多功能显微镜

蔡司多功能正置显微镜Axioscope[ 产品简介 ]蔡司多功能正置显微镜多样，广泛应用于生命科学、医学和材料实验室日常工作和研究。Axioscope可以配置多种观察方式，自带编码和自动化功能，特别适合于对数据质量和可重复性要求较高的检测工作。智能显微镜功能让显微数码成像更快速，单击一下，即可拍摄四个荧光通道。 Axioscope也善于进行材料科学研究中的高级光学显微分析。为科研与工业中的金相学和材料科学提供了一套完整的解决方案。此外，Axioscope 还能够搭配Vario主机，最大样品高度可达 380 mm，是更多非标准样品的理想解决方案[ 产品特点 ]&bull 可配置多种观察方式：明场，偏光，暗场，微分干涉（DIC），相差，荧光等&bull 具备带编码和自动化功能，特别适合于对数据质量和可重复性要求较高的工作&bull 智能光强管理和一键多通道荧光成像&bull Vario 主机体提供大样品空间[ 应用领域 ]&bull 生物医学研究&bull 人类医学和兽医学 &bull 微生物学&bull 植物学 &bull 法医学&bull 电子半导体行业&bull 金属材料行业&bull 油气地质行业&bull 矿物鉴定行业&bull 汽车行业&bull 航空航天行业兔子肌肉组织，微分干涉，63X物镜水貂子宫内膜上皮细胞，波形蛋白 – 红色，F 肌动蛋白 – 绿色，细胞核 – 蓝色；使用蔡司 Axioscope 5、Colibri 3 和 Axiocam 202 mono在单机模式下获得，物镜：Plan-Apochromat 40×/ 0.95铬酸钾晶体，微分干涉铸铁中的石墨，明场蔡司智能正置显微镜Axiolab 5[ 产品简介 ]蔡司智能正置显微镜Axiolab 5，适用于实验室中进行的常规显微镜检查工作。其紧凑且符合人体工程学的设计可节省空间且易于操作。凭借其编码部件和智能相机的结合，只需聚焦样品并按下一个按钮，便可轻松获得清晰的真彩图像。数字图像与您从目镜中观察的效果一致，所有细节和细微色差均清晰可辨。[ 产品特点 ]&bull 5位编码型物镜转盘适用于快速、大量样品检测并极易操作&bull 4位编码型模块转盘使得各种观察方式间切换简便&bull Eco节能模式能够节能的同时还能延长光源的使用寿命&bull 人体工程学设计-您可以一手就触及到 Axiolab 5的所有主要部件 [ 应用领域 ]&bull 组织病理学 &bull 细胞学 &bull 血液学 &bull 微生物学 &bull 细胞遗传学&bull 食品和农业&bull 男科和妇科&bull 金相学&bull 矿物学&bull 材料样品制备&bull 材料检验和记录大鼠视网膜切片，核固红，明场，20X物镜血涂片，40X物镜铁素体和珠光体钢，含0.2%的碳，明场，50X物镜水泥薄片，透射偏光，10X物镜

多功能扫描探针显微镜AFM100 Plus/AFM100系统 AFM100 Plus/AFM100系统是以在研发、生产、教育等各种场合普及AFM应用为目的，并追求操作性、可靠性及高效率观察的通用型高分辨扫描探针显微镜系统。 预装探针系统实现可靠的探针更换 一键自动测量/处理/分析 利用AFM标记功能实现同视野的AFM－SEM－EDS观察分析

仪器简介： MultiMode平台是世界上应用最广泛的扫描探针显微镜（SPM），已经在全球成功安装使用了近万套。它的成功基于其领先的高分辨率和高性能，无与伦比的多功能性，以及已经得到充分证实的效率和可靠性。现在，MultiMode扫描探针显微镜以其独特的ScanAsyst模式，采用其先进的自动图像优化技术，使得用户无论具备什么技能水平，也能在材料科学，生命科学，聚合物研究领域的研究中最迅速地获得符合要求的研究成果。 SPM的控制电路也是影响性能的重要因素，第五代的NanoScope V控制器具有先进的数字架构：具有高数据带宽，低噪声数据采集和无与伦比的数据处理能力。布鲁克的最先进的技术已经开创工业上的新标准，例如：ScanAsyst 模式 & PeakForce QNM 模式。 Multimode 的加热和制冷装置能对样品进行加热与制冷，适合于生物学，聚合物材料以及其他材料研究应用。采用加热和制冷装置后MULTIMODE 可在零下35º C到250 º C范围内对样品进行温度控制；并可以在水，溶液或缓冲剂的液体环境中进行扫描。当在气体环境下对样品进行扫描时，采用环境控制舱可以在大气压标准下控制环境气体的成分。技术参数：1. 显微镜：多种可选Multimode SPM扫描头AS-0.5系列：横向(X-Y)范围0.4µ m× 0.4µ m,竖直(Z)范围0.4µ mAS-12系列：横向(X-Y)范围10µ m× 10µ m,竖直(Z)范围2.5µ mAS-130系列：横向(X-Y)范围125µ m× 125µ m,竖直(Z)范围5.0µ mPF50：横向(X-Y)范围40µ m× 40µ m,竖直(Z)范围20µ m2. 噪声：垂直(Z)方向上的RMS值＜0.3埃 （带防震系统的测量值）3. 样品大小：直径&le 15mm, 厚度&le 5mm4. 针尖/悬臂支架： 空气中轻敲模式/接触模式(标准) 液体中轻敲模式/力调制(可选) 空气中力调制(可选)；电场模式(可选) 扫描热(可选-需要大的光学头或者外加的应用组件) STM转换器(可选) 低电流STM转换器(可选)；接触模式液体池(可选) 电化学AFM或STM液体池(可选) 扭转共振模式(可选)5. 防震和隔音： 硅胶共振模式(可选) 防震三脚架(可选) ；防震台(可选) 集成的防震台和隔音罩(可选)主要特点：1. 世界上最高的分辨率2. 出众的扫描能力3. 优异的可操作性4. 非凡的灵活性与功能性5. 无限的应用扩展性Multimode可以实现全面的SPM表面表征技术，包括： 轻敲模式(Tapping Mode AFM) 接触模式(Contact Mode AFM) 自动成像模式(ScanAsyst) 相位成像模式(Phase Imaging) 横向力术模式(laterial Force Microscopy, LFM) 磁场力显微术(Magnetic Force Microscopy, MFM) 扫描隧道显微术(Scanning Tunneling Microscopy, STM) 力调制(Force Modulation) 电场力显微术(Electric Force Microscopy, EFM) 扫描电容扫描术(Scanning Capacitance Mcroscopy, SCM) 表面电势显微术(Surface Potential Microscopy) 力曲线和力阵列测量(Force-Distance and Force Volume Measurement) 纳米压痕/划痕(Nanoindenting/Scratching) 电化学显微术(Electrochemical Microscopy, ECSTM and ECAFM) 皮牛力谱(PicoForce Force Spectroscopy) 隧道原子力显微术(Tunneling AFM, TUNA) 导电原子力显微术(Conductive AFM, CAFM) 扫描扩散电阻显微术(Scanning Spreading Resistance Microscopy, SSRM) 扭转共振模式(Torsional Resonance mode, TR mode) 压电响应模式(Piezo Respnance mode, PR mode) 其他更多模式.... 布鲁克纳米表面仪器部开通优酷视频专辑Bruker Nano Surfaces YouKu Channel &mdash 欢迎订阅优酷上Bruker Nano Surfaces的相关视频，观看最新的AFM产品和相关技术进展，以及历届网络研讨会和培训资料，精彩内容持续更新中！布鲁克纳米表面仪器部 Bruker Nano Surfaces 北京办公室 北京市海淀区中关村南大街 11号光大国信大厦6层 6218室上海办公室 上海市徐汇区漕河泾开发区桂平路 418号新园科技广场 19楼E-mail： 产品咨询热线：

RTS系列拉曼光谱仪RTS-II多功能激光共聚焦显微拉曼光谱系统RTS-II 多功能激光共聚焦显微拉曼光谱系统，基于新一代显微共焦技术，具有良好扩展性，可根据需求拓展为以拉曼为主要功能的显微光谱工作站，是您科学研究的最佳选择 ！ 采用未经任何改造的科研级正置Leica显微镜，可保留显微镜一切功能 采用紧凑稳定的拉曼光路，减小光程，提高系统稳定度和重复性 内置532,638,785常用激光器，激光光路固定无需调节，可外置扩展其他激光器 采用最新的四光栅光谱仪，专利的自动聚焦，在轴扫描等多项最新技术 采用深制冷的拉曼专用光谱CCD相机，峰值量子效率QE90%。并可扩展EMCCD，ICCD，SCMOS， InGaAs阵列，PMT等探测器，扩展系统功能RTS-II多功能激光共聚焦显微拉曼光谱系统功能扩展： 显微共振拉曼可在标准RTS-II 系统基础上，通过升级可调谐的CW 激光器（调谐范围275- 1100nm），升级光谱仪为三级联谱仪，可实现真正意义上的可调谐显微共振拉曼 时间分辨光谱系统可扩展与低重频皮秒及纳秒激光器+ICCD 联用，实现微区时间分辨荧光光谱及瞬态拉曼功能利用ICCD 独有的fast kinectic 功能，可以对不可重复的现象进行最快25000 帧/ 秒的采集速度，获得约40us 的时间分辨率 宽场显微光谱由于显微镜可以保留所有原始功能，因此只要在标准的RTS-II 系统上升级即可实现如暗场散射，微区透射反射谱等功能。TCSPC 系统可扩展与可调谐超连续白光激光或高重频皮秒/ 飞秒激光联用，实现微区荧光寿命及FLIM定制类服务开放式显微镜，正置+ 倒置显微镜利用倒置显微镜的无限远光路，可以实现正置和倒置共用同一个光路可以在标准倒置显微镜的基础上升级正置部分，做到双向激发双向收集，适用于光波导传输特性对的研究多功能激光共聚焦显微拉曼光谱系统升级服务开放式的设计可以满足基于客户的显微镜升级为RTS-II 的需求开放式的设计可以满足基于客户的光谱仪升级为RTS-II 的需求RTS-mini 一体式拉曼机顶盒RTS-mini 是我司最新研发的光纤耦合的共聚焦拉曼系统。与RTS-II 共享光谱仪配置， 采用激光器内置，光纤耦合入光谱仪的方式，提高系统的灵活性。并可与样品无法移动的实验环境，如低温探针台，DSC 等能极其便利的耦合起来。小巧的体积可用于手套箱，工业在线监测等应用。另外由于配置了标准的接口，可与任何主流正置显微镜搭配，做共聚焦显微升级，可获得同样的性能。测试实例：硅样品， 减背底的三阶峰拉曼光谱图，计算信噪比：62.9：1 测试实例：硫样品； 测试条件：镜头下激光功率；10mw，积分时间，0.1s

用于研发的灵活与多功能的原子力显微镜仪器简介：FlexAFM原子力显微镜是Nanosurf公司新研发的在大气环境和液体环境下都可以进行测试，并且可与倒置光学显微镜和温度样品台联用。可以满足绝大多数研究的需要。瑞士Nanosurf公司，全球知名的专业研发扫描探针显微镜制造商和技术服务供应商，在扫描探针显微镜领域有超过15年的研发经验，一直致力于新型扫描探针显微镜的创新性研发和制造。目前已推出新一代低噪音-快速扫描-超高稳定性的AFM 和大扫描范围Nanite AFM系统。瑞士Nanosurf公司承诺提供最高品质的服务和客户支持，同时还提供纳米技术的OEM 客户定制，外包等业务。技术参数：1，FLEXAFM原子力显微镜测量模式：接触式原子力显微镜（大气和液态环境），真正非接触式原子力显微镜（大气和液态环境），横向力/摩擦力显微镜（LFM），导电原子力显微镜，磁力显微镜（MFM），开尔文探针（Kelvin Probe），扫描热原子力显微镜（SThM），电容和静电力显微镜（EFM），高级的纳米光刻和纳米操作能力，音叉原子力显微镜，三维扫描成像。2，扫描范围：100 um；10 um3，Z方向范围：10um；3 um4，XY方向驱动分辨率：0.152 nm5，Z方向驱动分辨率：0.046 nm6，最小Z方向测量噪音水平：0.15nm7，样品尺寸：直径100mm主要特点：1，FlexAFM无论是在大气环境下还是在液体环境下都可以进行测试，操作和测试的方便程度是完全一样，没有什么区别。2，灵活弯曲结构的扫描头设计，可以引用于平的或粗糙的样品表面。XY-扫描通过电磁驱动，XY平面的运动是完全线性的 。Z方向的运动是通过压电陶瓷来驱动，Z方向的运动速度很快。3，激光光束进入液体时会发生一定偏移，通常实验时需要耐心和复杂的调整。而FlexAFM 使用了专利SureAlign&trade 的激光光学系统，无论是在大气下还是在液体中根本不需要做任何调整。所以FlexAFM 的激光信号永远处于最佳状态。4，两个方向的视窗，非常方便观察和针尖逼近。并且由于特别的设计，使得无论在大气环境还是液体环境得到同样质量的视像。5，FlexAFM 使用"Liquid Ready" easyScan 2控制器, 可以扩展STM 等技术。为了材料研发上的成功,科学家们依赖专业的工具来快速地提供需要的信息,不管是否是手头的任务. 通过开发关键技术与设计, Nanosurf使得Flex-Axiom成为一款迄今为止强大多功能而且灵活的AFM, 非常方便地进行各种各样材料研发方面的应用. 配合功能强大的C3000控制器, Flex-Axiom还可以进行更多复杂的材料表征应用. 几百个研究用户，多方面应用实例Flex-Axiom是您可信赖的工具，不管是在表面形貌还是计量成像上，不管在大气中还是液体环境中. 当然Flex-Axiom不仅仅可以用于表面形貌测量, 比如还可以进行高级纳米机械性能、电学或者磁学性能表征. 该系统更能有效地用于样品的微纳米操纵功能. Topography, KPFM, and MFM images of the same area of a stainless steel sample 精确而优越的性能方便您研发上的需求Flex-Axiom使用特殊的线性电磁平板扫描器用于XY移动. 该扫描器在全范围内的平均线性度误差小于0.1%, 属于AFM市场上的顶配. Z轴由压电驱动, 带有位置传感器可以实现闭环操作. 高敏感的悬臂梁探测系统可以测量到MHz测量范围. Flex-Axiom的测量头配置的是全功能的, 带有数字反馈与两个双通道锁放的最新24位C3000控制器.Imaging of single and multiple pyrene nanosheets and height analysis with sub-nanometer accuracy. Data courtesy: Mykhailo Vybornyi, University of Berne, Switzerland 模块化设计: 让您今天的预算物有所值，让您未来有更多机会增加配置或需求Flex-Axiom带有模块化的样品台设计与各种探针底座类型, 可以满足您当前与今后的需求. 基于C3000控制器, Flex-Axiom可配置14种AFM操作功能, 甚至更多可扩展功能, 可以进行更多材料开发上面的高级测量与实验研究. ECS 204电化学样品台, 举例来说, 可以进行样品的电化学与以及样品周围的环境控制, 这样就可以开发更多新的应用. 跟一些我们的高级研发用户一起, 用于大范围纳米刻蚀、手套箱内操作、磁阻感应功能都已经被开发出来. Large-area nano-lithography (Dr. Lu Shin Wong, Manchester, UK) Flex-Axiom in glove box (Dr. Philip Kim, Harvard University, US) Magneto-resistive sensing (Dr. Jo?o Gaspar, Braga, PT) Flex-Axiom的模块化概念可以轻松地让它升级到其他FlexAFM产品线 (如用于生命科学的Flex-Bio, 用于自动纳米机械性能分析的Flex-ANA以及用于细胞与纳米操纵的Flex-FPM)， 给您的Flex-Axiom系统提供了更多的升级与扩展的可能性. Flex-Bio Flex-ANA Flex-FPM 开发所有的实践细节，有益于日常操作FlexAFM视频选件集成了两个摄像头用于顶视与侧视, 可以让您快速地找到感兴趣区域并逼近针尖到样品表面位置，然后进行全自动逼近. Camera optics Top view Side view带有定位槽结构的探针底座可使用带有定位沟槽的探针. 该探针底座提供了微米级别定位精度, 更换探针无需调节激光； 可以让您更换探针后依然方便地找到样品同样的位置. Flex-Axiom 配件与附件 Flex-Axiom系统的核心是FlexAFM测量头与C3000控制器，它们由I100电气转接盒连接. 基于标准配置, Flex-Axiom具有多个选件与附件可以供选择, 专门设计用来提高更稳定与可靠的结果, 或者提供了更多新型测量功能与实验的可信性: 各种探针底座类型 FlexAFM视频选件，顶视与侧视双光学ECS 204 电化学样品台ATS 204 自动移动台Isostage主动式防震台环境控制来进行干燥或者低氧环境操作 高级隔声罩用于保护外界噪声与其他干扰

多功能原子力显微镜-AFM利用微悬臂下方的探针和样品表面距离缩小到纳米级，探针和样品表面的分子间作用力使得悬臂受力形变。探针针尖和样品之间的作用力与距离有强烈的依赖关系，即可以通过检测悬臂受力的弯曲程度,从而获得样品表面形貌信息。不同于电子显微镜只能提供二维图像，多功能原子力显微镜-AFM能提供真实的三维表面图。同时,AFM不需要对样品的任何特殊处理,如镀铜或碳，这种处理对样品会造成不可逆转的伤害。第三，电子显微镜需要运行在高真空条件下,原子力显微镜在常压下甚至在液体环境下都可以良好工作。这样可以用来研究生物宏观分子,电池材料，甚至活的生物组织。利用微悬臂探针结构对导体、半导体、绝缘品等固体材料进行三维样貌表征,纵向噪音水平低至0.03nm(开环)，可实现样品表面单个原子层结构形貌图像绘制。AFM最大的特点是可以测量表面原子之间的力,AFM可测量的最小力的量级为10-14-10-16N。多功能原子力显微镜-AFM还可以测量表面的弹性,塑性、硬度、黏着力等性质,AFM还可以在真空,大气或溶液下工作,在材料研究中获得了广泛的研究。多功能原子力显微镜-AFM由本公司自主研发,稳定性强，可拓展性良好，提供定制服务 可拓展横向力显微镜 静电力显微镜 磁力显微镜 扫描开尔文探针显微镜 刻蚀和纳米操作等。该产品作为高速、高精度物质形貌表征工具,可以为高端科研与企业生产研发提供更多的选择与助力。 具体产品介绍详见下图：

FusionScope多功能显微镜——创新AFM+SEM原位同步联用技术（2023 R&D100 Award）在多数情况下，为确认不同参数之间的相关性，样品分析通常使用多种技术手段。对于AFM和SEM成像技术而言，这意味着在实际操作中需要对相同的区域进行对比分析。2022年10月，美国Quantum Design公司重磅推出FusionScope多功能显微镜，将SEM和AFM技术融合在一台设备上。用户不需要将样品从一台显微镜移动到另一台显微镜，也不必使用两个不同的操作系统来分析样品上的同一位置，而是在同一用户界面内、同一位置进行互补性综合量。FusionScope多功能显微镜提供了带有SEM功能的原子力显微镜的所有优点。它能够实现标准AFM的测量模式，包括接触、动态和FIRE模式（Finite Impulse Response Excitation ）。只需单击按钮，即可在亚纳米分辨率下切换AFM和SEM成像模式，并获取所需的数据。通过更换悬臂，AFM可轻松实现高级工作模式，例如力曲线、导电原子力显微镜（C-AFM）和磁力显微镜（MFM）。FusionScope同时提供EDS能谱仪选件，可以在扫描电镜中对样品进行元素和化学分析，在纳米及微米尺度上收集更准确的数据。结合已有的AFM/SEM，使测量更加多功能化。FusionScope多功能显微镜优势★ Quantum Design自主研发的AFM和SEM成熟集成方案，自动化程度高，软件/硬件操作简单易用；★ 多种AFM功能与SEM原位联用，极大程度上发挥出两种常用显微镜的技术优势，实现同一时间、同一样品区域和相同条件下的原位共享坐标测量，避免样品转移过程中的污染风险，特别适合环境敏感样品；★ 多通道样品特性成像，并无缝关联到三维形貌图像中。AFM可测量的功能包括有：三维/二维表面形貌成像，力学/机械性能测量、电学测量、磁学测量；SEM配备EDS功能；★ 利用SEM进行实时、快速、精准导航AFM针尖，从而实现AFM对感兴趣区域的精准定位与测量。无需转移样品，原位进行80°AFM与样品台同时旋转。FusionScope多功能显微镜特点简单易用FusionScope硬件和软件经过精心设计，不仅让初学者快速上手，简单易用，同时还可以定制用户界面，提供用户所需要的所有功能。更换样品FusionScope更换样品仅需几分钟，简单快速。共坐标系统利用SEM进行实时、快速、精准导航AFM针尖，从而实现AFM对感兴趣区域的精准定位与测量。无需转移样品，原位进行80° AFM与样品台同时旋转。实时剖面准确展示AFM探针和样品相对位置FusionScope的创新功能之一是剖面成像，即在测量时可以实时观察AFM悬臂的针尖。通过这种剖面工作方式，即使是难以到达的样品区域也可以用AFM探针非常精确地接近，从而测量形状复杂的样品。自感应悬臂FusionScope中的AFM采用自感应悬臂，无需光学对准即可提供所有悬臂电信号，实现对样品表面进行高质量、低噪音测量。性能优异、简单易用。自感探针可以让电子束大限度地进入悬臂和样品区域，实现AFM和SEM的无缝结合。自感应悬臂功能也十分丰富，可以提供更多测量功能，如电导率、磁性、表面电位、温度及其他样品特征。自感应悬臂采用聚焦电子束诱导沉积（FEBID）工艺制备，针尖半径小于10 nm，保证了高分辨率导电或磁性成像，并具有出色的机械稳定性。任务面板FusionScope任务菜单帮助用户快速识别和执行所需的显微镜操作，并提供简单易用的向导式操作流程，帮助用户减少调整和管理硬件的时间，将更多时间用于收集样品图像和数据分析。用户界面定制FusionScope提供用户友好型软件界面，以满足用户或实验的需求。软件分为标准模式和高级模式，用户可根据具体需求进行个性化配置。软件支持日志功能和用户注释。数据处理每次实验都可以将数据自动存在在一个"experiment"文件中，确保在不同计算机之间方便进行数据转移和离线处理。在数据处理模块中，集成了第三方数据处理软件(例如用于AFM数据处理的Gwyddion软件)。FusionScope多功能显微镜参数AFM扫描范围 XY：22 x 22 μm （闭环）扫描范围 Z：15 μm成像噪声：50pm @ 1kHz悬臂探头：自感压阻式测量模式：Contact, Dynamic, FIRE, MFM, C-AFM, …SEM电子源：热场发射加速电压：3.5 kV – 15 kV探头电流：5 pA – 2.5 nA（典型值为300 pA）放大倍数：25X – 200,000X探测器：In-Chamber SE Everhart-Thornley样品最大样品直径：20 mm（12 mm 关联工作模式）最大样品高度：20 mm最大样品重量：500 g对齐方式：全自动样品腔典型腔室真空：1-10 μTorr抽真空时长：5 min样品托倾斜角度：-10 °至 80°系统用电：200-230 VAC，50/60Hz；单相 15 A尺寸（宽 x 长 x 高）：690 x 835 x 1470 mm重量：330 kg应用领域通过结合SEM和AFM的互补优势，FusionScope打开了通往全新应用可能性的大门！涵盖多个应用领域：材料科学、纳米力学、半导体或太阳能电池行业、生命科学......适用材料：纳米线、2D材料、纳米颗粒、电子元件、半导体、生物样品……半导体表征对于形状复杂的半导体，FusionScope能够通过精准定位到样品的不同位置进行表征，同时得到精确表面形貌。探针定位到电极位置并进行扫描；探针定位到玻璃表面并进行扫描电极处表面形貌 玻璃处表面形貌使用AFM原子力显微镜分析电子元件或半导体器件模式：SEM, AFM Topography样品：CPU芯片对于AFM用户来说，纳米结构的精确定位和分析是一项具有挑战性且耗时的工作，近年来晶体管尺寸的减小对质量控制和失效分析也提出了更高的要求。借助FusionScope及其剖面成像功能，用户可以轻松地将悬臂尖端定位至感兴趣的区域，并对样品进行高分辨率 AFM 分析、亚纳米级分辨率3D形貌测量、导电 AFM测量等。(图1) CPU芯片的SEM图像，悬臂位于测试区域上方(图2) 晶体管结构特定区域的AFM图像(图3) 晶体管结构特定区域的SEM图像使用AFM原子力显微镜表征二维材料模式：AFM Topography样品：石墨烯从纳米机电传感器及光学器件的许多应用研究中，二维材料的独立悬浮膜引起科学家的极大兴趣。其表征大多依赖于扫描探针显微镜技术，如原子力显微镜（AFM）。然而，与刚性样品不同，悬浮的2D原子级薄膜是柔性的，在AFM测量过程中会受到机械干扰，这可能导致实验结果的偏差。FusionScope可以通过在实时观测膜变形来规避这些缺点，从而更好地获取AFM数据。(图1) 石墨烯的SEM图像，悬臂位于测试区域上方(图2) 石墨烯膜的关联SEM和AFM图像(图3) 施加低负载的石墨烯的AFM形貌图(图4) 施加高负载的石墨烯的AFM形貌图使用FusionScope进行原子台阶表征模式：AFM Topography, SEM样品: 热解石墨（HOPG）为了检测样品表面区域的最小变化，需要尽量减少AFM机械和电气噪音的影响，这在高真空系统中尤其具有挑战性。FusionScope性能优异，实现了真正的原子分辨率的AFM测量。(图1) HOPG的SEM图像，悬臂位于测试区域上方（剖面成像模式）(图2) HOPG样品三维形貌图(图3) 图2HOPG样品的高度（0.3 nm）纳米力学通过SEM提供的视野，研究者可以实现对特定样品表面的力学性能测试，并且能够清晰地观察探针对样品的压痕过程。无论是想要探究材料的硬度、弹性模量还是断裂韧性，都能在FusionScope中得到答案。探针测量单根硅纳米柱动态过程探针测量单根硅纳米柱快闪图样品的力学曲线FusionScope可以轻松实现在纳米压痕实验中的力学控制，以静制动，原位视野下轻松测试，可视化呈现纳米压痕。通过设置不同的力测试纳米压痕的效果，得到样品硬度信息。探针在样品表面压痕FusionScope能够快速对具有不规则表面的载药颗粒进行力学测试与动态测量过程。如下样品主要成分为VitaminC，通过扫描电镜可以观察到样品表面崎岖不平，粗糙度较高，在进行力学测试过程中，能够通过SEM观察到一种阶段式下针过程，从而得到分段式力学曲线，二者相辅相成，互为验证。倾斜样品的力学曲线测量快闪图阶段式力学曲线测试结果材料科学FusionScope可以针对感兴趣的区域进行结构、机械、电学、磁学和化学性质分析，实现对样品的全方位表征。使用磁力显微镜表征钴层材料的形貌与磁性分布下图所示利用FusionScope对用离子束刻蚀（FIB）加工的钴层进行磁特性表征。这种研究可能涉及测量钴层的磁场强度、磁化曲线、磁畴结构等参数，以便更好地了解钴层材料在磁性方面的性能。Topography & MFM overlayAu纳米线的精准测量通过拓展性配置的机械手，将Au纳米线的位置进行精确校正之后对末端进行3D形貌扫描。自旋体纳米棒表征人工构建的自旋体纳米棒Ni81Fe19，对其形貌进行精准定位扫描，关联AFM与SEM数据结果，同时关联起三种不同结构对应的磁性结果。三种磁性纳米棒的SEM关联AFM形貌表征结果铁镍纳米棒的极化磁性测量以及与AFM形貌的对应。使用MFM磁力显微镜表征磁性相位结构模式：MFM样品：双相不锈钢双相不锈钢是含有奥氏体和铁素体相的混合物，与标准钢相比，具有更高的机械强度和延展性。原位磁力显微镜（In-situ MFM）可以详细分析不同类型的双相不锈钢样品的磁性。使用FusionScope可以轻松观察不锈钢表面的不同相，并且AFM探针很容易定位在两个不同相的晶界处。使用磁性悬臂可以分析不锈钢的磁性并对铁磁区域进行高分辨成像。(图1) AFM探针在双相不锈钢上方的SEM图像。(图2) 双相不锈钢晶界处的SEM图像。(图3) 双相不锈钢晶界处的AFM形貌图。(图4) 双相不锈钢晶界处的MFM图像显示铁磁性和顺磁性相结构。使用EFM静电力显微镜评估材料晶界模式：EFM样品：BaTiO3多晶BaTiO3陶瓷的宏观电子性能由单晶间形成的晶界决定。为了更好地了解BaTiO3的整体电阻，科学家必须能够在纳米尺度表征晶体材料中的电位差。这种表征可以通过静电力显微镜（EFM）完成。FusionScope可以进行原位EFM分析，利用SEM的高分辨率轻松识别晶界，并直接在感兴趣区域进行EFM分析。(图1) 同一区域SEM、AFM和EFM信号的3D综合数据(图2) BaTiO3样品的SEM图像(图3) BaTiO3样品的AFM形貌图(图4) BaTiO3样品的EFM相位图像(+1.5V)生命科学FusionScope可以准确、轻松地获取生物样品的纳米级形貌，特别是对于难以触及的或非常小的样品区域，实现高精度物性表征，如3D形貌，刚度和粘附力等…使用AFM原子力显微镜表征常规难以测量的样品区域模式：AFM Topography样品：骨骼对难以触及的样品区域，进行SEM/AFM分析非常有挑战，比如骨组织的分析，特别是骨表面的空隙和胶原纤维的详细测量。FusionScope可以对空隙结构进行快速简便的识别和成像。通过SEM的大视野识别空隙，并可将悬臂直接定位在空隙结构上，然后通过AFM实现亚纳米分辨率的空隙和胶原纤维的真实3D形貌。(图1) 骨骼表面的SEM图像，悬臂位于测试区域上方(图2) 空隙结构的SEM图像(图3) 空隙结构的AFM 3D形貌图(图4) 位于空隙结构内的胶原纤维的高分辨率AFM图像使用AFM原子力显微镜表征贝壳表面的硅藻模式：AFM Topography样品：贝壳利用FusionScope显微镜，可以精准定位贝壳表面上的硅藻。在剖面模式下，用户可以轻松地将AFM悬臂尖端定位到选择的硅藻结构上，并进行3D形貌分析。(图1)骨骼表面的SEM图像，悬臂位于测试区域上方（剖面成像模式）(图2) 贝壳表面硅藻结构的SEM图像(图3) 硅藻表面的AFM 3D形貌图测试数据标准AFM静态模式（接触模式）在静态模式或接触模式下，针尖与样品表面连续接触，针尖针尖原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力。当针尖轻轻扫过样品表面时，接触的力量引起悬臂弯曲，进而得到样品的表面图像。在接触模式下获得的聚合物表面的AFM图像动态模式动态模式，也称为间歇性接触或Tapping模式，悬臂在其谐振频率附近振荡。当探针靠近表面时，探针和样品之间的相互作用导致振荡幅度发生变化。当悬臂扫描样品时，调整高度以保持设定的悬臂振荡幅度，进行AFM成像。左：在动态模式下测量的石墨烯膜的关联SEM和AFM图像；右：单个石墨烯膜的高分辨率AFM形貌图像FIRE模式FIRE模式是一种新型的、间歇性接触AFM技术。FIRE模式基于在高于驱动频率、但低于悬臂共振频率的频域中，对悬臂信号进行检测，得到样品刚性与粘附力信息。利用FIRE模式测量双组分聚合物样品（聚苯乙烯和聚烯烃弹性体）的AFM形貌图像（左）和刚度（右）C-AFM导电原子力显微镜标准C-AFM导电AFM（C-AFM）通过使用尖锐的导电针尖同时测量样品的形貌和导电特性。左：硅衬底上Au电极结构的SEM图像；中：电极结构的AFM形貌图像；右：电极结构的电导率图静电力显微镜（EFM）静电力显微镜（EFM）是一种相位成像技术，通过测量样品衬底电场的成像变化，从而研究表面电位和电荷分布。BaTiO3陶瓷的SEM图像显示出不同的晶界（左）；AFM图像（中）；EFM相位图像（+1.5V偏置电压）磁力显微镜磁力显微镜（MFM）是一种相位成像模式，通过使用磁性AFM探针来研究磁性材料的性质。多层Pt/Co/Ta样品的AFM图像（动态模式，左）及相同区域的MFM图像（右）扫描电子显微镜（SEM）使用聚焦电子束，FusionScope可以实现样品表面的高分辨率成像。凭借其高灵敏度的SE模式，FusionScope可以在几纳米级别获得形貌信息。锡球的SEM图像，图像水平场宽度为50 μm（左）；高倍率显微照片显示了左图中破碎锡球的表面细节（右）SEM扫描电镜其他功能包括：★ FusionScope可以从毫米级到纳米级进行扫描，因此易于定位，且具有非常的高分辨率；★ 高度自动化，为用户提供清晰锐利的图像；★ 倾斜度高达80°，轮廓视图显示样品的“侧面”特征；★ 快速分析功能，广泛应用于生物和医学科学、陶瓷、质量控制、失效分析、法医学调查、生命科学和半导体检测等应用领域。

DM2500 手动多功能显微镜DM2500 LED 显微镜是生命科学常规和研究应用中应对艰巨任务的终极工具。凭借强大的透射光照明、高品质的光学性能以及技术先进的附件，Leica DM2500 和 DM2500 LED 特别适合要求微分干涉相衬或高性能荧光等颇具挑战性的生命科学研究任务。Leica DM2500 LED 提供超亮 LED 照明，而 Leica DM2500 则提供强大的 100 W 功率照明，这对于 DIC 工作尤为有益。Leica DM2500 和 DM2500 LED 采用面向应用的模块化设计，您可根据各种应用场合配置它们，并适应不同用户的实际要求。对于特殊的诊断要求，显微镜经认证可用于体外诊断 (IVD)。恒定色温： Leica DM2500 LED 通过长效 LED 透射光照明带来更出众的便利性。超亮 LED 照明适用于所有透射光相衬观察方法。使用 LED 的一项额外优势就是在所有光强水平下均保持恒定色温。

MultiMode平台是世界上应用最广泛的扫描探针显微镜（SPM），已经在全球成功安装使用了近万套。它的成功基于其领先的高分辨率和高性能，无与伦比的多功能性，以及已经得到充分证实的效率和可靠性。现在，MultiMode扫描探针显微镜以其独特的ScanAsyst模式，采用其先进的自动图像优化技术，使得用户无论具备什么技能水平，也能在材料科学，生命科学，聚合物研究领域的研究中最迅速地获得符合要求的研究成果。 SPM的控制电路也是影响性能的重要因素，第五代的NanoScope V控制器具有先进的数字架构：具有高数据带宽，低噪声数据采集和无与伦比的数据处理能力。布鲁克的最先进的技术已经开创工业上的新标准，例如：ScanAsyst 模式 & PeakForce QNM 模式。 Multimode 的加热和制冷装置能对样品进行加热与制冷，适合于生物学，聚合物材料以及其他材料研究应用。采用加热和制冷装置后MULTIMODE 可在零下35º C到250 º C范围内对样品进行温度控制；并可以在水，溶液或缓冲剂的液体环境中进行扫描。当在气体环境下对样品进行扫描时，采用环境控制舱可以在大气压标准下控制环境气体的成分。

DM2700 M 手动多功能金相显微镜正置金相显微镜由高质量的徕卡光学元件以及最先进的通用白光 LED 照明组成。对于金相学、地球科学、法医检查以及材料质控和研究来说，它是进行所有类型常规检查的理想工具。徕卡 DM2700 M 向您展示了显微镜最高境界的简单可靠性，还能够帮助您改进工作流程。通用 LED 照明沐浴在日光中极度明亮的大功率 LED 照明为明场、暗场、干涉差、偏振光以及倾斜照明法提供了4500o K的恒定色温。它为所有亮度级提供了真正的彩色图像。由于 LED 寿命长、耗能低，因此节省能源的潜能极大所有显微镜对比法灵活的选择，更低的成本徕卡 DM2700 M 灵活的正置显微镜系统在所有对比法中均使用了 LED 照明：明场（BF）、暗场(DF) 、微分干涉差（DIC）、定性偏振 （POL）或荧光 （FLUO）应用。它还提供了内置式倾斜照明，能够提高表面形貌和缺陷的可视度。徕卡 DM2700 M 金相显微镜还能够根据情况装配透射光轴。可选择三种显微镜物镜转轮 - 外加一个0.7x的宏物镜，您能通过它一眼看见约40mm长的一个样本，是进行快速定位和概览的理想选择。能够从徕卡显微镜载物台的完备产品线中，为大小达到100 x100mm的样本（例如箔片、晶片和 PCB）以及厚度达到80mm的样本（例如机械元件）找到一种理想的载物台进行检查。

如有需要请通过伯英科技联系我们。多功能扫描探针显微镜（带纳米力学测试功能）型号：NT-206，是集多功能于一身的原子力显微镜，带有复杂的硬件与软件分析系统，可分析形貌与力学性能，分辨率为纳米级别。可添加：纳米压痕、划痕、磨损，附着力、摩擦力测试，纳米光刻等功能。A probe is positioned above journal neck of watch gearEmbedded videosystem in combination with motorized XY micropositioning stage provide convenient tuning of the instrument and its fine targeting onto the features on the sample surface. All that dramatically enhances the instrument' s functionality when researching micro- and nanosize objects.To meet requirements of specific research tasks, AFM NT-206 can include specialized changeable probe holders for microtribometry and adhesiometry or for nanoindentation.NT-206 ::: Description ::: Features ::: Delivery set ::: Software 多功能扫描探针显微镜（带纳米力学测试功能）技术指标：Measurement modes:测量模式： Motion patterns at the measurements: - area (matrix) - line - single point.Contact static AFM 接触静态Lateral force microscopy /with contact static AFM/ 横向力显微镜/用静态接触AFMNon-contact dynamic AFM 非接触式动态AFMIntermittent contact AFM (similar to Tapping Mode) 间隙接触（敲击）Phase contrast imaging /with intermittent contact AFM/ 相衬成像/用间隙接触AFMTwo-pass mode (for static and dynamic AFM) 6. 两回合模式（适合静态与动态AFM）Two-pass mode with varying separation (for static and dynamic AFM) /Original technique!/两回合模式，伴随变化的间距，Multicycle scanning (for static and dynamic AFM) /Original technique!/多回合扫描（适合静态与动态AFM）Multilayer scanning with varying load (for static and dynamic AFM) /Original technique!/多回合扫描，伴随变化的载荷（适合静态与动态AFM）Electrostatic force microscopy (two-pass technique) *, **静电力显微镜（双回合技术）Current mode *, **电流模式Magnetic force microscopy (two-pass technique) *, **磁力显微镜（双回合技术）Static force spectroscopy (with calculation of quantitative parameters, surface energy and elastic modulus in the measurement point)静态力谱（在测量点，计算定量参数、表面能与弹性模量）Dynamic force spectroscopy动态力谱Dynamic frequency force spectroscopy /Original technique!/动态频率力谱Nanoindentation *纳米压痕Nanoscratching *纳米划痕Linear nanowear *线性纳米磨损Nanolithography (with control of i load, ii depth and iii bias voltage) *纳米光刻（控制力，深度，偏压）Microtribometry * /Original technique!/微观摩擦力计量Microadhesiometry * /Original technique!/微观附着力计量Shear-force microtribometry * /Original technique!/剪切力微观摩擦力计量Temperature-dependent measurements (under all above modes) *基于温度的测量（适用于所以以上模块）Note. * - Specialized accessories or rig required*需要特殊的附件或工具 ** - Specialized probes required **需要特殊的探针Scan field area:扫描面积from 5x5 micron up to 50x40 micronsMaximum range of measured heights:最大高度范围from 2 to 4 micronLateral resolution (plane XY):侧面分辨率1–5 nm (depending on sample hardness)Vertical resolution (direction Z):竖直分辨率0.1–0.5 nm (depending on sample hardness)Scanning matrix:扫描矩阵Up to 1024x1024 pointsScan rate:扫描速度40–250 points per second in X-Y planeNonlinearity correction :非线性校正A software nonlinearity correction providedMinimum scanning step:最小扫描步阶0.3 nmScanning scheme:扫描步骤The sample is moved in X-Y plane (horizontal) and in Z-direction (vertical) under stationary probe.Scanner type:扫描器类型A piezoceramic tube.Cantilevers (probes):悬臂（探针）Commercial AFM cantilevers of 3.4x1.6x0.4 mm. Recommended are probes from Mikromasch or NT-MDT. Checked for operation with probes by BudgetSensor and NanosensorsCantilever deflection detection system:悬臂倾斜探测系统Laser beam scheme with four-quadrant position-sensitive photodetectorSample size:样品尺寸Up to 30x30x8 mm (w–d–h) extending block insert allows measurement of samples with height up to 35 mmHigh voltage amplifier output: 高压放大器输出+190 VADC:16 bitOperation environment:操作环境Open air, 760+40 mm Hg col., T = 22+4°С, relative humidity 70%Range of automated movement of measuring head:测量头自动移动范围10x10 mm in XY plane for micropositioning of probe relative measured sample at step 2.5 micron with optical visual monitoringOverall dimensions:总尺寸Scanning unit: 185x185x290 mm Control electronic unit: 195x470x210 mmField of view of embedded videosystem:植入视频系统的视场1x0.75 mm, visualization window 640x480 pixel, frame rate up to 30 fps.Vibration isolation:防震隔离Additional antivibration table is recommendedHost computer:控制计算机Not less than: Celeron 2.2, RAM 256 MB, HDD 80 GB, VRAM 128 MB, monitor 17" 1024x768x32 bit, Windows XP SP1, 2 USB port. Recommended: Core i5 or equivalent, RAM 2 GB, HDD 320 GB, VRAM 1 GB, monitor 1600x1200x32 bit, Windows XP SP2 or higher, 2 free USB port.Software:软件Special control software SurfaceScan and the AFM image processing package SurfaceView / SurfaceXplorer are included. * Before measurements, the probe can be positioned to necessary place over the sample with help of automated motorized stage. To provide monitoring for the scan area and objects below the probe, the instrument embeds a videosystem allowing to watch the probe motion over the sample surface. Videosystem and the motorized stage for the probe positioning over sample are included in base set by default. A combination of these two options allows rather flexible selection of objects to be measured on the sample surface at direct visual monitoring by the opeartor.多功能扫描探针显微镜（带纳米力学测试功能）组成模块： DELIVERY SETNT-206 ::: Description ::: Features ::: Delivery set ::: Software ::: BASIC SETScanning unit (atomic force microscope)Includes a base platform with embedded XY positioning stage and a detachable measuring head with integrated video systemControl electronic unit with the connetcion cables in the set (the case variants)Software package including:The software runs under Win32. Supplied on CD. Updates available at this site in section ARCHIVE SOFTWAREAFM control software SurfaceScan for driving complex and data acqusition and visualization .SurfaceView and SurfaceXplorersoftware package for the measured data processing, visualization and analysis.The software can include plug-ins for processing AFM-data obtained with other microscopes.A set of drivers for connection of control electronic unit with host PC and running videosystem.Note:1 Base set includes also the control software (for Win32) and user manual.多功能扫描探针显微镜（带纳米力学测试功能）可选配件 ::: ADDITIONAL ACCESSORIES (optional)A specialized antivibration rackA changeable probe holderChangeable scaners for ranges: 5x5x2 um10x10x3 um20x20x3.5 um40x40x3.5 um50x50x3.5 um90x90x3.5 umSet for scanning the sample emmersed in liquid mediumThermocell: a changeable sample platform for measured sample heating up to 150 °С with stand-allone controllerA changeable holder for conducting probesExtending block insert allowing measurement of thick samples with height up to 35 mmA changeable microtribometer-adhesiometer unitOption: a set of AFM probes(Prod. by Mikromasch)A changeable shear-force microtribometer unitOption: a set of calibration test gratings(Prod. by Mikromasch)A changeable nanoindentor unit多功能扫描探针显微镜（带纳米力学测试功能）软件 SOFTWARENT-206 ::: Description ::: Features ::: Delivery set ::: SoftwareControl software for AFM NT-206 SurfaceScan is a 32-bit Windows application. It runs under Windows XPsp2/Vista/7 operating systems.The control software provides all preliminary tunings and settings necessary for the AFM operation: visual control over the laser-beam detection system adjustment, tuning of the cantilever oscillations (in dynamic modes), feed-back system adjusting, sample positioning under the probe and sample approach to the probe before measurements and removal after the measurements. A full-field or any reduced area within the full field of the scanner can be selected for measurements.Operator can watch any combination of acquired AFM/LFM images in data visualization window or switch to look at them in one window. Additionally, profile of currenly acquired line can be monitored as well.Acquired data are saved in files of special format that can be then processed, visualised (in 2-D and 3-D presentation) and analysed with a specialized software package SurfaceView or SurfaceXplorer.

DMM-1000C多功能金相显微镜一、DMM-1000C电脑型明暗场透反射金相显微镜的特点和用途: DMM-1000系列透反射明暗场显微镜是适用于对不透明物体或半透明物体和粉末颗粒的显微观察。本仪器配置落射照明系统和透射照明系统、先进的无限远长距平场消色差物镜(无盖玻片)、大视野目镜和内置偏光观察装置，无限远光路系统具有图像清晰、衬度好，造型美观，操作方便等特点，是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学,半导体检验、电路封装、材料等行业理想的仪器。适用于学校、科研、工厂等部门使用。性能特点 1、配置大视野目镜和无限远长距明场和暗场用平场消色差物镜，视场大而清晰。 2、粗微动同轴调焦机构，粗动松紧可调，带限位锁紧装置，微动格值:2μm。 3、三目镜筒,可自由切换双眼正常观察与电脑摄像，可进行100%透光摄影。4、配置落射与透射两套照明系统，能分别对不透明物体或透明物体进行显微观察5、配置透射观察、反射观察、偏光观察、反射暗场观察等多种观察方式,用途更广。6、高像素数字成像系统，电脑显示成像真实清晰 DMM-1000C研究级正置透反射明暗场金相显微镜是将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、尖端的计算机成像技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。 二、明暗场金相显微镜DMM-1000C的技术参数:规格技术参数目镜超大视野平场目镜WF10X(Φ22mm) 明暗场物镜无限远长距平场消色差物镜(明视场/暗视场) PL L 5X/0.12 BD WD:18.3mm无限远长距平场消色差物镜(明视场/暗视场) PL L 10X/0.25 BD WD:8.9mm无限远长距平场消色差物镜(明视场/暗视场)PL L 20X/0.40 BD WD:8.7mm无限远长距平场消色差物镜(明视场/暗视场)PL L50X/0.70 BD WD:2.5mm目镜筒铰链式三目镜,倾斜30?,内置检偏振片,可进行切换 ，屈光度±5可调落射照明系统12V 50W卤素灯,亮度可调落射照明器带 (黄,蓝,绿)滤色片和磨砂玻璃视场光栏和孔径光栏大小可调节，可插入式起偏振片，可进行偏光观察和摄影透射照明系统阿贝聚光镜 NA.1.25 可上下升降 。蓝滤色片和磨砂玻璃 集光器，卤素灯照明适用(内置视场光栏) ，12V 30W 卤素灯,亮度可调调焦机构粗微动同轴调焦, 微动格值:2μm,带锁紧和限位装置转换器四孔(内向式滚珠内定位)载物台双层机械移动式(尺寸:210mmX140mm,移动范围:75mmX50mm)摄像系统1X摄影接口，标准C接口300万像素数字成像系统，最高分辨率2048X1536 像素尺寸3.2um×3.2um 光学尺寸1/2" 采用USB供电，功耗小，连接简单，图像质量好,色彩还原性好 ,图像稳定,提供多种图像设置方法,曝光方法可调1、金相显微镜DMM-1000　　2、电脑适配镜　 3、300万像素彩色数字摄像器 　三、系统的组成 四、选购部分1、DS-3000二维定倍测量软件 2、DM-3000金相分析软件 3、透射暗场观察

FusionScope多功能显微镜——创新AFM+SEM原位同步联用技术 在多数情况下，为确认不同参数之间的相关性，样品分析通常使用多种技术手段。对于AFM和SEM成像技术而言，这意味着在实际操作中需要对相同的区域进行对比分析。2022年10月，美国Quantum Design公司重磅推出FusionScope多功能显微镜，将SEM和AFM技术融合在一台设备上。用户不需要将样品从一台显微镜移动到另一台显微镜，也不必使用两个不同的操作系统来分析样品上的同一位置，而是在同一用户界面内、同一位置进行互补性综合量。 FusionScope多功能显微镜提供了带有SEM功能的原子力显微镜的所有优点。它能够实现标准AFM的测量模式，包括接触、动态和FIRE模式（Finite Impulse Response Excitation ）。只需单击按钮，即可在亚纳米分辨率下切换AFM和SEM成像模式，并获取所需的数据。通过更换悬臂，AFM可轻松实现高级工作模式，例如力曲线、导电原子力显微镜（C-AFM）和磁力显微镜（MFM）。FusionScope同时提供EDS能谱仪选件，可以在扫描电镜中对样品进行元素和化学分析，在纳米及微米尺度上收集更准确的数据。结合已有的AFM/SEM，使测量更加多功能化。 FusionScope多功能显微镜优势★ Quantum Design自主研发的AFM和SEM成熟集成方案，自动化程度高，软件/硬件操作简单易用；★ 多种AFM功能与SEM原位联用，极大程度上发挥出两种常用显微镜的技术优势，实现同一时间、同一样品区域和相同条件下的原位共享坐标测量，避免样品转移过程中的污染风险，特别适合环境敏感样品；★ 多通道样品特性成像，并无缝关联到三维形貌图像中。AFM可测量的功能包括有：三维/二维表面形貌成像，力学/机械性能测量、电学测量、磁学测量；SEM配备EDS功能；★ 利用SEM进行实时、快速、精准导航AFM针尖，从而实现AFM对感兴趣区域的精准定位与测量。无需转移样品，原位进行80°AFM与样品台同时旋转。FusionScope多功能显微镜特点简单易用FusionScope硬件和软件经过精心设计，不仅让初学者快速上手，简单易用，同时还可以定制用户界面，提供用户所需要的所有功能。更换样品FusionScope更换样品仅需几分钟，简单快速。共坐标系统利用SEM进行实时、快速、精准导航AFM针尖，从而实现AFM对感兴趣区域的精准定位与测量。无需转移样品，原位进行80° AFM与样品台同时旋转。实时剖面准确展示AFM探针和样品相对位置FusionScope的创新功能之一是剖面成像，即在测量时可以实时观察AFM悬臂的针尖。通过这种剖面工作方式，即使是难以到达的样品区域也可以用AFM探针非常精确地接近，从而测量形状复杂的样品。自感应悬臂FusionScope中的AFM采用自感应悬臂，无需光学对准即可提供所有悬臂电信号，实现对样品表面进行高质量、低噪音测量。性能优异、简单易用。自感探针可以让电子束大限度地进入悬臂和样品区域，实现AFM和SEM的无缝结合。自感应悬臂功能也十分丰富，可以提供更多测量功能，如电导率、磁性、表面电位、温度及其他样品特征。自感应悬臂采用聚焦电子束诱导沉积（FEBID）工艺制备，针尖半径小于10 nm，保证了高分辨率导电或磁性成像，并具有出色的机械稳定性。任务面板FusionScope任务菜单帮助用户快速识别和执行所需的显微镜操作，并提供简单易用的向导式操作流程，帮助用户减少调整和管理硬件的时间，将更多时间用于收集样品图像和数据分析。用户界面定制FusionScope提供用户友好型软件界面，以满足用户或实验的需求。软件分为标准模式和高级模式，用户可根据具体需求进行个性化配置。软件支持日志功能和用户注释。数据处理每次实验都可以将数据自动存在在一个"experiment"文件中，确保在不同计算机之间方便进行数据转移和离线处理。在数据处理模块中，集成了第三方数据处理软件(例如用于AFM数据处理的Gwyddion软件)。FusionScope多功能显微镜参数AFM扫描范围 XY：22 x 22 μm （闭环）扫描范围 Z：15 μm成像噪声：50pm @ 1kHz悬臂探头：自感压阻式测量模式：Contact, Dynamic, FIRE, MFM, C-AFM, …SEM电子源：热场发射加速电压：3.5 kV – 15 kV探头电流：5 pA – 2.5 nA（典型值为300 pA）放大倍数：25X – 200,000X探测器：In-Chamber SE Everhart-Thornley样品最大样品直径：20 mm（12 mm 关联工作模式）最大样品高度：20 mm最大样品重量：500 g对齐方式：全自动样品腔典型腔室真空：1-10 μTorr抽真空时长：5 min样品托倾斜角度：-10 °至 80°系统用电：200-230 VAC，50/60Hz；单相 15 A尺寸（宽 x 长 x 高）：690 x 835 x 1470 mm重量：330 kg应用领域通过结合SEM和AFM的互补优势，FusionScope打开了通往全新应用可能性的大门！涵盖多个应用领域：材料科学、纳米力学、半导体或太阳能电池行业、生命科学......适用材料：纳米线、2D材料、纳米颗粒、电子元件、半导体、生物样品……半导体表征对于形状复杂的半导体，FusionScope能够通过精准定位到样品的不同位置进行表征，同时得到精确表面形貌。探针定位到电极位置并进行扫描；探针定位到玻璃表面并进行扫描电极处表面形貌 玻璃处表面形貌使用AFM原子力显微镜分析电子元件或半导体器件模式：SEM, AFM Topography样品：CPU芯片对于AFM用户来说，纳米结构的精确定位和分析是一项具有挑战性且耗时的工作，近年来晶体管尺寸的减小对质量控制和失效分析也提出了更高的要求。借助FusionScope及其剖面成像功能，用户可以轻松地将悬臂尖端定位至感兴趣的区域，并对样品进行高分辨率 AFM 分析、亚纳米级分辨率3D形貌测量、导电 AFM测量等。(图1) CPU芯片的SEM图像，悬臂位于测试区域上方(图2) 晶体管结构特定区域的AFM图像(图3) 晶体管结构特定区域的SEM图像使用AFM原子力显微镜表征二维材料模式：AFM Topography样品：石墨烯从纳米机电传感器及光学器件的许多应用研究中，二维材料的独立悬浮膜引起科学家的极大兴趣。其表征大多依赖于扫描探针显微镜技术，如原子力显微镜（AFM）。然而，与刚性样品不同，悬浮的2D原子级薄膜是柔性的，在AFM测量过程中会受到机械干扰，这可能导致实验结果的偏差。FusionScope可以通过在实时观测膜变形来规避这些缺点，从而更好地获取AFM数据。(图1) 石墨烯的SEM图像，悬臂位于测试区域上方(图2) 石墨烯膜的关联SEM和AFM图像(图3) 施加低负载的石墨烯的AFM形貌图(图4) 施加高负载的石墨烯的AFM形貌图使用FusionScope进行原子台阶表征模式：AFM Topography, SEM样品: 热解石墨（HOPG）为了检测样品表面区域的最小变化，需要尽量减少AFM机械和电气噪音的影响，这在高真空系统中尤其具有挑战性。FusionScope性能优异，实现了真正的原子分辨率的AFM测量。(图1) HOPG的SEM图像，悬臂位于测试区域上方（剖面成像模式）(图2) HOPG样品三维形貌图(图3) 图2HOPG样品的高度（0.3 nm）纳米力学通过SEM提供的视野，研究者可以实现对特定样品表面的力学性能测试，并且能够清晰地观察探针对样品的压痕过程。无论是想要探究材料的硬度、弹性模量还是断裂韧性，都能在FusionScope中得到答案。探针测量单根硅纳米柱动态过程探针测量单根硅纳米柱快闪图样品的力学曲线FusionScope可以轻松实现在纳米压痕实验中的力学控制，以静制动，原位视野下轻松测试，可视化呈现纳米压痕。通过设置不同的力测试纳米压痕的效果，得到样品硬度信息。探针在样品表面压痕FusionScope能够快速对具有不规则表面的载药颗粒进行力学测试与动态测量过程。如下样品主要成分为VitaminC，通过扫描电镜可以观察到样品表面崎岖不平，粗糙度较高，在进行力学测试过程中，能够通过SEM观察到一种阶段式下针过程，从而得到分段式力学曲线，二者相辅相成，互为验证。倾斜样品的力学曲线测量快闪图阶段式力学曲线测试结果材料科学FusionScope可以针对感兴趣的区域进行结构、机械、电学、磁学和化学性质分析，实现对样品的全方位表征。使用磁力显微镜表征钴层材料的形貌与磁性分布下图所示利用FusionScope对用离子束刻蚀（FIB）加工的钴层进行磁特性表征。这种研究可能涉及测量钴层的磁场强度、磁化曲线、磁畴结构等参数，以便更好地了解钴层材料在磁性方面的性能。Topography & MFM overlayAu纳米线的精准测量通过拓展性配置的机械手，将Au纳米线的位置进行精确校正之后对末端进行3D形貌扫描。自旋体纳米棒表征人工构建的自旋体纳米棒Ni81Fe19，对其形貌进行精准定位扫描，关联AFM与SEM数据结果，同时关联起三种不同结构对应的磁性结果。三种磁性纳米棒的SEM关联AFM形貌表征结果铁镍纳米棒的极化磁性测量以及与AFM形貌的对应。使用MFM磁力显微镜表征磁性相位结构模式：MFM样品：双相不锈钢双相不锈钢是含有奥氏体和铁素体相的混合物，与标准钢相比，具有更高的机械强度和延展性。原位磁力显微镜（In-situ MFM）可以详细分析不同类型的双相不锈钢样品的磁性。使用FusionScope可以轻松观察不锈钢表面的不同相，并且AFM探针很容易定位在两个不同相的晶界处。使用磁性悬臂可以分析不锈钢的磁性并对铁磁区域进行高分辨成像。(图1) AFM探针在双相不锈钢上方的SEM图像。(图2) 双相不锈钢晶界处的SEM图像。(图3) 双相不锈钢晶界处的AFM形貌图。(图4) 双相不锈钢晶界处的MFM图像显示铁磁性和顺磁性相结构。使用EFM静电力显微镜评估材料晶界模式：EFM样品：BaTiO3多晶BaTiO3陶瓷的宏观电子性能由单晶间形成的晶界决定。为了更好地了解BaTiO3的整体电阻，科学家必须能够在纳米尺度表征晶体材料中的电位差。这种表征可以通过静电力显微镜（EFM）完成。FusionScope可以进行原位EFM分析，利用SEM的高分辨率轻松识别晶界，并直接在感兴趣区域进行EFM分析。(图1) 同一区域SEM、AFM和EFM信号的3D综合数据(图2) BaTiO3样品的SEM图像(图3) BaTiO3样品的AFM形貌图(图4) BaTiO3样品的EFM相位图像(+1.5V)生命科学FusionScope可以准确、轻松地获取生物样品的纳米级形貌，特别是对于难以触及的或非常小的样品区域，实现高精度物性表征，如3D形貌，刚度和粘附力等…使用AFM原子力显微镜表征常规难以测量的样品区域模式：AFM Topography样品：骨骼对难以触及的样品区域，进行SEM/AFM分析非常有挑战，比如骨组织的分析，特别是骨表面的空隙和胶原纤维的详细测量。FusionScope可以对空隙结构进行快速简便的识别和成像。通过SEM的大视野识别空隙，并可将悬臂直接定位在空隙结构上，然后通过AFM实现亚纳米分辨率的空隙和胶原纤维的真实3D形貌。(图1) 骨骼表面的SEM图像，悬臂位于测试区域上方(图2) 空隙结构的SEM图像(图3) 空隙结构的AFM 3D形貌图(图4) 位于空隙结构内的胶原纤维的高分辨率AFM图像使用AFM原子力显微镜表征贝壳表面的硅藻模式：AFM Topography样品：贝壳利用FusionScope显微镜，可以精准定位贝壳表面上的硅藻。在剖面模式下，用户可以轻松地将AFM悬臂尖端定位到选择的硅藻结构上，并进行3D形貌分析。(图1)骨骼表面的SEM图像，悬臂位于测试区域上方（剖面成像模式）(图2) 贝壳表面硅藻结构的SEM图像(图3) 硅藻表面的AFM 3D形貌图测试数据标准AFM 静态模式（接触模式） 在静态模式或接触模式下，针尖与样品表面连续接触，针尖针尖原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力。当针尖轻轻扫过样品表面时，接触的力量引起悬臂弯曲，进而得到样品的表面图像。在接触模式下获得的聚合物表面的AFM图像 动态模式 动态模式，也称为间歇性接触或Tapping模式，悬臂在其谐振频率附近振荡。当探针靠近表面时，探针和样品之间的相互作用导致振荡幅度发生变化。当悬臂扫描样品时，调整高度以保持设定的悬臂振荡幅度，进行AFM成像。左：在动态模式下测量的石墨烯膜的关联SEM和AFM图像；右：单个石墨烯膜的高分辨率AFM形貌图像FIRE模式FIRE模式是一种新型的、间歇性接触AFM技术。FIRE模式基于在高于驱动频率、但低于悬臂共振频率的频域中，对悬臂信号进行检测，得到样品刚性与粘附力信息。利用FIRE模式测量双组分聚合物样品（聚苯乙烯和聚烯烃弹性体）的AFM形貌图像（左）和刚度（右）C-AFM导电原子力显微镜标准C-AFM导电AFM（C-AFM）通过使用尖锐的导电针尖同时测量样品的形貌和导电特性。左：硅衬底上Au电极结构的SEM图像；中：电极结构的AFM形貌图像；右：电极结构的电导率图 静电力显微镜（EFM） 静电力显微镜（EFM）是一种相位成像技术，通过测量样品衬底电场的成像变化，从而研究表面电位和电荷分布。BaTiO3陶瓷的SEM图像显示出不同的晶界（左）；AFM图像（中）；EFM相位图像（+1.5V偏置电压） 磁力显微镜 磁力显微镜（MFM）是一种相位成像模式，通过使用磁性AFM探针来研究磁性材料的性质。多层Pt/Co/Ta样品的AFM图像（动态模式，左）及相同区域的MFM图像（右）扫描电子显微镜（SEM）使用聚焦电子束，FusionScope可以实现样品表面的高分辨率成像。凭借其高灵敏度的SE模式，FusionScope可以在几纳米级别获得形貌信息。锡球的SEM图像，图像水平场宽度为50 μm（左）；高倍率显微照片显示了左图中破碎锡球的表面细节（右）SEM扫描电镜其他功能包括：★ FusionScope可以从毫米级到纳米级进行扫描，因此易于定位，且具有非常的高分辨率；★ 高度自动化，为用户提供清晰锐利的图像；★ 倾斜度高达80°，轮廓视图显示样品的“侧面”特征；★ 快速分析功能，广泛应用于生物和医学科学、陶瓷、质量控制、失效分析、法医学调查、生命科学和半导体检测等应用领域。

多功能扫描探针显微镜AFM100 Plus/AFM100系统 AFM100 Plus/AFM100系统是以在研发、生产、教育等各种场合普及AFM应用为目的，并追求操作性、可靠性及高效率观察的通用型高分辨扫描探针显微镜系统。 预装探针系统实现可靠的探针更换 一键自动测量/处理/分析 利用AFM标记功能实现同视野的AFM－SEM－EDS观察分析

多功能扫描探针显微镜AFM100 Plus/AFM100系统 AFM100 Plus/AFM100系统是以在研发、生产、教育等各种场合普及AFM应用为目的，并追求操作性、可靠性及高效率观察的通用型高分辨扫描探针显微镜系统。 预装探针系统实现可靠的探针更换 一键自动测量/处理/分析 利用AFM标记功能实现同视野的AFM－SEM－EDS观察分析

仪器简介：NTEGRA平台是一个革命性的技术概念，在拥有所有SPM技术：原子力/磁力/静电力/表面电势/导电原子/扫描电容/压电力/纳米刻蚀等功能的同时，还能配备近场光学显微镜/共聚焦拉曼/外加磁场/超声原子力/纳米压痕等功能！。Prima则是这个平台中的基础SPM，可以在此基础上根据科 研需求提供多达40 中SPM 功能，其中的每种功能都有一套在其专业领域有着杰出表现的独特配置。可选择配备独一无二的双扫描结构可以将扫描范围扩展最大到200x200um。技术参数：在大气环境下：扫描隧道显微镜/ 原子力显微镜(接触 +半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/力谱线/粘附力成像/磁力显微镜/静电力显 微镜/扫描电容显微镜/开尔文探针显微镜/扩展电阻成像/纳米压痕/刻蚀: 原子力显微镜(电压+力)/压电力模式/超声原子力/外加磁场/温度控制/气氛控制等功能。在液体环境下：原子力显微镜(接触+半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/粘附力成像/力谱/刻蚀:测量头部：AFM和SPM可选配液相模式和纳米压痕测量头 扫描方式：样品扫描、针尖扫描、双扫描最大样品尺寸：样品扫描：直径40mm，厚度15mm。针尖扫描：样品无限制 XY样品定位装置：移动范围5× 5um，精度5um 扫描范围：90× 90× 9um（带传感器/闭环控制），可选配低电压模式实现原子级分辨XY方向非线性度：&le 0.5%（带传感器/闭环控制） Z方向噪音水平（带宽1000Hz时的RMS值）：闭环控制扫描器（典型值0.04nm，最大0.06nm）光学显微系统：配备高数值孔径物镜后，分辨率可由3um提升至1um样品温度控制：室温~300℃ 主要特点：Ntegra Prima 是一个基本的SPM 系统，在这平台上可以根据科研需要提供40 种SPM 功能。 Ntegra Aura 是一款能在气氛控制以及低真空环境下工作的SPM，专门用于电磁等测量。 Ntegra Therma 只有10nm/h 热漂移能长时间可靠工作，并且能在-30℃~300℃环境下测量。 Ntegra Maximus 能够测量100mm 的大样品，在半自动模式下可以连续工作。 Ntegra Solaris 是一款近场光显微镜，能够提供所有近场探测模式，从而突破衍射极限。 Ntegra Vita 能与倒置显微镜联用，专门用于生物方面的检测。 Ntegra Tomo 能与超薄切片机联用，且制备用于研究的纳米片层的新鲜表面（也适用于电镜）。 Ntegra Spectra 集成了AFM-SNOM-Confocal-Raman 从而实现针尖增强（TERS）

DM2700 P 手动多功能偏光显微镜 除了研究晶体结构，也是研究矿物、塑料和聚合物、药物药品或燃料和接合剂的好选择。如果您不需要全自动化和最大可再现性，Leica DM2700 P 就是您的良好仪器选择。除自动化以外，它还能提供毫不逊色于 Leica DM4 P 的灵活性。在 5 倍可调中物镜转盘上使用 5 个物镜获取准确无误的样品信息在 22-mm 视场中获得大概览图借助入射光观测的 UC-3D 照明，获得效果良好的对比度具有高放大倍率和高数值孔径的无应力物镜是该项应用的必备条件。使用特殊 63 倍徕卡物镜，能满足偏振等级 5 的最高要求，从而获取优质结果。

AFM5100N除了激光检测方式之外，全新的「自检测悬臂」，在保证高分辨表面形貌观察的同时，大大简化了AFM悬臂操作。特点1. 简便的悬臂安装通常的悬臂是非常渺小而且很难操作，内部装有传感器的「自检测悬臂」比普通的AFM探针要大得多，容易拿取，安装非常简单方便。2. 不用调整激光光斑的自检测方式激光检测方式的探针需要调节激光光斑的位置，操作复杂，而采用自检测方式的「自检测悬臂」无需调节激光光斑。3. 精确的悬臂定位悬臂的机械结构，能够以俯视方式直接观察悬臂的位置，从而轻松调整样品的测量的位置。除此之外，更加尖锐的探针提高了分辨率。4. 方便的操作导航系统通过流程图形式的导航系统，任何人都可以轻松地进行高分辨表面测量。另外，通过设定样品的软硬度和凹凸系数等参数，能够简单确定测量条件。5. 紧凑的主机主机上包含减震台、隔音罩、光学显微镜等附件，安装紧凑，体积小巧。6. 优越的扩展功能通过激光检测方式，能够扩展各种各样的选配功能。另外，只要插拔一根电缆就能够切换成激光检测方式。

AFM5300E是一款环境型原子力显微镜，它的环境控制单元可以使样品在大气中、真空中、溶液中等环境中进行测量。AFM5300E还具有高低温控制功能，可以检测温度对样品表面形貌和物理特性的影响。特点1. 环境控制功能（大气，真空，液体，温控等）AFM5300E能够实现高真空的测试环境，最大限度减小样品表面吸附水对测试的影响，实现精确的物理特性测量。 真空环境下可以实现更大范围的温度控制。另外，新开发的『温度扫描功能』可监视样品Z方向的热胀冷缩，通过控制反馈信号，使悬臂在变温环境下连续测试样品表面的物理特性。（专利3857581号、专利3926638号）●大气中　●液体中　●真空中　●特殊气氛（流量控制）●温度控制 加热?冷却(-120～300℃)　高温(室温～800℃)●湿度控制(0～80%)●外加磁场（水平、垂直、面内旋转、max 5000 Oe ）2. 简便操作（综合型Holder Flange）通过采用『综合型Holder Flange开合功能』，样品和扫描器更換更为方便的同时，免去了以往环境型SPM的样品更換后的所需的光轴调整。 也省去测试模式切换时的支架更換环节。3. 卓越的高性能采用了『Swing Cancel功能』，减轻了样品的浮动，降低了漂移。提高了纳米分析性能，提升了可信度。 漂移量：0.015nm/sec以下4. 通过减轻表面吸附水的影响，提高了电气性能的检测精度真空环境下减轻样品表面吸附的水分和污染物的影响，因而实现高分辨高灵敏的电学性能分析。

一、产品优势1、一键多通道荧光成像轻轻松松获取荧光图像。将Axioscope 5与LED光源Colibri 3和灵敏的单机版显微镜相机Axiocam 202 mono相结合，可以轻松实现多通道荧光成像。并且可以轻松切换荧光通道：紫外、蓝、绿和红外等。只需选择相关通道并按“拍图“键即可。接着，系统会接管任务并自动调整曝光时间、采集图像、切换荧光通道等重复步骤。大功告成：您得到叠加的多通道荧光图像，包括比例尺，甚至无需使用计算机。2、智能显微镜使您的数码成像更快捷Axioscope 5可以非常有效地记录您的标本。相机图像中显示的颜色和通过目镜看到的颜色完全一样。这款智能显微镜可自动调节亮度和白平衡，从而轻松地实现数码成像。您只需专注于样本，按下显微镜上的 “拍照“键就大功告成了！3、受益于均匀照明Axioscope 5使用其LED提供具有高色彩保真度的照明。不仅可以让您清晰地看到样品中的细微差别，并体验LED照明的所有优点，如√稳定的色温√低能耗√长寿命Axioscope 5配有光强度管理器，可在所有放大倍率下产生均匀的亮度。改变放大倍率时调整灯的亮度问题都可迎刃而解。这样也可以节省时间并减轻眼睛疲劳。

仪器用途：LW200实验室生物显微镜适用于医院的临床检验和高等学校的教学。同时可病理学，血液学，细胞学及微生物学的实验和研究。主要技术参数:1．双目镜筒：倾斜30 ° ，可旋转360 ° 瞳距55mm-75mm 视度± 5° 2．平场目镜：高眼点10X/20mm3．消色差物镜:4X、10X、40X（S）、100（S、Oil）4．总放大倍数：40X-1000X5．载物台：尺寸160mm*140mm 移动范围 75*50mm6．聚焦镜：可调式阿贝聚焦镜NA1.25 孔镜光栏 滤色片座7．调 焦 ：粗微动同轴 升降范围25mm 微动格值0.002mm 8．光 源：可调卤素灯6V20W选购件：1、目镜：WF16X/12mm，WF20X/9mm2、消色差物镜：20X，60X3、摄像系统（包括数码相机，数码摄像头，测量软件等）4、暗场聚焦镜，相称装置

仪器简介：扫描探针显微镜(SPM)平台是为了在纳米尺度研究样品的表面性质而设计的。它能够让我们在几微米到几个埃的尺寸下肉眼观察并定量测量样品的力学性质（硬度，弹性，粘度），电学性质（导电性，电容性，表面电荷分布）以及磁的性质。Solver 平台拥有超过40 种测量方法，并且实现在大气，气氛控制以及液体环境下进行工作。技术参数：测量模式： STM/ AFM (接触 + 轻敲+非接触)/ 横向力/ 相位/ 力调制/力谱/粘附力/ 磁力/ 静电力/ 开尔文/ 扩展电阻/纳米压痕/纳米刻蚀: AFM (电压刻蚀 + 力刻蚀)扫描方式：样品扫描、针尖扫描、双扫描测量头部：AFM和SPM，可选配液相模式最大样品尺寸：样品扫描：直径40mm，厚度10mm。针尖扫描：样品无限制XY样品定位装置：移动范围5× 5um，精度5um光学系统：根据客户需求配置样品温度控制：室温~130℃ 主要特点：Solver P47-PRO SPM 是一种可以在空气、液体和室温～ 130° C 的可控气氛下对不同的样品进行高精度综合分析的通用仪器。此型号不仅适合小公司或学校的试验室使用，同样适合大的研究中心使用。其现代化的设计提供了最高的测量精度和大量的SPM技术。可选配独一无二的双扫描结构可以将扫描范围扩展到200x200um。该型号仪器现已装备到全世界600多个实验室，其中中国大陆正在使用的用户达40多个。

MultiMode平台是世界上应用zui广泛的扫描探针显微镜(SPM)，已经在全球成功安装使用了近万套。它的成功基于其ling先的高分辨率和高性能，无与伦比的多功能性，以及已经得到充分证实的效率和可靠性。现在，MultiMode扫描探针显微镜以其独特的 ScanAsyst模式，采用其先进的自动图像优化技术，使得用户无论具备什么技能水平，也能在材料科学，生命科学，聚合物研究领域的研究中zui迅速地获得符合要求的研究成果。SPM的控制电路也是影响性能的重要因素，第五代的NanoScope V控制器具有先进的数字架构：具有高数据带宽，低噪声数据采集和无与伦比的数据处理能力。布鲁克的zui先进的技术已经开创工业上的新标准，例如：ScanAsyst 模式& PeakForce QNM 模式。Multimode 的加热和制冷装置能对样品进行加热与制冷，适合于生物学，聚合物材料以及其他材料研究应用。采用加热和制冷装置后MULTIMODE 可在零下35℃到250 ℃范围内对样品进行温度控制；并可以在水，溶液或缓冲剂的液体环境中进行扫描。当在气体环境下对样品进行扫描时，采用环境控制舱可以在大气压标准下控制环境气体的成分。

技术参数：测量模式： STM/ AFM (接触 + 轻敲+非接触)/ 横向力/ 相位/ 力调制/力谱/粘附力/ 磁力/静电力/ 开尔文/ 扩展电阻/纳米压痕/纳米刻蚀: AFM (电压刻蚀 + 力刻蚀) 扫描方式：样品扫描测量头部：AFM和SPM（全内置自动切换），可选配液相模式和纳米压痕测量头最大样品尺寸：直径20mm，厚度10mmXY样品定位装置：移动范围5×5um，软件控制电动定位XY样品定位装置最小步进：0.3um扫描范围：100×100×10um（三维全量程闭环控制扫描器），3×3×2um（低电流模式扫描器）XY方向非线性度：≤0.1%（闭环控制扫描器）Z方向噪音水平（带宽10~1000Hz时的RMS值）：闭环控制扫描器（典型值0.03nm，最大0.04nm），低电流模式扫描器（0.02nm）激光光路系统：电动调节，全自动准直视频显微系统：软件控制电动变焦和连续变倍，软件控制变换视野，分辨率2um样品温度控制：室温~150℃主要特点：全自动化桌面型SPM直观易用的软件界面全自动切换AFM和STM扫描头自动调整激光光路（悬臂—激光—四象限光电探测器）软件控制的电动样品定位平台视频显微镜系统软件控制电动聚焦和变倍视频显微镜系统软件控制定位样品观察视野电动开关样品室门切换不同的测量模式，软件自动调节最优参数人体工程学设计

一、XSP-10CC生物显微镜的用途和特点： XSP-10C透反射型生物显微镜广泛用于生物学、细菌学、组织学、药物化学等研究所工作，在医疗中可进行临床试验，在学校实验室可供教学之用。采用双目镜筒及人工照明，照明可连续调节亮暗，目镜筒可360度自由转动。本显微镜可配用偏光等配件。适合观察透明和不透明物体。 XSP-10CC电脑型透反射生物显微镜是将精锐的光学显微镜技术、光电转换技术、计算机成像技术结合在一起而开发的产品。既可人工观察显微图像,又可以在计算机上很方便地适时观察显微图像，并可随时记录观察图片,从而对观察图像进行分析,处理等,还可以保存或打印出高像素图像照片。二、仪器的主要技术参数：名 称参数规格观察筒三目观察筒，30度倾斜，瞳距调节范围：55-75mm,视度可调目镜WF10X（视场φ18mm） WF16X（视场φ11mm）物镜4X/0.1210X/0.2540X(弹簧)/0.60100X(油 弹簧)/1.25转换器四孔物镜转换器，内向式滚珠内定位，声响定位调焦系统粗微动同轴调焦机构，调焦行程：30mm,微动格值:0.002毫米，带锁紧和限位装置，防止镜头碰触样品和调节调焦松紧反射偏光装置检偏器：三目观察头内置推拉式检偏器起偏器：插入式起偏器，可旋转载物台双层机械载物台，大小：185*140mm，移动范围：75*50mm 落射照明系统6V20W卤素灯，亮度可调，灯丝位置可调内置视场光栏、孔径光栏，转盘式蓝、黄、绿、磨砂滤色片组光源6V 20W 卤素灯,亮度可调阿贝聚光镜 NA.1.25 ，可调孔径光栏，中心可调，可上下升降集光器：可调视场光栏蓝色滤色片电脑摄像系统CK-500CK-500彩色摄像机: 最高分辨率：2560×1920，功耗小，连接简单：USB3.0 图像质量好 ,色彩还原性好 ,图像稳定，所有摄像机均经过长时间测试 ,体积小，安装方便，采集方式:连续采集,图像大小可调,增益调节,曝光时间调整,增益调。显微软件1、可进行图像尺寸、亮度、增益、曝光、RGB颜色等多种处理方法。2、当前图像放大、缩小、剪切、背景等设置。3、对图像中的点、线、圆、圆弧、角度、矩形及任何图形几何参数的测量。测量工具使用方便直观。是显微图像测量与分析的有效工具。4、测量精度1微米，支持报告编辑，多格式输出。四、仪器装箱单：序号名称数量单位附注1透反射生物显微镜主体1台XSP-10CC210X目镜1对316X目镜1对4消色差物镜4X/10X/40X/100X各 1个5反射灯箱1个6阿贝聚光镜1只7卤素灯灯泡1个6V20W8保险丝1根0.5A9电源线1根10彩色数字摄像机CK-5001个11摄像机接口1个12摄像安装光盘1张13USB数据线1根14测微尺0.01mm1块15仪器防尘罩1个16使用说明书1份17出厂合格证1份18保修卡1份

Dimension FastScan 原子力显微镜 （AFM） 系统经过专门设计，在不降低分辨率、不失去力控制、不增加设备复杂性，不带来繁琐操作的前提下，即可实现快速扫描。使用 FastScan，您可以即时快速地获得 AFM 图像，实现高性能 AFM 的预期高分辨率。无论您是以 125Hz 扫描样品表面寻找查找感兴趣的区域时，或是在气相或流体中以每秒 1 秒的速率采集AFM图像，都能用FastScan得到优异的高分辨图像。Dimension FastScan这一变革性技术重新定义了 AFM 仪器的使用体验。Dimension FastScan 的每个方面（包括开放的大样品台设计和预先优化的软件设置）都经过专门设计，实现极其简易的操作。快速找寻样品、快速进针、快速扫描、低噪音、极低的漂移速率（低至200 pm每分钟）、扩展性极强的直观用户界面，再与世界知名的 Dimension 大样品台相结合，Dimension FastScan为操作者提供了全新的AFM使用体验，更快地得到可供发表的数据。无须经过繁复的调整和优化，Dimension FastScan的 用户可以立即获得高质量的结果。

RTS系列拉曼光谱仪RTS-II多功能激光共聚焦显微拉曼光谱系统RTS-II 多功能激光共聚焦显微拉曼光谱系统，基于新一代显微共焦技术，具有良好扩展性，可根据需求拓展为以拉曼为主要功能的显微光谱工作站，是您科学研究的最佳选择 ！ 采用未经任何改造的科研级正置Leica显微镜，可保留显微镜一切功能 采用紧凑稳定的拉曼光路，减小光程，提高系统稳定度和重复性 内置532,638,785常用激光器，激光光路固定无需调节，可外置扩展其他激光器 采用最新的四光栅光谱仪，专利的自动聚焦，在轴扫描等多项最新技术 采用深制冷的拉曼专用光谱CCD相机，峰值量子效率QE90%。并可扩展EMCCD，ICCD，SCMOS， InGaAs阵列，PMT等探测器，扩展系统功能RTS-II多功能激光共聚焦显微拉曼光谱系统功能扩展： 显微共振拉曼可在标准RTS-II 系统基础上，通过升级可调谐的CW 激光器（调谐范围275- 1100nm），升级光谱仪为三级联谱仪，可实现真正意义上的可调谐显微共振拉曼 时间分辨光谱系统可扩展与低重频皮秒及纳秒激光器+ICCD 联用，实现微区时间分辨荧光光谱及瞬态拉曼功能利用ICCD 独有的fast kinectic 功能，可以对不可重复的现象进行最快25000 帧/ 秒的采集速度，获得约40us 的时间分辨率 宽场显微光谱由于显微镜可以保留所有原始功能，因此只要在标准的RTS-II 系统上升级即可实现如暗场散射，微区透射反射谱等功能。TCSPC 系统可扩展与可调谐超连续白光激光或高重频皮秒/ 飞秒激光联用，实现微区荧光寿命及FLIM定制类服务开放式显微镜，正置+ 倒置显微镜利用倒置显微镜的无限远光路，可以实现正置和倒置共用同一个光路可以在标准倒置显微镜的基础上升级正置部分，做到双向激发双向收集，适用于光波导传输特性对的研究多功能激光共聚焦显微拉曼光谱系统升级服务开放式的设计可以满足基于客户的显微镜升级为RTS-II 的需求开放式的设计可以满足基于客户的光谱仪升级为RTS-II 的需求RTS-mini 一体式拉曼机顶盒RTS-mini 是我司最新研发的光纤耦合的共聚焦拉曼系统。与RTS-II 共享光谱仪配置， 采用激光器内置，光纤耦合入光谱仪的方式，提高系统的灵活性。并可与样品无法移动的实验环境，如低温探针台，DSC 等能极其便利的耦合起来。小巧的体积可用于手套箱，工业在线监测等应用。另外由于配置了标准的接口，可与任何主流正置显微镜搭配，做共聚焦显微升级，可获得同样的性能。测试实例：硅样品， 减背底的三阶峰拉曼光谱图，计算信噪比：62.9：1 测试实例：硫样品； 测试条件：镜头下激光功率；10mw，积分时间，0.1s

500型Lumascope单激发光源荧光显微镜与传统显微镜相比，具有较高的性价比，可视化和捕捉高分辨率图像。500型Lumascope显微镜采用先进的光学技术，在400型显微镜上配备了LED光源、Semrock滤光片和CMOS传感器。直接USB与电脑连接，可轻松记录图片、Time-lapse延时成像、视频，由于其小巧、便携可在培养箱、低氧工作站等环境控制工作站中使用。500型Lumascope显微镜提供绿色荧光成像，其倒置、多功能的设计可容纳载玻片、培养皿、微孔板、培养瓶，您还可通过可移动矩形载物台进行移动、调整（另售）。该显微镜通过USB连接到电脑，可直接将拍摄的图片传送至所连接的电脑上，方便操作与数据存储。500型配以标配物镜（2.5×、4×、10×、20×、40×、60×100×（油镜））以获取清晰、锐利的图像，而不只是一个“数字变焦”。 500型可进行延时摄影和实时视频记录，视频输出每秒8帧。此外，您可根据实验需求选配相应的选配件来增强透射光成像。性能与特点? 多功能显微镜可对培养皿、微孔板、培养瓶内细胞进行可视化观察；? 结构简单、小巧型设计放置于培养箱、低氧工作站等环境控制工作站中使用；? 功能完善的软件记录系统可进行任意时间点延时拍摄；? 采用先进光学技术，配备LED光源、激光驱动与弧光灯系统；? 通过USB与电脑连接，由电脑进行直接供电，易与快速安装，操作简单；? 可检测绿色荧光基团，包括FLTC荧光染料，GFP绿色荧光蛋白，Fluo-4钙离子荧光探针；? 可选配相差配件从而增强透射光成像，强未染色样品的可视化图片

什么是测量显微镜？他是一款专业用于测量物体的高度的显微镜，就说苏州汇光科技的HJG系列测量显微镜,他是一款新型、数字化测量显微镜。主要用于生产车间、计量检测室的产品零件尺寸检测。该机种广泛采用LED照明，计数器有双轴和三轴两种，根据镜筒、照明装置、升降机构、物镜，以及对焦机构的选择不同，有A、B、BT、U、F等多种子型号可供用户选择。次微米的精度、出色的多功能性，适合高性能零件、电子组件的三维测量。无论是大是小、简单还是复杂、新手还是专业人士，量身定做的MM系列测量显微镜完全满足您量测的需求。您还可根据自己需求选配电脑,软件,相机等,详情可咨询,谢谢苏州汇光供应的测量显微镜还有MS系列精密测量显微镜，STM7奥林巴斯工具测量显微镜，功能效果均不同，详情可浏览.或者您直接电话咨询.我们将有专业的技术人员为您解答哦.

一直以来，高品质的显微镜组件都是用户所值得信赖的“工作伙伴“，高效实用也一直都是Evident在显微镜组件开发上的追求。作为BX显微镜系列的一部分，全新BXC显微镜组件正式与大家见面，其结构紧凑，专为OEM集成和开发而设计。同时，全新BXC系列显微镜组件，将以其多功能性和模块化构建，成为检测或成像应用的理想选择，无论是晶圆对准、凸块测量还是图像拼接，都可自如应对。系统设计和自动化高级选项，效率再提升多功能定向暗场暗场用于观察来自样品的散射或衍射光（例如：镜面或半导体晶圆上的划痕或缺陷），而MIX滑块无需专用的暗场光学组件，并通过16个可单独控制的LED增强了传统暗场，使您能够控制照射在样品上的光线方向。此外，这种通过使用MIX滑块实现的定向暗场技术，可以与明场、简单偏光或荧光观测相结合。自动对焦装置在BXC-FSU中，1级激光器使用主动多点传感来监测焦点位置的方向和焦点状态。这种传感器针对低对比度的样品（如裸晶圆）效果很好。使用独特的算法可输出稳定的对焦信号，而不受物镜放大倍率和周边光线所造成噪音的影响。命令参考手册、指导手册和示例软件，之后可在我们的网站上自行下载。多种多样的物镜转盘随着自动化需求的增加，对电动物镜转盘的需求也随之增加。随着自动化需求的增加，对电动物镜转盘的需求也随之增加。现在，U-D5BDREMC-VA 1级无尘室兼容电动物镜转换器，将使用抽真空方式来清除灰尘和其他颗粒。系统集成化，快速、简单BXC-CBRML和BXC-CBB控制盒占地面积小，无风扇，有多种安装方式（例如可安装到设备罩壳内的侧壁或顶部）