手持式背散射检测仪

p style="text-align: center "strong第三届电镜网络会议（iCEM 2017）特邀报告/strong/pp style="text-align: center "strong电子背散射衍射技术的应用/strong/pp style="text-align: center "strongimg width="300" height="300" title="杨平.jpg" style="width: 300px height: 300px " src="http://img1.17img.cn/17img/images/201705/insimg/1280f2af-69cd-4994-bc32-48f4cb8c0ee6.jpg" border="0" vspace="0" hspace="0"//strong/pp style="text-align: center " /pp style="text-align: center "strong杨平 教授/strong/pp style="text-align: center "strong北京科技大学材料学院/strong/pp　strong　报告摘要：/strong/pp　　电子背散射衍射（EBSD）技术是快速揭示晶体材料结构、取向及取向差分布、相间取向关系等信息的定量化分析技术，已有超过25年的应用历史。但相对于图像形貌信息与微区成分信息，EBSD技术的初学者对晶体学信息的理解还存在较大障碍。/pp　　基于目前商家在EBSD相关硬件、软件及制样技术上能对用户进行及时的介绍与帮助，本讲座主要从使用者的角度对该技术的初学者可能在材料分析中遇到的晶体学及材料学基础方面的困难进行介绍，给出一些案例；同时对进一步深入应用该技术提出方向性建议。/pp　　本报告涉及的内容有：1）EBSD系统简介及EBSD技术现状；2）与EBSD技术相关的晶体学基本知识；3）与EBSD技术相关的材料学知识；4）EBSD技术在金属材料中的应用案例；5）EBSD技术相关文献；本报告主要针对EBSD技术的初级使用者。/pp　　strong报告人简介：/strong/pp　　杨平，博士，教授/博士生导师，北京科技大学材料学院“材料学基础与材料各向异性”梯队负责人（首席教授）。1982年、1986年分别获得北京科技大学材料专业学士、硕士学位； 1997年获德国亚琛工业大学金属学与金属物理所获材料学博士学位。/pp　　主要研究方向为金属材料形变、再结晶、相变过程的晶体学行为及织构控制技术；擅长使用电子背散射衍射（EBSD）技术。研究材料集中在各类钢、铝合金、镁合金、钛合金；目前集中在各类电工钢及高锰TRIP/TWIP钢的研究。负责国家自然科学基金5项，参加国家863计划3项，国家973计划项目1项，厂协项目10余项等。 国内外发表论文共346篇（SCI文章113篇）；获发明专利4项，获省部级一等奖、三等奖各1项。编著《电子背散射衍射技术及其应用》、《材料织构分析原理与检测技术》、《电工钢的材料学原理》。/pp　　获得北京市教学名师、北京市师德先进个人、宝钢优秀教师奖、北京市教学成果一等奖、二等奖（均为第一获奖者）、2017年入选北京科技大学鼎新学者。编著《材料科学名人典故与经典文献》、《工程材料结构原理》；参编教材《材料科学基础》（北京市精品教材、十二五国家规划教材），《材料科学与工程基础》、《金相实验基础》等；讲授本科生《材料科学基础》（国家精品课程、国家精品资源共享课、研究型教学示范课堂）、全英文《材料形变与再结晶》课程（研究型教学示范课堂）、研究生《材料结构》课程。发表教学研究文章34篇。/pp　　strong报告时间：2017年6月22日上午/strong/pp　strong　立即免费报名：a title="" href="http://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/iCEM2017/" target="_blank"http://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/iCEM2017//a/strongbr//pp style="text-align: center " a title="" href="http://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/iCEM2017/" target="_self"img title="点击免费报名参会.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201705/insimg/c9793b9d-a3ec-4cb2-a453-330b3d0cbf03.jpg"//a/p

上一章（电镜学堂 |细谈二次电子和背散射电子（一））中我们详细的介绍了不同类型的二次电子的特点以及它们与衬度的关系，今天让我们来认识一下扫描电镜中另一个极其重要的信号----背散射电子（BSE）。背散射电子 背散射电子是入射电子在试样中受到原子核的卢瑟福散射而形成的大角度散射后，重新逸出试样表面的高能电子。由于背散射电子的能量相对较高，其在试样中的作用深度也远深于二次电子，通常而言是在0.1-1μm左右。在很多情况下，大家把BSE像简单的认为是试样的成分衬度，但是这种说法并不完全正确。背散射电子（BSE）和衬度之间有些什么关系？A. BSE的成分衬度 背散射电子的产额和成分之间的确存在非常紧密的关系，在整个原子序数范围内，BSE的产额都是随原子序数的增大而提高，而且差异性高于SE（见图1）。所以，这也是大家都用BSE图像来进行成分观察的最主要原因。图1 铜包铝导线截面的SE、BSE像和铝、铜电子产额 不过，这并不意味着BSE的产额仅仅就取决于原子序数，它和试样的表面形貌、晶体取向等都有很大的关系，甚至在部分情况下，BSE在形貌立体感的表现上还要更优于二次电子。B. BSE的形貌衬度 试样表面形貌的起伏同样会影响BSE的产额，只不过BSE产生的深度相对SE更深，所以对表面的细节表现程度不如二次电子。不过，如果对表面形貌不是特别关注的情况下，可以尝试使用BSE图像来进行形貌表征。特别是在存在荷电现象的时候，由于BSE不易受到荷电的干扰，较SE像会有更好的效果（见图2）。在前一章的SE章节中，我们已经介绍过这部分内容，这里不再赘述。图2（左图）5kV， SE图像 （右图）15kV，BSE图像C. BSE的阴影衬度 在进行形貌观察的时候，有时候需要的是图像的立体感。立体感主要来源于在一个凹坑或者凸起处，对其阴阳面的进行判断。在这方面，大角度的SE和BSE因为对称性的关系，在阴阳面的产额及实际探测到的信号量完全一样，所以体现立体感的能力相对较弱。低角SE2信号反而可以较好的体现图像的立体感，处于样品室侧方的ETD探测器在采集低角SE信号时，朝向探测器的阳面信号不受阻碍，背向探测器的阴面的上部分的SE可以绕行后被探测器接收，而下部分则由于无法绕行从而产额降低，此时阴阳面原本产额相同的低角SE信号，在实际采集的过程中发生了接收数量的不一致，从而在图像上表现出阴阳面的亮度不同，我们把这种现象称之为阴影效应。图3 ETD的阴影效应当凸起区域比较高时，阴影效应会显得比较明显，而随着凸起区域高度的逐步降低，当处于阴面的低角SE能够完全绕行时，此时阴影效应就会变得非常微弱。而基于BSE不能绕行的特点，在这种情况下则可以增强阴影效应。BSE产生后基本沿着出射方向传播，不易受到其它探测器的影响。阴阳面的实际BSE产额是相同的，但是如果探测器不采集所有方向的BSE，而是只采集一侧的BSE，阴阳面收集到信号的差异就会变得非常大，而且由于BSE不能像SE那样会产生绕行，所以这种差异要远高于SE。换句话说，利用非对称的BSE得到的阴影效应要强于ETD的低角SE。图4 不同方向接收到的BSE强度及叠加算法除了形貌衬度之外，我们已经在上一章节已经介绍过。对于电位衬度，SE要强于BSE；对于通道衬度，BSE则要优于SE。我们现在再回到SE和BSE的关系上，简单总结一下，BSE以成分为主，兼有一定的形貌衬度，电位衬度较弱，不过通道衬度较强，抗荷电以及阴影衬度也都强于SE，详见表1。表1BSESE能量高低空间分辨率低高表面灵敏度低高形貌衬度兼有为主成分衬度强弱阴影衬度非对称很强低角有电位衬度弱强抗荷电强弱图5 断口材料的SE和BSE图像及衬度对比背散射电子如何分类？在明确了BSE和衬度之间的关系以及与SE的对比之后，接下来介绍一下BSE的分类。不同类型的背散射电子在衬度、作用深度上的表现完全不同，为了能在以后电镜观察中获得最适合的条件，我们也要对BSE细致的分类，并对其各自的特点进行详细的了解。 BSE有弹性散射和非弹性散射之分，弹性散射的BSE能量接近入射电子的能量，非弹性散射的BSE能量要稍低一些，从200eV到接近入射电子能量均有分布。从发射角度来说，从很低的角度到很高的角度也都有分布。无论是能量分布上，还是空间分布上，BSE都表现出不同的特点，在此进行逐一说明。A. 高角BSE： 高角BSE是以接近90° 出射的背散射电子。此类BSE属于卢瑟福散射中直接被反射的情况，经过样品原子散射碰撞的次数也少，且和原子序数衬度也存在最密切的关系。高角BSE相对所包含的原子序数衬度最高，相对作用深度也较小，且和形貌关系较小。因此，高角BSE可以体现最纯的成分衬度。另外，当试样表面有不同取向时，不同取向的原子密度不同，也会影响直接弹性散射的概率。所以，高角BSE也能够很好的体现通道衬度。 因而，在多相的情况下，高角BSE可以表现出最强烈的没有其它衬度干扰的成分衬度；在试样抛光平整的情况下，高角BSE也可表现出对表面很敏感的通道衬度。 不过由于高角BSE的出射角的角度要求很高，因此其立体角很小，所以在所有BSE中相对来说占比也较少，信号相对偏弱。B. 中角BSE： 中角BSE是指那些能进入到镜筒内但达不到高角角度的BSE，角度一般不低于60°。中角BSE由于出射角度降低，因此在其中混有的非弹性散射BSE相对高角BSE而言有所提高，在试样表面的作用深度有所增加，其产额随形貌不同开始受到较大的影响。 中角BSE已经开始兼具成分和形貌衬度，不过由于出射角度依然比较大，作用深度也并不深，分辨率也没有受到太大的影响，依然可以维持在较高水平。而且，由于BSE的抗荷电能力要明显强于高角SE和轴向SE，因此，中角BSE可以作为它们的一个很好的补充。不过中角BSE和高角SE、轴向SE存在一个共同的问题，就是立体感同样不如低角信号。C. 低角BSE 低角BSE是以较低角度出射的背散射电子，通常在20°～60°之间。低角BSE的出射角度进一步降低，因此非弹性散射的电子所占比例也进一步提高，作用深度有了较为明显的加深。相应的，低角BSE的成分衬度较之前二者有了一定的弱化，而对形貌衬度的体现则会进一步的加强。 因此，低角BSE是属于兼具成分和形貌衬度，但是相对能够体现的表面细节不多，且图像分辨率有所降低。不过其抗荷电能力却有了进一步的提高，因此在荷电效应很强时，也可以作为形貌像的重要补充。 以上是按照BSE的出射角度来进行分类，我们把这三种BSE先简单的总结一下，如表2。表2低角中角高角形貌衬度降低成分衬度提高表面灵敏度提高立体感降低抗荷电降低分辨率提高信号强度降低图6 不同角度BSE的衬度对比 前面我们都是按出射角度来进行区分BSE，接下来，我们再看两种比较特别的类型。D. Topo-BSE Topo-BSE是指非对称的低角BSE，具有较为强烈的阴影衬度。由于低角BSE在所有角度BSE中对形貌最为敏感，再根据前面提到的BSE的阴影衬度，将两者结合起来，便可产生强烈的阴影衬度。 例如，对于试样上的一个凸起来说，各个方向产生的BSE信号是对称的，但是低角BSE产额和其形貌有关。如果只采集特定方向的低角BSE，那么朝向这个特定方向的信号量接收就要偏多，而背向这个方向的信号就明显偏少，反映在图像上就会出现明显的阴阳面，从而提高了图像的立体感。 Topo-BSE因为不会像SE那样产生绕行，所以其立体感要优于低角SE。而且，因为Topo-BSE比SE更不容易受到荷电影响，所以对于导电性差的试样，往往会有非常好的效果，如图7。图7 黄铁矿样品（左图）没有荷电，立体感强；(右图)立体感稍弱，且有一定的荷电 试样本身并不会产生这种不对称性，这种不对称性主要是人为故意造成，常用的方法有双晶体或五分割等不对称的BSE探测器的算法、对称BSE探测器的Topo模式采集、试样台的倾斜、以及其它的一些特殊技术。这部分内容将在以后的章节中再为大家详细介绍。E. Low-Loss BSE出射角度不同外，BSE的能量分布也大相径庭，从比较低的能量到接近原始电子束的能量范围内均有分布，如图8。图8 BSE的能量分布其中相对比较特殊的就是非常接近原始电子束能量的弹性散射电子。这些能量非常接近原始电子束的背散射电子，因为几乎都是弹性散射，没有受到能量损失，所以它们最大的特点就是作用深度很浅。因为只有作用深度浅，它们才有较大的概率不受到试样原子的非弹性散射。 所以，我们将这类背散射电子称之为Low-LossBSE，能够反映非常表面的成分的变化，而且出射角度相对较高，因而不容易受到形貌的影响。图9 3kV、2kV和1kV电子束在硅基底内的穿透深度BSE的作用深度要比SE深的多，所以BSE信号对试样表面的灵敏度远不及SE。若要提高BSE的灵敏度，通常需要降低加速电压。以Si基底样品为例，使用的加速电压从3kV降到2kV、1kV，其作用深度分别为80nm、35nm和15nm，如图9。虽然表面灵敏度得到了提高，但是依然无法和SE相提并论，而且加速电压的下降导致了BSE信号的急剧下降。此时，让我们来看Low-Loss电子的作用深度，当加速电压为3kV的电子打到Si基底试样上，如果不进行能量过滤，作用深度在80nm；而能量在2.9keV-3keV的BSE电子，即能量损失在100eV以内的Low-Loss BSE电子，作用深度仅为5nm；如果能量在2.95keV-3keV，即能量损失在50eV以内的Low-Loss BSE电子，作用深度仅为2-3nm，见图10。这样的表面敏感度已经堪比二次电子。图10 3kV入射到硅基底上，不同能量的BSE的作用深度所以Low-Loss BSE是对表面极为敏感的背散射电子，有着和SE相当的表面敏感度。对于那些非常关注表面灵敏度的应用需求上，Low-Loss BSE可以起到极其重要的作用。让我们来看一个实例，二维材料中的石墨烯的观察。众所周知石墨烯的厚度非常薄，如果作用深度比较大的话衬度就会变得很弱，所以我们通常都是用低电压的SE来进行成像。如图11中的低角SE和高角SE图，一般很少有人会选择BSE来对二维材料进行成像，因为常规BSE作用深度较深，衬度非常弱。图11 二维材料，（左图）低角SE图，（中图）高角SE图，（右图）常规BSE图然而，试一下用Low-Loss BSE成像，却得到了出乎意料的效果。使用Low-Loss BSE成像，相当于用极浅的信号将非常薄的石墨烯和基底区分开，此时体现出了极佳的衬度。Low-Loss BSE表面灵敏度远优于常规BSE和低角SE，几乎和高角SE的成像效果不相上下。 图12 二维材料,Low-Loss BSE不同类型背散射电子有些什么特点？我们将通常大家并不注意区分的BSE信号，也根据出射角度的不同，将其分成高角BSE、中角BSE和低角BSE，根据低角BSE接收时的对称性分出Topo-BSE，再根据BSE的能量分布分出对表面极为敏感的Low-Loss BSE。这五类BSE信号会有不同的办法加以区分和接收，这将在以后的章节中为大家说明。我们把这五种BSE的特点，归纳如表3。表3高角BSE中角BSE低角BSETopoBSELow-LossBSE形貌衬度弱中强很强弱成分衬度强中中弱强通道衬度中中强弱弱表面敏感度高中低低很高立体感很低中中高很低阴影衬度无无部分条件有强无抗荷电中中很强很强强分辨率很高高低低中信号强度弱中强强弱好了，今天的介绍就到此为止，同样留下几个小问题，答案将留待下一章揭晓！问题：以下是不同类型背散射电子图片，你能说出分别是由哪种BSE成像吗？ 010203上一期答案问题：您能分得清以下图片分别是哪一类型的SE信号，并且在什么衬度特点上产生的差异吗？01低角SE 分辨率的不同 高角SE02低角SE 立体感的不同 高角SE03高角SE 荷电的不同 低角SE04高角SE 对表面灵敏度或深度信息的不同 低角SE05低角SE 受到电位影响电位衬度的不同 高角SE

二次电子(SE)和背散射电子(BSE)是扫描电镜(SEM)中最基本、最常用的两种信号，对于很多扫描电镜使用者而言，二次电子可以用来表征形貌，背散射电子可以进行原子序数表征已经是基本的常识。然而，二次电子、背散射电子与衬度的关系并非如此简单。今天，我们就来深入的了解一下SE、BSE的细分类型，各自的特点，以及它们和衬度之间的关系。二次电子 二次电子是入射电子与试样中弱束缚价电子产生非弹性散射而发射的电子，一般能量小于50eV，产生深度在试样表面10nm以内。二次电子的产额在很大程度上取决于试样的表面形貌，因此这也是为什么在很多情况下大家把SE图像等同于形貌像。然而，这种说法并不严谨。二次电子（SE）和其它衬度的关系 二次电子的产额其实和成分也有很大的关系，尤其是在低原子序数(Z20)时，二次电子也能够清晰的反映出成分之间的差异。图1中显示的就是SE产额随原子序数Z的关系。 图1 SE产额随原子序数Z的关系 这类实际例子非常多，如图2中的碳银混合材料，SE像不但可以区分出碳和银的成分差异，而且相对BSE图像来说具有更多的形貌细节。图2 碳银混合材料的SE、BSE图像以及碳、银电子产额 所以，如果对于低原子序数试样，或者原子序数差异非常大时，若要反映成分衬度，并不一定非要用BSE像，SE像有时也可获得上佳的效果。 除了成分衬度外，SE还具有较好的电位衬度，在正电位区域SE因为收到吸引而使得产额降低，图像偏暗，反之负电位区域SE像就会偏亮。而BSE因为本身能量高，所以产额受电位影响小，因此BSE像的电位衬度要比SE小的多。图3 另外，如果遇上试样的导电性不好，出现荷电效应或者是局部荷电，这也可以看成是一种电位衬度。这也是当出现荷电现象的情况下，相对SE图像受到的影响大，BSE图像受影响则比较小。这也是为什么在发生荷电现象的情况下，有时可以用BSE像代替SE像来进行观察。 至于通道衬度，一般来说因为需要将样品进行抛光，表面非常平整，这类样品基本上没有太多的形貌衬度。SE虽然也能看出不同的取向，但是相比BSE来说则要弱很多，所以一般我们都是用BSE图像来进行通道衬度的观察。图4 SE和衬度的关系，总结来说就是SE的产额以形貌为主，成分为辅，容易受到电位的影响，取向带来的差异远不及BSE。在考虑具体使用哪种信号观察样品的时候，可以参考表1，SE和BSE特点刚好互补，并没有孰优孰劣之分，需要根据实际关注点来选择正确的信号进行成像。 表1SEBSE能量低高空间分辨率高低表面灵敏度高低形貌衬度为主兼有成分衬度稍有为主阴影衬度弱强电位衬度强弱抗荷电弱强 二次电子的分类 刚才简单介绍了SE和衬度的一些基本关系，接下来我们细谈一下SE的分类。因为不同类型的二次电子在衬度、作用深度上的表现完全不同，使得不同SE探测器采集的SE像会有非常大的差异。因此，为了能在电镜拍摄中获得最佳的效果，我们有必要对SE的类别进行详细的了解。 如果按照国家标准来进行分类的话，SE主要分为四类，分别是：SE1：由入射电子在试样中激发的二次电子；SE2：由试样中背散射电子激发的二次电子；SE3：由试样的背散射电子在远离电子束入射点产生的二次电子；SE4：由入射束的电子在电子光学镜筒内激发的二次电子。 国标这样定义完全正确，然而这样的分类对于在实际电镜操作中并没有太多指导意义。为什么呢？因为不管是什么类别的SE都是属于低能电子，探测器在采集的时候往往也不能对其加以区分。那么，我们现在可以换个思路来理解一下这几种二次电子。由于SE4对成像不起作用，我们在此不进行讨论。A. SE1： 由原始电子束激发，因此其作用深度最浅，对表面最为敏感，我们知道SE本身也有成分衬度，所以SE1也非常能体现出极表层的成分差异。 其次，正因为SE1信号来自于样品的极表面，作用体积小，所以其出射角度应该相对比较高。因此，SE1的分辨率应该是所有类型中最好的。 再者，正是因为SE1的出射高度都是高角，所以其产额不易受到试样表面凹凸不平的影响，因而其分辨率虽好，但是立体感则相对比较弱。B. SE2和SE3： 由BSE激发产生的SE。因为BSE本身作用区域较大，所以在回到试样表面再次产生的SE的作用范围要比SE1大的多，正因如此， SE2和SE3的分辨率也弱于SE1。 其次，SE2和SE3是被位于试样深处的BSE激发，它们的产额在很大程度上取决于试样深处的BSE，而且它们作用区域较深，也更能体现出试样深处的成分信息。 再者，SE2和SE3由不同方向的BSE产生，因此其出射角度相对也较为广泛，从高角到低角均有分布。C. 另外，我们需要再考虑到荷电因素，荷电本身的负电位会将产生的SE尽量推向高出射角方向出射，所以受到荷电影响的电子也一般分布于较高的出射角。 SE1分布在高角、SE2和SE3分布在各个角度，荷电SE分布在高角。这样一来，我们把SE1、SE2、SE3原来按产生的类型分类转化为更加实用的按照出射角度进行分类。即：高角电子以“SE1+荷电SE”为主，低角电子以“SE2+SE3”为主。不同出射角度的SE有着截然不同的特点，我们分别来看一下。A. 轴向SE： 轴向SE是以接近90° 出射的二次电子，其中以SE1所占比例最高。由于作用体积最小，分辨率相应也是最高，且具有最高的表面敏感度，因此可以分辨极表面的成分差异，但是同时对一些并不希望看见的表面沉积污染或者氧化等，也会一览无遗。同时，因为轴向SE中所含的荷电SE也相应最多，所以，一方面对电位衬度最为敏感，另一方面受到荷电的影响也最为严重。B. 高角SE 高角SE是以较高角度出射的二次电子，也是以SE1为主，不过相对轴向SE中所含SE1而言数量稍低。高角SE的分辨率、表面灵敏度、电位衬度相对轴向SE而言也有所降低，不过由于荷电SE占比减少，所以和轴向SE相比，高角SE受到的荷电现象影响较小。高角SE和轴向SE都是向上出射，所以图像的立体感都比较差。C. 低角SE 低角SE是以较低角度出射的二次电子，其中SE2、SE3占有较高比例。所以低角SE反映的是试样较为深层的信息，表面灵敏度低，作用体积大，分辨率也不及高角SE和轴向SE。不过低角SE的图像立体感很好，抗荷电能力也比前两者强。 不同类型二次电子的特点 这样，我们就将原来只能从定义的角度进行区分的SE1、SE2、SE3，转变成出射角度不同的轴向SE、高角SE和低角SE。而按照角度进行分类之后，在实际探测信号时是完全可以对其进行区分的，我们会在之后的篇幅中对其进行详细的介绍。这样，我们现在可以总结一下几种类型SE的特点，如表2。表2轴向高角低角出射角度接近90°大角度小角度凹坑处的观察有信号有信号信号弱分辨率最好很好一般表面灵敏度最好很好较弱立体感差差很好成分衬度极表面成分表面成分较为深处电位衬度强强弱抗荷电能力弱较弱强 很多人都用过场发射扫描电镜，对样品室内SE探测器得到的低角SE2信号，与镜筒内SE探测器得到的高位SE1信号的图像对比会深有感触，很明显两者的立体感相差很大，见图5。图5 低角SE图像（左）和高角SE图像（右） 但是对镜筒内的SE信号再次拆解为高角SE和轴向SE可能会觉得很陌生，虽然前面我们已经对二者进行了介绍，但是毕竟不够直观。我们不妨看看图6，两张图都是使用镜筒内探测器获得，分辨率和立体感都很类似，总体效果非常接近，但是轴向SE（左图）受到小窗口聚焦碳沉积的影响，而同时获得的高角SE（右图）的碳沉积影响则轻微很多。 图6 轴向SE图像（左）和高角SE图像（右） 图7的样品为硅片上的二维材料，左图为高角SE图像，右图为轴向SE图像，轴向SE的灵敏度明显高于高角SE。图7 硅片上的二维材料，高角SE图像（左）和轴向SE图像（右）图8的样品为绝缘基底上的二维材料，左图为高角SE图像，右图为轴向SE图像，可以看到轴向SE受到荷电的影响也要高于高角SE。图8 绝缘基底上的二维材料，高角SE图像（左）和轴向SE图像（右） 总结一下，我们将二次电子拆解成轴向、高角和低角三个不同的类型，它们没有优劣之分，均有自己的特点，有优点也有缺点。我们只有在实际操作时发挥出每种信号的优势，才能获得最适合的图像。 好了，关于SE的分类相对比较简单，相信您已经完全理解，我们将在下一篇中详细说一下BSE。 为了更好的理解这篇的内容，让我们通过几张SE图像来实际感受一下不同类型SE之间的差异吧！ 您能分得清以下图片分别是哪一类型的SE信号，并且在什么衬度特点上产生的差异吗？我们将会在下一期文章中公布答案哦！0102030405

前两个章节我们详细分析了二次电子SE和背散射电子BSE，并对这两者进行了更细致的分类，对它们产生的原因和衬度及其它特点也做了详细的说明。相信读者对这些不同的信号已经有了全新的认识。这一章节我们就要把这些不同类别的电子信号再进行一个回顾和总结。我们将常规定义的SE信号分成了低角SE、高角SE和轴向SE三个类别；又将BSE信号划分为低角BSE、中角BSE、高角BSE、Topo-BSE和Low-Loss BSE等五个类别。在这里我们再介绍一种信号，就是样品台减速模式下的电子信号。前两个章节请参看：细谈二次电子和背散射电子（一）细谈二次电子和背散射电子（二）减速模式下的信号现在很多扫描电镜都追求低电压下的分辨率，而样品台减速技术则是一个行之有效的手段。电子束依然保持高电压，在试样台上加载一个负电位，电子在出极靴后受到负电位的作用而不断减速，最终以低能状态着落在样品表面。这样既保持了高电压的分辨率，又因为低着落电压而有很高的表面灵敏度。图1 样品台的负电位对原始电子束起减速作用样品台减速技术各个厂家叫法不一样，有的叫电子束减速技术，有的称为柔光技术。这里我们统一称为BDM (Beam Decelerate Mode)技术。在BDM技术下，产生的电子信号和正常模式会变得有所不同。图2 样品台的负电位对产生的 SE 和 BSE 起加速作用样品台的负电位对于原始电子来说起减速作用，但是对于产生的 SE 和 BSE 来说，却是起到加速作用。SE 和 BSE 受到电场加速后，都会变成高能量电子，而且出射角度都有增大的趋势。二次电子因为能量小，所以受到电场的作用较大，各个方向的 SE 都会被电场推到相对较高的角度；而背散射电子虽然也会被电场往上方推，不过因为能量相对较高，所以出射角增大的衬度不如 SE 明显，低角 BSE 变成中角 BSE、中角 BSE 变成高角 BSE。 受到样品台减速电场作用的结果就是 SE 趋向于集中在高角附近，而 BSE 的分布范围相对 SE 要广泛一些，不过相对不使用减速模式时角度要有所偏高。图3 减速模式下 SE 和 BSE 的出射角度示意图减速模式下的衬度此时，虽然 SE 和 BSE 虽然产生的原因以及携带的衬度不同，但因为样品台的负电位的作用，能量、出射角度都比较接近，因此从探测的角度来说难以完全区分。因此在 BDM模式下，接收到的电子信号基本都是 SE 和 BSE 的混合信号，兼有形貌和成分衬度。如图4，在减速模式下，无论是硫酸盐上的细胞，还是贝壳内壁，一个探测器获得的图像都可以表现出明显的形貌和成分衬度。 图4 硫酸盐上的细胞（左图） 贝壳（右图）不过虽然都是SE和BSE的混合信号，不同角度探测器的实际效果也有一定的差异。越处于高角的探测器接收到的信号中相对SE所占比例较多，有着更多SE信号的特点，如形貌衬度比重更高；反之越是低位探测器接收到的BSE信号相对较多，表现在衬度上有着更多BSE信号的特点，如图5。 图5 减速模式下较高位探测器(左)和较低位探测器(右)的衬度对比 以往为了同时对比形貌和成分衬度，往往需要 SE 和 BSE 同时进行拍摄，通过SE 和 BSE 图像进行对比，以判断试样中的形貌和成分的对应信息；或者利用探测器信号混合，将 SE 和 BSE 的形貌衬度和成分衬度叠加在一张图像上，如图6。图6. 常规模式下的SE(左)、BSE(中)图像，以及将两者混合的图像SE+BSE(右) 而减速模式下获得的图像衬度比常规模式更加复杂，也正因为如此，减速模式的图像往往蕴含了更为丰富的信息。所以，减速模式除了可以提升低电压下的分辨率外，衬度的多样性也是一个重要特点。如图5和图6的对比，在相同的着落电压下，减速模式下仅需要一个探测器就可获得常规模式SE+BSE混合的效果。 另外，对于减速模式来说，并不一定非要在低着落电压下才能使用。有时候为了同时获得SE和BSE的混合信号，同时在一张图像上获取形貌和成分衬度，在其它电压下也均可使用减速模式。如下图金相试样，在10kV的BSE下只有成分衬度；而在13kV- 3kV的减速模式下，则增加了很多形貌信息。图7 金相试样在10kV下的BSE图像(左)，和13-3kV减速模式下的混合衬度(右) 不过有一点要特别注意，那就是减速模式下虽然也有成分衬度，但是并不意味着图像越亮的地方平均原子序数越高，这一点和常规模式下的BSE图像不同。越亮的地方只能说是SE+BSE混合后的产额越多，受到多种衬度的影响，而不仅仅是成分的作用。如图8，从左边BSE图像上看，金字塔状的晶体材料是原子序数低于基底的，而在最右边的减速模式下，金字塔状晶体和基底虽然也表现出成分差异，但是晶体却显得更亮。图8 晶体材料在常规模式下的BSE像(左)、SE像(中)，以及减速模式下的图像(右)减速模式的总结根据我们前两章介绍的SE和BSE的衬度和特点，我们也很容易总结出在BDM模式下不同位置探测器接收到的信号以及衬度特点，如下表。高位低位SE占比较多较少高角BSE占比较多较少低角BSE占比较少较多分辨率高低表面敏感度高低立体感低高抗荷电弱强成分衬度弱强形貌衬度强更强电位衬度强弱 在减速模式下各个探测器获得的都是 SE 和 BSE 混合的信号，所以都表现出综合衬度的特点。不过相对来说较高位探测器的高角BSE和SE占比较高，因此对表面的敏感度更高、分辨率也更好，不过相对立体感较差，也更容易受到荷电的影响；而较低位探测器的SE占比较少，中低角BSE占比较多，表面敏感度和分辨率都有所下降，不过立体感和抗荷电能力则更好。 因此减速模式下究竟使用哪个探测器，需要根据样品的实际情况以及关心的问题来进行选择，而不要始终用仪器默认的探测器。减速模式对操作者有较高的要求，除了要学会掌握操作技巧外，也需要对图像的综合衬度进行解读和分离。按照惯例，今天还有一个小问题，答案将在下一期公布噢！文末小问题：这是电池隔膜试样的图片，你知道不同角度(左为低角、右为高角)表现出的衬度差异是如何造成的吗？上一期答案问题：以下是不同类型背散射电子图片，你能说出分别是由哪种BSE成像吗？ 01 答案： 中角、低角、高角02 答案：低角、高角、中角03 答案：低角、高角、中角

手持式土壤重金属元素快速检测仪EDX P3600S可以对快速土壤中重金属进行现场分析。用于对各种不同类型的环境进行现场分析，做出快速而全面的污染类型研究。主要应用包括对“原地土”进行检测以便快速进行环境调查和应用于水土保持工程。EDX P3600S采用人机工程学设计，轻便小巧，可提供现场对样品的快速无损分析，采用高清高亮大尺寸电容触控显示屏，操作方便，野外和复杂作业环境适应性强；功能高度集成，仅1台仪器便可满足土壤检测、选矿分析、环保等领域应用；手持式土壤重金属元素快速检测仪内置GPS、WIFI、蓝牙等功能，可记录检测区位地理信息，可联机进行数据传输，具有独创的远程协助技术支持功能技术参数EDX P3600S分析元素范围：从钠(Na)到铀(U)土壤重金属快速检测仪EDX P3600S土壤模式可同时测试Pb、As、Cr、Cu、Ni、Zn、Mn、Hg、Cd等重金属元素，检出限可达mg/Kg级别(以SiO2基体：Pb5mg/Kg、As3mg/Kg、Cr15mg/Kg、Cu10mg/Kg、Zn2mg/Kg、Ni5mg/Kg、Mn10mg/Kg，Hg1mg/Kg，Cd3mg/Kg)；水质分析模式可测试Na到U之间的元素，检出限可达mg/L级别(以水基体：Pb1mg/L、As0.5mg/L、Cr2mg/L、Cu1mg/L、Zn2mg/L、Ni1mg/L、Mn2mg/L，Hg1mg/L，Cd1mg/L)；检测分析时间：3－60秒（可调）；重复性：RSD4%；激发源：50KV/200uA，Ag靶，端窗一体化微型X光管及高压电源，匹配功率≤4W；探测器：采用进口的新款25mm2，0.3mil，fast-SDD硅漂移探测器，能量分辨率可达125eV，探测器使用电制冷技术，无需长时间及频繁等待制冷，4096高通道MCA多道脉冲分析器；高性能处理器和存储器：CPU:Intel四核处理器/1.33GHz,内存2G，数据硬盘32G；屏幕显示：高性能5.5寸高清高亮液晶显示电容触摸屏，操作灵敏，可更好应对现场测试强光照射下的数据观测；准直和滤光系统： 6种滤光片同准直器达可达18种组合自动切换；软件分析模式：土壤分析模式可自动存储测试结果，包含元素的种类、含量结果、及超标与否。储存数据及图谱超过10000组，可通过存储卡扩充容量，测试报告有EXCEL、BMP、PDF等格式，并可导出；数据传输与处理：仪器可通过USB、WIFI、蓝牙联机传输数据或打印，同时可实现仪器与电脑屏幕同步使用等；开机密码保护，设置操作员和管理员两级操作权限，且仪器前部设置有样品感应装置，具空测时自动切断X射线源功能，确保使用人员的安全；防辐射安全性：微型X光管整体化封装，仪器工作时X射线辐射剂量1μSV/h（提供CNAS认证第三方检测报告），可配置铅橡胶保护罩确保松散样品和小样品测试时的安全；分析数据自动统计功能：对多次测试可自动统计***值、***小值，及标准偏差等；现场打印：可以在野外作业现场通过蓝牙打印机打印报告，报告含有至少以下几类信息：检测时间、地块类型（农用地、建设用地）、GPS地理信息、限定值、检测结果、检测结果判定、谱图；测试时间控制方式：具备扳机控制和软件控制模式操作仪器，也可实现USB与电脑连接操作等多种方式；电池：可充电锂电池，容量6700mAh，充满电正常测试可使用6小时以上，仪器有电量显示功能；内置GPS功能，可实时采集和记录测试区位的地理信息；校准：随机配有标准校准片，进行能量校准后测试；软件功能，可实现谱图的比对放大缩小及导出功能，对各元素的特征能量总和进行独立计算，同时可依据客户要求设定固定测试报告模板，直接输出标准格式的测试报告，传输到打印机可实现现场数据的及时打印；仪器质量1.5Kg（含电池）；工作环境适应性：湿度-20℃～+50℃， 相对湿度＜90%；应用领域标样配置土壤重金属快速检测仪根据客户测量样品配备一款标样。（合金标样、RoHS标样、土壤标样等）标准附件AC220V充电器一个、EDX-P3600S能量色散X荧光光谱仪一台创新点：1.探测器头部具有固定的保护装置，在仪器开机前和测样过程中（仪器和被检测对象接触，开始测试样品的过程中），都能防止尖锐物损害探测器.2.探测器：进口fast-SDD硅漂移探测器，能量分辨率≤ 125eV，探测器窗口面积25mm2，探测器使用电致冷技术，无需长时间及频繁等待制冷.3.可以在野外作业现场通过蓝牙打印机打印报告，报告含有至少以下几类信息：检测时间、地块类型（农用地、建设用地）、GPS地理信息、限定值、检测结果、检测结果判定、谱图；手持式土壤重金属元素快速检测仪

前三章我们详细介绍和分析了在各种模式下，二次电子和背散射电子以及各种衬度之间的特点，本章节内我们会对这些内容行回顾和总结。前三个章节请参看：细谈二次电子和背散射电子（一）细谈二次电子和背散射电子（二）细谈二次电子和背散射电子（三） 信 号 类 型 二次电子（SE）按照其产生的原理可以分成 SE1、SE2、SE3 和 SE4，但是在实际使用的时候会发现难以对 SE1～SE4 进行严格的区分，因此我们把 SE 分成更加实用、更容易从操作上掌握的低角 SE、高角 SE 和轴向 SE 这三种 SE 信号。 背散射电子（BSE）根据角度不同将其区分为低角 BSE、中角 BSE、高角 BSE；又从对称性的角度分离出非对称的 Topo-BSE；以及从能量的角度分离出Low-Loss BSE 信号，分为了五种 BSE 信号。 以上3种 SE 信号和5种 BSE 信号，加上本章介绍的减速模式下的信号SE+BSE (BDM) ，一共有九种信号。这九种信号往往需要不同的电镜条件，也有不同的衬度特点，各自信号有着独特优势的同时也存在相应的缺点，具体请参见表1。表1信号衬度工作距离分辨率表面敏感度抗荷电能力景深立体感二次电子（SE）低角SE形貌为主均可一般好好好高角SE形貌、电位为主短好好差差轴向SE形貌、电位为主短好很好差差背散射电子（BSE）低角BSE成分、形貌、通道、阴影分析距离差差很好好中角BSE成分、形貌、通道短好一般好一般高角BSE成分、通道短好好好差TopoBSE形貌、阴影较短一般差很好很好Low- LossBSE成分短好很好好差减速模式下Signal(BDM)形貌、成分很短很好很好好差 衬 度 类 型 前面我们详细了解各个信号在衬度上的特点，那接下来我们反过来思考一下：为了获得各种类型的衬度，或者针对不同的试样和不同的目的，应该如何选择合适的信号进行采集以获得最佳的效果呢？1. 对于不追求超高分辨率的形貌衬度图像，立体感有时显得格外重要。此时，可以优先选择 Topo-BSE 信号来获得极具立体感的衬度；其次可以选择低角 SE 以及低角 BSE 信号。2. 如需获得高分辨的形貌衬度图像，应该优先选择轴向 SE 和高角 SE 信号，其次可以选择中角 BSE 信号。3. 如需获得非常纯的成分衬度图像，而不希望有其它衬度的干扰，可以优先选择高角 BSE 和 Low-Loss BSE 信号。4. 如需获得兼有形貌和成分衬度的图像，可以选择低角 BSE、中角 BSE 信号，有时候减速模式下的信号也可以兼有形貌和成分衬度。5. 如需获得非常表面的成分衬度，如表面污染，二维材料等，可以优先选择轴向 SE、高角 SE 信号，其次可以选择 Low-Loss BSE 以及减速模式下的电子信号。6. 如果不想获得非常敏感的形貌，比如抛光质量不够理想的金相试样，想要进一步减弱划痕影响，可以选择高角 BSE 和 Low-Loss BSE 信号，其次选择中角 BSE 信号。7. 如需获得较深处的成分信号，除了提高加速电压之外，也应该优先选择低角 BSE 和低角 SE 信号。8. 如需获得不同晶粒取向的通道衬度，优先选择立体角最大的低角 BSE 信号。9. 对于很多半导体试样，如果要想获得电位衬度，优先选择轴向 SE 和高角 SE 信号。10. 如需降低荷电效应影响，优先选择 Topo-BSE 和低角 BSE 信号，其次选择低角 SE 和中角 BSE，而避免高角和轴向 SE 信号。归纳一下，参见下表2。表2场景推荐1推荐2分辨率不高的形貌衬度Topo-BSE低角SE低角BSE分辨率较高的形貌衬度轴向SE、高角SESignal (BDT)中角BSE无形貌干扰的成分衬度Low-Loss BSE高角BSE兼有形貌和成分衬度低角BSE中角BSESignal (BDT)极高的表面敏感度轴向SE高角SELow-Loss BSE减弱形貌的干扰高角BSELow-Loss BSE中角BSE深层信息低角BSE低角SE通道衬度低角BSE电位衬度轴向SE高角SE降低荷电Topo-BSE低角BSE低角SE中角BSE̷̷ 这里只列举了一些常见的情况，对于不同的试样或者观察目的，我们要根据这些信号的特点进行灵活运用。甚至当只采集一个信号达不到目的时候，要利用探测器信号混合功能来进一步获得更理想的效果。 信号和探测器的选择 电镜观察中存在这么多的信号，那究竟用什么类型的探测器来区分这些信号呢？对于现在大部分场发射电镜来说，四探测器已经成为一个标准化的配置，即样品室一个ETD探测器，一个极靴下方的BSE探测器，镜筒内有两个探测器。样品室的两个探测器基本上差别不大，镜筒内的探测器会根据物镜的类型以及各厂家的一些特殊技术而有所差别。不过论共性而言，镜筒内的两个探测器，普遍一个位置相对较高，一个位置相对较低。 一台电镜根据自身的设计情况以及工作条件，能够分离出九种电子信号中的部分信号。粗略的进行归纳，可以总结为下表3。（不过需要注意的是，虽然有的探测器在表格中显示可以采集多种信号，但是这只是对大部分电镜做的一个归纳。对于一台具体的电镜而言，并不一定能够实现所有功能）。表3信号推荐探测器1推荐探测器2低角SEETD高角SE镜筒内低位探测器镜筒内高位探测器轴向SE镜筒内高位探测器低角BSE样品室BSE探测器中角BSE镜筒内低位探测器高角BSE镜筒内高位探测器Low-Loss BSE镜筒内能量过滤探测器Topo-BSE特殊优化的ETD非对称样品室BSE探测器 总 结 最后用一首七律对所有章节的内容进行一个总结，希望大家能够对 SE、BSE 信号以及各种衬度之间的关系能够有更深刻的理解，在电镜观察中获得更好的结果。《七律》粉末块体千百状用心制备导电亮半明半暗亮线条积分或能荷电抗二次背散各有用巧用二者图成双高低角度大不同多种模式减速场磁场浸没龙卷降吸汲电子扶摇上电磁静电复合式汇聚角度随能量非是高能分辨强低压窥得俏模样各类衬度分清楚图文相谶好文章元素结构何取向结晶参杂非所长光谱质谱原位解所见所得 All In One上一期答案问题：这是电池隔膜试样的图片，你知道不同角度(左为低角、右为高角)表现出的衬度差异是如何造成的吗？两张图都是在减速模式下拍摄：左图为低角电子，背散射相对占主要部分，表现出形貌衬度，因为材质均匀，所以没有明显的成分衬度；右图为高角电子，二次电子占主要部分，表现为比较明显的电位衬度和形貌衬度。

ATP及手持式ATP荧光检测仪原理介绍ATP( Adenosine Triphosphate),中文名为腺嘌吟核苷三磷酸,又叫三磷酸腺苷。它普遍遍存在于细菌等微生物细胞内,ATP是微生物新陈代谢的能量物质，ATP生物发光法是利用ATP试剂中若干组分如荧光素荧光素酶等与被测样本反应产生光子,再利用深芬仪器手持式ATP荧光检测仪来捕捉和检测发光值,由于被测样本所含细菌等微生物的数量与所含的ATP值、以及ATP值与发光值之间存在一定的函数关系因此通过检测发光值即能得到被测标本所含细菌等微生物含量。手持式ATP荧光检测仪技术参数：1、检测准确度：1×10-16 mol ATP2、检测精度：1 RLU（相对发光单位）3、检测范围：0~9999 RLU（相对发光单位）4、检测下限：检测微生物总量可达到1.4 CFU/ml5、检测时间：标准量15秒、快速测量10秒，二种模式可选6、准确误差：±5%7、屏幕：3.5英寸彩色触摸屏，内置触摸屏较准程序，可直接对触摸屏进行较准9、历史存储：≥20000个数据记录，记录包括检测时间、检测结果、判断结果、检测上限、检测下限等数据10、数据查询：以记录方式查询11、计算机连接：USB 接口，可实时检测并传输检测结果，历史数据下载等12、手持式ATP荧光检测仪电源：5V，2A13、操作温度范围：5℃到40℃14、操作相对湿度范围：20%~80%，15、存放温度范围：-10℃~40℃16、存放相对湿度范围：20%~90%，17、电池：3000mAh充电锂电池18、仪器尺寸（L×W×H）：195mm×75mm×40mm19、手持式ATP荧光检测仪仪器重量：300g以上是手持式ATP荧光检测仪技术参数，如果您想了解更多有关于手持式ATP荧光检测仪操作说明书以及其他问题，请致电深圳市芬析仪器制造有限公司

随着食品安全和品质控制要求的不断提高，辣椒素的有效检测变得尤为重要。手持式辣椒素检测仪凭借其智能化技术，为辣度检测带来了全新的体验。本文将介绍该设备的智能检测功能、便捷的使用方式以及在农业和食品行业中的应用优势。了解更多手持辣椒素检测仪产品详情→https://www.instrument.com.cn/show/C541329.html一、智能化检测：精准度与效率的结合手持式辣椒素检测仪配备了先进的传感器和智能算法，能够快速准确地检测出辣椒中的辣椒素含量。通过内置的微处理器，仪器能够对采集到的电信号进行实时分析，自动调整测量参数，以适应不同种类和成熟度的辣椒。这一智能化检测方式不仅提高了检测的精准度，还大幅缩短了检测时间，让大家可以在短时间内获得准确的辣度数据。二、便携设计：随时随地的检测体验手持式辣椒素检测仪以其小巧轻便的设计，赋予大家随时随地进行辣度检测的能力。设备无需复杂的准备或设置，只需将辣椒样品置入仪器，即可完成测量。操作界面直观易用，大家只需简单几步操作即可获取检测结果。无论是在田间地头，还是在市场或实验室，该设备都能轻松满足各种场景下的辣度检测需求。 三、数据管理：智能化的记录与分析除了实时检测功能，手持式辣椒素检测仪还具备数据存储和分析功能。仪器能够自动记录每次检测的数据，并通过内置的无线连接功能，方便地将数据传输至智能手机或电脑进行进一步分析。大家可以轻松管理、对比历史数据，掌握辣椒的辣度变化趋势，为种植、加工和销售决策提供科学依据。四、广泛应用：从田间到餐桌的全面保障手持式辣椒素检测仪在农业和食品行业中具有广泛的应用前景。对于辣椒种植者，该设备可以帮助他们在不同生长阶段监控辣椒的辣度，从而优化种植策略，提升产量和品质。而对于食品加工企业，检测仪能够确保产品的辣度符合标准，保证产品的一致性与安全性。此外，该设备在市场和餐饮行业中同样适用，为消费者提供辣度明确的产品选择。结语手持式辣椒素检测仪凭借其智能化的检测技术和便捷的操作方式，改变了辣度检测的传统模式。无论是在农业生产、食品加工，还是市场流通中，这款设备都以其可靠、有效的表现，为大家带来了智能辣度检测的新体验，成为保障食品品质的得力助手。

辣椒的独特辣味为美食增添了无数风味，那么如何快速准确测量不同辣椒计辣椒制品的辣度呢？手持式辣度检测仪通过电化学测量方法，将辣味从主观感受转化为可量化的数据，为食品加工和质量控制提供了有力支持。了解更多手持辣度检测仪产品详情→https://www.instrument.com.cn/show/C578542.html工作原理：电化学测量辣味手持式辣度检测仪的核心在于其电化学测量原理。辣椒素类物质是辣味的主要来源，其中包括辣椒素和二氢辣椒素，它们共同构成了辣椒素类物质的90%左右。检测仪利用一次性三电极片，在电位作用下，辣椒素在工作电极表面富集，然后在特定的工作电压下进行氧化还原反应。这个过程中，辣椒素得失电子所产生的电流信号，会在显示器上呈现出相应的氧化还原峰。通过对峰电流大小的分析，仪器可以精确地定量检测出样品中辣椒素的含量，从而提供一个客观的辣度数据。优势：便捷、快速、可靠手持式辣度检测仪以其便捷性和快速性，显著提升了辣度检测的效率。首先，仪器设计紧凑、便于携带，适合在实验室外进行现场检测。其次，电化学测量方法使得检测过程不再依赖复杂的前处理步骤，只需简单操作即可获得准确结果。再者，检测仪的高灵敏度使得它能够对辣椒素进行精准的定量分析，这对于食品生产商在进行产品配方调整和质量控制时至关重要。应用：从田间到餐桌的全程监测手持式辣度检测仪还能适应各种辣椒及其制品的检测需求，无论是干辣椒、鲜辣椒还是辣椒粉，都可以通过这款仪器进行快速测定。对于辣椒种植者来说，仪器可以帮助他们在田间快速检测辣椒的辣度，以决定收获时机。食品加工企业则可以通过检测仪对原材料和成品进行质量控制，确保产品符合既定的辣度标准。在餐饮行业，手持式辣度检测仪还可以用于检测不同菜品的辣度，满足顾客对辣味的不同需求。总的来说，手持式辣度检测仪以其电化学测量原理和多功能应用，帮助行业实现了从口感到数据的科学转化。不仅提高了辣度检测的效率和准确性，更为食品行业的品质提升提供了重要的技术支持。

根据监测点的不同，ATP数值上下限也不同　　下馆子，最怕碗筷、骨碟不干净，可肉眼又看不出&ldquo 猫腻&rdquo 。昨天，一款专门针对物体表面洁净度的快速检测仪在园区亮相。据介绍，只需用检测拭纸在餐具等物品表面轻轻擦拭，15秒后，就能检测出物品表面残留的细菌数量是否超标。　　这款名叫手持式ATP荧光检测仪的高科技产品，由苏州工业园区纳米城的天隆生物科技公司自行研发生产，迄今已是第三代。该公司技术服务部经理黄发平告诉记者，所谓ATP指的是三磷酸腺苷，它是一切生命体能量的直接来源，存在于所有活的动植物细胞、细菌和食物残留中。ATP荧光检测法是根据萤火虫发光原理开发的快速检测技术。有氧条件下，虫荧光素酶催化虫荧光素和ATP之间发生氧化反应形成氧化荧光素并发出荧光，其强度与微生物数量呈比例关系。通过测试荧光信号的强度可得知待测目标被细菌、食物残留等污染的程度，因此检测ATP可以作为判断洁净的指标。　　他表示，以往卫监部门抽查餐馆卫生状况是否达标，把样本带回实验室，经过细菌培养等复杂处理，少则48小时，多则一周才能出具检测结果。而他们生产的手持式ATP荧光检测仪只需要在物体表面轻轻一擦，15秒就能检测细菌数量是否超标，连接移动式手持打印机，实时出具结果。&ldquo 我们行业内有一个统一的ATP标准值，用来衡量细菌数量是否超标。&rdquo 他说，台面、菜刀、砧板等监测点不同，ATP上下限数值也是不一样的。　　据悉，目前这台手持式ATP荧光检测仪市场售价在1万元左右，在西安、上海等地，该产品已被运用于各类医疗卫生机构卫生监督、食品安全现场快速抽检工作中。　　天隆科技是一家针对医学诊断、食品安全、病原体检测和生物学医学科研等市场需求，进行分子诊断、核酸检测、POCT等检验仪器、医疗器械及体外诊断试剂的研发、生产和销售的高科技企业。公司和研发基地分布西安和苏州两地。昨天，天隆科技在园区独墅湖世尊酒店举办新产品发布会，除了手持式ATP荧光检测仪之外，现场还展示了新一代磁珠法核酸提取仪、基因扩增热循环仪器及四通道实时荧光定量PCR仪、多款PCR检测试剂等高科技产品。　　据悉，未来2年，天隆科技还将建成医学诊断仪器与试剂的综合性生产基地，仪器产品种类将扩展到8大类20余项产品，覆盖从大型自动化监测工作站到小型便携式快速诊断仪器，配套试剂品种将达到百种以上，形成完整、成熟的分子诊断类产品线。2015年项目达产后将达到3亿元的年产值。

手持式能量色散X射线荧光光谱仪及其应用研究(李福生，电子科技大学教授、博士生导师）摘要光谱分析及信息科学被广泛应用于工业检测、污染防治等领域。X射线荧光光谱（X-Ray Fluorescence spectrometry, XRF）由于具有快速、无损、精确等优点，在环境污染监测、中草药鉴别、金属回收等方面具有十足的研究潜力和广阔的应用前景。人工智能及高端装备研究团队立足于自主研发的手持式X射线荧光光谱元素分析仪（TS-XH4000），利用X射线荧光光谱分析技术结合先进的人工智能算法开展土壤污染监测、土壤质量综合评价、铁粉元素测量等研究工作。团队研发的新一代手持式X射线荧光光谱仪采用具有可实现盲测，检出限低，可测微量元素等优势。1.引言能量色散X射线荧光光谱分析技术由于其快速、无损和精确的检测优点，目前已经被广泛应用于煤质分析、安检过程、资源勘采、货物通关、环境检测和中草药检测等领域[1][2][3]。能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪[4]。目前国内外同类手持式X射线荧光光谱分析仪主要包括美国品牌Niton生产的分析仪[5]，日本生产的Olymbus光谱仪[6]和日立光谱仪[7]等。这些光谱仪普遍存在精准度一般、采购成本较高、难以单独定制等问题。而本团队设计的X射线荧光光谱仪历经几代研发，采用智能AI算法，可实现盲测，检出限低，可测微量元素；采用全球首创9mm*5mm腰形窗口，保护探头、便于测细小物品及不规则物品；安全性高，所有仪器均配有已申请专利的探头保护盖，自检安全保护；且工作状态有灯带提示，配有物料感应功能，利于物体识别，很好保护操作者的安全。本团队光谱仪的所有核心技术都归自己所有，不受国外任何技术限制。本团队所设计和研发的型号为TS-XH4000-SOIL的手持式能量色散XRF光谱仪（基于 AMPTEK INC.的 SDD 探测器）利用智能能量色散荧光分析法可以同时得到检测样品的X荧光光谱图及样品中所含元素种类和含量，测量元素范围为Na(11)-U(92)。此外，团队结合新型人工智能算法，例如BP神经网络[8]、支持向量回归[9]、贝叶斯优化算法等[10]，设计了计算机校正软件，实现了基于X射线荧光光谱的中草药真伪鉴别，基于X射线荧光光谱的土壤重金属元素含量和铁粉含量的精确定量分析。2. 仪器组成本团队自主研发的手持式X射线荧光光谱仪集成先进智能算法、人体学设计外观结构、各型接口等，可在合金回收、土壤污染检测、中草药鉴别等众多领域应用。该光谱仪主要由激发源（X射线光管）、探测器、滤光片、多道脉冲幅度分析器等部分组成，结构示意图如图1所示。X射线管配有电源（最大电压50kV，最大电流200mA）。在仪器测量之前，需要先根据死时间、光谱信号噪声、光谱分辨率等指标将仪器的相关参数调整至最佳，然后通过检测纯元素的X射线光谱，完成能量刻度的定标，实现从通道数到能量刻度数的转换。接着，将定量模型算法需要的变量、算法参数、补偿系数、预处理流程等设定到主控内存中，完成采集完信号后并解析信号，最终反演物质的元素含量等信息，并通过WIFI或蓝牙将仪器所测量的精度显示到PC端。图1 手持式X射线荧光光谱仪的结构示意图本团队还设计了谱图预处理及模拟谱图生成的软件，其软件界面如图2所示。其主要功能包括：能量刻度转换、初级光源预处理、初级光源生成、Sigma计算、 XRF光谱模拟等功能。该程序可以生成多元素样本的 XRF光谱图及光谱大数据，为人工智能对样品的定性和定量分析提供数据支持，旨在实现元素的无标样的定性定量分析。图2 X射线荧光光谱分析仪控制程序主界面3. 土壤元素实验分析土壤质量综合评价与土壤中各种元素的含量有着密切的联系。因此本实验研究了XRF技术结合SVR算法定量分析土壤中铜（Cu）元素含量的可行性。如图3所示，本实验使用的设备是由课题组研究生产制造的手持式ED-XRF光谱仪，型号为TS-XH4000-SOIL，该设备的X射线管在45KV和25uA下正常工作。实验中采用了55个国标样品作为土壤标准样品，样本中每个待测元素都具有足够宽的含量范围和适当的含量梯度。图3 土壤样本与XRF光谱仪在验证中，将实验样品分为训练集和测试集两个集合，分别用于外部验证和内部验证。然后，基于灵敏度分析得出Cu元素主要受到Fe、Co、Ni、Cu等组分信息的影响，选择最优输入特征为该4种元素。使用最优输入特征和全部特征作为输入，基于贝叶斯优化算法找到最优模型参数，分别建立了预测土壤样品Cu元素含量的SVR定量预测模型。同时以全部特征作为输入建立了单参数PLS模型，通过5倍交叉验证(CV)选择单参数PLS模型的最优主成分个数为9。基于校准集数据分别建立了三种模型，利用这些模型对13个测试集和42个训练集数据中的Cu元素含量进行预测，结果如图4所示。图4 Cu元素的预测结果 (a):经过特征降维的SVR模型 (b):全部特征作为输入的SVR模型 (c):PLS模型可以看到，对训练集数据进行直接预测时，采用全部特征作为输入的SVR模型取得了最好的效果，其预测结果和原数据几乎一致(R2C= 0.9988, RMSEC = 6.9356)，然而，对于测试集数据采用全部特征作为输入的SVR模型获得了非常差的结果(R2P= 0.9146, RMSEP = 73.8296)。基于4个高灵敏度特征的SVR在预测测试集时获得了非常好的效果(R2P= 0.9918, RMSEP = 22.8803)，预测数据的一致性较好。在XRF技术结合SVR定量分析中，变量选择对于测试集的预测精度有关键作用。4. 中草药元素实验分析本实验采用30份金银花样品主要选择产地为山西、河南、湖南与广西省，其中每个产地各选择5份，共20份，并将样本命名为JYH-01~JYH-30。7份外观相似的山银花样品，产地为湖南省，样本命名为SYH01~SYH-07。3份粉末相似的商陆、多穗金粟兰、宽叶金粟兰样本，命名为DB-01~DB-03。三类真伪中药材的XRF数据集各有其特有的性质，本文使用t-SNE算法可以提取出三组XRF数据集的前350 维特征，将这些特征降维映射至二维图片中进行可视化分析，如图5所示。可以明显的看出这三组真伪中药材的 XRF数据集在图片二维空间中位于三簇不同的位置。从而三组样本在含有以上5种元素重要相关信息的350维数据在映射至二维中有了明显的区分，比原始XRF光谱图更容易理解与分析。图5 基于金银花、外观相似伪样本、粉末相似伪样本三组XRF样本集的t-SNE特征降维可视化图为更直观地了解这土壤和中草药XRF数据集的固有特性，利用t-SNE算法将350维的XRF特征映射到二维空间并在同一幅图中进行可视化分析。如图6所示，两个数据集在二维空间聚集成了两个分布位置不同的簇。首先，两组样本在含有重要相关信息的350维数据在二维图中有了明显的区分，比原始XRF反射光谱图更易于分辨。图6 两组XRF样本集的t-SNE特征降维可视化图5. 铁粉元素测量及实验分析针对手持式X射线荧光分析技术在铁粉行业的应用，本团队开展X射线荧光背景散射内标法用于铁粉元素测量的应用研究。首先，通过低电压高电流、高电压低电流、不同采集板的增益，选择合适的设备参数获取较优的特征X射线信号。接着，分别采用SiPIN、SDD类型探测器的手持式X射线荧光分析仪建模，Si-Kα峰、Fe-Kβ峰加背景散射线内标对铁粉中的元素含量进行建模。最后，根据含量已知的铁粉样品对所建立模型的确定度系数R2和均方根误差RMSE进行评估，选出不同场景情况下合适的应用模型。表1 SiPIN探测器时铁粉中Fe元素预测结果表2 SiPIN探测器时铁粉中Si元素预测结果表3 SDD探测器时Fe元素预测结果表4 SDD探测器时Si元素预测结果如表1和表2所示，为采用SiPIN探测器的建模结果。Si-Kα峰加背景散射线内标的结果，R2为0.9070， RMSE为0.0007； Fe-Kβ峰加背景散射线内标法的结果，R2为0.88，RMSE为0.0037。如表3和表4所示，为采用SDD探测器的建模结果。Si-Kα峰加背景散射线内标的结果，R2为0.9869，RMSE为0.0002； Fe-Kβ峰加背景散射线内标的结果，SDD探测器Fe建模结果，R2为0.9099，RMSE为0.0033。采用SDD探测器定量结果验证结果更好，这与SDD探测器性能良好有关。6. 总结本团队基于自主设计和研发的手持式ED-XRF光谱仪，结合人工智能算法对土壤重金属元素含量、中草药成分和铁粉元素含量进行准确定性、定量分析。所设计的TS-XH4000-SOIL光谱仪具有高精度和高可靠性，提出的先进人工智能算法框架可以有效校正土壤和铁粉XRF光谱和待测元素含量的复杂映射关系。因此，本团队研发的光谱仪和相应的人工智能算法软件在环境监测和保护、冶金行业及其他分析化学领域都有着广泛重要的应用。参考文献[1] 甘婷婷, 赵南京, 殷高方, et al. 水体中铬,镉和铅的X射线荧光光谱同时快速分析方法研究简[J]. 光谱学与光谱分析, 2017, 37(6):7.[2] 王袆亚, 詹秀春, 袁继海,等. 偏振能量色散X射线荧光光谱测定地质样品中铷锶钇锆元素不确定度的评估[C]// 第八届全国X射线荧光光谱学术报告会. 0.[3] 张辉, 刘召贵, 殷月霞,等. 能量色散X射线荧光光谱法测定中草药中的Cd元素[J]. 分析测试技术与仪器, 2019, 25(3):5.[4] 张颖, 汪虹敏, 张辉,等. 小型台式EDXRF现场快速测定深海沉积物中稀土元素[J]. 海洋科学进展, 2019, 37(1):11.[5] Ene A, Bosneaga A, Georgescu L. Determination of heavy metals in soils using XRF technique[J]. Rom. Journ. Phys, 2010, 55(7-8): 815-820.[6] Adame A. Development of an automatic system for in situ analysis of soil using a handheld Energy Dispersive X-Ray Fluorescence (EDXRF)[J]. 2020.[7] Antunes V, Candeias A, Carvalho M L, et al. GREGÓRIO LOPES painting workshop: characterization by X-ray based techniques. Analysis by EDXRF, μ-XRD and SEM-EDS[J]. Journal of Instrumentation, 2014, 9(05): C05006.[8] Li F, Yang W, Ma Q, et al. X-ray fluorescence spectroscopic analysis of trace elements in soil with an Adaboost back propagation neural network and multivariate-partial least squares regression[J]. Measurement Science and Technology, 2021, 32(10): 105501.[9] Yang W, Li F, Zhao Y, et al. Quantitative analysis of heavy metals in soil by X-ray fluorescence with PCA–ANOVA and support vector regression[J]. Analytical Methods, 2022, 14(40): 3944-3952.[10] Lu X, Li F, Yang W, et al. Quantitative analysis of heavy metals in soil by X-ray fluorescence with improved variable selection strategy and bayesian optimized support vector regression[J]. Chemometrics and Intelligent Laboratory Systems, 2023, 238: 104842.作者简介李福生，电子科技大学教授，博士生导师。在核粒子能谱分析、蒙特卡洛模拟、人工智能与云计算技术、模式识别及智能系统、控制科学及多智能体、智能制造及智慧工厂等方面的研究与应用成果斐然，具有丰富的理论研究基础和工程应用经验。曾就职于美国GE-贝克休斯公司、荷兰皇家壳牌集团等国际 500强企业的科研院，并兼任美国北卡罗莱纳州立大学客座教授。近年来在国际权威杂志发表高水平论文30多篇，拥有2项国际发明专利和50多个国内专利，出版学术专著1册，参与多个国际重大研发项目。在仪器研制方面，成功研发了多代高精度手持式X射线光谱成分分析仪，且已经过上海市计量测算技术研究中心的专业鉴定，具有高灵敏度、高准确度、快速无损等特性，可广泛应用于石油、天然气煤层气勘探与开采，铀矿探测以及金属、食物、植物、土壤的检测等，对实现我国在地质考古、公共安全、环境保护、食品安全等领域的探测设备核心部件的升级及市场国产化产生了重大影响。e-mail：lifusheng@uestc.edu.cn

FT-ATPatp手持式荧光检测仪-风途产品上新-ATP生物荧光检测仪FT-ATPatp手持式荧光检测仪-风途产品上新-ATP生物荧光检测仪：该设备为全新升级产品，大屏幕触摸显示屏，代替传统按键。操作采用生物化学反应方法检测ATP含量，ATP荧光检测仪基于萤火虫发光原理，利用“荧光素酶—荧光素体系”快速检测三磷酸腺苷（ATP）。ATP拭子含有可以裂解细胞膜的试剂，能将细胞内ATP释放出来，与试剂中含有的特异性酶发生反应，产生光，再用荧光照度计检测发光值，微生物的数量与发光值成正比，由于所有生物活细胞中含有恒量的ATP，所以ATP含量可以清晰地表明样品中微生物与其他生物残余的多少，用于判断卫生状况。　　仪器特性：　　实用性 —— 可根据环境检测需求设定上下限值，做到数据快速评估预警，表面洁净度快速筛查。　　灵敏度高 —— 10-15～10-18 mol　　速度快 —— 常规培养法18-24h以上，而ATP只需要十几秒钟 .　　可行性 —— 微生物数量与微生物体内所含ATP有明确的相关性。 通过检测ATP含量，可间接得出反应中微生物数量　　可操作性 —— 传统培养方法需要在实验室由经过培训的技术人员进行操作；而ATP快速洁净度检测操作非常简便，只需简单的培训即可由一般工作人员进行现场操作。　　体验更好 —— 试子套管采用插拔式灵活设计，可定期清洗长期使用，延长仪器寿命。　　主要参数：　　1、显示屏：3.5英寸高精度图形触摸屏　　2、处理器：32位高速数据处理芯片　　3、检测精度：1×10-18mol　　4、检测范围：0 to 9999 RLUs　　5、检测时间：15秒　　6、检测干扰：±5﹪或±5 RLUs　　7、操作温度范围：5℃到40℃　　8、操作湿度范围：20—85﹪　　9、ATP回收率：90-110%　　10、检出模式：RLU、大肠菌群筛查　　11、50个用户ID 设定　　12、可设定的结果限值个数：251个　　13、自动判断合格与不合格　　14、自动统计合格率　　15、内置自校光源　　16、开机30秒自检　　17、配有miniUSB接口，可将结果上传至PC　　18、配备 软件驱动U盘代替传统光盘　　19、仪器尺寸（W×H×D）：188 mm×77mm×37mm　　20、使用可充电锂电池免电池更换　　21、备用状态（20℃）：6个月　　22、中文操作手册　　23、稳定的液体荧光素酶　　24、润湿的一体化采集拭子　　风途ATP荧光检测仪用途广泛，可用于： 食品、医药卫生、医药、日化、造纸、工业水处理、国防以及环保、水政、海关出入境检疫及其他执法部门等多种行业 。　　随机配置：ATP荧光检测仪（手持）主机、铝合金手提箱、驱动U盘、PC数据线、数据分析软件、中文操作手册

GR-3012型手持式VOCs检测仪1.产品概述 GR-3012型手持式VOCs检测仪（以下简称检测仪）是我公司研发的一款PID光离子化检查原理快速测量总挥发性有机物浓度的手持式仪器。本仪器主要用于现场检测环境空气，应急（泄漏）事故监测、职业卫生场所、石化企业安全检测以及储罐、管道、阀门泄漏检测等的总挥发性有机物浓度，根据不同的需求可选配不同量程的传感器。2.适用范围适用于环境空气，应急（泄漏）事故监测、职业卫生场所、石化企业安全检测以及储罐、管道、阀门泄漏检测等的总挥发性有机物浓度。配备专门的土壤打孔器和取样管可实现对土壤挥发在空气中的有机挥发性气体进行快速检测。3.依据标准HJ 1019—2019 《地块土壤和地下水中挥发性有机物采样技术》4.技术特点1. 可选择不同量程的传感器，分辨率可达1PPB，测量量程可达10000PPM；2. 内置上百种VOCs气体的校正系数，测量数据更准确；3. 高灵敏度、高稳定性、响应迅速；4. 传感器气室外置，更换传感器方便； 5. 采用进口采样泵，负载能力强，使用寿命长； 6. 电子流量计、闭环流量控制，流量不受管道负压影响，测量数据更稳定；7. 内置高能锂电池,一次充电可连续工作8小时；8. 便携式，体积小、重量轻；9. 配备蓝牙打印功能，打印项目可自由选择； 10. 报警功能，上、下限报警值可任意设定。11. 测量数据包括平均值、峰值、TWA值、STEL值等多种浓度信息 5.技术指标 表1技术指标主要参数参数范围分辨率准确度采样流量0.7L/min0.01L/min优于±5%VOCs传感器20PPM0.001PPM优于±5%200PPM0.01PPM2000PPM1PPM10000PPM1PPM负载流量 20kPa 工作温度(-20~+60)℃数据存储能力1000组电池工作时间大于8小时仪器噪声60dB(A)整机重量约0.9kg外型尺寸（长×宽×高）200×100×50功耗5W创新点：GR-3012型手持式VOCs检测仪是我公司研发的一款PID光离子化检查原理快速测量总挥发性有机物浓度的手持式仪器；根据不同的需求可选配不同量程的传感器，配备专门的土壤打孔器和取样管可实现对土壤挥发在空气中的有机挥发性气体进行快速检测；内置上百种VOCs气体的校正系数，测量数据更准确；采用进口采样泵，负载能力强，使用寿命长；便携式，体积小、重量轻、使用寿命长，一次充电可连续工作8小时。手持式VOCs检测仪

ALERT100型多功能辐射仪是根据核快速应急反应监测技术要求，应用于核医学、分子生物实验室、核材料运输及其它存在αβ表面沾污和X，γ辐射的方面，是一款智能化便携式核辐射检测仪器。它兼具可用来测量Xγ辐射剂量率。 ALERT100多功能核辐射检测仪是一款多用途的设备，采用探头内置结构，探测采用美国传感器公司（LND）大尺寸（1.77英寸）扁平螺旋式传感器，这种传感器对不同能量强度的放射线具有良好的响应性，特别是针对低强度及穿透力较弱的α、β射线能提供良好的探测效率，ALERT100是一款操作简单的仪器，即可用于用于测量诸如地面、墙壁、桌子、衣服、皮肤及其它物质表面因α、β粒子造成的表面沾污强度，亦可以应用于测量环境中自然或者放射源设备泄漏的x、γ射线剂量率强度。特点：l 多种测量模式选择l 支持多种单位显示:CPs、USV、uSv/h、l 自定义报警功能，可关闭l 大字体液晶显示器，易辨识l 显示更新率1次/S，反应快，灵敏度高l 主机及外置探测器外壳采用金属结构，整体结构坚固l 主机自带探头固定夹具，方便单手操作l 主机内置锂电池，低功耗设计，连接使用时间约100小时l 可订制其它规格外置探测器 应用： l 检查局部的辐射泄露和核辐射污染；l 检查石材等建筑材料的放射性；l 检查有核辐射危险的填埋地和垃圾场；l 工业用的X射线仪器的X射线辐射强度；l 检查地下水镭污染；l 检查地下钻管和设备的放射性；l 监视核反应堆周围空气和水质的污染；l 检查个人的贵重财产和珠宝的有害辐射；l 检查瓷器餐具玻璃杯等的放射性；l 定位辐射源；l 家居装饰潜在辐射检测l 环境放射性安全监测。。。。。。 规 格:测量射线种类：α、β、γ和Χ射线 探 测 器：扁平云母窗GM探测器，有效直径1.77”(45mm)。云母薄片密度1.4-2.0mg/cm2 。 显 示 屏：液晶显示器。平均周期：显示器每1s更新一次显示，默认显示标准强度下前面6s的平均值。平均周期随着辐射强度的增大而缩短。 测量范围：α：0~8000 CPS；β：0~8000 CPSx、γ：0.01~1,100μSv/h 能量响应：25KeV～3MeV，变化的限值为15%； 灵敏度：342 CPM/μSv/h(Cs-137) 探测效率（对90Sr+90Y(β)）：54％，表面灵敏度（对90Sr+90Y(β)）：500 CPM/Bq.cm-2； γ剂量率指示的固有误差：不大于10%；角响应：（137Cs）不超过15%。 本底读数：60 CPM 精 度： 10% 警报设置范围：自定义设置 指 示 灯：每探测到一次计数（一个电离过程），红计数灯就会闪动一次 声音报警器：内置蜂鸣器（可关闭可实现静音操作） 电 源：主机内置锂电池，3.7V 工作环境：0oC ~50oC，40%～95%RH（无冷凝） 规 格：144*78*33(mm) 重 量：0.38Kg创新点：比市面上同类产品多了多模式显示功能，最大的亮点是增加了图谱模拟显示功能，增加温度显示功能，增加了内部时钟。显示剂量率 单位支持(Sv/h，R/h，CPS，CPM)显示累计剂量 单位支持(Sv，R，CP)粒子声(可开可关)剂量率报警(1，10，100)背光亮度(十级可调)自动关闭背光(关 30s 1分 5分)自定义剂量换算率 可用于自行更换管子和校准显示模式(大字模式 模拟表模式 表格模式)显示时间(年月日星期小时分秒 关机走时)显示温度PKSAIR手持式ALERT100多功能核辐射检测仪

p style="text-align: justify text-indent: 2em "strong【作者按】/strong高能电子束轰击样品，产生样品的各种信息。其中溢出样品表面的二次电子、背散射电子是扫描电镜获取样品表面形貌像、成分像的主要信息源。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "它们如何产生？传统观念认为：二次电子是高能电子束与样品原子核外电子发生非弹性碰撞，形成能量交换，核外电子获得能量被激发，产生“二次电子”；背散射电子是入射电子与原子核或核外电子碰撞，发生弹性或非弹性散射，形成散射电子，那些与入射电子方向相反的散射电子就是“背散射电子”。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "二次电子主要来自原子核外那一层？许多教科书认为源于最外层，也有教科书认为来源于最内层。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "为什么二次电子会含有样品表面形貌信息？背散射电子会带有样品成分信息？最流行的观念认为，不同斜率的平面二次电子产额不同，表面形貌可以看成由不同斜率的平面所组成，因此二次电子带有大量的样品形貌信息。样品的原子序数（Z）不同对高能电子束的散射也不同，故背散射电子含有大量成分信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "以上观点是否存在问题？表述是否全面？要回答这些问题，就要从物质的组成谈起。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong一、 物质的组成/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "分子、原子、离子是构成物质的三种基本粒子。它们都是如何定义？组成物质的特性又是如何？/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1.1分子/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "分子是指单独存在、相对稳定、能保持物质物理及化学特性的最小单元。任何一个分子都是由多个原子按照一定键合顺序以及空间排列结合在一起的整体。该粒子对外相对稳定，靠范德华力来维系粒子间的联系。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "范德华力(分子作用力)产生于分子或原子之间的相互静电作用。该力较弱，因此组成的物质熔点、沸点、密度都比较低。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "有些原子对外也表现出如分子般的特性（比如氦、氩等惰性元素），称为单原子分子。意为是原子又是分子。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "液态、气态物质很多都是分子或单原子分子物质。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1.2原子/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "原子的定义：化学反应的基本微粒，在化学反应中不可被分割。原子的组成：内部带正电的原子核（质子和中子）和核外绕核运动带负电的电子。原子的大部分质量集中于原子核，而电子在核外按照一定的轨道做绕核运动。如同太阳系，原子核就是太阳，电子如同行星。原子直径大约是0.1nm，是原子核直径的1万倍到100万倍，电子的直径比原子核还要小，所以原子可以看成是一个非常大的空腔体。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "原子的三个基本关系：1.数量关系：质子数=核电荷数=核外电子数。2.电性关系：原子失去核外电子为阳离子，获得核外电子成阴离子。3.质量关系：质量数（A）=质子数（Z）+中子数（N）/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "原子核外电子运行轨道是量子化排布。不同轨道的电子都含有一定能量，这个能量包含电子运动产生的动能以及电子被原子核吸引产生的势能，它们共同组成了电子的内能。内能取决于核外电子与核的距离，电子离核越远能量越大。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "电子可以在轨道间来回跃迁，电子跃迁会伴随能量的吸收和释放。电子由高能层向低能层跃迁时因势能降低而释放的能量，就是原子结合能。电子从低能的基态跃迁到高能的激发态所吸收的外界能量E，就是原子的激发能。不同原子、不同能层电子结合能不同，相应激发能也不同。当高能电子束轰击样品时就会引发电子在轨道间跃迁，从而产生样品的各种特征信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 激发能和结合能是电子在两个能层间的跃迁过程中发生的能量变化。两者在电子跃迁方向、能量变化上是互逆的，但变化的量值相当，为两个能级之间的差值。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "原子核外电子排布必须满足四大要求：1.泡利不相容原理，2.能量最低原理，3.洪特规则，4不相容原理。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "排布规律依照：能量最低原理，每个能层最多容纳2n2个电子（n为电子层数），最外层不超过8个电子、次外层不超过18个电子、倒数第三层不超过32个。按照该规律排布能保证原子的稳定。单原子分子物质（惰性元素）的稳定性正是来源于其最外层电子排布的是2个（氦）和8个电子（剩余的元素），即所谓的“八偶体”结构。别的元素的原子稳定性皆不如它们。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "原子核外电子能层是按照电子内能的差异区分为K\L\M\N\O\P\Q这七层。最内层K层电子内能最低，Q层最强。能层层数与原子序数、电子排列规律有关。每个原子的能层都有其特定电子能量。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "每个能层上含有若干个亚层用s\p\d\f表示，这些亚层也叫能级。能级间电子能量也不一样，按照s-f排列是依次增强。各亚层含有的电子轨道数不一样，轨道数按照s-f依次为1\3\5\7个，含有的电子数最多是2\6\10\14个。span style="text-indent: 2em text-align: center " /span/pp style="text-align:center"img src="https://img1.17img.cn/17img/images/202001/uepic/da0d2058-2a70-497b-a0dd-918e3069380d.jpg" title="二次电子和背散射电子的疑问[上]1.jpg" alt="二次电子和背散射电子的疑问[上]1.jpg" style="text-indent: 2em text-align: center max-width: 100% max-height: 100% "//pp style="text-align: center text-indent: 0em "strong电子排列的轨道能层、能级图/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "核外电子的在轨运行与行星在轨运行是有区别的，区别是电子运行轨迹很难被确定。只能用统计学方法对核外电子空间分布做形象描绘。电子运行的模拟形态类似一层疏密不等的“云”，称为 “电子云”。电子云的形态和能级有关，s\p\d\f对应不同的电子云形态。原子核以及核外电子云的周边会形成电场，即“库仑场”，电场形成的势垒就是“库仑势”。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "以原子为基本微粒单位构成的物质都具有单一性，因此可称为单原子物质。这类物质除了前面提到的单原子分子（惰性气体），还包括单质非金属物质如碳、硅以及单质金属物质金、铁、钴、铜等等。这类物质微粒间的相互作用力是非常强烈的化学键，因此密度较大，熔点、沸点较高，微粒间的活泼型也较低。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "化学键是相邻的多个原子或离子间相互作用力的统称，是原子间及离子间相结合的作用力。如果原子的核外电子排布不如惰性元素那样形成最稳定的 “八隅体”结构，那么其外层电子（一般是最外层）之间通过电子云杂化相互组成各种类型的化学键来满足那种最外层电子“八隅体”的稳定结构。这类化学键就是共价键和金属键，是组成单原子物质化学键的基本类型。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1.3离子/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 离子是指原子由于自身或外界作用而失去或得到一个或几个电子使其达到最外层电子数为8个或2个的稳定结构。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "得到电子带负电称为负离子，失去电子带正电叫正离子。正负离子之间通过静电作用形成化学键，该化学键就是离子键。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "离子微粒组成的物质包含有正、负离子间的吸引力，同时也包含电子和电子、原子核与原子核之间的静电排斥力，当静电吸引与静电排斥作用达到平衡时，便形成离子键。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 以离子组成的物质有: 大多数盐、碱和活泼金属氧化物。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 无论是以分子、原子还是离子为微粒组成的物质其根本都是原子。原子中，原子核和轨道电子形成的电子云周边都存在一个势垒“库仑势”。物质（不含惰性元素）的原子间都存在化学键，化学键会使得原子最外层电子的能量发生改变，但内层电子的能量保持不变。也就是说物质的原子之间无论发生怎样的化学反应，其内层电子的结合能和激发能不发生变化，因此能谱对化合物原子的定性、定量检测才有意义。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong二、 高能电子束对样品信息的激发/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2.1 高能电子对样品信息的激发/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "形成高能电子束的微粒“高能电子”相对于组成样品的最小微粒原子来说，其体积和质量都非常的微小。高能电子射入样品就如同高速小微粒穿行在无数巨大空心球所组成的空间中。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "每个空心球除了拥有巨大的空间，还有位于中心包含空心球全部质量的核，核周围有电场形成的势垒。与高能电子大小相仿的微粒（电子），在离核一段距离的轨道上做高速无规则运动并形成云态，俗称“电子云”。电子云及其形成的电场势垒如同为球体形成一个虚壳，有的球体拥有多层壳。球体中运动的电子可以在这些壳层间来回跳跃，并从外界获得或向外界释放能量。电子获得能量越出球体形成自由运动的电子，即 “二次电子”。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "高能电子穿透一个个球体，整个过程如同骑车或步行在有许多汽车隔离桩的自行车道和人行道上，如下图：/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202001/uepic/8578118e-aff1-4e8f-aed6-ba5804012f6e.jpg" title="二次电子和背散射电子的疑问[上]2.jpg" alt="二次电子和背散射电子的疑问[上]2.jpg"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "原子核及核外各种电子云层如同这些隔离桩，层层叠叠交错排布在入射电子的运行轨迹上，疏、密有间。样品非常薄，隔离桩纵、横交错少，横向间隔空间也较大，大量的入射电子有足够空间自由穿越样品形成透射电镜的样品信息 “透射电子”。密的部位穿越少，疏的部位穿越多，形成透射电镜的投影像。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "绝大部分的分子或原子体积庞大无法穿越这些隔离桩。几十纳米厚的薄膜会阻隔气体、液体的分子或原子，而电子却能畅通无阻。这就是透射电镜气液杆隔膜的作用原理。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "样品足够厚，入射电子的运行轨迹上，隔离桩的互相交错由于深度增加使得纵、横排布密集度增加，电子无法自由穿透样品。而与原子核及核外电子云层的频繁亲密接触，形成如下火花。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "入射电子接近原子核，由于电子质量远小于核的质量，在受到核及其所形成的库伦场强势影响时，将只发生方向改变而能量保持不变（或变化极少），这就是所谓的“弹性散射”。弹性散射所引起入射电子方向的改变较大，有些甚至于与入射方向完全相反，被称为“背散射电子”。这些背散射电子是形成原子序数（Z）衬度更大的“高角度背散射电子”的主要来源。形成高角度背散射电子的几率较少，信号强度不大，因此应用面也不广。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "入射电子接近壳层电子时，壳层的库仑场会对其发生影响（也不排除与壳层电子直接碰撞）。由于电子间质量相当，入射电子在改变方向时将和壳层电子发生能量转移。壳层电子获得能量被激发，那些溢出原子的电子形成扫描电镜主要信息之一的 “二次电子”。入射电子在发生方向改变同时失去部分能量，形成“非弹性散射”。这一现象将会发生在原子的所有壳层。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "入射电子进入样品后，弹性散射和非弹性散射会在样品中多次发生。如同连锁反应一般，激发出更多的二次电子同时失去更多能量且不停的改变方向。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "扫描电镜的样品无穷厚，透射电子和散射电子无法从样品的另一端穿出，只在样品中经过多次散射消耗殆尽或从样品表面溢出。这些溢出样品表面的散射电子形成扫描电镜的另一个主要信息“背散射电子”。这类背散射电子与样品表面夹角较小，因此称为“低角度背散射电子”。“低角度背散射电子”同样含有大量的样品衬度信息（Z衬度以及表面形貌衬度），同时其在样品中做更大范围的扩散，入射电子能量越大扩散范围也就越大。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "样品的原子内层电子被激发，在该壳层就会留下一个空位，外层电子在原子核引力的作用下从高能层跃迁到该层，同时以特征X射线形式对外释放能量，释放的能量称为结合能。特征X射线是扫描电镜进行能谱分析的信号源。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "二次电子和背散射电子是以能量大小来区分。能量低于50ev为二次电子，背散射电子的能量和入射电子相当。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202001/uepic/33c41f2e-0aec-4587-8206-d0d16f673be2.jpg" title="二次电子和背散射电子的疑问[上]3.png" alt="二次电子和背散射电子的疑问[上]3.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2.2扫描电镜的各种衬度信息/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "图像衬度：图像上所存在的明、暗差异。正是存在这些差异才能使我们看到图像。影响图像衬度的因素有：信息衬度、对比度的调整，关键在于信息衬度。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "形貌衬度：样品表面形貌高低差异所形成的图像衬度。图像空间/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "信息、立体感主要来自该衬度。探头、样品、电子束三者之间夹角对该衬度影响较大，探头所接收到的样品信息角度也会产生一定影响。想方设法把低角度信息引入探头，会增强图像的形貌衬度。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "Z衬度 ：样品微区的平均原子序数或密度的差异所形成的图像衬度。该衬度主要与背散射电子的关联较大，二次电子对该衬度的形成也有一定的影响。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "晶粒取向衬度：晶体材料的晶粒取向差异所形成的图像衬度。也/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "被广泛称为“电子通道衬度”。在扫描电镜中该衬度主要来自于背散射电子。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "二次电子衬度：溢出样品表面二次电子数量差异所形成的图像衬度。该衬度主要与样品表面斜率关联较大也与样品微区的平均原子数序（Z）或密度有一定关系。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "二次电子边缘效应：二次电子在样品形貌边缘处溢出最多。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "电位衬度 ：样品表面局部有少量充电，使得该位置出现信号异/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "常增多或减少而形成的衬度。二次电子图像出现这种现象居多。特点是：图像有信息异常却未发生形变。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2.3图示各种衬度信息与表面形貌像的关系。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1. 形貌衬度/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "肉凝胶，肉类深加工产品/pp style="text-align: center text-indent: 0em " img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202001/uepic/dc400e25-743b-4695-a6c5-4de81bbc9545.jpg" title="二次电子和背散射电子的疑问[上]4.png" alt="二次电子和背散射电子的疑问[上]4.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2. Z衬度及晶粒取向衬度/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "Ag2WO4和Co-Ni氢氧化物复合物/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202001/uepic/d3652b5d-054f-42da-a071-0e7b2057d47b.jpg" title="二次电子和背散射电子的疑问[上]5.png" alt="二次电子和背散射电子的疑问[上]5.png"//pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202001/uepic/277952e7-d776-42c5-9c1a-39d2d249957e.jpg" title="二次电子和背散射电子的疑问[上]6.png" alt="二次电子和背散射电子的疑问[上]6.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "3. 二次电子衬度和边缘效应/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202001/uepic/324f71dd-c540-4dac-94d9-f756445fbe43.jpg" title="二次电子和背散射电子的疑问[上]7.png" alt="二次电子和背散射电子的疑问[上]7.png"//pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202001/uepic/3771072e-b981-4132-ac90-70ff30b55c0b.jpg" title="二次电子和背散射电子的疑问[上]8.png" alt="二次电子和背散射电子的疑问[上]8.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "倍率越低形貌衬度对结果影响越大，形貌衬度和二次电子衬度图像差别也越大。下图可见二次电子衬度并不能形成有效形貌像。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202001/uepic/de2f588b-1a83-45a0-bf4f-69c8c161a528.jpg" title="二次电子和背散射电子的疑问[上]9.png" alt="二次电子和背散射电子的疑问[上]9.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "4. 电位衬度/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "镀膜玻璃表面飞溅的有机物斑点。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202001/uepic/46d5452b-0341-4c62-81a5-4d7ae0b861d9.jpg" title="二次电子和背散射电子的疑问[上]10.png" alt="二次电子和背散射电子的疑问[上]10.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "形貌衬度、Z衬度、晶粒取向衬度、二次电子衬度、二次电子的边缘效应以及电位衬度都对形成扫描电镜的各类表面形貌像有着极为重要的影响。至于哪一个是最为关键的影响因素，这与样品的特性以及所需获取的样品表面信息有关。不同特性的样品以及不同的信息需求，起关键作用的影响因素也不同。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "形貌衬度、Z衬度对形貌像的形成常常起到最关键的作用。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "无论那种衬度信息，都必须依附于二次电子和背散射电子来呈现，因此有必要对这两种样品信息加以探讨。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "二次电子、背散射电子到底能给出怎样的样品信息？都有什么认识误区？且听下回分解。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " /pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong参考书籍：/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 0em "《扫描电镜与能谱仪分析技术》张大同2009年2月1日/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "华南理工出版社/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "《微分析物理及其应用》 丁泽军等 2009年1月/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "中科大出版社/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "《自然辩证法》 恩格斯 于光远等译 1984年10月/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "人民出版社 /pp style="text-align: justify text-indent: 2em "《显微传》 章效峰 2015年10月/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "清华大学出版社/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "日立S-4800冷场发射扫描电镜操作基础和应用介绍/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "北京天美高新科学仪器有限公司 高敞 2013年6月/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "br//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="color: rgb(0, 176, 240) "作者简介：/span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "img style="max-width: 100% max-height: 100% float: left width: 90px height: 140px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202001/uepic/fa3796bc-5dc9-4eed-b931-a01b211bb0e7.jpg" title="二次电子和背散射电子的疑问[上]111.jpg" alt="二次电子和背散射电子的疑问[上]111.jpg" width="90" height="140" border="0" vspace="0"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "林中清，87年入职安徽大学现代实验技术中心从事扫描电镜管理及测试工作。32年的电镜知识及操作经验的积累，渐渐凝结成其对扫描电镜全新的认识和理论，使其获得与众不同的完美测试结果和疑难样品应对方案，在同行中拥有很高的声望。2011年在利用PHOTOSHIOP 对扫描电镜图片进行伪彩处理方面的突破，其电镜显微摄影作品分别被《中国卫生影像》、《科学画报》、《中国国家地理》等杂志所收录、在全国性的显微摄影大赛中多次获奖。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "br//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong延伸阅读：/strong/pp style="text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/news/20191029/515692.shtml" target="_self" style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 176, 240) "扫描电镜加速电压与分辨力的辩证关系——安徽大学林中清32载经验谈/span/a/pp style="text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/news/20191126/517778.shtml" target="_self" style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 176, 240) "扫描电镜放大倍数和分辨率背后的陷阱——安徽大学林中清32载经验谈（2）/span/a/pp style="text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/news/20191224/519513.shtml" target="_self" style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 176, 240) "电子枪与电磁透镜的另类解析——安徽大学林中清32载经验谈（3）/span/a/p

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型号推荐：手持式辣度检测仪-一款检测辣椒辣椒素含量的仪器2024重磅上市，随着食品行业的不断发展，对辣椒及其制品的品质控制需求日益增强。手持式辣度检测仪作为一种便捷、高效的检测工具，正逐渐成为辣椒产业中不可或缺的技术支撑。本文将详细探讨手持式辣度检测仪在辣椒素含量检测中的应用，以及它能检测的样品类型。 一、检测原理与优势 手持式辣度检测仪采用电化学测量方法，通过量化辣椒中的辣椒素含量来评估其辣度。其核心在于利用一次性三电极片，在电位作用下使辣椒素在工作电极表面富集，并通过氧化还原反应产生电流信号，进而分析辣椒素的含量。这种检测方式不仅快速、准确，而且操作简便，适合现场使用。 二、广泛适用的样品类型 手持式辣度检测仪能够检测多种辣椒及其制品中的辣椒素含量。无论是干辣椒、鲜辣椒，还是经过加工的辣椒粉、辣椒酱等，都能通过该仪器进行快速检测。这种广泛的适用性使得手持式辣度检测仪在食品生产、质量控制和科研领域都具有极高的应用价值。 三、应用场景与实例 在食品生产中，手持式辣度检测仪可用于生产线上的辣椒制品检测，确保产品辣度的一致性和稳定性。对于辣椒种植者来说，该仪器还可用于田间快速检测辣椒的辣度，帮助决定收获时机和分级包装。此外，在餐饮行业，手持式辣度检测仪也能用于检测不同菜品的辣度，满足顾客多样化的口味需求。 四、技术指标 1.仪器测量范围：100-15000SHU 2.样品检测范围：500-15万SHU，调整提取方法可检测至150万SHU。 3.重复性RSD：≤5% 4.分辨率：5SHU 5.尺寸：182mm×72mm×50mm(长宽高) 6.充电电源：5V2A 手持式辣度检测仪以其便捷、高效、准确的特点，在辣椒素含量检测中发挥着重要作用。它不仅能够适应多种样品类型的检测需求，还能在多个应用场景中提供可靠的检测数据。随着技术的不断进步和市场需求的增长，手持式辣度检测仪的应用前景将更加广阔。

崂应2026型 手持式单气体检测仪一、产品概述 本仪器是使用不同检测传感器设计的便携式手持式环境空气突发事故监测的新产品。产品严格遵循国家标准进行设计，并顺利通过了国家相关防爆质量监督检验中心的监测，防爆标志Ex ib IIB T3 Gb。 全新升级三大核心系统，保证了仪器的可靠性，提高了系统的稳定性、增强了控制的准确性，可供环保、卫生、劳动、安监、军事、科研、教育等部门用于单气体检测。二、执行标准 GB 3836.1-2010 爆炸性环境设备通用要求 GB 3836.4-2010 爆炸性环境用防爆电气设备-第4部分-本质安全型“i” GB 12358-2006 作业场所环境气体检测报警仪通用技术要求 GBZ 2.1-2007 工作场所有害因素职业接触限值 化学有害因素三、产品特点控制系统 独特的LOCS系统设计，采用工业级32位处理器嵌入式控制系统 整机采用防爆设计，可在常规或易燃易爆等场合使用动力系统 精密DS.采样泵，耐腐蚀，超低噪音，连续运转免清洗，适应各种工况，具有过载保护功能操控系统 外观采用L-Ergo设计，符合人体工程学原理，手持更舒适 宽温TC-LCD显示屏，适用于高寒地区，通俗软件显示界面，实现良好人机交互 采样数据可存储、打印，轻松掌握实时数据OTHER 采用先进的气体检测传感器 功耗低，内置大容量可充电防爆型电池，可持续工作10h 测量数据包括平均值、峰值、TWA值、STEL值等多种浓度信息 说 明：1、以上内容完全符合国家相关标准的要求，因产品升级或有图片与实机不符， 请以实机为准,本内容仅供参考。2、如果您的需求与其有所偏离，请致电服务热线：400-676-5892 或详细咨询区域销售代表，谢谢！ 创新点：1、使用不同检测传感器设计的便携式手持式环境空气突发事故监测的新产品。产品严格遵循国家标准进行设计，并顺利通过了国家相关防爆质量监督检验中心的监测，防爆标志Ex ib IIB T3 Gb。2、独特的LOCS系统设计，采用工业级32位处理器嵌入式控制系统3、整机采用防爆设计，可在常规或易燃易爆等场合使用崂应2026型 手持式单气体检测仪

p style="text-align: justify text-indent: 2em "【作者按】上一篇详细介绍了物质的组成以及高能电子束轰击样品产生二次电子和背散射电子的过程。并对与扫描电镜成像有关的各种衬度信息做了较为详细的阐述。【span style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "strong延伸阅读：/strong/spana href="https://www.instrument.com.cn/news/20200114/520618.shtml" target="_self" style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 176, 240) "strong二次电子和背散射电子的疑问（上）/strongstrong/strong/span/a】/pp style="text-indent: 2em " 二次电子和背散射电子都呈现出怎样的样品信息？如何利用这些信息对样品进行分析？在表面形貌像的形成过程中起怎样的作用？对表面形貌像的细节分辨有何影响？是否存在假象？这些问题都将在本文加以详细的探讨。/pp style="text-align: center text-indent: 0em "strong二次电子与背散射电子成像/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "传统观点认为：二次电子带有样品的表面形貌信息，形成样品的表面形貌像；背散射电子给出样品的成分信息，是形成样品成分像的主要信号源。这种观点是否片面？会不会产生假象？/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "下面将围绕这些问题展开讨论。/pp style="text-align: center text-indent: 2em "strong一、二次电子/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "二次电子源自高能电子束对样品原子核外的介电子激发。能量低（ 50ev）、溢出深度浅（ 10nm）、溢出样品表面的分布不均。与样品表面夹角较大的二次电子（高角度二次电子），在样品中行走的自由程较短，溢出几率高，溢出量也较多。与样品表面夹角较小的二次电子（低角度二次电子），由于在样品中的自由程较长，因此损耗大、溢出几率较低、溢出量也较少。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/408e3c43-65b2-463f-9615-0a91b6981fd2.jpg" title="1.png" alt="1.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "一直以来对于二次电子的认识存在很多问题，下面将选取以下几个问题来进行详细的探讨：二次电子主要来自核外的那一层电子激发？是形成表面形貌像的最佳选择吗？为啥易受荷电影响？会产生假象吗？有无Z衬度信息？SE1\SE2\SE3\SE4指的是啥？电位衬度和二次电子有什么关联？/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.1二次电子主要来自原子核外那一层？/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "传统观念认为介电子（最外层）最容易被激发，所以二次电子主要来自最外层。那么一个疑问是：如果最外层电子是二次电子的主要来源，那么大量的特征X射线来自那里？ /pp style="text-align: justify text-indent: 2em "我们先看一个加速电压的变化对能谱谱线强度影响的实例。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/599eb752-6862-4d29-b3ad-0000bf07d804.jpg" title="2.png" alt="2.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "能谱谱线的峰位对应着电子结合能，结合能对应电子层。那一层电子激发多，对应峰位的谱峰就高。从上面两张谱图可以看到，加速电压的增加，铜和锌的K线占比也增大。这说明加速电压增加，结合能高的K层电子，激发量的占比也增加。 因此从能谱看，似乎二次电子主要源于核外那一层电子并不固定，而是与加速电压和轨道电子激发能（结合能）的比值（过压比）有关。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "但是有充分的事例表明，特征X射线与二次电子在激发量上存在巨大的差距，这意味着内层电子的激发量极少。因此推测内层电子的激发与最外层电子的溢出可能并不是一个体系，即与特征X射线激发有关的内层电子，是以光电子形式溢出样品。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "故二次电子可能只能来自最外层轨道也就是介电子层。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "所谓光电子就是指由光电效应产生的电子。即轨道电子全面接收入射电子的能量，克服轨道结合能的影响而溢出。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "光电子的最大初动能与光的频率（能量）有关。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongEk=hv-A h是普朗克常数，v是频率，A是逸出功/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "主流观念认为内层电子的激发在过压比为3-4时达最佳。个人观点：不同元素这个值也不同，10左右都存在最佳激发的可能。充分认识到这一点，将有利于能谱测试时，对加速电压的选择。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.2二次电子是否是形成样品表面形貌像的最佳信息源？/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "传统理念认为二次电子是形成样品表面形貌像信息源的最佳选择。这个观点基于以下两点：/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1. 二次电子能量弱，在样品中自由程短，浅表层溢出，横向扩散极小，因此对表面细节的影响小，含有表面信息多。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2. 二次电子的溢出量随平面斜率变化较大，边缘处溢出最多，由此形成二次电子衬度及边缘效应。样品的表面形貌可看成不同斜率的平面组合，因此二次电子衬度就带有大量形貌信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/9bc7d100-8ccc-4ea6-bceb-992f0df9311d.jpg" title="3.png" alt="3.png"/br//pp style="text-indent: 2em text-align: justify "二次电子衬度是否是形成样品表面形貌像的主导因素？二次电子形成的表面形貌像细节是否就一定最丰富？/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.2.1 样品表面形貌像是否取决于二次电子衬度？/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "先看一个实例：用日立regulus8230的样品仓探头（L）和镜筒内探头（U）分别对硅片上刻蚀的倒金字塔图形进行观察。由于EXB系统的分离，使探头（U）接收的信息为较纯的二次电子。样品仓探头（L）因位置原因含有大量背散射电子。结果如下：/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/171072a0-5b72-45d7-9e7b-562a06ac0a5a.jpg" title="1.png" alt="1.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "由上例可见，图像中二次电子衬度充足但表面形貌像并不好， 形貌衬度（参见上篇）充足形成表面形貌像才十分的优异。因此形貌衬度才是形成形貌像的基础。形貌衬度的主要形成因素，依所观察样品的特性及所需获取的样品信息不同，分为两个层面：/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "层面一：样品做低倍观察或样品表面起伏较大。探头、样品、电子束三者夹角将是影响形貌衬度的主导因素。大工作距离下使用侧向的样品仓探头获得表面形貌像，细节更丰富。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/dadb4366-061a-4b04-939b-6071ade9322b.jpg" title="5.png" alt="5.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "层面二：高倍观察样品的几纳米细节。这些细节起伏小，采用不同角度的电子信息形成的形貌衬度即满足要求。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "小工作距离下选择镜筒探头从顶部获取较多的二次电子信息，减少信息扩散对细节的影响，是形成形貌像的关键。此时测试条件的选择，应当以尽可能多的获取低角度信息为目标。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/024fc5d0-42ae-4342-9376-1f2c0d6614cc.jpg" title="2.png" alt="2.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "镜筒探头（U），利用不同角度的信息形成形貌衬度，只能面向起伏较小的样品细节，对较大细节的观察效果差。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/4b96227b-8219-4354-9919-c6063716e8dc.jpg" title="3.png" alt="3.png"//pp style="text-indent: 2em "strong/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "探头（U）位于顶部，造成形貌衬度不足，无法分辨亮、暗衬度的空间形态。探头接收的二次电子占主导地位，二次电子衬度的影响使得斜面与平面有明显的亮、暗差异。亮部易被误认为是另一种物质所形成的Z衬度。采用探头（L）进行观察，情况刚好相反，故真实的孔洞信息表现充分。/pp style="text-align: center text-indent: 0em "strongB)二次电子的边缘效应也会对某些样品的细节分辨提供帮助/strong/pp style="text-align: center text-indent: 0em "两张不同材料的多层膜照片，各膜层的材料相近，Z衬度较差。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/30cfea12-6d69-4487-b960-7ebe49305d3a.jpg" title="4.png" alt="4.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "以上几个实例表明：形成样品表面形貌像的基础是形貌衬度，而非二次电子衬度。二次电子衬度会带来形貌假象，但也会帮助我们观察并区分一些特殊的样品信息。不同的样品信息适合用不同的衬度信息来表现，故辩证的关系无处不在。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.2.2二次电子对图像细节分辨能力的影响/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "形貌衬度是形成扫描电镜表面形貌像的基础，其他的各种衬度信息叠加在形貌衬度上，才能形成完整的表面形貌像。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "无论表面形貌像是如何构成的，信息源都是二次电子和背散射电子。其在样品表面的溢出区大小，必然会对表面形貌像的细节分辨产生影响。电子信息的能量越大、影响也越大。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "二次电子能量弱，对样品表面细节影响小，是对松散样品（如介孔、气凝胶）的几纳米细节观察的首选信息。它的含量越大这类信息表现得就越充分。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/31aa0262-e51d-443f-a364-08789d18ec66.jpg" title="5.png" alt="5.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "低倍下，观察细节受信号扩散的影响减弱，充足的形貌衬度将成为主体。此时选择样品仓探头从侧面观察，结果更佳。/pp style="text-align:center"span style="text-indent: 2em "img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/a3eed5c6-6b8c-406f-841c-5d6e833fe40b.jpg" title="6.png" alt="6.png"//span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em "/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "以上多个实例表明，形成样品表面形貌像的基础在于形貌衬度。其余的各种衬度信息叠加在形貌衬度之上共同形成完整的表面形貌像。不同的信息需求必须采用不同的应对方案，才能获取最佳的测试结果，这是一个辨证的关系。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.3 荷电现象与二次电子/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "样品表面因电荷累积形成静电场，影响电场及周边电子信息的正常溢出，产生所谓的荷电现象（这一现象今后将有专文探讨）。二次电子由于能量弱因此更容易被该静电场所影响。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em "/spanbr//pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/f0392819-a938-40e5-8c23-1632be9b39e1.jpg" title="6.png" alt="6.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "荷电场对高角度二次电子的溢出影响更为明显，因此样品信息中高角度二次电子含量越多，图像的荷电现象会更严重。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "下面以介孔硅KIT-6图像为例来说明。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/e8c31c1e-1dfe-47c7-9c45-6cbc63323c92.jpg" title="7.png" alt="7.png"//pp style="text-indent: 2em "采用样品仓探头接收样品信息，工作距离也会影响荷电现象。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/3ee8d1e3-a752-4eb9-ab69-a1abc9e4de99.jpg" title="8.png" alt="8.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.4二次电子是否拥有Z衬度信息？/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "同一个加速电压下，样品的不同密度及原子序数，二次电子的激发量还是存在衬度差异，但该衬度差异不如背散射电子强烈。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/ade275e0-9420-49b5-8370-039102e48b70.jpg" title="9.png" alt="9.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.5 SE1\SE2\SE3\SE4指的是啥？对测试结果有啥影响？/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "依据目前各电镜厂家的描述：SE1指的是电子束直接激发并溢出样品表面的二次电子，SE2是样品内部各种散射电子激发并溢出样品表面的二次电子，SE3\SE4是散射电子、入射电子所激发的样品仓内的各种二次电子信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " SE1是形成高分辨表面形貌像的关键信息。其扩散范围小，基本在电子束直径的周边，对样品表面形貌细节影响也最小。同等条件下该信息含量越充足，图像清晰度及细节分辨力越优异。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " SE2离散度较高，加速电压越高其产额和离散度也会越大。当SE2成为样品表面形貌像的主导信息时，表面形貌像的图像分辨力会大大降低。这是过高加速电压图像分辨能力差的主要缘由。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " SE3\SE4是杂散信息，产额越多对结果影响越大。电镜厂家在镜筒设计过程中都会将这一因素的影响压倒最低。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "选择加速电压时要充分考虑其对SE1\SE2产额的影响。在满足测试所需的电子束发射亮度的情况下，加速电压越低越好。要获得这样的结果，扫描电镜的本证亮度就要大。（可参看经验谈1）/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.6二次电子与电位衬度/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "样品表面的少量静电场会引发该处信号异常溢出，当静电场弱小到不对图像的形态产生影响时，就形成了所谓的电位衬度。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "电位衬度主要影响的是能量较弱的二次电子，对背散射电子的溢出量影响较小。电位衬度可以在材料缺陷的分析上提供帮助。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "下面是我在为某单位进行样品测试时遇到的两个实例。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/4ac1d2e5-0460-4c65-8665-53c12c818eeb.jpg" title="10.png" alt="10.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "从左至右，探头选择依次是U\UL\L，背散射电子含量依次增多。但图像Z衬度却反常的依次减弱，直至消失。因此考虑这是否是少量有机物形成轻微荷电场所产生的电位衬度，并不是我们日常所见到的Z衬度信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "放大后看到有亮点经电子束轰击后消失，图像缩小可看到明显碳污染的存在，故可判断该现象是有机物污染所形成。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/1b672cd4-42ee-463f-83bd-eba4761cab2f.jpg" title="11.png" alt="11.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "上述现象如同上例所存在的探头切换时Z衬度的异常变化，只是高倍轰击并没有出现碳沉积现象。说明此处异常亮并非有机物附着形成，可能已经被有机物氧化，能谱分析此处氧含量偏多。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "用户对设备清洗后这些现象都消失。/pp style="text-align: center text-indent: 0em "strong二、背散射电子/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "与入射电子束方向相反的散射电子，称为背散射电子。其能量与入射电子相当，在样品中扩散范围较大，加速电压越大扩散体也越大，对图像细节影响也越大。背散射电子在样品表面溢出范围也不均衡。由于高角度背散射电子形成几率小，因此溢出量少，低角度背散射电子产生的几率较高，因此溢出量较多。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/dd47d4a8-592f-477d-8a4c-2dec993cd022.jpg" title="12.png" alt="12.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "背散射电子图像拥有如下特点：Z衬度与晶粒取向衬度好、受荷电影响小、信号扩散区大、极表层信息缺乏、电位衬度较差。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong2.1背散射电子和二次电子的图像对比：/strong/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/c95317fd-f9ce-4958-8c78-563d172684fa.jpg" title="13.png" alt="13.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong2.2背散射电子进行的晶粒结构及取向分析/strong/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/7aeb4551-2ef4-47d5-91fb-99fc1df796e7.jpg" title="14.png" alt="14.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "背散射电子的溢出量不仅受到样品原子序数及密度的影响，晶体材料的晶体结构及取向也会对背散射电子的溢出量及溢出方向产生影响，形成的晶粒取向衬度（电子通道衬度）更明析。但是要形成足够的衬度差异，需要晶粒存在较大的取向差、足够的体积、密度及整体平整度。要获取该种类的样品信息，样品平整度处理十分重要。切割、抛光处理是常备的制样方式。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "利用背散射电子衍射（EBSD）所形成的菊池花样对晶粒取向及构造进行分析，所获得的取向精度得到极大的提升，达到0.1° ，分析内容也更为充分。是目前利用扫描电镜进行晶粒结构和取向分析最权威、最充分且是最常用的技术手段。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/5e34d2af-f814-40d7-9c7a-b8be561439d8.jpg" title="15.png" alt="15.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "无论是直接利用背散射电子获取晶粒取向衬度还是通过EBSD来对晶粒进行观察和分析，信息源都是背散射电子。离开背散射电子，扫描电镜将无法充分的进行晶体材料结构及取向分析。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong2.3背散射电子图像的分辨力/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "加速电压、样品特性、信息需求、探头的性能和位置都影响着背散射电子图像的分辨力。在谈论图像分辨力时不能脱离条件的限制。比如观察样品的Z衬度信息，背散射电子形成的图像比二次电子形成的图像拥有更好的细节分辨；要观察样品内部的信息，加速电压低了是无法观察到的； YAG材质的探头比半导体材质的探头更适合低加速电压观察，样品表面信息分辨好。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "但总体来说背散射电子在样品中的扩散比二次电子来的大。对样品表面形貌像的细节干扰较强、较为明显。背散射电子含量越大，高倍率图像的清晰度也越差。/pp style="text-align: center text-indent: 0em "strong三、结束语/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "二次电子和背散射电子是扫描电镜形成样品表面形貌像的两个重要信息源。但形成表面形貌像的基础却是探头所获取的样品表面各种信息的衬度，而不是选用了那个信息源。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "如同用不同颜色的光去观察一个物体。无伦选用哪种颜色的光，形成物体图像形态的关键都是对物体的观察角度。不同的观察角度，图像的形态不同。而不同颜色的光只是给这个物体染上了颜色。不同亮度的光可以在一定程度上影响物体图像细节的辨晰度，却无法影响物体图像的形态。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 图像上的明、暗差异被称为图像衬度，是形成图像的基础。噪点及亮度、对比度的调整也会对其产生影响，但与成像有关的是各种信息衬度。图像的衬度主要由各种信息的衬度所形成。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 形貌衬度、Z衬度、晶粒取向衬度（电子通道衬度）、二次电子衬度、边缘效应、电位衬度是形成扫描电镜图像的几个主要衬度信息。其中形貌衬度是基础，其余的衬度信息叠加在该衬度之上，共同形成扫描电镜的各种图像。不同的样品表面信息需要用不同的衬度信息来表现，才能获得最佳的效果。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 样品表面形貌的高低位置差异形成扫描电镜图像的形貌衬度。形貌衬度主要受探头接收样品信息的角度影响。对形貌衬度产生主要影响的因素分为两个层次：/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1.倍率越低，形貌的高低位置差异越大，要求的形貌衬度较大，探头、样品和电子束三者间形成一定的夹角才能满足形貌衬度的形成需求。此时这个夹角就是关键因素，对样品仓探头的充分运用才能保证我们获取更为丰富的表面形貌像。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2.高倍下形貌高低位置差异减少。对形貌衬度的要求较小，样品信息的溢出角度所形成的形貌衬度即满足形貌像的需求，此时信息扩散对细节的影响成为主导因素。采用小工作距离、镜筒探头这一组合观察时，接收的二次电子较多，对形貌细节的影响较少，此时形成形貌衬度的主导因素是样品的低角度电子信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 二次电子和背散射电子做为形成样品表面形貌像的信息源，必然会对表面形貌像形成影响，其影响主要表现在信号扩散对细节的掩盖，相对来说二次电子对样品表面细节的影响较小。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "二次电子和背散射电子形成的各种衬度信息（Z衬度、晶粒取向衬度、边缘效应、二次电子衬度电位衬度等）是我们进行样品表面形貌观察及分析的重要依托。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "二次电子有利于减少信号扩散的影响，其电位衬度、边缘效应、二次电子衬度极为充分，利于展示样品的某些特殊信息，但这些衬度也会带来一些假象。必须辩证的认识，合理的使用。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "二次电子的溢出量容易受到样品表面荷电场的影响，形成样品表面的荷电现象。高角度二次电子更加容易受到荷电场的影响，它的含量越大，样品表面的荷电现象越严重。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "背散射电子有利于表现Z衬度、晶粒取向衬度等信息。因其本身能量较大，溢出量不易受样品表面荷电场的影响，被视为应对样品荷电现象的有效方法之一。但也正是因为能量较大，在样品中扩散范围也相对较大，使得高倍时图像清晰度较差，不利于低于20纳米的样品细节的展现。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "我们在运用二次电子和背散射电子作为信号源来形成样品表面形貌像时，应当依据样品特性以及所需获取的信息特性，对症下药用辩证的思维方式来指导我们选择合适的测试条件。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong参考书籍：/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "《扫描电镜与能谱仪分析技术》张大同2009年2月1日/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "华南理工出版社/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 《微分析物理及其应用》 丁泽军等 2009年1月/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "中科大出版社/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 《自然辩证法》 恩格斯 于光远等译 1984年10月/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "人民出版社 /pp style="text-align: justify text-indent: 2em "《显微传》 章效峰 2015年10月/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 清华大学出版社/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "日立S-4800冷场发射扫描电镜操作基础和应用介绍/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 北京天美高新科学仪器有限公司 高敞 2013年6月/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em " /span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 176, 240) "strong 作者简介：/strong/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "img style="max-width: 100% max-height: 100% float: left width: 100px height: 154px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/057cf6d3-2db1-4141-b27e-367cdc453e09.jpg" title="林中清.jpg" alt="林中清.jpg" width="100" height="154" border="0" vspace="0"/林中清，87年入职安徽大学现代实验技术中心从事扫描电镜管理及测试工作。32年的电镜知识及操作经验的积累，渐渐凝结成其对扫描电镜全新的认识和理论，使其获得与众不同的完美测试结果和疑难样品应对方案，在同行中拥有很高的声望。2011年在利用PHOTOSHIOP 对扫描电镜图片进行伪彩处理方面的突破，其电镜显微摄影作品分别被《中国卫生影像》、《科学画报》、《中国国家地理》等杂志所收录、在全国性的显微摄影大赛中多次获奖。/ppbr//p

英国技术人员正在研制一种手持式设备，从而可通过瓶子快速检测假冒威士忌和葡萄酒。此举旨在打击假冒威士忌和葡萄酒的行为。　　根据苏格兰威士忌协会的资料，在创纪录的2010年，备受欢迎的酒类销售为英国的出口增加了34.5亿英镑。威士忌在金砖四国的销量也显著增加。其中在中国增加了24%，达到5500万英镑。然而与此同时，假冒威士忌和葡萄酒的情况也屡屡发生。　　如今，莱斯特大学空间研究中心的科学家正与德蒙特福德大学的同行们合作，研究一种可以透过瓶子检测葡萄酒和白酒真伪的手持式设备。　　该技术之前已由莱斯特大学的小组开发出来，目的是通过检查包装来查出假药。现在，专家们正致力于把这项技术转变成可以分析瓶内液体的技术。　　除了解决假冒威士忌和葡萄酒这一重大问题外，他们相信，这项技术还有应用在航空安全系统上的重大潜力。　　这项技术最初是从一部分光仪中开发出来的，该技术主要依靠检测印刷包装上反射出来的光的不同特性。　　“现在我们希望可以把这项技术应用到威士忌与葡萄酒的鉴别中去。”莱斯特大学空间研究中心的Im Maskell说道。　　“如果我们能利用这项技术，将其应用在其他液体上并能做一些类似的事情，那么就有可能把此项技术也用在机场安全系统上。”他补充说。　　Maskell说：“不打开瓶盖就能检测出威士忌或葡萄酒的真伪，将为饮品行业带来重大的利益，还为其他领域提供了机会，如机场和航空安全。”

项目编号：OITC-G220571963项目名称：中国科学院过程工程研究所聚焦离子束场发射扫描电子显微镜、X射线能谱成分背散射电子结构三维分析仪采购项目预算金额：630.0000000 万元（人民币）最高限价（如有）：630.0000000 万元（人民币）采购需求：1、采购项目的名称、数量：包号品目货物名称数量（台/套）是否允许采购进口产品采购预算（万元人民币）11-1聚焦离子束场发射扫描电子显微镜1是3951-2X射线能谱成分背散射电子结构三维分析仪1是235 投标人可对其中一个包或多个包进行投标，须以包为单位对包中全部内容进行投标，不得拆分，评标、授标以包为单位。合同履行期限：详见采购需求本项目( 不接受 )联合体投标。

青岛容广电子技术有限公司便携式VOC颗粒物测试仪SF-1型 简介：SF-1型是一款当今市场上很灵敏的广谱手持式挥发性有机化合物（VOC）以及PM2.5/PM10颗粒物检测仪，采用光离子化检测器(PID），提高了检测精度和响应时间，检测范围达到0-2000ppm，可广泛应用在环保、职业卫生健康、应急救援、工业安全、石油石化等行业。产品特点 检测项目：粉尘颗粒物（PM2.5，PM10)检测范围：0-500ug/m3 检测原理：激光检测气体：VOC检测范围:0-2000PPM 分辨率:1PPM检测原理:PID 精度:≤±2%FS进口高精度传感器，响应速度快，测量精度高，稳定性好。内置大容量可充电电池，超长待机，满电情况下可使用12小时，内置强力抽气泵，开机后可主动吸收气体，采用3.5寸工业彩屏，完美显示各项技术指标和气体浓度值，带储存数据、导出功能，数据打印防护等级：IP66青岛容广电子技术有限公司提供本仪器的技术支持和完善的售后服务！ 创新点：VOCs的快速测定、同时还可以测出环境空气颗粒物的浓度、PM10.PM2.5的浓度数值手持式VOCs快速测定仪光离子检测仪

一、项目编号：OITC-G220571963（招标文件编号：OITC-G220571963）二、项目名称：中国科学院过程工程研究所聚焦离子束场发射扫描电子显微镜、X射线能谱成分背散射电子结构三维分析仪采购项目三、中标（成交）信息供应商名称：国药（上海）医疗器械实业有限公司供应商地址：中国（上海）自由贸易试验区正定路530号A5库区三层2号仓库中标（成交）金额：629.9000000（万元）四、主要标的信息序号 供应商名称 货物名称 货物品牌 货物型号 货物数量 货物单价(元) 1 国药（上海）医疗器械实业有限公司 聚焦离子束场发射扫描电子显微镜；X射线能谱成分背散射电子结构三维分析仪 Thermo Fisher Scientific Helios 5 UC Compact730M 1套 ¥6,299,000.00

尊敬的客户： 您好！ 欧波同有限公司长期专注于微观纳米技术应用解决方案的研发与推广。经过 数年发展，欧波同有限公司作为蔡司、牛津、GATAN 公司战略合作伙伴，目前 已经成为中国最大的微纳米显微方案供应商。为了推动 EBSD 技术及电子显微学 的进步和发展，提高广大显微学工作者的学术及技术水平，促进显微学在物理学、 材料学、生命科学、化学化工、环境、地学等领域的应用，欧波同有限公司、牛 津仪器有限公司、GATAN 公司三方联合于 2015 年 7 月 24 日举办 2015 年电子 背散射衍射（EBSD）应用分析及样品制备技术研讨会。 本次会议将邀请电子显微学应用专家、EBSD 应用专家、EBSD 样品制备专 家、SEM 样品制备专家等进行相关领域的应用实例分析报告，同时将以欧波同 有限公司专业化的 DEMO 实验中心为平台，为用户提供现场体验微纳米分析技 术设备——蔡司电子显微镜，晶体学分析设备——牛津 EBSD 及 EBSD(SEM)样 品制备技术设备——GATAN ILION 697 氩离子束抛光系统的一站式操作。欢迎 您的到来！ 会议主要议程安排 7 月 23 日下午报到入住 7 月 24 日9：00~12：00 专家报告12：00~13：00 午休13：00~17：00 DEMO 机考察及演示 会议主要内容： 国内知名 EBSD 应用专家进行专题讲座，主要内容为 EBSD 在相关领域的应 用实例；欧波同公司扫描电镜最新技术以及仪器操作技巧介绍；牛津公司介绍仪器的最新技术以及仪器设备维修与维护技巧；GATAN 公司 EBSD 样品制备技术及结合 EBSD 的拓展应用介绍；难处理扫描电镜样品制备的方法，包括镀层样品、电子半导体样品、高分子 复合材料等截面样品制备，岩石矿物等孔隙样品制备等。DEMO 机考察及演示（欧波同 DEMO 实验中心）；会议地点欧波同有限公司 DEMO 实验中心（北京市朝阳区高碑店乡西店村 1106 号源创空 间大厦 F16 室） 会议费用 欧波同提供会务费并赠送精美小礼品，差旅费自理！报名咨询联系人：刘丹、黄杨 联系电话： 15140813412 18804252487Email邮箱：shchb02@163.com optonpo02@163.com 会议地图会议附近宾馆选择建议 盛然快捷酒店（距离源创空间大厦约为 560 米，8 分钟）地址：北京朝阳区国粹苑西店 1061 号 协议价格：标准间 268（协议公司：北京欧波同光学技术有限公司） 电话：010-87706262 七天连锁酒店（北京四惠地铁站店）（距离源创空间大厦约为 1.0 公里，14 分钟）地址：北京通惠河畔南岸盛世龙源 11 号协议价格：标准间 257 元（协议号码：95107839） 电话：010-87706977 如家快捷酒店（北京四惠店） （距离源创空间大厦约为 1.4 公里，19 分钟）地址：北京朝阳区百子湾石门村路 2 号（金都杭城南侧） 协议价格：标准间 223 元（协议公司：北京欧波同光学技术有限公司） 电话：010-67712211 诚辉国际商务会所（建国路店） （距离源创空间大厦约为 1.6 公里，22 分钟）地址：北京朝阳区建国路 72 号（四惠交通枢纽西侧 300 米） 协议价格：标准间 259 元（协议公司：北京欧波同光学技术有限公司） 电话：010-65561188

随着近年来生态环境保护力度不断加大，执法支队努力克服人员少、压力大、任务重等诸多困难，始终坚持以改善环境质量、维护群众健康为目标，全力推进各项执法工作有序开展。　　环保综合执法部门对产生VOCs工业废气的企业也是严格监管，更在这两年的两会上陆续提及打赢环境污染攻坚战等各种实际可行的方法举措，这些都再次印证了环境对整个社会发展的重要影响性，由此也衍生出一批专注手持式光离子化检测仪（PID）的厂家，比如专业气体检测监控解决方案商-逸云天。　　逸云天拥有强大的研究开发迭代能力，研发团队超20名，研发占销售额投入比高达17%，历经艰辛，研发出了新一代便携式VOCs走航监测设备——MS600手持式光离子化检测仪(PID)。　　MS600手持式光离子化检测仪（PID）有利于地方各级生态环境部门不断加强队伍装备建设，持续提升执法能力，是推进生态环境保护综合行政执法科学化、规范化的重要保障。　　除了在科研方面的持续投入，在产品品质方面也有着严苛的要求。气体安全是一项生命工程，关系到生命的安危，容不得半点马虎，为了更好地保障产品品质和质量，逸云天不仅通过了ISO9001：2008质量管理体系认证，ISO14001：2015环境管理体系认证，防爆资格证等，而且产品出厂均要通过30余项工艺检测，10万级测试，所有产品都历经来料、半成品到成品三道关口重重考验。优质的产品和服务，不仅帮助客户创造了更大的价值，更得到了广大客户的一致认可。　　因此，为推动生态环境执法大练兵活动走深走实，进一步提升生态环境系统综合行政执法能力，锻造执法铁军，近日，鹤壁市生态环境局举办执法能力建设项目操作培训会，各分局环境执法业务骨干、市生态环境保护综合行政执法队全体执法人员共同参加培训，同时邀请了逸云天专业技术人员为我市环境执法系统工作人员进行操作培训。　　1、开展理论培训　　逸云天技术人员采用理论学习和实操培训相结合的方式，对手持式光离子化检测仪（PID）的构造、原理、功能、操作流程等进行了详细讲解，让执法人员能够掌握相关设备日常操作和使用的基本常识。　　2、进行实操训练　　通过“以老带新”的方式，发挥好执法骨干的传帮带作用，由大队执法骨干现场演示执法设备的基本操作流程，指导新入职执法人员对购置设备进行试用，让每名执法人员都能熟练掌握手持式光离子化检测仪（PID）的使用方式和操作方法。　　3、提高执法效能　　手持式光离子化检测仪（PID）能够帮助执法人员在执法过程中快速有效认定环境违法行为，在前期巡查、中期取证、后期督查中发挥重要作用。　　通过本次培训，参训人员熟练地掌握了手持式光离子化检测仪（PID）的基本操作和简单维护，切实提升了生态环境现场执法能力和打击环境违法行为能力。下一步，鹤壁市生态环境局将组织全市生态环境系统利用专业执法设备对企业进行帮扶指导，实施科技化执法监管，助力企业绿色发展。

手持式X射线荧光光谱仪是通过内部高压发生器产生X射线激发被测物体表面电子，电子在跃迁时发生能量释放从而获得各种元素的特征谱线。在设计手持式X射线荧光光谱仪时，优先考虑的就是使用安全。手持式X射线荧光光谱仪的辐射几乎可以忽略不计，只要操作得当，不会对人体造成伤害。尽管如此，我们在使用仪器时依然要注意安全，这样才能保证操作者和其周围人员的人身安全。辐射在我们的生活中无处不在数据显示，人类每时每刻都生活在各种辐射中。来自天然辐射的个人年有效剂量全球平均约为2.4毫西弗，其中，来自宇宙射线的为0.4毫西弗，来自地面γ射线的为0.5毫西弗，吸入（主要是室内氡）产生的为1.2毫西弗，食入为0.3毫西弗。人每年摄入的空气、食物、水中的辐射照射剂量约为0.25毫西弗。戴夜光表每年有0.02毫西弗；乘飞机旅行2000公里约0.01毫西弗；每天抽20支烟，一年有0.5至1毫西弗；一次X光检查0.02毫西弗。手持式X射线荧光光谱仪辐射安全常识在设计上，赛默飞世尔尼通手持式X射线荧光光谱仪在不进入测试界面测试时，不会发出任何电离辐射（即X射线）。对于一个给定的辐射源，三个因素决定了人体所接受的辐射剂量：1受照射时间受照射的时间越长，人体所接受的辐射剂量也就越大。辐射量与受照射时间成正比。2与辐射源的距离离辐射源越近，所受的辐射剂量就越大。所接受的辐射剂量与辐射源的距离的平方成反比。例如，距离辐射源1英尺所接受到的辐射量是距离辐射源3英尺所接受到的辐射量的9倍。因此，当仪器快门打开时，应保证手和身体的各个部位远离仪器的前端，以使所受的辐射量减至最小。3辐射屏蔽屏蔽指的是任何介于操作者和辐射源之间的材料。屏蔽材料越多，材质密度越大，所受到的辐射就越少。可选购测试架作为测试样品过程中一种附加的屏蔽装置，反向散射屏蔽附件也十分有效，对于某些应用特别适合。孕妇使用时应该注意：错误操作与使用会导致辐射暴露。操作人员对设备安全需负责：使用时，设备应该始终由受过正规培训的操作人员负责。不使用时，应放到安全地方存放。测量时，不要将手部接近设备头部。当检测窗口被物体覆盖时，安全指示灯亮。如果探测器未检测到物体时，不会产生出X射线。关于X射线设备仪器的辐射安全标准对人体伤害可以参照关于X射线设备仪器的辐射安全标准。在我国国家标准GB 15208。GB15208：1-2005《微剂量X射线安全检查设备第1部分：通用技术要求》中，对微剂量X射线安全检查设备提出的辐射安全指标是：设备的单次检查剂量不应大于5μGy；在距设备外表面5cm的任意处（包括设备的入口、出口处），X射线泄漏剂量率应小于5μGy/h。Gy（戈瑞）：吸收剂量，指人体受到电离辐射后吸收了多少能量。1千克被照射物吸收电离辐射的能量为1J（焦耳）时称为1Gy。即：1Gy=1J/kg。Sv（毫西弗）：有效剂量，是反映各种射线或粒子被吸收后引起的生物效应强弱的电离辐射量。它不仅与吸收剂量有关，而且与射线种类、能量有关。（1Sv=1J/kg，1mSv=10-3 Sv）首先设备本身应带有射线的屏蔽装置，比如说防护铅板和铅玻璃。其次，管头有光闸或者防护罩，主要照射面应该是密不透风的。至于漏散的部分，计量相对于要照射面更小，且波长变长，对人体的危害可以认为就更小了。X射线是直线不会拐弯。综上所述，只要正确操作手持式X射线荧光光谱仪，是不会对人体造成伤害的，手持式X射线荧光光谱仪的用户们可以放心地使用。操作手持式X射线荧光光谱仪注意事项扣动扳机之前请注意X射线穿越方位。检测过程中不要将身体任何部分接近检测区域，尤其是眼睛和手部。不要手拿样品至检测窗口进行测量分析，而是要将设备测试窗口抵住样品来进行测量。在检测小且薄的样品或低密度材料，例如：塑料，木材，纸或陶瓷时，请使用配选件安全遮挡或台式样品架进行检测。操作设备时，如果有需要，可以配备有正规机构认证的剂量计。

海关总署物资装备采购中心就&ldquo 海关总署2013年手持式稀土检测设备采购项目&rdquo 进行国内公开招标采购，现邀请符合资格条件的投标人前来投标。　　一、招标编号：HG13GK-A0325-008S　　二、项目名称：海关总署2013年手持式稀土检测设备采购项目　　三、招标内容　　手持式稀土检测设备 12台　　注：投标人必须对本项目的全部内容进行投标，不允许拆分投标，否则其投标将被拒绝。　　四、投标人资格条件　　1、在中华人民共和国境内依法注册的、具有独立法人资格的、有能力提供招标设备和相关服务的制造商或其授权代理商(对于同一品牌同一型号产品，制造商可以自行参加或授权一家代理商参加本项目)。　　2、符合《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定，即：　　(1)具有独立承担民事责任的能力 　　(2)具有良好的商业信誉和健全的财务会计制度 　　(3)具有履行合同所需的设备和专业技术能力 　　(4)有依法缴纳税收和社会保障资金的良好记录 　　(5)参加政府活动前三年内，在经营活动中没有重大违法记录 　　(6)法律、行政法规规定的其他条件。　　3、投标人不得直接或间接地与招标人为采购本次招标的设备编制规范和其他文件所委托的单位或其附属机构有任何关联。　　4、领取了招标文件且在法律上和财务上独立、合法运作并独立于招标人。　　5、本次招标不接受联合体投标。　　6、本项目不接受进口产品投标(进口产品是指通过中国海关报关，验放进入中国境内，且产自关境外的产品)。　　7、一个投标人不得提交两个或两个以上不同的投标文件或投标报价。如果投标人之间存在下列互为关联关系的情形之一的，不得同时参加本项目的投标，否则予以拒绝：　　(1)法定代表人为同一人的两个或两个以上法人 　　(2)母公司或实际控制人及其直接或间接持股50%及以上的被投资公司 　　(3)均为同一家母公司或实际控制人直接或间接持股50%及以上的被投资公司。　　8、投标人其他条件：　　所投的手持式稀土检测设备应符合国家标准《微剂量X射线安全检查设备》GB15208.1-2005。　　五、领取招标文件及开标相关信息　　1、领取招标文件时间和地点：　　时间：2013年 7月 18日至2013年 8 月 7日，每天上午 9:30 至 11:30，下午14:30至 16:30(北京时间、节假日除外)。　　地点：海关总署物资装备采购中心512室(北京市东城区建国门内大街6号)。　　2、投标截止时间和开标时间：　　2013年 8 月 9 日上午 9:00(北京时间)，逾期送达或送达的投标文件不符合本招标文件规定的恕不接受。届时请参加投标的单位派代表出席开标仪式。　　3、开标地点：海关总署物资装备采购中心会议室(北京市东城区建国门内大街6号)。　　4、投标文件的递交：投标文件请于开标当日、投标截止时间之前由专人送达开标地点,以电报、电话、传真、电子邮件形式递交的投标文件将不予接受，逾期送达或不符合本招标文件规定的投标文件恕不接受。　　5、有意向的投标人派人领取招标文件时需提供领取人的身份证复印件(加盖单位公章)并携带身份证原件、拟投标单位的营业执照复印件(加盖单位公章)和拟投标企业单位领取招标文件授权书(加盖单位公章)。　　六、招标人：海关总署物资装备采购中心　　地址：北京市东城区建国门内大街6号　　邮政编码：100730　　联系人及联系电话：程若愚(010-65194784) 解惟光(010-65195161)　　传　　真：010-65195902　　户 名：海关总署物资装备采购中心　　开户银行：建行北京分行东方广场支行　　帐 号：11001059200059108022　　如使用电汇方式交纳投标保证金须在电汇凭据附言栏中写明用途、项目名称及招标编号。　　八、本招标公告在中国政府采购网(www.ccgp.gov.cn)和中国海关政府采购网站(http://hgcg.customs.gov.cn)上进行发布。

甲醛、一氧化碳等有害气体对人们的健康造成威胁，监测它们的仪器只归环境监测部门所有。能否设计一款便携简易、适合老百姓使用的环境监测仪器呢?在日前举办的第二届上海市大学生创新论坛上，华东理工大学5名本科生研制的“手持式环境监测仪器”，获得“我最喜爱的项目”称号，正在申请专利，希望日后能推向市场。　　据华东理工机械学院的项四通同学介绍，他和同学们在研究环境污染的过程中，意识到环境监测的重要性，萌生了设计一款家用空气质量监测仪的想法。在老师指导下，他们利用智能手机平台，开发出一款手持终端，可以对二氧化碳、一氧化碳、甲醛等气体进行数据采集、显示以及无线传输。　　记者看到，这个仪器和智能手机差不多大小，有一个全触控的电子屏幕，打开后便可以像使用触屏手机一样轻松操作。只见界面上标有 “甲醛”、“一氧化碳” 、“二氧化碳”三个按键，按一下，就会显示当前环境中该气体的浓度。如一氧化碳浓度显示为 “10PPM”，表示空气中一氧化碳含量为一百万分之十。　　项四通说，他们为每种气体都设定 “预警数值”，只要超过特定浓度，就会及时提醒使用者。这款适合随身携带的仪器可以让人们了解家中、办公楼和所到场所的空气质量。　　据介绍，要研制出这个小小的仪器，需要掌握单片机、嵌入式系统、 GPRS模块等多个领域的科技知识。项四通说，他们在研发过程中遇到过不知道选择怎样的传感器、程序编译过程中报错等难题，但他们通过查阅图书，请教指导老师，将相关知识和技能逐一消化，终于收获了成果。这款手持式环境监测仪器结合人们日常使用的手机GPRS功能，使得仪器可以像手机上网一样，将采集到的数据无线传输到远程的基站，对数据进一步分析处理，体现了智能设备无线连接的特点。　　如今，小项他们正在申请专利，希望日后将它推向市场，为环境监测提供一种更加方便、易行、可靠的方法，让居民可以在家中监测出房屋内是否存在有害气体，上班族则可用它监测办公室的空气质量。小项表示，这款手持式环境监测仪器除能监测环境气体外，如果对程序做简单的修改，还可以实现对土壤、水质、工业污染源、道路交通噪声等更多环境质量的监测，并在此基础上开发自动检测和发送功能，实现无人监测。

PAL系列手持式折射仪让检测工作更高效更快捷日本ATAGO（爱宕）的PAL系列迷你数显折射计一经面世，在用户中即引起了广泛的关注。PAL-1是这个系列中的一名代表。 PAL-1是全新的数字式手持折射仪，完全颠覆了过去用户对于手持式折射计的传统认知，采用迷你数显设计，仅手掌大小，重100g。 PAL-1的袖珍型大小将能让您随身携带，并且不论厂房内外均能使用。您将会对它的尺寸、设计、功能与性能感到惊奇！PAL-1将会扩展您检测范围的更多可能性。 PAL系列完全采用模块化设计，将光学分析模块与电子器件（包括模数转换，数据处理，显示器驱动，显示LCD板，按键等）部分完全分离，并采用共用模具设计制造工艺，使得一个检测仪器能够像消费类电子产品一样被大规模复制，设置不同的测试功能只是在工厂里重写Flash-ROM-BIOS数据，因而该仪器既能够被制造得小巧玲珑，又能够满足测试精度，还能够衍生出无数种不同参数的测试仪器，并且，价格还非常便宜。目前PAL-1数字式折光糖度计的价格仅相当于过去买一只手持刻度式折光糖度计的价钱。 数字手持袖珍折射仪PAL-1荣获了2004年优秀设计奖Good Design Award，2004年技术创新奖，2005年食品工业技术进步奖！特点：&bull 小巧轻便，仅重100g。&bull 清水归零，操作简便。&bull 单手便能进行测量，特殊设计的样本凹槽可以解决样本的溅出问题。&bull PAL-1拥有让您惊奇的快速测量能力。只要将一滴样本溶液置于棱镜上，然后按「开始」键，糖度值（糖份/浓度）会在3秒之内显示。具有数字LCD显示面版，其它人也可以避免主观错误的数值判读（例如传统的模拟式折射仪）&bull 具有广泛的测量范围（糖度(Brix)0.0-53.0%），PAL-1适用于几乎任何果汁、食品与饮料的测量，例如汤、调味酱、蕃茄酱、低糖果酱或带皮果酱。&bull PAL-1防护等级为IP65。你可以用水龙头直接冲洗样品凹槽，且本设计能让使用者轻易地将样品擦干。&bull PAL-1的自动温度补偿功能（ATC）使您在读取数值时可以不用考虑周边的温度，可显示温度，测量温度高达100℃。&bull PAL-1可以在样本加热或烹煮过程中做高温测量。（所测的糖度值在几次重复测量后会逐渐稳定。）&bull PAL-1具有专属的保管盒子，使用者可以将PAL-1妥善保管以避免损害或损失。为了拓展PAL-系列的应用，ATAGO开发出了许多单参数的特殊标度PAL浓度测定仪，应用领域包括：糖液、各类含糖溶液、各种饮料果汁、蜂蜜、水果、果酱、调味酱、豆奶、盐度、拉面汤、盐水、海水、食品添加物、酒精、药剂、葡萄汁、消毒剂、漂白剂、碱性液体、融雪剂、冷冻剂、皮革鞣剂、纺织、糊状物、各种化学制品和溶剂浓度的测量等等。 欲了解更多详情可点击www.atago-china.com 或致电020-38108256 ATAGO(爱宕)中国分公司咨询。

手持式光谱仪主要有X射线管、探测器和其他部件组成。其中X射线管的靶材对手持式光谱仪的应用和测试功能有着重要的作用，因此，客户要根据自己的使用领域选择合适的靶材。本篇分享一下选择手持式光谱仪靶材的方法以及各种靶材在测试元素时的优缺点，希望能对大家有所帮助： Ta钯, W 钯：对8-10keV 的特征线能有效的过滤掉– 使激发的光谱更加平滑，背景更低。不能测 Mg ，可以测 Al, Si。Rh钯：适合测Mg, Al, Si ，测几个ppm的重金属元素性能相对差点。Ag钯– 用于合金尤其是轻元素分析. Ag的特征K射线康普顿散射(21keV)可以实现对于轻元素的间接测量，L 线用于 S 和 Cl 的激发，对Ag, Cd, Sn, Sb 效果差。Ta钯测试Ag, Cd, Sn, Sb 比Ag钯好。其他选择: Rh, Pd, Au。下面以 Rh铑和Ag银靶在手持式光谱仪测试合金和矿石中的应用为例，介绍手持式光谱仪的靶材选择问题： Rh铑元素非常适用于合金和某些矿石的应用，铑靶可避开来自银元素L-线所发射的波峰引起的对镁含量测试的负面影响，铑靶可避开来自氩荧光（空气中）的波峰引起的对镁含量测试的负面影响；银靶的K-线散射影响镉元素含量的测试，铑靶可降低2倍对镁含量测试的负面影响，因此也提高了两倍镁元素测试灵敏度。铑靶和银靶相比，铑元素可提高镉元素测试的结果。因此：同靶材材质会对相关及其附近的元素起弱化作用。 对于Si-PIN探测器，Ta、W用于矿石 Ag用于合金。科迈斯K-1688手持式光谱仪标配Ag靶材，对于SDD探测器， Ag用于矿石及合金。 手持式光谱仪用于矿石是Rh Au 合金是Rh， DELTA手持式光谱仪的矿石机也可用Ag靶，但对 Ag, Cd, Sn, Sb 四个元素效果不好。 如果不需要测Mg,建议选择Ta靶材。