自动超声扫描显微镜

AFM5500M II全自动扫描探针显微镜除了配置高精度平板扫描器和各种测量自动化功能，还有两种共享坐标样品台功能。通过多种设备的关联解析，实现了单个设备无法实现的多维缺陷评价和故障解析。主要特点1. AFM自动化测量&bull 通过自动化控制大大提高效率，自动探针安装，自动光轴调整，自动参数优化；&bull 排除人为操作失误导致的测量误差，一键自动测量/处理/分析（提高整体测试效率）2. 可靠性排除机械原因造成的误差大范围水平扫描采用管型扫描器的原子力显微镜，针对扫描器圆弧运动所产生的曲面，通常通过软件校正方式获得平面数据。但是，用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响，图片上经常发生扭曲效果。AFM5500M搭载了全新研发的水平扫描器，可实现不受圆弧运动影响的准确测试。 样品 ：硅片上的非晶硅薄膜高精角度测量普通的原子力显微镜所采用的扫描器，在竖直伸缩的时候，会发生弯曲（crosstalk）。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。AFM5500M中搭载的全新扫描器，在竖直方向上不会发生弯曲（crosstalk） ，可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像。样品 : 太阳能电池(由于其晶体取向具有对称结构)* 使用AFM5100N（开环控制）时 3. 利用探针评价功能进行探针尖端直径管理4. SIS模式可有效提高数据可靠性SIS（Sampling Intelligent Scan）样品智能扫描模式只有在需要测量样品形貌和物性信息时才靠近测量点，自动控制探针位置，完全消除对测量不利的水平力，可测量吸附力较大或粗糙的样品，同时可大幅降低对探针的磨损和对样品的损伤，有效提高数据的可靠性。5. 支持机械物性/电磁物性等广泛的物性测量扫描探针显微镜是一种不仅可以测量形貌，还支持各种物性检测的显微镜。AFM5500MⅡ支持可同时获取弹性模量、形变、吸附力和摩擦力等各种机械物性的SIS-ACCESS/SIS-QuantiMech功能、以及导电性、压电分布和表面电位等各种电磁物性测量。6. 新的表面电位势测量模式 AM-KFM/FM-KFM（可用于定量和灵敏度等不同场景）除调幅开尔文力显微镜(AM-KFM)外，AFM5500MⅡ还新增了调频开尔文力显微镜(FM-KFM)。FM-KFM与AM-KFM相比，信号主要来自于探针的尖端，电位检测灵敏度更高，在电位的定量分析上更胜一筹。AM-KFM适用于单一材料间的电位和功函数对比等，FM-KFM适用于测量需要进行精细周期结构和海岛结构量化的复合材料，两种模式通过点击即可自由切换。7. 使用AFM、SEM、CSI等不同显微镜观察同一位置，实现多维度解析通过SEM、AFM、CSI等进行样品的同一位置测试，可以对目标视野进行多维度解析，实现数据的参照对比。日立高新可以提供特有的SEM/AFM/CSI同视野观察，实现联动分析。使用共享样品台进行坐标联动，或通过全新的AFM标记功能，可以在AFM、SEM、CSI之间快速、轻松地锁定同一视野，进一步扩大了联动分析的应用范围。

n主要用途：测试被测半导体或者材料领域产品的内部缺陷，如空洞、分层、裂缝、异物等；n优势简介：超声扫描显微镜在失效分析中的优势简介- 液体浸入式扫描超声显微镜，带转动，旋转，倾斜工作台- 主要用于金属零部件检测- 非破坏性、无损检测材料或IC芯片内部结构- 可分层扫描、多层扫描- 噪声低，成像质量高- 可用于测量HIC内部缺陷的位置与尺寸大小 (Hydro Induced Crack)- 可显示材料内部的三维图像- 定制系统：可根据需要定制液体池，扫描范围等- 可检测各种缺陷（裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞等）n产品特色SAM-SPICA是一款主要用于金属材料缺陷检测高性能声学显微镜，可以对金属材料，塑封集成电路IC、IGBT大功率模组，各型电容、以及铜基板器件进行无损检测，分析器件内部之分层、裂缝、空洞等缺陷。X轴和Y轴均是新型高速线性伺服电机，扫描速度快，同时经久耐用。能对器件作多种扫描模式，如点扫描(A-)、纵剖扫描（B-）、横剖扫描（C-）、多层横剖扫描(X-）等。n主要参数 - 超声波测量探头频率范围 : 1-500MHz - A/D 换能器：500MHz 取样频率, 1GHz带宽 - XY方向扫描速度：1000mm/s - XY方向重复定位精度：±0.5μm - 其余参数都可以定制n产品应用金属方向：Steel, Nonferrous Metal Materials, Founding Materials, Forging, Weld Zone半导体材料方向 : ITO Target, Wafer, Pipe, Plate, Bar, complex Material, Piston test, Flaw detection in Planting, Car Engine, Weld zone

n主要用途：测试被测4,6寸wafer与LEDwafer产品的内部缺陷，如空洞、分层、裂缝、异物等；n优势简介：- 可用于4”,6”wafer SAM-CYGNUS LED测试- 带有全自动机械臂，可进行自动取片自动检测- 配置Wafer Map, BCR reader, Wafer Pre Aligner, Spin Coater System等全自动系统- 可用于测量材料表面与内部缺陷的位置与尺寸大小（Debonding, Delamination, Crack）- 可用于测量材料的厚度- 带Water jet 扫描系统- 带安全锁及报警系统- 噪声低：采用高精度linear-servo电机- 成像质量高，速度快，扫描精度高- 支持A, C, T 扫描模式n产品特色SAM-CYGNUS是一款全自动的wafer缺陷测试声学显微镜，可以对4,6寸wafer进行全自动无损检测，分析器件内部之分层、裂缝、空洞等缺陷。X轴和Y轴均是新型高速线性伺服电机，扫描速度快，同时经久耐用。能对器件作多种扫描模式，如点扫描(A-)、纵剖扫描（B-）、横剖扫描（C-）、多层横剖扫描(X-）等。n主要参数- 超声波测量探头频率范围 : 1-500MHz- A/D 换能器：2GHz 取样频率, 1GHz带宽- 适合wafer尺寸：4”与6”- XY方向重复定位精度：±2μm- Z方向扫描范围：70mm- Z方向扫描分辨率：2.5μmn产品应用：wafer与LED芯片

显微镜物镜扫描仪高精度亚纳米物镜扫描台/定位台！上海昊量推出的物镜扫描台采用压电陶瓷直推，以柔性铰链为导向使物镜扫描台具有结构紧凑、体积小、无机械摩擦、定位分辨率高等优点，采用硅位移传感器，物镜扫描台相比于传统的电容式位移传感器，物镜扫描台硅传感器使平移台拥有更高的精度和线性度以及较低的底噪。物镜扫描台的精度可以达到亚纳米，底噪低至10pm。上海昊量光电设备有限公司推出的压电平移台旨在满足超精密定位应用的需求。该平移台采用压电陶瓷驱动，以柔性铰链为导向使其结构紧凑、拥有小的体积、无摩擦、无间隙、定位分辨率高等优点。采用硅高精度位移传感器，与电容位移传感器相比拥有更高的精度、线性度和低底噪。由于其具有较高的精度、线性度和较低的底噪等优点，被广泛的应用于超分辨率显微镜，光学捕获和原子力显微镜等领域。AU-FOCHS采用管状设计，专门用于显微镜物镜快速高精度定位。该物镜扫描台可提供行程可达到100μm，精度可达到0.1 nm，谐振频率可达到1175Hz。它由铝、钢和黄铜构成，配备硅传感器，可提供皮米级的稳定性。以上优点使其拥有广泛的应用，例如，激光加工、显微成像、体容积成像，等还可以与相机系统结合使用实现自动对焦。AU-FOC是一款专门用于显微镜物镜准确定位的设备。该物镜扫描台可提供100/200/300/500μm不同行程。该物镜扫描台由铝和黄铜构成，结合硅传感器可提供皮米量级的稳定性。以上两款物镜扫描台的黄铜安装环可以轻松更换，因此几乎所有的物镜都可以与这两款物镜扫描台结合使用。可用的物镜大小有RMS, M25, M26, M27 和 M32.显微镜物镜扫描台产品特点：l 高分辨率（0.01nm）l 高速度，谐振频率可达1175Hzl 采用硅传感技术l 超低底噪l 柔性铰链导向显微镜物镜扫描台主要应用：l 自动聚焦系统l 共焦显微镜l 3D成像l 超分辨显微镜l 半导体计量学 显微镜物镜扫描台产品参数：更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是国内知名光电产品专业代理商，代理品牌均处于相关领域的发展前沿；产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等，涉及应用领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及更细分的前沿市场如量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等优质服务。您可以通过我们昊量光电的官方网站了解更多的产品信息，或直接来电咨询。

n主要用途： 测试被测半导体或者材料领域产品的内部缺陷，如空洞、分层、裂缝、异物等；n优势简介： - 非破坏性、无损检测材料或IC芯片内部结构 - 可分层扫描、多层扫描 - 噪声低，成像质量高 - 缺陷的测量及缺陷面积和数量统计 - 可显示材料内部的三维图像 - 对人体是没有伤害的 - 可检测各种缺陷（裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞等）n产品特色SAM-DENEB是一款高性能声学显微镜，可以对塑封集成电路IC、IGBT大功率模组，各型电容、以及铜基板器件进行无损检测，分析器件内部之分层、裂缝、空洞等缺陷。X轴和Y轴均是新型高速线性伺服电机，扫描速度快，同时经久耐用。能对器件作多种扫描模式，如点扫描(A-)、纵剖扫描（B-）、横剖扫描（C-）、多层横剖扫描(X-）等。n主要参数 - 超声波测量探头频率范围 : 1-500MHz - A/D 换能器：2GHz 取样频率, 1GHz带宽 - 扫描台XY方向扫描范围：350mm*350mm - XY方向扫描速度：1000mm/s - XY方向扫描分辨率：0.5μm - XY方向重复定位精度：±0.5μm - Z方向扫描范围：70mm - Z方向扫描分辨率：2.5μmn产品应用 半导体方向 : Flip Chip, BGA, QFT, TBGA, FBGA, SOP, FET, MLCC, PCB 材料方向 : ITO Target, Wafer, Pipe, Plate, Bar, complex Material, Piston test, Flaw detection in Planting, Car Engine, Weld zone

产品描述显微镜自动平台控制系统自动平台主要技术指标一）X，Y方向自动平台1．外形尺寸： 191mmx164mm2．X方向行程：≥40mm3．Y方向行程：≥30mm4．重复定位精度：≤3um5．最小步距： ≤2um6．限位开关X，Y标准（四个）7．手动控制支持8．移动速度五档可调二）Z方向调焦机构9．调焦步距（分辨率）：0.25um10．手动控制支持三）自动平台控制器 11．通讯方式RS232串口通讯12．电动控制操纵杆控制13．电源交流220V自动平台控制及大图拼接软件主要功能定位移动：平台直接移动到指定位置全景扫描：沿试样表面平移，浏览试样全景定点拍照：按设定轨迹移动平台，同时拍摄镜下图像自动回位：多点位置记忆功能，精确快速回位大图拼接：定点拍照，同步拼接，自动生成大视野全景图片自动聚焦：控制Z轴上下移动，自动找到最佳焦面

仪器简介：NTEGRA平台是一个革命性的技术概念，在拥有所有SPM技术：原子力/磁力/静电力/表面电势/导电原子/扫描电容/压电力/纳米刻蚀等功能的同时，还能配备近场光学显微镜/共聚焦拉曼/外加磁场/超声原子力/纳米压痕等功能！。Prima则是这个平台中的基础SPM，可以在此基础上根据科 研需求提供多达40 中SPM 功能，其中的每种功能都有一套在其专业领域有着杰出表现的独特配置。可选择配备独一无二的双扫描结构可以将扫描范围扩展最大到200x200um。技术参数：在大气环境下：扫描隧道显微镜/ 原子力显微镜(接触 +半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/力谱线/粘附力成像/磁力显微镜/静电力显 微镜/扫描电容显微镜/开尔文探针显微镜/扩展电阻成像/纳米压痕/刻蚀: 原子力显微镜(电压+力)/压电力模式/超声原子力/外加磁场/温度控制/气氛控制等功能。在液体环境下：原子力显微镜(接触+半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/粘附力成像/力谱/刻蚀:测量头部：AFM和SPM可选配液相模式和纳米压痕测量头 扫描方式：样品扫描、针尖扫描、双扫描最大样品尺寸：样品扫描：直径40mm，厚度15mm。针尖扫描：样品无限制 XY样品定位装置：移动范围5× 5um，精度5um 扫描范围：90× 90× 9um（带传感器/闭环控制），可选配低电压模式实现原子级分辨XY方向非线性度：&le 0.5%（带传感器/闭环控制） Z方向噪音水平（带宽1000Hz时的RMS值）：闭环控制扫描器（典型值0.04nm，最大0.06nm）光学显微系统：配备高数值孔径物镜后，分辨率可由3um提升至1um样品温度控制：室温~300℃ 主要特点：Ntegra Prima 是一个基本的SPM 系统，在这平台上可以根据科研需要提供40 种SPM 功能。 Ntegra Aura 是一款能在气氛控制以及低真空环境下工作的SPM，专门用于电磁等测量。 Ntegra Therma 只有10nm/h 热漂移能长时间可靠工作，并且能在-30℃~300℃环境下测量。 Ntegra Maximus 能够测量100mm 的大样品，在半自动模式下可以连续工作。 Ntegra Solaris 是一款近场光显微镜，能够提供所有近场探测模式，从而突破衍射极限。 Ntegra Vita 能与倒置显微镜联用，专门用于生物方面的检测。 Ntegra Tomo 能与超薄切片机联用，且制备用于研究的纳米片层的新鲜表面（也适用于电镜）。 Ntegra Spectra 集成了AFM-SNOM-Confocal-Raman 从而实现针尖增强（TERS）

ECHO Pro 全自动超声波扫描显微镜美 Sonix 全自动超声波扫描显微镜ECHO Pro , 批量 Tray盘和框架直接扫瞄, 编程自动判别缺陷, 高产量,无需人员重复设置, 自动烘干.美 Sonix 全自动超声波扫描显微镜ECHO Pro 全自动生产型:● 批量 Tray盘和框架直接扫瞄● 编程自动判别缺陷● 高产量,无需人员重复设置● 自动烘干

LSI XL系列光片扫描显微镜旨在以高分辨率高速对大型样品进行三维成像。该系统利用线性贝塞尔光片技术，配合LSI独有的四面照明技术，可提供市场上最均匀的样品照明。LSI XL系列光片扫描显微镜配备了折射率（RI）校正光学器件，可在1.33至1.56之间调节，以确保在各种浸没介质中的最佳成像质量。可更换的样品室可容纳2cmx2cm的样品。LSI XL系列光片扫描显微镜的应用包括对通过日前广泛应用的以水基或溶剂基方法处理的大型透明组织或器官样品进行成像，以及通过内置的一键化多位点成像功能对大量活体透明样品（如斑马鱼或果蝇胚胎）的拍摄。 主要特点*线性贝塞尔光片和RI矫正光学模组提供了最佳的成像效果，分辨率可达500nm。*独特的四侧照明技术可显着增加照明深度和均匀度，尤其适合对在大型透明化样品成像。*适用于活体胚胎的长时间成像，专为大型透明化样品设计的光片成像平台，同时也可完美得适用于活体斑马鱼或果蝇胚胎的成像，其通量比传统的光片显微镜高得多。*智能化易用的软件系统配有快速数据处理功能，同时内置了3D渲染，多位置采集及自动拼接和反卷积等图像分析功能。*一体化台面紧凑设计配有内置隔振系统，无需外置隔振台。 线性贝塞尔光片（LSI）技术LSI技术通过物理和光学调制获取的光片，远比传统的高斯光片薄，有效长度也更长。因此LSI显微镜不仅具有极低的光毒率和超快的成像速度的特点，而且其出色的三维分辨率和高信噪比令其具有机器出色的层切能力 应用领域神经示踪三维成像 全脑神经胞体三维成像 全脑血管三维成像 动物胚胎成像同时可进行亚细胞分辨率的完整哺乳动物大脑中枢和外周神经系统的发育及微循环三维介观形态学图谱等研究。 微循环血管三维成像 三维肿瘤病理成像 三维肿瘤病理应用实例

高精度激光扫描显微镜高精度激光扫描显微镜-NESSIE是美国密歇根大学衍生公司MONSTR Sense Technologies潜心研制。开创性的设计使其外形小巧，组件灵活，可适配不同高度的样品台甚至是低温光学恒温器，实现低温显微成像。显微镜可处理波长范围广，快速光栅式扫描可以在几秒时间内获得一个高光谱图像。特殊激光光路设计消除了激光扫描过程中的光束漂移，使其非常适合与该公司研发的全共线多功能超快光谱仪集成，实现强大的材料表征功能，不仅可以实现高速、高精度激光扫描谱图，还可以对感兴趣的样品位点进行多维光谱数据采集。高精度激光扫描显微镜-设备特点创新光路设计，适合集成高精度激光扫描显微镜-NESSIE的输入信号为单个激光光束，输出信号为样品探测点收集的单个反向传播光束，这样的光路设计确保了反传播信号在扫描图像时不会相对于输入光束漂移，因而非常适用于激光的实验中的成像显微镜系统。室温GaAs量子阱成像。（a）白光成像；（b）激光扫描线性反射率测量，80 MHz激光（5 mW激光输出）调谐到GaAs带隙；（c）四波混频激光扫描成像揭示了影响GaAs层的次表面缺陷。灵活可调与稳定性兼具高精度激光扫描显微镜-NESSIE可适配不同高度的样品台和低温光学恒温器。其结构的特殊设计可实现显微镜组件整体提高，以清除高度从4″到8″的物体。物镜中心与显微镜支架和外壳之间的间隙为5.5″，可实现不同尺寸形状的低温光学恒温器的容纳。普通显微镜下安装低温恒温器需要转接板，往往会带来样品台的不稳定性，影响采集数据的品质。高精度激光扫描显微镜-NESSIE采用了独立的支撑和提升单元，保证了高度灵活可调的同时，也保持了严格对齐和高稳定性，可以有效避免低温恒温器和其他设备产生振动的干扰，对于在振动的环境中生成高分辨率图像至关重要。激光扫描无光束漂移普通激光扫描显微镜一般使用两个相邻X、Y扫描镜来实现激光扫描。由于两个镜面均不在光学系统的像面上，光束在扫描图像时发生漂移。高精度激光扫描显微镜-NESSIE的特殊设计将X、Y扫描镜均置于像平面，使用抛物面镜作为扫描镜之间的中继系统，可以消除物镜后焦平面上的光束漂移。消除渐晕渐晕是视场图像边缘附近亮度降低的效应，在显微镜中，渐晕会扭曲数据和缩小视场。激光扫描中扫描镜近邻安装，是引入渐晕效应的主要原因。高精度激光扫描显微镜-NESSIE的特殊光路设计可以消除了渐晕效应对整个显微镜物镜的视野的影响。（a）渐晕效应；（b）无渐晕的视场成像可处理波长范围广宽频光路设计，标配可允许激光波长在450-1100 nm 范围，其他频率的激光可选。 软件可拓展性强系统软件灵活易用，可拓展性强。基于LabVIEW的软件包，可将用户自定义指标与自带的成像控制算法结合在一起，实现实时图像生成。另外系统也配有基于API软件包，实现系统自带代码与用户实验代码的整合。全共线多功能超快光谱显微成像系统高分辨激光扫描显微镜与全共线多功能超快光谱仪集成，形成功能强大的全共线多功能超快光谱成像系统。可搭配低温光学恒温器，实现低温多功能超快光谱成像。光栅式扫描几秒时间便可以获得一个超快成像动画，帮助用户迅速定位到感兴趣的区域进行高分辨的扫描成像。对于部分感兴趣样品位点，利用全共线多功能超快光谱仪，可以获得每个样品位点的全面的电子和振动能级信息。全共线多功能超快光谱显微成像系统充分发挥了光谱仪和显微镜的优势，通过弛豫时间成像和多功能光谱成像，允许用户分析样品空间不均匀性与电子结构的关联关系。MoSe2/WSe2异质结构低功率低温（6K）FWM积分成像光谱（a，b）和弛豫时间成像（c） 全共线多功能超快光谱显微成像系统强大的材料表征能力，也可以应用于工业制作环境中的非接触式材料检测，帮助制造商识别原材料品质，避免缺陷材料应用于设备。常温下，CVD生长WSe2薄片移相时间分布和FWM强度变化应用领域（全共线多功能超快光谱显微成像系统）高精度激光扫描显微镜提供整个显微镜物镜视野的成像控制，包括：像素分辨率，扫描速率和聚焦区域。而全共线多功能超快光谱仪兼具共振和非共振超快光谱探测，并兼容瞬态吸收光谱、相干拉曼光谱、多维相干光谱探测。这两款设备集成具有强大的多功能超快光谱显微成像能力，可实现双光子显微成像、瞬态吸收成像、受激拉曼显微成像、荧光寿命显微成像、多维相干光谱显微成像。其中多维相干光谱显微成像，基于非线性四波混频FWM技术，可实现超高分辨的5维数据采集，其成像系统具有以下优势：1. FWM显微成像超高空间分辨本领，可以进行细微结构成像受到abbe衍射极限限制，激光扫描成像空间分辨率在940 nm，但基于全共线MDCS的非线性四波混频FWM成像光谱，可将空间分辨率提高到540nm。2. FWM显微成像，明、暗激子空间分布可辨激子是由受激电子和空穴由于库仑引起的形成的束缚态，而暗激子，是电子与空穴的动量不同，从而阻止了它们对光的吸收。相比于荧光光谱等探测技术仅对亮激子态敏感，非线性四波混频，可实现暗激子的直接观测与研究。3. 不同延时FWM显微成像，揭示耦合动力学过程在空间的不同分布探究空间不同位置四波混频FWM信号随泵浦延迟时间T的变化，可以获得相干、非相干耦合动力学过程在空间的不同分布。4. FWM decay time mapDecay time map仅改变泵浦延迟时间T，对于T＞50ps的情况，可以获得不同空间位置层间激子寿命信息。测试数据MoSe2/WSe2异质结构中，PL积分光谱探究空间差异的应力分布 MoSe2/WSe2异质结构中，不同延时FWM显微成像谱图，揭示空间差异的动力学演变过程CVD获得的WSe2薄片，不同的FWM decay time map揭示激子的快、慢弛豫过程的空间差异FWM hyperspectral map和FWM decay time map数据处理（Data from Prof. Steve Cundiff lab at University of Michigan）发表文章1. T. L. Purz et al., Imaging dynamic exciton interactions and coupling in transition metal dichalcogenides. J Chem Phys 156, 214704 (2022).2. T. L. Purz, B. T. Hipsley, E. W. Martin, R. Ulbricht, S. T. Cundiff, Rapid multiplex ultrafast nonlinear microscopy for material characterization. Optics Express 30, 45008 (2022).相关产品1、全共线多功能超快光谱仪

超声波扫描显微镜,超声扫描显微镜，超声C扫描显微镜，声扫显微镜德国原装进口，更多型号请登录安赛斯（中国）有限公司官网，产品介绍：名称：超声波扫描显微镜品牌：KSI型号：V-700E 产地：德国应用：晶圆面处分层缺陷；锡球、晶圆、或填胶中的开裂；晶圆的倾斜；各种可能之孔洞（晶圆接合面、锡球、填胶…等） 应用：超声波扫描显微镜的应用领域：半导体电子行业：半导体晶圆片、封装器件、大功率器件IGBT、红外器件、光电传感器件、SMT贴片器件、MEMS等 材料行业：复合材料、镀膜、电镀、注塑、合金、超导材料、陶瓷、金属焊接、摩擦界面等；生物医学：活体细胞动态研究、骨骼、血管的研究等超声波扫描显微镜在失效分析中的应用：晶圆面处分层缺陷锡球、晶圆、或填胶中的开裂晶圆的倾斜各种可能之孔洞（晶圆接合面、锡球、填胶…等）超声波显微镜的在失效分析中的优势：非破坏性、无损检测材料或IC芯片内部结构可分层扫描、多层扫描实施、直观的图像及分析缺陷的测量及缺陷面积和数量统计可显示材料内部的三维图像对人体是没有伤害的可检测各种缺陷（裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞等） 主要参数：- 该型号超声波扫描显微镜分析系统，用于检测大件样品- 最大扫描速度：2000 mm/s- 与其它品牌相比扫描效率高30%- 最大扫描范围：700mm×600mm- 最小扫描范围：200μm×200μm- 带宽：550MHz- 最大放大倍数：625倍- 新型FCT专利换能器 咨询或索取详细产品资料，请联系ANALYSIS（安赛斯）工作人员。超声波扫描显微镜,超声扫描显微镜，超声C扫描显微镜，声扫显微镜德国原装进口，更多型号请登录安赛斯（中国）有限公司官网，

安赛斯（中国）有限公司---国际先进检测设备优质供应商产品标签：超声波扫描显微镜，超声扫描显微镜，声扫显微镜，超声C扫描系统 超声波扫描显微镜是利用超声波对微观物体进行成像的无损检测设备。可对各种材料、元器件内部缺陷、空洞、气泡、分层缺陷、杂质、裂纹进行非破坏性检测；还可进行涂镀层结合质量，内部焊接质量，键合层缺陷等检测、空洞率计算等。 超声波扫描显微镜应用领域：半导体电子行业：半导体晶圆片、封装器件、大功率器件IGBT、红外器件、光电传感器件、SMT贴片器件、MEMS等 材料行业：复合材料、镀膜、电镀、注塑、合金、超导材料、陶瓷、金属焊接、摩擦界面等； 生物医学：活体细胞动态研究、骨骼、血管的研究等超声波扫描显微镜在失效分析中的应用：晶圆面处分层缺陷锡球、晶圆、或填胶中的开裂晶圆的倾斜各种可能之孔洞（晶圆接合面、锡球、填胶… 等）超声波显微镜的在失效分析中的优势：非破坏性、无损检测材料或IC芯片内部结构可分层扫描、多层扫描实施、直观的图像及分析缺陷的测量及缺陷面积和数量统计可显示材料内部的三维图像对人体是没有伤害的可检测各种缺陷（裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞等）更多产品信息，请登录安赛斯（中国）有限公司官网获取。V-400E、V-700E、V-1000E单探头超声波扫描显微镜 -该型号超声波扫描显微镜系统是实验室、研发和工业生产线主流机型。- 扫描速度最高可达：2000mm/s- 与其它品牌机型相比扫描效率高30%- 最小扫描范围：200μm×200μm- 射频最大带宽：500MHz- 新型FCT防误判专利探头V-duo、V-quatrro、V-Octo多探头超声波扫显微镜多探头超声波扫描显微镜系统，同时使用2只、4只或8只换能器- 最大扫描速度：2000 mm/s - 与其它品牌相比扫描效率高30% - 最小扫描范围：200μm×200μm - 带宽：550MHz - 新型换能器Nano型高分辨率表层缺陷超声波扫描系统它是声学显微成像系统和光学显微成像系统的完美结合。- 换能器频率范围：100MHz——2000MHz频率实现高分辨率 - 探测深度100nm - 特殊平均模式使信噪比更好 - 同步光学成像和超声波成像使样品在结构上、生物化学性能上和机械性能上具有关联性。 - 光声效应增强了对比性 - 最大放大倍数：1000倍 - 入射光显微镜和倒置光学显微镜可调节 咨询或索取详细产品资料，请联系ANALYSIS（安赛斯）工作人员。 产品标签：超声波扫描显微镜，超声扫描显微镜，声扫显微镜，超声C扫描系统您还可能感兴趣的产品有：德国工业CT系统 X射线计算机断层扫描系统美国声发射检测系统及声发射板卡Pocket-AE美国 水浸式超声C扫描系统德国X射线成像系统 Mu2000德国微焦点X射线成像系统 X光机 Y.Cheetah

Sonscan Fastline P300 超声波扫描显微镜C-SAM 先进的超声显微成像技术超声显微技术的杰出之处在于它能够在组件和材料中找出可能在生产或可靠性试验中出现的隐藏的缺陷。不同于X射线和红外成像等其他无损检测技术，超声显微成像技术则是利用超声波对材料弹性特性极其敏感的特性。超声波可能会因为接触物质的改变而被吸收、散射或反射，而且对空气间隙特别敏感。Sonscan 提供多种成像模式，操作员可以根据样品内部结构特征选择适当的成像方式以获得有关检验样品的清晰图像。此外，通过利用我们的专有的先进功能，Sonscan可以提供清晰的图像、高效率和良好的检测结果。这些功能使得Sonscan的C-SAM成像技术成为超声显微成像的理想选择，用于发现及分析在生产过程或可靠性测试过程中出现的缺陷。比起其他检测方法，使用超声显微成像方法更能有效地识别并分析脱层、空洞及裂缝等缺陷。为了提高生产车间内微电子元器件的筛查效率，Sonoscan 专门设计了Fastline P300 超声波扫描显微镜。作为超声显微成像技术的新平台，Fastline的紧凑设计缩小了占地空间，其独特的输送系统能够在扫描一个JEDEC托盘或样品盘的同时将下一次要扫描的样品放在水中的另一个托盘上等到扫描。Fastline P300精选特色：先进的输送系统帮助提高产量精确定位，更快扫描及自动化分析运用Visual PolyGate 技术实现简易快捷的多层深度扫描多语种操作系统及直观的操作界面人体工程学设计以提高操作者的舒适度和工作效率占地面积小，适宜在车间使用

ElProScan扫描电化学显微镜 HEKA ElProscan是一台扫描电化学显微镜，用于研究样品的电化学活性表面。它属于扫描探针显微镜（AFM, STM, SECM）家族的一员。2005年HEKA公司创立了ElProscan品牌，它包括传统的SECM实验方法及扩展功能。整个系统包括三个主要部分，定位系统，双恒电位仪，数据采集系统。 定位系统控制微电极在溶液中电化学活性样品表面上进行三维扫描，因此ElProscan可用作传统的SECM仪器并且具有更多的功能。ElProscan与传统的SECM不同之处在于它不仅仅记录针尖的电流信号，而且在针尖上可实现任何电化学实验方法的应用（用可编程脉冲发生协议Programmable Pulse Protocol来完成）。在脉冲发生协议运行过程中，在样品上应用独立的电化学实验方法并同时在针尖上应用不同的方法。因此ElProscan还具有电化学活性表面修饰的功能。 ElProscan系统设计具有多种应用领域的、多用处的特点，如：表面分析功能、金属沉积、导电聚合物沉积、酶活性成像、催化材料表面活性等仅仅是其中的少数应用。ElProscan是一套集成系统，可用一个软件程序实现所有功能的控制运行，而且还包括科学研究等级的硬件使仪器功能最佳化。ElProscan系统是唯一、可测量从超微电流到2A电流范围的电化学仪器，它还可以用作双恒电位仪/电流仪，使其具有多种电化学应用。微电流前置放大器可以在pA级的范围内实现高精度、低噪声的测量。 HEKA ElProscan系统具有多种独特的性能：1. 闭环控制用于所有的坐标轴(X,Y,Z)和Z轴压电驱动。2. 超微电流测量的低噪声小于1pA。3. 集成计算机实时系统以实现真实的等速扫描和实时斜率补偿。4. 实时控制的等间距扫描具有全部集成在一起的剪切力装置5. 3D阵列扫描具有电化学技术自由可编程功能。6. 模板扫描在自定义的平面结构上进行。

alpha300 RS – 原位关联的拉曼和扫描近场光学图像 对于拥有挑战性实验要求的用户来说，alpha300 RS将共聚焦拉曼图像及突破光学衍射极限的扫描近场光学显微镜结合在一起。Alpha 300RS在一台设备上继承了所有的Alpha 300R显微拉曼功能，Alpha 300S扫描近场光学显微镜功能和许多AFM操作模式。 Alpha 300S扫描近场光学显微镜主要特点l 所有alpha300 R (拉曼) 和alpha300 S (近场) 的性能集成到一个显微镜系统内l 优异的原位化学组分分析（拉曼）和超高分辨率表面成像（近场）的结合l 只需要转动物镜转盘即可在两种技术间轻松切换l 两种测量间无需移动样品 Alpha 300S扫描近场光学显微镜应用实例 剥离石墨烯的表面拓扑结构VS拉曼图像左图：表面拓扑结构及沿蓝线的轮廓曲线右图：石墨烯G峰沿红线的强度变化曲线 Alpha 300S扫描近场光学显微镜性能通用拉曼操作模式l 拉曼光谱成像：连续扫描的拉曼高光谱全谱成像，每个样品点都能获得完整的拉曼光谱l 平面2D和包含深度Z方向的3D成像模式l 快速和慢速时间序列l 单点及Z方向深度扫描l 光纤耦合的UHTS 系列光谱仪，专为弱光应用的拉曼光谱设计l 共聚焦荧光显微镜功能l 明场显微镜功能 近场显微镜操作模式l 扫描近场光学显微镜模式：底部激发顶部收集（远场激发近场收集）模式，顶部激发底部收集（近场激发远场收集）模式，探针收集（近场激发近场收集）模式l 共聚焦(CM)模式：透射，反射，荧光（可选）l 近场-原子力联用：Alpha 300A的所有模式均可选l 固定底部透射照明l 全内反射照明模式（可选） 原子力显微镜操作模式l 接触模式l 横向力模式l 其他可选 各类拉曼升级选项（如true surface等）l 多种激光可选择l 多种光谱仪可选择l 自动共聚焦拉曼成像l 自动多区域多点测量l 可升级超快拉曼图像模式(需配置EMCCD和Piezo样品台，可获得每秒1300张光谱的速度)l 可升级落射荧光照明l 自动聚焦功能l 显微镜观察法可选，如暗场，像差，偏光，微分干涉等 超高通光量UHTS光谱仪l 各类透射式波长优化谱仪可选 (UV, VIS or NIR)，均为弱光拉曼光谱设计l 光纤耦合，70%超高光通量l 优异的成像质量，光谱峰形对称无像差 控制电脑WITec控制和数据采集，处理软件

Sonoscan超声波扫描显微镜——超声波无损检测系统从实验室到生产车间，Sonoscan的先进声学显微镜仪器和技术可以帮助您生产更高质量的产品。Sonoscan仪器有着极高的技术含量，并且提供一流的客户服务和支持。FastLine&trade P300&trade 一种紧凑型声学显微监控仪，专为工厂提供的最大生产和过程控制。FACTS2&trade 高级质量监控仪器，可以以生产速度提供高分辨率的声学显微成像，并且只需操作员做极少的控制。AW&trade 系列自动晶圆系列的超声显微检测设备，可以自动处理，检测和并根据操作人员制定的"合格与不合格"标准对晶圆进行分类。Gen6&trade 新一代具有技术创新，尖端技术和无与伦比的功能的C-SAM,把超声显微成像带上了一个新的水平。Gen5&trade 一种创新的声学显微监控仪，可提供最广泛和最先进的功能。D9&trade 系列这个系列的设备引领声像显微技术的新标准。为失效分析，工艺开发和材料特性检测提供了无与伦比的精准和灵活性。D24&trade 超大的扫描区（24” × 24”），非常适合较大面积的样品检验、印刷电路板元件检验和多种JEDEC 盘检验。Sonoscan技术AMI技术的杰出之处在于其能够在组件和材料中找出可能在生产或环境测试过程中出现的隐藏的缺陷。相比其他检验方法，使用AMI技术可以更有效地识别和分析分层、气泡和裂缝等缺陷。不同于X射线和红外成像等其他无损检测技术，AMI技术对材料弹性有着极强的敏感性。正因为如此，AMI查找和定性这些物理缺陷的能力明显要优越很多。AMI通常可应用于生产控制、破损分析和产品开发。Sonoscan提供多种成像模式，操作员可以根据样品内部取向特征获得有关检验样品的最佳透视图。此外，通过利用我们的专有先进功能，Sonoscan可以提供最佳的图像、最高的效率和最理想的结果。AMI技术的优点 在出故障之前把隐藏的缺陷找出来 将薄达200埃的脱层检测出来 材料性能变化定位 测量材料密度，孔隙度，夹杂物 探测裂缝和孔洞 评估热，冲击和疲劳损伤 对被测材料无损伤领先地位在声学显微成像（AMI）技术应用于内部品质无损检测与分析方面，Sonoscan一直是该行业的权威之一。Sonoscan系统被视为精确基准，通过我们的SonoLab&trade 部门，您可以向我们的声学应用工程师进行咨询，获取专业意见和指导。Sonoscan的创始人与总裁Lawrence Kessler博士是一位超声波学与成像系统领域的专家。Kessler博士致力于通过教育项目、客户应用程序评估与新系统开发来实现AMI技术的持续改进。 对AMI技术的专业研究是Sonoscan工作的核心。我们努力提供非凡的数据精确性、出众的图像质量和世界领先的技术。我们在AMI技术方面还拥有多项美国和外国专利。 总之，Sonoscan是您最值得信任的伙伴，我们可以为您节省成本并提高效率。 与 Sonoscan 合作的业界领导者： 全球10大半导体公司 10大汽车半导体公司中的9家公司 10大 国防承包商中的7家承包商 5大MEMS生产商中的4家生产商 市场应用Sonoscan 系统与SonoLab实验室服务可满足多种样品检验需要，并可以检测到使用传统检验方法无法检测到的隐蔽缺陷。 应用领域包括：微电子学领域- 塑料封装IC- 陶瓷电容器- 模片固定、载芯片板（COB）- 芯片型封装（CSP）- 倒装晶片- 堆叠型封装- 卷带式自动接合（TAB）- 混和技术、MCM、SIP- 柔性电路- 印刷电路板（PCB）- 智能卡- 粘结晶片- IMEMS微电子机械系统 (MEMS)- 粘结晶片- 制造工艺评估- 包装 军事/航空/汽车- 高可靠性资格筛选- 产品升级筛选- 资格筛选 IGBT 功率模块用超声检测GBT模块材料- 陶瓷、玻璃- 金属、粉末金属- 塑料- 合成物其他- 芯片实验室、生物芯片和微阵列芯片- 滤筒- 包装、密封- 微射流技术- 聚乙烯/箔袋- 焊件- 传感器

3D超分辨率单分子定位显微镜模块（无需扫描）Reveal new findings hiding in the depths3D超高分辨率单分子定位显微镜-SPINDLE可在不改变现有显微镜光路的基础上实现高精度3D成像，不仅突破了衍射极限，还可捕捉到小至横向尺寸10 nm、轴向尺寸15 nm的细节。在该技术中，SPINDLE3D超高分辨率单分子定位显微镜被安装在显微镜和CCD或相机之间，无需改变现有成像系统设置。基于特殊设计的相位掩模版，从工程化点扩散函数 (E-PSF)出发，使用螺旋相位掩模板来控制景深、发射波长和精度，结合3DTRAX软件对3D图像进行重建和分析，SPINDLE单分子定位显微镜Double Helix 3D显微成像可在不需要扫描的条件下即时捕获 3D 信息，得到无与伦比的深度和精度3D图像，横向精度可达20nm, 轴向精度可达25nm，成像深度可达20um。当与其他工具和技术，包括STORM、PALM、SOFI、光片显微、宽场、宽场显微、TIRF、FRET等一起使用时，可释放巨大的潜力，适用于活细胞、固定细胞和全细胞成像、单分子、粒子跟踪和粒子计数等应用。SPINDLE单分子定位显微镜Double Helix 3D显微成像探索未知的3D：用双螺旋光学工程技术看3D单分子结构；SPINDLE与您现有的显微镜、相机或其他光学仪器无缝集成，实现无与伦比的3D成像和跟踪；从我们的工程相位掩模库中选择zui优的深度、发射波长和信噪比组合，以满足您的需求；使用我们的3DTRAX软件进行zui精确的三维单分子定位成像和跟踪。或者，结合我们扩展的景深相位工程和优化的反卷积模块进行全细胞成像。SPINDLE单分子定位显微镜Double Helix 3D显微成像3D超高分辨率单分子定位显微镜应用领域：多粒子 3D 跟踪多色 3D 单分子定位 (SMLM)扩展景深体积成像全细胞 + 单分子成像光片显微镜多色宽视野显微镜SPINDLE2：单相机双通道SPINDLE2可以同时进行多达4个波长的多色成像成像深度是传统光学的30倍，瞬间捕捉3D信息，不需要扫描可调的单点深度成像，多波长可选可匹配您的任何应用集多功能于一体：单分子定位显微镜，全细胞成像，粒子跟踪，粒子计数使用标准的C转接件，连接任何广角显微镜和emccd或scmos相机通过校正光学确保瞳孔平面对准您的显微镜和物镜具有旁路模式，因此您可以进行单通道实验或恢复为2D成像，而无需拆卸当与其他工具和技术一起使用时，释放出巨大的潜力，包括STORM, PALM, SOFI, lightsheet，广域，TIRF, FRET等SPINDLE单分子定位显微镜Double Helix 3D显微成像SPINDLE：适用于单色或连续双色成像应用，与我们的相位掩模库相匹配，它提供了与我们的SPINDLE2相同的深度精度和校正光学。3D超高分辨率单分子定位显微镜产品特点：1.结构紧凑，安装方便；2.输入和输出端口可安装适配器；3.可定制，系统可靠性高；4.可切换相位掩模板；5.宽视野，可追踪粒子3D成像。 3D超高分辨率单分子定位显微镜产品规格：尺寸210mm*84mm*84mm深度范围2.2微米端口数量1传输效率95%波长范围400nm-NIR关于昊量光电：昊量光电，您的光电超市！上海昊量光电设备有限公司专 注于光电领域的技术服务和产品销售。致 力于引进国 外优 质的光电器件制造商的技术与产品，为国内客户提 供优 质的产品与服务。我们力争在原产厂商与客户之间搭 建起沟通的桥梁与合作的平台。您可以通过我们昊量光电的官方网站了解更多的产品信息，或直接来电咨询。

公司情况简介北京麦特微科技科技有限公司是一家专门从事生命科学、生物检测、生物工程、药物研发、临床检验、环境监测、食品检测等领域提供先进的实验室仪器设备及多元化服务的高科技公司。公司拥有一支由专业技术人员、营销人员和维修人员组成的强大队伍，竭诚为广大用户提供包括技术咨询、产品选配、安装调试、应用指导、维护保养在内的整套细致入微的服务。本着“推荐优秀产品，提供卓越服务”的精神，北京麦特微科技科技有限公司必将成为您最信赖的伙伴！。全自动薄片扫描显微镜、地质薄片显微镜、矿物分析显微镜、荧光显微镜、包裹体显微镜、生物显微镜、电动显微镜、超景深显微镜、体视显微镜、视频显微镜Mineral flakeScanning systemSD3000A矿物光薄片扫描系统公司情况简介北京麦特微科技科技有限公司是一家专门从事生命科学、生物检测、生物工程、药物研发、临床检验、环境监测、食品检测等领域提供先进的实验室仪器设备及多元化服务的高科技公司。公司拥有一支由专业技术人员、营销人员和维修人员组成的强大队伍，竭诚为广大用户提供包括技术咨询、产品选配、安装调试、应用指导、维护保养在内的整套细致入微的服务。本着“推荐优秀产品，提供卓越服务”的精神，北京麦特微科技科技有限公司必将成为您最信赖的伙伴！。基于创立品牌和可持续发展的战略，麦特微愿与业内同行和广大用户一起成长，依托我们在产品资源和技术服务方面的突出优势，服务众多的客户在新技术、新方法、新仪器的应用中受益。品质优先：“质量产生效益，质量赢得市场”。产品质量在我们每一名麦特微人的心中。以质量诚信为荣，树立质量法制观念。“品质第一，客户至上”是我们的理念，让我们携手并进，共创繁荣。服务至上：真诚赢得信任，耐心获取理解；细节决定成败，服务创造价值。不只诚信服务，更是优良服务，不只优良服务，更要惊喜服务，不只惊喜服务，更要完美服务。科学技术：让科技行业带来我们的新生，让我们在科技中提升技术。依托科技与技术让技术更好的服务科技。让科技给技术提供原动力。主要优点1.扫描速度快，每秒3到4张照片的速度进行扫描。2.有全景预览相机，可以快速定位扫描区域，并可以多区域分割扫描。3.高精度Z轴，具备自动对焦功能，快速对焦，光栅闭环回馈，确保全片扫描无虚焦。4.进口核心偏光附件，确保偏光效果，效果不输于进口4大品牌。5.复消色差高分率物镜，确保颜色无偏差，显示更多细节。6.LED冷光源，使用寿命长，可在高亮度下持续工作。7.绿版扫描软件，可随意拷贝，不受限制。产品特点高质量的照明系统：极度明亮的大功率 LED 照明为明场、暗场、偏振光4500°K的恒定色温。它为所有亮度级提供了真正的彩色图像。由于 LED 寿命长、耗能低，因此节省能源的潜能极大。薄片（光片）数字化：将传统地质类薄片（光片）数字化，进行储存管理与分析，最终数据便于宏观与微观观察，脱离时间、空间限制。全自动高速成像：一键操作，自动扫描，搭载高速扫描台，高精度、高重复的Z轴对焦，内置光栅编码器，确保每个视场的对焦精度，图像质量优异。部件介绍本产品由扫描仪主机、控制箱、计算机、扫描及浏览软件组成。其中扫描仪主机的配置包括：显微镜 （含机架、物镜、目镜、光源等） 、电动 XY 平台、电动 Z 轴、相机、 物镜转换器、全局预览模块。 技术参数此段文字只用作占位符，您可以根据您的实际情况，添加、修改、替换此段文字的文本内容，语言描述尽量简洁精炼。文档由稻壳儿耗崽原创设计。主机 高钢性的T形镜体结构，极高的稳定性及系统灵活性。光学系统 光学系统无限远色差校正光学系统。三目镜筒 三档分光（100:0/50%-50%/0:100）,高眼点大视野平场目镜PL10X25mm，视度可调。机架 低手位粗微同轴调焦机构。最大行程30mm 微调精度1微米。带有防止下滑的调节松紧装置和随机上限位装置。内置100-220V 宽电压系统, 双路电源输出，采用数字调光，具有光强强度显示、透射光切换开关, 内置透射光滤色镜。载物台 步进电机XY平台，行程：80 mm （X轴）x 60 mm （Y轴），最小细分：0,05 μm，单向重复定位精度：≤ 1um（测试标准ISO230-2）电动Z轴 分辨率： 0.02 um，内置光栅编码器，光电限位开关，单向重复精度≤ 0.1 μm聚光镜 阿贝聚光镜NA0.9 上下可升降 可调孔径光阑物镜 复消色差高分辨率APO物镜：10X/0.42 20X/0.75灯室 科勒式高亮度LED照明，透、反射通用，预定中心相机 快门模式：全局快门；Sony芯片，35.7fps@2448 × 2048；动态范围75dB； USB3.0（USB3.1 GEN1）数据传输图像处理器处理器：i7；内存：32G 硬盘：256SDD+2T；显卡：独立 4G；显示器： 27寸产品衍生业务本产品可以衍生的显微镜应用，显微清洁度，显微阴极发光，显微热台 该系统能自动识别、并判定杂质的三种类型：金属颗粒、非金属颗粒、纤维。 能自动计算金属颗粒、非金属颗粒的数量并按长度等级依据ISO16232进行归类和判定等级，和计算滤膜上纤维的总长度。 该系统还能自动测量并计算出单个颗粒的长度、宽度等尺寸。 具备能够通过自动调整偏振光的硬件支持功能准确区分金属和非金属颗粒，能够将金属和非金属颗粒区分正确以便有标准的数据依据进行判定阴极发光是由电子束轰击样品时产生的可见光，不同矿物由于含有不同的激活剂元素而产生不同的阴极发光，用来激发并产生阴极发光的装置叫做阴极发光装置，把这种阴极发光装置装在显微镜上则成为阴极发光显微镜。阴极发光显微镜可以广泛地应用于岩石、矿物的鉴定以及成岩作用的研究。 业务三 简称热台。根据不同用途，热台有多种型号。有可安装在偏光显微镜 ，金相显微镜的载物台 上的，有直接取代载物台的，一般用电阻丝作为加热元件，用热电偶 测量样品加热温度。温度范围由室温至750℃，高者达2000℃左右，低者达-55℃，可用于测定矿物中各种包裹体 的均匀化温度，以确定矿物 或矿床 形成时的温度和压力。用于双变油浸法 中测定矿物的折射率；也可测定矿物脱水时的温度；测定矿物多形结构的转变温度；观察加热时矿物光性的变化等产品拍摄样片

KARTHALA AOD多光子随机扫描显微镜法国KARTHALA AOD多光子随机扫描显微镜。光遗传学（optogenetics）是一项整合了光学、软件控制、基因操作技术、电生理等多学科交叉的技术。自2005年，斯坦福大学Karl Deisseroth实验室通过在神经细胞中表达光敏蛋白，响应不同波长的光刺激实现对神经功能的调控，宣布人类正式拥有了操控大脑的工具。长久以来，我们对复杂的神经网络连接的理解仅停留在相关性上，有了光遗传学，我们终于有能力，微创地探究特定的神经环路和大脑功能之间的关系。为您介绍目前市场上专业的商业化多光子声光偏转器随机扫描成像，AOD多光子随机扫描显微镜AOD多光子随机扫描显微镜： 可用ASAP3进行神经动作电位成像全场成像非机械超快速扫描 10KHz/line在整个视场中的停留时间恒定且可调光遗传学双光子扫描：ROI成像可自由选择ROIsROIs之间的飞行速度为10us光遗传学扫描检测系统：任意访问点可自由选择的POIs高达100KHz/POI低于10nm的指向和可重复性光遗传学双光子扫描：随机访问区域超快速局部体积激发（ULOVE)20KHz/Vols全息体积扩展减少活体运动伪影提高光遗传学刺激效率目前世界范围内大多神经类仪器都是检测钙离子为主，而我们不仅仅是钙离子成像，还能做到神经电压指示器成像。这在市场上的其他厂家是无法做到的。AOD多光子随机扫描显微镜系统真正意义上的对神经动作电位进行扫描检测，有了光遗传学双光子扫描，终于有能力探究特定的神经环路和大脑功能之间的关联。法国KARTHALA AOD多光子随机扫描显微镜结合了多光子声光偏转器扫描，声光随机扫描使这一切都变成可能。

仪器简介：在以下方面，easyScan 2扫描隧道显微镜是最理想的工具 在石墨上用易完成的原子分辨率进行非常高分辨率测量 轻松进入纳米世界 大气环境中日常的实验室工作 瑞士Nanosurf公司，全球知名的专业研发扫描探针原子力显微镜制造商和技术服务供应商，在扫描探针原子力显微镜领域有超过15年的研发经验，一直致力于新型扫描探针原子力显微镜的创新性研发和制造。目前已推出新一代低噪音-快速扫描-超高稳定性的AFM 和大扫描范围Nanite AFM系统。瑞士Nanosurf公司承诺提供最高品质的服务和客户支持，同时还提供纳米技术的OEM 客户定制，外包等业务。技术参数：1. 扫描隧道显微镜扫描头 最大扫描范围： X和Y方向0.5um x 0.5um（可以选择1um x 1um） xy轴分辨率： 0.015nm 最大扫描范围： Z方向200nm z轴分辨率： 0.003nm 扫描速度： 每128个数据点，60ms/line 槽压： 5 mV 阶段时，± 10 V 设定点电流： 25 pA阶段时，± 100 nA 反馈回路宽带： 3kHz 自动接近样品 没有使用危险的高电压 包括高效减幅阶段 用0.25 mm的 Pt/Ir 金属丝作为扫描尖端 2. 扫描隧道显微镜电子控制器 数据采集时，可以和任何标准计算计串行端口连接 三个轴都有16位的数据收集与控制系统 轴输出电压：+12V 附加的独立的12位的ADC输入选件 外部电源 可以升级运行AFM扫描仪3. 扫描隧道显微镜软件 测量数据可以实现可视化 不同的窗体的扫描数据可以被同时显示 线观察，点观察，3维观察 在线数学计算功能（减，平均值等等） 可以实现多数据输出 定制显示器、工作场所 多用光谱功能 I-V和I-z曲线测量4. 扫描隧道显微镜可利用的附件和消耗品 覆盖10倍放大高质量光学镜的透明层 全部的STM工具（刀具，钳子，镊子） 提供STM原理信息手册 样品：HOPG，Gold 薄膜，MoS2 云母片上的取向薄膜Gold (111) 接触样品的银粉漆 Pt/Ir STM金属丝(直径为0.25mm)主要特点：可以在大气下进行任何STM实验设计小巧、紧凑；使用简便、舒适扫描仪配置了易接近和可视扫描端自动接近样品所有的功能可以在一台计算机上进行与标准计算机串行端口连接（不需要接界面卡）特殊的扫描仪设计，确保低震动灵敏度

德国KSI单探头多用途超声波扫描显微镜型号：v300/v400E/v-700E/v-1000E 扫描速度最快最准的超声波扫描显微镜 超声波扫描显微镜是利用超声波对微观物体进行成像的无损检测设备。可对各种材料、元器件内部缺陷、空洞、气泡、分层缺陷、杂质、裂纹进行非破坏性检测；还可进行涂镀层结合质量，内部焊接质量，键合层缺陷等检测、空洞率计算等。超声波扫描显微镜应用领域：● 半导体电子行业：半导体晶圆片、封装器件、大功率器件IGBT、红外器件、光电传感器件、SMT贴片器件、MEMS等 ● 材料行业：复合材料、镀膜、电镀、注塑、合金、超导材料、陶瓷、金属焊接、摩擦界面等；● 生物医学：活体细胞动态研究、骨骼、血管的研究等超声波扫描显微镜在失效分析中的应用：● 晶圆面处分层缺陷● 锡球、晶圆、或填胶中的开裂● 晶圆的倾斜● 各种可能之孔洞（晶圆接合面、锡球、填胶…等） 超声波显微镜的在失效分析中的优势：● 非破坏性、无损检测材料或IC芯片内部结构● 可分层扫描、多层扫描● 实施、直观的图像及分析● 缺陷的测量及缺陷面积和数量统计● 可显示材料内部的三维图像● 对人体是没有伤害的● 可检测各种缺陷（裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞等） V系列单探头多用途超声波扫描显微镜KSI v-系列的单探头多用途超声波扫描显微镜的新一代产品。全新研发的扫描器和新型换能器相结合，能大大提高扫描速度。与常规的SAM产品相比，凯斯安 v-系列的检测效率能提高30%。大尺寸扫描区可实现对大型样品的检测，新型KSI v-系列机型创造出无与伦比的性价比。新型KSI v-系列的主要特点：● 扫描速度蕞高可达2000mm/s● 与其它品牌机器相比扫描时间节省30%● 新型的换能器● 成像更清晰● 有单探头、双探头、四探头、八探头系统，达到高效能● 扫描范围最小可至200μm×200μm● 扫描范围蕞大可达1000mm×700mm● 带宽达到550MHz● 蕞大放大倍数：625倍● 可以通过不同的扫描方式灵活应用● 通过Windows 7 GUI简单操作● 为中国用户开发的简体中文界面● 性价比高KSI V400E 多用途超声波扫描显微镜主要参数：● 该型号超声波扫描显微镜系统是实验室、研发和工业生产线主流机型。● 扫描速度蕞高可达：1000mm/s 或 2000mm/s，两种规格可选● 与其它品牌机型相比扫描效率高30%● 蕞大扫描范围：300mm x 300mm 或 400mm×400mm 或 400mm x 800mm，三种规格可选● 射频蕞大带宽：500MHz 或 550MHz，两种规格可选● 常规探头 或 FCT低噪探头，两种规格可选KSI v300失效分析实验室用声学显微镜机械扫描部分● X/Y/Z轴驱动系统是步进马达● X轴和Y轴的蕞高扫描速率是：1000mm/s● 蕞大扫描范围：300mm×300mm● X轴和Y轴的扫描精度：±0.25μm● Z轴是由自锁步进电机驱动● Z轴升降行程：100mm 电子部分和电脑工作站● 超声脉冲发生和接收器带宽：500MHz● 模数转换卡ADC 1GHz● 声学图像蕞大放大倍率400×● 正版Microsoft Windows 操作系统● Intel酷睿处理器● 1000GB 7200rpm硬盘● 22吋平板显示器 软件部分和扫描模式● 点扫描(A-)● 纵剖扫描(B-)● 横剖扫描(C-)● 单配置多层横剖扫描(X-)● 分层缺陷着色● 扫描图像复位功能，轻松重构超扫图像● 图像分辨率蕞大：32.000 x 32.000 （像素）● 扫描图像储存格式：BMP、JPG、sam等各种图像格式● 缺陷尺寸测量工具● 工件厚度测量估算 选件与客制件● 图像分析处理软件包● 专业3D声学图像处理软件包 KSI v-700E 多用途超声波扫描显微镜主要参数：● 该型号超声波扫描显微镜分析系统，用于检测大件样品● 蕞大扫描速度：2000 mm/s● 与其它品牌相比扫描效率高30%● 蕞大扫描范围：700mm×600mm● 最小扫描范围：200μm×200μm● 带宽：550MHz● 蕞大放大倍数：625倍● 新型FCT专利换能器 KSI v-1000E 多用途超声波扫描显微镜主要参数：● 该型号超声波扫描显微镜分析系统，用于研发和生产部门检测特大件样品● 蕞大扫描速度：2000 mm/s● 与其它品牌相比扫描效率高30%● 蕞大扫描范围：1000mm×700mm● 最小扫描范围：200μm×200μm● 带宽：550MHz● 蕞大放大倍数：250倍● 新型换能器

Park NX12 SECCM可提供多功能原子力显微镜平台满足纳米级测量的需求- 原子力显微镜（AFM)有纳米级分辨率成像以及电，磁，热和机器性能测量的能力。- 纳米管扫描系统可用于高分辨率扫描电化学池显微镜和扫描离子电导电显微镜。- 倒置光学显微镜（IOM）便于透明材料研究和荧光显微镜一体化。通过验证的NX10性能通过倒置光学显微镜样品平台，Park NX12将Park原子力显微镜的多功能性和准确性相结合。这使得使用者更容易的使用纳米管技术去研究透明，不透明，或软或硬的样品。电化学测试的绝佳平台电池，燃料电池，传感器和腐蚀等电化学研究是个快速增长的领域，然后许多原子力显微镜不能直接满足其特殊的需求。Park NX12的人性化设计，为快速操作提供便利，从而达到化学研究人员要求的功能性和灵活性。这主要包括：多功能易用电化学池惰性气体和湿度的环境控制选项双恒电位仪的兼容性研究人员可利用NX12平台实现各种电化学应用：扫描电化学显微镜(SECM)扫描电化学池显微镜(SECCM)电化学原子力显微镜（EC-AFM）和电化学扫描隧道显微镜( EC-STM)多用户设备Park NX12完全重新构建，以适应多用户设备需求。其他原子力显微镜解决方案缺乏必要的多功能性，难以满足该设备中用户的多重需求，很难合理控制设备成本。然而，Park NX12旨在能够容纳标准环境原子力显微镜成像，液体扫描探针显微镜，光学和纳米光学成像，使其成为最灵活的原子力显微镜之一。多功能应用Park NX12功能广泛，包括液体中的PinPoint &trade 和纳米力学，倒置光学显微镜定位透明样品，离子电导显微镜超软样品成像，以及改善透明样品光学性能的可视性。综合性的力谱方法Park NX12提供了一种在液态和空气中的纳米力学表征的完整解决方案，使其成为广泛应用中的理想选择。模块化NX12模块化设计不仅安装简单且兼容性强，可以满足研究人员的各种实验需求。Park NX12可用于任何一个项目NX系列的众多扫描模式和模块化设计使它可轻松地适应任何一个扫描探针显微镜的需求。- 标准成像非接触模式成像接触模式成像侧向力显微镜（LFM)相位成像轻敲模式成像-化学性能扫描电化学池显微镜（SECCM)扫描电化学显微镜 （SECM)电化学显微镜(EC-STM和EC-AFM)功能化探针的化学力显微镜扫描离子电导显微镜（SICM）-热性能扫描热感显微镜(SThM)

技术参数：测量模式： STM/ AFM (接触 + 轻敲+非接触)/ 横向力/ 相位/ 力调制/力谱/粘附力/ 磁力/静电力/ 开尔文/ 扩展电阻/纳米压痕/纳米刻蚀: AFM (电压刻蚀 + 力刻蚀) 扫描方式：样品扫描测量头部：AFM和SPM（全内置自动切换），可选配液相模式和纳米压痕测量头最大样品尺寸：直径20mm，厚度10mmXY样品定位装置：移动范围5×5um，软件控制电动定位XY样品定位装置最小步进：0.3um扫描范围：100×100×10um（三维全量程闭环控制扫描器），3×3×2um（低电流模式扫描器）XY方向非线性度：≤0.1%（闭环控制扫描器）Z方向噪音水平（带宽10~1000Hz时的RMS值）：闭环控制扫描器（典型值0.03nm，最大0.04nm），低电流模式扫描器（0.02nm）激光光路系统：电动调节，全自动准直视频显微系统：软件控制电动变焦和连续变倍，软件控制变换视野，分辨率2um样品温度控制：室温~150℃主要特点：全自动化桌面型SPM直观易用的软件界面全自动切换AFM和STM扫描头自动调整激光光路（悬臂—激光—四象限光电探测器）软件控制的电动样品定位平台视频显微镜系统软件控制电动聚焦和变倍视频显微镜系统软件控制定位样品观察视野电动开关样品室门切换不同的测量模式，软件自动调节最优参数人体工程学设计

德国 PVA 超声波扫描显微镜型号： SAM 302 HD2（适合5-6mm 以内翘曲样品，如12寸FOWLP ，一次性扫描完成） SAM 302 HD2 主要技术参数：可根据样品的翘曲情况（5-6mm以内），在扫描过程中实时调整焦距:即 Z 轴一边快速扫描，一边实时自动改变 Z 轴探头的上下对焦位置，使得探头对于检测位置始终处于聚焦状态，从而保证整个样品的扫描图像完整性；不会出现因样品翘曲无法扫描到或者图像灰度值不一样的情况； X / Y 轴均为超高性能线性马达，双马达，且内置磁力机构，配合光栅尺精确定位前后双探头架构，可前后同时 C 扫描，2 倍于单探头扫描效率；一前一后每个探头最大 C 扫描范围≥ 320 x 320 mm扫描速度：最大2,000 mm/s - 可手动或自动调整速度，平均可用1500mm/s XY 轴机械重复精度 ±0.05umADC卡采样频率 5G/秒，带散热风扇；自动聚焦：不仅具有表面自动对焦功能，同时还可对样品内部任意界面自动对焦；在用户需要重复检测同一种类样品时，即使样品摆放有一定的高度误差，设备可以自动对焦到所设定的界面，操作人员不需要每次扫描前将对焦位置重新校准，只需要直接扫描即可。主要扫描模式：A-Scan（点扫描）、B-Scan（纵向扫描）、C-Scan（横向扫描）、X-Scan （多层断层C扫描）、多重门限扫描、T-Scan (透射扫描)-选项、High Quality-高清晰扫描、表面跟踪扫描、Z-Scan实体扫描模式（虚拟再生扫描功能）、多重区域扫描下包括 托盘矩阵扫描、 Z变换扫描（探测扫描）、顺序扫描（序列扫描）、预扫描、自动扫描、分频扫描、覆盖扫描、插值扫描模式等图像分辨率最小: 最大 32,000 x 32,000 像素, 精度最小0.5um像素 在输入扫描面积和每个像素的分辨尺寸后，软件自动计算图像分辨率 定量测量功能：X -Y 长度计算；厚度与距离测量；胶厚测量；可根据样品的实际轮廓（ 圆形，矩形，不规则形）对检测界面、焊接界面质量进行缺陷面积百分比统计分析，样品扫描后可采用鼠标选择扫描范围后提供缺陷尺寸列表并输出报告（可显示所有孔洞尺寸、面积等信息，分析区域的孔洞率、最大孔洞尺寸、面积等），点击列表中任一行可显示该缺陷在扫描图像上的 X/Y 区域，便于进一步分析和定位缺陷；可进行表面平整度测试，显示样品表面3D形貌图并计算高度差异等；配置高分辨率 DTS 动态透射装置：透射接收探头 40MHz f=16mm 或 40MHz f=12.7mm可选；使用者可以像 C-扫描反射探头一样对该透射接收探头进行软件调焦，透射图像甚至可以和C-扫描的分辨率相媲美；DTS 高分辨率动态透射扫描装置 除软件滤波功能外，同时配置外置滤波器，可有效消除杂波，提供更小信噪比的半波，提高有用的信号波形增益，同时又使得波形变成比较窄（带宽比较小）和干净，从而提高扫描图像的分辨率，使得扫描的图像更清晰，软件开关控制；软件操作界面可根据用户使用习惯或专业术语，自行命名（中英文切换）； 联系方式： 德国 PVA 超声扫描中国区独家代理商- 科视达（中国）有限公司联系人：江女士电话： , 手机： E-mail:

WITec alpha 300S独特的悬臂式扫描近场光学显微镜alpha 300S一款操作简易的扫描近场光学显微镜（SNOM），采用独特设备的中空悬臂式近场探针实现超越衍射极限的光学分辨率。alpha 300S系统也具备优越的兼容性和扩展性，可与共聚焦光学/拉面显微镜及原子力显微镜集成在同一台仪器上，仅需旋转物镜转轮即可实现不同模式切换。WITec alpha 300S是一种纯近场光学显微镜，在很多样品上都可获得一致的超高分辨率，并且拥有透射与反射式两种模式。该近场光学显微镜不同于其他的超分辨显微镜，如 STED 和 STORM，后二者往往受限于荧光染料分子的可选种类及特殊的激发光源。 alpha300S 系统采用软件可控的快速自动进针及调节等自动测试流程，操作非常简便、直观。 由于近场光学信号极其微弱，alpha300 S 近场光学显微镜配备高灵敏单光子计数的光电倍增管或雪崩二极管，并同时提供检测器快速超载保护。更重要的是，UHTS 光谱仪可与 alpha300S系统兼容，实现近场光谱与成像测量。 关键特性：突破衍射极限的空间光学分辨率（横向约 60 nm)独家专利的 SNOM 探针技术在空气与液体中均可使用包含多种原子力与光学显微镜模式非破坏性、无需标记的超高分辨成像技术，基本不需要样品制备可升级到关联的共聚焦拉曼成像和近场拉曼成像集成三种技术到一台仪器上：共聚焦显微镜, AFM 和 SNOM技术参数：1）工作模式：近场显微镜，共聚焦显微镜，原子力显微镜三种工作模式； 2）近场光学显微镜分辨率：为50nm 3) 共聚焦拉曼显微镜分辨率：200nm 4) 扫描台扫描范围：100 x 100 x 20 μm 5）探测器：光电倍增管（PMT）或雪崩二极管（APD）

德国 PVA 超声波扫描显微镜型号： SAM 402 （ 前后双探头 ） SAM 402 （ 前后双探头）- 提高扫描效率机型， 主要技术参数：SAM 402 前后双探头同步扫描，每个探头 C 扫描范围最大可达 4300mm * 430mm, 扫描效率是单探头 SAM 401的 2倍，只需 1名 操作人员，节省购买成本、人力使用成本及后期维护成本，是有批量检测效率要求的首选。 以190 * 140mm 尺寸的 DBC 陶瓷基板为例，可一次性前后 12片同时扫描，一举解决效率问题，避免重复购买机台；更节省操作员人力成本1. X / Y 轴均为超高性能线性马达，且内置磁力机构，配合0.1um光栅尺精确定位2. 1前1后每个探头最大 C 扫描范围：≥ 430 x 430 mm3. 扫描速度，最大1,500 mm/s - 可手动或自动调整速度，平均可用1000mm/s 4. XY轴机械重复精度 ±0.1um5. Z 轴移动范围（行程） 0-100mm；且软件可设置Z-轴安全距离Z-limit，避免由于误操作 导致探头撞击 样品；6. 自动聚焦：不仅具有表面自动对焦功能，同时还可对样品内部任意界面自动对焦；在用户需要重复检测 同一种类样品时，即使样品摆放有一定的高度误差，设备可以自动对焦到所设定的界面，操作人员不需 要每次扫描前将对焦位置重新校准，只需要直接扫描即可。7. 主要扫描模式：A-Scan（点扫描）、B-Scan（纵向扫描）、C-Scan（横向扫描）、X-Scan （多层断层 C扫描）、多重门限扫描、T-Scan (透射扫描)-选项、High Quality-高清晰扫描、表面跟踪扫描、Z-Scan 实体扫描模式（虚拟再生扫描功能）、多重区域扫描下包括 托盘矩阵扫描、 Z变换扫描（探测扫描）、 顺序扫描（序列扫描）、预扫描、自动扫描、分频扫描、覆盖扫描、插值扫描模式等8. 图像分辨率最小: 最大 32,000 x 32,000 像素, 精度最小0.5um像素 在输入扫描面积和每个像素的分辨尺寸后，软件自动计算图像分辨率 9. 定量测量功能： X -Y 长度计算；厚度与距离测量；胶厚测量；可根据样品的实际轮廓（ 圆形，矩形，不规则形）对检测 界面、焊接界面质量进行缺陷面积百分比统计分析，样品扫描后可采用鼠标选择扫描范围后提供缺陷尺 寸列表并输出报告（可显示所有孔洞尺寸、面积等信息，分析区域的孔洞率、最大孔洞尺寸、面积等)， 点击列表中任一行可显示该缺陷在扫描图像上的 X/Y 区域，便于进一步分析和定位缺陷；可进行表面平 整度测试，显示样品表面3D形貌图并计算高度差异等；10. 软件操作界面可根据用户使用习惯或专业术语，自行命名（中英文切换）；11. 双探头排列方式可选：11.1 左右并列双探头摆放11.2 前后摆放双探头：11.3 DTS 高分辨率动态透射扫描装置在样品台下方的透射接收探头可以像上面的C-扫描反射探头一样地上下移动进行聚焦，使得发射探头和透射接收探头处于同一聚焦面，保证透射接收探头最佳信号接收状态，达到普通透射扫描所无法达到的穿透能力和分辨率. 联系方式： 德国 PVA 超声扫描中国区独家代理商- 科视达（中国）有限公司联系人： 江女士电话： , 手机： E-mail:

德国 PVA 超声波扫描显微镜型号： SAM 302 （ 前后双探头 ） SAM 302 （ 前后双探头）- 提高扫描效率机型， 主要技术参数：SAM 302 前后双探头同步扫描，每个探头 C 扫描范围最大可达 320mm * 320mm, 扫描效率是单探头 SAM 301的 2倍，只需 1名 操作人员，节省购买成本、人力使用成本及后期维护成本，是有批量检测效率要求的首选。1. X / Y 轴均为超高性能线性马达，且内置磁力机构，配合0.1um光栅尺精确定位2. 1前1后每个探头最大 C 扫描范围：≥ 320 x 320 mm3. 扫描速度，最大1,500 mm/s - 可手动或自动调整速度，平均可用1000mm/s 4. XY轴机械重复精度 ±0.1um5. Z 轴移动范围（行程） 0-100mm；且软件可设置Z-轴安全距离Z-limit，避免由于误操作导 致探头撞击样品；6. 自动聚焦：不仅具有表面自动对焦功能，同时还可对样品内部任意界面自动对焦；在用户需要 重复检测同一种类样品时，即使样品摆放有一定的高度误差，设备可以自动对焦到所设定的界 面，操作人员不需要每次扫描前将对焦位置重新校准，只需要直接扫描即可。7. 主要扫描模式：A-Scan（点扫描）、B-Scan（纵向扫描）、C-Scan（横向扫描）、X-Scan （多层断层C扫描）、多重门限扫描、T-Scan (透射扫描)-选项、High Quality-高清晰扫描、 表面跟踪扫描、Z-Scan实体扫描模式（虚拟再生扫描功能）、多重区域扫描下包括 托盘矩阵 扫描、 Z变换扫描（探测扫描）、顺序扫描（序列扫描）、预扫描、自动扫描、分频扫描、 覆盖扫描、插值扫描模式等8. 图像分辨率最小: 最大 32,000 x 32,000 像素, 精度最小0.5um像素 在输入扫描面积和每个像素的分辨尺寸后，软件自动计算图像分辨率 9. 定量测量功能： X -Y 长度计算；厚度与距离测量；胶厚测量；可根据样品的实际轮廓（ 圆形，矩形，不规则 形）对检测界面、焊接界面质量进行缺陷面积百分比统计分析，样品扫描后可采用鼠标选择 扫描范围后提供缺陷尺寸列表并输出报告（可显示所有孔洞尺寸、面积等信息，分析区域的 孔洞率、最大孔洞尺寸、面积等），点击列表中任一行可显示该缺陷在扫描图像上的 X/Y区 域，便于进一步分析和定位缺陷；可进行表面平整度测试，显示样品表面3D形貌图并计算 高度差异等；10. 软件操作界面可根据用户使用习惯或专业术语，自行命名（中英文切换）；11. 双探头排列方式可选：11.1 左右并列双探头摆放11.2 前后摆放双探头：11.3 DTS 高分辨率动态透射扫描装置在样品台下方的透射接收探头可以像上面的C-扫描反射探头一样地上下移动进行聚焦，使得发射探头和透射接收探头处于同一聚焦面，保证透射接收探头最佳信号接收状态，达到普通透射扫描所无法达到的穿透能力和分辨率. 联系方式： 德国 PVA 超声扫描中国区独家代理商- 科视达（中国）有限公司联系人： 江女士电话： , 手机： E-mail:

德国 PVA 超声波扫描显微镜型号： SAM 401 （适合大尺寸样品一次性扫描完成） SAM 401主要技术参数：1. X / Y 轴均为超高性能线性马达，且内置磁力机构，配合0.1um光栅尺精确定位2. 最大 C 扫描范围：≥ 430 x 430 mm3. 扫描速度，最大1,500 mm/s - 可手动或自动调整速度，平均可用1000mm/s 4. XY 轴机械重复精度 ±0.1um5. Z 轴移动范围（行程） 0-100mm；且软件可设置 Z-轴安全距离 Z-limit，避免由于误操作导致探头撞击 样品；6. 自动聚焦：不仅具有表面自动对焦功能，同时还可对样品内部任意界面自动对焦；在用户需要重复检测同 一种类样品时，即使样品摆放有一定的高度误差，设备可以自动对焦到所设定的界面，操作人员不需要每 次扫描前将对焦位置重新校准，只需要直接扫描即可。7. 主要扫描模式：A-Scan（点扫描）、B-Scan（纵向扫描）、C-Scan（横向扫描）、X-Scan （多层断层 C扫描）、多重门限扫描、T-Scan (透射扫描)-选项、High Quality-高清晰扫描、表面跟踪扫描、Z-Scan 实体扫描模式（虚拟再生扫描功能）、多重区域扫描下包括 托盘矩阵扫描、 Z变换扫描（探测扫描）、顺 序扫描（序列扫描）、预扫描、自动扫描、分频扫描、覆盖扫描、插值扫描模式等8. 图像分辨率最小: 最大 32,000 x 32,000 像素, 精度最小0.5um像素 在输入扫描面积和每个像素的分辨尺寸后，软件自动计算图像分辨率 9. 定量测量功能： X -Y 长度计算；厚度与距离测量；胶厚测量；可根据样品的实际轮廓（ 圆形，矩形，不规则形）对检测 界面、焊接界面质量进行缺陷面积百分比统计分析，样品扫描后可采用鼠标选择扫描范围后提供缺陷尺寸 列表并输出报告（可显示所有孔洞尺寸、面积等信息，分析区域的孔洞率、最大孔洞尺寸、面积等）， 点击列表中任一行可显示该缺陷在扫描图像上的 X/Y 区域，便于进一步分析和定位缺陷；可进行表面平 整度测试，显示样品表面3D形貌图并计算高度差异等；推荐选项：1）在不改变扫描机构主体的情况下，可轻松升级为前后双探头 SAM 402- 2倍于单探头SAM 401的扫描效 率 ； 举例： SAM 402 前后双探头扫描设备，在扫描 190 * 140mm 尺寸的 DBC 陶瓷基板时，前后同时12片 同时扫描，一举解决效率问题，避免重复购买机台；更节省操作员人力成本；2）DTS 高分辨率动态透射扫描装置10. 软件操作界面可根据用户使用习惯或专业术语，自行命名（中英文切换）； 联系方式： 德国 PVA 超声扫描中国区独家代理商- 科视达（中国）有限公司联系人：江女士电话： , 手机： E-mail:

德国 PVA 超声波扫描显微镜型号： SAM 301 SAM 301主要技术参数：1. X / Y 轴均为超高性能线性马达，且内置磁力机构，配合0.1um光栅尺精确定位2. 最大扫描范围：≥ 320 x 320 mm3. 扫描速度，最大1,500 mm/s - 可手动或自动调整速度，平均可用1000mm/s 4. XY轴机械重复精度 ±0.1um5. Z 轴移动范围（行程） 0-100mm；且软件可设置Z-轴安全距离Z-limit，避免由于误操作导致探头撞击 样品。6. 自动聚焦：不仅具有表面自动对焦功能，同时还可对样品内部任意界面自动对焦；在用户需要重复检测 同一种类样品时，即使样品摆放有一定的高度误差，设备可以自动对焦到所设定的界面，操作人员不需 要每次扫描前将对焦位置重新校准，只需要直接扫描即可。7. 主要扫描模式：A-Scan（点扫描）、B-Scan（纵向扫描）、C-Scan（横向扫描）、X-Scan （多层断层 C扫描）、多重门限扫描、T-Scan (透射扫描)-选项、High Quality-高清晰扫描、表面跟踪扫描、Z-Scan 实体扫描模式（虚拟再生扫描功能）、多重区域扫描下包括 托盘矩阵扫描、 Z变换扫描（探测扫描）、 顺序扫描（序列扫描）、预扫描、自动扫描、分频扫描、覆盖扫描、插值扫描模式等8. 图像分辨率最小: 最大 32,000 x 32,000 像素, 精度最小0.5um像素 在输入扫描面积和每个像素的分辨尺寸后，软件自动计算图像分辨率 9. 定量测量功能： X -Y 长度计算；厚度与距离测量；胶厚测量；可根据样品的实际轮廓（ 圆形，矩形，不规则形）对检测 界面、焊接界面质量进行缺陷面积百分比统计分析，样品扫描后可采用鼠标选择扫描范围后提供缺陷尺 寸列表并输出报告（可显示所有孔洞尺寸、面积等信息，分析区域的孔洞率、最大孔洞尺寸、面积等）， 点击列表中任一行可显示该缺陷在扫描图像上的 X/Y 区域，便于进一步分析和定位缺陷；可进行表面平 整度测试，显示样品表面3D形貌图并计算高度差异等；推荐选项：1） 升级为前后双探头 SAM 302- 2倍于单探头扫描效率，只需1名操作人员2） DTS 高分辨率动态透射扫描装置10. 软件操作界面可根据用户使用习惯或专业术语，自行命名（中英文切换）； 联系方式： 德国 PVA 超声扫描中国区独家代理商- 科视达（中国）有限公司联系人：江女士电话： , 手机： E-mail:

LSI系列激光片层扫描显微镜以前所未有的灵敏度，分辨 率以及成像速度帮助生物学家解读活体样品的三维动态 过程。LSI系列显微镜使用了最前沿的光学和工程技术来 产生一束超薄的线性贝塞尔片层光，并用它来实现对生 物样品的高精度光学层析。此项专利技术的应用不仅显 着提高了片层光显微系统的成像分辨率，而且允许系统 使用超弱的激发光便可从样品中获得足够的信号强度， 所以极大的减弱了样品在成像时承受的光毒性，延长了 样品的有效观测时间，以此帮助观测者获得更多高质量的成像数据。 超越激光共聚焦显微技术LSI系列显微镜将激发光的能量严格限制在中心厚度不到400纳米的片层光中。片层光与探测物镜的焦平面重合，用来激发仅在探测景深范围内的样品结构，因此在成像时不会产生任何的背景噪声。同时配合探测物镜具有超大数值孔，可以高效的接收样品发出的微弱荧光信号，且产生的图像可达光学极限分辨率。相较与共聚焦显微，LSI系列在以下方面具有显着优势： 高速活细胞成像 超低的光毒性★拍摄速度可达500幅每秒 ★相较共聚焦减弱1000倍！ 高分辨率三维结构成像 LBS激光片层扫描显微系统★250nm横向分辨率 开创了五维活细胞生物成像的时代：★350nm轴向分辨率 ★3维空间+1维时间+1维颜色 LSI系列片层扫描显微系统的成像原理示意简图 超越传统激光片层扫描显微技术传统的片层光显微技术普遍通过扫描汇聚的高斯光束或者使用柱面镜压缩一个准直的高斯头束来产生片层光而这两种方式产生的片层光在厚度和长度皆被光的衍射特性限制。而LBS技术通过一系列光学手段则可以打破这一限制：产生更薄且更长的LSI系列片层光。因此LSI系列系统在保持传统片层扫描显微技术具有的高成像速度和低光毒性优势的同时，凭藉更精细的光学层析能力进一步显着地提高了成像分辨率和灵敏度。 通过扫描或者用柱面镜压缩一个高斯光束得到的薄（但长度不足）或者长（但过厚）的片层光LSI系列系统产生的超薄且长的LSI系列片层光 相较于传统片层光显微系统，LSI系列技术显着提高了成像系统的光学层析能力和图片的信噪比。比例尺：3微米 亚细胞分辨多维光片成像系统 高度集成的设计LSI系列片层扫描显微镜可立即用于活细胞成像实验：每台显微镜都集成的一套活细胞培养（灌注）系统，这一系统配有精确的温度/二氧化碳环境控制模块从而实现长时间活细胞成像；同时集成了一套具有大视野的EPI荧光显微模块用于定位拍摄目标；以及一套可达纳米精度的三维电动样品台，和最多可集成6通道的Solar2.0光纤激光模块作为光源 具有温度/C02控制的活细胞样品灌注池◆可注入2-5ml培养液或任何液体用于浸润样品◆可实现拍摄时更换培养液或加入药物◆集成了一个Epi荧光成像通道，可选配4x/10x/50x空气物镜 最大化的适用范围LSI系列激光片层扫描显微镜可适用于不同种类与大小的样品。可观测的样品范围包括了细胞爬片，酵母菌细胞或植物细胞组织等。加装大样品成像模块后可将应用扩展至胚胎、小型动物如线虫，果蝇幼虫或者斑马鱼的观测 应用实例 LSI系列片层扫描显微系统拍摄的细胞中微管（绿色）和线粒体（红色）结构的三维荧光显微图像