表面电位粒径仪

仪器简介：仪器名称：Zeta电位分析仪 研究对象：纤维、薄膜、粉末、粒子、固体金属或非金属片等材料。 主要用途：测量材料的表面电荷，了解材料表面上的电荷状况，研究材料表面性能。 主要应用：材料表面改性 材料表面黏附、吸附、脱附等 材料组成 材料亲水性与疏水性 材料洁净处理等 表面活性剂相互作用 SurPASS 3固体电运动分析仪/ 固体表面Zeta 电位仪帮助科研人员在化学与材料科学领域内改善和调整表面特性，设计新型、特定性质的材料，如聚合物、纺织、陶瓷、玻璃、或表面活性剂等。 通过测量宏观固体物表面的流动电流或流动电压（电势），SurPASS 3固体电运动分析仪给出了Zeta 电位这样一个重要的信息。 Zeta 电位是一种界面特性，这对于理解固体材料在很多工艺技术处理方面非常重要。Zeta 电位给出了固体表面电荷、吸附性质等的信息。 SurPASS 3 固体电运动分析仪/ 固体表面Zeta 电位仪拓展丰富了表界面分析知识。 SurPASS 3 固体电运动分析仪/ 固体表面Zeta 电位仪对不同形状和尺寸的固体及粉末材料均适用。 在表面分析中，固体表面 Zeta电位分析仪SurPASS 3基于流动电势和流动电流测量法，从而研究宏观固体表面 Zeta电位。 它可以提供有关表面电荷和相关性质的信息，并可检测表面性质中最微小的变化。 Zeta电位： 范围：所用测量原理决定没有限制再现性：+/-0.5 mV 等电点： 再现性：+/-0.1 pH 平板固体： 最小 35 mm x 15 mm，厚度20 mm， 20 mm x 10 mm，厚度2 mm， 直径为 14 mm 或 15 mm 的圆片 纤维： 最少重量 100 mg 粉末： 最小粒径 25 μm 膜和过滤材料 生物材料 半导体工业 纤维、织物和无纺布 化妆品和洗涤剂 矿物 针对各种形状的固体 各种不同的测量池适用于天然的和人造的纤维和织物、颗粒样品、粗颗粒和平板样品。 突破极限-流动奥妙 快速测量： Zeta电位测量少于2分钟 表面Zeta电位直接分析： 适用于实际样品，无需使用示踪颗粒 主要特点：测量原理 ： 在电化学双电流层的模型中，电荷分布形成固定层与可移动层。滑动层将这两层彼此分离。 Zeta 电位指定为在滑动层上固体表面与液相之间电势的衰减。电解质流动的外部力平行应用于固体与液体界面导致固定层与可移动层之间相对运动与电荷分离，由此得出实验的Zeta 电位。 流动电势的大小由液相的流动压差P决定。Zeta 电位即可定义为固体表面的固定层电荷与离子移动层之间的电势，相应的流动电势系数为dU/dP， Zeta 电位表示为： 固体表面特性，粘性，介电常数，电解质电导率K 等都影响Zeta 电位的大小。得出Zeta 电位值时，需要说明电解质溶液的类型，浓度，pH值。 稀释的电解质循环流经装有样品的测量池，由此产生一个压差，其电荷在电化学双电层中相对运动产生并增加流动电压，这个流动电压/ 流动电流（可选择）由置于样品两边的电极检测。SurPASS 3可同时测量出电解质的电导率，温度及pH值。

产品特色：搭载自动温度梯度测量功能，可分析变性、相变温度新增大范围分子量测定及解析功能(SLS法)0~90℃宽阔的温控范围使用动态电泳光散射法量测胶体粒子的分散凝集性、交互作用、表面改质等指标性的界达电位以及粒径、粒径分佈除保有低浓度溶液量测功能，更强化了量测浓溶液中的界达电位和粒径、粒径分佈的能力粒径范围0.6nm～10μm，浓度范围0.00001%～40%实际量测电渗流（Electroosmotic flow），具备高度可靠性的界达电位量测能力搭配平板样品容器（选配），可对应平面或薄膜状样品量测支援低介电常数样品容器（选配）支援业界最微量的(130μl～)可拋式样品容器量测范围：分子量360 ~ 2000 × 104浓度范围粒径：0.00001%~40%（乳胶112nm：0.00001～10%、胆汁酸：～40%）Zata potential : 0.001%～40%界达电位-200 ~ 200 mV电子迁移率-20 ~ 20 μm cm / Vsec粒径、粒径分佈0.6 nm ~ 10 μmELSZ-2000ZS量测原理：射感光元件：高感度APD样品容器：Zata potential: 矩形样品容器、 高浓度用样品容器或微量(130μl~)可拋式样品容器粒径/分子量：方形样品容器温度范围:0 ~ 90℃ （具备梯度功能）电源规格:100V ± 10% 250VA，50 / 60 Hz尺寸:380（W） × 600（D） × 210（H）mm重量:约22kg界达电位 & 粒径量测仪ELSZ-2000ZS特色量测范围规格应用范围量测范例选配附件联络我们ELSZ-2000ZS 界达电位 & 粒径量测系统~zeta potential、粒径、粒径分佈~產品特色搭载自动温度梯度测量功能，可分析变性、相变温度新增大范围分子量测定及解析功能(SLS法)0~90℃宽阔的温控范围使用动态电泳光散射法量测胶体粒子的分散凝集性、交互作用、表面改质等指标性的界达电位以及粒径、粒径分佈除保有低浓度溶液量测功能，更强化了量测浓溶液中的界达电位和粒径、粒径分佈的能力粒径范围0.6nm～10μm，浓度范围0.00001%～40%实际量测电渗流（Electroosmotic flow），具备高度可靠性的界达电位量测能力搭配平板样品容器（选配），可对应平面或薄膜状样品量测支援低介电常数样品容器（选配）支援业界最微量的(130μl～)可拋式样品容器量测范围分子量360 ~ 2000 × 104浓度范围粒径：0.00001%~40%（乳胶112nm：0.00001～10%、胆汁酸：～40%）Zata potential : 0.001%～40%界达电位-200 ~ 200 mV电子迁移率-20 ~ 20 μm cm / Vsec粒径、粒径分佈0.6 nm ~ 10 μm规格样式ELSZ-2000ZS量测原理雷射都卜勒法（Laser Doppler）光源半导体雷射感光元件高感度APD样品容器Zata potential: 矩形样品容器、 高浓度用样品容器或微量(130μl~)可拋式样品容器粒径/分子量：方形样品容器温度范围 0 ~ 90℃ （具备梯度功能）电源规格100V ± 10% 250VA，50 / 60 Hz尺寸380（W） × 600（D） × 210（H）mm重量约22kg应用范围除应用於表面化学、无机材料、半导体、高分子聚合物、生物、药剂、医学领域等以微粒子為主的分析外，更适用於薄膜或平面样品表面物质的实验与研究。新机能材料领域领域?燃料电池领域（奈米炭管、Fullerene、机能性薄膜、催化、奈米金属）?生物科技领域（奈米胶囊、网状高分子聚合物、DDS、生物奈米粒子、奈米微气泡…等）陶瓷及顏料工业领域?陶瓷（硅土、铝土、氧化鈦…等）?无机溶胶表面改质、分散、凝聚控制?顏料（黑碳、有机顏料）分散、凝聚控制?泥浆状（Slurry）样品?彩色滤光片?悬浮矿物质取样材料吸著力研究半导体领域?硅晶圆表面所附著之异物解析?研磨剂、添加剂与晶圆表面之相互作用研究?CMP Slurry高分子及化学工业领域?涂料或黏著剂乳液、乳剂分散或凝聚状态，医药、工业用乳胶表面改质?电解质高分子机能性研究（Polystyrene sulfonate、Poly carboxylic acids…等），机能性奈米微粒医药、食品工业领域?食品乳化剂、香料、医疗、化妆品等乳液、乳剂分散、凝聚状态，蛋白质机能性?微脂体、液胞分散与凝聚控制，界面活性剂（微胞）机能性量测范例印表机墨水界达电位测试硫胺素（维他命B1）& 乳胶粒子的粒径分佈聚苯乙烯乳胶混合样品使用平板样品容器的量测范例界达电位用微量可拋式样品容器的量测范例BSA分子量（4℃）F40分子量（25℃）蛋白质的变性温度解析隐形眼镜平板电位解析毛髮样品界达电位解析

简介通过图像处理自动跟踪电泳粒子，测量它们的流动性，并自动计算单个粒子的Zeta电位。 整个测量过程可以被直观地掌握。ZEECOM ZC-3000是一种可视化的测量仪器，它消除了与黑匣子仪器相关的焦虑感。此外，ZC-3000自动跟踪颗粒的布朗运动，使得测量颗粒粒径分布成为可能。测量原理 ZEECOM Zeta电位分析仪使用显微镜在监视器上观察粒子电泳迁移，同时执行图像处理以确定粒子迁移速度，然后将其转换为Zeta电位值。为了消除由测量池中的静电荷引起的电渗流引起的误差，在静止层上测量ζ电位，其位置可以通过测量池的宽度和深度计算。(软件会自动执行此计算。)ZC-3000通过图像分析跟踪粒子的随机移动，通过应用爱因斯坦-斯托克斯关系式，根据移动距离和各种参数(液温、粘度)自动计算粒径，求出粒径分布。特点显微镜电泳法结合先进的图像处理用颗粒直接观察方式测量单个颗粒的Zeta电位通过图像处理对微粒子的游动进行自动实时跟踪多种测量模式1.ZETA电位和柱状图。这是一种标准的测量方法，在设定的测量条件下计算固定层上颗粒的Zeta电位。 测量结果可以以柱状图的形式输出。2. 测量池中的流速分布在测量池的每个位置测量流速，并绘制其分布图。可以检查电渗流的湍流情况，并根据静止层和位移，在任何位置进行测量。3.通过测量的pH值（测量等电点）　输入分散剂的pH值，从Zeta电位随pH值的变化分析等电点和pH值的反应。4.沉降和上升速度的测量　在沉降和上升速度测量中，粒子跟踪方向被设定为Y轴方向，以测量沉降团块和粗大粒子的沉降速度，以及上升气泡和空心粒子的上升速度。技术参数测量原理显微镜电泳法（ZETA电位） 布朗运动测量法（粒径分布）Zeta电位测量范围-200～200mV流动性-20～20cm2/sec?VZeta电位粒径范围0.02μm～100μm　＊可见性取决于颗粒的性质和介质电压0至350 V DC * 可用于电极的电压（与外部电源兼容）光源LED（透过?杂散光）半导体激光（杂散光）相机单色CCD视频摄像机物镜10倍物镜（可选：可添加不同放大倍数的镜头）视频输出NTSC视频信号Cell stage0.001mm间距数字显示 * 精度0.01mm测量池水性体系标准池（可选:各种用途测量池)尺寸(W)x(D)x(H)mm300×610×398重量25kg电源100V　1A　50/60Hz 主要应用水处理、废水处理、絮凝剂和分散剂开发、絮凝控制、矿物、微生物、浮游生物、石棉、气泡、土木工程、土壤和选矿技术。功能性材料开发、记录材料、颜料、陶瓷、催化剂、聚合物、炭黑、碳纳米管、打印机/墨水/调色剂开发、水性/非水性溶剂涂料、燃料电池、涂层材料（汽车零件、电子零件）、纸张生产、表面活性剂等。红细胞、细胞、蛋白质、DDS、脂质体、载体、制药等

Nicomp 3000 系列纳米激光粒度仪 专为复杂体系提供高精度粒度解析方案基本信息仪器型号：Z3000 Standard工作原理：粒度分布：动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）ZETA电位：多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）检测范围： 粒径范围 0.3nm-10.0μmZETA电位 +/- 500mV NicompZ3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号ZLS&S基础上升级配套而来，采用动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，同机采用多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）检测ZETA电位。粒径检测范围 0.3nm – 10μm，ZETA电位检测范围为+/- 500mV。其配套粒度分析软件复合采用了高斯（ Gaussian）单峰算法和拥有专利技术的 Nicomp 多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。ZETA电位模块使用双列直插式方形样品池和钯电极，一个电极可以使用成千上万次。另外，采用可变电场适应不同的样品检测需求。既保证检测精度，亦帮用户大大节省检测成本。技术优势1、APD&PMT双检测器；2、多角度检测（multi angle）模块；3、可搭配不同功率光源；4、双列直插式电极和样品池，可反复使用成千上万次；5、钯电极；6、精确度高，最接近样品真实值；7、复合型算法： 高斯（Gaussion）单峰算法与专利的Nicomp多峰算法自由切换 相位分析法（PALS)和频谱分析法（FALS）自由切换8、快速检测，可以追溯历史数据；9、结果数据以多种形式和格式呈现；10、符合USP,CP等个多药典要求；11、无需校准；12、复合型算法：（1）高斯（Gaussion）单峰算法与专利的Nicomp多峰算法自由切换10、模块化设计便于维护和升级；（1）可自动稀释模块专利；（2）搭配多角度检测器；（3）自动进样系统（选配）；3000/MA多角度检测器粒径大于100 nm的颗粒在激光的照射下不会朝着各个方向散射。多角度检测角器通过调节检测角度来增加粒子对光的敏感性来测试某些特殊级别粒子。Nicomp 3000可以配备范围在10°-175，步长0.7°的多角度测角器，从而使得单一90°检测角测试不了的样品，通过调节角度进行检测，改善对大粒子多分散系粒径分析的精确度。Nicomp多峰分布概念 基线调整自动补偿功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 3000系列仪器所独有的两个主要特点，Nicomp创始人Dave Nicole很早就认识到传统的动态光散射理论仅给出高斯模式的粒度分布，这和实践生产生活中不相符，因为现实中很多样本是多分散体系，非单分散体系，而且高斯分布灵敏性不足，分辨率不高，这些特点都制约了纳米粒度仪在实际生产生活中的使用。其开创性的开创了Nicomp多峰分布理论，大大提高了动态光散射理论的分辨率和灵敏性。图一：Nicomp多分分布数据呈现 如图一：此数据为Nicomp创始人Dave Nicole亲测其血液所得的真实案例。其检测项目为：高密度脂蛋白，低密度脂蛋白和超低密度脂蛋白，由图中可以看出，其血液中三个组分的平均粒径分别显示在7.0nm；29.3nm和217.5nm。由此可见，Nicomp分布模式可以有效反应多组分体系的粒径分布。Nicomp多峰分布优势 Nicomp系列仪器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切换。其不仅可以给出传统的DLS系统的结果，更可以通过Nicomp多峰分布模式体现样品的真实情况。依托于Nicomp系列仪器一系列优异的算法和高灵敏性的硬件设计，Nicomp纳米激光粒度仪可以有效区分1:2的多分散体系。图二：高斯分布及Nicomp多峰分布对比图 如图二：此数据为检测93nm和150nm的标粒按照1:2的比例混合后所测得的数据。左边为高斯分布（Gaussian）结果，右图为Nicomp多峰分布算法结果，两者都为光强径数据。从高斯分布可以得到此混合标粒的平均粒径为110nm-120nm之间，却无法得到实际的多组分体系结构。从右侧的Nicomp多峰分布可以得到结果为双峰，即如数据呈现，体系中的粒子主要分布于98.2nm以及190nm附近，这和实际情况相符。 为满足不同客户的实际检测需求，我司的Nicomp N3000会配备相应的配置，旨在为客户们在控制成本的基础上，得到需求的解决方案，达到收益最大化。产品优势模块化设计 Nicomp 3000纳米激光粒度仪是全球率先在应用动态光散射技术上的基础上加入多模块方法的先进粒度仪。随着模块的升级和增加，Nicomp 3000的功能体系越来越强大，可以用于各种复杂体系的检测分析。自动稀释模块 带有专利的自动稀释模块消除了人工稀释高浓度样品带来的误差，且不需要人工不断试错来获得合适的测试浓度，这大大缩短了测试者宝贵时间，且无需培训，测试结果重现性好，误差率＜1%。3000/HPLD大功率激光器 美国PSS粒度仪公司在开发仪器的过程中，考虑到在各种极端实验测试条件中不同的需求，对不同使用条件和环境配置了不同功率的激光发生器。大功率的激光器可以对极小的粒子也能搜集到足够的散射信号，使得仪器能够得到极小粒子的粒径分布。同样，大功率激光器在测试大粒子的时候同样也很有帮助，比如在检测右旋糖酐大分子时，折射率的特性会引起光散射强度不足。 因为大功率激光器的特性，会弥补散射光强的不足和衰减，测试极其微小的微乳、表面活性剂胶束、蛋白质以及其他大分子不再是一个苛刻的难题。即使没有色谱分离，Nicomp 3000纳米粒径分析仪甚至也可以轻易估算出生物高分子的聚集程度。雪崩二极管 (APD)高灵敏度检测器 Nicomp 3000纳米粒径分析仪可以装配各种大功率的激光发生器和军品级别的雪崩二极管检测器（相比较传统的光电倍增管有7-10倍放大增益效果）。 APD通常被用于散射发生不明显的体系里来增加信噪比和敏感度，如蛋白质、不溶性胶束、浓度极低的体系以及大分子基团，他们的颗粒的一般浓度为1mg/mL甚至更低，这些颗粒是由对光的散射不敏感的原子组成。APD外置了一个大功率激光发生器模块，在非常短的时间内就能检测分析纳米级颗粒的分布情况。3000/MA多角度检测器 粒径大于100 nm的颗粒在激光的照射下不会朝着各个方向散射。多角度检测角器通过调节检测角度来增加粒子对光的敏感性来测试某些特殊级别粒子。Nicomp 3000可以配备范围在10°-175，步长0.7°的多角度测角器，从而使得单一90°检测角测试不了的样品，通过调节角度进行检测，改善对大粒子多分散系粒径分析的精确度。工作原理目录结构： 1. 前言2. 动态光散射粒度仪原理3. 动态光散射理论：光的干涉4. 粒子的扩散效应5. Stoke-Einstein方程式6. 自相关函数原理7. ZETA电势电位原理 前言 近十几年来，动态光散射技术（Dynamic Light scattering, DLS），也被称为准弹性光散射（quasi-elastic light scattering, QELS）或光子相关光谱法（photon correlation spectroscopy， PCS）,已经被证明是表征液体中分散体系的粒径分布（PSD）的极有用的分析工具。DLS技术的有效检测粒径范围——从5am（0.005微米）到10几个微米。DLS技术的优势相当明显，尤其是当检测到300nm以下亚微米的粒径范围时，在此区间，其他的技术手段大部分都已经失效或者无法得到准确的结果。因此，基于DLS理论的设备仪器被广泛采用用以表征特定体系的粒度分布，包括合成的高分子聚合物(如乳胶，PVCs等)，水包油和油包水的乳剂，囊泡，胶团，微粒，生物大分子，颜料，燃料，硅土，金属晶体，陶瓷和其他的胶体类混悬剂和分散体系。动态光散射原理 下图所示为DLS系统的简单的示意图。激光照射到盛有稀释的颗粒混悬液的玻璃试管中。此玻璃试管温度恒定，每一个粒子被入射光击发后向各个方向散射。散射光的光强值和粒径的分子量或体积（在特定浓度下）成比例关系，再带入其他影响参数比如折射率，这就是经典光散射（Classic light scattering)的理论基础。 图1：DLS系统示意图最新的动态光散射方法（DLS）从传统的光散射理论中分离，不再关注于光散射的光强值，而关注于光强随着时间的波动行为。简单来说，我们在一定角度（一般使用90°角）检测分散溶剂中的混悬颗粒的总体散射光信息。由于粒度的扩散，光强值不断波动，理论上存在有非常理想化的波动时间周期，此波动时间和粒子的扩散速度呈反比例关系。我们通过光强值的波动自相关函数的计算来获得随时间变化的衰减指数曲线。从衰减时间常量τ，我们可以获得粒子的扩散速度D。使用Stokes-Einstein 方程式，我们最终可以计算得出颗粒的半径（假定其是一个圆球形状）。动态光散射理论：光的干涉 为了容易理解什么叫做强度随时间波动，我们必须先理解相干叠加（coherent addition）或线性叠加（superposition）的概念,进一步要知道检测区域内的不同的粒子产生了很多独立散射光，这些独立的散射光相干叠加或互相叠加的最终结果就是光强。这种物理现场被称为“干涉”。下图是光干涉图样。 每一束独立的散射光波到达检测器和入射激光波长有相位关系，这主要取决于悬浮液中颗粒的精确定位。所有的光波在PMT检测器的表面的狭缝中混合在一起，或者叫干涉在一起，最终在特定的角度可以检测得到“净”散射光强值，在DLS系统中，绝大部分都使用90度角。 小知识——光电倍增管（PMT) 光电倍增管（Photomultiplier，简称PMT），是一种对紫外光、可见光和近红外光极其敏感的特殊真空管。它能使进入的微弱光信号增强至原本的108倍，使光信号能被测量。光电倍增管示意图小知识——光电倍增管（PMT)MT) 光电倍增管（Photomultiplier，简称PMT），是一种对紫外光、可见光和近红外光极其敏感的特殊真空管。它能使进入的微弱光信号增强至原本的108倍，使光信号能被测量。光电倍增管示意图 工作原理光电倍增管是由玻璃封装的真空装置，其内包含光电阴极 (photocathode)，几个二次发射极 (dynode)和一个阳极。入射光子撞击光电阴极，产生光电效应，产生的光电子被聚焦到二次发射极。其后的工作原理如同电子倍增管，电子被加速到二次发射极产生多个二次电子，通常每个二次发射极的电位差在 100 到 200 伏特。二次电子流像瀑布一般，经过一连串的二次发射极使得电子倍增，最后到达阳极。一般光电倍增管的二次发射极是分离式的，而电子倍增管的二次发射极是连续式的。 应用 光电倍增管集高增益，低干扰，对高频信号有高灵敏度的优点，因此被广泛应用于高能物理、天文等领域的研究工作，与及流体流速计算、医学影像和连续镜头的剪辑。雪崩光电二极管（Avalanche photodiodes，简称APDs）为光电倍增管的替代品。然而，后者仍在大部份的应用情况下被采用。 动态光散射理论： 粒子的扩散效应 悬浮的粒子并不是静止不动的，相反，他们以布朗运动（Brownian motion)的方式无规则的运动，布朗运动主要是由于临近的溶剂分子冲撞而引起的。因此，到达PMT检测区的每一束散射光随时间也呈无规则波动，这是由于产生散射光的粒子的位置不同而导致的无规则波动。因为这些光互相干涉在一起，在检测器中检测到的光强值就会随时间而不断波动。粒子很小的位移需要在相位上产生很大的变化，进而产生有实际意义的波动，最终这些波动在净光强值上反应出来。 DLS测量粒径技术的关键物理概念是基于粒子的波动时间周期是随着粒子的粒径大小而变化的。为了简化这个概念，我们现在假定粒子是均一大小的，具有相同的扩散系数（diffusion coefficient)。分散体系中的小粒子运动的快，将会导致光强波动信号变化很快；而相反地，大粒子扩散地毕竟慢，导致了光强值的变化比较慢。 图示4使用相同的时间周期来观测不同大小（小，中，大）的粒子产生的散射光强变化,请注意，横坐标是时间t。 我们需要再次强调，光强的波动并不是因为检测区域内粒子的增减引起的 而是大量的粒子的位置变动（位移）而引起的。 Stokes Einstein Equation DLS技术的目标是从原始数据（raw data)中确定粒子的扩散系数“D”。原始数据主要是指光强信号的波动，比如上述图4中所示。通过扩散系数D我们可以很容易的计算出粒子的半径，这时候就是广为人知的Stokes-Einstein方程式：D=kT/6πηR （2）这里k 指的是玻尔兹曼常数1.38 x 10-16 erg K-1；T是绝对温度；η是分散溶剂的额剪切粘度，比如20℃的水的η=1.002×10-2 泊； 从上述公式2中我们可以看到，通常情况下，粒子的扩散系数D会随着温度T的上升而增加。温度进而也会影响溶剂粘度η。例如，纯水的粘度在25℃下会落到0.890×10-2泊，和20℃下相比会有10%的改变。毫无疑问，溶剂的粘度越小，粒子的无规则扩散速度会越大，从而导致光强的波动也越快。因此，温度T的变化和粒径的变化是完全分不开的，因为他们都影响到了扩散系数D。正因为这个原因，样本的温度必须保持恒定，而且必须非常精确，这样才能获得有实际意义的扩散系数D。 从图4的“噪声”信号中无法直接提取出扩散系数。但是可以清楚地看到，信号b比信号c波动地快，但是比信号a波动地慢，因为，信号b地粒径一定在a和c之间，这只是很直观地得到一个结论而已。然而，量化此种散射信号是一个很专业地课题。幸而，我们有数学方法来解决这个问题，这就是自相关函数（auto-correlation)。自相关函数原理 现在让我们设定散射光强的自相关函数为IS(t)，在上述图4中可以看到其随时间而波动。我们用C(t’)来标识自相关函数。C(t’)可以通过如下方程式3来表达：C(t’)= Is(t)*Is(t-t’) (3)括号 表示有很多个t和对应的Is值。也就是说，一次计算就是运行很多Is(t)*Is(t-t’) 的加和，所有都具有相同的间隔时间段t’。 图5是典型的Is(t)的波形图，通过这张图，我们可以认为C(t’)和Is(t)之间有简单的比例关系，这张图的意义在于通过C(t’)函数可以通过散射光强Is(t)的波动变化“萃取”出非常有用的信息。 自相关函数C(t’)其实是表征的不同大小的粒子随时间而衰变的规律。Zeta电势电位原理 1.1 什么是ZETA电势电位1.2 STERN双电子层1.3 DLS散射系统是如何测ZETA电位的？ 什么是ZETA电势电位Zeta电位（Zeta potential）是指剪切面(Shear Plane)的电位，又叫电动电位或电动电势（ζ-电位或ζ-电势），是表征胶体分散系稳定性的重要指标。我们知道胶体系统中有两个相，分散相和连续相，分散相在纳米和亚微米之间。因为微粒的粒径很小，因此它比表面积大从而有一些增强属性使其稳定悬浮。但是如果微粒开始絮凝，微粒的粒径改变，性能也可能发生变化，如果不加以控制，絮凝体也可能进一步团聚形成沉淀，接着就会相位分离。当我们建立稳定分散体系时，我们需要维持微粒的稳定与分散，其中一个方法就是增强微粒表面电荷，然后这些微粒将带偶极矩互相之间产生排斥，随着微粒电荷的增加，微粒团聚而形成絮凝的几率降低。让微粒分散，带正电荷还是带负电荷并不重要，重要的是电荷的绝对值。我们研究微粒表面电荷的方法就是Zeta电势电位。STERN双电子层图 1胶团模型胶核表面拥有一层离子，称为电位离子，电位离子通过静电作用，把溶液中电荷相反的离子吸引到胶核周围，被吸引的离子称为反离子，越靠近胶核表面的地方反离子越密集，相反，越远的地方反离子越稀疏，他们的电荷总量与电位离子相等并且符号相反。因此，整个胶团是处于电中性状态，而胶核表面电势是最高的，根据定义Zeta电位即为胶核表面电势。图 2 STERN双电子层模型STERN双电子层即为胶核表面以及扩散层共同形成的电子层模型，值得注意的是扩散层中带电离子是分布在连续相中，因此其与分散介质息息相关（例如：通过水分散的体系，扩散层离子浓度以及扩散层宽度与水有很大关联），所以扩散层都没有明确的边界。DLS散射系统如何测ZETA电位目前测量ZETA电位的方法主要有电泳法、电渗法、流动电位法以及超声波法。Nicomp Z3000采用的是主流的电泳法测试ZETA。图 3 仪器内部光路图图3是Nicomp Z3000设备内部的光路图，激光通过一个分光器分成两组光路，一组通过反射镜直接进入检测器，另一组经过一个可调节的滤光片后，再经由微粒散射进入到相关检测器中。观察两组相干光的频率变化或者相位变化，从而计算得出ZETA电势电位。从微观角度来理解ZETA电位的计算，微粒由于带电量或是带点符号不同，其在电场作用下的运动状态也会不同，这种运动状态我们用电泳淌度μ（带电离子在单位场强下的平均电泳迁移速率）来表征，我们通过检测器观察到的两组相干光的频率或是相位变化，结合电场强度，相干光波长等参数通过简单的数学建模计算得出粒子的电泳淌度μ，最终ZETA电位通过公式：换算得出。η为分散剂的剪切粘度，ε为分散剂的介电常数。 点击下载工作原理仪器参数粒径检测范围0.3nm-10μm数字相关器通道数1024分析方法动态光散射，Gaussian单峰算法和 Nicomp多峰算法pH值范围2-12温度范围0℃-90 ℃激光光源35mW激光光源检测角度10°-170°（0.7°步进）检测器APD(雪崩二极倍增管，可7倍增益放大)PMT(高性能光电检测器) 可用溶剂水相,绝大多数有机相样品池标准4 mL样品池（1cm×4cm，高透光，石英玻璃或塑料）；1mL样品池（玻璃，高透光率微量样品池，最小进样量10μL）分析软件Windows 兼容软件；符合 21 CFR Part 11 规范分析软件（可选）验证文件有电压220–240VAC，50Hz或100–120VAC，60Hz计算机配置要求Windows 7及以上版本windows操作系统，40Gb硬盘，2G内存，USB接口外形尺寸56 cm * 41 cm * 24cm重量约26kg（与配置有关）配件大功率激光二极管PSS使用一系列大功率激光二极管来满足更多更苛刻的要求。使用大功率激光照射，以便从小粒子出货的足够的入射光。15mW, 35mW, 50mW, 100mW — 波长为635nm 的红色二极管。20 mW 50 mW 和 100 mW 波长为 514.4nm的绿色二极管。雪崩光电二极管检测器（APD Detector）提供比普通光电倍增管(PMT)高20倍的灵敏度。自动稀释系统模块（选配）将初始浓度较高的样本自动稀释至可检测的的浓度，可稀释初始固含量为50%的原始样品，本模块收专利保护，其可免除人工稀释样品带来的外界环境的干扰和数据上的误差，此技术被用于批量进样和在线检测的过程中。多角度检测系统模块（选配）提供多角度的检测能力。使用高精度的步进电机和针孔光纤技术可对散射光的接收角度进行调整，可为微粒粒径分布提供可高分辨率的多角度检测。对高浓度样品（≤40%）以及大粒子多分散系的粒径提供了提供15至175度之间不同角度上散射光的采集和检测。自动进样器（选配）批量自动进样器能实现最多76个连续样本的分析而无需操作人员的干预。因此它是一个非常好的质量控制工具，能增大样品的处理量。大大节省了宝贵的时间。样品池标准4 mL样品池（1cm×4cm，高透光，石英玻璃或塑料）；1mL样品池（玻璃，高透光率微量样品池，最小进样量10μL）应用领域 纳米载药纳米药物研究近些年主要着重在药物的传递方向并发展迅猛，纳米粒的大小可以有效减少毒性和副作用。所以，控制这些纳米粒的粒径大小是非常必要的。磨料磨料既有天然的也有合成的，用于研磨、切削、钻孔、成形以及抛光。磨料是在力的作用下实现对硬度较低材料的磨削。磨料的质量取决于磨料的粗糙度和颗粒的均匀性。化学机械抛光液(CMP SLURRY) 化学机械抛光是半导体制造加工过程中的重要步骤。化学机械抛光液是由腐蚀性的化学组分和磨料(通常是氧化铝、二氧化硅或氧化铈)两部分组成。抛光过程很大程度上取决于晶片表面构型。晶片的加工误差通常以埃计，对晶片质量至关重要。抛光液粒度越均匀、不聚集成胶则越有利于化学机械抛光加工过程的顺利进行。陶瓷陶瓷在工业中的应用非常广泛，从砖瓦到生物医用材料及半导体领域。在生产加工过程中监测陶瓷颗粒的粒度及其粒度分布可以有效地控制最终产品的性能和质量。粘土粘土是一种含水细小颗粒矿物质天然材料。粉砂与粘土类似，但粉沙的颗粒比粘土大。粘土中易于混杂粉砂从而降低粘土的等级和使用性能。ISO14688定义粘土的颗粒小于63μm。涂料涂料种类繁多，用途广泛。涂料的颗粒大小及粒度分布直接影响涂料的质量和性能。污染物监测粒度检测分析在产品的污染监测方面起着重要作用，产品的污染对产品的质量影响巨大。绝大多数行业都有相应的标准、规程或规范，必须严格遵守和执行，以保证产品满足质量要求。化妆品无论是普通化妆品还是保湿剂、止汗剂，它们的性能都直接与粒度的大小和分布有关。化妆品的颗粒大小会影响其在皮肤表面的涂抹性能、分布均匀性能以及反光性能。保湿乳液(一种乳剂)的粒度小于200纳米时才能被皮肤良好吸收，而止汗剂的粒度只有足够大时才能阻塞毛孔起到止汗的作用。乳剂乳剂是两种互不相溶的液体经乳化制成的非均匀分散体系，通常是水和油的混合物。乳剂有两种类型，一种是水分散在油中，另一种是油分散在水中。常见的乳剂制品有牛奶（水包油型）和黄油（油包水型），加工过程中它们均需均质化处理到所需的粒径大小以期延长保质期。食品食品的原料（粉末及液体）通常来源于不同的加工厂，不同来源的原料必须满足某些特定的标准以使最终制品的质量均一稳定。原料性质的任何波动都会对食品的口味和口感产生影响。用原料的粒度分布作为食品质量保证和质量控制（QA/QC）的一个指标可确保生产出质量均以稳定的食品制品。液体工作介质/油液体工作介质（如：油）越来越昂贵，延长液体介质的寿命是目前普遍关心的问题。机械设备运转过程中会产生金属屑或颗粒落入工作介质中（如：油浴润滑介质或液力传递介质），因此需要一种方法来确定介质（油）的更换周期。通过监测工作介质（油）中颗粒的分布和变化可以确定更换工作介质的周期以及延长其使用寿命。墨水随着打印机技术的不断发展，打印机用的墨水变得越来越重要。喷墨打印机墨水的粒度应当控制在一定的尺度以下，且分布均匀，大的颗粒易于堵塞打印头并影响打印质量。墨水是通过研磨方法制得的，可用粒度检测分析仪器设备监测其研磨加工过程，以保证墨水的颗粒粒度分布均匀，避免产生聚集的大颗粒。胶束胶束是表面活性剂在溶液中的浓度超过某一临界值后，其分子或离子自动缔合而成的胶体尺度大小的聚集体质点微粒，这种胶体质点与离子之间处于平衡状态。乳液、色漆、制药粉体、颜料、聚合物、蛋白质大分、二氧化硅以及自组装TiO2纳米管(TNAs)等

仪器概述固体表面Zeta电位分析仪是专门用多孔塞技术直接测定流动电位/流动电流的Zeta电位分析仪，该技术适用于50μm以上的大颗粒、纤维和平坦的表面，或在一个压力梯度下电解质可以透过的曲面膜或中空纤维样品。产品应用领域固体表面Zeta电位分析仪主要应用粉末、纸浆、反渗透膜、中空纤维、纺织纤维、地质矿物、矿石、玻璃、晶圆、聚合物、头发… … 产品用途流动电位流动电流(可选)插入阻力导电性温度产品规格n 可靠和简单的设置n 完全自动化的系统测量和冲洗n 基于Windows的菜单驱动软件n Excel数据采集、处理和导出n 在线电导率样品池，可精确计算zeta电位。n 压差与电位的实时关系图n 直接计算zeta电位n 直接数据传输和处理n 样品池尺寸在1cm～8cm之间可变。n 专用样品池选件满足特殊需要（平板膜，滤膜，中空纤维… … ）n 中空纤维切向流电位专用样品池n 直接测量多孔塞电阻独特功能n 在线电导率样品池，可精确计算zeta电位n 中空纤维切向流电位专用样品池产品优势n 样品池尺寸在1cm～8cm之间可变n 专用样品池选件满足特殊需要（平板膜，滤膜，中空纤维… … ）n 在线电导率样品池，可精确计算zeta电位。 操作软件固体表面Zeta电位分析仪的软件安装简单可靠，易于操作，所有样品独立显示电导率对时间作图，数据并以.txt格式自动存档客户案例北京金隅集团山东大学中国建材所售后服务应用支持中心：在北京设有应用支持中心和应用实验室。负责用户培训及应用支持，做到对用户的问题24小时即时响应。层次一： 经过多次培训的分布于各办事处的专职销售及市场工程师和产品专家同时负责用户的基本应用问题解答及仪器状态的判断。层次二：设于北京技术服务中心及应用实验室的工程师负责仪器的安装、维修及用户培训，做到对用户的问题24小时即时响应。层次三：公司专家每年访问中国，帮助中国用户解决疑难问题。层次四：公司专家求助热线提供每天18小时的全球服务，答疑解惑。 1.仪器的安装，调试:仪器到达用户使用现场后，由厂方从北京，上海或广州派出工程师进行安装，调试工作。2.仪器的验收: 安装调试完毕后，用标准物质或指定样品进行验收。3.应用培训:在仪器安装，验收完成后，由卖方对用户人员进行现场培训，使用户能进行独立的上机操作。4.维修服务：1.保质期为仪器验收之后12个月。2.在接到用户报修后，24小时响应；若确认仪器故障，48小时内工程师到现场进行维修。 3.公司将及时提供仪器软件的免费升级。分析报告

纳米粒径及Zeta电位分析仪Nicomp Z3000介绍 NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪采用先进的设计理念优化结构设计，充分有效地融合了动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)和电泳光散射(ELS)技术，即可以多角度（步长0.9μm ）检测分析液态纳米颗粒系的粒度及粒度分布，又可以小角度测量Zeta电位。粒度测试范围：粒度测试范围：0.3 nm – 10 μm。 NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪通过检测分析胶体颗粒的电泳迁移率测量Zeta电位。Zeta电位是对颗粒之间相互排斥或吸引力的强度的度量，是表征胶体分散系稳定性的重要指标，Zeta电位（正或负）越高，体系越稳定。Zeta电位表征的是粒子之间的排斥力。由于大部分的水相胶体体系是通过粒子之间的静电排斥力来保持稳定的，粒子之间的排斥力越大，粒子越不容易发生聚集，胶体也会越稳定。NICOMP 380 Z3000结合了动态光散射技术（DLS）和电泳光散射法（ELS），实现了同机测试纳米粒子分布和Zeta电势电位。 应用行业：磨料、化学机械抛光液、陶瓷、粘土、涂料、污染监测、化妆品、乳剂、食品、液体工作介质/油、墨水、 乳液、色漆、制药粉体、颜料、聚合物、蛋白质大分、二氧化硅以及自组装TiO_2纳米管(TNAs)等 自动滴定仪NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪在增加自动滴定模块后，可以一次性使用同一样品在不同PH值或不同离子浓度的条件下进行一系列测试，实现了在等电点测试的技术难题。 相位分析光散射法PALS（Phase Analyze Light Scattering）技术PSS 于 2004 年推出ling先的 PALS 技术，用相位（Phase）变化的分析取代原 先频谱的漂移，不仅使 Zeta 电位分析的精度及稳定性有了显著的提高，而且突破了水相体系的限制，对油、有机物体系同样能提供 Zeta 电位的分析。NICOMP 380 Z3000 纳米粒径与电位分析仪特点同机测试悬浮液体的粒径分布以及ZETA电势电位Zeta电位运用了多普勒电泳迁移原理以及zui新的相位分析散射法可以测试水相和有机相的样品检测范围宽广，亚微米颗粒均可以被检测样品测试量小高辨析率结果重现性好，误差小于1%100 % 样品可回收li用可搭载自动滴定仪, 自动稀释器和自动进样器无须校准一次性进样，避免交叉污染样品可选配大功率激光发生器以及jun品级APD雪崩二极管检测器来检测粒径小于1nm的颗粒 技术参数：粒径检测范围粒度分析：0.3 nm - 10 μmZeta电位检测范围粒度0.3 nm-100 μm分析方法粒径：动态光散射，Gaussian 单峰算法和 Nicomp 无约束自由拟合多峰算法；电位：电泳光散射(ELS)技术和相位分析光散射法pH值范围2 - 12温度范围0℃ - 90 ℃激光光源（可选）5 mW氦氖光源；15 mW, 35 mW,50 mW激光光源；100 mW激光光源（红）；20 mW，50 mW，100 mW激光光源（蓝/绿）检测角度（可选）90°或 多角度（10°- 175°，可选配）检测器（可选）PMT（光电倍增管），CMP（4倍增益放大）APD雪崩二极管（7倍增益放大）高浓度样品背散射175°背散射可用溶剂水相,绝大多数有机相样品池标准4 mL样品池（1cm×4cm，高透光，石英玻璃或塑料）；1mL样品池（玻璃，高透光率微量样品池，zui小进样量10μL）选配模块高浓度背散射；自动稀释模块，自动进样器，多角度检测器，高能激光发生器，高增益检测器，21CFR PART11规范软件，在线模块。分析软件Windows 兼容软件；符合 21 CFR Part 11 规范分析软件（可选）验证文件有电压220 - 240 VAC，50Hz 或100 - 120 VAC，60Hz计算机配置要求Windows XP及以上版本windows操作系统，40Gb硬盘，1G内存，光驱，USB接口，串口（COM口）外形尺寸56 cm * 41 cm * 24cm重量约26kg（与配置有关）电泳光散射法（ELS）与粒子的动电（Zeta）电位： ELS 是将电泳和光散射结合起来的一种新型光散射。它的光散射理论基础是 准弹性碰撞理论，只是在实验时在式样槽中多加一个外电场，带电粒子即以固定 速度向与带电粒子电性相反的电极方向移动，与之相应的动力光散射光谱产生多普勒漂移，这一漂移正比于带电粒子的移动速度，因此实验测得谱线的漂移，就 可以求得带电粒子的电泳速度，从而求得ζ-电位。相位分析光散射法PALS（Phase Analyze Light Scattering）技术PSS 于 2004 年推出ling先的 PALS 技术，用相位（Phase）变化的分析取代原 先频谱的漂移，不仅使 Zeta 电位分析的精度及稳定性有了显著的提高，而且突破了水相体系的限制，对油、有机物体系同样能提供 Zeta 电位的分析。动态光散射原理 Nicomp 380纳米粒径分析仪采用动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理来获得范围在0.3 nm到10 μm的胶体体系的粒度分布。DLS是通过一定波长的聚焦激光束照射在悬浮于样品溶液的粒子上面，从而产生很多的散射光波。这些光波会互相干涉从而影响散射强度，散射强度随时间不断波动，二者之间形成一定的函数关系。粒子的扩散现象（或布朗运动）导致光强不断波动。光强的变化可以通过探测器检测得到。使用自相关器分析随时间而变的光强波动就可以得到粒度分布系数（Particle size distribution, PSD）。单一粒径分布的自相关函数是一个指数衰减函数，由此可以很容易通过衰减时间计算得到粒子扩散率。zui终，粒子的半径可以很容易地通过斯托克斯（Stokes-Einstein）方程式计算得到。如下是Nicomp 380纳米粒径分析仪的检测原理简图： 大部分样品一般都不均匀，往往会呈现多分散体系状态，即测出来的粒径正态分布范围会比较大，直观的呈现是粒径分布峰比较宽。自相关函数是由多组指数衰减函数综合组成，每一个指数衰减函数都会因指数衰减时间不同而存在差异，此时计算自相关函数就变得不再简单。Nicomp 380纳米粒径分析仪巧妙运用了去卷积算法来转化原始数据，从而得出zui接近真实值的粒度分布。Nicomp 尤其适合测试粒度分布复杂的样品体系，li用一组独特的去卷积算法将简单的高斯正态分布模拟成高分辨率的多峰分布模式，这种去卷积分析方法，即得到PSS粒度仪公司独有的粒径分布表达方法—Nicomp分布（Nicomp Distribution）。有些仪器的高斯分析模式可以使用基线调整参数的功能，以此来补偿测试环境太脏而超出仪器灵敏度的问题。高斯分析模式也可以允许使用者指定“固体重量模式”或者“囊泡重量模式”来分析带有小囊泡的胶体体系，比如脂质体。Nicomp分析方法是一种专li的高分辨率的去卷积算法，它首次在1990年提出并应用于分析和统计粒径分布。在历史上已经证明Nicomp分析方法能够精确分析非常复杂的双峰样品分散体系（比如 2：1比例），甚至是三峰样品分散体系。在科学研究中，找到粒子聚集分布的杂峰是非常有用的。 NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪广泛适用于检测悬浮在水相和有机相的颗粒物。

粒径分析仪美国MAS公司成立至今有30余年历史，专注于超声电声法原理颗粒度检测、 Zeta电位分析仪的研发生产。超声法原理测试样品的颗粒分布，是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波在样品中传播，由于不同大小粒径对声波的吸收、散射作用不同，导致声波衰减程度不同。根据颗粒大小和声波衰减之间的函数关系，得到颗粒的粒度特点：不稀释：快速、简易，极少或不需事前样品准备！坚固耐用，用途广泛。电声量测分析：水性… 非水性… 不透明… 粘性… 纳米颗粒… … 自动滴定很简单的IEP测量自主已混合、已抽打过气样品均匀性… 无颗粒沉降… … 非常适合实验室和工厂… 研发、质量控制和在线等地使用粒径分析仪ZA500，ZetaAcoustic，结合Zeta电位分析仪、声波、电声测量三合一很强，高的分辨率，免稀释 Zeta电位分析。MAS应用科学公司发明电动声波振幅（ESA）技术用于高百分比之固体 Zeta 表面测量。MAS将其独特的专业知识应用在 Zeta 电位和粒度分析仪器的设计，使其成为 MAS很强而有力的发明Zeta电位量测仪。使用ZA500的好处：※ 藉由结合电动和声学，二合一的测量中，进行高分辨率/准确度 Zeta 测量。※ 自动粒度校正（通过声学测量）精确的 Zeta 测量（1纳米到30微米）。※ 自动/无人值守的电位滴定和容量滴定，用于简单和很快的 Iso-Electric Point（IEP）测定、表面活性剂吸附效应和其他动态测量。※ 在测量过程中，适用于自主已混合和/或已抽打气样品，无需等待颗粒沉降无不良影响。※ Zeta倾角传感器允许在样品池或独立容器中进行测量。※ 坚固耐用，适用于大多数样品，包括纳米颗粒、水性、非水性、高粘性、低至高百分比固体（0.1至60%体积）和 0-14 ph 等。※ 同时测量酸碱度、电导率和温度。※ 免费终身咨询 Matec 的任何材料胶体专家… 无论是有关 ZetaZcoustic… 或任何其他胶体科学主题。下图显示了氧化铝（左）和二氧化钛样品的自动、无人值守电位滴定示例。它们的IEP位置很容易由 ZetaAcoustic 仪器确定。电声法原理测试样品的Zeta电位，在针对高浓度，高粘度的样品，如电池浆料、混悬剂、电子印刷材料、乳剂、油墨等样品，电声超声法粒度电位分析仪可直接进行原样检测，无须进行样品稀释，即可得到更精确真实的结果，避免了因稀释带来的误差和影响。对研发，生产起到关键的指导意义。

颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS---有效避免测量颗粒表征错误在分析复杂固-液和液-液配方时，传统的粒度测量方法是基于2个假设，第一个假设是所有颗粒都是球形和光滑的，但球形和光滑的颗粒在大多数工业材料中很少出现；第二个假设是粒子总是均匀一致的，这也并不准确。由于这些错误的假设，测量粒径和颗粒表面积可能会产生误导，从而导致后续工艺和使用过程中的出现误差。德国ORONTEC公司研发的颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS使用核磁共振NMR技术直接测量颗粒大小和形状，避免高成本的错误，具有以下的功能：●轻松区分大小相同但表面或形状不同的产品；●可以显示相同材料表面化学成分的差异得益于这些功能，MagnoMeter XRS能够为任何行业在配方或者制造过程的任何阶段提供一流的功能和分析性能。颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS操作简单?无需样品制备：所有技术相关和行业相关的浓度均可直接测量，无需稀释?占用空间小：具有许多MagnoPod和控制模块的配置选项?测量实时进行：根据不同的样品，测量结果在1s内或最迟2min后得出?颗粒测量新技术：MagnoMeter XRS 为传统粒度测量、zeta 电位、BET 气体吸附和汞孔隙率测定分析提供了一种补充技术。颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS优点?颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS没有移动部件，不需要光学校准，通过简单的插件设置即可开始测量?温度控制MagnoPod与控制模块隔离，消除电子和热干扰?一个控制模块可以操作多个磁控振荡器，是隔离危险样品的理想选择?允许在空浓度范围内进行直接样品测量，具有出色的信噪比?可以用标准核磁共振管操作颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS适用领域颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS的用途非常广泛，无论是在研发、质量控制和保证方面，还是在过程控制实验室测量速度和可靠性方面，颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS都是一种高效的工具，广泛运用在以下的领域：?来料的质量控制?中间制造过程监控?成品质量保证?产品保质期确定客户举例欧洲分散技术中心The European Center for Dispersion Technologies（EZD）使用颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS进行颗粒表征分析。翁开尔是德国ORONTEC中国总代理，欢迎致电【400-6808-138】咨询更多关于颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS产品信息，技术应用和客户案例。

多孔材料表面Zeta电位分析仪原理简介：APS 从声衰减光谱测量产生PSD数据，不需要稀释样品。APS还测量粒度范围的10纳米到100微米的样品的声音速度谱、pH、电导率和温度。当声音穿越泥浆或胶体时，是衰减的。衰减的程度与粒度分布有关。APS可在1 - 100 MHz的频率范围内非常准确地测量声音衰减。因为声音穿过所有的物质媒介，APS声音衰减的测量可以在高浓度和/或不透明的样品中进行。粒子沉降并不是一个问题，因为在测量时样品可以被搅拌或泵送。APS分析不受样品的Zeta电势水平的约束。APS很容易分析零粒子和高电荷。APS取样分析是快速和容易的，无需稀释样品。稀释样品费时，容易出错，并可能改变样品的实际PSD。简单地倒，或者连续泵送样品进入到APS的样品室，APS的直观的软件在几分钟内做玩余下的工作。计算详细PSD数据的技术，不需要假设PSD形状。其他类型的仪器，例如光散射，意味着软件或操作者假设或猜测PSD是单峰、双峰、对数正态或高斯分布的。这种假设可能导致数据不可靠。专门的APS硬件设计简化了操作，同时减少维护。这个设计适合研发以及重复质量控制测量。APS也适合过程在线操作。多孔材料表面Zeta电位分析仪主要用途：1)半导体化学机械抛光(CMP)料浆；2)陶瓷；3)油墨；4)乳剂稳定性；5)药品；6)生物胶体；7)荧光粉；8)有机和无机颜料如Ti02和炭黑；9)催化剂；10)矿物；11)聚合物乳液；12)水和非水分散体系；技术参数：1)完整的粒度分布,而不是简单的平均值和标准偏差大小的数据；2)不需要稀释样品；3)不需要假设PSD形状；4)粒度范围：0.005-100微米；5)无电解质干涉；6)可测量水的/非水的/不透明的/粘性的样品；7)可测量纵向粘度，60%固体，PH值，电导率，温度，声衰减和声速度谱；8)具有自动滴定选项；9)专门技术：1-100MHz声衰减谱；10)溶剂：水/非水；11)样品固体%：0.1-60%体积比；12)样品体积：标准是120ml，50ml小体积可用；

固体表面Zeta电位分析仪原理简介：APS 从声衰减光谱测量产生PSD数据，不需要稀释样品。APS还测量粒度范围的10纳米到100微米的样品的声音速度谱、pH、电导率和温度。当声音穿越泥浆或胶体时，是衰减的。衰减的程度与粒度分布有关。APS可在1 - 100 MHz的频率范围内非常准确地测量声音衰减。因为声音穿过所有的物质媒介，APS声音衰减的测量可以在高浓度和/或不透明的样品中进行。粒子沉降并不是一个问题，因为在测量时样品可以被搅拌或泵送。APS分析不受样品的Zeta电势水平的约束。APS很容易分析零粒子和高电荷。APS取样分析是快速和容易的，无需稀释样品。稀释样品费时，容易出错，并可能改变样品的实际PSD。简单地倒，或者连续泵送样品进入到APS的样品室，APS的直观的软件在几分钟内做玩余下的工作。计算详细PSD数据的技术，不需要假设PSD形状。其他类型的仪器，例如光散射，意味着软件或操作者假设或猜测PSD是单峰、双峰、对数正态或高斯分布的。这种假设可能导致数据不可靠。专门的APS硬件设计简化了操作，同时减少维护。这个设计适合研发以及重复质量控制测量。APS也适合过程在线操作。固体表面Zeta电位分析仪主要用途：1)半导体化学机械抛光(CMP)料浆；2)陶瓷；3)油墨；4)乳剂稳定性；5)药品；6)生物胶体；7)荧光粉；8)有机和无机颜料如Ti02和炭黑；9)催化剂；10)矿物；11)聚合物乳液；12)水和非水分散体系；技术参数：1)完整的粒度分布,而不是简单的平均值和标准偏差大小的数据；2)不需要稀释样品；3)不需要假设PSD形状；4)粒度范围：0.005-100微米；5)无电解质干涉；6)可测量水的/非水的/不透明的/粘性的样品；7)可测量纵向粘度，60%固体，PH值，电导率，温度，声衰减和声速度谱；8)具有自动滴定选项；9)专门技术：1-100MHz声衰减谱；10)溶剂：水/非水；11)样品固体%：0.1-60%体积比；12)样品体积：标准是120ml，50ml小体积可用；

日本SMC静电消除器/带表面电位传感器 IZS30日本SMC静电消除器/带表面电位传感器 IZS30无锡德为源自动化科技有限公司主要经营欧美生产的编码器、传感器、仪器仪表、泵阀及各种自动化产品，“行勤奋之风， 谋创新之事，奉诚信之方，守经营之道，拓进取之路” 是我们一贯的经营宗旨，德为源服务于国内的流体控制和自动化控制领域。专业的技术支持和数年的国际贸易经验使我们积累了大量的重要客户和优质供应商，而且我们还提供完善细致的售前、售中、售后服务，所以赢得了广大客户和工控同行的广泛认可。公司产品系列丰富，主要涉及台湾Asiantool 水银滑环、安沃驰、SELET、BETA、AI-TEK,美国霍尼韦尔HONEYWELL限位开关、德国LENZE伦茨变频器、HONEYWELL传感器、西门子、力士乐、施耐德、德国费斯托FESTO、日本SMC电磁阀、日本广濑（HIROSE)阀门、瑞士施耐博格SCHNEEBERGER导轨、德国苏克SUCO开关、ASCO电磁阀、亨士乐计数器/编码器、德国菲尼克斯、德国万可WAGO进口件，SICK光栅、倍加福、BECKHOFF倍福，德国PILZ，HONEYWELL控制燃烧（FEMA开关）、冬斯DUNGS与霍科德Kromschroeder控制燃烧系列、VACON伟肯、德国IFM、日本山武AZBIL，美国MERCOTAC欢迎各位咨询。无锡德为源自动化科技有限公司为台湾Asiantool水银滑环大陆代理商！！！公司优势供应honeywell、Provibtech、SIEMENS、BETA、Selet、Mercotac、MLTECH、MOOG等水银滑环，Aventics、RGS，FEMA，Ifm SM系列、GINICE 、Aptech、Baumer、AI-TEK、SCHUNK，KEYENCE,CONTRINEX 霍尼韦尔气体探测系列等其他进口产品E+H、SMC、FESTO、Pilz、TR、倍福、BURKERT、PARKER、Schischek，SEW、REXROTH、HYDAC、COAX、BEI、YTC、SCHMERSAL、SUCO本特利部分型号、巴鲁夫等控制燃烧产品（霍科德，霍尼韦尔，BERU，西门子，冬斯），进口相机（E2V,Basler，PIXELINK，OMRON,Schneider）同时还代理韩国SLOK阀门管接头，可替代派克，世伟洛克接头所有型号，货期快，价格好。数字输入模件 8通道 125V d.c.SOEDI825数字输入模件 2*8通道 24V d.c.SOEDI830数字输入模件 2*8通道 48V d.c.SOEDI831数字输入模件 16通道 24V d.c.可冗余DI840数字输入模件 8通道 24V/48V d.c.SOEDI885数字输入模件 8通道 本安型DI890数字输入模件DI801数字输入模件DI802数字输入模件DI803　　数字输出模件 16通道 24 V d.cDO810数字输出模件 2×8通道 电流吸收DO814数字输出模件 2×4通道 24V输出，2ADO815数字输出模件 8通道继电器数字输出，常开DO820数字输出模件 8通道继电器数字输出，常闭DO821数字输出模件 2×8通道 24V d.c. 可冗余DO840数字输出模件 4通道本安型数字输出DO890数字输出模件DO801数字输出模件DO802　　脉冲输入模件 2通道 1.5MHZ RS-422 CurrentDP820脉冲输入模件 8通道 20KHZ 可冗余DP840紧凑型接线端子,24VDCTU810V1紧凑型接线端子，50VTU812V1紧凑型接线端子,250VTU811V1紧凑型接线端子250VTU813紧凑型接线端子，50VTU814V1扩展型接线端子,24VDCTU830V1扩展型接线端子，230VTU831V1扩展型接线端子，50VTU833扩展型接线端子，用于AI810 带保险TU835V1扩展型接线端子，用于DO820,DO821,带保险1*8TU836V1扩展型接线端子，用于DO820,DO821,带保险2*5TU837V1扩展型接线端子,2*4保险，16通道端子TU838扩展型接线端子,250VTU839AO845,DI840,DO840冗余I/O底座 水平装TU842AO845,DI840,DO840冗余I/O底座 竖直装TU843AI845/DP840冗余I/O底座，水平装TU844AI845/DP840冗余I/O底座，竖直装TU845扩展模件底座，50VTU850本安型接线端子TU890非本安底座，G3兼容TU891ZAI845用电阻TY801K01DP840用电阻TY804K01　　模件总线电缆适配器接口(OUT)TB805双模件总线电缆适配器接口(OUT)TB845模件总线电缆适配器接口(IN)TB806双模件总线电缆适配器接口(IN)TB846模件总线连接电缆,0.3米TK801V003模件总线连接电缆,0.6米TK801V006模件总线连接电缆,1.2米TK801V012终端电阻TB807模件总线 ModemTB820V2光纤转换器TB825模件总线 Modem 冗余TB840A模件总线光纤口（适用于CI810,CI830)TB810模件总线光纤口（适用于传动设备)TB811模件总线光纤口（市用于CI801,CI840)TB842TB840/TB840A底座（适用于单TB840/TB840A)TU807TB840/TB840A底座，用于冗余I/OTU840TB840/TB840A底座，用于非冗余I/OTU841冗余TB840/TB840A底座，非冗余I/O,冗余电源接口TU848冗余TB840/TB841A底座，冗余I/O,冗余电源接口TU849双端口塑料光纤 1.5米TK811V015双端口塑料光纤 5米TK811V050双端口塑料光纤 15米TK811V150单端口塑料光纤，15米TK812V150单端口塑料光纤，1.5米TK812V015单端口塑料光纤，5米TK812V050 数字驱动器KBVF-45**直流调速器KBCC-125R 混合驱动器KBVF-48**直流驱动器KBCC-225R 直流调速器KBDF-13直流控制器KBCC-240D 直流控制器KBDF-14交流驱动器KBPB-125 变频器KBDF-16驱动器KBPB-225 直流驱动器KBDF-231直流调速器KBMG-21D 数字驱动器KBDF-241直流驱动器KBMG-212D 混合驱动器KBDF-271直流控制器KBRG-212D 直流调速器KBDF-29 (1P)交流驱动器KBRG-240D 直流控制器KBDF-23D数字驱动器KBRG-225D 变频器KBDF-24D驱动器KBRG-255 直流驱动器KBDF-27D直流调速器KBWD-13 数字驱动器KBDF-291直流驱动器KBWD-16 混合驱动器KBDF-421直流控制器KBWS-22D 直流调速器KBDF-451交流驱动器KBWS-25D 直流控制器KBDF-481数字驱动器KBWT-16 变频器KBWA-22D驱动器KBWT-26 数字驱动器KBWA-23D直流调速器KBWT-110 混合驱动器KBAC-27D直流驱动器KBWT-112 直流调速器KBAC-29 (1P)直流控制器KBWT-210 直流控制器KBAC-29交流驱动器KBWM-120 变频器KBAC-45数字驱动器KBWM-240 稳速精度 : 0 转速变化率 : 0 操作方式 : 手动精密式 工作原理 : 电子式 显示方式 : 数显 调速范围 : 280（rpm） 类型 : 直流调速器 型号 : KBRG-212D 品牌 : KB ELECTRONICS 无锡德为源自动化科技有限公司美国KB电子公司于1967年成立与纽约，并于1995年扩大生产规模，并将公司总部搬迁到佛罗里达州。KB电子主要产品包括直流调速器、交流变频调速器、直流电机速度控制板、交流控制器。已经在全球范围得到认可。KB的宗旨“与KB，您可以获得更多的价值”。 美国KB ELECTRONICS的直流马达驱动器到目前为止仍然是对小体积、低成本有高要求的客户的。 KB Electronics速度控制器40年来，KB一直致力于中小功率的低成本电机调速控制产品的领域，尤其是半导体控制整流器，各种小功率直流调速器和交流变频调速器，同时生产多种OEM产品。公司的Penta-Power品牌的各类开放式控制器已经在全球范围得到认可。KB的宗旨“与KB，您可以获得更多的价值”。主要产品：KB Electronics调速器、KB Electronics马达调速器、KB Electronics交流马达控制器、KB Electronics速度控制器、KB Electronics直流调速器，KE ELECTRONICS控制器特约相关型号展示的 常用型号：KBIC系列：KBIC120，KBIC125，KB225，KBIC240，KBIC240D，KBIC-240DSKBLC系列KBMG系列：KBMG-21D，KBMG-212DKBMM系列：KBMM-125，KBMM-225，KBMM-225DKBRG系列：KBRG-212D，KBRG-225D，KBRG-240D，KBRG-255KBVF系列：KBVF-13，KBVF-14， KBVF-23，KBVF-23D，KBVF-23D W/SIVFR，KBVF-24，KBVF-24DSIVF系列信号隔离板：KBVF-23D W/SIVFR，KBVF-24D W/SIVFR，KBVF-26D W/SIVFR 1、仔细观察做工 散热器重的控制器好过散热器轻的控制器等等，在用料和工艺上有所追求的公司相对可信度高，对比就能看得出来。 2、对比温升 用新送来的控制器和原来使用的控制器进行同等条件下堵转发热试验，两个控制器都拆掉散热器，用一辆车，撑起脚，先转动转把达到高速，立即刹车，不要刹死，免得控制器进入堵转保护，在极低速度下维持5秒钟，松开刹车，迅速达到高速，再刹车，反复同样的操作，比如30次，检测散热器高温度点。 拿两个控制器的数据对比，温度越低越好。试验条件应该保证相同的限流，相同的电池容量，同一辆车，同样从冷车开始测试，保持相同的刹车力度和时间。 3、观察反压控制能力 选取一辆车，功率可以大一点，拔掉电池，选用充电器为电动车供电，接上E-ABS使能端子，确保刹把开关接触良好。太快了充电器无法输出很大的电流，会引起欠压，让电机达到高速，快速刹车，反复多次，不应出现MOS损坏现象。 在刹车时，充电器输出端的电压会快速上升，考验控制器的瞬间限压能力，此试验如果用电池测试基本没有效果。此试验也可以在快速下坡时进行，当车子达高速后进行刹车。 4、电流控制能力接充满的电池，容量越大越好，先让电机达到高速，任选两根电机输出线短路，反复进行，30次以上，不应出现MOS损坏；再让电机达到高速，用电池正极和任选的一根电机线短路，反复30次，这比上述试验更严酷，回路中少了一个MOS的内阻，瞬间短路电流更大，考验控制器的电流快速控制能力， 很多控制器会在这一环节出丑，如果出现损坏，可以比较两个控制器成功承受短路的次数，越少越差；拔掉一根电机线，转把拉到大，此时电机不会运转，快速接通另一根电机线，电机应能立即转动，电机转动中反复插拔其中一根电机线，控制器应正常工作。这部分实验可以验证控制器软件、硬件的可靠性设计。无锡德为源自动化科技有限公司5、检验控制器效率 关闭超速功能，如果有的话，在同一辆车子空载情况下测试不同控制器达到的高速度，高速度越高，则效率越高，续航里程也相对高。特价销售正品全国特价代理经销美国KB ElectronicsKB电子交流驱动器,直流调速器,KB Electronics优势供应,企业1、仔细观察做工 散热器重的控制器好过散热器轻的控制器等等，在用料和工艺上有所追求的公司相对可信度高，对比就能看得出来。2、对比温升 用新送来的控制器和原来使用的控制器进行同等条件下堵转发热试验，两个控制器都拆掉散热器，用一辆车，撑起脚，先转动转把达到高速，立即刹车，不要刹死，免得控制器进入堵转保护，在极低速度下维持5秒钟，松开刹车，迅速达到高速，再刹车，反复同样的操作，比如30次，检测散热器高温度点。 拿两个控制器的数据对比，温度越低越好。试验条件应该保证相同的限流，相同的电池容量，同一辆车，同样从冷车开始测试，保持相同的刹车力度和时间。3、观察反压控制能力 选取一辆车，功率可以大一点，拔掉电池，选用充电器为电动车供电，接上E-ABS使能端子，确保刹把开关接触良好。太快了充电器无法输出很大的电流，会引起欠压，让电机达到高速，快速刹车，反复多次，不应出现MOS损坏现象。 在刹车时，充电器输出端的电压会快速上升，考验控制器的瞬间限压能力，此试验如果用电池测试基本没有效果。此试验也可以在快速下坡时进行，当车子达到高速后进行刹车。4、电流控制能力接充满的电池，容量越大越好，先让电机达到高速，任选两根电机输出线短路，反复进行，30次以上，不应出现MOS损坏；再让电机达到高速，用电池正极和任选的一根电机线短路，反复30次，这比上述试验更严酷，回路中少了一个MOS的内阻，瞬间短路电流更大，考验控制器的电流快速控制能力， 很多控制器会在这一环节出丑，如果出现损坏，可以比较两个控制器成功承受短路的次数，越少越差；拔掉一根电机线，转把拉到大，此时电机不会运转，快速接通另一根电机线，电机应能立即转动，电机转动中反复插拔其中一根电机线，控制器应正常工作。这部分实验可以验证控制器软件、硬件的可靠性设计。5、检验控制器效率 关闭超速功能，如果有的话，在同一辆车子空载情况下测试不同控制器达到的高速度，高速度越高，则效率越高，续航里程也相对高。无锡德为源自动化科技有限公司5、检验控制器效率 关闭超速功能，如果有的话，在同一辆车子空载情况下测试不同控制器达到的高速度，高速度越高，则效率越高，续航里程也相对高。特价销售正品全国特价代理经销美国KB ElectronicsKB电子交流驱动器,直流调速器,KB Electronics优势供应,企业1、仔细观察做工 散热器重的控制器好过散热器轻的控制器等等，在用料和工艺上有所追求的公司相对可信度高，对比就能看得出来。2、对比温升 用新送来的控制器和原来使用的控制器进行同等条件下堵转发热试验，两个控制器都拆掉散热器，用一辆车，撑起脚，先转动转把达到高速，立即刹车，不要刹死，免得控制器进入堵转保护，在极低速度下维持5秒钟，松开刹车，迅速达到高速，再刹车，反复同样的操作，比如30次，检测散热器高温度点。 拿两个控制器的数据对比，温度越低越好。试验条件应该保证相同的限流，相同的电池容量，同一辆车，同样从冷车开始测试，保持相同的刹车力度和时间。3、观察反压控制能力 选取一辆车，功率可以大一点，拔掉电池，选用充电器为电动车供电，接上E-ABS使能端子，确保刹把开关接触良好。太快了充电器无法输出很大的电流，会引起欠压，让电机达到高速，快速刹车，反复多次，不应出现MOS损坏现象。 在刹车时，充电器输出端的电压会快速上升，考验控制器的瞬间限压能力，此试验如果用电池测试基本没有效果。此试验也可以在快速下坡时进行，当车子达到高速后进行刹车。4、电流控制能力接充满的电池，容量越大越好，先让电机达到高速，任选两根电机输出线短路，反复进行，30次以上，不应出现MOS损坏；再让电机达到高速，用电池正极和任选的一根电机线短路，反复30次，这比上述试验更严酷，回路中少了一个MOS的内阻，瞬间短路电流更大，考验控制器的电流快速控制能力， 很多控制器会在这一环节出丑，如果出现损坏，可以比较两个控制器成功承受短路的次数，越少越差；拔掉一根电机线，转把拉到大，此时电机不会运转，快速接通另一根电机线，电机应能立即转动，电机转动中反复插拔其中一根电机线，控制器应正常工作。这部分实验可以验证控制器软件、硬件的可靠性设计。5、检验控制器效率 关闭超速功能，如果有的话，在同一辆车子空载情况下测试不同控制器达到的高速度，高速度越高，则效率越高，续航里程也相对高。无锡德为源自动化科技有限公司 主要产品：KB Electronics调速器、KB Electronics马达调速器、KB Electronics交流马达控制器、KB Electronics速度控制器、KB Electronics直流调速器KBCC-19R DC DRIVEKBCC-120 DC DRIVEKBCC-120R DC DRIVEKBCC-122R DC DRIVEKBCC-125 DC DRIVEKBCC-125R DC DRIVEKBCC-218 DC DRIVEKBCC-225 DC DRIVEKBCC-225D DC DRIVEKBCC-225R DC DRIVEKBCC-225R/ APRM DC DRIVEKBCC-240 DC DRIVEKBCC-240D DC DRIVEKBCC-240R DC DRIVEKB Drives Kb DrivesKBCC-255 DC DRIVEKBDM-14 DC DRIVEKBDM-16 DC DRIVEKBDM-21 DC DRIVE mts sensor 252182autolite 3136minco tt111pe1amts rpm0100md541c304311thomas 1266noson vm-1b-4r/hrvtau59parker smh-1pcsherwood a14848sherwood a14850cEagle Signal b856-500swsgelok ss-qc4s-400 swsgelok ss-4f-90swsgelok b-815-6swsgelok it6-8numatics 020bw400mp00061Rexroth r978900791POSI-flate da-11111112PALL ICF-31300NUMATISC P14B-02GDEUBLIN 155-000-151DEUBLIN杜布林 旋转接头155-000-152VERSA VGG-4422-U-A240autolite 火花塞3136aitek ca79860-01-010aitek 7085-1010-018magtrol无锡德为源优势供应日本SMC静电消除器/带表面电位传感器 IZS30无锡德为源优势供应日本SMC静电消除器/带表面电位传感器 IZS30无锡德为源优势供应日本SMC静电消除器/带表面电位传感器 IZS30无锡德为源优势供应日本SMC静电消除器/带表面电位传感器 IZS30无锡德为源优势供应日本SMC静电消除器/带表面电位传感器 IZS30无锡德为源优势供应日本SMC静电消除器/带表面电位传感器 IZS30无锡德为源优势供应日本SMC静电消除器/带表面电位传感器 IZS30无锡德为源优势供应日本SMC静电消除器/带表面电位传感器 IZS30无锡德为源优势供应日本SMC静电消除器/带表面电位传感器 IZS30无锡德为源优势供应日本SMC静电消除器/带表面电位传感器 IZS30无锡德为源优势供应日本SMC静电消除器/带表面电位传感器 IZS30无锡德为源优势供应日本SMC静电消除器/带表面电位传感器 IZS30无锡德为源优势供应日本SMC静电消除器/带表面电位传感器 IZS30无锡德为源优势供应日本SMC静电消除器/带表面电位传感器 IZS30无锡德为源优势供应日本SMC静电消除器/带表面电位传感器 IZS30无锡德为源优势供应日本SMC静电消除器/带表面电位传感器 IZS30无锡德为源优势供应日本SMC静电消除器/带表面电位传感器 IZS30无锡德为源优势供应日本SMC静电消除器/带表面电位传感器 IZS30无锡德为源优势供应日本SMC静电消除器/带表面电位传感器 IZS30无锡德为源优势供应日本SMC静电消除器/带表面电位传感器 IZS30无锡德为源优势供应日本SMC静电消除器/带表面电位传感器 IZS30无锡德为源优势供应日本SMC静电消除器/带表面电位传感器 IZS30无锡德为源优势供应日本SMC静电消除器/带表面电位传感器 IZS30无锡德为源优势供应日本SMC静电消除器/带表面电位传感器 IZS30无锡德为源优势供应日本SMC静电消除器/带表面电位传感器 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Nicomp 380 系列纳米激光粒度仪专为复杂体系提供高精度粒度解析方案基本信息仪器型号：Z3000 Plus工作原理：粒度分布：动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）ZETA电位：多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering,检测范围：粒径范围 0.3nm-10.0μmZETA电位 +/- 500mV

【说明：每款产品因配置不同价格不同，需按照您的测量需求单独配置，具体请联系我们报价】 德国dataphysics公司研发生产，该仪器采用自有版权技术的双向往复流动电势/电流的原理，测量各种宏观固体材料的Zeta电位，主要用于胶体分散剂研发、固体材料表面特性表征及帮助开发新型材料等。》 ZPA 20的主要特点 独立创新研发双向往复流体运动。因其特殊的双向往复运动测量模式，可以实现多小时甚至多天无限制时间测量。对于表面活性剂在样品表面的吸附研究及其它动力学研究等，无限的测量时间能够高效的得到不被干扰的 Zeta 电位数据。 电解质溶液的周期往复流动能够有效的防止测量电极的极化，从而避免了由于电极极化而造成的测量结果的误差。往复运动频率高达0.5Hz，在60秒内即可记录60个压力通道，可实现在几秒钟内获得大量的数据点，高效精确的获得统计学结果。 测量单元可视化设计。 可以在视觉监测下添加表面活性剂或其它需要添加的物质，有利于动力学研究实验。另外，该可视化设计也可以帮助发现样品中的气泡，并使用仪器的排气泡功能将气泡及时排除。极大的消除了气泡对测量结果的影响。 非固定式的装样单元既可以在系统外装填和制备样品，也可实现在测量过程中装样或取样同步进行。使用扭力扳手可控制纤维和粉末样品的装填密度，提高了此类样品的测量可重复性。超大电极表面积确保测量的灵敏度，即使轻微的表面特性改变也可以捕捉到。》 ZPA 20的主要功能全自动测量胶体悬浮液以及各种宏观固体材料的 Zeta 电位，如：片状固体、纤维、粉末、不同表面粗糙度材料，多孔材料等同步测量压差、温度、电导率和 pH 值等电点的自动检测全自动吸附和表面改性动力学测量》 ZPAS 20 高效的专用软件基于windows操作系统，带操作引导功能，操作简单所有测量参数同步显示在实时窗口，观测直观自动测量和计算功能强大，可自动计算动力学测量中的加液量，并控制自动注射单元全自动测量，最终自动计算结果可轻松的设置一次单一测量或者复杂测量项目即支持电脑鼠标操作，也支持Pad触屏操作多语言版本》 ZPA 20的应用全自动测量胶体悬浮液以及各种宏观固体材料的Zeta电位，如：片状固体、纤维、粉末、不同表面粗糙度材料，多孔材料等同步测量压差、温度、电导率和pH值等电点的自动检测全自动吸附和表面改性动力学测量如果您想了解更多，请联系我们，提供测样服务

Nicomp 380 系列纳米激光粒度仪 专为复杂体系提供高精度粒度解析方案基本信息 仪器型号：N3000 Plus 工作原理：动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS） 检测范围： 0.3nm-10.0μm Nicomp 380 N3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380DLS基础上升级配套而来，采用动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，粒径检测范围 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析软件复合采用了高斯（ Gaussian）单峰算法和 Nicomp 多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。 技术优势 1、PMT&APD双检测器自由选配； 2、多角度检测（multi angle）模块； 3、可搭配不同功率光源； 4、精确度高，接近样品真实值； 5、快速检测，可以追溯历史数据； 6、结果数据以多种形式和格式呈现； 7、符合USP,CP等个多药典要求； 8、无需校准； 9、复合型算法： （1）高斯（Gaussion）单峰算法与Nicomp多峰算法自由切换 10、模块化设计便于维护和升级； （1）可自动稀释模块（选配）； （2）自动进样系统（选配）； （3）搭配多角度检测器（选配）； 380/MA多角度检测器 粒径大于100 nm的颗粒在激光的照射下不会朝着各个方向散射。多角度检测角器通过调节检测角度来增加粒子对光的敏感性来测试某些特殊级别粒子。Nicomp 380可以配备范围在10°-175，步长0.7°的多角度测角器，从而使得单一90°检测角测试不了的样品，通过调节角度进行检测，改善对大粒子多分散系粒径分析的精确度。 Nicomp多峰分布概念 基线调整自动补偿功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列仪器所独有的两个主要特点，Nicomp创始人Dave Nicole很早就认识到传统的动态光散射理论仅给出高斯模式的粒度分布，这和实践生产生活中不相符，因为现实中很多样本是多分散体系，非单分散体系，而且高斯分布灵敏性不足，分辨率不高，这些特点都制约了纳米粒度仪在实际生产生活中的使用。其开创性的开创了Nicomp多峰分布理论，大大提高了动态光散射理论的分辨率和灵敏性。 图一：Nicomp多分分布数据呈现 如图一：此数据为Nicomp创始人Dave Nicole亲测其血液所得的真实案例。其检测项目为：高密度脂蛋白，低密度脂蛋白和超低密度脂蛋白，由图中可以看出，其血液中三个组分的平均粒径分别显示在7.0nm；29.3nm和217.5nm。由此可见，Nicomp分布模式可以有效反应多组分体系的粒径分布。 Nicomp多峰分布优势 Nicomp系列仪器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切换。其不仅可以给出传统的DLS系统的结果，更可以通过Nicomp多峰分布模式体现样品的真实情况。依托于Nicomp系列仪器一系列优异的算法和高灵敏性的硬件设计，Nicomp纳米激光粒度仪可以有效区分1:2的多分散体系。 图二：高斯分布及Nicomp多峰分布对比图 如图二：此数据为检测93nm和150nm的标粒按照1:2的比例混合后所测得的数据。左边为高斯分布（Gaussian）结果，右图为Nicomp多峰分布算法结果，两者都为光强径数据。从高斯分布可以得到此混合标粒的平均粒径为110nm-120nm之间，却无法得到实际的多组分体系结构。从右侧的Nicomp多峰分布可以得到结果为双峰，即如数据呈现，体系中的粒子主要分布于98.2nm以及190nm附近，这和实际情况相符。 为满足不同客户的实际检测需求，我司的Nicomp 380 N3000会配备相应的配置，旨在为客户们在控制成本的基础上，得到需求的解决方案，取得收益。 产品优势 模块化设计 Nicomp 380纳米激光粒度仪是全球率先在应用动态光散射技术上的基础上加入多模块方法的先进粒度仪。随着模块的升级和增加，Nicomp 380的功能体系越来越强大，可以用于各种复杂体系的检测分析。 自动稀释模块 自动稀释模块消除了人工稀释高浓度样品带来的误差，且不需要人工不断试错来获得合适的测试浓度，这大大缩短了测试者宝贵时间，且无需培训，测试结果重现性好，误差率＜1%。 380/HPLD大功率激光器 美国PSS粒度仪公司在开发仪器的过程中，考虑到在各种极端实验测试条件中不同的需求，对不同使用条件和环境配置了不同功率的激光发生器。大功率的激光器可以对小粒子也能搜集到足够的散射信号，使得仪器能够得到小粒子的粒径分布。同样，大功率激光器在测试大粒子的时候同样也很有帮助，比如在检测右旋糖酐大分子时，折射率的特性会引起光散射强度不足。 因为大功率激光器的特性，会弥补散射光强的不足和衰减，测试微小的微乳、表面活性剂胶束、蛋白质以及其他大分子不再是一个苛刻的难题。即使没有色谱分离，Nicomp 380纳米粒径分析仪甚至也可以轻易估算出生物高分子的聚集程度。 雪崩二极管 (APD-LDC)超高灵敏度检测器 Nicomp 380纳米粒径分析仪可以装配各种大功率的激光发生器和军用级雪崩二极管检测器（相比较传统的光电倍增管有7-10倍放大增益效果）。 APD通常被用于散射发生不明显的体系里来增加信噪比和敏感度，如蛋白质、不溶性胶束、浓度低的体系以及大分子基团，他们的颗粒的一般浓度为1mg/mL甚至更低，这些颗粒是由对光的散射不敏感的原子组成。APD外置了一个大功率激光发生器模块，在非常短的时间内就能检测分析纳米级颗粒的分布情况。

粒径在线检测仪 摘要:POU在线检测集原样进样检测、自动稀释等全自动检测功能于一身,为用户提供可方便、快捷、高效、可靠的粒径分析。粒径在线检测仪POU在线检测集原样进样检测、自动稀释等全自动检测功能于一身，为用户提供可方便、快捷、高效、可靠的粒径分析。POU在线检测系列最小可以测试计数到150nm，浓度高达10million个/mL的样品。可以满足高浓度slurry磨料浆在线测试要求，是PSS最新最全能性的颗粒计数器系列产品。粒径在线检测仪?仪器参数：粒径测量范围(可选)150nm – 2500μm分析方法单颗粒激光测量技术（SPOSPAT）可用溶剂水和绝大多数有机溶剂流速（稀释系统）60 – 180 mL/min分析软件（可选）Windows 运行环境，标准软件或符合 21 CFR Part 11 规范分析软件电压220 – 240 VAC，50Hz 或100 – 120 VAC，60Hz外形尺寸主机1（计数器）：20 cm *45 cm * 20cm；主机2（自动稀释系统）：25cm * 45 cm * 56cm；重量约30Kg粒径在线检测仪Particle Sizing System （美国PSS粒度仪公司）是一家专注于帮客 户解决粒度问题近40年的专业科技公司，公司总部位于美国佛罗里达州圣巴巴拉市，公司自1977年创 立以来，一直为颗粒检测分析领域提供技术领先的仪器设备。 公司总部位于加利福尼亚洲的圣巴巴拉，有5个应用中心或销售代表处 分布在世界各地，每个中心或代表处都配备应用/技术支持、销售和服务人员。此外，我们还有40多个 分销商或销售代理公司遍布在美国、欧洲及亚洲各地。 PSS生产的颗粒检测和分析仪器分别采用动态光散射技术（dynamic light scattering, DLS）和光阻法（Light obscuration or light extinction, 也有人称之 为“消光法"，）技术以及单颗粒（Single Particle Optical Sizing, SPOS）技 术，检测范围从纳米到微米级，既可以检测平均粒径，zeta电位值，又可以对产品中的颗粒进行计数 ，尤其对于其他光散射或者光衍射方法检测不到的极少数的大粒子（Large Particle Count, LPC）， 可以精准地检测出。目前PSS粒度仪是市场上唯一一家能够提供高分辨率的自动单颗粒技术的粒径分析 仪。 PSS的单颗粒（SPOS)技术，能对样品的颗粒数目进行量化， 打破了科技界以往通过光散射和光衍射方法只能检测均粒径分布的局限，不仅能检测颗粒大小，更能 对颗粒进行计数。这给了研究、生产和质控人员对样品中颗粒的大小、数目一个清晰明了的结果，大 大助力于其研发和生产。 PSS的团队由科学家和工程师组成，可以提供从实验室到生产流水线的 多种技术解决方案。如果您有粒度检测、分析或颗粒度问题困扰，欢迎随时来函来电垂询。

防护服静电电荷测试仪 产品名称：防护服静电电荷测试仪产品型号：Huace 111、112品牌：北京华测适用范围测量熔喷布、防护服静电电荷测试测量防静电工作服和纺织品的带电电量电子材料和其它元件的电荷量测试测量静电导体的电容量测量静电火花放电电量测量各种粉体、液体、固体的带电电荷量研究摩擦带电系列传感器特性分析测量物体表面电位及电荷面密度纳米电子器件特性分析 产品简介4位半Huace111、112系列防护服静电电荷测试仪结合了华测高灵敏度电压、电流测量仪器的技术优势以及更快的速度和更高的耐用性。这款经济型的仪器具有手动电荷量程和快速自动量程功能，可以测量±0.1pC到正负士20uC的电荷，其测量速度达到500读数/秒。华测Huace系列电荷量表具有极高的分辨率与高灵敏度，使它特别适合于低电荷测试场合，而它20uC的量程使它可以测量较高的电荷。1、检测防静电工作服和纺织品的带电电量按照国家标准GB12014－－89《防静电工作服》将工作服放入滚筒擦机摩擦内使其带电，把带静电后的工作服投入法拉第筒内，从Huace111型数字电荷仪上读出电荷量值。复零后可进行下一次测量，若是测量纺织品的带电电荷量，可按照国家标准GB/T12703-91《纺织品静电性能测试方法》进行。2、测量各种粉体、液体、固体的带电电荷量测量粉体的带电电荷量时，可根据被测粉体的多少制作不同形状和不同规格的法拉第筒。 粉体带电的方式可以是摩擦带电或在电场中荷电。如测量粉尘在电场中的荷电。也可以让粉体从滑槽中滑下帮电。3、测量火花放电电荷转移量当带有静电的静电非导体与接地金属体接近时会发生火花放电。用Huace111型数字电荷仪能精que地测量出放电电量。4、测量金属体的自电容和互电容量让金属体带上静电（电压为V）后用法拉第筒和电荷量仪测出金属球的带电电荷量Q，由公式C=Q/V计算出电容量。技术参数 型号Huace-111Huace-111AHuace-112Huace-112A测量范围±10pc-±20μc0.1pc-200nc1nc-2μc1nc-20μc显示方式4位半数码管显示4位半数码管显示4位半数码管显示4位半数码管显示显示精度±0.5%±0.5%±0.5%±0.5%尺寸220×230×70mm220×230×70mm220×230×70mm220×230×70mm

粒度电声法Zeta电位分析仪典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，准确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可准确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um粒度电声法Zeta电位分析仪优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可准确测量无水体系；粒度电声法Zeta电位分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

宽范围气溶胶粒径谱仪（EAS Electrical Aerosol Spectrometry ）是爱沙尼亚塔尔图大学出品的一款实时测量气溶胶粒径分布的创新性的仪器，能实时测量气溶胶数量浓度、表面积浓度、体积浓度随粒径的分布情况（粒径等效于斯托克斯粒径）。EAS尤其适合于用大气气溶胶的监测，单台仪器分析粒径范围从3 nm 至 10 μ m ，高达 32 个颗粒分析通道，及高的时间分辨率（下降至 1 秒），能有效地测量高波动条件下颗粒物数目浓度变化趋势。甚至在长达数月时间里连续地监测环境气溶胶过程中，不需要任何消耗品。另外， EAS 还可以与因特网连接 并允许远程监控、远程诊断等。

美国MASZeta电位及粒度分析仪典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。进口Zeta纳米分析仪主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；美国MASZeta电位及粒度分析仪优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；进口Zeta纳米分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

产品简介宽范围气溶胶粒径谱仪（EAS，Electrical Aerosol Spectrometry）是爱沙尼亚塔尔图大学出品的一款实时测量气溶胶粒径分布的科学仪器，能实时测量气溶胶数量浓度、表面积浓度、体积浓度随粒径分别情况（粒径等效于斯托克斯粒径）。EAS 尤其适合于用大气气溶胶的监测，单台仪器分析粒径范围从 3 nm 至 10 μm，高达 40个颗粒测量通道，及高的时间分辨率（下降至 1 秒），能有效地测量高波动条件下颗粒物数目浓度变化趋势。甚至在长达数月时间里连续地监测环境气溶胶过程中，不需要任何消耗品。另外EAS 还可以与因特网连接,并允许远程监控、远程诊断等。仪器特点EAS 所有的机械和电子部件都安装在一个单元内，除了计算机和两条连接线外（电源线和信号电缆），没有其他的外部单位。通过交互式界面，电脑控制测量过程，数据诊断和实时数据处理，并储存处理后的数据和诊断结果。仪器应用测量大气气溶胶内空气质量研究燃烧源气溶胶颗粒分析汽车颗粒物粒径分布研究空气过滤测试粉状材料测试技术新粒子形成气溶胶的演变和气溶胶传输

测试原理：在低温（如：液氮浴，77.3K）条件下，向样品管内通入一定量的吸附质气体（如：N2），通过控制样品管中的平衡压力直接测得吸附分压，通过气体状态方程(PV=nRT)得到该分压点的吸附量；通过逐渐投入吸附质气体增大吸附平衡压力，得到吸附等温线；通过逐渐抽出吸附质气体降低吸附平衡压力，得到脱附等温线；相对动态法，无需载气（He），无需液氮杯反复升降；由于待测样品是在固定容积的样品管中，吸附质相对动态色谱法不流动，故叫静态容量法；测试理论：吸附、脱附等温线测定 BET比表面测定(单点/多点法)；朗格缪尔(Langmuir)比表面 统计吸附层厚度法外比表面； BJH法孔容孔径分布 MK-plate法(平行板模型)孔容孔径分布； D-R法微孔分析 t-plot法(Boder)微孔分析；H-K法(Original)微孔分析 MP法(Brunauer) 微孔分析；DFT孔径分析 真密度测试、粒度估算报告。 脱气预处理系统：脱气站数量：2、4、8个预处理站可选；真空脱气，不采用气流吹扫方式；全自动脱气：不采用分体式的手动控制，而是采用与主机一体的全自动程序控制，定时开始、真空泵自动启停，程序升温、定时结束，实现无人值守测试和样品脱气处理；独 立 性：测试系统和脱气系统相互独立，样品的测试过程和脱气处理可同时进行；2组独立控温：可设置2组不同脱气温度、不同脱气时间； 金属加热脱气炉隔热设计，经久耐用，不易损坏脱气模式：具有“普通加热抽真空分子扩散模式”和“分子置换模式”两种可选功能；独立真空系统：不与测试位共用真空泵，脱气系统配备独立的双级机械真空泵；分析测试系统：测试范围：比表面0. 0005m2/g至无上限；孔径：0.35-500 nm(微孔常规分析: 0. 35-2nm 介孔分析: 2nm-50nm 大孔分析: 50nm-500nm)；总孔体积：0.0001cc/g至无上限。测量精度：比表面积重复精度≤± 1.0%，最可几孔径重复偏差≤0.02nm，真密度 ≤±0.04%；外表面积≤± 1.5%。分 析 站：1/2/4或6个分析站可选；独 立P0站：具有独立的饱和蒸汽压(P0)测试站，保证分压测试的高准确性。测试系统：根据“国标标准”利用“氦气”测试温区体积，使测试精度更高，重复性更好。另外，也可以通过“氮气”测试得到温区体积(弊端：利用氮气测试温区体积，测试过程中可能导致样品部分孔内被氮填充，影响实验过程中氮的实际吸附量，影响测试精度)。气路系统：贝士德仪器独创的BEST“模块”歧管系统，对基准腔及控制阀门进行整体集成设计，无任何螺纹密封及管路压接或焊接接口，将真空管路减少90%以上，彻底消除漏气点，整个系统漏气率低于10-10Pa*m3/s，密封性提高10倍以上，达到进口高端仪器水平，极大的提升了仪器的稳定性和精确度；气路系统各部分统筹进行模块化组装，极大减少故障率，大幅增强仪器稳定性。管路通径：大通径是高真空的必备条件，脱气位和测试位采用大通径阀门和管路，使真空泵的极限真空得到效果的体现。控制系统：采用原装进口日本SMC气控阀和电磁阀组合应用，彻底杜绝因电磁阀发热产生的气体受热膨胀问题。真空系统：仪器配备两套独立的真空系统，既脱气系统和分析系统相互独立，真正彻底消除了分析与脱气在同时进行时之间的相互影响，避免由一套真空系统而带来的污染问题。压力测量：原装进口电容薄膜压力传感器，分段测试：0-1000torr，0-10torr（可选）；读数精度误差≤0.15%，为目前压力传感器的精度；微孔段分压 P/P0可达到 1×10-8，点数大于 50 个；大孔段具有 P0的实时测试功能，使 P/P0在趋于临界点时的控制精度达到0.998。 液 氮 杯：配备了3L大容量小口径玻璃内胆杜瓦瓶，相对敞口不锈钢内胆的保温性能大幅提升，保温时长大于140小时，可连续测试90小时以上无需添加液氮，适应微孔长时间测试需求。真 空 泵：原装进口(阿特拉斯Atlas copco，原英国爱德华)双级机械真空泵+德国原装进口涡轮分子泵，全程软件自动启停控制，实现了全自动化操作。 液位控制：贝士德独创的液氮面伺服保持系统，消除测试过程中由于液氮挥发使液氮面变化而带来的死体积变化，提高测试精度；标定气体：配备99.999%高纯HE；具有HE气死体积测试功能和温区测试功能；可获得更高的准确性。测试气体：高纯氮气及根据用户需要可选择多种气体，如，CO2，Ar，Kr等，配有多路独立进气口。样品类型：粉末,颗粒,纤维及片状材料等可装入样品管的材料。售后服务：专业且完善的售后服务系统，可提供24小时电话咨询，48小时内上门服务，北京，上海，广州均设有服务机构，全力保障用户仪器正常运行；BSD-PS系列比表面及孔径分析仪---技术特点及优势l 独创的集成式“模块化”歧管系统模块化管路设计，将真空管路减少90%以上，仪器气密性提高10倍，极大的提升了仪器的稳定性和精确度；气路系统各部分统筹进行模块化组装，减少漏气点，方便故障排查及维修，大幅增强仪器稳定性。 l 控制系统采用原装进口(日本SMC)气控阀和电磁阀组合应用，通过电磁阀控制气控阀的开关，气控阀直接与模块管路连接，气控阀的开关动作不发热，彻底杜绝因电磁阀发热产生的气体受热膨胀问题。l 独立P0测试站及饱和蒸气压螺旋P0管(1) 具有独立的饱和蒸汽压(P0)测试站，保证分压测试的高准确性。(静态法比表面及孔径分析仪的饱和蒸气压测试装置，专利号：ZL201120136959.X)(2) 采用螺旋状的P0管作为饱和蒸汽压管，与仪器主机连接，能够更快的达到液氮温度，是的测试的饱和蒸汽压更接近真实值(与进口等温夹的效果一样，解决了直形不锈钢P0管测试结果偏大2%的问题)，提高测试精度。 (饱和蒸气压螺旋P0管及静态法比表面及孔径分析仪，专利号：ZL201620716311.2） l 液氮杯自动加盖功能具有液氮杯自动加盖功能，能有效的减少液氮的挥发，同时也可避免水蒸气在杜瓦杯口和样品管上冷凝结冰，（静态法比表面及孔径分析仪的加盖装置 专利号 ZL 201420148358.4）l 具有基准腔恒温装置的静态法比表面及孔径分析仪基准腔恒温装置能够使恒温装置内的基准腔及内部气体、阀门、管路、传感器等的温度略高于环境温度并保持温度不变，降低了由于阀门发热导致温度的不均一性；保证了关键部件的温度恒定，减轻了传感器的漂移现象，提高了测试的准确性、稳定性和测试精度。（具有基准腔恒温装置的静态法比表面及孔径分析仪 专利号 ZL 201420148783.3）l 非阻隔式防飞扬防污染多措施并用：? 措施①：涡旋降尘原理的非阻隔式硬件防污染装置，结合软件防抽飞程序彻底消除易挥发样品在高真空时的扬析沸腾现象，从而避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况，如右图所示；? 措施②：贝士德独创的脱气位滤尘袋结合贝士德独创的涡旋降尘原理的硬件防抽飞装置，能够在不降低现有气体流导前提下实现粉尘过滤功能，彻底杜绝粉末样品对仪器内部结构的污染，缩短抽真空脱气时间、提高脱气效果；? 措施③：程序控制的分级抽速自动切换，防止瞬间高真空时样品飞扬；? 措施④程序升温，防止样品剧烈升温扬析沸腾；? 措施⑤：脱气完毕程控自动回填氮气；贝士德独创防污染滤尘袋结合涡旋降尘原理的硬件防抽飞装置，能够在不降低现有气体流导前提下实现粉尘过滤功能，彻底杜绝粉末样品对仪器内部结构的污染，抽真空脱气时间缩短、效果提高。贝士德仪器独创的非阻隔式防飞扬防污染装置其他厂家的阻隔式防污染装置 工作过程：如遇到非常轻的样品，在高真空的情况下被抽飞，样品通过惯性首先落到滤尘袋内，极少部分会通过滤尘袋落到防污染瓶内，而不会进入气路系统，相比较阻隔式，既不影响真空度，又能够保护气路系统，彻底避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况。非阻隔式防污染装置的优势：相比较阻隔式防污染装置，非阻隔式防污染装置能够彻底消除易挥发样品在高真空时的扬析沸腾现象，从而避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况。专利技术：(1) 具有除尘防污染装置的静态法比表面及孔径分析仪，专利号：ZL201320045881.X；(2) 具有脱气位滤尘袋装置的静态法物理吸附仪，专利号：ZL201620714986.3。 工作原理：样品在脱气预处理过程中，如遇到较轻样品，在高真空的情况下，样品会发生扬析沸腾现象，常规的防污染都是通过阻隔的方式进行对气路系统的保护，而这种阻隔式防污染装置的弊端：1、若对2um以下的颗粒有效，则需要增加滤芯(滤棉)，而滤芯(滤棉)过多则会严重影响抽气速度，无法获得高真空度；2、如果滤芯(滤棉)过少，对于粒径小于2um的颗粒基本无效，样品便会发生扬析(抽飞)现象，发生扬析(抽飞)的样品便会进入管路系统、污染阀门等气路系统，影响真空度，造成样品的交叉污染，仪器维修率高，影响仪器的使用寿命。l 可选处理模式具有国内外首创的样品预“处理普通模式”和“分子置换模式”两种模式。(静态法比表面及孔径分析仪的净化预处理装置，专利号：ZL201120136943. 9) l 真空泵自动启停管理优化的真空泵启停管理系统，在测试过程中真空泵无需一直处于运行状态，减小噪音，延长真空泵寿命。l 断电自动保存当前数据超强的稳定性，即使意外断电、断线，不会丢失当前数据，且实验可恢复继续进行。l 人性化操作界面清晰形象的图形化控制界面，并可在界面上进行所有硬件的控制操作。l 密封性自检先进的智能自检流程，智能判断样品管是否安装，试管夹套是否拧紧有无漏气。l 高智能化工作模式交互式数据处理软件可实现仪器的全自动运行，长时间实验无需人工值守，可根据用户需要定制报告内容。l 杜绝液氮杯意外下降具有液氮杯防意外“安全下降”智能控制机制，完全避免了液氮杯意外下降气体膨胀使样品管爆裂的危险。

ZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪产品介绍：美国MAS纳米粒度及Zeta电位分析仪,可以测试：粒径、Zeta电位、滴定、电导等。此仪器容易使用、测量精确。对于高达60%（体积）浓度的样品，也无需进行稀释或样品前处理，即可直接测量甚至对于浆糊凝胶、水泥以及用其它仪器很难测量的材料都可直接进行测量。典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；ZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；ZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/mZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪

BWF-1表面微粒分析仪是一款具有自主知识产权的专门用于表面微粒检测的智能型仪器。密闭的取样器设计，可直接检测物体表面微粒，排除外部因素干扰，保证检测结果真实准确。先进的激光检测原理，能同时分析微粒的粒径大小及数量。操作简单、检测快捷，可广泛应用于包装材料进厂检测、医用无菌袋生产检测、纸张和纸板尘埃度检测等需要进行表面微粒检测和分析的领域。性能特点：▶ 高精度的激光传感器，测试范围宽，分辨率高，性能稳定▶ 采用独特的密闭隔离取样方式，大流量微型真空泵与空气过滤系统相结合，为密闭取样空间提供循环、稳定、洁净的气流，检测数据更加准确可靠▶ 自适应取样装置，满足对不同厚度样品的检测要求▶ 采样时间可自行设定，满足不同样品的测试要求▶ 内置校准曲线，自动拟合校准数据，提高检测精度▶ 内置标准测试以及自定义测试方式，支持常用标准以及自定义的检测要求▶ 界面自由切换，测试结果根据不同的标准要求自动转换，适合多种标准的使用要求▶ 全功能自动操作，中英文输入，具有分级管理系统，以确保数据安全▶ 彩色触摸屏操作，内置打印机，具有数据自动存储、打印功能▶ RS232接口和U盘存储，实现数据海量存储，并可连接电脑或实验室平台进行数据处理技术参数：▶ 测量范围：5 -150 μm▶ 通道数量：8 个▶ 通道精度：0.1μm▶ 取样面积：10 cm² ▶ 取样时长：5~59s 可设▶ 准确度：±20 % ▶ RSD：5 % ▶ 计数范围：0-9999999▶ 结果显示：cm² 、 m² 、 sq.in 、sq.ft可选▶ 工作温度：10～40℃▶ 电源：AC 220V ±10%；50Hz；≤100W

Nicomp 3000 系列纳米激光粒度仪 专为复杂体系提供高精度粒度解析方案基本信息仪器型号：PSS Nicomp N3000 Plus工作原理：动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）检测范围： 0.3nm-10.0μm Nicomp N3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380DLS基础上升级配套而来，采用动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，粒径检测范围 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析软件复合采用了高斯（ Gaussian）单峰算法和的 Nicomp 多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。技术优势1、APD（LDC）超高灵敏度检测器；2、多角度检测（multi angle）模块；3、可搭配不同功率光源；4、精确度高，接近样品真实值；5、快速检测，可以追溯历史数据；6、结果数据以多种形式和格式呈现；7、符合USP,CP等个多药典要求；8、无需校准；9、复合型算法：（1）高斯（Gaussion）单峰算法与Nicomp多峰算法自由切换10、模块化设计便于维护和升级；（1）可自动稀释模块；（2）搭配多角度检测器；（3）自动进样系统（选配）；Nicomp多峰分布概念 基线调整自动补偿功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 3000系列仪器所独有的两个主要特点，Nicomp创始人Dave Nicole很早就认识到传统的动态光散射理论仅给出高斯模式的粒度分布，这和实践生产生活中不相符，因为现实中很多样本是多分散体系，非单分散体系，而且高斯分布灵敏性不足，分辨率不高，这些特点都制约了纳米粒度仪在实际生产生活中的使用。其开创性的开创了Nicomp多峰分布理论，大大提高了动态光散射理论的分辨率和灵敏性。图一：Nicomp多分分布数据呈现 如图一：此数据为Nicomp创始人Dave Nicole亲测其血液所得的真实案例。其检测项目为：高密度脂蛋白，低密度脂蛋白和超低密度脂蛋白，由图中可以看出，其血液中三个组分的平均粒径分别显示在7.0nm；29.3nm和217.5nm。由此可见，Nicomp分布模式可以有效反应多组分体系的粒径分布。Nicomp多峰分布优势 Nicomp系列仪器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切换。其不仅可以给出传统的DLS系统的结果，更可以通过Nicomp多峰分布模式体现样品的真实情况。依托于Nicomp系列仪器一系列优异的算法和高灵敏性的硬件设计，Nicomp纳米激光粒度仪可以有效区分1:2的多分散体系。图二：高斯分布及Nicomp多峰分布对比图 如图二：此数据为检测93nm和150nm的标粒按照1:2的比例混合后所测得的数据。左边为高斯分布（Gaussian）结果，右图为Nicomp多峰分布算法结果，两者都为光强径数据。从高斯分布可以得到此混合标粒的平均粒径为110nm-120nm之间，却无法得到实际的多组分体系结构。从右侧的Nicomp多峰分布可以得到结果为双峰，即如数据呈现，体系中的粒子主要分布于98.2nm以及190nm附近，这和实际情况相符。 为满足不同客户的实际检测需求，我司的Nicomp N3000会配备相应的配置，旨在为客户们在控制成本的基础上，得到需求的解决方案。产品优势模块化设计 Nicomp 3000纳米激光粒度仪是全球率先在应用动态光散射技术上的基础上加入多模块方法的先进粒度仪。随着模块的升级和增加，Nicomp 3000的功能体系越来越强大，可以用于各种复杂体系的检测分析。自动稀释模块 自动稀释模块消除了人工稀释高浓度样品带来的误差，且不需要人工不断试错来获得合适的测试浓度，这大大缩短了测试者宝贵时间，且无需培训，测试结果重现性好，误差率＜1%。3000/HPLD大功率激光器 美国PSS粒度仪公司在开发仪器的过程中，考虑到在各种极端实验测试条件中不同的需求，对不同使用条件和环境配置了不同功率的激光发生器。大功率的激光器可以对极小的粒子也能搜集到足够的散射信号，使得仪器能够得到极小粒子的粒径分布。同样，大功率激光器在测试大粒子的时候同样也很有帮助，比如在检测右旋糖酐大分子时，折射率的特性会引起光散射强度不足。 因为大功率激光器的特性，会弥补散射光强的不足和衰减，测试极其微小的微乳、表面活性剂胶束、蛋白质以及其他大分子不再是一个苛刻的难题。即使没有色谱分离，Nicomp 3000纳米粒径分析仪甚至也可以轻易估算出生物高分子的聚集程度。雪崩二极管 (APD-LDC)超高灵敏度检测器 Nicomp 3000纳米粒径分析仪可以装配各种大功率的激光发生器和军品级别的雪崩二极管检测器（相比较传统的光电倍增管有7-10倍放大增益效果）。 APD通常被用于散射发生不明显的体系里来增加信噪比和敏感度，如蛋白质、不溶性胶束、浓度极低的体系以及大分子基团，他们的颗粒的一般浓度为1mg/mL甚至更低，这些颗粒是由对光的散射不敏感的原子组成。APD外置了一个大功率激光发生器模块，在非常短的时间内就能检测分析纳米级颗粒的分布情况。3000/MA多角度检测器 粒径大于100 nm的颗粒在激光的照射下不会朝着各个方向散射。多角度检测角器通过调节检测角度来增加粒子对光的敏感性来测试某些特殊级别粒子。Nicomp 3000可以配备范围在10°-175，步长0.7°的多角度测角器，从而使得单一90°检测角测试不了的样品，通过调节角度进行检测，改善对大粒子多分散系粒径分析的精确度。工作原理目录结构： 1.前言 2.动态光散射原理 3.动态光散射理论：光的干涉 小知识：光电倍增管（PMT) 小知识：光电二极管（APD) 5.粒子的扩散效应 6.Stoke-Einstein方程式 7.自相关函数原理 前言 近十几年来，动态光散射技术（Dynamic Light scattering, DLS），也被称为准弹性光散射（quasi-elastic light scattering, QELS）或光子相关光谱法（photon correlation spectroscopy， PCS）,已经被证明是表征液体中分散体系的粒径分布（PSD）的极有用的分析工具。DLS技术的有效检测粒径范围——从5am（0.005微米）到10几个微米。DLS技术的优势相当明显，尤其是当检测到300nm以下亚微米的粒径范围时，在此区间，其他的技术手段大部分都已经失效或者无法得到准确的结果。因此，基于DLS理论的设备仪器被广泛采用用以表征特定体系的粒度分布，包括合成的高分子聚合物(如乳胶，PVCs等)，水包油和油包水的乳剂，囊泡，胶团，微粒，生物大分子，颜料，燃料，硅土，金属晶体，陶瓷和其他的胶体类混悬剂和分散体系。动态光散射原理 下图所示为DLS系统的简单的示意图。激光照射到盛有稀释的颗粒混悬液的玻璃试管中。此玻璃试管温度恒定，每一个粒子被入射光击发后向各个方向散射。散射光的光强值和粒径的分子量或体积（在特定浓度下）成比例关系，再带入其他影响参数比如折射率，这就是经典光散射（Classic light scattering)的理论基础。 图1：DLS系统示意图动态光散射方法（DLS）从传统的光散射理论中分离，不再关注于光散射的光强值，而关注于光强随着时间的波动行为。简单来说，我们在一定角度（一般使用90°角）检测分散溶剂中的混悬颗粒的总体散射光信息。由于粒度的扩散，光强值不断波动，理论上存在有非常理想化的波动时间周期，此波动时间和粒子的扩散速度呈反比例关系。我们通过光强值的波动自相关函数的计算来获得随时间变化的衰减指数曲线。从衰减时间常量τ，我们可以获得粒子的扩散速度D。使用Stokes-Einstein 方程式，我们最终可以计算得出颗粒的半径（假定其是一个圆球形状）。动态光散射理论：光的干涉 为了容易理解什么叫做强度随时间波动，我们必须先理解相干叠加（coherent addition）或线性叠加（superposition）的概念,进一步要知道检测区域内的不同的粒子产生了很多独立散射光，这些独立的散射光相干叠加或互相叠加的最终结果就是光强。这种物理现场被称为“干涉”。下图是光干涉图样。 每一束独立的散射光波到达检测器和入射激光波长有相位关系，这主要取决于悬浮液中颗粒的精确定位。所有的光波在PMT检测器的表面的狭缝中混合在一起，或者叫干涉在一起，最终在特定的角度可以检测得到“净”散射光强值，在DLS系统中，绝大部分都使用90度角。 小知识——光电倍增管（PMT) 光电倍增管（Photomultiplier，简称PMT），是一种对紫外光、可见光和近红外光极其敏感的特殊真空管。它能使进入的微弱光信号增强至原本的108倍，使光信号能被测量。光电倍增管示意图小知识——光电二极管（APD) 光电倍增管是由玻璃封装的真空装置，其内包含光电阴极 (photocathode)，几个二次发射极 (dynode)和一个阳极。入射光子撞击光电阴极，产生光电效应，产生的光电子被聚焦到二次发射极。其后的工作原理如同电子倍增管，电子被加速到二次发射极产生多个二次电子，通常每个二次发射极的电位差在 100 到 200 伏特。二次电子流像瀑布一般，经过一连串的二次发射极使得电子倍增，最后到达阳极。一般光电倍增管的二次发射极是分离式的，而电子倍增管的二次发射极是连续式的。 应用 光电倍增管集高增益，低干扰，对高频信号有高灵敏度的优点，因此被广泛应用于高能物理、天文等领域的研究工作，与及流体流速计算、医学影像和连续镜头的剪辑。雪崩光电二极管（Avalanche photodiodes，简称APDs）为光电倍增管的替代品。然而，后者仍在大部份的应用情况下被采用。 动态光散射理论： 粒子的扩散效应 悬浮的粒子并不是静止不动的，相反，他们以布朗运动（Brownian motion)的方式无规则的运动，布朗运动主要是由于临近的溶剂分子冲撞而引起的。因此，到达PMT检测区的每一束散射光随时间也呈无规则波动，这是由于产生散射光的粒子的位置不同而导致的无规则波动。因为这些光互相干涉在一起，在检测器中检测到的光强值就会随时间而不断波动。粒子很小的位移需要在相位上产生很大的变化，进而产生有实际意义的波动，最终这些波动在净光强值上反应出来。 DLS测量粒径技术的关键物理概念是基于粒子的波动时间周期是随着粒子的粒径大小而变化的。为了简化这个概念，我们现在假定粒子是均一大小的，具有相同的扩散系数（diffusion coefficient)。分散体系中的小粒子运动的快，将会导致光强波动信号变化很快；而相反地，大粒子扩散地毕竟慢，导致了光强值的变化比较慢。 图示4使用相同的时间周期来观测不同大小（小，中，大）的粒子产生的散射光强变化,请注意，横坐标是时间t。 我们需要再次强调，光强的波动并不是因为检测区域内粒子的增减引起的 而是大量的粒子的位置变动（位移）而引起的。 Stokes Einstein Equation DLS技术的目标是从原始数据（raw data)中确定粒子的扩散系数“D”。原始数据主要是指光强信号的波动，比如上述图4中所示。通过扩散系数D我们可以很容易的计算出粒子的半径，这时候就是广为人知的Stokes-Einstein方程式：D=kT/6πηR （2）这里k 指的是玻尔兹曼常数1.38 x 10-16 erg K-1；T是绝对温度；η是分散溶剂的额剪切粘度，比如20℃的水的η=1.002×10-2 泊； 从上述公式2中我们可以看到，通常情况下，粒子的扩散系数D会随着温度T的上升而增加。温度进而也会影响溶剂粘度η。例如，纯水的粘度在25℃下会落到0.890×10-2泊，和20℃下相比会有10%的改变。毫无疑问，溶剂的粘度越小，粒子的无规则扩散速度会越大，从而导致光强的波动也越快。因此，温度T的变化和粒径的变化是完全分不开的，因为他们都影响到了扩散系数D。正因为这个原因，样本的温度必须保持恒定，而且必须非常精确，这样才能获得有实际意义的扩散系数D。 从图4的“噪声”信号中无法直接提取出扩散系数。但是可以清楚地看到，信号b比信号c波动地快，但是比信号a波动地慢，因为，信号b地粒径一定在a和c之间，这只是很直观地得到一个结论而已。然而，量化此种散射信号是一个很专业地课题。幸而，我们有数学方法来解决这个问题，这就是自相关函数（auto-correlation)。自相关函数原理 现在让我们设定散射光强的自相关函数为IS(t)，在上述图4中可以看到其随时间而波动。我们用C(t’)来标识自相关函数。C(t’)可以通过如下方程式3来表达：C(t’)= Is(t)*Is(t-t’) (3)括号 表示有很多个t和对应的Is值。也就是说，一次计算就是运行很多Is(t)*Is(t-t’) 的加和，所有都具有相同的间隔时间段t’。 图5是典型的Is(t)的波形图，通过这张图，我们可以认为C(t’)和Is(t)之间有简单的比例关系，这张图的意义在于通过C(t’)函数可以通过散射光强Is(t)的波动变化“萃取”出非常有用的信息。 自相关函数C(t’)其实是表征的不同大小的粒子随时间而衰变的规律。 点击下载工作原理仪器参数粒径检测范围0.3 nm - 10 μm分析方法动态光散射，Gaussian单峰算法和 Nicomp多峰算法pH值范围1-14温度范围0℃-90 ℃（±0.1℃控温精度，无冷凝）浓度40%w/v激光光源至少35mW激光光源检测角度多角度（10°- 175°，包含90°，步进0.7°）检测器APD-LDC(雪崩二极光电倍增管，可7-10倍增益放大)可用溶剂水相,绝大多数有机相样品池标准4 mL样品池（1cm×4cm，高透光，石英玻璃或塑料）1mL样品池（玻璃，高透光率微量样品池，微量进样10μL）分析软件必配科研级软件符合 21 CFR Part 11 规范分析软件（可选）验证文件有电压220 – 240 VAC，50Hz 或100 – 120 VAC，60Hz计算机配置要求Windows 7及以上版本windows操作系统，40Gb硬盘，1G内存，光驱，USB接口，串口（COM口）外形尺寸56 cm * 41 cm * 24cm辅助增益模块自动稀释模块自动进样器（选配）重量约26kg（与配置有关）配件大功率激光光源PSS使用一系列大功率激光二极管来满足更多更苛刻的要求。使用大功率激光照射，以便从小粒子出货的足够的入射光。15mW, 35mW, 50mW, 100mW — 波长为635nm 的红色二极管。20 mW 50 mW 和 100 mW 波长为 514.4nm的绿色二极管。雪崩光电二极管检测器（APD Detector）提供比普通光电倍增管(PMT)高7-10倍的灵敏度。自动稀释系统模块将初始浓度较高的样本自动稀释至可检测的的浓度，可稀释初始固含量为50%的原始样品，本模块可免除人工稀释样品带来的外界环境的干扰和数据上的误差，此技术被用于批量进样和在线检测的过程中。多角度检测系统模块提供多角度的检测能力。使用高精度的步进电机和针孔光纤技术可对散射光的接收角度进行调整，可为微粒粒径分布提供可高分辨率的多角度检测。对高浓度样品（≤40%）以及大粒子多分散系的粒径提供了提供15至175度之间不同角度上散射光的采集和检测自动滴定模块（选配）样品的浓度及PH值是Zeta电位的重要参数，搭配瑞士万通的滴定仪进行检测，真正实现了自动滴定，自动调节PH值，自动检测Zeta电位值。免除外界的干扰和数据上的误差，精确分析出样品Zeta电位的趋势。样品池标准4 mL样品池（1cm×4cm，高透光，石英玻璃或塑料）；1mL样品池（玻璃，高透光率微量样品池，最小进样量10μL）。自动进样器（选配）批量自动进样器能实现60个连续样本的分析而无需操作人员的干预。因此它是一个非常好的质量控制工具，能增大样品的处理量。大大节省了宝贵的时间。应用领域 纳米载药纳米药物研究近些年主要着重在药物的传递方向并发展迅猛，纳米粒的大小可以有效减少毒性和副作用。所以，控制这些纳米粒的粒径大小是非常必要的。 磨料磨料既有天然的也有合成的，用于研磨、切削、钻孔、成形以及抛光。磨料是在力的作用下实现对硬度较低材料的磨削。磨料的质量取决于磨料的粗糙度和颗粒的均匀性。化学机械抛光液(CMP SLURRY)化学机械抛光是半导体制造加工过程中的重要步骤。化学机械抛光液是由腐蚀性的化学组分和磨料(通常是氧化铝、二氧化硅或氧化铈)两部分组成。抛光过程很大程度上取决于晶片表面构型。晶片的加工误差通常以埃计，对晶片质量至关重要。抛光液粒度越均匀、不聚集成胶则越有利于化学机械抛光加工过程的顺利进行。 陶瓷陶瓷在工业中的应用非常广泛，从砖瓦到生物医用材料及半导体领域。在生产加工过程中监测陶瓷颗粒的粒度及其粒度分布可以有效地控制产品的性能和质量。 粘土粘土是一种含水细小颗粒矿物质天然材料。粉砂与粘土类似，但粉沙的颗粒比粘土大。粘土中易于混杂粉砂从而降低粘土的等级和使用性能。ISO14688定义粘土的颗粒小于63μm。 涂料涂料种类繁多，用途广泛。涂料的颗粒大小及粒度分布直接影响涂料的质量和性能。污染物监测粒度检测分析在产品的污染监测方面起着重要作用，产品的污染对产品的质量影响巨大。绝大多数行业都有相应的标准、规程或规范，必须严格遵守和执行，以保证产品满足质量要求。化妆品无论是普通化妆品还是保湿剂、止汗剂，它们的性能都直接与粒度的大小和分布有关。化妆品的颗粒大小会影响其在皮肤表面的涂抹性能、分布均匀性能以及反光性能。保湿乳液(一种乳剂)的粒度小于200纳米时才能被皮肤良好吸收，而止汗剂的粒度只有足够大时才能阻塞毛孔起到止汗的作用。 乳剂乳剂是两种互不相溶的液体经乳化制成的非均匀分散体系，通常是水和油的混合物。乳剂有两种类型，一种是水分散在油中，另一种是油分散在水中。常见的乳剂制品有牛奶（水包油型）和黄油（油包水型），加工过程中它们均需均质化处理到所需的粒径大小以期延长保质期。 乳剂乳剂是两种互不相溶的液体经乳化制成的非均匀分散体系，通常是水和油的混合物。乳剂有两种类型，一种是水分散在油中，另一种是油分散在水中。常见的乳剂制品有牛奶（水包油型）和黄油（油包水型），加工过程中它们均需均质化处理到所需的粒径大小以期延长保质期。 食品食品的原料（粉末及液体）通常来源于不同的加工厂，不同来源的原料必须满足某些特定的标准以使制品的质量均一稳定。原料性质的任何波动都会对食品的口味和口感产生影响。用原料的粒度分布作为食品质量保证和质量控制（QA/QC）的一个指标可确保生产出质量均以稳定的食品制品。液体工作介质/油液体工作介质（如：油）越来越昂贵，延长液体介质的寿命是目前普遍关心的问题。机械设备运转过程中会产生金属屑或颗粒落入工作介质中（如：油浴润滑介质或液力传递介质），因此需要一种方法来确定介质（油）的更换周期。通过监测工作介质（油）中颗粒的分布和变化可以确定更换工作介质的周期以及延长其使用寿命。墨水随着打印机技术的不断发展，打印机用的墨水变得越来越重要。喷墨打印机墨水的粒度应当控制在一定的尺度以下，且分布均匀，大的颗粒易于堵塞打印头并影响打印质量。墨水是通过研磨方法制得的，可用粒度检测分析仪器设备监测其研磨加工过程，以保证墨水的颗粒粒度分布均匀，避免产生聚集的大颗粒。 胶束胶束是表面活性剂在溶液中的浓度超过某一临界值后，其分子或离子自动缔合而成的胶体尺度大小的聚集体质点微粒，这种胶体质点与离子之间处于平衡状态。乳液、色漆、制药粉体、颜料、聚合物、蛋白质大分、二氧化硅以及自组装TiO2纳米管(TNAs)等

美国MAS纳米粒度及Zeta电位分析仪产品介绍：美国MAS纳米粒度及Zeta电位分析仪,可以测试：粒径、Zeta电位、滴定、电导等。此仪器容易使用、测量精确。对于高达60%（体积）浓度的样品，也无需进行稀释或样品前处理，即可直接测量甚至对于浆糊凝胶、水泥以及用其它仪器很难测量的材料都可直接进行测量。典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

ZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；ZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000umZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；ZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

仪器简介：可实现快速便捷的颗粒的电位滴定测试。在分散体系中，同性带电离子的静电排斥作用是分散体避免凝聚保持稳定的主要原因，故带电粒子界面的表征是必不可少的。当颗粒离子化后，总电荷和电荷密度是需要知道的重要参数。电荷测量是通过建立动电信号来完成的。根据不同的测量原理，有电泳法，电声法Zeta电位，以及STABINO测试所得的流动电位。这些是经常被提到的电位参数，来源于作用在颗粒界面双电层上离子云的剪切力，如图1。所有这些被测变量都与位于剪切面的颗粒界面电位（PIP）即Zeta电位成正比关系。为了建立界面电位，要么通过电泳法或电声法建立的电场，要么通过机械应力作用于流动电位和电声法仪器。通过这样做，来源于溶液中的外部松散附着的离子被带走，显露出可被直接测量的界面电位。电位滴定的目的根据不同的粒径区间，可通过Smoluchowski, Henry’s 等公式计算Zeta电位。要想正确的计算Zeta电位，粒径范围是需要特别注意的。特别是在100nm以下的粒径范围内，关于Zeta电位的正确计算方法，目前学术界还存在着争议。究竟得到一个绝对的数值对于现实是否必要，这也是存在疑问的。此外，某一个点的Zeta电位值并不能清楚的描述整个样品体系。界面电位总是依赖于离子环境，严格的讲，如果没有所处的离子环境，那么粒子的界面电位也就无从谈起。PH值的微小变化都可能导致颜料悬浮体变的不稳定，尽管它之前的Zeta电位很高。因而，深入研究Zeta电位对滴定物的滴定曲线是非常有价值的。这些滴定物质可以是酸碱性物质，离子型表面活性剂或聚电解质。说到这，很多有价值的结果都可以通过电位滴定得到，有的可用于识别悬浮液的稳定和不稳定区域，有的用于表征导致聚合或颗粒反应的凝聚剂或催化剂的用量。测量流动电流电位通过驱动活塞在圆筒中做上下往复运动（如图2），圆筒壁和活塞间隙中的液体会上下发生流动。作用在固定颗粒界面上的剪切力，会导致颗粒的离子云发生转移。这些固定的颗粒，有的是因为大分子或小颗粒对器壁的粘附，有的是因为大颗粒的惰性所致。在样品底部平静的区域，几乎没有离子的位移。因而，就可以获取到圆筒底部和较高部位的振荡信号。多功能流动电位测试法所适用粒径范围，表明流动电位是最通用的方法，0.3nm的大分子溶液和300μm的颗粒悬浮液或乳液都可以用流动电位法来测定。该方法允许的导电性范围从零至50mS/cm，样品浓度范围从0.01至10vol%或更高。粘度的上限为300mPas。在此粘度下，将滴定液混入样品的有效性是存在问题的。除了样品和滴定液的浓度外，无需其他样品参数。最后但同样重要的是，如果zeta电位是非常重要的，在许多 应用中，流动电位乘以常数因子就可以校正为Zeta电位。流动电位用于电荷滴定的高效STABINO在一台仪器上具备了混和，均化和信号测试的功能，使其滴定测试更为简单有效。通常一个典型的滴定循环需要5-15分钟。

BZL-6自动界面张力测定仪适用GB/T6541标准，分子间的作用力形成液体的界面张力或表面张力，张力值的大小能够反映液体的物理化学性质及其物质构成，是相关行业考察产品质量的重要指标之一。表面张力测定仪基于圆环法（白金环法），测量各种液体的表面张力(液-气相界面)及液体的界面张力(液-液相界面)。此方法具有操作简单，精度高的优点。广泛用于电力、石油、化工、制药、食品，教学等行业。仪器特点1、采用快响应电磁力平衡传感器，提高了测量精度与线性度。2、仪器校准只需标定一点，解决了前一代传感器需要多点标定的问题。免去了调零电位器及调满量程电位器。3、实时显示等效张力值、当前重量（可作为电子天平称重）。4、集成温度探测电路，对测试结果自动温度补偿。5、240×128点阵液晶显示屏，无标识按键，具有屏幕保护功能。6、带时间标记的历史记录，可存储255个。7、内置高速热敏式微型打印机，打印美观、快捷，具有脱机打印功能。8、配有标准RS232接口，可与计算机连接，便于处理试验数据。9、可实现全中文/全英文界面显示。技术参数测量范围：2-200mN/m准确度：0.1%读数±0.1 mN/m分辨率：0.1mN/m灵敏度：0.1mN/m工作电源：AC220V±10%，50Hz最大功耗：20W适用环境温度：10～30℃(典型值25℃)适用环境湿度：≤85% RH外形尺寸：185mm×260mm×360mm

测试原理：在低温（如：液氮浴，77.3K）条件下，向样品管内通入一定量的吸附质气体（如：N2），通过控制样品管中的平衡压力直接测得吸附分压，通过气体状态方程(PV=nRT)得到该分压点的吸附量；通过逐渐投入吸附质气体增大吸附平衡压力，得到吸附等温线；通过逐渐抽出吸附质气体降低吸附平衡压力，得到脱附等温线；相对动态法，无需载气（He），无需液氮杯反复升降；由于待测样品是在固定容积的样品管中，吸附质相对动态色谱法不流动，故叫静态容量法；测试理论：吸附、脱附等温线测定 BET比表面测定(单点/多点法)；朗格缪尔(Langmuir)比表面 统计吸附层厚度法外比表面； BJH法孔容孔径分布 MK-plate法(平行板模型)孔容孔径分布； D-R法微孔分析 t-plot法(Boder)微孔分析；H-K法(Original)微孔分析 MP法(Brunauer) 微孔分析；DFT孔径分析 真密度测试、粒度估算报告。 脱气预处理系统：脱气站数量：2、4、8个预处理站可选；真空脱气，不采用气流吹扫方式；全自动脱气：不采用分体式的手动控制，而是采用与主机一体的全自动程序控制，定时开始、真空泵自动启停，程序升温、定时结束，实现无人值守测试和样品脱气处理；独 立 性：测试系统和脱气系统相互独立，样品的测试过程和脱气处理可同时进行；2组独立控温：可设置2组不同脱气温度、不同脱气时间； 金属加热脱气炉隔热设计，经久耐用，不易损坏脱气模式：具有“普通加热抽真空分子扩散模式”和“分子置换模式”两种可选功能；独立真空系统：不与测试位共用真空泵，脱气系统配备独立的双级机械真空泵；分析测试系统：测试范围：比表面0. 0005m2/g至无上限；孔径：0.35-500 nm(微孔常规分析: 0. 35-2nm 介孔分析: 2nm-50nm 大孔分析: 50nm-500nm)；总孔体积：0.0001cc/g至无上限。测量精度：比表面积重复精度≤± 1.0%，最可几孔径重复偏差≤0.02nm，真密度 ≤±0.04%；外表面积≤± 1.5%。分 析 站：1/2/4或6个分析站可选；独 立P0站：具有独立的饱和蒸汽压(P0)测试站，保证分压测试的高准确性。测试系统：根据“国标标准”利用“氦气”测试温区体积，使测试精度更高，重复性更好。另外，也可以通过“氮气”测试得到温区体积(弊端：利用氮气测试温区体积，测试过程中可能导致样品部分孔内被氮填充，影响实验过程中氮的实际吸附量，影响测试精度)。气路系统：贝士德仪器独创的BEST“模块”歧管系统，对基准腔及控制阀门进行整体集成设计，无任何螺纹密封及管路压接或焊接接口，将真空管路减少90%以上，彻底消除漏气点，整个系统漏气率低于10-10Pa*m3/s，密封性提高10倍以上，达到进口高端仪器水平，极大的提升了仪器的稳定性和精确度；气路系统各部分统筹进行模块化组装，极大减少故障率，大幅增强仪器稳定性。管路通径：大通径是高真空的必备条件，脱气位和测试位采用大通径阀门和管路，使真空泵的极限真空得到效果的体现。控制系统：采用原装进口日本SMC气控阀和电磁阀组合应用，彻底杜绝因电磁阀发热产生的气体受热膨胀问题。真空系统：仪器配备两套独立的真空系统，既脱气系统和分析系统相互独立，真正彻底消除了分析与脱气在同时进行时之间的相互影响，避免由一套真空系统而带来的污染问题。压力测量：原装进口电容薄膜压力传感器，分段测试：0-1000torr，0-10torr（可选）；读数精度误差≤0.15%，为目前压力传感器的精度；微孔段分压 P/P0可达到 1×10-8，点数大于 50 个；大孔段具有 P0的实时测试功能，使 P/P0在趋于临界点时的控制精度达到0.998。 液 氮 杯：配备了3L大容量小口径玻璃内胆杜瓦瓶，相对敞口不锈钢内胆的保温性能大幅提升，保温时长大于140小时，可连续测试90小时以上无需添加液氮，适应微孔长时间测试需求。真 空 泵：原装进口(阿特拉斯Atlas copco，原英国爱德华)双级机械真空泵+德国原装进口涡轮分子泵，全程软件自动启停控制，实现了全自动化操作。 液位控制：贝士德独创的液氮面伺服保持系统，消除测试过程中由于液氮挥发使液氮面变化而带来的死体积变化，提高测试精度；标定气体：配备99.999%高纯HE；具有HE气死体积测试功能和温区测试功能；可获得更高的准确性。测试气体：高纯氮气及根据用户需要可选择多种气体，如，CO2，Ar，Kr等，配有多路独立进气口。样品类型：粉末,颗粒,纤维及片状材料等可装入样品管的材料。售后服务：专业且完善的售后服务系统，可提供24小时电话咨询，48小时内上门服务，北京，上海，广州均设有服务机构，全力保障用户仪器正常运行；BSD-PS系列比表面及孔径分析仪---技术特点及优势l 独创的集成式“模块化”歧管系统模块化管路设计，将真空管路减少90%以上，仪器气密性提高10倍，极大的提升了仪器的稳定性和精确度；气路系统各部分统筹进行模块化组装，减少漏气点，方便故障排查及维修，大幅增强仪器稳定性。 l 控制系统采用原装进口(日本SMC)气控阀和电磁阀组合应用，通过电磁阀控制气控阀的开关，气控阀直接与模块管路连接，气控阀的开关动作不发热，彻底杜绝因电磁阀发热产生的气体受热膨胀问题。l 独立P0测试站及饱和蒸气压螺旋P0管(1) 具有独立的饱和蒸汽压(P0)测试站，保证分压测试的高准确性。(静态法比表面及孔径分析仪的饱和蒸气压测试装置，专利号：ZL201120136959.X)(2) 采用螺旋状的P0管作为饱和蒸汽压管，与仪器主机连接，能够更快的达到液氮温度，是的测试的饱和蒸汽压更接近真实值(与进口等温夹的效果一样，解决了直形不锈钢P0管测试结果偏大2%的问题)，提高测试精度。 (饱和蒸气压螺旋P0管及静态法比表面及孔径分析仪，专利号：ZL201620716311.2） l 液氮杯自动加盖功能具有液氮杯自动加盖功能，能有效的减少液氮的挥发，同时也可避免水蒸气在杜瓦杯口和样品管上冷凝结冰，（静态法比表面及孔径分析仪的加盖装置 专利号 ZL 201420148358.4）l 具有基准腔恒温装置的静态法比表面及孔径分析仪基准腔恒温装置能够使恒温装置内的基准腔及内部气体、阀门、管路、传感器等的温度略高于环境温度并保持温度不变，降低了由于阀门发热导致温度的不均一性；保证了关键部件的温度恒定，减轻了传感器的漂移现象，提高了测试的准确性、稳定性和测试精度。（具有基准腔恒温装置的静态法比表面及孔径分析仪 专利号 ZL 201420148783.3）l 非阻隔式防飞扬防污染多措施并用：? 措施①：涡旋降尘原理的非阻隔式硬件防污染装置，结合软件防抽飞程序彻底消除易挥发样品在高真空时的扬析沸腾现象，从而避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况，如右图所示；? 措施②：贝士德独创的脱气位滤尘袋结合贝士德独创的涡旋降尘原理的硬件防抽飞装置，能够在不降低现有气体流导前提下实现粉尘过滤功能，彻底杜绝粉末样品对仪器内部结构的污染，缩短抽真空脱气时间、提高脱气效果；? 措施③：程序控制的分级抽速自动切换，防止瞬间高真空时样品飞扬；? 措施④程序升温，防止样品剧烈升温扬析沸腾；? 措施⑤：脱气完毕程控自动回填氮气；贝士德独创防污染滤尘袋结合涡旋降尘原理的硬件防抽飞装置，能够在不降低现有气体流导前提下实现粉尘过滤功能，彻底杜绝粉末样品对仪器内部结构的污染，抽真空脱气时间缩短、效果提高。贝士德仪器独创的非阻隔式防飞扬防污染装置其他厂家的阻隔式防污染装置 工作过程：如遇到非常轻的样品，在高真空的情况下被抽飞，样品通过惯性首先落到滤尘袋内，极少部分会通过滤尘袋落到防污染瓶内，而不会进入气路系统，相比较阻隔式，既不影响真空度，又能够保护气路系统，彻底避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况。非阻隔式防污染装置的优势：相比较阻隔式防污染装置，非阻隔式防污染装置能够彻底消除易挥发样品在高真空时的扬析沸腾现象，从而避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况。专利技术：(1) 具有除尘防污染装置的静态法比表面及孔径分析仪，专利号：ZL201320045881.X；(2) 具有脱气位滤尘袋装置的静态法物理吸附仪，专利号：ZL201620714986.3。 工作原理：样品在脱气预处理过程中，如遇到较轻样品，在高真空的情况下，样品会发生扬析沸腾现象，常规的防污染都是通过阻隔的方式进行对气路系统的保护，而这种阻隔式防污染装置的弊端：1、若对2um以下的颗粒有效，则需要增加滤芯(滤棉)，而滤芯(滤棉)过多则会严重影响抽气速度，无法获得高真空度；2、如果滤芯(滤棉)过少，对于粒径小于2um的颗粒基本无效，样品便会发生扬析(抽飞)现象，发生扬析(抽飞)的样品便会进入管路系统、污染阀门等气路系统，影响真空度，造成样品的交叉污染，仪器维修率高，影响仪器的使用寿命。l 可选处理模式具有国内外首创的样品预“处理普通模式”和“分子置换模式”两种模式。(静态法比表面及孔径分析仪的净化预处理装置，专利号：ZL201120136943. 9) l 真空泵自动启停管理优化的真空泵启停管理系统，在测试过程中真空泵无需一直处于运行状态，减小噪音，延长真空泵寿命。l 断电自动保存当前数据超强的稳定性，即使意外断电、断线，不会丢失当前数据，且实验可恢复继续进行。l 人性化操作界面清晰形象的图形化控制界面，并可在界面上进行所有硬件的控制操作。l 密封性自检先进的智能自检流程，智能判断样品管是否安装，试管夹套是否拧紧有无漏气。l 高智能化工作模式交互式数据处理软件可实现仪器的全自动运行，长时间实验无需人工值守，可根据用户需要定制报告内容。l 杜绝液氮杯意外下降具有液氮杯防意外“安全下降”智能控制机制，完全避免了液氮杯意外下降气体膨胀使样品管爆裂的危险。

表面力仪SFASFA表面力仪用于测量表界面间的作用力，例如范德华力、静电力、粘附力和毛细力、表面和液体的结构力、聚合物介导的空间和耗尽力、疏水相互作用、蛋白质介导的生物特异性和膜相互作用，以及摩擦力和生物润滑力。产品介绍表面力仪测试存在于气体或液体中的两个光滑表面之间的力。灵敏度达10 nN，距离分辨率为0.1 nm。除了法向力，SFA还可以用于量化蒸气或液体介质中两个表面之间的横向力，以研究纳米级的各种摩擦、流变和润滑现象。一些分子级别光滑的硬材料都可以作为样品基底材料，比如云母、二氧化硅、蓝宝石等。这些基底也可使用表面活性剂、脂质、聚合物、金属、金属氧化物、蛋白质和其它生物分子等进行表面修饰。应用实例粘附 - 生物胶水关节和软骨 - 骨关节炎润滑 - 更高效的机油高分子 - 聚合物刷系统润滑建材 - 提高混凝土耐磨性资源 - 提高采油效率食品科学 - 酒的口感胶体 - 药物递送的稳定性腐蚀 - 提高金属耐久生物膜 - 蛋白质相互作用SFA系统最新升级FECO光学技术首先将两块背面镀银的云母薄片贴在两个圆柱形玻璃圆盘上。利用等色序条纹(FECO)产生多光束干涉(MBI)，进行实时和原位监测表面分离、变形和接触面积。然后光源产生的白光入射，干涉光被引导到带有衍射光栅的光谱仪上，并用相机记录。控制两个表面靠近和分离，再利用胡克定律测量之间的法向力。两个相对的云母表面可以被不同的有机和无机涂层（如二氧化硅、金、氧化物、表面活性剂、聚合物和蛋白质） 以不对称或对称的构型进行修饰，周围的介质可以是气体、蒸气、水溶液或有机溶剂。如您有测试的需求，欢迎咨询！