电子探针射线显微分析仪

电子探针简介：电子探针(EPMA)是用极细的电子束对样品表面进行照射产生特征性X射线，对特征性X射线进行分光和强度测定，得到微小区域的元素组成及样品表面元素浓度分布的分析装置。EPMA 采用波长色散型X 射线分光器（WDS），与能量色散型X 射线分光器（EDS）相比，具有高分辨率的特点。因此，EPMA与扫描型电子显微镜（SEM）配置EDS 检测器比较，可以进行更高精度和更高灵敏度的分析。 技术特点：岛津电子探针EPMA-1720系列优势在于传承52.5°的高X射线取出角技术，可以进行高灵敏度的X射线测定。高速稳定驱动的样品台，可以高精度设定分析位置和分析区域。配备各种自动功能和联动功能，电子束的设定简单易行。集多年分析经验于一体的控制?分析软件，实现了从数据采集到数据解析及报告制作的清晰易懂、操作便捷的良好操作环境。对于初学者，装备了从SEM 观察到定性分析?成图分析的简易可行的简单模式。数据浏览程序可以方便地进行数据的批次管理。

岛津场发射电子探针EPMA-8050G 开创新纪元——卓越的空间分辨率与超高灵敏度的完美结合 “The Grand EPMA” 诞生搭载最尖端场发射电子光学系统将岛津EPMA分析性能发挥到极致。从SEM观察条件到1μA量级，在各种束流条件下都拥有无与伦比卓越空间分辨率的尖端场发射电子光学系统。结合岛津传统的高性能X射线谱仪，将分析性能发挥至极致。 当之无愧的 “The Grand EPMA” ，最高水准的EPMA诞生！ [性能特点]● 卓越的空间分辨率电子探针可达到的最高级别的二次电子图像分辨率3nm（加速电压30kV），分析条件下No.1的二次电子分辨率。（加速电压10kV时20nm@10nA/50nm@100nA/150nm@1μA）● 大束流超高灵敏度分析实现3.0μA（加速电压30kV）的最大束流。可超高灵敏度进行超微量元素的面分析。并且全束流范围无需更换物镜光阑。● 高性能X射线谱仪秉承岛津电子探针颇具优势的52.5°X射线取出角。采用4英寸罗兰圆半径的分光晶体兼顾高灵敏度与高分辨率。可同时搭载5通道高性能X射线谱仪。分析性能更胜一筹。● 全部分析操作简单易懂全部操作仅靠一个鼠标就可进行的先进可操作性。追求「易懂」的人性化用户界面。搭载导航模式，自动指引直至生成报告。 ◎实现微区超高灵敏度分析的先进技术 1　高亮度肖特基发射体岛津场发射电子枪采用的肖特基发射体比一般传统SEM使用的发射体针尖直径更大，输出更高。即可以保持其高亮度，还可提供高灵敏度分析不可缺少的稳定大电流。 2　 EPMA专用电子光学系统电子光学系统，聚光透镜尽可能的接近电子枪一侧，交叉点不是靠聚光透镜形成，而是由安装在与物镜光阑相同位置上，具有独立构成与控制方式的可变光阑透镜来形成交叉点的。简单的透镜结构，既能获得大束流，同时全部电流条件下设定最合适的打开角度，将电子束压缩到最细。当然是不需要更换物镜光阑的。3　超高真空排气系统电子枪室、中间室、分析腔体之间分别安装有筛孔（orifice）间隔方式的2级差动排气系统。中间室与分析腔体间的气流孔做到最小，以控制流入中间室的气体，使电子枪室始终保持着超高真空，确保发射体稳定工作。4　高灵敏度X射线谱仪岛津场发射电子探针最多可同时搭载5通道兼顾高灵敏度与高分辨率的4英寸X射线谱仪。52.5°的X射线取出角在提高了X射线信号的空间分辨率的同时，又可减小样品对X射线的吸收，实现高灵敏度的分析。 [应用举例] 1. 岛津场发射电子探针EPMA-8050G检测：无铅焊锡焊料中Ag与Cu的分布对无铅焊锡焊料中大量含有Ag的区域进行面分析的数据。（加速电压：10kV；照射电流：20nA）Ag的X射线像中颗粒形状与BSE像（COMPO）的颗粒形状一致。直径约0.1μm的Ag颗粒也清晰可辨（红色虚线圈出）。同时可确认Cu颗粒的存在（黄色虚线圈出）。 岛津场发射电子探针EPMA-8050G应用数据 2. 岛津场发射电子探针EPMA-8050G检测：生物体组织中的金属元素 以下数据为EPMA捕捉到的肿瘤细胞中铂（Pt）元素图像，通过靶向给药将抗肿瘤药物卡铂（铂络合物）导入小鼠头颈部肿瘤组织中后进行分析检测。卡铂通过与癌细胞内的遗传因子DNA链结合，阻碍DNA的分裂（复制）以杀灭癌细胞，我们可以通过元素图像了解抗癌药物以何种形态进入癌细胞内。 岛津场发射电子探针EPMA-8050G应用数据

电子探针是电子光学产品中唯一进行准确定量分析的仪器，利用波谱的高分辨率和能谱的高速度，可以很快将材料中的成份进行精准分析。 详情请咨询捷欧路（北京）科贸有限公司各分公司。

电子光学仪器上发射的电子束与样品发生复杂的交互作用，产生各种信号，收集不同信号进行分析，可以获得样品的各种不同信息。软X射线分析谱仪就是通过采集样品上被激发出来的软X信号进行分析的仪器。它的能量分辨率为0.3eV，远高于能谱仪（EDS)和波谱仪（WDS）的分辨率；对轻元素的定量分析非常准确，比如B元素的检出极限可达20ppm；还可以进行元素价态分析。将扫描电镜从以侧重图像为主的仪器变身为图像、成分、价态均可清晰表达的超级分析仪器。也将电子探针的分析能力大幅度提升。 详情请咨询日本电子株式会社在中国的全资子公司捷欧路（北京）科贸有限公司及其各分支机构。

以场发射 (FE) 电子枪为特色的JEOL电子探针显微分析仪（ EPMA），带来了表面分析世界。JXA-8530F在继承了JXA-8500F的强力硬件（包括 FE 电子枪、电子光学系统和真空系统）的同时，采用电脑操作进行数据的采集和分析，实现了微区分析。友好的PC控制操作环境，使得在极高的放大倍数下能够便利地进行快速、便捷的分析。 - PC平台操作 - 用FE电子枪进行高空间分辨率成像 - “Click Point Analysis”功能和用户菜单（User,s recipe） - 先进的操作 - WD/ED组合系统

产品详情JXA-iHP100 电子探针显微分析仪 可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器，组合使用WDS和EDS，能提供无缝、舒适的分析环境。 产品规格：检测元素范围WDS：(Be)*1 /B～U, EDS：B～UX射线检测范围WDS检测的波长范围: 0.087～9.3nm,EDS EDS检测的能量范围: 20keV分光谱仪数量WDS: 1～5道可选、EDS: 1台最大样品尺寸100mm × 100mm × 50mm（H）加速电压0～30kV（以0.1 kV为步长）束流电流范围10-12 ～ 10-5 A束流电流稳定度5%/h, ±0.3%/12h（W）二次电子分辨率6nm（W）, 5nm（LaB6）*2（W.D. 11mm, 30kV）扫描倍率×40 ～ ×300,000（W. D. 11mm）扫描图像分辨率最大 5,120× 3,840彩色显示器EPMA分析用: LCD 1,280 × 1,024SEM操作、 EDS分析用: LCD 1,280 × 1,024光学显微镜分辨率～1um焦深1um真空系统机械泵、分子泵、离子泵 *2真空度样品室: 优于8.0 x 10-4Pa,电子枪: 优于9.0 x 10-5Pa 产品特点： 可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器，组合使用WDS和EDS，能提供无缝、舒适的分析环境。 日本电子新开发出的EPMA （电子探针）秉承近半个世纪的EPMA的发展历史，JXA-iHP100具备用户友好的操作、通过新式简单易用的PC 用户界面提供完整范围的高精度、快速分析，这是JEOL长年来对高可靠性硬件不断改良的结果。JXA-iHP100电子探针是下一代能完全满足多种需求的强力分析工具之一。 EPMA快速启动 点击任何一点，就能开始预设的EDS定性、定量分析或WDS分析。 用户菜单（User recipes） 能保存或调用经常使用的各种不同类型的样品分析条件，菜单中包括了全部的电子光学参数、EDS和WDS参数在内。 EDS 的性能 数字化脉冲处理器 全谱面分布(WD/ED, 样品台和电子束扫描) 无风扇SDD (选配)

日本电子JEOL场发射电子探针显微分析仪 JXA-iHP200FJXA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同时，追求每个人都能简单快速地使用好仪器。该仪器能更加有效地进行观察分析和操作，是更先进的一体化集成FE-EPMA。 产品规格：检测元素范围：WDS: Be＊1 / B to U, EDS: Be to U检测X-ray 范围：波长范围WDS: 0.087 to 9.3 nm能量范围EDS: 20 keV谱仪数：WDS: 最多5个可选, EDS: 1个最大样品尺寸：100 mm × 100 mm × 50 mm (H)加速电压：1 to 30 kV (0.1 kV steps)探针电流范围：1 pA to 3 μA探针电流稳定性：± 0.3％ / h, ± 1.0％ /12 h＊2二次电子像分辨率（观察模式）：2.5 nm二次电子像分辨率（分析模式下）： 20 nm（ 10 kV, 10 nA） 50 nm（ 10 kV, 100 nA）扫描放大倍率：×40 to 300,000 (W.D. 11 mm)扫描图像分辨率：Maxium 5,120 × 3,840产品特点：电子探针显微分析仪在钢铁、汽车、电子零件和电池材料等各种工业领域，作为研究开发和品质保证的分析工具被广泛使用，其用途越来越广。此外，在学术领域 ，地球空间科学、材料科学领域也在广泛使用，矿物等资源能源研究、各种新型材料研究等，期待在各种各样前沿研究中做出贡献。与此相应，在保持高局部微量元素分析性能的同时，追求每个人都能简单快速地使用好仪器。JXA-iHP200F能更加有效地进行观察分析操作，是更先进的一体化集成场发射EPMA。* EPMA是Electron Probe Microanalyzer简称◇ [Setting] 自动定位，准确安装样品台！迅速找到想观察的点！进样和获取样品台导航像一键完成。从导航像能够指定分析区域。◇ [Analysis] 充分的自动功能，谁都可以拍到高级的SEM像繁琐的设定也能对应，EPMA立马进行元素分析光学显微镜的自动聚焦功能与配备高精度/高速化新系统的SEM自动功能相结合，任谁都可以拍到高级的SEM像。【live Analysis】通过【live Analysis】能够在观察中进行筛选分析。初学者也能操作的【简单的EPMA】。用【EPMA-XRF integration】在XRF数据的基础上能够进行EPMA的条件设定。用【WD/ED integration】能够缩短分析时间。SEM、EDS、XRF、WDS、光学像的集成一体化提高了仪器的操作性能。 通过WD/ED integration，分析时间缩短的例子integration：用这些仪器推定的元素在一体化EPMA上可以一键设定分光晶体的组合◇ [Self Maintenance] 内置18种类校正样品，有效进行校正配置【分光器校正功能】减轻了定期进行分光器校正的作业而且也避免了校正样品设定时的人为失误；利用夜间对仪器进行校正，提高了工作效率。按照【维护通知功能】，在必要时期对仪器进行自我维护，保持设备最佳状态。 维护通知功能【客户支持工具】◇ 标配场发射电子枪能够在高倍率下获得高空间分辨率的SEM像和分析结果。在大电流下保持长时间稳定的热电子枪在短时间内分析微量元素的时候、整夜运行分析大量样品的时候显示出它的威力。

可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器，组合使用WDS和EDS，能提供无缝、舒适的分析环境。日本电子新开发出的EPMA （电子探针）秉承近半个世纪的EPMA的发展历史，JXA-8230具备用户友好的操作、通过新式简单易用的PC 用户界面提供完整范围的高精度、快速分析，这是JEOL长年来对高可靠性硬件不断改良的结果。JXA-8230电子探针是下一代能完全满足多种需求的强力分析工具之一。EPMA快速启动点击任何一点，就能开始预设的EDS定性、定量分析或WDS分析。用户菜单（User recipes）能保存或调用经常使用的各种不同类型的样品分析条件，菜单中包括了全部的电子光学参数、EDS和WDS参数在内。EDS 的性能数字化脉冲处理器全谱面分布(WD/ED, 样品台和电子束扫描)无风扇SDD (选配)产品规格检测元素范围 WDS：(Be)*1 /B～U, EDS：B～UX射线检测范围 WDS检测的波长范围: 0.087～9.3nm,EDS EDS检测的能量范围: 20keV分光谱仪数量 WDS: 1～5道可选、EDS: 1台，zui大样品尺寸 100mm × 100mm × 50mm（H）加速电压 0.2～30kV（以0.1 kV为步长）束流电流范围 10-12 ～ 10-5 A束流电流稳定度 5%/h, ±0.3%/12h（W）二次电子分辨率 6nm（W）, 5nm（LaB6）*2（W.D. 11mm, 30kV）扫描倍率 ×40 ～ ×300,000（W. D. 11mm）扫描图像分辨率 zui大 5,120× 3,840彩色显示器 EPMA分析用: LCD 1,280 × 1,024SEM操作、 EDS分析用: LCD 1,280 × 1,024*1: 需安装用于Be分析的选配分光晶体。*2: LaB6 为选配。

概述“The Grand EPMA” 诞生搭载最尖端场发射电子光学系统 将岛津EPMA分析性能发挥到极致从SEM观察条件到1μA量级，在各种束流条件下都拥有无与伦比卓越空间分辨率的尖端场发射电子光学系统。结合岛津传统的高性能X射线谱仪，将分析性能发挥至极致。当之无愧的“The Grand EPMA” ，最高水准的EPMA诞生！超高分辨率面分析对碳膜上Sn球放大3万倍进行面分析。即使是SE图像（左侧）上直径只有50nm左右的Sn颗粒，在X射线图像（右侧）上也是清晰可见。最尖端技术实现■ 无与伦比卓越的空间分辨率EPMA可达到的最高级别的二次电子图像分辨率3nm（加速电压30kV）分析条件下No.1的二次电子分辨率。（加速电压10kV时20nm@10nA/50nm@100nA/150nm@1μA）■ 二次电子图像最高分辨率3nm碳喷镀金颗粒的观察实例。实现最高分辨率3nm（@30kV）。相对较高的束流也可将电子束压细聚焦，更加容易的获得高分辨率的SEM图像。■ 大束流超高灵敏度分析 实现3.0μA（加速电压30kV）的最大束流。全束流范围无需更换物镜光阑。■ 最多可同时搭载5通道高性能4英寸X射线谱仪无人可及的52.5°X射线取出角。4英寸罗兰圆半径兼顾高灵敏度与高分辨率。最多可同时搭载5通道相同规格的X射线谱仪。■ 全部分析操作简单易懂 全部操作仅靠一个鼠标就可进行的先进可操作性。追求「易懂」的人性化用户界面。搭载导航模式，自动指引直至生成报告。超高灵敏度面分析使用1μA束流对不锈钢进行5000倍的面分析。精确地捕捉到了Cr含量轻微不同形成的不同的相（左侧），同时也成功地将含量不足0.1%的Mn分布呈现在我们眼前（右侧）。实现微区超高灵敏度分析的先进技术1　高亮度肖特基发射体 场发射电子枪采用的肖特基发射体比一般传统SEM使用的发射体针尖直径更大，输出更高。即可以保持其高亮度，还可提供高灵敏度分析不可缺少的稳定大电流。2　 EPMA专用电子光学系统 电子光学系统，聚光透镜尽可能的接近电子枪一侧，交叉点不是靠聚光透镜形成，而是由安装在与物镜光阑相同位置上，具有独立构成与控制方式的可变光阑透镜来形成交叉点的（日本专利：第4595778号）。简单的透镜结构，既能获得大束流，同时全部电流条件下设定最合适的打开角度，将电子束压缩到最细。当然是不需要更换物镜光阑的。3　超高真空排气系统 电子枪室、中间室、分析腔体之间分别安装有筛孔（orifice）间隔方式的2级差动排气系统。中间室与分析腔体间的气流孔做到最小，以控制流入中间室的气体，使电子枪室始终保持着超高真空，确保发射体稳定工作。4　高灵敏度X射线谱仪 最多可同时搭载5通道兼顾高灵敏度与高分辨率的4英寸X射线谱仪。52.5°的X射线取出角在提高了X射线信号的空间分辨率的同时，又可减小样品对X射线的吸收，实现高灵敏度的分析。无与伦比卓越的空间分辨率使用分析条件束流，引以为傲No.1的二次电子图像分辨率。（加速电压10kV时，20nm@10nA//50nm@100nA/150nm@1μA）。与原来的电子枪（CeB6、钨灯丝）的结果相比，一目了然。由于可用更大的束流得到与原来电子枪相同分辨率的图像，所以可进行超高灵敏度的X射线分析。 更加值得注意的是，束流为1μA时的SEM图像。能够得到1μA以上束流，而且可以压缩到如此细的只有EPMA-8050G。各种电子枪产生电子束的特性比较（加速电压10kV）大束流超高灵敏度分析场发射类型的SEM、EPMA可实现其他仪器所不能达到的大束流（加速电压30kV时最大3μA）。在超微量元素的检测灵敏度上实现了质的飞跃，将元素面分析时超微量元素成分分布的可视化成为现实。而且，所有束流范围内不需要更换物镜光阑，完全不用担心合轴，实现了高度自动化分析。面的3个图像为不同束流下，对不锈钢中约1%左右Si进行面分析的结果※。束流越大，偏差越小，越能更加清楚的确认包含Si的范围。※ 分析条件：加速电压10kV，积分时间50msec。分析花费时间约1小时。最多可同时搭载5通道高性能4英寸X射线谱仪

指间可及的电子探针显微分析仪自1958年开创电子探针微量分析以来，CAMECA已发布了几代产品，所有这些产品都被证明具有出色的分析性能和可靠性。新SXFive-TACTIS以此为基础，在用户友好的环境中提供增强的成像和定量分析性能。初学者/专家双界面 - 适用于多用户环境SXFive-TACTIS双界面设计，充分利用一个工具服务于不同的用户-。在初学者模式下，通过直观的触摸屏界面，可以轻松进行仪器配置、操作以及基本的成像和数据处理。在专家模式下，该界面专为熟练用户设计，他们可以访问不同的工具参数和软件选项。 增强的BSE成像，特别是在低电压下尤其明显SXFive-TACTIS配备了一个额外的BSE探测器，特别是在超低电压下，可提供卓越的图像质量（5 kV时的空间分辨率为15 nm或更好）。这种新型BSE低kV探测器使您能够快速、准确地识别样品中感兴趣的区域，从而充分利用功能强大的FE-EPMA，更好的检测痕量元素。 集成的EDS超映射SXFive-TACTIS配有一个完全集成的电子色散谱仪超映射模块，可以更快、更轻松地进行数据处理和分析。使用新EDS HyperMap模块，您可以收集每个像素的完整EDS光谱并同时提取定量结果。EPMA触手可及… … 凭借其独特、创新的触摸屏界面以及许多其他高效和易用的增强功能，SXFive-TACTIS使EPMA可触摸控制，同时具有出色的分析性能、分辨率或灵敏度。“X Live”功能允许一键采集实时WDS和EDS X射线图像，以复合或叠加模式快速生成而有用的样品成分概览完整的远程控制，包括SEM成像、允许用户从他们的智能手机、平板电脑或远程计算机上运行实验。ShuttleXpress是一款全新的符合人体工程学的控制器，可实现舒适高效的工作流程经过重新设计的全面在线帮助便于访问，用于在工具设置和分析过程中提供持续支持。

岛津场发射电子探针EPMA-8050G 开创新纪元——卓越的空间分辨率与超高灵敏度的完美结合 “The Grand EPMA” 诞生搭载最尖端场发射电子光学系统将岛津EPMA分析性能发挥到极致。从SEM观察条件到1μA量级，在各种束流条件下都拥有无与伦比卓越空间分辨率的尖端场发射电子光学系统。结合岛津传统的高性能X射线谱仪，将分析性能发挥至极致。 当之无愧的 “The Grand EPMA” ，最高水准的EPMA诞生！ [性能特点]● 卓越的空间分辨率电子探针可达到的最高级别的二次电子图像分辨率3nm（加速电压30kV），分析条件下No.1的二次电子分辨率。（加速电压10kV时20nm@10nA/50nm@100nA/150nm@1μA）● 大束流超高灵敏度分析实现3.0μA（加速电压30kV）的最大束流。可超高灵敏度进行超微量元素的面分析。并且全束流范围无需更换物镜光阑。● 高性能X射线谱仪秉承岛津电子探针颇具优势的52.5°X射线取出角。采用4英寸罗兰圆半径的分光晶体兼顾高灵敏度与高分辨率。可同时搭载5通道高性能X射线谱仪。分析性能更胜一筹。● 全部分析操作简单易懂全部操作仅靠一个鼠标就可进行的先进可操作性。追求「易懂」的人性化用户界面。搭载导航模式，自动指引直至生成报告。 ◎实现微区超高灵敏度分析的先进技术 1　高亮度肖特基发射体岛津场发射电子枪采用的肖特基发射体比一般传统SEM使用的发射体针尖直径更大，输出更高。即可以保持其高亮度，还可提供高灵敏度分析不可缺少的稳定大电流。 2　 EPMA专用电子光学系统电子光学系统，聚光透镜尽可能的接近电子枪一侧，交叉点不是靠聚光透镜形成，而是由安装在与物镜光阑相同位置上，具有独立构成与控制方式的可变光阑透镜来形成交叉点的。简单的透镜结构，既能获得大束流，同时全部电流条件下设定最合适的打开角度，将电子束压缩到最细。当然是不需要更换物镜光阑的。3　超高真空排气系统电子枪室、中间室、分析腔体之间分别安装有筛孔（orifice）间隔方式的2级差动排气系统。中间室与分析腔体间的气流孔做到最小，以控制流入中间室的气体，使电子枪室始终保持着超高真空，确保发射体稳定工作。4　高灵敏度X射线谱仪岛津场发射电子探针最多可同时搭载5通道兼顾高灵敏度与高分辨率的4英寸X射线谱仪。52.5°的X射线取出角在提高了X射线信号的空间分辨率的同时，又可减小样品对X射线的吸收，实现高灵敏度的分析。 [应用举例] 1. 岛津场发射电子探针EPMA-8050G检测：无铅焊锡焊料中Ag与Cu的分布对无铅焊锡焊料中大量含有Ag的区域进行面分析的数据。（加速电压：10kV；照射电流：20nA）Ag的X射线像中颗粒形状与BSE像（COMPO）的颗粒形状一致。直径约0.1μm的Ag颗粒也清晰可辨（红色虚线圈出）。同时可确认Cu颗粒的存在（黄色虚线圈出）。 岛津场发射电子探针EPMA-8050G应用数据 2. 岛津场发射电子探针EPMA-8050G检测：生物体组织中的金属元素 以下数据为EPMA捕捉到的肿瘤细胞中铂（Pt）元素图像，通过靶向给药将抗肿瘤药物卡铂（铂络合物）导入小鼠头颈部肿瘤组织中后进行分析检测。卡铂通过与癌细胞内的遗传因子DNA链结合，阻碍DNA的分裂（复制）以杀灭癌细胞，我们可以通过元素图像了解抗癌药物以何种形态进入癌细胞内。 岛津场发射电子探针EPMA-8050G应用数据

从软件到硬件凝结了新技术，铸就了新一代EPMA。岛津EPMA在保持了一贯的高灵敏度高精度高分辨率的基础上，又新增了简单易懂的操作性能，将电子探针功能发挥至极。既可满足初学者简易操作的需求，又能适合专家级的科研分析。 范围 分析元素：4Be~92U 发射源；W灯丝，CeBe灯丝 二次电子图像分辨率：6nm(W灯丝），5nm(CeBe灯丝） X射线取出角角度：52.5°，大限度减少X射线被吸收 分光晶体：全聚焦型 X射线谱仪：高灵敏度、高分辨率型

产品详情高灵敏度 高精度 高分辨率 「简单&bull 易懂的操作」 从软件到硬件凝结的技术，铸就了新一代EPMA。岛津EPMA在保持了一贯的高灵敏度高精度高分辨率的基础上，又新增了简单易懂的操作性能，将电子探针功能发挥较好。既可满足初学者简易操作的需求，又能适合专家级的科研分析。 设计的X射线分光器可以实现高灵敏度高精度分析，X射线取出角决定分析性能，52.5°高取出角更胜一筹 图为小孔穴中异物的分析实例。左下图为铁（Fe）、右下图为钛（Ti）的元素分布。因EPMA-1720具有高取出角，对表面凹凸明显的样品也能进行高精度分析。 从SEM观察到开始分析，简便易行，大幅度提高工作效率。 同一显示器上同时显示高灵敏度的光学图像和SEM图像 在同一个显示器上观察光学图像和SEM图像。 通过高灵敏度的CCD可以观察很暗的样品SEM图像和光学图像在同一显示器上，减少视线的移动 只需单击一下即可开始SEM图像观察只需点击【SEM AUTO】图标，就可以根据事先设定的条件进行SEM图像的观察 束流变换更加简单快速高精度，且保持聚焦只需选定束流目标值即可快速、高精度地自动设定束流通过联动控制，束流大小改变后也能保持图像聚焦状态

X射线显微分析仪（μXRF）XGT-9000应对外来物质分析和元素分布检测的解决方案。运用强大的“快速分析模式”和“细节分析模式”，对外来物质分析，XGT-9000作为单一一台仪器即能迅速完成筛查和形状确认。1外来物质分析的新生解决方案快速扫描结合图像处理的颗粒增强技术让外来物质分析非常容易。快速分析模式能够迅速筛查外来物质，细节分析模式进一步确认外来物质的形状。2快速、清晰、生动的元素分布成像检测时间的缩短和低背景元素分布分析成像大幅减少的总的分析时间3光学观察系统和X射线束独特的同轴设计确实保证了精确的微区分析新设计的光学系统具备两种照明方式—环状照明和同轴照明。无论是镜面样品还是凸凹不平的样品，通过这两种照明方式都能进行清晰的观察。细节摄像机可以调整工作焦距，像印刷电路板这样具有很大高度差表面的样品也能清晰地观察。4多种分析模式丰富的图像处理手段能够帮助获得精确地元素分布信息。通过多重元素分布像的叠加可以轻松获得共存元素及多种元素的分布图像。5XGT-9000技术规格

双探针扫描电子显微镜是一种将形貌表征技术（扫描电子显微镜）与电学测试技术（双探针电学测量系统）结合在一起的测试系统。双探针扫描电镜主要包括真空系统、电子光学系统、样品台和探针系统等四个组成部分，如图1所示。其中真空系统用于提供样品形貌表征和测试所需的真空环境，电子光学系统用于扫描电子成像，样品台可以提供特定的样品取向和温度控制，而探针系统可以提供样品电学测试所需的电极并且能够精确位移。通过以上各部分的精确配合可以实现低维纳米结构与微纳器件特性的局域物性测量。 图1 双探针扫描电子显微镜系统的示意图近年来，随着人们对低维材料光电特性研究的深入，对测试系统的成像分辨率、测量精度、温度变化、外场激发等条件要求越来越高。同时，该设备由于自身局限性以及部件老化问题，存在一些应用上的不足：1）电子光学系统的物镜直径达100mm，而工作距离只有0-20mm，因此探针竖直方向移动的空间十分有限，如图4所示；2）由于扩散泵的效率较低，而且工作寿命已达极限，因此腔体的真空度已经不能满足测量场发射等特性所需的真空条件；3）缺少研究材料光电特性的有效手段，而光电特性分析是研究材料的带隙特征的有效手段。技术创新完成后能够解决的具体科研问题及其意义改造后的双探针扫描电子显微镜系统可以解决原系统中高精度局域测量存在的诸多问题，具体可分为以下几个方面：（1）解决原系统成像分辨率低、对导电能力低的材料成像质量差的问题。宽带隙材料由于具有较高的击穿电压，电子饱和速率高等，是制备各种高功率、高频器件的理想材料。但是宽带隙材料的导电能力差，特别是对于纳米尺寸的材料，在电镜下的观察和定位较为困难。而且此系统组装年限较长，成像质量有所下降，对宽带隙材料的观察更为困难。通过改进电子光学系统可以有效提高对宽带隙材料的成像质量，有助于电学测试的定位。（2）解决原系统中探针定位精度低、可操控性差的问题。原系统物镜直径为100mm，而工作距离仅为0-20mm，电子光学系统物镜与样品之间空间较小，因此外加探针或者光路只能以接近水平方向靠近样品表面，样品的定位以及探针自由移动均受到非常大的限制。改造后的系统采用较小直径和较长焦距的物镜，样品上方空间增大，探针和光路能够以较小角度达到样品表面，增加了操作的自由度。同时新的探针系统位移精度增加，有助于低维纳米材料电学特性的测量。（3）引入新的光源后此系统可用于材料光电特性的测量，弥补了电子能带表征手段的不足。在半导体光谱的研究中，利用光激发的电子行为可以很好的表征材料的电子能带结构，因此引入激励光源可以更加有效的表征半导体材料电子能带的特征。同时，对于半导体晶体材料，不同晶面往往具有不同的光学和电学特性。利用探针的精确定位能力，可以研究微米乃至纳米尺寸半导体材料不同晶面的光电特性，避免了生长大面积晶体的技术困难。成果及应用领域 本项目通过对原系统的改造，提高了系统的成像分辨率、真空度和探针的精确定位能力，增大了探针移动的自由度，增添了激励光源，可以为纳米尺寸低维材料的场发射器件、光敏器件、能源器件等的物性测量提供服务。系统新功能的开发将会为固态量子、超导、纳米、表面、光学、半导体等多个领域中研究的开展起到重要的支撑与促进作用。

产品详情 搭载场发射电子光学系统 高分辨率面分析对碳膜上Sn球放大3万倍进行面分析。即使是SE图像（左侧）上直径只有50nm左右的Sn颗粒，在X射线图像（右侧）上也是清晰可见。 ■ 大束流高灵敏度分析 实现3.0μA（加速电压30kV）的束流。全束流范围无需更换物镜光阑。■ 最多可同时搭载5通道高性能4英寸X射线谱仪无人可及的52.5°X射线取出角。4英寸罗兰圆半径兼顾高灵敏度与高分辨率。最多可同时搭载5通道相同规格的X射线谱仪。■ 全部分析操作简单易懂 全部操作仅靠一个鼠标就可进行的先进可操作性。追求「易懂」的人性化用户界面。搭载导航模式，自动指引直至生成报告。 ■ 优良的空间分辨率EPMA可达到的二次电子图像分辨率3nm（加速电压30kV）分析条件下No.1的二次电子分辨率。（加速电压10kV时20nm@10nA/50nm@100nA/150nm@1μA） ■ 二次电子图像最高分辨率3nm碳喷镀金颗粒的观察实例。3nm（@30kV）。相对较高的束流也可将电子束压细聚焦，更加容易的获得高分辨率的SEM图像 高灵敏度面分析使用1μA束流对不锈钢进行5000倍的面分析。准确地捕捉到了Cr含量轻微不同形成的不同的相（左侧），同时也成功地将含量不足0.1%的Mn分布呈现在我们眼前（右侧）。 实现微区高灵敏度分析的先进技术1　高亮度肖特基发射体 场发射电子枪采用的肖特基发射体比一般传统SEM使用的发射体针尖直径更大，输出更高。即可以保持其高亮度，还可提供高灵敏度分析不可缺少的稳定大电流。2　 EPMA专用电子光学系统 电子光学系统，聚光透镜尽可能的接近电子枪一侧，交叉点不是靠聚光透镜形成，而是由安装在与物镜光阑相同位置上，具有独立构成与控制方式的可变光阑透镜来形成交叉点的。简单的透镜结构，既能获得大束流，同时全部电流条件下设定合适的打开角度，将电子束压缩到最细。当然是不需要更换物镜光阑的。3　高真空排气系统 电子枪室、中间室、分析腔体之间分别安装有筛孔（orifice）间隔方式的2级差动排气系统。中间室与分析腔体间的气流孔做到最小，以控制流入中间室的气体，使电子枪室始终保持着高真空，确保发射体稳定工作。4　高灵敏度X射线谱仪 最多可同时搭载5通道兼顾高灵敏度与高分辨率的4英寸X射线谱仪。52.5°的X射线取出角在提高了X射线信号的空间分辨率的同时，又可减小样品对X射线的吸收，实现高灵敏度的分析。

传统原位载台仅能够提供样品表面在拉伸或压缩情况下结构的变化，而搭载在X射线显微分析系统的原位拉伸载台则能够提供样品内部结构及物理性能变化的过程，通过结合X射线显微分析系统和具备原位加热或冷冻耦合功能的拉伸压缩系统则能够提供样品在力场及温度场条件下独特的三维原位分析能力。该系列原位载台系统专为X射线显微分析系统开发，能够提供拉伸及压缩功能，同时覆盖几N到20kN载荷范围，同时可以提供100Nm的扭转功能。低载荷载台应用领域覆盖纸张/包装材料、纤维材料、泡沫高分子材料、生物材料，高载荷载台则可满足金属材料、人工关节、汽车及引擎叶片等各类坚硬材料分析。在石油化工领域则可以用来分析岩心样品，我们的用户还进行了液体环境下岩心样品分析。该系列载台依旧可以提供3点及4点弯曲夹具，以及压缩夹具选择。通过采用基于Windows操作系统的软件进行精准控制，载台与控制电脑通过USB或RS-232接口进行连接。同时也可以提供单独加热或冷冻载台，该类载台可以用来分析冷冻样品或进行原位变温实验。l 加载范围 20kN/0.1KNml 拉伸，压缩，扭力l 加热&冷却l 液体&气体氛围腔室应用领域：低载荷载台应用领域覆盖纸张/包装材料、纤维材料、泡沫高分子材料、生物材料，高载荷载台则可满足金属材料、人工关节、汽车及引擎叶片等各类坚硬材料分析。在石油化工领域则可以用来分析岩心样品，我们的用户还进行了液体环境下岩心样品分析。CT5000原位载台系统在地质材料中的应用作为UGCT联合创始人的Veerle Cnudde教授领导的地质材料多尺度孔隙结构分析课题（PProGRess），其研究组利用该技术对地质材料中多尺度孔隙结构变化过程的研究来进行岩石在地质运动及成藏反应中显微结构的变化及演进过程分析。UGCT实验室的X射线显微分析系统搭载了Deben CT5000原位拉伸/压缩载台，得益于该载台能够让Veerle Cnudde教授的实验方案得以实施。咨询Veerle Cnudde教授为什么选择Deben的CT5000原位载台，其回答到：“CT5000系列原位X射线载台系统作为为数不多的原位载台系统，其强大的适配性能够完美满足我们不同类型的实验需求，目前该载台能够实现在高载荷条件下岩石不会炸裂开，结合提供多种定制化夹具设计能力，则能够提供满足不同尺寸及不同拉伸距离所需的样品夹具，这是也目前为什么UGCT实验室两台X射线显微分析系统均配备CT5000系列原位载台系统的原因。”CT20kN开放式拉伸载台系统在奥本大学安装测试成功美国阿拉巴马州奥本大学安装了Deben开放式原位拉伸载台，该载台可以实现拉伸、压缩和扭转测试，能够施加高达20kN的力，专为同步加速器和X射线显微成像系统设计的，该大学将开放式原位拉伸载台与其Pinnacle型号PXS-500/90 CT系统集成在一起，并已经计划在新的开放框架系统上运行一系列原位载荷测试。CT5000原位载台系统在均质材料研究中的应用Fredrik Forsberg博士是瑞典吕勒奥理工大学工程科学与数学系的副高级讲师，他在X射线显微成像实验室的研究目标是开发新的方法和新的分析工具来帮助更好地了解异质材料以及它们在不同环境和不同空间尺度下的物理行为。Forsberg博士描述了他最近使用这种实验装置的一个项目：“我们非常自豪的分享最近的一项对微尺度雪晶体的3D定量原位成像研究，以及它们对压缩载荷测试的反应。这项研究相当具有挑战性，需要大量的仔细规划，但目前实验结果非常好。如果没有Deben公司CT5000TEC原位载台系统，这些测量将很难实现，因为它们需要精确、同时控制机械负载和温度（冷冻能力）。以前，我们主要使用自己构建的测试载台，但是这些都没有温度控制，同时使用Deben原位载台系统的另一个巨大好处是非常方便使用不同载荷传感器，这些载荷传感器可以根据材料强度和应用需求进行选择。此外，该软件界面易于使用，并得到蔡司Scout and Scan软件的支持，该软件用于控制型号为Versa的X射线显微镜。”

电子探针是电子光学产品中唯一进行准确定量分析的仪器，利用波谱的高分辨率和能谱的高速度，可以很快将材料中的成份进行精准分析。 详情请咨询捷欧路（北京）科贸有限公司各分公司。

电子光学仪器上发射的电子束与样品发生复杂的交互作用，产生各种信号，收集不同信号进行分析，可以获得样品的各种不同信息。软X射线分析谱仪就是通过采集样品上被激发出来的软X信号进行分析的仪器。它的能量分辨率为0.3eV，远高于能谱仪（EDS)和波谱仪（WDS）的分辨率；对轻元素的定量分析非常准确，比如B元素的检出极限可达20ppm；还可以进行元素价态分析。将扫描电镜从以侧重图像为主的仪器变身为图像、成分、价态均可清晰表达的超级分析仪器。也将电子探针的分析能力大幅度提升。 详情请咨询日本电子株式会社在中国的全资子公司捷欧路（北京）科贸有限公司及其各分支机构。

肖特基场发射电子探针PlusJXA-8530F Plus采用浸没式肖特基场发射电子枪,优化了角电流密度，能利用2 μA以上的大探针电流进行分析，还提高了分析条件下的二次电子像的分辨率。高级软件新开发了多种基于Windows操作系统的软件，其中包括：能使痕量元素分析更加简便的“痕量元素分析程序”、能自动制作相图的“相图制作器”以及只需简单输入就能对表面凹凸不平样品进行测试的“不平坦样品的分析程序”等。灵活的WDS配置X射线波谱仪可以选择140 R或100 R罗兰圆， 罗兰圆半径为140 mm的XCE/L型X射线谱仪检测范围宽，波长分辨率高和P/ B比优异，100 mm的H型X射线谱仪具有X射线衍射强度高的特点，可以根据需要选择使用。WDS/EDS组合系统JXA-8530FPlus标配了JEOL制造的30平方毫米 SD检测器（以下简称SD检测器），凭借高计数率的SD检测器，在与WDS相同的分析条件下可以进行EDS分析，通过简单的操作就能采集EDS谱图。强力、清洁的真空系统高强力真空系统包括两台磁悬浮涡轮分子泵， 镜筒内还采用两个中间室，通过差动抽气保持电子枪室的高真空。软X射线分析谱仪 (SXES)SXES (Soft X-Ray Emission Spectrometer)软X射线分析谱仪是日本东北大学多元物质科学研究所（寺内正己教授）和日本电子株式会社共同开发的的高分辨率软X射线分析谱仪。 新开发的变栅距衍射光栅(VLS）和高灵敏度的CCD相机组合，同时检测Li-K系谱线和B-K系谱线，该谱仪实现了极高的能量分辨率，因而能进行化学结合状态分析等。miXcroscopy （关联显微镜)miXcroscopy 光学显微镜/扫描电子显微镜关联系统能批量登录光学显微镜指定的坐标数据作为EPMA的分析点，该系统最适合于需要用光学显微镜决定分析位置的样品。多功能样品室样品室的可扩展性强，配备了样品交换室，可以安装各种附件。可以安装的附件：电子背散射衍射系统（EBSD）阴极荧光检测系统软X射线分析谱仪不暴露在大气环境下的转移舱高蚀刻速率的离子源

软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度Ｘ射线CCD相机，实现了极高的能量分辨率。 和EDS一样可以并行检测，并且能以0.3eV(费米边处Al-L基准)的极高能量分辨率进行分析，超过了WDS的能量分辨率。产品规格能量分辨率0.3eV（Al-L 光谱图73eV处测试）获取能量范围：衍射光栅JS50XL的能区50-170eV获取能量范围：衍射光栅JS50XL的能区70-210eV分光谱仪艙安装位置：EPMA的WDS接口：NO.2接口（正面右侧）FE-SEM的WDS接口（正面左后侧）分光谱仪尺寸　W 168mm×D 348mm ×H 683mm* 从接口包括CCD的距离分光谱仪重量　25kg适用机型EPMA ： JXA-8530F, JXA-8230, JXA-8500F, JXA-8200SEM ： JSM-7800F, JSM-7800 Prime, JSM-7100F

Thermo Fisher Scientific ESCALAB Xi+是新研发出的一款基于ESCALAB 250Xi产品后，具有可扩展功能、多种分析技术集成化的测试手段。该产品通过无与伦比的灵活性、完备的专业配置选项、直观的软件操作以及硬件配置，带给用户的是领先的的实验结果和生产力。强大的Avantage数据系统提供系统控制、数据采集、数据处理与系统运行报告等一站式服务。入围优秀新品获奖理由：先进的成像探测器设计，用于定量XPI成像： 电子倍增器和电阻阳极探测器的双探测器设计，可实现高性能的XPS采谱和高空间分辨的XPS成像的需求。空间连续的电阻阳极探测器创新技术，一方面使得XPI成像分辨率达1um，另一方面使得XPI成像得到数据无探测器背底特征，无需背底校正，直接得到微米尺度分辨的定量元素分布成像结果。 可选配的EDS探测器，实现体相分析技术和表面分析技术的结合： 新设计Xi+系统可选配EDS探测器与俄歇电子枪结合，可实现样品纳米尺度的体相微区元素成分分析，EDS可探测微米深度的元素组成，可以用于材料深度剖析前的元素组成预判。体相敏感的EDS技术和XPS表面分析技术的结合可更直观地用于研究合金等的表面偏析行为。 标配的反射电子能量损失谱REELS分析技术，用于弥补UPS能带分析和XPS元素分析： REELS可以探测材料的能级和带隙结果，并可用于材料中H元素含量的定量。与UPS技术结合可了解完整的价带导带信息，并弥补XPS、AES等技术不能检测H元素含量的缺陷 发展的系列基于Xi+的成熟准原位样品处理、制备、反应系统: 基于Xi+，设计的一系列成熟的ALD、MBE样品制备系统，高温高压催化还原反应系统和样品退火系统，满足不同的科研项目需求。配备为提供最佳 XPS 性能而设计的单色化X射线源，确保ESCALAB Xi+ X 射线光电子能谱仪 (XPS) 微探针有最高的样品测试通量。多技术能力、一系列灵活的样品制备室及样品处理设备，使该仪器在解决任何表面分析问题时都能游刃有余。利用先进的 Avantage 数据采集和处理系统，从测试数据中挖掘尽可能多的信息。ESCALAB Xi+ X 射线光电子能谱仪 (XPS) 微探针的特点：高灵敏度能谱小面积 XPS深度剖析能力角分辨 XPS标配离子散射能谱 (ISS)功能标配反射电子能量损失谱 (REELS)功能标配“样品预处理”室多技术分析的多功能性多个样品制备技术可选全自动无人值守式分析多样品分析单色化X射线源双晶体微聚焦单色器配备一个 500 mm 直径的罗兰圆，使用铝阳极靶样品 X 射线光斑尺寸可选择范围为 200 至 900 μm透镜、分析仪和检测器透镜/分析器/检测器一体化使 ESCALAB 250Xi XPS 能谱仪同时具备成像和小面积 XPS 分析能力的独特性两种类型的检测器可以确保为每种分析提供最佳检测——二维检测器用于成像，基于通道电子倍增器的检测器则用于需要检测高计数率的能谱分析透镜配备了两种电脑控制的光阑组件，一套视场光阑用于控制低至 20 μm 的分析区域，适用于小面积分析；另一套光阑则用于控制透镜的接收角，对于高质量角分辨 XPS 至关重要180° 半球型能量分析器深度剖析数控式 EX06 离子枪是一款高性能的离子源，哪怕在使用低能离子源时也有着很好的性能提供方位角样品旋转多技术能力可配备其他分析技术而不降低 XPS 检测性能使用 EX06 离子枪时透镜组和能量分析仪的电源可反向（确保离子散射能谱 (ISS) 可用）电子枪可加压升至 1000 V，为 REELS 提供优异的离子源技术选项非单色化 X 射线光源的XPS分析AES（俄歇电子能谱）UPS（紫外光电子能谱）真空系统5 mm 厚高导磁 金属分析室，最大程度提高磁屏蔽效率与使用内部或外部屏蔽的方法相比，屏蔽效能更佳样品制备系统标配一体化的快速进样室和制备室额外的制备室可选Avantage 数据系统集成了测试分析的所有方面，包括仪器控制、数据采集、数据处理和报告生成允许远程控制，并且可轻松与第三方软件交互（例如 Microsoft Word）管理从样品载入到报告导出的整个分析过程

皮肤镜多少钱一台？医用皮肤镜价格？医用CBS医用皮肤镜数码显微分析仪厂拿货价多少？国内专业医疗器械供应商-金鑫谷科技，可大量提供医用皮肤镜，皮肤镜，皮肤检测仪，皮肤显微镜，cbs数码显微分析仪等，售后服务体系完善，证件齐全，可授权招标，您来电可免费获得产品彩页小册子等资料。现在很多权威的医院皮肤美容科室和美容机构，都会购置一台医用皮肤镜，这是为什么呢?首先：促进业务转化，提升业绩1、促进医生与患者的沟通和信任；2、对治疗项目的媒介和引导；3、治疗效果的验证；第二：使用专业医用皮肤镜可以减少误判、规避风险 是寻常痣、还是恶性黑色素瘤？ 是红血丝局部病变还是非色素性基底细胞癌？ 是血痣、蜘蛛痣还是血管瘤？ 是日光性黑子还是恶性黑色素瘤？ 是普通的过敏还是慢性湿疹第三：数码显微分析仪对于常见色素斑的有效评估如雀斑、黄褐斑、咖啡斑、颧部褐青色痣等的有效甄别有助于在诊治中进行有针对性的诊治（不同性质的治疗方案）第四：美容项目的评估痤疮发炎情况、红血丝分布、瘢痕面积测量，毛孔的大小、皮肤油分含量、水分、色素含量，皮肤颜色变化、胶原蛋白纤维评估第五：面部常见损容性疾病的辅助诊断雀斑、日光性黑子、黄褐斑、咖啡斑；先天性痣、太田痣、颧部褐青色痣、恶性雀斑样痣；色素痣、 脂溢性角化、基地细胞癌等；血管瘤、扁平疣、日光性角化；其他：激素依赖性皮炎、白癜风、黑皮病等；CBS-908医用皮肤检测仪产品简介CBS-908医用皮肤镜是国内最先获得注册证的数字化皮肤检测仪，鄂械注准:20152222204，CBS-908医用皮肤镜采用偏振光技术，使用高清交叉偏振光技术对病患进行观察,有效地排除了皮肤表面反射光的干扰，可以观察到表皮、表皮真pi交界处和真浅皮层内的厚度变化、颜色发展变化等等。目前临床上运用的广泛、科学、严谨，并且经过国家食药监局检测通过的设备，以50X交叉偏振光技术为主要检测手段，皮肤各类疾病，以及大部分色素恶性瘤的诊断，都为以此技术拍摄的图片为诊断依据。目前CBS皮肤毛发镜，交叉偏振光可高达220X。皮肤镜组成：1. 数码显微分析仪组件2. CBS皮肤影像管理系统V1.03. 触摸电脑工作站4. 金属转向台车5. 彩色打印机更多产品信息，欢迎您致电咨

超高真空低温四探针扫描探针显微镜美国RHK Technology 成立于1981 年。作为SPM 工业中的领军仪器制造商，RHK-Technology 始终保持着鲜明的特色：创新性、可靠性、产品设计的开放性与的客户支持。凭借着其优异的系统设计、精良的制造工艺、再加上与著名科学家的紧密合作，二十多年来RHK Technology 源源不断地向全科学家们输送着先进的、高精度的科学分析仪器。变温QuadraProbe UHV 4-探针SPM系统是RHK公司生产的多探针UHV SPM系统中的一种，该系统提供了多种分析功能、配备了多个超高真空室和相应的电子控制单元与软件，可以大地满足客户全面的研究应用需要。基本系统中提供了低温4探针扫描隧道显微镜（SPM），扫描电子显微镜（SEM），样品准备室和用于传输样品和针的快速进样室。其他的设备如扫描俄歇显微镜（SAM）也可选配以满足客户特别的研究需要。技术参数：- 样品温度：10K（LHe）； 80K（LN2）- 扫描范围：1.5μm（300K）；500nm （10K）- X，Y，Z粗进针：±1.5mm/step motion- 样品定位精度：±1.5mm- STM分辨率：四个探针均可实现HOPG的原子分辨- SEM分辨率：小于20nm- 针材料：钨或者铂、金等金属修饰的钨针。 主要特点：- 四个探针都能实现原子分辨；- 真正的样品和针低温操作（10K），得到佳的高分辨谱图；- 探针与样品立地传输与准备；- 所有探针具有先进的控制操作；- 用户可编程控制的开放性控制环境；- 制冷采用Bath Cryostat构造，大地减少了液氦的消耗；- 可升到非接触式AFM；- 样品台处配有可选择的超导磁体；- 通过光纤实现样品的光学激发。

RTI black piranha557 多功能X射线分析仪RTI black piranha557 多功能X射线分析仪专为射线照相，透视，牙科和CT应用而设计。它测量kVp，时间，剂量/剂量率，HVL和总过滤。包括用于可选配件的静电计输入。真正快速一切都在闪现！黑色的Piranha很快，海洋软件很快，因此您的每日QA工作将快速进行。海洋可以在测量过程中进行即时实时分析。海洋还会在背景中准备一份报告。所以当工作完成后，如果你想要一个完整的工作报告 – 只需按打印！在测量过程中使用平板电脑/笔记本电脑作为交互式显示器，当您返回办公室时，可将其用作强大的分析工具。您的所有测量结果以及结果和报告将存储在平板电脑或笔记本电脑中。在一天结束时没有不必要的，耗时的数据传输。简单插上播放一切都会自动发生 – 只需插入即可播放。快速检查几乎可以感受到你要做的事情。快速检查功能可识别您的探头，并为您的测量选择最佳的Piranha设置。它也可以被编程为始终 从您通常开始您的QA工作的那种设置开始。在你开始之前，你真的没有太多的想法 – 坐下来，让Piranha做工作！RTI black piranha557 X射线分析仪在测量期间，您只能在平板电脑或笔记本电脑上看到所需的值，但是由于Piranha继续在幕后工作，因此您可以随时访问每个测量的所有数据。这使您能够执行趋势分析和研究每个X射线设备的历史 – 甚至在您完成测量后的几个月。RTI black piranha557 X射线分析仪即时完成QA解决方案Piranha可以随时随地使用您需要的所有内容。它真的是一个一体化的多功能仪表。连接到您的计算机无线或通过USB，您有一个完整的QA系统！可用的Piranha型号可确保您只需支付所需的费用。随着您的需求的增长，您可以无限制地升级您的Piranha。位置检查Piranha具有独特的功能，可以在测量前检查检测器的位置。通过使用“位置检查”功能，可以验证检测器区域是否完全照射。可能的场不均匀性也被中和。RTI剂量探针RTI剂量探针是外部剂量探针，设计用于执行非常低的剂量率测量，例如图像增强剂。 为了避免或最小化对X射线设备上的AEC（自动曝光控制）的干扰，探头非常小。这也使得它能够将其装入桌子中。由于它是固态检测器，因此不需要对压力或温度进行校正。也不是偏置电压。具有外部剂量探头的额外的普通灵敏度，甚至适用于散射和泄漏测量。3）RTI black piranha557 X射线分析仪主要特点：• 一体化多功能X射线仪• 用于乳房X线照相术，放射成像，CT和牙科的单次HVL• 固态检测器=无需补偿温度和压力• 可以在扫描光束以及断层合成测量中进行测量• 针对大量制造商的X射线设备进行了优化• 内置能量补偿• 可与离子室一起使用• 广泛检测全过滤• 100米蓝牙范围• 独特的探测器设计，可最大限度地减少位置和旋转依赖性• 自动识别外部探头• 小巧紧凑，坚固 – 易于放置• 背散射保护• 持久的充电电池• 无铅• 始终免费固件升级• 固件可通过Internet或CD轻松更新• 可升级到任何所需型号• 最多10年保修• 2年校准周期

存在一系列不同的分析技术，以便从代表单一矿物相的较小区域获取地球化学信息。最常见的分析技术基于电子束（e-beam）源，即电子探针微分析仪 （EPMA） 或带有能量分散光谱仪的 SEM（SEM - EDS).同样，Micro-XRF 分析可被视为电子束激发的补充技术，它也提供小区域样本信息。Micro-XRF 基于光子激发，样品会直接通过 X 射线 （(X-Ray-beam） 发生作用，与传统的基于电子束的系统相比，X 射线束具有明显的差异。现代 X 射线多面体光学的可用性使 X 射线能够聚焦到小于 30μm 的点大小，并且所有光片都包含在XTrace，可安装在可用SEM端口上的XRF源（图1）。这导致显微镜系统具有双光束的潜力，即电子束和X射线束。因此，可以使用与电子束系统类似的参数操作 Micro-XRF 系统，从而产生与传统点 SEM-EDS 分析相媲美的结果，同时从 X 射线光束样本相互作用中获取其他信息Micro-X射线荧光（Micro-XRF）光谱分析是利用扫描电子显微镜（SEM）对传统能量分散光谱（EDS）分析的一种互补的无损分析技术。这种分析对于在未知样本中描述元素成分非常重要，从大厘米大小的同构标本到小微米颗粒。X 射线激发对微量元素检测（某些元素的灵敏度低至10ppm）、扩展的 X 射线光谱范围（高达 40 keV）以及样本中更深入的信息具有更高的灵敏度。配备 X 射线管，结合微聚焦 X 射线光学，可产生30μm的小点大小，具有高强度信号产额。模块化的压电陶瓷piezo-based stage，专门设计安装在现有的SEM阶段之上，使高速元素X射线秒扫描mapping"“on the fly"大面积高达4毫米/秒的速度。这使X射线映射数据能够在50 x 50 mm（或更高）的样本大小上采集，将光元素光谱数据以及微量元素和/或更高能量X射线数据整合到快速且用户友好的工作流中。X射线激发的更大深度允许多层系统从1纳米开始，范围高达40μm，这是不可能被电子激发出来的。

高分辨微焦点X射线成像分析仪一、概述X-viewer 作为平生公司一款科研级微焦点X射线数字成像产品，以其优异的硬件性能精湛的图像算法和成熟的处理软件，满足了各个高端科研领域用户对于非破坏结构成像的多样化需求，丰富的档位兼顾了空间分辨率和更宽广的观测视野需求。设备融入了公司十余年来在分子影像设备研发和应用上的宝贵经验，面世以来收获了广泛的认可和高度评价。X-viewer 具有快速成像特点，分辨率高、信息量大、目标辐射损伤小、运行及维护成本低、安全性高等一系列优点。在生命科学领域，可以快速观察动植物体内的组织和结构，快速诊断或评价；也可作为Micro CT预实验、快速筛查等的补充设备，可列装于各大高分辨无损结构成像的实验室。全屏蔽设计的机身已通过出厂安规检测，搭配可移动承重平台，使用更安全，操作更简便。二、应用领域• 小动物活体成像：大小鼠/啮齿类小动物研究（骨骼、骨质、钙化点、关节炎症、肺部病变、肿瘤、心脑组织及血管的造影）。• 离体组织成像：颅脑、口腔、齿科研究，离体骨骼或组织造影观测。• 水生生物（包括海洋生物）的研究：鱼类、两栖类水生生物表型研究，水产养殖过程中的个体差异性研究等• 植物及农业学：种子筛选及评估，研究病虫害或其他外力损伤对种子萌发的影响；提供中草药品质品性的图像甄别依据；为部分研究农业昆虫的用户提供高分辨昆虫内部结构图像。• 验室无损检测：在体生物材料成像、珠宝杂质测、医疗器械检测、PCB失效性检测等。• 已装有Micro-CT的用户，可搭配X-viewer使用，为Micro-CT提供预实验，提高效率。三、产品特点• 2-15秒，实现快速拍摄、即时出图极短的拍摄时间，尽量降低对实验动物的曝光剂量，实现真正无损、快速成像。• 超高分辨，展现更多结构细节采用微焦点X射线源，搭配高清平板探测器，1-40倍多级放大设计，实现微米级的图像分辨率，展现更加丰富的细节。• 更大的成像视野选用大尺寸平板探测器，可以对兔子、猫等活体小动物全身成像。• 强大便利的图像软件自识别目标档位，测量参数自动匹配，多种测量、标注、图像处理功能，应用于不同目标物体（如小动物、离体标本、水生生物、植物农业、珠宝、电子器件等）的多种场景拍摄。提供多种图像处理效果，操作结果可实时保存并导出，保障数据可靠性。• 使用安全和便利性设备曝光工作时，任意表面辐射剂量1μSv/h——达到本底辐射水平。操作人员无需专业的X射线知识，简单培训即可使用设备。• 产品稳定、维护简单产品设计优良、性能稳定，维护成本低；同时，厂家具备完善的售后服务体系。?四、图像案例1.小动物活体成像 2.组织与离体标本 ?3.水生生物学研究 4.农业与植物学 5.其他无损检测五、售服平生医疗科技（昆山）有限公司（简称“平生”）是国内临床前分子影像科研设备的领航开发制造商，也是国内在生命科学领域生产并推广高分辨全景X射线成像分析仪的厂家。平生旗下的临床前分子影像产品自推出市场以来，已有诸多成功装机客户，设备的性能和可靠性得到了客户的认可。同时，平生总部在昆山、子公司在上海，全国七大中心城市设有办事处，拥有自己的售服工程师团队，能为客户提供及时有效的售后响应。高效的售服保障、良好的性价比以及产品的性能可满足客户实验要求：• 重要指标如空间分辨率达到国际同类产品的前沿水准• 与进口同类产品相比，售服响应更有保障、服务质量更有优势• 厂商可提供定制化服务，发挥了国产制造商的优势• 售价合理，并能公开透明设备的维修零部件价

一、 供应低温增压装置的用途特点：为复杂狭窄的系统提供冷却液，适用于电子探针X射线显微分析仪、电子显微镜等大型精密仪器的冷却。●制冷压缩机采用日本品牌产品。●进口叶片泵，可保证流量、压力稳定。●压力可调，可根据客户需要调节压力。●装有压力表，便于直接观察压力。 二、 供应低温增压装置技术参数： 型号DLSB-G1010温度范围（℃）-10～常温制冷量（W）600～1860控温精度（℃）±2循环泵性能功率（W）250压力（Mpa）1.2流量（L/min）≥7储液槽容积（L）10环境温度范围（℃）5～25电源（V/H）220/50整机功率（W）1000外形尺寸（mm）490L×360W×800H

一、 供应低温增压装置的用途特点：为复杂狭窄的系统提供冷却液，适用于电子探针X射线显微分析仪、电子显微镜等大型精密仪器的冷却。●制冷压缩机采用日本品牌产品。●进口叶片泵，可保证流量、压力稳定。●压力可调，可根据客户需要调节压力。●装有压力表，便于直接观察压力。 二、 供应低温增压装置技术参数： 型号DLSB-G1010温度范围（℃）-10～常温制冷量（W）600～1860控温精度（℃）±2循环泵性能功率（W）250压力（Mpa）1.2流量（L/min）≥7储液槽容积（L）10佳环境温度范围（℃）5～25电源（V/H）220/50整机功率（W）1000外形尺寸（mm）490L×360W×800H

一、 供应低温增压装置的用途特点：为复杂狭窄的系统提供冷却液，适用于电子探针X射线显微分析仪、电子显微镜等大型精密仪器的冷却。●制冷压缩机采用日本品牌产品。●进口叶片泵，可保证流量、压力稳定。●压力可调，可根据客户需要调节压力。●装有压力表，便于直接观察压力。 二、 供应低温增压装置技术参数： 型号DLSB-G1010温度范围（℃）-10～常温制冷量（W）600～1860控温精度（℃）±2循环泵性能功率（W）250压力（Mpa）1.2流量（L/min）≥7储液槽容积（L）10佳环境温度范围（℃）5～25电源（V/H）220/50整机功率（W）1000外形尺寸（mm）490L×360W×800H