工业场所噪声分析仪

我想问一下各位老师，我们有一个红声的声级校准器，那如果我在添置一台别的品牌的噪声分析仪，需要买该品牌的校准器吗，还是说可以用我们原来的校准器。还有我想问一下像加油站这种场所的噪声是属于厂界噪声吗，还是环境噪声？

无处不在的噪声是射频和微波设计师的敌人，对此不应感到惊奇。噪声限制了通信接收器检测弱信号的能力，从而妨碍设计师实现最佳的接收器性能。传输信号中的噪声恶化了性能，不仅是对传输信号，而且同样是对周围的频谱。由于噪声是普遍存在的，多年以前，射频和微波行业就建立了一个称为噪声系数的测量参数，以定量元件或系统给通过它的信号增加了多少噪声。 虽然噪声系数是一种用于描述射频和微波系统噪声和接收器灵敏度的参数，但它也是最重要和广泛使用的参数。对于各次测量和使用不同仪器的测量，噪声系数测量总是要求高精度和重复性。精度和重复性保证了元件和子系统制造商和他们的客户所进行规定性能测量的一致性。 噪声系数基础作为测量参数的噪声系数早在二十世纪四时年代就开始使用，工程师Harold Friis把它定义为用分贝(dB)表示的射频或微波器件输入处的信噪比(SNR)除以输出处的SNR。从它的名称可知，SNR是在给定传输环境中的信号电平与噪声电平之比。SNR越高，就有越多的信号超过噪声，使信号更容易检测。因此噪声系数是越低越好，因为在理想情况下，微波元件、子系统或系统应没有噪声施加到通过的信号上。但实际上所有电子器件都会增加一些噪声，叠加最低噪声的是最好的器件，这些器件有最低的噪声系数。 噪声系数的重要性有多高?不管如何估计噪声系数对系统整体性能和成本的重要性都不会过高。例如，把直播卫星的噪声系数降一半，即从2dB降到1dB，与把卫星转发器的功率增加25%在性能上有相同的效果。显然，制造商会发现增加空间发射机功率的成本要远远高于改进地面站接收器低噪声放大器(LNA)性能。 在卫星接收器生产线中，只需调整阻抗电平或选择适合的晶体管，就能把噪声系数降低1dB。1dB噪声系数的降低与增加天线25%的面积有同样效果。增加天线尺寸也增加了成本，加大了操纵和支持机构的体积和重量，对于有美学考虑的DBS这类应用，这样的天线是太大了。 在无线通信系统中，具有低噪声系数的基站可减小与之通信的移动台发射功率，这对于电池寿命，大小和重量都有积极的影响。 在发射机设计中噪声也极为重要。例如，无线基站线性功率放大器中过高的噪声会降低邻道接收质量，也就是达不到规章对干扰的要求。 进行噪声系数测量有几种技术和仪器可用于噪声系数的测量，从专用噪声系数分析仪到频谱分析仪，网络分析仪和真有效值功率计。如所预期的，专用的噪声系数分析仪提供最低的测量不确定度，其次是频谱分析仪(如果配备前置放大器)。Agilent ESA-E系列经济型频谱分析仪带有可选的集成前置放大器(选件1DS)，可根据分析仪的频率范围提供10MHz至1.5GHz或3GHz的噪声系数测量。Agilent ESA-E系列频谱分析仪是PSA系列高性能频谱分析仪和 Agilent NFA系列噪声系数分析仪的补充。如果您的应用只需要中等性能的频谱分析工具，它就是最物美价廉的解决方案。过去使用频谱分析仪测量噪声系数需要许多步骤和若干数学计算，这是繁杂和容易出错的过程。现在，ESA-E系列新的噪声系数测量专用件实现了包括计算在内的整个过程自动化。这是非常精确和易于使用的解决方案。新的测量专用件是频谱分析仪丰富通用能力环境的集成部分，包括单键功率测量，以及与8?601A VSA软件链接的相位和调制分析。若要求更高的频谱分析能力和优异的仪器不确定度，用户可选择PSA系列频谱分析仪。PSA有您期望于高性能频谱分析仪的所有功能，以及与ESA-E系列同一用户界面的噪声系数测量专用件。因此，客户能无缝地从一种仪器转到下一种仪器，而不必担心还要去熟悉仪器间的细微差别。ESA- E系列和PSA系列频谱分析仪的用户可能会认为不再需要专用的噪声系数分析仪。但所有这三种仪器都有各自适应的环境。频谱分析仪是设计师手中最常用和功能最全的测量工具，几乎在每一张测试台上都能找到它。例如可首先定位寄生信号，然后测量器件在无干扰噪声测量频率处的噪声系数。这样，带噪声系数测量专用件的ESA-E系列就成为要以经济价格得到众多测量能力设计师的理想解决方案。这是业内最灵活的频谱分析仪，它带有插卡箱结构，完全适应对定制能力的要求。PSA系列是灵活性、速度、精度和动态范围的优异组合，可提供最先进的频谱分析功能。而噪声系数分析仪是完全针对应用的仪器，仅用于测量噪声系数、增益和相关量。与频谱分析仪及其它仪器相比，噪声系数分析仪更快，更易用、精度更高、频率范围更宽。因此是得到所可能最好不确定度的最高端的选择，特别是对于3GHz以上频率。在给出达26.5GHz全部性能指标的仪器中，最快和最精确的仪器是Agilent NFA系列噪声系数分析仪。

工业分析仪基本工作原理工业分析仪主要用于测定煤等有机物中的水分、灰分和挥发分的含量，其主要特点是整个测试过程由计算机控制自动完成，分析时间短，测试精度高。并且，该仪器通过采用先进采集和传输数据控制系统，使得该仪器具有很高的可靠性。该仪器自投放市场后深受广大用户和专家的好评。为了使有关人员能更好地掌握该仪器的使用和维护，我们编制了这本《自动工业分析仪使用说明书》，对如何正确使用和维护该仪器作了全面的介绍。工业分析仪基本工作原理 仪器检测原理为热重分析法它将远红外加热设备与称量用的电子天平结合在一起，在特定的气氛条件、规定的温度、规定的时间内称量受热过程中的试样质量，以此计算出试样的水分、灰分和挥发分等工业分析指标。 仪器工作过程通过计算机控制测试主机来测定试样的水分、挥发分和灰分。 测定流程 工业分析仪运行仪器的测试程序，进入工作测试菜单，输入相关的试样信息后仪器自动称量空坩埚，空坩埚称量完毕，系统自动打开上盖，提示放入试样，然后系统称量试样质量并开始加热。升温到145℃左右恒温30分钟（指按国标方法，温度与恒温时间可自定义设置）后开始称量坩埚，当坩埚质量变化不超过系统设定值（默认0.0006克）时水分分析结束，系统报出水分测定结果，此时系统会自动打开上盖，提示加坩埚盖，仪器自动称量加坩埚盖质量，然后系统控制高温炉继续升温，目标温度900℃（系统自动打开氮气阀，向高温炉内通氮气，气体流量控制在4～5L/min），高温炉温度升到900℃，恒温规定的时间后，系统会自动打开上盖开始降温，当高温炉温度降到设定值时，仪器自动称量各坩埚质量，系统报出挥发分测定结果。此时系统再次升温至845℃恒温（系统会打开氧气阀，向高温炉内通氧气，气体流量控制在4～5L/min），之后系统开始称量坩埚，当坩埚质量变化不超过系统设定值（默认0.0006克）时灰分分析结束，系统报出灰分测定结果，并打印结果或报表（如果在系统设置中设置了打印）。