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电子尺

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电子尺相关的论坛

  • 【分享】电子尺与TEM分析软件

    电子尺与TEM分析软件，大家看看是否有用，多多关照[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=62618]e-ruler[/url][img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=62619]1[/url]

  • 【讨论】PLC结合光栅电子尺使用的自动化控制

    【讨论】PLC结合光栅电子尺使用的自动化控制

    http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/04/201204270907_363661_2523522_3.jpg光栅尺的工作原理光栅尺是通过摩尔条纹原理，通过光电转换，以数字方式表示线性位移量的高精度位移传感器.光栅尺是由读数头、主尺和接口组成。玻璃光栅上均匀地刻有透光和小透光的线条，栅线为50线对/mm，其光栅栅距为0.02mm，采用四细分后便可得到分辩率为5μm的计数脉冲。一般情况卜，线条数按所测精度刻制，为了判别出运动方向，线条被刻成相位上相差90°的两路。当读数头运动时，接口电路的光电接收器分别产生A相和B相两路相位相差90°的脉冲波.输出信号再经过数显系统细分处理,分辨率是光栅周期除以信号细分数,经过电子信号细分处理分辨率可为5um或1um 光栅尺的适用领域:加工用的设备：车床、铣床、镗床、磨床、钻床、电火花机、线切割等 测量用的仪器：投影机、影像测量仪、工具显微镜等 也可对数控机床上刀具运动的误差起补偿作用 配接PLC,用于各类自动化机构的位移测

  • 尺都改成电子的了~~~

    尺都改成电子的了~~~

    买了电子游标卡尺，测量试件就是方便，还不用费眼睛细看，现在化的设备就是好哈。不过这电子卡尺是不是也需要计量部门检定下呢？http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/06/201506261659_551943_1622447_3.jpg

  • 询问电子天平、千分尺

    我们想购买电子天平（220g，0.001g）、千分尺（0-25mm，0.001mm，数显，10个），各位大侠知道哪个品牌质量优而价格低吗。谢谢提供!

  • 电子捕获检测器池结构详解

    电子捕获检测器池结构详解

    [align=left][color=black]电子捕获检测器池结构[/color][/align][align=left][color=black]电子捕获检测器池结构要有利于收集电子，而不收集负离子，这是一大原则。如果两者不能明显区分，将出现非线性响应。[/color][/align][align=left][color=black]通常，电子捕获检测器池结构按照放射源、电极位置及形状（电场分布）、气体流路和池的几何形状，可分为三种主要类型：平行板型、同轴圆筒型和位移同轴圆筒型三种，见图(a）、（b）、（c）。[/color][/align][align=left][color=black][img=,426,320]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/09/201809070854229879_7658_2384346_3.png!w426x320.jpg[/img][img=,420,194]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/09/201809070854237330_1037_2384346_3.png!w420x194.jpg[/img][img=,515,197]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/09/201809070854243950_3062_2384346_3.png!w515x197.jpg[/img][/color][/align][align=left][color=black]图 1 三种电子捕获检测器池结构示意图[/color][/align][color=black]1[/color][color=black]．平行版型[/color][color=black]为早期使用的一种结构，因池体积太大等弊端，已经基本被淘汰。[/color][color=black]2[/color][color=black]．同轴圆筒型[/color][color=black]这是普遍采用的一种结构。与平行板型相比，相同面积的放射源箔，要求从放射源至阳极的距离，应大于β粒子的射程。将其电离，β粒子本身亦变成热电子，产生最大基流。同时又可防止高速的β粒子碰撞至阳阳极时，造成表面侵蚀。但此距离又不能太大。若距离太大，当窄的（约1μs）低压（50V）脉冲加至极阳时，可能池中的电子不能完全被收集，特别是用[sup]63[/sup]Ni源，N[sub]2[/sub]作载气时，很容易出现此问题。而小直径的[sup]3[/sup]H[sub]2[/sub]源,用Ar-CH[sub]4[/sub]作载气时，则不易出现。因[sup]63[/sup]Ni源与[sup]3[/sup]H[sub]2[/sub]源相比，前者的β粒子能量大于后者；N[sub]2[/sub]与Ar-CH[sub]4[/sub]相比，前者使高能电子降低能量变成热电子的能力不如后者。文献已表明:对10mCi的[sup]63[/sup]Ni源，如用Ar-CH[sub]4[/sub]作载气,40V脉冲高度时，＜4μs的脉冲宽度还能安全收集池中的所有电子，而用N[sub]2[/sub]载气，脉冲宽度必须大于20μs才能完全收集。通常，接填充柱的同轴型电子捕获检测器，其池体积为2-4mL。[/color][color=black]3[/color][color=black]．这是近年发展的一种较新结构。与同轴圆筒型相比，相同面积的放射源箔，池体积可更小。因阳极已从射线的发射区内移出，β射线不大可能与阳极相撞，故其池腔直径可更小。但还要考虑到以下两种情况：①如何尽量减小粒子和放射晾本身相撞；②调整阳极移出的距离，保证在脉冲宽度小时，电子捕获检测器池中的电子亦能完全被收集。7.5mCi[sup]63[/sup]Ni源、池体积为0.3mL的电子捕获检测器，在N[sub]2[/sub]作载气时，-50V脉冲高度、0.64μs的脉冲宽度即可完全收集池中的电子。近年毛细管柱的电子捕获检测器，均是此结构。图（a）、（b）为两种微电子捕获检测器示意图，池腔体积分别为150μL和100μL。[/color][color=black]另外，按负空间电荷理论，岛津GC-17A的“洁净”电子捕获检测器，使柱后流出组分不直接与放射源接触，这样，既可正常响应，又可防止样品对箔的污染。特别是在分析一些粉“脏”的样品，如变压器油或动物组织中的农药时，更为理想，见图(c）。[/color][color=black] [/color]

  • 纳米级尺寸电子束斑测量

    纳米级尺寸电子束斑测量

    [b]1. [font=黑体]电子束尺寸测量的意义[/font][/b][font=宋体]通常电子束光刻（[/font]EBL[font=宋体]，[/font]Electron BeamLithography[font=宋体]）的曝光工艺，需要根据电子束的辐照密度确定曝光时间，准确测量聚焦电子束的尺寸才能得到准确的电子束辐计量。[/font][font=宋体]电子束斑测量可作为扫描电子显微镜（[/font]SEM[font=宋体]，[/font]Scanning ElectronMicroscope[font=宋体]）、透射电子显微镜（[/font]TEM[font=宋体]，[/font]Transmission Electron Microscope[font=宋体]）电子光学参数调校依据，可作为[/font]EBL[font=宋体]关键工艺参数。[/font][img=,364,266]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/12/202312271753391454_3326_5849699_3.gif!w364x266.jpg[/img][font=黑体]电子束光刻[/font][b]2. [font=黑体]电子束尺寸测量的方法[/font][/b][font=宋体]（[/font]1[font=宋体]）成像法[/font][font=宋体]使用电子轰击荧光屏，通过观察荧光屏判断电子束尺寸，考虑到光学传递误差，通常可观察最小电子束斑约[/font]10um[font=宋体]。[/font][img=,126,191]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/12/202312271753446949_597_5849699_3.png!w157x239.jpg[/img][font=宋体]（[/font]2[font=宋体]）扫描法[/font][font=宋体]利用法拉第杯来测量电子束电流，挡板水平运动遮挡电子束流，同时监测法拉第杯中电流变化，根据电流的微分曲线可以直接定量测量电子束的宽度，对于系统的分辨率具有较高要求。[/font][img=,554,]file:///C:/Users/AMI/AppData/Local/Temp/msohtmlclip1/01/clip_image005.jpg[/img][b]3. [font=黑体]阿米精控测量方案[/font][/b][font=宋体]阿米精控科技（山东）有限公司专注于纳米运动控制及超精密机电系统领域的创新设计及产品研发，是一家集研发设计、制造、销售于一体，拥有全自主知识产权的微纳测控及超精密自动化“系统级硬科技”公司。[/font]AttoMotion[font=宋体]纳米运动平台基于微纳柔性机构和压电执行器实现超高分辨力纳米运动，内置光栅[/font]/[font=宋体]电容微位移传感器，通过高性能纳米伺服系统实现闭环控制，具有亚纳米级运动分辨率、纳米级运动精度和高速、高动态轨迹扫描功能。[/font][img=,137,]file:///C:/Users/AMI/AppData/Local/Temp/msohtmlclip1/01/clip_image007.jpg[/img][img=,185,]file:///C:/Users/AMI/AppData/Local/Temp/msohtmlclip1/01/clip_image009.jpg[/img][img=,133,]file:///C:/Users/AMI/AppData/Local/Temp/msohtmlclip1/01/clip_image011.jpg[/img][font=宋体]技术特点：超高定位精度、多轴高动态协同联动、高刚度高负载、紧凑型结构设计、轴间运动学解耦设计、多运动模式（定位[/font]/[font=宋体]扫描）、可实现正置倒置的灵活应用、真空兼容性温度使用范围广、运动行程[/font]50~200[font='Cambria Math',serif]μ[/font]m[font=宋体]。[/font][font=宋体]应用领域：扫描电子显微镜、同步辐射光源、纳米操作、光纤定位和对准。[/font][b]3.1 [font=黑体]测量装置搭建[/font][/b][font=宋体]（[/font]1[font=宋体]）选用[/font]SEM[font=宋体]，测试过程中拔掉偏转线圈控制线或者采用点扫模式，使得电子束位置固定。[/font][img=KYKY-EM8100场发射扫描电子显微镜,383,]file:///C:/Users/AMI/AppData/Local/Temp/msohtmlclip1/01/clip_image013.jpg[/img] [table][tr][td=2,1] [align=center][font=宋体]扫描电镜（[/font]SEM[font=宋体]）详细参数[/font][/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center][font=宋体]分辨率[/font][/align] [/td][td] [align=center]3.0nm@1KV[font=宋体]（[/font]SE[font=宋体]）[/font][/align] [align=center]2.5nm@30KV[font=宋体]（[/font]BSE[font=宋体]）[/font][/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center][font=宋体]放大倍率[/font][/align] [/td][td] [align=center]6[font=宋体]倍[/font]-1000000[font=宋体]倍[/font][/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center][font=宋体]电子枪[/font][/align] [/td][td] [align=center][font=宋体]肖特基场发射电子枪[/font][/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center][font=宋体]加速电压[/font][/align] [/td][td] [align=center]0[font=宋体]～[/font]30kV[/align] [/td][/tr][/table][font=宋体]（[/font]2[font=宋体]）三轴并联压电扫描平台[/font][img=,202,]file:///C:/Users/AMI/AppData/Local/Temp/msohtmlclip1/01/clip_image015.jpg[/img][img=,258,]file:///C:/Users/AMI/AppData/Local/Temp/msohtmlclip1/01/clip_image017.png[/img] [img=,230,]file:///C:/Users/AMI/AppData/Local/Temp/msohtmlclip1/01/clip_image019.png[/img][img=,401,]file:///C:/Users/AMI/AppData/Local/Temp/msohtmlclip1/01/clip_image021.jpg[/img][font=宋体]（[/font]3[font=宋体]）弱电流放大器[/font][img=,554,]file:///C:/Users/AMI/AppData/Local/Temp/msohtmlclip1/01/clip_image023.png[/img][font=黑体]可变增益弱电流放大器[/font][img=,481,]file:///C:/Users/AMI/AppData/Local/Temp/msohtmlclip1/01/clip_image025.png[/img][font=宋体]（[/font]4[font=宋体]）位移台安装[/font][font=宋体]位移台与转台绝缘，与大地相接，法拉第杯与转台相连，接弱电流前放。[/font][img=,554,]file:///C:/Users/AMI/AppData/Local/Temp/msohtmlclip1/01/clip_image027.jpg[/img][font=宋体]（[/font]5[font=宋体]）控制采集系统[/font][font=宋体]采用高动态数字微纳运动伺服器，电流和位置信息同步采集，采样率为[/font]10K/S[font=宋体]，采集时间[/font]10s[font=宋体]，纳米扫描台运动一个往复周期。[/font][img=,303,]file:///C:/Users/AMI/AppData/Local/Temp/msohtmlclip1/01/clip_image029.jpg[/img] [img=,177,]file:///C:/Users/AMI/AppData/Local/Temp/msohtmlclip1/01/clip_image031.jpg[/img][font=宋体]（[/font]6[font=宋体]）数据采集[/font][img=,512,]file:///C:/Users/AMI/AppData/Local/Temp/msohtmlclip1/01/clip_image033.jpg[/img][font=宋体]（[/font]7[font=宋体]）测试效果[/font][font=宋体]上方横线为硅片挡板边缘，中部方框为二次电子探测器信号。变亮时，电子被硅片挡住，增加了散射电子信号；变暗时，电子束落入法拉第杯，散射电子减小。[/font][img=,554,]file:///C:/Users/AMI/AppData/Local/Temp/msohtmlclip1/01/clip_image034.gif[/img][b]3.2 [font=黑体]测量结果[/font][/b][font=宋体]平台拥有极高的运动精度，往复运动电流和位置曲线完美重合。利用电流和位移的微分曲线，进行高斯拟合可以直接得到电子束的测量宽度。如图所示：加速电压[/font]5kV[font=宋体]，聚光镜值[/font]850[font=宋体]，束斑半高宽[/font]32.4nm[img=,348,]file:///C:/Users/AMI/AppData/Local/Temp/msohtmlclip1/01/clip_image036.jpg[/img][img=,344,]file:///C:/Users/AMI/AppData/Local/Temp/msohtmlclip1/01/clip_image038.jpg[/img][font=宋体]此外，由于单次采集时间小于[/font]5[font=宋体]秒，还可以监控电子束的稳定性。如下图所示，来回测量过程中电子束发生漂移情况。[/font][img=,359,]file:///C:/Users/AMI/AppData/Local/Temp/msohtmlclip1/01/clip_image040.jpg[/img]

  • 电子衍射图谱及菊池线数据解析

    求助各位大神。获取了一个可能的新矿物（化学成分为AgTe3）的电子衍射图谱及菊池线数据，想对比下这个自然矿物是否与人工合成的化合物AgTe3具有一致的晶体结构，如果不一致，能否解析出这个自然矿物的晶体结构。由于是做矿床研究的, 没有这方面的基础，从头学起来实在吃力。有没有哪位老师或专家愿意帮助解析一下数据。由于解析电子衍射数据是一个费事费力的功夫，本人愿意支付一定的劳务费已示谢意。如果您愿意帮助小弟，请您在帖子里给我留言或给我发电子邮件至jianwei@cags.ac.cn，我将具体的数据发予您，小弟在这先谢过了！

  • 形成菊池线与形成选区电子衍射花样时电子束的不同

    本人菜鸟，求助一个基本的透射电镜问题：我们都知道在样品中把光会聚的时候会在后焦面上形成菊池线，同时把光散开的时候会形成一些衍射斑点。菊池线的形成是由于电子束先受到非弹性散射，再发生弹性散射形成的，那么按理说把光散开的时候也同样会有这样的效应。那么为什么在会聚的时候非弹性散射的效应比较强呢？还望各位大牛多指教啊

  • 【资料】公司名为东电电子PV——提高夏普“三层型”薄膜硅太阳能电池的生产效率

    DATE 2008/02/20 　　【日经BP社报道】东电电子公布了与夏普共同成立的太阳能电池制造装置开发公司的详细情况。公司名称为东电电子PV，只从事薄膜硅太阳能电池用等离子CVD装置的开发。开发的装置由东电电子制造和销售。计划2009年供货首款机型。 　　东电电子PV的注册资本为5000万日元，出资比例东电电子为51％、夏普为49％。两公司从2007年夏季便开始就设立合资公司进行了协商。 　　夏普决定在大阪堺市建设年产能为1GW的大型薄膜硅太阳能电池新工厂，计划2010年3月之前开工投产。合资公司开发的制造装置将用于制造该工厂的主力商品——模块转换效率高达10％以上的三层型薄膜硅太阳能电池。 　　层叠多枚薄膜的三层型薄膜硅太阳能电池的制造，高效率等离子CVD装置的开发是关键。夏普在宣布建设新工厂时表示：“可高效量产三层型的制造装置已经实现”（参阅本站报道）。另外，此次夏普与东电电子合作的目的是，通过在夏普拥有的技术的基础上结合东电电子的技术，进一步提高三层型的生产效率，尽早完成制造装置，“以在全球竞争中取胜”（夏普宣传负责人）。 　　目前，不仅日本和欧洲，来自中国大陆、台湾乃至印度等地的新厂商也在纷纷涉足太阳能电池制造业务。这类企业与一揽子供应制造装置厂商合作，以期降低制造成本。印度方面，还出现了以此前一半的价格一揽子供应制造装置的装置厂商。此次的合资公司的设立，“是日本厂商对抗统包解决方案（Turnkey Solution）战略的一环”（太阳能电池技术人员），今后成功与否将备受关注。 　　东电电子此前一直向所有太阳能电池学会派遣了信息收集人员，一边从事太阳能电池的基础研究，一边寻找涉足太阳能电池业务的机会。太阳能电池业内人士就此次合资公司的设立评论说：“在一步走错便步步难追的局面下，东电电子的此举却获得了最好的客户”。这是因为，该公司除可向夏普年产能达1GW的大型新工厂供应制造装置外，还能够学习其先进技术。东电电子表示，“详细事宜尚未确定，不过将来还计划向其它公司销售制造装置”（宣传负责人）。 　　《日经微器件》预定在2008年3月刊中以“印度的制造力～继中国大陆台湾韩国之后的新威胁（暂定）”为题，以太阳能电池为中心介绍印度的电子元件制造情况。（记者：河合 基伸）

  • 【分享】被囚禁的电子和未来的电子学器件

    把自由运动的电子囚禁在一个小的纳米颗粒内，或者在一根非常细的短金属线内，线的宽度只有几个纳米，会发生十分奇妙的事情。由于颗粒内的电子运动受到限制，电子动或能量被量子化了。结果表现在当在金属颗粒的两端加上电压，电压合适时，金属颗粒导电；而电压不合适时金属颗粒不导电。这样一来，原本在宏观世界内奉为经典的欧姆定律在纳米世界内不再成立了。还有一种奇怪的现象，当金属纳米颗粒从外电路得到一个额外的电子时，金属颗粒具有了负电性，它的库仑力，足以排斥下一个电子从外电路进入金属颗粒内，切断了电流的连续性，也使得人们想到是否可以发展用一个电子来控制的电子器件，所谓单电子器件。单电子器件的尺寸很小，一旦实现，并把它们集成起来作成计算机芯片。计算机的容量和计算速度不知要提高多少倍。然而，事情可不是像人们所设想的那么简单。起码有两个方面的问题向当前的科学技术提出了挑战。实际上，被囚禁的电子可不是那么“老实”，按照量子力学的规律，有时它可以穿过“监狱”的壁逃逸出来，一方面在新一代芯片中似乎不用连线而相互关联在一起，当然，需要新的设计才能使单电子器件变成集成电路，另一方面也会使芯片的动作不可控制。归根到底，在这一世界中电子应被看成是“波”而不是一个粒子。所以尽管单电子器件已经在实验室里得以实现，但是真是要用在工业上，要假以时日，是明天或后天的技术。　　被囚禁在小尺寸内的电子的另一种贡献，会使材料发出强的光。“量子点列阵激光器”或“级联激光器”的尺寸小，发光的强度高，驱动它们发光的电压低。可发生兰光和绿光。用来读写光盘可使光盘的存贮密度提高几倍。还有甚者，如果用“囚禁”原子的小颗粒量子点来存贮数据，制成量子磁盘，存贮度可提高成千上万倍。会给信息存贮的技术带来一场革命。

  • 电子显微镜下毛骨悚然的牙齿细菌【组图】

    据英国《每日邮报》报道，一组电子显微镜下的牙齿及其附着细菌的图片令人毛骨悚然，这提醒人们不注意口腔卫生将会给牙齿造成严重的损伤。报道称，这些照片是由聚焦电子束的显微镜拍摄的，工作人员将图片用电子或是人工方式制成彩色，目的是为了能够区分腐败物和斑块，向大家展示不能被肉眼看到的微小粒子。据报道，这些用扫描电子显微镜放大过的图片能够清晰地看到牙齿上的斑块、门齿以及龋齿。这一组图片包括牙菌斑的粉色外衣，黄牙上的蓝色絮状物细菌，还有一些图片是用过的牙刷上附着的斑块。报道说，一张照片中显示黄色的斑块是如何附着在蓝色牙齿的表层。这些“外来入侵者”用显微镜放大了1000倍，并且着色，这是为了让人们更加真切地看到潜藏在牙齿里的点状细菌。点状细菌存在于牙齿表层，细菌附着在牙齿上继而形成斑块。这些可怕的图片足以使每个人晚上自觉刷牙，并定时去看牙医。http://img1.cache.netease.com/catchpic/C/CF/CF3DCE661497462768E66D1D12D2F09A.jpghttp://img1.cache.netease.com/catchpic/D/DF/DFC552BE28C2FE5C861567AA6534D515.jpghttp://img1.cache.netease.com/catchpic/7/73/731DCBD263E43BA9F492EC61813D8041.jpghttp://img1.cache.netease.com/catchpic/5/56/569DCE42686538DA28B2CF59BED589DC.jpghttp://img1.cache.netease.com/catchpic/A/AB/ABE95812EF7B0EC8CB2D64A4045E6FBE.jpghttp://img1.cache.netease.com/catchpic/A/A6/A6E432E03B1AEA55AAE00A95B31C6672.jpghttp://img1.cache.netease.com/catchpic/D/D2/D2B6DE0EC194FD35E356997E681EAF94.jpghttp://img1.cache.netease.com/catchpic/A/A6/A6A992A4BDEA3F3F8A4466E6BB34A5C5.jpghttp://img1.cache.netease.com/catchpic/6/6A/6A85F685B481639C9CA46AE517831D10.jpghttp://img1.cache.netease.com/catchpic/D/D9/D9B53F7EAFCCFCA3C7EA2330373B272E.jpghttp://img1.cache.netease.com/catchpic/5/54/547C51043D7A0E49BB15CF261FBA065D.jpghttp://img1.cache.netease.com/catchpic/F/F7/F72EC9C94908231BEB1953508CB84B8C.jpghttp://img1.cache.netease.com/catchpic/2/29/29BAA864DE0F4FA083D30F95FC5184C3.jpghttp://img1.cache.netease.com/catchpic/6/6B/6BC7F652C2BD8B33F75ADD36E1B2EEE5.jpghttp://img1.cache.netease.com/catchpic/1/1C/1C16048B88E4BA3F0736C13827A9B8FF.jpghttp://img1.cache.netease.com/catchpic/F/F3/F36562B919141186253DE900B389F44D.jpghttp://img1.cache.netease.com/catchpic/4/4E/4EE0AF131A7359FBA013FAAC5B7C7153.jpghttp://img1.cache.netease.com/catchpic/5/52/5236A4709348238606505F920E9EDCC2.jpghttp://img1.cache.netease.com/catchpic/6/64/64A740C4697554FFCB3C50ED9F8FED7F.jpghttp://img1.cache.netease.com/catchpic/7/78/786CD78E778AA4332717C14F90921607.jpghttp://img1.cache.netease.com/catchpic/F/F6/F63F721DFEABCE361D752E98CD089CCC.jpghttp://img1.cache.netease.com/catchpic/8/8C/8C3CF14ADCA10A5341FA5CE6C6829E5B.jpg

  • 如何选购电子天平

    电子天平的选购（一） 精度的选择选择电子天平应该从电子天平的绝对精度（分度值e）上去考虑是否符合称量的精度要求如选0.1mg精度的天平或0.01mg精度的天平，切忌不可笼统地说要万分之一或十万分之一精度的天平，因为国外有些厂家是用相对精度来衡量天平的，否则买来的天平无法满足用户的需要。例如在实际工作中遇到这样一个情况，用一台实际标尺分度值d为1mg，检定标尺分度值 e 为10mg，最大称量为200g的Mettler电子天平，用来称量7mg的物体，这样是不能得出准确结果的。在JJG98-90非自动天平试行检定规程 中规定，最大允许误差与检定标尺分度值e为同一数量级，此台天平的最大允许误差为1e，显然不能称量7mg的物体；称量15mg的物体用此类天平也不是最佳选择，因为其测试结果的相对误差会很大，应选择更高一级的天平，有的厂家在出厂时已规定了最小称量的数值。因此我们在选购及使用电子天平时必须考虑精度等级。

  • 【资料】电子吊秤的优点

    电子吊秤是由吊挂件、高密度传感器和A/D转换器及显示器组成，电子吊秤显示器为5位30mmLED高亮度显示器，白天夜晚均可清晰读数。配备高容量6v/10Ah可充电蓄电池电子吊秤电池一次充电可持续工作150小时。电子吊秤的优点：1. 电子吊秤配无线遥控器，操作方便。2.电子吊秤具有良好的动态称重性能，不因重物的晃动而影响称重结果。3. 电子吊秤开机、关机自动电压显示。4. 电子吊秤具有自动关机功能，可避免因忘记关机而造成电池损害。5. 电子吊秤钩环表面为镀铬处理，光洁防锈。6. 电子吊秤广泛用于冶金、起重吊装、纺织、化工、建材、叉车及铸造行业、仓库、港口、矿山、码头、工厂、货场的起吊场合。7. 电子吊秤设计坚固紧凑，融合了先进技术，具有极高的准确性和稳定性。能消除摇摆和侧扭现象，吊钩360度旋转，便用方便，安全可靠。

  • 【资料】电子数显量具的选购检定与维修

    电子数显量具的三个主要品种：电子数显卡尺、电子数显千分尺和电子数显指示表，由于其精度高、功能多、使用方便，日益受到用户欢迎，特别是近几年产品质量稳定，价格降低，电子数显量具新品种不断问世，市场需求急剧增长。 下面以电子数显卡尺和电子数显指示表为例，就电子数显量具的应用、检定和修理，予以简要说明。 一．电子数显卡尺的选购 目前在市场比较受欢迎的是带电子开关的三按键数显卡尺，三个按键分别是测量制式转换键、开关键和清零键。该电子数显卡尺在任意位置开关电源，测量原点（零点）不变。广陆公司的三按键数显卡尺，其显示窗口不是普通的有机玻璃，而是特殊石英玻璃，抗划伤能力强，用普通民用小刀划不伤。由于采用了模块式结构，维修十分方便。还可根据用户的不同要求，设计有各种选择功能或特殊使用性能的电子数显卡尺。 电路设计方面考虑的特殊功能有： 带记忆保持功能。在不方便读数情况下，按此键可将瞬间测量值记住； 可设置公差带。即可设置被测工件的上、下极限偏差值，可提示测量结果是否合格，如不合格，还指出是超上极限偏差值或超下极限偏差值； 可跟踪最大值。当测内腔尺寸如孔的直径时，用此功能就比较方便； 可跟踪最小值。当测外部尺寸如轴的直径时，用此功能则比较方便； 可预置数值。通常用游标卡尺圆弧内量爪测孔的直径，需将测量结果再加上圆弧内量爪的合并宽度尺寸，如果因疏忽忘记加上该尺寸，可能就造成废品。如果利用预置数值功能将圆弧内量爪的合并宽度尺寸预先设置，便可直接读出孔的直径数值，安全又方便； 从机械设计方面考虑的有： 镶硬质合金电子数显卡尺,该卡尺大大提高了量面的抗磨损性能； 齿厚电子数显卡尺,用于测量齿轮轮齿在固定弦上的厚度，量面亦镶有硬质合金； 螺纹电子数显卡尺,用于测量螺纹中径； 内沟槽数显卡尺,主要用于测物体内腔沟槽直径； 内槽宽数显卡尺,主要用于测量孔内沟槽宽度和沟槽的轴向位置，也可用带钩头的数显深度卡尺完成同样任务； 外沟槽数显卡尺,主要用于测量物体外部凹陷部位的尺寸或用于测不规则形状板状物体的厚度； 板厚数显卡尺,主要用于测量橡胶、海绵等较软物体的厚度，有时带有限制测力的结构； 伸缩爪数显卡尺,由于有一个测量爪可以伸缩，常用于测不等高局部表面在水平方向的距离； 中心距数显卡尺,主要用于测两孔的中心（轴线）距离，有锥形测头和圆柱测头两种。锥测头用于测孔口比较平整的两孔中心距离，圆柱测头的采取步进式读数测量方式，即：先测两孔内侧壁间的最小距离，固定右滑框，松开并移动左滑框使与右滑框接触，固定左滑框，再松开并移动右滑框，测两孔壁间的最大距离，此刻的读数为两次数值的叠加，由于该尺设计成具有的二分之一显示功能，即可直接显示两孔轴线间距离，详细情况请看使用说明书； 万向节数显卡尺,主要用于测万向节内沟槽尺寸及相互位置； 塑料数显卡尺,材质为碳纤维增强塑料或其它工程塑料的数显卡尺。此外还有用铝合金材料制造的数显卡尺等，主要用于要求防止被侧物体划伤及要求特别轻便的场合； 电子数字圆规,该类数显卡尺结束了长期以来生产现场使用盲规划圆的历史。上述种种专用电子数显卡尺，给不同场合的应用带来了许多方便。详细情况请向生产企业索取有关资料。 专用量具的选购或订货，应向厂家提供被测工件相关部位草图，标明被测尺寸及相关尺寸，以利于合理选择现有产品或设计制造比较特殊的专用电子数显量具。例如：选购内沟槽电子数显卡尺时，应标明孔内被测沟槽的直径或沟槽的单边深度、宽度，沟槽距孔口端面的距离及入口处孔口直径，以便于您的选购或厂家准确设计。

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