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射线荧光镀层厚度测量

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射线荧光镀层厚度测量相关的论坛

  • X射线荧光镀层测厚仪

    诚招全国各地仪器经销商、代理商，我司专业生产X射线荧光光谱仪、X射线衍射仪、拉曼光谱仪、在线监测X射线光谱仪；应用：金属镀层测厚、矿石、油品、煤炭、大气烟气重金属在线监测、医药毒品检测、三元催化、三元锂电等。相关代理商留言联系。

  • 测量金属镀层厚度的选择

    我们想买测量金属混合镀层的厚度，到底应该选择 [color=#333333]赛默飞（fisher）的还是菲希尔(fischer )的，[/color][color=#333333]感觉差一个字母，都是测量这块的厂家，[/color][color=#333333]哪个更专业？[/color][color=#333333]Fe基材，测量锌镍混合镀层厚度；[/color][color=#333333]Cu基材，测量锌或银镀层厚度；[/color][color=#333333]等等。[/color][color=#333333][/color]

  • 【讨论】XRF测量磷镍镀层厚度 问题

    本人使用日本精工仪器测量铁基材料上磷镍镀层与通过做切片用电子显微镜测量的结果相差0.5um,是通过纯镍标准片建立工作曲线的，只测定了镍的的厚度为2.5um,通过SME拍照厚度为3.1um，想请教我能用什么方法把这个磷镍镀层的尺寸测得与实际尺寸接近，如果用XRF测试其修正参数应怎样确认，谢谢！

  • 测量镀层厚度--设备

    求助：在金属表面测镀层厚度，镀的是同一种物质比如镍；镀两层，这两层镍的物理属性不同，晶粒大小不一样，请问有什么仪器可以测试出不同镀层的厚度。谢谢！

  • 多层涂镀层厚度测量用什么仪器

    基体是陶瓷，陶瓷上有层钼和锰的氧化物层，厚度10UM--50多UM，外层是镍层，厚度是1-10UM，请问用什么仪器可以测两层或多层厚度，暂时我了解了X荧光测厚仪，换有别的仪器可以测量吗

  • 【讨论】荧光测镀层

    大家来讨论下现在市场上大部分仪器测镀层时的厚度大概多少，我今天刚碰到个问题，我们家用的仪器今天测试ABS为基材的镀层时，单独测ABS材料时X射线竟能把ABS材料击穿，射线打到下面的铜底板，铜峰很高。。。。。那个ABS材料怎么说也有几个毫米。。。。有知道的发表下看法下，谢谢。

  • 牛津仪器X-Strata 920镀层测厚仪

    牛津仪器X-Strata 920镀层测厚仪，[color=#333333]牛津仪器是一家世界领先的高科技[/color][color=#333333]系统设备供应商。设计制造的设备可以在原子和分子层面，制造、分析和操控物质，并广泛应用于研究和工业领域为客户提供完美的解决方案。牛津仪器X-Strata 920镀层测厚仪。X射线荧光镀层测厚仪快速可靠的X射线荧光镀层厚度测量及材料分析，低成本、高效率.牛冿 OXFORD X-strata 920特别适合：PCB行业，电镀行业等做精密无损测试。可测镀金，银，铜，锡，及稀有金属等。[/color][color=#333333][/color][color=#333333]牛津仪器X-Strata 920镀层测厚仪工作性能[/color][color=#333333]1.测量元素范围：钛Ti22---铀U92；2.测量5层（4层镀层+底材层）镀层，同时分析15种元素，自动修正X射线重叠谱线；3.测量精度高、稳定性好，测量结果精确至μin；4.快速无损测量，测量时间短，10秒内得出测量结果；5.可分析固体、溶液；定性、半定量和定量分析；6.进行贵金属检测，如Au karat评价；7.材料鉴别和分类检测，材料和合金元素分析，元素光谱定性分析；8.强大的数据统计、处理功能：平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图，数据分组、X-bar/R图表、直方图；9.结果输出：直接打印或一键导出到PDF、Excel文件；报告包含数据、图像、统计图表、客户信息等；10.测量位置预览功能；高分辨率彩色CCD样品观察系统，标准光学放大倍数为30倍；11.激光对焦和自动对焦功能；单击鼠标，Z轴自动扫描，镭射聚焦；12.拥有NIST认证的标准片；提供全球服务及技术支持。安全性：1.简单用户界面只向日常操作员设定有限的授权2.主管人员可进行系统维护3.系统自动生成操作员的使用记录4.自动锁定功能防止未授权的操作5.Z轴保护传感器6.安全防射线光闸7.样品室门开闭传感器8.X射线锁9.X射线警示灯10.紧急停止按钮11.前面板安全钮和后面板安全锁八、仪器配置:1.X-Strata920测试主机2.联想ThinkCentre计算机（原IBM）------Windows7中文版、SmartLink FP分析软件包3.17吋戴尔Dell液晶显示器4.佳能Canon彩色喷墨打印机[/color][color=#333333][/color]

  • 镀层厚度测试

    大家能否分享一下镀层厚度测试的经验？诸位对用岛津的EDX720测镀层厚度的准确性方面都有什么感受？请不吝赐教！

  • 【分享】磁性涂镀层厚度测量仪应用原理简介

    一、磁吸力原理测厚仪利用永久磁铁测头与导磁的钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系可测量覆层的厚度，这个距离就是覆层的厚度，所以只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可以进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成形，所以磁性测厚仪应用最广。测量仪基本结构是磁钢，拉簧，标尺及自停机构。当磁钢与被测物吸合后，有一个弹簧在其后逐渐拉长，拉力逐渐增大，当拉力钢大于吸力磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。一般来讲，依不同的型号又不同的量程与适应场合。 在一个约350º角度内可用刻度表示0～100µm;0～1000µm;0～5mm等的覆层厚度，精度可达5%以上，能满足工业应用的一般要求。这种仪器的特点是操作简单、强固耐用、不用电源和测量前的校准，价格也较低，很适合车间作现场质量控制。 二、磁感应原理测厚仪磁感应原理是利用测头经过非铁磁覆层而流入铁基材的磁通大小来测定覆层厚度的，覆层愈厚，磁通愈小。由于是电子仪器，校准容易，可以实多种功能，扩大量程，提高精度，由于测试条件可降低许多，故比磁吸力式应用领域更广。当软铁芯上绕着线圈的测头放在被测物上后，仪器自动输出测试电流，磁通的大小影响到感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。早期的产品用表头指示，精度和重复性都不好，后来发展了数字显示式，电路设计也日趋完善。近年来引入微处理机技术及电子开关，稳频等最新技术，多种获专利的产品相继问世，精度有了很大的提高，达到1%,分辨率达到0.1µm，磁感应测厚仪的测头多采用软钢做导磁铁芯，线圈电流的频率不高，以降低涡流效应的影响，测头具有温度补偿功能。由于仪器已智能化，可以辨识不同的测头，配合不同的软件及自动改变测头电流和频率。 一台仪器能配合多种测头，也可以用同一台仪器。可以说，适用于工业生产及科学研究的仪器已达到了了非常实用化的阶段。利用电磁原理研制的测厚仪，原则上适用所有非导磁覆层测量，一般要求基本的磁导率达500以上。覆层材料如也是磁性的，则要求与基材的磁导率有足够大的差距(如钢上镀镍层)。磁性原理测厚仪可以应用在精确测量钢铁表面的油漆涂层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆层，包括镍铬在内的各种有色金属电镀层，化工石油行业的各种防腐涂层。对于感光胶片、电容器纸、塑料、聚酯等薄膜生产工业，利用测量平台或辊(钢铁制造)也可用来实现大面积上任一点的测量。

  • XRD、XRF看过来！10月14日马尔文X射线技术培训（纳米、多晶、涂层镀层、半导体薄膜测量）

    XRD、XRF看过来！10月14日马尔文X射线技术培训（纳米、多晶、涂层镀层、半导体薄膜测量）

    [font=&][color=#000000]马尔文帕纳科联合仪器信息网将于10月14日举办微观丈量“膜”力无限——X 射线分析技术应用于薄膜测量主题活动，特邀高校资深应用专家及马尔文帕纳科技术专家分享薄膜表征技术与应用干货，全面展示马尔文帕纳科针对薄膜材料测量的解决方案。此外，活动直播间还特别设置了答疑及抽奖多轮福利环节。[/color][/font][b][color=#006600]点击报名 [url=https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/malvernpanalytical2022/]微观丈量 膜力无限——马尔文帕纳科 X 射线分析技术应用于薄膜测量_网络讲堂_仪器信息网 (instrument.com.cn)[/url][/color][/b][font=&][color=#000000][b]背景介绍：[/b][/color][/font][font=&][color=#000000]薄膜，通常是指形成于基底之上、厚度在一微米或几微米以下的固态材料。薄膜材料广泛应用于不同的工业领域，譬如半导体、光学器件、汽车、新能源等诸多行业。沉积工艺是决定薄膜成分和结构的关键，最终影响薄膜的物性；对薄膜成分、厚度、微结构、取向等关键参数进行测量可以为薄膜沉积工艺的调整和优化提供依据，改善薄膜材料性能。[/color][/font][font=&][color=#000000][/color][/font][font=&][color=#000000][b]活动日程：[/b][/color][/font][table][tr][td=1,1,99]时间[/td][td=1,1,280]环节[/td][td=1,1,256]报告人[/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]14:00-14:10[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]开场致词，公司介绍与薄膜应用概述[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]程伟，[/color][color=#000000]马尔文帕纳科 先进材料行业销售经理[/color][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]14:10-14:50[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000][b]X射线衍射仪在纳米多层薄膜表征中的应用[/b][/color][/td][td=1,1,261][b][color=#000000]朱京涛，[/color][color=#000000]同济大学 教授[/color][/b][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]14:50-15:00[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]答疑 & 第一轮抽奖[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]定制马尔文帕纳科公仔一对[/color][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]15:00-15:30[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000][b]多晶薄膜应力和织构分析[/b][/color][/td][td=1,1,261][b][color=#000000]王林，[/color][color=#000000]马尔文帕纳科 中国区XRD产品经理[/color][/b][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]15:30-15:40[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]答疑 & 第二轮抽奖[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]定制午睡枕[/color][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]15:40-16:25[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000][b]X射线衍射及X射线荧光分析技术在半导体薄膜领域的应用[/b][/color][/td][td=1,1,261][b][color=#000000]钟明光，[/color][color=#000000]马尔文帕纳科 亚太区半导体销售经理[/color][/b][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]16:25-16:35[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]答疑、课程评价有礼[/color][/td][td=1,1,261]电脑包、公仔1对[/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]16:35-16:55[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000][b]X射线荧光光谱在涂层镀层分析中的应用[/b][/color][/td][td=1,1,261][b][color=#000000]熊佳星，[/color][color=#000000]马尔文帕纳科 中国区XRF产品经理[/color][/b][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]16:55-17:00[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]答疑 & 第三轮抽奖&结束语[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]倍思车载无线充电器[/color][/td][/tr][/table][img=,690,335]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/10/202210091517508512_6104_5138539_3.png!w690x335.jpg[/img][b][/b][font=&][color=#000000][b]重要内容抢先看：[/b][/color][/font][font=&][color=#000000]【同济大学，朱景涛教授】将分享[b]X衍射仪在纳米多层薄膜表征中的应用[/b]，主要采用掠入射X射线反射、X射线衍射、X射线面内散射等测试方法，表征周期、非周期、梯度多层膜，以及膜层厚度、界面宽度、薄膜均匀性、结晶特性、粗糙度等信息；[/color][/font][color=#000000]【马尔文帕纳科中国区，XRD产品经理 王林】将分享X射线衍射法测量[b]多晶薄膜的残余应力和织构分析方法[/b]；【马尔文帕纳科亚太区，半导体销售经理 钟明光】将展示马尔文帕纳科在[b]半导体薄膜领域[/b]的专业分析解决方案；【马尔文帕纳科中国区，XRF产品经理 熊佳星】将分享X射线荧光光谱在[b]涂层镀层无损分析[/b]中的应用。[b][color=#336666]专题页面：[url=https://www.instrument.com.cn/topic/malvernpanalytical.html][font=宋体]https://www.instrument.com.cn/topic/malvernpanalytical.html[/font][/url][/color][/b][/color]

  • 【资料】X射线分析深度与样品厚度

    【资料】X射线分析深度与样品厚度

    前段时间看到有版友提到X射线分析深度与样品厚度的问题，在此，我查阅了一些资料，现在给大家分享一下。X射线分析深度与样品厚度 X射线在物质中的穿透深度与波长有关。波长越短，穿透深度越大。波长相同时，物质的平均原子序数越小（轻元素含量高），穿透深度越大。换句话说，样品所发射的荧光X射线的波长越短，及样品中的轻元素含量越高，则获得的试样深部的信息就越多。也就意味着，荧光X射线的波长越长，所得到的样品表面附近的信息就越多，或仅包含表面附近的信息。也因此，元素越轻越易受到样品表面的影响。 测定短波长X射线时，或者分析主成分为轻元素的样品时，如果样品的厚度不够，即使测定组成相同的样品，X射线强度也会因样品厚度不同而变化。图10.6是Ni箔样品中Ni的荧光X射线强度与试样厚度的关系曲线。在组成不变的情况下，X射线强度不再随样品厚度增加而变化时的厚度称为无限厚。除了薄膜分析之外，易受样品厚度影响的典型分析实例是树脂中重金属元素的分析。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/04/201104201724_290037_1601823_3.jpg 图10.6 样品厚度与X射线强度的关系 在分析树脂中Cd时，X射线强度随样品厚度而变化。将粒状树脂标准样品经热压后制成2 mm厚的圆片，作为Cd分析的校准样品。使用相同的样品，通过改变样品厚度或样品加入量，测定Cd的X射线强度。结果表明，即使是同一样品，因厚度或加入量的不同，测定强度也会发生很大变化。表10.2是以2mm厚的圆片校准，得到的不同厚度样品的定量结果。因此，在某些类型的样品分析中，因样品厚度不同所造成的分析误差是相当大的。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/04/201104201732_290041_1601823_3.jpg 由于被测样品或元素（谱线）是否受样品厚度影响对样品制备方法及测定条件的研究确定有很大影响，要进行高精度分析，就应事先对此进行检查。

  • 【讨论】测试镀层厚度时怎么设置？

    请问各位在测试金属镀层时：1、对于各种有害物质的测试时间是怎么设置的？2、如果我只需要测试镀层厚度而不需要测试镀层里的有害物质含量时，有害物质的测试时间的长短是不是可以随意设置？这个测试时间会不会影响镀层厚度的测试结果？3、如果某个金属表面镀了两层镀层，那么里面的镀层不设置有害物质的测试是否可以？请各位指点！

  • X-RAY 荧光镀层厚度测量仪器和ROHS分析仪器以及影像测量仪（二次元三次元）

    [color=red]【由于该附件或图片违规，已被版主删除】[/color]CMI900 系列先进的材料分析仪器新型CMI900系列即时分析仪代表了牛津仪器（OXFORD INSTRUMENTS）镀层厚度测量和材料成份分析技术的一次重大飞跃。软件和硬件领域的新进步提高了我们X线系列产品的性能。CMI900系列能够测量极薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并测量氮化钛镀层。CMI900系列分析仪能够即时分析黄金和其它贵重金属。印刷电路板和电子元件制造商以及金属表面处理专业厂家也可以从我们测量镀层厚度和成份的先进技术中获益。像我们所有的仪器一样，这个系列的仪器也由牛津仪器集团提供技术支持。我们保证在售前和售后都提供卓越的服务。测量和材料分析系统软件所有Oxford X线荧光系统都配备有Oxford Smartlink FP系统操作软件包。这是一种基于windows的综合性基本参数软件程式。规格简介l无标准效准：Oxford支持使用标准以解决顺应性和系统优化问题l包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体l5层/15种元素/普通元素效正l同时为多达15种元素进行成份分析l贵重金属分析和金纯度检查l材料与合金元素分析l材料鉴定与区别l吸收测量方式l液体分析：分析液体中的金属，如电镀液l系统自动调整和效正：效正X线导管、探测器和电子设备的变化l光谱计数速率峰值位移效正l重叠荧光峰值数字峰值反卷l定性光谱分析元素ID。同时轻松自如地查看和比较多达四个光谱lOxford统计数字和报告产生器LE（轻型）Oxford SmartLink 补充软件系列lOxford统计数字和报告产生器l配备数据库的Oxford统计数字和报告产生器lOxford即时分析lOxford材料区别lOxford Percent P有了Oxford SmartLink补充软件系列，您就能够将原始数据转变成强有力的资讯。所有的Oxford统计数字和报告产生器都让您根据自己的需要选择定制报告。统计数字软件提供：平均值，S.D.，最小值，最大值，范围，偏差百分比，控制上限，控制下限，Cpk，组织图，X-bar/R。所有的性质都可以用多媒体形式做图表演示。用户可以输入测量元件的数字图像或CAD文件，并把它们直接放在品质报告上。l配备数据库的Oxford统计数字和报告产生器：与上面相同，但包含一个完整的数据库。数据库总共包含十个可追踪域，其中八个为用户定义域。元件号和日期/时间域为标准域。通过用户选择索引对数据进行存档、索引和分类处理。lOxford即时分析、材料区别和Percent P等选项，能够为您的具体应用优化CMI900系列仪器的功能。这些选项可能包含附加软件、定制功能和附加硬件，以提高系统性能。激励l下视X线。X线射束90度采样l风冷微聚焦X导管，提供钨、钼和其它阳极。电力：最大瓦特，4-50kv可编程，0-1.5mAl准直管：多个（最多6个），可编程，圆形，矩形（我们将帮助您选择适合于您应用的准直管）l主要过滤器：提供各种厚度及材料X线探测器和信号处理lX线探测器：密封氙气正比计数器；提供其它填充气体l探测器过滤器：最多3个，5个位置，可编程-马达驱动；提供钒、铁、锡、和其他元素l高速探测器信号处理电子设备，具有峰值位移校正功能样品处理l样品室：密封（950系列）或开缝（900系列）l在X、Y、Z轴上可编程马达驱动控制l高清晰度、实时、彩色样品示图，15〞（38.10cm）（标准）或17〞（43.18cm）（选项）l彩色样品图像捕获和打印l激光样品聚焦l电脑产生十字线，准直管尺寸指示器，用于样品准定位l可变聚焦距离控制，以适应变化的样品外型l样品变大：选择30、50、或100放大。提供固点聚焦距离或可变聚焦距离选项测量l鼠标器启动“点击”测量l自动测量重复功能l安全：多用户多级密码保护电脑/处理器loxford是IBM的授权PC附加值销售商。请致电oxford了解最新的IBMPC规格。IBM电脑由IBM提供3年保证l打印机：Epson或惠普喷墨打印机。请致电oxford查询最新的型号和规格。可联网荣誉l由oxford拥有/管理的国际现场服务团队l符合ISOGuide25号的要求lCE标志

  • 硅漂移探测器的镀层厚度测量仪故障求助

    求助大神，我们这一台菲希尔的XDV-µ 镀层厚度测量仪，买了不到一年就开始经常打不开高压，代理商总是说脏灰尘要清洁。刚出保一个月又打不了高压，工作人员清洁和转动了下快门马达？？然后能上高压了。但光谱不正常，像条形图。供应商说探测器被搞坏了；他们说吹口气都会坏；[color=#cc0000]硅漂移探测器[/color]这么脆？

  • 塑料电镀件镀层厚度如何测试？

    塑料电镀件镀层厚度如何测试？我遇到镀层面含有铬和镍和铜，一般般像这样的镀层成分厂家工艺一般是把镍和铬分开镀还是镍镉合金镀。 金属电镀螺钉工艺，一般六价铬是以什么化合物形式存在？

  • 【求助】塑料电镀件镀层厚度如何测试？

    塑料电镀件镀层厚度如何测试？我遇到镀层面含有铬和镍和铜，一般般像这样的镀层成分厂家工艺一般是把镍和铬分开镀还是镍镉合金镀。 金属电镀螺钉工艺，一般六价铬是以什么化合物形式存在？ http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09511.gif谢谢参与讨论

  • 哪家SEM能测镀层厚度？

    想找家能提供SEM测试镀层厚度的单位合作，镀金，厚度大约0.1微米左右，大家知道上海有哪家能提供吗？谢谢啦

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