晶圆测量晶圆制备系统

Xact 自动电镜样品制备系统 SELA是一家半导体行业最前沿的产品表征和失效分析设备的制造商，隆重推出了提供优异样品质量、可以大幅度降低周转时 间和提高生产率的Xact技术，是一个使用全新的AIM技术的TEM样 品制备系统。SELA 公司独创的自适应离子研磨技术比传统的聚焦离子束（FIB）技术更优越， AIM 可以将大面积材料制作的样品宽度降 低到 50nm以下，精确度高，免人工且产量较高。SELA的最新系统 -Xact，推出了一种独特的双束技术，可以 获得更清晰的无伪影样品图像和更精确的终点探测。 Xact 结合 SELA 的扫描电镜定向的微劈尖方法 ，可以满足半导体行业和纳米技术领域中高质量标准、自动化表征以及失效分析的要求。 Xact和SELA最新的独立的预减薄系统（EM3）为 TEM和SEM提供了一个综合的，高性价比的样品制备方法，预减薄和最终减薄 是两个独立且优化的设备，可以同时进行两个过程，从而提高整 体的生产率。这也会降低单个样品的制作成本，进而提高具有高质量、大面积和终点探测的样品制备工作的成功率。产品优势※ 无可匹敌的质量，免人工※ 高精度的特定区域研磨※ 常规薄片减薄到30nm以下，覆盖大面积相关区域※ 各方向薄区硬度均可满足要求※ 高效生产，带有突破性终点探测※ 采用独特的动态氙离子束减薄的AIM技术自适应性离子减薄（AIM技术）入射角：0～30°全球定位：0～360°※ 能量变化：1～10keV※ 精抛：1000～1600eV※ 点轮廓：圆形或者椭圆※ 点尺寸：10～1000μm※ 最大电流：20μA扫描范围：200μm研磨速度：粗抛 0.5～2μm/min精抛 5～20nm/minSEM/STEM※ SEM/STEM实时图像监控※ STEM基于实时厚度监控※ SEM采用钨或者LaB6灯丝※ 三点的暗场/明场的热电探测器加工参数 自动光束校正的光学部件 厚度测量范围5～2000nm 非晶态1～2nm※ 进程中的厚度变化控制※ 进程中的表面质量控制※ 研磨质量控制※ 基于厚度测量反馈进行样品剖面优化※ 感兴趣区域/厚度：10μm/40μm/操控器 反转倾斜-360°※ 五轴快速样品触发器※ 通过扩展X轴载入样品※ 自动样品准直和定位

二恶英样品制备系统更换套装配件订货信息：二恶英样品制备系统更换套装配件描述货号包装二噁英真空歧管28403-U1 ea真空连接头, I.D. 10 mm28408-U1 ea具有旋阀的顶部烧瓶, 体积 250 mL,瓶颈 24 mm28449-U1 ea二噁英空色谱柱, O.D. 6.35 mm × L 35 cm28404-U5 ea注射器 Luer 连接头, I.D. 10 mm28405-U3 ea收集烧瓶/烧杯, 平底,体积 300 mL21266-U3 ea收集烧瓶, 圆底, 体积 250 mL21269-U3 ea长杆旋阀, I.D. 10 mm28425-U3 ea

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load & lock 制备柱装柱系统安捷伦提供品种齐全的轴向压缩柱与装柱机系统用于实验室和量产制备液相色谱。其设计让您可以轻松而快速地填充自己的制备型高效柱。这一解决方案适用于药物、多肽和天然产物从研发（毫克级）到制备（几公斤）各种应用规模的需要。我们的Load & Lock 色谱柱具有独特的流体/样品分布系统，实现最高的生产率。它是唯一能提供动态轴向压缩（DAC）和静态“锁定”轴向压缩（SAC）的系统，旨在通过简单的操作提供更大的便利。实验室load & lock 柱 流动填充工作站支持三种不同柱规格 用压缩空气驱动，不需要电源 几分钟内快速而轻松地填充并取出安捷伦实验室规模的Load & Lock 柱提高了流量分布，具有良好的填充柱床稳定性，可以以最大速度、最高灵活性和操作简便性提供最高质量的纯化。支持三种不同规格的色谱柱：内径1 英寸、2 英寸和3 英寸。该工作站用压缩空气驱动，是危险环境下最好的解决方案。用可快速松开的单螺栓夹，可在几分钟内实现快速而简便的装卸。订货信息：

飞纳孔径统计测量分析系统将飞纳电镜和孔径测量统计分析系统结合在一起，孔径的可视化分析变得非常容易。快速、操作简单并能得到高分辨率图像的飞纳电镜集成孔径分析系统，创造出统计分析孔洞数据的强大工具。孔径测量系统应用领域- 电池薄膜行业- 制药行业- 过滤行业- 筛网行业- 生物行业- 化工行业- 造纸行业- 烟草行业- 纺织行业- 陶瓷行业- 食品行业- 有孔材料行业孔径测量系统功能孔径统计分析测量系统是基于飞纳电镜的孔径分析工具，用户直接从飞纳电镜获取拍摄的图片并对孔洞直径、面积等一系列参数进行统计测量，实现样品孔径可视化分析，并生成数据统计报告。应用该系统，可以在建模、研发和质量控制中有新的发现和创新孔径测量系统优势- 直接从飞纳电镜获取图片- 快速生成分析图像- 便捷的操作，提高工作效率- 无限制的图像采集，可轻松存储于网络或优盘，便于共享、交流- 附有高清图片的统计学数据- Phenom的易用性和对环境的良好适应力，用户可以将试样最大程度视觉化

8英寸晶圆隔纸 晶圆硅片测试片隔纸 硅片隔离纸由上海书培实验设备有限公司生产提供，产品规格齐全，量多从优，欢迎客户来电咨询选购。8英寸晶圆隔纸 硅片隔离纸 晶圆硅片测试片隔纸产品介绍：IC纸,,表面电阻在107-109次方，电子产品隔离纸,无尘级别：100级，8英寸晶圆隔纸 硅片隔离纸 晶圆硅片测试片隔纸规格表格：产品名称产品尺寸包装规格产品单价品牌晶圆隔纸4英寸100张/包80元上海书培晶圆隔纸6英寸100张/包110元上海书培晶圆隔纸8英寸100张/包150元

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晶圆探针台,硅片探针台由中国领先的进口精密仪器和实验室仪器旗舰型服务商-孚光精仪进口销售！孚光精仪精通光学,服务科学,欢迎垂询！晶圆探针台适合显微镜使用,尺寸小,重量轻,价格低硅片探针台适合科研院所和企业的实验室使用。非常适合小于4英寸的晶圆测量,也可用于LED/LD/PD灯光的光强和波长测量晶圆探针台主要指标：硅片探针台chuck stage (吸盘位移台）：3' ' x3' ' 行程晶圆探针台chuck theta （吸盘theta角）：0-30度硅片探针台platen （压盘）：6个微定位器晶圆探针台工作环境要求：晶圆探针台电力：110VAC， 60Hz硅片探针台真空：-250mmHg, 7Liter/min晶圆探针台尺寸：320x320x400mm ( WxDxH,带显微镜尺寸）硅片探针台重量：20kg (带显微镜重量）晶圆探针台附件：晶圆探针台chuck stage push to position硅片探针台chuck stage vacuum based movement晶圆探针台microscope tilting mechanism and quick right angle switchover硅片探针台light intensity/wavelength measurement adapter晶圆探针台RF prob/cables硅片探针台acitive probeslow current/ capacitance probeshigh voltage probeultrasonic cutterCCTVPhotomicrographicspackaged device holderPCB holderThermal systemsLiquid crystal kit晶圆探针台Vibration free tabletop硅片探针台shielding box晶圆探针台Test bench硅片探针台Instrument case晶圆探针台chuck vacuum pattern硅片探针台gold plated chuck晶圆探针台和欧洲进口的硅片探针台,显微镜使用,适合小于4英寸的晶圆测量,是理想的硅片仪器.

产品概要：MPI在晶圆级RF校准方面的长期经验以及对微波测量细节的详细了解是QAlibria的底部– MPI的RF校准软件。基本信息： 多点触摸使射频系统校准的复杂繁琐任务尽可能简单—这是MPI校准的主要目标，因此QAlibria。通过实施渐进式披露方法并实现直观的触摸操作，QAlibria为RF校准过程提供清晰明了的指导。 多语言系统MPI QAlibria 用户友好的多语言GUI即使对于没有经验的操作员也可以最大程度地降低操作风险和不便。 多线TRLQAlibria 符合行业标准和高级校准方法。此外，QAlibria 与NIST StatistiCal Plus 校准套件集成在一起， 可轻松访问NIST多线TRL计量级校准以及校准和测量结果的不确定性分析。技术优势：QAlibria 旨在简化射频系统校准的繁琐工作。它具有多点触摸和多语言图形用户界面的独特功能，以及原始的NIST多线TRL校准功能，彻底改变了晶圆级RF系统校准。应用方向：主要应用于晶圆级RF校准方面。

产品特点： u以穿透、半穿透方式测量TFT、STN，以及不同驱动模式的VA、IPS及强诱电性液晶，也支持反射型TFT、STN液晶。视用途，从研发到品管皆有完整对应机种。u除检测液晶层间隙(Cellgap)，也可测量液晶面板及液晶材料相位差。椭圆率、方位角等偏光解析，光学轴、色度、穿透、反射光谱等综合性的多功能检测装置。产品规格： 样品对应尺寸20mm×20mm～大型尺寸玻璃基板（2000mm×2000mm以上）液晶层间隙测量范围0.1μm～数十μm液晶层间隙测量再现性±0.005μm检测器分光光谱仪测量波长范围400～800nm光学系统偏光光学系统消光率10-5方解石偏光（Gran-tomsonprism）自动旋转（角度精度0.1o）自动装卸装置测量口径Φ2，5，10（mm）光轴倾斜角度-10～45o（选配功能）重量约60kg光学配件： 相位差膜,椭圆膜,偏光膜,液晶显示器材料

场发射电子源921 5736 ，这个型号的场发射灯丝，适用于原厂H机型。场发射扫描电子显微镜其实它是电子显微镜的一种，扫描电镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。优点：1、有较高的放大倍数，20-30万倍之间连续可调；2、有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；3、试样制备简单，目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪（EDS）装置，这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场，此外，还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务，以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源（电子显微镜灯丝）、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。

产品概要：MPI提供AC 系列校准基片具备至多二十六组的校准标准，提供 GS、SG、GSG 等多种信号探针，可支持SOLT, LRM, SOLR, TRL and multiline TRL等多选的校准方法。基本信息：AC系列校准基片具备至多二十六组的校准标准，供 GS/SG、GSG 探针在晶圆测量前，可支持SOLT, LRM, SOLR, TRL and multiline TRL等多选的校准方法，五条共面线提供宽带参考多线TRL校准以及常规方法的准确性验证，添加了直角倒角元件，以通过RF探头的直角配置来支持系统的SOLR校准，还提供用于宽螺距探头的校准基板。技术优势：1、支持SOLT, LRM, SOLR, TRL and multiline TRL等多选的校准方法2、添加了直角倒角元件，提供用于宽螺距探头的校准基板应用方向：应用于宽带参考多线TRL校准以及常规方法的准确性验证。

产品概要：MPI为射频和毫米波测量应用提供了出色的软电缆和附件选择，可实现完整的射频探头系统集成。基本信息：测试电缆晶圆级测量系统中的RF电缆必须满足许多特殊要求：较佳的电缆长度，重量，大小和相位稳定性，温度范围和公连接器的设计，MPI可以提供两个系列的RF电缆-高端MMC和入门级MRC-涵盖从18 GHz开始的整个频率范围。电缆组件有两种标准长度，分别为120厘米和80厘米，以与探头系统的占地面积和VNA的位置相匹配。转接器提供高质量的RF和高端毫米波适配器，以应对常规系统重新配置以及与不同类型的测试仪器集成的挑战。波导管波导段用于将基于波导的RF探头与VNA毫米波头(转换器)的输出端口相连，该端口的使用频率从V波段(50 GHz)开始。由于采用统一的设计，MPI波导段可与任何类型的变频器和MPI探头系统兼容。同时，它们提供了很大限度的系统测量动态范围。标准产品涵盖了广泛的频率范围：从V波段(WR15，从50 GHz到75 GHz)到G波段(WR-5，从140 GHz到220 GHz)。对于220 GHz以上的测量，MPI工程师建议将RF探头直接安装到转换器的波导端口。技术优势：1、测试电缆稳定性较高2、高质量的RF和高端毫米波适配器3、MPI波导段具有良好的兼容性应用方向：主要用于射频和毫米波测量应用。

M1030 全自动样品制备系统（ASaP），它能显著的提高经过切割、机械打磨和FIB加工的SEM样品的图象质量和分析数据的准确性，集等离子清洗、离子束刻蚀、反应离子束刻蚀、离子束喷镀功能于一身。带有气锁装置的装样系统，使得样品即使是在更换时也不影响整个设备的真空状态。样品尺寸：直径最大为25mm，厚度可达12.5mm

密度测量用全套便携系统，包括一支便携天平、固液体用密度套装及其附件，所有都采用定制携带式仪器箱。精密天平固液体用密度套件F1级200g校称砝码天平安装软件，用于对固体和液体进行自动校准LPC-313便携天平配有内置可充电电池和直径为135mm的圆形风罩，以适配直径90mm圆盘。携带式仪器箱：宽×深×高：370×480×150mm重量：4.5kg Delivery information: 交付信息：系统的携带式仪器箱中包括天平、圆形风罩、校称砝码、250 ml带刻度的量筒、250ml带刻度的烧杯、模拟温度计、玻璃测锤、样品筐、吊臂和支承件。说明称重上限可读性包装规格VWR目录号密度测量系统310 g0,001 g1 KITVWRI611-3131v\:* {behavior:url(#default#VML) }o\:* {behavior:url(#default#VML) }x\:* {behavior:url(#default#VML) }.shape {behavior:url(#default#VML) }

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二噁英样品制备系统连接件订货信息：二噁英样品制备系统连接件描述货号包装6.35 mm/6.35 mm 管接头, PTFE28411-U3 ea6.35 mm/10 mm 异颈转接头, PTFE28398-U3 ea10 mm/10 mm 管接头, PTFE28412-U3 ea24 mm/24 mm 聚丙烯 Viton 连接头28432-U6 ea

无锡吉致电子25年研发生产——碳化硅晶圆抛光液/硅衬底SIC抛光液/半导体抛光液/CMP化学机械抛光液/硅衬底抛光液/slurry抛光液产品简介：为电力电子器件及LED用碳化硅晶片的CMP化学机械平坦化配制的抛光液。CMP抛光液大大提高了碳化硅晶圆表面去除率和平坦化性能，提供了非常好的表面光洁度吉致电子碳化硅晶圆Slurry抛光液使用方法：1.可根据抛光操作条件用去离子水进行5-20倍稀释。2.稀释后，粗抛时调节PH11左右，精抛时调节PH9.5左右。pH调节可以用10%的盐酸、醋酸、柠檬酸、KOH或氨水在充分搅拌下慢慢加入。3.循环抛光可以用原液。吉致电子碳化硅晶圆Slurry抛光液储存方法：1.贮存时应避免曝晒，贮存温度为5-35℃2.低于0℃以上储存，防止结冰，在无度以下因产生不可再分散结块而失效。3.避免敞口长期与空气接触。吉致电子碳化硅晶圆Slurry抛光液价格：吉致电子的碳化硅晶圆抛光液生产技术是引进国外生产技术和设备，特殊化学配方制备而成。吉致电子抛光液品质可以媲美进口同类产品。本土化生产使得吉致电子CMP抛光液产品交货周期快，品质好，抛光液价格亲民。

Hypersil GOLD 制备型保护柱芯系统粒径 (μm)10 x 10mm（内径 x 长）20 x 20mm（内径 x 长）数量525005-01902325005-0292233 个/包1225012-01902325012-0292233 个/包制备型保护柱柱套C-1000F1403单件装

超低黏度适配器，测量范围从 1 mPas 开始使用 ViscoQC可用的多种转子和测量系统，在测定样品黏度时，每次测试最多可节省 15 秒。每个转子都包含磁力耦合器，并且所有转子和测量系统都可以自动识别—简化操作并避免人工错误。由于所有的转子和定子都由优质不锈钢（AISI 316L）制成，因此可以保证更佳的耐化学性。可选的转子护腿可在测量过程中保护 L/RH 转子，并由 ViscoQC 通过TruGuard&trade 进行溯源。灵活的杯架均可提供可重现的结果，不受操作影响。关键功能L/RH 转子符合 ISO 2555/ISO 1652 标准作为所谓的无限间隙系统，L/RH 转子是 VisoQC100/300 标准交付中的标配L型主机包含4个L型转子（L1-L4），而R型和H型则附带6个RH转子（RH2-RH7）。它们在开放的600 mL烧杯中使用，因此，如果要测量符合标准的样品，则至少需要500 mL的样品量。可选的 Pt100 传感器可用于对样品进行温度感应，可通过夹具轻松将它安装在烧杯上。使用灵活杯架可以确保更优的重现性，它保证不同的操作员在测量时始终让烧杯具有相同的测量位置。 固定间隙测量系统当需要绝对黏度值和样品体积（2 mL 至 18.5 mL）有限时，应选择同心圆筒（CC），双间隙系统（DG），超低黏度适配器（UL）和小量样品适配器（SSA）作为固定间隙的测量系统。要测量从1 mPas开始的低黏度样品，必须使用DG或UL。提供高精度的风冷帕尔贴温控设备。为了提高生产量并尽量减少清洗次数，建议在某些系统中使用一次性杯子。低温黏度测定系统需要使用绝缘的 4B2 测量系统来根据 ASTM D2983/D8210 测定润滑油和机油的低温黏度。如果需要满足 ASTM D5133/D7110 的要求，使用L1D22 系统。两种系统均附带 100 个一次性铝杯，以减少清洁时间并提高通量。ViscoQC 300 上预先安装了具有 V-Curve 软件包的即用型方法，可立即启动，操作简单。 测量非流动样品的系统非流动性，高黏度样品（例如软膏、蛋黄酱和膨润土）需要特殊的测量技术。标准测量系统或转子会在测量时将空气通道引入样品中，导致黏度读数无意义，因为转子不被样品完全覆盖。如果不流动的样品不包含任何颗粒，则可以使用通过Heli-Plus控制T型转子或桨式转子进行测量。如果样品中的颗粒介于 0.1 mm 和 2 mm之间，则可以选择桨式转子：它们是高黏度的，因此可以直接在样品容器中进行测量。 技术规格典型样品量 [mL]样品中的粒径 [mm]L/RH 转子5000.1 至 2同心圆筒系统2 至 18.50.1*双间隙系统（DG）7.50.01超低黏度适配器系统（UL）160.01小量样适配器系统 (SSA)6.7 至 16.10.01**绝缘 4B2 系统200.1L1D22 系统16.10.1T-型转子5000.1 至 2桨式转子5000.1 至 2必须考虑样品的黏度以选择合适的转子/测量系统。有关更多详细信息，请参阅 ViscoQC 网站上的“常见问题解答”部分。* 如果在较大的杯子中使用较小的转子，则允许样品具有较大的粒径 ( 0.5 mm)** SC4-25、SC4-27、SC4-28、SC4-29、SC4-31、SC4-34 具有较大的测量间隙。

Hypersil GOLD aQ 制备型保护柱芯系统粒径 (μm)10 x 10mm20 x 20mm数量5.025305-01902325305-0292233 个/包制备型保护柱柱套C-1000F1403单件装 Hypersil GOLD aQ 制备型 HPLC 保护柱粒径 (μm) 柱长 (mm)10mm 内径21mm 内径数量5.0 3025305-03902225305-039222单件装

FD-216北京核地(原京核研) fd216－fd216测氡仪，特点，操作说明书，售后服务，办事处，计量费，！1.体积小、重量轻，便于携带。2.灵敏度高、功耗低，交、直流两用，直流电源可支持仪器工作30h。3.USB数据传输接口，蓝牙打印。FD-216北京核地(原京核研) fd216－fd216测氡仪，特点，操作说明书，售后服务，办事处，计量费，主要技术性能1.灵敏度：≥0.68cpm/[Bq?m-3]2.本底计数率：≤0.3cpm3.测量范围环境空气氡：（3～100000）Bq/m3土壤氡：（300～300000）Bq/m3氡析出率：（0.001～10.000）Bq/[m2?s]水中氡：（0.003～100）Bq/L4.测量重复性误差：≤5%（氡室浓度2000Bq/m3，环境湿度65%，温度25℃）。5.长期稳定性（8h）误差:≤10%6.电源：锂离子充电电池/交流电，电池供电可连续工作30h。7.工作环境温度：-10℃～+40℃湿度：相对湿度≤90%（+40℃）8.探测器：硫化锌ZnS(Ag)和光电倍增管组合系统9.数据存储：可存储2000个数据10.操作模式：单点检测或连续监测11.显示器：LCD液晶显示12.取气方式：主动泵吸式13.测量时间空气氡：31min土壤氡：11min氡析出率：30min水中氡：31min14.打印数据：日期、时间、点号和检测结果15.尺寸：（330×210×170）mm16.重量：5㎏（主机）FD-216北京核地(原京核研) fd216－fd216测氡仪，特点，操作说明书，售后服务，办事处，计量费，仪器认证中国计量科学研究院检定并出具检定证书FD-216北京核地(原京核研) fd216－fd216测氡仪，特点，操作说明书，售后服务，办事处，计量费，

场发射电子源9213915/9217251，这两个灯丝的外形一样，适用的扫描电镜型号不同，需要了解扫描电镜的具体型号。场发射扫描电子显微镜其实它是电子显微镜的一种，扫描电镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。优点：1、有较高的放大倍数，20-30万倍之间连续可调；2、有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；3、试样制备简单，目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪（EDS）装置，这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场，此外，还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务，以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源（电子显微镜灯丝）、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。

产品信息：用于制备柱的异径接头将 30mm 到 50mm 内径制备柱与 1/16in 管相连接*不锈钢构造*1.0mm 口径*无筛板订货信息：用于制备柱的异径接头描述部件号数量用于制备柱的 1/8in 到 1/16in 异径接头60182-3571 个/包

用于制备柱的异径接头将 30mm 到 50mm 内径制备柱与 1/16in 管相连接。不锈钢构造。1.0mm 口径。无筛板。订货信息：用于制备柱的异径接头描述目录编号数量用于制备柱的 1/8in 到 1/16in 异径接头60182-357单件装

LED光电测量系统配件是一款进口的满足LED电光参数和性能测量的系统，它可以测量LED, OLED,激光等任何发光光源的光电参数和特性,可快速而准确地测量各种发光光源辐射，光度学，色度以及效率参数。为了测量各种光源，孚光精仪公司为LED光电测量系统配件提供各种类型的灯具，光采样选项和电探针附件。这种齐全的附件配备，使得这套LED光谱分析系统能够适合世界上任何商业标准封装或作为实验样品的各种发光器件的测量，使用积分球可以更为有效地收集光辐射，而不受光发射角的分布影响。其它光采样附件也可配置，以满足标准测量的要求，能够适应外部光源测量的需要，融入最好的输出功率等级和精度的测量工具，也可根据用户的要求提供定制系统，更可以根据用户已有的仪器提供定制服务。LED光电测量系统配件参数发射光谱 Emission Spectrum辐射通量 Radiant Flux (W)辐照度 Irradiance (W/cm2)亮度 Luminance (Cd/m2)色度坐标Chromaticity Coordinates（x,y)色纯度 Color Purity主波长 Dominant Wavelength峰值波长 Peak Wavelength发光效率Luminous Efficiency (Cd/A)外部量子效率 External Quantum EfficiencyLED光电测量系统配件软件*能够把所有重要参数测量结果展现到一个屏上，这个独具特色能够帮助用户更好地全面监测发光。×控制采集点血和光谱数据，精确控制测量样品的供电, (具有外部源仪表接口，用户能以所需电压或电流范围扫描测试）×集合所有电学和光谱参数，用户还能获得“外部量子效率”和“发光效率”之类的重要指标；*实时测量发光器件OLED测量系统配件规格组成：光谱仪，光纤，积分球，样品台，仪表，数据接口，软件光谱范围：200-850nm或 350-1000nm探测器：2048像素Si CCD阵列采光周期： 1毫秒--65秒光谱分辨率：1.5nm(FHWM)电压源 测量范围：±5μV - ±200V电流源测量范围：±10pA - ±1A电源要求：110/230VAC,系统尺寸：320x360x180mm系统重量：9.8kg

订购信息： 二噁英样品制备系统连接件描述货号包装6.35 mm/6.35mm 管接头, PTFE28411-U3 ea6.35 mm/10 mm异颈转接头, PTFE28398-U3 ea10 mm/10 mm管接头, PTFE28412-U3 ea24 mm/24 mm 聚丙烯 Viton 连接头28432-U6 ea

结合jandel公司生产的四探针探头对晶片的电阻率进行测量。主要特点：可简单预设待测晶片上1到25个测量位置；8英寸/6英寸晶片真空吸盘；带有电流开关的杠杆操作探头，可避免产生火花；定位精度小于±1mm；幻灯片准确度不高于测量区域；遮盖待测区域，消除光电干扰；技术指标：8〞型号表具有真空卡槽、定心凹槽，镊子切口的硬铝合金晶片尺寸Φ=5〞/6〞/8〞预设测量位置中心点：垂直直径四个点，32，38，50，57，68，94mm晶片 1/2R 距边缘6mm5〞 32mm 57mm6〞 38mm 68mm8〞 50mm 94mm6〞号晶片尺寸Φ=3〞/4〞/5〞/6〞预设测量位置中心点；垂直直径四个点，15，20，25，35，50，60mm可配真空线路、真空泵外形尺寸355mm * 215mm * 195mm（H）净重6〞：3.5kg8〞：4.0kg

激光晶圆划片机配件是专业为太阳能电池激光加工开发的小型太阳能电池激光划片机和晶圆切割机，它具有较小的尺寸，安装操作非常简单，比较适合小型的太阳能光伏产业用户和科研用户实验室使用。激光晶圆划片机配件使用了高精度的扫描振镜，可以加工5' ' 和6' ' 的晶圆硅片，太阳能电池激光划片机机配备的软件能够精确探测晶圆边缘,控制XYZ三维的光束定位，并监控激光功率等参数，为大学或科研院所提供了一种多功能,高精度的太阳能电池晶圆的加工设备,可以广泛用于晶圆激光打标,晶圆边缘隔离，晶圆背向接触烧结（Back contact laser fireing,BCLC)已经晶圆切割。激光晶圆划片机配件原理在制造晶体硅太阳能电池过程中通常使用p型晶圆，通过磷扩散形成n型层。这种n型层形成于太阳能电池表面，被称作发射极，当然此时也形成了p-n结。在对边缘未隔离之前，边缘电流会减少太阳能电池的效率。 现在通常使用激光晶圆划片机超快激光进行边缘隔离, 使用激光对距离上表面150-300微米的区域进行激光切割。太阳能电池激光划片机,这种切割深度不得小于发射极的深度(2-10微米）。我们在这套激光晶圆划片机配件中使用高精度的扫描振镜控制激光光束进行切割，并配备了一流的机械视图功能，可以实时探测到晶圆位置以及边缘隔离的精度, 配备的软件可以让用户在“科学研究“和”工业应用“两种模式下选择使用。

产品信息：不锈钢接头（S）5062-2418不锈钢超长接头（SX）5065-99671200 bar 可拆卸长接头（SLV）5067-47381200 bar 可拆卸接头（SV）5067-4733PEEK 接头，堵头（MP）5065-4410订购信息：agilent 1200和 1100 制备液相色谱系统起始端结束端材料内径（mm）长度（mm）接头类型起始端接头类型结束端注释部件号制备（等度）自动进样器SS0.6400SSA 和 B 端已预装配 G1361-67302自动进样器色谱柱SS0.5600SS/SX　G2260-87300自动进样器色谱柱SS0.5400SSH　G2260-87301