薄膜热导率测试系统

纳米薄膜热导率测试系统-TCN-2ω— 薄膜材料的热导率评价将变得为简便日本Advance Riko公司推出的纳米薄膜热导率测试系统是使用2ω方法测量纳米薄膜厚度方向热导率的商用系统。与其他方法相比，样品制备和测量为简单。纳米薄膜热导率测试系统特点：1. 在纳米尺度衡量薄膜的热导率开发出的监测周期加热过程中热反射带来的金属薄膜表面温度变化的方法，通过厚度方向上的一维热导模型计算出样品表面的温度变化，为简便的衡量厚度方向上热导率。（日本：5426115）2. 样品制备简单不需要光刻技术即可将金属薄膜（1.7mm×15mm×100nm）沉积在薄膜样品上。纳米薄膜热导率测试系统应用：1. 热设计用薄膜热导率评价的优先选择。low-k薄膜，有机薄膜，热电材料薄膜2. 可用于评价热电转换薄膜纳米薄膜热导率测试系统测量原理：当使用频率为f的电流周期加热金属薄膜时，热流的频率将为电流频率的2倍（2f）。如果样品由金属薄膜（0）-样品薄膜（1）-基体（s）组成（如图），可由一维热导模型计算出金属薄膜上表面的温度变化T(0)。假设热量全部传导到基体，则T(0)可由下式计算：（λ/Wm-1K-1，C/JK-1m-3，q/Wm-3，d/m，ω（=2πf）/s-1）式中实部（同相振幅）包含样品薄膜的信息。如热量全部传导到基体，则同相振幅正比于(2 ω)0.5，薄膜的热导率（λ1）可由下式给出：（m：斜率，n：截距）纳米薄膜热导率测试系统参数：1. 测试温度：室温2. 样品尺寸：长10～20mm，宽10mm 厚0.3～1mm（含基体）3. 基体材料：Si（推荐） Ge，Al2O3（高热导率）4. 样品制备：样品薄膜上需沉积金属薄膜（100nm） （推荐：金）5. 薄膜热导率测量范围：0.1～10W/mK6. 测试氛围：大气设备概念图样品准备纳米薄膜热导率测试系统测试数据：Si基底上的SiO2薄膜（20-100nm）测量结果d1 / nm 19.9 51.0 96.8 λ1/ W m-1 K-1 0.82 1.03 1.20 发表文章1. K. Mitarai et al. / J. Appl. Phys. 128, 015102 (2020) 2. M. Yoshiizumi et al. / Trans. Mat. Res. Soc. Japan 38[4] 555-559 (2013)

纳米薄膜热导率测试系统-TCN-2ω— 薄膜材料的热导率评价将变得为简便日本Advance Riko公司推出的纳米薄膜热导率测试系统是使用2ω方法测量纳米薄膜厚度方向热导率的商用系统。与其他方法相比，样品制备和测量为简单。纳米薄膜热导率测试系统特点：1. 在纳米尺度衡量薄膜的热导率开发出的监测周期加热过程中热反射带来的金属薄膜表面温度变化的方法，通过厚度方向上的一维热导模型计算出样品表面的温度变化，为简便的衡量厚度方向上热导率。（日本：5426115）2. 样品制备简单不需要光刻技术即可将金属薄膜（1.7mm×15mm×100nm）沉积在薄膜样品上。纳米薄膜热导率测试系统应用：1. 热设计用薄膜热导率评价的优先选择。low-k薄膜，有机薄膜，热电材料薄膜2. 可用于评价热电转换薄膜纳米薄膜热导率测试系统测量原理：当使用频率为f的电流周期加热金属薄膜时，热流的频率将为电流频率的2倍（2f）。如果样品由金属薄膜（0）-样品薄膜（1）-基体（s）组成（如图），可由一维热导模型计算出金属薄膜上表面的温度变化T(0)。假设热量全部传导到基体，则T(0)可由下式计算：（λ/Wm-1K-1，C/JK-1m-3，q/Wm-3，d/m，ω（=2πf）/s-1）式中实部（同相振幅）包含样品薄膜的信息。如热量全部传导到基体，则同相振幅正比于(2 ω)0.5，薄膜的热导率（λ1）可由下式给出：（m：斜率，n：截距）纳米薄膜热导率测试系统参数：1. 测试温度：室温2. 样品尺寸：长10～20mm，宽10mm 厚0.3～1mm（含基体）3. 基体材料：Si（推荐） Ge，Al2O3（高热导率）4. 样品制备：样品薄膜上需沉积金属薄膜（100nm） （推荐：金）5. 薄膜热导率测量范围：0.1～10W/mK6. 测试氛围：大气设备概念图样品准备纳米薄膜热导率测试系统测试数据：Si基底上的SiO2薄膜（20-100nm）测量结果d1 / nm 19.9 51.0 96.8 λ1/ W m-1 K-1 0.82 1.03 1.20 发表文章1. K. Mitarai et al. / J. Appl. Phys. 128, 015102 (2020) 2. M. Yoshiizumi et al. / Trans. Mat. Res. Soc. Japan 38[4] 555-559 (2013

面内热导率测试系统 AU-TRSD103面内热导率测试系统 AU-TRSD103简介：面内热导率测试系统 AU-TRSD103 基于“泵浦-探测”原理，结合了频域热反射、空间域热反射、稳态温升法、方脉冲热源法的优点，具有强大的热物性综合测试能力，能够测量从薄膜到块体材料的热导率、比热容和界面热阻。系统自动化程度高，操作简便，特别利于大批量快速测量。&bull 可测参数多&bull 可测范围广&bull 测量精度高&bull 操作简便&bull 支持定制&bull 终身技术支持 面内热导率测试系统 AU-TRSD103基本原理：基于光学的交流量热法&bull 样品表面镀100 nm厚的金属膜做温度传感层；&bull 经调制的泵浦光周期性加热样品；&bull 探测光测量距离泵浦光不同位置处的温度响应的幅值与相位；&bull 由相位差信号和归一化幅值信号同时拟合样品面内热导率和光斑尺寸；&bull 热导率测量误差≤ 5%，光斑尺寸测量误差≤ 2%。100 nm Ti/silica：面内热导率测试系统 AU-TRSD103亮点1. 泵浦与探测光均采用连续激光，极大地降低了系统成本；2. 无需修正泵浦光的参考相位，使得操作更简单，测量更可靠；3. 采用平衡探测器，极大减小了低频噪音，加快了数据采集速度，完成一个样品的测量仅需≤ 2分钟；4. 独特的数据分析方法能同时拟合光斑尺寸，降低了光斑尺寸误差对测量结果的影响；5. 独特的数据分析方法使得测量信号仅对待测样品的面内热导率和比热容敏感，而无需准确知道金属传感层的参数或样品的纵向热导率，因此极大提高了测量精度；6. 可测的面内热导率范围不受限制；7. 采用微米级的光斑尺寸，因此可测径向尺寸为亚毫米级别的小尺寸样品。面内热导率测试系统 AU-TRSD103应用领域：①材料研究与开发②能源领域③电子器件研究…… 标配系统测量能力：1. 无需知道样品的纵向热导率，可独立测量样品的面内各向异性热导率张量，面内热导率测量范围0.5 &minus 5000 W/(mK)，测量误差≤ 5%；2. 无需知道样品的比热容，可独立测量样品的平均热导率，测量范围0.05 &minus 5000 W/(mK)，测量误差≤10%；3. 对各向同性样品，可同时测量其热导率与体积比热容，热导率测量范围0.05 &minus 5000 W/(mK)， 比热容测量范围0.1 &minus 10 MJ/(m³ K)，测量误差≤ 10%；4. 可测薄膜样品从100 nm到无限厚；5. 可测小尺寸样品，径向直径≥ 0.05 mm；6. 要求样品表面粗糙度≤ 15 nm。升级系统额外测量能力：7. 热导率和比热容的成像，分辨率达1 μm；8. 界面热阻测量 系统基本情况：1. 系统占光学桌面积60 cm X 60 cm，封装于黑匣中，防尘又安全。2. 自动化实验测量，全程软件操作，无需开箱进行复杂的手动调节。3. 双色泵浦-探测系统，标配的探测光波长为785 nm。4. 泵浦光调制频率的标配范围为DC-5 MHz，可升级到50 MHz或150 MHz。5. 采用平衡光电探测器提高信噪比，加快数据采集速度。6. 自动校准泵浦相位（仅频域热反射法需要）和探测光的噪音。7. ccd 显微成像系统清楚观察样品表面和光斑位置。 系统配置：电源需求：110/220 VAC, 50/60 Hz, 15 Amp激光波长：泵浦638 nm，探测785 nm（标配，可根据用户需求选配）激光功率：泵浦100 mW，探测20 mW（标配，可根据用户需求选配）调制频率范围：标配DC-5 kHz，可升级到5 MHz、50 MHz或200 MHz显微镜头：标配10x，对应激光光斑1/e² 直径约～15μm，可增配50x，20x，5x，2x镜头及自动切换模块样品聚焦：标配手动调节，可增配PID反馈调节自动聚焦 模块测温范围：标配室温，可增配80-500 K、300-1200 K、4-300 K等不同温区的变温模块热物性扫描：标配无，可选配，扫描范围200μm×200μm，步进分辨率1 nm显微成像：标配，可观察样品表面状况及激光光斑位置软件：全自动数据测量与分析处理、数据导出、报告生成 测量要求：首先要确定样品的金属传感层的金属材料在SDTR的探测光束的波长处有较高的热反射系数，对于常见的金属材料的热反射系数见下图(b)；同时还要考虑传感层的金属材料对SDTR泵浦光有较高的吸收系数(a)。图：常见金属材料对光的吸收系数(a)和热反射系数(b)对于SDTR的样品还要保证表面光滑均匀，这样不仅方便照射至样品的探测光束能更好地被反射至探测器中，还能使在SDTR同一次测试扫描的空间范围内不会因表面粗糙度的不均匀而带来较大的数据误差，至少保证在一次的SDTR测试的扫描空间范围内的粗糙度是均匀的；这也限制了样品的理论尺寸下限，该范围的大小跟聚焦在样品处的光斑大小相关，例如泵浦和探测光斑直径若为10μm，则该范围约为直径100μm的圆形区域，但为了方便样品的放置实际测试样品的大小可根据需求可更大，但不能小于该尺寸下限。 此外对于样品的金属传感层的热导率也有要求，如果金属传感层具有比样品层高很多的热导率，热量将在传播到样品之前就在金属层的面内热传导，而不是样品层。在这种情况下，相位对金属层面内热导率的敏感度会增加，而对样品层的面内热导率的敏感度将降低。所以不利于面内热导率的测量，会导致测量结果与实际的有较大的差异。如果要保证对样品的面内热导率较高的测量精度（或者较高的敏感性），则建议金属层的热导率不高于样品层的10倍，这限制了对于某一种金属作为传感层时能测得的样品层热导率下限，比如以Al膜(240W/(Km))作为传感层时测试样品的的热导率建议不低于24W/(Km)；如果要测试热导率低于该值的样品建议更换较低热导率的传感层，并且尽可能保证其他对于样品传感层的要求(例如较高的探测光波长热反射系数和泵浦光波长的吸收系数、粗糙度)。 应用案例： 光学交流量热法测量面内热导率可测热导率范围1~2000 W/(mK)，误差均小于5%以蓝宝石、单晶 硅为例：&bull 测得蓝宝石热导率为= 38 ± 1.49 W/(mK)，误差为3.9%&bull 测得单晶硅热导率为= 147 ± 4.88 W/(mK)，误差为3.3% 光学交流量热法测量面内各向异性热导率张量 面内各向异性材料以石英晶体为例：&bull 光学交流量热法不要求激光光斑有严格的圆度即能准确测量面内热导率张量，相较于文献中较新的光斑偏移频域热反射法(BO-FDTR)*测量更准确可靠。*L. Tang and C. Dames, Int. J. Heat Mass Transfer 164, 120600 (2021).关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学 、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

产品介绍：DZDR-S热导率测试仪器是南京大展检测仪器生产一款瞬态热源法导热仪，具有测量速度快，适应不同材料的测量，软件和仪器双向控制，操作简单，应用范围广等优势。测试范围：DZDR-S热导率测试仪器是南京大展检测仪器生产一款瞬态热源法导热仪，具有测量速度快，适应不同材料的测量，软件和仪器双向控制，操作简单，应用范围广等优势。测试方法：DZDR-S导热仪采用的瞬态热源法是一种用于测试温度的方法,它可以准确地测量材料的热导率和热扩散系数。该方法通过在材料上施加瞬态热源并测量其温度响应来计算热传导性能。性能特点：1.直接测量，测试时间5-160s左右可设置，能快速准确的测出导热系数，节约了大量的时间；2.无须特别的样品制备，对样品形状并无特殊要求，块状固体只需相对平滑的样品表面并且满足长宽至少为探头直径的两倍即可；3.探头采用双螺旋线的结构进行设计，结合专属数学模型，利用核心算法对探头上采集的数据进行分析计算；4.样品台的结构设计巧妙，操作方便，适合放置不同厚度的样品，同时简洁美观；5.探头上的数据采集使用了数据采集芯片，该芯片的高分辨率，能使测试结果更加准确可靠；6.主机的控制系统使用了ARM微处理器，运算速度比传统的微处理器快，提高了系统的分析处理能力，计算结果更加准确；7.仪器可用于块状固体、膏状固体、颗粒状固体、胶体、液体、粉末、涂层、薄膜、保温材料等热物性参数的测定。技术参数：测试范围0.0001—300W/(m*K)测量温度范围室温—130℃（可拓展到-40~300℃）探头直径一号探头7.5mm；二号探头15mm；三号探头50mm精度±3%重复性误差≤3%测量时间5~160秒电源AC 220V整机功率＜500w测试样品功率P 一号探头功率0；二号探头功率0样品规格一号探头所测样品（≥15*15*3.75mm）二号探头所测样品 (≥30*30*7.5mm)三号探头所测样品 (≥50*50*7.5mm)（选配，也可以定制其他规格）定制粉末测试容器一套

薄膜材料广泛应用于光学和电气保护膜，薄膜光伏电池和薄膜电池等各种领域中。尽管薄膜材料已经存在了数十年，但热导率测量方法传统上一直专注于探索块体材料样品，而表征这些特殊材料的能力相对滞后。近年来，由于热管理非常重要的纳米和微米级制造技术的进一步发展，知识鸿沟逐渐缩小，而Trident薄膜导热测试仪的Flex TPS瞬态平面源即是一种用于表征薄膜材料导热率的新颖工具。 C-Therm Trident薄膜导热测试仪的Flex TPS瞬态平面热源法传感器，可按照ISO 22007-2标准，用于表征薄膜材料的热传递性质。Flex TPS专门的薄膜模块，可测量厚度为20um ~ 1 mm样品的导热系数和热扩散系数。并且Trident主机，除TPS方法外，还可与MTPS和TLS传感器连用，测试更多不同类型的材料。 技术参数 MTPSFlex TPSNeedle测试方法改良瞬态平面热源法瞬态平面热源法探针法导热系数范围0 ~ 500 W/mK0 ~ 2000 W/mK0.1 ~ 6 W/mK热扩散系数范围0 ~ 300 mm2/s0 ~ 1200 mm2/s不适用比热范围~ 5 MJ/m3K~ 5 MJ/m3K不适用吸热系数范围5 ~ 40,000 Ws1/2/m2K不适用不适用精度优于1%优于1%优于3%准确度优于5%优于5%±(3%+0.02) W/mK国际标准ASTM D7984ISO 22007-2.2,GB/T 32064ASTM D5334, D5930, IEEE 442 无论是散热还是绝热，薄膜的导热系数测试都具有非常重要的意义。由于薄膜材料厚度很小, 对声子散射，这使得薄膜材料的表观导热率与块体材料相比，会有很大的差异。传统的实验室测试方法中包含3ω方法，此方法在1989年提出。该方法需先在被测样品表面镀一根薄的金属膜，而此金属膜即是加热装置，同时又是测温装置。对该金属膜通交流电，从而对样品进行加热。因为金属的电阻率会随温度的升高而增大，因此金属膜的温度变化会带来金属膜阻值的温度变化，该阻值与电流的共同作用产生电压。使用锁相放大器提取电压信号，从而建立传热模型。通过改变电流频率，最终计算出被测样品的导热系数。但此测试方法操作繁琐，限制条件较多，且无法商业化。

温度范围：-30 ℃~200 ℃各类形态的材料、样品。 2、热导率测试方法及标准 ASTM C1113Standard Test Method for Thermal Conductivity of Refractories by Hot WireASTM D5930Standard Test Method for Thermal Conductivity of Plastics by Means of a Transient Line-Source TechniqueGB/T 10297非金属固体材料导热系数的测定 法GB/T 11205橡胶热导率的测定 法ASTM C117Standard Test Method for Materials Finer than 75-μm (No. 200) Sieve in Mineral Aggregates by WashingGB/T 10294绝热材料稳态热阻及有关特性的测定 防护热板法ISO 8302Thermal insulation. Determination of steady-state thermal trsistance andrelated properties-Guarded hot plate apparatusASTM C518Standard Test Method for Steady-State Thermal Transmission Propertiesby Means of the Heat Flow Meter ApparatusASTM E1530Standard Test Method for Evaluating the Resistance to ThermalTransmission of Materials by the Guarded Heat Flow Meter TechniqueGB/T 10295绝热材料稳态热阻及有关特性的测定 热流计法ISO 8302Thermal insulation. Determination of steady-state thermal trsistance and related properties-Guarded hot plate apparatus 3、样品形态 适用的样品状态可以是片状、块状、粉末颗粒、胶体及膏状物等：块状：陶瓷，橡胶，塑料，木材，岩石，不锈钢，电子器件，建筑材料等；片状：各种薄片、薄膜等；粉末：秸秆，土壤，谷物粉末；膏体：导热胶，导热脂，粘结剂，化妆品，凝胶，果冻等。 4、样品种类 的固体种类包括但不限于： 天然材料：土壤（干燥、含湿）、岩石、岩沙、木材、生物质等； 无机材料：金属及合金材料、耐火材料、陶瓷、玻璃、水泥、碳化硅板等； 高分子材料：塑料、橡胶、纤维、织物、胶黏剂、树脂等； 复合材料：金属基复合材料、非金属基复合材料、聚合物基复合材料等； 功能材料：建筑材料、保温隔热材料、导热材料等； 纳米材料：如纳米管、纳米颗粒等； 其它材料：LED、气凝胶、食品等。 5、典型测试以下给出几种典型样品的结果，仅供参考。 导热硅胶 导热硅胶，又称导热胶、导热硅橡胶等，是以有机硅胶为主体，添加填充料、导热材料等高分子材料混炼而成的硅胶，具有较好的导热、电绝缘性能。作为绝缘和减震性能优越的硅橡胶基体而言，其热导率仅为0.2W/(mK)左右，但通过在基体中加入高导热填料，包括金属类填料（如Al、Cu、MgO、 AIN、BN）和非金属类材料（如SiC、石墨、炭黑等）后，其导热性能却可以得到几倍乃至几十倍的提高。导热硅胶材料的导热性能，由硅橡胶基体、填料性能、填料比例、填料分布情况、加工工艺等综合决定。 利用TC3000法导热系数仪，测试了几种不同添加剂成分的导热硅胶片的导热系数，可以看出，不同组分的导热硅胶，其导热性能具有明显的差异。同时，TC3000表现出了在测量不规则样品时具有的优势，无需对样品进行特殊处理，即可快速获得导热系数。导热硅胶的导热系数实验数据 更多测量案例，详见解决方案。

产品介绍：DZDR-S热导率测试仪是南京大展仪器生产的，采用瞬态热源法，具备测量速度快，测试范围广泛等优势，可测液体、固体、粉末、胶体和膏体等，软件实时采集测试图谱，并进行计算导热系数，操作简单。测试范围：DZDR-S热导率测试仪可测量块状固体、膏状固体、颗粒状固体、胶体、液体、粉末、涂层、薄膜、保温材料等不同材料。测试方法：DZDR-S导热系数测试仪采用的是瞬态平面热源技术（TPS），可用于各种不同类型、不同形态材料的热传导性能的测试。瞬态平面热源法是研究热传导性能方法中新型的一种，它使测量技术达到了一个新的水平。在研究材料时能够快速准确的测量导热系数，为企业质量监控、材料生产以及实验室研究提供了很大的方便，可以选配有粉末测试容器、液体杯。性能优势：1.直接测量，测试时间5-160s左右可设置，能快速准确的测出导热系数，节约了大量的时间；2.无须特别的样品制备，对样品形状并无特殊要求，块状固体只需相对平滑的样品表面并且满足长宽至少为探头直径的两倍即可；3.对样品实行无损检测，意味着样品可以重复使用；4.探头采用双螺旋线的结构进行设计，结合专属数学模型，利用核心算法对探头上采集的数据进行分析计算；5.样品台的结构设计巧妙，操作方便，适合放置不同厚度的样品，同时简洁美观；6.探头上的数据采集使用了数据采集芯片，该芯片的高分辨率，能使测试结果更加准确可靠。技术参数：测试范围0.0001—300W/(m*K)测量温度范围室温—130℃探头直径一号探头7.5mm；二号探头15mm；三号探头50mm精度±3%重复性误差≤3%测量时间5~160秒电源AC 220V整机功率＜500w测试样品功率P 一号探头功率0；二号探头功率0样品规格一号探头所测样品（≥15*15*3.75mm）二号探头所测样品 (≥30*30*7.5mm)三号探头所测样品 (≥50*50*7.5mm)（选配，也可以定制其他规格）定制粉末测试容器一套

材料的热物理性质以及最终产品的传热优化在工业应用领域变得越来越重要。经过几十年的发展，闪射法已经成为常用的用于各种固体、粉末和液体热导率、热扩散系数的测量方法。薄膜热物性在工业产品中正变得越来越重要，如：相变光盘介质、热电材料、发光二极管（LED ） ，相变存储器、平板显示器以及各种半导体。在这些工业领域中，特定功能沉积膜生长在基底上以实现器件的特殊功能。由于薄膜的物理性质与块体材料不同，在许多应用中需要专门测定薄膜的参数。基于已实现的激光闪射技术，LINSEIS TF-LFA 薄膜导热测试仪(Laserflash for thin films)可以测量80nm——20μm厚度薄膜的热物理性质。1.瞬态热反射法（后加热前检测（RF））:由于薄膜材料的物理性质与基体材料显著不同，必需要有相应的技术来克服传统激光闪射法的不足，即瞬态热闪射法。测量模型与传统激光闪射法相同：检测器和激光器在样品两侧。考虑到红外探测器测试薄膜太慢，因此检测是通过热反射方法完成的。该技术的原理是材料在加热时，表面反射率的变化可最终用于推导出热性能。测量反射率随时间的变化，得到的数据代入包含的系数模型里面并快速计算出热性能。2. 时域热反射法（前加热前检测（FF））:时域热反射技术是另一种测试薄层或薄膜热性能（热导率，热扩散率）的方法。测量方式的几何构造被称为“前加热前检测（FF）”，因为检测器和激光在样品上的同一侧。该方法可以应用于非透明基板上不适合使用RF技术的薄膜层。3. 瞬态热反射法（RF）和时域热反射法（FF）相结合:两种方法可以集成在一个系统中并实现两者优点的结合。温度范围*RT RT -- 500°C-100°C -- 500°C 激光器 Nd:YAG 激光脉冲电流≤90mJ (软件控制)脉宽8 ns激光探头HeNe-激光器 (632nm), 2mW前端热反射 Si-PIN-Photodiode, 有效直径: 0.8 mm, 直流电压 … 400MHz, 响应时间: 1ns后端热反射quadrant diode, 有效直径: 1.1 mm直流电压 … 100MHz, 响应时间: 3.5ns测量范围0,01 mm2/s -- 1000 mm2/s样品直径圆形样品 φ10...20 mm 样品厚度80 nm -- 20 μm样品数量6样品自动进样器气氛惰性、氧化性、还原性真空度10E-4mbar电路板集成式接口USB *可更换炉体*价格范围仅供参考，实际价格与配置等若干因素有关。如有需要，请拨打电话咨询。我们定会将竭尽全力为您制定完善的解决方案。

稳态热导率测试仪 CTM 概 述:低温热导率测试仪采用小型低温制冷机作冷源，无需使用液氮/液氦，为测试系统提供73K-373K温度环境。基于稳态法，实现固体材料热导率（导热系数）测量。 系统特点 在一个以单台或多台制冷机为冷源的低温平台上，实现固体材料在低温中的热导率（导热系数）测量。在测试温度区间内无级连续控温，并进行连续测量，得到高密度的精确数据；系统自适应测量过程，适合新型材料物性研究；样品尺寸灵活，适用于不同尺寸样品的测量；全自动的测量过程，操作简单；低温平台与测量样品太分离设计，测试样品更换过程变得快捷、方便。利用专用样品安装工具安全、方便、快速的把样品到安装到样品托上。 测试原理 采用绝热稳态轴向热流法测量热导率。 温度控制采用制冷机直接冷却样品的方式，通过减震传热部件即减少制冷机的轻微震动可能带来的影响，又保证了样品能够快速冷却。通过独特的串极控制设计实现连续快速精准温度控制。温控范围：73K-373K（-200℃—100℃）连续控温；温度稳定性：±0.1K。技术参数物性测量：固体材料热导率（导热系数） 测量原理：稳态法温度范围：73K-373K（-200℃—100℃）测量范围：0.01W/mk—800 W/mk测量精度：≤5%测量重复性：≤5%样品尺寸：8×8×2mm （0.1-0.5W/mk） 6×5×5mm （0.5-5.0W/mk） 20×20×5mm （5.0-20W/mk） 40×4×1mm （≥20W/mk）测试材料：金属材料、陶瓷材料、高分子材料（泡沫绝热材料除外）低温技术：小型低温制冷机作冷源，无需消耗液氮/液氦应用领域：工程热物理、材料科学、固体物理及能源、环保等领域测试数据：304不锈钢热导数据测量对照（美国NIST）。最大相对差值小于5%；重复性小于5%。

柔性材料与器件测试系统--薄膜扭转一、产品简介 柔性电子的出现为经典电子学的发展提供了新的方向，触发了新形态电子设备的产生。然而，电子材料与器件由刚向柔转变过程中，传统的刚性测试方法变得无法完全适应，而相匹配的柔性测试体系对推进柔性电子行业的发展变得必不可少。 在柔性电子材料与器件的测试过程中，尤其是在柔性电子材料与器件开发验证的初期阶段，发展一种高自由度的模块化柔性材料与器件测试系统，对于提升开发验证效率和降低测试成本具有重要意义。 二、产品特性 高可靠性（百万次）样品自适应性 （过程中受拉力相同，无弯折）可扩展性（光学、电学性能测试辅助系统） 三、适用范围 薄膜、涂层、柔性显示屏、有机发光器件、平面可穿戴产品、柔性印刷电路、扁平电缆等柔性材料与器件的扭转测试。 四、运行方式 五、产品参数项目参数样品厚度(mm)0-1样品大小(mm2)Max(210* 300)弯曲角度（° )0-90°弯曲力(N)5.0弯曲速度( ° /s)0-1080重复次数（次）10000000重量（Kg)16 六、产品尺寸

FTN02 热导率测量系统用于热导率/电阻率测量的现场热针系统FTN02热导率测量系统是执行准确的现场测量土壤温度的电阻率和热导率。FTN02的测量符合ASTM D5334和IEEE 442标准。该系统是专门为需要测量表面以下1.5米深的调查而设计的。由于传感器安装在长而薄的喷枪上，将热针插入土壤只需要一个小直径的通气孔，通常是使用地面钻机，这样可以节省时间。操作FTN02来自手持控制和读出单元CRU02。FTN02系统：安装在喷枪尖端LN02（2），将热针TP09（1）插入土壤。 用户使用CRU02（3）的键盘和LCD显示屏。在显示器上用户可以监控测量并查看测量结果。在用户确认后，结果存储在CRU02的内存中。CRU02包含一个用于为系统供电的可充电电池组。FTN02 产品简介FTN02是用于现场测量表面下降到1.5米的深度的热导率（或距离的反值，电阻率）。由于其耐用性和长度，对于高压电力的路线测量、电缆和加热管道（典型的埋葬深度1.5 m）FTN02是合适的解决方案。使用电热丝和温度传感器在针。FTN02系统包括TP09型热针，安装在较长的喷枪上，LN02控制和读出单元CRU02。 FTN02易于使用。 制作完之后小直径通孔，将热针TP09下降到正好高度，然后推入下面未受干扰的土壤。 用户通过手持式CRU02执行控制和读取数据。 建议使用领域 • 路线调查、现场测量；• 土壤标本的实验室分析。 FTN02的设计和优点：适用于现场调查：FTN02足够坚固，在典型的调查中它作为独立单位进行测量，可以承受粗暴的处理。可以通过以下方式为CRU02中的电池充电：汽车上的点烟器插座；使用CA02车载适配器；或使用WSA02墙壁插座适配器。 节省时间：使用FTN02无需挖一个大直径的孔来执行测量。由于有LN02喷枪，在地面上钻一个小孔，直径通常为30毫米的钻头就足够了。如果使用没有钻头的测量系统，例如MTN02，用户必须制作大直径进入孔甚至挖沟。一个典型的测量大约需要60秒，达到热平衡加上300秒实际加热间隔。轻松进行数据处理：CRU02立即提供最终结果和指示测量的质量。可储存50个测量。ASTM和IEEE要 求目视检查最终结果并重新计算。通常在以后的分析中完成电子表格中的测量数据。CRU02是使用USB连接到PC。 本地校准/合格评定：可以通过甘油测量验证测量系统的准确性（在调查之前）。CRC05校准可以单独购买。 实验室使用的系统扩展对于实验室使用，FTN02可以与短路器上的更短更薄的传感器安装在插入工具（MTN02）。 请参阅系统TNS02。 FTN02规格参数：测量： -热导率； -热阻率； -温度；测量范围： 0.1至6 W/（mK）（所有普通土壤）；额定工作温度范围： 0至+50°C ；测量方法：依据ASTM D5334-14和IEEE 442-1981 （03）； 数据分析： 初步分析CRU，最终审查PC机测量（ASTM要求）；不确定度（20°C时）： ±（读数的6％+ 0.04）W /（mK）； 加热间隔： 300 s（典型值）； 资料储存容量： 50个测量；LN02长度： 1.4 m；TP09长度： 0.17 m；TP09直径： 6.3 x10ˉ3 m；数据通讯： USB。 定购：请查阅产品手册。 给我们发送电子邮件以获取新版本资料。 标准FTN02的配置包括一根备用针。可根据要求提供产品培训。 标准： 适用标准为IEEE442-1981（03）土壤热阻测量指南和ASTM D5334-14土壤热导率测定的标准测试方法。 另请参阅:Hukseflux是专业从事热针设计的公司。例如实验室使用，可查阅互补系统MTN02和TNS02。还有更精确的TPSYS02，但针头不够结实。对于沉积岩样品和近海沉积物的沉积深度测量(深至3000米) 我们还可以提供单独的解决方案。 完整的FTN02系统:包括FTN02一个备用传感器TP09；充电适配器；WSA02；CA02；还包括通信软件和甘油罐。甘油必须在当地购买。

STPSYS05 热导率测量系统表面热性能测量系统STPSYS05是一种非侵入性，易于使用且价格合理的系统，可用于测量标本表面热导率。应用程序包括：-材料的热导率测量和热扩散率估算；-相对于“已知的”参考标准，用于质量控制目的标本的热性能测量； 该系统可以连接到局域网（LAN）或USB端口，并提供简单、直观的操作，您可以通过网络浏览器访问图形用户界面。STPSYS05可作为完整版本提供于测量系统中，STP05传感器也可作为单独的产品提供。 STPSYS05 产品简介STPSYS05是一种实用的材料表面的热导率测量。测量方法有很多优点，以及样品制备的要求和尺寸是有限的。执行测量简便快捷：只需将传感器位于材料的光滑平面上。您可以测量其导热系数。STPSYS05适用于0.1至15 W /（m?K）范围（有关额定值，请参见手册测量范围和预期不确定性）。材料包括塑料、石材、岩石、复合材料、土壤、浆糊和食品。STPSYS05系统主要由测控单元（MCU）和STP05传感器组成。 STP05结合了加热器（线源），带有两个温差传感器（热电堆）放在加热器的两侧。将STP05放在样品上并通电，应用于加热器，这将创建一个温度差。导热系数是由MCU软件从加热器功率和测量的温度差异中得出。除了热电导率，有关热的信息扩散率和体积热容可以从时间响应中获得热电堆信号。 STPSYS05的优势• 价格合理• 非侵入性：只需传感器区域的平面平坦且足够平稳，样品厚度低于该表面，不需要特定的样本尺寸。• 单面测试：只有一个样本是必需的。• 快速工作：智能传感器设计减少了对热冲击和梯度的敏感性。测量之前所需的稳定时间很短，大约5分钟。• 易于分析的稳态测量导热系数。• 直观和易于使用的图形用户界面，使用网络浏览器即可访问。不需要在PC上安装软件。 建议使用领域• 科学实验室的样品测试； • 材料的质量控制和一致性验证； • 教育目的 用于学生实验室。如何使用STPSYS05STPSYS05可用于测量热电导率，范围从0.1到15 W /（mK）。 除了热电导率，STPSYS05还给出了热扩散率。STP05传感器放置在光滑的表面上，为了获得更高的准确性，可用甘油作为热接触液以确保在传感器和材料之间最小的界面热阻。可以通过MCU监视和控制测量。 STPSYS05规格参数测量对象：热导率；额定测量范围：0.1 至15 W/(m?K)；可选的测量对象：热扩散率；额定测量范围：(0.05―1.0) x 10ˉ6m 2 /s (请参阅手册)；随附电缆：1 x 2线连接器（1.5 m）；典型的测量时间：5分钟；STP05规格：重量：0.34 kg；IP防护等级：IP67；连接器：外螺纹8针圆形M12-A；额定工作温度范围：-20°C 至 +80°C；加热器：线源；长度：0.06 m；额定电阻：15Ω；温差传感器：热电堆；灵敏度：0.2 mV/K；热阻平行：1.90 m?K / W；系列：0.022 m?K / W；温度传感器：热敏电阻；25°C时的电阻：10 kΩ ± 1 %；β[25°C / 85°C]因子：3570 K ± 3 %；MCU规格：图形用户界面：网页（通过MCU）；连接：局域网（LAN）或通过USB；IP防护等级：IP54；额定电源电压：10至16 VDC；适配器电源：100 – 240 VAC、50/60 Hz；额定工作温度范围：- 25°C至+50°C；抽样率:10 Hz。校准和性能评估STP05随附有校准证书；灵敏度和热传感器电阻的说明。为了保证质量，STPSYS05系统包括一个校准参考样本。 额定工作条件STPSYS05可用于实验室以及工业环境。STP05传感器可以用于从-20°C到+80°C的温度范围下测量，STP05防护等级为IP67。 用户界面：MCU是一个web服务器MCU执行测量，数据存储和计算测量结果。它可以连接到任何本地区域的Web服务器网络。用户界面可作为网页使用。另外，MCU可以通过USB连接到PC。在这种情况下，可以通过USB或局域网方式访问该网页。如果输入MCU的IP地址（默认为192.168.66.1）在您的浏览器中，您可以访问该用户接口。 加热器功率设置等参数，总计测量时间和样品描述可以通过用户界面输入。测量电导率只需单击一个按钮。在测量期间用户界面显示实时信息，例如测量进度，剩余测量时间，加热器功率，温差和绝对温度。在最后测量，系统自动计算并显示测得的热导率。系统还确定特征时间，以及热扩散率的估算。 选配件• STP05表面热特性传感器；• 用于操作系统的键盘/显示屏。 另请参阅• THASYS薄型加热装置电导率测量；• THISYS导热系数仪，薄样品的测量；• TP02和TP08针式热敏属性传感器；TPSYS02针型传感器测量系统；• TP01热特性传感器。 订购STPSYS05STPSYS05随附以下组件：• STP05传感器，带保护盖和校准证书；• 1.5 m M12-A电缆，用于将传感器连接到MCU；• 校准参考样品，校准目的；• 测量和控制单元（MCU）；• 电源。 仅订购STP05传感器STP05也可单独购买。用户必须提供稳定的配置，可开关电源为加热器供电，欧姆表，用于测量热敏电阻的电气性能，电阻和高分辨率电压表测量热电堆输出电压。仅订购STP05时，用户负责数据分析。

仪器简介：产品依据标准：ISO12987-2000 YS/T63.3-2006，用于碳素材料热导率的测试技术参数：DRX-II-LUX碳素材料热导率测试仪 产品依据标准：ISO12987-2000 YS/T63.3-2006，用于碳素材料热导率的测试。 主要技术指标：仪器由热板及其功率调整系统、冷板及其恒温系统、试样预热器、试样冷热面测试系统等组成 1、测量台：分热板和冷板，工作面直径&Phi 65。 热板：内置加热器，用Pt100铂电阻温度计控制其温度在60± 0.1℃ 冷板：内置循环水通道，用Pt100铂电阻温度计控制其温度在20± 0.1℃ 2、可配试样预热器用于预热试样，其预热温度控制在40℃ 3、恒温器：冷却/加热恒温器。通过电子控制器自动选择加热和冷却量。冷却水的温度控制在20± 0.5℃，水流量控制在40L/H. 4、温度测量系统： 用示差热电堆或Pt100铂电阻温度计测量试样冷面和热面温度差，精确到± 0.1 5、样品尺寸测量：用精度为0.01mm的数显卡尺测量，&Phi 50*50mm 6、测量时间5～20分钟； 7.可配接自动预压和手动预压，对式样接触面恒定压力。 8、功率不大于：1.5KW

柔性材料与器件测试系统--薄膜卷绕一、产品简介 柔性电子的出现为经典电子学的发展提供了新的方向，触发了新形态电子设备的产生。然而，电子材料与器件由刚向柔转变过程中，传统的刚性测试方法变得无法完全适应，而相匹配的柔性测试体系对推进柔性电子行业的发展变得必不可少。 在柔性电子材料与器件的测试过程中，尤其是在柔性电子材料与器件开发验证的初期阶段，发展一种高自由度的模块化柔性材料与器件测试系统，对于提升开发验证效率和降低测试成本具有重要意义。二、产品特性 大曲率、大面积样品 高稳定性 卷轴可选择(5-100mm) 可扩展性（光学、电学性能测试辅助系统） 三、适用范围 可穿戴电子、柔性电子、可拉伸材料材料与器件的拉伸测试。 四、运行方式 五、产品参数 项目参数样品厚度(mm)0-3样品宽度(mm)0-200缠绕数量（圈）3扭转速度（°）0-1080扭转力(N.m)5.0辊直径(mm)5-100重量(Kg)20 六、产品尺寸

薄膜透湿仪_薄膜透湿性测试仪W301B水蒸气透过率测试仪又叫透湿性测试仪。基于杯式法测试原理，是一款专业用于薄膜试样的水蒸气透过率测试仪，适用于塑料薄膜、复合膜等膜、片状材料与医疗、建材领域等多种材料的水蒸气透过率的测定。通过水蒸气透过率的测定，达到控制与调节材料的技术指标的目的，满足产品应用的不同需求。产品特点◎ 称重法测试原理，符合标准要求的间歇式称量，每次测量前系统自动清零，保证数据的统一性和准确性◎ 高清液晶触摸屏，内容更直观，操作更简便◎ 单次试验测试1个试样，过程全自动化，透湿杯升降称量由气缸控制，数据准确可靠◎ 创新循环除湿系统，内置真空泵，有效防止透湿杯上方湿度梯度的形成，保证测试的准确性◎ 宽范围、高精度、自动化温湿度控制，满足各种试验条件下的测试◎ 试验结果支持多格式存储和数据输出，包括实验报告 Excel、云端共享◎ 提供标准砝码快速校准模式，称量系统保证检测数据的准确性◎ 产品符合GMP用户三级权限◎ 可进行试验结果的单次、成组的统计分析◎ 具备 ISP 在线控制、升级功能，可按照要求远程更改试验功能◎ 专门的计算机通信软件，可进行试验的实时显示及数据的分析处理 、数据保存 测试原理W301B水蒸气透过率测试仪采用透湿杯称重法测试原理，在一定的温度下，使试样的两侧形成一特定的湿度差，水蒸气透过透湿杯中的试样进入干燥的一侧，通过测定透湿杯重量随时间的变化量，从而求出试样的水蒸气透过率等参数。 应用领域薄膜：适用于各种塑料薄膜、塑料复合薄膜、纸塑复合膜、土工膜、共挤膜、防水透气膜、 镀铝膜、铝箔、铝箔复合膜等膜状材料的水蒸气透过率测试片材：适用于各种工程塑料、橡胶、建材（建筑用防水材料）、保温材料等片状材料的 水蒸气透过率测试。如PP片材PVC片材、PVDC片材、尼龙片材等纸张、纸板：适用于纸张、纸板的水蒸气透过率测试纺织品、非纺织布：适用于纺织品、非纺织布等材料的水蒸气透过率测试薄膜透湿仪_薄膜透湿性测试仪技术指标测试范围：0.01 ~ 100 g/m224h0.1MPa（常规）测试精度：0.01 g/m224h0.1MPa系统分辨率：0.001 g/m224h0.1MPa试样数量：1 ~ 3件（数据各自独立）试验温度：室温 ~ 55°C（常规）控温精度：±0.5°C试验湿度：10%RH ~ 98%RH（标准90%RH）控湿精度：±2%RH测试面积：50 cm2试样厚度：≤ 3 mm （其他厚度要求可定做）载气流量：0 ~ 200 ml/min试验压力：≥0.20 MPa接口尺寸：1/8英寸金属管外形尺寸：440 mm (L) × 450 mm (W) × 450 mm (H)电 源：AC 220V 50Hz净 重：42 kg测试标准该仪器符合多项国家和国际标准：ISO 15106-2、ASTM F1249、GB/T 26253-2010、TAPPI T557、JIS K7129、YBB 00092003-2015 产品配置标准配置：主机、专业软件、通信电缆、取样器、手套选购件：标准膜、空压机备注：本机气源进口为1/8英寸金属管；气源、蒸馏水用户自备

耐驰 NanoTR 热反射法薄膜导热系数测量仪 应用领域：可测量基片上金属、陶瓷、聚合物薄膜的热物性参数，如热扩散系数、热导率、吸热系数和界面热阻。 耐驰 NanoTR 热反射法薄膜导热系数测量仪 产品特点：- 精确的微米级薄膜导热测量方法- 可提供RF测量模式（后加热-前检测）和FF测量模式（前加热-前检测）- Nano TR遵循国际校准标准 耐驰 NanoTR 热反射法薄膜导热系数测量仪 技术参数：Nano TR温度范围RT，RT … 300°C（选配）测量模式RF/FF样品尺寸10×10 … 20×20mm薄膜厚度30nm … 20μm（取决于样品种类和测量模式）热扩散系数0.01 … 1000mm2/s主激光脉冲宽度 1ns光束直径 100μm激光功率 100mW详细参数，敬请垂询 *价格范围仅供参考，实际价格与配置、汇率等若干因素有关。如有需要，请向当地销售咨询。我们讲竭尽全力为您制定完善的解决方案。

薄膜无损检测系统/半导体无损检测系统姓名：田工(Allen)电话：（微信同号）邮箱：薄膜无损检测仪产品特点：系统使用获得专利的光声技术设计无损测量系统。源自 CNRS 和波尔多大学的技术转让，它依靠激光、材料和声波之间的相互作用实验超精密材料物性，薄膜厚度检测系统使用无接触，无损光学测量。运用激光产生100GHz以上超高频段超声波，以此检测获得材料诸如厚度，附着力，界面热阻，热导率等。产品尤其适测量从几纳米到几微米的薄层，无论是不透明的（金属、金属氧化物和陶瓷），还是半透明和透明的。 这种全光学无损检测技术（without contact, no damage, no water, no Xray）不受样品形状的影响。产品适用精度可以达 1nm to 30 microns , Z轴分辨率为亚纳米于此同时，系统提供附着力、热性能（纳米结构界面热阻）测量分析 多种材料适用性广泛的材料至关重要。我们的技术已证明其能够测量许多金属材料以及陶瓷和金属氧化物，并且不受外形因素的影响。 薄膜无损检测仪广泛的应用中发挥作用半导体行业半导体行业为我们周围遇到的大多数电子设备提供了基本组件。它的制造需要在硅晶片上进行多次薄膜沉积，。工业过程中厚度测量和界面表征都是确保质量的关键。尤其是半导体行业中多层/单层不透明薄膜沉积对于以上问题，我们针对提供：-高速控制检测-无损无接触测量-单层/多层测量显示行业今天，不同的技术竞争主导显示器的生产，而显示器在我们的日常使用中无处不在。事实上，由于未来 UHD-8K 标准以及新兴柔性显示器的制造工艺，这不断扩大的行业存在技术限制单个像素仍然是一堆薄层有机墨水、银、ITO… … 在这方面，控制薄层厚度的问题仍然存在。这些问题可能会导致产品出现质量缺陷。对此我们可提供：- 对此类层级样品的独特检查。- 提取厚度的可能性。- 非破坏性和非接触式厚度测量。薄层沉积无论是在航空工业还是医疗器械制造领域，技术涂层都可用于增强高附加值部件中的某些功能。这些涂层的厚度随后成为确保目标性能的关键因素。接触式破坏测量对于此领域会带来特定问题，且受限于待测样品形状因素、曲率等原因，很难控制样品特性。 对此我们可以提供：不改变样品形貌无损检测（Form factor postage）快速厚度测量在线测量控制 部分合作单位

薄膜透气仪_薄膜氧渗透仪_薄膜渗透测试仪基于压差法测试原理，专业适用于塑料薄膜、复合膜、高阻隔材料、片材、金属箔片在各种温度下的气体透过率、溶解度系数、扩散系数、渗透系数的测定。符合GB、ISO、ASTM等多项标准要求。薄膜透气仪_薄膜氧渗透仪_薄膜渗透测试仪产品特点：全新彩虹桥式测试腔，采用360°气流循环恒温技术，温度稳定性更佳。原装进口高精度真空传感器，实现0.01～0.09 cm3/ m2• 24h• 0.1MPa超高阻隔材料的准确测试。原装进口气动控制系统，具有超低故障率和超长使用寿命，确保系统整体密封良好，保障测试精度。原装进口真空泵，极限压可达0.2Pa，抽真空速率提升。系统自动控制真空泵，无需人工开闭，增效降耗。兰光特有的试验过程高精度自动补压技术，实现高压腔压差恒定，压力变化小于0.2 kPa。支持10kPa～150kPa范围内灵活设定高压腔压力，系统精确保压。高效六腔设计，独立六套标准面积测试腔，是传统透气检测仪器测试腔数量的三倍。支持同一条件下6个试样同时测试，数据相互独立。中、低阻隔性材料，测试时间＜4小时（含抽真空时间）。高阻隔性材料，测试时间＜8小时（含抽真空时间）。自动夹紧试样，省时省力，夹紧力度一致，密封更佳。采用Windows系统的12寸触控平板操控，操控更便捷。自动模式，输入试验温度，一键开启，全自动测试。智能仓盖自动开闭，声光提醒。专业试验模式，提供了灵活丰富的控制功能，满足科研需要。提供气体透过率曲线、气体透过系数曲线、温度曲线。超宽的温度范围，满足在不同极限温度下的阻隔性测试（选配）。超宽的测试范围，满足各类材料的阻隔性测试（定制）。支持H2、CH4等危险气体测试（定制）。薄膜透气仪_薄膜氧渗透仪_薄膜渗透测试仪测试原理：将预先处理好的试样夹紧于测试腔之间，首先对低压腔（下腔）进行真空处理，然后对整个系统抽真空；当达到规定的真空度后，关闭测试下腔，向高压腔（上腔）充入一定压力的试验气体，并保证在试样两侧形成一个恒定的压差（可调）；这样气体会在压差梯度的作用下，由高压侧向低压侧渗透，通过对低压侧内压强的监测分析，从而得出所测试样的各项阻隔性参数。参照标准：ISO 15105-1、ISO 2556、GB/T 1038-2000、ASTM D1434、JIS K7126-1、YBB 00082003测试应用：薄膜——各种塑料薄膜、纸塑复合膜、共挤膜、镀铝膜、铝箔复合膜、玻纤铝箔纸复合膜等膜状材料的气体透过率测试。片材——PP片、PVC片、PVDC片、金属箔片、橡胶片、硅片等片状材料的气体透过率测试。薄膜透气仪_薄膜氧渗透仪_薄膜渗透测试仪技术参数：仪器型号：C106H测试范围：0.01～50,000 cm3/ m2• 24h• 0.1MPa分辨率：0.001 cm3/ m2• 24h• 0.1MPa温度范围：15～50 ℃；5～60℃（选配）温度分辨率：0.01 ℃温度波动：±0.15 ℃湿度范围：0%，5～90%±2%（定制）%RH（标配温度范围内）真空分辨率：0.01 Pa真空精度：示值±0.2%（传感器规格的1%-100%）测试腔真空度：≤ 10 Pa技术规格：测试腔：6套样品尺寸：4.4” x 4.4”（11.2cm×11.2cm）样品厚度：≤120 Mil（3mm）标准测试面积：38.48cm2试验气体：O2、N2、CO2等气体（气源用户自备）试验压力：10 kPa~150 kPa（任意设定）压力波动：0.2 kPa气源压力：79.7 PSI / 550 kPa接口尺寸：Φ6 mm聚氨酯管外形尺寸：600mm × 490m m × 660mm电源：120VAC±10% 60Hz / 220VAC±10% 50Hz（二选一）净重：220Lbs（100kg）产品配置：标准配置：主机、平板电脑、真空泵（英国）、取样器、真空油脂、Φ6 mm聚氨酯管选购件：空压机、CFR21Part11、GMP计算机系统要求、DataShieldTM数据盾备注：本机压缩空气进口为Φ6 mm聚氨酯管（压力≥ 79.7 PSI / 550 kPa）；气源自备

产品关键词：透湿仪,透湿性测试仪,水蒸气透过率测定仪,水蒸气透过量测定仪,透湿测试仪,水汽透过率测定仪,水蒸气透过量测试仪WVTR水蒸气透过率测试系统 薄膜水汽透过测试仪厂家PERME博密 W3/060水蒸气透过率测试系统济南兰光机电技术有限公司PERME博密 W3/060水蒸气透过率测试系统适用于塑料薄膜、复合膜等膜、医疗、建筑领域等多种材料的水蒸气透过率的测定。通过对水蒸气透过率的测定，达到控制与调节包装材料等产品的技术指标。主要技术特征：1、专业——W3/060基于杯式法测试原理，是一款专业用于薄膜试样的水蒸气透过率（WVTR）测试系统，可检测最低至0.1g/m224h的水蒸气透过量；配置的高分辨率称重传感器，在保证了高精度的前提下，提供了优秀的系统灵敏性。2、高效——W3/060采用精密的圆形托盘设计，可以同时容纳6个透湿杯，同时测试6种不同的试样；一台主机可以扩展连接9台卫星机，轻松实现60个试样并行测试。3、智能——W3/060搭配了Labthink新一代的操作软件，具有人性化的操作界面和智能化的数据处理功能；同时，在局域网的环境中，还支持LystemTM实验室数据管理系统，统一管理试验结果和试验报告。测试原理：W3/060采用透湿杯称重法测试原理，在一定的温度下，使试样的两侧形成特定的湿度差，水蒸气透过透湿杯中的试样进入干燥的一侧，通过测定透湿杯重量随时间的变化量，求出试样的水蒸气透过率等参数。执行标准：GB 1037 塑料薄膜和片材透水蒸气性试验方法 杯式法GB/T 16928 包装材料试验方法 透湿率ASTM E96 材料的水蒸气渗透性标准试验方法ASTM D1653 有机涂层薄膜水蒸气渗透性标准试验方法ISO 2528 薄片材料 水蒸气透湿度的测定 重量法JIS Z0208 防湿包装材料透湿度试验方法.卡普法DIN 53122-1 塑料和弹性薄膜、纸、纸板和其它板材试验.水蒸气渗透性测定.第1部分:重力测定法TAPPI T464 om-2012 高温高湿下纸和纸板的水蒸气传输速率YBB00092003 水蒸气透过量测定法技术指标：测试范围：0.1～10,000 g/m224h（常规）试样数量：1～6件 （数据各自独立）测试精度：0.01 g/m224h系统分辨率：0.0001 g控温范围：15℃～55℃（常规）控温精度：±0.1℃（常规）控湿范围：90%RH～70%RH（标准90%RH）控湿精度：±1%RH吹扫风速：0.5～2.5 m/s（非标可选）试样厚度：≤3mm（其他厚度要求可定做）测试面积：33 cm2试样尺寸：Φ74 mm试验箱容积：35 L气源：空气气源压力：0.6 MPa接口尺寸：Φ6mm 聚氨酯管外形尺寸：660mm(L)×480mm(W)×525mm(H)电源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz净重：70kg仪器配置：标准配置：主机、计算机、专业软件、透湿杯、气体干燥装置、自动干燥过滤器、校验砝码、通信电缆、取样器、供气阀门管件选购件：卫星机、标准膜、空压机、干燥剂备注：本机气源进口为Φ6mm聚氨酯管；气源、蒸馏水用户自备

储能电介质充放电测试系统目前常规的方法是通过电滞回线计算高压下电介质的能量密度，测试时，样品的电荷是放回到高压源上，而不是释放到负载上，通过电滞回线测得的储能密度一般会大于样品实际释放的能量密度，无法正确评估电介质材料的正常放电性能。 本系统采用特殊高压开关，通过单刀双掷控制充电和放电过程，开关可以承受10kV高压，寄生电容小，动作时间短； 内置直流高压模块，电压可达10kV，电流6mA； 通过电流探头监测放电电流，可达100A； 可以实现欠阻尼和过阻尼两种测试模式，欠阻尼测试时，放电回路短路，不使用电阻负载，过阻尼测试时，使用较大的高精度无感电阻作为放电负载； 通过示波器采集数据，并能直接计算储能密度； 定制载样平台，适用于陶瓷和薄膜样品测试； 可以变温测试，RT-250℃； 可以疲劳测试。 主要参数 产品名称：电介质充放电测试系统 型号：HCCF-10KV 电流探头带宽：120MHz 峰值电流：100A 电流采集精度：1mA 高压源模块：DC 10kV（6mA） 开关适用：100万次，耐压至15kV 温控范围：RT-250℃ 温度稳定性和精度：0.1℃ 测试样品：薄膜，厚膜，陶瓷，玻璃等

仪器简介：kSA MOS ThermalScan 薄膜热应力测量系统（薄膜应力仪，薄膜应力计，薄膜应力测试仪），测量光学设计MOS传感器，同时kSA公司荣获2008 Innovation of the Year Awardee！系统采用非接触MOS激光技术；不但可以对薄膜的应力、表面曲率和翘曲进行准确的测量，而且还可二维应力Mapping成像统计分析；同时可准确测量应力、曲率随温度变化的关系；部分参考用户：中国计量科学研究院电学与量子所、中国科学院上海微系统与信息技术研究所、中国科学院上海光学精密机械研究所、中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、中国科学院上海技术物理研究所、北京航空材料研究院、苏州大学、中国科学院成都光电技术研究所中国科学院力学所、华南理工大学材料学院、中国空间技术研究院、阿里巴巴达摩院、清华大学、天津理工大学、上海大学、中国科学院兰州空间技术物理研究所、中国航空制造技术研究院、深圳瑞华泰薄膜科技股份有限公司；Harvard University ，Stanford University，Johns Hopkins University，Brown University ， Karlsruhe Research Center，Max Planck Institute，IBM.，Seagate Research Center, Phillips Semiconductor, NEC，Nissan ARC, Nich ia Glass Corporation等。同类设备：*薄膜应力测试仪（薄膜应力测量系统，薄膜应力计）；*薄膜残余应力测试仪；*实时原位薄膜应力测量系统；技术参数： Film Stress Tester, Film Stress Measurement System，Film Stress Mapping System 1.变温设计：采用真空和低压气体保护，温度范围RT~1000°C； 2.曲率分辨率：100km； 3.XY双向程序控制扫描平台扫描范围：up to 300mm（可选）； 4.XY双向扫描速度：可达20mm/s； 5.XY双向扫描平台扫描步进分辨率：2 μm ； 6.样品holder兼容：50mm, 75mm, 100mm, 150mm, 200mm, and 300mm直径样品； 7.程序化控制扫描模式：选定区域、多点线性扫描、全面积扫描； 8.成像功能：样品表面2D曲率、应力成像，及3D成像分析； 9.测量功能：曲率、曲率半径、应力强度、应力、Bow和翘曲等； 10.温度均匀度：优于±2摄氏度； 主要特点： 1.MOS多光束技术（二维激光阵列）； 2.变温设计：采用真空和低压气体保护，温度范围RT~1000°C； 3.样品快速热处理功能； 4.样品快速冷却处理功能； 5.温度闭环控制功能，保证优异的温度均匀性和精度 6.实时应力VS.温度曲线； 7.实时曲率VS.温度曲线； 8.程序化控制扫描模式：选定区域、多点线性扫描、全面积扫描； 9.成像功能：样品表面2D曲率成像，定量薄膜应力成像分析； 10.测量功能：曲率、曲率半径、薄膜应力、薄膜应力分布和翘曲等； 11.气体（氮气、氩气和氧气等）Delivery系统；实际应用：

kSA MOS UltraScan采用非接触MOS（多光束光学传感）激光技术；不但可以对薄膜的应力、表面曲率和翘曲进行准确的测量，而且还可二维应力 Mapping成像统计分析；同时准确测量应力、曲率随温度变化的关系。基于kSA MOS，kSA MOS Ultra Scan使用二维激光阵列扫描绘制半导体晶圆、光学镜面、玻璃、透镜等各种抛光表面的二维曲率、翘曲度和薄膜应力分布图。kSA MOS Ultra Scan适用于室温条件下测量需求，实现晶元全自动2D扫描测量，同时获得3D图。部分参考用户：中国计量科学研究院电学与量子所、中国科学院上海微系统与信息技术研究所、中国科学院上海光学精密机械研究所、中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、中国科学院上海技术物理研究所、北京航空材料研究院、苏州大学、中国科学院成都光电技术研究所中国科学院力学所、华南理工大学材料学院、中国空间技术研究院、阿里巴巴达摩院、清华大学、天津理工大学、上海大学、中国科学院兰州空间技术物理研究所、中国航空制造技术研究院、深圳瑞华泰薄膜科技股份有限公司；Harvard University ，Stanford University，Johns Hopkins University，Brown University ， Karlsruhe Research Center，Max Planck Institute，IBM.，Seagate Research Center, Phillips Semiconductor, NEC，Nissan ARC, Nich ia Glass Corporation等。相关产品： *实时原位薄膜应力仪（kSA MOS Film Stress Tester）：同样采用先进的MOS技术，可装在各种真空沉积设备上（如：MBE, MOCVD, sputtering, PLD, PECVD, and annealing chambers ects），对于薄膜生长过程中的应力变化进行实时原位测量和二维成像分析； *薄膜热应力测量系统（kSA MOS Thermal-Scan Film Stress Tester） 技术参数：1.XY双向程序控制扫描平台扫描范围：300mm；2m（可选）；二维应力分析2.扫描速度：可达20mm/s（x,y）；3.XY双向扫描平台扫描步进/分辨率：1 μm；4.平均曲率分辨率：20km，5×10-5 1/m (1-sigma)；5.薄膜应力测量范围：3.2×106到7.8×1010dynes/cm2（或者3.2×105Pa to7.8×109Pa）(1-sigma)；6.应力测量分辨率：优于0.32MPa或1% (1-sigma) 7.应力测量重复性：0.02MPa(1-sigma)；8.平均曲率重复性：5×10-5 1/m (1 sigma) (1-sigma)；9.程序化控制扫描模式：选定区域、多点线性扫描、全样品扫描；10.成像功能：样品表面2D曲率成像，定量薄膜应力成像分析；11.测量功能：曲率、曲率半径、应力强度、应力和翘曲等；12.二维激光阵列测量技术：不但可以对样品表面进行二维曲率成像分析；而且这种设计能保证所有阵列的激光光点一直在同一频率运动或扫描，从而有效避免外界振动对测试结果的影响；同时提高测试分辨率；主要特点： 1.MOS多光束技术（二维激光阵列）； 2.自动光学追踪技术； 3.程序化控制扫描模式：选定区域、多点线性扫描、面积扫描； 4.成像扫描功能：样品表面2D曲率成像，定量薄膜应力成像分析； 5.测量功能：曲率、曲率半径、薄膜应力、薄膜应力分布和翘曲等； 6.适用于各种薄膜应力测量，及半导体晶圆、光学镜面、玻璃、透镜等表面曲率、面型测量。测试实例：

薄膜片材撕裂度测试仪_薄膜撕裂强度测试仪_撕裂度试验机专业适用于薄膜、薄片、软聚氯乙烯、聚偏二氯乙烯（PVDC）、防水卷材、编织材料、聚烯烃、聚酯、纸张、纸板、纺织品和无纺布等耐撕裂性检测。薄膜片材撕裂度测试仪_薄膜撕裂强度测试仪_撕裂度试验机产品特点：计算机控制，自动化、电子式测量，便于快速操作试样气动夹持、摆锤自动释放，有效避免因人为因素引起的系统误差计算机水平调整辅助系统可确保仪器始终处于最佳的测试状态可配备多组摆体容量，满足不同测试需求专业软件支持多种试验单位的数据输出标准的RS232接口，方便系统的外部接入和数据传输测试原理：将摆锤提升一定高度，使其具备一定的势能；当摆锤自由下摆时，利用其自身贮存的能量将试样撕裂；由计算机控制系统计算出撕裂试样时消耗的能量，从而得到撕裂试样所需的力。参照标准：ISO 6383-1-1983、ISO6383-2-1983、ISO 1974、GB/T 16578.2-2009、GB/T455、ASTM D1922、ASTM D1424、ASTMD689、TAPPI T414薄膜片材撕裂度测试仪_薄膜撕裂强度测试仪_撕裂度试验机测试应用：基础应用——塑料薄膜、薄片，如聚烯烃、聚酯、铝塑复合膜等；纸张、纸板；纺织材料扩展应用——重包装袋、橡胶乳胶手套、拉伸缠绕膜、纸质地铁票薄膜片材撕裂度测试仪_薄膜撕裂强度测试仪_撕裂度试验机技术指标：摆体容量：200gf、400gf、800gf、1600gf、3200gf、6400gf气源压力：0.6MPa（气源用户自备）气源接口：Φ4mm聚氨酯管外形尺寸：480mm (L) × 380mm (W) × 560mm (H)主机电源：220VAC50Hz / 120VAC 60Hz主机净重：23.5kg （200gf 基本摆）产品配置：标准配置：主机、基本摆1支、校正砝码1个、专业软件、通信电缆选购件：基本摆：200gf 、1600gf增重砝码：400gf、800gf、3200gf、6400gf校正砝码：200gf 、400gf、800gf、1600gf、3200gf、6400gf计算机备注：本机气源接口为Φ4 mm 聚氨酯管；气源用户自备

EKO热导率测试仪 HC-10 EKO热导率测试仪 “Quick Λ” HC-10在短时间内测量导热率将传感器放在各种材料上并可在1分钟内测量轻松快速的操作-设备处理无需特殊知识。-只需将传感器放在待测物体上并按下开关即可进行测量可携带-您可以将设备放在便携包中-主机中最多可存储99个测量数据-还可以通过PC连接传输数据和收集测量数据评估-具有样品判断功能-从绝热材料到金属（不锈钢）的广泛应用范围 适用于真空绝热材料VIP、糊状物和粉末、地板覆盖物等材料的评估。 HC-10 测量原理①将传感器放在样品表面上，然后按开始。- 待机时间等待加热，直到20秒后样品表面和传感器表面的温度变得一致。- 20秒后，电流流过加热器，表面温度升高。升温时间为10秒。②测量结果显示在主机屏幕上。数据保存在主存储器中。③将传感器返回主机体的冷却插座。冷却30秒，使传感器表面恢复到室温。 EKO热导率测试仪 HC-10技术参数型号HC-10测量范围VIP真空绝热材料： 0.001~0.015 W/mK均质固体材料： 0.03~10.00 W/mK测量方法瞬态加热升温方法校准VIP真空绝热材料：3种或4种不同真空度的相同制造方法的标准VIP样品均质固体材料：3或4个已知标准样品可重复性VIP真空绝热材料：±5% ±0.001W/mK均质固体材料： ±5%测量精度取决于标准样品测试的准确性判断功能取决于任意输入的热导率值V1, V2自动判断A, B和C的3类区域显示功能热导系数，温度，A,B,C类显示带背光的单色液晶显示器工作温度范围+5℃~+40℃存储的数据量99个数据，20个校准接口USB标准样品（附在主机上）玻璃，亚克力，泡沫聚苯乙烯EPS电源、消耗电力交流适配器AC 100V~240V 50/60Hz 30W外部尺寸W250×D200×H85mm重量约4kg（包括主机、传感器、电源）软件数据传输、测量条件设置、测量Windows OS日文/英文选项便携箱专用手提箱校准用样品氧化锆（4W/mK）、SUS（15W/mK）不锈钢SUS 304（公司认证产品16W/mK）

薄膜穿刺力测试仪随着科技的飞速发展，各种薄膜在日常生活和工业生产中的应用越来越广。无论是食品包装、电子设备还是新能源领域，薄膜都发挥着重要的作用。在这些薄膜的使用过程中，穿刺力是衡量其性能的重要参数之一。本文将介绍薄膜穿刺力的概念、测试方法和应用场景，并探讨如何使用穿刺力测试仪进行相关检测。 薄膜穿刺力是指薄膜在受到穿刺物体的冲击时，阻止其穿透或破裂的能力。这种穿刺力的大小直接影响到薄膜的耐用性和防护性能。例如，食品包装薄膜需要具备良好的穿刺力，以确保在储存和运输过程中食品的新鲜度和安全性。电池隔膜则需要具有较高的穿刺力，以确保电池在使用过程中的稳定性和安全性。 为了评估薄膜的穿刺力，通常使用穿刺力测试仪进行检测。该仪器可以模拟不同条件下的穿刺过程，并测量穿刺力的大小。一般来说，穿刺力测试仪由以下几个部分组成： 穿刺针：用于模拟实际使用过程中可能出现的各种穿刺物体。传感器：用于测量穿刺针穿透薄膜时产生的力。控制系统：用于控制穿刺速度和监测穿刺力数据。数据处理系统：用于处理和记录测试数据，并生成报告。 在进行测试时，将薄膜样品放置在测试平台上，然后将穿刺针固定在测试仪器的支架上。通过控制系统设定穿刺速度，并启动测试。在穿刺过程中，传感器会实时监测穿刺力数据，并将数据传输到数据处理系统进行分析和处理。 穿刺力测试仪在薄膜生产和研发领域具有普遍的应用。以下是一些主要应用场景：质量控制：在薄膜生产过程中，通过定期对产品进行穿刺力检测，可以有效地控制生产质量，确保产品的耐用性和安全性达到预期要求。 技术参数测量范围 0-300N （其他量程可定制）测量误差 ±1%测量速度 1-500m/min无极调速速度误差 ±2%误差外形尺寸 310mm×400mm×560mm (长宽高)重 量 26Kg环境要求环境温度 15℃-50℃相对湿度 ≤80%，无凝露工作电源 220V 50Hz 薄膜穿刺力测试仪 此为广告

加拿大C-Therm的创新传感器技术赢得过Manning Innovation Awards和R&D100创新奖，为全球诸多国际知名企业、科研机构和院校所采用。 C-Therm推出的Trident热导率测量仪，可广泛应用于石油、化工、航空航天、建材、汽车等领域的研究中。Trident主机可选配三种测试方法，用于测试不同材料（绝热材料、聚合物、复合材料、热界面材料等等）在不同状态（固体、液体、粉末、膏体）、不同性质（各向同性与各向异性）以及不同温度范围下的导热系数、吸热系数、热扩散系数以及比热等热物性参数。 MTPS改良瞬态平面热源法 导热系数范围：0 ~ 500 W/mK 热扩散系数范围：0 ~ 300 mm2/s 比热范围：up to 5 MJ/m3K 吸热系数范围：5 ~ 40,000 Ws1/2/m2K 国际标准：ASTM D7984测试材料种类：绝热材料（包括气凝胶等），聚合物，复合材料，热界面材料TIM，热电材料，相变材料PCM，传热流体，粉末材料，含能材料，膏体 Flex TPS瞬态平面热源法 导热系数范围：0 ~ 2000 W/mK 热扩散系数范围：0 ~ 1200 mm2/s比热范围：up to 5 MJ/m3K国际标准：ISO 22007-2.2, GB/T 32064 测试材料种类：块状材料，复合材料，薄膜材料，薄板材料，各向异性材料 Needle TLS探针法导热系数范围：0.1 ~ 6 W/mK国际标准：ASTM D5334, D5930, IEEE 442测试材料种类： 颗粒材料，粉末，熔融高分子，泥浆，凝胶，胶体和土壤等 如想了解更多关于应用、参数和报价的信息，欢迎来电或留言咨询。

物理特性薄膜表征系统，高度集成且易于使用的测量平台。 薄膜的物理性质不同于大块材料，因为由于尺寸较小和高纵横比使寄生表面效应更强！ 增强表面散射的影响（a）附加边界散射（b）超薄层的量子约束（c） LINSEIS薄膜物性分析仪是表征各种薄膜样品优异测量工具。它是一种易于使用的独立系统，使用正在申请专利的测量系统设计，可提供高质量的结果。 组件 基本设置包括一个可以轻松沉积样品的测量芯片，以及提供所需环境条件的测量室。 根据应用，该设置可与锁定放大器和/或强电磁铁一起使用。 测量通常在UHV下进行，并且在测量期间使用LN2和强力加热器将样品温度控制在-170°C和280°C之间。 预制测量芯片 该芯片将用于热导率测量的3 ω技术与用于测量电阻率和霍尔系数的4点Van-der-Pauw技术相结合。 赛贝克系数可以使用位于Van-der-Pauw电极附近的附加电阻温度计来测量。 为了便于样品制备，可以使用剥离箔掩模或金属阴影掩模。 该配置允许几乎同时表征通过PVD（例如热蒸发，溅射，MBE），CVD（例如ALD），旋涂，滴铸或喷墨打印制备的样品。 该系统的一大优点是在一次测量运行中同时确定各种物理特性。所有测量都采用相同（平面内）方向，并且具有很高的可比性。 基本测量单元 ： 测量室，真空泵，带加热器的支架，电子颊侧装置，集成锁相放大器，3w方法分析软件，计算机和应用软件。可测以下物理参数： • λ - 热传导系数 (稳态法/平面内方向) • ρ - 电阻率 • σ - 电导率 • S - 赛贝克系数 • ε – 发射率 • Cp - 比热容 磁测量单元 可根据需求选择集成式电磁铁，可测物理参数如下： • AH - 霍尔常数 • μ –迁移率 • n -载流子浓度 薄膜材料性能有别于块体材料之处 - 因小尺寸和高纵横比所导致的表面效应如：边界散射和量子限域效应 *价格范围仅供参考，实际价格与配置等若干因素有关。如有需要，请拨打电话咨询（021-50550642；010-62237791）。我们定会将竭尽全力为您制定完善的解决方案。

时域热反射测量系统 (TDTR 测试系统）飞秒激光时域热反射测量技术，即Time-domain Thermoreflectance, TDTR 是一种基于飞秒超快激光抽运探测（pump-probe）技术的导热测量技术。相比于其他导热测量技术，目前TDTR技术因其可以测量纳米薄膜热导率和界面热阻以及非接触式测量特性而具有独特优势。我司新推出的时域热反射测量系统可用于测量金属薄膜、块体或液体的热导率、界面热阻等多项热物性参数，薄膜测量厚度可达纳米量级！在微纳结构新材料的研发与分析等方面得以越来越广泛的应用。 系统通过利用飞秒激光照射样品表层金属薄膜，令薄膜吸收能量并将其转化为热能， 从而传导给样品，并随时间尺度逐渐向样品传递。金属薄膜表面温度随时间回落，从而影响到其反射率。届时再通过测量另一束探测激光的反射强度曲线，通过后续一系列的解调分析，即可得到金属薄膜温度随时间的变化，进而获得被测样品的导热特性和相关热物性参数等。产品特点：超快动态测量过程，nm级厚度样品测量各项异性热导率测量纳米材料界面热阻材料（石墨烯合金等界面热阻测量）高温高压外场测量（Gpa 高压环境 1000℃ 外场环境兼容）本系统采用了长行程线性位移台，可以实现较高时间分辨率的热响应测量；双波长激光分别进行泵浦和探测，降低了加热和探测过程之间的干扰；调制和锁相的使用进一步保证了微小热响应信号的捕捉和测量；ccd显微可视技术则能够精确控制具有微观结构样品的测量。关键核心技术高分辨率时域热反射技术双波长抽运探测技术调制锁相放大技术光路共享CCD显微可视技术高集成度分体式模块化设计高灵活度样品位设计可测材料：块体材料薄膜材料可测参数：热导率热扩散率吸热系数界面热阻应用：材料分析薄膜的热物性参数测量系统规格：热导率测量范围 0.1~2,000 Wm-1K-1热扩散率测量范围0.05~1,000 mm2s-1可测薄膜厚度 ＞10 nm吸热系数 500~50,000 Jm-2K-1s-0.5

耐驰 PicoTR 热反射法薄膜导热系数测量仪 应用领域：可测量基片上金属、陶瓷、聚合物薄膜的热物性参数，如热扩散系数、热导率、吸热系数和界面热阻。 耐驰 PicoTR 热反射法薄膜导热系数测量仪 产品特点：- 精确的纳米级薄膜导热测量方法- 可提供RF测量模式（后加热-前检测）和FF测量模式（前加热-前检测）- Pico TR遵循国际校准标准 耐驰 PicoTR 热反射法薄膜导热系数测量仪 技术参数：Pico TR温度范围RT，RT … 500°C（选配）测量模式RF/FF样品尺寸10×10 … 20×20mm薄膜厚度10 … 900nm（取决于样品种类和测量模式）热扩散系数0.01 … 1000mm2/s主激光脉冲宽度 0.5ps光束直径 45μm激光功率 20mW详细参数，敬请垂询 *价格范围仅供参考，实际价格与配置、汇率等若干因素有关。如有需要，请向当地销售咨询。我们讲竭尽全力为您制定完善的解决方案。

◆设备型号：ETT-01◆设备品牌：泉科瑞达◆关键词：薄膜拉力机,电子拉力试验机,电子拉力机,智能电子拉力试验机,包装拉力机，薄膜拉力试验仪，电子拉力试验机，包装薄膜拉力仪，智能电子拉力机，塑料袋拉力机，胶带拉力测试仪，电脑拉力试验机，食品包装拉力测试机，智能拉力试验仪，薄膜拉力拉伸强度仪◆设备报价：欢迎致电咨询！薄膜拉力机 塑料薄膜拉伸强度测试仪 包装膜拉力试验机薄膜拉力机 塑料薄膜拉伸强度测试仪 包装膜拉力试验机是一种用于测试各种薄膜材料力学性能的试验设备，广泛应用于塑料薄膜、复合材料、软质包装材料、塑料软管、胶粘剂、胶粘带、不干胶、医用贴剂、保护膜、离型纸、金属箔、隔膜、背板材料、无纺布、橡胶、纸张纤维等产品的拉伸、剥离、变形、撕裂、热封、粘合、穿刺力、开启力、低速解卷力、拨开力等性能测试。薄膜拉力机 塑料薄膜拉伸强度测试仪 包装膜拉力试验机主要特点调速系统：采用伺服电机和减速机，性能稳定可靠，具有过流、过压、过载等保护装置，调速范围可达0.5～500mm/min。传动机构：传动部分采用圆弧同步齿形带，精密丝杠副传动，传动平稳，噪音低，传动效率高。附具连接：万向节采用十字插销结构，具有摆角限制功能，便于试样夹持，保证试验同心度，消除不规则试样对传感器的影响。操作系统：采用触摸键操作方式，液晶显示器实时显示，全中文操作，美观大方、方便快捷。自动标定：系统可自动实现示值准确度的标定。自动显示：试验过程中，液晶实时显示试验力、位移、峰值、运行状态、运行速度等。自动控制：试验参数输入完毕后，可自动完成试验过程。薄膜拉力机 塑料薄膜拉伸强度测试仪 包装膜拉力试验机技术特征薄膜拉力机具有超高的精度（0.5级），保证了测试的准确性。集成拉伸、剥离、撕裂等七种独立的测试程序，为用户提供多种试验项目选择。超长行程1000mm，满足超大变形率材料的测试。多种规格的力值传感器以及七档试验速度选择，适应不同试验条件。微电脑控制、菜单式界面、PVC操作面板、大液晶屏显示，方便用户快速操作。限位保护、过载保护、自动回位、掉电记忆等智能配置，保证操作安全。测试原理将试样装夹在夹具的两个夹头之间，两夹头做相对运动，通过位于动夹头上的力值传感器和机器内置的位移传感器，采集试验过程中的力值变化和位移变化，计算试样的拉伸、撕裂、变形率等性能指标。保养事项接口要一一对应，避免插错造成设备损坏。定期进行校准试验，确保测试准确性。插拔控制器接口时，关闭控制器电源。保持试验机的清洁卫生。定期检查控制器后面的连接线接触，确保良好。长时间不使用时，关闭控制器和电脑电源。