热学电学性能分析系统

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热学电学性能分析系统相关的厂商

  • 400-860-5168转4256
    武汉嘉仪通科技有限公司是全球首家以薄膜物性检测作为战略定位,技术领先的中国国家级高科技企业。公司集研发、市场和技术服务于一体,相继被评为湖北省“百人计划”及武汉市政府“城市合伙人”企业。公司成立于2009年,总部位于中国光谷,专注于薄膜材料物理性能分析与检测仪器的自主研发, 并致力于为客户提供薄膜材料的热学和电学性能测试分析整体解决方案。  嘉仪通科技始终坚持自主研发与技术创新,拥有世界级技术工程师研发团队,公司总部建有省级工程实验室,并在国内外建立了办事处以及联合实验室共享中心,包括中国的北京、上海、成都以及海外的美国硅谷、英国伦敦和印度新德里等地。未来几年,全球化的营销体系及客户服务网络将全面建成。  目前,公司拥有自主研发和核心知识产权的产品体系,包括光功率热分析仪、相变温度分析仪、热电参数测试系统、薄膜热导率测试系统、霍尔效应测试系统、红外退火炉、液氮低温恒温器等序列产品,广泛应用于材料企业、大专院校、科研院所、航空航天、军工以及第三方检测机构等材料领域。同时,公司依托省工程实验室及联合实验室等共享平台的大数据分析,为全球用户的薄膜材料研究及战略方向提供理论依据与数据支撑。  嘉仪通科技秉承技术创新、应用为上的价值理念,遵循“聚众之智,穷理致用”的原则,踏实做好每一款产品的创新研发,孜孜不倦的为广大客户提供最合适的产品与最好的服务!
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  • 上海长肯试验设备有限公司用智慧融合创造,打造神奇的边缘科技产业——综合模拟耐侯老化试验及可靠性能的试验设备是集热学、力学、电学、生物学、医学和光学等学科加之制冷、真空、超高温、高压、自动化控制、计量等多项专业技术融汇贯通于一体的,适用于各行各业的品质检测及可靠性能试验、实验等的高科技产品。
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  • 400-860-5168转5974
    丘山仪器致力于材料研发相关的高通量实验仪器及测试服务,包括高通量扫描四探针电阻测量仪、电阻-温度传感芯片及其测试系统、差分纳米量热仪、纳米量热传感器、扫描液滴电化学测试系统、高通量霍尔效应测试仪等囊括电学、热学、电化学、力学等多方面自动化高通量实验仪器。可以广泛应用于金属玻璃、形状记忆合金、高温热障涂层、锂离子电池、平板显示器以及半导体芯片工艺检测等。我们也提供相关材料的表征测试服务。
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热学电学性能分析系统相关的仪器

  • 布鲁克Hysitron PI 85L是SEM专用的多用途、高灵敏度热学、电学和力学的测试系统,利用SEM的高分辨率,可以直接观测整个材料动态变化的过程。传统纳米压痕仪通过光学显微镜或原位扫描只能观察到压痕前及压痕后的形貌变化,中间过程无法观察到,载荷位移曲线上的一些突变我们无法解释,甚至单从曲线分析会导致错误的解释。PI 85L安装于电镜,可以精确施加载荷,检测位移,在电镜下做压痕、拉伸、弯曲、压缩、加热、电学和划痕测试,可以借助电镜的高分辨率,观测并记录整个材料测试过程,观测材料在力下发生的动态变化,如金属蠕变、相变、断裂起始等。PI 85L采用Hysitron专利技术三板电容传感器,具备载荷和位移同时监测和驱动的独特功能。具备业界领先的精度,重复性和低背景噪音等优点。PI 85L拥有多种特色测试功能模块可供选择,如动态力学测试、MEMS加热、拉伸测试、电学测试、纳米划痕等功能模块。
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  • 布鲁克Hysitron PI 95是TEM专用的多用途、高灵敏度热学、电学和力学的测试系统,在TEM上检测时,直接观察检测过程,使用侧面进样支架,不仅可以实现纳米尺度材料的成像观察,还可以同时进行加热和通电测试,并同步得到材料的力学数据,通过视频接口可以将材料的力学数据(载荷位移曲线)与相应TEM视频之间实现时间同步。该系统为方便研究者瞬间得到特定参数,比如化学复合物的种类,或对材料已经造成的影响,除成像外,选择区域衍射可以检测样品的取向,原位力学检测可以实时观测和验证。适用JEOL、FEI、Hitachi、Zeiss(不适用于UHR极靴)的PI 95可在纳米尺度既可以轻松完成材料的电学测试,也可以同时进行拉伸、压缩、弯曲等力学实验。后续可升级模块有高温台、原位力电性能测试、纳米划痕等。
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  • 2015年Anasys发布了最新一代产品nanoIR2-s,在广受欢迎的第二代纳米红外光谱系统的基础上增加了散射近场光学成像和光谱功能(s-SNOM)。实现了同一平台兼具AFM-IR和s-SNOM两种技术。仪器的空间分辨率达到10nm,广泛用于各种聚合物、有机无机复合材料、生物样本、半导体、等离子体、纳米天线等。纳米红外&散射近场光学成像和光谱系统(nanoIR2-s)AFM-IR &s-SNOM l AFM-IR 消除分析化学研究人员的担忧--与FTIR光谱完全吻合,没有吸收峰的任何偏移l s-SNOM使用金属镀层AFM探针代替传统光纤探针来增强和散射样品纳米区域内的光辐射,空间分辨率由AFM针尖的曲率半径决定l 专利技术实现智能的光路优化调整,无需担心光路偏差拖延你的实验进度l 最准确的定性微区化学表征,得到美国国家标准局NIST, 橡树岭国家实验室等美国权威机构的认可l 简单易用的操作,被三十多位企业用户和近百位学术界所选择l 基于DI传承的多功能AFM实现纳米热学,力学,电学和磁学测量:l 纳米热分析模块(nanoTA, SThM)l 洛仑兹接触共振模块(LCR)l 导电原子力显微镜镜(CAFM)l 开尔文电势显微镜(KPFM)l 磁力显微镜(MFM)l 静电力显微镜(EFM)10纳米空间分辨率化学成像和光谱石墨烯等离子体 高分辨率成像 石墨烯表面等离子体的近场相位和振幅成像;优于10nm的光学成像PTFE的nano FTIR光谱显示相干分子振动时域图(上图),和相应的近场光谱(下左图)。pNTP分子层的近场光谱(图下右)。
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热学电学性能分析系统相关的资讯

  • 材料的热学性能及热分析方法
    一、材料的物理性能材料结构决定性质——材料的电学、磁学、光学、热学、力学、化学等性能是由物质不同层次的结构所决定的。性质决定用途。二、热膨胀系数定义:温度改变ρt ℃时,固体在一定方向上发生相对长度的变化或相对体积的变化。平均线膨胀系数:平均体膨胀系数:注意:热膨胀系数是材料的重要性能,在材料的分析、制备等过程中都需要重点考虑。三、热分析方法热分析测定方法的目的是为了 探测相变过程的热效应并测出热效应的大小和发生的温度。焓和热容是研究过程中重要的参数。常用热分析方法应用最广泛的方法是 热重(TG)和 差热分析(DTA),其次是 差示扫描量热法(DSC),这三者构成了热分析的三大支柱。1.差热分析(DTA)是在程序控制温度下,将被测材料与参比物在相同条件下加热或冷却,测量试样与参比物之间温度差(△T )随温度T或时间t的变化关系。2.差示扫描量热法(DSC)在程序控制温度条件下,测量输入给样品与参比物的功率差与温度(或时间)关系的一种热分析方法。3. 热重法在程序控制温度下,测量物质质量与温度关系的一种技术。热重法试验得到的曲线称为热重曲线(即TG曲线)。热分析的应用1.物质鉴定2.热力学研究3.动力学研究4.分析结构与性能关系典型应用1.有序—无序转变的研究Fe-Ni坡莫合金是一种软磁材料。但这种合金接近 Ni3Fe成分范围时既存在有序一无序转变,又存在铁磁-顺磁转变,它们都将出现热容峰。2.测定并建立合金相图建立相图首先要确定合金的液相线、固相线、共晶线 及包晶线等,然后再确定相区。例如,建立一个简单的二元合金相图,取某一成分的合金,用差热分析法测定出它的DTA曲线,见图(a)。试样从液相开始冷却,当到达z处时便开始凝固,由于放出熔化热曲线向上拐折,拐折的特点是陡直上升,随后逐渐减小,直到接近共晶温度时,DTA曲线接近基线。在共晶温度处,由于试样集中放出热量,所以出现了一个陡直的放热峰,待共晶转变完成后,DTA曲线重新回到基线。绘制相图取宽峰的起始点温度T,和窄峰的峰值所对应的温度 T2分别代表凝固和共晶转变温度。按照上述方法测出不同成分合金的 DTA曲线,将宽峰的起始点和窄峰的峰值温度分别连成光滑曲线,即可获得液态线和共晶线,见图 (b)。
  • AFSEM原位微区表征系统 助力新型纳米探针构筑及纳米热学成像研究
    获取材料甚至是器件整体的热学特性,是相关研究与开发当中非常有意义的课题。随着研究对象特征尺寸的不断减小,研究者们对具有高热学分辨率和高水平方向分辨率的表面温度表征方法以及与之相应的仪器的需求也日益显著。在诸多潜在的表征技术当中,扫描热学显微镜(Scanning Thermal Microscopy)是其中颇为有力的一种,它可以满足特征线度小于100 nm的研究需求。然而,这种表征方法,对纳米探针的结构及功能特性有比较高的要求,目前商用的几种纳米探针受限于各自的结构特点,均有一定的局限性而难以满足相应要求,也就限制了相应表征方法的发展与应用。着眼于上述问题,奥地利格拉茨技术大学的H. Plank团队提出了基于纳米热敏电阻的三维纳米探针,用于实现样品表面温度信息的超高分辨表征。相关成果于2019年六月发表在美国化学协会的期刊ACS Applied Materials & Interfaces上(ACS Appl. Mater. Interfaces, 2019, 11, 2522655-22667. Three-Dimensional Nanothermistors for Thermal Probing.)。 图1 三维热学纳米针的概念、结构、研究思路示意图 H. Plank等人提出的这种三维纳米探针的核心结构是一种多腿(multilegged)纳米桥(nanobridge)结构,它是利用聚焦离子束技术直接进行3D纳米打印而获得的,因而可以直接制作在(已经附有许多复杂微纳结构与微纳电路、电的)自感应悬臂梁上(self-sensing cantilever, SCL)。由于纳米桥的每一个分支的线度均小于100 nm,因而需要相应的表征策略与技术来系统分析其纳米力学、热学特性。为此,H. Plank研究团队次采用了有限元模拟与SEM辅助原位AFM(scanning electron microscopy-assisted in situ atomic force microscopy)测试相结合的策略来开展相应的研究工作,并由此推导出具有良好机械稳定性的三维纳米桥(垂直刚度达到50 N/m?1)的设计规则。此后,H. Plank引入了一种材料调控方法,可以有效提高悬臂梁微针的机械耐磨性,从而实现高扫描速度下的高质量AFM成像。后,H. Plank等人论证了这种新式三维纳米探针的电响应与温度之间的依赖关系呈现为负温度系数(?(0.75 ± 0.2) 10?3 K?1)关系,其探测率为30 ± 1 ms K?1,噪声水平在±0.5 K,从而证明了作者团队所提出概念和技术的应用潜力。 图2 三维热学纳米针的制备及基本电学特性 文中在进行三维纳米探针的力学特性及热学响应方面所进行的AFM实验中,采用了原位AFM技术,堪称一大亮点。研究所用的设备为奥地利GETec Microscopy公司生产的AFSEMTM系统,AFSEMTM系统基于自感应悬臂梁技术,因此不需要额外的激光器及四象限探测器,即可实现AFM的功能,从而能够方便地与市场上的各类光学显微镜、SEM、FIB设备集成,在各种狭小腔体中进行原位的AFM测试。此外,通过选择悬臂梁的不同功能型针,还可以在SEM或FIB系统的腔体中,原位对微纳结构进行磁学、力学、电学特性观测,大程度地满足研究者们对各类样品微区特性的表征需求。着眼于本文作者的研究需求来讲,比如探针纳米桥的分支在受力状态下的力学特性分析,只有利用原位的AFM表征技术,才可以同时获取定量化的力学信息以及形貌改变信息。当然,在真空环境下使用原位AFM系统表征微区的力、热、电、磁信息的意义远不止于操作方便或同时获取多种信息而已。以本文作者团队所关注的微区表面热学分析为例,当处于真空环境下时,由于没有减小热学信息成像分辨率的、基于对流的热量转移,因而可以充分发挥热学微纳针的潜能,探测到具有高水平分辨率的热学信息。 图3 利用AFSEM在SEM中原位观测nanobridge的力学特性 图4 将制备所得的新型纳米热学探针安装在AFSEM上,并在SEM中进行原位的形貌测量:a)SEM图像;b)AFM轮廓图像
  • 上海硅酸盐所纳米热学-声学显微成像系统亮相国家“十一五”成就展
    仪器信息网讯 2011年3月7日至14日,中国科学院上海硅酸盐研究所的纳米热学-声学显微成像系统亮相国家“十一五”重大科技成就展。纳米热学-声学显微成像系统  上为SThM扫描探针声成像控制仪,下为SThM扫描探针热成像控制仪。  在原子力显微镜基础上,中科院上海硅酸盐研究所自主研发了纳米热学-声学显微成像技术,为研究纳米结构、微观弹性和热学特性提供了独特的新方法,实现了其他手段不易获得的结构分析、缺陷检测和热、弹性能评价功能,已在国内外多个高校和科研院所得到应用,推动了显微成像技术的发展。此外,该仪器还获得了2006年中国国际工业博览会银奖。  关于中国科学院上海硅酸盐研究所:  中国科学院上海硅酸盐研究所渊源于1928年成立的国立中央研究院工程研究所,1954年更名为中国科学院冶金陶瓷研究所。1959年独立建所,定名为中国科学院硅酸盐化学与工学研究所,1984年改名为中国科学院上海硅酸盐研究所。经四十多年的发展,上海硅酸盐研究所已成为一个以基础性研究为先导,以高技术创新和应用发展研究为主体的无机非金属材料综合性研究机构。

热学电学性能分析系统相关的方案

  • 传热学三类边界条件背后的物理意义及其在热分析中的应用
    针对传热学三类边界条件目前常见的定义,本文从导热、对流和辐射三种传热机理出发介绍了三类边界条件的物理意义及其拓展。另外,本文重点介绍了三类边界条件更直观的温度形式的定义,以及这些边界条件温度形式在热物性测量中的实际应用。
  • 建筑玻璃光学和热学性能检测方案
    根据2007 年发布和实施《建筑节能工程施工质量验收规范》,建筑用幕墙玻璃、门窗玻璃的可见光透射比、遮阳系数、半球辐射率、传热系数等光学热学参数列为主控项目。目前以上各参数主要是根据国标GB/T 2680-94、JGJ151-2008 或国际标准ISO9050-2003 等标准规定的测试条件和计算公式,进行相关的测试和计算。紧跟以上标准的制定和实施,PerkinElmer 公司先后为国内300 多家单位提供了从测试硬件到计算软件的一整套测试解决方案,满足准确全面高效的测试要求。硬件方面,配置PerkinElmer 公司高端Lambda 系列紫外可见近红外分光光度计,配套150mm 积分球采样附件,以及防潮性能极佳的Spectrum Two 红外光谱仪(见下图1)。软件方面,提供目前行业内最专业的ASSP 建筑玻璃计算软件(如图2 所示)。另外,为了应对标准的更新以及计算方法的变更,PerkinElmer 公司Lambda 系列分光光度计标配UV WinLab 软件,该软件中的Process 功能,可根据不同的测试标准设计不同的计算方法;在用仪器获得光谱数据后,软件直接按照标准的要求自动进行计算,从而得到最终结果,避免了繁琐地手动运算过程,大大降低了对操作人员的要求和可能引入的误差。
  • 扫描探针显微镜SPM用于氧化石墨烯的厚度表征
    氧化石墨烯是石墨烯的氧化物,因经氧化后,其上含氧官能团增多而使其性质较石墨烯更加活泼,可经由各种与含氧官能团的反应而改善其本身性质,从而具有良好的润湿性能、水分散性和表面活性,将在改善材料的热学、电学、力学等综合性能方面发挥重要作用。本文参考国家标准GB/T 40066-2021《纳米技术 氧化石墨烯厚度测量 原子力显微镜法》,采用岛津扫描探针显微镜测试了氧化石墨烯样品的表面形貌,并通过线性拟合法计算了氧化石墨烯的厚度,希望对氧化石墨烯的研究提供一定的帮助。

热学电学性能分析系统相关的资料

热学电学性能分析系统相关的试剂

热学电学性能分析系统相关的论坛

  • 高分子热学性能的测试

    高分子热学性能的测试1、热稳定性n尺寸稳定性:薄膜和片材的热收缩率。试验仪器:油浴,恒温烘箱,滑石粉。n热变形温度:有一定尺寸要求的试样,在规定的负荷作用下达到规定的变形量时的温度。(表1和图1)n负荷变形:在一定温度下施加一定的负荷,经过一定时间后,测定其变形量。ASTM D621,GB 144832、流动性n熔融流动速率(质量,体积):热塑性材料在一定温度和压力下,熔体每10分钟通过标准口模的质量或体积,以g/10min或ml/10min。n熔点:物质的熔化温度值。常规使用热分析法DSC3、其他n热传导率:物体热传导能力的热性能参数,单位为W/m.K (kcal/m.℃.h)。n脆化温度:塑料的刚性会随着环境温度的变化而变化,当温度降低到某一定温度范围时,就表现出呈刚性,继而变脆。n玻璃化转变温度:非结晶高聚物由玻璃态转变为高弹态的转变温度为玻璃化转变温度Tg

  • 塑料的化学成分分析组成

    成分分析塑料有单成分、多成分之分。单成分塑料仅含有塑料中必不可少的合成树脂。如有机玻璃就是一种单成分的聚甲基丙烯酸甲酯的塑料制成的,而大多数的塑料除有合成树脂外,还有填充料、硬化剂、着色剂以及其他添加剂,这就是多成分塑料。在实际生产中,随着各种添加剂的不同配比的加入,塑料制成品的力学、热学、电学及某些特种性能会产生十分明显的差异。因而塑料的组成成分对制成品性能的好坏产生很重要的影响。在试验测试中,我们通过借助红外光谱、X射线衍射、热分析、重量法、电子探针等测试手段,可以综合分析该塑料板中的有机物和无机物的组成和含量,对塑料制品各种成分进行剖析,为塑料制品性能的改性、优化提供必要的解决方案。 未知物剖析 样品添加组成分析 表面成分及化学态分析

  • 路用性能分析系统

    主要特点 微机控制沥青混合料路用性能试验系统是一种多功能轮载测试仪,采用工控机技术、多通道数据采集技术、传感器技术和计算机数据处理技术开发的,属国内首创。主要用于评估干燥或潮湿条件下沥青混合料的永久变形(车辙)、疲劳断裂和潮湿敏感性。本系统是在已有(美国)LAPA-1沥青路面分析仪技术上消化吸收并改进提高的,更接近我国《公路沥青及沥青混合料试验规程》对试件的要求和我国路面实际情况。进行一次完整的永久变形评估测试需要2小时15分(8,000次循环)。疲劳断裂测试时间取决于被评估系统的疲劳状况。 沥青混合料的永久变形(车辙)敏感度的评估,是通过将条块形可柱形的试样放在可重复进行的车轮荷载下测量其轮迹处的永久变形量而得出的。本系统具有自动数据采集系统测量车辙数据,并以数值和图形方式显示。每经过条形试样或六个圆形试样(最大为113kg/250lbs),相对应的接触压力最大可达1.4Mpa。三个条形试件或六个圆形试件(可由旋转压实机、振动压实机、马歇尔仪、或道路取芯获得)放入特制的模具内在可控的高温、干燥或浸水环境下作测试。 沥青混合料的疲劳耐久性,可以通过将梁形试件放在低温环境下,用可控数值和接触压力的重复轮载进行试验来测定。在可控高温的干燥或浸水环境下,同时可进行三个条形试件或六个圆形试件(搓揉成形或现场取芯试件)的试验。自动数据采集系统具有测疲劳软件。疲劳软件将条形试件两端的测量值平均,画出一条参数实线。在条形试件中间获得一个测验量值,画出一条点划线。随着疲劳增加,两条曲线分叉增加,在试样断开时,曲线迅速爬升。 用LAPA-1确定疲劳特性的方法 详细介绍 本系统一次可容纳三个样品,可测试振动压实机(条形或圆形)、旋转压实机、马歇尔仪获得的样品,以及现场取芯、铺板试样。LAPA-1车辙和疲劳测试的作用:在设计阶段预测沥青混合料的车辙和疲劳潜力;防止铺设不合格的材料;监控工厂生产混合料质量;鉴定沥青混合料设计的质量、节省开支;加速性能测试。 本方法描述用LAPA-1测试沥青混合料疲劳特性的测试步骤。

热学电学性能分析系统相关的耗材

  • 布鲁克 热学/电学/磁学/光学 配件,Dimension 扫描头
    Veeco D3100 Dimension Head ( AFM Scanner )Veeco D3100 扫描头 ( AFM Scanner ) 扫描范围:90um*90umDimension 3100 SPM使用自动化的原子力显微镜和扫描隧道显微镜技术,可用来测量直径可达200毫米的半导体硅片、刻蚀掩膜、磁介质、CD/DVD、生物材料、光学材料和其它样品的表面特性。它的激光点定位系统和无需工具改变扫描技术的能力保证了仪器的适用性、易操作性和高的数据处理能力。
  • PBN坩埚热解氮化硼坩埚定制
    热解氮化硼坩埚 热解氮化硼(PBN)是特种陶瓷材料,是本公司在特殊设备上用化学气相沉积的工艺制得的。热解氮化硼的沉积过程,宛如“落雪”:氮化硼的六角型小雪片,一片一片的平行地落在石墨基体材料上,达到一定厚度后,最终冷却脱模而制成。 主要特点: ● 产品颜色在牙白至橙棕,无毒、无孔隙、易加工。● 纯度高达99.99%,表面致密,气密性好。● 耐高温,强度随温度升高,2200℃达到最大值。● 耐酸、碱、盐及有机试剂,高温与绝大多数熔融金属、半导体等材料不湿润、不反应。● 抗热震性好,热导性好,热膨胀系数低。● 电阻高,介电强度高,介电常数小,磁损耗角正切低,并具有良好的透微波和红外线性能。● 在力学、热学、电学等等性能上有着明显的各向异性。 产品应用1.半导体单晶及III-V族化合物合成用的坩埚、基座:原位合成GaAs 、InP 、GaP单晶的LEC系列坩埚。分子束外延用的MBE系列坩埚。 VGF、VB法系列坩埚。2.电子束源用的系列坩埚,金属熔炼蒸发坩埚等3.石英坩埚及舟皿等石墨器具上的涂层,MOCVD绝缘板。
  • LED光电测量系统配件
    LED光电测量系统配件是一款进口的满足LED电光参数和性能测量的系统,它可以测量LED, OLED,激光等任何发光光源的光电参数和特性,可快速而准确地测量各种发光光源辐射,光度学,色度以及效率参数。为了测量各种光源,孚光精仪公司为LED光电测量系统配件提供各种类型的灯具,光采样选项和电探针附件。这种齐全的附件配备,使得这套LED光谱分析系统能够适合世界上任何商业标准封装或作为实验样品的各种发光器件的测量,使用积分球可以更为有效地收集光辐射,而不受光发射角的分布影响。其它光采样附件也可配置,以满足标准测量的要求,能够适应外部光源测量的需要,融入最好的输出功率等级和精度的测量工具,也可根据用户的要求提供定制系统,更可以根据用户已有的仪器提供定制服务。LED光电测量系统配件参数发射光谱 Emission Spectrum辐射通量 Radiant Flux (W)辐照度 Irradiance (W/cm2)亮度 Luminance (Cd/m2)色度坐标Chromaticity Coordinates(x,y)色纯度 Color Purity主波长 Dominant Wavelength峰值波长 Peak Wavelength发光效率Luminous Efficiency (Cd/A)外部量子效率 External Quantum EfficiencyLED光电测量系统配件软件*能够把所有重要参数测量结果展现到一个屏上,这个独具特色能够帮助用户更好地全面监测发光。×控制采集点血和光谱数据,精确控制测量样品的供电, (具有外部源仪表接口,用户能以所需电压或电流范围扫描测试)×集合所有电学和光谱参数,用户还能获得“外部量子效率”和“发光效率”之类的重要指标;*实时测量发光器件OLED测量系统配件规格组成:光谱仪,光纤,积分球,样品台,仪表,数据接口,软件光谱范围:200-850nm或 350-1000nm探测器:2048像素Si CCD阵列采光周期: 1毫秒--65秒光谱分辨率:1.5nm(FHWM)电压源 测量范围:±5μV - ±200V电流源测量范围:±10pA - ±1A电源要求:110/230VAC,系统尺寸:320x360x180mm系统重量:9.8kg
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