鼎力介电常数测试仪

鼎力 介电常数测试仪 LJD-B一、概述：LJD-B型介电常数及介质损耗测试仪是我公司 研制生产的产品，自该产品实现销售后，我公司工程师就一直持续不断对产品改进升级；特别是在软件上不断地加以完善，改进了早期产品存在的不足之处，提高了测试精度，并增加新的功能。但近期我公司发现，一些没有研发能力的不良公司，盗版了我公司早期产品的软件，仿制假冒我公司的产品进行销售，给不了解情况的客户将带来损失。因为这些产品的软件存在不足之处，（如在主电容调节至80pf左右时，电容指示值会出现跳变，出现180pf左右的指示值；在介质损耗测试时，当材料的损耗较大时，介质损耗值会出现错误。）但又无法得到升级完善，产品没有新增的功能。因此请广大用户注意识别。二、技术参数：信号源频率范围： DDS数字合成 10KHz-70MHz Q测量范围： 1-1000自动/手动量程信号源频率覆盖比： 6000:1 Q分辨率： 4位有效数,分辨率0.1信号源频率精度： 3×10-5 ±1个字,6位有效数 Q测量工作误差： 5%电感测量范围： 15nH-8.4H,4位有效数,分辨率0.1nH 调谐电容： 主电容30-500PF电感测量误差： 5%调谐电容误差和分辨率： ±1.5P或1%标准测量频点： 全波段任意频率下均可测试 Q合格预置范围： 5-1000声光提示谐振点搜索： 自动扫描Q量程切换： 自动/手动谐振指针： LCD显示 LCD显示参数： F,L,C,Q,波段等三、夹具工作特性1.平板电容器：极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可选极片间距可调范围：≥15mm2. 夹具插头间距：25mm±0.01mm3. 夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）4．测微杆分辨率：0.001mm四、配置：主机一台电感九支夹具一套随机文件一套

LJD-A型介电常数及介质损耗测试仪一、概述： LJD-A型介电常数及介质损耗测试仪是一种通用的，多用途，多量程的高频阻抗测量仪器。它可测量高频电感器，高频电容器及各种谐振元件的品质因数（Q值）、电感量、电容量、分布电容、分布电感，也可测量高频电路组件的有效串、并联电阻、传输线的特征阻抗、电容器的损耗角正切值、电工材料的高频介质损耗、介质常数等等。因而高频Q表不但广泛用于高频电子元件和材料的生产、科研、品质管理等部门、也是高频电子和通信实验室的常用仪器。它的测试回路采用了优化的设计、优质的介质材料和优良的涂覆工艺使残值减少。其高频信号源是采用DDS数字合成、Q值测定和显示部分运用了微机技术和智能化管理，数码锁定信号源频率，谐振回路自动搜索，测试标频自动设置技术，使得测试精度更高，使生产线分选测试速度大增。二、技术参数：Q值测量：1-999 三位数显，自动切换量程，可手动设置测量量程固有误差：≤5%±满度值的2%工作误差：≤7%±满度值的2%电感测量：0.1μH-1H 误差5%±0.03μH测试频率：10kHz-60MHz 五位数显 DDS数字合成具有频标自动设置,自动搜索谐振点,Q值合格设置,声光指示频率误差：3×10-5±1个字调谐电容：主电容：40-500PF 误差±1%或 1PF微调电容：±3PF 分辨率0.2PF三、夹具工作特性 ：1.平板电容器：极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm可选极片间距可调范围：≥15mm2. 夹具插头间距：25mm±0.01mm3. 夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）4．测微杆分辨率：0.001mm配置：主机一台电感九支夹具一套随机文件一套典型用户:排名不分前后上海溯测检验检测有限公司 常州市华阳光伏检测技术有限公司依工聚合工业（吴江）有限公司 育群高精密橡胶制品（深圳）有限公司安丘市大德通塑业有限公司 杭州金州高分子科技有限公司方圆（天津）汽车零部件有限公司 景德镇陶瓷学院鹰潭市康大塑胶有限公司 广东四方威凯新材料有限公司成都电子科技大学 青岛海源通塑料厂大连理工大学 广州华南理工大学上海空间电源研究所 上海金由氟材料有限公司江苏合成新材料有限公司 江西宏特绝缘材料有限公司中国科学院北京纳米能源与系统研究所 中国建材检验认证集团有限公司中国 汽车股份有限公司技术中心 中国航天科技集团烽火机械厂沈阳化工股份有限公司 山西省医疗器械检测中心广东计量测试技术服务中心 北京博华信智科技股份有限公司德昌电机（深圳）有限公司 康龙化成（北京）新药技术有限公司中电科微波通信（上海）股份有限公司 大庆市坤田化工科技有限公司河北华夏实业有限公司 湘潭电机股份有限公司中国人民解放军军事医学科学院试验仪器厂 重庆中科力泰高分子材料股份有限公司杭州包尔得有机硅有限公司 江西腾徳实业有限公司清华大学 泰安鲁怡高分子材料有限公司一、售后服务承诺 1、质量保证：北京中航鼎力仪器设备有限公司作为设备供应商，我公司对所提供的产品均为厂家原厂原包装，符合国家标准，并提供产品技术资料(包含安装说明书，产品装箱目录、产品中文使用说明书、合格证及保修凭证等)。 2、产品交货期：尽量按用户要求，若有特殊要求，需提前完工的，我公司可特别组织生产、安装，力争满足用户需求。 3、保修承诺：我司对本次协议供货有效期内所提供的所有产品保质期 ，有效期内所提供的产品，提供正常工作日全天侯服务，终身技术服务支持。 4、响应时间：保修期内，产品若发生故障，在接到贵公司报修后，24小时内帮客户解决问题。 5、服务体系：作为设备供应商本公司对本次招标所提供的产品提供保障体系： 当设备出现故障，必要时将派指定的专业技术员在规定时间内上门维修或寄修，产生的运费由本公司承担。 二、产品价格承诺 1、在同等竞争条件下，我公司在不以降低产品技术性能、更改产品部件为代价的基础上，真诚以 惠的价格提供给贵方。 2、在保修期内供方将免费维修和更换属质量原因造成的零部件损坏，保修期外零部件的损坏，提供的配件只收成本费，由需方人为因素造成的设备损坏，供方维修或提供的配件均按成本价计。 三、售后服务保证 公司实力保障：本公司有完善的售后服务体系 四、投诉体系及联系方式 1、 如果您对我们的服务有意见，请向技术部调度员或维修部经理投诉。 2、 对用户所投诉的问题，核实是我们责任的，将对管理人员及经办人员进行不同程度的惩处。如不是我司的责任，相关人员也将向用户解释，希望用户能给予我们 的支持。

产品名称：介电常数测试仪产品型号：LJD-B、LJD-C、QS-37符合标准：GB/T1409、GB/T5594产品用途：固体、液体绝缘材料的介电常数及介质损耗测试适用材料：橡胶塑料薄膜、陶瓷玻璃、绝缘材料、高分子材料等测试范围：10KHZ-70MHZ、100KHZ-160MHZ主要配置：主机Q表、夹具、电感组成测试项目：介电常数、介质损耗、介质损耗因数、介质损耗角正切值使用人群：科研所、教学、质量监督局、军工单位等付款方式：全款发货产品品牌：中航鼎力产品货期：1-3个工作日产品类别：电性能检测仪器ASTMD150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法1本标准是以固定代号D150发布的。其后的数字表示原文本正式通过的年号；在有修订的情况下，为上一次的修订年号；圆括号中数字为上一次重新确认的年号。上标符号（ε）表示对上次修改或重新确定的版本有编辑上的修改。本标准经批准用于国防部所有机构。1.介电常数测试仪范围1.1本试验方法包含当所用标准为集成阻抗时，实心电绝缘材料样本的相对电容率，耗散因子，损耗指数，功率因子，相位角和损耗角的测定。列出的频率范围从小于1Hz到几百兆赫兹。注1：在普遍的用法，“相对”一词经常是指下降值。1.2这些试验方法提供了各种电极，装置和测量技术的通用信息。读者如对某一特定材料相关的议题感兴趣的话，必须查阅ASTM标准或直接适用于被测试材料的其它文件。2,31.3本标准并没有完全列举所有的安全声明，如果有必要，根据实际使用情况进行斟酌。使用本规范前，使用者有责任制定符合安全和健康要求的条例和规范，并明确该规范的使用范围。特殊危险说明见7.2.6.1和10.2.1。

产品名称：介电常数测试仪产品型号：LJD-B、LJD-C、QS-37符合标准：GB/T1409、GB/T5594产品用途：固体、液体绝缘材料的介电常数及介质损耗测试适用材料：橡胶塑料薄膜、陶瓷玻璃、绝缘材料、高分子材料等测试范围：10KHZ-70MHZ、100KHZ-160MHZ主要配置：主机Q表、夹具、电感组成测试项目：介电常数、介质损耗、介质损耗因数、介质损耗角正切值使用人群：科研所、教学、质量监督局、军工单位等付款方式：全款发货产品品牌：中航鼎力产品货期：1-3个工作日产品类别：电性能检测仪器ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法1本标准是以固定代号D150发布的。其后的数字表示原文本正式通过的年号；在有修订的情况下，为上一次的修订年号；圆括号中数字为上一次重新确认的年号。上标符号（ε）表示对上次修改或重新确定的版本有编辑上的修改。　　　　本标准经批准用于国防部所有机构。1.介电常数测试仪范围1.1 本试验方法包含当所用标准为集成阻抗时，实心电绝缘材料样本的相对电容率，耗散因子，损耗指数，功率因子，相位角和损耗角的测定。列出的频率范围从小于1Hz到几百兆赫兹。注1：在普遍的用法，“相对”一词经常是指下降值。1.2 这些试验方法提供了各种电极，装置和测量技术的通用信息。读者如对某一特定材料相关的议题感兴趣的话，必须查阅ASTM标准或直接适用于被测试材料的其它文件。2,31.3　　本标准并没有完全列举所有的安全声明，如果有必要，根据实际使用情况进行斟酌。使用本规范前，使用者有责任制定符合安全和健康要求的条例和规范，并明确该规范的使用范围。特殊危险说明见7.2.6.1和10.2.1。1　本规范归属于电学和电子绝缘材料ASTM D09委员会管辖，并由电学试验D09.12附属委员分会直接管理。当前版本核准于2011年8月1日。2011年8月发行。原版本在1922年批准。前一较新版本于2004年批准，即为　D150-98R04。DOI：10.1520/D0150-11。2　R. Bartnikas, 第2章, “交流电损耗和电容率测量,” 工程电介质, Vol. IIB, 实心绝缘材料的电学性能, 测量技术, 3　R. Bartnikas, 第1章, “固体电介质损耗,” 工程电介质,Vol IIA, 实心绝缘材料的电学性能: 分子结构和电学行为, 2.介电常数测试仪引用文件2.1 ASTM标准：4D374 　　　　固体电绝缘材料厚度的标准试验方法D618 　　　　试验用塑料调节规程D1082 　　　云母耗散因子和电容率（介电常数）试验方法D1531 　　　用液体位移法测定相对电容率（介电常数）与耗散因子的试验方法D1711 　　　电绝缘相关术语D5032 　　　用饱和甘油溶液方式维持恒定相对湿度的规程E104 　　　　用水溶液保持相对恒定湿度的标准实施规程E197 　　　　室温之上和之下试验用罩壳和服役元件规程（1981年取消）53.介电常数测试仪术语3.1 定义：3.1.1 这些试验方法所用术语定义以及电绝缘材料相关术语定义见术语标准D1711。3.2 本标准专用术语定义：3.2.1 电容，C，名词——当导体之间存在电势差时，导体和电介质系统允许储存电分离电荷的性能。3.2.1.1 讨论——电容是指电流电量 q与电位差V之间的比值。电容值总是正值。当电量采用库伦为单位，电位采用伏特为单位时，电容单位为法拉，即：C=q/V 　　　　　　　　　　（1）3.2.2 耗散因子（D），（损耗角正切），（tanδ），名词——是指损耗指数（K''）与相对电容率（K'）之间的比值，它还等于其损耗角（δ）的正切值或者其相位角（θ）的余切值（见图1和图2）。D=K''/K' 　　　　(2)4　相关ASTM标准，可浏览ASTM网站，www.astm.org或与ASTM客服service@astm.org联系。ASTM标准手册卷次信息，可参见ASTM网站标准文件汇总。5　该历史标准的较后批准版本参考网站www.astm.org。3.2.2.1 讨论——a：D=tanδ=cotθ=Xp/Rp=G/ωCp=1/ωCpRp　　　　　　　　(3)式中：G=等效交流电导，Xp=并联电抗，Rp=等效交流并联电阻，Cp=并联电容，ω=2πf（假设为正弦波形状）耗散因子的倒数为品质因子Q，有时成为储能因子。对于串联和并联模型，电容器耗散因子D都是相同的，按如下表示为：D=ωRsCs=1/ωRpCp　　　　　　　　(4)串联和并联部分之间的关系满足以下要求：Cp=Cs/(1 D2) 　　　　　　　　　　　　(5)Rp/Rs=(1 D2)/D2=1 (1/D2)=1 Q2　　　　　　　　　　　　　(6)　图1 并联电路的矢量图　图2 串联电路的矢量图3.2.2.2 讨论——b:串联模型——对于某种具有电介质损耗（图3）的绝缘材料，其并联模型通常是适当的模型，其总是能和偶尔要求模拟在单频率下电容Cs与电阻Rs串联（图4和图2）的某个电容器。　图3 并联电路　图4 串联电路3.2.3 损耗角（缺相角），（δ），名词——该角度的正切值为耗散因子或反正切值K''/K'或者其余切值为相位角。3.2.3.1 讨论——相位角和损耗角的关系见图1和图2所示。损耗角有时成为缺相角。3.2.4 损耗指数，K''（ε''），名词——相对复数电容率虚数部分的大小；其等于相对电容率和耗散因子的乘积。3.2.4.1 讨论——a——它可以表示为：K''=K' D=功率损耗/（E2×f×体积×常数） 　　　(7)　　　　　当功率损耗采用瓦特为单位，施加电压采用伏特/厘米为单位，频率采用赫兹为单位，体积（是指施加了电压的体积）采用立方厘米为单位，此时的常数值为5.556×10-13。3.2.4.2 讨论——b——损耗指数是国际上协定使用的术语。在美国，K''以前成为损耗因子。3.2.5 相位角，θ，名词——该角度的余切值为耗散因子，反余切值K''/K'，同时也是施加到某一电介质的正弦交流电压与其形成的具有相同频率的电流分量之间的相位角度差值。3.2.5.1 讨论——相位角和损耗角之间的关系见图1和图2所示。损耗角有时也称为缺相角。3.2.6 功率因子，PF，名词——某一材料消耗的功率W（单位为瓦特）与有效正弦电压V和电流I之间乘积（单位为伏特-安）的比值。3.2.6.1 讨论——功率因子可以采用相位角θ的余弦值（或损耗角的正弦值δ）来表示：　　　　　　（8）　　　　当耗散因子小于0.1时，功率因子与耗散因子之间的差值小于0.5%。可从下式找到它们的准确关系：　　　　　　（9）3.2.7 相对电容率（相对介电常数）（SIC）K'（εr），名词——相对复数电容率的实数部分。它也是采用某一材料作为电介质的某一给定形状电极等效并联电容Cp与采用真空（或空气，适用于多数实际用途）作为电介质的相同形状电极电容Cv之间的比值。K'=Cp/Cv　　　　　　　　　　　（10）3.2.7.1讨论——a——在普遍的用法，“相对”一词经常是指下降值。3.2.7.2 讨论——b——从经验来看，真空在各处必须采用材料来替代，因为其能显著改变电容。电介质等效电路假设包含一个电容Cp，该电容与电导并联。3.2.7.3 讨论——c——Cx视为图3所示的等效并联电容Cp。3.2.7.4 讨论——d——当耗散因子为0.1时，串联电容大于并联电容，但是两者差值小于1%，而当耗散因子为0.03时，两者差值小于0.1%。如果测量电路获得串联部分的结果，在计算修正值和电容率之前，并联电容必须由公式5计算得出。3.2.7.5 讨论——e——干燥空气在23℃和101.3kPa标准压力下的电容率为1.000536（1）。6其从整体的背离值K'-1与温度成反比，同时直接与大气压力成正比。当空间在23℃下达到水蒸气饱和时，电容率增加至为0.00025（2,3），同时随着温度（单位为℃）从10到27℃近似发生线性变化。对于局部饱和，增加值与相对湿度成正比。4.介电常数测试仪试验方法摘要4.1 电容和交流电阻测量在一个样本上进行。相对电容率等于样本电容除以（具有相同电极形状）真空电容计算值，同时很大程度上取决于误差源分辨率。耗散因子通常与样本几何形状无关，同时也可以依据测量值计算得出。4.2 本方法提供了（1）电极，装置和测量方法选择指南；和（2）如何避免或修正电容误差的指导。4.2.1 一般的测量考虑：边缘现象和杂散电容 　　　受保护电极样本几何形状 　　　　　　　　　真空电容计算边缘，接地和间隙修正4.2.2 电极系统—接触式电极中航鼎力仪器电极材料 　　　　　　　　　　　　　金属箔片导电涂料 　　　　　　　　　　　　　烧银喷镀金属 　　　　　　　　　　　　　蒸发金属液态金属 　　　　　　　　　　　　　刚性金属水4.2.3 电极系统—非接触式电极固定电极 　　　　　　　　　　　　　测微计电极液体置换法6 括号里的粗体字参阅这些试验方法附属的参考文献清单。4.2.4 电容和交流损耗测量装置和方法选择频率 　　　　　　　　　　　　　　　　　直接和替代方法两终端测量 　　　　　　　　　　　三终端测量液体置换法 　　　　　　　　　　　精度考虑5.介电常数测试仪意义和用途中航鼎力仪器5.1 电容率——绝缘材料通常以两种不同方式来使用，即（1）用于固定电学网络部件，同时让其彼此以及与地面绝缘；（2）用于起到某一电容器的电介质作用。在靠前种应用中，通常要求固定的电容尽可能小，同时具有可接受且一致的机械，化学和耐热性能。因此要求电容率具有一个低值。在第二种应用中，要求电容率具有一个高值，以使得电容器能够在外型上能尽可能小。有时使用电容率的中间值来评估在导体边缘或末端的应力，以将交流电晕降至较小。影响电容率的因子讨论见附录X3。5.2 交流损耗——对于这两种场合（作为电学绝缘材料和作为电容器电介质），交流损耗通常必须是比较小的，以减小材料的加热，同时将其对网络剩余部分的影响降至较小。在高频率应用场合，特别要求损耗指数具有一个低值，因为对于某一给定的损耗指数，电介质损耗直接随着频率而增大。在某些电介质结构中，例如试验用终止衬套和电缆所用的电介质，通常电导增加可获得损耗增大，这有时引入其来控制电压梯度。在比较具有近似相同电容率的材料时或者在材料电容率基本保持恒定的条件下使用任何材料时，这可能有助于考虑耗散因子，功率因子，相位角或损耗角。影响交流损耗的因子讨论见附录X3。5.4 相关性——当获得适当的相关性数据时，耗散因子或功率因子有助于显示某一材料在其它方面的特征，例如电介质击穿，湿分含量，固化程度和任何原因导致的破坏。然而，由于热老化导致的破坏将不会影响耗散因子，除非材料随后暴露在湿分中。当耗散因子的初始值非常重要的，耗散因子随着老化发生的变化通常是及其显著的。6.介电常数测试仪一般测量考虑6.1 边缘现象和杂散电容——这些试验方法是以电极之间的样本电容测量，以及相同电极系统的真空电容（或空气电容，适用于多数实际用途）测量或计算为基础。对于无保护的两电极测量，要求采用两个测定值来计算电容率，而当存在不期望的边缘现象和杂散电容时（它们将包含在测量读数中），变得相当复杂。对于测量用所放置样本之间的两个无保护平行板电极场合，边缘现象和杂散电容见图5和图6所述。除了要求的直接电极之间电容Cv之外，在终端a-a'看到的系统包括以下内容：

介电常数和介质损耗有什么区别 介电特性是电介质材料极其重要的性质。在实际应用中，电介质材料的介电系数和介质损耗是非常重要的参数。例如，制造电容器的材料要求介电系数尽量大，而介质损耗尽量小。相反地，制造仪表绝缘器件的材料则要求介电系数和介质损耗都尽量小。而在某些特殊情况下，则要求材料的介质损耗较大。所以，通过测定介电常数（ε)及介质损耗角正切（tgδ),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据1、介电常数（ε):某一电介质（如硅酸盐、高分子材料）组成的电容器在一定电压作用下所得到的电容量Cx与同样大小的介质为真空的电容器的电容量Co之比值，被称为该电介质材料的相对介电常数ε=Cx/Co式中：Cx一电容器两极板充满介质时的电容Co一电容器两极板为真空时的电容ε一电容器两极板为真空时的电容电容量增加的倍数，即相对介电常数 介电常数的大小表示该介质中空间电荷互相作用减弱的程度。作为高频绝缘材料，要小，特别是用于高压绝缘时。在制造高电容器时，则要求要大，特别是小型电容器。 在绝缘技术中，特别是选择绝缘材料或介质贮能材料时，都需要考虑电介质的介电常数。此外，由于介电常数取決于极化，而极化又取决于电介质的分子结构和分子运动的形式。所以，通过介电常数随电场强度、频率和温度变化规律的研究，还可以推断绝缘材料的分子结构。2、介电损耗（tgδ):指电介质材料在外电场作用下发热而损耗的那部分能量。在直流电场作用下，介质没有周期性损耗，基本上是稳态电流造成的损耗在交流电场作用下，介质损耗除了稳态电流损耗外，还有各种交流损耗。由于电场的频繁转向，电介质中的损耗要比直流电场作用时大许多（有时达到几千倍），因此介质损耗通常是指交流损耗。 在工程中，常将介电损耗用介质损耗角正切tgδ来表示。tgδ是绝缘体的无效消耗的能量对有效输入的比例，它表示材料在一周期内热功率损耗与贮存之比，是衠量材料损耗程度的物理量tgδ=1/ωRC 式中：ω一电源角频率；R一并联等效交流电阻；C 一并联等效交流电容器 凡是体积电阻率小的，其介电损耗就大。介质损耗对于用在高压装置高频设备，特别是用在高压、高频等地方的材料和器件具有特别重要的意义，介质损耗过大，不仅降低整机的性能，甚至会造成绝缘材料的热击穿3、Q值：tgδ的倒数称为品质因素，或称Q值。Q值大，介电损失小，说明品质好。所以在选用电介质前，必须先测定它们的和tgδ.而这两者的测定是分不开的。通常测量材料介电常数和介质损耗角正切的方法有二种：交流电桥法和Q表测量法，其中Q表测量法在测量时由于操作与计算比较简便而广泛采用。北京中航鼎力设备科技有限公司 可选 介电常数和介质损耗测试仪LJD-A型介电常数及介质损耗测试仪 10kHz～70MHz LJD-B型介电常数及介质损耗测试仪 10kHz～110MHz LJD-C型介电常数及介质损耗测试仪 100kHz～160MHz

产品名称：介电常数测试仪 产品型号：LJD-B、LJD-C、QS-37符合标准：GB/T1409、GB/T5594产品用途：固体、液体绝缘材料的介电常数及介质损耗测试适用材料：橡胶塑料薄膜、陶瓷玻璃、绝缘材料、高分子材料等测试范围：10KHZ-70MHZ、100KHZ-160MHZ主要配置：主机Q表、夹具、电感组成测试项目：介电常数、介质损耗、介质损耗因数、介质损耗角正切值使用人群：科研所、教学、质量监督局、军工单位等付款方式：全款发货产品品牌：中航鼎力产品货期：1-3个工作日产品类别：电性能检测仪器ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法1本标准是以固定代号D150发布的。其后的数字表示原文本正式通过的年号；在有修订的情况下，为上一次的修订年号；圆括号中数字为上一次重新确认的年号。上标符号（ε）表示对上次修改或重新确定的版本有编辑上的修改。　　　　本标准经批准用于国防部所有机构。1.介电常数测试仪范围1.1 本试验方法包含当所用标准为集成阻抗时，实心电绝缘材料样本的相对电容率，耗散因子，损耗指数，功率因子，相位角和损耗角的测定。列出的频率范围从小于1Hz到几百兆赫兹。注1：在普遍的用法，“相对”一词经常是指下降值。1.2 这些试验方法提供了各种电极，装置和测量技术的通用信息。读者如对某一特定材料相关的议题感兴趣的话，必须查阅ASTM标准或直接适用于被测试材料的其它文件。2,31.3　　本标准并没有完全列举所有的安全声明，如果有必要，根据实际使用情况进行斟酌。使用本规范前，使用者有责任制定符合安全和健康要求的条例和规范，并明确该规范的使用范围。特殊危险说明见1　本规范归属于电学和电子绝缘材料ASTM D09委员会管辖，并由电学试验D09.12附属委员分会直接管理。当前版本核准于2011年8月1日。2011年8月发行。原版本在1922年批准。前一较新版本于2004年批准，即为　D150-98R04。DOI：10.1520/D0150-11。2　R. Bartnikas, 第2章, “交流电损耗和电容率测量,” 工程电介质, Vol. IIB, 实心绝缘材料的电学性能, 测量技术,3　R. Bartnikas, 第1章, “固体电介质损耗,” 工程电介质,Vol IIA, 实心绝缘材料的电学性能: 分子结构和电学行为,2.介电常数测试仪引用文件2.1 ASTM标准：4D374 　　　　固体电绝缘材料厚度的标准试验方法D618 　　　　试验用塑料调节规程D1082 　　　云母耗散因子和电容率（介电常数）试验方法D1531 　　　用液体位移法测定相对电容率（介电常数）与耗散因子的试验方法D1711 　　　电绝缘相关术语D5032 　　　用饱和甘油溶液方式维持恒定相对湿度的规程E104 　　　　用水溶液保持相对恒定湿度的标准实施规程E197 　　　　室温之上和之下试验用罩壳和服役元件规程（1981年取消）53.介电常数测试仪术语3.1 定义：3.1.1 这些试验方法所用术语定义以及电绝缘材料相关术语定义见术语标准D1711。3.2 本标准专用术语定义：3.2.1 电容，C，名词——当导体之间存在电势差时，导体和电介质系统允许储存电分离电荷的性能。3.2.1.1 讨论——电容是指电流电量 q与电位差V之间的比值。电容值总是正值。当电量采用库伦为单位，电位采用伏特为单位时，电容单位为法拉，即：C=q/V 　　　　　　　　　　（1）3.2.2 耗散因子（D），（损耗角正切），（tanδ），名词——是指损耗指数（K''）与相对电容率（K'）之间的比值，它还等于其损耗角（δ）的正切值或者其相位角（θ）的余切值（见图1和图2）。D=K''/K' 　　　　(2)4　相关ASTM标准，可浏览ASTM网站，www.astm.org或与ASTM客服service@astm.org联系。ASTM标准手册卷次信息，可参见ASTM网站标准文件汇总。5　该历史标准的较后批准版本参考网站www.astm.org。3.2.2.1 讨论——a：D=tanδ=cotθ=Xp/Rp=G/ωCp=1/ωCpRp　　　　　　　　(3)式中：G=等效交流电导，Xp=并联电抗，Rp=等效交流并联电阻，Cp=并联电容，ω=2πf（假设为正弦波形状）耗散因子的倒数为品质因子Q，有时成为储能因子。对于串联和并联模型，电容器耗散因子D都是相同的，按如下表示为：D=ωRsCs=1/ωRpCp　　　　　　　　(4)串联和并联部分之间的关系满足以下要求：Cp=Cs/(1 D2) 　　　　　　　　　　　　(5)Rp/Rs=(1 D2)/D2=1 (1/D2)=1 Q2　　　　　　　　　　　　　(6)4、数据采集和tanδ自动测量控件（装入AS2853A)，实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化，tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理，因而提高了数据的精确度和测量的同一性，是人工读值和人工计算无法比拟的。三、主要技术特性及配置主要配置序号构 成型 号数量制 造 厂 家1主机LJD-C1台测试装置（夹具）AS9161台标准电感HLKI-11套2三电极系统(油中、空气中) 油中带油槽 各1套3油槽1台4日常维修工具1套说明书

玻璃介电常数测试仪Q表正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。10．其他a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。玻璃介电常数测试仪性能特点：1. 平板电容器 极片尺寸：φ25.4mm\φ50mm 极片间距可调范围和分辨率：≥10mm，±0.01mm2. 园筒电容器 电容量线性：0.33pF / mm±0.05 pF长度可调范围和分辨率：≥0～20mm，±0.01mm3. 夹具插头间距：25mm±1mm4. 夹角损耗角正切值：≤4×10－4（1MHz时）5、数显电极玻璃介电常数测试仪维修保养本测试装置是由精密机械构件组成的测微设备，所以在使用和保存时要避免振动和碰撞，要求在不含腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存，不能自行拆装，否则其工作性能就不能保证，如测试夹具受到碰撞，或者作为定期检查，要检测以下几个指标：1. 平板电容器二极片平行度不超过0.02mm。2. 园筒电容器的轴和轴同心度误差不超过0.1mm。3. 保证二个测微杆0.01mm分辨率。4. 用精密电容测量仪（±0.01pF分辨率）测量园筒电容器，电容呈线性率，从0~20mm，每隔1mm测试一点，要求符合工作特性要求。玻璃介电常数测试仪介电常数又称介电常数、介电系数或介电常数，是代表绝缘容量特性的系数，用字母ε表示，单位为F/m。它是电位移和电场强度之间的比例常数。这个常数在自由空间(真空)中是8.85×10法拉第/米(F/m)的-12次方。在其他材料中，介电系数可能相差很大，往往比真空中的值大得多，其符号为eo。在工程应用中，介电常数往往以相对介电常数的形式表示，而不是绝对值。如果eo表示自由空间的介电系数(8.85×10的-12次方F/m)，E是材料中的介电系数，那么这种材料的相对介电系数(也叫介电常数)由下式给出:ε 1 = ε/ε o = ε× 1.13× 10的11次方。玻璃介电常数测试仪许多不同物质的介电常数都大于1。这些物质通常被称为绝缘材料或绝缘体。常用的绝缘体包括玻璃、纸、云母、各种陶瓷、聚乙烯和特定的金属氧化物。绝缘体用于交流。泡沫由聚苯乙烯2.2.6与聚苯乙烯、聚氯乙烯、聚氨酯等树脂制成。介电常数可分为相对介电常数和有效介电常数。通常我们说的介电常数是相对介电常数，硅的相对介电常数是11.9。(AC)，声波(AF)和无线电波(RF)的电容器和传输线。

玻璃介电常数试验测试仪电桥的特点；l桥体内附电位及指零仪，接线及少。l电桥采用接触电阻小，机械寿命长的十进开关，保证测量的稳定性l仪器具有双屏蔽，能有效防止外部电磁场的干扰。l仪器内部电阻及电容元件经特殊老化处理，使仪器技术性能稳定可靠。l内附高压电源精度3%l内附标准电容损耗﹤0.00005，名义值100pF绝缘纸工频介电常数测试仪 技术指标2-1测量范围及误差本电桥的环境温度为20±5℃，相对湿度为30%-80%条件下，应满足下列表中的技术指示要求。在Cn=100 pF R4=3183.2（Ω）时测量项目测量范围测量误差电容量Cx40pF—20000pF±0.5% Cx±2pF介损损耗tgδ0-1±1.5% tgδx±0.0001在Cn=100 pF R4=318.3（Ω）时测量项目测量范围测量误差电容量Cx4pF—2000pF±0.5% Cx±3pF介损损耗tgδ0-0.1玻璃介电常数试验测试仪测量完毕后或在暂停测量时，应将另仪的灵敏度开关降至“0”，再将测量电压降至另并切断电源开关，根据计算公式，算出被测试品的容量及介损值1. 本仪器必须有专人负责保管，使用，非专职操作者应在使用前了解和熟悉本说明书，以免造成不必要的损失和事故。2. 每次使用前应仔细检查接地线是否完好，确保以后方可通电使用。3. 接通电源前应将灵敏度开关调到低位置。4. 测量试品前应先对试品进行高压试验，证明在电桥工作电压下无噪声，电离等现象出现，然后才能进行测试（若试品己做过高压试验，该项可不必每次测量都做）。5. 对试品施加高压时缓慢升高，不可以加突变电压。6. 测试时操作人员必须集中思想，工作前做好一切准备工作，测试地点周围应有明显的标记或金属屏蔽围成高压危险区，以防止非操作人员闯入。7. 在测量过程中，如有放电管发光时，则必须及时切断电源，仔细检查接线及试品都无击穿，待检查排除故障后，再进行高压测量工作。操作方法测试前的准备工作①按图（3）所示，连接标准电容Ｃｎ（选用外接标准电容时），与被测电容Ｃｘ，并且将标准电容与被测电容尽可能远离，以防止互相之间干扰。如选用内部标准电容器，只需连接被测试品即可。②检查周围是否有强电磁场干扰，应尽量避免。③检查大地线是否牢靠，以保证操作人员的安全，应检查电桥上的（⊥）与大地是否接触良好。④检查电桥的灵敏度开关是否已回另位。⑤检查试品的绝缘强度，应符合大于2U+1的标准。⑥对试品施加试验电压（按部标或国际所规定的专业标准进行）。玻璃介电常数试验测试仪在每个高压实验室和试验中，压缩气体标准电容器是一种必要的仪器。在这些场合中，它有许多重要的作用。在电桥电路中压缩气体电容器被用来测量电容器、电缆、套管、绝缘子、变压器绕组及绝缘材料的电容和介质损耗角正切值（tgδ）。而且，还可以用作高压测量电容分压装置的高压电容。在某些条件下，还可以在局部放电测量中作高压耦合电容器。玻璃介电常数试验测试仪2．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；3．电感测量范围：自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能4.5nH-100mH 分别有0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九个电感组成。4．电容直接测量范围：1～460pF 5．主电容调节范围： 30～500pF 6．电容准确度 150pF以下±1.5pF；150pF以上±1% 7．信号源频率覆盖范围20KHz-100MHz （双频对向搜索 确保频率不被外界干扰）8、型号频率指示误差：1*10-6 ±1 Q值合格指示预置功能范围：5～1000Q值自动锁定，无需人工搜索9．Q表正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。玻璃介电常数试验测试仪1. 平板电容器极片尺寸：φ25.4mm\φ50mm极片间距可调范围和分辨率：≥10mm，±0.01mm2. 园筒电容器电容量线性：0.33pF / mm±0.05 pF长度可调范围和分辨率：≥0～20mm，±0.01mm3. 夹具插头间距：25mm±1mm4. 夹角损耗角正切值：≤4×10－4（1MHz时）5、数显电极

LJD-C型介电常数及介质损耗测试仪 一、 概述1.1产品特点　　介电常数介质损耗测试仪能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。 介电常数介质损耗测试仪是北京中航鼎力仪器设备有限公司新研制的产品，它以DDS数字直接合成方式产生信号源，频率达160MHz，信号源具有信号失真小、频率精确、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的精确性。测试仪主电容调节用传感器感应，电容读数精确,且频率值可设置。。介电常数及介质损耗测试仪的电容、电感、Q值、频率、量程都用数字显示，在某一频率下，只要能找到谐振点，都能直接读出电感、电容值，大大扩展了电感的测量范围，而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。介电常数介质损耗测试仪特有的谐振点频率自动搜索功能，能帮助你在使用时快速地找到被测量器件的谐振点，自动读出Q值和其它参数。Q值量程可手动或自动转换。二、 结构特征与工作原理1、系统组成　　介电常数介质损耗测试仪由S916测试装置（夹具）、LJD-C型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件（装入LJD-C)、及LKI-1型电感器组成，它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的jia解决方案。1. 基于串联谐振原理的《LJD-C高频Q表》是测试系统的二次仪表，其数码化主调电容器的创新设计代表了行业的高成就，随之带来了频率、电容双扫描(LJD-C)的全新搜索功能。该表具有先进的人机界面，采用LCD液晶屏显示各测量因子：Q值、电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率100KHz-160MH，频率精度高达1×10-6。国标GB/T 1409-2006规定了用Q表法来测定电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)，把被测材料作为平板电容的介质，与辅助电感等构成串联谐振因子引入Q表的测试回路，以获取高的测试灵敏度。因而Q表法的测试结果更真实地反映了介质在高频工作状态下的特征。 2、《AS916介质损耗装置》(测试夹具)是测试系统的核心检测部件，它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。AS916介质损耗测试装置是本公司新研制的更新换代产品，精密的加工设计、精确的LCD数字读出、一键式清零功能，克服了机械刻度读数误差和圆筒形电容装置不可避免的测量误差。 3、一个高品质因数（Q)的电感器是测量系统必不可少的辅助工具，关乎测试的灵敏度和精度，在系统中它与平板电容（AS916）构成了基于串联谐振的测试回路。本系统推荐的电感器为LKI-1电感组，共由9个高性能电感器组成，以适配不同的检测频率。4、数据采集和tanδ自动测量控件（装入AS2853A)，实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化，tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理，因而提高了数据的精确度和测量的同一性，是人工读值和人工计算的。三、主要技术特性及配置主要配置序号构 成型 号数量制 造 厂 家1主机LJD-C1台测试装置（夹具）AS9161台标准电感HLKI-11套2三电极系统(油中、空气中) 油中带油槽 各1套3油槽1台4日常维修工具1套说明书一．LJD-C（1）Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023。 b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。 c．标称误差频率范围 100kHz～10MHz；固有误差 ≤5％±满度值的2％；工作误差 ≤7％±满度值的2％；频率范围 10MHz～160MHz；固有误差 ≤6％±满度值的2％；工作误差 ≤8％±满度值的2％。（2）电感测量范围：4.5nH～140mH （3）电容测量：18~240pF项 目 直接测量范围 1～460pF 主电容调节范围 30～500pF准 确 度 150pF以下±1pF；150pF以上±1％（4）信号源频率覆盖范围项 目频率范围 100kHz～160MHz频率分段（虚拟） 0.1～0.999999MHz1～9.99999MHz10～99.9999MHz100～160MHz 频率指示误差 3×10-5±1个字（5）Q合格指示预置功能 预置范围：5～1000。（6）Q表正常工作条件 a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V， 50Hz±2.5Hz。二.AS916测试夹具平板电容极片Φ50mm/Φ38mm可选频率范围100KHz-160MHz间距可调范围≥15mm频率指示误差3×10-5±1个字夹具插头间距25mm±0.01mm主电容调节范围18-240pF测微杆分辨率0.001mm主调电容误差1%或1pF夹具损耗角正切值≦4×10-4 （1MHz)Q测试范围2～1023 四、标准电感电感No电感量准确度%Q值≥分布电容约略值谐振频率范围 MHz适合介电常数测试频率10.1μH±0.05μH2005pF20~7050MHz20.5μH±0.05μH2005pF10~3715MHz32.5μH±5%2005pF4.6~17.410MHz410μH±5%2006pF2.3~8.65MHz550μH±5%2006pF1~3.751.5MHz6100μH±5%2006pF0.75~2.641MHz71mH±5%1508pF0.23~0.840.5MHz85mH±5%1308pF0.1~0.330.25MHz910mH±5%908pF0.072~0.260.1MHz10（选配）50nH±5% 1505pF70-120 100MHz LJD系列介电常数介质损耗测试仪介电常数及介质损耗主机采用了较低的台式机箱，面板采用PC丝印面板，美观大方。 各主要功能单元，除了显示部分为了显示方便和调谐测试回路，放大单元为了减小分布参数，安装在面板上外，其余都安装在机内底板上，详细请见以下图1/2两款主机：A．介电常数及介质损耗主机前面板各功能键说明主机1：（LJD-B） 主机2：（LJD-C） 介电常数及介质损耗主机前面板和外形示意图(1.2)1．工作频段选择/数字1按键，每按一次，切换至低一个频段工作；先按12键后,再按此键，功能为数字键1。2. 主机1：工作频段选择/1按键，每按一次，切换至高一个频段工作；先按12键后,再按此键，功能为数字键1。主机2：介电常数直读功能/2按键，按一次显示为D2，再按一次切换至D4，后按一次显示介电常数值；先按12键后,再按此键，功能为数字键2。 3．Q值量程递减（手动方式时有效）/数字3按键；先按12键后，再按此键，功能为数字键3。4．Q值量程递增（手动方式时有效）/数字4按键；先按12键后，再按此键，功能为数字键4。5．谐振点频率搜索/数字5按键，按此键显示屏第四行左部出现SWEEP时，表示仪器正工作在频率自动搜索被测量器件的谐振点，如需退出搜索，再按此键；先按12键后,再按此键，功能为数字键5。6．数字6按键，直接按是电容自动搜索，先按12键后,再按此键，功能为数字键6。7．Q值合格范围比较值设定/数字7按键，按此键后，显示屏第三行右部出现COMP字符，当Q合格时，显示OK，並同时鸣响蜂鸣器，Q不合格时，显示NO。设置Q值合格范围详细说明见后页。先按12键后,再按此键，功能为数字键7。8．Q值量程自动/手动控制方式选择/数字8按键，按此键后，显示屏第四行左部出现对应的指示：AUTO（自动），MAN（手动）；先按12键后,再按此键，功能为数字键8。9．Ct大电容直接测量/数字9（先按12键后有效）按键。10．Lt残余电感扣除/数字0(先按12键后有效) 按键。11．介质损耗系数测量/小数点(先按12键后有效) 按键。12．频率/电容设置按键：主机1：第*次按下（频率指示数在闪烁）为频率数输入，单位为MHz。例：要输入79.5MHz，按一次此键，频率指示数在闪烁，然后输入79.5，再按一下此键完成设置。(没有电容设置功能)主机2：第*次按下（频率指示数在闪烁）为频率数输入，单位为MHz。例：要输入79.5MHz，按一次此键，频率指示数在闪烁，然后输入79.5，再按一下此键完成设置。第二次按下（电容指示数在闪烁）为电容数输入，数输入要满4位。例：要输入79.5P，按二次此键，电容指示数在闪烁，然后输入0795，有效数后为0的，可以不输入0，直接再按一下此键完成设置。13．频率调谐数码开关。14．主调电容调谐（长寿命调谐慢转结构）；15．电源开关。16．液晶显示屏。17．测试回路接线柱：主机1：左边两个为电感接入端，右边两个为外接电容接入端；主机2：上边两个为电感接入端，下边两个为外接电容接入端；18．电感测试范围所对应频率范围表。B．后面板各功能键说明 介电常数及介质损耗主机后面板示意图1．～220V电源输入三芯插座，内含保险丝0.5A／220V；2．信号源工作频率监测输出端（阻抗1kΩ）。 主机，电感，平板电容器链接方式LJD-B 主机1： LJD-C 主机2 LJD系列介电常数介质损耗测试仪 LJD系列介电常数及介质损耗测试系统使用方法 一 手动介电常数测试方法与步骤1. 测试前主机建议预热30分钟2. 把S916测试夹具装置上的插头插入到主机测试回路的“电容”两个端子上。 3. 在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈（本公司 主机配套使用的LKI-1电感组能满足要求），如：1MHz 时电感取100uH，15MHz时电感取1.5uH。4. 被测样品要求为圆形，直径50.4--52mm/38.4--40mm，这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1--5mm之间(当材料介电大于6的情况下建议材料≥2mm)，样品太薄或太厚就会使测试精度下降，样品要尽可能平整。（小于0.5mm的样品测试，请参考附录三，叠加测试法）5. 调节S916测试夹具的测微杆，使S916测试夹具的平板电容极片相接为止，按ZERO 清零按键，初始值设置为0。再松开两片极片，把被测样品夹入平板电容上下极片之间，调节S916测试夹具的测微杆，直到平板电容极片夹住样品止（注意调节时要用S916测试夹具的测微杆，以免夹得过紧或过松），这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值，既是样品的厚度D2。改变主机上的主调电容容量（旋转主调电容旋钮改变主调电容电容量），使主机处于谐振点（Q值大值）上。取出S916测试夹具中的样品，这时主机又失去谐振（Q值变小），此时调节S916测试夹具的测微杆，使主机再回到谐振点（Q值大值）上，读取测试装置液晶显示屏上的数值记为D4.计算被测样品的介电常数: Σ＝D2 / D4 二 自动介电常数测试方法与步骤(需选配自动测试软件模块)1. 自动介电常数测试时，基本步骤同手动一样，只是主机支持通过数据模块记录S916测试夹具的数据，并自动计算出介电常数。2. 使用数据转换连接线,连接S916数据传输接口和介电常数测试主机背板上的四芯插座.（见下图）

5 指另装置的技术特性： 工作电压±12V 在50Hz时电压灵敏度不低于1X10-6V／格， 电流灵敏度不低于2X10-9A／格 二次谐波 减不小于25db 三次谐波 减不小于50db特点：优化的测试电路设计使残值更小◆ 高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术◆ LED 数字读出品质因数，手动/自动量程切换◆ 自动扫描被测件谐振点，标频单键设置和锁定，大大提高测试速度作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz。1 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。4 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。7 计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至低，彻底 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。标准配置：高配Q表 一只 试验电极 一只 （c类）电感 一套（9只）电源线 一条说明书 一份合格证 一份保修卡 一份为什么介电常数越大，绝缘能力越强？因为物质的介电常数和频率相关，通常称为介电系数。介电常数又叫介质常数，介电系数或电容率，它是表示绝缘能力特性的一个系数。所以理论上来说，介电常数越大，绝缘性能就越好。注：这个性质不是绝对成立的。对于绝缘性不太好的材料(就是说不击穿的情况下,也可以有一定的导电性)和绝缘性很好的材料比较,这个结论是成立的。但对于两个绝缘体就不一定了。介电常数反映的是材料中电子的局域(local)特性,导电性是电子的全局(global)特征.不是一回事情的。补充：电介质经常是绝缘体。其例子包括瓷器(陶器)，云母，玻璃，塑料，和各种金属氧化物。有些液体和气体可以作为好的电介质材料。干空气是良好的电介质，并被用在可变电容器以及某些类型的传输线。蒸馏水如果保持没有杂质的话是好的电介质，其相对介电常数约为80。对于时变电磁场，物质的介电常数和频率相关，通常称为介电系数。介电常数又叫介质常数，介电系数或电容率，它是表示绝缘能力特性的一个系数介电常数,用于衡量绝缘体储存电能的性能.它是两块金属板之间以绝缘材料为介质时的电容量与同样的两块板之间以空气为介质或真空时的电容量之比。介电常数代表了电介质的极化程度，也就是对电荷的束缚能力，介电常数越大，对电荷的束缚能力越强。电容器两极板之间填充的介质对电容的容量有影响，而同一种介质的影响是相同的，介质不同，介电常数不同介质损耗：绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。在交变电场作用下，电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角（功率因数角Φ）的余角δ称为介质损耗角。损耗因子也指耗损正切，是交流电被转化为热能的介电损耗（耗散的能量）的量度，一般情况下都期望耗损因子低些好。概念：电介质在外电场作用下，其内部会有发热现象，这说明有部分电能已转化为热能耗散掉，电介质在电场作用下，在单位时间内因发热而消耗的能量称为电介质的损耗功率，或简称介质损耗（diclectric loss）。介质损耗是应用于交流电场中电介质的重要品质指标之一。介质损耗不但消耗了电能，而且使元件发热影响其正常工作。如果介电损耗较大，甚至会引起介质的过热而绝缘破坏，所以从这种意义上讲，介质损耗越小越好。

玻璃薄膜介电常数试验测试仪ef——试样浸入所用流体的相对电容率，对于在空气中的测量则4等于1。对于相对电容率为10以上的无孔材料，可采用沉积金属电极。对于这些材料，电极应覆盖在试样 的整个表面上，并且不用保护电极。对于相对电容率在3〜 10之间的材料，能给出最高精度的电极是金 属箔、汞或沉积金属，选择这些电极时要注意适合材料的性能。若厚度的测量能达到足够精度时，试样 上不加电极的方法方便而更可取。假如有一种合适的流体，它的相对电容率已知或者能很准确地测出， 则采用流体排出法是最好的玻璃薄膜介电常数试验测试仪介电常数测试仪由高频阻抗分析仪、测试装置，标准介质样品组成，能对绝缘材料进行 高低频介电常数(ε)和介质损耗角(D或tanδ) 的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。介电常数测试仪工作频率范围是20Hz～2MHz,它能完成工作频率内对绝缘材料的相对介电常数(ε)和介质损耗角 (D或tanδ)变化的测试。介电常数测试仪中测试装置是由平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用高频阻抗分析仪作为指示仪器。绝缘材料的介电常数和损耗值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的D值(损耗值)变化和Cp（电容值）读数通过公式计算得到。 概述HRJD-DP 是具有多种功能和更高测试频率的新型阻抗分析仪，体积小，紧凑便携，便于上架使用。本系列仪器基本精度为0.05%，测试频率最高2MHz及10mHz的分辨率，4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面，操作方便简洁。集成了变压器测试功能、平衡测试功能,提高了测试效率。仪器提供了丰富的接口，能满足自动分选测试，数据传输和保存的各种要求。性能特点◎ 全自动一键操作可自动扫描最平稳的量程阶段◎微电脑处理器反应迅速可在最短时间内计算出最佳频段◎ 夹具数字显示◎ 4.3寸TFT液晶显示◎ 中英文可选操作界面◎ 最高2MHz的测试频率，10mHz分辨率◎ 平衡测试功能◎ 变压器参数测试功能◎ 最高测试速度:13ms/次◎ 电压或电流的自动电平调整（ALC）功能◎ V、I 测试信号电平监视功能◎ 内部自带直流偏置源◎ 可外接大电流直流偏置源◎ 10点列表扫描测试功能◎ 30Ω、50Ω、100Ω可选内阻◎ 内建比较器，10档分选和计数功能◎ 内部文件存储和外部U盘文件保存◎ 测量数据可直接保存到U盘◎ RS232C、 USB 、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口◎ 高频阻抗分析仪电容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值显示，保证了ε和D值精度和重复性。◎ 介电常数测量范围可达1～105主要技术指标： ε和D性能：固体绝缘材料测试频率20Hz～2MHz的ε和D变化的测试。 ε和D测量范围：ε：1～105，D：0.1～0.00005，ε和D测量精度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。测试参数 :C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR测试频率 :20 Hz～2MHz,10mHz步进测试信号电:f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）平 :f1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)输出阻抗:10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω基本准确度 0.1%显示范围 :L 0.0001 uH ～ 9.9999kHC :0.0001 pF ～ 9.9999FR,X,Z,DCR :0.0001 Ω ～ 99.999 MΩY, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 SD :0.0001 ～ 9.9999Q :0.0001 ～ 99999θ :-179.99°～ 179.99°测量速度 快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）中速: 25次/s, 慢速: 5次/s校准功能 :开路 / 短路点频、扫频清零，负载校准等效方式 :串联方式, 并联方式量程方式:自动, 保持显示方式 :直读, Δ, Δ%触发方式 :内部, 手动, 外部, 总线内部直流偏 :电压模式-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进置源 :电流模式（内阻为50Ω）-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进比较器功能:10档分选及计数功能显示器 320×240点阵图形LCD显示存储器 :可保存20组仪器设定值USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support)接口 :LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB（选件）工作频率范围：20Hz～2MHz 数字合成，精度：±0.02%电容测量范围：0.00001pF～9.99999F 六位数显电容测量基本误差：±0.05%损耗因素D值范围：0.00001～9.99999 六位数显介电常数测试装置（含保护电极）： 精密介电常数测试装置提供测试电极，能对直径φ10～56mm，厚度10mm的试样精确测量。它针对不同试样可设置为接触电极法，薄膜电极法和非接触法三种，以适应软材料，表面不平整和薄膜试样测试。微分头分辨率：10μm最高耐压：±42Vp（AC+DC）电缆长度设置：1m最高使用频率：30MHz高频介质样品（选购件）： 在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。该样品由人工蓝宝石，石英玻璃， 氧化铝陶瓷，聚四氟乙烯，环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性。玻璃薄膜介电常数试验测试仪式中：G——电极常数；G——空气中电极装置的电容扌G——充有校正液体时电极装置的电容,孔——校正液体的相对电容率。从G和G的差值可求得校正电容Cg；玻璃薄膜介电常数试验测试仪来计算液体未知相对电容率Ex*式中：G——校正电容；Co——空气中电极装置的电容；cc——电极常数)Cx——电极装置充有被试液体时的电容；织——液体的相对电容率。假如G、Cn和役值是在鈴是已知的某一相同温度下测定的，则可求得最高精度的馭值， 采用上述方法测定液体电介质的相对电容率时，可保证其测得结果有足够的精度，因为它消除了由 于寄生电容或电极间隙数值的不准确测量所引起的误差.玻璃薄膜介电常数试验测试仪测量电容率和介质损耗因数的方法可分成两种:零点指示法和谐振法。5. 1零点指示法适用于频率不超过50 MHz时的测量。测量电容率和介质损耗因数可用替代法；也就 是在接入试样和不接试样两种状态下，调节回路的一个臂使电桥平衡。通常回路采用西林电桥、变压器 电桥(也就是互感耦合比例臂电桥)和并联T型网络。变压器电桥的优点：采用保护电极不需任何外加 附件或过多操作，就可采用保护电极；它没有其他网络的缺点。 6.2谐振法适用于10 kHz〜 几百MHz的频率范围内的测量,该方法为替代法测量，常用的是变电抗 法。但该方法不适合采用保护电极。

介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪 介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪：GDAT-A 介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法 二、介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪的技术指标 1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023。 b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。 c．标称误差项 目 GDAT-A频率范围20kHz～10MHz；固有误差≤5％±满度值的2％；工作误差≤7％±满度值的2％；频率范围10MHz～60MHz；固有误差≤6％±满度值的2％；工作误差≤8％±满度值的2％。电感测量范围介电常数介质损耗试验仪电容测量14.5nH~8.14H1~ 460 项 目GDAT-A直接测量范围1～460pF主电容调节范围30～500pF，精准度150pF以上±1％ 150pF以下±1.5pF； 注：大于直接测量范围的电容测量见使用规则 4．介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪信号源频率覆盖范围项 目 GDAT-A： 频率范围10kHz～50MHz频率分段(虚拟)10～99.9999kHz100～999.999kHz1～9.99999MHz10～60MHz 频率指示误差3×10-5±1个字Q合格指示预置功能预置范围：5～1000。Q表正常工作条件环境温度：0℃～+40℃； 相对湿度80％电源220V±22V，50Hz±2.5Hz。消耗功率约25W；净重约7kg外型尺寸(l×b×h)mm：380×132×280 8．产品配置：a. 测试主机一台；b. 电感9只；c. 夹具一套 电感：线圈号 Q 值 测试频率 分布电容p 电感值 9100KHz 98 9.4 25mH8400KHz 13811.4 4.87mH7 400KHz 20216 0.99mH61MHz 196 13252μH52MHz 198 8.749.8μH4 4.5MHz 231 7 10μH 312MHz 1936.9 2.49μH2 12MHz 229 6.4 0.508μH1 25MHz，50MHz233，2110.9 0.125μH 介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪的详细资料： 一、 介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪概述介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。介电常数介质损耗试验仪用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。感谢您耐心阅读我们的信息如果您对我们的介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪感兴趣或者有什么疑问欢迎您来电咨询 我们会有专业的工程师为您解决您的疑问！！ 北广公司其它绝缘材料检测仪器: BDJC-0-100KV 介电击穿试验仪 BDJC系列绝缘材料工频率介电击穿试验仪 BDJC系列电压介电强度试验仪器 BDJC系列 电压击穿试验仪 BDJC系列绝缘漆漆膜击穿强度试验仪 BDJC电容器纸工频电压击穿试验仪 EST-121 体积表面电阻率测定仪 GDAT-A介质损耗测试仪/介电常数测试仪 GDAT-C新型介电常数介质损耗测试仪 BDH 耐漏电起痕试验仪 BDH-B耐电弧试验仪 中国检测行业与验证服务的尖端者和智领者，帮助众多检测质检单位和学校教研单位提供一站式的全面质量解决方案。 注重每一个细节是北广公司对于每个客户的承诺 ， 也是北广公司一直追求的宗旨。北京北广精仪仪器设备有限公司

玻璃纤维介电常数测试仪当温度继续升高，达到很大值时，离子热运动能量很大，离子在电场作用下的定向迁移受到热运动的阻碍，因而极化减弱，εr下降。电导损耗剧烈上升，tgδ也随温度上升急剧上升。技术参数：双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。测量方法的选择：测量电容率和介质损耗因数的方法可分成两种:零点指示法和谐振法。1 零点指示法适用于频率不超过50 MHz时的测量。测量电容率和介质损耗因数可用替代法 也就是在接人试样和不接试样两种状态下，调节回路的一个臂使电桥平衡。通常回路采用西林电桥、变压器电桥(也就是互感藕合比例臂电桥)和并联 T型网络。变压器电桥的优点:采用保护电极不需任何外加附件或过多操作，就可采用保护电极 它没有其他网络的缺点。2 谐振法适用于10 kHz一几百MHz的频率范围内的测量。该方法为替代法测量，常用的是变电抗法。但该方法不适合采用保护电极。 注:典型的电桥和电路示例见附录。附录中所举的例子自然是不全面的，叙述电桥和侧量方法报导见有关文献和该种仪器的原理说明书。 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。1．Q值测量a．Q值测量范围：2～1023。b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差 频率范围（100kHz～10MHz）： 频率范围（10MHz～160MHz）： 固有误差：≤5％±满度值的2% 固有误差：≤6％±满度值的2% 工作误差：≤7％±满度值的2% 工作误差：≤8％±满度值的2%2．电感测量范围：4.5nH~7.9mH3．电容测量：1~205 主电容调节范围：18～220pF 准确度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明4. 信号源频率覆盖范围 频率范围CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz, CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,5．Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。6．B-测试仪正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。玻璃纤维介电常数测试仪极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加，其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是必不可少的. 注:湿度的显著影响常常发生在 1MHz以下及微波频率范围内玻璃纤维介电常数测试仪实验环境条件如温度、湿度对测定结果的影响。温度：温度变化会引起高聚物的粘度变化，因而极化建立过程所需要的时间也起变化。温度对取向极化（介电常数）有两种相反的作用，一方面温度升高，分子间相互作用减弱，粘度下降，使偶极转动取向容易进行，介电常数增加；另一方面，温度升高，分子热运动加剧，对偶极转动干扰增加，使极化减弱，介电系数下降。对于一般的高聚物来说，在温度不太高时，前者占主导地位，因而温度升高，介电常数增大，到一定范围，后者超过前者，介电常数即开始随温度升高而减小。湿度：湿度越大，水分越多，能明显增加高聚物介电损耗的极性杂质。在低频下，它主要以离子电导形式增加电导电流，引起介电损耗；在微波频率范围，水分子本身发生偶极松弛，出现损耗峰。对于极性高聚物，水有不同程度的增塑作用，尤其是聚酰胺类和聚丙烯酸酯类等，结果将使高聚物的介电损耗峰向较低温度移动。水对热固性塑料也有影响。玻璃纤维介电常数测试仪频率的影响：1）当外加电场频率很低，即ω→0时，介质的各种极化都能跟上外加电场的变化，此时不存在极化损耗，介电常数达最大值。介电损耗主要由电导损耗引起，PW和频率无关。tgδ=σ/ωε，则当ω→0时，tgδ→∞。随着ω的升高，tgδ减小。2）当外加电场频率逐渐升高时，松弛极化在某一频率开始跟不上外电场的变化，松弛极化对介电常数的贡献逐渐减小，因而εr随ω升高而减少。在这一频率范围内，由于ωτ1，故tgδ随ω升高而增大，同时Pw也增大。3)当ω很高时，εr→ε∞，介电常数仅由位移极化决定，εr趋于最小值。此时由于ωτ1，此时tgδ随ω升高而减小。ω→∞时，tgδ→0。玻璃纤维介电常数测试仪因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的 。r和 tans几乎是恒定的，且被用作工程电介质材料，然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。 电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生，重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的.

产品名称：介电常数测试仪介绍产品型号：LJD-B、LJD-C、QS-37符合标准：GB/T1409、GB/T5594产品用途：固体、液体绝缘材料的介电常数及介质损耗测试适用材料：橡胶塑料薄膜、陶瓷玻璃、绝缘材料、高分子材料等测试范围：10KHZ-70MHZ、100KHZ-160MHZ主要配置：主机Q表、夹具、电感组成测试项目：介电常数、介质损耗、介质损耗因数、介质损耗角正切值使用人群：科研所、教学、质量监督局、军工单位等付款方式：全款发货产品品牌：中航鼎力产品货期：1-3个工作日产品类别：电性能检测仪器 ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法1 本标准是以固定代号D150发布的。其后的数字表示原文本正式通过的年号；在有修订的情况下，为上一次的修订年号；圆括号中数字为上一次重新确认的年号。上标符号（ε）表示对上次修改或重新确定的版本有编辑上的修改。　　　　本标准经批准用于国防部所有机构。1.介电常数测试仪范围1.1 本试验方法包含当所用标准为集成阻抗时，实心电绝缘材料样本的相对电容率，耗散因子，损耗指数，功率因子，相位角和损耗角的测定。列出的频率范围从小于1Hz到几百兆赫兹。注1：在普遍的用法，“相对”一词经常是指下降值。1.2 这些试验方法提供了各种电极，装置和测量技术的通用信息。读者如对某一特定材料相关的议题感兴趣的话，必须查阅ASTM标准或直接适用于被测试材料的其它文件。2,31.3　　本标准并没有完全列举所有的安全声明，如果有必要，根据实际使用情况进行斟酌。使用本规范前，使用者有责任制定符合安全和健康要求的条例和规范，并明确该规范的使用范围。特殊危险说明见7.2.6.1和10.2.1。1　本规范归属于电学和电子绝缘材料ASTM D09委员会管辖，并由电学试验D09.12附属委员分会直接管理。当前版本核准于2011年8月1日。2011年8月发行。原版本在1922年批准。前一较新版本于2004年批准，即为　D150-98R04。DOI：10.1520/D0150-11。2　 第2章, “交流电损耗和电容率测量,” 工程电介质, Vol. IIB, 实心绝缘材料的电学性能, 测量技术, 3　 第1章, “固体电介质损耗,” 工程电介质,Vol IIA, 实心绝缘材料的电学性能: 分子结构和电学行为, 2.介电常数测试仪引用文件2.1 ASTM标准：4D374 　　　　固体电绝缘材料厚度的标准试验方法D618 　　　　试验用塑料调节规程D1082 　　　云母耗散因子和电容率（介电常数）试验方法D1531 　　　用液体位移法测定相对电容率（介电常数）与耗散因子的试验方法D1711 　　　电绝缘相关术语D5032 　　　用饱和甘油溶液方式维持恒定相对湿度的规程E104 　　　　用水溶液保持相对恒定湿度的标准实施规程E197 　　　　室温之上和之下试验用罩壳和服役元件规程（1981年取消）53.介电常数测试仪术语3.1 定义：3.1.1 这些试验方法所用术语定义以及电绝缘材料相关术语定义见术语标准D1711。3.2 本标准专用术语定义：3.2.1 电容，C，名词——当导体之间存在电势差时，导体和电介质系统允许储存电分离电荷的性能。3.2.1.1 讨论——电容是指电流电量 q与电位差V之间的比值。电容值总是正值。当电量采用库伦为单位，电位采用伏特为单位时，电容单位为法拉，即：C=q/V 　　　　　　　　　　（1）3.2.2 耗散因子（D），（损耗角正切），（tanδ），名词——是指损耗指数（K''）与相对电容率（K'）之间的比值，它还等于其损耗角（δ）的正切值或者其相位角（θ）的余切值（见图1和图2）。D=K''/K' 　　　　(2)ASTM标准手册卷次信息，可参见ASTM网站标准文件汇总。3.2.2.1 讨论——a：D=tanδ=cotθ=Xp/Rp=G/ωCp=1/ωCpRp　　　　　　　　(3)式中：G=等效交流电导，Xp=并联电抗，Rp=等效交流并联电阻，Cp=并联电容，ω=2πf（假设为正弦波形状）耗散因子的倒数为品质因子Q，有时成为储能因子。对于串联和并联模型，电容器耗散因子D都是相同的，按如下表示为：D=ωRsCs=1/ωRpCp　　　　　　　　(4)8.介电常数测试仪装置选择和电容和交流损耗测量方法8.1 频率范围——电容和交流损耗测量方法可分成三种：零值法，共振法和偏转法。任何特殊场合的某一方法选择将主要取决于工作频率。当频率范围为从小于1Hz直到几兆赫兹时，可以使用许多形式的电阻或电感比值臂电容桥。当频率低于1Hz时，要求采用特殊的方法和仪器。在500kHz~30MHz的较高频率下，可使用平行T形网络，因为它们采用了共振电路的一些特征。而当频率从500kHz到几百兆赫兹时，可使用共振法。偏转法只能在从25到60Hz的电源线频率下使用，使用时采用商用指示仪表，此时可以很容易获得要求的较高电压。8.2 直接和替代方法——在任何直接法中，电容和交流损耗值采用该方法所用所有电路元件形式来表示，因此受到所有误差的影响。通过替代方法可以获得更加大的精度，在此方法中可采用连接和断开的未知电容器进行读数。在这些不能改变的电路元件中的误差通常可以排除；然而，仍然保留了连接误差（注4）。8.3 两终端和三终端测量——两终端和三终端测量选择通常是在精度和便利性之间作出一个选择。在电介质样本上使用一个保护电极时，则几乎可排除边缘和接地电容的影响，如6.2的解释。规定采用一个保护终端，则可排除电路元件引入的一些误差。在另一方面，补充的电流元件和护罩通常要求提供相当多的保护终端到测量设备上，这可能增加好几倍的调节次数来获得要求的较后结果。电阻比值臂电容桥用保护电路很少被用于1MHz以上的频率。电导比值臂桥提供了一个保护终端，而不要求额外的电路或调节。平行T形网络和共振电路不提供保护电路。在偏转方法中，可以仅仅通过额外护罩来提供一个保护。一个两终端测微计电极系统的使用提供了许多三终端测量的优点，即几乎排除了边缘和接地电容的影响，但是可能增加观测或平衡调节的次数。其使用也可以排除在较高频率下连接导线的串联电感和电阻导致的误差，其可以在整个频率范围内使用，直至几百兆赫兹。当使用一个保护时，存在耗散因子测量值将小于真实值的可能性。这可能是由于在测量电路保护点和保护电极之间的任何点位置的保护电路的电阻导致的。这还可能来自高接触电阻，导线电阻，或者来自保护电极自身的高电阻。在极端场合，耗散因子将显示为负值。当没有保护的耗散因子高于由于表面泄漏导致的标准值时，该情况较可能存在。电容耦合到测量电极以及电阻耦合连接到保护点的任何点可成为困难的来源。常见保护电阻产生一个与ChClRg成比例的等效负值耗散因子，其中Ch和Cl为电极保护电容，Rg为保护电阻（14）。8.4 液体置换方法——液体置换方法使用时可以采用三终端或自屏蔽两终端试验池。采用三终端试验池，可能直接测定所用液体的电容率。自屏蔽两终端试验池提供了三终端试验池的许多优点，即几乎排除了边缘和接地电容的影响，同时还可以与没有规定一个保护的测量电路一起使用。如果其配有一个完整的测微计电极，在较高频率下连接导线的串联电导电容的影响将可以排除。8.5 精度——8.1所列方法精密考虑了电容率测定精度为±1%，而耗散因子测定精度为±(5% 0.0005)。这些精度取决于至少三个因素：电容和耗散因子观测的精度，所用电极布置导致的这些参量的修正值的精度以及电极之间真空静电容计算的精度。在较好的条件以及较低频率下，电容测量可具有±(0.1% 0.02pF)的精度，而耗散因子可具有±(2% 0.00005)的精度。在较高频率下，当电容达到±(0.5% 0.1pF)，耗散因子达到±(2% 0.0002)时，这些极限值可能增大。配有一个保护电极的电介质样本测量只具有电容误差和电极之间真空静电容计算的误差。受保护电极和保护电极之间间隙太宽导致的误差将通常为几十个百分比，同时修正值可以计算为几个百分比。当平均厚度为2mm时，样本厚度测量误差可为几十个百分比，此时假设可以测量至±0.005mm。圆形样本直径可以测量至具有±0.1%的精度，但是输入作为平方值。将这些误差合并，电极之间真空静电容可以测量至具有±0.5%的精度。与电极之间静电容不同的是，采用测微计电极进行测量的带接触式电极的样本不需要进行修正，假如样本直径足够小于测微计电极直径的话。当两终端样本以任何其它方式进行测量时，边缘电容计算和接地电容测定将涉及相当大的误差，因为每一种误差都可能为2~40%的样本电容。采用目前的这些电容知识，在计算边缘电容时，可能的误差为10%，而在评估接地电容时，其可能的误差为25%。因此涉及的总误差范围可为几十分之一的1%到10%或者更大。然而，当没有电极接地时，接地电容误差降至较小（6.1）。采用测微计电极，0.03阶的耗散因子可以测量准确到±0.0003的真实值，而0.0002阶的耗散因子可以测量准确到±0.00005的真实值。耗散因子范围通常为0.0001到0.1，但是其也可以超过0.1。在10~20MHz的频率下，可以推测0.0002阶的耗散因子。从2到5的电容率值可以测定准确到±2%。该精度受到电极之间真空静电容计算要求测量精度以及测微计电极系统误差的限制。9.介电常数测试仪抽样9.1 抽样说明见材料规范。10.介电常数测试仪程序10.1 样本制备10.1.1 概述——裁剪或模压试验样本至一个合适的形状和厚度，以能按照材料规范进行测试或者按照要求的测量精度，试验方法，和将执行的测量频率来进行测试。按照被测材料要求的标准方法来测量厚度。如果某一特殊材料没有标准，然后按照试验方法D374测量厚度。实际测量点应在材料电极覆盖区域上均匀分布。然后合适的测量电极应用到样本上（第7章）（除非将使用液体置换方法），尺寸和数量选择主要取决于是否将执行三终端或两终端测量，如果执行后者的两终端测量，是否将使用一个测微计电极系统（7.3）。样本电极材料选择将取决于应用的便利性和是否样本必须在高温和高相对湿度下进行调节（第7章）。优选通过一个移动显微镜来获得电极尺寸（如果电极不等效，则是指较小的电极），或者通过刻度为0.25mm的钢尺和一个允许放大至读数准确到0.05mm的放大镜来进行测量。在几个点上测量圆形电极的直径，或者矩形电极的尺寸，以获得一个平均值。10.1.2 测微计电极——样本面积等于或小于电极面积是可以接受的，但是样本的任何部分应不能延伸越过电极边缘。样本边缘应是光滑的，且垂直于薄板平面，同时也应具有清晰的边界，以使得薄板平面尺寸能够测量准确到0.025mm。厚度≤0.025直到≥6mm的厚度值都是可以接受的，这取决于平行板电极系统的较大可用板间距。样本应是扁平的，同时厚度尽可能均匀，且无空隙，外来物质夹杂物，皱纹或任何其它缺陷。已经发现采用一个几个厚度或很多厚度的组合，能更方便和准确得测试极其薄样本。每个样本的平均厚度应尽可能测量准确到±0.0025mm之内。在一些场合，特别是对于薄膜等材料，但通常不包括多孔材料，将优选通过由已知或测量的材料密度，样本面的面积以及在分析天平上通过准确测量获得的样本（或者组合样本，当在多个厚度薄板上进行测试时）质量来计算得出平均厚度。10.1.3 液体置换——当浸泡介质为一种液体时，如果标准液体电容率在样本电容率的大约1%之内（见试验方法D1531），样本大于电极是可以接受的。另外，对于7.3.3所示类型的试验池，将通常要求双份样本，尽管可以在这类试验池中每次测试单个样本。在任何场合，优选样本厚度应不小于大约80%的电极间距，当被测材料耗散因子小于大约0.001时，这变得特别重要。10.1.4 清洗——因为已经发现在某些材料场合，当不带电极进行测试时，样本表面上存在的导电污染物可对结果产生无规律的影响，因此需要采用一种合适的溶剂或其它方式（按照材料规范所述）来清洗试验样本，同时允许在试验之前彻底干燥样本（15）。当将在空气中在低频率（60~10000Hz）下进行测试时，清洗变得特别重要，但是如在无线电频率下进行测量时，清洗变得不那么重要。在采用一种液体介质进行试验的场合，样本清洗也将降低污染浸泡介质的趋势。被测材料适用的清洗方法参阅ASTM标准或其它规定本试验的文件。在清洗之后，只用镊子转移样本，然后储存在单独的信封套中，以防止在试验之前被进一步污染。10.2 测量——将带附着电极的试验样本放入一个合适的测量试验池中，然后采用具有要求灵敏度和精度的方法来测量样本的电容和直流损耗。对于日常工作，当较高精度不作要求时，或当样本终端都不用接地时，则没有必要将固体样本放入一个试验池中。102.1 警告——本试验执行期间，致命电压是一种潜在的危险。所有试验装置及电连接到其上的所有相关设备需进行适当的设计和安装以便能安全运行，这是非常重要的。试验期间个人可能接触的所有导电连接进行牢固接地。在执行任何试验时，提供方式来对试验期间处于高电压的所有零件进行接地，或者对试验期间获得一个感应电荷而具有电位的所有零件进行接地，或者对甚至在电压源断开之后还保持带电荷而具有电位的所有零件进行接地。认真指导所有操作者，以使得其能采用正确的程序来安全执行试验。当执行高电压试验时，特别是在压缩气体或在油中测试时，在击穿时释放的能量可能足够导致试验箱发生火灾，爆炸，或者破裂。设计试验设备，试验箱和试验样本，以使得这类情况的发生可能性降至较小，同时排除人身伤害的可能性。如果存在火灾风险，则需配置灭火设备。注2：将样本连接到测量电路所用的方法是非常重要的，特别是对于两终端测量。对于平行替代测量，试验方法D150先前推荐的临界间距连接方法可导致0.5pF的负误差。当两终端样本作为一个保护在一个试验池中进行测量时，可产生一个类似的误差。因为目前已知没有方法能用于评估该误差，当必须避免该数值的误差时，必须使用一种替代方法，也就是说，使用测微计电极，液体浸泡池，或者带受保护导线的三终端样本。注3：为获得电容和耗散因子而执行的测量细节说明以及由于测量电路而执行的任何必要的修正细节说明见商用设备提供的说明书所述。以下章节拟用于提供所需的补充说明。10.2.2 固定电极——准确地调节板间距至一个适合被测样本的值。特别对于低损耗材料，板间距和样本厚度应使得样本将占据不少于大约80%的电极间隙。对于在空气中的试验，不建议板间距小于大约0.1mm。当电极间距没有调节到一个合适值时，必须制备具有合适厚度的样本。测量试验池的电容和耗散因子，然后嵌入样本，同时使得样本位于测微计电极的电极或试验池之间的中心位置。重复测量。为获得较大的精度，如果可以使用测量设备，直接测定△C和△D。记录试验温度。10.2.3 测微计电极——测微计电极常与那些接触样本或其附着电极的电极一起使用。为执行一次测量，首先将样本夹紧在测微计电极之间，然后平衡或调整测量用网络。接着取出样本，重新设置电极，通过移动测微计电极使得更近地靠在一起，使得电路或桥臂中的总电容重新恢复至其原始值。10.2.4 液体置换方法——当使用单种液体时，充满试验池中，然后测量电容和耗散因子。小心插入样本（或组合样本，如果使用了两个样本池），然后将其置于中心位置。重复测量。为获得较大的精度，如果可以使用测量设备，直接测定△C和△D。从液体中迅速地取出样本，以防止发生膨胀，然后在继续测试另一样本之前重新充满试验池至适当的液位。结果计算公式见表2给出。试验方法D1531详细描述了采用了本方法测量聚乙烯的应用。当受保护试验池为耐震结构时，按照准确温度控制条款，例如试验方法D1531中方法B的建议，则可通过在两种液体中测量样本来获得更大的精度。本方法也排除了已知样本尺寸的需要。该程序与以前的程序相同，除了使用两种不同电容率的流体之外（12,13,18）。使用空气作为靠前种流体是很方便的，因为这能避免测量期间清洗样本的必要性。受保护试验池的使用能允许测定所用液体或流体电容率测定。当采用一种或两种流体方法时，可能获得较大的精度，此时一种液体的电容率较接近匹配样本的电容率。注4：当采用两种流体方法时，可由任一组读数获得耗散因子（其中采用具有较高Kf'的那组数据可获得较准确的耗散因子）。10.3电容率，耗散因子和损耗指数的计算——对于在某一给定频率下测量的样本，所用测量电路将给出电容值，交流损耗值（用Q表示），耗散因子，或串联或并联电阻。当由观测电容值计算得出电容率时，这些值必须转换为并联电容，如果不是如此来表示，则使用公式5。当使用测微计电极时，表3给出的公式可用于计算样本的电容。对于不同的电极系统，表2给出的公式可用于计算电容率和耗散因子。当使用平行替代方法时，耗散因子读数必须乘以总电路电容与样本或试验池电容的比值。Q和串联或并联电阻也要求由观测值计算得出。电容率为：Kx'=Cp/Cv　　　　　　　　　（11）　　　　平坦平行板和共轴圆柱的真空电容表达（6.4）见表1给出。当交流损耗采用串联电阻或并联电阻或电导来表示时，使用公式3和4给出的关系式来计算耗散因子（见3.1.2.1）。损耗指数等于耗散因子和电容率的乘积（见3.4）。10.4 修正——将样本连接到测量电路所用的导线具有电导和电阻，在高频率下，它们能较大测量的电容和耗散因子。当测量中已包括额外电容时，例如边缘电容和接地电容，这些电容在两终端测量时可产生电位，此时观测并联电容将增大，同时观测耗散因子将减小。这些影响的修正值在附录X1和表1中给出。11.介电常数测试仪报告11.1 报告以下信息：11.1.1 描述被测试的材料，也就是指名称，等级，颜色，制造商和其它相关数据，11.1.2 试验样本形状和尺寸，11.1.3 电极和测量池的类型和尺寸，11.1.4 样本调节，和试验条件，11.1.5 测量方法和测量电路，11.1.6 施加电压，有效电压梯度和频率，11.1.7 并联电容值，耗散因子值或功率因子值，电容率值，损耗指数值以及评估的精度值。12.介电常数测试仪精度和偏差12.1 精度——本规范提出的任一种试验方法的精度相关说明都不可能制定，因为精度受到被测材料和测量所用装置选择的影响。对于特定材料，鼓励这些试验方法用户探寻适用于特定材料的标准精度说明（也可见第8章）。12.2 偏差——任一种或所有这些试验方法未能制定偏差相关的说明。13.介电常数测试仪关键字13.1 直流损耗；电容；并联，串联，边缘现象，杂散；电导；接触式电极；电介质；介电常数；耗散因子；电绝缘材料；电极；液体置换；频率；边缘现象电容；受保护电极；Hz；损耗角；损耗因子；损耗正切值；非接触式电极；电容率；相位角；缺相角；功率因子；Q；品质因子；电抗；并联，串联；相对电容率；电阻；平行，串联；tan(Δ)；厚度其它产品型号名称符合标准LJC-50KV5万伏电压击穿试验仪GB/T1408-2006、ASTM D149LST-121体积表面电阻率测试仪GB/T1410-2006、ASTM D257-99LJD-B介电常数介质损耗测试仪GB/T1409-2006QYH-96塑料球压痕硬度测试仪GB/T3398-2008M-200橡胶塑料摩擦磨损试验机GB/T3960-1983XRW-300HA热变形维卡温度测定仪GB/T8802-2001XNR-400A熔体流动速率测定仪GB/T3682-2000CZF-5水平垂直燃烧试验仪GBGB/T5169.16-2002、ANSI/UL94JF-3氧指数测定仪GB/T2406.2-2009 GB/T 2406.1-2008DJC-1型单根电线电缆垂直燃烧试验机GB/T18380.11-2008LDQ-2漏电起痕试验仪UL746A、ASTMD3638-92PMSC-3塑料泡沫水平垂直燃烧试验仪GB/T8333-2008QCS-2汽车内饰材料燃烧试验仪GB8410-2006XGB-10B管材静液压试验机GB/T6111、GB/T15560WZY-240wan能制样机GB/T1043

介电常数测试仪工作频率范围是10kHz～160MHz,它能完成工作频率内材料的高频介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。 本仪器中测试装置是由平板电容器和测微圆筒线性电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。 工作特性 1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023； b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；c．标称误差频率范围 25kHz～10MHz 固有误差≤5％±满度值的2% 工作误差≤7％±满度值的2% 频率范围 10MHz～60MHz 固有误差 ≤6％±满度值的2% 工作误差≤8％±满度值的2%电感测量范围 14.5nH～8.14H直接测量范围 1-460P 主电容调节范围 40～500pF 准确度 150pF以下±1.5pF；150pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见使用方法。 信号源频率覆盖范围频率范围 10kHz～70MHzCH1 10～99.9999kHz CH2 100～999.999kHz CH3 1～9.99999MHz CH4 10～70MHz 频率指示误差3×10-5±1个字 5．Q合格指示预置功能：预置范围：5～1000 6．Q表正常工作条件 a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。 7．其他 a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c.外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。 介电常数的定义 介电常数描述的是材料与电场之间的相互作用。介电常数 (K*)等于复数相对介电常数(ε*r)，或复数介电常数(ε*)与真空介电常数(ε0)的比值。复数相对介电常数的实部(ε'r) 表示外部电场有多少电能储存到材料中；对于绝大多数固体和液体来说，ε'r1。复数相对介电常数的虚部(ε"r) 称为损耗系数，表示材料中储存的电能有多少消耗或损失到外电场中。ε"r始终0，且通常远远小于ε'r。损耗系数同时包括介电材料损耗和电导率的效应。 如果用简单的矢量图表示复数介电常数，那么实部和虚部的相位将会相差90°。其矢量和与实轴(ε'r)形成夹角δ。通常使用这个角度的正切值tanδ或损耗角正切来表示材料的相对“损耗”。 使用平行板法测量介电常数 当使用阻抗测量仪器测量介电常数时，通常采用平行板法。平行板法在ASTM D150标准中又称为三端子法，其原理是通过在两个电极之间插入一个材料或液体薄片组成一个电容器，然后测量其电容，根据测量结果计算介电常数。在实际测试装置中，两个电极配备在夹持介电材料的测试夹具上。阻抗测量仪器将测量电容(C)和耗散(D)的矢量分量，然后由软件程序计算出介电常数和损耗角正切。 当简单地测量两个电极之间的介电材料时，在电极边缘会产生杂散电容或边缘电容，从而使得测得的介电材料电容值比实际值大。边缘电容会导致电流流经介电材料和边缘电容器，从而产生测量误差。 使用保护电极，可以消除边缘电容所导致的测量误差。保护电极会吸收边缘的电场，所以在电极之间测得的电容只是由流经介电材料的电流形成，这样便可以获得准确的测量结果。当结合使用主电极和保护电极时，主电极称为被保护电极。接触电极法 这种方法通过测量与被测材料（MUT）直接接触的电极的电容来推导出介电常数。 介电常数和损耗角正切通过以下公式 计算: 其中Cp: MUT的等效平行电容 [F] D: 耗散系数 (测量值) tm: MUT 的平均厚度 [m] A: 被保护电极的表面积 [m2] d: 被保护电极的直径 [m] ε0: 自由空间的介电常数 =8.854 x 10-12 [F/m] 接触电极法不需要制备任何材料，而且测量操作非常简单，因此得到zui广泛的使用。不过在用这种方法进行测量时，如果没有考虑到空气间隙及其影响，那么可能会产生严重的测量误差。 当电极直接接触 MUT 时，MUT 与电极之间会形成一个空气间隙。无论 MUT 两面组成得多么平坦和平行，都不可避免会产生空气间隙。这个空气间隙会导致测量结果出现误差，因为测量的电容实际上是介电材料与空气间隙串联结构的电容。 通过用薄膜电极接触介电材料的表面，可以减小空气间隙的影响。虽然需要进行额外的材料制备 (制作薄膜电极)，但可以实现zui准确的测量。 ※非接触电极法 非接触电极法从概念上来说融合了接触电极法的优势，并避免了其缺点。它不需要薄膜电极，但仍可解决空气间隙效应。根据在有 MUT 和没有 MUT 时获得的两个电容测量结果推导出介电常数。 理论上，电极间隙 (tg)应比 MUT的厚度 (tm) 略微小一点。换句话说，空气间隙(tg-tm) 应远远小于 MUT 的厚度(tm)。要想正确执行测量，必须满足这些要求。zui少要进行两次电容测量，以便使用测量结果计算介电常数。 平行板测量法的比较 方法： 接触电极 (不使用薄膜电极) 非接触电极 接触电极 (使用薄膜电极) 精度 低 中 高 适用的MUT 具有平滑表面的固体材料 具有平滑表面的固体材料 薄膜电极必须应用到表面 操作 1次测量 2次测量 1次测量 使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法） 标签：介电常数测试仪 介电常数介质损耗测试仪 绝缘介电常数测试仪

橡胶介电常数测试仪由BH916测试装置（夹具）、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT)、及LKI-1型电感器组成，它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的最佳解决方案。1、《BH916介质损耗装置》(测试夹具)是测试系统的核心检测部件，它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。BH916介质损耗测试装置是本公司最新研制的更新换代产品，精密的加工设计、精确的LCD数字读出、一键式清零功能，克服了机械刻度读数误差和圆筒形电容装置不可避免的测量误差。 2、基于串联谐振原理的《GDAT高频Q表》是测试系统的二次仪表，其数码化主调电容器的创新设计代表了行业的最高成就，随之带来了频率、电容双扫描GDAT的全新搜索功能。该表具有先进的人机界面，采用LCD液晶屏显示各测量因子：Q值、电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率10KHz-60MH或200KHz-160MHz，频率精度高达1×10-6。国标GB/T 1409-2006规定了用Q表法来测定电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)，把被测材料作为平板电容的介质，与辅助电感等构成串联谐振因子引入Q表的测试回路，以获取最高的测试灵敏度。因而Q表法的测试结果更真实地反映了介质在高频工作状态下的特征。 　　 GDAT高频Q表的全数字化界面和微机控制使读数清晰稳定、操作简便。操作者能在任意点频率或电容值的条件下检测Q值甚至tanδ，无须关注量程和换算，彻底摒弃了传统Q表依赖面板上印制的辅助表格操作的落后状况，它无疑是电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)测量的理想工具。 3、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT)，实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化，tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理，因而提高了数据的精确度和测量的同一性，是人工读值和人工计算无法比拟的。 4、一个高品质因数（Q)的电感器是测量系统必不可少的辅助工具，关乎测试的灵敏度和精度，在系统中它与平板电容（BH916）构成了基于串联谐振的测试回路。本系统推荐的电感器为LKI-1电感 GDAT高频Q表频率范围20KHz-60MHz/200KHz-160MHz频率指示误差3×10-5±1个字主电容调节范围30-500/18-220pF主调电容误差1%或1pFQ测试范围2～1023 BH916测试装置平板电容极片Φ50mm/Φ38mm可选间距可调范围≥15mm夹具插头间距25mm±0.01mm测微杆分辨率0.001mm夹具损耗角正切值≦4×10-4 （1MHz) 橡胶介电常数测试仪电感测量a．测量范围：0.1μH～1H。b．分 档：分七个量程。0.1～1μH， 1～10μH， 10～100μH，0.1～lmH， 1～10mH， 10～100mH， 100 mH～1H。 橡胶介电常数测试仪振荡频率a．振荡频率范围：25kHz～50MHz；b．频率分档：25～74kHz， 74～213kHz， 213-700kHz， 700kHz～1.95MHz，1.95MHz～5.2MHz， 5.2MHz～17MHz， 17～50MHz。c．频率误差：2×10±1个字。Q合格指示预置功能，预置范围：5～999。 橡胶介电常数测试仪工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80%；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。 高频介质样品（选购件）： 在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。该样品由人工蓝宝石，石英玻璃，氧化铝陶瓷，聚四氟乙烯，环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性 介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法 介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。 主要技术特性 :Q 值测量范围 2 ～ 1023 量程分档 30 、 100 、 300 、 1000 ，自动换档或手动换档固有误差≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）工作误差≤7％ ± 满度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）≤8％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）电感测量范围 4.5nH ～ 140mH 电容直接测量范围1 ～ 200pF 主电容调节范围18 ～ 220pF 主电容调节准确度 100pF 以下 ± 1pF 100pF 以上 ± 1 ％ 信号源频率覆盖范围 100kHz ～ 160MHz 频率分段 （ 虚拟 ）100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz, 10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz频率指示误差3 × 10 -5 ± 1 个字 搭配了全新的介质损耗装置与GDAT系列q表搭配使用 概述BD916介质损耗测试装置与本公司生产的各款高频Q表配套，可用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数（损耗角正切值）。BD916介质损耗测试装置是BD916914的换代产品，它采用了数显微测量装置，因而读数方便，数据精确。测试装置由一个LCD数字显示微测量装置和一对间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。BD916介质损耗测试装置须配用Q表作为调谐指示仪器，通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。 BD916介质损耗测试装置技术特性 ：平板电容器极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可选 极片间距可调范围≥15mm 夹具插头间距25mm±0.01mm 夹具损耗正切值≤4×10-4 （1MHz） 测微杆分辨率0.001mm 电感：线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值 9100KHz 98 9.4 25mH8 400KHz138 11.4 4.87mH7400KHz 202 16 0.99mH6 1MHz 196 13 252μH5 2MHz198 8.7 49.8μH4 4.5MHz 231 7 10μH 3 12MHz 1936.9 2.49μH212MHz2296.40.508μH 125MHz，50MHz233，211 0.9 0.125μH 介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪作为最新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内最高的160MHz。GDAT高频 Q 表采用了多项技术：A.双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。 B.双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。 C.双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。 D.自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。 E.全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。 F.DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。 计算机自动修正技术和测试回路最优化 —使测试回路 残余电感减至最低，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。 感谢您耐心阅读我们的信息如果您对我们的介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪感兴趣或者有什么疑问欢迎您来电咨询 我们会有专业的工程师为您解决您的疑问！ 北广公司其它绝缘材料检测仪器: BDJC-0-100KV 介电击穿试验仪BDJC系列绝缘材料工频率介电击穿试验仪BDJC系列电压介电强度试验仪器BDJC系列 电压击穿试验仪 BDJC系列绝缘漆漆膜击穿强度试验仪BDJC电容器纸工频电压击穿试验仪BEST-121 体积表面电阻率测定仪 GDAT-A介质损耗测试仪/介电常数测试仪 GDAT-C新型介电常数介质损耗测试仪BDH 耐漏电起痕试验仪BDH-B耐电弧试验仪

产品介绍：DZ5001介电常数测试仪是一款测量介质损耗和介电常数的测量仪器，采用高频谐振法，测量准确度高，大电容显示，具有操作简单，液晶显示，测试精度高等优势。应用范围：DZ5001介电常数测试仪是用于测量介质损耗和介电常数是各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物质的一项重要的物理性质的仪器。通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。测试范围：DZ5001介电常数测试仪器主要是用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数（损耗角正切值）。性能优势：1、电容值直接测量显示功能：测量值可达25nF2、介质损耗系数：精度万分之一/LCD直接显示3、介电常数：精度千分之一/LCD直接显示4、材料测试厚度：0.1mm-10mm参照国标GB/T 1693-2007技术参数：信号源范围DDS数字合成信号10KHZ-100MHZ信号源频率覆盖比7000:1信号源频率精度6位有效数3×10-5 ±1个字 采样精度12BIT 高精度的AD采样，保证了Q值的稳定性，以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围1-1000自动/手动量程Q分辨率4位有效数，分辨率0.1Q测量工作误差5%电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH ：1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差3%调谐电容主电容17-240pF (一体镀银成型，精度高)电容自动搜索是(带步进马达)电容直接测量范围1pF～25nF调谐电容误差 ±1 pF或1%分辨率 0.1pF谐振点搜索自动扫描Q合格预置范围5-1000声光提示Q量程切换自动/手动LCD显示参数F，L，C，Q，Lt，Ct，Er ,Tn等自身残余电感和测试引线电感有

BQS37型高压电桥主要用于测量高压工业绝缘材料的介质损失角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路。电桥由桥体、指另仪、跟踪器组成，本电桥特别适用测量各类绝缘油和绝缘材料的介损（tgδ）及介电常数（ε）。 测量范围及误差 在Cn＝100pF R4＝3183.2（Ω）（即10K/π）时 测量项目测量范围测量误差电容量Cx40pF--20000pF±0.5% Cx±2pF介质损耗tgδ0～1±1.5％tgδx±1×10-4在Cn＝100pF R4＝318.3（Ω）（即1K/π）时测量项目测量范围测量误差电容量Cx4pF--2000pF±0.5% Cx±2pF介质损耗tgδ0～0.1±1.5％tgδx±1×10-4辅桥的技术特性 工作电压±12V，50Hz输入阻抗10-12　Ω输出阻抗0.6 Ω放大倍数0.99不失真跟踪电压 0～12V（有效值）指另装置的技术特性 工作电压±12V在50Hz时电压灵敏度不低于1X10-6V／格， 电流灵敏度不低于2X10-9A／格二次谐波 减不小于25db三次谐波 减不小于50db RY1型绝缘油介损测量电极（油杯） RY1型绝缘油介损测量电极（俗称：油杯）是用于对各种电缆油，变压器油，电容器油等液体绝缘材料的介质损耗因数（tgδ），相对介电常数（εr）和直流电阻率（ρ）的精密测量。 RY1型绝缘油介损测量电极在原理和结构上参考了IEC标准，与在我国广泛应用的瑞士Tettex2930性能指标一样. 本产品是一种带有屏蔽保护极，极间距离为2mm圆柱形空气电容器.它能有效地压抑和消除杂散电容影响，提高测量精度.与我公司生产的YG122液体电极专用控温仪配合使用时还能十分方便地没量在规定温度（室温～180℃范围内）的介质损耗因数和介电常数。主要技术指标（1）两极空间距离 2mm（2）空杯电容量 60±5pF（3）最大测量电压 工频2000V（4）空杯tgδ ≤5*10-5（5）液体容量 约40cm3（6）电极材料 不锈钢（7）体积 240mm（直径）*220mm（高）（8）重量 约10kGYG122型液体电极专用控温仪 YG122型液体电极专用控温仪是新一代的绝缘油测量电极的专用控温智能化装置，可与国际通用的圆柱型绝缘油电极配套使用。保证绝缘油在规定时间内到达所需温度，并能恒定较长时间，以便通过高压电桥对绝缘油进行介质损耗因素（tgδ）、相对介电常数（er）进行精密测量。本产品温度显示采用内外温同时显示，加热控制采用两片单片机分别对内、外加热器进行加热控制。控制过程采用PID模糊逻辑控制，能彻底消除电网电压、环境温度变化等的影响，具有控温超调量小、控温速度快的优点。温度设置采用数字键盘输入方式，使设定误差真正达到零。输入输出都有光藕隔离。本产品还具有内部硬件线路自我诊断功能，保证工作的安全、可靠。主要技术指标 测温范围 0～199.9℃测温精度 ±1+0.1℃控温范围 室温～199.9℃控温稳定度 ±（1+0.1）℃由室温加热至控温值：不大于60min在控制温度恒定时间不大与15min加热功率： 1000W（包括内、外加热器） 北广公司其它绝缘材料检测仪器: BDJC-0-100KV 介电击穿试验仪 BDJC系列绝缘材料工频率介电击穿试验仪 BDJC系列电压介电强度试验仪器 BDJC系列 电压击穿试验仪 BDJC系列绝缘漆漆膜击穿强度试验仪 BDJC电容器纸工频电压击穿试验仪 EST-121 体积表面电阻率测定仪 GDAT-A介质损耗测试仪/介电常数测试仪 GDAT-C新型介电常数介质损耗测试仪 BDH 耐漏电起痕试验仪 BDH-B耐电弧试验仪 注重每一个细节是北广公司对于每个客户的承诺 ， 也是北广公司一直追求的宗旨。 中国检测行业与验证服务的尖端者和智领者，帮助众多检测质检单位和学校教研单位提供一站式的全面质量解决方案。 北京北广精仪仪器设备有限公司

绝缘管材工频介电常数测试仪一、范围GB1409绝缘材料介电常数介质损耗测试仪：规格：符合GB1409、GB5654及GB/T1693, ASTM D150-1998（2004） 固体电绝缘材料的交流损耗特性及介电常数的试验方法其采用了西林电桥的经典线路，内附0-3000的数显高压电源及100PF标准电容器，并可按用户要求扩装外接标准电容绝缘管材工频介电常数测试仪二、介电常数介质损耗测试仪技术参数2-1测量范围及误差本电桥的环境温度为20±5℃，相对湿度为30%-80%条件下，应满足下列表中的技术指示要求。在Cn=100 pF R4=3183.2（Ω）时测量项目测量范围测量误差电容量Cx40pF—20000pF±0.5% Cx±2pF介损损耗tgδ0-1±1.5% tgδx±0.0001在Cn=100 pF R4=318.3（Ω）时测量项目测量范围测量误差电容量Cx4pF—2000pF±0.5% Cx±3pF介损损耗tgδ0-0.1±1.5% tgδx±0.00012-2电桥测量灵敏度电桥在使用过程中，灵敏度直接影响电桥平稳衡的分辨程度，为保证测量准确度，希望电桥灵敏度达到一定的水平。通常情况下电桥灵敏度与测量电压，标准电容量成正比。在下面的计算公式中，用户可根据实际情况估算出电桥灵敏度水平，在这个水平上的电容与介质损耗因数的微小变化都能够反应出来。ΔC/C或Δtgδ=Ig/UωCn(1+Rg/R4+Cn/Cx)式中: U 为测量电压 伏特 (V)ω为角频率2πf=314(50Hz)Cn标准电容器容量 法拉(F)Ig通用指零仪的电流5×10-10 安培(A)Rg平衡指零仪内阻约1500 欧姆(Ω)R4桥臂R4阻值3183 欧姆(Ω)Cx被测试品电容值 法拉(pF)2-3工作电压说明在使用中，本电桥顶A，B对V点的电压高不超过11V，R3桥臂各盘的电流不超过下列规定：10×1kΩ 1max≤15mA10×100Ω 1max≤120mA10×10Ω l max≤150mA用户在使用前应注意以上的问题。如不清楚，可根据实验电压及标准电容量，按以下公式来计算出大概的工作电流。I=ω V C2-4辅桥的技术特性：不失真跟踪电压0～11V（有效值）2-5指零装置的技术特性：在50Hz时电压灵敏度不低于1×10-6V/格电流灵敏度不低于2×10-9 A/格二次谐波 减不小于25dB三次谐波 减不小于50dB

绝缘纸介电常数介质损耗测试仪一、概述：LJD-C型介电常数介质损耗测试仪作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内zui高的160MHz.LJD-C介电常数测试仪采用了多项技术：双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至 ，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。LJD-C介电常数介质损耗测试仪的创新设计，无疑为高频元器件的阻抗测量提供了完美的解决方案，它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具，测量值更为精确，测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质，无须关注量程和换算单位。二、主要技术特性：Q 值测量范围: 2 ～ 1023,量程分档：30100﹑300﹑1000，自动换档或手动换档固有误差:≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）工作误差:≤7％ ± 满度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）,≤8％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）电感测量范围: 4.5nH ～ 140mH电容直接测量范围: 1 ～ 200pF主电容调节范围: 18 ～ 220pF主电容调节准确度: 100pF 以下 ± 1pF 100pF 以上 ± 1 ％信号源频率覆盖范围: 100kHz ～ 160MHz频率分段 （ 虚拟 ）: 100 ～ 999.999kHz, 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz频率指示误差 :3 × 10 -5 ± 1 个字三、夹具工作特性1.平板电容器：极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可选极片间距可调范围：≥15mm2. 夹具插头间距：25mm±0.01mm3. 夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）4．测微杆分辨率：0.001mm四、配置：主机一台电感九支夹具一套随机文件一套一、概述LJD-B/LJD-C介电常数测试仪主要区别LJD-BLJD-C测试频率范围10kHz～70MHz100kHz～160MHz主调电容控制传感器步进马达电容搜索无有 LJD-B/LJD-C介电常数测试仪能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介电常数和介质损耗因数，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。LJD-B/LJD-C介电常数测试仪是北京中航鼎力仪器设备有限公司zui新研制的产品，它以DDS数字直接合成方式产生信号源，频率达70MHz/160MHz，信号源具有信号失真小、频率精确、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的精确性。LJD-B主电容调节用传感器感应，电容读数精确,且频率值可设置。LJD-C主电容调节用步进马达控制，电容读数更加精确,频率值和电容值均可设置。LJD-B/LJD-C电容、电感、Q值、频率、量程都用数字显示，在某一频率下，只要能找到谐振点，都能直接读出电感、电容值，大大扩展了电感和电容的测量范围，而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。LJD-B/LJD-C特有的谐振点频率自动搜索或LJD-C独有的电容自动搜索功能，能帮助你在使用时快速地找到被测量器件的谐振点，自动读出Q值和其它参数。Q值量程可手动或自动转换。二、工作特性 1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023； b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；c．标称误差LJD-BLJD-C频率范围10kHz～10MHz100kHz～10MHz固有误差≤5％±满度值的2%≤5％±满度值的2%工作误差≤7％±满度值的2%≤7％±满度值的2%频率范围10MHz～70MHz10MHz～160MHz固有误差≤6％±满度值的2%≤6％±满度值的2%工作误差≤8％±满度值的2%≤8％±满度值的2% 2．电感测量范围LJD-BLJD-C1nH～8.4H1nH～140mH3．电容测量LJD-BLJD-C直接测量范围1～520p1～223p主电容调节范围30～550pF17～240pF准确度100pF以下±1pF；100pF以上±1%100pF以下±1pF100pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见使用方法。 4．信号源频率覆盖范围LJD-BLJD-C频率范围10kHz～70MHz/110MHz0.1～160MHzCH110～99.9999kHz0.1～0.999999MHzCH2100～999.999kHz1～9.99999MHzCH31～9.99999MHz10～99.9999MHzCH410～70MHz100～160MHz频率指示误差3×10-5±1个字5．Q合格指示预置功能：预置范围：5～1000 6．主机正常工作条件 a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。 7．其他 a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。三、工作原理 1．“Q”的定义 是根据串联谐振原理设计，以谐振电压的比值来定位Q值。“Q”表示元件或系统的“品质因数”，其物理含义是在一个振荡周期内贮存的能量与损耗的能量之比。对于电抗元件(电感或电容)来说，即在测试频率上呈现的电抗与电阻之比。 或 … … … … … … … … … … … (1) 图（一）所示的串联谐振电路中，所加的信号电压为Ui，频率为f，在发生谐振时 或 … … … … … … … … … … … … (2) 回路中电流 … … … … … … … … … … … … … … … … (3)故电容两端的电压 … … … … … … … … … … … … … (4) 即谐振时电容上的电压与输入电压之比为Q。 主机就是按上述原理设计的。 2．主机整机工作原理（见图二）图二LJD-B/LJD-C型的工作原理框图如图二所示。它以ATM128单片机作为控制核心，实现对各种功能的控制。DDS数字直接合成信号源为Q值测量提供了一个优质的高频信号。信号源输出一路送到程控衰减器和自动稳幅放大控制单元，该单元根据CPU的指令对信号衰减后送往信号激励放大器，同时对信号检波后送出一直流控制信号到压控信号源实现自动稳幅。信号激励部分输出送到一个宽带分压器，由分压器馈给测试调谐回路一个恒定幅度的信号。当测试回路处于谐振状态时，在调谐电容CT两端的信号幅度将是分压器提供的信号幅度Q倍。在CT两端取得的调谐信号被信号放大单元适当放大后送到检波和数字取样单元，检波后送到控制中心CPU去进行数据处理。 LJD-B调谐电容带动传感器，不断地将电容变化的信息送往中心控制CPU，经处理后计算出电容值，再根据频率值计算出谐振时的频率值。 LJD-C调谐电容有步进马达带动，根据不同电容值由CPU计算脉冲数去控制马达。电容值可预置并可电容搜索。 LJD-B/LJD-C型主机工作频率值、频段、主调电容器值、谐振电感值、Q值、Q值比较设置状态、Q值量程、手/自动状态、频率或电容搜索指示、Q值调谐指示带都显示在液晶屏上，如图三所示。图三整个显示屏上的信息共分为四行di一行：左边 信号源频率指示，共6位； 右边 信号源虚拟频段指示（1-4）。第二行：左边 调谐电容的电容指示值，4位； 右边 电感指示值，4位。第三行：左边 Q值指示值； 右边 Q值合格比较状态 。第四行：左边 Q值量程，手动/自动切换指示/调谐点自动搜索指示；右边上部 Q值量程范围指示；右边下部 Q值调谐光带指示。四、结构特性 LJD-B/LJD-C型主机采用了较低的台式机箱，面板采用PC丝印面板，美观大方。 各主要功能单元，除了显示部分为了显示方便和调谐测试回路，放大单元为了减小分布参数，安装在面板上外，其余都安装在机内底板上，详见图四面板示意图。 A．LJD-B/LJC-C型前面板各功能键说明

介电常数测试仪器LJD-BLJD-B介电常数测试仪器是我公司zui新一代通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器。介电常数测定仪以单片计算机作为仪器的控制、测量核心，真正实现了介质损耗及介电常数测定仪的数字化，电容、电感、Q值、信号源频率都在一个液晶屏上展示出来。在你操作时，再也不用去注意量程和换算单位。在任何频率下，只要能找到谐振点，都能直接读出电感、电容值，大大扩展了电感的测量范围，而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。介电常数测定仪采用DDS数字直接合成方式的内部信号源，具有信号失真小，频率jing确、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的jing确性。介电常数测定仪还采用了标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程手动或自动转换，自动稳幅等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至zui低，使得新表在使用时更为方便，测量值更为jing确。 介电常数测定仪能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。二、工作特性1．Q值测量a．Q值测量范围：2～1023。b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差频率范围20kHz～10MHz；固有误差≤5％±满度值的2％；工作误差≤7％±满度值的2％；频率范围10MHz～60MHz；固有误差≤6％±满度值的2％；工作误差≤8％±满度值的2％。2．电感测量范围：14.5nH~8.14H3．电容测量： 1~ 460直接测量范围 1～460pF主电容调节范围 准确度 30～500pF 150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1％注：大于直接测量范围的电容测量见使用规则4．信号源频率覆盖范围频率范围10kHz～50MHz频率分段（虚拟）10～99.9999kHz 100～999.999kHz 1～9.99999MHz 10～60MHz 频率指示误差3×10-5±1个字5．Q合格指示预置功能预置范围：5～1000。6．介质损耗及介电常数测定仪正常工作条件a. 环境温度： 0℃～+40℃；b．相对湿度： 80％；c．电源： 220V±22V，50Hz±2.5Hz。7．其他a．消耗功率： 约25W；b．净重： 约7kg；c. 外型尺寸： （l×b×h）mm：380×132×280。

LJD-C型介电常数测试仪一、概述： LJD-C型介电常数测试仪作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz.LJD-C介电常数仪采用了多项技术。双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至*低，消除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。二、主要技术特性：1信号源DDS数字合成信号 100KHZ-160MHZ或200khz-100MHZ2信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数3Q值测量范围1～10234Q值量程分档30、100、300、1000、自动换档或手动换档5电感测量范围1nH～140mH自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能6电容直接测量范围1pF～25nF 7主电容调节范围17～240pF 8准确度150pF以下±1pF；150pF以上±1%9信号源频率覆盖范围100kHz～160MHz10合格指示预置功能范围5～100011环境温度0℃～+40℃12消耗功率约25W13电源220V±22V，50Hz±2.5HzS916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：数显式微杆，平板电容器：极片尺寸： 38mm极片间距可调范围：≥15mm夹具插头间距：25mm±0.01mm夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）测微杆分辨率：0.001mm测试极片：材料测量直径Φ38mm厚度可调 ≥ 15mm *液体杯：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm电感组LKI-1：分别有0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十个电感组成。三、配置： 1 主机 一台 2电感九支3夹具一套4液体杯一套5随机文件一套 一、简介： QS37a型薄膜材料介电常数介质损耗测试仪主要用于测量高压工业绝缘介质损耗角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路,主要可以测量各种绝缘材料在工频高压下的介质损耗（tgδ）和电容量（C）及介电常数(ε)。二、符合标准： GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法.GB/T5654-2007液体绝缘材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量.三、仪器特点： 1、桥体内附电位跟踪器及指零仪，外围接线极少。2、电桥采用接触电阻小，机械寿命长的十进开关，保证测量的稳定性。3、仪器具有双屏蔽，能有效防止外部电磁场的干扰。4、仪器内部电阻及电容元件经特殊老化处理，使仪器技术性能稳定可靠。5、仪器内置100pF标准电容器及5000V数字式高压测试电源。四、技术指标： 1、测量范围及误差本电桥的环境温度为20±5℃，相对湿度为30%-80%条件下，应满足下列表中的技术指示要求。在Cn=100 pF、R4=3183.2（Ω）时： 测量项目测量范围测量误差电容量Cx40pF—20000pF±0.5% Cx±2pF介损损耗tgδ0-1±1.5% tgδx±0.0001在Cn=100 pF、R4=318.3（Ω）时： 测量项目测量范围测量误差电容量Cx4pF—2000pF±0.5% Cx±3pF介损损耗tgδ0-0.1±1.5% tgδx±0.0001 RY2A型固体绝缘材料测试电极一、简介：本电极适用于固体电工绝缘材料如绝缘漆、树脂和胶、浸渍纤制品、层压制品、云母及其制品、塑料、电缆料、薄膜复合制品、陶瓷和玻璃等的相对介电系数（ε）与介质损耗角正切值（tgδ）的测试。本电极主要用于频率在工频50Hz下测量试品的相对介电系数（ε）和介质损耗角正切值（tgδ）。本电极的设计主要是参照国标GB1409。本电极采用的是三电极式结构，能有效的消除表面漏电流的影响，使测量电极下的电场趋于均匀电场。二、主要技术指标：环境温度：20±5℃相对湿度：65±5%高低压电极之间距离：0~5mm可调百分表示值误差：0.01mm测量极直径：50mm（表面积19.6cm2）空极tgδ：≤3×10-5测试电压：2000V体积：Ф210mm H180mm重量：6kgRY2型固体绝缘材料测试电极一、概述RY2型固体绝缘材料测试电极制造成平板型带保护电极的三端式电容器，可以在加压、加温及抽真空条件下，配以高压电容电桥在工频电压下对各类固体绝缘材料（如聚苯乙烯，聚丙烯，电容纸等）的试品作介质损耗因数（tgδ），相对介电常数（ε）的测量。配上高阻计还可测试体积电阻率（Pv）.二、主要性能参数高压电极直径与表面积：￠98mm(75.43cm2)测量电极直径与表面积：￠50 mm(19.6 cm2)电极材料 ：不锈钢1Cr13Ni9Ti电极工作面：精面面磨电极间距：不大于6mm电极加热功率：约2*500瓦电极高温度：200°C(配上FY120B型温控仪，精度0.1°)加热时间： 30分钟电极压力：0~~1.0Mpa连续可调*大测量电压：2000V，50Hz真空度：电极可抽真空至3*10-2 Mpa尺寸重量： 长*宽*高400 mm*300 mm*400 mm，重量：15Kg

一、概述： ZJD-C型介电常数测试仪/GB/T1409-2006介电常数介质损耗测试仪/相对介电常数测试仪/介质损耗测试仪/介质损耗因数测试仪/介质损耗角正切值测试仪/GB/T1693-2007硫化橡胶高频介电常数测试仪/工频介电常数测试仪/固体介电常数介质损耗测试仪/液体介电常数介质损耗测试仪/材料介质损耗和电容率测试仪/阻抗分析仪/GBT5594.4-2015陶瓷件介电常数测试仪/ASTM D150-11交流损耗特性和电容率测试仪/介电常数及介损测试仪作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz.ZJD-C介电常数测试仪采用了多项领先技术。双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至最低，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。二、主要技术特性：*1.信号源: DDS数字合成信号 100KHZ-160MHZ*2.信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数3．Q值测量范围：1～10234．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；*5．电感测量范围：1nH～140mH 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能*6．电容直接测量范围：1pF～25nF 7．主电容调节范围： 17～240pF 8．准确度 150pF以下±1pF；150pF以上±1% 9．信号源频率覆盖范围100kHz～160MHz10．合格指示预置功能范围：5～100011．环境温度：0℃～+40℃；12．消耗功率：约25W；电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。13. S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：数显式微杆，平板电容器：极片尺寸： 38mm极片间距可调范围：≥15mm夹具插头间距：25mm±0.01mm夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）测微杆分辨率：0.001mm测试极片：材料测量直径Φ38mm厚度可调 ≥ 15mm *液体杯：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm14. 介电常数测试仪/GB/T1409-2006介电常数介质损耗测试仪/相对介电常数测试仪/介质损耗测试仪/介质损耗因数测试仪/介质损耗角正切值测试仪/GB/T1693-2007硫化橡胶高频介电常数测试仪/工频介电常数测试仪/固体介电常数介质损耗测试仪/液体介电常数介质损耗测试仪/材料介质损耗和电容率测试仪/阻抗分析仪/GBT5594.4-2015陶瓷件介电常数测试仪/ASTM D150-11交流损耗特性和电容率测试仪/介电常数及介损测试仪电感组LKI-1：分别有0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十个电感组成。三、配置：主机 一台电感 九支夹具 一套液体杯 一套随机文件一套

绝缘材料介电常数测试仪测量方法相对介电常数εr可以用静电场按以下方法测量:首先，在两极板间有真空的情况下，测试电容器的电容C0。然后，通过使用电容器极板之间的相同距离，但是在极板之间添加电介质，来测量电容Cx。那么相对介电常数可以通过下面的公式计算εr=Cx/C0在标准大气压下，不含二氧化碳的干燥空气的相对介电常数ε r为1.00053。因此，当在空气中使用这种电极配置的电容Ca代替C0来测量相对介电常数εr时，有足够的精度。(参考GB/T 1409-2006)对于时变电磁场，物质的介电常数与频率有关，通常称为介电系数。介电常数的定义“介电常数”(绝对介电常数ε)的定义:当电容器极板填充有电介质时，电容增加的倍数称为电介质的介电常数，用ε表示。并明确其单位为F. M-1(定义)。介电常数的单位是什么？介电常数又称介电常数、介电系数或介电常数，是代表绝缘容量特性的系数，用字母ε表示，单位为F/m。它是电位移和电场强度之间的比例常数。这个常数在自由空间(真空)中是8.85×10法拉第/米(F/m)的-12次方。在其他材料中，介电系数可能相差很大，往往比真空中的值大得多，其符号为eo。在工程应用中，介电常数往往以相对介电常数的形式表示，而不是绝对值。如果eo表示自由空间的介电系数(8.85×10的-12次方F/m)，E是材料中的介电系数，那么这种材料的相对介电系数(也叫介电常数)由下式给出:ε 1 = ε/ε o = ε× 1.13× 10的11次方。 绝缘材料介电常数测试仪绝缘材料介电常数测试仪绝缘材料介电常数测试仪绝缘材料介电常数测试仪信号源DDS信号频率范围10KHz-70MHz10KHz-100MHz100KHz-160MHzQ值测量范围2～1023Q值量程分档30、100、300、1000、自动换档或手动换档电感测量范围4.5nH-10mH 160M：1nH-140mH电容直接测量范围1～460pF 160M:1pF-25uF主电容调节范围30～540pF 160M:17-240pF电容准确度150pF以下±1.5pF；150pF以上±1% 型号频率指示误差1*10-6 ±1 Q值合格指示预置功能范围5～1000

一、介电常数测试仪概述GDAT高频Q表能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。GDAT高频Q表是北京北广精仪设备有限公司最新研制的产品，它以DDS数字直接合成方式产生信号源，频率达60MHz /160MHz，信号源具有信号失真小、频率精确、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的精确性。GDAT主电容调节用传感器感应，电容读数精确,且频率值可设置。GDAT电容、电感、Q值、频率、量程都用数字显示，在某一频率下，只要能找到谐振点，都能直接读出电感、电容值，大大扩展了电感的测量范围，而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。GDAT特有的谐振点频率自动搜索或电容自动搜索功能，能帮助你在使用时快速地找到被测量器件的谐振点，自动读出Q值和其它参数。Q值量程可手动或自动转换。二.介电常数测试仪工作特性1．Q值测量a．Q值测量范围：2～1023；b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；c．标称误差 GDAT频率范围25kHz～10MHz固有误差≤5％±满度值的2%工作误差≤7％±满度值的2%频率范围10MHz～60MHz固有误差≤6％±满度值的2%工作误差≤8％±满度值的2%2．电感测量范围GDAT14.5nH～8.14H3．电容测量 GDAT直接测量范围1～460p主电容调节范围40～500pF准确度150pF以下±1.5pF；150pF以上±1%注：大于直接测量范围的电容测量见使用方法。4．信号源频率覆盖范围 GDAT频率范围10kHz～60MHzCH110～99.9999kHzCH2100～999.999kHzCH31～9.99999MHzCH410～60MHz频率指示误差3×10-5±1个字5．Q合格指示预置功能：预置范围：5～10006．Q表正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。7．其他a．消耗功率：约25W；b．净重：约7kg；c. 外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。三、介电常数测试仪工作原理1．的定义Q表是根据串联谐振原理设计，以谐振电压的比值来定位Q值。表示元件或系统的 品质因数 ，其物理含义是在一个振荡周期内贮存的能量与损耗的能量之比。对于电抗元件(电感或电容)来说，即在测试频率上呈现的电抗与电阻之比。在图（一）所示的串联谐振电路中，所加的信号电压为Ui，频率为f，在发生谐振时即谐振时电容上的电压与输入电压之比为Q。Q表就是按上述原理设计的。2．介电常数测试仪Q表整机工作原理（见图二）GDAT 型Q 表的工作原理框图如图二所示。它以ATM128 单片机作为控制核心，实现对各种功能的控制。DDS 数字直接合成信号源为Q 值测量提供了一个优质的高频信号。信号源输出一路送到程控衰减器和自动稳幅放大控制单元，该单元根据CPU 的指令对信号衰减后送往信号激励放大器，同时对信号检波后送出一直流控制信号到压控信号源实现自动稳幅。信号激励部分输出送到一个宽带分压器，由分压器馈给测试调谐回路一个恒定幅度的信号。当测试回路处于谐振状态时，在调谐电容CT 两端的信号幅度将是分压器提供的信号幅度Q 倍。在CT 两端取得的调谐信号被信号放大单元适当放大后送到检波和数字取样单元，检波后送到控制中心CPU 去进行数据处理。GDAT 调谐电容带动传感器，不断地将电容变化的信息送往中心控制CPU，经处理后计算出电容值，再根据频率值计算出谐振时的频率值。AS2853A调谐电容有步进马达带动，根据不同电容值由CPU计算脉冲数去控制马达。电容值可预置并可电容搜索。GDAT 型Q表工作频率值、频段、主调电容器值、谐振电感值、Q值、Q值比较设置状态、Q值量程、手/自动状态、频率或电容搜索指示、Q值调谐指示带都显示在液晶屏上，如图三所示。整个显示屏共分为四行第一行：左边 信号源频率指示，共6位； 右边 信号源虚拟频段指示（1-4）。第二行：左边 调谐电容指示值，4位； 右边 电感指示值，4位。第三行：左边 Q值指示值； 右边 Q值合格比较状态 。第四行：左边 Q值量程，手动/自动切换指示/调谐点自动搜索指示； 右边上部 Q值量程范围指示； 右边下部 Q值调谐光带指示。四、介电常数测试仪结构特性GDAT型Q表采用了较低的台式机箱，面板采用PC丝印面板，美观大方。各主要功能单元，除了显示部分为了显示方便和调谐测试回路，放大单元为了减小分布参数，安装在面板上外，其余都安装在机内底板上，详见图四面板示意图。A．介电常数介质损耗测试仪GDAT型前面板各功能键说明1．工作频段选择/1按键，每按一次，切换至低一个频段工作；先按12键后,再按此键，功能为数字键1。2. 工作频段选择/2按键，每按一次，切换至高一个频段工作；先按12键后,再按此键，功能为数字键2。3．Q值低一档量程选择（手动方式时有效）/3按键；先按12键后，再按此键，功能为数字键3。4．Q值高一档量程选择（手动方式时有效）/4按键；先按12键后，再按此键，功能为数字键4。5．谐振点频率搜索/5按键，按此键显示屏第四行左部出现SWEEP时，表示仪器正工作在频率自动搜索被测量器件的谐振点，如需退出搜索，再按此键；先按12键后,再按此键，功能为数字键5。6．GDAT：数字键6，先按12键后有效；7．Q值合格范围比较值设定/7按键，按此键后，显示屏第三行右部出现COMP字符，当Q合格时，显示OK，並同时鸣响蜂鸣器，Q不合格时，显示NO。设置Q值合格范围详细说明见后页。先按12键后,再按此键，功能为数字键7。8．Q值量程自动/手动控制方式选择/8按键，按此键后，显示屏第四行左部出现D对应的指示：AUTO（自动），MAN（手动）；先按12键后,再按此键，功能为数字键8。9．数字键9，先按12键后有效。10．数字键0，先按12键后有效。11．小数点键, 先按12键后有效。12．复合键频率/电容按键，第一次按下（频率指示数在闪烁）为频率数输入，单位为MHz。例：要输入79.5MHz，按一次此键，频率指示数在闪烁，然后输入79.5，再按一下此键即可。第二次按下（电容指示数在闪烁）为电容数输入，数输入要满4位。例：要输入79.5P，按二次此键，电容指示数在闪烁，然后输入0795，要输入180.5P，输入1805，有效数后为0的，可以不输入0直接再按一下此键结束输入。13．频率调谐数码开关。14．GDAT：主调电容调谐（长寿命调谐慢转结构）；15．介电常数测试仪电源开关。16．液晶显示屏。17．测试回路接线柱：GDAT左边两个为电感接入端，右边两个为外接电容接入端。18．电感测试范围所对应频率范围表。1．～220V电源输入三芯插座，内含保险丝0.5A／220V；2．信号源工作频率监测输出端（阻抗1kΩ）五、介电常数测试仪使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．介电常数测试仪应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法）A．介电常数测试仪直接法a．将被测线圈接在“Lx”接线柱上；b．选择适当的工作频段和工作频率；c．先调调谐电容器到谐振点，即Q表读数达最大，此读数即为被测电感的有效Q值(Qe)，若需得到被测电感的真实Q值（QT），则应先测出线圈分布电容C0，然后照下式修正C1是调谐电容器谐振时读数，如谐振时C1的读数很大，C0只占很小比例，则有效Q值(Qe)和真实Q值(QT)差别可以忽略。当Q值量程选择自动切换时，在调谐时，如遇量程自动转换，应停顿一下，待Q值稳定后，根据读数值变大或变小，确定继续调电容的方向。B．介电常数测试仪变容法a．照直读法“a-d”进行，记下谐振时电容读数C1和Q1；b．调节主调电容数码开关，使Q值二次指示均为Q1的0.707时，记下此时两次电容读数的差数Δ C，倘要得到精确结果，则线圈的分布电容应加在C1之内，并应使主调电容作多次偏调，然后取其平均读数。测Q值较高的线圈时，Q值下降到0.707 Q1时，电容偏调很小，读数误差较大，这时可将主电容作较大偏调(10％以内)，记下偏调数Δ C和偏调后的Q值读数Q2，这时Q值表达式为：C. 介电常数测试仪变频法a．按直进行，记下谐振时读数C1和Q1以及频率读数f0；b．改变信号源的频率使Q值二次指示为Q1的0.707(一次容性失谐，一次感性失谐)，记下此时二次频率读数差值Δ f，这时回路的真实QT为：注：Δ f是频率偏调数，Q1为谐振时Q表读数，Q2是偏调后Q表读数。介电常数测试仪3．高频线圈电感值的测量a．将被测线圈接接线柱上，接触要良好；b．根据线圈大约电感值，按所需选一个合适的频率以保证能谐振；c．如要得到真实电感数（LT），必须先测得电感分布电容量C0，如分布电容较小的话，在调到谐振点后，记下主调电容C1，然后再将主调电容量调在 值上，这时度盘的电感读数乘以对应的倍数，就是所求真实电感读数，也可按以下公式计算求得：f被测电感小于 H时，按上法测得电感值还应减去仪器中测试回路本身剩余电感（GDAT L0约26nH,）。4．高频线圈分布电容C0的测量A．倍频率法如线圈的分布电容较大，可用此法作近似测试。将被测线圈按在接线柱上，调调谐电容器到最大电容数值，调讯号源频率到谐振，令谐振时频率和指示调谐电容分别是f1和C1。然后将讯号源频率调到f2 (f2=n f1)，再调电容器度盘到谐振点，此时电容读数为C2，根据下式即可求出分布电容量（测量时微调电容到零）若取不同C1进行多次测量后取一个平均值，则测试结果将较为准确。B．介电常数测试仪自然频率法（此法可获得较准确的结果）a．将被测线圈接在 接线柱上；b．将微调电容器度盘调至零，调谐电容器度盘调到最大电容值C1；c．调讯号源频率，使回路谐振，该频率为f1；d．取下被测线圈，换上一个能在调谐电容器调节范围内和十倍于f1频率谐振的电感；e．讯号源调到10 f1位置，调节调谐电容器到谐振点；f．将被测线圈接在两端，调节调谐电容器达谐振，此时视电容读数是增加还是减小。若增加，则应将振荡器频率调高些，若减小，则频率调低些；g．再取下被测线圈，调节主调电容达到谐振；h．重复步骤 直到某一频率，被测线圈接上 两端和不接上均不改变谐振点，这一频率即为被测线圈的自然谐振频率f2，它的C0数值为：注：测量中所需辅助线圈可由LKI-l电感组提供便利。5．电容器容量的测量A. 在测量范围内的小于主调电容量的电容器的测量a．选一个适当的谐振电感接的两端；b．将调谐电容器调到最大值附近，令这个电容是，如未知电容是小数值的，应调到较小电容值附C0为回路谐振电感的自身电容。B．大于调谐电容量的电容器用可替代法测量a. 取一只适当容量的标准电容量，其容量为C3，将它接在“Cx”接线柱上；b．按5A／a-c各测试步骤；c．取下标准电容器，将被测电容接到“Cx”接线柱，调节调谐电容器到谐振，此时主调电容量读数为C2，则Cx可由下式得到：6．介电常数测试仪Q合格范围预置功能使用Q合格范围预置功能特别适用于工厂需大批量测试某同一规格元件的Q值，当该元件Q值超过某一给定值或在一定范围内即为合格，这时液晶显示屏显示“OK”，仪器同时鸣叫提醒，这样可减轻工人视力疲劳，同时大大加快了测试速度。介电常数测试仪Q合格范围预置的步骤（例150-170）：a．选择要求的测试频率；b．用一只合格元件或一只辅助线圈调谐主调电容，使Q值读数指示在所需预置Q值位置上；例150，按一下Q值设置键，使显示屏第三行显示“COMP OK”，同时仪器发出鸣叫声，Q值大于150值，液晶屏第三行显示“COMP 150”；c．再调谐主调电容，使Q值读数指示在所需预置Q值位置上；例170，再按一下Q值设置键，液晶屏第三行显示“COMP 170150”，此时Q合格范围预置功能的设置就结束了；d．换上要测试的器件，微调谐振电容至谐振点，如果该器件的Q值在设定范围内（例150-170），Q合格指示“comp OK”，同时仪器发出鸣叫。如果该器件的Q值设定超出该范围，Q合格指示“comp NO”，如需取消已设置的合格值，只要再按一下设置键即可。7．谐振点频率自动搜索功能的使用如果你对电感元件无法确定它的数值时，你就可用该功能来帮你寻找出它的谐振频率点。步骤如下：a．把元件接以接线柱上；b．主调电容调到约中间位上；c．按一下频率搜索按键，显示屏左下部显示“SWEEP””，仪器就进入搜索状态。仪器从最低工作频率一直搜索到最高工作频率，如果你的元件谐振点在频率覆盖区间内，搜索结束后，将会自动停在元件的谐振频率点附近。如果临时要退出搜索状态，可再按一次搜索键，仪器会退出搜索操作。8．谐振点电容自动搜索功能的使用如果你想在已知的频率找出被测量器件的谐振频率点时，你就可用该功能来帮你寻找出它的谐振点。步骤如下：a．把元件接以接线柱上；b．频率设置为所需的频率；c．按一下电容搜索按键，仪器就进入电容搜索状态，仪器从最小电容一直搜索到最大电容，如果你的元件谐振点在电容覆盖区间内，搜索结束后，主电容将会自动停在元件的谐振频率点附近。如果临时要退出搜索状态，可再按一次搜索键，仪器会退出搜索操作。9．频率调谐开关的使用。GDAT的频率调谐采用了数码开关，它能辨别使用者的要求，来调节频率变化的速率(频率变化值／档)。在你快速调节该开关时，频率变化速率也加快，当你缓慢调节开关时，频率变化速率也慢下来。因此在调谐时接近所需的频率时，应放缓调节速度，当你调节的频率超出工作频段的频率时，仪器会自动选择低一个或高一个频段工作。六、介电常数测试仪维修1．新购仪器的检查新购的仪器最好能先用LKI-1电感组，将各个电感在各个不同频率测试Q值，把测试的情况，例使用的电感号、测试频率Q读数、电容读数等多次测得数及测试环境条件逐一详细记录，并把记录保存起来，以供以后维修时作参考。LKI-1电感组是专供测试时作辅助电感用的，不能把这些电感当作高精度的标准电感看待。随着测试环境条件不同，测得电感器Q值和分布电容可能略有不同。2．使用和保养高频Q表是比较精密的阻抗测量仪器，在合理使用和注意保养情况下，才能保证长期稳定和较高的测试精度。a．熟悉本说明书，正确地使用仪器；b．使仪器经常保持清洁、干燥；c．本仪器保用期为18个月，如发现机械故障或失去准确度，可以原封送回本厂，免费修理。3．电感组LKI-1电感组是专供测试作辅助用的，它含有9个屏蔽罩屏蔽的电感。这些电感具有较高的Q值，各电感的电感量等数据如附表一。上述Q值是在BQG-2标准线圈为基准比较测得，电感值未扣除Q表的残余电感.，GDAT残余电感为0.025μH。Q表是根据串联谐振和电压比值原理工作的，Q表的指示Q值是包括被测件的有效Q值及测试回路固有残量在内的整个谐振回路有效Q值，必须用Q表测试回路残量修正Q表的指示Q值，这是Q表测量的一个重要特点。在一般情况下，Q表作为低精度仪器使用或利用Q表对线圈作比较测量时，可不必对残量的影响进行修正。介电常数测试仪 Q 表的Q 值测量误差可按Q 值参考标准不同分为二类。我厂采用的一种是以Q 表生产厂家所提供并经计量部门审核的均值回路标准指示值Qen 为参考标准，Q 表指示Q 值Qi 的相对误差由下式表示：δ Qi=[(Qi-Qen)÷Qen]× 100％式中Qi 为标有Qen 值标准量具在Q 表上的实际指示值。注：修正系数主要用于用户测量一个器件Q 值时，根据指示的Qi 值换算出较准础的Q 值。附表二 各Q 值均值回路指示值QenQe：标准有效Q 值GDAT 型Q 表在测试Q 值时，已对测试回路的残量作了修正，故不再需要对Q 值进行均值修正。七、介电常数测试仪交收检验1．检验环境要求a．环境温度：20℃±2℃，相对湿度50％；b．供电电源：220V±10V，50Hz±1Hz；c．被检设备要预热30分钟以上。2．检验设备要求a. 设备应在计量后的有效使用期内；b. 检验设备应按仪器规定预热。3．Q值指示检验a．检验设备：BQG-2标准线圈一套；b．把标准Q值线圈接入GDAT表电感接线柱上；c．选择标准Q值线圈所规定的检定频率；d．GDAT Q表的Q值读数的相对误差应符合二.1.C条中的固有误差之规定。4．调谐电容器准确度检验a. 测试时如发现干扰，应断开内部信号源；b．设备连接如图六所示，连接线应尽量短，尽可能减小分布电容；c．电容测试仪技术指标测试范围：10-550pF，±5pF；测试精度：10-550pF±0.1％，±5pF±0.05pF。d．调谐电容器刻度盘上指示值与电容测试仪指示值之间误差应符合二.3条的规定。5．频率指示误差检验a．设备连接如图七所示：b．从后面板的频率监测端用BNC电缆连至频率计数器输入端；c．频率计数器技术要求测量范围：10Hz-1000MHz；测量误差：1×10-6；测量灵敏度：30mV。d．测试线要求：高频电缆SYV-50-3；e．Q表频率指示值与频率计数器读数值间的误差应符合二.4条的规定。介电常数测试仪

产品名称及型号：ZJD系类介电常数测试仪一、符合标准：ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法；GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法；GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法；二、主机及夹具参数：项目/型号ZJD-BZJD-AZJD-C信号源DDS数字合成信号频率范围10KHZ-70MHZ10KHZ-110MHZ100KHZ-160MHZ信号源频率覆盖比7000:111000:116000:1采样精度11BIT12BIT信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数Q值测量范围1～1000自动/手动量程Q值量程分档30、100、300、1000、自动换档或手动换档Q分辨率4位有效数，分辨率0.1Q测量工作误差＜5%电感测量范围1nH～8.4H,；分辨率0.11nH～140mH；分辨率0.1电感测量误差＜3%电容直接测量范围1pF～2.5uF1pF～25uF调谐电容误差分辨率±1pF或＜1%主电容调节范围30～540pF17～240pF谐振点搜索自动扫描自身残余电感扣除功能有大电容值直接显示功能有介质损耗系数精度万分之一介电常数精度千分之一LCD显示参数F,L,C,Q,LT,CT,波段等准确度150pF以下±1pF；150pF以上±1%Q合格预置范围5～1000声光提示环境温度0℃～+40℃消耗功率约25W电源220V±22V，50Hz±2.5Hz极片尺寸38mm/50mm(二选一)极片间距可调范围≥15mm材料测试厚度0.1-10mm夹具插头间距25mm±0.01mm夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）测微杆分辨率0.001mm测试极片材料测量直径Φ38mm/50mm，厚度可调 ≥ 15mm三、配置：序号标准配置单位/数量1主机一台2S916夹具一套3电感组九只4电源线一根选配：USB模块、液体杯（测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm）我司经营产品包括：ZJC系类电压击穿试验仪ATI系类体积表面电阻率测试仪ZJD系类介电常数测试仪LDQ-2漏电起痕试验仪JF系类氧指数测定仪CZF系类水平垂直燃烧测定仪WDW系类电子万能试验机XRW系列热变形维卡温度测定仪XNR系类熔体流动速率测定仪ZJJ系类冲击试验机MDJ系类固体/液体等材料的密度测试仪WZY系类万能材料制样机我司产品在全国各省市、地区均有用户、其中包括：质检单位、科研院所、大中院校、国家电网、电科院、材料学院、安监局、应急管理厅、航空航天、纳米研究、能源、电子半导体、涂料、造纸、石油化工、汽车研究、大型工厂、生产企业实验室等。产品范围包括：电学、力学、燃烧、制样、建材、橡胶塑料薄膜等。介电常数测试仪产品及配套展示：

c类型介电常数测试仪技术参数：平板电容极片&Phi 50mm/&Phi 38mm可选频率范围20KHz-60MHz/200KHz-160MHz间距可调范围&ge 15mm频率指示误差3× 10-5± 1个字夹具插头间距25mm± 0.01mm主电容调节范围30-500/18-220pF测微杆分辨率0.001mm主调电容误差1%或1pF夹具损耗角正切值≦4× 10-4 （1MHz)Q测试范围2～1023满足标准：GBT 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法高频介质损耗测试系统由S916测试装置（夹具）、GDAT型高频Q表、数据采集和tandelta 自动测量控件（装入GDAT)、及LKI-1型电感器组成，它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tandelta )和介电常数(epsilon )自动测量的最佳解决方案。a类型介电常数测试仪的技术指标1．Q值测量a．Q值测量范围：2～1023。b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差频率范围20kHz～10MHz；固有误差5％满度值的2％；工作误差7％满度值的2％；频率范围10MHz～60MHz；固有误差6％ 满度值的2％；工作误差8％ 满度值的2％。2．电感测量范围：14.5nH~8.14H3．电容测量：1~ 460直接测量范围1～460pF主电容调节范围30～500pF150pF以下± 1.5pF；准确度150pF以上± 1％注：大于直接测量范围的电容测量见使用规则4．信号源频率覆盖范围频率范围10kHz～50MHz频率分段（虚拟）10～99.9999kHz100～999.999kHz1～9.99999MHz10～60MHz频率指示误差3times 10-5plusmn 1个字5．Q合格指示预置功能预置范围：5～1000。a. 环境温度：0℃～+40℃b．相对湿度：80％；c．电源：220Vplusmn 22V，50Hzplusmn 2.5Hz。7．其他a．消耗功率：约25W；b．净重：约7kg；c. 外型尺寸：mm：380*132*280。8．产品配置：a.测试主机一台；b.电感9只；c.夹具一 套满足标准：GBT 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tan&delta 及介电常数（&epsilon ），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。北广部分产品一览表 产品名称产品型号备注电压击穿试验仪BDJC-10-100KV计算机控制/自动体积表面电阻率测试仪BEST-121液晶显示滑动摩擦磨损试验机M-200橡胶塑料，复合材料万能拉力试验机WDW金属，非金属材料介电常数介质损耗测试仪GDAT-A固体液体材料热变形维卡温度仪BWK-300计算机/液晶塑料球压痕硬度计BQY-96液晶熔体流动速率测定仪BRT-400A计算机海绵泡沫压陷硬度测定仪HMYX-2000计算机/液晶海绵泡沫落球回弹仪HMLQ-500液晶海绵泡沫疲劳冲击测定仪HMPL-2000液晶海绵拉伸强度试验机HMLS-1000液晶海绵压缩永久变形试验机HMYS-200自动海绵泡沫切割机HMQG-100自动水平垂直燃烧试验仪BRS-A自动耐电弧试验仪BDH-20KV计算机漏电起痕试验仪BLD-A高压，低压灼热丝试验仪BZR-A自动橡胶塑料低温脆性冲击试验机BCX-A 单式样，多试样万能制样机BWN-A橡胶塑料缺口制样机BQK-A机械哑铃制样机BYL-A自动氧指数仪BYZ-3自动导热系数仪BJB计算机 北广电性能及橡胶塑料常用仪器 万能材料试验机（电子万能，金属材料，非金属材料，管材，高低温，液压伺服万能试验机）电压击穿试验仪（介电击穿强度，固体绝缘材料电气介电强度试验机）体积表面电阻率测定仪（可测试固体液体膏体粉末材料） 碳素材料电阻率测试仪 电线电缆导体半导体材料电阻率测试仪 橡胶塑料滑动摩擦试验机（国标，非国标，可定制） 介电常数介质损耗测试仪（可测试固体液体） 学校专用介电常数介质损耗测试仪 高频介电常数介质损耗测试仪 工频介电常数介质损耗测试仪 绝缘材料耐电弧性能试验仪 液显热变形维卡软化点温度测定仪 计算机控制热变形维卡温度试验机 塑料球压痕硬度计 熔体流动速率测定仪/熔融指数仪 计算机控制马丁耐热试验仪 海绵泡沫检测仪器 海绵泡沫压陷硬度测定仪 海绵泡沫落球回弹仪 海绵泡沫疲劳冲击测定仪 海绵拉伸强度试验机 海绵压缩永久变形试验机 海绵泡沫切割机 海绵密度测定仪 氧指数测定仪 海绵泡沫阻燃性能试验箱 产品保修承诺： 1、设备保修两年，终身服务，两年内非人为损坏的零部件免费更换，保修期内接到用户邀请后， 最迟响应时间为2小时内，在与用户确认故障后，我公司会在48小时内派工程师到达现场进行免费服务，尽快查清故障所在位置和故障原因，并向用户及时报告故障的原因和排除办法 。 2、保修期内人为损坏的零部件按采购（加工）价格收费更换。 3、保修期外继续为用户提供优质技术服务，在接到用户维修邀请后3天内派工程师到达用户现场进行维修。并享有优惠购买零配件的待遇。　 4、传感器过载及整机电路超压损坏不在保修范围内。

介电常数介质损耗测试仪LJD-BLJD-B介电常数测试仪是我公司新一代通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器。介电常数测试仪以单片计算机作为仪器的控制、测量核心，真正实现了介质损耗及介电常数测试仪的数字化，电容、电感、Q值、信号源频率都在一个液晶屏上展示出来。在你操作时，再也不用去注意量程和换算单位。在任何频率下，只要能找到谐振点，都能直接读出电感、电容值，大大扩展了电感的测量范围，而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。介电常数测试仪采用DDS数字直接合成方式的内部信号源，具有信号失真小，频率精确、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的精确性。介电常数测试仪还采用了标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程手动或自动转换，自动稳幅等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最di，使得新表在使用时更为方便，测量值更为精确。 介电常数测试仪能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。二、工作特性1．Q值测量a．Q值测量范围：2～1023。b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差频率范围20kHz～10MHz；固有误差≤5％±满度值的2％；工作误差≤7％±满度值的2％；频率范围10MHz～60MHz；固有误差≤6％±满度值的2％；工作误差≤8％±满度值的2％。2．电感测量范围：14.5nH~8.14H3．电容测量： 1~ 460直接测量范围 1～460pF主电容调节范围 准确度 30～500pF 150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1％注：大于直接测量范围的电容测量见使用规则4．信号源频率覆盖范围频率范围10kHz～50MHz频率分段（虚拟）10～99.9999kHz 100～999.999kHz 1～9.99999MHz 10～60MHz 频率指示误差3×10-5±1个字5．Q合格指示预置功能预置范围：5～1000。6．介质损耗及介电常数测试仪正常工作条件a. 环境温度： 0℃～+40℃；b．相对湿度： 80％；c．电源： 220V±22V，50Hz±2.5Hz。7．其他a．消耗功率： 约25W；b．净重： 约7kg；c. 外型尺寸： （l×b×h）mm：380×132×280。

产品介绍：介电常数测试仪是介质损耗和介电常数是各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物质的一项重要的物理性质。通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。技术参数：信号源范围DDS数字合成信号10KHZ-100MHZ信号源频率覆盖比7000:1信号源频率精度6位有效数3×10-5 ±1个字 采样精度12BIT 高精度的AD采样，保证了Q值的稳定性，以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围1-1000自动/手动量程Q分辨率4位有效数，分辨率0.1Q测量工作误差5%电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH ：1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差3%调谐电容主电容17-240pF (一体镀银成型，精度高)电容自动搜索是(带步进马达)电容直接测量范围1pF～25nF调谐电容误差 ±1 pF或1%分辨率 0.1pF谐振点搜索自动扫描Q合格预置范围5-1000声光提示Q量程切换自动/手动LCD显示参数F，L，C，Q，Lt，Ct，Er ,Tn等自身残余电感和测试引线电感有