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【原创】首发仪器信息网,转载注明来源 2015年度显微镜和显微分析(M&M)大会 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/07/201507281037_557490_1982636_3.jpg【M&M大会简介】M&M大会(Microscopy and Microanalysis Meeting)是由美国显微学会 MSA(Microscopy Society of America)主办的全球最大的显微技术和分析科学大会。作为全球最重要的显微设备展览之一,每年都会吸引超过100家厂商参展。在连续五天的会议中,大会将组织超过40个不同主题的研讨会,包括了显微前沿科学和技术的各个领域。各大显微设备厂商也都会带着最新的产品参展。这不光是学术界也是产业界的一次大聚会。你可以看到学术界的最新进展,也可以实地试用最新的仪器设备,还有不错的培训讲座和很丰富的社交活动。我已经连续参加了四届,每次都会收获良多。今年的大会于8/2-8/6在玫瑰之城波特兰Portland举行,而这里也正是著名的半导体大厂Intel和电镜大厂FEI总部的所在地。过去一年中电镜行业出现很多新技术和新趋势,结合这次大会的现场体验和在这里大家分享一下我的感受。 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/07/201507281039_557491_1982636_3.jpg【最新应用趋势】 近年来对材料进行超微尺度的研究依然热门,对于同时拥有高分辨和微分析能力的透射电镜和扫描电镜的需求持续强劲。各大研究所和高校在电镜的投入上也越来越大,高分辨率冷场带球差矫正的TEM/STEM已经可以在很多地方见到。在物理/材料领域,美国国内有大量的研究都集中在新能源材料领域特别是对电池材料的探索。这很大程度上得益于美国能源部DOE近年来在各大国家实验室的大力投入。这个带来的相应结果是,原位电镜技术Insitu-TEM已经成为了在材料学应用中的热点。去年的展会中出现了很多可用于单一或多体系气相,液相,电化学,力学和热学实验的原位样品杆以及配套设备。生物和生物材料交叉领域也出现了两个热点,一个是改进的冷冻电镜技术(cryoTEM)结合三维重建在结构生物学中的应用,另一个就是逐渐成熟的可完成多尺度分析的相关显微技术(correlative microscopy)。原来在生物样品中存在的低衬度,易受电子损伤等问题在冷冻技术下都得到了一定程度的改善。新的tomography三维成像样品杆和改进的软件和算法让三维重建变的更加便捷和有效,高分辨原子尺度的三维冷冻电镜已经可以实现。对于多尺度的研究,许多电镜厂商已经开始提供完整的相关显微方案以实现在同一样品上结合光学和电子信息的收集和分析。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/07/201507281045_557495_1982636_3.gifhttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/07/201507281045_557496_1982636_3.jpg【2014年大会回顾】 1)TEM/SEMTEM方面,FEI作为全球最大的电镜供应商依然占据着很大一部分电镜市场。经过2013年产品线的重新排布,现在已经由经典的Tecnai和Titan系列又延伸出了加强了3D和元素分析功能的紧凑型Talos系列和针对半导体行业的Metrios系列。再根据材料学和生物学的不同要求演化出了Titan Themis和Titan Krios这样的细化型号。同时还有特殊的环境电镜Titan ETEM,拥有脉冲电子束实现4D数据观察的Tecnai Femto UEM,以及全球唯一的内置荧光显示CLEM系统的Tecnai iCorr生物电镜。FEI的产品线已经非常全面,也针对不同用户都有相应的解决方案。日本电子JEOL拥有性价比极高的2100系列和高端的ARM200F及最新发布的ARM300F,一直在中端市场表现不错,依然是电镜分析实验室日常应用的首选。日立Hitachi在TEM方面没有什么新的机型,俨然重点已经转向SEM,集中加强自己在冷场SEM中的优势。蔡司Zeiss在2013年选择全面退出TEM的市场,开始专注经营自己的SEM/Dual Beam市场。早先Zeiss 的libra系列有着不错的设计和性能,内置的omega filter和kohler照明系统更是独门利器,着实可惜。Zeiss现在依然在开发独家的氦离子电镜和X光电镜,未来都可能成为亮点。SEM方面各家竞争愈发激烈,战线都已经延长到了dual beam FIB/SEM 和特殊的correlative SEM。Tescan全面发力,在美国设置独立服务机构的同时开发了许多新型号的SEM。最引人注目的是和Witec合作开发的全球首款集合了Raman和SEM的RISE系统,去年在MM大会首发并得到了今年光学界大奖Photonics Prism Award。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/07/201507281045_557497_1982636_3.jpg2)STEM 对于国内不太熟悉的Dedicated STEM, 去年的NION着实让业界惊叹。配合多级球差校正系统,传统UltraSTEM系列早已拥有了超高的分辨率和稳定性。可惜对于电子能量损失谱EELS的分辨率一直不够理想,普遍仅仅能维持在1eV左右。而目前装了单色器monochromator的TEM已经可以轻松达到0.15eV甚至0.1eV。传奇人物Krivanek(Nion和Gatan的创始人,EELS谱仪的发明人之一),他重新设计了monochromator并实现了在新的Nion HERMES上的惊人的20meV(0.02eV,传言说目前已经逼近6meV)EELS分辨率!记得在去年大会中,NION远程操作位于ASU的UltraSTEM100,现场演示了0.02 eV的分辨率,十分惊人。这意味着EELS已经可以拥有了和XAS类似的分辨率,可以捕捉到更加丰富的价态信息和对轻元素的定量分析,包括各种coreloss范围的键态信息,low-loss范围的surface plasmon,甚至exiton等信息。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/07/201507281046_557498_1982636_3.jpg3)其他EM设备去年伴随着Insitu,cryo和correlative类技术的发展,各大EM设备供应商都推出了很多有特色的产品。第一个值得注意的是EM设备的大厂Gatan推出了适应于serial block-face SEM (SBSEM)的3View系统,结合了一个装在SEM内部的超薄切片机可以更方便的实现各个尺度的三维重建。Zeiss已经是第一个支持这个系统的厂家,未来将在更多厂家上支持。第二个是Protochips推出的最新insitu样品杆,可以提供精确控制气压,气体组成和温度,对于需要研究原子尺度的反应大有帮助。另外,Fischione推出了最新的cryo holder让人眼前一亮。全新的样品装载装置比传统样品杆更为简便快捷,打破了原来Gatan的垄断的cryo holder市场。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/07/201507281050_557499_1982636_3.png【2015大会总结】 今年的M&M从重量级的开场嘉宾开始,华人诺贝尔化学奖得主钱永建的在会议第一天作了题为" New Molecular Tools for Light and ElectronMicroscopy"的报告。报告着重提到了CorrelativeEM在生物领域的最新进展和传统EM的最新引用。会议依旧按照三大主题安排:显微新技术,物理类显微分析和生物类显微分析。在TEM新技术方面,主要是围绕in-situ,low-voltage还有dynamic 4D技术展开。在SEM方面,多种新技术包括新的光学关联显微技术,空气SEM和连续切片显微技术都吸引了很多关注。物理应用方面大量的研究依旧集中在新能源材料和二维碳基材料领域。生物方面并没有太多的亮点,cryo和3D依然是中心。另外,会议还特别开辟了针对EELS分析和模拟实验结合的议题。产品方面,SEM依然是厂商火力最集中的地方。新发布的SEM系统和设备包括Zeiss Gemini500系列和特殊的MultiSEM多电子束快速SEM,JEOL的JSM7200和最新的Soft X-ray探测器,Hitachi在SU92
用显微图像分析法测定聚烯烃管材、管件和混配料中颜料或炭黑分散度(符合GB/T 18251-2000国家标准)·········l 显微分析系统及试验方法介绍:一.实验方法1.从管材、管件或粒料上取少量样品压在载玻片之间并加热制备试样,也可以使用切片机切片制备试样。2.依次将六个试样放在显微镜下,经过摄像采集设备在计算机上显示图像,通过软件的操作计算机自动给出测定粒子和粒团的尺寸及试样等级确定表(国家标准)。注:分散的尺寸等级由六个试样等级的平均值来确定。二.配置介绍:1. 三目显微镜2. 高清晰JVC摄像头3. 高性能图像采集卡4. 显微分析软件显微分析系统BM19A-UV实物图片 实验主要仪器:a) 显微镜: 三目XSP-BM19A显微镜,带有校准的正交移动标尺,能够测量出粒子和粒团的尺寸;b) 软件系统:计算机硬件设备一套,观测粒子或粒团的尺寸分布及外观分布的显微分析软件UV一套;c) 载玻片:厚度约1mm的载玻片,小刀,弹簧夹;d) 切片机:能够切出规定厚度的薄片;e) 加热设备:烘箱、热板等,可在150℃~210℃之间的控制温度下操作;f) 图像采集设备:JVC摄像头TK-C1021EC、三目显微镜摄像接口MCL 、显微镜图像采集卡SLG-V110。试样制备:本标准规定了两种试样制备方法:压片法和切片法。制备好的试样应厚度均匀,用于测定颜料分散的试样厚度至少为60μm,用于测定炭黑分散的试样厚度为25μm±10μm。压片方法:用小刀沿产品的不同轴线在不同部位切取六个试样。测定颜料分散时,每个试样质量大于0.6mg;测定炭黑分散时,每个试样质量为0.25mg±0.05mg。把六个样品放在一个或几个干净的载玻片上,使每一试样与相邻的试样或载玻片边缘近似等距排放,用另一干净的载玻片盖住。可以使用金属材料或其他材料制成
显微分析技术.电子显微镜,包括SEM,TEM,6个PPT课件,100多页[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=141769]显微分析技术.电子显微镜[/url]