电子背散射衍射系统

电子背散射衍射EBSD在扫描电子显微镜下通过对多种材料物理属性有影响的晶体结构表征用以做微区纳米结构分析，特别是当它与微区能谱和波谱配合形成一体化综合分析时，其渐已成为电子显微实验室中常规的分析手段之一。 一体化作为Thermo Scientific NORAN System 7微区分析系统的卓越部分，Thermo Scientific QuasOr EBSD可使操作者轻而易举地在不影响EBSD采集速率的同时娴熟地采集能谱全谱图像和波谱数据。经由一个界面完成EBSD、能谱、波谱设置、采集、分析的便捷操控，避免了多个应用程序间繁琐的切换。全部分析数据（EBSD、EDS、WDS）连同对应的分析参数存储为一个项目文件中，便于数据管理及脱机分析。高效率QuasOr EBSD以便捷地操控和高速、完备的数据采集大幅提升了实验室工作效率！QuasOr EBSD以Thermo Scientific NORAN System 7微区分析系统为基石，和能谱、波谱在同一个操控界面进行数据采集、分析，便捷地操控方式使得用户省心、省时！采用引导式设计的EBSD校准和采集设置模式，使得用户快捷地经由必要的设定和步骤，节省时间。高速相机在采集EBSD花样时同步采集NORAN System 7能谱的全谱图像，在最短的时间内获得样品的微观结构和成分数据。便捷地一键即可全面、同步进行全谱图像采集，收集每个像素点的形貌和成分信息而无需对元素或线系进行预设。作为NORAN System 7微区分析系统的卓越部分，所有分析数据都可以一键转换为Word文档报告或者直接打印。Thermo Scientific NORAN System 7微区分析平台的用户实验室中可以按照实际需要安装多套完整的分析软件，用以脱机分析处理数据，有效提高电镜的使用效率，切实提高电子显微实验室资源利用效能！

QUANTAX ED-XS 是一款为紧凑型电镜设计的EBSD-EDS系统：可搭配在紧凑型SEM和台式扫描电镜用户可自行更换探头经济实惠的服务合同选项可实现EBSD和EDS数据同步采集易于使用的 EBSD：无需校准并且用户可自行更换磷屏安全操作：不使用时，e-Flash XS 与SEM 仓室内的其它仪器发生意外碰撞的可能性为0%

QUANTAX EBSD 系统加上广受欢迎的 OPTIMUS TKD 探测器，是 SEM分析纳米材料中的理想化解决方案。原因如下：提供 1.5 nm 的空间分辨率在不影响速度和/或数据质量的情况下以低测试电流进行测试在使用浸入式透镜模式的超高分辨 SEM 下工作的仅有的 TKD 解决方案全自动内置 ARGUS 成像系统

QUANTAX EBSD 系统加上广受欢迎的 OPTIMUS TKD 探测器，是分析 SEM 中纳米材料的理想化解决方案。原因如下：提供 1.5 nm 的空间分辨率在不影响速度和/或数据质量的情况下以低测试电流进行测试在使用浸入式透镜模式的超高分辨 SEM 下工作的仅有的 TKD 解决方案全自动内置 ARGUS 成像系统

场发射扫描电子显微镜SEM4000ProSEM4000Pro是一款分析型热场发射扫描电子显微镜，配备了高亮度、长寿命的肖特基场发射电子枪。三级磁透镜设计，束流最大可达200 nA，在EDS、EBSD、WDS等应用上具有明显优势。标配低真空模式，以及高性能的低真空二次电子探测器和插入式背散射电子探测器，可观察导电性弱或不导电样品。标配的光学导航模式，以及直观的操作界面，让您的分析工作倍感轻松。产品特点 配备高亮度、长寿命的肖特基场发射电子枪分辨率高，30kV下优于0.9nm的极限分辨率三级磁透镜设计，束流可调范围大，最大支持 200 nA 的分析束流标配低真空模式，以及高性能的低真空二次电子探测器和插入式背散射电子探测器无漏磁物镜设计，可直接观察磁性样品标配的光学导航模式，中文操作软件，让分析工作更轻松应用案例产品参数关键参数高真空分辨率0.9 nm @ 30 kV，SE低真空分辨率2.5 nm @ 30 kV，BSE，30 Pa1.5 nm @ 30 kV, SE, 30 Pa加速电压200 V ~ 30 kV放大倍率1 ~ 1,000,000 x电子枪类型肖特基热场发射电子枪样品室真空系统全自动控制低真空模式最大180 Pa摄像头双摄像头（光学导航+样品仓内监控）行程X=110 mm，Y=110 mm，Z=65 mmT: -10°~+70°，R: 360°探测器和扩展标配旁侧二次电子探测器（ETD）低真空二次电子探测器（LVD）插入式背散射电子探测器（BSED）选配能谱仪（EDS）背散射衍射（EBSD）插入式扫描透射探测器（STEM）样品交换仓轨迹球&旋钮控制板软件语言中文操作系统Windows导航光学导航、手势快捷导航自动功能自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散

GeminiSEM 系列产品高对比度、低电压成像的场发射扫描电子显微镜为对任意样品进行高水准的成像和分析而生蔡司GeminiSEM 系列产品具有出色的探测效率，能够轻松地实现亚纳米分辨成像。无论是在高真空还是在可变压力模式下，更高的表面细节信息灵敏度让您在对任意样品进行成像和分析时都具备更佳的灵活性，为您在材料科学研究、生命科学研究、工业实验室或是显微成像平台中获取各种类型样品在微观世界中清晰、真实的图像，提供灵活、可靠的场发射扫描电子显微镜技术和方案。GeminiSEM 500 具有出色的分辨率，在较低的加速电压下仍可呈现给您更强的信号和更丰富的细节信息，其创新设计的NanoVP可变压力模式，甚至让您在使用时拥有在高真空模式下工作的感觉；更强的信号，更丰富的细节GeminiSEM 500 为您呈现任意样品表面更强的信号和更丰富的细节信息，尤其在低的加速电压下，在避免样品损伤的同时快速地获取更高清晰度的图像。经优化和增强的Inlens探测器可高效地采集信号，助您快速地获取清晰的图像，并使样品损伤降至更低；在低电压下拥有更高的信噪比和更高的衬度，二次电子图像分辨率1 kV达0.9nm，500 V达1.0 nm，无需样品台减速即可进行高质量的低电压成像，为您呈现任意样品在纳米尺度上更丰富的细节信息；应用样品台减速技术-（Tandem decel），可在1 kV下获得高达0.8nm二次电子图像分辨率；创新设计的可变压力模式-NanoVP技术，让您拥有身处在高真空模式下工作的感觉。洞察产品背后的科技Gemini电子光学系统Gemini 1类型镜筒 -延续创新和发展如今，扫描电子显微镜（SEM）在低电压下的高分辨成像能力，已成为其在各项应用领域中的标准配置。低电压下的高分辨率成像能力，在以下应用领域中扮演着尤为重要的角色：电子束敏感样品不导电样品获取样品极表面的真实形貌信息Gemini的革新电子光学设计，应用高分辨率电子枪模式、Nano-twin lens物镜(GeminiSEM 500)、以及Tandem decel样品台减速技术（选配），有效提高了在低电压时的信号采集效率和图像衬度。高分辨率电子枪模式：缩小30%的出射电子束能量展宽，有效地降低像差；获得更小的束斑。Nano-twin lens物镜： 优化静电场和磁场的复合功效，在低电压下具有的更高的分辨率； 提高镜筒内Inlens探测器在低电压下的信号采集效率。Tandem decel样品台减速技术，进一步提高对适用样品在低电压甚至极低电压下的分辨率：Tandem decel减速技术将镜筒内减速和样品台偏压减速技术相结合，有效地实现低着陆电压；使用1 kV及以下更低电压时，镜筒内背散射探测器的检测效率获得更好地增强，低电压下的分辨率得到进一步提高。对适用的样品可以加载高达-5 kV的样品台偏压，在低电压下获得更高质量的图片优化静电场和磁场的复合功效，在低电压下具有的更高的分辨率；提高镜筒内Inlens探测器在低电压下的信号采集效率。技术参数：基本规格蔡司 GeminiSEM 500热场发射电子枪，稳定性优于0.2 %/h加速电压0.02 - 30 kV探针电流3 pA - 20 nA（100 nA配置可选）存储分辨率最高达32k × 24k 像素放大倍率50 – 2,000,000标配探测器镜筒内Inlens二次电子探测器样品室内的Everhart Thornley二次电子探测器可选配的项目NanoVP可变压力模式高效VPSE探测器（包含在NanoVP可变压力选件中）局部电荷中和器镜筒内能量选择背散射探测器环形STEM探测器（aSTEM 4）EDS能谱仪EBSD探测器(背散射电子衍射)可订制特殊功能样品台环形背散射电子探测器阴极射线荧光探测器

场发射扫描电子显微镜SEM5000Pro产品介绍 SEM5000Pro是一款分辨率高、功能丰富的场发射扫描 电子显微镜。先进的镜筒设计，高压隧道技术(SuperTunnel)、 低像差无漏磁物镜设计，实现了低电压高分辨率成像，同时磁 性样品可适用。光学导航、完善的自动功能、精心设计的人机 交互，优化的操作和使用流程，无论经验是否丰富，都可以快 速上手，完成高分辨率拍摄任务。电子枪类型 肖特基场发射电子枪加速电压 20V ~ 30 kV分辨率 0.8 nm @ 15 kV, SE 1.2nm @ 1 kV, SE 样品台 五轴全自动样品台放大倍率 1 ~ 2,500,000 x产品特点分辨率高，低加速电压下实现高分辨成像高压隧道技术(SuperTunnel) ，在隧道中的电子能保持高能量，减少了空间电荷效应，低电压分辨率得到保证电磁复合物镜，减小像差，显著提高低电压下的分辨率，而且可观察磁性样品电子光路无交叉，有效的降低系统像差，提升分辨能力水冷恒温物镜，保证物镜工作的稳定性、可靠性和可重复性磁偏转六孔可调光阑，自动切换光阑孔，无需机械调节，实现高分辨率观察或大束流分析模式快速切换应用领域规格参数关键参数分辨率0.8 nm @15 kV,SE1.2 nm @1.0 kV,SE加速电压20V~30 kV放大倍率1~2,500,000x电子枪类型肖特基场发射电子枪样品室真空系统全自动控制摄像头双摄像头(光学导航+样品仓内监控)样品台行程X=110mm,Y=110 mm,Z=50 mm T:-10°~+70°,R:360°探测器和扩展标配镜筒内电子探测器旁侧二次电子探测器(ETD)选配插入式背散射电子探测器(BSED)插入式扫描透射探测器(STEM)能谱仪(EDS)背散射衍射(EBSD)样品交换仓轨迹球&旋钮控制板软件语言中文操作系统Windows导航光学导航、手势快捷导航自动功能自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散

扫描电子显微镜SEM3200SEM3200是一款高性能、应用广泛的通用型钨灯丝扫描电子显微镜。拥有出色的成像质量、可兼容低真空模式、在不同的视场范围下均可得到高分辨率图像。大景深，成像富有立体感。丰富的扩展性，助您在显微成像的世界中尽情探索。产品特点（*为选配件）特色功能丰富拓展性扫描电子显微镜不仅局限于表面形貌的观察，更可以进行样品表面的微区成分分析。SEM3200接口丰富，除支持常规的二次电子探测器（ETD）、背散射电子探测器（BSED）、X射线能谱仪（EDS）外，也预留了诸多接口，如电子背散射衍射（EBSD）、阴极射线（CL）等探测器都可以在SEM3200上进行集成。背散射电子探测器二次电子成像和背散射电子成像对比背散射电子成像模式下，荷电效应明显减弱，并且可以获得样品表面更多的成分信息。应用案例产品参数型号SEM3200ASEM3200电子光学系统电子枪类型预对中型发叉式钨灯丝电子枪（灯丝电流3档可调，可显示灯丝更换时间）分辨率高真空3 nm @ 30 kV（SE）4 nm @ 30 kV（BSE）8 nm @ 3 kV（SE）*低真空3 nm @ 30 kV（SE）放大倍率1-300,000x（底片倍率）1-1000,000x（屏幕倍率）加速电压0.2 kV～30 kV探针电流≥1.2μA，可实时显示成像系统探测器二次电子探测器（ETD）*背散射电子探测器、*低真空二次电子探测器、*能谱仪EDS等图像保存格式TIFF、JPG、BMP、PNG真空系统真空模式高真空优于5×10-4 Pa*低真空5～1000 Pa控制方式全自动控制样品室摄像头光学导航样品仓内监控样品台配置三轴自动*五轴自动行程X: 120 mmX: 120 mmY: 115 mmY: 115 mmZ: 50 mmZ: 50 mm/R: 360°/T: -10°～ +90°能谱仪能谱仪探测器分析型SDD硅漂移电制冷探测器，有效面积≥30 mm2，晶体面积≥50 mm2，高分子超薄窗设计，无需液氮冷却，仅消耗电能能谱仪能量分辨率Mn Ka保证优于129eV元素分析范围B5～Cf98软件语言中文操作系统Windows导航光学导航、手势快捷导航、可自动叠加电镜图片自动功能自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散特色功能智能辅助消像散、*大图拼接（选配软件）安装要求房间长 ≥ 3000 mm，宽 ≥ 4000 mm，高 ≥ 2300 mm温度20 ℃～25 ℃湿度≤ 50 %电气参数电源AC 220 V(±10 %)，50 Hz，2 kVA

高性能与高灵活性兼备“Ethos”采用日立高新的核心技术--全球领先的高亮度冷场发射电子枪及新研发的电磁复合透镜，不但可以在低加速电压下实现高分辨观察，还可以在FIB加工时实现实时观察。SEM镜筒内标配3个探测器，可同时观察到二次电子信号的形貌像以及背散射电子信号的成分衬度像；可非常方便的帮助FIB找寻到纳米尺度的目标物，对其观察以及加工分析。 另外，全新设计的超大样品仓设置了多个附件接口，可安装EDS*1和EBSD*2等各种分析仪器。而且NX5000标配超大防振样品台，可全面加工并观察最大直径为150mm的样品。 因此，它不仅可以用于半导体器件的检测，而且还可以用于从生物到钢铁磁性材料等各种样品的综合分析。*1Energy Dispersive x-ray Spectrometer（能谱仪（EDS））*2Electron Backscatter Diffraction（电子背散射衍射（EBSD）） 核心理念1. 搭载两种透镜模式的高性能SEM镜筒HR模式下可实现高分辨观察（半内透镜）FF模式下可实现高精度加工终点检测（Timesharing Mode）2. 高通量加工可通过高电流密度FIB实现快速加工（最大束流100nA）用户可根据自身需求设定加工步骤3. Micro Sampling System*3运用ACE技术（加工位置调整）抑制Curtaining效应控制离子束的入射角度，制备厚度均匀的薄膜样品4. 实现低损伤加工的Triple Beam System*3采用低加速（Ar/Xe）离子束，实现低损伤加工去除镓污染5. 样品仓与样品台适用于各种样品分析多接口样品仓（大小接口）超大防振样品台（150 mm□）*3选配

钨灯丝扫描电镜SEM2000是一款基础款的多功能分析性钨灯丝扫描电镜。20kV分辨率可以做到3.9nm，支持升级30kV电压，可观察亚微级尺度样品的微观结构信息。拥有比台式电镜更大的移动范围，适用于快速筛选待测样品，更多的扩展接口，可搭载BSED、EDS等附件，使应用领域更广。产品特点简洁的操作界面纯中文的操作界面功能设计简单易操作。符合国人使用习惯，即使是新手用户，简单了解后也能快速上手。完善的自动化功能自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散，均可一键调节，提高工作效率。丰富的测量工具长度、面积、圆度、角度等测量功能强大的照片管理和预览、编辑功能。丰富的扩展性高灵敏度背散射探测器 多通道成像探测器设计精巧，灵敏度高，采用4分割设计，无需倾斜样品，可获得不同方向的阴影像以及成分分布图像。 二次电子成像和背散射电子成像对比 背散射电子成像模式下，荷电效应明显减弱，并且可以获得样品表面更多的成分信息。能谱金属夹杂物能谱面扫分析结果。电子背散射衍射钨灯丝电镜束流大，完全满足高分辨EBSD的测试需求，能够对金属、陶瓷、矿物等多晶材料进行晶体取向标定以及晶粒度大小等分析。该图为Ni金属标样的EBSD反极图，能够识别晶粒大小和取向，判断晶界和孪晶，对材料组织结构进行精确判断。应用案例产品参数

Apreo功能最为丰富的高性能 SEMApreo 复合透镜结合了静电和磁浸没技术，可产生前所未有的高分辨率和材料对比度。Apreo 是研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台，而不会降低磁性样品性能。传统的高分辨率 SEM 透镜技术分为两类：磁浸没或静电。FEI 首次将两种技术结合到一个仪器中。这样做所产生的成效远远超过任一种镜筒的个体性能。两种技术均使电子束形成细小探针，以提高低电压下的分辨率，并使信号电子进入镜筒。通过将磁透镜和静电透镜组合成一个复合透镜，不但提高了分辨率，还增加了特有的信号过滤选项。静电-磁复合末级透镜在 1 kV 电压下的分辨率为 1.0 nm（无电子束减速或单色器）。Apreo 拥有透镜内背散射探测器 T1，其位置紧靠样品以便尽可能多地收集信号，从而确保在很短的时间内采集数据。与其他背散射探测器不同，这种快速的探测器始终可保证良好的材料对比度，在导航时、倾斜时或工作距离很短时也不例外。在敏感样品上，探测器的价值凸现出来，即使电流低至几 pA，它也能提供清晰的背散射图像。复合末级透镜通过能量过滤实现更准确的材料对比度以及绝缘样品的无电荷成像，进一步延伸了 T1 BSE 探测器的潜在价值。它还提供了流行选项来补充其探测能力，例如定向背散射探测器(DBS)、STEM 3+ 和低真空气体分析探测器 (GAD)。所有这些探测器都拥有独一无二的软件控制分割功能，以便根据需求选择最有价值的样品信息。每个 Apreo 都按标准配备各种用以处理绝缘样品的策略，包括：高真空技术，例如 SmartSCAN™ 、漂移补偿帧积分(DCFI) 和电荷过滤。对于最有挑战性的应用，Apreo 可提供电荷缓解策略。其中包括可选的低真空（最高为 500 Pa）策略，通过经现场验证的穿镜式差分抽气机构和专用低真空探测器，不但可以缓解任何样品上的电荷，还能提供绝佳的分辨率和较大的分析电流。随着分析技术的使用越来越常规化，Apreo 仓室经过全新设计，以便更好地支持不同的配件和实验。仓室最多容纳三个 EDS/WDS 端口，可实现快速敏感的 X 射线测量、共面EDS/EBSD/TKD 排列并与（冷冻）CL、拉曼、EBIC 和其他技术兼容。所有这些功能都能通过简单的样品处理和熟悉的 xT UI 获得，节省了新用户和专家级用户的时间。可自定义的用户界面提供了诸多用户指导、自动化和远程操作选项。

QUANTAX ED-XS 是一款为紧凑型电镜设计的EBSD-EDS系统：可搭配在紧凑型SEM和台式扫描电镜用户可自行更换探头经济实惠的服务合同选项可实现EBSD和EDS数据同步采集易于使用的 EBSD：无需校准并且用户可自行更换磷屏安全操作：不使用时，e-Flash XS 与SEM 仓室内的其它仪器发生意外碰撞的可能性为0%

QUANTAX EBSD 系统加上广受欢迎的 OPTIMUS TKD 探测器，是分析 SEM 中纳米材料的理想化解决方案。原因如下：提供 1.5 nm 的空间分辨率在不影响速度和/或数据质量的情况下以低测试电流进行测试在使用浸入式透镜模式的超高分辨 SEM 下工作的仅有的 TKD 解决方案全自动内置 ARGUS 成像系统

散射探测原理就是利用康普顿散射理论，X射线遇到不同物质会发生不同的散射，X射线遇到低原子序数物时，散射较强；遇到高原子序数物质时，散射相对较弱。手持背散射成像仪可用于包裹，汽车夹层、邮件等物品的安全检测，对有机物特别是低原子序数的样品比较敏感，比如dupin和爆炸物成像效果显著。手持背散射可用在海关缉私缉毒、边检缉毒、禁毒局缉毒、边检缉毒和查验走私夹带、反恐等领域。手持背散射成像仪特点1. 便携性：体积小巧可以携带至现场对样品进行检测 2. 对低原子数的样品比较敏感：dupin、爆炸物等 3. 同侧测试：测试方便，可以从不同角度对可疑物品进行检测 4. 辐射剂量小：对测试人员安全性有保障

半人马座是一种闪烁型BSE或CL探测器，这种创新的产品除了BSE图像，仅仅更换一个可拆卸的探头，它可以转换为CL成像探测器。用很少的成本，便能获得额外的功能。n 闪烁体探测器n 可适用于大多数SEMs的低成本解决方案n 可交换的BSE或阴极发光（CL）n 高速视频速率成像n 手动插入和收缩BSE这种模式提供了图像对比度作为元素组成的函数，以及表面形貌的一个元素。背散射电子是由样品与入射电子束之间的弹性相互作用产生的。这些高能电子可以从比二次电子更深的地方逃逸，因此表面形貌并不像二次电子成像那样精确地分辨出来。Cathodoluminescence (CL)CL成像广泛应用于地质、矿物学、陶瓷材料研究和发光材料开发。半人马座能够产生发光材料的高分辨率的阴极发光（CL）图像。使用用户可交换的金刚石转向反射器尖端单色CL图像可以很容易地收集和反馈到SEM辅助视频输入。该光电倍增管也可以被交换，以选择一个特定的波长范围，灵敏度可从紫外到深红外在185nm~1200nm。应用领域：n 相位对比成像n 样品镀层成像n 与EDX探测器联用n 矿物、金属、半导体成像 背散射成像应用背向散射电子探测器产生的图像与对比度（灰色水平）作为元素组成的函数。这对于识别样品中的不同元素特别有用。它们通常用于半导体行业的成像结和寻找缺陷，在地质学中调查岩石成分，在建筑行业中用于监测混凝土成分。背散射探测器也是那些使用X射线微量分析的一个重要工具，通过帮助确定要分析的样本的特定区域。半人马座探测器将在从钨灯丝到高端场发射的所有类型的扫描电镜上取得良好的结果。阴极发光成像的应用CL阴极荧光可以提供关于矿物中所含的微量元素或晶体中机械诱导缺陷的产生的一般信息。也许更重要的是，对于地质背景，材料中CL的分布为晶体生长、置换、变形和来源等过程提供了基本的见解。这些应用程序包括：n 沉积岩中胶结和发育过程的研究n 沉积岩和中层沉积岩中碎屑物质的产生n 化石内部结构的细节n 火成岩和变质矿物的生长/溶解特征n 变质岩中的变形机理n 由于微量激活剂元素的差异，对同一矿物的不同一代的鉴别

手持式背散射检测仪是国内第一款高端的手持式X射线检测设备，产品采用X射线背散射成像技术并融合独特的X射线透射成像技术，一机两用、一键切换，可更高效满足安检、搜爆、安防、保密等多种任务查验需求。产品优势： 【智能识别 一机双能】采用背散射成像技术 + X射线透射成像技术，模式可选、一机两用，智能识别低原子序数有机物，有效突显爆炸物、危化品图像。黑白图像可升级双能彩色图像，查验更清晰。【手持设计 独家应用】国内独有的手持式集成设备，小巧轻便，可完成传统安检手段无法完成的查验任务，如查验汽车、墙体等，不只局限于单一应用场景。【超强穿透 无处可藏】24毫米超强穿透力，可穿透大多数查验目标物，高效发现藏匿的爆炸物、违禁品等，大大扩展了产品的应用范围；客户群覆盖特警、治安、反恐、特勤、边防、缉毒、保密、安全等单位。【无损检测 开机即扫】无损检测，避免损坏赔偿责任，操作简单，开机即扫，无需提前部署。【高清图像 多维算法】全新一代光学系统，超高清分辨率，更满足防爆执法需求；3种图像处理算法，提升查验效果。【安全使用 贴心防护】安全设计，有效隔绝辐射；4种安全措施（指示灯、提示标识、射线触发停止按键、以及其他产品没有的安全联锁保险设置），避免误发射线，确保使用人员安全；

■技术参数分辨率：20nm(30kv,BSE Image) - 放大倍率:30x ~ 30,000x- 加速电压:5 ~ 30kV (5/10/15/20/30kV - 5 step)■图像背散射电子图像（BSEI），适用于非导体样品■规格 - 样品移动距离: X: 20mm, Y: 20mm,Rotation : 360° - 最大样品尺寸: 直径50mm-最大样品厚度: 20mm■系统结构 - 电子枪: 预对准钨灯丝 背散射电子图像 - 真空泵：旋转式真空泵100L/min涡轮分子泵80L/S抽真空时间2分钟内■设备主要构成 - 笔记本电脑1台- 电子扫描显微镜主体一台- 灯丝5个- 载物台15mmdia (10pcs/set)25mmdia (5pcs/set)15mm45° tilt(5pcs/set)15mm90° tilt(5pcs/set)

手持式背散射成像仪-中国总代理新一代手持式背散射成像仪PX1PX1手持式背散射成像仪是新一代手持式背散射扫描产品拥有创新通讯技术，具备先进的检测软件， 能够透过任何表面和材料扫描识别金属和有机化合物。PX1 手持式背散射成像仪为手持式一体化设计，安装电池，打开电源即可使用，扫描过程无需背景板、PDA等其他设备，可扫描常规设备难以检测的地方，尤其适用于检测墙壁、车辆、船舶、飞机、包裹等；PX1 穿透能力强，可透过 4.5+mm厚的 钢、 铝、混凝土等表面发现隐藏的dupin、zhayao、 走私品等违禁品，图像清晰直观。PX1 可以拓宽工作人员的视野，实时成像，有效发现藏匿的违禁品，广泛用于公共安全、海关、边界管制、安保工作及文物考古等领域。应用场景适用领域公安 / 边防缉毒：快速扫描车辆轮胎、保险杆、车体外板和内饰，发现藏匿的dupin、qiangzhi等违禁品 , 手机实时互联让现场查缉更方便。 省界交汇 / 边防检查站：快速扫描嫌疑车辆、保险杆、车体外板、内饰和行李包裹，查看有无违禁品。 反恐应急安保：快速扫描可疑包裹、行包、汽车等，发现可能存在的危险品和违禁品。 海事缉查：快速扫描搜查船只隔板、舱壁、外壳藏匿的dupin、现金等。 贵宾和重大活动安保：快速扫描房间墙壁、家具、夹层、车辆，搜查可能隐藏的管制刀具、qiangzhi、有机爆炸物和监听装置等。 交通枢纽（机场 / 火车站）应急检查：快速扫描可疑包裹，突击检查，预防公共场所中潜在的恐怖威胁。 通用航空客机、轮船检查：扫描定位内饰、舱壁、支撑结构件里可能藏匿的违禁品。

■技术参数 - 放大倍率:100x ~ 60,000x- 加速电压:5 ~ 30kV (5/10/15/20/30kV - 5 step)■图像二次电子图像（SEI）背散射电子图像（BSEI）■规格 - 样品移动距离: X: 20mm, Y: 20mm,Rotation : 360° - 最大样品尺寸: 直径50mm-最大样品厚度: 20mm■系统结构 - 电子枪: 预对准钨灯丝 - 检测系统: 二次电子探测器- 真空泵：旋转式真空泵100L/min涡轮分子泵80L/S■设备主要构成 - 笔记本电脑1台- 电子扫描显微镜主体一台- 灯丝5个- 载物台15mmdia (10pcs/set)25mmdia (5pcs/set)15mm45° tilt(5pcs/set)15mm90° tilt(5pcs/set)

手持式背散射检测仪中国总经销：工作原理：采用X射线背散射成像技术，同侧发射射线和接收信号实时成像，无需独立成像板。结构与设计：设备由X光源（140kV）、探测器、彩色触控显示屏、摄像头、闪光灯、辅助定位光源(激光)和内置电源（电池）一体式集成化，使用状态下无须其他任何外置组件。主机重量：3.7-4.7kg 操作系统与界面：安卓系统，中文菜单界面。穿透力：大于等于3.5-7.5毫米等效钢板。加装选配件后可穿透22毫米钢板。扫描速度：15cm/s-30cm/s；过慢或过快图像会变形。扫描时长：最长可单次连续扫描60秒，且15秒、30秒、60秒可选；便于针对不同长度的被检物体灵活选择。状态切换：通过按键可快速切换休眠状态与工作状态，休眠状态下设备处于待机状态，节省电量。电池工作时长：单块电池可持续工作4-6h。电池电量显示：可在显示屏和电池上显示电池电量信息。保护功能：具有操作权限管理功能，具有系统工作和射线发射指示灯，具有射线发射按键。激光定位扫描区域：两侧具有内置激光发射装置。被检物拍摄功能：设备前端内置摄像头，支持在检测过程中拍摄被检物图像；补光功能：设备前端内置补光灯，支持在检测过程中对被检物补光；辐射防护：距离检测仪正后方表面5cm处周围剂量当量率≤0.4μSv/h。辐射安全：设备具有多重安全保护措施：1）安全联锁控制系统：开机登录后，屏幕上会出现锁屏保险条，向右滑动保险条解锁后按下射线发射键才可发 射X 射线，松开射线发射键后，可快速停止发射X 射线；2）出束警示灯：在设备上方、左右方明显处均设置有警示灯，出束时红灯亮起；数据存储： 10,000扫描图像；软件功能：具备扫描、查看图像、直方图拉伸（亮度调节）、黑白色转换、图像比较、图像着色、可疑图像标记、图像存储、图像回放、图像放大、图像缩小、图像导入、图像导出等功能；具有拍照、闪光灯照明、休眠、图像分组管理、设备数据备份/还原、用户管理、语言切换等功能。先进图像处理功能：具有多种图像处理算法，更有助于查验人员高效判图：1）常规处理算法—对被检物体不做区分；2）高穿透处理算法—扫描高密度物质后突出显示其后藏匿的违禁品，如扫描车辆多部位；3）高分辨率算法—更清晰看到图像细节；联接能力：USB、无线WIFI、蓝牙、数据线；校准：设备每次开机扫描前无需校准。运行环境：-20摄氏度至60摄氏度；大气条件为不凝结。外壳防护等级：IP54,防尘、防溅水。 升级能力：1.设备可加装高清动态透射成像配件，可穿透22毫米钢板，图像清晰度接近便携式X光机，可查验的物品更多，大大提高查缉战果几率；2.设备可升级具备识别金属物质铅并可在屏幕上文字弹窗报警功能。犯罪分子经常用铅屏蔽违禁品，造成查缉遗漏。该功能可有效解决此问题。

国际衍射数据中心PDF粉末衍射数据库（Powder Diffraction File，PDF）国际衍射数据中心（The International Centre for Diffraction Data, ICDD）是一个非盈利的科学组织，是全球X射线衍射权威机构，致力于收集、编辑、出版和发行用于晶态材料鉴定的粉末衍射数据。沃根瑞特科技（北京）有限公司于2018年被国际衍射数据中心(ICDD)认可为中国区授权代理商，被授权在中国区进行PDF衍射数据库的推广、销售等工作。PDF粉末衍射数据库（Powder Diffraction File，PDF）国际衍射数据中心(ICDD)-PDF粉末衍射数据库是经过ISO认证的晶体学数据库，所有数据经过严格质量审查，并给出质量标记。PDF数据库覆盖面广，精度高，兼容性强，功能强大，涵盖30多个领域，是材料学、物理学、化学、地质学、药物学、生物学、检验检疫、司法鉴定等科学研究及工业生产等领域不可缺少的数据库，并赢得全球用户的信任和支持，为新材料的探索做出了卓越的贡献。质量高：高质量、标准化衍射数据和单晶结构数据，每年剔除低质量数据；包含不同靶材X射线、中子、电子及同步辐射衍射数据；提供二维/三维晶体结构、选区电子衍射图（SAED）、自动指标化SAED图、电子背散射衍射图（EBSD）、二维衍射环等；提供物相的高温、高压衍射数据；每一条数据均提供参考文献、材料物性信息，大大缩短科研及产品研发周期；支持全自动检索物相和定量分析功能；方便快捷保存多种数据形式；可与Jade、EVA、Highscore、PDXL等软件兼容；PDF数据库（Powder Diffraction File，PDF）具有多个版本，请联系我们，我们会帮您确认所需版本!PDF-4+ 粉末衍射数据库412,000+套衍射数据311,200+套原子坐标位置PDF-4+ 是一个包含PDF-2数据以及ICDD与MPDS合作数据的先进数据库。其设计宗旨在于定量分析(Rietveld, RIR和Pattern Fitting)和物相鉴定。数据库中涵盖了大量无机材料，并且包含了大量数字谱线、分子图形和原子参量等信息。通过利用Rietveld分析、参考强度比(RIR)方法和全谱分析法这三种方法之一，增强了定量分析的能力。PDF-2 粉末衍射数据库304,100+套衍射数据PDF-2是ICDD、FIZ以及NIST的合作产品，设计用于无机材料的分析。ICDD中很多常规的有机材料数据被加入到了这个数据库，这样可以便于快速的物相鉴定。PDF-4+ / Organics 有机物 粉末衍射数据库535,600+套特色有机物&有机金属化合物衍射数据115,500+套原子坐标位置PDF-4/Organics　的设计宗旨是有机和有机金属材料的鉴定。除了484,910个有机条目外，还包含几千个无机材料和基本的药物赋形剂信息，以便于配方分析和鉴定。PDF-4+ / Minerals 矿物　粉末衍射数据库46,100+套衍射数据37,000+套原子坐标位置PDF-4/ Minerals 是PDF-4+的子系统，包含那些已编入PDF-4+的新功能。这个数据库是世界上有关矿物和相关矿物材料的权威数据库。这些相关材料包括人造矿物、宝石和在非大气条件下处理的样品。*请使用正版数据库，免除因错误使用数据库而带来的拒稿风险！

手持式背散射成像仪-中国总代理新一代手持式背散射成像仪PX Ultra 160keV新一代实时查验技术更高能量，更强穿透 穿透160 keV和专利光学系统，允许穿透更多材料，看到更大的深度。减少不确定性通过手持式设备发现潜在风险，保证人员安全。即时高效便于携带，图像高清，提高检查效率。完成使命通过科技创新，保护社会免受威胁。

DigiView EBSD DigiView 是一款多功能的高分辨率数码相机。CCD 传感器的量子效率 (QE) 极高，峰值在蓝绿色谱段，用于经优化的荧光屏涂层，因而对电子背散射衍射 (EBSD) 应用具有更高的灵敏度。采用无需使用冷却风扇的单级 Peltier 冷却系统，噪音明显降低。DigiView EBSD 相机被设计用于各类 EBSD 应用。联用 DigiView 与 EDAX 的 TEAM™ 分析系统软件，相机能够以高达每秒 200 个标定花样的速率获得取向分布数据，标定成功率超过 99％。相机可呈现高达 1392 x 1040 像素的高分辨率图像。特点：数据采集率高达每秒 200 个标定花样高量子效率 (QE) CCD： 62% @ 500 nm1.4 兆像素分辨率：1392 (H) x 1040 (V)12 位数字输出两种读取速率：20 和 40 MHz高信噪比低读取噪音： 8e- @ 20 MHz千兆以太网协议增益控制范围：0～35 dB 全程可调长时间曝光：可长达 15 分钟无机械快门输入电压 110/220 VAC 50/60 HzCE 认证兼容 HR-EBSDDigiView 的控制通过软件应用程序来实现，可完全控制增益、黑度、曝光时间及像素合并设置。此外，它还包含全面的图像处理能力，以获得最佳图像质量。相机采用波纹管进出系统在真空下操作和实时成像，以确保最大真空度和系统完整性。它还有一个可选的集成式前置背散射探测器 (FSD)。

产品详情日本JEOL热场发射扫描电子显微镜JSM-7200F JSM-7200F的电子光学系统应用了日本电子旗舰机-JSM-7800F Prime采用的浸没式肖特基电子枪技术，标配了TTLS系统（Through-The-Lens System），因此无论是在高/低加速电压下，空间分辨率都比传统机型有了很大的提升。 产品规格： 主要选配件可插拔式背散射电子探头（RBED）高位二次电子探头（USD）低真空二次电子探头（LV-SED）能谱仪（EDS)波谱仪（WDS）电子背散射衍射系统（EBSD)阴极荧光系统（CLD）样品台导航系统（SNS）电子束曝光系统 产品特点：JSM-7200F的电子光学系统应用了日本电子旗舰机-JSM-7800F Prime采用的浸没式肖特基电子枪技术，标配TTLS系统（Through-The-Lens System），无论是在高/低加速电压下，空间分辨率都比传统机型有了很大的提升。此外，保证300nA的最大束流，能兼顾高分辨率观察和高通量分析，具有充实的自动功能和易用性，是新一代的多功能场发射扫描电镜。 ＜特点＞ JSM-7200F的主要特点有：应用了浸没式肖特基电子枪技术的电子光学系统；利用GB（Gentle Beam 模式）和各种检测器在低加速电压下能进行高分辨观察和选择信号的TTLS系统（Through-The-Lens System）；电磁场叠加的混合式物镜。 浸没式肖特基电子枪 浸没式肖特基场发射电子枪为日本电子的专利技术，通过对电子枪和低像差聚光镜进行优化，能有效利用从电子枪中发射的电子，即使电子束流很大也能获得很细的束斑。因而可以实现高通量分析（EDS、WDS面分析、EBSD分析等）。 TTLS（through-the-lens系统） TTLS（through-the-lens系统）是利用GB(Gentle Beam 模式）在低加速电压下能进行高分辨率观察和信号选择的系统。 利用GB（Gentle Beam 模式）通过给样品加以偏压，对入射电子有减速、对样品中发射出的电子有加速作用，即使在低加速电压（入射电压）下，也能获得信噪比良好的高分辨率图像。 此外，利用安装在TTLS的能量过滤器过滤电压，可以调节二次电子的检测量。这样在极低加速电压的条件下，用高位检测器（UED）就可以只获取来自样品浅表面的大角度背散射电子。因过滤电压用UED没有检测出的低能量电子，可以用高位二次电子检测器（USD，选配件）检测出来，因此JSM-7200F能同时获取二次电子像和背散射电子像。 混合式物镜（电磁场叠加） JSM-7200F的物镜采用了本公司新开发的混合式透镜。 这种混合式透镜是组合了磁透镜和静电透镜的电磁场叠加型物镜，比传统的out-lens像差小，能获得更高的空间分辨率。 JSM-7200F仍然保持了out-lens的易用性，所以可以观察和分析磁性材料样品。

TEAM™ Trident (EDS-EBSD-WDS)TEAM™ Trident 将 EDS、EBSD 和 WDS 的最新技术进展整合到了一款分析工具中。通过简单易用的 TEAM™ 分析软件中的智能功能，每项技术均可独立优化和使用，也可组合使用，实现无缝集成，从而带来全面的数据收集，然后在不同技术之间共享。能量色散谱仪 (EDS)电子背散射衍射 (EBSD)波长色散谱仪 (WDS)通过在单个平台上集成 EDS、EBSD 和 WDS 分析技术，TEAM™ Trident 分析系统可提供完整的材料表征解决方案。通过全面的数据收集和不同技术之间的共享，可确保实现无缝集成。每项技术均可单独使用，也可通过整合数据达到以往无法实现的结果。能量色散谱仪 (EDS)EDS 分析提供了从简单定性分析到高级定量计算所需的全套工具。无论操作经验水平如何，智能功能都可确保一致的数据采集、分析和报告EXpert ID 采用分析智能分离重叠峰，识别微小峰电子背散射衍射 (EBSD)EBSD 分析整合了 TEAM™ 软件套件的易用性与取向成像显微镜 (OIM) 的分析能力，从而为所有用户提供最先进的晶体结构表征。置信度因子 (CI)：标定准确度的专利验证专利型 ChI-Scan™ 可实现卓越的多相分析，提升标定和相鉴定准确性波长色散谱仪 (WDS)WDS 扫描可补充 EDS 能谱采集，生成准确的定性和定量分析结果自动样品定位，易于使用，获取最大信号强度高能量数据采集有助于解决最棘手的峰位重叠问题探测器和相机TEAM™ Trident 结合了 Octane Elite EDS 硅漂移探测器 (SDD) 和为满足关键应用需求而设计的传感器。行业领先的电子器件保证在整个计数率范围内均具有出色的效率和分辨率。对于 EBSD，可供选择的相机有Velocity™ Super、 Orion™ 、 Hikari Super和DigiView。Velocity™ Super采用CMOS传感器，能对现实世界中的材料提供具有最高标定性能的高速EBSD面扫描。Orion™ EBSD相机系列将低噪音表现和快速采集相结合以保证最优采集和数据质量。Hikari super使速度和灵敏度完美融合，而DigiView是高分辨率分析的理想选择。对于WDS，过渡X射线波谱仪（TEXS）可用作WDS分析。TEAM™ Trident可为您解决最困难的材料表征问题。通过快速轻松地提供晶体结构和元素成分结果，TEAM™ Trident让用户能够专注于材料分析工作，而非数据采集。

SymmetryS2是搭载于扫描电镜（SEM）/聚焦离子束扫描电镜（FIB-SEM）的电子背散射衍射仪(EBSD探测器)，基于始创的CMOS技术。它是一款拥有出色的性能、易用性以及一系列创新设计的特点的EBSD。可用于金属、合金、陶瓷、地质、半导体、电池样品的结构、物相、晶粒、取向等分析。 Symmetry S2采用专门定制的CMOS传感器，拥有独特而强大速度、灵敏度和衍射花样细节等特点。Symmetry S2与AZtec软件相结合，为各种材料和测量提供出色的性能。Symmetry S2的分析速度超过4500pps，是市场上任何基于CCD的EBSD探测器的两倍以上，而这是在没有高束流或过多像素合并的条件下实现的。这意味着，即使在具有挑战性的实际样品上，如多相轻金属合金或变形钢，也能实现高速分析。 仅用12 nA束流就能保证标定速度超过4500 pps 在高速下具有156x88像素图像分辨率–比快速CCD探测器的像素高出16倍以上 全分辨率（1244x1024）模式——高分辨率(HR)-EBSD应变分析的理想选择 低失真光学元件, 确保角度精度优于0.05° 优化荧光屏的高灵敏度, 确保低剂量和低电子束能量下的高质量花样——实现更大的空间分辨率 即使在高速下也能实现无缝集成EDS 软件控制倾斜接口并自动校准——无论样品尺寸大小，都能实现准确的定位和标定 波纹管SEM接口，保持显微镜真空完整性 接近传感器——在可能发生的碰撞发生前提前感知,并自动将探测器移动到安全位置 简单直观的探测器设置，确保每次都能获得良好的效果五个集成的前散射探测器（FSD）, 提供彩色通道衬度图像和原子序数衬度图像

捷欧路JEOL热场发射扫描式电子显微镜JSM7000F的电子光学系统应用了日本电子旗舰机JSM7000F采用的浸没式肖特基电子枪技术，标配了TTLS系统（Through-The-Lens System），因此无论是在高/低加速电压下，空间分辨率都比传统机型有了很大的提升。产品规格：主要选配件可插拔式背散射电子探头（RBED）高位二次电子探头（USD）低真空二次电子探头（LV-SED）能谱仪（EDS)波谱仪（WDS）电子背散射衍射系统（EBSD)阴极荧光系统（CLD）样品台导航系统（SNS）电子束曝光系统 产品特点：捷欧路JEOL热场发射扫描式电子显微镜JSM7000F的电子光学系统应用了日本电子旗舰机-JSM-7800F Prime采用的浸没式肖特基电子枪技术，标配TTLS系统（Through-The-Lens System），无论是在高/低加速电压下，空间分辨率都比传统机型有了很大的提升。此外，保证300nA的最大束流，能兼顾高分辨率观察和高通量分析，具有充实的自动功能和易用性，是新一代的多功能场发射扫描电镜。＜特点＞捷欧路JEOL热场发射扫描式电子显微镜JSM7000F的主要特点有：应用了浸没式肖特基电子枪技术的电子光学系统；利用GB（Gentle Beam 模式）和各种检测器在低加速电压下能进行高分辨观察和选择信号的TTLS系统（Through-The-Lens System）；电磁场叠加的混合式物镜。 浸没式肖特基电子枪浸没式肖特基场发射电子枪为日本电子的专利技术，通过对电子枪和低像差聚光镜进行优化，能有效利用从电子枪中发射的电子，即使电子束流很大也能获得很细的束斑。因而可以实现高通量分析（EDS、WDS面分析、EBSD分析等）。 TTLS（through-the-lens系统）TTLS（through-the-lens系统）是利用GB(Gentle Beam 模式）在低加速电压下能进行高分辨率观察和信号选择的系统。 利用GB（Gentle Beam 模式）通过给样品加以偏压，对入射电子有减速、对样品中发射出的电子有加速作用，即使在低加速电压（入射电压）下，也能获得信噪比良好的高分辨率图像。 此外，利用安装在TTLS的能量过滤器过滤电压，可以调节二次电子的检测量。这样在极低加速电压的条件下，用高位检测器（UED）就可以只获取来自样品浅表面的大角度背散射电子。因过滤电压用UED没有检测出的低能量电子，可以用高位二次电子检测器（USD，选配件）检测出来，因此捷欧路JEOL热场发射扫描式电子显微镜JSM7000F能同时获取二次电子像和背散射电子像。 混合式物镜（电磁场叠加）捷欧路JEOL热场发射扫描式电子显微镜JSM7000F的物镜采用了本公司新开发的混合式透镜。 这种混合式透镜是组合了磁透镜和静电透镜的电磁场叠加型物镜，比传统的out-lens像差小，能获得更高的空间分辨率。 捷欧路JEOL热场发射扫描式电子显微镜JSM7000F仍然保持了out-lens的易用性，所以可以观察和分析磁性材料样品。日本JEOL热场发射扫描电子显微镜捷欧路JEOL热场发射扫描式电子显微镜JSM7000F 信息由科沃安科技（苏州）有限公司为您提供，如您想了解更多关于日本JEOL热场发射扫描电子显微镜捷欧路JEOL热场发射扫描式电子显微镜JSM7000F 报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

场发射扫描电镜 MIRA MIRA3 XM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜，可在高真空和低真空模式下操作，其具有突出的光学性能，清晰的数字化图像，成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集，可以保存标准文件格式的图片，可以对图像进行管理、处理和测量，实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。 概述分析潜力 XM样品室配备有5轴马达驱动的全计算机化优中心样品台，完美的几何设计更适合安装能谱仪（EDS）、波谱仪（WDX）、电子背散射衍射（EBSD） 优化几何设计的许多接口，更适合安装能谱仪（EDS）、波谱仪（WDX）、电子背散射衍射（EBSD）和其他探头 一流YAG闪烁器式探头 可选各种探头和配件 在涡轮分子泵和无油干式泵的工作下，几分钟就可以达到仪器工作需要的真空，电子枪的真空度由离子泵保持 在低真空模式下可以观测不导电的样品，观测磁性样品的效果非常好 可选样品室大小与镜筒防振方式MIRA3配置MIRA3 XMH大样品室高真空式电镜，配备有可选的马达驱动样品台，适合观测导电的样品。MIRA3 XMU可变真空式SEM，体现了高真空模式和低真空模式的优点。在低真空模式下可以观测不导电的样品，不需要喷金。软件：标配： 测量 图象处理 3维扫描 硬度测量 多图像校准 对象区域 自动关机时间 公差 编程软件 定位 投影面积 EasySEMTM 选配：根据实际配置和需求 配件 二次电子探头（SE），ET型二次电子探头（YAG 闪烁体） 可移动式背散射电子探头（RBSE）*，可移动环行闪烁体类（YAG）具有高灵敏度和原子序数分辨率（0.1Z） 低真空二次电子探头 探针电流测量 压差式防碰撞报警装置 可观察样品室内部的红外线摄像头等，各种配件可供选择

利用全能型 EBSD 探测器进行快速和多功能分析Symmetry S3 电子背散射衍射（EBSD）探测器是全能型 Symmetry 产品系列中的第三代探测器。S3 将高速分析（ 5700 个花样每秒（pps））与先进功能相结合，确保更加优异 的性能，满足各领域内科研的需要。 Symmetry S3 是一款旨在从各种类型的样品中，提供出色结果 的 EBSD 探测器。无透镜光纤耦合相机系统，可在所有分析条件 下，实现出色的灵敏度，从束流敏感材料的分析到常规样品的高 速表征。高像素分辨率与有保证的亚像素花样失真水平相结合， 使 S3 成为应变深入分析和高精度 EBSD 工作的理想选择，而软 件控制的探测器倾转功能，确保了对每种尺寸和形状的样品，都 能在优化的几何位置进行采集。提升 EBSD 硬件能力：尽享高速及高灵敏性优势6 种不同的相机模式，灵活应对多种日常及高难度分析的要求高达 1244 x 1024 像素的图像分辨率采集速度 5700 pps，分辨率为 156 x 128 像素无镜头光纤耦合相机系统，实现高灵敏度保证高精度 EBSD 工作（包括 HR-EBSD）的亚像素失真软件控制的探测器倾转，确保每个样品处于理想的几何设置接近传感器系统（正在申请专利），可防止碰撞并尽可能减少 停机时间可选集成 5 个二极管的前散射探测器 （FSD）成像系统实现超高速分析：花样质量同样出色Symmetry S3 的超高分析速度可在 60 秒内，根据国际标准进 行晶粒尺寸表征。在最大速度（156 x 128 像素）下，基于出色 的花样分辨率和光纤光学系统实现的高灵敏度，即使快速分析也 能保证数据质量及 SEM 的分辨率。力求多功能性：完美表征所有样品Symmetry S3 探测器的设计适合对样品进行全方位的分析。其 软件控制荧光屏升降功能，确保探测器可以安全地定位到每个 样品和任何测量的理想几何位置，包括需要进行大面积拼接或 进行透射菊池衍射（TKD）的样品。高达 +/- 22 mm 电动升降移动自动校准确保在任何几何位置上都能完美标定接近传感器系统在潜在碰撞发生之前检测并预防——节省资 金和停机时间Symmetry S3 的百万像素分辨率和保证仅亚像素级失真，使其 成为高精度 EBSD 的理想探测器经过 HR-EBSD 研究验证过的性能高精度标定模式（已申请专利），实时定位精度优于 0.01°扩展更多应用需要：叠加多种信号于一体5 个可选的前散射探测器（FSD） 可提供快速灵活的样品成像下部 3 个二极管，用于晶体学取向衬度和形貌衬度成像（或 采集 TKD 的暗场像），可以合成伪彩色图像上部 2 个用于原子序数 Z 衬度成像的二极管Symmetry S3 EBSD 探测器规格分辨率 最大 1244 x 1024速度 5700 pps （156 x 128 像素分辨率）光学系统无透镜光纤耦合光学元件CMOS 传感器针对 EBSD 开发和优化的定制 CMOS 传感器失真保证 1 像素灵敏度最大 1000 pps/nA荧光屏高灵敏度全能荧光粉，匹配 CMOS 传感器形状碰撞保护接近传感器防撞系统（专利申请中）升降电动荧光屏升降控制，高达 +/- 22 mm 的移动范围插入全电动、高速、高精度插入和缩回接口波纹管型，实现高真空完整性前散射探测器系统可选 5 个二极管前散射探测器系统高温荧光屏可选配、高灵敏度荧光屏，带光学 干涉红外滤光片控制盒可选，探测器插入、升降控制 推荐耗材TKD（t-EBSD）样品台EBSD专用样品台 夹铝层双面碳导电胶带8mm×20m 双面铜导电胶带12.7mm×16.5m SEM扫描电镜钉形样品台存储盒可放14枚 SEM及能谱多功能标样8mm×32mm Co单质定量优化能谱标样 瑞士尖弯头精密镊子7号

TEAM™ Pegasus (EDS-EBSD)TEAM™ Pegasus 可同步收集 EDS 数据（化学成分）和 EBSD 数据（晶体结构），在研究材料的元素组成和微结构方面建立直接关联。能量色散谱仪 (EDS)电子背散射衍射 (EBSD)EDS 和 EBSD 无缝表征智能且易于使用启动智能相机自动优化 EBSD 相机设置智能后台智能背底采集和处理分析智能 EXpert ID结合了实时分析技术的自动智能峰识别智能标定利用独有的三条带组标定和置信度因子实现准确的 EBSD 解决方案报告智能数据管理直观灵活的数据管理可确保工作会话井然有序探测器和相机TEAM™ Pegasus采用了Octane Elect或Octane Elite硅漂移探测器（SDD）以满足关键应用需求。行业领先的电子元件保证整个计数率范围内均有出色的效率和分辨率。对于EBSD，可供选择的EBSD相机有Velocity™ Super、 Orion™ 、 Hikari Super和DigiView。Velocity™ Super采用CMOS传感器，能对真实样品提供具有最高标定性能的高速EBSD面扫描。Orion™ EBSD相机系列将低噪音表现和快速采集相结合以保证最优采集和数据质量。Hikari super使速度和灵敏度完美融合，而DigiView是高分辨率分析的理想选择。TEAM™ Pegasus可为您解决最困难的材料表征问题。通过快速轻松地提供晶体结构和元素成分结果，TEAM™ Pegasus让用户能够专注于材料分析工作，而非数据采集。