纳米红外原子力显微镜

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纳米红外原子力显微镜相关的厂商

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    帕克(Park)公司的创始人是世界上第一台原子力显微镜发明组的一员,1986年研制了世界首台商用原子力显微镜,一直致力于原子力显微镜技术的开发与应用,帕克(Park)在原子力显微镜的发展过程中一直占有重要的一席之地。本公司作为纳米显微镜和计量技术领域的领导革新者,一直致力于新兴技术的开发。我们的总部遍及中国大陆,宝岛台湾,韩国,美国,日本,新加坡和德国等地,我们为研究领域和工业界提供世界上最精确,最高效的原子力显微镜。我们的团队正在坚持不懈的努力,力求满足全球科学家和工程师们的需求。随着全球显微镜市场的迅速增长,我们将持续创新,不断开发新的系统和功能,确保我们的产品始终得到最有效最快捷的使用!Park产品主要有以下特点: 1.非接触工作模式:全球唯一一家真实实现非接触式测量模式的原子力显微镜厂家,非接触模式使原子力针尖磨损大大降低,延长了探针寿命,提高了测量图像的重复性; 2.高端平板扫描器:所有产品型号均采用的高端平板扫描器,远远优于传统的管式扫描器 3.全球最高的测量精度:Z轴精度可达0.02nm; 4.智能扫描Smartscan:仪器操作极其简单,可实现自动扫描,对操作者无特殊要求,并且有中文操作界面; 5.简单的换针方式:换针非常方便,采用磁拖直接吸上即可,不需调整激光光斑; 6.Park拥有全球最广泛的工作模式:可用于光学,电学,热学,力学,磁学,电化学等方面的研究与测试。
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  • 苏州海兹思纳米科技有限公司成立于2009年,是全球领先的扫描探针显微镜(SPM)专业制造商/供应商,是国家高新技术企业、中国教育装备行业协会会员、江苏省教育装备行业协会会员。公司致力于为纳米微观技术的研究生产领域,并提供一流的微纳米测试、加工与计量解决方案。本公司拥有一支业界国内外领先的开发和科学技术顾问团队,凭借十多年的扫描探针显微镜开发经验,不断地在技术及工艺上改进和积累,依靠先进的技术提高产品的质量。公司注重于产、学、研方面广泛的合作,能根据用户的需求订制特殊的显微镜系统。2010年与教育部教育装备研究与发展中心合作,2011年被瑞士Nanosurf 公司注资成为中瑞合资公司,并引进超微型扫描隧道显微镜(STM)的技术,研发生产专用于国内中学教学用的STM产品。 本公司作为苏州工业园区苏州纳米城内的微纳装备重点企业,得到政府相关政策的大力支持,与国内外先进技术高校、科研所、企业合作,大力研发、生产SPM产品。本公司的产品应用于纳米材料、物理化学、生物与生命科学、制药、半导体、LED和太阳能电池等多个领域。主要产品为Nanofirst 3000型多模式原子力显微镜(AFM)、Nanofirst 3600型台式一体化原子力显微镜、实用型原子力显微镜(Nanosurf easyScan2 AFM)、多模式原子力显微镜(Nanosurf easyScan2 FlexAFM)、全自动大样品原子力显微镜(Nanosurf Nanite)、镜头式原子力显微镜(Nanosurf Lens AFM)、生物I型原子力显微镜(Nanosurf Inverted Microscopy AFM)、生物II型原子力显微镜(Nanosurf FluidFM)和超微型扫描隧道显微镜(Nanosurf Teaching STM)等。世界首款LensAFM将光学显微镜与原子力显微镜完结结合,触及材料的特性,获取三维表面结构数据。FluidFM作为目前唯一实现微纳米流体和AFM准确定位以及力敏感的结合体,利用中空式探针,实现分配&传输、注入&抽取、吸附&放置等小体积局部液体传输/收集或物体操纵,应用在生物细胞,生物传感器,纳米图案,电路印刷,光学等领域。本公司原子力显微镜销往国内几十所大学,并与国内外重点高校科研所建立技术服务中心,如清华大学、上海理工大学、上海大学、南京大学、西安工业大学、天津大学、中国科学技术大学等都建有本公司的技术服务中心。 2013年开始,本公司在教育部教育装备研究与发展中心和苏州纳米城的大力支持下,与苏州承祚纳米科技有限公司携手并肩,加大力度,在全国推广中学纳米科技创新实验室和纳米智慧课堂项目,携带着中学专用的教学型扫描隧道显微镜和原子力显微镜等前沿的纳米科技产品开始走向中学教育市场,深受广大中学老师和学生的欢迎。短短时间,就已在北京、上海、广州、贵州、苏州、南通、清远等地的多所中学建立了纳米创新实验室,开展了丰富多彩的中学纳米科技教学活动,在专家团队和中学老师们的帮助下,编撰完成三册中学纳米科技教材,协助全国共4所中学完成了国内或省内的纳米科技公开实验课,协助苏州两间中学分别建立了全国首个纳米科技课程基地和全国首个纳米科技特色学校,得到了教育部教育装备研究与发展中心的肯定。
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  • 艾博纳微纳米科技(江苏)有限公司致力于科研器材的研发与生产,以国际顶尖科研单位力量为支点,凝聚社会力量共同谋求推动全“人类科学发展与进步”。艾博纳微纳米科技(江苏)有限公司创立于中国江苏,用户群体分布于世界各国以及国内大陆大部分地区。公司主营业务有物理科研器材、二维材料转移装置维材料微纳加工设备、微纳米光学系统包括远场以及近场全波段光学显微系统研发、微纳加工及表征业务、测试服务、高端国产原子力显微镜、耗材(包含氮化硼国产高质量生长等各种晶体、硅片、超干净蓝膜胶带等)、其他二维材料制备相关设备如等离子处理仪、显像设备等。所有经由我司售卖的产品均享受售后保障,用户可放心购买。
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纳米红外原子力显微镜相关的仪器

  • 美国Anasys公司的AFM+可以提供全面的原子力显微功能,具有强大的分析能力,使得AFM不仅仅是一个普通的成像工具,还可以进行材料纳米级尺度的成分分析,热性能和机械性能的分析。AFM+的主要特点:简洁的安装与操作 □ AFM+为最便利的使用而设计制造。探针预装在金属圆片上,确保探针位置的准确性和装针的便捷□ 仪器集几十年AFM设计大师的经验之大成,即使初次使用也能快速获取结果完整的AFM工作模式 □ 包含所有常规成像模式:接触、轻敲、相位、侧向力、力调制、力曲线□ 独有高分辨率低噪音的闭环成像□ 基于DI传承的多功能AFM,实现纳米热学,力学,电学和磁学测量:l 纳米热分析模块(nanoTA, SThM)l 洛仑兹接触共振模块(LCR)l 导电原子力显微镜镜(CAFM)l 开尔文电势显微镜(KPFM)l 磁力显微镜(MFM)l 静电力显微镜(EFM)独有的可升级功能□ 热学性能:独有的热探针技术,提供纳米级红外分析□ 机械性能:洛伦兹接触共振模式能够提供宽频纳米机械分析□ 化学性能:可升级具有纳米红外光谱技术,实现局部化学组分分析□ 近场成像:可升级具有散射式近场光学成像和光谱采集功能
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  • 产品特点:GATTA-AFM纳米标尺具有准确、高度平行的结构,可以完美地用于检测或优化原子力显微镜。在实际环境中测试原子力显微镜可以达到的分辨率非常重要,不仅可以测出原子力显微镜达到产品标称分辨率的可能性,还可以测出实际使用时可达到的极限。如今GATTA也提供适合测试的GATTA-AFM纳米标尺,现在,有了GATTA原子力显微镜纳米标尺之后,就有了足够的测试样品,这些样本用DNA做成,呈现70nm*90nm*2nm(高)的长方体形状。技术参数:
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  • 百及纳米ParcanNano 高速原子力显微镜AFM系统 产品简介公司以全球独家专利的探针技术为核心竞争力,技术源自于德国伊尔默瑙工业大学 Rangelow 教授,致力于主动式探针技术在微纳米结构制备和表征方面的研发,及其相关设备的产业化。 本款扫描探针显微镜使用主动式智能探针,集传感器、驱动器和可功能化的探针于一身,实现自激发和自传感,无需复杂的激光校准,是取代现有 AFM 激光传感的巨大改进,具有极高性价比优势。该系统可在大气、液态及真空环境下实现对微纳米结构的高速、高效表征,成像精度达到 0.3 nm 的极限精度。 产品拥有像美国麻省理工学院、加州伯克利国家实验室、荷兰德尔夫特大学和清华大学等国内外知名科研客户,以及韩国三星、荷兰 ASML 等高端工业客户。扫描示例:
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纳米红外原子力显微镜相关的资讯

  • Park纳米科学原子力显微镜系列讲座培训(1) I 原子力显微镜在纳米研究中的应用:AFM的成像原理
    Park纳米科学原子力显微镜系列讲座培训一原子力显微镜在纳米研究中的应用:AFM的成像原理2021年5月25日(周二)北京时间下午3:30-4:30原子力显微镜(AFM)作为扫描探针显微镜家族的一员,具有纳米级的分辨能力,其操作容易简便,是目前研究纳米科技和材料分析的最重要的工具之一。此外原子力显微镜还具有摩擦性能,纳米机械性能和电学性能等高级性能。 在本研究中,我们将讨论接触模式、非接触模式和轻敲模式等原子力显微镜使用中的不同操作模式;内容将概括到从原子力显微镜测量中常用的原子相互作用的基本理论,到原子力显微镜的主要硬件组成。本讲座还将讨论各模式的关键点(如设定值、反馈)。 在接触模式下,系统会给探针恒定的力作为设定的基准点也就是设定点来物理接触样品。扫描期间为了维持这个设定点而进行反馈。在三种模式中,原理相对简单。然而,由于接触模式很容易对针尖和样品造成损伤。相比之下,非接触模式允许在不接触表面的情况下进行形貌测量。因此,可以很好地保护针尖和样品。轻敲模式与非接触模式原理相似,在扫描过程中,探针轻触样品表面,以获得测量材料属性分布的额外信息(例如模量分布)。 本次讲座主要针对AFM原理的基础知识,帮助大家了解探针和样品之间的相互作用。由三种模式测出的图像对比也将在讲座中呈现。报告人 : Park原子力显微镜应用科学家Chris Jung Chris Jung, is an Application Scientist for Park Systems Korea - Research Application Technology Center (RATC) department. He received his Master’s degree in Physics from the Kyung Hee University, and his Bachelor’s degree in Physics from Dankook University in South Korea. His major project includes Evaluation of Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) at the perspective of resolution.Park原子力显微镜系列讲座列表(5月-9月) 想了解更多详情,请关注微信公众号:Park原子力显微镜 400电话:400-878-6829 Park官网:parksystems.cn
  • 布鲁克公司纳米表面仪器部国内首台红外原子力显微镜安装调试成功
    近日,国内首台红外原子力显微镜(Inspire)在北京化工大学安装调试成功。 Inspire™ 系统是Bruker公司最新推出的基于AFM的纳米尺度下红外表征系统。它可以在通常的AFM成像速度下,采集样品的红外反射和吸收图像,从而获得样品的化学成分信息。结合Bruker独有的PeakForce TappingTM ,在获得高分辨形貌的同时,可获得样品的模量、粘附力等力学信息,样品的电导性、功函数等电学信息,和纳米尺度上的化学成分信息,提供了材料多维度的关联信息,为材料科学微观尺度的检测提供了新的视野。Inspire红外原子力显微镜安装过程安装过程样品测试结果了解更多的产品信息请进入http://www.instrument.com.cn/netshow/SH100735/ 或直接登陆布鲁克公司官网。
  • 岛津原子力显微镜——多维度纳米材料测试
    纳米材料是近十余年来新兴的功能材料类型,一般而言纳米材料在指在三维空间中至少有一维处于纳米尺度,即100 nm以下,或是由此尺度的单元构成的材料。100nm相当于不到1000个原子紧密排列在一起,在这个尺度下,材料表现出了不同于宏观状态的力、光、电、磁、热等属性。因此成为化学和材料学科中研究非常广泛,进展很快的领域。 在纳米尺度下,对此类材料的形貌表征普通的光学观察方式不再适用。因此常用的是电子显微镜和原子力显微镜。而原子力显微镜因为具备三维高分辨表征能力而且环境适用范围广,被广泛运用于纳米材料的分析与检测。 纳米材料按维度可以分为零维材料、一维材料、二维材料、三维材料。 零维材料是指电子无法自由运动的材料,如量子点、纳米颗粒与粉末等。 硅量子点太阳能电池形貌及粒度分布 GaAs (100)衬底上生长的In0.7Ga0.3As量子点 对于零维材料,普遍关注的是颗粒的粒径以及粒径分布情况。从以上两个用案例可以看出,原子力显微镜可以很方便地获得图像及粒径统计数据。 一维材料是指电子只能在一个方向上自由运动的材料,如纳米线、量子线。早期研究较为深入的一维材料是碳纳米管。 单壁碳纳米管 上图是对单壁碳纳米管的观测。不仅可以直观地看到其形貌,而且可以通过断面测量获得管径数值。 同样的,如果视野中观察到了多条纤维,原子力显微镜的分析处理软件也可以对其进行统计分析。 2004年曼彻斯特大学Geim 小组成功分离出单原子层的石墨材料——石墨烯,由此带动了对二维材料的研究。主要包括石墨烯、拓扑绝缘体、过渡金属硫系化合物、黑磷等。 其中研究较为深入的是石墨烯。由于其各种优良属性均依赖于单层或少数几层。所以对石墨烯的基本且重要的测试要求就是对层数的测量。 在这一点上,原子力显微镜具有很好的优势,也因此被列入了国家标准(GBT 40066—2021 纳米技术氧化石墨烯厚度测量——原子力显微镜法)。 氧化石墨烯图像 GBT 40066—2021中规定的厚度计算公式 上图计算得到的计算数据,可知该片氧化石墨烯厚度为0.630±0.039nm,由此可推测这片氧化石墨烯为单层石墨烯。 综上所述,在纳米材料领域,原子力显微镜因其高分辨而且是三维成像的属性,成为各类纳米材料常用的分析工具。 岛津原子力显微镜历经三十余年的发展与积累,应对各种需求,不断推出新型号和新功能,为科学研究和技术发展提供得力的工具。本文中所有图片均为岛津原子力显微镜获得。 本文内容非商业广告,仅供专业人士参考。

纳米红外原子力显微镜相关的方案

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纳米红外原子力显微镜相关的论坛

  • 【分享】纳米几何结构标准装置——计量型原子力显微镜

    [align=center][font=Verdana](2007 国社量标计证字第040号)[img]http://www.zgjljs.com/eWebEditor/UploadFile/2010815111612501.jpg[/img][/font][/align] 该装置是国内首个纳米计量标准,它是依托中国计量科学研究院长度所研制的计量型原子力显微镜纳米测量系统而建立的,而原子力显微镜的计量化是通过固接在其上的一体化无阿贝误差布局的三维激光干涉系统来实现测量结果直接溯源到激光波长和国际单位制的。该系统在测量原理、测量精度、可溯源性方面均达到了国际先进水平。 该标准主要用于承担我院参加国际计量局组织的纳米国际比对,并为国内微电子、集成电路行业提供关键量值溯源,为科研院所的纳米研究提供技术支持等任务,为我国纳米技术的研究和生产提供了有力的技术保障。[b]该标准的主要技术指标为:[/b]系统测量范围(x, y, z)=(70μm, 15μm, 15μm)系统测量分辨力(x, y, z)=(1nm, 0.25nm, 0.12nm)对台阶和线间隔类纳米几何结构参数的建标范围:台阶类及其它垂直结构:(0~2000) nm 线间隔类及其它水平结构:(0~20)μm对台阶和线间隔类纳米几何结构参数的测量不确定度:台阶类:U=1nm +2×10[sup]-4[/sup]×H,k=2 (H为台阶高度,H-nm)线间隔类:U=1nm +2×10[sup]-4[/sup]×L,k=2 (L为线间隔距离,L-nm)[font=宋体, MS Song] [/font]

  • 【网络会议】:利用原子力显微镜在力谱测量方法介绍及其在纳米机械性质表征的应用

    【网络会议】:利用原子力显微镜在力谱测量方法介绍及其在纳米机械性质表征的应用

    【网络会议】:利用原子力显微镜在力谱测量方法介绍及其在纳米机械性质表征的应用【讲座时间】:2015年09月11日 10:00【主讲人】:仇登利布鲁克纳米表面仪器部应用科学家。2004年毕业于吉林大学化学学院高分子化学与物理专业,获得理学博士学位。博士期间主要利用原子力显微镜(AFM)研究有机界面聚集体的聚集形态。毕业后,留学加拿大和美国多年,继续利用AFM研究半导体、数据存储和材料表面工程。于2009年加入维易科(VEECO)公司主要从事AFM相关的应用技术支持;具有十多年的AFM技术经验。【会议介绍】 原子力显微镜除了对样品进行形貌的表征以外,还可以利用其力学测量模式用于研究探针与样品之间的相互作用。 这里我们主要介绍利用探针进行力学测量时的主要参数、相关模型以及对样品表面纳米机械性质表征的应用等。 -------------------------------------------------------------------------------1、报名条件:只要您是仪器网注册用户均可报名,通过审核后即可参会。2、报名并参会用户有机会获得100元手机充值卡一张哦~3、报名截止时间:2015年09月11日 09:304、报名参会:http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting/meetingInsidePage/14555、报名及参会咨询:QQ群—379196738http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2015042911235201_01_2507958_3.jpg

  • 【推荐讲座】原子力显微镜纳米级模量表征新技术及应用(2018/03/29 09:30 )

    [b]网络讲座:[/b]原子力显微镜纳米级模量表征新技术及应用[b]举行时间:[/b]2018年03月29日 09:30[b]报告人:[/b]石雯晴 Park Systems应用科学家。2011年于武汉大学化学系获学士学位,博士期间就读于美国印第安纳大学,师从Lane Baker教授。[b]报告内容:[/b]这一期网络讲堂的主题是使用PinPoint力模式进行AFM纳米级模量表征,确切来说,我们将探究悬臂刚度和施加的力对测量模量的影响。石雯晴博士首先将为大家说明原子力显微镜的工作原理,之后她将讲解为什么需要PinPoint力模式以及它的工作原理。最后,为了让大家更好的了解PinPoint力模式,我们将探究探针刚度和施加的力对测量模量的影响。实验中使用的探针为ONTSCR (0.2N/m), FMR (3N/m)和 AC160TS (30 N/m)。石雯晴博士将依次为大家在讲堂中展示实验结果。[b]免费报名链接:[/b][url]http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting_3457.html[/url]

纳米红外原子力显微镜相关的耗材

  • AFM原子力显微镜纳米标尺
    产品特点:GATTA-AFM纳米标尺具有准确、高度平行的结构,可以完美地用于检测或优化原子力显微镜。在实际环境中测试原子力显微镜可以达到的分辨率非常重要,不仅可以测出原子力显微镜达到产品标称分辨率的可能性,还可以测出实际使用时可达到的极限。如今GATTA也提供适合测试的GATTA-AFM纳米标尺,现在,有了GATTA原子力显微镜纳米标尺之后,就有了足够的测试样品,这些样本用DNA做成,呈现70nm*90nm*2nm(高)的长方体形状。纳米标尺,AFM纳米标尺,原子力显微镜纳米标尺,共聚焦显微镜纳米标尺,超高分辨显微镜纳米标尺,SIM纳米标尺,STED纳米标尺,STORM纳米标尺,电镜纳米螺旋标尺,金纳米螺旋标尺,显微镜亮度灵敏度标尺,显微镜纳米标尺技术参数:
  • AFM原子力显微镜计量校准片
    问题:当原子力显微镜做样品成像时,很难知道表面是否准确的表征?也许会受针尖的顶端破碎或钝影响。破损或钝的探针针尖会使测量结果有显著差异,如粗糙度或表面结构等等。要确保用户在使用探针时要有适当的提示,必须直接扔掉旧探针或定期使用SEM电镜检测,这两种方法都非常的浪费探针或耗时。 解决方案:BudgetSensors Tipcheck介绍-一个SPM样品可以在原子力显微镜的针尖条件下快速、简便的测定。即使在一个单一的扫描线上,也使之间的差异变得明显。因此,tipcheck提供了一个快速简便的方法来比较和分类原子力显微镜探针不同的针尖、形状和清晰度。您可以很容易的检查您的AFM探针是否完好,是否已经磨损或破损,从而不需要扫描使用该探针扫描整个样品图像或做SEM电镜扫描检测。此外,该样品的完美自动提示和针尖表征软件在市场上可用。BudgetSensors Tipcheck样品是一种非常耐磨的薄膜涂层,沉积在硅芯片上。这层薄膜涂层呈颗粒状,尖锐的纳米机构使得它能在AFM探针针尖反向成像。该Tipcheck模具的尺寸为5*5mm。下面的图片显示了使用不同探针测试tipcheck样本之间的比较,扫描尺寸为1*1um,高度为100nm。根据下面的形貌图你可以找到一个具有代表性的断面图像。为什么我们需要高度校准块?原子力显微镜已经成为一个有价值的工具,不仅用于可视化,而且也可以用于进行精确的纳米和微米尺度测量。为了能使原子力显微镜最精确的测量,原子力显微镜需要正确的校准。 HS-20MG / HS-100MG / HS-500MG作为budgetsensors 高度标准介绍作为增加相应,能负担原子力显微镜的高品质校准标准需求。HS-20MG / HS-100MG / HS-500MG是一个尺寸为5*5mm且阵列在硅基底上的二氧化硅结构。芯片结构的制造工艺保证了良好的均匀性。这将确保你的AFM系统Z轴方向校准方便可靠。 校准区域位于芯片的中心,使用原子力显微镜的光学系统很容易找到。校准结构的台阶高度为20nm(HS-20MG)100nm(HS-100MG)和500nm(HS-500MG)每一个芯片的精确值都标识在盒子标签上。芯片上集成了不同形状和间距的结构阵列。在1*1mm的大区域内包含了间距为10um的方柱孔。 在500*500um的小区域内包含了XY方向间距为5um的圆柱形孔。除了Z轴校准,这样的设计也让XY方向有了更大的校准范围(40~100um以内),而且,校准片的结构对称性使得校准原子力显微镜时不需要旋转和调整校准片XY刻度的方向。HS-20MG / HS-100MG / HS-500MG用优质导电环氧树脂粘在一个12毫米金属圆盘上,并将其用作装运的材料。横向尺寸:5*5mm几何结构:在1*1mm平方内排列间距为10um的方形孔柱在500*500um平方内XY方向排列间距为5um的圆形孔柱台阶高度HS-20MG:~20nmHS-100MG:~100nmHS-500MG:~500nm注:每个校准片盒子标签上都标有明确数值为什么需要XYZ标定校准?为了使原子力显微镜更精准的测量,必须进行正确校准。因此,更精确的校准标准才能实现原子力显微镜更好的测量结果。在这方面,校准的标定标准允许原子力显微镜系统的最精确校准。 我们的解决方案:CS-20NG是一种先进的XYZ标定校准,使校准精度降低到纳米级。它的特点是在一个5*5mm的硅芯片上阵列二氧化硅结构。确保整个芯片结构有良好的均匀性。反之,又确保了方便可靠的校准原子力显微镜的XYZ三方向的精度。校准区域位于芯片的中心,使用原子力显微镜的光学系统很容易找到。台阶高度在20nm范围内,每一个芯片的精确值都标识在盒子标签上。芯片上集成了不同形状和间距的结构阵列。在1*1mm的大区域内包含了间距为10um的方柱孔。在中区域内包含了XY方向间距为5um的圆柱形孔。在小区域内500nm间距的圆形孔。CS-20NG适用于横向和纵向的AFM扫描校准。校准片的结构对称性使得校准原子力显微镜时不需要旋转和调整校准片XY刻度的方向。CS-20NG用优质导电环氧树脂粘在一个12毫米金属圆盘上,并将其用作装运的材料。横向尺寸:5*5mm几何机构:在1*1mm平方内排列间距为10um的方形孔柱在500*500um平方内XY方向排列间距为5um的圆形孔柱在100*100um平方内分布着间距为500nm的圆形孔台阶高度:20nm每个校准片盒子标签上都标有明确数值
  • 原子力显微镜探针/afm探针/磁力显微镜/MESP-V2
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
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