高频特性阻抗测试仪

正业科技自主研发生产PCB精密检测仪器，继特性阻抗测试仪ZK2120之后又推出新的高频特性阻抗测试仪ZK2130，ZK2130比ZK2120测的阻抗值更加精确，且ZK2130带有数据统计分析功能。ZK2013的推出更能满足客户的需求，同时也得到了广大客户的认可。高频特性阻抗测试仪ZK2130是采用时域反射技术设计的，能够批量化、自动化、快速、准确测试PCB迹线的特性阻抗，并提供测试波形分析、统计数据分析、自动记录测试数据、自动出具检测报告并打印等功能。适用于电路板制造厂商的研发、设计、生产及品管单位。为高频线路板特性阻抗测试提供了一套快速、准确、标准和经济的解决方案。 高频特性阻抗测试仪ZK2130特点： 1、批量化、自动化测试，操作简单、测试快捷，适合PCB工厂快速测试。2、Windows操作环境，友好的人机界面，自动出具测试结果。3、提供单端和差分阻抗测试。4、支持2通道、4通道测试。5、快速定制测试任务及批量化、自动化测试功能。6、集成测试文件编辑器，快速设置测试参数。7、自动记录测试数据，生成报表并保存在磁盘上。8、显示测试波形、统计数据分析及测试结果。9、打印测试报表、波形及测试结果。10、符合IPC-TM-650和IPC2141标准。 高频特性阻抗测试仪ZK2130技术参数项目 规格型号 TDR-ZK2120控制阻抗测试范围 20～150&Omega 测量精度 50&Omega ± 1%测量长度 0.05～2m水平显示分辨率 0.2mm垂直显示分辨率 0.05&Omega 测试方法 时域反射法带宽 3GHZ数据统计分析功能 SPC功能模块

线路板高频TDR特性阻抗测试仪TDR特性阻抗测试仪产品用途： 该仪器适用于高频线路板特性阻抗测试，为PCB制造厂商提供了一套快速、准确、标准和经济的TDR特性阻抗测试解决方案；也可用于电线电缆的特性阻抗测试。 TDR特性阻抗测试仪产品特点： 1、精准：采用高精度探头、高频同轴开关，以及时域反射、同步高分辨率采样和多点校准等技术2、高效：测试步骤集成，多任务一键测试3、特色：可提供测试波形分析、统计数据分析、自动记录测试数据、自动出具检测报告并打印，校准功能开放。 TDR特性阻抗测试仪产品技术参数：项目规格型号TDR-ZK2130品牌爱思达测试精度±1%（50Ω）检测速度≤1s/点对像①测量范围 ： 20Ω～150 Ω ②测量长度 ：0.05m～2m带宽3GHz

TDR阻抗测试仪-ZK2130（特性阻抗测试仪）用途TDR阻抗测试仪是采用时域反射技术设计的，能够批量化、自动化、快速、准确测试被测件的特性阻抗，并提供测试波形分析、统计数据分析、自动记录测试数据、自动出具检测报告并打印等功能。适用于刚性/挠性电路板、高频电缆、高频线材制造厂商的研发、设计、生产及品管单位。和传统TDR取样示波器相比，增加了针对线路板、电缆行业的标准化、自动化测试和分析软件。为特性阻抗测试提供了一套快速、准确、标准和经济的解决方案。 特征1、批量化、自动化测试，操作简单、测试快捷，适合线缆工厂快速测试。2、Windows操作环境，友好的人机界面，自动出具测试结果。3、提供单端和差分阻抗测试。4、支持2通道、4通道测试。5、快速定制测试任务及批量化、自动化测试功能。6、集成测试文件编辑器，快速设置测试参数。7、自动记录测试数据，生成报表并保存在磁盘上。8、显示测试波形、统计数据分析及测试结果。9、打印测试报表、波形及测试结果。10、符合1394a/b、DiiVA、DP、HDMI1.4、SATA I/II、USB2.0/3.0等各种标准的特性阻抗测试要求技术参数 项目规格 型号：TDR-ZK2130测量功能：单端阻抗、差分阻抗、共模阻抗差分延迟、差分对内延迟差、差分对间延迟差控制阻抗测试范围： 单端10Ω-150Ω差分：20Ω-300Ω测量精度： 50Ω±1%重复测量精度 ： 50Ω±0.5%测量长度 ： 0.04m～2m水平显示分辨率 ： 0.2mm垂直显示分辨率 ： 0.03Ω测试方法 ： 时域反射法（TDR）TDR 带宽 ： 3 GHZ取样示波器带宽： 5GHz入射脉冲上升时间：80psTDR采样时间分辨率： 10ps数据统计分析功能 ：SPC功能模块（SPC）

特性阻抗|特性阻抗测试仪用途： 特性阻抗测试系统是采用时域反射技术设计的，能够批量化、自动化、快速、准确测试PCB迹线的特性阻抗，并提供测试波形分析、统计数据分析、自动记录测试数据、自动出具检测报告并打印等功能。适用于电路板制造厂商的研发、设计、生产及品管单位。为高频线路板特性阻抗测试提供了一套快速、准确、标准和经济的解决方案。特性阻抗|特性阻抗测试仪特征：1、批量化、自动化测试，操作简单、测试快捷，适合PCB工厂快速测试。2、Windows操作环境，友好的人机界面，自动出具测试结果。3、提供单端和差分阻抗测试。4、支持2通道、4通道及8通道测试。5、快速定制测试任务及批量化、自动化测试功能。6、集成测试文件编辑器，快速设置测试参数。7、自动记录测试数据，生成报表并保存在磁盘上。8、显示测试波形、统计数据分析及测试结果。9、打印测试报表、波形及测试结果。10、符合IPC-TM-650和IPC2141标准。 特性阻抗|特性阻抗测试仪技术参数：项目 规格控制阻抗测试范围 20-150&Omega 测量精度 50&Omega ± 1%测量长度 最大2m，最小0.09m水平显示分辨率 0.2mm垂直显示分辨率0.05&Omega 测试方法 时域反射法（TDR）

差分高频特性PCB、线材TDR阻抗测试仪TDR线路板特性阻抗测试仪产品用途： 该仪器适用于高频线路板特性阻抗测试，为PCB制造厂商提供了一套快速、准确、标准和经济的TDR特性阻抗测试解决方案；也可用于电线电缆的特性阻抗测试。 TDR线路板特性阻抗测试仪产品特点： 1、精准：采用高精度探头、高频同轴开关，以及时域反射、同步高分辨率采样和多点校准等技术2、高效：测试步骤集成，多任务一键测试3、特色：可提供测试波形分析、统计数据分析、自动记录测试数据、自动出具检测报告并打印，校准功能开放。 TDR线路板特性阻抗测试仪产品技术参数：项目规格型号TDR-ZK3185品牌爱思达测试精度±1%（50Ω）检测速度≤1s/点对像①测量范围 ： 20Ω—200Ω②测量长度 ：0.02m～2m带宽0.1GHz-8.5GHz损耗测试S参数测量动态范围可测量被测件的真实性能100dB

正业科技自主研发生产PCB精密检测仪器，继特性阻抗测试仪ZK2120之后又推出新的高频特性阻抗测试仪ZK2130，ZK2130比ZK2120测的阻抗值更加精确，且ZK2130带有数据统计分析功能。ZK2013的推出更能满足客户的需求，同时也得到了广大客户的认可。ZK2130阻抗测试仪不仅在PCB行业有了更高的稳定和精确性，同时也可应用于高频电线电缆行业。可检测电线电缆的阻抗值是否满足需求以及电缆故障的检测。 高频特性阻抗测试仪ZK2130特点： 1、批量化、自动化测试，操作简单、测试快捷，适合PCB工厂快速测试。2、Windows操作环境，友好的人机界面，自动出具测试结果。3、提供单端和差分阻抗测试。4、支持2通道、4通道测试。5、快速定制测试任务及批量化、自动化测试功能。6、集成测试文件编辑器，快速设置测试参数。7、自动记录测试数据，生成报表并保存在磁盘上。8、显示测试波形、统计数据分析及测试结果。9、打印测试报表、波形及测试结果。10、符合IPC-TM-650和IPC2141标准。 高频特性阻抗测试仪ZK2130技术参数项目 规格型号 TDR-ZK2120控制阻抗测试范围 20～150&Omega 测量精度 50&Omega ± 1%测量长度 0.05～2m水平显示分辨率 0.2mm垂直显示分辨率 0.05&Omega 测试方法 时域反射法带宽 3GHZ数据统计分析功能 SPC功能模块 如应用于电线电缆行业的客户可以直接与我司联系取得更加详细的资料以及更加专业的解决方案。

TDR阻抗测试仪，差分阻抗测试仪，差分延迟阻抗测试仪，高频差分阻抗测试仪，差分阻抗测试仪生产厂就找正业科技。用途：特性差分阻抗测试系统是采用时域反射技术设计的，能够批量化、自动化、快速、准确测试PCB迹线的特性阻抗，并提供测试波形分析、统计数据分析、自动记录测试数据、自动出具检测报告并打印等功能。适用于电路板制造厂商的研发、设计、生产及品管单位。为高频线路板特性阻抗测试提供了一套快速、准确、标准和经济的解决方案。 特性阻抗测试仪技术参数项目规格型号TDR-ZK2130控制阻抗测试范围20～150Ω测量精度50Ω±1%测量长度0.05～2m水平显示分辨率0.2mm垂直显示分辨率0.05Ω测试方法时域反射法带宽3GHZ特点： 1、批量化、自动化测试，操作简单、测试快捷，适合PCB工厂快速测试。2、Windows操作环境，友好的人机界面，自动出具测试结果。3、提供单端和差分阻抗测试。4、快速定制测试任务及批量化、自动化测试功能。5、集成测试文件编辑器，快速设置测试参数。6、自动记录测试数据，生成报表并保存在磁盘上。7、显示测试波形、统计数据分析及测试结果。8、打印测试报表、波形及测试结果。9、符合IPC-TM-650和IPC2141标准。常见问题解决方法1校准过程中出现数值误差偏高。 产生原因：误操作导致。 解决方法：关机1个小时，重新开启进行校准。2单项删除出现软件报错。 产生原因：操作过快导致。 解决方法：需要重新开启软件。3连续48小时开机，日志没有及时更新。 产生原因：机器在长时间（超过12个小时不操作）会有自保护功能。 解决方法：重新开启软件。4水平分辨率显示部分网格消失。 产生原因：水平分辨率调节过小导致。 解决方法：水平分辨率调节到用户需要的即可。

正业科技为了满足市场发展需求现在公司现有的特性阻抗测试仪的基础上研发生产出一款应用于电线电缆行业的特性阻抗测试仪，适用于高频电线电缆的阻抗测试仪， 爱思达TDR特性阻抗测试仪是国内第一套自主研发的特性阻抗智能测试系统，具有完全的自主知识产权，用于线路板特性阻抗快速在线测试，和传统TDR取样示波器相比，增加了针对线路板、电缆行业的标准化、自动化测试和分析软件，是一种面向工业流水化生产线的智能测试仪器。 该仪器基于时域反射法及取样示波器原理设计，遵循IPC、Intel等国际规范要求，能够批量化、自动化、快速、准确测试被测件的特性阻抗，并提供测试图形分析、统计数据分析、SPC分析、自动记录测试数据、自动出具检测报告及打印等功能。适用于刚性/挠性PCB、FFC、高速背板、高频电缆、高频线材、覆铜板的研发、设计、生产及品管单位，此外仪器扩展功能还能够测量损耗、衰减、介电常数、传输延时、差分延时等高频参数，为高频互连器件高频参数测试提供了一套快速、准确、标准和经济的解决方案。 TDR的工作原理类似于雷达，发射的高速脉冲信号遇到阻抗不连续就会发生变化，产生的反射信号被TDR检测到，以此精确判断故障的位置和类型，可用于飞机、舰艇、各种电子设备内部的PCB、电缆、电线厘米/毫米级分辨率故障诊断与定位。 由于TDR可精确测量出电缆的形变和故障位置，这种技术可用于山体滑坡、泥石流、地震等地质灾害监测预警，应用于水坝位移、建筑物塌陷、道路冻胀、煤矿坑道沉降、桥梁公路两侧端支撑点内部变化的长期监测和实时预警。使用方法是将几米到几十米的同轴电缆埋入地表以下被测物体中，用TDR长期监测同轴电缆变形状态，可以获取地表以下被测物的变形信息。相对于GPS技术无法监测地表以下形变信息，传统钻孔倾斜法、竖井法监测量程有限、安装复杂、成本很高的缺点，TDR方法具有精度高、测量速度快（几秒钟）、可在线监测预警、低成本、定位准确、连续观测等优点，被证明是一种有效的监测方式。TDR可以以皮秒分辨率测量电磁波在测试探头中的传播时间，以此方法可以精确测量出介电常数，再利用土壤介电常数计算模型来确定土壤含水量，能够在不破坏土壤的前提下对土壤的含水量进行长期连续的测量，此方法被认为是一种快速、安全的测定土壤含水量和电导率的方法，具有精度高，稳定性好，操作简便等优点，在欧美国家已经得到广泛应用并成为国际标准。 特性阻抗测试仪的特点：1、TDR测试技术：国内首家采用TDR时域反射测试技术，原创设计，具有自主知识产权2、测量准确精度高：测试结果准确性可与泰克、Polar、安捷伦产品比对3、高精度阻抗测试：可溯源到28、50、75、100欧姆美国NIST标准4、双参照标准技术：测试结果可分别以泰克或Polar为参照标准5、分析功能强大：波形分析、统计分析、SPC分析、输出至EXCEL、良率分析6、测量带宽高：3GHz带宽，可测量4~5cm传输线，适应板内阻抗、柔性电路板测试新需求7、批量混合测试：单端、差分、不同阻抗值混合批量测试（PCB、FPC、FFC），产能高8、测试速度快：简化TDR仪器设置、批量快速设定参数，测试速度小于1秒/次9、自动标准化测试：自动设置测量参数，自动记录数据、自动出具报告并打印，简单、快捷、省心10、自动静电保护：具有自动静电保护功能，仪器无操作自动进入保护状态，可延长仪器使用寿命 如您想更加详细的了解我司产品，欢迎您随时来电咨询

爱思达品牌隶属正业科技，正业科技爱国达PCB阻抗测试仪主要用于解决PCB板阻抗问题，主要用于检测PCB的差分阻抗，单端阻抗，共模阻抗，回路阻抗等。PCB阻抗测试仪的详细描述： 用途：特性阻抗测试系统是采用时域反射技术设计的，能够批量化、自动化、快速、准确测试PCB迹线的特性阻抗，并提供测试波形分析、统计数据分析、自动记录测试数据、自动出具检测报告并打印等功能。适用于电路板制造厂商的研发、设计、生产及品管单位。为高频线路板特性阻抗测试提供了一套快速、准确、标准和经济的解决方案。 PCB阻抗测试仪技术参数项目规格型号TDR-ZK2130控制阻抗测试范围20～150Ω测量精度50Ω±1%测量长度0.05～2m水平显示分辨率0.2mm垂直显示分辨率0.05Ω测试方法时域反射法带宽3GHZPCB阻抗测试仪的特点： 1、批量化、自动化测试，操作简单、测试快捷，适合PCB工厂快速测试。2、Windows操作环境，友好的人机界面，自动出具测试结果。3、提供单端和差分阻抗测试。4、支持2通道、4通道及8通道测试。5、快速定制测试任务及批量化、自动化测试功能。6、集成测试文件编辑器，快速设置测试参数。7、自动记录测试数据，生成报表并保存在磁盘上。8、显示测试波形、统计数据分析及测试结果。9、打印测试报表、波形及测试结果。10、符合IPC-TM-650和IPC2141标准。PCB阻抗测试仪常见问题解决方法1校准过程中出现数值误差偏高。 产生原因：误操作导致。 解决方法：关机1个小时，重新开启进行校准。2单项删除出现软件报错。 产生原因：操作过快导致。 解决方法：需要重新开启软件。3连续48小时开机，日志没有及时更新。 产生原因：机器在长时间（超过12个小时不操作）会有自保护功能。 解决方法：重新开启软件。4水平分辨率显示部分网格消失。 产生原因：水平分辨率调节过小导致。 解决方法：水平分辨率调节到用户需要的即可。

班通科技产品简介产品基于时域反射原理，采用真差分宽带取样技术，设计实现的高带宽特性阻抗测试仪分析设备。能够自动、快速、批量、准确测试线路板及电线电缆的特性阻抗，具备波形显示与分析，适用于PCB硬板，FPC软板，电线电缆的阻抗测试。包括H045/H085/H150三种不同带宽系列产品可供选择，全面覆盖阻抗条测试，软板/硬板板内测试。带宽可达15GHz,最短测试线长1.5cm,最长可达到5米，远超国内TDR仪器水平。产品特点 1) 包括 H045/H085/H150 三种不同带宽系列产品可供选择，全面覆盖阻抗条测试，软板/硬板 板内测试。 2) 带宽可达 15GHz，最短测试线长 1.5cm，最长可达到 5m。远超越国内 TDR 仪器水平。 3) 仪器内置校准件，固化智能校准程序，开机自检校准，解决了此类仪器当前使用存在的不会 校准，校准繁琐，校准数据偏差，长时间使用时校准数据偏移等问题。 4) 可以进行阻抗条测试，搭配可调探头可进行板内阻抗测试，轻松应对 5G 类阻抗产品的测试。 5) 内置静电保护电路，可耐静电 6kV，不需要严苛的防静电试验室和穿防静电服操作，可在车 间环境中使用。 6) 采用真差分测量技术，测试精度更高。 7) 采用了高精度多点校准与自动校准相结合技术，出厂多点校准，精度更高，使用更放心。 8) 测量数据导出支持多种测量数据格式，可供 ERP 系统读取。 9) 智能化测试软件，自动抓取波形起始点和末端，设置到测试三步完成，操作简单，并且自动 抓取减少了人工错误和不同人员操作造成的偏差。 5、符合标准 1) IPC-TM-650 标准 PCB 传输线特性阻抗时域反射测试方法。 2) Intel 技术标准 PCB 测试方法（TDR 测试 PCB 特性阻抗）。3) 中国 CPCA 标准 印制板特性阻抗时域反射测试方法。 4) 各种高速串行总线国际通行标准（USB、SATA、PCI-E、HDMI、DP 等）。

用途：该仪器适用于高频线路板特性和S参数阻抗测试，为PCB制造厂商提供了一套快速、准确、标准和经济的TDR特性阻抗测试解决方案；也可用于电线电缆的特性阻抗测试。 特征：1、精度：采用高精度探头、高频同轴开关，以及时域反射、同步高分辨率采样和多点校准等技术；2、高效：测试步骤集成，多任务一键测试；3、特色：可提供测试波形分析、统计数据分析、自动记录测试数据、自动出具检测报告并打印，校准功能开放。 技术参数：项目TDR-ZK2130TDR-ZK3185测试精度±1%（50Ω）检测速度≤1s/点对象①测量范围 ： 20Ω～150 Ω①测量范围 ： 20Ω—200Ω②测量长度 ：0.05m～2m②测量长度 ：0.02m～2m带宽3GHz0.1GHz-8.5GHz损耗测试/S参数测量动态范围/可测量被测件的真实性能：＞100dB

高频阻抗分析仪介电常数测试仪HRJD-A主要技术特性：1.信号源: DDS数字合成信号 100KHZ-160MHZ2.信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数3．Q值测量范围：1～10234．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；5．电感测量范围：1nH～140mH 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能6．电容直接测量范围：1pF～25nF 7．主电容调节范围： 17～240pF 8．准确度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%9．信号源频率覆盖范围100kHz～160MHz10．合格指示预置功能范围：5～100011．环境温度：0℃～+40℃；12．消耗功率：约25W；电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。13. S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：高频阻抗分析仪介电常数测试仪HRJD-A数显式微杆，平板电容器：极片尺寸： 38mm极片间距可调范围：≥15mm夹具插头间距：25mm±0.01mm夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）测微杆分辨率：0.001mm测试极片：材料测量直径Φ38mm厚度可调 ≥ 15mm高频阻抗分析仪介电常数测试仪HRJD-A液体杯：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mmD374 　　　　固体电绝缘材料厚度的标准试验方法D618 　　　　试验用塑料调节规程D1082 　　　云母耗散因子和电容率（介电常数）试验方法D1531 　　　用液体位移法测定相对电容率（介电常数）与耗散因子的试验方法D1711 　　　电绝缘相关术语D5032 　　　用饱和甘油溶液方式维持恒定相对湿度的规程E104 　　　　用水溶液保持相对恒定湿度的标准实施规程E197 　　　　室温之上和之下试验用罩壳和服役元件规程高频阻抗分析仪介电常数测试仪HRJD-A交流损耗——对于这两种场合（作为电学绝缘材料和作为电容器电介质），交流损耗通常必须是比较小的，以减小材料的加热，同时将其对网络剩余部分的影响降至较小。在高频率应用场合，特别要求损耗指数具有一个低值，因为对于某一给定的损耗指数，电介质损耗直接随着频率而增大。在某些电介质结构中，例如试验用终止衬套和电缆所用的电介质，通常电导增加可获得损耗增大，这有时引入其来控制电压梯度。在比较具有近似相同电容率的材料时或者在材料电容率基本保持恒定的条件下使用任何材料时，这可能有助于考虑耗散因子，功率因子，相位角或损耗角。高频阻抗分析仪介电常数测试仪HRJD-A边缘现象和杂散电容——这些试验方法是以电极之间的样本电容测量，以及相同电极系统的真空电容（或空气电容，适用于多数实际用途）测量或计算为基础。对于无保护的两电极测量，要求采用两个测定值来计算电容率，而当存在不期望的边缘现象和杂散电容时（它们将包含在测量读数中），变得相当复杂。对于测量用所放置样本之间的两个无保护平行板电极场合，边缘现象和杂散电容见图5和图6所述。Ce=边缘现象或边缘电容，Cg=每个电极外表面的接地电容，CL=连接导线之间的电容，CLg=接地导线的电容，CLc=导线和电极之间的电容。只有要求的电容Cv是与外部环境无关，所有其它电容都在一定程度上取决于其它目标的接近度。有必要在两个可能的测量条件之间进行区分，以确定不期望电容的影响。当一个测量电极接地时，情况经常是这样的，所述的所有电容与要求的Cv并联，除了接地电极的接地电容及其导线之外。如果Cv放入一个试验箱之内，同时试验箱墙壁具有保护定位，连接到试验箱的导线也受到保护，则接地电容可以不再出现，此时在a-a'处的电容看起来只包括Cv和Ce。对于某一给定电极布置，当电介质为空气时，可以计算得出边缘电容Ce，同时该计算值具有适当的精度。当某一样本放置在电极之间时，边缘电容值可能发生变化，此时要求使用一个边缘电容修正值，该修正值可见表1给出的信息。在许多条件下，已经获得了经验性修正值，这些修正值见表1所示（表1适用于薄电极场合，例如箔片）。在日常工作中，当较佳精度不作要求时，很方便使用无屏蔽的两电极系统，同时进行适当的修正。因为面积（同时因此Cv）以直径平方级增大时，然而周长（同时因此Ce）随着直径线性增大时，由于忽略边缘修正导致的电容率百分比误差随着样本直径增大而减小。然而，为进行准确得测量，有必要使用受保护的电极。6.2 受保护电极——在受保护电极边缘的边缘现象和杂散电容实际上可通过增加一个按图7和图8所示的保护电极来消除。如果试验样本和保护电极越过受保护电极的延伸距离至少为2倍的样本厚度，同时保护间隙非常小，受保护区域的电场分布将与当真空为电介质时存在的分布相同，同时这两个静电容的比值为电容率。而且，激活电极之间的电场可以进行定义，真空电容也可以计算得出，其精度只受到尺寸已知的精度的限制。由于这个原因，受保护电极（三终端）方法将用于作为仲裁方法，除非另有协定。图8显示了一种完整受保护和屏蔽电极系统的图解。尽管保护通常被接地，所示布置允许接地或测量电极，或者没有电极能容纳被使用的特殊三终端测量系统。如果保护接地，或者连接到测量电路中的一个保护终端上，测量的电容为两个测量电极之间的静电容，无保护电极和导线的接地电容与要求的静电容进行并联连接。为消除该误差源，采用一个屏障连接到保护上来包围无保护电极，如图8所示。除了那些总是不方便或不实际的，且限制频率小于几兆赫兹的保护方法之外，已经设计出使用特殊电池和程序的技术，采用两终端测量，精度相当于受保护测量所获得的精度。此处所述方法包括屏蔽测微计电极（7.3.2）和液体置换方法（7.3.3）。6.3 样本几何形状——为测定某一材料的电容率和耗散因子，优选薄板样本。圆柱形样本也可以使用，但是通常具有较低的精度。电容率较大不确定度来源是样本尺寸测定，特别是样本厚度测定。因此，厚度应足够大以允许其测量值具有要求的精度。选择的厚度将取决于样本生产的方法和可能的点到点变化。对于1%精度，厚度为1.5mm(0.06in)通常是足够的，尽管对于较大的精度，要求使用一个较厚的样本。当使用箔片或刚性电极时，另一误差源是电极和样本之间的不可以避免的间隙。对于薄样本，电容率误差可大至25%。类似误差在耗散因子中也会产生，尽管当箔片电极涂覆了一种油脂时，两种误差不可能具有相同的大小。为在薄样本上获得较准确的测量值，使用液体置换方法（6.3.3）。该方法降低了或*消除了样本的电极需求。厚度必须进行测定，测量时，在电学测量所用的样本区域上进行系统性地分布测量，厚度测量值均匀性应在±1%的平均厚度之内。如果样本整个区域将被电极覆盖，同时如果已知材料密度，可通过称量法来测定平均厚度。样本直径选择应使得能提供一个具有要求精度的样本电容测量值。采用受到良好保护和遮蔽的装置，将没有困难测量电容为10pF，分辨率为1/1000的样本。如果将要测试一个低电容率的厚样本，则可能将需要直径大于等于100mm，以获得要求的电容精度。在测量较小值的耗散因子时，关键点是电极的串联电阻应不会有助于产生相当大的扩散因子，同时测量网络没有大电容的电阻应与样本进行并联连接。这些观点的靠前点是偏好厚样本；第二点建议大区域的薄样本。测微计电极方法（6.3.2）可用于消除串联电阻的影响。使用一个受保护样本固定架（图8）来将外部电容降至较低。

TDR阻抗测试仪-ZK2120用途TDR阻抗测试仪是采用时域反射技术设计的，能够批量化、自动化、快速、准确测试被测件的特性阻抗，并提供测试波形分析、统计数据分析、自动记录测试数据、自动出具检测报告并打印等功能。适用于刚性/挠性电路板、高频电缆、高频线材制造厂商的研发、设计、生产及品管单位。和传统TDR取样示波器相比，增加了针对线路板、电缆行业的标准化、自动化测试和分析软件。为特性阻抗测试提供了一套快速、准确、标准和经济的解决方案。特征1、批量化、自动化测试，操作简单、测试快捷，适合线缆工厂快速测试。2、Windows操作环境，友好的人机界面，自动出具测试结果。3、提供单端和差分阻抗测试。4、支持2通道、4通道测试。5、快速定制测试任务及批量化、自动化测试功能。6、集成测试文件编辑器，快速设置测试参数。7、自动记录测试数据，生成报表并保存在磁盘上。8、显示测试波形、统计数据分析及测试结果。9、打印测试报表、波形及测试结果。10、符合1394a/b、DiiVA、DP、HDMI1.4、SATA I/II、USB2.0/3.0等各种标准的特性阻抗测试要求。技术参数 项目 规格 型号 ；TDR-ZK2120测量功能；单端阻抗、差分阻抗、共模阻抗差分延迟、差分对内延迟差、差分对间延迟差控制阻抗测试范围 ； 单端10Ω-150Ω差分：20Ω-300Ω测量精度 ； 50Ω±1%重复测量精度 ； 50Ω±0.5%测量长度 ； 0.04m～2m水平显示分辨率； 0.2mm垂直显示分辨率； 0.03Ω测试方法 ； 时域反射法（TDR）TDR 带宽 ； TD1.75 GHZ取样示波器带宽； Sa3GHz入射脉冲上升时间； 120psTDR采样时间分辨率； 10ps

半导体热特性热阻抗测试仪系统_陕西天士立科技研发生产_平替T3Ster_Phase11热特性测试仪半导体热特性热阻抗测试仪系统_陕西天士立科技研发生产_平替T3Ster_Phase11热特性测试仪。产品符合JESD 51-1、JESD 51-14标准，用于DIODE、IGBT、MOSFET、HEMT、GTO、功率IC等多种类型功率器件及其模组瞬态热阻抗、热结构分析、结构函数输出ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统的产品特点超高精度：温度(T )分辨率0.01℃℃，1MHz变频采样:技术领先：第三代瞬态热测试技术，可输出结构函数进行热结构分析行业领先：具备4路高速高精度采集模块，采样速度，精度均达到行业顶尖水平架构领先：采用B/S架构控制系统、可远程对设备进行状态监控和控制，实现智能化 瞬态监测：连续采集加热和冷却区的结温变化，同步采集温度监控点数据 NPS技术：同步采集温度监控点(NTC/PTC)和结温数据，形成数据关系矩阵。ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统的应用场景器件结壳热阻测量ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统 散热结构分析ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统 Die-Attach热阻测量ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统 DBC/AMB基本热特性测量ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统 界面热阻测量与分析ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统 PCB板级散热结构分析ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统 散热器性能测量ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统 TIM材料热导率测试ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统 热缺陷检测ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统 ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统的“功能指标”产品品牌天士立产品型号ST-HeatX产品名称半导体热特性测试系统主要功能适用于多种类型功率器件及其模组的瞬态热阻抗、热结构分析、结构函数输出试验对象DIODE、MOSFET、IGBT/IGCT、HEMT、GTO、IC试验标准符合JESD51-1、JESD51-14、IEC 60747-8、IEC 60747-9、IEC 60747-15、IEC 60749-23、IEC 60749-34、AEC-Q101、AQG 324等相关标准要求试验模式DIODE模式SAT模式IGBT模式RDSON模式HEMT模式门控电源数量 4 输出方式 隔离输出 输出范围 -10V ~ 20V 输出误差 ≤0.1V + 0.5%set 分辨率 0.01VNTC/PTC数据同步采集NTC测量范围 250kΩ 〜 100Ω PTC测量范围 100Ω 〜 250kΩ 最高采样频率 1MHZ 同步时间误差 ≤1μs栅极漏电测量量程分辨率1nA ~ 850nA@0.01nA量程分辨率850nA ~ 1mA@0.01uA加热电源量程 30A / 10V 电流输出误差 ≤0.05A + 0.1%set 电流设定分辨率 0.01A 开关速度1μs测温电流源（主）量程 ±0.1A ~ ±1A / 10V 分辨率 1mA 误差 ≤2mA + 0.5%set测温电流源（辅）量程 0 ~ 100mA / 10V 分辨率 0.01mA 误差 0~10mA ≤50μA + 0.5%set 误差 10 ~ 100mA ≤0.5mA + 0.5%set测量通道数量 4 动态电压测量范围 ±5V(差分模式) 动态电压测量误差 ≤1mV + 0.5%set 动态电压量程 100mV、200mV、400mV、800mV 动态电压分辨率 1.6μV 采样频率 最高1MHz 采样模式 连续变频采样

变温高频阻抗设备LN-Z2-HF简介 [系统简介] 材料的基础物性研究是产品产业化的根基，当一种材料需要产业化的时候，我们必须尽可能大范围地，高精度地掌握它的大部分特性，以免因为错误的数据而影响了后期产业化的方向，造成不必要的损失。 4990EDMS-120K是东阳特克尼卡株式会社独自开发的（中国专利号：201780096021X），面向全固态电池的高频阻抗测试系统。在高达到100MHz的高频阻抗测试下，该系统可以将固态电解质的粒子和粒界阻抗进行分离。配合 -180℃ ~ +200℃的自动变温控制功能，该系统能够提供至今为止固态电解质活化能计算用最合理的内阻测量环境。 目前该测试系统自上市以来在日本国内累计销售近百套，并且获得了日本众多顶尖固态电解质材料研究机构的认可。 [系统图片] [测试项目，关键词] 固态电池交流阻抗，固态电解质交流阻抗，SOFC交流阻抗，晶粒阻抗，晶界阻抗，高频阻抗，阻抗分析 [系统特征] • 测试温度范围：-180℃ ~ +200℃，RT ~ +800℃• 最高测试频率：100MHz• 密封/加压式专用样品夹具• 专用全自动化变温控制测量软件• Z-VIEW交流阻抗分析软件• Z-ASSIST DRT频谱分析软件 [系统规格] 测量频率范围20Hz ～ 100MHzAC电压5 ｍVrms ～　1VrmsDC电压± 40 V补偿功能OPEN/ SHORT/ LOAD测量范围25 mΩ ～ 40 MΩ变温范围80K ～ 473K℃样品氛围氦气、大气或者相应气体对应选配标准样品夹具密封式样品夹具加压式样品夹具防过热套件 [选配件] 型号名称4990EDMS-120K阻抗分析仪（120MHz ~ 20Hz)构成：E4990A阻抗分析仪主机、EDMS软件、GPIB-USB转接线、42941ALN-Z2-HF高频制冷筒（80K ~ 473K, DC ~120MHz)组成：高频测试杆、温度控制器、真空泵LN-Z2-HF-SHLN-Z2-HF用　标准样品夹LN-Z2-HF-GTLN-Z2-HF用　密封式样品夹LN-Z2-HF-PHLN-Z2-HF用　加压式样品夹LN-Z2-HF-OHPLN-Z2-HF用　防过热套件 [系统优势]• 适用于固态电解质高频交流阻抗测试，有效测试频率可达100MHz，用于研究高电导率材料，纳米材料的粒子（晶粒）阻抗与粒界（晶界）阻抗，以及各种界面阻抗。• 可实现远程全自动控温管理（广域控温：-180℃~200℃，室温~800℃）。• 配备多种夹具，可应对不同条件样品，并且采用OPEN/SHORT/LOAD精测补正技术，对线路中的R/L/C阻抗进行修正，消除环境引起的噪声。• 配备交流阻抗拟合软件，DRT分析软件。 [配套高频夹具] [测试图例]*发表于Chem. Mater. 32 (2020) 8860. [常见的Q&A]Q: 这个设备对样品有什么样的要求？A: 越简单的样品越好，最好是饼状样品，扣式电池也可以。 Q: 这个与电化学工作站有什么区别？A: 能够高精度进行频率1MHz~100MHz的交流阻抗测试是该设备的优势，对于全固态电池的研究者的一大烦恼就是无法在高频段对粒子和粒界的阻抗进行分离。而这台设备就能够分离粒子与粒界，极大地加快全固态电池的开发进度。 Q: 这个设备能够测固态电池的阻抗吗？A: 可以，但会对样品有一些要求。 Q: 这个设备能够测SOFC阻抗吗？A: 不可以，但是这台设备可以配置SOFC工作所需要的高温环境用来测其固态电解质的阻抗。

冠测高频介电常数及介质损耗测试仪GCSTD--A/B主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量GB/T 21216-2007绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法GB/T 1693-2007硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法方法概述：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。备注说明:三种不同型号的仪器,主要区别是频率不同,根据自己测试频率,选择合适的型号电极规格固体：材料测量直径Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm 液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）粉体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）试样要求：固体样品厚度要求：0.5-15MM产品配置：1、测试主机：一台2、测试电感：9个3、测试夹具：1套（标配固体测试夹具一套）其它规格：1、环境温度：0℃～+40℃； 2、相对湿度：80％； 3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。4、消耗功率：约25W； 5、净重：约7kg；6、外型尺寸：（长宽高）：380×280×132（mm）

液体高频介电常数测试仪GCSTD-A/Bd主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量GB/T 21216-2007绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法GB/T 1693-2007硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法方法概述：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。备注说明:三种不同型号的仪器,主要区别是频率不同,根据自己测试频率,选择合适的型号电极规格固体：材料测量直径Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm 液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）粉体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）试样要求：固体样品厚度要求：0.5-15MM产品配置：1、测试主机：一台2、测试电感：9个3、测试夹具：1套（标配固体测试夹具一套）其它规格：1、环境温度：0℃～+40℃； 2、相对湿度：80％； 3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。4、消耗功率：约25W； 5、净重：约7kg；6、外型尺寸：（长宽高）：380×280×132（mm）

固体绝缘高频介电常数测试仪GCSTD-A/Ba主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量GB/T 21216-2007绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法GB/T 1693-2007硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法方法概述：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。备注说明:三种不同型号的仪器,主要区别是频率不同,根据自己测试频率,选择合适的型号电极规格固体：材料测量直径Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm 液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）粉体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）试样要求：固体样品厚度要求：0.5-15MM产品配置：1、测试主机：一台2、测试电感：9个3、测试夹具：1套（标配固体测试夹具一套）其它规格：1、环境温度：0℃～+40℃； 2、相对湿度：80％； 3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。4、消耗功率：约25W； 5、净重：约7kg；6、外型尺寸：（长宽高）：380×280×132（mm）

中科微纳高频介电常数测试仪GCSTD-AB主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量GB/T 21216-2007绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法GB/T 1693-2007硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法方法概述：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。备注说明:三种不同型号的仪器,主要区别是频率不同,根据自己测试频率,选择合适的型号电极规格固体：材料测量直径Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm 液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）粉体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）试样要求：固体样品厚度要求：0.5-15MM产品配置：1、测试主机：一台2、测试电感：9个3、测试夹具：1套（标配固体测试夹具一套）其它规格：1、环境温度：0℃～+40℃； 2、相对湿度：80％； 3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。4、消耗功率：约25W； 5、净重：约7kg；6、外型尺寸：（长宽高）：380×280×132（mm）

新款高频介电常数测试仪GCSTD-A/Bc主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量GB/T 21216-2007绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法GB/T 1693-2007硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法方法概述：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。备注说明:三种不同型号的仪器,主要区别是频率不同,根据自己测试频率,选择合适的型号电极规格固体：材料测量直径Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm 液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）粉体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）试样要求：固体样品厚度要求：0.5-15MM产品配置：1、测试主机：一台2、测试电感：9个3、测试夹具：1套（标配固体测试夹具一套）其它规格：1、环境温度：0℃～+40℃； 2、相对湿度：80％； 3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。4、消耗功率：约25W； 5、净重：约7kg；6、外型尺寸：（长宽高）：380×280×132（mm）

电瓷高频介电常数测试仪GCSTD-A/Bf主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量GB/T 21216-2007绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法GB/T 1693-2007硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法方法概述：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。备注说明:三种不同型号的仪器,主要区别是频率不同,根据自己测试频率,选择合适的型号电极规格固体：材料测量直径Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm 液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）粉体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）试样要求：固体样品厚度要求：0.5-15MM产品配置：1、测试主机：一台2、测试电感：9个3、测试夹具：1套（标配固体测试夹具一套）其它规格：1、环境温度：0℃～+40℃； 2、相对湿度：80％； 3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。4、消耗功率：约25W； 5、净重：约7kg；6、外型尺寸：（长宽高）：380×280×132（mm）

复合材料高频介电常数测试仪GCSTD-A/Bh主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量GB/T 21216-2007绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法GB/T 1693-2007硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法方法概述：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。备注说明:三种不同型号的仪器,主要区别是频率不同,根据自己测试频率,选择合适的型号电极规格固体：材料测量直径Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm 液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）粉体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）试样要求：固体样品厚度要求：0.5-15MM产品配置：1、测试主机：一台2、测试电感：9个3、测试夹具：1套（标配固体测试夹具一套）其它规格：1、环境温度：0℃～+40℃； 2、相对湿度：80％； 3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。4、消耗功率：约25W； 5、净重：约7kg；6、外型尺寸：（长宽高）：380×280×132（mm）

冠测仪器高频损耗介电常数测试仪GCSTD-AB.2主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量GB/T 21216-2007绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法GB/T 1693-2007硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法方法概述：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。备注说明:三种不同型号的仪器,主要区别是频率不同,根据自己测试频率,选择合适的型号电极规格固体：材料测量直径Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm 液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）粉体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）试样要求：固体样品厚度要求：0.5-15MM产品配置：1、测试主机：一台2、测试电感：9个3、测试夹具：1套（标配固体测试夹具一套）其它规格：1、环境温度：0℃～+40℃； 2、相对湿度：80％； 3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。4、消耗功率：约25W； 5、净重：约7kg；6、外型尺寸：（长宽高）：380×280×132（mm）

高频/音频介电常数测试仪作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz。 高频/音频介电常数测试仪GDAT-A技术参数：1．Q值测量a．Q值测量范围：2～1023。b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差 频率范围（100kHz～10MHz）： 频率范围（10MHz～160MHz）： 固有误差：≤5％±满度值的2% 固有误差：≤6％±满度值的2% 工作误差：≤7％±满度值的2% 工作误差：≤8％±满度值的2%2．电感测量范围：4.5nH~7.9mH3．电容测量：1~205 主电容调节范围：18～220pF 准确度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明4. 信号源频率覆盖范围 频率范围CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz, CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,5．Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。6．B-测试仪正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。7．其他a．消耗功率：约25W；b．净重：约7kg；c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。高频/音频介电常数测试仪GDAT-A测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。影响介电性能的因素 下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。1频率 因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的 。r和 tans几乎是恒定的，且被用作工程电介质材料，然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。 电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生，重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的.2温度 损耗指数在一个频率下可以出现一个大值，这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的，这取决于在测量温度下的介质损耗指数大值位置。3湿度 极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加，其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是必不可少的. 注:湿度的显著影响常常发生在 1MHz以下及微波频率范围内4电场强度 存在界面极化时，自由离子的数目随电场强度增大而增加，其损耗指数大值的大小和位置也随此而变。 在较高的频率下，只要电介质中不出现局部放电，电容率和介质损耗因数与电场强度无关测量方法的选择： 高频/音频介电常数测试仪GDAT-A测量电容率和介质损耗因数的方法可分成两种:零点指示法和谐振法。1 零点指示法适用于频率不超过50 MHz时的测量。测量电容率和介质损耗因数可用替代法 也就是在接人试样和不接试样两种状态下，调节回路的一个臂使电桥平衡。通常回路采用西林电桥、变压器电桥(也就是互感藕合比例臂电桥)和并联 T型网络。变压器电桥的优点:采用保护电极不需任何外加附件或过多操作，就可采用保护电极 它没有其他网络的缺点。2 谐振法适用于10 kHz一几百MHz的频率范围内的测量。该方法为替代法测量，常用的是变电抗法。但该方法不适合采用保护电极。 注:典型的电桥和电路示例见附录。附录中所举的例子自然是不全面的，叙述电桥和侧量方法报导见有关文献和该种仪器的原理说明书。试验报告 试验报告中应给出下列相关内容: 绝缘材料的型号名称及种类、供货形式、取样方法、试样的形状及尺寸和取样 日期(并注明试样厚度和试样在与电极接触的表面进行处理的情况) 试样条件处理的方法和处理时间 电极装置类型，若有加在试样上的电极应注明其类型 测量仪器 试验时的温度和相对湿度以及试样的温度 施加的电压 施加的频率 相对电容率ε(平均值) 介质损耗因数 tans(平均值) 试验 日期 相对电容率和介质损耗因数值以及由它们计算得到的值如损耗指数和损耗角，必要时，应给出与温度和频率的关系。特点： ◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。◎ 能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。◎ Q值量程自动/手动量程控制。◎ DPLL合成发生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz测试信号。独立信号 源输出口，所以本机又是一台合成信号源。◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。介质损耗：绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。在交变电场作用下，电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角（功率因数角Φ）的余角δ称为介质损耗角。损耗因子也指耗损正切，是交流电被转化为热能的介电损耗（耗散的能量）的量度，一般情况下都期望耗损因子低些好概念：电介质在外电场作用下，其内部会有发热现象，这说明有部分电能已转化为热能耗散掉，电介质在电场作用下，在单位时间内因发热而消耗的能量称为电介质的损耗功率，或简称介质损耗（diclectric loss）。介质损耗是应用于交流电场中电介质的重要品质指标之一。介质损耗不但消耗了电能，而且使元件发热影响其正常工作。如果介电损耗较大，甚至会引起介质的过热而绝缘破坏，所以从这种意义上讲，介质损耗越小越好。主要技术特性：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法） 高频/音频介电常数测试仪GDAT-A原始包装：请保留所有的原始包装材料，如果机器必须回厂维修，请用原来的包装材料包装。并请先与制造厂的维修中心联络。送修时，请务必将全部的附件一起送回，请注明故障现象和原因。另外，请在包装上注明“易碎品”请小心搬运。安全注意事项：开机之前，敬请仔细阅读本 使用指南，以防止出现对操作人员的意外伤害或对仪器的损坏等的事件。操作前，请阅读“安装与设置”，保证对仪器各部件的正确安装与连接。在*次操作前，务必请有操作经验的人员进行指导，防止误操作造成意外事件的发生。电击危险： 确保在安装或维修该仪器之前使所有导线断电，防止在带电情况下，对人员或设备造成伤害。注意事项: 1、该仪器初始的包装材料需小心保存，安装需由本公司的专业技术人员进行操作。2、若仪器由于任何原因必须返修，必须将其装入原纸箱中以防运输途中损坏。3、在开机前，操作者要首先熟悉操作方法。电性能检测仪器：介电强度测试仪、体积表面电阻率测试仪、介电常数介质损耗测试仪、漏电起痕试验仪、耐电弧试验仪；塑料橡胶性能检测仪器：无转子硫化仪、门尼粘度试验机、热变形维卡温度测定仪、简支梁冲击试验机、毛细管流变仪、橡胶塑料滑动摩擦试验机物理性能检测仪器：氧指数测定仪、水平垂直燃烧试验机、熔体流动速率测定仪、低温脆性测试仪力学性能试验机：试验机北广其他检测海绵仪器：海绵泡沫压陷硬度测试仪、海绵泡沫落球回弹测试仪、海绵泡沫压缩变形试验仪另外我公司有：环境测试仪器、生物制药测试仪器、动物行为测试仪、环境监测试验仪* 我要求购：* 我的姓名：* 我的单位：* 我的电话：* 我的邮箱：我的地址：所属省份北京市天津市河北省山西省内蒙古自治区辽宁省吉林省黑龙江省上海市江苏省浙江省安徽省福建省江西省山东省河南省湖北省湖南省广东省广西壮族自治区海南省重庆市四川省贵州省云南省西藏自治区陕西省甘肃省青海省宁夏回族自治区新疆维吾尔自治区香港特别行政区澳门特别行政区台湾省其它所属城市所属地区* 信息有效期：10天20天一个月三个月半年 信息展示过期后将自动下线，如还需采购可重新发布信息具体要求：* 验证码： 看不清？

多通道电池阻抗测试系统— 可与电池循环充放电设备联用— 适合各种电池、燃料电池、超级电容器等能源样品的阻抗测试 l 最大电流5A，最大电压6Vl EIS最大交流振幅：3V、5Al EIS阻抗频率范围：10μHz-100kHzl 准确测量微欧级（μΩ）超低样品阻抗l 双静电计：电池阴阳极同步阻抗测试l 同时连接8个样品l 配备8根3米长的电极线l 通过以太网或usb方式进行数据传输l 浮地设计 交流阻抗技术已经成为许多领域不可或缺的表征手段，Gamry最新研发的EIS Box阻抗序列测试盒，结合Interface5000电化学工作站，是专为能源样品测试而打造的多样品阻抗测试系统。8个通道进行序列测试，尤其适合样品量大的情况；连续测试，无需值守，充分提高用户的时间利用率。 该系统可与电池循环充放电设备联用，在对电池充放电的同时，进行阻抗序列测试，也适合超级电容器、燃料电池等样品的阻抗测试。 仪器电流高达5A，内置FRA技术，非常适合能源样品的阻抗测试，可以准确测量低至μΩ级的样品交流阻抗。同时配备双静电计，能够对电池进行全面测试，同步测试电池阴极和阳极阻抗，同时获取阴极、阳极和全电池数据，实现阻抗随时间的漂移最小化。 —全面、自动测试电池阻抗！依次可对多达8个电池进行阻抗测试EIS Box是一款8通道多路复用器，专为电池（还有超级电容器或燃料电池等其他体系）的阻抗测量而设计，通常与电池循环充放电设备配合使用。 EIS Box采用浮地技术，EIS测试范围100 kHz-10μHz，并配备3U 19英寸机架式机箱。 最高可同时连接8个样品，进行8通道阻抗测试 最大电流5A，最大电压6V EIS最大交流振幅：3V、5A EIS阻抗频率范围：10μHz-100kHz 包含3根电缆线 基于以太网 每个通道电压可达6V 准确测量微欧级（μΩ）超低样品阻抗 双静电计：电池阴阳极同步阻抗测试 EIS Box配有8根3米长的电池线，与电池测试仪或循环充放电设备配合使用完成提供阻抗测试。电池测试仪循环充放电设备可提供电池的循环测试。它可以安装在19英寸机架中（类似于ECM8多路复用器）。通过以太网或USB连接到EIS Box。 与恒电位仪的USB连接一样，EIS Box必须与电脑保持持续接通状态才能成功运行实验。通过以太网连接是通过直接连接到计算机或仅通过本地网络连接 无法通过互联网连接。 交流阻抗技术已经成为许多领域不可或缺的表征手段，Gamry最新研发的EIS Box阻抗序列测试盒，结合Interface5000电化学工作站，是专为能源样品测试而打造的多样品阻抗测试系统。8个通道进行序列测试，尤其适合样品量大的情况；连续测试，无需值守，充分提高用户的时间利用率。 该系统可与电池循环充放电设备联用，在对电池充放电的同时，进行阻抗序列测试，也适合超级电容器、燃料电池等样品的阻抗测试。 仪器电流高达5A，内置FRA技术，非常适合能源样品的阻抗测试，可以准确测量低至μΩ级的样品交流阻抗。同时配备双静电计，能够对电池进行全面测试，同步测试电池阴极和阳极阻抗，同时获取阴极、阳极和全电池数据，实现阻抗随时间的漂移最小化。

仪器简介： ModuLab XM MTS(材料电特性测试系统)是模块化的，完全整合的研究系统，可用来测试从绝缘体到超导体的大部分材料的电学性质。此测试系统即提供时域技术，如恒定电流，通过脉冲电压和扫描电压(I-V)确定材料的电学性能；又提供AC技术如阻抗、电容、C-V或者Mott-Schottky来提供更多细节信息进一步分析材料的导电机理；并且仪器提供一系列可选模块，扩展了测试范围，如高电压、样品/参比、功率放大器和低电流测试；高/低温系统及样品架配件更提高了其测试能力。系统有两种尺寸配置，满足不同预算，可以配合您的研究，为您量身定做，适应和拓展您的研究深度和广度。● 时域技术包括I-V，恒定DC，脉冲电位以及电位扫描。● AC技术包括阻抗，电容，介电常数，电气模型，C-V以及Mott-Schottky。● 高性能&ldquo 即插即用&rdquo 模块，可选模块扩展了测试范围&mdash 高电压、样品/参比、功率放大器和低电流测试。● 高/低温系统及样品架配件包括低温系统、高温炉等。1296A 超高阻抗测试接口 为分析低电导率、低损耗材料要扩展即使是最好的频响分析仪的能力。阻抗仪（1260）单独使用时，已不能有效地解决上述问题。1296 超高阻抗测试仪接口克服了这些限制，提供一个范围超过了12个数量级的快速、精确、可重复的阻抗测量，阻抗测量超过100T&Omega （1014&Omega ），可洞察各种材料包括聚合物、橡胶、木材、粘胶剂、电子元件、石腊及油类等的特性。与易于操作的软件相结合，系统能照应实验技术而让你集中精力于所得结果的分析。 1296 增强了输力强公司知名的频响仪1260、1255 去解决在测试介电材料所遭遇到的超低电流及电容的能力，能够做到：● 阻抗测量超过100T&Omega （1014&Omega ），测试范围从100&Omega -100T&Omega ，达12个数量级；● 精确测量介质损耗，tan&delta 10-4；● 频率范围：10&mu Hz ～10MHz；● 可施加交流信号电压及直流偏压● 施加高达1000V电压（用外接高压源或放大器）● 去揭示先前难于达到的一些基本数据。1294A生物材料阻抗接口 1294A阻抗接口已经克服了生物材料在低电流测试中精度低的难题，并可满足现在或将来对生物活体组织的性能测试。它虽然不能提供象1296A那样的灵敏度，但是它符合IEC601医疗器械标准，可以对生物活性物质检测。

仪器简介： ModuLab XM MTS(材料电特性测试系统)是模块化的，完全整合的研究系统，可用来测试从绝缘体到超导体的大部分材料的电学性质。此测试系统即提供时域技术，如恒定电流，通过脉冲电压和扫描电压(I-V)确定材料的电学性能；又提供AC技术如阻抗、电容、C-V或者Mott-Schottky来提供更多细节信息进一步分析材料的导电机理；并且仪器提供一系列可选模块，扩展了测试范围，如高电压、样品/参比、功率放大器和低电流测试；高/低温系统及样品架配件更提高了其测试能力。系统有两种尺寸配置，满足不同预算，可以配合您的研究，为您量身定做，适应和拓展您的研究深度和广度。● 时域技术包括I-V，恒定DC，脉冲电位以及电位扫描。● AC技术包括阻抗，电容，介电常数，电气模型，C-V以及Mott-Schottky。● 高性能&ldquo 即插即用&rdquo 模块，可选模块扩展了测试范围&mdash 高电压、样品/参比、功率放大器和低电流测试。● 高/低温系统及样品架配件包括低温系统、高温炉等。1296A 超高阻抗测试接口 为分析低电导率、低损耗材料要扩展即使是最好的频响分析仪的能力。阻抗仪（1260）单独使用时，已不能有效地解决上述问题。1296 超高阻抗测试仪接口克服了这些限制，提供一个范围超过了12个数量级的快速、精确、可重复的阻抗测量，阻抗测量超过100T&Omega （1014&Omega ），可洞察各种材料包括聚合物、橡胶、木材、粘胶剂、电子元件、石腊及油类等的特性。与易于操作的软件相结合，系统能照应实验技术而让你集中精力于所得结果的分析。 1296 增强了输力强公司知名的频响仪1260、1255 去解决在测试介电材料所遭遇到的超低电流及电容的能力，能够做到：● 阻抗测量超过100T&Omega （1014&Omega ），测试范围从100&Omega -100T&Omega ，达12个数量级；● 精确测量介质损耗，tan&delta 10-4；● 频率范围：10&mu Hz ～10MHz；● 可施加交流信号电压及直流偏压● 施加高达1000V电压（用外接高压源或放大器）● 去揭示先前难于达到的一些基本数据。1294A生物材料阻抗接口 1294A阻抗接口已经克服了生物材料在低电流测试中精度低的难题，并可满足现在或将来对生物活体组织的性能测试。它虽然不能提供象1296A那样的灵敏度，但是它符合IEC601医疗器械标准，可以对生物活性物质检测。

材料阻抗测试设备MIA简介 [系统简介] 材料的基础物性研究是产品产业化的根基，当一种材料需要产业化的时候，我们必须尽可能大范围地，高精度地掌握它的大部分特性，以免因为错误的数据而影响了后期产业化的方向，造成不必要的损失。 MIA系列是东阳特克尼卡株式会社与ZURICH联合开发，面向各种介电材料的交流阻抗评测系统。该系统搭配了独有的OSL补偿系统，实现了高达0.2%的测量误差精度。 [系统图片] [测试项目，关键词] 介电材料，交流阻抗，电容测量，配位化合物，离子导电材料，调色剂，有机半导体 [系统特征] • 可对应最大1T?的样品- 适用于介电材料，配位化合物，离子导电材料，调色剂，有机半导体等• 高精度- 基础测量精度0.2%- 带有OSL校正• 专用软件- HIMS全自动控制测量软件- Z-View等阻抗分析软件• 各种专业配件- 适用于各种不同材料形态尺寸样品的夹具选配件- 适用于各种气体氛围，环境和温度的选配件 [系统规格] 样品接触方式2端接触频率范围1mHz ～5MHz基本测量精度0.20%阻抗测量范围100Ω ～ 1TΩ电容测量范围1pF ～ 1mF介电损耗（tanδ）测量范围0.0001 ～ 1000施加电压（AC + DC Vpp）-10V ～ +10V校正功能OSL控制软件附带HIMS软件，PC控制 [选配件] • 电压放大功能- 最高DC：±4kV、AC：800Vpp，带特殊保护装置。• 样品夹具/温度控制型号TTPXLN-Z2恒温箱＋SH2-ZHT-22-1000UHT-22-1200名称低温探针台广域温度控制台耐热样品台桌面型烘箱超高温烘箱温度控制范围4.2K ～ 425K80K ~ 473K-60℃ ～ +150℃100℃ ～ 1,000℃100℃ ～ 1,200℃※根据型号冷媒不同样品接触方式探针上下夹扣上下电极上下夹扣上下夹扣氛围气体控制真空，气体置换真空，气体置换规格不同不同对应流气量控制流气量控制 [测试图例]

变压器短路阻抗测试仪参数电压量程15V ～ 500V（可PT扩展），精度：±(读数×0.2% ＋0.05%(量程))电流量程0.5A～ 15A（内部），精度：±(读数×0.2% ＋0.05%(量程))0.5A～ 50A（外部）（可CT扩展），精度：±(读数×0.2% ＋0.05%(量程))阻抗量程0～100功率因数0.02 ＜ cosΦ ＜0.1，精度：±(读数×1.0% ＋0.05%(量程))cosΦ ≥0.1，精度：±(读数×0.5% ＋0.05%(量程))频率测量45～65Hz分辨率5位有效数字主机尺寸405×330×180mm3主机重量9.5kg 使用条件环境温度－10℃～50℃环境湿度≤85℅RH工作电源AC220V ±10%产品特征1、仪器具有单相阻抗、三相阻抗、零序阻抗（星型带中性点）测量以及空、负载测量功能2、仪器具有两种电源模式：内部电源和外接单相调压器3、仪器的电压、电流测试量程宽，精度高4、采用7.0英寸触摸屏，操作简便5、内置大容量非易失性存储器，可存储160组数据6、内置高速微型热敏打印机，可打印测量数据7、内置高精度时钟，实时显示时间8、具有U盘存储功能低电压短路阻抗试验是鉴定变压器在运输或安装时受到机械力撞击或运行中受到短路电流冲击，检查其绕组是否变形的方法，它对于判断变压器能否投入运行具有重要的意义，也是判断变压器是否进行解体检查的依据之一。低电压短路阻抗测试仪适用于电力变压器（单相或三相）出厂、交接、预试以及大修的低电压阻抗测试，是检查变压器有无绕组变形的快速测试仪器。产品别称：变压器短路阻抗测试仪、阻抗测试仪、变压器低电压短路阻抗测试仪、变压器短路阻抗测试仪、变压器绕组变形测试仪、变压器短抗测试仪

介电常数测试仪工作频率范围是10kHz～160MHz,它能完成工作频率内材料的高频介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。 本仪器中测试装置是由平板电容器和测微圆筒线性电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。 工作特性 1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023； b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；c．标称误差频率范围 25kHz～10MHz 固有误差≤5％±满度值的2% 工作误差≤7％±满度值的2% 频率范围 10MHz～60MHz 固有误差 ≤6％±满度值的2% 工作误差≤8％±满度值的2%电感测量范围 14.5nH～8.14H直接测量范围 1-460P 主电容调节范围 40～500pF 准确度 150pF以下±1.5pF；150pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见使用方法。 信号源频率覆盖范围频率范围 10kHz～70MHzCH1 10～99.9999kHz CH2 100～999.999kHz CH3 1～9.99999MHz CH4 10～70MHz 频率指示误差3×10-5±1个字 5．Q合格指示预置功能：预置范围：5～1000 6．Q表正常工作条件 a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。 7．其他 a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c.外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。 介电常数的定义 介电常数描述的是材料与电场之间的相互作用。介电常数 (K*)等于复数相对介电常数(ε*r)，或复数介电常数(ε*)与真空介电常数(ε0)的比值。复数相对介电常数的实部(ε'r) 表示外部电场有多少电能储存到材料中；对于绝大多数固体和液体来说，ε'r1。复数相对介电常数的虚部(ε"r) 称为损耗系数，表示材料中储存的电能有多少消耗或损失到外电场中。ε"r始终0，且通常远远小于ε'r。损耗系数同时包括介电材料损耗和电导率的效应。 如果用简单的矢量图表示复数介电常数，那么实部和虚部的相位将会相差90°。其矢量和与实轴(ε'r)形成夹角δ。通常使用这个角度的正切值tanδ或损耗角正切来表示材料的相对“损耗”。 使用平行板法测量介电常数 当使用阻抗测量仪器测量介电常数时，通常采用平行板法。平行板法在ASTM D150标准中又称为三端子法，其原理是通过在两个电极之间插入一个材料或液体薄片组成一个电容器，然后测量其电容，根据测量结果计算介电常数。在实际测试装置中，两个电极配备在夹持介电材料的测试夹具上。阻抗测量仪器将测量电容(C)和耗散(D)的矢量分量，然后由软件程序计算出介电常数和损耗角正切。 当简单地测量两个电极之间的介电材料时，在电极边缘会产生杂散电容或边缘电容，从而使得测得的介电材料电容值比实际值大。边缘电容会导致电流流经介电材料和边缘电容器，从而产生测量误差。 使用保护电极，可以消除边缘电容所导致的测量误差。保护电极会吸收边缘的电场，所以在电极之间测得的电容只是由流经介电材料的电流形成，这样便可以获得准确的测量结果。当结合使用主电极和保护电极时，主电极称为被保护电极。接触电极法 这种方法通过测量与被测材料（MUT）直接接触的电极的电容来推导出介电常数。 介电常数和损耗角正切通过以下公式 计算: 其中Cp: MUT的等效平行电容 [F] D: 耗散系数 (测量值) tm: MUT 的平均厚度 [m] A: 被保护电极的表面积 [m2] d: 被保护电极的直径 [m] ε0: 自由空间的介电常数 =8.854 x 10-12 [F/m] 接触电极法不需要制备任何材料，而且测量操作非常简单，因此得到zui广泛的使用。不过在用这种方法进行测量时，如果没有考虑到空气间隙及其影响，那么可能会产生严重的测量误差。 当电极直接接触 MUT 时，MUT 与电极之间会形成一个空气间隙。无论 MUT 两面组成得多么平坦和平行，都不可避免会产生空气间隙。这个空气间隙会导致测量结果出现误差，因为测量的电容实际上是介电材料与空气间隙串联结构的电容。 通过用薄膜电极接触介电材料的表面，可以减小空气间隙的影响。虽然需要进行额外的材料制备 (制作薄膜电极)，但可以实现zui准确的测量。 ※非接触电极法 非接触电极法从概念上来说融合了接触电极法的优势，并避免了其缺点。它不需要薄膜电极，但仍可解决空气间隙效应。根据在有 MUT 和没有 MUT 时获得的两个电容测量结果推导出介电常数。 理论上，电极间隙 (tg)应比 MUT的厚度 (tm) 略微小一点。换句话说，空气间隙(tg-tm) 应远远小于 MUT 的厚度(tm)。要想正确执行测量，必须满足这些要求。zui少要进行两次电容测量，以便使用测量结果计算介电常数。 平行板测量法的比较 方法： 接触电极 (不使用薄膜电极) 非接触电极 接触电极 (使用薄膜电极) 精度 低 中 高 适用的MUT 具有平滑表面的固体材料 具有平滑表面的固体材料 薄膜电极必须应用到表面 操作 1次测量 2次测量 1次测量 使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法） 标签：介电常数测试仪 介电常数介质损耗测试仪 绝缘介电常数测试仪