薄膜自动进样测厚仪

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薄膜自动进样测厚仪相关的厂商

  • 湖北省金中德科技机械有限责任公司,是一家专注于优质自主研发硬软件,以及逆向工程设计,非标自动化设备配套产品的研发类型高新技术企业。旗下有湖北省金中德科技机械有限责任公司,是一家专注于优质自主研发硬软件,以及逆向工程设计,非标自动化设备配套产品的研发类型高新技术企业。旗下有多家授权生产型实体企业。 公司注重于以人为本,拥有多名资深高级机械工程师、电气软件工程师,长期固定于研发国外垄断设备。开发具有性价比,自主知识产权的国产设备。多年来与高校科研所合作,为跨国公司。出差解决进口设备,现场测绘维修改造,设计开发新产品,设计图纸新工艺,拥有多项专利,授权于用户以及生产厂家生产制造。 目前我司自主研发的主要产品有:硬件设备。肉食保鲜包装高阻隔低温双向收缩PVDC五层、七层吹膜机、FFS重包装三层、五层吹膜机、防水巻材强力交叉膜45度斜切生产线、高强度PE拉伸膜生产线,自动焊接机器人,流水线装配机器人,视觉抓拍定位检测仪,薄膜片材、等 软件核心研发产品:X射线测厚仪、激光射线测厚仪、红外光测厚仪。电容监测测厚仪自动调整风环、吹膜机--IBC内冷控制系统、称重下料矢量控制系统、模具模体流变压力分析设计、风环气体流量结构设计、物联网远程协助管理系统等开发应用。
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  • 深圳市博路米自动化科技有限公司致力于引进国际先进的传感器技术和控制技术,为中国工厂自动化领域提供高品质的工业传感器产品。 工业安全技术: 一站式的安全产品:安全光幕、激光区域扫描器、安全继电器、安全监控模块、区域安全保护、安全连锁开关、安全门开关、紧急拉绳开关、安全地毯、安全触边、安全缓冲器等。 光电传感器技术: 全系列的德国SENSOPART光电传感器,包括标准型传感器、测距传感器、线传感器、颜色传感器、槽型传感器、光纤和光纤放大器等。测量检测技术: 工业无损检测:超声波测厚仪、超声波硬度计、超声波探伤仪、超声波传感器、激光位移传感器、测量检测光幕等,型号齐全,满足各种测量需求。公司愿景致力于成为中国最优秀的自动化解决方案提供商!
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  • 400-860-5168转2380
    上海沃珑仪器有限公司于2011年3月9日在上海张江高科技园区成立,我们拥有行业内资深的技术专家和服务人员,为客户提供国内外一流品牌的实验室仪器和设备、完善的技术解决方案以及及时周到的售后服务。 我们代理的产品:瑞士万通 Metrohm自动电位滴定仪 | 离子色谱仪 | 卡尔费休微量水分滴定仪 | 伏安极谱仪 | 电化学工作站 | 手持拉曼光谱仪 | 近红外光谱分析仪美国 PEAK氮气发生器 | 氢气发生器 | 零级空气发生器瑞士步琦 BUCHI旋转蒸发仪 | 中压分离纯化制备色谱 | 喷雾干燥仪 | 玻璃干燥仪 | 熔点仪 | 凯氏定氮仪 | 蛋白质和脂肪测定仪 | 食品饲料近红外品质分析仪美国鲁道夫 Rudolph折光仪 | 旋光仪美国利曼 Teledyne Leeman Labs全谱直读ICP发射光谱仪 | 等离子体发射光谱仪 | 全自动测汞仪 | 静态/动态顶空自动进样器 美国泰克玛 Teledyne Tekmar总有机碳分析仪 | 全自动吹扫捕集进样装置 | 静态/动态顶空自动进样器 | 液体自动进样器意大利欧维特 EuroVector全自动元素分析仪 | 全自动蛋白质分析仪瑞士 novasina控温型水分活度仪 | 便携式水分活度仪德国凯恩孚 KNF隔膜计量泵 | 抗化学腐蚀隔膜真空泵德国优莱博 Julabo粘度计 | 全自动油品粘度测试系统 | 水浴槽 | 化学防爆冰箱 | 加热制冷恒温循环器瑞士 SOCOREX精密移液器德国博格霍夫 Berghof水分分析仪 | 酸纯化仪 | 微波消解系统 | 超纯酸制备系统 上海沃珑依托在行业里的专业背景,长期专注于化学分析、饲料检测、食品安全、环境保护、石油化工、医疗卫生、制药、汽车零部件、绿色能源等相关行业,致力于成为国内优秀的实验室仪器供应商和技术服务专家。 上海沃珑,因为专注,所以专业!地址:上海市浦东新区祖冲之路2288弄2号楼1618室电话:021-61305955,13601886766传真:021-61305955 邮编:201210邮箱:Julia.zhu@wowlong.cn
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薄膜自动进样测厚仪相关的仪器

  • GB/T 6672自动进样薄膜测厚仪应用范围适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。主要特点1. 接触式测量原理2. 德国测厚传感器3. 工业 TFT 屏,触摸屏操作4. 零导航深度的扁平化界面 UI,操作更加方便快捷5. 真彩色液晶显示试验数据、结果6. 手动、循环、预约定时多种测量模式7. 测试过程全自动完成8. 本机内置历史数据查询功能9. 配置微型打印机,可自动打印单次、统计报告10. 配置标准通信接口11. 可支持 DSM 实验室数据管理系统,实现数据统一管理(选购)技术指标测量范围:0~2mm(标配) 0~10mm(可选)分 辨 率:0.1μm测量速度:1~25 次/min(可调)测 量 头:薄膜:50mm2,17.5±1kPa(标配)纸张:200mm2,50±1kPa(可选)电 源:AC 220V 50Hz外形尺寸:330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)净 重:38kg执行标准GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817产品配置标准配置:主机、薄膜测量头、微型打印机、标准量块一件选 购 件:纸张测量头、自动进样装置、配套软件、通信电缆、标准量块、DSM 实验室数据管理系统。
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  • CHY-03薄膜薄片测厚仪 自动进样 机械接触式厚度测量仪CHY-03薄膜薄片测厚仪 自动进样 机械接触式厚度测量仪采用机械接触式测量原理,严格执行机械接触式测厚相关标准要求,适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。本品采用高精度位移传感器,通过科学的结构设计及高精测控技术,实现了接触式厚度测试的稳定性、重复性。一、基本信息品名测厚仪型号CHY-03品牌泉科瑞达产地山东.济南二、CHY-03薄膜薄片测厚仪 自动进样 机械接触式厚度测量仪功能应用1、基础应用:薄膜、薄片、隔膜、纸张、纸板、箔片、硅片、金属片、纺织材料、固体电绝缘体、无纺布材料(如尿不湿、卫生巾片材)等2、扩展应用:量程扩展至6-12mm以及曲面测量头,满足特殊场合的厚度测试(需订制)三、CHY-03薄膜薄片测厚仪 自动进样 机械接触式厚度测量仪试验原理本品采用机械接触式厚度测量方式进行厚度的高精度测量;将厚度测量头复位后置零(测厚头与测厚仪测试台接触归零),启动试验,测厚头达到最高位,将平整试样置于测厚仪测试平台上测量头下落后接触试样,对试样施压标准规定的压力后通过位移传感器记录材料厚度;自动进样器按用户设定的测试间距牵引试样进给,至设定间距停止,测量头下行测试厚度,按设定的间距数量仪器完成全自动厚度测试,并记录测试过程数据,在试验结果后给出统计结果。四、CHY-03薄膜薄片测厚仪 自动进样 机械接触式厚度测量仪产品特征一款机械式厚度测量的高精密仪器,采用高精度位移传感器,采用稳固性结构设计及高精测控控制技术,实现了接触式厚度测量的稳定性、重复性。7寸大触控屏,操作简便,人机交互友好采用国际品牌高精度位移传感器,精密机床二次加工,高成本以保证高精度一体式悬臂设计,减少传感器的固定部件, 0.1um分辨率,进一步获得超高测试精度配置自动进样装置,可按设定间距与测试点数进给试样,配合主机测量基准零点反复多次同点测试,零点飘动小,基准零点稳定标准量块单点重复测试,数据稳定,可靠度高可进行测试面积,测量压力,测试速度以及自动进行的软硬件订制具有手动、自动测试功能开机密码登陆,防止无关人员任意操作仪器造成损失或参数变更支持四级用户权限管理,测试数据历史记录可查询最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断专业计GMP计算机软件可选五、技术参数测试范围 :0~2 mm(标准量程)(0-6mm,0-12mm可选,其它行程可订制) 分辨率 :0.1 μm (标准量程)测试压力: 17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张) (选其一,非标可订制)接触面积 :50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张)(选其一,非标可订制)进样步距:0-1000mm进样速度:0.1-99.9mm/s电源: AC 220V 50Hz 主机外形尺寸: 350 mm(L)× 340 mm(W)× 470 mm(H) 自动进样装置尺寸:350 mm(L)× 340 mm(W)× 200 mm(H)主机净重: 35kg 进样装置净重:13 kg六、参考标准该仪器参考多项国家、国际标准:ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817、GB/T 24218.2注:不同标准需要订制不同夹具或试验程序开展相关试验。七、配置标准配置:主机(含微型打印机、触摸屏)、自动进样装置、标准量块(一组)选购件:计算机、非标订制、专业软件、通信电缆
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  • 应用范围适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。主要特点1. 接触式测量原理2. 德国测厚传感器3. 工业 TFT 屏,触摸屏操作4. 零导航深度的扁平化界面 UI,操作更加方便快捷5. 真彩色液晶显示试验数据、结果6. 手动、循环、预约定时多种测量模式7. 测试过程全自动完成8. 本机内置历史数据查询功能9. 配置微型打印机,可自动打印单次、统计报告10. 配置标准通信接口11. 可支持 DSM 实验室数据管理系统,实现数据统一管理(选购)技术指标测量范围:0~2mm(标配) 0~10mm(可选)分 辨 率:0.1μm测量速度:1~25 次/min(可调)测 量 头:薄膜:50mm2,17.5±1kPa(标配)纸张:200mm2,50±1kPa(可选)电 源:AC 220V 50Hz外形尺寸:330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)净 重:38kg执行标准GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817产品配置标准配置:主机、薄膜测量头、微型打印机、标准量块一件选 购 件:纸张测量头、自动进样装置、配套软件、通信电缆、标准量块、DSM 实验室数据管理系统。
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薄膜自动进样测厚仪相关的资讯

  • 天津港东SGC-10型薄膜测厚仪新品发布
    SGC-10薄膜测厚仪,适用于介质,半导体,薄膜滤波器和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。该薄膜测厚仪,由我公司与美国new-span公司合作研制,填补了国内多项空白。该产品采用new-span公司先进的薄膜测厚技术,基于白光干涉的原理来测定薄膜的厚度和光学常数(折射率n,消光系数k)。它通过分析薄膜表面的反射光和薄膜与基底界面的反射光相干形成的反射谱,用相应的软件来拟合运算,得到单层或多层膜系各层的厚度d,折射率n,消光系数k。该设备关键部件均为国外进口,也可根据客户需要整机进口。详细信息可直接登录我公司网站www.tjgd.com 。或者来电咨询 022-83711190 。
  • SYSTESTER发布智能全自动薄膜阻隔性测试仪新品
    智能全自动薄膜阻隔性测试仪品牌:【SYSTESTER】济南思克测试技术有限公司适用范围:气体透过率测定仪主要用于包装材料气体透过量测定工作原理:压差法测试原理型号:气体透过率测试仪(又称:薄膜透气仪,透氧仪,气体渗透仪,压差法透气仪,等压法透气仪,氧气透过率测试仪等,气体透过量测定义,药用复合膜气体透过率测试仪,人工智能技术仪,氧气渗透仪,济南思克,OTR透氧仪)智能全自动薄膜阻隔性测试仪采用真空法测试原理,用于各种食品包装材料、包装材料、高阻隔材料、金属薄片等气体透过率、气体透过系数的测定。 可测试样:塑料薄膜、塑料复合薄膜、纸塑复合膜、共挤膜、镀铝膜、铝箔复合膜、方便面包装、铝箔、输液袋、人造皮肤;(红外法)(电解法)水蒸气透过率测试仪气囊、生物降解膜、电池隔膜、分离膜、橡胶、轮胎、烟包铝箔纸、PP片材、PET片材、PVC片材、PVDC片材等。试验气体:氧气、二氧化碳、氮气、空气、氦气、氢气、丁烷、氨气等。 GTR系列 药用复合膜气体透过率测试仪,人工智能技术【济南思克】技术指标:测试范围:0.01~190,000 cm3/m2?24h/0.1MPa(标准配置)分 辨 率:0.001 cm3/m2/24h/0.1MPa试样件数:1~3 件,各自独立真空分辨率:0.1 Pa控温范围:5℃~95℃ 控温精度:±0.1℃ 试样厚度:≤5mm 试样尺寸:150 mm × 94mm 测试面积:50 cm2试验气体:氧气、氮气、二氧化碳、氦气等气体(气源用户自备)试验压力范围:-0.1 MPa~+0.1 MPa(标准)接口尺寸:Ф8 mm 外形尺寸:730 mm(L)×510mm(B)×350 mm(H) 智能全自动薄膜阻隔性测试仪产品特点:真空法测试原理,完全符合国标、国际标准要求三腔独立测试,可出具独立、组合结果计算机控制,试验全自动,一键式操作高精度进口传感器,保证了结果精度、重复性进口管路系统,更适合极高阻隔材料测试进口控制器件,系统运行可靠,寿命更长进口温度、湿度传感器,准确指示试验条件一次试验可得到气体透过率、透过系数等参数宽范围三腔水浴控温技术,可满足不同条件试验系统内置24位精度Δ-Σ AD转换器,高速高精度数据采集,使结果精度高,范围宽嵌入式系统内核,系统长期稳定性好、重复性好嵌入式系统灵活、强大的扩展能力,可满足各种测试要求多种试验模式可选择,可满足各种标准、非标、快速测试试验过程曲线显示,直观、客观、清晰、透明支持真空度校准、标准膜校准等模式;方便快捷、使用成本极低廉标准通信接口,数据标准化传递可支持DSM实验室数据管理系统,能实现数据统一管理,方便数据共享 (选购) 标准配置:主机、高性能服务器、专业软件、数据扩展卡、通信电缆、恒温控制器、氧气精密减压阀、取样器、取样刀、真空密封脂、真空泵(进口)、快速定量滤纸 执行标准:GB/T 1038-2000、ISO 15105-1、ISO 2556、ASTM D1434、JIS 7126-1、YBB 00082003 其他相关:系列一:透氧仪,透气仪, 透湿仪,透水仪,水蒸气透过率测试仪,药用复合膜气体透过率测试仪,人工智能技术,7001GTR透气仪系列二:包装拉力试验机、摩擦系数仪、动静摩擦系数仪、表面滑爽性测试仪、热封试验仪、热封强度测试仪、落镖冲击试验仪、密封试验仪、高精度薄膜测厚仪、扭矩仪、包装性能测试仪、卡式瓶滑动性测试仪、安瓿折断力测试仪、胶塞穿刺力测试仪、电化铝专用剥离试验仪、离型纸剥离仪、泄漏强度测试仪、薄膜穿刺测试仪、弹性模量测试仪、气相色谱仪、溶剂残留测试仪等优质包装性能测试仪!注:产品技术规格如有变更,恕不另行通知,SYSTESTER思克保留修改权与最终解释权!创新点:1.以边缘计算为特点的嵌入式人工智能技术赐予了仪器更高的智能性;2.赋予仪器高度自动化、智能化;3.外观设计独到智能全自动薄膜阻隔性测试仪
  • 全自动涂层测厚仪|涂魔师非接触无损测厚仪FLEX新功能介绍网络研讨会
    涂魔师全自动涂层测厚仪是一款非接触无损涂层测厚的仪器,采用先进的光热红外法(ATO)对涂层进行非接触测量,实时得出涂层厚度。在工艺早期在线测量涂层厚度是记录和监控涂装工艺的关键,不仅能起到节省涂装材料成本、提高产品质量,而且能减少滞后时间和降低废品率的作用。环境条件的变化容易影响涂装工艺,因此在工业环境中使用操作简易的测厚仪是至关重要的。涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX采用的是非接触无损测厚专利技术,而不是基于磁感应或超声波原理。因此它能精准测量湿漆、固化前的粉末涂料来得出干膜厚度和直接测量固化后的涂层厚度,适合各种涂料类型和颜色(包括白色)。与电磁感应测厚设备相比,涂魔师能精准测量金属、木材、塑料和橡胶等基材上的涂层厚度。与其他光热法、基于激光和超声波原理的设备不同的是,它具有安全可靠、使用方便、精度高和重复性好、校准简便并无需严格控制测试距离和角度等优势。使用涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX有以下的优势:①节省10%-30%的涂料②减少测量湿膜涂层厚度的时间③操作简单,方便新员工学习④可以在生产线早期进行涂层厚度测量,降低成本和返工率⑤绿色环保⑥帮助企业建立工业4.0的标准⑦支持与企业ERP直连,数据实时传输2021年9月22号网络研讨会将由联合首席官Andor Bariska介绍涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX的详细产品信息和新功能,帮助企业优化喷涂工艺。马上发邮件到marketing@hjunkle.com申请网络研讨会视频和资料,邮件主题【9月22号涂魔师研讨会】我们将在研讨会结束后给您发送资料和视频。涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX工作原理ATO光热红外法介绍涂魔师全自动涂层测厚系统使用光热红外法ATO原理,通过计算机控制光源以脉冲方式加热待测涂层,其中内置的高速红外探测器从远处记录涂层表面温度分布并生成温度衰减曲线。表面温度的衰减时间取决于涂层厚度及其导热性能。最后利用专门研发的算法分析表面动态温度曲线计算测量待测的涂层厚度。涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX是一款功能齐全的高精准的非接触式无损测厚系统,无需进行整合,操作方便,校准简单,无需严格控制测试距离和角度,无需等到涂层固化后才进行涂层厚度测量,能有效节省材料和避免涂层缺陷问题,十分适用于生产车间现场,且自动记录数据及生产全过程。翁开尔是涂魔师中国总代理,欢迎致电咨询关于涂魔师全自动涂层测厚仪更多产品信息、技术应用和客户案例。

薄膜自动进样测厚仪相关的方案

薄膜自动进样测厚仪相关的资料

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薄膜自动进样测厚仪相关的论坛

  • 薄膜测厚仪的知识你知道吗?

    薄膜测厚仪的知识你知道吗?

    随着科技的发展,市场上出现了很多高科技的产品,随着各式各样的产品出现,对我们生活、工作中带来巨大的影响,下面小编要为大家普及薄膜测厚仪知识,希望能给您带来帮助!  薄膜测厚仪的应用范围很广,可以进行诸多产品的测量,所以,它被广泛应用于各个行业;在产品检测方面有着非常突出的应用,有时候可以超乎人们的想象,有些没有使用过它的工作者,从它的身上得到了非常多的好处。有了它,能够提高用户的检测效率,使得生产工作进一步加快,建议那些还没有尝试过的客户,可以去尝试一下,应该会得到很有效的帮助。 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/04/201604051141_589010_3085714_3.jpg  薄膜测厚仪帮助实现高精度的测量,就算是非接触式的测量也可以,大家都知道,在某些行业进行精确测量是非常重要的一件事情,更好的产品由此而生,测量出了偏差,一切就都不行了。大成精密薄膜测厚仪作为专门检测产品厚度的设备,它在这方面的能力就非常强,可以实现高效的检测服务。  薄膜测厚仪的出现,大大提高了产品的生产效益,尤其是在自动化生产线上,如此高科技又好用的设备,如果你的车间还没有配备相关的设备,建议大家为提高生产为检测车间配备一台测厚仪,时代在前进,使用高效的设备,打造更好的产品,这才是保证不落后的方法。

  • 在线薄膜测厚仪,求购

    求购在线薄膜测厚仪,做压敏胶带用。现在有八条线,薄膜厚度25u,涂层厚度25u。大家有没有推荐的。

  • 【原创】薄膜测厚仪

    【原创】薄膜测厚仪

    电容性薄膜测厚仪 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_646126_2244676_3.jpg 名称属性 测厚仪组成部分发射探头 1个接受探头 1个电脑控制转换器 1个工业触摸屏 1个操作柜 1台U型探头支架 1个技术指标检测厚度: 10um-20mm检测精度:土0.1um检测宽度:根据产品宽度循环测厚设定在线速度 max:60m\min作业环境海拔低于1500米,三相380v电。适用于POF、牛奶包装膜、彩印膜、大棚膜等各类薄膜产品。

薄膜自动进样测厚仪相关的耗材

  • 光学薄膜测厚仪配件
    教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率,薄膜反射率,荧光等,也可测量膜层的厚度,光学常量(折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术,膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱,也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析,结合多次反射原理,给出膜层的厚度和光学常数(n,k),到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 100nm-30微米;波长范围: 300-1000nm 探测器:650像素Si CCD阵列,12bit A/D精度:1%斑点大小:0.5mm 光源:钨灯-汞灯(360-2000nm)所测样品大小:10-150mm, 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:320x360x180mm 重量:9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量,用于化学和生物薄膜测量,传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量
  • 聚合物薄膜测厚仪配件
    聚合物薄膜测厚仪配件用于测量聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜和 光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量(n, k)的变化。为了这种特色的测量,孚光精仪公司特意研发了专业的软件和算法,使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标:例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg),热分解温度,薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。聚合物薄膜测厚仪配件在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元,使用白光反射光谱技术(WLRS),实时测量薄膜厚度和折射率,并通过专业软件记录下这些数据,能够快速实时给出薄膜厚度和薄膜光学常量等物理化学性能数据,并且能够控制薄膜加热和制冷的速度,是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。干膜测厚仪所使用的软件也适合薄膜的其他热性能研究,例如:薄膜的热消融/热剥蚀thermal ablation研究,薄膜光学性质随温度的变化,薄膜预烘烤Post Apply Bake,光刻过程后烘烤 Post Exposure Bake对薄膜厚度的损失等诸多研究。对于薄膜的厚度测量,这款聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪要求薄膜衬底是透明的,背面是不反射的。它能够处理最高4层薄膜的膜堆layer stacks,给出两个参数:例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量。这套聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪已经成功应用于测量不同聚合物薄膜的热性能,光刻薄膜的热处理影响分析,Si晶圆wafer上的光致抗蚀剂薄膜分析等。聚合物薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 5nm-150微米;波长范围:200-1100nm 精度:0.5%分辨率:0.02nm 测量点光斑大小:0.5mm可测样品大小:10-100mm计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:360x400x180mm重量:13.5kg 电力要求:110/230VAC聚合物薄膜测厚仪配件应用聚合物薄膜测量光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量,传感测量光电子薄膜结构测量半导体薄膜厚度测量在线测量光学镀膜测量聚合物薄膜厚度测量polymer films测量测量有机薄膜厚度测量光致抗蚀剂薄膜测光刻胶膜测厚测量光刻薄膜厚度测量光阻薄膜测厚测量光阻膜厚度
  • 硫化仪、门尼和自动进样硫化仪卷状尼龙薄膜
    硫化仪、门尼和自动进样硫化仪 130mm 宽600mm长 23µ m厚 卷状尼龙薄膜硫化仪、门尼和自动进样硫化仪 130mm 宽600mm长 25µ m厚 卷状尼龙薄膜
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