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变温微探针测量系统

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变温微探针测量系统相关的资讯

  • 扫描探针显微镜宽动态范围电流测量系统的研制
    成果名称扫描探针显微镜宽动态范围电流测量系统的研制单位名称北京大学联系人马靖联系邮箱mj@labpku.com成果成熟度&radic 研发阶段 □原理样机 □通过小试 □通过中试 □可以量产成果简介:扫描探针显微镜(SPM)是研究材料表面结构和特性的重要分析设备,具有高精度和高空间分辨的优点,可以在多种模式下工作。其中,扫描隧道显微镜(STM)和导电原子力显微镜(CFM)技术,通过探测偏压作用下针尖与样品间产生的电流,可以获得器件电学特性或材料表面局域电子结构等重要信息,成为目前微纳电子学研究领域的重要工具。SPM中用于探测针尖与样品间电流的关键部件是电流-电压转换器(I-V Converter),其作用是把探测到的微弱电流信号转换为电压信号以便后续处理。目前商用SPM设备中采用的是虚地型固定增益线性电流-电压转换器,典型灵敏度为108 V/A,其主要缺点是电流测量的动态范围较小,只能达到3~4个数量级,这使得目前SPM的电流测量能力被限定在10pA~100nA之间,阻碍了SPM在微纳电子学领域的应用。2012年,信息学院申自勇副教授申请的&ldquo 扫描探针显微镜宽动态范围电流测量系统的研制&rdquo 获得了第四期&ldquo 仪器创制与关键技术研发&rdquo 基金的支持,在项目资金的支持下,申自勇课题组开展了富有成效的工作,包括:(1)宽动态电流测量系统总体设计;(2)测量系统与SPM控制系统的接口设计;(3)测量系统加工制作和联机调试;(4)测量系统性能指标的测试评估与优化。此外,课题组还克服了皮安级微弱电流的高精度低噪声测量、反馈回路中用于非线性转换的双极结型晶体管的温度补偿等技术难题,所研制的测量系统取得了良好的效果。目前,该项目已经顺利结题,其成果装置已经在该课题组相关仪器上正常使用,并在向校内外相关用户推广。应用前景:扫描隧道显微镜(STM)和导电原子力显微镜(CFM)技术,通过探测偏压作用下针尖与样品间产生的电流,可以获得器件电学特性或材料表面局域电子结构等重要信息,成为目前微纳电子学研究领域的重要工具。
  • 新成果!新型磁力显微镜探针问世,侧向分辨率及力学稳定性再提升
    论文题目:Additive Manufacturing of Co3Fe Nano-Probes for Magnetic Force Microscopy发表期刊:Nanomaterials IF: 5.3DOI: https://doi.org/10.3390/nano13071217 【引言】 磁力显微镜(MFM)是一种先进的原子力显微方法,它可以对样品表面的局部磁场区域进行表征,通常被用于磁性薄膜材料、磁斯格明子、磁涡和其他纳米材料磁学特性的研究。MFM的测量非常依赖磁学AFM探针。传统情况下,MFM探针是通过在非磁性探针上沉积磁性材料而实现的。然而,这种方法所制备的MFM探针存在着侧向分辨率低和磁性材料涂层界面力学性能不稳定等问题。这些问题,给MFM探针指明了新的发展方向。 【成果简介】 近日,格拉茨技术大学相关团队通过聚焦电子束诱导沉积(FEBID)的方式制备了基于Co3Fe磁性材料,具有纳米级尖端尺寸的MFM探针。所制备MFM探针的化学和结构通过透射电子显微镜(TEM)进行表征。此外,课题组还利用FusionScope多功能显微镜研究了通过FEBID方法制备的MFM探针在测量中的耐磨性以及长期使用稳定性。通过在不同环境下的测试,课题组发现通过FEBID方法所制备的MFM磁性探针依然具有优异的表现。相关工作以《Additive Manufacturing of Co3Fe Nano-Probes for Magnetic Force Microscopy 》为题在SCI期刊《Nanomaterials 》上发表。 文中使用的FusionScope多功能显微镜采用AFM+SEM原位同步联用技术,可在同一用户界面、同一位置进行AFM和SEM的互补性综合测量。同时,AFM还可轻松实现高级工作模式如:力曲线、导电原子力显微镜(C-AFM)和磁力显微镜(MFM)等,以满足不同测量需求。其原位进行0°-80°AFM与样品台同时旋转功能,可以无盲区实现复杂形貌样品的测量。 FusionScope多功能显微镜设备图 【图文导读】 图1. 通过FEBID方法制备基于Co3Fe磁性材料的MFM探针的示意图。(a)实验中所选用的无针尖压电探针。(b)5keV,5.2pA条件下制备的纳米结构。(c)Co3Fe磁性材料的空心微锥结构。(d)锥形结构的制备方法。(e)通过(d)中的策略所制备的针尖。(f)通过上述方法所制备的半径为10nm的针尖和(g)商业MFM探针针尖的对比图。 图2. 通过FusionScope测量的不同形貌的针尖对于MFM成像效果的影响。 图3. 所制备MFM探针在长时间使用下的稳定性。(a)为样品三维形貌图。(b)为样品的MFM表征结果。 图4. 所制备的MFM探针在环境中长时间保存后的测量性能对比。(a)刚完成制备时探针的MFM表征。(b)制备1年后的探针的表征结果。 【结论】 本文中,格拉茨技术大学相关团队通过聚焦电子束诱导沉积(FEBID)的方式制备了基于Co3Fe磁性材料,所制备MFM探针针尖仅有10 nm,与已有的商业MFM探针相比在微结构尺寸上具有明显优势。通过对所制备MFM探针在各种磁学样品表面进行表征得知,该方法所制备的MFM探针具有分辨率高,耐磨且稳定的优点。该研究为相关微纳磁学相关的研究提供了可能性。值得注意的是,文中MFM的校正工作是在Quantum Design公司研发的FusionScope多功能显微镜上完成的。设备不仅提供了传统扫描电镜(SEM)的形貌表征,还对样品微区进行了三维形貌,磁学等性能的原位表征。不难看出,FusionScope多功能显微镜在微区原位立体表征方面具有得天独厚的优势。
  • 一文解读扫描探针显微镜拓展模式(一)
    01MFM(Magnetic Force Microscopy,磁力显微镜)磁力显微镜(Magnetic Force Microscopy,MFM)是一种专门用于成像样品表面的磁性分布的扫描探针显微镜,通过探针和样品之间的磁力相互作用来获得信息。MFM应用MFM主要用于研究材料的磁性特征,广泛应用于物理学、材料科学、电子学等领域。常见的应用包括:磁记录介质:研究硬盘、磁带等磁记录设备的磁性结构和缺陷;磁性材料:分析磁性薄膜、纳米颗粒、磁性多层膜等材料的磁畴结构;生物磁性:研究生物组织中天然存在的磁性物质,如磁性细菌。应用实例在自旋存储研究中,以斯格明子的研究为例,传统的磁存储单元受限于材料性质,显著影响自旋存储的高密度需求。斯格明子是一种具有拓扑性质的准粒子,其最小尺寸仅为3nm,远小于磁性隧道结,是理想的信息载体,有望突破信息存储密度的瓶颈。下图为通过MFM表征获取的斯格明子图像。[1]标准斯格明子M-H曲线 斯格明子图像在磁盘研究中,通过MFM可以获取磁盘表面的高分辨率磁性图像,详细了解其磁畴结构和分布情况。MFM具有高空间分辨率和灵敏度,为磁盘材料的研究和优化提供了重要的数据支持。下图展示了通过MFM测试获取的磁盘表面磁畴结构图像。电脑软盘磁畴图像02PFM(Piezoresponse Force Microscopy,压电力显微镜)压电力显微镜(Piezoresponse Force Microscopy,PFM)是一种用于研究材料压电性质的扫描探针显微镜,利用探针与样品表面之间的逆压电效应来成像和测量材料的压电响应。材料由于逆压电效应产生形变示意图 [2]PFM应用PFM广泛应用于材料科学和电子学领域,尤其是在研究和开发新型压电材料和器件方面。具体应用包括:铁电材料:研究铁电材料的畴结构、开关行为和退极化现象。压电器件:分析压电传感器、致动器和存储器件的性能。生物材料:研究生物组织中的压电效应,例如骨骼和牙齿。应用实例具有显著的压电效应,即在外加机械应力作用下产生电荷。这使其在超声波发生器、压电传感器和致动器中具有重要应用。在研究PbTiO3样品时,通过PFM,可以获取PbTiO3表面的高分辨率压电响应图像,详细了解其畴结构和分布情况,为PbTiO3材料的研究和优化提供了重要的数据支持。下图展示了通过PFM测试获取的PbTiO3样品表面压电力图像。PbTiO3垂直幅度图PbTiO3垂直相位图03EFM(Electrical Force Microscopy,静电力显微镜)静电力显微镜是一种用于测量成像样品表面的电静力特性的扫描探针显微镜。EFM通过探针与样品表面之间的静电力相互作用,获取表面电荷分布和电势信息。静电力显微镜(抬起模式)[3]EFM应用EFM广泛应用于材料科学、电子学和纳米技术等领域,常见的应用包括:电荷分布:测量和成像材料表面的电荷分布。表面电势:研究材料表面的电势分布和电特性。半导体器件:分析半导体器件中的电特性和缺陷。纳米电子学:研究纳米级电子器件的电性能。应用实例Au-Ti条带状电极片静电力04KPFM(Kelvin Probe Force Microscopy,开尔文探针力显微镜)KPFM是一种通过探针与样品之间的接触电势差来获取样品功函数和表电势分布的扫描探针显微镜。KPFM广泛应用于金属、半导体、生物等材料表面电势变化和纳米结构电子性能的研究。KPFM 获取 Bi-Fe薄膜样品表面电势 [4]KPFM应用KPFM在材料科学、电子学和纳米技术等领域具有广泛的应用,常见的应用包括:表面电势分布:测量和成像材料表面的局部电势分布。功函数测量:研究材料的功函数变化,特别是对于不同材料的界面和缺陷。半导体器件:分析半导体器件中的电势分布和电学特性。有机电子学:研究有机半导体和有机电子器件的表面电势。应用实例Au-Ti条带状电极片表面电势05SCM(Scanning Capacitance Microscopy,扫描电容显微镜)扫描电容显微镜(Canning Capacitance Microscopy,SCM)是一种用于测量和成像样品表面的电容变化的扫描探针显微镜。SCM能够通过探针与样品表面之间的电容变化,提供高分辨率的局部电学特性图像。这种显微镜适用于研究半导体材料和器件的电学特性,如掺杂浓度分布、电荷分布和界面特性等。SCM在半导体工艺和材料研究、故障分析以及器件优化中发挥着重要作用。通过SCM,研究人员能够获得纳米尺度的电学特性信息,从而推动半导体技术的发展和创新。SCM原理示意图 [5]SCM应用SCM主要应用于半导体材料和器件的研究,广泛应用于电子学和材料科学领域。具体应用包括:掺杂分布:测量和成像半导体材料中的掺杂浓度分布。电荷分布:研究半导体器件中的电荷分布和电场。材料特性:分析不同材料的电容特性和介电常数。06致真精密仪器自主研发的原子力显微镜科研级原子力显微镜AtomEdge产品介绍利用微悬臂探针结构对导体、半导体、绝缘品等固体材料进行三维样貌表征,纵向噪音水平低至0.03 nm(开环),可实现样品表面单个原子层结构形貌图像绘制。可以测量表面的弹性、塑性、硬度、黏着力、磁性、电极化等性质,还可以在真空,大气或溶液下工作,在材料研究中获得了广泛的使用。设备亮点● 多种工作模式● 适配环境:空气、液相● 多功能配置● 稳定性强● 可拓展性良好典型案例晶圆级原子力显微镜Wafer Mapper-M产品介绍利用微悬臂探针结构可对导体、半导体、绝缘品等固体材料进行三维样貌表征。样品台兼容12寸晶圆,电动样品定位台与光学图像相结合,可在300X300mm区域实现1μm的定位精度,激光对准,探针逼近和扫描参数调整完全自动化操作。可用于产线,对晶圆粗糙度进行精密测试。设备亮点● 多种工作模式● 适配环境:空气、液相● 可旋转式扫描头● 多功能配置● 稳定性强、可拓展性良好典型案例参考文献:[1]Li S, Du A, Wang Y, et al. Experimental demonstration of skyrmionic magnetic tunnel junction at room temperature[J]. Science Bulletin, 2022, 67(7): 691-699.[2]Kalinin SV, Gruverman A, eds. Scanning Probe Microscopy: Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale. Springer 2007.[3] https://www.afmworkshop.com/products/modes/electric-force-microscopy[4] https://www.ornl.gov/content/electrostatic-and-kelvin-probe-force-microscopy[5] Abdollahi A, Domingo N, Arias I, et al. Converse flexoelectricity yields large piezoresponse force microscopy signals in non-piezoelectric materials[J]. Nature communications, 2019, 10(1): 1266.本文由致真精密仪器原创,转载请标明出处致真精密仪器拥有强大的自主研发和创新能力,产品稳定精良,多次助力中国科研工作者取得高水平科研成果。我们希望与更多优秀科研工作者合作,持续提供更加专业的技术服务和完善的行业解决方案!欢迎联系我们!致真精密仪器一直以来致力于实现高端科技仪器和集成电路测试设备的自主可控和国产替代。通过工程化和产业化攻关,已经研发了一系列磁学与自旋电子学领域的前沿科研设备,包括“原子力显微镜、高精度VSM、MOKE等磁学测量设备、各类磁场探针台、磁性芯片测试机等产线级设备、物理气相沉积设备、芯片制造与应用教学训练成套系统等”等,如有需要,我们的产品专家可以提供免费的项目申报辅助、产品调研与报价、采购论证工作。另外,我们可以为各位老师提供免费测试服务,有“磁畴测试”、“SOT磁畴翻转”、“斯格明子观测”、“转角/变场二次谐波”、“ST-FMR测量”、“磁控溅射镀膜”等相关需求的老师,可以随时与我们联系。
  • “扫描探针显微镜漂移测量方法”国际标准发布
    日前,由中国科学技术大学工程科学学院黄文浩教授主持制订的国际标准“扫描探针显微镜漂移测量方法(ISO11039:2012)”已由国际标准化组织正式发布。  自20世纪80年代扫描探针显微镜(Scanning-probe microscopy,SPM)发明以来,由于其具有原子量级的分辨能力,极大地促进了纳米科学技术的发展,并已逐步形成了一种高新技术产业。SPM的工作原理是通过微小探针在样品表面进行扫描,将探针与样品表面间的相互作用转换为表面形貌和特性图像。由于扫描速率较慢,漂移现象在扫描过程中普遍存在,这制约了SPM在纳米测量和纳米加工方面的进一步应用。  黄文浩教授近二十年来一直从事纳米技术与精密仪器领域的研制工作。在2006年,他向国际标准化组织ISO/TC201(表面化学分析技术委员会)提出了“扫描探针显微镜漂移速率测量方法标准”的提案,目的是要将SPM工作时纳米/秒的漂移大小和方向测量出来,以规范这类仪器的使用方法。2007年该提案正式立项,黄文浩教授被指定为该项目工作组的召集人。经过四年多的努力,SPM漂移测量方法标准的最终草案于2011年经全体成员国投票后顺利通过,并于2012年正式发布。  该标准定义了描述SPM在X、Y和Z方向的漂移速率的专业术语,规定了SPM漂移速率的测量方法和测量程序,对仪器的功能和工作环境以及测量报告内容均作了严格要求。该标准为SPM仪器生产厂家制定了漂移速率的有效参数规格,并且能帮助用户了解仪器的稳定性,以便设计有效的实验。该标准不仅适用于基于SPM测量图像的漂移速率评价方法,对其它纳米级测量仪器稳定性的评价也有着重要参考价值。  相关研究工作受到国家自然科学基金、中科院知识创新工程重要方向性项目和科技部973项目资助。  背景资料:黄文浩教授 博士生导师  1968年毕业于清华大学精密仪器及机械制造系精密仪器专业。1978年至今在中国科技大学精密机械与精密仪器系任教,现任教授,博士生导师。其中1989-1991年,西班牙马德里自治大学, 1993-1994年日本东京大学访问学者。主要研究领域:微纳米制造和测量技术 SPM科学仪器技术 飞秒激光微纳米加工技术 纳米技术与标准化。曾承担国际科技合作项目有: 中-日大学群合作先进制造领域中方负责人(1996-2002),中国-西班牙国家级科技合作项目(2001-2004) “纳米技术与仪器”负责人。主持国家自然科学基金面上项目、重点项目、973子课题等多项。在国内外刊物发表论文200余篇。现任国家纳米技术标准化委员会委员,国际标准化组织ISO/TC201/SC9/WG2召集人。《光学 精密工程》《纳米技术与精密工程》杂志编委。2011年担任国际纳米制造趋势论坛NanoTrends2011组委会主席。2011年当选国际纳米制造学会会士(Fellow of ISNM)。
  • 一文带您了解扫描探针显微镜发展史
    扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscope,SPM)的发展历史是一段引人注目的科学进步历程,奠定了纳米科学和纳米技术的基础。自20世纪80年代以来,SPM的出现和保存,不仅使科学家能够以原子和分子的精度观察和操控材料,还推动了许多相关领域的研究。以下是SPM发展关键里程碑:1980年代初 - 扫描隧道显微镜(STM)的发明1981年:德国物理学家格尔德宾宁(Gerd Binnig)和海因里希罗雷尔(Heinrich Rohrer)在 IBM 苏黎世研究实验室发明了扫描隧道显微镜(STM)。STM 的发明标志着扫描探针显微镜技术的开端。[1]宾宁罗雷尔世界上第一台扫描隧道显微镜[2]1986年:宾宁和罗雷尔因发明 STM 获得诺贝尔物理学奖。他们的工作证明了 STM 可以以原子级分辨率成像,从而开启了对物质结构的新认识。1989年:IBM科学家展示了一项能够操纵单个原子的技术。他们使用扫描隧道显微镜,将35个单个氙原子排列在镍冷晶体基板上,拼出了公司首字母缩写的三个字母。这是原子首次被精确地定位在平面上。[3]用 35 个氙原子拼写出“IBM”1980年代中期 - 原子力显微镜(AFM)的发展1986年:格尔德宾宁、卡尔文夸特纳(Calvin Quate)和克里斯托弗格贝尔(Christoph Gerber)发明了原子力显微镜(AFM)。AFM 可以在非导电材料上工作,扩展了 SPM 技术的应用范围。[4] AFM 利用探针与样品表面之间的范德华力进行成像,可以在真空、空气和液体环境中操作,因此在材料科学和生物学研究中具有广泛的应用。第一台原子力显微镜原子力显微镜原理图1990年代 - 扫描探针显微镜的扩展与多样化1. 磁力显微镜(MFM):磁力显微镜(MFM)在20世纪80年代末至90年代初被发明,通过使用带有磁性涂层的探针,测量探针与样品表面磁力相互作用,实现了纳米尺度高分辨率磁畴成像。这一创新使研究人员能够深入了解材料的磁性特性。低温强磁场磁力显微镜在微结构缺陷中的研究2. 静电力显微镜(EFM):静电力显微镜(EFM)由斯蒂芬库尔普斯(Stephen Kalb)和霍斯特福尔默(Horst F. Hamann)在20世纪80年代末至90年代初发明,通过带电探针测量静电力变化,实现纳米尺度高分辨率电学成像。EFM被广泛应用于研究半导体材料、电荷存储器件和纳米电子学等领域。3. 近场扫描光学显微镜(NSOM 或 SNOM):近场光学显微镜(NSOM)由埃里克贝茨格(Eric Betzig)和约翰特劳特曼(John Trautman)在20世纪80年代末至90年代初发明。NSOM使用带有亚波长孔径的光纤探针,通过限制光在极小区域内并扫描样品表面,获取高分辨率的光学图像,广泛应用于材料科学、生物学、化学和半导体研究等领域。NSOM的一般原理2000年代至今 - SPM 技术的进一步发展和应用1. 高分辨率和高灵敏度:随着探针技术、控制系统和数据处理技术的发展,SPM 的分辨率和灵敏度不断提高。2. 多功能化探针:开发出具有特定化学、机械、磁性或力学性质的探针,使得 SPM 可以进行更为多样化的表征和操作。3. 多模式成像:结合多种成像模式,可以同时获得样品的多种性质信息。结合多种模式的扫描探针显微镜4.晶圆级成像:随着集成电路规模的急剧增加,需要对大型样品成像。加工在晶圆上的芯片5. 在生物学中的应用:SPM 在生物分子和细胞研究中的应用越来越广泛,可以直接观测生物大分子的结构和动力学过程。未来展望扫描探针显微镜的技术仍在不断发展,新的技术和应用不断涌现。由致真精密仪器研发的多功能原子力显微镜和晶圆级原子力显微镜支持大尺寸样品的表征,并集成集成磁力、压电力、扫描开尔文以及液相等多物性分析功能,具有极低的噪声水平,并具备基于深度学习的智能化数据处理分析。致真精密仪器未来将继续致力于更高分辨率、更快的成像速度和更强的多功能化的SPM设备研究,以满足科学研究和工业应用的需求。致真公司自主研发的多功能原子力显微镜AtomEdge集成AI的智能分析算法 高度及粗糙度、宽度、粒子智能分析参考文献:[1] Binnig, G., & Rohrer, H. (1982). Scanning tunneling microscopy. Surface Science, 126(1-3), 236-244.[2] https://commons.wikimedia.org/wiki/File:First_STM.jpg[3] https://en.wikipedia.org/wiki/IBM_%28atoms%29[4] Binnig, G., Quate, C. F., & Gerber, C. (1986). Atomic force microscope. Physical Review Letters, 56(9), 930-933.本文由致真精密仪器原创,转载请标明出处. 致真精密仪器一直以来致力于实现高端科技仪器和集成电路测试设备的自主可控和国产替代。 致真精密仪器通过工程化和产业化攻关,已经研发了一系列磁学与自旋电子学领域的前沿科研设备,包括“产品包含原子力显微镜、高精度VSM、MOKE等磁学测量设备、各类磁场探针台、磁性芯片测试机等产线级设备、物理气相沉积设备、芯片制造与应用教学训练成套系统等”等,如有需要,我们的产品专家可以提供免费的项目申报辅助、产品调研与报价、采购论证工作。另外,我们可以为各位老师提供免费测试服务,有“磁畴测试”、“SOT磁畴翻转”、“斯格明子观测”、“转角/变场二次谐波”、“ST-FMR测量”、“磁控溅射镀膜”等相关需求的老师,可以随时与我们联系。
  • AFSEM原位微区表征系统 助力新型纳米探针构筑及纳米热学成像研究
    获取材料甚至是器件整体的热学特性,是相关研究与开发当中非常有意义的课题。随着研究对象特征尺寸的不断减小,研究者们对具有高热学分辨率和高水平方向分辨率的表面温度表征方法以及与之相应的仪器的需求也日益显著。在诸多潜在的表征技术当中,扫描热学显微镜(Scanning Thermal Microscopy)是其中颇为有力的一种,它可以满足特征线度小于100 nm的研究需求。然而,这种表征方法,对纳米探针的结构及功能特性有比较高的要求,目前商用的几种纳米探针受限于各自的结构特点,均有一定的局限性而难以满足相应要求,也就限制了相应表征方法的发展与应用。着眼于上述问题,奥地利格拉茨技术大学的H. Plank团队提出了基于纳米热敏电阻的三维纳米探针,用于实现样品表面温度信息的超高分辨表征。相关成果于2019年六月发表在美国化学协会的期刊ACS Applied Materials & Interfaces上(ACS Appl. Mater. Interfaces, 2019, 11, 2522655-22667. Three-Dimensional Nanothermistors for Thermal Probing.)。 图1 三维热学纳米针的概念、结构、研究思路示意图 H. Plank等人提出的这种三维纳米探针的核心结构是一种多腿(multilegged)纳米桥(nanobridge)结构,它是利用聚焦离子束技术直接进行3D纳米打印而获得的,因而可以直接制作在(已经附有许多复杂微纳结构与微纳电路、电的)自感应悬臂梁上(self-sensing cantilever, SCL)。由于纳米桥的每一个分支的线度均小于100 nm,因而需要相应的表征策略与技术来系统分析其纳米力学、热学特性。为此,H. Plank研究团队次采用了有限元模拟与SEM辅助原位AFM(scanning electron microscopy-assisted in situ atomic force microscopy)测试相结合的策略来开展相应的研究工作,并由此推导出具有良好机械稳定性的三维纳米桥(垂直刚度达到50 N/m?1)的设计规则。此后,H. Plank引入了一种材料调控方法,可以有效提高悬臂梁微针的机械耐磨性,从而实现高扫描速度下的高质量AFM成像。后,H. Plank等人论证了这种新式三维纳米探针的电响应与温度之间的依赖关系呈现为负温度系数(?(0.75 ± 0.2) 10?3 K?1)关系,其探测率为30 ± 1 ms K?1,噪声水平在±0.5 K,从而证明了作者团队所提出概念和技术的应用潜力。 图2 三维热学纳米针的制备及基本电学特性 文中在进行三维纳米探针的力学特性及热学响应方面所进行的AFM实验中,采用了原位AFM技术,堪称一大亮点。研究所用的设备为奥地利GETec Microscopy公司生产的AFSEMTM系统,AFSEMTM系统基于自感应悬臂梁技术,因此不需要额外的激光器及四象限探测器,即可实现AFM的功能,从而能够方便地与市场上的各类光学显微镜、SEM、FIB设备集成,在各种狭小腔体中进行原位的AFM测试。此外,通过选择悬臂梁的不同功能型针,还可以在SEM或FIB系统的腔体中,原位对微纳结构进行磁学、力学、电学特性观测,大程度地满足研究者们对各类样品微区特性的表征需求。着眼于本文作者的研究需求来讲,比如探针纳米桥的分支在受力状态下的力学特性分析,只有利用原位的AFM表征技术,才可以同时获取定量化的力学信息以及形貌改变信息。当然,在真空环境下使用原位AFM系统表征微区的力、热、电、磁信息的意义远不止于操作方便或同时获取多种信息而已。以本文作者团队所关注的微区表面热学分析为例,当处于真空环境下时,由于没有减小热学信息成像分辨率的、基于对流的热量转移,因而可以充分发挥热学微纳针的潜能,探测到具有高水平分辨率的热学信息。 图3 利用AFSEM在SEM中原位观测nanobridge的力学特性 图4 将制备所得的新型纳米热学探针安装在AFSEM上,并在SEM中进行原位的形貌测量:a)SEM图像;b)AFM轮廓图像
  • 我司在上海某高校成功安装基于Janis 探针台和Keithley 4200半导体特性仪的测试系统。
    我司于2017年1月在上海某高校成功安装基于Janis 探针台和Keithley 4200半导体特性仪的测试系统。该探针台配置四个三同轴探针臂和两个光纤探针臂,漏电流优于50fA。该探针台变温范围大(8K-675K)。我司提供Keithley 4200半导体特性仪,并提供集成变温IV、CV和输运和转移特性等测试软件 变温测量IV和VI曲线 变温场效应管(横坐标Vgs,纵坐标Ids, 不同曲线代表不同的Vds和温度) 变温场效应管(横坐标Vds,纵坐标Ids, 变温CV测试(横坐标偏压,纵坐 不同曲线代表不同的Vgs和温度) 标电容,不同曲线代表不同温度)
  • Nanoscribe微纳3D打印系统助力扫描探针成像系统技术突破
    研究背景为了探索待测物微纳米表面形貌,探针扫描成像技术一直是理论研究和实验项目。然而,由于扫描探针受限于传统加工工艺,在组成材料和几何构造等方面在过去几十年中没有显著的研究进展,这也限制了基于力传感反馈的测量性能。 如何减少甚至避免因此带来的柔软样品表面的形变,以实现对原始表面的精确成像一直是一个重要议题。 Nanoscribe设备加工的“减震器“纳米探针近日,东南大学生物科学与医学工程学院、生物电子学国家重点实验室顾忠泽教授和赵祥伟教授等人在Nature热门子刊Nature Communications上报道了一种新的扫描探针设计和加工方案,使用德国Nanoscribe公司的微纳3D打印系统制作一种基于层次堆叠单元的低密度三维微纳结构,旨在利用谭政自身机械特性来减少探针-样品的过度机械作用。在该工作中,研究人员借鉴生物组织的多孔结构在能量吸收,传导和缓释的有效作用,提出了低密度的结构可控机械材料(Materials with Controlled Microstructural Architecture, MCMA), 作为探针本体的构筑设计,并且通过 Nanoscribe公司先进的微纳米增材技术进行激光直写制备。微结构缓冲材料与扫描成像系统的创新集成为尖端成像方案开辟了林一条道路,促进了基于3D激光直写制备的多功能扫描探针成像系统的发展。Nanoscribe公司的系列产品是基于双光子聚合原理的高精度微纳3D打印系统,双光子聚合技术是实现微纳尺度3D打印最有效的技术,其打印物体的最小特征尺寸可达亚微米级,并可达到光学质量表面的要求。Nanoscribe Photonic Professional GT2使用双光子聚合(2PP)来产生几乎任何3D形状:晶格、木堆型结构、自由设计的图案、顺滑的轮廓、锐利的边缘、表面的和内置倒扣以及桥接结构。Photonic Professional GT2 结合了设计的灵活性和操控的简洁性,以及广泛的材料-基板选择。因此,它是一个理想的科学仪器和工业快速成型设备,适用于多用户共享平台和研究实验室。了解更多双光子微纳3D打印技术和产品信息请咨询Nanoscribe中国分公司纳糯三维科技(上海)有限公司Photonic Professional GT2 双光子微纳3D打印设备Quantum X 灰度光刻微纳打印设备
  • 基于NV色心的超分辨量子磁学显微镜和高性能NV探针再度升级,让磁学成像更精准!
    磁性材料的显微观测有助于材料的微观结构及其形成机理的研究。随着科学技术的发展,磁性材料研究的尺度已经趋向于亚微米级甚至纳米级。因此,超高分辨率和超高灵敏度的测试非常有助于这类尺寸材料的研究。 源于苏黎世联邦理工学院自旋物理实验室的Qzabre公司,结合多年的NV色心磁测量技术与扫描成像技术研发出了基于NV色心的超分辨量子磁学显微镜QSM和NV色心探针。该技术能够实现高灵敏度和高分辨率的磁学成像,并且可以实现定量的磁学分析,所产生的磁场不会对待测样品有扰动,在磁学显微成像上有着显著的优势。超高分辨率、超高灵敏度的量子磁学显微镜! Qzabre公司自主研发的基于NV色心的超分辨量子磁学显微镜QSM集高性能、友好性、灵活性于一身,使其成为研究纳米尺度磁现象的理想工具,在表面的高分辨率和定量磁性分析方面提供了非常可靠的性能。QSM显微镜采用经过验证的低漂移设计,具有高精度闭环扫描、大范围测量、高效率光学测量、直观的用户界面和简单的针尖更换等优势。基于NV色心的超分辨量子磁学显微镜外观图(左)和内部构造图(右) 相比于传统的显微观测设备如克尔显微镜(分辨率~300 nm),磁力显微镜MFM(分辨率~50 nm ),该设备除了拥有优于30 nm的磁学分辨率外,还可以进行样品表面磁场大小的定量测试,而且NV色心作为单自旋探针, 所产生的磁场不会对待测样品有扰动,在磁学显微成像上有着显著的优势。典型应用更耐用、更灵敏、可定制化的NV色心探针! 传感器针尖是任何扫描氮空位 (NV) 系统的核心,也是决定设备性能的关键因素。Qzabre对传感器针尖进行不断改进,使其更具光亮、坚固和高性能。金刚石部分与音叉相连,可以为原子力显微镜的操作提供力反馈,整个组件安装在陶瓷芯片上,具有操作简便,性能优异,随时可用等特性。基于陶瓷基片的NV色心探针 在与 NV 轴对齐的磁偏置场下,每个扫描针尖都具有严格的特性。标准探头的灵敏度分为七个等级。也可以根据客户需要,定制各种不同类型的探针。不同灵敏度的NV色心探针(标准探针) 在 NV 实验中,磁杂散场的测量总是投射到 NV 轴上。该轴线取决于制作针尖的金刚石晶体取向。最常见的切割方法是,其 NV 方向与法线成 54.7°。 针对特定应用,我们还提供平面内和平面外取向的针尖。由于信号会随着离轴磁场的增加而减弱,因此这两种针尖非常适用于在较高磁偏压下的测量。平面外针尖也可用于消除方向。不同取向的NV色心探针 为了便于操作,Qzabre将金刚石针尖集成在一个即插即用的传感器芯片上。极小厚度的载体设计确保了传感器可以安装在垂直空间狭小的显微镜中,同时可以根据要求定制金刚石探针的倾斜度。陶瓷芯片载体上的尺寸和接触馈线与Akiyama探针的基底面兼容。整个传感器芯片可兼容真空和低温环境。另外可根据需要提供两种针尖与 PCB 方向的标准配置:向上和向下。向上(左)和向下(右)配置的NV色心探针成功交付于多家国际科研院所机构! Qzabre公司的基于NV色心的超高分辨量子磁学显微镜已在多家国际院校投入使用,目前在全球范围内已成功交付9套!以下为已成功验收安装的国际用户名单及部分用户验收图。左)在法国Jean Lamour研究所交付使用的带有定制化光路的QSM系统右)法国国家科学研究中心/Thales联合物理研究所kim教授与新安装的QSM系统
  • 蛋白质靶向探针有望应用于超分辨率显微成像
    北京大学化学与分子工程学院教授陈鹏正在实验中。  作为生物体内含量最多的一类生物大分子,蛋白质是生物功能的主要执行者,在各种生命活动中扮演着关键角色。科学家一直在探索适用于活体环境的蛋白质操纵工具,以实现对目标蛋白质结构和功能的深入研究,这已经成为当今化学生物学领域的前沿热点之一。  在国家自然科学基金委“基于化学小分子探针的信号转导过程研究”重大研究计划的资助下,科学家们围绕“蛋白质靶向探针的发现及其在信号转导研究中的应用”取得了多项进展。  据北京大学化学与分子工程学院教授陈鹏介绍,国内多个课题组通过化学脱笼技术、双光子和近红外调控技术以及靶向小分子探针等策略,实现了细胞内蛋白质的特异激活,并研究了细胞信号转导过程的分子机制。  在化学脱笼技术方面,陈鹏课题组将非天然氨基酸定点插入技术与生物正交的“化学脱笼”反应相结合,提出了一种理性设计小分子激活剂的全新策略。例如,由蛋白激酶介导的磷酸化是细胞信号转导的关键过程,对绝大多数生理活动都有重要影响,但很多激酶在正常生理及病理条件下的分子机理还不明确。利用小分子激活剂可以在激酶的信号转导研究中获得新的信息。“我们在活细胞内激活‘效应蛋白OspF’,发现这种蛋白使细胞核内的‘磷酸化Erk蛋白’发生了由不可逆去磷酸化介导的‘核质转运’现象。”陈鹏表示。  近年来,蛋白质光控技术成为研究细胞信号转导的又一有力工具。其中,与紫外光激发探针相比,利用双光子激发的探针可以极大地降低细胞毒性,具有广阔的应用前景。清华大学刘磊课题组以蛋白质化学合成为核心技术,发展了靶向免疫蛋白的光控探针,并使用新发展的蛋白质探针研究了免疫细胞在精确的时空刺激下的定向运动。该探针将为理解和控制活体组织中细胞定位及与定位相关的细胞生命活动提供理想的分子工具。北京大学陈兴课题组则发展了利用近红外光激活并调控细胞信号转导通路的新方法。  在靶向蛋白质生成与降解方面,华东理工大学杨弋课题组利用天然光敏元件,构建了方便使用的光控基因表达系统。实验中,研究人员利用光对活细胞或活体动物的蛋白质生成水平进行了时间、空间上的精确调控,成功地控制了糖尿病小鼠体内胰岛素的生成与血糖浓度。  清华大学李艳梅课题组则利用蛋白质可调降解策略,实现了细胞内靶标蛋白质水平的降低,以达到降低其活性的目的。研究人员针对阿尔茨海默氏症相关重要“非酶蛋白Tau”在病人脑中含量异常升高的现象,采用“识别—切割”策略,对细胞内这类蛋白的含量进行调控。  在超高亮度光激活荧光蛋白质方面,研究人员围绕发展具有更高亮度及转化效率的荧光蛋白突变体这一难点,开展了诸多工作。中科院生物物理所徐涛课题组设计了新型单体光活化荧光蛋白,并成功应用于活细胞的超分辨率显微成像。实验中,研究人员解析了一种目前具有最高光子输出信号的荧光蛋白晶体结构,并发现其在亮度、稳定性、光子负荷等方面具有最佳整体性能,有望作为新的探针应用于超分辨率显微成像中。
  • 纳米所重大项目:深紫外扫描近场光电探针系统研制
    p/ptable border="1" cellspacing="0" cellpadding="0" width="600"tbodytrtd width="648" colspan="4"table width="600" border="1" align="center" cellpadding="0" cellspacing="0"tbodytr/tr/tbody/table/td/trtrtd width="122"p成果名称/p/tdtd width="526" colspan="3"p style="text-align:center "深紫外扫描近场光电探针系统/p/td/trtrtd width="122"p单位名称/p/tdtd width="526" colspan="3"p style="text-align:center "中科院苏州纳米所/p/td/trtrtd width="122"p联系人/p/tdtd width="157"p刘争晖/p/tdtd width="149"p联系邮箱/p/tdtd width="220"pzhliu2007@sinano.ac.cn/p/td/trtrtd width="122"p成果成熟度/p/tdtd width="526" colspan="3"p■正在研发 □已有样机 □通过小试 □通过中试 □可以量产/p/td/trtrtd width="122"p合作方式/p/tdtd width="526" colspan="3"p□技术转让 □技术入股 □合作开发 ■其他/p/td/trtrtd width="648" colspan="4"pstrong成果简介: /strongbr/ 本设备在国家自然科学基金委重大科研仪器研制项目(自由申请)的支持下,自2014年起,针对波长200~300 nm的深紫外波段微区光电性质测试分析这样一个难题,研制一套深紫外扫描近场光电探针系统。将深紫外共聚焦光路引入到超高真空扫描探针显微镜系统中,采用音叉反馈的金属探针,在纳米尺度的空间分辨率上实现形貌和紫外波段荧光、光电信号的实时原位测量和综合分析,为深入研究这一光谱范围半导体中光电相互作用的微观物理机制、实现材料的结构和性质及其相互关系的研究提供新的实验系统,目前国内外均未有同类设备见诸报道,为国际首创。该系统中创新性研制的闭环控制低温超高真空原子力显微镜扫描头、波长在200nm-300nm可调谐的深紫外脉冲光源、基于原子力显微镜的深紫外光电压谱测试和分析方法、深紫外近场荧光寿命的高空间分辨测试和分析方法等核心设备和技术均为本项目单位自主研制,具有完全自主知识产权。/p/td/trtrtd width="648" colspan="4"pstrong应用前景:/strongbr/ 近年来,深紫外,特别是280nm以下日盲波段的半导体探测和发光器件,以其巨大的经济军事应用价值,逐渐成为研究重点。然而,相较于可见光半导体光电器件,深紫外波段半导体光电器件的性能包括光电转换效率、探测灵敏度等距人们的需求还有较大差距。其中一个重要原因是缺乏究深紫外半导体材料中光电相互作用的微观物理机制的有效研究手段。而本设备的研制将极大地丰富超宽带隙半导体材料和器件研究的内涵,推进相关材料和器件的发展。/p/td/trtrtd width="648" colspan="4" style="word-break: break-all "pstrong知识产权及项目获奖情况:/strongbr/ 本设备相关的装置和技术均申请了发明专利保护,其中已获授权11项,已申请尚未获得授权6项,如下所示: br/ 已授权专利: br/ 1、一种扫描近场光学显微镜 br/ 2、材料的表面局域电子态的测量装置以及测量方法 br/ 3、半导体材料表面缺陷测量装置及表面缺陷测量方法 br/ 4、材料界面的原位加工测试装置 br/ 5、多层材料的减薄装置及减薄待测样品的方法 br/ 6、界面势垒测量装置及测量界面势垒的方法 br/ 7、导电原子力显微镜的探针以及采用此探针的测量方法 br/ 8、半导体材料测量装置及原位测量界面缺陷分布的方法 br/ 9、材料表面局部光谱测量装置及测量方法 br/ 10、采用原子力显微镜测量样品界面势垒的装置以及方法 br/ 11、制备金属针尖的装置及方法 br/ 已申请未授权专利:br/ 1、半导体材料表面微区光电响应测量装置及测量方法 br/ 2、一种同时测量表面磁性和表面电势的方法 br/ 3、超高真空样品转移设备及转移方法 br/ 4、用于近场光学显微镜的探针及其制备方法 br/ 5、探针型压力传感器及其制作方法 br/ 6、阴极荧光与电子束诱导感生电流原位采集装置及方法 br/ 此外本设备研制相关软件著作权登记1项:“中科院苏州纳米所原子力显微镜与光谱仪联合控制软件”。/p/td/tr/tbody/tablepbr//pp/p
  • 新一代无液氦亚3K低温扫描探针显微镜研制获进展
    低温在凝聚态物理研究中扮演越来越重要的角色,是对多体系统中强相互作用的复杂行为开展深入研究的必要条件。随着液氦资源的日趋紧张和无液氦制冷技术的不断发展,基于无液氦制冷的设备将逐步成为低温科研仪器的主流方向。迄今为止,磁共振成像、超导磁体、综合物性测量系统等诸多仪器设备已实现了无液氦化。然而,具有亚原子分辨能力的扫描探针显微系统(SPM)对震动水平的要求极为苛刻,因此实现无液氦闭循环制冷技术在低温SPM领域的应用面临挑战。近十年来,世界上多个团队和公司尝试将制冷机安装在扫描单元附近实现无液氦低温SPM,而单级制冷的基础温度仅能达约5K水平,且制冷机震动对成像的影响仍然显著。中国科学院物理研究所/北京凝聚态物理国家研究中心郇庆研究团队(N13组)致力于高端科研仪器的研发与应用,在真空、低温、材料制备等领域核心关键部件、成套系统、电路控制系统方面取得了系列成果。高鸿钧院士团队(N04组)多年来致力于扫描探针显微学及其在低维量子结构方面的应用,在前沿科学研究取得一系列重要突破。N13组和N04组长期合作,陆续在尖端科研仪器装备自主研发方向取得一系列重要进展:一套商业化四探针SPM系统的彻底改造、超高真空光学-低温扫描探针显微镜联合系统的研制和应用于多探针显微镜的分时复用电路系统等。合作团队再次“仪器”携手,攻关新一代无液氦低温SPM技术。该研究研制了一套无液氦亚3K低温SPM系统。这一系统颠覆了现有无液氦SPM近端安装制冷机的方式,将低频大幅震动的制冷机安装在远端的独立制冷腔体。通过数月的连续测试验证,该设备实现了~2.8K的基础温度、接近±0.1mK的温度稳定性、约1pm震动水平、小于10pm/h的温度漂移,能够从低温到室温宽温区内连续变温成像。在非接触原子力显微镜原子级分辨成像、扫描隧道谱以及非弹性电子隧道谱的性能方面,该系统达到了与传统液氦杜瓦的湿式SPM系统相媲美的水平。相较已有无液氦SPM方案存在制冷机近端安装带来的诸多问题(不耐烘烤、磁场敏感、安装角度受限、橡胶波纹管透气结冰和难以升级等),这种闭循环远端制冷方案展现了多方面的优势:高性能:少量氦气(~10 L)实现3K以下基础温度,并可长时间连续运行,震动水平与湿式系统相当;拓展性:利用此远端液化4He方案预冷3He方便实现亚开尔文范围拓展;兼容性:与强磁场、光学通路等其他物理环境的良好兼容性,显著降低来自制冷机的电磁干扰;灵活性:便捷地将现有湿式SPM系统改造为无液氦SPM,并可应用在其他需求低温且对振动敏感的领域。这一闭循环无液氦低温SPM实现了TRL8级的技术就绪度。近期,相关研究成果发表在《科学仪器评论》上(Review Scientific of Instruments,DOI:10.1063/5.0165089)。该工作将为凝聚态物理研究、材料科学、生物医学等领域提供高性能的低温超低振动解决方案,并有望推动相关领域的研究取得更大突破。一位审稿人评价道:“在我看来,采用氦连续流低温恒温器和低温制冷机技术相结合的理念来解决无液氦低温扫描探针显微镜及相关领域长期存在的隔振问题,不仅具有创新性,而且鉴于世界范围内的液氦短缺困境,该技术方案的提出十分重要且及时。”研究工作得到国家杰出青年科学基金项目、中国科学院关键技术研发团队项目、国家重大科研仪器研制项目、国家自然科学基金青年科学基金项目和北京市科技计划怀柔科学中心项目的支持。图1. 新一代无液氦亚3K低温扫描探针显微镜的三维模型和原理图。图2. (a)基于连续流液氦恒温器的降温效果;(b)闭循环无液氦远端制冷的降温效果;(c)载入样品后的温度变化;(d)样品在4K温度的稳定性。图3. Au(111)和Ag(110)表面的成像测试和谱学表征。图4. Ag(110)表面CO分子的拾取和二阶谱学表征与谱学成像。图5. qPlus AFM探针在NaCl(100)表面的测试结果。图6. 已有基于液氦杜瓦的湿式SPM系统升级成远端制冷闭循环无液氦SPM的方案示意图。
  • 同济大学电子探针显微分析系统中标结果公告
    一、项目编号:招案2023-0657(招标文件编号:招案2023-0657)二、项目名称:电子探针显微分析系统三、中标(成交)信息供应商名称:仪衡(上海)进出口有限公司供应商地址:上海市黄浦区南京东路61号1502-03室中标(成交)金额:598.8000000(万元)四、主要标的信息序号供应商名称货物名称货物品牌货物型号货物数量货物单价(元)1仪衡(上海)进出口有限公司电子探针显微分析系统日本电子株式会社JXA-iHF200F15988000五、评审专家(单一来源采购人员)名单:刘刚、凌志毅、欧阳为民、谭勇、刘爱荣(招标人代表)六、代理服务收费标准及金额:本项目代理费收费标准:本项目的中标人在领取中标通知书后5个工作日内一次性向招标代理机构支付服务费,服务费金额计取标准如下:1、以中标通知书中确定的中标总金额作为收费的计算基数;2、中标服务费按如下费率分段计算累进计费:人民币100万元以下:1.5%;100-500万元:1.1%;500-1000万元:0.8%;1000-5000万元:0.5%。3、按上述计算所得金额下浮33%收取,经计算不足人民币8000元的按照人民币8000元支付。本项目代理费总金额:4.4825000 万元(人民币)七、公告期限自本公告发布之日起1个工作日。八、其它补充事宜1、制造商名称和国籍/地区:日本电子株式会社/日本2、价格条件:CIP上海3、交货期:合同签订之日起10个月内完成交货。4、开标时间:2023-03-22 09:305、公示时间:2023-03-22 21:16 - 2023-03-27 23:596、中标结果公告时间:2023-03-28 14:22 7、本项目的中标结果公告于2023-03-28已在机电产品招标投标电子交易平台(网址为:http://www.ebnew.com/businessShow/684385094.html)上发布,现予以转载发布。九、凡对本次公告内容提出询问,请按以下方式联系。1.采购人信息名 称:同济大学     地址:上海市杨浦区四平路1239号        联系方式:刘老师,021- 65985391      2.采购代理机构信息名 称:上海中世建设咨询有限公司            地 址:上海市普陀区曹杨路528弄35号            联系方式:陈洁、葛诗诗、张琴,021-62340833、62440095            3.项目联系方式项目联系人:陈洁、葛诗诗、张琴电 话:  021-62340833、62440095
  • 高鸿钧院士团队成果:多探针扫描隧道显微镜分时复用切换技术
    科学仪器的发展,不断促进对新材料的探索,从而直接或间接影响各科技领域的方方面面。工欲善其事必先利其器,深化与落实科学仪器的自主研发,更是科技攻关的桥头堡。扫描隧道显微镜(STM),及一系列扫描探针显微镜(SPM) :原子力显微镜(AFM)、扫描近场光学显微镜(SNOM) 等,掀起一场纳米技术革命,广泛应用于材料表面纳米尺度局域电子态、形貌以及分子振动等丰富物性的研究。电输运性质作为材料的关键参数,被广泛关注。集成多个独立STM的多探针STM系统,通过施加电/力等调控手段,实现纳米尺度、原位表征材料局域电子态与局域电输运性质,有望加速后摩尔时代新器件的基础研究。四探针 STM 可实现微观体系的四端法测量,有效消除接触电阻带来的测量误差,获得材料的本征电导率。多个独立探针的协同操纵和成像,往往需要相同数量的多套STM控制系统。随着STM探针/压电驱动部件的增加,多探针控制系统的成本和复杂度急剧增加。因此,发展低成本、高效率、可扩展的通用控制解决方案,实现STM控制系统分时操纵多个探针、乃至探针阵列的技术十分必要。中国科学院物理研究所/北京凝聚态物理国家研究中心高鸿钧研究团队多年来一直致力于扫描探针显微学及其在低维量子结构方面的应用,在前沿科学研究取得一系列重要成果。同时,他们也在相关高精尖仪器自主研制方面不断积累,奠定了扎实的基础。物理所技术部郇庆/刘利团队一直致力于科研仪器设备的自主研发,与所内外多个课题组紧密合作,在核心关键部件、成套系统等方面取得了一系列成果(包括一台商业化四探针系统的彻底升级改造【Review of Scientific Instruments, 88(6):063704, 2017】、光学-低温扫描探针显微镜超高真空联合系统【Review of Scientific Instruments 89, 113705 (2018)】和新一代高通量薄膜制备及原位表征系统【Review of Scientific Instruments 91, 013904 (2020)】的自主研制)。两个团队再次密切合作、联合攻关,共同指导N04组博士生严佳浩(已毕业,爱尔兰科克大学博士后)、马佳俊、王爱伟(已毕业,国家纳米中心博士后)、马瑞松(已毕业,物理所关键技术人才)等同学成功研制并搭建了一台多探针STM分时复用切换系统,完成单个STM控制系统依次操纵多个探针在纳米尺度下的成像与定位,以及维持探针位置后的局域电输运测量。该系统采用的核心思路为研发团队首次提出,软硬件均完全自主研发,采用了ARM + DSP + FPGA多核数字平台来兼备复杂切换逻辑、多路高精度高速并行采样与数据处理,涉及C/C++与Verilog HDL编程语言,并提供图形操作界面以提高易操作性,具备多项独特优点:1)单个探针内大、小扫描管及多个探针间的无缝切换,无瞬态抖动;2)皮安级电流切换;3)任意单个探针具备毫米级移动范围与原子级空间分辨;4)多个探针可无限靠近,最小距离仅取决于针尖曲率半径;5)原位、纳米尺度、相同区域内,STM成像与电输运测量。该联合研发团队用6年多时间对系统进行了反复地设计优化和改进,并进行了全面性能测试。该研发成果所涉及的多项关键技术,如微弱信号的放大与切换、高稳定电压保持、复杂控制逻辑等,是未来大规模探针阵列应用的重要技术基础。分时切换的核心思路具有可扩展性强、成本低廉的特点,有望在材料基因组研究高通量表征领域有广泛的应用。该系统的详细介绍发表在近期的《科学仪器评论》杂志上【Review of Scientific Instruments 92, 103702 (2021) doi: 10.1063/5.0056634】。该工作得到了中国科学院关键技术研发团队项目(GJJSTD20200005)、国家自然科学基金国家重大科研仪器研制项目(11927808)和国家自然科学基金委青年基金项目(12004417)等的支持。图1:分时复用切换方案图2:分时复用系统硬件设计图3:分时复用切换系统软件架构图4:分时复用切换系统部分图形用户界面图5:单STM探针空间定位图6: 多探针切换与空间定位附:Rev. Sci. Instrum. 92, 103702 (2021).pdf
  • 岛津高分辨率扫描探针显微镜SPM-8000FM 新品发布
    ——首款可分析固液界面结构的扫描探针显微镜 岛津高分辨率扫描探针显微镜SPM-8000FM 日本岛津制作所于2014年1月6日推出了最新型号扫描探针显微镜——高分辨率扫描探针显微镜SPM-8000FM,不同于现有扫描探针显微镜/原子力显微镜多采用调幅(AM)方式,而采用更高灵敏度、更高稳定性的调频(FM)方式,因此称为高分辨率HR-SPM(High Resolution Scanning Probe Microscope)扫描探针显微镜。并突破了FM方式只能在真空环境中观察这一瓶颈,成为首款可在大气溶液环境下进行原子级的结构观察和物性测定的扫描探针显微镜,并达到真空环境中超高分辨率水平。 SPM-8000FM可在大气˙溶液环境下分析薄膜、结晶、半导体、有机材料等多种样品。首次实现了在固体和液体的临界面(固液界面)进行水化、溶剂化的观察,因此也可以作为固液界面结构的观察分析仪器。例如,可实现锂离子电池中电解液和电极界面发生的结构变化,或者脂类等生物分子溶液中的结构观察等研究,为电子设备、纳米材料、催化剂、生物材料等纳米技术领域的研发工作带来新手段。 在尖端纳米技术领域的研发过程中,不仅要在真空环境中,更需要在实际使用环境中进行原子级的结构观察和物性测定,准确把握样品特性。岛津制作所与京都大学等科研机构共同研发的SPM-8000FM高分辨率扫描探针显微镜充分满足了纳米研究人员的理想。据悉,该款仪器将于3月展开在中国市场的销售应用服务工作。 SPM-8000FM特点1. 突破超高真空瓶颈,实现大气˙溶液中的超高分辨率观察由于SPM检测悬臂位移的光学杠杆检测系统的固有噪音水平较高,所以只能在真空中完成超高分辨率观察。岛津高分辨率扫描探针显微镜SPM-8000FM通过提高光学杠杆检测系统的效率、降低激光干扰等技术研发,将现有光杠杆检测系统的噪音水平降低95%,开创了SPM在大气˙溶液中的超高分辨率观察。因此,利用SPM-8000FM可以清晰的观察到大气中酞菁铅晶体薄膜的分子排列结构、水中氯化钠(NaCl)的原子结构等。还可以进行有机分子在溶液中特定反应的功能性评价、反应评价,所以在有机元件的开发领域将发挥巨大作用。 2. 不再局限于表面观察,实现了固液界面的局部三维结构的观察分析目前已知固液界面会在溶质与水(溶媒)的相互作用下形成复杂的层状结构,称之为水化溶剂化层,可对固液界面的化学反应、电荷移动、润滑、热传导等产生很大的影响。但是水化溶剂化层非常薄,在临界面的垂直方向上呈现不均一的结构,所以水化溶剂化层的显微观察迄今为止都是一个难题。SPM-8000FM利用超高灵敏度的力检测系统实现了水化溶剂化结构的观察分析。通过采用新的扫描方式,首次实现了三维结构的解析。不仅可以观察电极、聚合物在界面活性剂、生物界面等溶液中的表面形态,还可以进行固液界面结构的观察分析。
  • 普林斯顿发布VersaSCAN微区电化学柔性探针新技术
    2016年6月14日,阿美特克集团科学仪器部在北京分公司召开“VersaSCAN微区电化学技术交流会”,并在此交流会上发布新技术——扫描电化学显微镜(SECM)柔性探针技术,仪器信息网作为特邀媒体参加了此次交流会。 John Harper 博士为与会者详细介绍了此次发布的新技术。此次发布的扫描电化学显微镜柔性探针技术专用于“普林斯顿应用研究VersaScan”产品的柔性接触和等距测试,是由瑞士洛桑联邦理工学院的物理和电分析化学实验室(LEPA-EPFL)Hubert Girault教授课题组经数十年的研究而实现的。阿美特克科学仪器部与该实验室签署了独家合作协议,集成并销售其柔性探针技术。柔性探针使得广大研究者可同时进行等距离和等高模式的SECM测试,可分离3D表面电化学活性响应图中表面物理形貌和电化学响应的贡献。 与市场上常用的硬性探针相比,柔性探针具有以下优势:1)柔性探针等距SECM无需额外增加昂贵的控制与测量硬件 2)测量时无需为达到控制距离而预先测试样品表面的地形地貌 3)探针设计为与样品进行柔性接触,当与样品表面接触时,探针会发生柔性弯曲,避免探针自身被划伤以及探针对样品表面的损害 4)常规技术中硬性探针和样品直接接触会导致表面易损样品被损坏,如人体组织等。而柔性探针技术接触样品的接触力仅为常规硬接触探针的千分之一。 未来,阿美特克集团科学仪器部与LEPA-EPFL还将共同致力于实现其它探针材料与技术的商业化,希望SECM柔性探针技术能帮助SECM成为标准电化学测试利器。 为鼓励更多的用户致力于微区电化学的研究,此次交流会特设“普林斯顿应用研究微区电化学优秀论文奖”。本次奖项颁发给了浙江大学刘艳华博士,以表彰其使用VersaScan微区电化学测试系统在涂装材料研究方面所作出的贡献,由阿美特克公司科学仪器部亚洲区经理杨琦女士为其颁奖。 随后的技术交流过程中,John Harper 博士、刘艳华博士和厦门大学林昌健教授针对微区电化学的技术和应用为大家进行了分享。VersaScan微区电化学测试系统是一个模块化配置的系统,可实现现今所有微区扫描探针电化学技术以及激光非接触式微区形貌测试,包括扫描电化学显微镜、扫描振动电极测试、扫描开尔文探针测试、微区电化学阻抗测试、扫描电解液微滴测试、非触式光学微区形貌测试等。此次发布的柔性探针技术主要针对扫描电化学显微镜,目前阿美特克可提供有效直径15um的柔性碳探针。John Harper 博士还重点介绍了柔性探针技术的应用案例,包括癌细胞成像和黑色素瘤的分期变化(如皮肤癌)、电子应用-电沉积和成像、电催化等。 刘艳华博士介绍了扫描振动电极测试技术在涂层金属腐蚀研究中的应用。刘博士主要介绍了两项工作:一是采用电沉积技术合成了负载缓蚀剂的超疏水二氧化硅薄膜 二是构建了基于硅烷修饰的E-Sio2薄膜和环氧树脂的新型防护体系。在此两项工作中均利用了扫描振动电极测试技术来表征其微区耐腐蚀性能,与其它表征手段结果均有较好的吻合度。 林昌健教授自1979年开始研究微区电化学技术,至今已有37年。林教授认为微区电化学之所以能发展到今天的水平,一是科研需求,越来越多的科研人员应用此技术使其成为热门研究领域 二是科技发展,科技水平的发展也使微区电化学技术有了显著的进步。未来,微区电化学技术发展很重要的一方面就是探针技术的发展。林教授重点介绍了其团队开发的新型探针。林教授发现,在空间分辨率足够高的情况下,除电流、电压信号外, pH值和氯离子浓度也可以很好的表征局部腐蚀程度,故其团队开发了可测量pH值和氯离子浓度的探针。未来此探针有望集成到VersaScan微区电化学测试系统上。
  • AFM网络讲座系列:原子力探针显微术基础及其研究进展
    讲座时间:北京时间3月12日(周四)上午11:00-12:003月19日(周四)上午11:00-12:003月26日(周四)上午11:00-12:00如何报名?1. 关注微信公众号:帕克原子力显微镜Park2. 打开2月13日发布的文章“AFM网络讲座系列:原子力探针显微术基础及其研究进展”摘要:纳米科学与技术是当今前沿基础科学和高新技术研究中最具有发展潜力的领域之一,也是国际科技竞争的战略制高点。在纳米科技发展过程中,以电子显微术,扫描探针显微术及超分辨光学显微术为核心的纳米表征与测量技术起到了关键性的作用。目前,以扫描隧道显微术、原子力显微术为核心的一系列扫描探针显微术已经发展成为基础科学及技术应用研究中探测微纳米尺度物质结构、性质及功能的核心工具之一。目前,原子力显微术是使用最为广泛的扫描探针显微技术;它也可以作为微纳米尺度下的“眼”和“手”与其他表征和测量技术相结合,具有非常广阔的发展和应用空间。在本讲座(共三次)中,我们将在(1)介绍扫描探针显微技术的基础上,进一步介绍原子力探针显微技术的基础理论、仪器与方法基础,(2)基本工作模式及其应用,最新技术和方法进展等。(3)在此基础上,我们将进一步介绍原子力显微技术的功能化探测模式及其微纳米尺度物性研究与测量中的应用。最后,我们将简要探讨原子力显微术的进一步研究发展方向等。讲座人简介: 程志海,中国人民大学物理学系教授,博士生导师,基金委优青,中国仪器仪表学会显微仪器分会理事,中国硅酸盐学会微纳米分会理事。 2002年毕业于大连理工大学物理与光电工程学院应用物理系。2002-2007年,在中国科学院物理研究所纳米物理与器件实验室硕博连读,获凝聚态物理博士学位。2004年7月至2005年1月,在德国柏林自由大学物理系及实验物理研究所做访问学者,2007年8月-2011年7月,在美国加州大学Riverside分校化学系及纳米科学与工程中心从事博士后研究。2011年8月-2017年月,国家纳米科学中心(中科院纳米标准与检测重点实验室),任副研究员/研究员。曾获中国科学院“引进杰出技术人才计划”(技术百人计划)和首届“卓越青年科学家”,卢嘉锡青年人才奖获得者,青年创新促进会会员并获首届“学科交叉与创新奖”等。目前,主要工作集中在先进原子力探针显微分析技术及其在低维与表面物理、纳米科技等领域的应用基础研究。
  • 美研发出双扫描隧道显微和微波频率探针
    美国加州大学洛杉矶分校17日表示,该校纳米系统科学主任保罗维斯领导的研究小组开发出了研究纳米级材料相互作用的工具——双扫描隧道显微和微波频率探针,可用于测量单个分子和接触基片表面的相互作用。  过去50年中,电子工业界努力遵循着摩尔定律:每两年集成电路上晶体管的尺寸将缩小大约50%。随着电子产品尺寸的不断缩小,目前已到了需要制作纳米级晶体管才能继续保持摩尔定律正确性的地步。  由于纳米级材料和大尺寸材料所展现的特性存在差异,因此人们需要开发新的技术来探索和认识纳米级材料的新特征。然而,研究人员在研发纳米级电子元器件方面遇到的障碍是,人们没有相应的能力去观察如此小尺寸材料的特性。  元器件间的连接是纳米级电子产品至关重要的部分。就分子设备而言,分子极化性测量的范围涉及到电子与单个分子接触的相互作用。极化性测量有两个重要方面,它们分别是接触表面以次纳米分辨率精度进行测量的能力,以及认识和控制分子开关两个状态的能力。  为测量单个分子的极化性,研究小组研发出能够同时进行扫描隧道显微镜测量和微波异频测量的探针。借助探针的微波异频测探,研究人员将能确定单个分子开关在基片上的位置,即使开关处于“关”的状态也不例外。在开关定位后,研究人员便可利用扫描隧道显微镜变换开关的状态,并测量每个状态下单分子和基片之间的相互作用。  维斯说,新开发的探针能够获取单分子和基片之间物理、化学和电子相互作用以及相互接触的数据。维斯同时还是著名的化学和生化以及材料科学和工程教授。参与研究工作的还有美国西北大学的理论化学家马克瑞特奈和莱斯大学合成化学家詹姆斯图尔。  据悉,研究小组新的测量探针所提供的信息集中在电子产品的极限范围,而不是针对要生产的产品。此外,由于探针有能力提供多参数的测量,它有可能被研究人员用来鉴定复杂生物分子的子分子结构。
  • 扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscope--SP
    什么是扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscope--SPM)? SPM是一个大的种类,目前,SPM家族中已经产生了二三十种显微镜,如扫描隧道显微镜STM)、原子 (力显微镜(AFM)、磁力显微镜(MFM)、静电力显微镜(EFM)、近场光学显微镜(SNOM)等等。 SPM的工作原理是基于微观或介观范围的各种物理特性,通过原子线度的极细探针在被研 究物质的表 面上方扫描时检测探针&mdash 样品两者之间的相互作用,以得到被研究物质的表面特性,不同类型的SPM之间 的主要区别在于它们的针尖特性及其相应的针尖----样品相互作用方式的不同。   扫描隧道显微镜模块:   STM(Scanning Tunneling Microscope的简称)的工作原理来源于量子力学中的隧道效应原理。 当金属探针在与导电样品非常接近时(小于1nm),控制探针在样品表面进行逐行扫描,检测探针与样 品间隧道电流的变化来获取样品表面形貌、I-Z、I-V曲线等其它特性。 由于要在探针和样品间产生并传输隧道电流,所以只能检测导电 样品。   什么是原子力显微镜(Atomic Force Microscope -- AFM)? AFM是SPM最重要的发展。它控制一个微悬臂探针在样品表面进行逐行扫描,当探针在与样品非 常接近时(小于1nm),由于两者间原子的相互作用力,使对微弱力极敏感的微悬臂发生偏转,再 通过光杠杆作用将微小偏转放大,用四象限光电探测器检测,以获取样品表面形貌和其它物理、化 学特性。AFM按照其成像模式和检测信号的不同,有多种不同的工作模式,适用于不同性质的材料. 样品。 由于AFM对样品没有导电性的要求,应用范围十分广泛,弥补了STM只能观察导电样品的不足。   原子力显微镜基础模块:   该模块包含原子力显微镜接触模式和横向力模式。 模式 接触模式:微悬臂探针紧压样品表面,扫描过程中与样品保持接触。该 时探 模式分辨率较高,但成像针对样品作用力较大,容易对样品表面形 测表 成划痕,或将样品碎片吸附在针尖上,适合 检测强度较高、结构 稳定的样品。 横向力模式:是接触模式的扩展技术,针尖压在样品表面扫描时,与起 伏力方向垂直的横向力使微悬臂探针左右扭曲,通过检测这种扭 曲,获得样品纳米尺度局域上探针的横向作用力分布图。 原子力显微镜专业模块:   该模块包含原子力显微镜轻敲模式和相移模式。 轻敲模式:在扫描过程中微悬臂被压电驱动器激发到共振振荡状态,样 品表面的起伏使微悬臂探 针的振幅产生相应变化,从而得到样品 的表面形貌。 由于该模式下,针尖随着悬臂的振荡,极其短暂地对样品进行&ldquo 敲 击&rdquo ,因此横向力引起的对样品的破坏几乎完全消失,适合检测粉体颗 粒、生物样品及其它柔软、易碎、易吸附的样品,但分辨率接触模式低。 相移模式:是轻敲模式的扩展技术,通过检测微悬臂实际 振动与其驱动信 号源的相位差的变化来成像。引起相移的因素很多,如样品的组分、 硬度、粘弹性、环境阻尼等。因此利用相移模式,可以在纳米尺度上 获得样品表面局域性质的丰富信息。 液相模式:(选配)配有液体池,工作时探针和样品都在液体环境中, 适用于生物样品 摩擦力显微镜模块:   原子力显微镜基础模块中的横向力模式可以获得样品与探针的横向作用力分布图。由于影响 横向力的因素很多,主要包括样品移动方向与针尖悬臂角度、样品晶格排列角度、摩擦力、台阶扭动、 粘弹性等,因此,如果能够基本确定其它因素,利用横向力模式可以对样品纳米级摩擦系数进行间接测 量,进行表面裂缝及粘弹性分析等。 摩擦力显微镜是用于定量评价极轻载荷下(10^-7&mdash 10^-9N)薄膜材料的摩擦学特性,通过对针 悬臂 尖及悬臂的力学特性准确标定,能够获取微观摩擦系数,为纳米摩擦学研究提供依据。利用我们独创的 对分模式扫描,可以准确标定针尖悬臂与扫描方向的90度角,以消除针尖放置角度的不准确和扫描器 误安装位置的差;通过设定正压力的变化范围,可以连续改变正压力, 几分钟内就可完成几小时才能 完成的测量过程,而且系统状态变化很小, 使得测量更准确;由于有4通道同步采集,在所有的力测量过程中,我们 可以同时采集到样品的起伏、针尖所受到的起伏力、横向力,可以准确 分析针尖的状态,为精确分析摩擦力提供了更为详实的数据。   磁力/静电力显微镜模块:   抬起模式:该工作模式分两个阶段,第一阶段与普通原子力显微镜形貌成像一样,在探针与样品间 距1nm以内成像,然后,将探针抬起并一直保持相同距离,进行第二次扫描,该扫描过程可以对一些 相对微弱但作用程较长的作用力进行检测,如磁力或静电力。 磁力显微镜(Magnetic Force Microscope -- MFM):控制磁性 探针在磁性样品表面进行逐行扫描,利用抬起模式进行二次成像,获得样 品纳米尺度局域上磁畴结构及分布图。 静电力显微镜(Electrostatic Force Microscope -- EFM): 控制导电探针在样品表面进行逐行扫描,利用抬起模式二次成像,获得 样品纳米尺度局域上静电场分布图。   扫描探针声学显微镜模块: 扫描探针声学显微镜(SPAM,Scanning Probe Acoustic Microscope)是将原子力显微镜与电声成 像技术相结合,采用声学成像模式,借用声波记录下物质的内部模样,建立了低频(30kHz)高分 辨率(~10nm)扫描探针声学显微成像技术。其特点是能够获得反映材料亚表面纳米尺度结构的声 学像和性能的原位检测,克服了现有SPM只能获得材料表面结构和性质的不足。迄今为止,反映材 料亚表面纳米尺度结构及有关物性的声学功能模式的SPM在国内外报道甚少。   样品定位辅助模块:   该模块包含高分辨CCD光学显微系统和高精度电控样品移动平台。 高分辨CCD光学显微系统:在计算机上成像,用于观察探针和样 品,放大80&mdash 600倍。 高精度电控样品移动平台:计算机自动控制,配合 光学显微系统 进行精确样品移动和定位的装置。移动范围5mm*5mm,单步移动步长最小 85nm。   纳米加工模块:   SPM的纳米加工技术是纳米科技的核心技术之一,常用的加工方法包括机械刻蚀、电致/场致刻 润笔 蚀、浸润笔(Dip-Pen Nano-lithography,DNP)等。其基本原理是利用SPM针尖在样品表面准确移动, 与样 同时控制针尖-样品间的相互作用,就可完成所需的加工过程。 常用的移动方法包括矢量和点阵。矢量法通过矢量产生插件建立矢量数据文件,然后进行刻蚀。 使用这种方法,线条连续,刻蚀速度快,但矢量编辑较为麻烦。点阵法通过插件自动分析需要刻蚀的图 象,在样品上边扫描边刻蚀。这种方法不用编辑矢量,与原图像几乎不失真,但刻蚀速度慢,线条不连 续。可以根据需要选择不同的方法。   SPM通用平台开放式开发系统模块:   SPM通用平台开放式开发系统是一套完整的SPM模块化开发平台,简称&ldquo 开发系统&rdquo 。包括软件 板和 开发模硬件开发套件。如果您需要在已有的SPM功能上开发特殊要求的功能模块,就需要购买开发系 统。目前,离线软件开发模板我们都免费赠送,鼓励用户亲自开发,或者提出详细要求和算法,委托我 们为SPM定制1-2个特殊功能的处理插件,这都是免费的服务。 软硬件结合的特殊功能的SPM开发就要使用&ldquo 开发系统&rdquo 了。这套系统具体包括软件开发模板、硬件 扩展接口测试箱(硬件扩展实验板组)、硬件接口插件模板、开发手册。该系统的设计充分考虑了用户级 二次开发的方便性、可行性和可靠性。当然,您也可以购&ldquo 开发系统&rdquo ,然后提出IDEA,由我们来帮您 合作完成。 在您了解了各个功能模块后,您可以选型了,我们为了您搭建了四种机型,它们的外形都基本 一样,那是因为这样便于您今后无障碍模块化升级。 模块/型号 ZL STM-II 型 扫描隧道显微镜 ZLAFM-II型 原子力显微镜 ZLAFM-III型 扫描探针显微镜 ZL3000型扫 描探针显微镜 扫描隧道 显微镜模块         原子力显微镜 基础模块         原子力 显微镜 专业模块         摩擦力 显微镜模块     可选配    磁力/静电力 显微镜模块         样品定位 铺助模块   可选配     纳米 加工 模块   可选配 可选配 可选配 SPM通用平台 开发系统     可选配 可选配 扫描探针 声学模块     可选配 可选配 各功能模块介绍摘要: 1.扫描隧道显微镜只能检测 导电样品,因其有样品的局限性,所以通常作为教学仪器。 2.原子力显微镜对样品没有导电性的要求,应用范围十分广泛。AFM基础模块包括接触模式和横 向模式;AFM专业模块包括轻巧和相移模式。 3.接触模式AFM适合检测表面强度较高、结构稳定的样品。 4.横向力模式AFM可以获得样品纳米尺度局限上探针的横向作用力分布图。 5.轻敲模式AFM适合检测粉体颗粒、生物样品及其它柔软、易碎、易吸附的样品,但分辨率比接 触模式较低。 6.相移模式AFM对不同组分材料的组分变化比较敏感。 7.磁力显微镜可以获得样品纳米尺度局域上磁畴结构及分布图。 8.静电力显微镜可以获得样品纳米尺度局域上静电场分布图。 9.样品定位辅助模块用于实现样品在毫米量级范围内以纳米精度搜寻定位。 10.纳米加工模块用于实现矢量刻蚀和图形刻蚀方法的纳米加工。 11.如需开发特殊功能SPM,需要购买SPM通用平台开放式开发系统。 配置/型号 ZL STM-II ZL AFM-I ZL AFM-II ZL AFM-III ZL 3000 主机 可扩展式电子学控制机箱 多模式扫描探针显微镜组合式探头 扫描隧道显微镜 原子力显微镜 接触/横向力 模式 原子力显微镜 轻敲/相移 模式 摩擦力显微镜 磁力/静电力显微镜 针尖粗调/自动趋近机构 扫描器(单一多量程自适应扫描器不更换技术) 针尖架 扫描隧道模式针尖架 原子力基础模式针尖架 原子力专业模式针尖架 磁力模式针尖架 静电力模式针尖架 组合式纳米级减振系统 1个 包含 包含 包含 包含 包含                     1套 6&mu m 6&mu m 50&mu m 50&mu m 100&mu m 1个 2个 3个 5个 1个       1套 软件 系统   在线控制软件 1套 离线图像处理/分析软件 离线软件开发模板 摩擦力分析软件         网络实验室远程控制软件       培训课件/实验教材/科普教材/说明书光盘   附件 标准样品 1套 样品载片 5片 5片 10片 10片 15片 STM探针 Pt-Ir 20 20cm   20cm AFM接触/横向力/摩擦力模式探针(进口)   10枚 AFM轻敲/相移模式探针(进口)       10枚 MFM磁力探针(进口)         5枚 EFM导电探针(进口) 5枚 专用工具(镊子、针尖剪刀、玻璃皿 等) 1套 样品 定位 模块 高分辨CCD光学显微系统 可选配 高精度电控样品移动平台     纳米加工模块 SPM通用平台开放式开发系统       什么是扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscope--SPM)? SPM是一个大的种类,目前,SPM家族中已经产生了二三十种显微镜,如扫描隧道显微镜STM)、原子 (力显微镜(AFM)、磁力显微镜(MFM)、静电力显微镜(EFM)、近场光学显微镜(SNOM)等等。 SPM的工作原理是基于微观或介观范围的各种物理特性,通过原子线度的极细探针在被研 究物质的表 面上方扫描时检测探针&mdash 样品两者之间的相互作用,以得到被研究物质的表面特性,不同类型的SPM之间 的主要区别在于它们的针尖特性及其相应的针尖----样品相互作用方式的不同。   扫描隧道显微镜模块:   STM(Scanning Tunneling Microscope的简称)的工作原理来源于量子力学中的隧道效应原理。 当金属探针在与导电样品非常接近时(小于1nm),控制探针在样品表面进行逐行扫描,检测探针与样 品间隧道电流的变化来获取样品表面形貌、I-Z、I-V曲线等其它特性。 由于要在探针和样品间产生并传输隧道电流,所以只能检测导电 样品。   什么是原子力显微镜(Atomic Force Microscope -- AFM)? AFM是SPM最重要的发展。它控制一个微悬臂探针在样品表面进行逐行扫描,当探针在与样品非 常接近时(小于1nm),由于两者间原子的相互作用力,使对微弱力极敏感的微悬臂发生偏转,再 通过光杠杆作用将微小偏转放大,用四象限光电探测器检测,以获取样品表面形貌和其它物理、化 学特性。AFM按照其成像模式和检测信号的不同,有多种不同的工作模式,适用于不同性质的材料. 样品。 由于AFM对样品没有导电性的要求,应用范围十分广泛,弥补了STM只能观察导电样品的不足。   原子力显微镜基础模块:   该模块包含原子力显微镜接触模式和横向力模式。 模式 接触模式:微悬臂探针紧压样品表面,扫描过程中与样品保持接触。该 时探 模式分辨率较高,但成像针对样品作用力较大,容易对样品表面形 测表 成划痕,或将样品碎片吸附在针尖上,适合 检测强度较高、结构 稳定的样品。 横向力模式:是接触模式的扩展技术,针尖压在样品表面扫描时,与起 伏力方向垂直的横向力使微悬臂探针左右扭曲,通过检测这种扭 曲,获得样品纳米尺度局域上探针的横向作用力分布图。 原子力显微镜专业模块:   该模块包含原子力显微镜轻敲模式和相移模式。 轻敲模式:在扫描过程中微悬臂被压电驱动器激发到共振振荡状态,样 品表面的起伏使微悬臂探 针的振幅产生相应变化,从而得到样品 的表面形貌。 由于该模式下,针尖随着悬臂的振荡,极其短暂地对样品进行&ldquo 敲 击&rdquo ,因此横向力引起的对样品的破坏几乎完全消失,适合检测粉体颗 粒、生物样品及其它柔软、易碎、易吸附的样品,但分辨率接触模式低。 相移模式:是轻敲模式的扩展技术,通过检测微悬臂实际 振动与其驱动信 号源的相位差的变化来成像。引起相移的因素很多,如样品的组分、 硬度、粘弹性、环境阻尼等。因此利用相移模式,可以在纳米尺度上 获得样品表面局域性质的丰富信息。 液相模式:(选配)配有液体池,工作时探针和样品都在液体环境中, 适用于生物样品 摩擦力显微镜模块:   原子力显微镜基础模块中的横向力模式可以获得样品与探针的横向作用力分布图。由于影响 横向力的因素很多,主要包括样品移动方向与针尖悬臂角度、样品晶格排列角度、摩擦力、台阶扭动、 粘弹性等,因此,如果能够基本确定其它因素,利用横向力模式可以对样品纳米级摩擦系数进行间接测 量,进行表面裂缝及粘弹性分析等。 摩擦力显微镜是用于定量评价极轻载荷下(10^-7&mdash 10^-9N)薄膜材料的摩擦学特性,通过对针 悬臂 尖及悬臂的力学特性准确标定,能够获取微观摩擦系数,为纳米摩擦学研究提供依据。利用我们独创的 对分模式扫描,可以准确标定针尖悬臂与扫描方向的90度角,以消除针尖放置角度的不准确和扫描器 误安装位置的差;通过设定正压力的变化范围,可以连续改变正压力, 几分钟内就可完成几小时才能 完成的测量过程,而且系统状态变化很小, 使得测量更准确;由于有4通道同步采集,在所有的力测量过程中,我们 可以同时采集到样品的起伏、针尖所受到的起伏力、横向力,可以准确 分析针尖的状态,为精确分析摩擦力提供了更为详实的数据。   磁力/静电力显微镜模块:   抬起模式:该工作模式分两个阶段,第一阶段与普通原子力显微镜形貌成像一样,在探针与样品间 距1nm以内成像,然后,将探针抬起并一直保持相同距离,进行第二次扫描,该扫描过程可以对一些 相对微弱但作用程较长的作用力进行检测,如磁力或静电力。 磁力显微镜(Magnetic Force Microscope -- MFM):控制磁性 探针在磁性样品表面进行逐行扫描,利用抬起模式进行二次成像,获得样 品纳米尺度局域上磁畴结构及分布图。 静电力显微镜(Electrostatic Force Microscope -- EFM): 控制导电探针在样品表面进行逐行扫描,利用抬起模式二次成像,获得 样品纳米尺度局域上静电场分布图。   扫描探针声学显微镜模块: 扫描探针声学显微镜(SPAM,Scanning Probe Acoustic Microscope)是将原子力显微镜与电声成 像技术相结合,采用声学成像模式,借用声波记录下物质的内部模样,建立了低频(30kHz)高分 辨率(~10nm)扫描探针声学显微成像技术。其特点是能够获得反映材料亚表面纳米尺度结构的声 学像和性能的原位检测,克服了现有SPM只能获得材料表面结构和性质的不足。迄今为止,反映材 料亚表面纳米尺度结构及有关物性的声学功能模式的SPM在国内外报道甚少。   样品定位辅助模块:   该模块包含高分辨CCD光学显微系统和高精度电控样品移动平台。 高分辨CCD光学显微系统:在计算机上成像,用于观察探针和样 品,放大80&mdash 600倍。 高精度电控样品移动平台:计算机自动控制,配合 光学显微系统 进行精确样品移动和定位的装置。移动范围5mm*5mm,单步移动步长最小 85nm。   纳米加工模块:   SPM的纳米加工技术是纳米科技的核心技术之一,常用的加工方法包括机械刻蚀、电致/场致刻 润笔 蚀、浸润笔(Dip-Pen Nano-lithography,DNP)等。其基本原理是利用SPM针尖在样品表面准确移动, 与样 同时控制针尖-样品间的相互作用,就可完成所需的加工过程。 常用的移动方法包括矢量和点阵。矢量法通过矢量产生插件建立矢量数据文件,然后进行刻蚀。 使用这种方法,线条连续,刻蚀速度快,但矢量编辑较为麻烦。点阵法通过插件自动分析需要刻蚀的图 象,在样品上边扫描边刻蚀。这种方法不用编辑矢量,与原图像几乎不失真,但刻蚀速度慢,线条不连 续。可以根据需要选择不同的方法。   SPM通用平台开放式开发系统模块:   SPM通用平台开放式开发系统是一套完整的SPM模块化开发平台,简称&ldquo 开发系统&rdquo 。包括软件 板和 开发模硬件开发套件。如果您需要在已有的SPM功能上开发特殊要求的功能模块,就需要购买开发系 统。目前,离线软件开发模板我们都免费赠送,鼓励用户亲自开发,或者提出详细要求和算法,委托我 们为SPM定制1-2个特殊功能的处理插件,这都是免费的服务。 软硬件结合的特殊功能的SPM开发就要使用&ldquo 开发系统&rdquo 了。这套系统具体包括软件开发模板、硬件 扩展接口测试箱(硬件扩展实验板组)、硬件接口插件模板、开发手册。该系统的设计充分考虑了用户级 二次开发的方便性、可行性和可靠性。当然,您也可以购&ldquo 开发系统&rdquo ,然后提出IDEA,由我们来帮您 合作完成。 在您了解了各个功能模块后,您可以选型了,我们为了您搭建了四种机型,它们的外形都基本 一样,那是因为这样便于您今后无障碍模块化升级。 模块/型号 ZL STM-II 型 扫描隧道显微镜 ZLAFM-II型 原子力显微镜 ZLAFM-III型 扫描探针显微镜 ZL3000型扫 描探针显微镜 扫描隧道 显微镜模块         原子力显微镜 基础模块         原子力 显微镜 专业模块         摩擦力 显微镜模块     可选配    磁力/静电力 显微镜模块         样品定位 铺助模块   可选配     纳米 加工 模块   可选配 可选配 可选配 SPM通用平台 开发系统     可选配 可选配 扫描探针 声学模块     可选配 可选配 各功能模块介绍摘要: 1.扫描隧道显微镜只能检测 导电样品,因其有样品的局限性,所以通常作为教学仪器。 2.原子力显微镜对样品没有导电性的要求,应用范围十分广泛。AFM基础模块包括接触模式和横 向模式;AFM专业模块包括轻巧和相移模式。 3.接触模式AFM适合检测表面强度较高、结构稳定的样品。 4.横向力模式AFM可以获得样品纳米尺度局限上探针的横向作用力分布图。 5.轻敲模式AFM适合检测粉体颗粒、生物样品及其它柔软、易碎、易吸附的样品,但分辨率比接 触模式较低。 6.相移模式AFM对不同组分材料的组分变化比较敏感。 7.磁力显微镜可以获得样品纳米尺度局域上磁畴结构及分布图。 8.静电力显微镜可以获得样品纳米尺度局域上静电场分布图。 9.样品定位辅助模块用于实现样品在毫米量级范围内以纳米精度搜寻定位。 10.纳米加工模块用于实现矢量刻蚀和图形刻蚀方法的纳米加工。 11.如需开发特殊功能SPM,需要购买SPM通用平台开放式开发系统。 配置/型号 ZL STM-II ZL AFM-I ZL AFM-II ZL AFM-III ZL 3000 主机 可扩展式电子学控制机箱 多模式扫描探针显微镜组合式探头 扫描隧道显微镜 原子力显微镜 接触/横向力 模式 原子力显微镜 轻敲/相移 模式 摩擦力显微镜 磁力/静电力显微镜 针尖粗调/自动趋近机构 扫描器(单一多量程自适应扫描器不更换技术) 针尖架 扫描隧道模式针尖架 原子力基础模式针尖架 原子力专业模式针尖架 磁力模式针尖架 静电力模式针尖架 组合式纳米级减振系统 1个 包含 包含 包含 包含 包含                     1套 6&mu m 6&mu m 50&mu m 50&mu m 100&mu m 1个 2个 3个 5个 1个       1套 软件 系统   在线控制软件 1套 离线图像处理/分析软件 离线软件开发模板 摩擦力分析软件         网络实验室远程控制软件       培训课件/实验教材/科普教材/说明书光盘   附件 标准样品 1套 样品载片 5片 5片 10片 10片 15片 STM探针 Pt-Ir 20 20cm   20cm AFM接触/横向力/摩擦力模式探针(进口)   10枚 AFM轻敲/相移模式探针(进口)       10枚 MFM磁力探针(进口)         5枚 EFM导电探针(进口) 5枚 专用工具(镊子、针尖剪刀、玻璃皿 等) 1套 样品 定位 模块 高分辨CCD光学显微系统 可选配 高精度电控样品移动平台     纳米加工模块 SPM通用平台开放式开发系统
  • 低温扫描探针显微镜-分子束外延联合系统研制
    table border="1" cellspacing="0" cellpadding="0" width="600"tbodytrtd width="123"p style="line-height: 1.75em "成果名称/p/tdtd width="525" colspan="3"p style="line-height: 1.75em "低温扫描探针显微镜-分子束外延联合系统/p/td/trtrtd width="123"p style="line-height: 1.75em "单位名称/p/tdtd width="525" colspan="3"p style="line-height: 1.75em "中科院物理研究所/p/td/trtrtd width="123"p style="line-height: 1.75em "联系人/p/tdtd width="177"p style="line-height: 1.75em "郇庆/p/tdtd width="161"p style="line-height: 1.75em "联系邮箱/p/tdtd width="187"p style="line-height: 1.75em "qhuan_uci@yahoo.com/p/td/trtrtd width="123"p style="line-height: 1.75em "成果成熟度/p/tdtd width="525" colspan="3"p style="line-height: 1.75em "√正在研发 □已有样机 □通过小试 □通过中试 □可以量产/p/td/trtrtd width="123"p style="line-height: 1.75em "合作方式/p/tdtd width="525" colspan="3"p style="line-height: 1.75em "√技术转让 √技术入股 □合作开发 √其他/p/td/trtrtd width="648" colspan="4"p style="line-height: 1.75em "strong成果简介: /strongbr/ /pp style="text-align: center line-height: 1.75em "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201603/insimg/d3e8deb8-9a73-4570-b633-d2de2a65bcdd.jpg" title="LT-STM-MBE.jpg" width="350" height="347" border="0" hspace="0" vspace="0" style="width: 350px height: 347px "//pp style="line-height: 1.75em " br//pp style="line-height: 1.75em " 该系统是针对SPM的专业研究应用所研发的。采用自制杜瓦型低温恒温器,可获得最低5K的低温,制冷剂利用效率高。特殊设计的扫描探头结构紧凑、体积小巧,具有极好的机械和温度稳定性。兼容目前主流商业化样品架,可原位更换针尖、样品和沉积分子/原子。集成了基于tuning fork技术的AFM,可在STM和AFM两种模式下工作。系统同时集成了专业的MBE腔体和独立的样品处理腔,具有液氮的冷屏和多达7个蒸发源安装位置,可以通过RHEED和LEED等手段监控生长。尚在研发中,主要技术指标待测。/p/td/trtrtd width="648" colspan="4"p style="line-height: 1.75em "strong应用前景: /strongbr/ 纳米表征和研究的重要工具,国内每年需求量在数十台。/p/td/trtrtd width="648" colspan="4"p style="line-height: 1.75em "strong知识产权及项目获奖情况: /strongbr/ 发明专利:201510345910.8/p/td/tr/tbody/tablepbr//p
  • Science: 扫描探针显微镜控制器在二维磁性材料研究中的突破性应用进展
    导读:自2017年来,二维磁性在单层材料中的实现使得二维磁性材料受到了大的关注。范德瓦尔斯磁体让我们对二维限下的磁性有了更进一步的了解,不同磁结构的范德瓦尔斯磁体使得实验上探究二维下的磁学模型成为可能。例如,在单层CrI3中发现Ising铁磁,而XY模型的NiPS3在单层限下的磁性会被抑制。除了这些,有着变磁行为的范德瓦尔斯磁体更为有趣,比如在少层CrCl3中由于奇数层存在着未补偿磁矩,使得奇数层存在着spin-flop转变,而偶数层则没有。目前,现存的二维磁性材料非常稀少,这意味着新范德瓦尔斯磁体的发现,不仅仅有助于二维磁性的研究,更是为二维自旋电子学器件的应用提供了材料基础[1]。相比于传统的三维空间结构,二维层状磁性材料因其原子层间较弱的范德华尔斯作用力,能够人为操控其层间堆叠方式,进而有可能影响其磁耦合特性,为新型二维自旋器件的研制提供新思路。然而,堆叠方式与磁耦合间的关联机制仍不甚明晰,需要借助先进的扫描探针技术才能实现在原子层面的直接实验观测。美国RHK公司所提供的先进R9plus扫描探针显微镜控制器可以有效结合课题组自主研发的扫描探针设备,同时给予高效率的扫描控制,从而可以针对二维磁性材料应用领域展开更为深入的研究。本文重点介绍国内课题组灵活运用RHK公司扫描探针控制器,配合自主研发设计的扫描探针设备所开展的一系列国际前沿性二维材料领域的研究工作,其中各研究工作当前已在国际SCI核心学术期刊发表。科学成果的突破,离不开实验技术的不断攻坚克难。复旦大学物理学系教授高春雷、吴施伟团队通过团队自主研发搭建的扫描探针设备创造性地将原位化合物分子束外延生长技术和自旋化扫描隧道显微镜相结合,在原子层面彻底厘清了双层二维磁性半导体溴化铬(CrBr3)的层间堆叠和磁耦合间的关联,为二维磁性的调控指出了新的维度。相关研究成果以 《范德华尔斯堆叠依赖的层间磁耦合的直接观测》(“Direct observation of van der Waals stacking dependent interlayer magnetism”)为题发表于《科学》(Science)主刊,其中复旦大学物理学系博士后陈维炯为作者[2]。图中所示为陈博士与RHK技术总监进行深入的技术探讨,现场摸索优化测试信号,并详细沟通具体的测量细节,为后续高效率提取高质量大数据做准备。 课题组运用自主研制的自旋化扫描隧道显微镜测量技术,结合RHK公司先进的扫描探针显微镜控制器对自主研发实验设备实现测量调控,团队进一步在原子分辨下获取了样品磁化方向的相对变化,从而实现了实验突破,揭秘材料堆叠方式与磁耦合之间的直接关联性。团队以CrBr3双层膜作为主要研究对象和潜在突破口。双层CrBr3间较弱的范德瓦尔斯力赋予层间发生相对转动和平移的“自由”,从而使堆叠方式多样化成为可能。确实,在实验中获得的CrBr3双层膜具有两种不同的转动堆叠结构(H型和R型),分别对应迥异的结构对称性。其中,R型堆叠结构中,双层膜上下两层间同向平行排列,且沿晶体镜面方向作一定平移;H型堆叠结构中,双层膜上下两层之间旋转了180度,反向平行交错排列。这两种结构均是在相应的体材料中从未发现过的全新堆叠结构。至此,团队率先在原子尺度阐明了CrBr3堆叠结构与层间铁磁、反铁磁耦合的直接关联,为理解三卤化铬家族CrX3中不同成员的迥异磁耦合提供了指导。H型和R型堆叠的CrBr3双层膜自旋化扫描隧道显微镜测量 更多精彩案例: 《Nature》子刊:中国科大扭转双层石墨烯重要进展! 范德瓦尔斯堆叠的双层石墨烯具有一系列新奇的电学性质(例如,电场可调控的能隙、随扭转转角变化的范霍夫奇点以及一维拓扑边界态等)。当双层石墨烯的扭转转角减小到一系列特定的值(魔角)时,体系的费米面附近出现平带,电子在能量空间高度局域,电子-电子相互作用显著增强,出现莫特缘体和反常超导量子物态。另一方面,这些新奇的性质与双层石墨烯体系的扭转角度有着严格的依赖关系,体系层间相互作用随着转角减小会逐渐增强,因此探寻和研究这种层间耦合对理解扭转双层石墨烯的电子结构和物理性质至关重要。中国科学技术大学合肥微尺度物质科学研究中心国际功能材料量子设计中心(ICQD)物理系秦胜勇教授与武汉大学袁声军教授及其他国内外同行合作,利用扫描隧道显微镜和扫描隧道谱,次在双层转角石墨烯体系中发现了本征赝磁场存在的重要证据,结合大尺度理论计算指出该赝磁场来源于层间相互作用导致的非均匀晶格重构。相关研究成果以“Large-area, periodic, and tunable intrinsic pseudo-magnetic fields in low-angle twisted bilayer graphene”为题,于2020年发表于《自然通讯》(Nature Communications 2020,11,371)上[3]。图:小角度双层石墨烯中本征赝磁场的发现。对于转角为0.48度的双层石墨烯,在不加外磁场情况下,实验发现了贋朗道能(图b),理论计算进一步验证了这种贋磁场行为(图c),并估算出贋磁场值大约为6特斯拉(图e)。 该团队系统研究了小角度下(1°)双层石墨烯的电学性质,次证实了由晶格重构导致的本征赝磁场。先,研究人员发现体系中赝磁场导致了低能载流子的能量量子化,并计算出这种本征赝磁场在实空间的分布。研究发现赝磁场的分布并不是均匀的,而是以AA堆叠为中心呈涡旋状,且在AA堆叠边界区域达到大值;另外,该赝磁场的大小随着转角的减小而增大,其分布和大小受到外加应力的调控。该项研究证实,在小角度扭转双层石墨烯中晶格重构导致的赝磁场和强关联电子态存在着内在的关联,层间相互作用对体系的结构重构和性质变化有着非常重要的影响。这一现象可以推广到其他范德瓦尔斯堆叠的二维材料体系中。这项工作同时表明,具有本征赝磁场的小角度扭转双层石墨烯是实现量子反常霍尔效应的一个可能平台,为研究二维材料的性质和应用提供了新的思路。RHK公司提供的R9plus扫描探针显微镜强有力的为国内自主研发技术提供有力保障,除了在科研领域内重点关注的二维材料发挥重要作用以外,也对国内其它相关扫描探针设备研发领域课题组提供技术支持。中国科学技术大学陆轻铀教授团队与中国科学院强磁场科学中心、新加坡国立大学等单位合作,利用扫描探针控制器实现了高精度的磁力显微镜观察表征,报告了在超薄BaTiO3/SrRuO3 (BTO/SRO)双层异质结构中发现铁电体(FE)驱动的、高度可调谐的磁性斯格明子。在BTO中,FE驱动的离子位移可以穿过异质界面,并继续为多个单元进入SRO。这种所谓的FE邻近效应已经在不同的FE/金属氧化物异质界面中得到了预测和证实。在BTO/SRO异质结构中,这种效应可以诱导相当大的DMI,从而稳定强大的磁性物质。此外,通过利用BTO覆盖层的FE化,可以实现对斯格明子性质的局部、可逆和非易失性控制。这种铁电可调的斯格明子系统为设计具有高集成性和可寻址性的基于斯格明子的功能设备提供了一个潜在的方向。相关成果以题为“Ferroelectrically tunable magnetic skyrmions in ultrathin oxide heterostructures”发表在了Nat. Mater.上[4]。B20S5样品中磁性斯格明子的磁力显微镜表征 除此之外该课题组也对二维过渡金属硫化物材料MoTe2温度依赖的表面STM图像、电子结构、晶格动力学和拓扑性质进行了研究。研究结果以Uniaxial negative thermal expansion and band renormalization in monolayer Td-MoTe2 at low temperature为题,发表在美国物理学会杂志《物理评论B》上。该工作为二维过渡金属硫化物材料MX2的低温研究、实验制备和器件开发提供了直接的理论支持,其揭示的MoTe2低温下反常物性的内在物理机制对其它具有内在MX2八面体结构畸变的二维材料同样具有参考价值[5]。学术工作之外,该课题组在仪器设备研发方面也取得了优异的成果,课题组在国际上次研制成功混合磁体端条件下原子分辨扫描隧道显微镜(STM),相关研究成果发表在显微镜领域著名期刊Ultramicroscopy和著名仪器刊物Review of Scientific Instruments上。此工作利用混合磁体搭配RHK公司扫描探针设备开展原子分辨成像研究,对于突破当前超强磁场下只能开展输运等宏观平均效果测量的瓶颈,进入到广阔的物性微观起源探索领域,具有标志性意义。同时,课题组又针对超强磁场下的生物分子高分辨成像,搭建了一套室温大气环境下的分体式STM。该系统将一段螺纹密封式胶囊腔体通过一根长弹簧悬吊于混合磁体中心,并将STM核心镜体悬吊于胶囊腔体内用以减弱声音振动干扰。经测试,该STM在27.5特斯拉超强磁场下依然保持原子分辨。由于没有真空、低温环境的保护,搭建混合磁体超强磁场、超强振动和声音环境下的室温大气STM难度更大。此前,国际上还未曾报道过水冷磁体或混合磁体中的室温大气STM[6]。混合磁体STM系统:(a)混合磁体照片;(b)混合磁体STM系统简图;(c)STM镜体;(i-iv)分别为0T、21.3T、28.3T、30.1T磁场强度下石墨的原子分辨STM图像。 参考文献:1. Peng, Y., et al., A Quaternary van der Waals Ferromagnetic Semiconductor AgVP2Se6. Advanced Functional Materials, 2020. 30(34): p. 1910036.2. Chen, W., et al., Direct observation of van der Waals stacking-dependent interlayer magnetism. Science, 2019. 366(6468): p. 983-987.3. Shi, H., et al., Large-area, periodic, and tunable intrinsic pseudo-magnetic fields in low-angle twisted bilayer graphene. Nat Commun, 2020. 11(1): p. 371.4. Wang, L., et al., Ferroelectrically tunable magnetic skyrmions in ultrathin oxide heterostructures. Nat Mater, 2018. 17(12): p. 1087-1094.5. Ge, Y., et al., Uniaxial negative thermal expansion and band renormalization in monolayer Td?MoTe2 at low temperature. Physical Review B, 2020. 101(10).6. Meng, W., et al., 30 T scanning tunnelling microscope in a hybrid magnet with essentially non-metallic design. Ultramicroscopy, 2020. 212: p. 112975.
  • 群贤毕至,继往开来|离子与原子探针专业委员会成立大会成功召开
    仪器信息网讯 2023年12月22日,由中山大学承办的中国计量测试学会离子与原子探针专业委员会成立大会在广州从化文轩苑会议中心成功召开。离子与原子探针专业委员会是根据离子与原子探针相关领域的生产、研究、应用及教学的发展需要,由中国计量测试学会(以下简称“学会”)批复设立的分支(代表)机构。来自离子与原子探针领域的近百位专家齐聚一堂,共同见证了专委会成立。大会现场会议开幕式由中山大学分析测试中心陈建研究员主持,中国计量测试学会副理事长兼秘书长马爱文教授、中山大学副校长邰忠智和中国计量测试学会副理事长李献华院士分别致辞。中山大学分析测试中心 陈建研究员 主持开幕式中国计量测试学会副理事长兼秘书长 马爱文教授 致辞中国计量测试学会副理事长兼秘书长马爱文教授在致辞中表示,自2019年5月20号开始,国际计量七个单位全部定义到基本物理常数上,代表着国际测量科学全面进入量子化时代,量子测量将成为未来测量的主要技术手段,也将成为引领新一轮科技革命的重要主题。量子测量就是利用量子基本特性进行的高精度高灵敏度的测量工作,离子和原子探针技术就是利用离子和原子特性进行测量,是一项前沿先进的测试技术。马爱文希望委员会能够紧紧围绕国内外离子与原子探针技术开展调查研究,为政府和产业发展提供政策建议。紧紧围绕离子与原子探针前沿技术发展方向,不断开展学术交流学术会议,推动量子测量技术的不断进步;要紧紧围绕量子化测量方法,评价体系的开展,团体标准的制定,推动相关科研成果的转化以及产业链的不断发展;同时也要加强科普创新宣传工作,让更多的人了解离子与原子测量技术,让更多的领域应用这些先进技术。中山大学副校长 邰忠智 致辞中山大学副校长邰忠智指出,计量是实现单位统一,保证量值准确可靠的活动,是科技创新、产业发展、国防建设、民生保障的重要基础,是构建一体化国家战略体系和能力的重要支撑。党的十八大以来,在以习近平同志为核心的党中央坚强领导下,我国的计量事业的得到了快速的发展。作为中国科协的一级学会,中国计量测试学会聚集了我国计量测试领域中一大批具有高科技学术水平的专家学者,充分发挥学会科研院所、高校等单位的优势和作用,集聚各方资源和力量,共同推动国家现代先进测量体系建设,对国家的经济建设和国防领域发展起到了积极的作用。中国计量测试学会副理事长 李献华院士 致辞李献华院士表示,从1993年开始,以清华大学查良镇教授为代表的老一辈科学家,就自发组织了二次离子质谱研讨会,而原子探针技术用户研讨会到目前也举办了十二届。离子与原子探针技术专业委员会的成立,将为提升中国离子与原子探针研究的国际地位和影响力提供了组织保障,同时也将为我国举办2026年的国际二次离子质谱大会提供了有力支撑。今天离子与原子探针专业委员会成立大会是我们大家多年的夙愿,也是我国离子与原子探针专业领域的新起点。我们要以此为契机,共享资源,协同创新,建立产学研用交流服务的大平台,促进科研和产业的高质量发展。开幕式致辞结束后,会议议程环节由天津工业大学科学技术研究院院长赵丽霞教授主持。天津工业大学科学技术研究院院长 赵丽霞教授 主持会议议程赵丽霞在会上回顾了专委会成立前的历史和前期工作,并宣读了《中国计量测试学会关于同意成立离子与原子探针专业委员会的批复》。之后,会议审议和表决通过了《中国计量测试学会离子与原子探针专业委员会工作条例》草案;选举产生了中国计量测试学会离子与原子探针专业委员会委员、主任委员、副主任委员,并宣读最终选举结果及颁发聘书;提名表决产生了专委会秘书长和副秘书长;研讨了《中国计量测试学会离子与原子探针专业委员会“十四五”工作计划》草案。颁发聘书会议总结发言会议选举中山大学分析测试中心陈建研究员任主任委员,中国科学院地质与地球物理研究所研究员李秋立、北京国家质谱中心主任汪福意研究员、沈阳材料科学国家实验室公共技术服务部负责人张磊研究员和南京工业大学胡蓉教授任副主任委员,天津工业大学赵丽霞教授任秘书长,上海大学分析测试中心副研究员李慧任副秘书长。会议最后,由新当选的主任委员、副主任委员及其他领导分别做会议总结发言。至此,中国计量测试学会离子与原子探针专业委员会正式成立。之后,大会进入特邀报告环节。报告人:中国科学院地质与地球物理研究所研究员 李秋立报告题目:《原子探针分析诠释锆石离子探针U-Pb体系年龄怪现象》锆石是大型离子探针U-Pb定年技术应用最早和最广的矿物,离子探针U-Pb定年可以有效获取粒径微小锆石或具有复杂环带结构的锆石中不同区域的年龄信息。但高U锆石的离子探针U-Pb分析中存在随U含量升高而表现更老的现象,称之为"高U效应"。对此,李秋立团队利用原子探针分析揭示出锆石微观尺度为锆石-磷钇矿-铀石等多项成分固溶体;高U锆石中U原子以铀石-锆石-磷钇矿的过渡成分赋存;高U锆石微观尺度下基体成分与锆石标准样品存在明显差别,造成离子探针分析校正结果出现偏差。报告人:中国科学院大连化学物理研究所首席研究员 李海洋报告题目:《高质量分辨连续离子束源二次离子飞行时间质谱装置研制》据介绍,质谱与快速检测研究中心面向国家安全、生态环境和生命健康领域对现场、原位和快速分析仪器的新需求,用创新的离子精准调控技术和集成化方案,做能解决问题而且用户体验好的新仪器。SIMS是高灵敏的微区化学成分分析的工具,TOF-SIMS(飞行时间二次离子质谱)具有独特优势及应用范围,是目前应用最广泛的表面分析技术之一,是一种具有高质量分辨本领(质量分辨率)和高空间分辨(空间分辨率)的表面分析技术。但用SIMS实现分子的定性更需要质谱的高分辨率。针对于此,李海洋在报告中介绍了团队在DC- TOF SIMS 设计和单元技术进展和DC- MTOF SIMS 研究进展。报告人:北京科技大学教授 吴渊报告题目:《Effects of local chemical orderings on properties of high-entropy alloys revealed by atom probe tomography》高熵合金,以其多主组元,高构型熵的设计理念以及独特的性能,成为近十多年来合金领域内的热点材料。在研究初期,高/中熵合金所形成的单相固溶体,其组成原子被认为是完全无序分布在晶体点阵中。由于多组元元素间的复杂相互作用,使得合金在凝固或者热处理后,呈现局部短程有序结构,成为了高熵合金的一个关键特征。局部化学有序性对高熵合金的性能有显著影响。吴渊在报告中指出,原子探针层析成像(APT)可以在表征LCOs和揭示其对HEAs力学行为的影响方面发挥强大作用。报告人:中国科学院广州地球化学研究所教授级工程师 夏小平报告题目:《矿物水中的SIMS测试及其地球与行星科学应用》水,即使是微量的,对岩浆性质影响很大,是成岩、成矿等地质过程的关键因素。地球内部藏着海洋。水含量是星体演化的重要因素,确定水的含量和同位素组成对理解行星体的形成和演化具有重要意义。夏小平团队利用二次离子质谱仪(SIMS)同时测试锆石中水含量和氧同位素组成的分析方法,研究了月球、火星、地球晚期大轰炸的地质事件,分享了来自月球陨石锆石同位素及水含量可能代表的“星际故事”,并表示早期陨石撞击曾经给月球带来大量的水。报告人:中国计量科学研究院研究员 任同祥报告题目:《计量+离子/原子探针=?》质谱法测全血中锌元素含量的方法有外标法、标准加入法、同位素稀释法等,其中同位素稀释质谱法 (IDMS) 被化学计量公认为5个绝对测量方法之一,是痕量、超痕量成分的权威性测量方法。报告中,任同祥介绍了如何用同位素稀释法测锌,以及中国计量科学研究院研制的浓缩同位素标准物质和相应的规范和标准。与会人员合影留念
  • 我国科学家利用聚集体调控探针实现多种细胞器动态超分辨成像
    近日,中科院大连化学物理研究所研究员徐兆超团队发展了聚集体调控探针,解决了以往蛋白标签荧光探针在超分辨成像应用中缺乏对多种细胞器通用性标记的问题。相关研究成果已发表于《聚集体》。  纳米尺度下细胞器与亚细胞器动态行为的监测与解析对于生命进程的解密至关重要。徐兆超团队前期针对溶酶体内酸性微环境设计合成了溶酶体自闪染料,并借助单分子定位显微镜(SMLM)实时监测了溶酶体运动并发现4种溶酶体间相互作用模式,针对脂滴内部高度疏水环境设计了缓冲脂滴探针,实现了脂滴的稳定超分辨成像并发现脂滴融合的新模式。该团队构建的SNAP蛋白标签探针还克服了传统线粒体探针易受电位波动而脱靶的问题,实现了对线粒体的稳定标记和动态超分辨成像。  然而,蛋白标签荧光探针依然面临细胞渗透性差的问题,特别是探针在细胞内局域分布使得单一探针难以具有对多种细胞器广谱性标记的性能。对此,该团队发展了具有“单体—二聚体—聚集体”多体系动态调控的SNAP蛋白标签探针BGAN-Aze,该探针在细胞外形成荧光淬灭的纳米聚集体而具有快速穿透细胞膜和在细胞内广泛分布的能力,在细胞内以单体的形式与目标蛋白共价连接,并伴随荧光的恢复,最终实现细胞内多种细胞器选择性荧光识别与细胞器亚结构的动态超分辨成像。  此外,研究发现BGAN-Aze为不带电荷的中性分子,可保持高度的细胞渗透性与生物相容性,能够实现纳米尺度下对细胞膜、线粒体、细胞核等多种细胞器亚结构的长时间追踪。  该探针基于遗传编码技术,实现了细胞内多种细胞器选择性荧光识别的广谱应用性,并且实现了细胞器亚结构的动态超分辨成像,进而揭示了多种未见报道的细胞器结构动态变化,为进一步研究不同细胞器的功能提供工具。
  • 电子探针显微分析探索锰结核的结构及成因
    导 语多金属铁锰结核即锰结核的形态、结构构造、矿物种类和化学成分综合反映了结核的形成环境和生长机制,其生长过程中因为记录着这些海洋地质作用及变化的信息,备受相关学者的关注。使用岛津电子探针EPMA可对海底采集的多金属铁锰结核进行了微观形貌观察、成分分析和元素面分布特征测试,从而可以研究其结构及成因。 岛津电子探针EPMA优势: 岛津电子探针EPMA可在微区领域进行高灵敏度的分析,观察及分析只需要使用鼠标键盘即可完成,方便高效。 岛津电子探针(EPMA-1720 & EPMA-8050G) 岛津电子探针EPMA通过配置 统一四英寸罗兰圆半径的兼具灵敏度和分辨率的全聚焦分光晶体以及52.5°的特征X射线高取出角 使之对于微量元素的测试更具优势,不会错过微量元素的轻微变化。 图解:从微米级别空间尺度产生的元素特征X射线经过全聚焦晶体衍射后还会汇聚到微米级别范围,不会有检测信号的损失,也无需在检测器前开更大尺寸的狭缝,从而具有更高的特征X射线检测灵敏度和分辨率。 图解:高取出角可获得特征X射线试样在基体内部更短的穿梭路径,减少基体效应的影响,即更少的基体吸收更少的二次荧光等,从而具有更高的特征X射线检测灵敏度。 岛津电子探针EPMA对锰结核的分析: 通过岛津电子探针EPMA分析发现,此锰结核的中心成核部位发现了较多的全自形斑晶,斑晶主要为长石与辉石,可能来自于海底火山喷发在海水中的冷却结晶,在火山岩碎屑基质中还有后期充填形成的杏仁体构造。在火山岩碎屑边部也观察到快速冷却的火山玻璃晶相特征。 而根据相关元素的协变关系,结合各元素元素分布特征,表明此多金属结核的初期经历了一次较长周期的快速生长,形貌特征呈较为疏松的花瓣状和纹层状构造,其后经历了反复多次的快速和慢速结核的交替,反映了当时复杂多变的海洋地质环境,最外层是慢速生长的瘤状富Fe、Co外壳。整个结核壳层中,相对于内部原生构造的花瓣状和纹层状构造形貌,外面几层有裂隙及充填脉状形态,可能来自于次生构造。 图解:面分析(Mapping分析过程)反应多金属结核整体元素分布特征,Mn+Ni和Co元素分布富集具有负相关关系。
  • 1129万!中国科学院场发射电子探针显微分析仪仪器配置和快速超分辨活细胞成像系统采购项目
    一、项目基本情况项目编号:OITC-G240261656-2项目名称:中国科学院2024年仪器设备部门批量集中采购项目预算金额:1129.000000 万元(人民币)最高限价(如有):1129.000000 万元(人民币)采购需求:1、采购项目的名称、数量:包号货物名称数量(台/套)用户单位采购预算(人民币)最高限价(人民币)是否允许采购进口产品11场发射电子探针显微分析仪仪器配置1中国科学院新疆理化技术研究所634万元634万元是包号货物名称数量(台/套)用户单位采购预算(人民币)最高限价(人民币)是否允许采购进口产品16快速超分辨活细胞成像系统1中国科学院上海营养与健康研究所495万元495万元是投标人须以包为单位对包中全部内容进行投标,不得拆分,评标、授标以包为单位。2、技术要求详见公告附件。合同履行期限:详见采购需求本项目( 不接受 )联合体投标。二、获取招标文件时间:2024年07月25日 至 2024年08月01日,每天上午9:00至11:00,下午13:00至17:00。(北京时间,法定节假日除外)地点:www.oitccas.com;北京市海淀区丹棱街1号互联网金融中心20层方式:登录“东方招标”平台www.oitccas.com注册并购买。售价:¥600.0 元,本公告包含的招标文件售价总和三、对本次招标提出询问,请按以下方式联系。1.采购人信息名 称:中国科学院新疆理化技术研究所     地址:新疆乌鲁木齐市新市区科学二街181号        联系方式:010-68290560/0509      2.采购代理机构信息名 称:东方国际招标有限责任公司            地 址:北京市海淀区丹棱街1号互联网金融中心20层            联系方式:赵倩 任伟松 焦怡泽 杨帆 陈小舫,010-68290560/0509,yzjiao@oitc.com.cn            3.项目联系方式项目联系人:赵倩 任伟松 焦怡泽 杨帆 陈小舫电 话:  010-68290560/0509
  • 中科院大连化物所利用“缓冲”策略开发光稳定荧光探针揭示活细胞内脂滴动态过程
    近日,大连化物所分子探针与荧光成像研究组(1818组)徐兆超研究员团队利用“缓冲”策略,发展了细胞内脂滴动态识别荧光探针LD-FG,该探针具有优异的光稳定性,可在空间超分辨成像的基础上实现高时间分辨率和长时间稳定成像,从而发现了多种新的脂滴动态过程。  脂滴是维持脂质和能量稳态的关键细胞器,由中性脂组成的内核及包裹其外的单层磷脂组成。脂滴表面分布着多种蛋白,以调控脂类的储存、代谢及脂滴运动。越来越多的研究揭示,脂滴具有更多的生理功能,例如抗菌免疫能力、促进药物积累和激活能力、内核膜代谢能力、与其他细胞器相互作用以交换营养分子、作为癌症和衰老大脑神经认知功能障碍的标志物等。尽管对脂滴功能的机制缺乏研究,但已证实这些功能与脂滴生命周期的动态密切相关。揭示脂滴的动态有助于研究脂滴的功能机制和发现新的功能。然而,脂滴的数量、位置、大小和组成在细胞之间甚至在同一细胞内可能会有很大差异,脂滴的生命周期、时间和位置上也通常不可预测且难以观察。此外,这些事件在脂滴生命周期中的发生率仍然未知。这种细胞异质性和不可预测性要求用于探测脂滴动态的成像技术不仅具有对脂滴的识别能力,更需要具有较好的空间和时间分辨率,以及长时间的的稳定成像能力。  超分辨荧光成像可突破衍射极限实现最高可达单分子的空间分辨,但荧光团易光漂白而迅速淬灭的问题使得超分辨荧光成像一直面临着时间分辨率低和成像时间长的挑战。因此提高荧光团的光稳定性是超分辨荧光成像面临的前沿问题。  本工作中,徐兆超团队提出了“缓冲荧光探针”(buffering fluorogenic probe,BFP)的策略来解决脂滴动态成像中光稳定性的问题。“缓冲”策略(buffer strategy)是指在成像过程中,脂滴内部光漂白的荧光探针被外部周围新的和完整的荧光探针有效取代,即荧光探针交换速率大于漂白速率时,即可确保脂滴成像的光稳定性。该策略要求探针在脂滴外部时处于荧光淬灭的状态,并且在脂滴外具有较高的浓度以保证足够的缓冲能力。LD-FG有适中的脂溶性保证了既有足够的分子对脂滴进行荧光染色,同时又有足够比例的分子在脂滴外作为缓冲池。缓冲池不仅可以快速补充脂滴中的光漂白探针,保证了长时间荧光成像的光稳定性,还可以及时染色细胞中的新生脂滴,并接收脂滴减小或消亡中释放到外部的探针。  基于LD-FG优异的光稳定性,团队借助结构光照明显微镜对脂滴的多种动态过程进行了高时空分辨率的成像,首次发现了两种新的脂滴融合模式,包括多个脂滴的同时融合和线粒体介导的融合;揭示了细胞不同区域和不同细胞之间的异质性;提出脂肪细胞分化过程中脂滴成熟的新模型,即首先进行快速脂滴融合,接着是缓慢成熟步骤;首次在细胞中观察到融合过程中的哑铃形中间形态,证明聚结(coalescence)并不像以前知道的那样罕见,而是在细胞中无处不在的。  作为最小的生命单元,细胞是含有细胞器、分子复合物和功能单分子的多体系、跨尺度的复杂系统,不同尺度单元又根据其位置、结构、运动、浓度以及与其他功能单元的动态相互作用,精确、有序和协调地执行复杂多样的细胞功能,这使得细胞具有个体与系统性相统一、异质性、高度动态、不确定性等多种特征。团队期望“缓冲荧光探针(BFP)”的策略可以在未来用于开发针对更多不同细胞内生物靶点的光稳定探针,最终实现细胞内生物分子全景超时空分辨动态成像。  相关成果以“Stable Super-resolution Imaging of Lipid Droplet Dynamics through a Buffer Strategy with a Hydrogen-bond Sensitive Fluorogenic Probe”为题,于近日发表在《德国应用化学》(Angew. Chem. Int. Ed.)上。该工作的第一作者是大连化物所1818组博士研究生陈婕和博士后王超。该工作得到国家自然科学基金、大连化物所创新基金等项目的资助。
  • 新一代核探针信号探测系统研制成功
    记者近日获悉,中科院上海应用物理所在国内首次研制成功新一代多功能核探针信号探测与数据获取系统。项目组负责人李晓林介绍,“该系统具有全元素分析、三维成像和微器件制作等三大功能”,可在中科院核分析技术重点实验室的扫描核探针上,同时开展微束质子激发X射线荧光分析、卢瑟福背散射、质子激发伽马射线分析、弹性反冲分析和扫描透射离子显微成像等分析以及质子束刻写微器件加工。  他们研制了4LB-I多站多参量数据采集与束流扫描系统,拥有自主知识产权,解决了扫描核探针多站多参量数据采集与束流扫描这一关键核心系统长期依赖国外进口的问题。
  • 南科大开发高亮度聚合物点探针实现三维多色超分辨成像应用
    近日,南方科技大学生物医学工程系教授吴长锋课题组成功开发了一系列高亮度聚合物点荧光探针,通过荧光探针功能化和扩展成像技术,在普通荧光显微镜上可以观察到精细的亚细胞结构,分辨率高达30 nm。相关成果发表在材料领域知名期刊Advanced Materials。超分辨光学成像因其能够提供低于衍射极限的分辨率而获得了2014年诺贝尔化学奖,当前超分辨技术主要分为两类:基于激发光调制的超分辨成像和基于单分子定位的超分辨成像。扩展显微成像采用了截然不同的思路:通过将样本膨胀扩大,使得原本在衍射极限范围内的相邻分子由于距离变大而变得清晰可辨。该方法不依赖于复杂的成像系统,用普通共聚焦显微镜可以获得纳米级分辨率,但样本扩展过程中由化学猝灭及密度稀释导致的荧光亮度衰减是该方法进一步发展的难题。针对这一问题,研究团队开发了适用多色扩展显微成像的聚合物点荧光探针。相比于商用的荧光染料,聚合物点的荧光标记亮度可以提高6倍。由于聚合物点的高亮度标记,细胞骨架微管蛋白的三维空间构象、网格蛋白有被小泡以及神经元突触结构等,都能够在普通荧光显微镜上解析出来(图1a-c)。课题组进一步将聚合物点探针、扩展成像技术、和光学涨落超分辨技术结合起来,在普通宽场显微镜上实现了约30 nm的超高分辨率成像,更加真实地还原出微管蛋白尺寸以及线粒体中空膜结构等细节信息(图1d-j)。这些发现展示了高亮度聚合物点在生物光学成像的应用潜力。 图1三维超分辨扩展-光学涨落联合成像解析亚细胞精细结构图2 全自动细胞免疫荧光标记平台南方科技大学-香港浸会大学联合培养博士生刘洁为本文第一作者,南方科技大学为该论文的通讯单位。以上研究得到了国家自然科学基金、国家重点研发计划、深圳市科技创新委员会资助项目等的支持。
  • 安捷伦科技公司将增加 SureFISH 融合基因探针产品种类
    安捷伦科技公司将增加 SureFISH 融合基因探针产品种类 2013 年 11 月 13 日,北京 — 安捷伦科技公司(纽约证交所:A)今日宣布推出 SureFISH ALK、ROS1 和 RET 融合基因探针,扩大其寡核苷酸荧光原位杂交 (FISH) 产品种类。安捷伦至今已推出了 450 多种 FISH 探针。 市场上大部分 FISH 探针使用的都是 BAC 技术。BAC 探针靶向的是重复区域,探针种类的选择受限于能够获得的 BAC 探针。其结果就是这些探针常常显示出非特异性信号,会靶向目标区域外的序列,而且信号强度不是最佳的。由于 Agilent SureFISH 探针采用了电脑设计的高保真寡核苷酸,因此能靶向非重复区域,还能靶向特定目标序列。此外,安捷伦的寡核苷酸类探针在针对每个区域寡核苷酸的尺寸和数量方面都具有全面的灵活性。 安捷伦对 ALK、ROS1 和 RET 探针的尺寸以及寡核苷酸密度进行了微调,可提供比 BAC 更清晰、更平衡的信号。对于 ALK 和 RET 融合基因探针,安捷伦采用独特的微间隙设计以最大限度地缩短子探针之间的距离,以实现紧密信号共定位。 安捷伦诊断和基因组学业务部副总裁兼总经理 Jacob Thaysen 说:“我们的新型 ALK、RET 和 ROS1 SureFISH 融合基因探针旨在提供比目前市面上更清晰、更平衡和共定位更好的信号。从而实现对易位更快和更准确的检测。” 客户可以从安捷伦基因组网站上轻松查找和购买 SureFISH 探针,并且还能根据染色体位置、目标染色体区段或基因来搜索探针。染色体浏览器还列出了杂交图片,以帮助用户在购买前了解探针性能。 有关 Agilent SureFISH 探针的更多信息,请访问 www.agilent.com/genomics/SureFISH。关于安捷伦基因组学 安捷伦是新一代测序靶向序列捕获和基因组学芯片领域的全球领导者。安捷伦 SureSelect 和 HaloPlex 靶向序列捕获系统使研究人员能够轻松选择待测序的基因组片段,从而节省了对整个基因组进行测序所花费的时间和金钱。HaloPlex 系统具有“当日完成待测序样品制备”的快速工作流程,而 SureSelect 系统能够在一个反应对中准确捕获所有的外显子组和甲基化组。这两个系统仅仅是两种代表性产品,均源自安捷伦在微阵列制造过程中所获得的合成复杂定制长寡核苷酸混合物的专业知识。其他基于此项核心技术的产品线包括用于基因表达的全基因组测量基因芯片和比较基因组杂交基因芯片,以及使用寡核苷酸探针,用于原位杂交的高特异性、高灵敏度产品系列 SureFISH。除了寡核苷酸类产品之外,安捷伦还提供用于测量样品质量的微流体生物分析仪,以及用于基因组实验的全套试剂、硬件、方法和生物信息学软件。关于安捷伦科技公司 安捷伦科技(NYSE 代码:A)是全球领先的测试测量公司,同时也是化学分析、生命科学、诊断、电子和通信领域的技术领导者。公司拥有 20,600 名员工,遍及全球 100 多个国家,为客户提供卓越服务。在 2012 财年,安捷伦的净收入达到 68 亿美元。如欲了解关于安捷伦的详细信息,请访问:www.agilent.com.cn。 编者注:更多有关安捷伦科技公司的技术、企业社会责任和行政新闻,请访问安捷伦新闻网站:www.agilent.com.cn/go/news。
  • 150万!中国科学院金属研究所扫描探针显微镜采购项目
    项目编号:22CNIC-031692-017项目名称:中国科学院金属研究所扫描探针显微镜采购项目采购方式:竞争性磋商预算金额:150.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):150.0000000 万元(人民币)采购需求:名称:扫描探针显微镜数量:1套简要技术参数:实现在微纳米尺度上观测样品表面的三维形貌,获得样品尺寸、厚度以及粗糙度等信息,同时可对样品表面的力学、电学性能等物理化学特性进行研究。扫描范围,扫描器X,Y轴扫描范围不小于80μm×80μm,Z轴扫描范围不小于10μm;至少内置两个全数字双频锁相放大器,可实现在扫描过程中,同时在共振峰的两侧施加两个振动频率以实时追踪共振频率的变化,自动调整探针驱动频率与共振频率保持一致,实现高灵敏的压电信号检测;工作带宽20MHz。导电性原子力显微镜模块:通过测量探针与样品之间的超低电流可对样品的导电性进行成像和I/V曲线测试,具有pA级分辨率,最大测量电流不小于10μA合同履行期限:合同生效后6个月内本项目( 不接受 )联合体投标。
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