矿业专业版射线荧光仪

我在做X射线荧光光谱分析中经常碰到标准样品曲线拟合很好,但在试样准确度比对时结果不太理想.现我正在制作X射线荧光光谱对铁矿石熔融样品检测的工作曲线,同样遇到这样的问题,(我单位由于受矿源资源的影响铁矿石中微量组成如:S、P、Cu、As等较高—超出现有的国家标准物资含量），希望在这里能找到答案。

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我们是一个地质队单位的岩矿测试实验室，现在准备入手一台X射线原子荧光光谱仪，初步定为帕纳科Axios系列波长色散型，大家给点意见，有没有更好的进口X射线荧光光谱仪更适合于岩石矿物样品的分析的。

随着经济的发展，人们对重金属矿产品的需求量越来越大，与此同时矿山的开采引发的问题日益严重。长期以来，许多矿山由于管理不善和环保意识不强等原因，在开采过程中对矿区周围的土壤、大气和水体造成了严重的污染。土壤重金属污染又直接导致了种植的农作物重金属含量超标，威胁着人类的安全与健康。1. 有色金属矿业环境重金属污染现状 我国由于技术、管理及效益差等原因的影响，资源开发中的生态环境问题严重。由于有色金属矿石品位低，每加工1吨矿石所产生的尾矿就达0.92吨以上，积存的尾砂、废渣已达1×109 t，尾砂、废渣中的重金属元素又不断向周边环境释放迁移，通过植物、水生生物等食物链长期危害人体健康。在进行矿产资源开采、运输和选冶过程中，都会产生一定的大都含有重金属元素的固体、液体和气体废弃物，这些重金属一旦进入到周围的大气、水和土壤环境中去，便对当地乃至大范围环境产生一定的污染和危害。1.1 采矿过程污染 采矿作业过程就是将矿物破碎、并从井下搬运到地面的过程。矿物破碎时，一部分重金属通过井下通风系统随污风排至地表，然后通过大气扩散进入人体呼吸系统，或沉降到土壤和水体中；一部分通过坑道废水进入地下水或地面水环境、矿物质在井下或地面搬运过程中，也因洒落、扬尘进入附近的水体或土壤中，对环境造成危害。1.2 选矿过程污染 选矿废水以及尾矿沉淀后的废液经简单处理后循环使用或用于周边农田灌溉，部分废液经尾矿坝泄水孔直接外排至周边水体。尾矿库中的重金属通过外排的废液或者通过扬尘进入周边环境，从而对周边环境产生重金属污染和危害。在矿产资源开采过程中，选矿废水和尾矿库的重金属是矿山环境污染的重要来源。1.3 尾矿污染 矿山废弃物中的重金属，一方面通过废石和尾矿堆的孔隙下渗进入底垫土壤或通过地表径流进入周围环境土壤，另一方面通过地表径流进入下游水文系统或下渗到地下水，径流又携带重金属进入流经的土壤，造成整个矿区甚至附近大区域的水体和土壤的污染，并影响整个生态系统。2. 有色金属矿业环境重金属监测体系 综上所述，有色金属矿业对环境的重金属污染包括了大气、水体和土壤三个方面。因此，为了全面监测有色金属矿业环境重金属监测系统包括：大气、水体和土壤三个部分，选用监测仪器如下表：http://www.skyray-instrument.com/cn/images/2015/0530/1.jpg2.1 大气重金属在线分析仪EHM-X系统概述 EHM-X系列大气重金属在线分析仪是天瑞仪器全球首创的双功能全自动在线分析仪器。它创新地将专利技术——X射线荧光（XRF）无损检测技术、β射线吸收检测技术与空气颗粒物自动富集技术完美结合，不仅可以监测空气颗粒物质量浓度, 还可以同时对颗粒物中元素成分进行定量分析。该仪器具有pg/m3 量级的检出限，处于世界先进水平，广泛应用于空气质量监测、污染溯源及源解析、环境评价等领域。http://www.skyray-instrument.com/cn/images/2015/0530/2.jpg图1 天瑞仪器EHM-X200大气重金属在线分析仪图片（从左到右分别为仪器主机、站房机柜上的仪器和车载仪器）2.1.1 测量原理 仪器以恒定的工况流量将空气吸入颗粒物切割器中，以PM2.5为例，动力学直径在2.5um附近及以下的颗粒污染物进入到仪器的富集系统中。经过一段时间的富集后，富集系统自动切换成β射线分析系统，利用β射线的衰减与颗粒物的质量浓度成指数的关系，对颗粒物的质量浓度进行分析。然后卷膜系统精确地将富集有空气颗粒物的滤纸移动到X射线荧光分析系统，分别利用X射线荧光的能量和强度对颗粒物中的元素成分进行定性和定量的分析。http://www.skyray-instrument.com/cn/images/2015/0530/3.jpg图2 天瑞仪器 EHM-X200大气重金属监测示意图 X射线荧光光谱技术（XRF）的原理见图3所示，可以直接检测固体或液体样品中ppm量级的元素成分。采用富集后再检测的办法，使得XRF技术对空气颗粒物中的重金属成分的检测限优于0.001ug/m3。而常规实验室的检测技术，由于预处理消解过程中需要将微克量级的样品溶解到几十克的液体中，而使得浓度被稀释百万倍，从而多数仪器（譬如ICP-AES、或原子吸收光谱仪）无法检出元素含量低于10ug/m3量级的空气颗粒物样品。http://www.skyray-instrument.com/cn/images/2015/0530/4.jpg图3 X射线荧光光谱技术原理图2.1.2 性能特点（1）先进的X射线荧光(XRF)无损检测技术与大气颗粒物自动富集技术完美结合，符合美国EPA IO-3.3标准方法。 （2）用户可以选择增加基于β射线的颗粒物质量浓度测量模块，可实现一台仪器通过一次采样同时测量颗粒物总质量浓度与重金属成分浓度，增加数据可比性、为污染溯源分析提供依据。 （3）可选配TSP、PM10、或PM2.5颗粒物切割器，实现重金属颗粒物在不同动力学直径上的分布测量。 （4）铅、铁、镉、铬、砷等30种重金属含量精确测量，探测灵敏度10pg/m3量级，重金属元素可扩展。 （5）具备流量校准功能，具备空白以及所有分析元素的校准功能，具备光管强度自校准功能和能量刻度自动校准功能； （6）提供设备配套数据分析管理软件，开放通讯协议，可接入已有数采平台；中文操作界面，触摸屏操作，显示实时采样流量，采样时间，测量状态，重金属浓度值、含量曲线等信息。 （7）提供预警预报智能分析二次开发功能接口，用于实现区域内未监测点位的空气重金属浓度的预测预警、对监测数据有效性进行判断、通过当前数据对未来污染趋势及扩散路径进行预测。2.1.3 技术参数以下列出了大气重金属在线分析仪的一些重要技术参数（表1）。表1 天瑞仪器 EHM-X200大气重金属监测仪技术参数http://www.skyray-instrument.com/cn/images/2015/0530/5.jpg2.1.4 系统配置产品配置清单如下，包括随机备件、工具套装、随机文件、以及安装维修所需的备品备件和耗材。http://www.skyray-instrument.com/cn/images/2015/0530/6.jpg2.2 WAOL3000-HM多参数水质在线重金属分析仪 WAOL3000-HM多参数水质在线重金属分析仪是天瑞仪器是一款基于权威机构认可的标准方法——阳极溶出伏安法与光度比色法的全自动监测水质中重金属离子的测定工具。该仪器可以同时实时监测水样中的多种重金属含量，其显著特点包括检出限低、准确度高、操作方便、维护成本低等；而由于Cr通过阳极溶出伏安法测定结果波动较大，因此采用测量结果准确的光度比色法，并通过系统控制成功的将阳极溶出伏安法与光度比色法集中于同一监测仪器中，克服了阳极溶出伏安法测定Cr不准的缺点同时也克服了光度比色法不能同步测量多种重金属的缺点。该仪器可广泛应用于地表水、自来水、地下水、河流湖泊以及海水等领域。http://www.skyray-instrument.com/cn/images/2015/0530/7.jpg图4 天瑞仪器WAOL3000-HM多参数水质在线重金属分析仪图片2.2.1 测量原理（1）阳极溶出伏安法 在一定的电位下，使待测金属离子部分地还原成金属并溶入微电极或析出于电极的表面，然后向电极施加反向电压，使微电极上的金属氧化而产生氧化电流，根据氧化过程的电流一电压曲线进行分析的伏安法。 阳极溶出伏安法以其极低的成本与高灵敏度的特点、目前在欧美正取代传统的原子吸收方法大量应用于环境应急监测、自来水检测、电镀和表面处理行业废水检测、食品、制药、医院废水监测等方面。http://www.skyray-instrument.com/cn/images/2015/0530/8.jpg图5 阳极溶出伏安法原理（2）光度比色法 光度比色法主要是根据朗伯比尔定律，一束单色光照射于一吸收介质表面，在通过一定厚度的介质后，由于介质吸收了一部分光能，透射光的

铝土矿中主成分的X射线荧光光谱分析[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=115796]铝土矿中主成分的X射线荧光光谱分析[/url]

中国地质学会岩矿测试技术专业委员会定于2011年11 月28—12月2日在广西南宁市举办第九届全国X射线光谱学术报告会。会议由中国地质学会、中国硅酸盐学会和中国光谱学会主办，岩矿测试技术专业委员会组织承办。 会议已邀请国际知名专家葡萄牙里斯本大学M. L. Carvaiho教授、日本京都大学Jun Kawai教授等国内外著名X射线荧光分析专家等作专题报告。会议同时召开《岩矿测试》编委会工作会议，举办《岩矿测试》第二期作者培训班。 今天刚发现的，有同去的吗？

无论国内外，X射线荧光分析方法最先得到重视和应用的都是地质行业。这主要是因为野外工作环境比较恶劣的地质勘查和矿产资源评价工作，需要一种轻便、机动而又能及时取得元素成分和含量数据的手段。X射线荧光分析方法基本满足了这一要求。因此，X射线荧光分析方法的研究和推广应用受到第一线地质工作者的关注。从20世纪70年代开始，便携式X射线荧光仪在地质行业就得到较为广泛的应用，并取得很好的成果。 使用便携式X射线荧光仪，在野外一般不需要特别加工样品就能直接对岩石露头、探槽、浅井、剥土、采矿工作面、刻槽取样线、钻孔岩心等地质工程取样点直接测量目标元素的X射线荧光强度，对目标元素进行定性、定量或半定量分析，从而及时发现和验证异常，评定岩矿品位、矿化地段、矿层厚度，划分矿化异常与非异常的界线、划分矿区与非矿区的界线，为进一步指导找矿勘探和矿产的资源评价提供有力的支撑资料。 便携式X射线荧光仪进行野外找矿方法可以分为直接找矿和间接找矿。所谓直接找矿就是使用便携式X射线荧光仪在野外现场直接测量目标元素（目标矿种）的X射线荧光强度，来确定目标元素的矿化异常的方法。所谓间接找矿就是因为受到X射线荧光仪自身探测线和激发源的能量所影响，不能对目标元素直接测量，而是通过测量与目标元素有共生关系的其他元素或者元素组合的X射线荧光强度来间接寻找目标元素（目标矿种）的方法。例如：我们最常用的X射线荧光找金矿方法，由于金元素的克拉克值丰度远远小于X射线荧光仪自身探测线，加之金元素的K系特征X射线Kα1的能量为68.79kev，而我们目前使用的激发源的能量-（ Pu能量为11.6KeV--21.7KeV， Am能量为59.5KeV和26.4KeV）远小于68.79kev，它不能激发金元素的K系特征X射线。所以我们只能根据金元素在元素周期表上属于IB族，在这一族中铜、银。按其地球化学特性分类，金属于亲铜元素组和亲银元素组。相应的元素有铜、锌、铅、砷、硒、铋、汞、银、锡、锑、碲、镉、铟等。由于金与亲铜元素组和亲银元素组的地球化学性质相近，在自然界中常以硫化物或复杂硫化物的形式存在，与亲铜元素和亲银元素共生或伴生一起。在金矿床的地球化学晕中，基本上都会有铜、砷、银等亲铜元素和亲银元素的异常晕出现。所以，可以将它们作为勘察金矿床的良好指示。我们可以单独测量一种元素或测量多种元素组合的特征X射线强度来矿化圈定异常，从而达到间接找寻金矿床的目的。有关便用携式X射线荧光仪间接找寻金矿床的应用实例在相关文献中也多有报道。 近年来，随着测量技术和研究水平的不断提高，人们已经注意和初步掌握了利用元素共生关系和共生元素含量比值的变化规律。对野外X射线荧光测量结果的利用不但可以根据不同元素的共生关系来圈定矿化异常，而且可以根据多元素之间的比例关系及其变化特点，结合其他地质条件来判断矿化异常的在平面和剖面范围内的变化趋势，来提高事半功倍的野外找矿效果。要完成这些任务就需要X射线荧光分析工作者、物探工作者和地质工作者的相互结合和共同努力，才能使X射线荧光分析方法的应用和研究水平达到一个新的高度。 野外工作方法 1．在进行野外现场X射线荧光分析工作之前，首先要对测区的基本地质情况有一个基本的了解（包括基本岩石类型及其分布情况、地质构造的发育及分布、矿化蚀变类型、不同元素及元素组合分布特点等等）。在此基础上，再根据地质学基础理论知识，并结合已经掌握的基本地质情况综合考虑，来确定野外现场X射线荧光分析元素及元素组合的种类。 2．仪器工作性能检查和工作状态的调节荧光仪工作性能的好坏，将直接决定最终工作的成败。所以开展工作前，必须保证所使用的X射线荧光仪工作性能稳定正常。并按仪器操作说明书完成测试参数的设置准备工作（完成各种目标元素微分谱的测量、并根据所测目标元素的微分谱来对目标元素的测量道址进行设置等）。 3．工作区测网的布置 与其他物化探方法一样，X射线荧光现场测量也按一定的网度进行工作。由于X射线荧光方法具有现场快速、低成本和X射线穿透深度和作用范围较小的特点，一般都要求加密测网。按常用的计算方法，以成图比例尺分母的1/100（单位是米）为线距的基础上再加密一倍。例如作1 :10000的测量，一般线距为100米，而X射线荧光方法取线距为50米。点距在外围找矿时取5米，异常点加密到1米。详查工作取线距5米—10米，点距0.2米—0.5米.在需要作圈定矿化边界和元素定量(或近似定量)测定时，常采用加密测量，取点距5－10厘米。必要时作多线测量，取线距10厘米。类似于刻槽取样。 具体的测网密度布置，在不同的地质找矿、地质勘探阶段，在不同地区，不同的地质条件下可以不同。均可以按照放射性物探方法或其他物化探方法测网布置要求的基础上进行必要的加密即可。 4．测点上X射线荧光的测量工作 为了保证测量数据的可靠性，所选测点应具有一定的代表性，在测点上除了完成必须的地质工作和其他的测量方法所需的工作外。X射线荧光测量方法有两种：一是直接在所选测点上将探测器放置平稳后进行直接测量，但测量前必须对测量位置的岩石表面进行必要的清理，保证测点表面是新鲜的和较为平整的。以保证整个测量过程中探测器的源样距的一致性。二是用随仪器配置的碎样加工工具，采集有代表性的测点样品进行粉碎到一定粒度后，将样品放在样品杯中放置于探测器的探测窗口上进行测量。这种方法可以提高被测样品的测量精度和数据的可信度。 5．测量数据的整理和相应图件的编制 为了保证测量数据的精确度和准确度，减少统计误差带来的影响。和其他物化探分析方法、放射性测量方法一样必须对测量所获取数据资料进行审核以减少测量误差，保证数据的可信度。提高地质异常解释评价的质量。 根据不同的工作目的，和其他物化探方法、放射性测量方法一样，X射线荧光测量数据可以编绘成各种相应的地质图件。如X射线荧光测量等值线图、X射线荧光强度频率分布直方图、各种勘探工程的X射线荧光测量剖面图等等。野外X射线荧光测量数据的分析和处理方法根据野外地质找矿工作的不同勘查阶段的应用可有所不同，使用便携式X射线荧光仪，基本上可以完成元素的定性、半定量、准定量工作。 X射线荧光分析方法是一种轻便、快速、低成本的分析方法。它可以现场、短期内取得大量分析数据，其成果也具有更好的代表性。虽然测量数据有一定的误差（受野外现场测量条件的影响），只能达到半定量、近似定量（准定量）分析的水平，但是大量测量数据及其分布特点却能真实地反映测量对象在平面或剖面的图像和变化细节，结合其它工作方法进行综合分析，能大幅度提高研究工作的速度和加快地质勘查工作的进程发挥更好的作用。

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波长色散X射线荧光光谱仪分析对象主要有各种磁性材料（NdFeB、SmCo合金、FeTbDy）、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等，以及各种形态样品的无标半定量分析，对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金，结果接近于定量分析的准确度。X荧光分析快速，某些样品当天就可以得到分析结果。适合课题研究和生产监控。 波长色散X射线荧光光谱仪采用晶体或人工拟晶体根据Bragg定律将不同能量的谱线分开，然后进行测量。波长色散X射线荧光光谱一般采用X射线管作激发源，可分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。顺序式通过扫描方法逐个测量元素，因此测量速度通常比同时式慢，适用于科研及多用途的工作。同时式则适用于相对固定组成，对测量速度要求高和批量试样分析, 顺序式与同时式相结合的谱仪结合了两者的优点。 美国Cianflone公司扫描型X射线荧光光谱仪（波长色散型）2501XBT型号是ASTM金属基层处理涂层测厚检验标准（D5723-95）、ASTM1306-07和D6906-03中唯一推荐检测仪器。X射线荧光光谱仪是表面金属元素成分分析的理想工具。 Portaspec2501XRF可以试验如下金属和矿物的全定量分析： 铬、钴、铜、金、铁、铅、锂、锰、汞、钼、镍、、铂、银、钍、钛、钨、铀、钒、锌、锆? Portaspec以安全的辐射标准（CRF标准）耐用的光学系统，简便的元素选择操作，强大灵活的测量功能、成为金属元素定量定性的最好分析工具。 PortaspecX系列色散型X射线荧光光谱仪用于质量控制和研究，高效、功能强大，包括触摸屏笔记本电脑。X射线管冷却水浴、真空泵，高压电源于一体，完全实现低成本运行。 PortaspecX系列色散型X射线荧光光谱仪主要特点： XSEBT单一元素； XBT分析从钛到银、从钡到铀的单一或多金属顺序测量； XLT分析AI、Si 、P、S、Cl、K、Ca、Zr 系统设置与样品分析耗时短 移动式测量探头，可实现无损在线检测 符合CRF辐射安全 包括触摸屏笔记本电脑 快速调角开关电源 密封、高效耐用的光学系统实验高精度高可靠性的测量请不要注明出处。否则广告论处。

[size=4]中科院研究生教学丛书--X射线荧光光谱分析（扫描清晰版）都是一页一页扫描下来的[color=#DC143C]本书为《中国科学院研究生教学丛书》之一。 本书系统地介绍了X射线荧光光谱分析的理论、测试技术和实际应用，以及近年来的重要进展。书中重点论述了波长色散和能量色散X射线荧光光谱所涉及的基本理论和实验技术、理论强度计算公式、基体校正、样品制备、定量分析和光谱仪结构性能等内容。此外，本书还对近年来提出的半定量分析、薄膜和镀层分析、不确定度评定、化学计量学研究在X射线荧光光谱分析中的应用及普通波长色散X射线荧光光谱仪在化学态分析中的应用等领域作了专门论述。 本书概念清晰、图文并茂、结合实际，既可作为综合性大学及理工科院校化学及化学工程专业学生和教师的教学用书，也可供从事X射线荧光光谱分析的工作者和科学研究人员参考[/color][/size][img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=141485]中科院研究生教学丛书--X射线荧光光谱分析[/url][img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=141487]中科院研究生教学丛书--X射线荧光光谱分析[/url][img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=141488]中科院研究生教学丛书--X射线荧光光谱分析2[/url]

⑴冶金分析的特点　冶金分析是指冶金生产过程中各物料的化学组成及其含量的分析。它对原料的选择，在冶炼前的炉料计算，冶炼工艺流程的控制中，产品的检验，新产品的试制，以及冶金工厂中环保分析都是必不可少的。特点是：①在保证生产质量的前提下，分析速度要快，特别是分析；②冶金分析物料种类繁多，有固体、粉末和液体等，因此要求分析方法适应性强；③分析数量大，任务重，并且要求日夜连续不断进行。 　　X射线荧光分析技术正好能满足冶金分析的特殊要求，一台多道X射线荧光光谱仪能在一分钟之内分析20~30个元素，而其分析精密度完全可以和湿法化学分析相媲美，分析范围又很宽，从几个ppm到100%。这样可以节省大量人力，提高工作效率，它又很少使用酸和特种化学试剂，不会污染环境。　　然而X射线光谱分析法并不是一种绝对法，而是依靠用标准试样相比较来作分析。以钢铁分析为例，标准试样国际的、国内的都有，但是如果对表面效应不重视，那末最好的标准试样，分析出来结果也会是错误的。金属试样一般可以直接从炉中取样冷凝而成，或者从大块金属或原料上切取试片，这样能用固体状态进行分析，有速度快、方法简便和分析精密度高的特点，缺点是不能加入内标或者进行稀释，在痕量元素分析时，又不能采用化学分离，不容易得到合适的标准试样，又很难人工合成。　　⑵固体样品的制备　一般切割或直接浇铸的试样表面比较粗糙，通常需要进一步研磨。磨可以在磨片机上研磨，也可以在磨床上加工光洁度较高的表面。通常使用的磨料有各种颗粒度的氧化铝（即刚玉）或碳化硅即（金钢砂）。一般不抛光或化学腐蚀等特殊处理，在测量短波谱线如钼、镍、铬等元素时，大约80~120粒度砂纸的光洁度即可满足要求，但测量长波谱线要求试样表面光洁度要高，特别重要的是分析试样和标准样品的表面一定要有一致的光洁度。　　样品在测量时，最好能自转，以减少表面效应、颗粒度和不均匀性的影响。如果样品没有自转装置，则样品放置位置必须使样品的表面磨痕和入射、出射X射线所构成的平面平行，这样吸收最小，如果相互垂直时吸收最大。　　样品在研磨过程中，有可能把样品中夹杂物磨掉，造成某些元素分析结果偏低，或者也可能发生表面沾污。分析低铝时，如果使用氧化铝作磨料，表面就可能被沾污，这时最好采用碳化硅磨料，反之如果分析低硅时，应采须知氧化铝佬磨料。对有色金属如铝合金、铜合金等，它们远比钢铁试样要软，不能用砂纸研磨，而应该用车床，以保证样品表面光洁度。　　检验这种表面沾污的方法测量沾污元素谱线的强度比。对于原子序数60以下的元素，可测量其La1Ka强度比，对于原子序数60以上的重元素，应测量Ma/La1 强度比。试验可以用有沾污的样品和已知未沾污的同种合金样品作比较，甚至还可以作为一种消除沾污的检验方法。　　⑶生铁X射线荧光分析生铁中碳是以元素状态存在。灰口铁中的碳有的呈球状石墨，有的呈片状石墨，在研磨过程中表面上脱落的石墨孔也会引起其他分析元素的污染，造成分析错误。浇铸的试样是不均匀的，不适合作X射线荧光分析。而急冷试样的晶粒很细，分布，碳生成渗碳体(Fe3C)，它是一种很脆而硬的中间化合物，表面可以利用研磨办法加工。　　⑷中低合金钢分析　用X射线荧光分析中低合金钢有足够灵敏度，多道X射线萤光光谱仪一般测量时间只需要20秒，最好用铑靶X射线管，监控试样测量为60秒，以提高分析精度，必要时要扣除重迭谱线，用标准钢样NBS116-1165,和BAS50-60,401-410,431-435,451-460。　　⑸不锈钢的分析　不锈钢X射线荧光分析是比较困难的，因为镍、铬、铁三者存在着严重的增强和吸收效应，必须采用数学分析，校正后铬、镍分析结果是非常令人满意的。　　⑹非金属材料分析　非金属材料分析包括炉渣、矿石等原材料分析。它的分析方法大致可分成二大类，一种是把试样振动磨粉碎，然后压制成直径为40毫米的圆片，直接放在X射线荧光光谱仪上分析。这样方法特点是速度快，一般五分钟左右就能报出结果，适合作快速分析，但是有“颗粒度效应”和“矿物效应”，所以一定要严格控制试样颗粒度大小。特别对轻元素分析，尤为严重，可以适当加入稀释剂、粘结剂、重吸收剂，如硼酸、淀粉、硫酸钒等，来减少基体效应并可压成圆片。另一种方法为熔融法，可以在试样中加入熔剂如四硼酸锂等，在高温下溶融成玻璃熔珠，熔融时间一般为10~20分钟，中间要摇动以除去气泡，对某些试剂还要加入氧化剂，如硝酸钠等，为了防止试片破裂，可适当加入溴化物使其容易脱模。如在铂-黄金（5%)坩埚中熔融，冷却脱模以后，试样就可以直接使用。这种方法准确度高，并且能消除“颗粒度效应”和“矿物效应”，但是分析速度慢，对某些元素灵敏度差。

1 故障现象一X射线发生器的高压开不起来。故障分析：这是X射线荧光光谱仪较常见的故障，一般发生在开机时，偶尔也发生在仪器运行中。故障的产生原因可以从三个方面去分析：1、X射线防护系统；2、内部水循环冷却系统；3、高压发生器及X射线光管。1.1 X射线防护系统为了防止X射线泄漏，高压发生器只有在射线防护系统正常的情况下才能启动。射线防护系统正常与否，主要检查以下二部分：1、面板的位置是否正常。X射线荧光光谱仪是一个封闭系统，面板是最外层的射线防护装置，如果有一块面板不到位，仪器就有射线泄漏的可能。因此，每块面板上都有位置接触传感器，面板没有完全合上，高压开不起来。2、X射线的警示标志是否正常。国家标准规定X射线荧光光谱仪必须安装红色警告信号灯并与相应的开关联动，因此如果信号灯失灵，高压也开不起来。有一种简单的方法可以判断高压不能启动是否是由射线防护系统引起，即将仪器的状态设定为维修状态，屏蔽射线防护系统，如果这时高压可以开起来，就可以确定故障是由射线防护系统的问题引起的。1.2 内部水循环冷却系统高压发生器的输出功率一般为3kW或4kW，将高压加至X射线光管后，除小部分用于产生X射线外，大部分转化为热能，由内部水循环冷却系统带走。内循环水用于冷却阳极靶附近的光管头部分，因此要求内循环水为电导率很低的去离子水，以防高压击穿。内循环水通过仪器内部的去离子树脂柱降低电导率，去离子树脂柱中的树脂会年久失效，因此高压无法启动时，可检查一下内循环水的电导率，如果电导率降不下去，考虑更换树脂。另外，内循环水的水位过低，也会导致高压开不起来。还有一种故障现象是高压开起来几分钟后跳掉，产生这种故障的原因可能为内循环水的流量过小。内循环水的流量通过流量计测量，水流过流量计时，带动流量计内的叶轮，叶轮切割磁力线，产生电信号。叶轮在水中长期转动，可能会锈蚀，从而使叶轮的转速减慢，流量计的电信号减弱，使仪器误认为水流量过小而导致高压跳掉。另外内循环水的过滤网堵塞导致水流量减小，也会引起高压跳掉。1.3 高压发生器及X射线光管本身高压发生器和X射线光管是仪器内最贵重的部件，一般不会出问题。检查高压发生器，可将高压发生器打开，根据电路图，检查各个开关是否在正常位置，看一下保险丝有没有熔断，再进一步的检查最好由专业维修工程师来做。X射线光管是个封闭的部件，一旦损坏，只能更换，不能修理。检查X射线光管，可检查X射线光管与高压电缆的连接是否正常，高压电缆有无损坏。

求X射线荧光光谱法测定镁砂镁石及菱镁矿中主次成分的具体步骤，谢谢

请问各位，哪有X射线荧光板卖啊？ 就是想用来观察X射线束斑在样品台上的位置。谢谢

虽然波长色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪与能量色散型（WD-XRF）X射线荧光光谱仪同属X射线荧光分析仪，它们产生信号的方法相同，最后得到的波谱或者能谱也极为相似，但由于采集数据的方式不同，ED-XRF（波谱）与ED-XRF（能谱）在原理和仪器结构上有所不同，功能也有区别。　　（一）原理区别　　X-射线荧光光谱法，是用X-射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。波长色散型荧光光仪（WD-XRF）是分光晶体将荧光光束色散后，测定各种元素的含量。而能量色散型X射线荧光光仪（WD-XRF）是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将未色散的X-射线按光子能量分离X-射线光谱线，根据各元素能量的高低来测定各元素的量。由于原理不同，故仪器结构也不同。　　（二）结构区别　　波长色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管）、样品室、分光晶体和检测系统等组成。为了准确测量衍射光束与入射光束的夹角，分光晶体系安装在一个精密的测角仪上，还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射，造成强度的损失，要求作为光源的X-射线管的功率要大，一般为２～３千瓦。但X-射线管的效率极低，只有１％的电功率转化为X-射线辐射功率，大部分电能均转化为热能产生高温，所以X-射线管需要专门的冷却装置（水冷或油冷），因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。能量色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管）、样品室和检测系统等组成，与波长色散型荧光光谱仪的区别在于它用不分光晶体。由于这一特点，使能量色散型荧光光仪具有如下优点：　　①仪器结构简单，省略了晶体的精密运动装置，也无需精度调整。还避免了晶体衍射所造成的强度损失。光源使用的X-射线管功率低，一般在100W以下，不需要昂贵的高压发生器和冷却系统，空气冷却即可，节省电力。　　②能量色散型荧光光仪的光源、样品、检测器彼此靠得很近，X-射线的利用率很高，不需要光学聚集，在累积整个光谱时，对样品位置变化不象波长色散型荧光光谱仪那样敏感，对样品形状也无特殊要求。　　③在能量色散谱仪中，样品发出的全部特征X-射线光子同时进入检测器，这就奠定了使用多道分析器和荧光屏同时累积和显示全部能谱（包括背景）的基础，也能清楚地表明背景和干扰线。因此，半导体检测器X-射线光谱仪能比晶体X-射线光谱仪快而方便地完成定性分析工作。　　④能量色散法的一个附带优点是测量整个分析线脉冲高度分布的积分程度，而不是峰顶强度。因此，减小了化学状态引起的分析线波长的漂移影响。由于同时累积还减小了仪器的漂移影响，提高净计数的统计精度，可迅速而方便地用各种方法处理光谱。同时累积观察和测量所有元素，而不是按特定谱线分析特定元素。因此，见笑了偶然错误判断某元素的可能性。（选自网络，侵删）

请问X射线荧光光谱仪板块板块为什么不归入光谱类板块？

最近领导安排我调研X射线荧光光谱仪，请问版里面的大侠有没有人比较了解目前市面上主要存在的“X射线荧光光谱仪的厂家”，和其对应的产品和型号和其的性能状况。国内和进口的各有那些厂家呢，希望知道的大侠帮帮我，答的好的我还会追加分数的。谢了

一．X射线荧光分析仪简介 X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同事测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF）。是用晶体分光而后由探测器接受经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器做同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度，可以据此进行特定分析和定量分析。该种仪器产生于50年代，由于可以对复杂体进行多组同事测定，受到关注，特别在地质部门，先后配置了这种仪器，分析速度显著提高，起了重要作用。随着科学技术的进步在60年代初发明了半导体探测仪器后，对X荧光进行能谱分析成为可能。能谱色散型X射线荧光光谱仪（ED-XRF），用X射线管产生原级X射线照射到样品上，所产生的特征X射线（荧光）这节进入SI(LI)探测器，便可以据此进行定性分析和定量分析，第一胎ED-XRF是1969年问世的。近几年来，由于商品ED-XRF仪器及仪表计算机软件的发展，功能完善，应用领域拓宽，其特点，优越性日益搜到认识，发展迅猛。 二．波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的区别 虽然光波色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪与能量色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪同属于X射线荧光分析仪，它产生信号的方法相同，最后得到的波谱也极为相似，单由于采集数据的方式不同，WD-XRF（波谱）与WD-XRF(能谱)在原理和仪器结构上有所不同，功能也有区别。（一）原理区别 X射线荧光光谱法，是用X射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。波长色散型荧光光仪（WD-XRF）是用分光近体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X射线波长和强度，从而测定各种元素的含量。而能量色散型荧光光仪（ED-XRF）是借组高分辨率敏感半导体检查仪器与多道分析器将未色散的X射线荧光按光子能量分离X色线光谱线，根据各元素能量的高低来测定各元素的量，由于原理的不同，故仪器结构也不同。（二）结构区别 波长色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管），样品室，分光晶体和检测系统等组成。为了准且测量衍射光束与入射光束的夹角，分光晶体系安装在一个精密的测角仪上，还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射，造成强度的损失，要求作为光源的X射线管的功率要打，一般为2-3千瓦，单X射线管的效率极低，只有1%的功率转化为X射线辐射功率，大部分电能均转化为而能产生高温，所以X射线管需要专门的冷却装置（水冷或油冷），因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。 能量色散型荧光光谱仪（DE-XRF）

X射线荧光光谱分析技术已经广泛应用于地质、冶金、采矿、有色、海洋、生化、环境、石化、商检、电子、公安、考古、难融化物和陶瓷工业、RoHs和 WEEE分析等领域。分析技术已从主、次量、微量元素分析，扩展到痕量元素分析、元素成分微区分布分析等 新近发展到对大气尘埃的分析、生化医药、纳米材料和薄膜分析。随着新分析仪器的普及，X射线荧光光谱仪器已经成为各实验室的常规仪器。　　X射线荧光光谱分析具有制样简单、精密度高、准确度好、自动化程度高，能同时对多元素快速分析等优点，已成为化学元素分析的常用工具之一。近年来，国内各分析测试单位配备了很多各种型号的X射线荧光光谱仪，由于仪器功能的充分发挥及分析质量的提高，需要掌握其原理，性能和多种应用技术，为了提高X射线荧光光谱仪器分析技术人员的专业素质和技术水平，充分发挥X射线荧光光谱仪器的功能，提高分析测试质量，特举办培训班，系统地讲授X射线荧光光谱技术及在各领域应用，欢迎大家前来参加。　　[b]一、授课教师[/b]　　邓赛文:研究员 国家地质测试中心 长期从事X射线荧光光谱分析，主持国家、部、院科学研究项目　　[b]二、培训内容[/b]　　1、X射线荧光光谱分析基础　　2、X射线荧光光谱理论强度计算公式　　3、X射线荧光光谱光谱仪分类及其结构性能　　4、X射线荧光光谱定量分析　　5、X射线荧光光谱分析基体校正　　6、X射线荧光光谱定性和半定量分析　　7、X射线荧光光谱薄膜和镀层分析　　8、X射线荧光光谱分析样品制备　　9、化学计量学研究在X射线荧光光谱分析中的应用　　10、X射线荧光光谱分析不确定度评定　　11、X射线荧光光谱分析标准化及其在水泥行业中应用　　12、水泥用X射线荧光分析仪行业标准介绍　　13、X射线荧光分析仪器性能检验实验结果　　[b]三、培训对象[/b]　　各企事业单位从事X射线荧光光谱分析的工作者和科学研究人员　　[b]四、培训时间、地点及收费[/b]　　2010年5月24日—5月29日 北京　　培训费1780元(包括授课费、讲义、文具、证书费等)，食宿统一安排，费用自理。　[b]　五、培训考核与发证[/b]　　培训结束后由中国仪器仪表学会分析仪器分会颁发培训合格证书及中国仪器仪表学会会员证书(免收个人会员会费，工本费、邮寄费20元)　[b][color=#ec0078]　六[/color][color=#ff483f]、报名方式：010-51299927-101,13269178446，[email=training@instrument.com.cn][color=#ff483f]training@instrument.com.cn[/color][/email][/color][/b]

关于X射线荧光光谱仪的详细介绍： X射线荧光光谱仪分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定；　　X射线荧光光谱仪简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方法比较简便，分析浓度范围较宽,从常量到微量都可分析。重元素的检测限可达ppm量级，轻元素稍差，分析样品不被破坏，分析快速，准确，便于自动化。　　X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计数器为探测器，它们不需要液氮冷却。近年来，采用电致冷的半导体探测器，高分辨率谱仪已不用液氮冷却。同步辐射光激发X射线荧光光谱、质子激发X射线荧光光谱、放射性同位素激发X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区X射线荧光光谱等较多采用的是能量色散方式。　　X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。

想问一下大家的x射线荧光光谱在搬迁时是怎么操作的，是找的仪器提供方还是专门的搬迁的，希望可以提供相应的公司或建议，谢谢

我们工厂原来对铝土矿和高铝矾土熟料的检测都是采用人工的方法，现在准备用X射线荧光分析仪进行检测，不知道要采用什么品牌和型号的X射线荧光分析仪？请各位指教(国内品牌不考虑)。分析项目含量范围％Al2O3≤97SiO2≤90Fe2O3≤15TiO2≤10MnO2≤70CaO≤20MgO≤2K2O≤4Na2O≤8

摘 要介绍顺序式X射线荧光光谱仪5种常见故障的诊断及处理方法.故障部位包括X射线发生装置,样品室和光谱室的真空,探测器,晶体和测角仪.关键词 X射线荧光光谱仪,维修中图分类号:TH744.15 文献标识码:B顺序式X射线荧光光谱仪是扫描型的仪器,当仪器运行时,许多部件在动作,如测角仪,晶体转换器,准直器等,经常动作的部件容易出现问题,另外控制和探测各个部件动作的电子线路板也可能出现问题.新型的X射线荧光光谱仪都装有故障诊断软件,分布于仪器各个部位的传感器将仪器的状态信号传输到计算机,供仪器操作者和维修工程师判断仪器是否正常,找到产生故障的部位.但是有些在测量过程中出现的问题靠诊断软件是发现不了的,而且诊断软件仅仅提示产生了故障,要找到产生故障的原因,要求维修人员对仪器的结构比较熟悉,且具有一定的维修经验.本文介绍5种常见故障的产生原因及处理方法.1 故障现象一X射线发生器的高压开不起来.故障分析:这是X射线荧光光谱仪较常见的故障,一般发生在开机时,偶尔也发生在仪器运行中.故障的产生原因可以从三个方面去分析:1,X射线防护系统 2,内部水循环冷却系统 3,高压发生器及X射线光管.1.1 X射线防护系统为了防止X射线泄漏,高压发生器只有在射线防护系统正常的情况下才能启动.射线防护系统正常与否,主要检查以下二部分:1,面板的位置是否正常.X射线荧光光谱仪是一个封闭系统,面板是最外层的射线防护装置,如果有一块面板不到位,仪器就有射线泄漏的可能.因此,每块面板上都有位置接触传感器,面板没有完全合上,高压开不起来.2,X射线的警示标志是否正常.国家标准[1]规定X射线荧光光谱仪必须安装红色警告信号灯并与相应的开关联动,因此如果信号灯失灵,高压也开不起来.有一种简单的方法可以判断高压不能启动是否是由射线防护系统引起,即将仪器的状态设定为维修状态,屏蔽射线防护系统,如果这时高压可以开起来,就可以确定故障是由射线防护系统的问题引起的.1.2 内部水循环冷却系统高压发生器的输出功率一般为3kW或4kW,将高压加至X射线光管后,除小部分用于产生X射线外,大部分转化为热能,由内部水循环冷却系统带走.内循环水用于冷却阳极靶附近的光管头部分,因此要求内循环水为电导率很低的去离子水,以防高压击穿.内循环水通过仪器内部的去离子树脂柱降低电导率,去离子树脂柱中的树脂会年久失效,因此高压无法启动时,可检查一下内循环水的电导率,如果电导率降不下去,考虑更换树脂.另外,内循环水的水位过低,也会导致高压开不起来.还有一种故障现象是高压开起来几分钟后跳掉,产生这种故障的原因可能为内循环水的流量过小.内循环水的流量通过流量计测量,水流过流量计时,带动流量计内的叶轮,叶轮切割磁力线,产生电信号.叶轮在水中长期转动,可能会锈蚀,从而使叶轮的转速减慢,流量计的电信号减弱,使仪器误认为水流量过小而导致高压跳掉.另外内循环水的过滤网堵塞导致水流量减小,也会引起高压跳掉.1.3 高压发生器及X射线光管本身高压发生器和X射线光管是仪器内最贵重的部件,一般不会出问题.检查高压发生器,可将高压发生器打开,根据电路图,检查各个开关是否在正常位置,看一下保险丝有没有熔断,再进一步的检查最好由专业维修工程师来做.X射线光管是个封闭的部件,一旦损坏,只能更换,不能修理.检查X射线光管,可检查X射线光管与高压电缆的连接是否正常,高压电缆有无损坏.2 故障现象二光谱室和样品室的真空抽不到规定值.故障分析:X射线荧光光谱分析通常在真空光路条件下工作,但光谱室和样品室有很多部位与外部相连,可能漏气的部位很多.检查真空故障时,将可能出问题的地方人为分隔为三部分:真空泵,样品室,光谱室,对这三部分逐一检查以缩小范围.2.1 真空泵将真空泵与光谱室和样品室的接口拆下并用橡皮塞堵住,然后抽真空,如果能在几秒钟内抽到规定值,可以排除真空泵出现故障的可能性.如果能抽到规定值但时间较长,可能是真空泵的效率降低,这种情况一般发生在经常分析压片样品和油品的仪器上,粉末或油被吸到真空泵油中,改变了油的粘度,这时需更换真空泵油.2.2 样品室样品室最常见的漏气部位是样品自转装置上的密封圈,样品测量时通常以0.5转/秒的速度自转,仪器几年运行下来,样品自转处的密封圈磨损,密封效果变差.2.3 光谱室光谱室最常见的漏气部位是流气计数器,流气计数器安装在光谱室内,有一根入气管和一根出气管与外界相通,流气计数器的窗膜很薄,窗膜漏气,就会影响光谱室真空.检查方法:将入气管和出气管用一根软管连接,使流气计数器与外界隔绝,然后抽真空.检查真空故障,在拆卸和安装时,要小心操作,不要让灰或头发掉到密封圈上,以避免产生新的漏气点,安装时可以在密封部位涂一点真空油脂.3 故障现象三计数率不稳定.故障分析:X射线荧光光谱仪的常用探测器有二个:流气计数器和闪烁计数器.闪烁计数器很稳定,问题常出现在流气计数器上.流气计数器窗膜由一块聚酯薄膜,hostaphan膜或聚丙烯薄膜镀上一层很薄(约30nm)的铝膜所构成,由于窗膜承受大气压力,一段时间后随着基体材料的延展,铝膜可能产生裂纹,从而减弱导电性能,这种情况对脉冲高度分布影响不大,但会使计数率不稳定.新型号的X射线荧光光谱仪一般都安装1μm甚至0.6μm的窗膜,而不再使用6μm的窗膜,因此流气计数器的窗膜导电性能下降的可能性增大.检查方法[2]:在低X射线光管功率情况下,选一个K Kα计数率约2000CPS的样品,测定计数率,然后用一个钾含量高的样品取代原样品,将光管调到满功率,保持2分钟,再将X射线光管功率减至原值,测量第一个样品,如窗膜导电正常,将得到原计数率,如窗膜导电性能变差,会发现计数率减小,然后慢慢回升至初始值,这时就应调换窗膜.4 故障现象四2θ扫描时,发现峰形不光滑,有小锯齿状.故障分析:晶体是仪器内最脆弱的部件,尽量不要用手接触衍射面,如果手或其他东西碰到了晶体的衍射面,就会污染晶体,手上的汗或其他物质渗到晶体的表面,使晶体表面的晶格间距发生变化,而X射线荧光的衍射主要发生在晶体的表面,因此造成2θ扫描的峰形不光滑.这种故障一时很难消除,文献[3]介绍了晶体的表面处理方法,但一般清洗不干净.5 故障现象五2θ扫描时只出现噪声信号,没有峰位信号.故障分析:可能的原因有二个:5.1 探测器的前置放大电路出现故障,出现的噪声信号为电路噪声,不是X射线信号.5.2 测角仪的θ和2θ耦合关系发生混乱,通常是控制θ和2θ耦合关系的CMOS中的数据由于电池漏电等原因丢失,这时需要重新对光.参 考 文 献中华人民共和国国家标准,X射线衍射仪和荧光分析仪放射卫生防护标准[S].GB16355-1996.北京:中国标准出版社,1996.1-5.应晓浒,张卫星,陈晓东. 波长色散X射线荧光光谱仪的性能测试方法介绍[J].光谱实验室,2000,17(3):281-285.李国会等,TAP,PET等分析晶体的表面处理,岩矿测试,1989,8(2):147-148.

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X 射线荧光光谱仪能用于直接分析固体和液体样品，具有智能化程度高、稳定性很好、常规操作简单、检出限低的优点。X射线荧光光谱仪工作过程中，许多部件协调动作，使用过程中，难免出现机械故障或者电路故障。该仪器带有诊断软件，供操作者和维修工程师查看或诊断仪器故障时使用，指导找出故障部位，方便维修。但在实际应用中也遇到一些问题靠诊断软件不能发现，要确认故障点、找出产生故障的具体原因、实行安全检修，维修人员必须对仪器的结构相当了解，具有一定的专业理论水平和实践经验。王成英与梁倩老师的文章《S4 EXPLORER X 射线荧光光谱仪常见故障与诊断方法》，以S4 EXPLORER X 射线荧光光谱仪为例，对X 射线荧光光谱仪在使用中出现的常见故障，进行了现象描述、原因分析，阐述了相应的处理方法。 高压发生器及X光管 常见现象为高压开不起来。这是X射线荧光光谱仪较常见的故障，一般发生在开机时，也曾在待检样品被送至测量位置，样品室的封盖（Sample seal）封上以后的运行过程中。故障的产生原因可从以下三方面查找和分析：1、X射线防护系统2、内部水循环冷却系统3、高压发生器及X光管本身1、X射线防护系统为防止X射线泄露伤害人体，S4 EXPLORER X射线荧光光谱仪采用了对等的两条安全检查保护电路，其高压发生器只有在射线防护系统工作正常且两路信号对等的情况下才能启动。射线防护系统正常与否，可主要检查以下三部分：仪器的四块面板是否安装到位。该仪器是一个X射线完全封闭的系统，面板是最外层的射线防护装置，任一面板不到位，都有射线泄露的可能。因此在每块面板上都装有两个位置接触传感器（S651～S658），一旦面板没有装到位，相应的警告信息就会在S4 Tools里出现，同时表现为仪器高压开不起来。使用者可按照S4 Tools里的信息指导检查并修复仪器。X射线的警示标志电路是否工作正常。X射线的警示线路是安全保护电路的一个重要单元。仪器的两个橙红色X光警示灯由位于高压发生器里的两个继电器K52和K53控制。如果任一信号灯的控制显示板或所用的直流电源故障，仪器均可自行发现并执行保护动作，禁止高压开启。Sample seal的位置检测开关是否可靠。为保证Sample seal密封可靠，在其位置的前方和后方均装有两个限位开关S659/S660及S661/S662，当Sample seal接受控制运动到位后，S659与S660同时响应，状态一致，S661与S662同时响应，保持一致状态，且S659/S660与S661/S662的状态应相反。否则表明该部分电路出现故障，系统无法启用。维修者可在有经验人员的指导下拆开仪器，用万用表逐个检查限位开关的响应情况，据需可用同参数国产元件替换）。2、内部水循环冷却系统S4 EXPLORER X 射线荧光光谱仪的光管所用功率为1KW，高压加至X光管后，除部分用于产生X射线外，其余转化为热能，由内部水循环冷却系统带走。内循环水用于冷却阳极靶附近的光管头部分，因此要求所用水为电导率很低的去离子水，以防高压击穿。内循环水的电导率指标靠仪器内部的树脂柱来维持，树脂的活性逐年递减至失效，导致水的电导率超标时，保护电路启用，禁止开启高压。出现这种情况时，可考虑更换树脂柱。另外，内循环水箱的水位和管路流量也是控制高压开启的两个重要指标，如果水位偏低或流量较小，各自的传感器会将信息传送至计算机，通过S4 Tools软件告知用户，用户应及时检查并做有效处理。还有一种故障现象是光管高压加上后不久就跳掉，重新开启高压发生器，情况依旧。产生这种故障的原因多半是仪器的进风口堵塞，通风量不足，仪器内部的热量不能正常交换排出，引起光谱室温度超出规定范围，同时内循环水温度偏高，仪器保护性关断高压。这种故障的处理方法是关掉仪器电源，用吸尘器清理仪器的进风口（或用水冲洗），保证通风量。3、高压发生器及X光管本身X光管是仪器内很贵重的部件，一般不会出现问题。高压发生器内的两个继电器K52和K53分别是上述两条安全电路的主要部件，直接控制高压发生器的开启。一旦两继电器中的任何一个性能不良，均会导致高压不能正常开启或非法关断的结果。该继电器结构和外形与国产常用件不同，损坏时需采用进口件替换。 光谱室和样品室的真空度 常见现象为光谱室和样品室的真空度下降较慢或达不到要求值。X射线荧光光谱仪通常采用真空光路条件，光谱室、样品室是通过许多管路、电磁阀等与真空泵及大气相连，使用过程中，漏气的几率很大。检查真空故障时，可人为分成五部分：真空泵、样品室、光谱室、气路管道及电磁阀，制定维修计划，逐一排查。1、真空泵检查真空泵的方法是卸下仪器的左面板，开启仪器电源，用人工控制命令启动抽真空系统，如果真空泵能顺利开启并运转声音正常，一般表明真空泵本身无故障。如出现能抽到规定值但历时明显变长的现象，多半是因仪器长期用于分析固体粉末压片样品或油样，固体粉末或油样被吸到真空泵油中，改变了真空泵油的粘度，从而影响应用效果，用户只需更换泵油。2、样品室样品室最常见的漏气部位为样品自转密封圈，样品测量时以0.5转/秒的速度自转，使用多年后，样品自转处的密封圈因磨损而会使密封效果变差。与样品室相关的电磁阀有3个，分别为Y601、Y602、Y604，其中Y601位于样品室与真空泵之间，Y604为通氦气的管路控制阀，Y602通大气，只有保证各阀工作正常，管路无漏气现象，才能保证样品室的抽真空效果。3、光谱室光谱室最常见的漏气部位为流气计数器，它装在光谱室内，经一根入气管和一根出气管与外界相通，流气计数器的窗膜很薄，窗膜漏气时就会影响光谱室的真空效果。如怀疑此部件故障，最好与专业工程师联系维修。与光谱室相关的电磁阀有Y600、Y603、Y605、Y606，其中Y600、Y603位于光谱室与真空泵之间。电磁阀不能正常响应、开度不够或密封不严也是导致光谱室真空度达不到要求的因素。另外应注意：在打开光谱室以前，一定要保证真空泵停转至少30分钟左右，并且卸下光谱室与真空泵的连接导气管时，应马上用手堵住管口，使光谱室漫漫回复大气状态，以免损伤流气计数器。检测电路 常见现象为部分元素只有噪音信号，扫描不到峰位，而另一部分元素测量信号正常。打开“measure parameter”软件，点击“spectram” 按钮，查看测量情况异常元素的使用仪器条件，如发现故障范围属使用同一计数器，可初步判断为使用的计数器本身或所在通道出现了局部故障。这时，我们可采用由易到难的方法初步排查，首先结合用万用表逐段、逐点检查通道中各处联结，保证线路导通且接触可靠，开机实验，如故障仍在，进而可更换通道中波形处理板，一般情况下故障即可排除。一旦计数器损坏，只能请专业工程师更换。 注：（1）更换仪器的部件后，开机使用前，应进行对光处理。对光必须在仪器充分稳定的情况下执行，否则难以得到最佳效果。（2）对光完成后，可进行已知样测试实验，考察仪器测量效果，如结果比对符合要求，可直接投用。若比对结果超差，应在仪器稳定的条件下，执行重校正后方可使用。详细的诊断方法请下载附件：S4 EXPLORER X 射线荧光光谱仪常见故障与诊断方法

跪求一个很可笑的问题“x射线荧光和x射线衍射的区别“！小弟是做仪器的经销商，实在是不懂，另外，目前这两种仪器的市场情况也想了解一下，谢谢！！

X射线荧光光谱仪一般应用在那个板块呢

xp1980版友，为江西南昌某公司分析测试人员，长期从事X射线仪器分析工作，在X射线领域积累比较丰富的经验，在此推荐该版友为X射线荧光版面版主。