测量系统

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测量系统相关的厂商

  • DMS(国际)有限公司是一家专业从事动态信号分析系统的研发、生产、销售并提供测试解决方案和工程服务的高科技企业。公司总部在香港,在上海、北京、南京、武汉、西安、成都等设有办事处。 公司已和国内多所知名高校长期合作,组建了强大的技术研发团队和 强有力的销售团队,为国内企业和实验室提供优质可靠的动态信号分析系统以及相应的技术解决方案,并成功地引进了迄今国际先进水平的工程测试、检测设备及相关软件。公司产品广泛用于航空、航天、船舶、汽车、电子和通讯及国内各高等院校等众多行业,产品涉及系统集成、工程测试、适合多种应用的数据采集、动态信号分析仪、模态测试系统、振动台控制仪及机器人测试设备等多个方面,赢得了众多客户的赞誉。 “以服务求市场、质量求生存、科技求发展、创新求进步”,公司还是一个“年轻”的公司,其全体员工平均年龄在30岁左右;是一个高素质的公司,其员工大专学历以上者占95%%以上。就是这样一个年轻、高效、团结的集体,通过谦逊的工作作风,灵活的思维方式,不怕苦、不怕累、敢拚敢上的干劲,成为国内测试行业中一流的产品供应商。
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  • 上海博众测量技术有限公司致力于为制药、生命科学、微电子、锂电池、航空航天、钢铁、交通、电力、烟草、空分、净化、除湿干燥等行业的客户提供受控环境、过程气体以及大气环境监测所需的温湿度、露点、压力、二氧化碳及其他气体浓度分析、风速风向等关键控制参数的测量、记录、监测、验证解决方案。我们还可以为客户提供从测量方案设计、测量产品的选型推荐、销售、成套、系统集成、软件编制、IQOQ验证等软硬件产品,并可为所供产品或系统提供在生命周期的内的维保及计量校准服务。因为我们专业、诚信所以值得您的信赖!品牌及合作伙伴:l 芬兰VAISALA : 温湿度、露点、二氧化碳、油中水分、 大气压、风速风向等气象测量产品l 英国MICHELL : 湿度发生器、镜面露点仪、碳氢露点及氧气测量、干燥等标准设备l 美国GE DRUCK : 压力测量传感器及变送器、压力及电信号校验设备l 美国SETRA: 微差压测量变送器、微差压开关、微差压校验仪l 美国TSI: 便携式室内空气参数测试仪器、便携式粉尘仪、质量流量计等l 加拿大VERITEQ :高精度温湿度一体记录仪 、高精度温度度记录仪、热电偶记录仪 模拟 信号记录仪、EMS监测系统、GMP/FDA/GSP温湿度分布、验证l 德国TESTO : 持式多功能测量仪表l Airmonic :温湿度、露点、结露预警、二氧化碳、气象、IAQ、烟气排放、压 力等环境及过程流体的数据测量、传输、监测、记录、分析的方案 提供和系统集成,以及成套业务l Bodhi: 露点测量变送器、二次显示仪表、一体化监测处理系统、一体化测量变送器、便携式采样系统、温湿度监测系统、室内空气品质测量变送器等
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测量系统相关的仪器

  • 组合式荧光光谱测量系统-OmniFluo系列荧光光谱测量系统介绍系统组成:在许多应用领域如材料学、生物学(叶绿素和类胡萝卜素)、生物医学(恶性病的荧光诊断)和环境应用中都需要用到荧光检测技术。荧光检测通常需要高灵敏度光谱仪,在大多数应用中荧光能量仅为激发光能量的0.1%,波长要长于激发光,而且是散射光。在荧光测量系统中,一定要避免激发光进入到光谱仪中。荧光实验光学布局中的一个重点是如何避免激发光进入光谱仪, 以下几种方法提供给各位参考:1. 选择TLS或TLSE系列可调单色光源作为荧光激发源,因其具有良好的单色性,杂散光低,能够较少的影响荧光的检测;2. 在光路上使用垂直90°配置,避免激发光直射或镜面反射至荧光光谱仪,可大幅降低激发光对荧光的干扰。可调单色光源+样品室+荧光光谱仪+数据采集及处理系统+软件+计算机系统优点:可同时做激发谱及发射谱,对于未知激发谱之材料可提供更有效分析工具。OmniFluo系列组合式荧光光谱测量系统OmniFluo 系列荧光光谱测量系统采用模块化的组合方式集成而成,通过不同配件的选择,不仅可以实现荧光光谱测量,还能够实现功能的多样化,如PL、拉曼、透射反射吸收、探测器定标等光谱测量;系统采用一体化的光学调校,可以完全固定在一块精密光学平板上,只需要在初次安装时进行调校,实际应用过程中只需要对样品进行简单调整,确保在仪器使用中始终保持高效率的操作。OmniFluo-113型光子计数级稳态荧光光谱系统主要技术参数:● 激发光源:TLSE1805i-X150可调单色光源,采用150W氙灯● 激发光功率:0.3mW(@500nm,单色)● 激发光谱范围:250-1500nm(可选200-1500nm)● 激发光谱带宽:0.15-10nm(连续可调@1200g/mm光栅)● 荧光光谱仪光谱范围:200-2500nm● 荧光光谱带宽:0.1-8nm(连续可调@1200g/mm光栅)● 波长准确度:±0.25nm(Ex),±0.2nm(Em)● 波长重复性:±0.1nm(Ex,Em)● 光探测器:光子计数级光电倍增管,200-850nm● 数据采集器:DCS200PC单光子计数器,计数率:100Mcps● 系统灵敏度:纯水拉曼峰信噪比:1,000:1(RMS@带宽5nm,积分时间1s)● 超大样品室设计,便于操作,并可选配多种滤光片附件及偏振附件● 提供荧光量子产率测量附件● 可选配闭循环超低温制冷机,最低温度可达2K● 系统扩展性:采用模块化设计,可扩展至近红外波段光谱测量● 可选配锁相放大器,特别适合红外波段测量时提升系统信噪比● 软件提供灵活的实验运行步骤自定义功能,可随时储存和提取图谱,并能够进行复杂的光谱处理及光谱数据间的四则运算
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  • CCD光谱响应测量系统,半导体光谱响应测量系统 该系统可以测量光谱响应特性光电转换装置、光强控制机制和特殊的光学系统,使该系统能够在恒定的光强下,在样品表面连续照射均匀度高的单色光。规格:目标样品:CMOS传感器板/数码相机机身波长范围:300 - 1300 nm光源:氙灯/卤素灯有效照射面积:10×10mm(可选40×40mm)辐照强度:恒定能量10 - 50μW /cm2
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  • 小型LCD&BLU光学测量系统:搭载国内外品牌的亮度计、分光辐射度计进行全自动亮度和色彩光学参数测量。可为LCD、OLED和LED显示屏的研发提供准确的光学性能测量数据。应用于实验室、研发部门及质检等部门光学特性测量的理想选择!小型BLU光学特性测量系统 概述小型BLU光学测量系统:包括多轴运动系统和控制器机械机构:直立或水平尺寸:12英寸或20英寸以内的产品的测量符合国家各种测试标准或提供定制型服务! 小型BLU光学特性测量系统 特性●BL Test专业版测量软件●手动&自动系统控制进行初始定位●均匀度5点 、9点、13点、25点,点阵的测试、平面测试●搭配信号发生器相连,自动提供各种信号●Excel数据报表定制输出●软件具备测试点自动跟踪●现场安装调试及培训●可提供软件免费升级 小型BLU光学特性测量系统 测试项目●亮度均匀性●色度、色温、色度均匀性●对比度、色域覆盖率●灰阶●GAMMA●残影●响应时间●热机时间●OLED的I-V-L 小型BLU光学特性测量系统 应用手机背光,模组平板电脑背光,模组小型显示器电脑背光汽车面板显示小型BLU光学特性测量系统 规格型号DM-205DM-210最大测量尺寸对角线10” (25 cm)对角线20” (51cm) 可连接亮度计RayClouds:SR系列,C系列,FW系列Topcon:BM系列, SR系列Konica Minolta:CS-200A, CS-2000/APhoto Research:PR系列测量项目 亮度、色度均匀度测试:5点、9点、13点、25点,点阵的测试色域覆盖率;对比度;CIE色度测量;色温测量;灰阶测量;热机时间;亮度稳定性;响应时间PC控制系统商用PC, LCD显示器XY有效行程300mm X 200mm500mm X 300mm运动精度直线0.03mm/500mm;分辨率:0.001mmZ轴有效行程200mm成像系统工业CCD及工业镜头、视频采集卡系统软件BLTest专业版、Windows, Office系统尺寸(L*W*H)0.8m×0.7m×1.8m1.2m×0.9m×1.8m系统电源220 VAC / 50 Hz
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测量系统相关的资讯

  • 快速全视角测量系统
    成果名称快速全视角测量系统单位名称北京泰瑞特检测技术服务有限责任公司联系人闫实联系邮箱yanshi@tirt.com.cn成果成熟度□研发阶段 □原理样机 □通过小试 □通过中试 &radic 可以量产合作方式□技术转让 □技术入股 &radic 合作开发 □其他成果简介:1. 解决的关键技术(1)软件的调试本仪器系统的软件调试包含快速视角测试传感器、自动测试平台以及测试软件这三部分的联机调试。解决了三部分的通讯应答问题,实现了测试系统的自动控制。解决了测试软件的自动识别边界功能测试软件增加了模糊控制功能,增加了边界识别,防止测试系统在进行自动测试时全视角测试传感器与测试平台发生碰撞。解决了测试软件的灵活性问题,用户可以根据自己的工艺要求,对测试过程进行编辑,测试系统按照编辑的工艺过程自动测试。(2)光学镜头组件模组化本项目将研制一套透镜组件的固定模组,实现透镜组的焦点在一条直线上,且满足焦距的微调,达到透镜组件的光学参数和精度保持一致。提升了镜片的镀膜增透工艺,改善了镜头的透过率,改善了低亮度状态下的测试效果。修改了镜头调试工艺,在镜头调试过程中,缩短了调试时间,简化了调试的复杂程度。(3)CCD传感器降低暗噪声将CCD传感器放置在密封的抽真空空间中,将这个空间用温度控制器进行控制,将温度控制在-5℃至-20℃之间的某一个温度值(这个温度值是根据CCD传感器的参数具体设定的),让CCD传感器的暗噪声最小。改善了温度控制电路,增加了温度传感器,对CCD传感器的环境温度进行闭环调节。(4)仪器校准根据工作原理,提出测量系统的校准方案,并完成校准平台的设计和搭建,配合设计与本测量系统相适应的校准软件,实现对测量系统视角、亮度及色度的校准。完成了校准平台点光源的改装,提升了点光源的漫反射控制。2. 创新性及应用情况(1)CCD传感器系统的环境温度控制设计本传感器系统将CCD传感器放置在密封的抽真空空间中,用恒温控制装置进行控制,实现CCD传感器最佳工作状态,有效降低其工作暗噪声实现低亮度条件下的准确测量。(2)光学镜头的远心的设计在快速视角测试传感器中,设计了一个傅里叶转换板,将入射光进行拆分,使其各角度的入射光线平行入射到CCD传感器接收板上,无需对镜头进行对焦,实现各角度入射光的光性能测量。(3)可视角的快速测量本测量系统可以完成显示器件或组件的全视角参数的快速测量。可视角的测量范围可以达到± 88° ,可视角的解析度实现1° ,可视角精度可以达到0.1° ,测量方位角达到360° 。还可快速获得与可视角相关的其他光性能参数数据(亮度和色度等),对显示器件的性能做出快速的全面评价,相比传统仪器有重大技术进步。3. 技术指标全视角快速测量测量传感器一套,暂定型号:MS-88 ,其技术指标: 入射角:-88° &mdash &mdash 88° ; 方位角:0-360° ; 可视角解析度:1° ; 可视角精度:0.1° ; 亮度测量范围:0.01-20,000cd/m2 亮度测量精度:± 2.5%(L10cd/m2) ± 2.8%(0.01-10cd/m2) 亮度测量重复性:0.1%(L10cd/m2) 0.2%(0.01-10cd/m2) 色度测量精度:± 0.001(L10cd/m2) ± 0.001(0.01-10cd/m2) 色度测量重复性:0.0008(L10cd/m2) 0.0009(0.01-10cd/m2)2.自动测试平台一套,暂定型号:ZD3423 技术指标: 机械轴数:三轴 机械尺寸:3m(L)*4m(w)*2.3m(h) 机台重量:2,800Kg 机台解析度: X轴:0.01mm;Y轴:0.01mm ;Z轴:0.01mm 机台精度: X轴:± 0.1mm;Y轴:± 0.1mm;Z轴:± 0.1mm3.自动控制软件一套4.校准平台一套 a.校准平台实现的目的: (1)完成对全视角快速测量传感器的角度的校准;(2)完成对全视角快速测量传感器的色度和亮度的校准。 b.校准平台的功能 (1)校准平台由独立的两套平台组成,一套平台完成全视角快速测量传感器的视角、色度和亮度的校准,并将校准结果存入此套传感器的库文件中,此套平台我们定义为A平台; 另一套平台功能是将色度和亮度测量标准传递给被测显示器,使得被测显示器成为标准的传递物,此套平台我们定义为B平台。 (2)A平台实现的机械功能测试架X轴行程范围:100mm ;测试架Y轴行程范围:100mm ;测试架X轴灵敏度:0.01mm; 测试架Y轴灵敏度:0.01mm; 卡具水平旋转范围:± 90º ; 卡具垂直旋转范围:± 90º ; (3)B平台实现的机械功能测试平台X轴行程范围:100mm;测试平台Y轴行程范围:100mm;测试平台X轴灵敏度:0.01mm;测试平台Y轴灵敏度:0.01mm;点光源水平旋转范围:± 90º ;点光源垂直旋转范围:± 90º ;5.测试信号源一台 型号:NC804 技术指标: 具备ESD和隔离保护措施。通过DDC通道读取/写入/比较EDID数据。移动十字线精确定位像素坐标。可编程VBL及VDD 输出LVDS编码兼容JEIDA/VESA标准,可选DE/Hsync/Vsync。分辨率支持4096(dot)*4096(line)4ch LVDS信号输出,支持4象限、左右图像控制。应用前景:针对国家检测院所及龙头平板生产企业(例如boe,华兴光电,南京熊猫,龙腾光电,中国计量院等)的需求制定销售方法及配套产品,做好技术服务,定期进行技术交流,制定交流时间表,采用具有专业技术背景的销售人原服务跟踪指定客户。了解用户的工艺需求,在用户的有效需要范围内制定控制系统,充分满足用户的生产需求。在此基础上开拓其他领域,例如汽车面板视角检测,纳米材料方面的检测,模具表面检测等领域。采用公司的主要销售渠道,扩展代理渠道,在主要客户服务区设定产品代理技术服务代理。例如我们已经在深圳设置了产品代理及服务部门,在山东潍坊设立了产品代理商,主要服务于青岛区域及歌尔声学等企业。知识产权及项目获奖情况:本仪器所有知识产权归北京泰瑞特检测技术服务有限责任公司和北京三爱威迪科技有限公司以及北京市科学技术委员会共同所有。
  • 能量天平激光干涉测量系统闲区长度测量方法研究
    自2019年5月20日起,新的国际单位制正式实施,其中质量的单位千克启用了基于普朗克常数的新定义。能量天平是我国自主的千克新定义复现方案,该方案由中国计量科学研究院张钟华院士提出。能量天平利用电磁力做功与电磁场能量变化之间的转换与平衡,建立普朗克常数与被测砝码质量之间的桥梁。图1 能量天平结构示意图与测量原理电磁力做功量的测量涉及电磁力大小的测量和线圈相对位移测量两方面。因此,悬挂线圈与激励磁体的相对位移测量系统至关重要。它不仅实现了能量天平对于“米”的量子化基准的溯源,而且在保证能量天平积分区间的一致性上也发挥了关键作用。能量天平采用外差激光干涉测量系统对悬挂线圈与激励磁体的相对位移进行测量(图2),但该干涉测量系统存在较大的光学闲区(图3),进而影响了能量天平在空气环境中运行时位移测量的准确性。图2 能量天平激光干涉测量系统图3 能量天平光学闲区示意图近日,发表于《计量科学与技术-中国计量科学研究院专刊(2022)》的文章“能量天平激光干涉测量系统闲区长度测量方法研究”,对能量天平干涉测量系统中闲区长度测量方法进行了分析与讨论。主要成果(1)提出了基于真空/空气环境光程差测量的光学闲区长度测量方法。该方法利用能量天平的真空系统改变光学闲区的空气折射率;利用激光干涉系统测量折射率改变过程中的光程变化,进而测得光学闲区的长度,将原毫米量级的闲区长度测量不确定度抑制至4 μm,大大提高了光学闲区长度的测量能力。(2)利用光学闲区长度表征的绝对距离,实现了对能量天平激励磁体与悬挂线圈间相对零位的测量,以保证悬挂线圈系统位于磁体的均匀区范围。该相对零位的标准测量不确定度达到了54.2 μm。此项研究得到了国家自然科学基金青年基金项目(51805507)的支持。能量天平科研团队简介重新定义千克曾被《Nature》列为世界性的科研难题。张钟华院士向这一科研难题发起了挑战,提出了基于全静态测量的能量天平方案,该方案被《Metrologia》列为国际三种千克量子化定义与复现方法之一。目前,能量天平由李正坤研究员带领的年轻团队接力攻关。该团队连续攻克了高匀场激励磁体设计、准静态磁链差测量、外磁屏蔽方法优化、真空超精密几何量测量、能量天平准直误差理论与技术、超高直线度重载驱动方法与装置等一系列科研难题,建立了第二代能量天平装置NIM-2,其实物图如图5所示。该装置于2019~2020年间,代表中国参加了千克新定义后的首次千克复现方法国际关键比对(CCM.M-K8.2019)。经国际计量局对各国的数据综合评定,能量天平的测量结果与比对参考值(KCRV)的相对偏差为1.17E-8,相对标准不确定度为4.49E-8,比对结果如图6所示。该测量数据已成功用于首个国际质量共识值(the Consensus Value)的评定,进而用于SI新定义后全球质量量值传递。能量天平的研究工作,为建立我国自主的质量量子化基准装置提供了重要的技术支撑。图5 能量天平装置实物图图6 首次千克复现方法国际关键比对(CCM.M-K8.2019)比对结果
  • 时间和测量技术不停步----- RGM手表公司影像测量系统案例研究
    RGM手表公司是由美国手表制造商罗兰墨菲创立的。他的职业生涯和对钟表(计时设备的艺术或科学)的兴趣始于十几岁时在一家钟表公司做兼职工作时。后来,他进入了鲍曼制表技术学校,1986年他被WOSTEP(瑞士制表师培训和教育计划)录取。完成WOSTEP后,他在汉密尔顿手表公司的产品开发工作,直到他创建了RGM手表。RGM手表销售是在个人一对一的基础上进行的。参观该公司的客户和潜在客户经常会受到罗兰• 墨菲本人的欢迎。他在谈到客户经常要求的定制设计功能时,分享了自己对经典手表设计、创新和工艺的热情。RGM拥有一支11人的团队,每年生产“几百块”手表,根据设计和材料的不同,手表的价格从3500美元到9.5万美元不等。 进入RGM工厂,您会立即被多个经典的钟表匠长椅和一些古董玫瑰发动机车床包围。这些百年的车床可以生产复杂和华丽的金属图案使用切削雕刻技术。RGM表的这种水平的装饰细节对客户是非常诱惑的。 在开始时,由于缺乏合适的金属加工机械来生产非常小的零件,也没有精密的非接触测量手段,RGM产品的开发往往非常缓慢。瑞士的公司有这些设备,但对与一家没有经验的初创公司合作没有特别的兴趣——尤其是这样一家来自美国的公司。凭借进取的决心,在当地一家机械修理店和一批二手金属加工机械的帮助下,墨菲于2007年推出了Caliber 801机械运动系统。“在我们能够依赖可靠准确的零部件之前,我们会制造小于名义尺寸孔的零件,然后制表师会修正夹具镗床上的孔… … 这是一个非常耗时的过程… … ” 在一台老式的光学比较仪上对Caliber 801的小零件进行检查和测量。这样的检查需要花费相当多的时间来定位和测量,并且不是非常自动化,但对于处理最初几个低等级的系列手表零组件已经足够了。今天,有七个版本的Caliber 801,需要对一系列复杂的零组件进行测量。这时,使组成零件始终精确就变得至关重要了。这意味着制表师在组装过程中通过使小孔变大来单独制造太耗费时间。墨菲解释说。那么他们是如何解决生产和检测的问题的呢? 2016年6月,RGM购买了QVIStarLite150影像测量系统,用于完成之前由光学投影仪测量的尺寸和检查任务。“StarLite 150很快就展示了优势所在,这个系统可以在不需要操作人员干预的情况下持续测量小而复杂的手表部件,”微机械设计总监Benoit Barbe说。近年来,生产和机型需求增加,StarLite 150通过其与公司的3D CAD系统和数控铣床的兼容性,已经成为开发过程中不可或缺的检测手段的一部分。一旦CAD模型完成,它可以下载到影像测量系统,在几秒钟内完成测量。“我们对测量结果的准确性有很高的信心,而在使用光学比较仪时是存有疑虑的,”Barbe评论道。 “我们对StarLite 150测量系统了解得越多,我们的工作效率就越高。”StarLite150特别受到RGM制造团队赞赏的一个特点是它的VectorLightTMLED可编程环形灯。Barbe说:“高亮度的光源使得在两个盲孔之间检查尺寸变得非常快速和简单“。”定制手表功能的需求越来越大,需要独特的,复杂的设计与数控机床生产运行的数量越多。“我们现在定期测量和检查定制的微型机蚀刻,用小到0.02毫米的立铣刀。用了StarLite以后,测量变得从来没有这么简单,也没有这么准确。

测量系统相关的方案

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  • 【分享】测量系统指南

    第一节 通用测量系统指南在SPC中已涉及到测量系统的一些知识,测量数据的质量是过程控制的重要基础。正确地选择与运用测量系统,能保证较低的测量成本获得高质量的测量数据。一、 几个重要概念1. 测量过程和测量值赋值给具体的事务的表示事物特性的过程叫做测量过程。测量值即测量数据,是该过程的输出。2. 量具任何用来获得测量结果的装置,经常是指在车间使用的测量装置,也包括通过不通过的测量装置。3. 测量系统用来测量的仪器、设备、软件、程序、操作以及操作人员的集合和过程。4. 测量数据的质量测量数据的质量,可以从以下几个方面来描述:① 测量数据的质量是以稳定条件下运行的测量系统的多次测量结果的统计特性来描述。② 测量数据的质量通常用偏倚和方差表示,理想的质量是零偏倚、零方差。③ 测量数据质量低的最普遍原因表现为数据的变差。变差是测量系统和环境之间交互作用的结果。绝大多数变差是不期望的,但能反映被测特性微小变化的变差是有意义的,它反映了测量系统的灵敏度。

  • 【分享】如何测量通风系统的方法

    建筑或空调通风系统的测量主要有三个参数:温度,湿度及风速,控制这些参数的目的在于实现室内特定的热环境,温度,湿度及风速均达到设定要求(如处于舒适区内)。同时,尽可能的消耗较少的能量也是目的之一。一般来说,建筑或空调通风系统均有四个位置需进行测量,蛋测量要求原则上是不同的1、 室内空气冬季(寒冷、相对湿度高但绝对温度低)夏季(炎热,绝对温度高,通常相对湿度适中)2、机房 处于室外空气的机组与设备均位于机房内; 干燥机、加温机、过滤器、加热器、冷却器、风机以及其他监控及调试设备、3、管路系统 管路系统用于输送处理后的空气至房间,系统包括输送管(送/回风管)、通风管(新风/室外空气),支管及固定测点4、房间末端系统 格栅送风口,排风口,热交换器及散热器等5、房间 包括墙体、吊顶、门窗等 以上所有测量位置均有固定的测量点以及指定的测量参数,既要满足规范要求又可符合热环境需要,同时,各项指标的环境状态均有相应的限值 如测量用于确定或核查这些测量参数,那么最基本的要求是在同样的环境状态下,不同的时间,同一测点具有相同的测量值,这就要求测量仪器具有高精度,测量值保持恒定,不受环境状态的影响。否则,测量人员将无法确定什么才是正确的测量方法,准确的传感器?正确的测量操作(如测量频次,调节时间,是否需要做多点平均,还是要时间平均)。为确保测量仪器的正确使用,定期的检测仪器是非常重要的,同时还要掌握正确的使用方法。最后,为是测量数据更有使用价值,数据要能准确连续的记录下,一个数字或一个单位都不能最为真正的测量值,只有测量值具有必要的信息说明,使其具有可重复性,才能真正最为一个具有代表意义的测量值。

  • 【分享】测量系统分析知识简介

    以下知识如有不妥之处请指正![color=#DC143C][size=4][B][center]测量系统分析知识简介[/center][/B][/size][/color][B][color=#00008B][center]lrz2007[/center][/color][/B]1.目的:确定新购或经维修、校准合格后的测量设备在生产过程使用时能提供客观、正确的分析/评价数据,对各种测量和试验设备系统测量结果的变差进行适当的统计研究,以确定测量系统是否满足产品特性的测量需求和评价测量系统的适用性,确保产品质量满足和符合顾客的要求和需求。2.术语2.1测量系统:指用来对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备、软件以及操作人员的集合;用来获得测量结果的整个过程。2.2 偏倚(准确度):指测量结果的观测平均值与基准值的差值。一个基准值可通过采用更高级别的测量设备进行多次测量,取其平均值来确定。2.3 重复性:指由一个评价人,采用一种测量仪器,多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值变差。2.4 再现性:指由不同的评价人,采用相同的测量仪器,测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差。2.5 稳定性:指测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一性时获得的测量值总变差。2.6 线性:指在量具预期的工作范围内,偏倚值的差值。2.7 盲测:指测量系统分析人员将评价的5—10个零件予以编号,然后被评价人A用测量仪器将这些已编号的5—10个零件第一次进行依此测量(注意:每个零件的编号不能让评价人知道和看到),同时测量系统分析人员将被评价人A第一次所测量的数据和结果记录于相关测量系统分析表中,当被评价人A第一次将5—10个零件均测量完后,由测量系统分析人员将被评价人A已测量完的5—10个零件重新混合,然后要求被评价人A用第一次测量过的测量仪器对这些已编号的5—10个零件第二次进行依此测量,同时测量系统分析人员将被评价人A第二次所测量的数据和结果记录于相关测量系统分析表中,第三次盲测以此类推。

测量系统相关的耗材

  • LED光电测量系统配件
    LED光电测量系统配件是一款进口的满足LED电光参数和性能测量的系统,它可以测量LED, OLED,激光等任何发光光源的光电参数和特性,可快速而准确地测量各种发光光源辐射,光度学,色度以及效率参数。为了测量各种光源,孚光精仪公司为LED光电测量系统配件提供各种类型的灯具,光采样选项和电探针附件。这种齐全的附件配备,使得这套LED光谱分析系统能够适合世界上任何商业标准封装或作为实验样品的各种发光器件的测量,使用积分球可以更为有效地收集光辐射,而不受光发射角的分布影响。其它光采样附件也可配置,以满足标准测量的要求,能够适应外部光源测量的需要,融入最好的输出功率等级和精度的测量工具,也可根据用户的要求提供定制系统,更可以根据用户已有的仪器提供定制服务。LED光电测量系统配件参数发射光谱 Emission Spectrum辐射通量 Radiant Flux (W)辐照度 Irradiance (W/cm2)亮度 Luminance (Cd/m2)色度坐标Chromaticity Coordinates(x,y)色纯度 Color Purity主波长 Dominant Wavelength峰值波长 Peak Wavelength发光效率Luminous Efficiency (Cd/A)外部量子效率 External Quantum EfficiencyLED光电测量系统配件软件*能够把所有重要参数测量结果展现到一个屏上,这个独具特色能够帮助用户更好地全面监测发光。×控制采集点血和光谱数据,精确控制测量样品的供电, (具有外部源仪表接口,用户能以所需电压或电流范围扫描测试)×集合所有电学和光谱参数,用户还能获得“外部量子效率”和“发光效率”之类的重要指标;*实时测量发光器件OLED测量系统配件规格组成:光谱仪,光纤,积分球,样品台,仪表,数据接口,软件光谱范围:200-850nm或 350-1000nm探测器:2048像素Si CCD阵列采光周期: 1毫秒--65秒光谱分辨率:1.5nm(FHWM)电压源 测量范围:±5μV - ±200V电流源测量范围:±10pA - ±1A电源要求:110/230VAC,系统尺寸:320x360x180mm系统重量:9.8kg
  • 孔径测量系统
    飞纳孔径统计测量分析系统将飞纳电镜和孔径测量统计分析系统结合在一起,孔径的可视化分析变得非常容易。快速、操作简单并能得到高分辨率图像的飞纳电镜集成孔径分析系统,创造出统计分析孔洞数据的强大工具。孔径测量系统应用领域- 电池薄膜行业- 制药行业- 过滤行业- 筛网行业- 生物行业- 化工行业- 造纸行业- 烟草行业- 纺织行业- 陶瓷行业- 食品行业- 有孔材料行业孔径测量系统功能孔径统计分析测量系统是基于飞纳电镜的孔径分析工具,用户直接从飞纳电镜获取拍摄的图片并对孔洞直径、面积等一系列参数进行统计测量,实现样品孔径可视化分析,并生成数据统计报告。应用该系统,可以在建模、研发和质量控制中有新的发现和创新孔径测量系统优势- 直接从飞纳电镜获取图片- 快速生成分析图像- 便捷的操作,提高工作效率- 无限制的图像采集,可轻松存储于网络或优盘,便于共享、交流- 附有高清图片的统计学数据- Phenom的易用性和对环境的良好适应力,用户可以将试样最大程度视觉化
  • 应变应力测量系统
    JHYC应变应力测量系统应用范围1.适用于测点相对集中,被测物理量缓慢变化的试验中。2.主要用于静态结构应力分析及静载荷强度研究中测量结构件及材料任意点的静态应力应变及残余应力。3.广泛应用于桥梁、建筑物、飞机、船舶、车辆、起重机械、压力容器等结构静载荷测试、安全和健康状态测试。4.接入不同的传感器,可对力、荷重、压力、扭矩、位移、电压、电流等进行采集。5.可用于实验性测量,也可用于长期监控测量。JHYC应变应力测量系统功能特点1.全数字电路,精度高,稳定性好,具有极强抗干扰性能力仪器采用全数字电路,每通道独立AD、独立MCU,所有通道同步采样,仪器检定指标达到0.1级,显示精度0.1。采用独特的硬件隔离技术,系统具有极强的现场抗干扰性能力。2.配合不同传感器实现多种物理量测量,功能强大,性价比高。仪器通过软件选择不同的输入类型即可轻松接入不同传感器,实现你所需要的物理量的测测量,操作简单方便。3.具有多种补偿方式,能适应各种环境下的测量要求仪器具有桥路、长导线、公共,软件多种补偿方式,稳定性好。尤其是公共补偿方式,可方便快捷的对模块上10个通道进行同时补偿,避免了繁琐的桥路补偿,节约测量成本和时间。4.简洁的面板设计,闪烁式通道及状态指示灯仪器面板简洁大方,省掉一切不必要的端口,简化了测量接线难度。每个模块的状态和通道状态用高亮指示灯闪烁指示,一目了然。5.设置简单,操作方便快捷,海量存贮适合各种应变花和传感器,仪器桥路和配置采用菜单式设计,只需选择测量类型,软件控制仪器完成自动配置和清零,全量程自动平衡,不损失测量范围,无需复杂专业的测前设置。应变片和仪器连接简单方便,主机与计算机usb接口连接,即插即用。可进行不间断或间断性长时间在线测量,数据存储量取决于计算机硬盘大小。6.具有掉电自动保存测量数据功能在测量过程中,如出现意外断电,仪器可自动保存断电前的所有测量数据,并自动形成测量文件,防止意外丢失测量数据。JHYC应变应力测量系统软件功能1.软件操作、自动识别、显示方式灵活仪器设置全软件操作,所有功能嵌与同一软件内。具有自动识别系统配置,程控设置仪器的量程、测量类型、滤波及采样参数,完成信号的实时采集、处理、分析等功能,具有多种显示方式。2.应变实时显示,被测物理量直接显示多通道应变值实时显示,实时绘制时域曲线。根据传感器的输出灵敏度,完成被测物理量单位量纲的归一化,并直接显示被测物理量。3.数据实时保存,自动生成报表,功能多样软件可对历史数据回放浏览,具有多样的浏览工具、截图工具,浏览中可对数据进行去直流、去趋势、数据统计、数据的截取、删除、另存、导出、数字滤波器等操作。并自动生成测试报告,在线打印。4.每个通道都可根据测量需求选择测量类型,简单方便可根据每通道接入的传感器类型,各通道选择不同的输入类型、工程单位、标定值、调零、补偿方式等。实现对不同物理量的实时同步测量。5.任意通道间X-Y绘图功能,可实时显示相关物理量间的关系曲线6.提供分析功能软件具有时域和频谱分析功能,对历史数据进行滤波,微分和积分计算,数据统计等数据处理功能。南京聚航科技是应变仪生产商,种类多样,型号齐全,欢迎广大客户咨询!
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