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波长色散型

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波长色散型相关的论坛

  • 波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的比较

    虽然波长色散型(ED-XRF)X射线荧光光谱仪与能量色散型(WD-XRF)X射线荧光光谱仪同属X射线荧光分析仪,它们产生信号的方法相同,最后得到的波谱或者能谱也极为相似,但由于采集数据的方式不同,ED-XRF(波谱)与ED-XRF(能谱)在原理和仪器结构上有所不同,功能也有区别。  (一)原理区别  X-射线荧光光谱法,是用X-射线管发出的初级线束辐照样品,激发各化学元素发出二次谱线(X-荧光)。波长色散型荧光光仪(WD-XRF)是分光晶体将荧光光束色散后,测定各种元素的含量。而能量色散型X射线荧光光仪(WD-XRF)是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将未色散的X-射线按光子能量分离X-射线光谱线,根据各元素能量的高低来测定各元素的量。由于原理不同,故仪器结构也不同。  (二)结构区别  波长色散型荧光光谱仪(WD-XRF),一般由光源(X-射线管)、样品室、分光晶体和检测系统等组成。为了准确测量衍射光束与入射光束的夹角,分光晶体系安装在一个精密的测角仪上,还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射,造成强度的损失,要求作为光源的X-射线管的功率要大,一般为2~3千瓦。但X-射线管的效率极低,只有1%的电功率转化为X-射线辐射功率,大部分电能均转化为热能产生高温,所以X-射线管需要专门的冷却装置(水冷或油冷),因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。能量色散型荧光光谱仪(WD-XRF),一般由光源(X-射线管)、样品室和检测系统等组成,与波长色散型荧光光谱仪的区别在于它用不分光晶体。由于这一特点,使能量色散型荧光光仪具有如下优点:  ①仪器结构简单,省略了晶体的精密运动装置,也无需精度调整。还避免了晶体衍射所造成的强度损失。光源使用的X-射线管功率低,一般在100W以下,不需要昂贵的高压发生器和冷却系统,空气冷却即可,节省电力。  ②能量色散型荧光光仪的光源、样品、检测器彼此靠得很近,X-射线的利用率很高,不需要光学聚集,在累积整个光谱时,对样品位置变化不象波长色散型荧光光谱仪那样敏感,对样品形状也无特殊要求。  ③在能量色散谱仪中,样品发出的全部特征X-射线光子同时进入检测器,这就奠定了使用多道分析器和荧光屏同时累积和显示全部能谱(包括背景)的基础,也能清楚地表明背景和干扰线。因此,半导体检测器X-射线光谱仪能比晶体X-射线光谱仪快而方便地完成定性分析工作。  ④能量色散法的一个附带优点是测量整个分析线脉冲高度分布的积分程度,而不是峰顶强度。因此,减小了化学状态引起的分析线波长的漂移影响。由于同时累积还减小了仪器的漂移影响,提高净计数的统计精度,可迅速而方便地用各种方法处理光谱。同时累积观察和测量所有元素,而不是按特定谱线分析特定元素。因此,见笑了偶然错误判断某元素的可能性。(选自网络,侵删)

  • 波长色散型荧光光谱仪问题

    波长色散型荧光光谱仪,在做样时,样品放进去之后,点击软件上的测试按钮后,荧光光管自动关掉,重启光管没有用,要关机再启动,再启动光管,光管才能打开。出现的错误是:由于连接超时,光光谱仪断开和Spectrometer error:3,0,4,0,0 turret timeout。请问是怎么回事?我们的仪器型号是帕纳科公司的 AXios Advanced 。恳请各位高手给予指点!

  • 关于国内波长色散400W和国外波长色散4KW原因

    个人认为,光管的功率和使用与仪器需求有关系,国内的波长色散基本上都是固定道的,也就是在接收器的不同位置上会安装多个探测器,只能测试固定的多个元素,仪器内部不需要有任何旋转机构,而国外的波长色散大多是扫描道的,是通过旋转晶体将不同波长的X荧光调整到同一个接收点来接收,这样的话可以测试所有的元素,而且只需要一个接收探测器(一般会配3个或者2个,根据波长范围选择)。对于固定道德由于是多个探测器同时在测试多个元素,因此,需求的激发功率没那么高,而扫描道的是要在一个探测器上接收不同晶体旋转位置时的光谱,因此对单位时间内的记数要求很高才能达到测试的要求。比如同样是测试10秒,固定道的每个探测器所测试的元素都是测试了10秒,而扫描道的是在整个扫描过程中测试了10秒,不同波长的测试时间是远远低于10秒的。这就是为什么光管功率差别很大的原因。在满足了仪器测试需要的情况下,肯定是选用功率合适的就可以了,可以降低仪器的设计要求。

  • 单位要购买波长色散型的XRF,做玻璃成分的

    单位要购买波长色散型的XRF,做玻璃成分的。请大家说说自己的仪器型号及使用心得。如果是仪器公司,请详细写明你的仪器号及各部件的参数及报价。要说明的内容有: X射线管、高压发生器、通道面罩及准直器、分光晶体、探测器、测角仪、附件。邮箱:q163@tom.com

  • 【讨论】波长色散X荧光分析仪与能量色散X荧光分析仪

    随着欧盟ROHS指令实施日期的日益临近,国内越来越多的相关企业在积极的思考和寻找应对的方案;X荧光分析技术(XRF)作为一种方便有效的快速分析手段,正迅速被业内人士所了解和应用。目前在中国市场上,应用于ROSH指令的X荧光分析仪均为能量色散类型;一般情况下,波长色散类型的X荧光分析仪器的准确度比能量色散类型的仪器要高很多;但应用于ROHS指令的场合时,波长色散和能量色散则各有优缺点,测量对象各有侧重;以下将从几个方面对两种类型的仪器进行比较和说明: 波长色散 能量色散 (Si-Pin)型 (SDD)型测量精度 20~50ppm 200~300ppm 100~200ppm测量时间 1~2分钟 4~6分钟 3~5分钟被测样品要求 规则形状需要制样 可以不规则形状 可以不规则形状 最佳应用范围 原料半成品成品电子元器件原料半成品成品电子元器件能量分辨率高,约15eV较低,约160eV较低,约160eV荧光强度高低较高技术复杂程度复杂简单较复杂使用寿命>10年>5年>5年仪器价格46万(国产)25万左右(国产)60万左右(进口)50万(国产)1、测量精度:尽管目前各家能量色散仪器(均为Si-Pin类型)生产商和销售商都给出了很高的技术指标,但在实际应用中(特别在被测样品不进行处理的情况下),真正可以期待的准确度都在200~300ppm之间(测量塑料中有害元素时,准确度会好一些;对不规则样品,则精度会更差);同时,对于同类型的仪器,进口仪器的指标和国产仪器之间并没有本质差别(基本配置),但进口仪器的价格却昂贵很多。波长色散X荧光分析仪的测量准确度比能量色散类型高一个数量级,基本在20~50ppm左右。2、测量时间:由于波长色散配备较大功率的X光管,荧光强度高;因此,波长色散仪器占用较短的测量时间,便能达到较高的测量精度。3、被测量样品的要求:由于技术特点的差异,波长色散X荧光分析仪需要对被测量样品进行简单的处理;对固体样品的一般处理方法是将被测量样品表面打磨光滑,对粉末和其他样品可以采用磨细后进行粉末压片法处理,相应的设备市场上很容易找到。能量色散型仪器最大的优势在于:可以对样品不作处理直接进行测量,对样品也没有任何损坏,直接用于生产的过程控制中;但需要强调指出的是:从荧光理论上讲,被测量样品的预先处理是必须的,对于能量色散仪器来说,我们可以采取一些技术手段进行校正来满足实际生产控制的需要,但即使采用了技术校正的手段,对不规则样品的直接测量也是以牺牲测量准确度作为代价的。4、最佳应用范围:由于波长色散和能量色散类型X荧光分析仪各自的技术特点,两种类型仪器所侧重的应用方案也不尽相同;波长色散X荧光分析仪具有较高的测量精度,但同时需要对被测量样品进行简单处理,更适用于进厂原材料、半成品、成品的精确检测和质量控制;能量色散X荧光分析仪虽然测量精度稍差,但具有快速、直接测量各种形状样品的优点,因此可直接在生产线上用于各种部件、电子元器件的检测。5、能量分辨率:能量分辨率是X荧光分析仪器的主要指标,分辨率数值越小,分辨率越高,仪器性能越好。6、荧光强度:对于X荧光分析仪器来说,各元素含量与该元素的荧光强度成正比关系;荧光强度越高,则统计误差越小,测量的准确度越高,仪器性能越好。7、使用寿命:波长色散类型仪器的使用寿命一般为10年以上;能量色散类型仪器的使用寿命一般也大于5年,影响能量色散型仪器寿命的主要因素是探测器部分的老化导致其性能指标变差。[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=48263]波长色散X荧光分析仪与能量色散X荧光分析仪[/url]

  • 单位要买波长色散型的XRF,请大家建议建议

    要购买波长色散型的XRF,请大家说说自己的仪器型号及使用心得。如果是仪器公司,请详细写明你的仪器型号及各部件的参数及报价。要说明的内容有: X射线管、高压发生器、通道面罩及准直器、分光晶体、探测器、测角仪、附件。邮箱:314994637@qq.com

  • 波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的区别

    一.X射线荧光分析仪简介 X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同事测定的仪器。在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)。是用晶体分光而后由探测器接受经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器做同步运动,不断地改变衍射角,便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度,可以据此进行特定分析和定量分析。该种仪器产生于50年代,由于可以对复杂体进行多组同事测定,受到关注,特别在地质部门,先后配置了这种仪器,分析速度显著提高,起了重要作用。随着科学技术的进步在60年代初发明了半导体探测仪器后,对X荧光进行能谱分析成为可能。能谱色散型X射线荧光光谱仪(ED-XRF),用X射线管产生原级X射线照射到样品上,所产生的特征X射线(荧光)这节进入SI(LI)探测器,便可以据此进行定性分析和定量分析,第一胎ED-XRF是1969年问世的。近几年来,由于商品ED-XRF仪器及仪表计算机软件的发展,功能完善,应用领域拓宽,其特点,优越性日益搜到认识,发展迅猛。 二.波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的区别 虽然光波色散型(ED-XRF)X射线荧光光谱仪与能量色散型(ED-XRF)X射线荧光光谱仪同属于X射线荧光分析仪,它产生信号的方法相同,最后得到的波谱也极为相似,单由于采集数据的方式不同,WD-XRF(波谱)与WD-XRF(能谱)在原理和仪器结构上有所不同,功能也有区别。(一)原理区别 X射线荧光光谱法,是用X射线管发出的初级线束辐照样品,激发各化学元素发出二次谱线(X-荧光)。波长色散型荧光光仪(WD-XRF)是用分光近体将荧光光束色散后,测定各种元素的特征X射线波长和强度,从而测定各种元素的含量。而能量色散型荧光光仪(ED-XRF)是借组高分辨率敏感半导体检查仪器与多道分析器将未色散的X射线荧光按光子能量分离X色线光谱线,根据各元素能量的高低来测定各元素的量,由于原理的不同,故仪器结构也不同。(二)结构区别 波长色散型荧光光谱仪(WD-XRF),一般由光源(X-射线管),样品室,分光晶体和检测系统等组成。为了准且测量衍射光束与入射光束的夹角,分光晶体系安装在一个精密的测角仪上,还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射,造成强度的损失,要求作为光源的X射线管的功率要打,一般为2-3千瓦,单X射线管的效率极低,只有1%的功率转化为X射线辐射功率,大部分电能均转化为而能产生高温,所以X射线管需要专门的冷却装置(水冷或油冷),因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。 能量色散型荧光光谱仪(DE-XRF)

  • 【原创】再论波长色散X荧光分析仪的测试方法

    [color=#00008B][size=4][font=新宋体]本论坛中已经有充分的讨论,但值得提醒各位的是,文中所讨论的测试方法完全是针对扫描道的波长色散仪器,对于固定道的波长色散类仪器,有很多技术指标是不适用的。欢迎讨论![/font][/size][/color]

  • 用波长色散X荧光测试化肥

    如题,求助一下,哪位大侠用波长色散做过化肥?制样方法是什么?压片还是熔融?如果做添加回收的话,怎么添加?望做过的大侠指点一二,谢谢了!

  • 多通道波长色散X荧光仪器检测能力?

    多通道波长色散X荧光仪器检测能力?

    多通道波长色散X荧光仪器检测能力相对于顺序型波长色散X荧光仪器,能到达什么水平?比如测定准确度,检测限,精度方面。pb:5ppm,Ti:10pmm ,Ni:10pmm ,V:8ppm ,p:60ppm ,S:12PPM有没有问题。(样品为有机硅)帮朋友调研,欢迎讨论

  • 【讨论】波长色散x荧光的高压发生器

    我们公司刚买了一台波长色散型x荧光光谱仪,当光管设置为50KV/50mA时高压发生器会发生异常的响声,那时侯厂家的工程师也在,他把发生器取下来搞了很常时间,之后的几天高压发生器倒是没响了。他当时给的解释时:发生器内有杂物,清理之后应该就没问题了。但是当他走后,我们把光管设置为60KV/40mA时又响了,但是只是响了一次,之后又一直没想了。真不知道怎么解释这种情况。

  • XRF波长色散荧光光谱仪问题

    各位专家好,我是初学者,请问都有哪些因素会影响XRF波长色散荧光光谱仪的测试结果哪?压片法和熔片法分别在什么时候选择?恳请各位解答!

  • 【求助】波长色散X荧光建标

    我们单位想对波长色散X荧光仪检定建标,但是我看了一下检定规程,它所用的标准物质无法溯源,不知道不确定度该如何评定,哪位大侠能够帮忙指点一下,谢谢!

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