智能型发射率测试仪

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智能型发射率测试仪相关的厂商

  • 上海芸尖智能科技有限公司
    上海芸尖智能科技有限公司是一家以技术研发、技术创新、应变设计、智能生产、厂家直售、跟随服务为一体的高新技术企业，自主创新，高校研发，探索研发，始终是公司经营战略。目前拥有各种温度段的黑体研究，论证，实践和应用技术。本公司黑体发射率高，产品种类全、温度范围广，工作温度为-50℃～3200℃。黑体辐射源的温控系统采用先进的AI人工智能算法控制技术，具有精度高、稳定性好的特点，温度校准和修正方便等。? ? 我司黑体技术累积应用十余年，用户遍布全国各行各业，科研院所、计量所、国防大学、航空航天、军工安防、钢铁、铁路、汽车、电力、红外热像等行业都有广泛运用，成功案列数不胜数。 我司将一如既往地严守信誉，严保质量，为您提供优质的产品和服务。希望与您携手共创美好明天，打创国产替代！ 公司愿景：让员工拥有自己的事业，让公司成为自己的家，为社会创造价值做一个充满责任感的制造业核心企业 。 坚持质量是企业命脉。
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  • 北京华瑞森科技发展有限公司
    北京华瑞森科技发展有限公司 是一家集技术推广、销售和技术服务于一体的高科技企业，公司设有高效的业务职能机构、完善的服务体系，迅速为您提供优质的产品和热情周到的服务。北京华瑞森科技发展有限公司 致力于核辐射检测仪器及辐射防护用品、辐射监测系统工程、射线防护材料、远红外线发射率检测仪器、 核医学仪器（井型NaI咖玛计数仪、多功能核放射性检测仪、活度计，个人剂量报警仪，Xγαβ辐射仪等）、医疗器械、实验仪器、环保核辐射仪器设备等研发销售，我们以科学严谨的工作态度，服务于科研、医疗教育、环保、检验检疫、疾控中心、军警、安防等诸多行业，服务于社会。北京华瑞森科技发展有限公司 专业维修德国R280型手持式αβγX多功能放射性检测仪，GAMMA-SCOUT多功能数字核辐射仪，维修900型数字核辐射仪， 维修美国Alert型αβγ和X辐射检测仪，专业维修Inspector Radalert 100、Inspector Alert、Inspector EXP、Monitor 4辐射检测仪
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  • 菲希尔测试仪器（中国）有限公司 白金9年
    400-801-9315
    FISCHER — 让测量变得简便！ 现今，FISCHER 的测量和分析仪器广泛应用于世界各个领域，可满足客户对高精度、高可靠性测量和操作简便的需求。我们通过专业的咨询服务为客户提供最佳的解决方案，即从第一次接触开始，不断沟通，直至达到定制化服务的理念。这些紧密合作与我们的创新驱动力不断结合，为形成新的测量解决方案奠定了坚实的基础。 HELMUT FISCHER集团是一家受德国基金会控股、专业生产和销售涂镀层测厚仪、材料分析仪、微纳米压痕仪（微纳米硬度仪）和材料测试仪的全球性集团公司。集团总部位于德国和瑞士，在德国、美国和英国各建有一个工厂、并设立了一个研究院和多个全球用户应用实验室，在全世界设有近50个分公司。??位于德国总部的基地，用于生产、物流、研发及客户应用??南通菲希尔测试仪器有限公司是HELMUT FISCHER集团在中国大陆地区设立的唯一子公司，全权负责FISCHER产品在中国地区的销售、安装、维修、备品备件及技术咨询等业务。FISCHER生产的涂镀层测厚仪主要分为：X射线涂镀层测厚及材料分析仪、β射线测厚仪、电涡流法测厚仪、电磁感应测厚仪、库仑法（多层镍电位差）测厚仪，除此之外还有包括 微纳米压痕仪（微纳米硬度仪）、电导率测试仪、铁素体含量测试仪、孔隙率测试仪 和 针孔测试仪 等在内的多种测试仪器。 FISCHER 公司生产的各类仪器，广泛应用于航天工业、航空工业、造船工业、港口机械、电镀工业、显像管流水线、电子工业（包括印制电路行业、半导体工业）、汽车工业、石油化工、黄金珠宝、手表、大专院校、科研单位、第三方测试机构等众多行业。 南通菲希尔测试仪器有限公司成立于1997年，位于中国上海，至今已在东莞建立了分公司；在北京、西安、青岛、厦门设立了办事处；并在成都、昆山、苏州、南京、宁波等地建立了售后服务点。FISCHER中国的应用实验室更是在2011年获得了ISO/IEC17025:2005认证。 “让用户满意”是公司的一贯宗旨，FISCHER将以一流的服务来赢得用户的信赖。选择FISCHER仪器，为您产品的超高品质提供保障。 认证在 FISCHER，产品和服务的认证和持续改进至关重要。这也是Helmut Fischer GmbH，Institut für Elektronik und Messtechnik 能够通过 ISO 9001 认证的原因。自 1997 年起，我们的质量管理体系已符合 DIN EN ISO 9001:2008 标准。 获得认证的校准实验室 获得认证的校准实验室2003 年，Helmut Fischer 成为了第一个根据 DIN EN ISO/IEC 17025 标准而获得的“表面尺寸”量值认证的德国公司。因此，公司有资格代表德国认证机构 DAkkS 来检验校准标准片，并为其出具证书供用户使用。校准标准片如可用于：例如，对 X 射线荧光仪器进行校准；从而极大地提高了测量的可靠性。 Germany: DIN EN ISO/IEC 17025 USA: ISO/IEC 17025:2005 & ANSI/NCSL Z540-1-1994 Switzerland: ISO 17025 SCS & STS DIN 成员（德国标准化学会） 自 2016 年 3 月 1 日起 FISCHER 成为 DIN 成员。公司自愿遵守标准化自律守则，提升总体经济竞争力。 应用实验室凭借我们在业内多年的经验优势，助力您解决复杂的测量难题。在遍及欧洲、亚洲和美国的七个应用实验室中，我们的技术专家会为客户在正确选择仪器、开发测量方法及确定合适的测量程序方面提供支持。 凭借我们在业内多年的经验优势，助力您解决复杂的测量难题。 所有 Fischer 集团内部的应用实验室之间都已建立联系，同时也与各高校、机构及企业建立了合作关系。这样稳定的知识交流体系能够确保获取到全球最前沿的专业知识，同时也能够应对特殊咨询。除提供客户定制培训（可以在我们的实验室进行也可以在您的公司进行）外，我们的技术专家也非常愿意协助您对测量结果进行分析。 Helmut Fischer 博物馆企业家 Helmut Fischer博士的专业知识、工作热情、发明家精神以及卓越的执行力是公司成功发展的源动力。他的成功故事从 1953 年在斯图加特创建的技术车间开始。现今，Fischer 作为业务遍及全球的大公司，已成为工业测量技术领域的领导者之一。持续改革与永无止境的创新是其从始至终一直坚守的明确目标。Helmut Fischer 研发的首款测量仪器 位于总部的博物馆展示了公司创始人，同时也是公司长期所有人 Helmut Fischer博士的成功人生。参观者们受邀来感受公司从小工厂成长为国际性解决方案提供商的发展历程，以及了解 Fischer产品从最初创意到最终投入市场的整个过程。Helmut Fischer 博物馆的常客：当地的在校学生 ????????更多详情请访问公司官网：http://www.helmutfischer.com.cn
    主营产品： 电磁 电涡流   纳米压痕仪   X荧光测厚仪   能散型XRF  
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智能型发射率测试仪相关的仪器

  • 纺织品发射率红外性能测试仪 400-860-5168转6216
    远红外发射率测试仪 纺织品发射率红外性能测试仪用途:用于各类纺织产品，包括纤维、纱线、织物、非织造布及其制品等采用远红外发射率的方法测定其远红外性能。测试原理:将标准黑体板与试样先后置于热板上，依次调节热板表面温度使之达到规定温度，用光谱响应范覆盖5微米~14微米波段的远红外辐射测量系统分别定标准黑体板和试样覆盖在热板上达到稳定后的幅射强度，通过计算试样与标准黑体板的辐射强度之比，从而求出试样的远红外发射率符合标准:GB/T3012741远红外发射率的测定仪器特性:1、采用触摸屏控制和显示，菜单式操作模式，方便程度堪比智能手机2、核心控制部件采用自主研发组成多功能主板3、仪器表面喷涂采用优质静电喷塑工艺，整洁美观。4、采用光学调制技术，测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响5、为了确保仪器的测量精度，在仪器设计中，考虑到样品漫反射引起的测量误差，系统自带修补功能和自定义窗口设置6、在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术，较好地实现了对微弱信号的探测进一步提高了仪器性能7、在测量过程不会损伤被测样品，操作简便，灵活性高；8、配USB接口和联机接口及操作Windows软件9、配套温自主研发测控系统
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    厂商： 上海程斯智能科技有限公司
    品牌： 程斯/CSI
    型号： CSI-F792
    价格： 面议
  • 双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪 400-860-5168转2461
    IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪 IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对特殊需要的用户，通过专用的控温加热装置，在常温至300℃温度范围加热样品，进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。目前已在西北核技术所，东南大学等单位使用。 仪器特点：1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位高精度微机控温仪(能显示到1mk)，使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。2．采用了独特的光学调制技术，使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。3．在仪器设计中，考虑到样品漫反射引起的测量误差，除镜反射(MR)探测通道外，还增设了专门的漫反射(DR)补偿通道，从而确保了仪器的测量精度。4．在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术，较好地实现了对微弱信号的探测，进一步提高了仪器性能。5．本仪器操作简单、使用方便、测量快速。6．可按需更换滤光片，在多个红外光谱波段内进行测试。7．在测量过程中不损伤被测样品。8．本仪器带RS-232串口及复位键RST。主要技术指标测量波段：3～5um、8～14um、1～22um(若用户有特殊要求，可定制不同波段滤光片)2．发射率测量范围：0.1～0.993．灵敏度NE△&epsilon ：0.0014．示值误差：± 0.02 (&epsilon 0.50)5．重复性：± 0.016．样品温度：常温(特殊用户为常温～300℃)7．样品尺寸：Ф50mm8．测量时间：3秒后按测量键E，即显示&epsilon 测量值。9．显示方法：LED数字显示，末位0.00110.电 源： 交流220V 50HZ
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    厂商： 北京商德通科技有限公司
    品牌： 未知
    型号： IR-2
    价格： 面议
  • IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪 400-860-5168转2461
    IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪 IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对特殊需要的用户，通过专用的控温加热装置，在常温至300℃温度范围加热样品，进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。目前已在西北核技术所，东南大学等单位使用。 仪器特点：1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位高精度微机控温仪(能显示到1mk)，使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。2．采用了独特的光学调制技术，使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。3．在仪器设计中，考虑到样品漫反射引起的测量误差，除镜反射(MR)探测通道外，还增设了专门的漫反射(DR)补偿通道，从而确保了仪器的测量精度。4．在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术，较好地实现了对微弱信号的探测，进一步提高了仪器性能。5．本仪器操作简单、使用方便、测量快速。6．可按需更换滤光片，在多个红外光谱波段内进行测试。7．在测量过程中不损伤被测样品。8．本仪器带RS-232串口及复位键RST。主要技术指标测量波段：3～5um、8～14um、1～22um(若用户有特殊要求，可定制不同波段滤光片)2．发射率测量范围：0.1～0.993．灵敏度NE△&epsilon ：0.0014．示值误差：± 0.02 (&epsilon 0.50)5．重复性：± 0.016．样品温度：常温(特殊用户为常温～300℃)7．样品尺寸：Ф50mm8．测量时间：3秒后按测量键E，即显示&epsilon 测量值。9．显示方法：LED数字显示，末位0.00110.电 源： 交流220V 50HZ
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    厂商： 北京商德通科技有限公司
    品牌： 未知
    型号： IR-2
    价格： 面议
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  • 小菲课堂｜“吃透”发射率，热像仪测温才最准确
    上周我们分享了电影的精彩片段因为熟知物体发射率的差异强森透过热像仪鉴定出“假金蛋”想要回顾的小伙伴戳这里：可乐浇毁“金蛋”，强森的自信源于这里......那么到底什么是发射率？它和热像仪是如何相辅相成的？，时长01:13身边物体的发射率发射率其实是一种比率发射率是指物体表面辐射出的能量与相同温度的黑体辐射能量的比率。（黑体是一种理想化的辐射体，可辐射出所有的能量，其表面的发射率为 1.00）各种物质的发射率是由物体的本身材质、表面粗糙程度、表面几何形状、拍摄角度、观测波长以及被摄物体本身的温度所决定（其中物体本身材质是对物体发射率影响的一个因素），所以在相同的温度下，物质不同，向外辐射的能量也会不同。相同温度下，因发射率不同，而显示的表象温度有差异例如，高度抛光的金属表面，如铜或铝，其发射率通常低于0.10。粗糙或氧化的金属表面有更高的发射率（0.6或更大，取决于表面条件和氧化量）。大多数平面漆的发射率约为0.90，而人类皮肤和水约为0.98。影响发射率的因素：反射温度金属的发射率随表面温度的大幅上升而增大，而非金属的发射率一般是随表面温度的变动却几乎没有变化，金属的发射率比非金属的小得多。如果你看到的是一个高抛光金属物体，具有低发射率，该表面将像一面镜子。而你的热像仪不会测量物体本身的温度，而是检测被测物体表面的出射辐射（物体的表象温度），出射辐射包括物体自身的红外辐射+环境在物体表面的，经过相同的反射角进入热像仪镜头的反射辐射。环境反射表面温度（也称为背景温度或T-反射）是指来自被测物体周围环境中其他物体的任何热辐射，这些物体从你测量的目标反射进入热像仪镜头。反射温度会影响热像仪测量的表象温度反射温度会影响热像仪测量的表象温度（除发射率是影响测温结果的重要补偿参数，环境反射表象温度对测温结果影响也是至关重要的！），如果附近的热源（如变压器，电动机或者反射阳光中的红外波段能量）从物体表面反射进入热像仪镜头，而被测物体本身温度可能很低，但根据热像仪显示的温度却可能高得多。金属灯的开关是比墙的其他部分更热，还是反射了一个温暖的热源？或者一个物体可能和一个相邻物体的温度相同，但看起来要冷得多。戒指的温度可能和人的皮肤一样，但看起来要冷得多对于发射率较高的物体，反射温度的影响较小。但对于低发射率的物体来说，反射温度是关键因素。随着发射率的降低，你所测量的热量更多的是来自周围物体的表面，而不是你正在检查的目标。如何测量物体的真实温度？如果要测量的对象具有高发射率，则可以在热像仪设置中调整发射率和反射温度。例如，如果你想测量一个人的体温，你可以将发射率设置为0.98（人体皮肤的发射率），将反射温度设置为环境温度（如果你在室内，大概在68°F/20°C左右），你的热像仪就会进行补偿。对于其他类型的表面，如果温度测量精度对您和您的检查程序很重要，您可能需要进行热成像培训，以便在进行测量时正确补偿发射率。一般来说，如果你要测量的目标的发射率低于0.5，你可能得不到精确的温度测量值。在这种情况下，你需要考虑如何提高目标的发射率。高发射率表面如电子胶带可用于精确测量低发射率表面如闪亮金属的温度发射率+反射率+透射率=1对于热像师来说，我们平时拍摄的被摄物体在红外波段绝大多数都是不透明的物体，意味着物体的透射率为0，而物体的发射率+反射率+透射率=1。所以可以推出：不透明的物体（指红外波段）：发射率+反射率=1。这也就意味着在低发射率（尤其当物体表面发射率低于50%的时候）环境的反射表象温度会对测温结果产生比较大的干扰。这个时候我们就需要热像师通过具体的检测手段来调整补偿物体的发射率以及物体的反射表象温度，来更接近物体的真实表面温度！在进行温度测量时，发射率是一个具有挑战性的因素，而且它还会受到不同因素的影响。幸好它是可以学习的，用先进的测量方法，它可以得到正确的补偿。所以小菲建议各位菲粉们，要想获得物体本身的真实温度，可以到ITC红外培训系统学习下发射率、环境反射表象温度等补偿的设置，在这里不仅可以学习各种热成像相关的理论知识，还可以上手实操检测，完成培训后，妥妥滴由热成像“小白”转换成专业热成像师哦~Teledyne FLIR的明星课程ITC红外培训本年度还有一堂课想要学习提升自己的小伙伴赶快联系我们报名来年你就是专业红外热像师or热像分析师啦~新品免费试用目前，Teledyne FLIR正在进行一场2021年终新品免费试用的活动，无论是FLIR A50/A70研发套件，还是FLIR A50/A70图像流/智能传感器热像仪，亦或是FLIR Si124-PD:局部放电检测声像仪，还有FLIR Si124-LD:压缩空气泄漏检测声像仪，以及FLIR E96 高级热像仪都在此次活动当中哦~当然如果您想试用其他产品，小菲也会尽量满足您的需求！所以，小伙伴们赶紧联系我们，我们将安排专人上门为您演示！
    时间： 2021-12-14
    作者： FLIR
  • 小菲课堂 | 想要提高发射率？这里有个省钱的方法......
    各位菲粉们，还记得小菲给大家科普过发射率对红外检测的重要性吗？（回顾戳这里）今天，小菲就教大家如何用低成本提高目标的发射率~为了正确的使用热像仪，你需要知道不同的材料和环境如何影响热像仪的温度读数。发射率是指物体表面辐射出的能量与相同温度的黑体辐射能量的比率。（黑体是一种理想化的辐射体，可辐射出所有的能量，其表面的发射率为 1.00）实际上，我们测量物体的发射率值通常低于1，对于这些目标，测量的温度将是物体的发射率、反射率、透射率的综合结果。一个完美的黑体的发射率是1，也就是说目标的辐射是从目标表面发射出来的实际上，我们的目标并不是完美的黑体测定发射率从测量辐射量出发，了解发射率值是进行真实温度评估的必要条件，但是，必须谨慎使用发射率表值。通常不清楚发射率值在哪个波段有效，而且发射率也会随着波长的变化而变化。此外，表面条件、纹理和形状对材料的发射率也有重要影响。有一种方法可以理解发射率不确定度对测量精度的影响：假设目标发射率的不确定度为±0.05。对于0.95的发射率，看上去这表示大约5%的误差(0.05/0.95)，而对于光亮的铜等材料，发射率为0.05。这些误差传播到温度计算中，增加了温度读数的误差（但实际测温结果是由红外电磁辐射通过斯蒂芬?波尔茨曼定律间接转换成温度读数获取得来的，温度和电磁辐射是一个四次方的非线性曲线Wrb=εσΤ4）。因此我们建议不要尝试对低于0.5的目标发射率进行温度测量。如果必须要测量，则可通过准确的补偿（ITC培训中有详细介绍），或者可用建议的高发射率材料覆盖目标，通过热传导作用，将被测物体表面温度传导到高发射率材料后间接测量获取。通过红外图像，你可能会认为树叶比杯子表面更冷，实际上，它们的温度完全相同，红外辐射强度的差异是由发射率的差异造成的改变发射率的低成本材料电工胶带大多数高质量的电工胶带的发射率为0.95，需要注意的是使用中波长热像仪(3 - 5μm)，胶带是不透明的，有些乙烯基胶带很薄，有一定的红外透过率，因此不能用作高发射率的涂料。Scotch™ Brand的88黑色乙烯基电工胶带的发射率为0.96，在短波(3-5μm)和长波(8-12μm)区域的发射率均为0.96，建议使用。这个例子展示了两个带胶带的罐子:左边的那个装满了热水，右边的在室温下。对于热罐，胶带的温度为163°F（72.8°C），罐的温度为74.3°F（23.5°C）。后者的读数基本上是环境温度，因为罐子的发射率很低。这是一个典型的例子，说明在低发射率目标上使用高发射率应用程序的必要性油漆和涂料大多数油漆的发射率约为0.9至0.95，金属基涂料具有低发射率，不推荐使用。油漆的平整度和涂层的厚度对红外发射率来说很重要。胶带适合小面积使用。油漆适用于较大面积，但这是一种涂料。对于需要去除的大面积涂层，或者胶带不合适的地方，悬浮在泥浆或喷雾形式的粉末可以很好地工作。染料渗透显影剂和Dr. Scholl s喷雾足粉就是两个例子，这些粉末的发射率在0.9至0.95范围内，前提是它们的应用厚度足够不透明。没有增加发射率涂料的印刷电路板 随着涂料的发射率增加，使用油漆的缺点是减少了精细的细节实例：控制PCB板的发射率值在故障查找过程中，测量组装好的印刷电路板(PCB)上元件的温度是一项经济有效的技术，但由于不同元件的ε值不同，因此很难实现。通常，多氯联苯中含有各种金属和塑料部件，这些部件由不同的制造商制造，这些制造商对这些部件进行自己的表面处理。当用已知的、测试过的和有特征的涂层处理电路板时，通常可以简化问题。涂覆后，组件表面具有相同的ε值，并且可以通过热成像确定相对温度。要控制发射率值，可以用涂层处理PCB板各位菲粉们对于如何改善物体的发射率你们了解多少呢？想要系统的学习相关知识一定要来参加ITC红外培训在这里不仅可以学到发射率的相关知识还有很多红外相关的秘密哦~
    时间： 2020-03-16
    作者： FLIR
  • 新材料领域：高温红外高发射率节能涂料
    工业高温窑炉作为一种高耗能设备广泛应用于各个行业，我国现有高温窑炉每年的能源消耗约占总能耗的三成，占工业能耗的六成。同时我国工业高温窑炉的热能利用率远低于发达国家的水平。因此，工业高温窑炉的节能降耗具有重大意义，同时也存在巨大的节能空间。本项目是针对工业窑炉节能的需求以及国内外在高温节能涂料方面的发展状况而研发的一种高性能节能涂料。该节能涂料在很宽的红外波段范围都具有高的发射率(～0.9)。在高温炉膛内壁(或炉管外壁)涂覆高发射率材料，可有效提高辐射换热量，改善炉内热辐射特性，提高热辐射效率，从而达到节能降耗、减少排放的目的。同时，高发射率涂层是一种高致密性的无机陶瓷材料，具有抗腐蚀、耐火焰冲刷等特点，对炉壁和炉管起到保护作用，可以延长窑炉(锅炉)的使用寿命。 　　主要技术指标（或参数）： 　　1、红外发射率：≥0.9； 　　2、耐火度：1100℃～1500℃； 　　3、节能效率：5%～15%； 　　4、能缩短炉膛升温时间、提高炉膛温度、降低排烟温度、延长炉体(炉管、加热元件等)使用寿命，起到明显的节能减排和降耗增效作用。 　　应用领域： 　　用于冶金、石化、火电、水泥、玻璃、陶瓷等行业的各种高温窑炉、锅炉的涂层材料。 　　市场前景： 　　可广泛用于冶金、石化、火电、水泥、玻璃、陶瓷等行业的各种高温窑炉、锅炉，涂层具有红外发射率高、节能效果好、抗老化、耐候性强等特点。使用该产品可缩短炉膛升温时间、提高炉膛温度、降低排烟温度、延长炉体(炉管、加热元件等)使用寿命，能起到明显的节能减排和降耗增效作用。 　　拟转化的方式（或合作模式）： 　　可采用研究所与企业通过成果转让或技术入股等方式，共同推进该成果的产业化。
    时间： 2023-05-04
    作者： 情绪波动
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  • 热辐射性能：量热法半球向全发射率测试技术综述

    热辐射性能：量热法半球向全发射率测试技术综述

    [color=#990000]摘要：热量是一种过程量，是热能传递的度量，量热技术就是研究热测量方法的一门技术科学。由于量热技术可以对物质吸收和放出热量进行精确定量测量，这使得量热技术在材料热物理性能测试中应用十分广泛，也是材料热辐射性能测试中的一种常用方法。半球向全发射率作为一种热交换分析计算和材料热辐射性能评价中最常用的性能参数，是材料热辐射性能中的必测参数。在真空条件下采用量热法测试半球向全发射率，由于其测试直接和简单，因此量热法作为一种绝对测量方法而被认为具有最高的测量精度。本文详细介绍了量热法半球向全发射率测试技术的两类主流方法：稳态法和瞬态法，介绍了国内外在这两类方法中比较有代表性的研究工作，最后总结了这两类方法它们各自的特点及适用范围，为建立相应测试设备和研究测试方法提供参考。[/color][color=#990000][/color][align=center]~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/align] [align=center][img=量热法半球向全发射率测试技术,690,436]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/09/202109141051379730_9244_3384_3.png!w690x436.jpg[/img][/align][color=#ff0000]由于本文内容包含大量数学公式，不便在网页中进行编辑和显示，特在此近刊登文章目录，详细内容请阅读附件原文。[/color][color=#ff0000][/color][size=24px][color=#990000] 目录[/color][/size][size=24px][color=#990000][/color][/size][color=#990000][b]1. 热辐射性质的内容及其定义[/b][/color][color=#990000] 1.1. 发射率.[/color] 1.1.1. 光谱定向发射率 1.1.2. 光谱法向发射率 1.1.3. 全波长法向发射 1.1.4. 全波长半球向发射率 [color=#990000] 1.2. 吸收率 [/color] 1.2.1. 光谱定向吸收率 1.2.2. 全波长定向吸收率 1.2.3. 光谱半球向吸收率 1.2.4. 全波长半球向吸收率 [color=#990000] 1.3. 反射率 [/color] 1.3.1. 光谱定向—半球向反射率 1.3.2. 全波长定向—半球向反射率 1.3.3. 光谱半球向—定向反射率 1.3.4. 全波长半球向—定向反射率[color=#990000] 1.4. 透过率 [/color] 1.4.1. 光谱定向透过率 1.4.2. 全波长定向透过率[color=#990000][b]2. 发射率测量方法概述 3. 稳态量热法半球向全发射率的测量[/b][/color][color=#990000] 3.1. 保护电热法 3.2. 间接电热法 3.3. 直接通电加热法 3.4. 辐射加热法 3.5. 薄膜热流计法[/color][color=#990000][b]4. 瞬态量热法半球向发射率的测量[/b][/color][color=#990000] 4.1. 辐射加热法 4.2. 直接通电热脉冲法[/color][color=#990000][b]5. 总结 [/b][/color][color=#990000][b]6. 参考文献 .......................................................... 34[/b][/color][color=#990000][/color][color=#990000][/color][color=#990000][/color]

  • 【原创大赛】稳态量热法总半球发射率测试的SIMULATIONX热仿真研究

    【原创大赛】稳态量热法总半球发射率测试的SIMULATIONX热仿真研究

    [size=18px][color=#990000][/color][/size][size=18px][color=#990000]摘要：为了研究总半球发射率测试方法，特别是对间接通电加热式量热法总半球发射率测试进行更深入研究，本文采用SimulationX软件对所建立的测试模型进行了仿真计算，从而获得了样品温度与加热功率之间的量化关系，明确了测试过程中漏热对测量误差的影响程度，从而可有效指导总半球发射率测试装置的设计。[/color][/size][align=center][size=18px]~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/size][/align][size=18px] [/size][size=24px][color=#990000]1. 热仿真目的[/color][/size][size=18px]　　在总半球发射率测试设备的设计前期开展热仿真计算，拟达到以下几方面的目的：[/size][size=18px]　　（1）对总半球发射率测试过程中的加热方式和整个测试过程有较直观的认识。[/size][size=18px]　　（2）获得样品温度与加热功率的量化关系，由此确定真空水冷腔体冷却所需的最大冷却功率，以帮助水冷结构设计的制冷机选型。[/size][size=18px]　　（3）确定护热温差所引起的漏热对发射率测量精度的影响程度。[/size][size=24px][color=#990000]2. 样品材料[/color][/size][size=18px]　　样品材料选择镍基高温合金Inconel 600，这主要是因为Inconel 600是常用且研究比较深入的材料，有比较齐全的热物理性能参数（热导率、比热容、热扩散率和密度）随温度变化数据，这就非常便于热仿真计算中物性参数的准确设置。[/size][size=24px][color=#990000]3. 仿真模型[/color][/size][size=18px]　　SimulationX是一款分析评价技术系统内各部件相互作用的权威软件，是多学科领域建模、仿真和分析的通用CAE工具，并具有强大标准元件库。对于间接通电加热式稳态量热法总半球发射率测量方法的建模，会涉及到热学、电学和自动化PID控制多个领域，因此采用SimulationX软件进行建模和计算分析。[/size][size=18px]　　为了对测试方法进行深入研究，建立了两个仿真模型。一个是理想情况下的样品绝热时（样品热量无损失）的仿真模型，另一个是实际情况下样品有引线热损时的仿真模型，由此来研究两种状态下的加热过程和热损所带来的误差影响。[/size][size=18px]　　[/size][size=18px][color=#990000][b]3.1. 绝热模型[/b][/color][/size][size=18px]　　采用SimulationX软件建立的绝热仿真如图3-1所示。由PID控制的热量加热被测样品，并按照不同设定值使样品达到不同设定温度，被测样品同时与作为黑体的等温量热计进行辐射热交换。在测试过程中，假设被测样品只有热辐射一种传热形式，样品加热引线上无导热热损，样品处于绝热状态。[/size][align=center][color=#990000][img=半球发射率,625,275]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/10/202110202201358306_9908_3384_3.jpg!w625x275.jpg[/img][/color][/align][size=18px][color=#990000][/color][/size][align=center][size=18px][color=#990000]图3-1 绝热条件下SimulationX仿真模型[/color][/size][/align][size=18px]　　为了计算出样品达到最高温度1200℃时所需要的最大功率，设置样品表面的总半球发射率为1。对于100mm×100mm×6mm规格的样品尺寸进行计算，结果如图3-2所示。[/size][align=center][color=#990000][img=半球发射率,690,400]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/10/202110202201524222_4058_3384_3.png!w690x400.jpg[/img][/color][/align][size=18px][color=#990000][/color][/size][align=center][size=18px][color=#990000]图3-2 规格100mm×100mm×6mm样品加热温度和功率计算结果[/color][/size][/align][size=18px]　　按照图3-2所示的计算结果，可以采用发热率计算公式计算得到不同温度下的总半球发射率变化曲线，如图3-3所示。[/size][align=center][color=#990000][img=半球发射率,690,397]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/10/202110202202015455_5562_3384_3.png!w690x397.jpg[/img][/color][/align][size=18px][color=#990000][/color][/size][align=center][size=18px][color=#990000]图3-3 规格100mm×100mm×6mm样品不同加热温度下的发射率计算结果[/color][/size][/align][size=18px]　　从上述计算结果可以看出，发射率仿真结果与理论值无偏差，证明了所建模型是准确的。另外还可以看出，在间隔200℃的不同设定温度点上，随着加热温度的增加，加热功率几乎成倍的增加。如在1000℃时，加热功率3.3kW，如果采用低压大电流电源，低压电压为30V时，直流电压则会至少100A，那么所对应的电极引线会较粗，这势必会带来较大的引线导热热损。为避免加热引线导热热损则需要增加护热加热，将靠近样品处的加热导线温度也要保持与样品温度一直，这势必会给高温样品热辐射带来严重影响，相当于大幅度增加了样品辐射面积，从而给测量带来严重误差。[/size][size=18px]　　为避免大的加热功率，减小电极引线的粗细，将模型中样品缩小到50mm×50mm×3mm，测试结果如图3-4和图3-5所示。[/size][align=center][color=#990000][img=半球发射率,690,402]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/10/202110202202136564_9259_3384_3.png!w690x402.jpg[/img][/color][/align][size=18px][color=#990000][/color][/size][align=center][size=18px][color=#990000]图3-4 规格50mm×50mm×3mm样品加热温度和功率计算结果[/color][/size][/align][align=center][color=#990000][img=半球发射率,690,401]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/10/202110202202229346_3131_3384_3.png!w690x401.jpg[/img][/color][/align][size=18px][color=#990000][/color][/size][align=center][size=18px][color=#990000]图3-5 规格50mm×50mm×3mm样品不同加热温度下的发射率计算结果[/color][/size][/align][size=18px]　　从图3-4和图3-5所示结果可以看出，样品尺寸缩小后，在最高温度1200℃时的最大加热功率降低到了四分之一，约1.5kW。[/size][size=18px][color=#990000][b]3.2. 护热模型[/b][/color][/size][size=18px]　　采用SimulationX软件建立的护热仿真如图3-6所示。在护热模型中，在原有PID控制加热被测样品（规格50mm×50mm×3mm）的基础上，增加一路PID护热加热回路，控制护热回路温度始终跟踪样品温度变化。在理想情况下，护热温度要与样品温度完全相同，如此这两回路之间存在温差，则被测样品就会产生热损。[/size][align=center][color=#990000][img=半球发射率,625,290]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/10/202110202206457581_2325_3384_3.jpg!w625x290.jpg[/img][/color][/align][size=18px][color=#990000][/color][/size][align=center][size=18px][color=#990000]图3-6 护热条件下SimulationX仿真模型[/color][/size][/align][size=18px]　　在护热模型计算中，样品发射率设置为1，被测样品温度变化范围还是设置为200℃~1200℃，而护热温度总是比样品温度低1%，由此来计算热损对发射率测量的影响，计算结果如图3-7和图3-8所示。当设置样品发射率为0.5时，发射率测量结果如图3-9所示。[/size][align=center][color=#990000][img=半球发射率,690,403]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/10/202110202202345051_4964_3384_3.png!w690x403.jpg[/img][/color][/align][size=18px][color=#990000][/color][/size][align=center][size=18px][color=#990000]图3-7 发射率为1时护热模型的加热温度和功率计算结果[/color][/size][/align][align=center][color=#990000][img=半球发射率,690,401]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/10/202110202202441606_7412_3384_3.png!w690x401.jpg[/img][/color][/align][size=18px][color=#990000][/color][/size][align=center][size=18px][color=#990000]图3-8 发射率为1时护热模型不同加热温度下的发射率计算结果[/color][/size][/align][align=center][color=#990000][img=半球发射率,690,399]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/10/202110202202520436_5036_3384_3.png!w690x399.jpg[/img][/color][/align][size=18px][color=#990000][/color][/size][align=center][size=18px][color=#990000]图3-9 发射率为0.5时护热模型不同加热温度下的发射率计算结果[/color][/size][/align][size=18px]　　从上述测试结果可以看出，护热控制过程中1%温差所造成的漏热，对样品加热功率的大小影响不大，但对发射率测量有影响，这种影响在较低温度段非常明显，并且对较低发射率样品的测量影响也较严重。[/size][size=18px]　　从图3-8可以看出，当样品发射率为1时，200℃时的发射率测量结果误差最大，相对误差接近4%，然后随着样品温度的升高，误差急剧减小。由此可见在较低温度范围内，漏热在样品热辐射能量中所占的比重较大，从而造成发射率测量误差较大。随着样品温度的升高，漏热所占比重快速减小，从而发射率测量误差也快速减小。[/size][size=18px]　　从图3-9可以看出，当样品发射率为0.5时，同样是200℃时的发射率测量结果误差最大，相对误差放大到了8%左右，同样随着样品温度升高，误差急剧减小。由此可见，对于低发射率的测量，漏热会更严重的影响测量精度。[/size][size=24px][color=#990000]4. 总结[/color][/size][size=18px]　　通过SimulationX软件建立了绝热和护热两种总半球发射率测量仿真模型，并在不同温度下来计算得到相应的加热功率和样品温度变化曲线，最终获得加热功率变化规律和发射率测量结果。通过仿真计算，得出以下结论：[/size][size=18px]　　（1）间接式通电加热稳态量热法测量总半球发射率过程中，为达到1200℃的最高温度，如果采用低压大电流加热方式，则需要较大的加热功率，并需要较粗的加热电极，这势必会给测试模型的准确性带来严重影响，并需要添加额外的护热装置，由此带来整个测试装置的复杂性和制造难度。[/size][size=18px]　　（2）护热装置要求具有一定的温度跟踪精度以确保测试模型尽量接近绝热状态，温度跟踪精度对较低温度区间的样品发射率测量有较大影响，而且样品发射率越小，这种影响会急剧放大。[/size][size=18px]　　（3）在存在漏热情况下，测量值会比实际值偏大。在存在增热情况下，测量值会比实际值偏小。[/size][size=18px][/size][align=center]=======================================================================[/align][align=center] [img=半球发射率,690,300]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/10/202110202159531381_1955_3384_3.jpg!w690x300.jpg[/img][/align][size=18px][/size][size=18px][/size][size=18px][/size]

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