校内的虽然有积分球，但是八几年买的，需要手动记录，5nm步长，不准确。电话13702108064

最近想买一些可自动记录温湿度的小东西，也就是放在要求记录温湿度的地方，它能自动按一定间隔的时间进行记录，然后一段时间后可以导到电脑里打印出来。有人认识这种小东西吗，那个品牌好，或者你们实验室有这种小东西说说来参考一下。

誰知道能自动记录温湿度的记录仪，且能打印出来

[font=&]【题名】：[color=#333333][size=24px] [/size][size=16px]夫琅禾费单缝衍射光强分布matlab分析[/size][/color][/font] [font=&]【全文链接】： https://www.docin.com/p-1900043334.html?docfrom=rrela[/font]

透射电镜中图像记录和电子衍射花样记录现在都可以用CCD实现，现在有具体问题：记录图像要求分辨率高，但是可能该型号的CCD不能很好记录衍射花样。想请教有使用经验的高手：1）哪一款CCD可以安全记录衍射花样，图像质量也能保证；2）FEI的EAGLE可以安全记录衍射花样吗？谢谢！

德国布鲁克公司的D8衍射仪，衍射仪工作时附带的水冷系统超过25度时应该自动制冷的，但是现在温度超过时仍然不制冷，以致仪器不能正常工作，那位知道到底是哪里出了问题？或者碰到过类似的情况，如何解决？谢谢！

[url=http://baike.baidu.com/image/8b527d278fe8dd10918f9de9][img]http://imgsrc.baidu.com/baike/abpic/item/8b527d278fe8dd10918f9de9.jpg[/img][/url]X射线衍射仪是利用[url=/view/59839.htm]衍射[/url]原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析.广泛应用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教学,材料生产等领域.　　X射线衍射仪是利用X射线衍射原理研究物质内部微观结构的一种大型分析仪器，广泛应用于各大、专院校，科研院所及厂矿企业。　　基本构造　X射线衍射仪的形式多种多样, 用途各异, 但其基本构成很相似, 图4为X射线衍射仪的基本构造原理图, 主要部件包括4部分。　　（1） 高稳定度X射线源　提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。　　（2） 样品及样品位置取向的调整机构系统　样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。　　（3） 射线检测器　检测衍射强度或同时检测衍射方向, 通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。　　（4） 衍射图的处理分析系统　现代X射线衍射仪都附带安装有专用衍射图处理分析软件的计算机系统, 它们的特点是自动化和智能化。

本文讨论的CCD相机限于经验仅指Gatan 794，DIFPACK是衍射校正等用途的软件插件。一般来说，CCD相机的感光材料很脆弱，强光束容易造成CCD相机的象素点的损伤，但是如果用底片拍摄衍射点会有一些限制：比如如果衍射点非常弱，或者样品不稳定，如果记录到底片上，曝光时间必然要11-16s才行，这样就会造成底片质量上的弱势。那么CCD相机的抓拍功能能不能用来拍摄衍射花样呢？个人认为，CCD相机的设计中已经考虑到衍射花样的拍摄。如果用过CCD相机的用户就会知道一般的软件里面都有一个防止光漫溢的选项，这个选项就是为了拍摄强光下的图像或者衍射花样特殊设计的。我也咨询过一些工程师，他们说其实CCD相机不像原来厂商宣传的那么脆弱，只是怕有些用户不小心用了特别强的光来照射损伤元件。他们建议把衍射光斑调节到很弱，然后增加曝光时间，一般选2－3s，那么就可以拍摄衍射花样。注意，这里说的是不用beam stopper的那种，如果用beam stopper的话，我想光强还能增加一些。还有一个，对于样品的选择也有讲究，如果样品足够大，选区光阑的范围最好不要露出非样品区域（一般是空白或者是无定型碳膜），那么就会让中间的透射斑点变的稍微弱些，拍摄的花样会好些。当然考虑到厚度对衍射的影响，这个区域不宜太厚。至于测量d值，完全可以通过标准物质的衍射花样来校正。如果你同时买了DIFPACK，那么这个就很容易做到。 个人的一些见解，欢迎指正。[em01] [em01]

[size=4][font=楷体_GB2312]X射线衍射法因晶体的是单晶还是多晶分为x射线单晶衍射法和X射线多晶衍射法。　　[b]单晶X射线衍射分析的基本方法[/b]为劳埃法、周转晶体法和四圆单晶衍射仪法。书上还会有别的方法，因不太常用在此不再啰述。现在最常用的是四圆单晶衍射仪测单晶。　　[b]劳埃法[/b]改变波长、以光源发出连续X射线照射置于样品台上静止的单晶体样品，用平板底片记录产生的衍射线。根据底片位置的不同，劳埃法可以分为透射劳埃法和背射劳埃法。背射劳埃法不受样品厚度和吸收的限制，是常用的方法。劳埃法的衍射花样由若干劳埃斑组成，每一个劳埃斑相应于晶面的1～n级反射，各劳埃斑的分布构成一条晶带曲线。　　[b]周转晶体法[/b]：周转晶体法以单色X射线照射转动的单晶样品，用以样品转动轴为轴线的圆柱形底片记录产生的衍射线，在底片上形成分立的衍射斑。这样的衍射花样容易准确测定晶体的衍射方向和衍射强度，适用于未知晶体的结构分析。周转晶体法很容易分析对称性较低的晶体(如正交、单斜、三斜等晶系晶体)。　　[b]四圆单晶衍射仪法[/b]是转动晶体。以四个圆的转动变量φ、χ、ω和2θ进行晶体和计数器的转动，以实现倒格点与埃瓦尔德(Ewald)衍射球球面相遇产生衍射的必要条件。φ圆对应于安置晶体的测角头的自转转动，χ圆对应于测角头在其所坐落的仪器金属χ环内侧圆上的转动，ω圆对应于金属χ环绕中垂线(Z轴)进行的转动，2θ圆则对应于为保持衍射方向相对于入射X射线为2θ的角度所需进行计数器的转动。是常用的测量单晶衍射的方法[/font][/size]

Vip用户 v2691234 在 X射线衍射仪（XRD）版 被 禁止发帖 1 天，被封原因：广告。系统将会在 2013/3/6 自动解封，如有什么意见，请在投诉建议版投诉，特此通告！！ --------仪器论坛管理员

Ｘ射线粉末衍射仪等招标公告 （权限申请中）1 自动X射线粉末衍射仪 Ｘ射线粉末衍射仪主要用于研究物质晶体结构、物相分析、测定点阵参数等。主要技术规格1.高稳定X射线发生器1.1 额定功率：3KW, 最大管电压：60KV, 最大管电流：50mA1.2 稳定度：≤±0.01%（电源电压浮动10%）1.3 管电压和电流升降由计算机自动控制1.4 高压电缆：100KV介电强度，长度2米1.5 保护及报警装置KV过高，KV过低保护 整机过电流保护：20AX射线管功率超限保护 冷却水断水保护整机机柜全部安全防辐射保护，带窗口连锁，在防辐射外罩外射线剂量低于2.5μSv/小时2.Ｘ射线管2.1Cu 靶（国产），2.0KW，1×10mm焦点3.测角仪测角仪方式：卧式，水平扫描扫描半径：180mm准确度：±0.01° 狭缝：发散狭缝，接收狭缝，防散射狭缝 滤片：Ni、Fe4.Ｘ射线强度测量系统检测器：闪烁计数器 计算机自动控制 线性脉冲放大幅度分析器高压稳压电源5操作控制系统5.1 微型计算机：品牌PC机，17’彩显。5.2 打印机： A4 HP激光打印机5.3 前级控制机,计算机串行接口，RS485通讯6.操作分析系统及应用分析软件（Windows版本）BD2000衍射仪操作系统 BD2000衍射图谱分析系统图谱分析 数据查询6.1 粉末衍射分析应用软件定性物相分析及PDF卡片库（1—89集） 定量物相分析未知衍射图指标化 晶胞参数精密修正6.1.1 多重峰分离（峰形分析）衍射峰Kα2扣除7.冷却水循环系统分体式结构：压缩机壁挂室外 制冷量每小时3200W 1 台 2 光斑分析仪 1. M2因子测量系统光谱范围：250-2400nm • 分析激光束的传输特性，预测激光束的聚焦能力• 可测量脉冲或连续激光• 高精确度、高稳定性、全自动快速测量• 可直观地目视检测不同位置光束外形变化• 直接得到M2因子、光束发散角、束腰半径和位置、光斑分布、对称性等参数• M2-200-ACC-BB2. LBA-710PC-D 光束分析系统• 含图像采集板卡和测试分析软件，齐全的软件功能和强大的数据处理能力• 可测量连续和脉冲激光• 二维/三维显示光束横模（光束轮廓和能量分布）• 峰值功率及峰值位置 光斑大小及光斑椭圆度• 光束发射稳定性和均匀性 与高斯光束匹配情况分析• 光束发散角测量• LBA-710PC-D 附件：1）数字硅CCD-6612摄像仪及数据线光谱范围：190-1100nm 像素数：650×494 像素大小：9.9×9.9μm2）光束采样/分析系统 10位数字采集卡及光束质量分析测试软件3）光采集与可调光束衰减器 石英分束衰减器及不同衰减程度的中性密度滤波片组 工作波长：400-2400nm 1 台 3 单光子计数实验系统 主要技术指标 光谱采集范围： 360-650 nm积分时间：0-30 min(1ms/档,可调) 最大计数：≥107域值电压：0-2.56 V(10mV/档，可调)暗 计 数：≤30CPS/S (探测器CR125 -20℃) 2 套顺祝 商棋刘飞------------------------------------------------------------北京智诚风信网络科技有限公司地址:北京海淀区五道口华清商务会馆1606室邮编:100084电话:86-010-82863476-25 13521383769传真:86-010-82863479Email: liufei@bidchance.com网址: http://www.bidchance.com

Proto X射线衍射残余应力分析系统依据的原理是晶体物质晶面间距与入射波长和波峰角衍射之间存在着以下定量关系，即布拉格定律： 2d sinθ = λ。 其中 d 为晶体的晶面间距，λ为入射X射线波长，θ为最大波峰衍射角。当晶体的晶面间距在受应力σ发生变化时，由测角仪测量θ的变化，就可以得到晶面间距变化或应变Δd，继而由物质模量得到物体所受应力。Proto iXRD——便携式残余应力分析系统是世界上最小、最轻和最快的x射线衍射应力分析系统。作为测试残余应力特性领域的先锋，Proto开发了作为该领域内经典的iXRD。 iXRD有着模块化的软件，界面友好、简单，容易操作。内置应用程序，能被连接和同步运行，允许连接四个iXRD同时运行。另外iXRD-COMBO 实验室/便携式综合应力分析系统。既可作为实验室用又可在野外用，使iXRD更具灵活性。iXRD-COMBO联合了实验室系统的便利、安全和iXRD的多种功能。世界上没有其他象iXRD-COMBO的系统。X射线衍射残余应力分析系统可用于测量残余应力、外加应力、静载应力、总应力、残余奥氏体。

求理学D/max Ultima iv衍射仪自动校准步骤自动校准时吸收片插什么位置？要使用限高（DHL）的吗？[em09509]

高指数的晶面族与低指数的晶面族相比,对于同级衍射,哪种晶面族衍射光弱?为什么?

希望对大家的学习有所帮助！[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=31475]ccdtest单晶X射线衍射仪试验系统.rar[/url]

各位老师：我的Ｘ射线粉末衍射仪（日本理学RU200型）的真空系统出问题了，请帮忙，具体情况如下：症状：机械泵工作正常，机械泵工作３.5分钟后分子泵开始工作，可以听到分子泵转的声音，分子泵启动的同时，分子泵供电单元内部有滋滋的电流声，以前没有，分子泵工作８分钟后，自动停止，有时真空规（XG-2 型）报警灯亮（说明书解释为压力太高或发射电流小于0.7毫安），有时分子泵供电单元上标示为ＯＬＬ的灯亮（说明书解释为分子泵加速时检测到额外的电流，提示有可能是长期不操作或真空室置于在了空气中），还有时哪个灯也不亮，只是泵停止。情况说明：仪器在过年时停了一个月，停机前一切正常，停机前加过一次机械泵油，油型号与之前用的不同，当时换完一切正常　，此次仪器远行不正常后，我又将上次加的油换掉，问题依旧。现在我也不知道到底是哪儿的问题了，请老师们能赐教。

[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=100743]图片教程系统之：多晶X射线衍射仪[/url]

[b][font='Microsoft YaHei', 宋体, sans-serif]【序号】：１[/font]【作者】：[b][b]黄燮晨[/b][/b][/b][*]【题名】：[b][b][b][b]一种光栅衍射性能检测系统的设计[/b][/b][/b][/b]【期刊】：[font=Arial][size=12px]CNKI[/size][/font][b]【链接】：[url=https://gb.global.cnki.net/KCMS/detail/detail.aspx?dbcode=CMFD&dbname=CMFD202201&filename=1021876992.nh&uniplatform=OVERSEA&v=hC9l4pVFuZEGvvJ4-a9BxUY9xXN5HiosRNu8ngAS85i1zvdobSQWmBhOaYktl6yg]一种光栅衍射性能检测系统的设计 - 中国知网 (cnki.net)[/url][/b]

灭菌柜温度自动记录仪表最先进的类型有那些优点？可否对灭菌柜升温过程绘制升温曲线，可否对灭菌过程各时刻的有关参数进行打印？

xrd能自动标出每个衍射峰对应的物质成分吗？，因为在可信度小于10中，有好几种物质。虽然通过ID峰，可以知道每个角对应的物质。可是，如何在图中标出来呢？我一点击d按钮，则所有的物质都一起标在峰上了（好几种），如何只出现峰对应的唯一一种物质呢？[em04] [em09]

系统地表述知识也是学习的一种方法。我们不妨一起来做一个主题。大家来说衍射仪和衍射技术。只要你找到一个可以说话的主题，把你的知识，经历，经验，教训说出来，你就可以接上一段。比如你对衍射仪某个部分的了解，用衍射方法解决了你的某个问题。一种特殊的操作方法。如果你实在没话说，就不说好了，不要说“顶”，“好”之类的空话。好吗？为了鼓励大家的积极性，将从本人的积分中赠送每位参与者10个积分。先已放进来100分了，如果有更多的参加，将继续增加奖励分。我先来：一 衍射光源X射线管就象一个真空二极管，一头是阴极，另一头是阳极。阴极就是金属钨丝，阳极也是一块金属，最常用的就是铜，也有用铁，钴，钼的。如果给钨丝通上电流，就会产生电子。如果在阴极和阳极之间加上一个高电压，阴极产生的电子就会作定向运动，从阴极飞向阳极。电子在运动过程中在电场的作用下加速。当碰到阳极后，电子的动能损失。一方面使阳极发热，另一方面会产生X射线。X射线的产生效率非常低，一般只有1%的电子能量能转换成射线。99%的能量变成了热量，使得阳极在极短的时间内能被熔化掉。所以，我们得给阳极通水冷却。记得原来有一台60年的菲利普衍射仪。因为年纪有点大了，老是缺牙少胳膊的。但人家就是还能用。水压报警坏了，干脆拆掉，装个门铃来报警。但是，门铃只能报告是不是停水了，不能自动关高压。所以得有个人守着。有一天，一个研究生做实验时要如厕了。如厕回来的路上正好碰到个人说上了两句。回到实验室时，发现光管不亮了。因为正好这会停了一下水。如果阳极固定不动，电子老射到阳极的同一个地方，冷却水的冷却效果不是很理想。反之，如果阳极转动，电子则在不同的时候射到阳极的位置是不同的。有一个冷却时间来接受下一次电子轰击。因此，就有了固定靶和转动靶两种光管。转动靶的光管功率因此可以提高很多。目前，固定靶的功率大约是2KW，而转动靶的功率一般是18KW。因为转动靶不能在出厂时做成真空密封，因此，衍射仪上就多出来一个部件，即真空系统。需要给光管不断地抽真空。真空系统一般由两级真空来维持，即机械泵和分子泵。分子泵的转速可高了。如果突然让它停下来，比如说突然停电，可不好。弄不好会让分子泵的叶片损坏，转不动了。使用高功率光管的好处有很多。一个是因为功率高，光强度大，一般计数都在几万或几十万以上，图谱可好看了。因为线条光滑得多。二是对于微量相的考察会好一些。如果使用较慢的扫描速度，加上高功率光管。衍射强度计数高。微量相会有明显的衍射峰出现。X射线衍射方法并不能证明某个相的不存在。这是因为含量太低时，物相的衍射峰就可能不出现。一般衍射仪要求含量在10%左右或更高。高功率的衍射仪会好一些。比如，对于硅，含量在1%左右是可以看到衍射峰的。三是不用换光管。一般光管只能用个三年，一支进口的光管也是几万人民钞。弄坏了个可心痛了。转动靶的光管只需要揭开盖子，换根灯丝（阴极）就好了。四是数据质量可好了。现在有很多人在做全谱拟合，需要高精度高稳定度高强度的衍射数据。使用高功率的衍射仪完全可以达到要求。如果使用固定靶测量的数据。可靠性可不高。为了获得相同的效果，必须延长收谱时间。可费心了。还有一种更高功率的真空，当然不是光管。是同步辐射装置。功率同X射线管可不是同一数量级的。大得没法比。它可以直接穿透涂层（比薄膜厚多了），可以测量好深好深位置的东西。真是太好了。我们国家现在已经有好几个地方可以申请做实验了。如果选题好，说不定不但不要你的实验费，帮你出车马费，还会请你吃饭呢。除了X射线可以做衍射外，电子衍射大家肯定都知道。TEM不是可以打斑点吗？另外还有中子衍射。方法与X射线衍射差不多。但是，功率不高。不过，人家可以测磁矩呀。我说完了，下面谁来？讲完了，记得给下面的人出题目。下一主题可选：1）样品制备2）光路3）辐射损伤与防护

整个电子衍射斑点图案在底片上所占据的面积有多大？若用CCD记录，要求CCD的有效面积最小为多大，才能完整记录真个图案？ 请各位大虾指教！

数字全息显微镜DHM测量材料动态的3D形貌，亚纳米分辨率，基于菲涅尔衍射的数字全息重建技术 [table=100%][tr][td][img=动态3D细胞监测,690,138]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/11/201711241018_01_1546_3.jpg!w690x138.jpg[/img]仅0.001秒即可测出物体三维形貌，并且是亚纳米的分辨率。不同于传统白光干涉仪、共聚焦显微镜、扫描探针轮廓仪等需要扫描的成像方式，DHM仅需0.001秒采集单张全息图即可测出物3D形貌信息，做到了快速动态监测。 和传统全息术不一样的是没有采用干板而是采用CCD记录全息图，全息图中 光强图：提供与传统显微镜一样对比度的图像 相位图：提供量化数值，得以对被测物体进行精确三维测量 该系统为预放大全息显微镜，其中的相位图解析中用到了大量的算法，实时相位解包裹技术 实时形貌测量的案例二：石墨烯薄膜受力形变实时测量[img=薄膜形变实时测量,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/11/201711241030_01_1546_3.gif!w384x216.jpg[/img][img=MEMS面内面外运动测量,201,220]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/11/201711241030_02_1546_3.gif!w201x220.jpg[/img][/td][/tr][/table]