手持探头检测显微镜

特种探头拉曼光谱检测系统拉曼光谱是物质的指纹谱，通过拉曼光谱可以获取物质的声子谱、电- 声相互作用、晶格振动非简谐信息，测量物质融化曲线及固/ 液相变、结构、组成、状态等。常规的显微拉曼只能用于实验室测试，无法满足在线测试需求。北京卓立汉光仪器有限公司结合多年的拉曼光谱仪研制经验开发出特种光纤探头拉曼解决方案，可以用于特殊场景的在线分析。性能优势可满足高温高压实验环境下测试需求可满足固、液、气等多种类型的样品侵入式测试需求光纤结构，系统稳定耐用系统方案与配置技术参数激光器532nm，100mw785nm，350mw 光谱仪VPH 透射光栅光谱仪拉曼频移：200-4000cm-1； 光谱分辨率：优于 10cm-1VPH 透射光栅光谱仪拉曼频移：350-2400cm-1 光谱分辨率：优于 10cm-1CCD 探测器具有高像元分辨率的 CCD 芯片，分辨率 2000*256可见近红外拉曼专用 CCD，深制冷温度至 -60℃，读出噪声5 电子 / 像元 特种探头工作距离：3 mm 和 7 mm 可选，其他可定制工作温度：0-325℃，可定制最大压力：6000psi配置信息光谱仪型号Omni-iSpecT532A1Omni-iSpecT785A1拉曼频移波长宽度0-4100cm-1 /532-680nm-200-2400cm-1/770-965nmF/#F/1.8F/2.3焦距（入射 / 出射）85/85mm100/100mm光栅1800l/mm VPH1200l/mm VPH CCD 相机背感光深耗尽 CCD 有效像素 2000×256 像素尺寸 15um探测面尺寸 30×3.8mm背感光深耗尽 CCD 有效像素 2000×256 像素尺寸 15um探测面尺寸 30×3.8mm可调入射狭缝10um-6mm10um-6mm分辨率（典型值）@50um 狭缝0.17nm5cm-1@585nm，7cm-1 保证值0.25nm3cm-1@912nm，5cm-1 保证值光纤适配器XY 可调光纤适配器光纤接口：SMA，10mm 圆柱XY 可调光纤适配器光纤接口：SMA/ MPO/10mm 圆柱快门选配选配 内置长波通滤光片选配直径 50mm，最低波数 186cm-1选配直径 50mm，最低波数 309cm-1重量5kg5.8kg特种探头探头激发波长405, 514, 532, 633, 670, 671, 785, 808 nm. 其 他 可 选光谱范围100-4000 cm-1 @ 标准 ( 不同激光器范围不同 )样品端光斑大小~100 um @ 100 um 芯径激发光纤工作距离9mm/3mm@ 标准；12,15,18mm 可选数值孔径0.22 @ 标准探头尺寸2.25” 长 x 0.96”宽 x 0.58”高1.3” 直径 x 4.5”长探头材质超硬氧化铝，316 不锈钢；可根据需求定制探头柄尺寸3/8” 直径 x 3” 长度3/8” 直 径 x 2” 长 度可根据需求定制探头密封阀丁腈橡胶密封环，其他可定制探头密封材质全氟醚橡胶密封环，可根据需求定制滤光片效率O.D 6操作温度0-325 ⁰ C最大操作压力6000 psi光纤配置100/100 um 标准配置，其他可选光纤长度5m@ 标准；可根据需求定制接口类型FC 或者 SMA其他可定制探测器有效像素2000 x 256像元尺寸15 x 15 μm最短光学门宽30 x 3.8 mm读出噪声4.5 e-响应范围200-1100nm应用分享气体在线分析Casella A [1] 采用特种探头拉曼技术对二氧化钚废气流动进行在线监测，用于评估制备铀、钚等高纯金属时的氟化反应进程。目前公认的氟化反应使用具有毒性和腐蚀性的HF，很大程度限制了探针和接口材料的选择。下图为实时监测氟化反应废气装置示意图，采用光纤探头拉曼，激光通过阻挡HF 气体的透明窗口聚焦监测。此外该系统可以用于监测其它反应产物和环境中的气体等。图 光纤拉曼在线监测结构图图 不同参数下的拉曼光谱图图 反应气体的拉曼光谱强度- 时间关系图和热刨面图化学蚀变过程监控Parruzot B[2] 等人采用光纤探头拉曼光谱技术原位监测玻璃蚀变过程，实验时不锈钢密封的光纤拉曼探头需浸泡在恒温硼酸/ 硼酸盐溶液中，拉曼光谱监测溶液的pH 值和硼酸浓度变化，构建预测模型。通过光纤拉曼原位在线检测，可以实现近实时定量分析，也避免了环境实验干扰，如蒸发、SA/V 变化、污染物、温度等因素。图 实验装置（中）和溶液pH 值、硼酸浓度的拉曼光谱图（左、右）图 拉曼光谱模型图，DI（超纯水溶剂，A-D）SB（加硼酸盐溶剂,E-H），A,B,E,F 是拉曼光谱与时间三维图；C,G 是硼酸浓度模型图；D,H 是PH 值模型图 化学蚀变过程监控Lu W [3] 等人应用光纤拉曼原位监测微芯片反应器中金属- 有机物Co-MOF-74 生长过程，实验时FIR 和WAVS 提供物质的原子坐标和晶格信息，拉曼和MIR 提供分子结构信息并获得成核生长曲线。图 MOF 拉曼光谱随时间变化曲线，采用平面波密度泛函理论计算引用文献[1] Casella A, Carter J, Lines A, et al. In stream monitoring of off-gasses from plutonium dioxide fluorination[J]. Actinide Research Quarterly,2019: 31-35.[2] Parruzot B, Ryan J V, Lines A M, et al. Method for the in situ measurement of pH and alteration extent for aluminoborosilicate glasses using Raman spectroscopy[J]. Analytical chemistry, 2018, 90(20): 11812-11819.[3] Lu W, Zhang E, Qian J, et al. Probing growth of metal–organic frameworks with X-ray scattering and vibrational spectroscopy[J]. Physical Chemistry Chemical Physics, 2022.

德国KSI单探头多用途超声波扫描显微镜型号：v300/v400E/v-700E/v-1000E 扫描速度最快最准的超声波扫描显微镜 超声波扫描显微镜是利用超声波对微观物体进行成像的无损检测设备。可对各种材料、元器件内部缺陷、空洞、气泡、分层缺陷、杂质、裂纹进行非破坏性检测；还可进行涂镀层结合质量，内部焊接质量，键合层缺陷等检测、空洞率计算等。超声波扫描显微镜应用领域：● 半导体电子行业：半导体晶圆片、封装器件、大功率器件IGBT、红外器件、光电传感器件、SMT贴片器件、MEMS等 ● 材料行业：复合材料、镀膜、电镀、注塑、合金、超导材料、陶瓷、金属焊接、摩擦界面等；● 生物医学：活体细胞动态研究、骨骼、血管的研究等超声波扫描显微镜在失效分析中的应用：● 晶圆面处分层缺陷● 锡球、晶圆、或填胶中的开裂● 晶圆的倾斜● 各种可能之孔洞（晶圆接合面、锡球、填胶…等） 超声波显微镜的在失效分析中的优势：● 非破坏性、无损检测材料或IC芯片内部结构● 可分层扫描、多层扫描● 实施、直观的图像及分析● 缺陷的测量及缺陷面积和数量统计● 可显示材料内部的三维图像● 对人体是没有伤害的● 可检测各种缺陷（裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞等） V系列单探头多用途超声波扫描显微镜KSI v-系列的单探头多用途超声波扫描显微镜的新一代产品。全新研发的扫描器和新型换能器相结合，能大大提高扫描速度。与常规的SAM产品相比，凯斯安 v-系列的检测效率能提高30%。大尺寸扫描区可实现对大型样品的检测，新型KSI v-系列机型创造出无与伦比的性价比。新型KSI v-系列的主要特点：● 扫描速度蕞高可达2000mm/s● 与其它品牌机器相比扫描时间节省30%● 新型的换能器● 成像更清晰● 有单探头、双探头、四探头、八探头系统，达到高效能● 扫描范围最小可至200μm×200μm● 扫描范围蕞大可达1000mm×700mm● 带宽达到550MHz● 蕞大放大倍数：625倍● 可以通过不同的扫描方式灵活应用● 通过Windows 7 GUI简单操作● 为中国用户开发的简体中文界面● 性价比高KSI V400E 多用途超声波扫描显微镜主要参数：● 该型号超声波扫描显微镜系统是实验室、研发和工业生产线主流机型。● 扫描速度蕞高可达：1000mm/s 或 2000mm/s，两种规格可选● 与其它品牌机型相比扫描效率高30%● 蕞大扫描范围：300mm x 300mm 或 400mm×400mm 或 400mm x 800mm，三种规格可选● 射频蕞大带宽：500MHz 或 550MHz，两种规格可选● 常规探头 或 FCT低噪探头，两种规格可选KSI v300失效分析实验室用声学显微镜机械扫描部分● X/Y/Z轴驱动系统是步进马达● X轴和Y轴的蕞高扫描速率是：1000mm/s● 蕞大扫描范围：300mm×300mm● X轴和Y轴的扫描精度：±0.25μm● Z轴是由自锁步进电机驱动● Z轴升降行程：100mm 电子部分和电脑工作站● 超声脉冲发生和接收器带宽：500MHz● 模数转换卡ADC 1GHz● 声学图像蕞大放大倍率400×● 正版Microsoft Windows 操作系统● Intel酷睿处理器● 1000GB 7200rpm硬盘● 22吋平板显示器 软件部分和扫描模式● 点扫描(A-)● 纵剖扫描(B-)● 横剖扫描(C-)● 单配置多层横剖扫描(X-)● 分层缺陷着色● 扫描图像复位功能，轻松重构超扫图像● 图像分辨率蕞大：32.000 x 32.000 （像素）● 扫描图像储存格式：BMP、JPG、sam等各种图像格式● 缺陷尺寸测量工具● 工件厚度测量估算 选件与客制件● 图像分析处理软件包● 专业3D声学图像处理软件包 KSI v-700E 多用途超声波扫描显微镜主要参数：● 该型号超声波扫描显微镜分析系统，用于检测大件样品● 蕞大扫描速度：2000 mm/s● 与其它品牌相比扫描效率高30%● 蕞大扫描范围：700mm×600mm● 最小扫描范围：200μm×200μm● 带宽：550MHz● 蕞大放大倍数：625倍● 新型FCT专利换能器 KSI v-1000E 多用途超声波扫描显微镜主要参数：● 该型号超声波扫描显微镜分析系统，用于研发和生产部门检测特大件样品● 蕞大扫描速度：2000 mm/s● 与其它品牌相比扫描效率高30%● 蕞大扫描范围：1000mm×700mm● 最小扫描范围：200μm×200μm● 带宽：550MHz● 蕞大放大倍数：250倍● 新型换能器

KSI V-duo 双探头超声波扫描显微镜系统 双探头超声波扫描显微镜系统，同时使用2只换能器- 扫描速度：2000 mm/s- 与其它品牌相比扫描效率高30%- 扫描范围：700mm×600mm- 最小扫描范围：200μm×200μm- 带宽：550MHz- 放大倍数：625倍- 新型换能器

显微镜载玻片热敏功率探头S175C光学测量仪用于测量显微镜样品平面上的光功率76.0 mm x 25.2 mm的尺寸匹配标准显微镜载玻片波长范围: 300 nm - 10.6 μm功率范围：100 μW至2 W存储在接头中的信息探头数据NIST-和PTB-可追溯的校准数据S175C显微镜载玻片热敏功率探头用于测量显微镜装置中样品处的功率。热敏探头可探测300 nm与10.6 μm之间的波长，100 μW与2 W之间的光功率。探头的面积为76.0 mm x 25.2 mm，匹配标准显微镜载玻片的面积，且兼容大多数标准正置和倒置显微镜。热敏探头具有18 mm x 18 mm的有源面积，包含在玻璃盖下的密封壳体内。浸渍介质(水、甘油、油)可置于玻璃盖板上。如图所示，探头外壳的底板上用激光刻有一个十字靶，有助于对准和聚焦光束。在标准显微镜中，将探头翻转朝向物镜以进行功率测量之前，这个十字靶可用于光束对准。在倒置显微镜中，打开透射照明灯，将十字靶与光束对准；这样探头会位于物镜前正中心。

显微镜载玻片功率探头S170C光学类仪表波长范围：350 nm到1100 nm光功率敏感范围：10 nW至150 mW用于测量显微镜样品平面的光功率硅光电二极管：18 mm × 18 mm有效面积探头外壳尺寸：76.0 mm x 25.2 x 5.0 mm使用的折射率匹配凝胶防止内部反射接头中存储的信息探头数据可追溯到NIST和PTB的校准数据通过8-32(M4)螺孔安装接杆S170C显微镜载玻片功率探头是一种硅光电二极管探头，设计用于测量显微镜样品平面的功率。该硅光电二极管的波长范围从350 nm到1100 nm，光功率从10 nW到150 mW。探头占地面积为76.0 mm x 25.2 mm，符合标准显微镜载玻片，兼容多数正置和倒置显微镜。光电二极管的有效面积为18 mm x 18 mm，位于OD 1.5的中性密度(ND)滤光片后面，封装在密封外壳中。中性密度滤光片表面上的20 mm x 20 mm凹槽刚好接受标准显微镜盖玻片。浸渍介质(水、甘油、油)可直接涂覆在中性密度滤光片上方的这个凹槽中，也可以先插入盖玻片简化清洁步骤。光电二极管和中性密度滤光片之间的缝隙填充了折射率匹配凝胶，可以在使用浸水或浸油的高NA物镜时，防止内部反射产生明显的测量误差。探头外壳底部有一个激光所刻的方格，用于辅助光束对准和聚焦。在标准显微镜中，可以先用这个方格对准光束，然后翻过来将探头面向物镜测量功率。在倒置显微镜中，打开透射光源使用光束对准方格和探测器外壳，使探头中心对准物镜。此外，中性密度滤光片的散射面可用于聚焦平面。每个探头发货时带有可追溯NIST或PTB校准数据。包含的数据与用于测试单个探头的光电二极管校准证书匹配。探头规格和可追溯至NIST和PTB的校准数据都存储在探头接头的非易失性存储器中，使用Thorlabs的功率计可以读取这些数据。我们建议每年校准，保证精度和性能。如需订购校准，请使用下面的CAL-PD重新校准服务。Thorlabs还提供带热敏探头的显微镜载玻片探头；

KSI v700E 单探头超声波扫描显微镜 该型号超声波扫描显微镜分析系统，用于检测大件样品- 最大扫描速度：2000 mm/s- 与其它品牌相比扫描效率高30%- 最大扫描范围：700mm×400mm- 最小扫描范围：200μm×200μm- 带宽：550MHz- 最大放大倍数：625倍- 新型FCT专利换能器

KSI v1000E 单探头多用途超声波扫描显微镜 该型号超声波扫描显微镜分析系统，用于研发和生产部门检测特大件样品- 最大扫描速度：2000 mm/s- 与其它品牌相比扫描效率高30%- 最大扫描范围：1000mm×700mm- 最小扫描范围：200μm×200μm- 带宽：550MHz- 最大放大倍数：250倍- 新型换能器

KSI V-quattro四探头超声波扫描显微镜系统 多工系统——4探头超声波扫描显微镜分析系统四探头系统，同时使用4只换能器- 最大扫描速度：2000 mm/s- 与其它品牌相比扫描效率高30%- 最大扫描范围：1000mm×700mm- 最小扫描范围：200μm×200μm- 带宽：550MHz- 最大放大倍数：250倍- 新型FCT换能器

KSI V400E 单探头多用途超声波扫描显微镜 该型号超声波扫描显微镜系统是实验室、研发和工业生产线主流机型。- 扫描速度最高可达：1000mm/s 或 2000mm/s，两种规格可选- 与其它品牌机型相比扫描效率高30%- 最大扫描范围：400mm×400mm 或 400mm x 800mm，二种规格可选。- 射频最大带宽：500MHz 或 550MHz，两种规格可选- 常规探头 或 FCT低噪探头，两种规格可选

KSI V300E 单探头超声波扫描显微镜 1.扫描机械机构 ? X轴和Y轴驱动系统全是磁悬浮高速线性电机? *X、Y轴有效最大扫描区域：300mm×300mm? *X、Y轴最大扫描速率：2m/s? X、Y轴最大扫描加速度：30m/s2? X、Y轴的重复精度：±0.1um? 扫描驱动装置Z轴：自锁步进马达? Z轴的重复精度：±0.25um? 具有自动对焦功能? Z轴升降行程：100mm2.脉冲信号收发器和换能器? 扫描工作模式：单通道工作模式? 脉冲信号收发器带宽：5MHz～500MHz? 射频总增益：72dB，以1dB/步增减调节? *换能器要求及数量：15MHz/f=0.75” 1个 ，检测TO封装等的厚型塑封器件30MHz/f=12.7mm 1个 ，检测常规的塑封器件40MHz/f=20mm 1个 ，检测IGBT等大功率模组110MHz/f=8mm 1个 ，检测Flipchip/BGA等薄型器件175MHz/f=8mm 1个 ，检测最新型结构的器件或新设计透射模组（含20MHz接收探头） 1套，用来做IC的快速批量检测或PCB板的检测? 模数转换卡ADC 1GHz? 声学图像放大倍数大于200× 3.样品槽/工装/过滤系统? 样品槽尺寸： 546mm×860mm×120mm（W×D×H）? 机器内含自净过滤系统 4.软件4.1控制软件KSI VISION? 软件界面语言：英文? 扫描模式：1) 点扫描(A-Scan)2) 纵剖扫描(B-Scan)3) 横剖扫描(C-Scan)4) 斜剖扫描(D-Scan)5) 多层横剖扫描(X-Scan)6) 多配置多层横剖扫描(G-Scan)7) 序列扫描(Sequence-Scan)8) 自动扫描(Auto-Scan)9) 3D扫描(3D-Scan)10) Z扫描(Z-Scan)11) 高质量扫描(HQ-Scan)? 保存图像格式：BMP、JPG、及保存所有尺寸及声波信号的原始声学图像格式(SAM、SAZ)；? 最大图像采样像素：32000×32000像素? 最高采样分辨率：1um （1000像素/毫米）? 最小门限时间：2ns? 软件主要功能：1) 扫描过程中调节增益、门限时间、门限位置、门限延迟；2) 厚度和距离测量3) 分层缺陷着色4) 扫描图像复位功能，轻松重构超扫图像； l5) 3D图像6) 设置参数均会自动存储，包括：A波形图、功率设置、增益、数字门限延迟、门限宽度；7) 阈值、正负波峰相位检测包括：幅值、均值、双极；8) 被测样品扫描尺寸和定位选择、相位检测、表面跟踪、采样图像分辨率选择；*4.2 三维图像扫描/旋转/剪切软件包KSI 4D VOLUME? 能对声学图像进行三维扫描、旋转、剖切等处理，直观地再现被测样品的空间感。*4.3 二维图像分析软件包 KSI VSION VIEW? 易用的图像分析软件包KSI VSION VIEW，包括缺陷面积百分比统计、着色处理等常用的声学图像分析功能； 5.工控机配置：? Intel酷睿双核处理器，核心频率大于2.6GHz? 正版Windows10操作系统英文版? 24寸 平板显示器 2个? 128GB固态硬盘 + 1000 GB 机械硬盘? 8 GB RAM 内存 可选配置包括如下： ① 能压制水花的防误判低噪探头，从5MHz, 10MHz, 30MHz, 40MHz, 50MHz … … … … .230MH, 300MHz,330Hz,400MHz可选 （共200个多，机器标配已含15MHz探头1个② 二维图像缺陷分析软件包Ksi vision View③ 三维图像缺陷分析软件包Ksi Volume4D④ 主控软件离线版 Ksi Vision （该软件也可以在普通办公电脑上运行）⑤ 透射探头套装⑥ 双显示器配置⑦ 定制特殊样品台

KSI V-Octo 八探头大型超声波扫描显微镜系统 大型8探头超声波扫描显微镜分析系统该系统同时使用8只换能器，能大限度的确保快速图像采集和高效能。- 扫描速度：2000 mm/s- 与其它品牌相比扫描效率高30%- 扫描范围：1000mm×700mm- 最小扫描范围：200μm×200μm- 带宽：550MHz- 放大倍数：250倍- 新型换能器

概况介绍：光声显微镜（Photoacoustic microscope，PAM）是基于光声成像原理的一种成像技术，主要针对于浅表组织进行成像，成像分辨率高，速度快。在PAM中，光学激发和超声波检测都是聚焦的，并且双焦点通常被配置为共焦以求达到最大灵敏度。每个激光脉冲产生一维（1D）深度分辨图像而无需机械扫描，沿X轴（或Y轴）扫描产生2D图像，沿X、Y轴扫描产生3D图像。该系统使用了一个稳定的商用电流计扫描仪和一个定制的扫描镜。在保持高信噪比的同时，显著提高了显微镜的时间分辨率，新系统具有快速的B模式速率（500&thinsp Hz）。光学分辨光声显微镜(or - pam)的发明缩小了这一差距，它使声学检测从生物分子吸收的短脉冲或调强光中产生的热弹性诱导压力波成为可能。OR-PAM已经成功地展示了广泛的基于吸收的解剖学、功能、代谢、分子和遗传对比，并在神经病学、血管生物学、皮肤病学、眼科和组织工程中发现了广泛的应用。光声断层成像，具有独特的空间能力，在四个主要长度上保持高空间分辨率生物学:细胞器、细胞、组织和器官。在细胞水平，光学聚焦提供了ORPAM，具有2.6 mm的横向分辨率，而光学扩散在生物组织中限制其成像深度为1.2 mm光学定义的横向分辨率可以缩放低至亚微米(500 nm甚至亚波长(200 nm)，成像深度。相比之下，photoacoustic microscopy (PAM)的成像深度可以放大到几毫米，具有声学定义的横向分辨率。这样的一种实现是众所周知的声学分辨率PAM，它突破了光扩散极限尽管横向分辨率可以缩放光学和声学区域，轴向分辨率是由接收到的光声信号的波段宽度和超声波探测器决定。仪器性能配置：1.*活体在体无侵入全身解剖学观察，细胞级别光学，化学讯号捕捉；2.*光学横向分辨率：~2.5 - 10 mm；声学横向分辨率：~80 - 150 μm(部分应用可达到50mm) 纵向分辨率~35 - 70 μm；（不依赖透明化技术，不依赖外源性发光剂）3.*自源性发光基团，氧合脱氧蛋白，血红素，胆红素，黑色素，脂质，膜蛋白可适应；4.*成像最大深度1mm（不依赖透明化技术，不依赖外源性发光剂），3mm（特制外源性发光剂）5.成像波长范围：300-950波段默认1100-2000可选，可适应红外，近红外，红外一区二区染料，无需手工设置，检测器不会曝露在空气中，避免灰尘，纸屑或液体进入生锈导致成像不准确；6.*支持自发荧光，化学发光，荧光共振能量转移细胞层级代谢观察。7.扫描频率：1-400HZ可调谐；可选手持式探头或者固定式扫描探头模式；8.*支持多模式成像扩展（可选）OCT断层相干扫描模式；超声模式；荧光模式；

D9600 C-SAM 超声波扫描显微镜现代标准声学扫描电子显微镜 D9600是现代声学成像的标准，和上一代产品一样提供了良好的精度和稳健性，增加了一个合并了PolyGate技术和Sonolytics的改进型的电子与软件平台。D9600是理想的用于失效分析、工艺开发、材料特性和小批量生产的工具。 特点：* PolyGate 技术和Multi-Gate 和Probing-Gate 功能具有运行单个和多个聚焦图像的能力* 每个通道可高达100个Gates* Windows 7 Ultimate，具备多语言和64位能力* 线性Rod Motor Scanner能够扫描JEDEC Trays* 安装在扫描塔上的扫描平台和样品固定装置更加精密* 容易进入扫描区域使得样品放入和取出更加容易* 定量的B-Scan分析模式（Q-BAM）合并了Sonoscan独有的B-Scan模式提供了虚拟横截面视图并带有准确的极性、幅值和深度数据* 可选水循环系统、Waterfall 探头、在线温度控制* 可选的数字图像分析（DIA）使用了先进的算法来量化声学数据并允许你设置准确的、自动的接受/拒收条件D9600 C-Mode 扫描声学显微镜是新一代声学显微图像（AMI）技术革新的一部分。无论你需要用于失效分析、工艺开发、材料特性和小批量生产或其它的试验室检查，D9600都会提供无与伦比的能力。D9500在反射和透射这两种模式下，具有高的精度和稳健性，成为现代AMI的标准。 先进的Sonoscan 功能增加了价值和信心，比如Visual PolyGate、移动地图、像素间距等等。具有的大尺寸、容易进入的且有灯光照明的扫描区域，以及它扫描塔的参考扫描和固定装置使得D9600有能力来高效的扫描任何样品，包括从单个器件到两个JEDEC托盘的器件。 除了充满Sonoscan领先的创新外，D9600还是为用户用心设计的。它的人体工程学特点使得使用更舒适和方便。它的先进的应用软件Sonolytics和新的直观的操作界面菜单有助于使结果大化，并同时节省了操作员的时间。D9600是新一代的C-SAM设备，提供了一整套的技术、人体工程学等。 非破坏内部检测的知名公司自成立以来，Sonoscan一直关注在发展先进的声学显微成像(AMI)技术上，以帮助我们的客户制造更高质量的产品。在AMI应用于非破坏性内部检测和分析上，Sonoscan保持了可信任的权威性。 厂务需求通用电压 - 90V到250V AC，单相，50/60 Hz，15安培（120V）外形–直式桌子：长宽高 1.89 x 0.74 x 1.58 m （74.5 x 29.0x 61.9 英寸）

热点检测微光显微镜THEMOS系列THEMOS-1000发热分析工具是一套用于通过半导体器件探测、热信号定位来进行半导体失效分析的系统。通过将高精度热探测器探测到的发热图与从红外共焦激光显微镜获取的高分辨率模板图像叠加，可快速、高精度地识别失效位置。特性高灵敏度是通过以下方式获得的：InSb相机在3 μm到5 μm波段内具有高灵敏度专为3 μm 到 5 μm波段优化的镜头设计使用lock-in功能（选配）实现低噪声使用斯特林循环冷却器实现高制冷性能噪声等效温差(NETD)只有20mK高分辨率是通过以下方式获得的：InSb相机为640 × 512像素（像素尺寸：15μm）叠加的激光模板图像来自红外共焦激光显微镜可选择热纳米镜头(选配) 使用窗口功能，可获得高速探测能力视频功能连接测试机，可获得动态分析功能系统结构灵活，可进行微观到宏观的观测与PHEMOS、μAMOS系列一样具有用户友好型操作全系列的选配选项应用金属布线短路接触孔异常氧化物层微等离子体泄露氧化物层击穿TFT-LCD泄露/有机EL泄露定位器件开发过程中温度异常监测器件和PC板的温度映射在器件设计早期，通过获取器件工作时的温度信息，反馈回设计流程，可以缩短器件验证时间，也可增强产品可靠性。在观测基于工作环境的温度行为改变上，该功能也很有用。通过增加U11389温度测量功能，便可以方便地获得该测量功能。IR-OBIRCH分析功能极受欢迎的IR-OBIRCH（Infrared Optical Beam Induced Resistance CHange，红外光致阻值变化）分析功能可以作为选配增加到设备中，来探测漏电流或静态电流缺陷（leakage or IDDQ defects）等的线缺陷。可以以4象限电压/电流的形式测量。使用激光激励组件进行动态分析（DALS）使用激光激励组件进行动态分析（DALS）是一种利用激光照射来分析器件工作状况的新方式。在使用LSI测试机的测试模板操作器件过程中，使用1.3 μm激光激励器件，器件的工作状态（通过/失败）因激光产生的热量而改变。通过/失败信号的改变以图像形式呈现，表明了引起时序延迟的点，边际缺陷等等。热纳米镜头系统（Thermal NanoLens System）热纳米镜头系统因为高数值孔径，大大提高了光校正效率和分辨率。通过在样品（即便样品表面平整度很差）和透镜之间施加显微镜浸润油来获取高数值孔径。使用操纵器来简化纳米透镜系统的设计，可使工作设备的更新更简单。LSI测试机对接半导体器件变得越来越复杂，因此必须通过与LSI测试机对接来初始化采样测量、设置特殊条件。安装专用探针卡适配器后，可以用线缆与LSI测试机对接，执行分析。激光标记在定位后的失效点附近进行标记，或者在失效点周围的四个点进行标记，可以轻松地将失效点的位置信息传输到其他的分析设备上。EO探针单元EO探针单元是一款工具，通过使用非连续光源，透过硅基底来观察晶体管状态。它由EOP（Electro Optical Probing）来快速测量晶体管工作电压，由EOFM（Electro Optical Frequency Mapping）以特定频率对活跃晶体管成像。测量示例案例研究：封装器件观测案例研究：对器件一侧开口进行失效层观测案例研究：CMOS观测发现凸球下的缺陷案例研究：PCB和封装器件之间的布线失效在打开封装之前观测热源；打开封装以后获取相位图像以缩小热源范围。参数尺寸/重量主单元：1360 mm(W)×1410 mm(D)×2120 mm(H), Approx. 900 kg控制台：880 mm (W)×700 mm (D)×1542 mm (H), Approx. 255 kgPC桌：1000 mm (W)×800 mm (D)×700 mm (H), Approx. 45 kg线电压AC220 V (50 Hz/60 Hz)功耗约 3000W真空度约80 kPa或更大压缩空气0.5 MPa to 0.7 MPa系统配置C9985-04 InSb相机标配红外共焦显微镜标配自动平台控制XYZ标准透镜0.8×、4×、15×样品平台PM8、PM8DSP探测目镜标配探测镜头NIR 5×抗震桌标配黑盒标配THEMOS分析软件标配FOV（mm）12×9.6 to 0.64×0.51目标晶片(可达12英寸), Si 片, 封装功能热lock-in测量选配 3D-IC测量选配热测量功能选配热纳米镜头选配视频功能标配外部触发标配窗口功能标配IR-OBIRCH分析功能选配DALS选配光发射分析选配EO探测单元选配光发射观测的相机选择型号制冷类型有效像素数光谱灵敏度InGaAs 相机 C8250-21液氮制冷640(H)×512(V)900 nm to 1550 nmInGaAs 相机 C8250-27半导体制冷640(H)×512(V)900 nm to 1550 nmInGaAs 相机 C8250-31液氮制冷1000(H)×1000(V)900 nm to 1550 nm制冷型CCD 相机 C4880-59水冷1024(H)×1024(V)300 nm to 1100 nmSi-CCD 相机 C11231-01半导体制冷1024(H)×1024(V)400 nm to 1100 nm红外共焦激光显微镜1.3 μm激光二极管输出: 100 mW1.3 μm高功率激光器（选配）输出: 超过400 mW1.1 μm脉冲激光器（选配）输出: 200 mW (CW), 800 mW (pulse)光学系统物镜/微距镜头N.A.WD（mm）FOV（mm）配置MWIR 0.8×0.132212.0×9.6标配MWIR 4×0.52252.4×1.9标配MWIR 8×0.75151.2×0.96选配MWIR 15×0.71150.64×0.51标配MWIR 30×0.71130.32×0.26选配M Plan NIR 5×0.1437.52.6×2.6标配M Plan NIR 20×0.4200.65×0.65标配M Plan NIR 100×0.5120.13×0.13标配

满足大面积样本观察需求的工业检测显微镜NX1000系列 精确成像，色彩还原度高——Nexcope NM1000系列工业检测显微镜采用经过多年研究和不断改良的NIS45无限远光学系统，具有工作距离长，色差矫正能力强，成像锐利等优秀的光学品质。 专为工业大面积观察需求设计——大面积观察需要更大的操作平台，Nexcope NM1000系列显微镜采用12寸超大载物台，满足FPD及LSI的检测。同时，加入离合器平台手柄及物镜转换等人性化部件，极大的降低了长时间显微操作带来的疲劳。 模块化设计，实现观察方法的多样性——Nexcope NM1000系列工业检测显微镜采用模块化设计，可实现明场、暗场、微分干涉、荧光、偏光等观测方法。是半导体器件、FPD、电子器件、材料、精密模具制造的质控和研究的理想工具。 精确成像，色彩还原度高 柯勒照明完美的显微照明系统--柯勒照明，提供明亮均匀的视场。配合无限远光学系统NIS45和高数值孔径和长工作距离的物镜，给您提供完美的显微成像。 NIS45系列物镜 采用多层镀膜技术，能够补偿球差及从紫外到近红外的色差。保证了图像的锐度、清晰度和色彩还原性。使所有倍率都能获得高分辨率和平坦的图像。 人体工学设计，操作舒适 近人端设计 显微观察经常使用的控制机构位于显微镜正面（靠近操作者）。方便您观察样本时可以更快更方便的对显微镜进行操作。减少长时间观察带来的疲劳及大幅度动作带来的浮尘。 可变倾角三目观察头 可调节倾斜角度的观察头，可以在更舒适的姿势下进行操作。最大限度的减少长时间工作带来的肌肉紧张与不适。 低手位调焦机构及平台微调机构 调焦机构及平台微调机构采用低手位设计，符合人机工程学设计，给予您最大程度的舒适感。 工业样本观察更方便 内置离合器平台手柄可实现载物平台的快速与慢速两种移动方式，能够对大面积样本进行快速定位。与平台微调手柄配合使用，使精确快捷定位样本不再困难。 内置控制面板 将特定按钮设定为与特定物镜产生对应关系，只需轻轻一按即可轻松改变放大倍率。 超大载物平台 微电子及半导体样本往往面积较大，普通的金相显微镜平台不能满足它们的观察需求。NX1000拥有超大的载物平台和超大的移动范围，并且移动方便快捷。是大面积工业样本显微观察的理想工具。 防静电保护罩 工业样本往往惧怕浮尘，些许浮尘就会影响产品品质及检验结果。NX000拥有大面积的防静电保护罩，最大程度杜绝浮尘与落尘。保护样本，使检验结果更精确。

满足大面积样本观察需求的工业检测显微镜NX1000系列 精确成像，色彩还原度高——Nexcope NM1000系列工业检测显微镜采用经过多年研究和不断改良的NIS45无限远光学系统，具有工作距离长，色差矫正能力强，成像锐利等优越的光学品质。 专为工业大面积观察需求设计——大面积观察需要更大的操作平台，Nexcope NM1000系列显微镜采用12寸超大载物台，满足FPD及LSI的检测。同时，加入离合器平台手柄及物镜转换等人性化部件，极大的降低了长时间显微操作带来的疲劳。 模块化设计，实现观察方法的多样性——Nexcope NM1000系列工业检测显微镜采用模块化设计，可实现明场、暗场、微分干涉、荧光、偏光等观测方法。是半导体器件、FPD、电子器件、材料、精密模具制造的质控和研究的理想工具。精确成像，色彩还原度高 柯勒照明完美的显微照明系统--柯勒照明，提供明亮均匀的视场。配合无限远光学系统NIS45和高数值孔径和长工作距离的物镜，给您提供完美的显微成像。NIS45系列物镜 采用多层镀膜技术，能够补偿球差及从紫外到近红外的色差。保证了图像的锐度、清晰度和色彩还原性。使所有倍率都能获得高分辨率和平坦的图像。 人体工学设计，操作舒适 近人端设计 显微观察经常使用的控制机构位于显微镜正面（靠近操作者）。方便您观察样本时可以更快更方便的对显微镜进行操作。减少长时间观察带来的疲劳及大幅度动作带来的浮尘。可变倾角三目观察头 可调节倾斜角度的观察头，可以在更舒适的姿势下进行操作。减少长时间工作带来的肌肉紧张与不适。低手位调焦机构及平台微调机构 调焦机构及平台微调机构采用低手位设计，符合人机工程学设计，给予您较高的舒适感。 工业样本观察更方便 内置离合器平台手柄可实现载物平台的快速与慢速两种移动方式，能够对大面积样本进行快速定位。与平台微调手柄配合使用，使精确快捷定位样本不再困难。内置控制面板 将特定按钮设定为与特定物镜产生对应关系，只需轻轻一按即可轻松改变放大倍率。超大载物平台 微电子及半导体样本往往面积较大，普通的金相显微镜平台不能满足它们的观察需求。NX1000拥有超大的载物平台和超大的移动范围，并且移动方便快捷。是大面积工业样本显微观察的理想工具。防静电保护罩 工业样本往往惧怕浮尘，些许浮尘就会影响产品品质及检验结果。NX000拥有大面积的防静电保护罩，杜绝浮尘与落尘。保护样本，使检验结果更精确。

mini是一款发热显微镜，配备了高灵敏度InSb相机，可探测半导体器件的内部发热。通过将高精度热探测器探测到的发热图与模板图像叠加，可高精度地识别失效位置。特性高灵敏度是通过以下方式获得的：InSb相机在3 μm到5 μm波段内具有高灵敏度专为3 μm 到 5 μm波段优化的镜头设计使用lock-in功能（选配）实现低噪声使用斯特林循环冷却器实现高制冷性能噪声等效温差(NETD)只有20mK高分辨率是通过以下方式获得的：InSb相机为640 × 512像素（像素尺寸：15μm）可选择热纳米镜头(选配)使用窗口功能，可获得高速探测能力视频功能连接测试机，可获得动态分析功能系统结构灵活，可进行微观到宏观的观测与PHEMOS、μAMOS系列一样具有用户友好型操作全系列的选配选项应用金属布线短路接触孔异常氧化物层微等离子体泄露氧化物层击穿TFT-LCD泄露/有机EL泄露定位器件开发过程中温度异常监测器件和PC板的温度映射温度测量功能在器件设计早期，通过获取器件工作时的温度信息，反馈回设计流程，可以缩短器件验证时间，也可增强产品可靠性。在观测基于工作环境的温度行为改变上，该功能也很有用。通过增加U11389温度测量功能，便可以方便地获得该测量功能。宏观分析新研发的0.29×红外镜头可提供无水仙现象、无阴影的清晰视场图像。热纳米镜头系统（Thermal NanoLens System）热纳米镜头系统因为高数值孔径，大大提高了光校正效率和分辨率。通过在样品（即便样品表面平整度很差）和透镜之间施加显微镜浸润油来获取高数值孔径。使用操纵器来简化纳米透镜系统的设计，可使工作设备的更新更简单。LSI测试机对接半导体器件变得越来越复杂，因此必须通过与LSI测试机对接来初始化采样测量、设置特殊条件。安装专用探针卡适配器后，可以用线缆与LSI测试机对接，执行分析。激光标记在定位后的失效点附近进行标记，或者在失效点周围的四个点进行标记，可以轻松地将失效点的位置信息传输到其他的分析设备上。测量示例案例研究：封装器件观测案例研究：对器件一侧开口进行失效层观测案例研究：CMOS观测发现凸球下的缺陷案例研究：PCB和封装器件之间的布线失效在打开封装之前观测热源；打开封装以后获取相位图像以缩小热源范围。参数尺寸/重量880 mm(W)×840 mm(D)×1993 mm(H), Approx. 450 kgPC桌：700 mm(W)×700 mm(D)×700 mm(H), Approx. 50 kg线电压AC220 V (50 Hz/60 Hz)功耗约 700W真空度约80 kPa或更大压缩空气0.5 MPa to 0.7 MPa系统配置C9985-04 InSb相机标配自动平台控制手动标准透镜0.8×、4×、15×样品平台HPK 平台 (8英寸)探测目镜标配探测镜头NIR 5×抗震桌标配THEMOS分析软件标配FOV（mm）12×9.6 to 0.64×0.51目标PCB*，晶片(可达12英寸)，Si 片, 封装*：集成0.29×物镜时。功能热lock-in测量选配 3D-IC测量选配热测量功能选配热纳米镜头选配视频功能标配外部触发标配窗口功能标配光学系统物镜/微距镜头N.A.WD（mm）FOV（mm）配置MWIR 0.29×0.0481233×26td选配MWIR 0.8×0.132212.0×9.6标配MWIR 4×0.52252.4×1.9标配MWIR 8×0.75151.2×0.96选配MWIR 15×0.71150.64×0.51标配MWIR 30×0.71130.32×0.26选配M Plan NIR 5×0.1437.52.6×2.6标配外形图（单位：mm）

手持式高密度反射探头 SPL-HRT-10高密度反射探头是专为测量固体物质反射率（如矿物，谷物，植物等材料）而设计的接触式探头。其创新的光学设计有效的滤除杂散光的干扰。并允许通过透明或半透明的塑料包装袋样品进行测量。探头集成卤素灯光源，使用非常方便，通过SMA905接口用光纤连接好探头和光谱仪即进行测量，如下图所示。探头使用12VDC电源供电。产品特点：1、无风扇设计，散热均匀高效；2、内置卤素灯，光源强劲；3、优化的光学设计，光斑小，直接贴合待测物品，降低测试聚焦难度；4、供电设计，坚固耐用；5、可更换光源设计，经济、耐用；6、手持部分按照人体工程学设计，使用更舒适。杭州谱镭光电技术有限公司(HangzhouSPL Photonics Co.,Ltd)是一家专业的光电类科研仪器代理商，致力于服务国内科研院所、高等院校实验室、企业研发部门等。我们代理的产品涉及光电子、激光、光通讯、物理、化学、材料、环保、食品、农业和生物等领域，可广泛应用于教学、科研及产品开发。 我们主要代理的产品有：微型光纤光谱仪、中红外光谱仪、积分球及系统、光谱仪附件、飞秒/皮秒光纤激光器、KHz皮秒固体激光器、超窄线宽光纤激光器、超连续宽带激光器、He-Ne激光器、激光器附件及激光测量仪器、光学元器件、精密机械位移调整架、光纤、光学仪器、光源和太赫兹元器件、高性能大口径瞬态（脉冲）激光波前畸变检测干涉仪（用于流场、波前等分析）、高性能光滑表面缺陷分析仪、大口径近红外平行光管、Semrock公司的高品质生物用滤波片以及Meos公司的光学教学仪器等。 拉曼激光器，量子级联激光器，微型光谱仪，光机械，Oceanoptics，Thorlabs 。。。热线电话： / 传真：+86571 8807 7926网址： /邮箱：

DMM-700C反光显微镜，焊点检测显微镜，正置焊点检测显微镜（反光金相显微镜）一、DMM-700C电脑型金相显微镜的特点和用途: DMM-700系列反光显微镜是适用于对不透明物体或半透明物体的显微观察。本仪器配置落射照明系统、长距平场消色差物镜(无盖玻片)、大视野目镜和内置偏光观察装置，具有图像清晰、衬度好，造型美观，操作方便等特点，广泛应用于半导体微电子检测，SMT设备检测，SMT生产设备电子和线束加工工具检测，太阳能设备检测和单片机芯片解密。是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。适用于学校、科研、工厂等部门使用。 性能特点 1、配置大视野目镜和长距平场消色差物镜(无盖玻片)，视场大而清晰。 2、粗微动同轴调焦机构，粗动松紧可调，带限位锁紧装置，微动格值:2μm。 3、6V20W卤素灯，亮度可调。 4、三目镜筒,可自由切换正常观察与偏光观察，可进行100%透光摄影。 5、高像素数字成像系统，电脑显示成像真实清晰 DMM-700C电脑型正置反射金相显微镜是将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、尖端的计算机成像技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。既可人工观察金相图像又可以在数码相机或显示器上很方便地适时观察金相图像，并可随时捕捉记录金相图片,从而对金相图谱进行分析,评级等,还可以保存或打印出高像素金相照片。二、金相显微镜DMM-700C的技术参数:型号技术参数目镜WF10X(Φ20mm)物镜长距平场消色差物镜(无盖玻片)PL 5X/0.12 WD:18.3mm长距平场消色差物镜(无盖玻片)PL L10X/0.25 WD:8.9mm长距平场消色差物镜(无盖玻片)PL L20X/0.40 WD:8.7mm长距平场消色差物镜(无盖玻片)PL L50X/0.70 WD:0.26mm目镜筒铰链式三目镜,倾斜30?,内置检偏振片,可进行切换 ，屈光度可调落射照明系统6V 20W卤素灯,亮度可调落射照明器带 (黄,蓝,绿)滤色片和磨砂玻璃视场光栏和孔径光栏大小可调节，可插入式起偏振片，可进行偏光观察和摄影调焦机构粗微动同轴调焦, 微动格值:2μm,带锁紧和限位装置转换器四孔(内向式滚珠内定位)载物台双层机械移动式(尺寸:210mmX140mm,移动范围:75mmX50mm)CK-500摄像系统1X摄影接口，标准C接口500万数字成像系统，最高分辨率：2592X1944，采用USB供电，功耗小， USB2.0连接，图像质量好 ,色彩还原性好 ,图像稳定，所有摄像机均经过长时间测试 ,体积小，安装方便 ,标准镜头接口三、系统的组成 1、金相显微镜DMM-700　　　　 2、电脑适配镜　 　　　 3、500万像素数字摄像器 4、计算机(选购)四、选购部分1、16X目镜 10X分划目镜 2、测微尺 3、DS-3000二维测量软件 4、DM-3000金相分析软件6、0．5X摄影接口

YH-MIP-0103型显微镜不溶性微粒检测仪中国药典2020年版0903章节不溶性微粒检查法明确要求，静脉注射用注射剂（溶液型注射剂、注射用无菌粉末、注射用浓溶液）及供静脉注射用无菌原料药均需按规定进行不溶性微粒的大小及数量检测。不溶性微粒检查法包括两种，分别是光阻法不溶性微粒检查和显微计数法不溶性微粒检查。当光阻法测定结果不符合规定或供试品不适于用光阻法测定时，应采用显微计数法进行测定，并以显微计数法的测定结果作为判定依据。光阻法不适用于黏度过高和易析出结晶的制剂，也不适用于进入传感器时容易产生气泡的注射剂。对于此类制剂需用显微计数法进行测定。对于黏度过高，采用两种方法都无法进行测定的注射液，可用适宜的溶剂稀释后测定。常规显微计数法不溶性微粒检查计数，通过人眼观察显微镜进行人工计数。该操作的缺点是：1、无法避免人为因素导致计数的偏差，主观性强；2、俗话说眼睛是心灵的窗户，人工计数对实验员的集中度和眼睛直接观察要求很高，长期观察显微镜并进行计数容易导致视力下降，并引发一些眼部疾病；3、由于人工计数的主观因素，测试结果重复性差。胤煌科技自主研发生产的显微计数法不溶性微粒分析仪（型号：YH-MIP-0103）：1、计数环节无需人眼观察，计算机直接按照药典规定出具检测分析报告；2、计数环节全部由计算机完成，测试结果重复性高，且可以自动进行数据比较；3、全自动进行滤膜全扫描，并进行颗粒图片分析，让颗粒物无处遁行；4、可以区分颗粒形貌，判定该不溶性微粒是金属还是纤维或是其他，鉴别不溶性微粒的来源（是外源还是内生？），并在实验或生产过程中加以控制或避免。显微镜不溶性微粒检测仪设备构成样品过滤装置，烘干装置，检测分析系统，电脑等。检测分析系统可以根据用户要求配置奥林巴斯体式显微镜、奥利巴斯金相显微镜、徕卡金相显微镜、尼康金相显微镜等。显微镜不溶性微粒检测仪应用领域应用范围：乳剂、脂质体、滴眼剂、混悬剂、易产生气泡剂型、粘度大制剂等执行标准：中国药典CP，美国药典 USP 788、USP 789，欧洲药典 EP，英国药典 BP2013，日本药典JP等特点直观、形象、准确、测试范围宽以及自动识别、自动统计、自动标定等特点； 避免激光法的产品缺陷，扩展检测范围；显微计数法不溶性微粒分析仪技术参数测试范围: 1 μm - 500 μm放大倍数：40X-l000X 倍最大分辨：0.3μm显微镜误差：0.02（不包含样品制备因素造成的误差）重复性误差： 5%（不包含样品制备因素造成的误差）数字摄像头(CCD)：600 万像素标尺刻度：0.1 μm分析项目：粒度分布、长径比分布、圆形度分布等自动分割速度： 1 秒分割成功率： 93%软件运行环境：Windows 10以上接口方式：RS232 或 USB 方式供货期：30 个工作日精 确 度：±3% 典型值；重合精度：10000 粒/mL（5%重合误差）；分辨率：95%（按中国药典 2020 版校准）10%（按美国药典、ISO21501 校准）药典规定：美国药典 USP 788、USP 789、USP35-NF30、USP32-NF27；欧洲药典 EP6.0、EP7.0、EP7.8、EP8.0；英国药典 BP2013、BP2012、2010、2009；日本药典 JP16、JP15、JP14；印度药典 IP2010 版；WHO 国际药典 IntPh 第四版；中国药典 2015年、2020 年；GB8368 输液器具；ISO21510；ISO11171 等。GB/T 11446.9-2013 电子级水中微粒的仪器测试方法。可根据客户要求，植入相应“光阻法颗粒度”测试和评判标准。

不溶性微粒测试检测分析仪选择显微计数法不溶性微粒仪检查注射剂不溶性微粒的理由中国药典2020版规定：第一：当光阻法测定结果不符合规定或供试品不适于用光阻法测定时，应采用显微计数法进行测定，并以显微计数法的测定结果作为判定依据。第二：光阻法不适用于易产生气泡、高粘度的制剂产品，在检测不溶性微粒时要采用第二法（显微计数法）来检测。胤煌科技YH-MIP-0205Pro型显微计数法不溶性微粒分析仪仪器型号：YH-MIP-0205Pro工作原理：显微计数法/图像法检测范围：1 μm-500 μm 不溶性微粒检查检测仪-全新一代YH-MIP-0205Pro显微计数法不溶性微粒检测检测分析仪，不仅解决传统显微镜法测试数据准确性不足、操作繁琐、对人眼伤害较大、检测结果不可追溯等问题，实现了自动扫描，自动计数，自动出具报告，软件符合21CFR Part11及GMP对数据完整性的要求。 更在上一代仪器YH-MIP-0103已有的技术优势下，进行了全新升级，在原有自动扫描，自动测试，自动计数的功能上，新增加了自动过滤，自动干燥，自动上样等功能，同时在原有超分辨算法的基础上，加入AI智能算法，方便客户更好的对不溶性的来源进行分类和整理，实现真正的全自动检查！不溶性微粒测试检测分析仪-全自动显微镜计数法创新点： 1.可以完成自动过滤、自动干燥、自动上样，自动测试、自动出具报告等多项流程； 2.超分辨算法、AI智能算法等多种算法相结合，能有效确保测试数据的准确性； 3.在完美弥补常规显微镜法不溶性微粒检测的缺陷的同时，能准确保留样品中每4.个粒子的原始形貌，对不溶性微粒的来源或者形成机制都具有警示作用； 5.符合中国药典、美国药典、欧洲药典及日本药典等各国药典不溶性微粒检查的仪器要求； 6.符合21CFR Part11及GMP对数据完整性的要求。不溶性微粒检查检测仪-显微镜计数法不溶性微粒仪设备参数产品名称：H-MIP 0205Pro显微计数法不溶性微粒分析仪型号：YH-MIP 0205Pro品牌：胤煌科技重量：100kg类型：自动检测设备用途：颗粒，微粒尺寸，形貌分析精度：0.1um尺寸：850mm×640mm×585mm品种：测试仪器电源：20V@50HZ,2P 种类：测试仪器准确度：0.01um分辨率：0.01um分度值：0.01um精密度：高精确度：3%解析度：1um加工定制：是紫外功率：不需要探头型式：高分辨镜头工作电压：220V是否进口：否适用行业：医疗，新能源，化工，冶金，科研，农业,疫苗，生物制药测量范围：1 μm-500 μm操作方式：自动显示方式：LCC 液晶显示器测量对象：药品，化妆品，医疗器械, 半导体，新能源原材料测试范围：固体，液体测量时间：20min工作温度：室温环境温度：室温分析时间：1min检测项目：粒子尺寸,尺寸分布图, 颗粒物溯源测量重复性：3%景深补偿：有检测原理：显微计数法/静态图像法数字摄像头：600万彩色高清摄像机放大倍率：50-1000倍物镜：标配：5X、10X；选配：20X、50X、100X照明系统：自动LED照明系统电动控制系统：XYZ-三轴移动滤膜夹具：5 mm/13 mm软件运行环境：Win 10及以上电脑配置要求：CPUI7-11700F/运行内存32G或以上配置；6G独立显卡256SSD+2T硬盘 IPS 旋转升降：低蓝光高分辨显示屏；

便携式科研/野外勘探/工业质量检测显微镜3R-MSA600FS 安卓系统高清触控屏自动对焦拍照录像微米测量这款便携式视频显微镜3R-MSA600FS是基于MSA600S进行的升级，镜头增加了橡胶垫片全包镜头，底部增加了磁吸支架可轻松拆合，应对凹凸复杂的环境也可轻松应对。自带安卓系统和5.0英寸液晶触摸屏，60倍/200倍放大，支持USB type-c快充,HDMI高清输出，WiFi/蓝牙网络接口输出，可实现多人共享，可适用于：科研教学，水产养殖，动植物病虫害研究，野外勘探，工业检测等.....

FlowTracker2 只需轻按数键，即可测到实验室精度的流速数据，是日常流量检测和特殊水文应用的测量工具，具有低流速和浅水测量功能；可测量最小流速为0.1厘米/秒、最浅为2厘米的小溪。 基于USGS/ISO标准的流量测量方法和计算程序，在测得所需数据后，只需轻按一个键，即可自动计算出流量。使用标配的FlowTracker软件，能够快速下载和报告数据。FlowTracker手持式ADV特别为野外测量设计，仪器配套包括能很容易安装在测杆上的手持式操作显示器和便携式ADV探头。 FlowTracker坚固的结构能够抵御恶劣气候，背光显示功能便于在昏暗的环境中读取数据。使用非散失性内存，当电池能量耗尽时，不会遗失或破坏数据。 应用于● 天然溪流 　● 浅宽河道 　● 灌溉渠道　 ● 堰板/堰槽 　● 人工渠道 　● 污水排放 ● 沼泽　　● 湿地 　● 矿道 　 流速● 测量范围：0.001 至 4.5 米/秒● 分辨率：0.0001米/秒● 准确度：所测流速的±1% 　特点● 可测最小水深仅为2厘米● 可测流速最高达4.5米/秒● 可测流速最低至0.001米/秒（无与伦比的低速测流性能）● 实验室精度的多普勒点流速仪● 可随时安装在测杆上，方便测量● 轻巧、坚固、防水● 液晶屏实时显示流速和流量● 二维或三维流速测量● 内置温度传感器● 无需校准 　标准配置● 手持式仪器，配有液晶屏可实时显示流速● 4MB内存(可存储160,000多个样本)● 带2米电缆的二维侧视式点流速探头(可测最小深度为2厘米)● 基于USGS/ISO标准的流量测量和计算程序● 远程采样单元位于换能器前方10厘米处● RS232通讯协议，测量结果可上传至计算机生成报表● 内置温度传感器，分辨率为0.1℃ 　可选配置● 二维/三维侧视式ADV探头● 三维俯式ADV探头● 3米电缆● 美国地调局(USGS)顶置式深度测杆 　电源● 8节5号电池（碱性电池、镍氢电池或镍铬电池）● 电池寿命：可连续工作25小时（碱性电池） 物理/环境 参数● 重量：1.8公斤● 探头宽度：13厘米● 显示器防水规格：能承受1米水压● 工作温度： –20℃ 至 +50℃● 存储温度：–20℃ 至 +50℃

正置金相显微分析系统DMM-300C 一、金相显微分析系统特点和用途: 金相显微分析系统DMM-300C是由正置透反射金相显微镜和数字摄像机组成。DMM-300C正置金相显微镜适合电子、冶金、化工和仪器仪表行业用于观察透明、半透明或不透明的物资，如金属陶瓷、集成块、印刷电路板、液晶板、薄膜、纤维、镀涂层以及其它非金属材料，也适合医药、农林、公安、学校、科研部门作观察分析用。同时也是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。 金相显微分析系统DMM-300C是将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、尖端的计算机成像技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。既可人工观察金相图像,又可以在计算机显示器上很方便地适时观察金相图像，并可随时捕捉记录金相图片,从而对金相图谱进行分析,评级等,还可以保存或打印出高像素金相照片。二、仪器主要技术参数:名 称参数规格观察筒三目观察筒，30度倾斜，瞳距调节范围：55-75mm,视度可调目镜WF10X（视场φ18mm）平场消色差物镜PL5X/0.12工作距离：18.3mmPLL10X/0.25 工作距离：8.9mmPLL40X/0.60 工作距离：3.7mmPLL60X(弹簧)/0.75 工作距离：1.34mm放大倍数光学放大倍数50X-600X转换器内向式滚珠四孔物镜转换器调焦系统粗微动同轴调焦机构，调焦行程：30mm,微动格值:0.002毫米，左调焦带限位装置,右调焦带锁紧装置.偏光装置检偏器：三目观察筒内置推拉式检偏器起偏器：插入式起偏器，可旋转载物台双层机械载物台，大小：185*140mm，移动范围：75*50mm，通光孔:70*30mm载物板透光玻璃载物板，大小：97*76m落射照明系统6V20W卤素灯，亮度可调，灯丝位置可调内置视场光栏、孔径光栏，转盘式滤色片组转盘式蓝、黄、绿、磨砂滤色片组透射照明系统6V 20W 卤素灯,亮度可调阿贝聚光镜 NA.1.25 ，可调孔径光栏，中心可调，可上下升降集光器：可调视场光栏蓝色和磨砂玻璃滤色片电脑摄像系统CK-500CK-500彩色摄像机: 最高分辨率：2560×1920，功耗小，连接简单：USB接口， 图像质量好 ,色彩还原性好 ,图像稳定，所有摄像机均经过长时间测试 ,体积小，安装方便，采集方式:连续采集,图像大小可调,增益调节,曝光时间调整,增益调。显微软件可对图像中的点、线、圆、圆弧、角度、矩形及任何图形几何参数的测量。测量工具使用方便直观。是显微图像测量与分析的有效工具。节,亮度调节等。可在图像上添加文字、放置比例尺等。 三、仪器装箱单：序号名 称数 量单 位附 注1透反射金相显微镜主机1台DMM-300C2三目观察筒1套310X目镜1对4平场消色差物镜5X、10X、40X、60X各 1个5反射灯箱1个6聚光镜1个7滤色片2片8卤素灯灯泡1个6V20W9电源线1根10彩色数字摄象机CK-5001个11摄像机接口1个12USB数据传输线1根13测量软件光盘1张14仪器防尘罩1个15测微尺1块0.01mm16透射玻璃板1块17使用说明书1份18出厂合格证1份19保修卡1份

Sonoscan主要产品为：超声显微成像仪，能够在组件和材料中找出可能在生产或可靠性试验中出现的隐藏的缺陷。目前已有数千台Sonoscan超声显微成像仪安装在世界各地，被广泛地应用于半导体/MEMS晶圆检测、SOI基片制造、3D封装、LED封装、指纹摄像头模组检测、化合物半导体器件、和光电显示等领域。 一、产品介绍 1. 超声显微成像仪（生产型设备）超声显微成像仪FastLine P300，FACTS2 DF2400。 FastLine P300的紧凑设计将占地面积减到最小，其独特的输送系统能够在扫描一个JEDEC盘或样品盘的同时将下一次要扫描的样品放在水中的另一个托盘上等待扫描。 FastLine已经成为高效元器件筛选的新平台。 • 独特输送系统实现产量最大化（专利）；• 准确定位，更快扫描及自动分析；• 运用Visual PolyGate技术实现建议快捷的多层深度扫描；• 多语种操作系统和直观的操作界面；• 人体工程学设计以提高操作者的舒适度及工作效率；• 占地面积最小化最适宜在车间使用。FACTS2自动检测JEDEC托盘或工业标准载盘 (Auer Boat Carrier) 中的器件。该FACTS2也可以处理引线框架条，IGBT功率模块，多层陶瓷贴片电容，倒装芯片和其他组件。 • 全球机台匹配功能；• 与SECS-Ⅱ/GEM(SEMI E30)及SMEMA兼容；• 非浸水的瀑布式和/或喷泉式探头；• 自动数据分析软件包；• 真空吸附功能（选项）让小样品在扫描中固定不动；• 分离式干燥腔，可加4个摆动的气刀；可加热空气（选项）• 倍增的全分析能力；• 具有JEDEC托盘，Auer Boat载盘或者IGBT模块多种扫描组件选择。 2. 超声显微成像仪（实验室设备）超声显微成像仪D9600，GEN6。 专门为故障分析，工艺开发，材料特性批量的生产检测而设计一款通用工具，D9600的功能是真正无法比拟的。 • 多门控成像和好的门控功能的PolyGate技术具有单层和多层聚焦成像的能力；• 每个通道可达100个门；• Windows7多语言版及64位能力；• 好的的扫描，以扫描机构为参照点的扫描平台和样品夹具；• 还有数字图像分析，水循环，瀑布式探头及在线温度控制等选项。、Gen6 所具有的功能最为广泛， 能适用于无损失效分析，工艺改进，研发，高可靠性好的及中等 产量筛选等。 • 包括所有D9600的特色，外加上：• Sonosimulator仿真功能用于多层分析；• VRM虚拟再升扫描功能；• 探头可选至400MHz；• ASF表面平整度测量功能；• DIA数字图像分析；• 惯性平衡装置；• 双高清显示屏；• 可选弧形桌面和矩形桌面；• FDI频域成像功能。 3. 超声显微成像仪（专业型设备）超声显微成像仪AW系列，J610。 AW系列产品是专门为晶圆检测设计的全自动系统。适 用 于多种键合晶圆 (SOI,MEMS,LED, 2.5D和3D)的检测分析具有极高的灵敏度和产能。AW系列能够检测出两晶片间直径小于 5微米的空洞以及晶片间薄如200埃的脱层。。 • Quantitative Dynamic Z量化动态Z功能-对不平等的晶圆保持聚焦• 与SECS-Ⅱ/GEM/SIMI300毫米标准兼容；• 全自动检测100mm至300mm的晶圆；• 瀑布式探头提供非浸泡扫描；• 行业领先的图像分析功能；• BOLTS标准接口适用于FOUPs，SMIFPod，FOSB及开放式晶圆盒；• 自供水和抽真空组件（选项）

MCK-6RC系列研究级金相显微镜集CAIKON 多项首创于一身，从外观到性能都紧跟国际领先设计风向，致力于拓展工业领域全新格局。MCK-6RC秉承CAIKON不断探索、不断超越的品牌设计理念，为客户提供完善的工业检测解决方案。各项操作根据人机工程学设计，最大限度减轻操作者的使用疲劳。其模块化的部件设计，可对系统功能进行自由组合。涵盖明场、暗场、斜照明、偏光、DIC微分干涉等多种观察功能，可根据实际应用，进行功能选择。● 宽视场铰链式三目观察筒正像铰链三目观察筒，所成像的方位与物体实际方向相同，物体移动的方向跟像面移动的方向相同，便于观察与操作。● 大行程移动平台设计采用6寸平平台设计，行程158×158mm，可适用于对应尺寸的晶圆或FPD检测，也可用于小尺寸样品的阵列检测。● 高精度物镜转换器转换器采用精密轴承设计，转动手感轻巧舒适，重复定位精度高，物镜转换后的同心度也得到较好的控制。● 安全、稳重的机架结构设计工业检测级显微镜镜体，低重心、高刚性、高稳定性金属机架，保证了系统的抗震能力与成像稳定性。其前置低手位粗微调同轴调焦机构，内置100-240V宽电压变压器，可适应不同地区的电网电压。底座内部设计有风循环散热系统，长时间使用也不会使机架过热。二、工业级金相显微镜MCK-6RC功能介绍：MCK-6RC 集成了明场、暗场、偏光、DIC等多种观察功能。 广泛应用于半导体、FPD、电路封装、电路基板、材料、铸件金属陶瓷部件、精密磨具等检测.集成了明场、暗场、斜照明、偏光、等各种观察功能，可根据实际应用，进行功能选择。三、工业级金相显微镜MCK-6RC的主要技术参数：名 称参数规格光学系统无限远色差校正光学系统观察方式明场/暗场/偏光观察筒30°倾斜，正像，无限远铰链三通观察筒，瞳距调节：50mm~76mm，两档分光比双目:三目=100：0或0:100目镜高眼点大视野平场目镜PL10X/22mm，视度可调高眼点大视野平场目镜PL10X25mm，带单刻度十字分划板，视度可调无限远长工作距平常消色差物镜物镜倍率数值孔径工作距离（mm）盖玻片厚度（mm）5X BD 0.159010XBD 0.309020XBD 0.453.4050XBD 0.557.50物镜转换器明暗场5孔转换器，带DIC插槽调焦机构透、反射式机架 , 前置低手位粗微同轴调焦机构。粗调行程 33mm, 微调精度 0.001mm. 带有防止下滑的调节松紧装置和随机上限位装置.载物台6英寸三层机械移动平台，低手位X、Y方向同轴调节；平台面积445mm×240mm，反射照明移动范围：158mm×158mm；透射照明移动范围：100×100mm；带离合器手柄，可用于全行程范围内快速移动；玻璃载物台板（透、反射用）落射照明系统高亮12V100W卤素灯照明，亮度可调带可变视场光阑，中心可调节插板式滤色片，预制中心，光强连续可调透射照明系统单颗大功率5WLED灯泡，白光，长寿命，光强连续可调偏光装置起偏镜：插入式起偏镜，可以移出光路检偏镜：插入式可360°旋转检偏镜，可以移出光路暗场装置推拉式暗场观察拉杆，可快速转换到暗场观察电源内置100-240V宽电压变压器，双路电源输出电脑摄像系统CKC2000CKC2000高清彩色摄像机，采用索尼CMOS芯片，灵敏度可以与CCD芯片为同一量级，图像色彩还原度大大提高。最高分辨率：5496×3672， 芯片尺寸：1"，USB3.0连接,图像稳定，有多种图像处理方式（详细参数见CKC2000摄像机介绍）显微软件专业图像处理及拍摄软件，实时图像拼接及实时景深熔合，可对图像中的点、线、圆、圆弧、角度、矩形及任何图形几何参数的测量。测量工具使用方便直观，可在图像上添加文字、放置比例尺，是显微图像测量与分析的有效工具。六、仪器装箱单：序号名称数量单位附注1正置金相显微镜主机1台MCK-6RC2三目观察筒1套310X目镜1对4反射光路组1套5反射灯箱1套6无限远平场消色差物镜 5X、10X、20X、50X各 1个7快速移动手柄1个8滤色片1片9玻璃板1块10起偏镜1个11检偏镜1个12备用灯泡2个12V100W13高清数字摄像机CKC20001个14USB3.0数据传输线1根15摄像机接口1个16U盘1个17测微尺1块0.01mm18仪器防尘罩1个19电源线1根20使用说明书1份21出厂合格证1份23保修卡1份

自动量程 交流电源供电模拟条图数字报警设置RS232接口进行计算机控制打印机串口模拟记录器输出HI-2623 微波炉泄漏检测探头可选远程探头回零峰值保持和清零按键使测量更加准确，重现性美国Holaday HI-2623微波泄漏检测仪探头（配HI1710A主机） 技术参数：通过RS232接口，在实验室可以探访测试数据，实现半自动产品检测系统频率: 2450 MHz量程: 0-1, 0-2, 0-5, 0-10 mW/cm2探头长度: 30 cm (12 inches)电缆长度: 1.2 m (4') 电源: 100 - 240 VAC 50/60 Hz美国Holaday HI-2623微波泄漏检测仪探头（配HI1710A主机） 主机HI1710A技术参数：1 频率: 2450 MHz，在ISM（工业、科学及医疗设备）范围内2 量程: 0-1, 0-2, 0-5, 0-10 mW/cm23 精度: ± 1 Db l 响应时间：Slow 3 sec Fast 1 sec4 大功率密度：2 W/cm25 输入功率:110-240V，50-60Hz6 探头长度: 30 cm (12 inches)7 电缆长度: 2.74 m（9 inches）8 尺寸：27.9 x 20.3 x 16.5 cm9 电源: 100 - 240 VAC 50/60 Hz10 运输重量:3.6 KG

单颗粒分析所需的样品筛选和数据采集更加轻松全新的 Thermo Scientific&trade Glacios&trade 冷冻透射电子显微镜（冷冻 TEM）为各个领域的科学家带来了一种全面、经济的冷冻 TEM 解决方案。它采用 200 kV XFEG 光学器件、行业引领者的 Autoloader（冷冻样品操作机器人），还有与 Krios G3i 冷冻 TEM 上相同的创新自动化易用功能。Glacios 冷冻 TEM 将这一切都绑定在很小的空间内，简化了安装过程。内建连通性确保在整个工作流中提供一条稳固、无污染的通路，从样品制备和优化一直延伸到图像采集和数据处理。Glacios 冷冻 TEM 可在单颗粒分析 (SPA) 工作流中用于预筛选样品质量，然后传输到 Krios 冷冻 TEM 以进行极限分辨率 SPA 数据采集。此外，Glacios 冷冻 TEM 还可以配置直接电子探测器和/或 Volta 相位板，以便构成完整的独立 SPA 数据采集解决方案主要优势占用空间小Glacios 的全新硬件架构经过特别设计，旨在满足对较小占用空间和更便捷检修的需求。在很多情况下，此设计可以在对现有基础架构进行重大修改时避免额外投资和不需要的实验室中断，或满足对专用实验室的需求。通过自动化增强易用性Glacios 冷冻 TEM 可减少用户需要执行的复杂对中次数。对于需要定期执行的重复性对中操作，已在 SPA 的 EPU 软件中实施自动化对中程序。此外，EPU 用户界面还进一步进行了简化，旨在提供全面的用户指南。始终保证可重复、优异的工具性能Glacios 冷冻 TEM 的优异的热和机械稳定性可确保提供极高的光学性能。此仪器采用自评估功能，可自动评估显微镜的光学状态，并为需要优化的任何步骤提供反馈。此外，在进行 SPA 或断层扫描实验时，自动化对中程序使仪器可以调节到自身的优异的起始点。吞吐量在 Thermo Fisher 冷冻 TEM 上，EPU 是用于大型数据集自动化筛选和采集的原生软件包。借助从 EPU 内对自动加载器的完全控制，盒中的所有网格可进行批量筛选：在创建网格图后，玻璃化网格的冰质量（存在性、厚度）将自动进行分类，以便支持网格方格的导向选择。工作流连通性为了成功进行冷冻电镜数据采集，生物化学和玻璃化两方面的优化都需要高效的筛选流程。Glacios 冷冻 TEM 在设计上旨在集成于 SPA 工作流中，它可用来进行样品评估和优化，然后进行高分辨率数据采集。数据采集可直接在 Glacios 冷冻 TEM 上进行，或在传输样品之后在 Krios 或 Arctica 冷冻 TEM 上进行自动加载器胶囊和盒系统可确保在 Glacios、Arctica 和 Krios 冷冻 TEM 之间稳固、无污染地传输样品，无需操作各个小网格。合作、共赢！美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

拉曼光谱是物质的指纹谱，通过拉曼光谱可以获取物质的声子谱、电- 声相互作用、晶格振动非简谐信息，测量物质融化曲线及固/ 液相变、结构、组成、状态等。常规的显微拉曼只能用于实验室测试，无法满足在线测试需求。北京卓立汉光仪器有限公司结合多年的拉曼光谱仪研制经验开发出特种光纤探头拉曼解决方案，可以用于特殊场景的在线分析。性能优势可满足高温高压实验环境下测试需求可满足固、液、气等多种类型的样品侵入式测试需求光纤结构，系统稳定耐用系统方案与配置技术参数激光器532nm，100mw785nm，350mw 光谱仪VPH 透射光栅光谱仪拉曼频移：200-4000cm-1； 光谱分辨率：优于 10cm-1VPH 透射光栅光谱仪拉曼频移：350-2400cm-1 光谱分辨率：优于 10cm-1CCD 探测器具有高像元分辨率的 CCD 芯片，分辨率 2000*256可见近红外拉曼专用 CCD，深制冷温度至 -60℃，读出噪声5 电子 / 像元 特种探头工作距离：3 mm 和 7 mm 可选，其他可定制工作温度：0-325℃，可定制最大压力：6000psi配置信息光谱仪型号Omni-iSpecT532A1Omni-iSpecT785A1拉曼频移波长宽度0-4100cm-1 /532-680nm-200-2400cm-1/770-965nmF/#F/1.8F/2.3焦距（入射 / 出射）85/85mm100/100mm光栅1800l/mm VPH1200l/mm VPH CCD 相机背感光深耗尽 CCD 有效像素 2000×256 像素尺寸 15um探测面尺寸 30×3.8mm背感光深耗尽 CCD 有效像素 2000×256 像素尺寸 15um探测面尺寸 30×3.8mm可调入射狭缝10um-6mm10um-6mm分辨率（典型值）@50um 狭缝0.17nm5cm-1@585nm，7cm-1 保证值0.25nm3cm-1@912nm，5cm-1 保证值光纤适配器XY 可调光纤适配器光纤接口：SMA，10mm 圆柱XY 可调光纤适配器光纤接口：SMA/ MPO/10mm 圆柱快门选配选配 内置长波通滤光片选配直径 50mm，最低波数 186cm-1选配直径 50mm，最低波数 309cm-1重量5kg5.8kg特种探头探头激发波长405, 514, 532, 633, 670, 671, 785, 808 nm. 其 他 可 选光谱范围100-4000 cm-1 @ 标准 ( 不同激光器范围不同 )样品端光斑大小~100 um @ 100 um 芯径激发光纤工作距离9mm/3mm@ 标准；12,15,18mm 可选数值孔径0.22 @ 标准探头尺寸2.25” 长 x 0.96”宽 x 0.58”高1.3” 直径 x 4.5”长探头材质超硬氧化铝，316 不锈钢；可根据需求定制探头柄尺寸3/8” 直径 x 3” 长度3/8” 直 径 x 2” 长 度可根据需求定制探头密封阀丁腈橡胶密封环，其他可定制探头密封材质全氟醚橡胶密封环，可根据需求定制滤光片效率O.D 6操作温度0-325 ⁰ C最大操作压力6000 psi光纤配置100/100 um 标准配置，其他可选光纤长度5m@ 标准；可根据需求定制接口类型FC 或者 SMA其他可定制探测器有效像素2000 x 256像元尺寸15 x 15 μm最短光学门宽30 x 3.8 mm读出噪声4.5 e-响应范围200-1100nm应用分享气体在线分析Casella A [1] 采用特种探头拉曼技术对二氧化钚废气流动进行在线监测，用于评估制备铀、钚等高纯金属时的氟化反应进程。目前公认的氟化反应使用具有毒性和腐蚀性的HF，很大程度限制了探针和接口材料的选择。下图为实时监测氟化反应废气装置示意图，采用光纤探头拉曼，激光通过阻挡HF 气体的透明窗口聚焦监测。此外该系统可以用于监测其它反应产物和环境中的气体等。图 光纤拉曼在线监测结构图图 不同参数下的拉曼光谱图图 反应气体的拉曼光谱强度- 时间关系图和热刨面图化学蚀变过程监控Parruzot B[2] 等人采用光纤探头拉曼光谱技术原位监测玻璃蚀变过程，实验时不锈钢密封的光纤拉曼探头需浸泡在恒温硼酸/ 硼酸盐溶液中，拉曼光谱监测溶液的pH 值和硼酸浓度变化，构建预测模型。通过光纤拉曼原位在线检测，可以实现近实时定量分析，也避免了环境实验干扰，如蒸发、SA/V 变化、污染物、温度等因素。图 实验装置（中）和溶液pH 值、硼酸浓度的拉曼光谱图（左、右）图 拉曼光谱模型图，DI（超纯水溶剂，A-D）SB（加硼酸盐溶剂,E-H），A,B,E,F 是拉曼光谱与时间三维图；C,G 是硼酸浓度模型图；D,H 是PH 值模型图化学蚀变过程监控Lu W [3] 等人应用光纤拉曼原位监测微芯片反应器中金属- 有机物Co-MOF-74 生长过程，实验时FIR 和WAVS 提供物质的原子坐标和晶格信息，拉曼和MIR 提供分子结构信息并获得成核生长曲线。图 MOF 拉曼光谱随时间变化曲线，采用平面波密度泛函理论计算引用文献[1] Casella A, Carter J, Lines A, et al. In stream monitoring of off-gasses from plutonium dioxide fluorination[J]. Actinide Research Quarterly,2019: 31-35.[2] Parruzot B, Ryan J V, Lines A M, et al. Method for the in situ measurement of pH and alteration extent for aluminoborosilicate glasses using Raman spectroscopy[J]. Analytical chemistry, 2018, 90(20): 11812-11819.[3] Lu W, Zhang E, Qian J, et al. Probing growth of metal–organic frameworks with X-ray scattering and vibrational spectroscopy[J]. Physical Chemistry Chemical Physics, 2022.

技术清洁度的基本知识是什么？当今的技术产品日益复杂，特别是在航空航天、汽车、重型设备和电气工程行业中，因而人们对产品的可靠性和质量保证的要求也越来越高。成品的耐用性和使用寿命取决于产品的多种其他特性，而产品的所有特性都与其可以测量的技术清洁度息息相关：产品材料的质量和特性适当的公差表面的总清洁度或颗粒负载技术清洁度如何影响产品的可靠性？产品污染现象通常发生在制造过程中，但是也可能发生在存储、清洁或处理的过程中。如果产品受到污染，会直接影响成品的可靠性和使用寿命。不干净的表面或生产液体对产品造成的危险包括功能失效、产品故障，甚至产品完全报废。在制造和装配过程中使用的技术设备表面上残留的污物可能会导致设备性能不可靠和/或很差、生产停工、浪费材料和能源等问题。较大的残留颗粒可能会使产品的功能完全丧失。随着系统组件尺寸的不断减小，较小的残留颗粒也可能会导致灾难性故障的发生，并造成整个成品的报废。技术清洁度在哪些应用领域最为重要？部件和零件的清洁度检测是制造工艺的关键性环节。以下对某些特定行业技术清洁度的重要性进行几点基本说明：重型机械：由于构成重型机械的部件很大，且可能难以接触到这些部件并直接进行检测，因此对这些产品的检测，可能会耗费很多成本。不过，我们可以选择不对机械产品本身进行检测，而是通过检测使用过机油中的颗粒含量而了解机械产品的清洁度，这是一个更具成本时间效益的方法。机油的状态可以准确地表明机械产品的清洁情况。电气工程：如果在生产过程中电路的联结点上存有颗粒，则表明电路连线没有被正确地构建。探测到这些颗粒并随后清除颗粒，是避免印刷电路板（PCB）短路的好方法。汽车行业：在汽车行业中，许多复杂的系统和部件都需要一尘不染。这些系统和部件包括ABS系统、燃油喷射器、制动卡钳以及液压油系统。技术清洁度检测的过程是什么？适当的技术清洁度检测要按照一种明确、完善的工艺完成，这种工艺首先要通过滤膜提取到颗粒，然后再对会直接影响成品性能、使用寿命和可靠性能的污染物进行定量分析。可以通过冲洗、喷洗、晃动冲洗或超声波清洗的方法将样品上的颗粒分离出来，然后再借助滤膜将这些颗粒收集起来。待滤膜干燥后，使用多步骤检测工艺对滤膜上的颗粒进行检测，以识别和分析前述对成品有害无益的污染物。对污染物的分析要按照国际标准完成，如：ISO 16232 (VDA 19.1)和ISO 4407。当今的技术产品日益复杂，因此需要更高水平的污染控制汽车、航空航天、重型机械和电气工程行业的技术产品日益复杂，因此对生产条件和生产部件的清洁要求也日益提高。技术设备和部件表面上残留的污物可能会导致设备性能不可靠和/或很差；在制造过程中，设备上残留的颗粒会造成停工、延误交货时间、浪费材料和能源以及退货等问题。技术清洁度检测应用包括对ABS系统、柴油喷射器、制动卡钳、液压系统、管道、PCB、互连系统和较大重型机械部件的清洁情况进行检测。清洁度检测过程技术清洁度检测是一个包含了一系列准备步骤和检测步骤的较为复杂的过程。这篇博客对技术清洁度的检测过程进行概括介绍（后续博客将更深入地说明所涉及的准备和检测步骤）。准备工作检测之前对部件的准备工作分为如下步骤：部件清洗：准备阶段始于从生产线上取下一个部件样本并进行清洗（在提取步骤之前）。提取：在放置于无尘室的提取柜中去除被测部件上的颗粒。可以通过冲洗、喷洗、晃动冲洗或超声波清洗的方法去除颗粒。过滤：对提取液进行过滤，并在滤膜上收集提取的颗粒（过滤材料包括纤维素、聚酯、玻璃纤维和尼龙网布）。烘干并称重：滤膜被烘干，并准备接受进一步分析。滤膜烘干后，会留下所有杂质，然后，使用分析天平对其称重。检测检测过程包括以下步骤：图像采集和载物台的移动：烘干的滤膜被放置在电动显微镜的载物台上，以采集检测所需的图像。颗粒的探测：观察滤膜的图像，以找到表现为明亮背景中黑色区域的颗粒。粒径的测量：根据不同参数对所探测到的颗粒进行测量，这些参数包括：大卡尺直径（与颗粒投影相切的两条平行线之间的距离）和等效圆直径。粒径的分类：对颗粒进行了测量之后，将颗粒分成不同的粒径级别组。两个主要粒径等级为差值（由小和大粒径定义）和累积（仅由小粒径定义）。颗粒计数外推法：在滤膜中定义一个区域进行扫查，并探测其中的颗粒。这些区域可以是滤膜尺寸（整个滤膜区域）、流经区域（颗粒所覆盖的滤膜区域）、大扫查区域（检测所能扫查的大区域），以及检查区域（由用户定义的实际扫查区域）。颗粒计数归一化：由外推法获得的颗粒计数被归一为某种比较值，从而可以对多次测量获得的结果进行比较。归一化方法包括清洗区域（归一为1000平方厘米区域的颗粒计数）、清洗体积（归一为100立方厘米区域的颗粒计数）、清洗样件（归一为单一样件的颗粒计数），以及过滤流体（归一为1毫升或100毫升过滤流体的颗粒计数）。污染水平的计算：这种分类水平不是由粒径决定的，而是由（大多数国际标准）所定义污染级别中的颗粒总体数量决定的。清洁度代码的定义：某些标准将测量数据的表现方式简化为简要的说明。这种清洁度代码根据标准而定义，并由粒径的级别和污染水平构成。大审核值：进行核查以获得大审核值是一个可选步骤。如果需要获得一个大审核值，则会在检测配置中确定，也可能会确定一个颗粒数量值或者一个大清洁度代码。反光颗粒和非反光颗粒的区分：金属颗粒和非金属颗粒之间的区别是通过确定颗粒是否反光而完成的（这种区分极其重要，因为金属颗粒会造成比非金属颗粒大得多的伤害）。纤维鉴别：在滤膜上探测到的纤维通常与滤膜上发现的其他颗粒来自于不同的地方（例如：纤维可能来自工作服或者抹布）。因此需要根据评估清洁度所使用的标准，识别、分析或忽略纤维。结果的复核：在复核结果的过程中可能会执行以下操作：删除被错认为颗粒的项目；将靠得很近并被错认为是单个大颗粒的多个颗粒分开；将靠得很近并被错认为是不同颗粒的一个颗粒的组成部分融合在一起；修正错误的颗粒标签（例如：金属或非金属）。报告的创建：技术清洁度检测报告可以包括某些颗粒采集参数的说明、颗粒分类表、颗粒区域覆盖的详细信息，以及大颗粒的图像。OLYMPUS CIX系列：为技术清洁度的检测而设计技术清洁度检测向检测人员提出了一系列挑战，其中包括在检测过程中核查检测结果，同时观察反光和非反光颗粒，每天检测多个样本，基于不同的标准修正并重新计算结果，以及制作合规性报告分享结果。OLYMPUS CIX系列，特别为技术清洁度检测而设计，不仅可以迎接上述挑战，而且使用方便，可以使用户在非常舒适的条件下完成检测。OLYMPUS CIX系列的高端光学部件，硬件和软件的无缝整合，以及无需维护的可靠设计，确保了图像条件的再现性，并使清洁度检测成为一项可以轻松完成的日常任务应用：使用OLYMPUS CIX100技术清洁度检测系统进行钢厂液压设备污染分析在钢厂，某些生产设备需要液压油压力进行驱动。在操作过程中，该设备中使用的液压油可能受到污染，从而改变其化学成分，影响设备的效率，最终缩短液压油和设备的使用寿命。颗粒污染物的可接受水平由国际标准和公司标准确定。钢厂操作人员依据符合这些标准的污染管理计划能够使液压油保持良好状态。此计划涉及通过定期技术清洁度检测来监测和分析液压油颗粒污染。不过，有些污染分析方法比如使用实验室天平的重量分析或颗粒计数器，存在固有缺陷，不那么精确：使用重量分析来分析污染时，可以确定污染物总质量，但单个颗粒的大小数据未知。颗粒计数器无法进行金属和非金属分类，或按形状分类。此外，根据液压油中污染物的取向，颗粒计数可能不准确。奥林巴斯的解决方案使用OLYMPUS CIX100技术清洁度检测系统进行分析产品的特性OLYMPUS CIX100系统具有高性能工业显微镜和多功能专用软件，可以获得每个颗粒污染物形状和大小的高精度数据。该系统利用其独特的光学系统，检测反光颗粒和非反光颗粒，因此可以通过一次扫描分类金属和非金属污染。OLYMPUS CIX100系统符合NAS1638/ISO4406、4407/NFISO21018、NF E48-651和48-655工业标准。还允许用户创建自己的分类设置。应用：汽车部件清洁度检测应用案例1. 背景一辆汽车的整体质量等同于其各个部件质量的总合，确保每个部件达到严苛标准的优质水平，是每个汽车制造商义不容辞的责任。汽车制造商还必须考虑减排、燃油效率、长期耐用性和监管标准等方面的要求。随着汽车零部件变得日益复杂，汽车制造商也更加着力强调零部件的材料特性、装配公差和技术清洁度一定要符合严格的要求，而使零部件达到规定的标准，在最终产品的长期耐用性、可靠性及预期寿命方面都发挥着举足轻重的作用。颗粒污染物会直接影响部件的可靠性，特别是在部件是由多个供应商的组件装配而成的情况下。随着系统和组件越变越小，甚至极其微小的颗粒也会引起灾难性的故障，因此对部件和液体进行技术清洁度和完整性的评估成为质量控制过程的一个必不可少的环节。2. 应用在生产过程中，需要以切割、打磨和去毛刺等方式对所制造的金属部件进行加工处理。如果在切割、打磨和去毛刺的过程中没有将所产生的金属屑和其他异物从关键性的部件中适当地清理和清除，就可能产生涉及到整个系统的严重问题。这些部件如：曲轴轴承夹具、阀门堵塞装置、喷嘴、喷油器、过滤器或电子部件。如果燃油系统、制动系统、液压回路或电子设备的任何部件不符合清洁度的要求，则整个系统都可能会发生故障。为了确保部件和系统符合清洁度的要求，首先要使用无尘室中的提取箱将污染颗粒从部件上分离出来。通过液体淋浴或超声波清洗的方式将部件上的污染物质去除。然后将含有污染物的清洗液体通过滤膜，以提取颗粒。滤膜被夹放在托架中晾干，以备进一步分析之用。滤膜晾干后，被放置在显微镜的载物台上，以进行图像采集和检测之用。由于专用放大倍率可能会限制摄像头的视场，因此较大的颗粒可能会被分割成两个或多个图像。为了确保这些颗粒只被探测到一次，每个颗粒可使用不同的参数表述。其中最重要的参数是费雷特直径和等效圆直径，这两个参数都用于测量颗粒的长度。其他颗粒参数可用于测量颗粒的面积、形状和反射率。这些特性用于识别特殊的颗粒种类，如：纤维颗粒和反光颗粒。对金属颗粒和非金属颗粒的区分基于它们反射光的不同表现。颗粒探测过程完成后，会生成一页结果信息，其中重点标出了每个颗粒的大小（一般是费雷特直径）。颗粒根据不同的大小被分成不同的组，以简化报告的制作，并使用户更方便地比较测量结果。必须根据一个参考值归一化颗粒的计数或外推计数。根据所使用的标准和被测滤膜，颗粒数量被归一为一个比较值。这样用户就可以比较多个测量值，即使在样品大小各有不同的情况下。各种国际标准都对分类参数和级别划分进行了定义说明。汽车行业颗粒大小的分类由小和大晶粒度定义。每个颗粒都只能被划分到一个类别中。VDA 19.1是一个对颗粒大小进行分类的典型标准：D类：超大费雷特直径大于25 μm，但小于50 μm的所有颗粒。E类：超大费雷特直径大于50 μm，但小于100 μm的所有颗粒。F类：超大费雷特直径大于100 μm，但小于150 μm的所有颗粒。根据这个标准，直径为75 μm的颗粒将被归为E类。系统会生成一个包含所有测量结果和有关滤膜数据的报告。图1. 提取用于检测的污染物颗粒3. 奥林巴斯的金属和非金属解决方案为了满足现代工业以及各种国内和国际标准（如：VDA 19.1和ISO 16232）对清洁度的要求，奥林巴斯设计研发了一种交钥匙系统：OLYMPUS CIX100，用于对低至2.5μm的微米级尺寸的污染物和异物进行计算、分析和分类。由于这个系统的多合一扫描解决方案可以同时探测到金属和非金属颗粒，因此其扫描速度比奥林巴斯的其它检测系统快一倍。所有已被计数和分类的颗粒都会实时显示在屏幕上，而用户使用一些功能强大的工具可以非常容易地对检测数据进行修改。系统的软件操作起来简便直观，其所提供的向导可以指导用户逐步完成检测过程，即使是初涉行业的操作人员也能快速、轻松地获得清洁度数据。金属颗粒的探测历来都要求用户通过将检偏镜旋转90°的方法捕获两幅单独的图像（相当耗时的过程），而我们的OLYMPUS CIX系统通过一次扫描就可以识别反光颗粒和非反光颗粒。图2：滤膜和非金属颗粒上的入射光呈扩散形式散射。无论入射光如何，“反射”光都不会出现偏光现象。即使入射光出现了偏光现象，也不会影响对偏光的分析。滤膜总是比滤膜上的颗粒显得更明亮。图3：当入射光接触到金属颗粒时，会发生真实的反射。从金属颗粒表面反射的光不会改变偏光情况。“经典的”清洁度检测方式正是利用了上述差异对金属和非金属颗粒进行区分。反射光的偏光情况可以通过摄像头和软件进行分析。在将起偏镜和检偏镜平行放置时，金属颗粒会显得非常明亮。OLYMPUS CIX系统可以不同方式工作（图4）。入射光束也可以出现偏光情况。可以使用一个延迟板改变光谱中一个波段的偏光情况。因此，入射光的偏光情况对于不同的颜色各有不同（图5）。图4a：非金属颗粒或滤膜的漫反射与经典的设置相同。反射光在所有颜色范围内都不会产生偏光，因此不需要进行分析。滤膜总是比滤膜上的颗粒显得更明亮。图4b：金属颗粒的反射也同样遵循经典的原理，而且保留了偏光属性。但是由于每种颜色的偏光情况为已知信息，因此可以直接在彩色图像中探测到金属颗粒。金属颗粒只有在某种特殊的颜色中才会变亮。图5：只需使用一幅彩色图像就可以区分反光（金属）颗粒和非反光（非金属）颗粒。无需进行第二次扫描，因此节省了时间。此外，无需旋转机械部件，从而减少了对检测仪器的磨损。在检测过程中，所有相关的数据，包含正在采集的图像和概览图像，都会实时显示在单一的屏幕上，这样可使操作人员在发现滤膜上有过多的污染物时停止或中断检测（图6）。系统会对反光颗粒和非反光颗粒进行计数，并根据检测配置和所选标准中定义的大小限度将探测到的颗粒归类。OLYMPUS CIX100系统支持汽车行业中使用的主要国际标准，其中包括以下标准：ISO 16232-10 (A) (N) (V)VDA 19.1 (A) (N) (V)ISO 4406ISO 4407ISO 12345NAS 1638NF E48-651NF E48-655SAE AS4059系统提供一个统计控制图表功能，可以图表方式直观地表明颗粒类别的合规水平，以提高检测结果的可靠性。系统探测到的每个污染物的缩微图都与相关的维度测量值一起显示在屏幕上，因此检测人员可以方便地查看数据。操作人员可以轻松地检索某个特定污染物的信息。在整个检测过程中，OLYMPUS CIX100系统有助于提高检测性能和检测效率。直观的工作流程和分步用户指导有助于减少周期时间、每次检测的成本，以及在处理过程中产生的错误。智能报告工具使用符合行业标准的预定义模板。检测结果可以在Microsoft Word 2016中创建，并以PDF格式导出（图7）。经验不足的用户使用模板可以避免产生人为的错误，还可以方便地修改模板，以满足各种水平操作人员的需求。扫描过的滤膜会被自动保存，以备重新处理或重新计算之用。图6. 图像处理可以区分由技术清洁度检测系统采集的不同的污染物类型图7. 清洁度分析报告