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焊接熔深检测显微镜

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焊接熔深检测显微镜相关的资讯

  • 便携式显微镜:工业检测、科研、考古的得力助手
    便携式显微镜之所以在工业检测、科研和考古等领域得到广泛应用,主要是因为它克服了传统显微镜笨重、不易移动、操作繁琐等缺点。便携式显微镜设计紧凑,重量轻,携带方便,可以随时随地进行检测。便携式显微镜的几个典型的应用场景如下:一、表面检测在制造业中,产品的表面质量对其性能和使用寿命至关重要。便携式显微镜可以快速准确地检测产品表面的微观缺陷,如划痕、凹坑等。便携式自动对焦显微镜MSBTVTY检测喷漆划痕二、电子行业在电子行业中,对元器件的检测要求非常高。便携式显微镜可以用于观察、检测电路板、芯片等元器件的微观结构,确保其质量。同轴光金相显微镜检测晶圆示意图三、金属加工金属加工过程中,常常需要对工件进行无损检测。便携式显微镜可以通过观察金属的微观结构和质量,以及焊接点的连接质量等,检测其内部缺陷,提高工件的质量和可靠性。便携式显微镜MSA600S检测刀具划痕四、纺织行业纺织品的纤维结构和品质对其性能和外观至关重要。便携式显微镜可以用于观察纺织品的纤维结构,检测其质量和均匀性。五、考古行业便携式显微镜是分析鉴定和保护文物工作最常用的分析工具之一。由于其小巧便携、价格便宜、实用性强、操作简单等特点,越来越多的博物馆、科研机构的科技考古实验室都配备了便携式显微镜。便携式显微镜多用于观察纸张、织物、陶瓷、青铜器、石器等各类文物,也可以在考古现场对土壤等进行微观观察,是考古时最常用的工具之一。便携式显微镜看古玩六、生命科学研究在细胞生物学和解剖学研究中,便携式显微镜有助于观察细胞、组织、器官的超微结构和形态特征,以及病理变化等问题。在医学诊断中,它能够帮助医生对皮肤、黏膜等部位进行快速、准确的检测和诊断,例如用于鉴别癌细胞、真菌感染、精子计数等。随着科技的不断进步,便携式显微镜的性能和应用领域还将继续拓展,为科研和实际应用带来更多可能性。
  • 胤煌科技发布显微镜不溶性微粒检测仪新品
    YH-MIP-0103型显微镜不溶性微粒检测仪检测介绍药典规定:按照中国药典0903章节的要求,不溶性微粒的检测有两个方法,光阻法不溶性微粒检查和显微镜不溶性微粒检查。随着光阻法收录入药典作为不溶性微粒检查的一个方法以来,由于其操作简单,检测速度快,无需制样等优点深受广大用户的喜爱,也便成了用户偏爱和较高一种的检查方法。而显微镜法不溶性微粒慢慢淡出人们视野。随着药学的发展,尤其是制剂学的飞速进步,各式新的剂型进入临床,如注射用乳剂,常见的有丙泊酚、中长链脂肪乳、三腔袋脂肪乳等,脂质体,混悬剂,滴眼剂,混悬剂,易产生气泡剂型等。此种注射剂剂型的特殊性,无法利用常用的光阻法检测不溶性微粒,因为其样品本身的不透明性、高粘度等原因,使得采用光阻法检测会产生假性结果,因为光阻法会将样品本身和气泡也作为颗粒计入。中国药典CP中规定所有的注射剂都要做不溶性微粒项目检查,故而显微镜法不溶性微粒检查设备是非常重要的选择。常规显微镜不溶性检查的缺陷常规显微镜不溶性微粒检查大家会采用一台简单显微镜,人工进行计数。此种操作的难点是:无法避免人为的原因导致计数的偏差,主观性太强;最重要的是人为计数对实验员眼睛的要求较高,用眼过度会造成视力过早下降,引起一些不必要的眼疾;操作不规范性,测试结果重复性差YH-MIP-0103系列显微镜不溶性微粒检测仪上海胤煌科技有限公司自主研发生产的全自动显微镜不溶性微粒检测仪YH-MIP-0103系列,从样品制备到测试完成有一套完整的方案。1)直接按照药典要求出具报告;2)全自动进行滤膜全扫描,并进行颗粒图片分析;3)可以区分颗粒性质,鉴别不溶性微粒的来源,是金属还是纤维;4)按照颗粒性质进行归类分析统计;5)光阻法检测不通过时,作为光阻法不溶性微粒的一个验证;显微镜不溶性微粒检测仪设备构成样品过滤装置,烘干装置,检测分析系统,电脑等。检测分析系统可以根据用户要求配置奥林巴斯体式显微镜、奥利巴斯金相显微镜、徕卡金相显微镜、尼康金相显微镜等。显微镜不溶性微粒检测仪应用领域应用范围:乳剂、脂质体、滴眼剂、混悬剂、易产生气泡剂型、粘度大制剂等执行标准:中国药典CP,美国药典 USP 788、USP 789,欧洲药典 EP,英国药典 BP2013,日本药典JP等YH-MIP-0103系统介绍:组成:显微镜颗粒分析系统既可以观察颗粒形貌,还可以得到粒度分布、数量、大小、平均长径比以及长径比分布等,为科研、生产领域增添了一种新的粒度测试手段;该系统包括光学显微镜、数字CCD 摄像头、图像处理与分析软件、电脑、打印机等部分组成;是传统显微测量方法与现代图像处理技术结合的产品;软件:测试软件具有操作员管理系统、测试标准、零件测试模板、图像存储、颗粒追踪、报告输出、清洁度分析等功能;全面自动标准选择、颗粒尺寸设定、颗粒计数,或按用户设定范围计数,自动显示分析结果,并按照相关标准确定产品等级;专业软件控制分析过程,手动对焦,手动光强,自动扫描,自动摄入,自动分析;专用数字摄像机将显微镜的图像拍摄及扫描;全自动膜片扫描系统,无缝拼接, 数字化显微镜分析系统;数据传输:R232 接口数据传输方式将颗粒图像传输到分析系统; 颗粒图像分析软件及平台对图像进行处理与分析;显示器及打印机输出分析结果;特点:直观、形象、准确、测试范围宽以及自动识别、自动统计、自动标定等特点; 避免激光法的产品缺陷,扩展检测范围;YH-MIP-0103系统介绍:胤煌科技为您奉献的专门高性价比实验室显微镜。可以轻松地根据需要进行明场、暗场、相衬、荧光、偏光等多种观察;还可以连接照相机、数码摄像头,与电脑联机工作。1)物镜:独立校正光学系统,物镜拥有更高的数值孔径,成像更加平坦,清晰范围可达视场边缘。5X、10X、20X、30X、40X、50X、80X、100X 等可根据要求选配、经过防霉处理;2)目镜:高眼点,屈光度可调。10X 目镜视场范围有 20mm 和 22mm 两种配置。经过防霉处理;3)阿贝聚光镜:数值孔径 NA1.25,中心可调,带相衬板插孔,配孔径光阑调节装置,聚光镜孔径光阑采用与物镜色圈相同颜色的标记,方便您的使用;4)暗场聚光镜:专门用于暗场观察,安装方便;5)偏光装置:加配起偏器和验片器,您便可以轻松进行简易偏光观察;6)多功能转盘式相衬聚光镜:数值孔径 NA1.25,配置多功能相衬聚光镜,您可以配合 10X-100X 相衬物镜进行相衬观察,配合 10X-40X 物镜进行暗场观察,也可以明场观察;7)内倾式转换器:方便您放置切片,变换物镜进行观察;8)机械载物台:平台尺寸大于 100*100mm,可容纳 2*50mm 快切片,配切片定位夹;X/Y 方向移动范围大于 50*50mm。低位同轴移动手轮;9)无导轨机械载物台:平台尺寸大于 100*100mm,可容纳 2*50mm 快切片,配切片定位夹;X/Y 方向移动范围大于 50*50mm,低位同轴移动手轮,调节手轮可以根据您的用手习惯任意安装在载物台的左手或右手一侧;10)电动载物台:平台行程:大于 80*70mm;行程:2000μm;定位精度:≤±5μm;典型分辨率: 单步 0.625μm;11)观察筒:双目或三目铰链式观察筒;三目分光比 20/80,可以轻松与数码摄像头或照相机连接工作;视场较高可配置到 22mm;有 48-75mm和 52-75mm 两种不同的双目瞳孔,调节距分别适用于亚洲和欧美人士使用,您可以根据自己双目距离作出灵活的选择;12)粗微动手轮高度可调:根据您手形的大小,粗微动手轮高度可调,为您的手臂带来轻松和舒适;13)照明系统:6V/20W、6V/30W 卤素灯或者 LED 多种光源可供选择。抽屉式的灯座设计让您只需简单地拔出、插入便可方便地更换灯泡;14)高效率的独立散热系统:即使在 6V/30W 卤素灯 48 小时不间断照明的环境下,机身也不会烫手,完全解决了长期困扰研究人员的机身发烫问题;15)增高器:果您体型高大,可选配增高器,保证您观察时的坐姿更加舒适;16)搬运把手:保证您移动显微镜时轻松安全;YH-MINP-0103产品配置 显微镜不溶性微粒检测仪技术参数测试范围: 1 μm - 500 μm放大倍数:40X-l000X 倍比较大分辨:0.1 μm显微镜误差:0.02(不包含样品制备因素造成的误差)重复性误差: 5%(不包含样品制备因素造成的误差)数字摄像头(CCD):300 万像素标尺刻度:0.1 μm分析项目:粒度分布、长径比分布、圆形度分布等自动分割速度: 1 秒分割成功率: 93%软件运行环境:Windows 2000、Windows XP接口方式:RS232 或 USB 方式供货期:30 个工作日精 确 度:±3% 典型值;重合精度:10000 粒/mL(5%重合误差);分辨率:95%(按中国药典 2010 版校准)10%(按美国药典、ISO21501 校准)YH-MIP-0103分析过程: YH-MIP-0103系统介绍:美国药典 USP 788、USP 789、USP35-NF30、USP32-NF27;欧洲药典 EP6.0、EP7.0、EP7.8、EP8.0;英国药典 BP2013、BP2012、2010、2009;日本药典 JP16、JP15、JP14;印度药典 IP2010 版;WHO 国际药典 IntPh 第四版;中国药典 2010 年、2015 年;GB8368 输液器具;ISO21510;ISO11171 等。GB/T 11446.9-2013 电子级水中微粒的仪器测试方法。可根据客户要求,植入相应“光阻法颗粒度”测试和评判标准。 创新点:显微镜不溶性微粒检测仪全自动进行滤膜全扫描,并进行颗粒图片分析,可以区分颗粒性质,鉴别不溶性微粒的来源,是金属还是纤维按照颗粒性质进行归类分析统计,检测分析系统可按客户要求配置奥林巴斯体式显微镜、奥林巴斯金相显微镜等显微镜不溶性微粒检测仪
  • 普洛帝发布不溶性微粒检测显微镜计数系统新品
    普洛帝不溶性微粒检测显微镜计数系统PLD-MPCS2.0A不溶性微粒显微镜计数系统 不溶性微粒显微镜法 显微镜计数系统 显微镜不溶性微粒计数系统不溶性微粒显微镜计数系统是普勒新世纪实验按照普洛帝分析仪器事业部的规划,于2001年推向市场的成熟系统仪器;符合中国药典规范附录0903不溶性微粒检查法第二法(显微计数法}。观察颗粒形貌,还可以得到粒度分布、数量、大小、平均长径比以及长径比分布等,为科研、生产领域增添了一种新的粒度测试手段;不溶性微粒显微镜计数系统微纳米颗粒计数器为一种图像法粒度分布测试以及颗粒型貌分析等多功能颗粒分析系统,该系统包括光学显微镜、数字 CCD 摄像头、图像处理与分析软件、电脑、打印机等部分组成;测试软件具有操作员管理系统、测试标准、零件测试模板、图像存储、颗粒追踪、报告输出、清洁度分析等功能;全面自动标准选择、颗粒尺寸设定、颗粒计数,或按用户设定范围计数,自动显示分析结果,并按照相关标准确定产品等级;将传统的显微测量方法与现代的图像处理技术结合的产物;专业软件控制分析过程,手动对焦,手动光强(颗粒清洁度测试必须人为干预进行),自动扫描,自动摄入,自动分析;专用数字摄像机将显微镜的图像拍摄及扫描;全自动膜片扫描系统,无缝拼接,数字化显微镜分析系统;R232接口数据传输方式将颗粒图像传输到分析系统;颗粒图像分析软件及平台对图像进行处理与分析;显示器及打印机输出分析结果;直观、形象、准确、测试范围宽以及自动识别、自动统计、自动标定等特点;避免激光法的产品缺陷,扩展检测范围;现实NAS、ISO等国际标准方法的认可;提供“OIL17服务星”签约式服务;不溶性微粒显微镜计数系统产品应用:大输液、小针剂、水、水乙二醇、水溶液、溶水产品等检测!完全并高于2020版《中国药典》的要求,内置药典、麻醉器具、输液器具检测标准,可直接进行各种装量的注射液、无菌粉末,及医疗器具微粒污染滤除率检测;航空、航天、电力、石油、化工、交通、港口、冶金、机械、汽车制造、制冷、电子、半导体、工程机械、液压系统等领域;对各类液体如油田回注水、污水、自来水、纯净水、高纯水、电子级水、超纯水、口服液、酒、饮料、牛奶、清洗剂、润滑油等液体进行固体颗粒污染度检测及不溶性微粒的检测。不溶性微粒显微镜计数系统执行标准:GB/T 11446.9-2013 电子级水中微粒的仪器测试方法美国药典USP 788、USP 789、USP35-NF30、USP32-NF27;欧洲药典EP6.0、EP7.0、EP7.8、EP8.0;英国药典BP2013、BP2012、2010、2009;日本药典JP16、JP15、JP14;印度药典IP2010版;WHO国际药典IntPh第五版;中国药典2020年、2020年;GB8368输液器具;ISO21510;ISO11171等。0.1~3000μm的超宽范围、超高分辨率满足全球510多个标准要求。可根据客户要求,植入相应“光阻法颗粒度”测试和评判标准。不溶性微粒显微镜计数系统技术参数:订制要求:各类液体检测要求;测试范围: 1μm-500μm放大倍数:40X~l000X倍分辨率:0.1μm显微镜误差:0.02(不包含样品制备因素造成的误差)重复性误差: 5%(不包含样品制备因素造成的误差)数字摄像头(CCD):300万像素标尺刻度:0.1μm分析项目:粒度分布、长径比分布、圆形度分布等自动分割速度: 1秒分割成功率: 93%软件运行环境:Windows 2000、Windows XP接口方式:RS232或USB方式供货期:30个工作日精 确 度:±3% 典型值;重合精度:10000粒/mL(5%重合误差);分 辨 率:95%(按中国药典2020版校准);10% (按美国药典、ISO21501校准)鉴定机构:国家西北计量测试中心(民品)售后服务:普洛帝中国服务中心/普研检测。创新点:1、我司符合药典2020版0903显微镜法的仪器2、实现上光源、下光源双向监测功能3、引入金属颗粒、非金属颗粒和纤维丝等颗粒属性检测4、微量样品0.01ml的痕量试样测试5、高分辨率可实现X100~X1000的测试不溶性微粒检测显微镜计数系统
  • 原位检测艾滋病病毒的分子显微镜问世
    艾滋病病毒原位分析技术再次取得突破。美国科学家在上周召开的国际艾滋病会议上,展示了他们开发的全新检测技术及检测结果,这个被称为“分子显微镜”的探针能够准确检测到艾滋病病毒在细胞内外的隐藏之地。  美国过敏性和传染性疾病研究所疫苗研究中心副主任瑞查得普表示,这一分子显微镜新技术堪称神奇,它的超能力完全可以洞察到艾滋病病毒在任何细胞内的蛛丝马迹,最终能帮助弄清艾滋病病毒长时间存留的谜底,从而将其从体内彻底清除。  新技术几乎不受干扰  目前所用的检测组织中艾滋病病毒的原位分析技术都面临共同的大难题。这些探测技术,无论是利用荧光物质作标记物,还是放射性物质作标记,在精确定位组织样本中艾滋病病毒的位置时,经常难以将周围的细胞物质与目标检测物,如艾滋病病毒的RNA和DNA区别开来。这些标记物会将细胞组织当作病毒进行错误识别,对结果分析造成背景干扰。  据《科学》杂志网站报道,会议上展示的猴子不同组织中获得的艾滋病病毒的详细图片表明,新技术几乎没有受到任何干扰。美国国家癌症研究所弗雷德里克国家实验室的免疫学家杰克伊斯特,与拥有RNA显微镜的美国高级细胞诊断公司(ACD)合作开发出这一新技术,能分别或同时检测到组织中艾滋病病毒的DNA和RNA。得益于ACD公司独特的探针设计专利,RNA显微镜是目前最先进的RNA检测技术工具,实现了单个RNA在原位的可视化和量化,能够同时实现信号放大并降低背景干扰,可检测任何组织的任何基因。检测艾滋病病毒的分子显微镜就是在RNA显微镜的基础上开发的。  DNA和RNA都由互补的核苷酸对构成。捕获遗传物质的传统方法都是用称为寡聚体的核苷酸长链,在组织样本中寻找与之配对DNA或RNA链并相互配对。这些寡聚体携带着标记物,当它检测到目标物后,标记物会发出信号并拍照,研究人员可从图片中找到病毒遗传物质在组织样本中的分布位置。但是这些寡聚体分子太长,它们偶尔会犯错,与其他细胞物质结合时,并不理会那些要检测的目标序列。  分子显微镜作用原理  伊斯特的新技术包含一种更复杂的探针系统,能完全消除寡聚体带来的误打误撞。该技术的基本原理在于,先将寡聚体切成两等分,再将这两等分送到样本内寻找目标序列,只有当被分开的两段都停留在目标检测序列附近时,它们才能分别与目标序列成功配对后再重新连接起来。这意味着,寡聚体的两段只有遇到艾滋病病毒时才能分别配对并重新相遇,其他细胞物质再也无法造成干扰。  艾滋病病毒本身是RNA病毒,但它会转换成DNA形式,以便随时“潜入”人类染色体。伊斯特还与病毒学家杰弗瑞立夫逊合作,成功开发出可视化艾滋病病毒DNA的DNA显微镜。这些潜伏的病毒前体会融入人体细胞,并在受到免疫系统或抗逆转录病毒药物攻击前安然隐藏数十年之久,抗逆转录病毒无法消除艾滋病传染并治愈艾滋病患者的一大重要原因,就是这些将病毒前体“隐藏”起来的细胞的大量存在。  不放过任何一个病毒  伊斯特、立夫逊和同事们向一些猴子注射了猿类艾滋病病毒,然后对这些猴子体内的许多组织进行了原位分析。结果表明,RNA显微镜和DNA显微镜能清楚区分出细胞中潜伏的艾滋病病毒前体(即病毒DNA)、病毒RNA以及细胞外的病毒。伊斯特说:“我坚信我们的新技术不会放过任何一个病毒,它完美地将灵敏性和特定性集于一身。”  这些全新的分子显微镜能够克服治愈艾滋病道路上的几大障碍。第一大障碍是无法检测出接受抗逆转录病毒疗法的艾滋病患者血浆中的艾滋病病毒,因此研究人员难以评估一些艾滋病新疗法的具体效果,新显微镜技术将是克服现有技术障碍的有力补充。另一大障碍是无法确切知道病毒前体隐藏在体内何处,新技术能揭开这一由来已久的谜底,有助于大大缩小感染艾滋病病毒的细胞数量,更有针对地治疗患者。
  • 手机装配显微镜可检测DNA!
    近日,科学家开发了一种通过智能手机运行的便携式显微镜,可以估计样本DNA分子的长度,发现人类基因组拷贝数变异和其他疾病的遗传特性。这种显微镜,体积较小,重量不足190克,只需要三个AAA电池就可运行的,而成本只需400美元。  2015年即将到来,科学家们预测在新的一年里,不少新技术将与我们的日常生活结合更紧密,近期来自加州大学旧金山分校的一组研究人员就研发出了一种智能手机附件,能检测样品中DNA分子的长度。  这一研究成果公布在12月10日的ACS Nano杂志上,这一附件重量仅为190克(以下),价格为400 美元,需要3节 AAA 电池。从功能上说,研究人员能利用这一附件完成拷贝数变异,以及疾病其它遗传特征的分析,这将成为现场诊断领域的又一新星。  研究人员在文章中证明了这一职能手机显微镜能分析荧光标记的DNA分子纯化溶液。首先将溶液放置在两个盖玻片之间,这样就能有效的将DNA拉升为直线,然后通过荧光显微镜附件内的蓝色激光照射在DNA上,智能手机就能完成一系列的拍照,并传送到远程服务器,计算片段长度。  一般来说设备能分析的DNA分子长度为10000~48,000 个碱基对大小,研究人员发现智能手机显微镜也能预测大约长度为约1,000 个碱基对的片段大小,这与传统的台式荧光显微镜的出错率差不多。  一些其他研究组也表示希望能利用智能手机显微镜,在缺乏必要基础设施的地区进行诊断治疗,这些地区也是最需要快速诊断传染性疾病的地方。    文章作者,电力生物工程师Aydogan Ozcan认为这一发现是个人电脑的一项革命性成果,&ldquo 看看我们早期的计算机,它们十分笨重,也很昂贵。现在计算机变得轻便,可便携了&hellip &hellip 几乎每个人都能买得起。同样,显微镜观察也会朝着这一方向发展,我们研发了小型化微观和纳米分析工具,我们能令它们更加方便使用,更加强大。&rdquo   不仅是显微镜,科学家们也研发了不少便携式的设备,如华裔科学家戴聿昌教授开发出了一种便携式细胞计数器,能在几分钟内,用扎指头的方式就能获得结果。  便携式白细胞计数器可以用于改善针对患有慢性疾病,比如白血病或其它癌症患者的门诊监测。而且也可以通过组合使用,帮助偏远地区的远程医疗,甚至可以用于宇航员,宇航员长期暴露于辐射中,利用这一设备,当他们还在太空中的时候就进行检测。  此外针对今年暴发的埃博拉病毒,意大利国家传染病研究所的研究人员也研发出了快速检测埃博拉病毒的便携设备,可在75分钟内检测出血液样本中是否存在埃博拉病毒。  这种设备采用分子生物学技术即时聚合酶链式反应。这种设备灵敏度极高,即便是微量的人类血液经过多次稀释也能检测出所含病毒,而且能够早期甄别病毒,显着减少传染风险。
  • 引进德国技术,所有显微镜均可升级到三维超景深显微镜
    上海江文国际贸易有限公司公司引进德国技术和组件,结合自主研发的三维超景深显微镜软件,推出三维超景深显微镜升级方案UMS300-3D,可将几乎所有类型的光学显微镜升级为三维超景深显微镜。UMS300-3D 三维超景深显微镜升级方案是超景深三维显微镜的最新一代产品。UMS300-3D 三维超景深显微镜升级方案三维引进德国进口高性能三维超景深显微镜组件和技术,结合本公司的三维超景深软件,可将显微镜的景深提高几百倍,UMS300-3D 三维超景深显微镜升级方案可获得样品的三维形貌,可进行三维重构和测量。UMS300-3D 三维超景深显微镜升级方案是三维光学数码显微镜的最新代表。UMS300-3D 三维超景深显微镜升级方案可以将现有的显微镜,升级为三维超景深显微镜,可获得样品的三维形貌,并可进行三维重构和测量,可应用于半导体、微纳米器件、机械制造、材料研究等领域的实验研究;如微芯片三维形貌分析,刻蚀试样三维形貌,封装材料,二元光学器件数据分析,机械、光学、镀膜、热处理等表面精确测量、材料显微压痕的三维测量分析、磨损表面质量评定、薄膜厚度测量、材料断口分析、金属材料和复合材料、生物材料研究等。UMS300-3D 三维超景深显微镜升级方案可以将现有的显微镜,升级为三维超景深显微镜,满足材料表面形貌的观察,平面或三维测量,可以用于材料实验室或生产现场观测;用于金属材料断口、裂纹,磨损,腐蚀情况的三维超景深金观测, 青铜器, 陶瓷,织物,木材,纤维,古字画,壁画等方面的研究.。UMS300-3D 三维超景深显微镜升级方案可以将现有的显微镜,升级为三维超景深显微镜,可大大降低样品制样的要求,多数样品无须制样即可以获得三维超景深的三维观察,三维拍照,三维分析效果。对于颗粒赝品的三维超景深显微图像的颗粒三维分析,粉末三维超景深图像和三维分析都可以获得良好的三维超景深显微镜效果。UMS300-3D 三维超景深显微镜升级方案还可以大大降低客户购买三维超景深显微镜的成本,使用UMS300-3D 三维超景深显微镜升级方案的成本,大约为新购买进口三维超景深显微镜成本的10%。UMS300-3D 三维超景深显微镜升级方案还具备以下强大的显微测量功能:1、 组织成分分析、相含量测量自动识别组织成分、自动测量相含量、最后得出分析报告。常用于岩石、金相、孔隙分析、夹杂分析等。例如:成分分析,根据相含量的分布,给出三角统计图形,根据三角形分布判别种类。2、 全自动颗粒分析与统计提供功能强大的颗粒分析、统计工具。自动识别颗粒、自动测量颗粒面积、粒度、圆度、最大卡规直径、形态特征等大量参数。按照参数进行分类统计,给出统计柱状图和报告。3、 强大的辅助探测工具提供强大的颗粒探测工具(包括魔术棒和颜色吸管),方便用户进行手动识别颗粒,观察局部特征颗粒等应用。 能根据外形、颜色等特征,识别测量颗粒与组织。
  • 【清洁度显微镜微百科】产品和检测设备与时俱进
    # 始于航天,行于汽车清洁度最早的历史应用于航空航天工业,也可以用符号Sa表示。60年代初美国汽车工程师( SAE )和美国宇航工业协会( SAE )开始使用统一的清洁度标准,从而全面地应用于航空和汽车行业。机电仪表产品的清洁度是一项非常重要的质量指标。清洁度表示零件或产品在清洗后在其表面上残留的污物的量。一般来说,污物的量包括种类、形状、尺寸、数量、重量等衡量指标;具体用何种指标取决于不同污物对产品质量的影响程度和清洁度控制精度的要求。(摘自:百度百科)而汽车行业中关于清洁部件的要求,最早则由罗伯特博世公司(Robert Bosch)在1996年为了提高柴油汽车发动机共轨喷射系统的生产质量而提出的,他们在生产流程中发现小喷嘴很容易被系统中残留的污染颗粒堵塞,因此提出了生产中清洁部件的质量规范,由此诞生了零部件清洁度测试标准。此后,在汽车系统中很多可靠性问题都被归因于微粒子污染,即零部件清洁度不足。(摘自网络)产品与要求一同进化随着汽车工业的的大规模发展,汽车类产品的制造技术日益复杂,为了保障汽车的行驶安全,因此需要更高水平的污染控制能力。(当然,不仅是汽车、航空航天、重型机械和电气工程行业,技术产品日益复杂,因此对生产条件和生产部件的清洁要求也日益提高。)技术设备和部件表面上残留的污物可能会导致设备性能不可靠和/或很差;在制造过程中,设备上残留的颗粒会造成停工、延误交货时间、浪费材料和能源以及退货等问题。技术清洁度检测应用包括对ABS系统、柴油喷射器、制动卡钳、液压系统、管道、PCB、互连系统和较大重型机械部件的清洁情况进行检测。清洁度检测过程技术清洁度检测是一个包含了一系列准备步骤和检测步骤的较为复杂的过程,此文将对技术清洁度的检测过程进行概括介绍。检测之前对部件的准备工作分为如下步骤:部件清洗准备阶段始于从生产线上取下一个部件样本并进行清洗(在提取步骤之前)。提取在放置于无尘室的提取柜中去除被测部件上的颗粒。可以通过冲洗、喷洗、晃动冲洗或超声波清洗的方法去除颗粒。过滤对提取液进行过滤,并在滤膜上收集提取的颗粒(过滤材料包括纤维素、聚酯、玻璃纤维和尼龙网布)。烘干并称重滤膜被烘干,并准备接受进一步分析。滤膜烘干后,会留下所有杂质,然后,使用分析天平对其称重检测过程包括以下步骤:图像采集和载物台的移动烘干的滤膜被放置在电动显微镜的载物台上,以采集检测所需的图像。颗粒的探测观察滤膜的图像,以找到表现为明亮背景中黑色区域的颗粒。粒径的测量根据不同参数对所探测到的颗粒进行测量,这些参数包括:最大卡尺直径(与颗粒投影相切的两条平行线之间的距离)和等效圆直径。粒径的分类对颗粒进行了测量之后,将颗粒分成不同的粒径级别组。两个主要粒径等级为差值(由最小和最大粒径定义)和累积(仅由最小粒径定义)。颗粒计数外推法在滤膜中定义一个区域进行扫查,并探测其中的颗粒。这些区域可以是滤膜尺寸(整个滤膜区域)、流经区域(颗粒所覆盖的滤膜区域)、最大扫查区域(检测所能扫查的最大区域),以及检查区域(由用户定义的实际扫查区域)。颗粒计数归一化由外推法获得的颗粒计数被归一为某种比较值,从而可以对多次测量获得的结果进行比较。归一化方法包括清洗区域(归一为1000平方厘米区域的颗粒计数)、清洗体积(归一为100立方厘米区域的颗粒计数)、清洗样件(归一为单一样件的颗粒计数),以及过滤流体(归一为1毫升或100毫升过滤流体的颗粒计数)。污染水平的计算这种分类水平不是由粒径决定的,而是由(大多数国际标准)所定义污染级别中的颗粒总体数量决定的。清洁度代码的定义某些标准将测量数据的表现方式简化为简要的说明。这种清洁度代码根据标准而定义,并由粒径的级别和污染水平构成。最大审核值进行核查以获得最大审核值是一个可选步骤。如果需要获得一个最大审核值,则会在检测配置中确定,也可能会确定一个颗粒绝对数量值或者一个最大清洁度代码。反光颗粒和非反光颗粒的区分金属颗粒和非金属颗粒之间的区别是通过确定颗粒是否反光而完成的(这种区分极其重要,因为金属颗粒会造成比非金属颗粒大得多的伤害)。纤维鉴别在滤膜上探测到的纤维通常与滤膜上发现的其他颗粒来自于不同的地方(例如:纤维可能来自工作服或者抹布)。因此需要根据评估清洁度所使用的标准,识别、分析或忽略纤维。结果的复核在复核结果的过程中可能会执行以下操作:删除被错认为颗粒的项目;将靠得很近并被错认为是单个大颗粒的多个颗粒分开;将靠得很近并被错认为是不同颗粒的一个颗粒的组成部分融合在一起;修正错误的颗粒标签(例如:金属或非金属)。报告的创建技术清洁度检测报告可以包括某些颗粒采集参数的说明、颗粒分类表、颗粒区域覆盖的详细信息,以及最大颗粒的图像。CIX清洁度显微镜:为技术清洁度检测而设计技术清洁度检测向检测人员提出了一系列挑战,其中包括在检测过程中核查检测结果,同时观察反光和非反光颗粒,每天检测多个样本,基于不同的标准修正并重新计算结果,以及制作合规性报告分享结果。OLYMPUS CIX系列清洁度显微镜,特别为技术清洁度检测而设计,不仅可以迎接上述挑战,而且使用方便,可以使用户在非常舒适的条件下完成检测。OLYMPUS CIX系列清洁度显微镜的高端光学部件,硬件和软件的无缝整合,以及无需维护的可靠设计,确保了图像条件的再现性,并使清洁度检测成为一项可以轻松完成的日常任务。
  • 全程守护!光学显微镜在锂离子电池生产中大放光彩
    锂离子电池相关技术,自上世纪60年代开始研究,并在90年代初,首次进行商业化于摄像机之上。经过逐代的技术革新,锂离子电池技术成功商业化走向市场,成为主流的电池技术。当前锂离子电池被广泛应用于我们生活中的各个场景,诸如智能手机、笔记本电脑,以及电动汽车、电动自行车等各个领域。作为重要的动力源,锂离子电池的生产需要严格的质量监控。光学显微镜作为常用的检测设备,在锂电池的生产中有着广泛的应用。奥林巴斯DSX1000数码显微镜极片涂布工艺检查极片涂布的效果对电池容量、一致性以及安全性有重要影响,生产过程中需要检查涂布后的极片是否满足工艺要求。对于起伏明显的缺陷/样品,要求显微镜具有较大的景深,才能在视野下同时看清不同焦平面的样品形貌。数码显微镜DSX1000提供了大景深物镜的选择,帮助用户应对此类型样品的检查。数码显微镜DSX1000提供全套17种物镜,包含大景深物镜使用数码显微镜DSX1000采集2D/3D图像后,用户可借助分析软件对样品的形貌特征进行测量。DSX1000系统不仅支持线宽、表面积、角度和直径等2D特性的测量,还支持高度、体积、横截面积和其他3D特性的测量。使用数码显微镜DSX1000测量极片浆料的涂布厚度对于涂布厚度的测量,用户除了对极片截面直接进行观察测量;也可通过采集3D图像、并使用软件的轮廓测量功能的方式,就可由轮廓线的高度差得到涂布厚度的大小。数码显微镜DSX1000一键3D功能帮助进行快速完成图像采集和后续的数据测量工作极片分切工艺检查毛刺对电池的危害巨大,尺寸较大的毛刺可能直接刺穿隔膜,导致电池内部短路。因此需要对电极毛刺进行严格监控。而极片分切工艺是电池制造中毛刺产生的主要过程,因此在此工艺段需要重点关注毛刺的检查。毛刺检查任务有两个重点:检查毛刺是否存在测量毛刺尺寸大小使用数码显微镜DSX1000检查分切后的极片边缘是否存在毛刺并测量毛刺尺寸大小电池的电极毛刺朝向不固定,需要从多个角度进行检查,确保没有遗漏。数码显微镜DSX1000的光学显微镜放大头部可以向左或向右倾斜进行观察,最大倾斜角度为90°。多角度倾斜观察的设计可帮助用户灵活应对毛刺检查。倾斜观察效果进行毛刺检查时,一般是先在低倍下进行极片的宏观检查,发现异常后再切换到更高的放大倍率进行毛刺的判定和测量。数码显微镜DSX1000放大倍率可覆盖23X~8220X,帮助用户实现对同一样品从宏观到微观的检查。DSX1000对同一样品进行变倍观察(从20X到2000X)材料表面粗糙度控制为了保证电子能在集流体和电极材料间进行有效转移,生产中需要控制集流体金属箔表面的粗糙度大小。使用激光显微镜OLS5100测量负极集流体(铜箔)的表面粗糙度激光共聚焦显微镜OLS5100为非接触式的测量工具,无需担心损伤样品及因样品损伤导致的测量数据错误。奥林巴斯激光共聚焦显微镜OLS5100即使在弱反射信号下也能采集到所需的数据。因此对于光反射率低的样品(如,黑色电极材料)也能轻松进行表面粗糙度的测量。对于同一个样品,OLS5100可完成符合标准的线粗糙度和面粗糙度测量任务。激光显微镜OLS5100可同时获得样品的激光图、真彩色图和高度图生产全程清洁度监控在锂离子电池的生产过程中,残留的颗粒污染物特别是金属颗粒物可能导致产品性能不良或使用寿命缩短,严重时可能导致电池起火爆炸,因此生产中需要进行严格的清洁度管控。哪些环节需要监控清洁度?电极材料来料磁性异物检查、极耳焊接后残留金属颗粒物检查、电池外壳颗粒污染物检查、生产环境沉淀颗粒检查… … 全自动清洁度检测系统CIX100帮助用户高效完成锂电池生产中的清洁度分析任务。全自动清洁度检测系统CIX100清洁度检测系统CIX100分析的特点:可轻松检测2.5微米以上的颗粒污染物专利偏光检测技术,一次扫描即可识别反光和非反光颗粒全自动分析流程,无需繁杂的人员培训支持多种国际清洁度分析标准一机多用,兼具金相显微镜材料分析功能
  • 德国LEICA三维超景深显微镜发布
    近期,德国LEICA仪器公司在南京举办了高新光学产品-三维超景深显微镜DVM系列发布会。会议展示了德国徕卡一系列高新光学产品,包括DVM三维超景深显微镜,DCM-3D纳米级共聚焦显微镜等。  上海宝钢技术中心,南京大学,东南大学,南京航空航天大学,南京理工大学,电子55所,电子43所,南京华德,等用户参加了该会议,并带来许多微米纳米制造,MEMS,IC,微加工,精密机械产品进行了检测。  如对该产品有兴趣,请联系:  夏先生 13641986646,021-65415019  leicash@139.com
  • 人工显微镜检测逐渐消失 专家疾呼挽救
    时下,各种自动化检验设备可谓日新月异,检测速度和准确性不断提高,传统的人工显微镜检查还有用武之地吗?在近日举行的2012年全国血液体液形态检验诊断学学术会议上,不少专家大声疾呼,在充分发挥现代自动化检验技术优势的同时,不应忽视以传统人工显微镜检查为主要手段的细胞形态学检查的重要价值。  一张小涂片解决了大问题  “一张小小的痰涂片,解决了困扰我一年多的慢性咳嗽。”会上,北京大学第一医院检验科王建中教授与大家分享了自己的经历,  一年前,王建中因受凉患了肺炎,此后一直断断续续地咳嗽,夜里常常咳得无法入睡。痰培养、胸透、肺功能、CT,该做的检查全做了,就是找不到原因,各种对症治疗也效果不佳。家人和同事甚至开始担心他得了肺癌。  直到有一天,王建中为自己做了一张痰涂片,显微镜下发现其中有大量嗜酸性粒细胞,表明咳嗽很可能是由过敏导致的。根据这一检验结果,在医生指导下服用相应抗过敏药物后,王建中终于治愈了病痛。  “形态学检验对疾病的诊断具有独到之处。”他深有感触地说。  据专家介绍,作为临床检验的核心和基础,形态学检验主要是在显微镜下对血液体液标本中的细胞或有形成分进行观察,是临床诊断、疗效观察、预后判断等的重要依据。  人工镜检结果还是一些疾病诊断的“金标准”。如在白血病的血液与骨髓标本中髓系原始细胞计数时,血液或骨髓涂片的显微镜下形态学检查和流式细胞仪分析两者均可用,但世卫组织最新的造血与淋巴组织肿瘤分类方案仍要求以形态学检查为准。  “即使是在临床检验技术自动化大发展的背景下,人工镜检依然是医学检验中不可缺少的重要手段。”王建中说,比如临床最常用的血尿常规检查,自动化仪器目前仍只能作为筛选手段,需要按照一定比例进行人工镜检的复检。  南方医科大学附属中山博爱医院检验科主任技师黄道连说,自动化仪器都是按照正常细胞的相关参数进行设定的,而病变细胞的结构和形态往往会发生改变,病得越重,变化越大,此时,自动化仪器就难以分辨,甚至张冠李戴,造成误诊、漏诊。  对于人工显微镜检查的重要性,很多专家不约而同地提到了曾在社会上引起轩然大波的“茶水发炎”事件。2007年和2012年,两度有记者用茶水代替尿液送到医院化验,结果被检测出炎症。虽然这一做法有违科学原理,但也从另一侧面向检验界敲响了警钟:显微镜检查的环节必不可少。“倘若检验人员能够对出现白细胞阳性的标本进行显微镜复检,也许就可以发现这一明显的谬误。”北京协和医院检验科张时民教授说。  河北医科大学第二医院检验科李顺义教授也举例说,抗凝剂在全自动血细胞分析仪上的使用,有可能造成假性血小板减少,如果不进行进一步镜检就直接发出检验报告,会导致患者接受不必要的辅助检查。  被忽视只因“费时费力还不挣钱”  让与会者感到的担忧的是,人工显微镜检查这一不可或缺的重要检验方式正在被严重忽视和弱化,成为许多医院检验科的“短板”。  这种忽视和弱化首先体现在人工镜检的比例大幅缩水,甚至被取消。“不少医院基本就不做了。”张时民说。  据了解,即使全血细胞分析仪判定为正常的标本中,也有5%是假阴性。2005年,世卫组织涂片复检协作组调查复检结果发现,每天有25%~30%的标本需要进行显微镜复检。但目前不少医院的复检率低于5%,甚至为0。  “自动化仪器主要看细胞数量的变化,而人工镜检则重点关注细胞‘质’的改变,两者本应是左右手的关系,但现在普遍是‘一手硬、一手软’。”黄道连说,他所在的检验科形态学检查做得不错,临床医生从中尝到了甜头,医院也因此非常重视人工镜检,“我们医院要求每一位住院病人在检查血常规时必须同时做血涂片。但据我了解,很少有医院这样要求”。  其次,检验人员对各种细胞的识别能力有限,难以为临床诊断提供有价值的信息。“认得出就认,认不出就当作没看见。”张时民说。  人工镜检被忽视的另一个突出表现是愿意干的人少,干着的人培训进修机会少,专业从事形态学检验的人员严重不足,不少医院采用轮岗、兼职的办法来安排人手。  “青黄不接是普遍现象。”黄道连曾对中山市4家三级医院的检验科人员进行问卷调查,仅有17%的人表示愿意从事形态学检查工作,约12%的人员接受过为期1个月以上的形态学检验诊断培训,而免疫、生化等其他检验项目的检验人员接受培训的比例则为25%~30%。  中国中医科学院广安门医院检验科刘贵建教授指出,过度倚重自动化设备,对仪器的局限性以及人工镜检的重要性认识不足,认为机器检查可以取代人工镜检,加之临床工作量激增,面对每天成百上千份的血尿标本,且要在1小时甚至半小时内出检验结果,检验人员超负荷工作,无暇完成进一步镜检,是人工镜检在检验科被忽视的主要原因。  另一个原因则是收费问题。目前,医院检验项目的收费标准主要按照耗费的物力成本计算,人工镜检所需试剂少、仪器简单,因而这一检验项目基本不收费或收费很低。在目前的医院运行机制下,对于“费时费力还不挣钱”的人工镜检,医院普遍缺乏关注热情。  张时民举例说,在该院做一套肝肾功能血脂检查的收费在300元左右,1小时自动化检验设备大约可以处理上百个标本,而一名检验医师1小时仅能处理约10个普通标本,复杂的标本甚至只能处理两三个。  “有时一张涂片看不到病变细胞,但根据经验判断觉得有问题,为了找到证据,就得多看几张甚至十几张片子,可能花费一天时间就为了找到一个恶性细胞。”黄道连说,“在美国,形态学检查被视为技术含量极高的检验项目,费用也相应较高,属于医保的限检项目。一套骨髓涂片的形态学检查收费为400美元~500美元,而我们的收费只有50元~60元。”  张时民指出,一名成熟的形态学检验技师需要至少10年的经验积累,而现在愿意待在显微镜前的人越来越少,非常不利于我国形态学检验诊断领域的发展。  形态学检查有广阔发展空间  “形态学检查是一门古老的学科,也有着广阔的发展空间,绝不应该是检验科的弱项。”上海交通大学医学院附属瑞金医院王鸿利教授说,在形态学检验的基础上发展起来许多新的检验方法,流式细胞仪就是典型代表。同时,细胞生物学、分子生物学等新兴技术领域都与形态学有关。“放弃了形态学,就放弃了临床检验学的基础。”  王建中表示,近年来逐渐发展成熟的全自动血细胞数字图像分析等现代技术,将为形态学检查的未来发展带来“革命性”的变化。“标本制备的全自动化、仪器自动获取细胞图像,可以减少人工制备标本时间,检验者可以在电脑屏幕上看到标本的显微图像,同时通过网络实现资料共享,同行间可以相互交流,这有助于提高检验诊断的效率和准确性。”  张时民认为,当前应着力加强形态学检验技术骨干的培养和基本技能的培训。在政策允许的情况下,提高形态学检查项目的收费,适当提高从事形态学检验人员的待遇。黄道连建议,应该在岗位安排、人才培养、进修培训、岗位津贴等方面实行政策倾斜,“让从事形态学检验的人员能够安心本职工作,不断提高业务水平,为临床医生提供更有价值的诊断信息”。
  • 无需镜头的癌细胞检测显微镜问世
    据外媒报道,虽然高性能显微镜是确定癌症及其他疾病的一大利器,但它们的制作工艺复杂,且造价太高,所以这也意味着普通医院不大可能会拥有这样的医疗仪器。然而,加州大学洛杉矶分校的科学家们即将改变这种情况。  据悉,他们在近日研发了无需配备镜头就能在组织中找到癌细胞的显微镜。  该显微镜通过CCD或CMOS传感器创建人体组织类全息图像,然后通过为图像提供光源检测到组织的阴影部分,之后将它们的真实面貌在特定软件下展示出来。这款显微镜不仅能跟传统光学显微镜一样高效,而且它的制作工艺更加简单、造价也更加便宜。  不过,这并不意味着它立马可以商用。该项研究报告的联合作者Aydogan Ozcan告诉媒体,与该款显微镜配套的软件仍需要大量的改进。
  • 奥林巴斯晶圆半导体显微镜提升晶圆检测水平
    晶圆是制作半导体材料的主要部件,而在半导体晶圆的整体制造过程有400 至600个步骤,历时一到两个月完成。因此缺陷检测对于半导体制造过程非常重要,如果流程早期出现任何缺陷,则后续步骤中执行的所有工作都将被浪费,所以在半导体制造过程中缺陷检测是其中的关键步骤,用于确保良率和产量。这就需要用到技术先进的晶圆半导体显微镜来进行缺陷检测,主要用于识别并定位产品表面存在的杂质颗粒沾污、机械划伤、晶圆图案缺陷等问题。针对晶圆严格检测需求,奥林巴斯的MX63系列晶圆半导体显微镜,除了拥有图像清晰、易操作、检测速度快的优势之外,还针对晶圆缺陷检测做出了一系列的特殊功能,确保晶圆检测的准确性。可供选配的AL120系统的晶圆自动搬送机晶圆自动搬送机是奥林巴斯备选的,可安装在MX63系列上,使用AL120系统可实现无需使用镊子或工具,即可安全地将硅及符合半导体晶圆从晶圆匣运送到显微镜载物台上。此显微镜卓越的性能和可靠性能够安全、高效地对晶圆正面和背面进行宏观检测,同时搬送机还可帮助提高实验室工作效率。快速清洁无污染的检测奥林巴斯MX63系列晶圆半导体显微镜可实现无污染的晶片检测,其显微镜所有电动组件均安装在防护结构壳内,干净无污染,同时显微镜架、镜筒、呼吸防护罩及其他部件均采用防静电处理。另外,MX63系列采用的是电动物镜转换器,电动转换器的转速比手动物镜转换器更快更安全,在缩短检测间隔时间的同时让操作人员的手始终保持在晶圆下方,避免了潜在的污染。大尺寸晶圆一样能实现高效观察MX63系列晶圆半导体显微镜利用内置离合和XY旋钮,能够实现对载物台运动的粗调和微调,即便是针对300mm的晶片这样的大尺寸样品,载物台也能够实现高效的观察。适合所有晶圆尺寸晶圆的尺寸有很多,而奥林巴斯的晶圆半导体显微镜可配合各类150-200mm和200-300mm晶圆托架和玻璃台板使用,如果生产线上的晶圆尺寸发生变化,可更改载物台或者镜架,各种载物台均可用于检测75mm、100mm、125mm、150mm的晶圆甚至300mm的晶圆检测。晶圆检测是主要的芯片产品合格率统计分析方法之一,而在芯片的总面积扩大和相对密度提升的情况下,对晶圆的要求也不断升级,晶圆检测也越来越精细,这就需要更长的检测時间及其更为高精密繁杂的检测设备来实行检测。奥林巴斯MX63系列晶圆半导体显微镜,融合了奥林巴斯先进的光学技术和数字技术,拥有简便的直观操作和稳定的可靠性,可为用户创建简洁合理的工作流程和灵活高效的解决方案,让晶圆的检测更准确、更简单。
  • Anyty(艾尼提)便携显微镜成为工业检测重要工具
    一直以来,工厂在产品检测、品质控制环节,涉及到微小物体或要检测产品的局部微小的细节,或检测要求精度较高,都要用到显微镜放大观察。而随着科技的发展,尤其是便携式显微镜的成熟和发展,以其小巧轻便、操作简单等优势在工业检测方面得到广泛应用,成为工业检测重要工具。 Anyty[艾尼提]便携式显微镜3R-WM401WIFI检测刀具 显微镜是工业检测重要仪器,在工业上观测材料、品质检测等,为提示工业制造精度具有很大的帮助。不过随着市场经济的发展,在工业产品质量控制与检测中,需要在生产环节各个节点进行品质抽检等,因此传统的显微镜存在移动不便、操作困难等弊端。 另外,品质检测人员要在普通显微镜的强光下,用显微镜的目镜观察细节,这样时间长了,不但会影响员工的用眼健康,品质检测人员流失严重,耗费大量的员工培训和管理的时间和精力,而且造成品质控制不严,影响公司的产品品质和客户信誉,从而严重影响公司的发展。 Anyty[艾尼提]便携式显微镜3R-MSBTVTY检测零部件 在这样的市场环境下,此类问题亟待解决。依托光电技术不断发展,便携式显微镜应运而生。 当前针对工业检测等方面,3R公司推出了一系列高清晰的不同规格类型的Anyty[艾尼提]便携式显微镜方案,有手持的,有直接带显示屏的,也有无线WiFi的等,当前已在工厂产品检测及品质控制等方面得到广泛应用,有效的弥补了传统显微镜的一些问题。 相比于传统显微镜,Anyty[艾尼提]便携式显微镜优势明细,小巧便携,非常适合不同的工作现场;而且具体一键自动对焦,操作简单,容易上手;自带屏幕,可进行精准测量,可拍照录像,对数据进行采集储存,便于生产检测报告等,成为工业检测重要工具。 Anyty[艾尼提]便携式显微镜3R-MSA600S筛网检测 总而言之,Anyty[艾尼提]便携式显微镜在工业检测领域广泛应用,并且能够针对不同用户提供个性化解决方案,为企业制造水平的提升提供重要产品支持和技术支持。
  • 环境型原子力显微镜和扫描电镜联用 助力检测橡胶样品
    设备: 日立环境型原子力显微镜 AFM5300E   日立扫描电子显微镜 SU3500背景及目的SEM是检测电子束扫描样品所生成的2次电子,背闪射电子,特征X射线等信号,得出样品结构,成分,结晶特性,元素分布等信息。另一方面,SPM是利用探针和样品表面的相互作用,表征高精度样品形貌及硬度和摩擦力,吸附力等敏感的力学物理特性及电流,电气阻抗,表层电位,压电特性,磁性等电磁物理特性。在这里我们介绍,包含氧化铅和硫磺的橡胶样品的SEM背闪射电子图像和X射线面分布像及利用SPM的形貌像(AFM像)和相位像(Phase像)的观察结果。1) Phase像根据样品表面的硬度和吸附力对比,利用共振悬臂的相位变化成像物理特性的方法。图1 SPM、SEM的检测信息和橡胶样品中的应用2) 观察结果图2 橡胶样品的SEM、SPM观察同一视野结构观察在背闪射电子像(BSE像)里重元素的对比度高,EDX元素分析得知这个区域含有铅元素和氧元素。SPM的Phase像观测中我们选用两类橡胶的弹性有较大差别的冷却温度-10℃,致使微区当中明显区分两种橡胶分布。SEM和SPM联系起来,表面的形貌和元素,结构,各种物理特性(力学特性和电磁特性)的面分析信息相结合,给基础研究,产品研发等提供更多观察及分析手段。 关于日立环境型原子力显微镜 AFM5300E,请点击:http://www.instrument.com.cn/netshow/SH102446/C244320.htm关于日立扫描电子显微镜 SU3500,请点击:http://www.instrument.com.cn/netshow/SH102446/C168115.htm 关于日立高新技术公司:日立高新技术公司,于2013年1月,融合了X射线和热分析等核心技术,成立了日立高新技术科学。以“光”“电子线”“X射线”“热”分析为核心技术,精工电子将本公司的全部股份转让给了株式会社日立高新,因此公司变为日立高新的子公司,同时公司名称变更为株式会社日立高新技术科学,扩大了科学计测仪器领域的解决方案。日立高新技术集团产品涵盖半导体制造、生命科学、电子零配件、液晶制造及工业电子材料,产品线更丰富的日立高新技术集团,将继续引领科学领域的核心技术。更多信息敬请关注:http://www.instrument.com.cn/netshow/SH102446/
  • 140万!北京科技大学超声波扫描显微镜采购项目
    项目编号:2207-HXTC-IG1193项目名称:北京科技大学超声波扫描显微镜预算金额:140.0000000 万元(人民币)采购需求:包号产品名称简要技术需求或服务范围数量分包控制金额(万元)项目预算(万元)1北京科技大学超声波扫描显微镜用于各种焊接器件、封装器件等内部空洞、空气分层、裂纹等无损检测1台140.00140.00本项目接受进口产品投标。合同履行期限:自合同签订生效后120日内到货并安装、调试完成(特殊情况以合同为准)。本项目( 不接受 )联合体投标。
  • 无需显微镜也可检测细菌生长及药敏性
    美国密歇根大学的研究人员近日发明出一种新型生物传感装置,利用该装置,无需显微镜即可测量出细菌的生长过程及药敏特征。研究结果发表在1月15日的《生物传感器与生物电子学》期刊上。   科学家将这种装置称为“异步磁珠转动(AMBR)传感器”,它采用了一种可以在磁场中异步旋转的磁性小珠,任何附着到这种磁珠的物质都会降低其转速。在这项研究中,研究人员将杆状大肠杆菌附着在磁珠上,然后用AMBR传感器进行检测。  “当单个细菌附着上去后……将极大地阻碍磁珠,使磁珠旋转速率减慢到原来的四分之一”,领导这项研究的Raoul Kopelman教授解释,“若细菌再长大一点点,阻碍力将持续增大,转速也将随之变化,因而我们可测量出细菌的这种纳米级生长变化”。  利用同样的原理,该装置也可用于检测细菌的药敏性。当细菌受到药物影响停止持续生长,进而使得磁珠转速发生变化,于是研究人员便能在数分钟内知道药物是否对细菌产生了作用。  “采用这种方法,我们可以检测到小至80纳米程度的细菌生长变化,远比一台光学显微镜管用——显微镜的解析度也就大约250纳米”,文章第一作者Paivo Kinnunen说,“这种方法可以应用到任何微米级或纳米级的大小变化检测中”。  研究人员表示,这种新型生物传感装置或将有助于加快细菌感染治疗。(科学网 张笑/编译)  相关仪器:IX71型倒置光学显微镜 异步磁珠转动传感器  完成人:拉乌尔科普曼课题组  实验室:美国密歇根大学化学系、生物医药工程系、化学工程系、病理学系、应用物理计划兰道实验室 密歇根大学卫生系统临床微生物学与病毒学实验室群
  • 2019年超景深显微镜中标盘点 品牌冠亚军“相差悬殊”
    p style="text-align: justify text-indent: 2em "strong仪器信息网讯/strong 超景深显微镜主要用于观察传统光学显微镜因景深不够而不能看到的显微世界,其应用领域拓展到光学显微镜和扫描电子显微镜之间,可供医疗卫生、农林、公安、学校、科研部门作观察分析用,也适用于电子工业和仪器仪表行业作精细零部件的检验、装配、修理等。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "近日,仪器信息网对2019年超景深显微镜中标信息进行了汇总,共计从网络公开招标平台共收集到60余条中标信息,并对其进行分析形成此文,以飨读者。span style="color: rgb(127, 127, 127) "(由于数据来源于网络公开招标平台,不包括非招标形式采购以及未公开采购项目,数据结果只作为采购市场行为规律定性参考。)/span/pp style="text-align: center text-indent: 0em "span style="color: rgb(127, 127, 127) "img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/d52ad6de-3b9b-4916-a1fa-7569c824ae7f.jpg" title="采购单位数量占比分布.PNG" alt="采购单位数量占比分布.PNG"//span/pp style="text-indent: 0em "span style="color: rgb(127, 127, 127) "/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "从超景深显微镜的采购单位来看,高校、海关和科研院所是三大“主力军”。2019年共计中标63套,其中高校采购数量占比43%,成为“头号主力”;海关采购数量占比33%,居于其后;科研院所采购数量占比18%,位列第三;这里的监管机构主要包括为公安局和检验单位,总采购量仅占比6%。/pp style="text-align: center text-indent: 0em "img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/56e1506d-f4de-4053-8f3b-012939bbf6e1.jpg" title="采购单位地域分布.PNG" alt="采购单位地域分布.PNG"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2019年,共有25个省、直辖市和自治区有招标采购超景深显微镜的行为,总中标金额约4000万。其中,广东采购能力强势领先,采购数量占比14%,中标总金额约600万;北京、江苏和广西采购数量相当,均占比8%,中标金额分别为300万、300万和400万;除上表地区外,另有11个地区仅各中标1套超景深显微镜。/pp style="text-align: center text-indent: 0em "img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/c7ba07e6-cc29-4fea-9a48-caa157b44403.jpg" title="逐月中标量分布.PNG" alt="逐月中标量分布.PNG"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "从2019年逐月中标量来看,超景深显微镜的市场呈增长趋势。2019下半年总中标量约占全年的74.6%,整体高于上半年;1-6月份月均中标量为3套/月,7-12月份月均中标量为8套/月。/pp style="text-align: center text-indent: 0em "img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/422cd62b-2292-43c8-aeb9-e545f9f7fd4f.jpg" title="中标单价分布.PNG" alt="中标单价分布.PNG"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "从仪器的中标价格来看,超景深显微镜的中标单价主要集中在20-100万,此区间总占比约92%,其中单价为40-60万的居多,占比34%左右。此外,单价20万以下的仪器中标量仅占比7%,100万以上的超景深显微镜只统计到1套。/pp style="text-align: center text-indent: 0em "span style="color: rgb(127, 127, 127) "/spanimg style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/464299d6-943b-4aac-9606-111cdbbf6e22.jpg" title="品牌.PNG" alt="品牌.PNG"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "从中标品牌来看,在2019年超景深显微镜的中标信息中共统计到的品牌有9个。根据上图数据,中标数量前四位分别是基恩士(日本)、徕卡(德国)、浩视(日本)和蔡司(德国)。其中基恩士以中标数量占比37%成为最受欢迎品牌;徕卡中标数量占比17%,位居其次。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "根据本次统计仪器型号信息,基恩士不仅中标数量最多,其VHX-6000和VHX-7000型号的产品采购热度同样较高。另外,徕卡的DVM6、DVM6A和DVM6M型号产品也比较受客户青睐。/pp style="text-align: center text-indent: 0em "strong2019年招标采购仪器型号排名/strong/ptable border="1" cellspacing="0" style="border: none"tbodytr class="firstRow"td width="103" valign="center" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pstrongspan style="font-family: Calibri font-size: 14px"排名/span/strongstrong/strong/p/tdtd width="172" valign="center" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pstrongspan style="font-family: Calibri font-size: 14px"品牌/span/strongstrong/strong/p/tdtd width="142" valign="center" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pstrongspan style="font-family: Calibri font-size: 14px"型号/span/strongstrong/strong/p/tdtd width="142" valign="center" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pstrongspan style="font-family: Calibri font-size: 14px"生产地/span/strongstrong/strong/p/td/trtrtd width="103" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style="font-family:宋体 font-size:14px"1/span/p/tdtd width="172" valign="center" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"基恩士/span/p/tdtd width="142" valign="center" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"VHX-6000/span/p/tdtd width="142" valign="center" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"日本/span/p/td/trtrtd width="103" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style="font-family:宋体 font-size:14px"2/span/p/tdtd width="172" valign="center" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"基恩士/span/p/tdtd width="142" valign="center" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"VHX-7000/span/p/tdtd width="142" valign="center" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"日本/span/p/td/trtrtd width="103" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style="font-family:宋体 font-size:14px"3/span/p/tdtd width="172" valign="center" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"徕卡/span/p/tdtd width="142" valign="center" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"DVM6/span/p/tdtd width="142" valign="center" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"德国/span/p/td/trtrtd width="103" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style="font-family:宋体 font-size:14px"4/span/p/tdtd width="172" valign="center" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"浩视/span/p/tdtd width="142" valign="center" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"RH-2000/span/p/tdtd width="142" valign="center" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"日本/span/p/td/trtrtd width="103" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style="font-family:宋体 font-size:14px"5/span/p/tdtd width="172" valign="center" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"徕卡/span/p/tdtd width="142" valign="center" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"DVM6A/span/p/tdtd width="142" valign="center" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"德国/span/p/td/trtrtd width="103" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style="font-family:宋体 font-size:14px"6/span/p/tdtd width="172" valign="center" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"蔡司/span/p/tdtd width="142" valign="center" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"Smartzoom5/span/p/tdtd width="142" valign="center" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"德国/span/p/td/trtrtd width="103" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style="font-family:宋体 font-size:14px"7/span/p/tdtd width="172" valign="center" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"奥尔特/span/p/tdtd width="142" valign="center" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"AJY-5/span/p/tdtd width="142" valign="center" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"中国/span/p/td/trtrtd width="103" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style="font-family:宋体 font-size:14px"8/span/p/tdtd width="172" valign="center" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"徕卡/span/p/tdtd width="142" valign="center" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"DVM6M/span/p/tdtd width="142" valign="center" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"德国/span/p/td/trtrtd width="103" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style="font-family:宋体 font-size:14px"9/span/p/tdtd width="172" valign="center" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"成都励扬/span/p/tdtd width="142" valign="center" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"LY-WN-YH/span/p/tdtd width="142" valign="center" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"中国/span/p/td/trtrtd width="103" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"10/span/p/tdtd width="172" valign="center" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"蔡康/span/p/tdtd width="142" valign="center" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"MCK-6RC/span/p/tdtd width="142" valign="center" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"中国/span/p/td/tr/tbody/tablep style="text-align: center "br//pp附:/pp style="text-align: center "a href="https://www.instrument.com.cn/webinar/meeting_13067.html" target="_self"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202004/uepic/83a0c202-7e93-41a8-a995-26383e83c949.jpg" title="图片2.png" alt="图片2.png"//a/ppbr//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2020年4月12日,仪器信息网将携手基恩士举办《四合一数码显微镜,多种难题一机解决》主题网络讲座,此次讲座旨在希望让更多使用显微镜的客户,了解到数码显微镜能解决的常规问题,作为技术储备,认识到VHX系列产品的一些功能和应用场景。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong讲座主要内容如下:/strongbr//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "常规的4种显微镜存在的问题介绍(对焦不清晰?迷失观测位置?观察角度太单一?);/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "针对问题,介绍VHX系列解决方案(实机演示);/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "其他行业的应用案例(涉及汽车、电路板、半导体、刀具、电池、连接器、线束、医疗、显微等行业);/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "问答环节。br//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong讲师介绍:/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "夏天齐 Draven,span style="text-indent: 2em "基恩士公司显微/3D测量系统部门,显微镜技术负责人,负责数码显微镜的技术支持工作。 /span/pp style="text-align: left text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/webinar/meeting_13067.html" target="_self"strongspan style="text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em color: rgb(0, 112, 192) "报名链接/span:/span/strongspan style="text-indent: 2em "https://www.instrument.com.cn/webinar/meeting_13067.html/span/a/pp /p
  • 舜宇DVST60N、DVSZMN视频显微镜相继问世
    日前,舜宇仪器公司显微镜家族又添新丁,DVST60N、DVSZMN视频显微镜相继问世,标志着该公司数码显微镜的开发迈上了一个新台阶。  视频显微镜是将显微镜看到的实物图像通过数模转换,使其成像在液晶显示屏上进行观察的显微镜。它是光学显微镜技术、光电转换技术完美结合的产物。从而使我们对微观领域的研究从传统的双眼观察转变为大视频再现,从而提高了工作效率。视频显微镜在观察物体方面立体感强,成像清晰宽阔,加上体视显微镜本身具有的工作距离大等优点,使操作更加舒适、直观,非常适用于电子工业生产线的检验、印刷线路板的检定、印刷电路组件中出现的焊接缺陷的检定作业等。  DVST60N、DVSZMN视频显微镜是以原有的体视显微镜为平台进行延伸开发的,两款产品根据客户需求将显示屏和显微镜进行了整合,既节省了空间,又便于操作和观察交流。目前,DVST60N视频显微镜已进入批量生产,DVSZMN视频显微镜刚试制成功便接到了客户的小批量订单,呈现出良好的市场前景。视频显微镜的开发成功不仅丰富了舜宇仪器的产品线,更为公司优化产品结构、加快转型升级,打下了良好的基础。
  • 光学显微镜、电镜用于地震灾区石棉粉尘检测
    2013年4月20日上午八时零二分,四川省雅安市芦山县地区发生7.0级地震,地震造成重大人员伤亡和财产损失。地震发生后,科技部紧急研究部署四川雅安地震抗震救灾科技工作,并在科技部门户网站发布抗震救灾实用技术手册,供地震灾区选用。在抗震救灾实用技术手册中,发布了地震灾区石棉粉尘检测技术。具体信息如下:  灾后各灾区的损坏建筑的清理、拆除、重建工作非常繁重,在这个过程中,粉尘的污染是个十分重要的问题,特别是很多建筑使用了或多或少的石棉材料,由此产生的石棉粉尘会对人体健康造成危害。本手册内容为针对石棉粉尘的分析监测技术和使用了石棉材料的建筑物的拆解及石棉废弃物的安全处理处置操作技术,以备地震灾区在工作中参照采用。  地震灾区使用了石棉材料的建筑物的安全拆解及石棉废弃物的处理处置应遵循专人按章操作,严密防护,安全、妥善贮存运送,指定地点集中处置,在整个过程中均设立明显示警标志,确保在拆解、处理处置过程及处置后的环境安全的原则。在工作过程中,要针对工作现场及周边进行石棉纤维污染的监测,防止造成污染,确保人体健康。  石棉纤维的检测方法有多种,主要有光学显微镜法、电镜法、X-射线衍射法等。其中光学显微镜法原理简单、所使用光学显微镜较为常见。而电镜法则准确度比较高,可以检测出较为细小的石棉纤维颗粒。  一.固体样品的检测  可参照HJ/T 206-2005《环境标志产品技术要求 无石棉建筑制品》的分析方法。主要方法如下:  1.样品的采集  固体材料中石棉检测工作的样品采集方法如下。  在材料的不同部位取下样品若干块,取样量约50-200克左右。  2.样品的预处理  1)被测样品中有机物质的去除。采用高温烘烤方法,在马弗炉中在400-500℃的温度下加热2小时左右,除去被测样品中的有机物质。  2)块状样品的粉碎。采用机械手段进行破碎和研墨至粉末状。(若使用破碎机,粉碎时间不要太长。不然会造成石棉纤维成为细小颗粒,无法辨别)  3)纤维束状和絮状样品。用剪子剪碎后,可用研钵稍做研磨,以使缠绕成团的纤维和过粗的纤维束可以分离舒展。或用镊子等工具从边缘剥离少许。  4)将粉碎或研磨好的样品进行充分的混匀待用。  3.样品的分析  采用光学显微镜法分析参照HJ/T 206-2005《环境标志产品技术要求 无石棉建筑制品》。  采用扫描电镜检测参照ISO 14966-2002《环境空气—无机纤维颗粒计数浓度的测定—扫描电子显微镜法》。  二.空气样品中石棉纤维的检测  1.光学显微镜法  样品采集就是将含石棉尘的空气抽取通过采样滤膜,石棉尘于滤膜上透明固定后,在相衬显微镜下计数,根据所采气体体积计算出每立方厘米气体中的石棉尘的根数。  采样及测定方法参照HJ/T41-1999《固定污染源排气中石棉尘的测定-镜检法》。  2.扫描电镜法  样品采集及测定可参照ISO 14966-2002《环境空气—无机纤维颗粒计数浓度的测定—扫描电子显微镜法》。  样品采集时可使用适用于扫描电镜观测的0.2微米或者0.4微米孔径的核孔膜。采样流量5-10L/min.。采样时间根据粉尘污染情况确定,以不造成颗粒物重叠为宜。  参照ISO 14966-2002 标准,在2000倍下进行观察和计数,计数规则参照上述标准。  技术来源  单位名称: 国家环境分析测试中心  联系地址: 北京朝阳区育慧南路1号 邮编:100029  联系人: 董树屏  联系电话:13601358418  e-mail: yrhuang@cneac.com  石棉的定义及可能含有石棉材料的建筑材料  石棉定义:石棉主要有两类,一类指属于蛇纹岩类的纤维状矿物硅酸盐,即温石棉(白石棉) 另一类是指闪石类纤维状矿物硅酸盐,即阳起石、铁石棉(棕石棉、镁铁闪石-铁闪石)、直闪石、青石棉(蓝石棉)、和透闪石。  石棉粉尘是指环境中悬浮在空中的石棉微粒。直径小于3微米,长度与直径之比大于3,纤维测量长度大于5微米的石棉纤维对人体的危害最大。  我国建筑材料中使用的主要是温石棉。可能含有石棉材料的建筑材料包括:石棉水泥瓦,钢丝网石棉水泥波瓦,石棉水泥平板,TR建筑平板,石棉硅酸钙板,石棉水泥管,石棉纱、线,石棉绳,石棉布,石棉带,热绝缘石棉纸,衬垫石棉纸、板,保温石棉板,泡沫石棉,石棉衣著,石棉被等。在这些材料中水泥制品比较坚固稳定,而保温石棉板、绝缘材料、泡沫石棉的材料较为松散易碎,更易于进入空气中造成污染。
  • 沈阳华仪邀请您参加“徕卡DVM6超景深视频显微镜产品研讨会• 沈阳站”会议
    会议主题:徕卡dvm6超景深视频显微镜产品研讨会主办单位:沈阳华仪时代科技有限公司 徕卡仪器有限公司会议时间:2017年4月20日会议地点:东北大学国际学术交流中心 会议议程◇◆徕卡显微镜产品系列介绍◇◆仪器演示、抽奖◇◆徕卡超景深视频显微镜dvm6产品及应用案例介绍◇◆金相显微镜应用◇◆金相分析中制样的重要性◇◆徕卡电镜制样设备介绍 展示产品徕卡倒置金相显微镜、徕卡正置金相显微镜、徕卡超景深数码视频显微镜、徕卡偏光显微镜等产品。有兴趣的来宾可以自备样品到会议现场进行检测观察、操作仪器等。如您的样品较大不易携带您可以提前预约,我们为您上门演示。预约电话:18304009417,联系人:陈女士。 报名方式登陆沈阳华仪官网www.hytesters.com,在下载中心下载“2017徕卡DVM6超景深视频显微镜产品研讨会邀请函”并发送回执给我们即可。报名电话:024-23789806 沈阳华仪诚邀各界专家、学者及相关从业人员莅临此次会议,欢迎各位来宾自备样品及问题到现场交流,亲自体验仪器操作。更有重量级嘉宾为您全面解答徕卡显微镜及相关产品应用问题。如您有关于显微镜及应用方面的问题,请您联系我们,方便我们预留时间让专家与您做进一步沟通解答。预约电话024-23789806。 沈阳华仪作为徕卡显微镜、牛津仪器、fei电镜、尼康lk、美国威尔逊、日本堀场、美国英斯特朗、美国标乐等品牌东北三省总代理,将继续以支持东北地区科研、高校及工业企业发展为己任,为广大东北三省地区提供易用、快速、可靠的分析仪器;同时我们遍布东北三省的服务团队也可以为用户提供系列服务套餐,包括配件和耗材、延保合同、产品培训、服务维修和技术支持等。
  • 谢晓亮院士Science子刊:开发SRS显微镜肿瘤检测技术
    p  来自哈佛大学、密歇根大学等处的研究人员证实,可以采用定量受激拉曼散射(Stimulated Raman Scattering, SRS)显微镜来检测人类脑肿瘤浸润。这一研究成果发布在10月14日的《科学转化医学》(Science Translational Medicine)杂志上。/pp  哈佛大学谢晓亮(X. Sunney Xie) 教授和密歇根大学的Daniel Orringer博士是这篇论文的共同通讯作者。谢晓亮教授是单分子生物物理化学和相干拉曼散射显微成像的开拓者之一,其研究组在离体实验及活细胞内生物系统在单分子水平的动力学研究方面取得了不少重要的成果,尤其是单分子荧光显微技术,比如相干拉曼显微成像技术(CARS、SRS)等方面成果斐然。近年来,他又在单细胞测序技术上取得突破,发表了不少重要成果。/pp  脑肿瘤是一类常见的病因不明、来源广泛的神经系统疾病。男性多于女性,任何年龄都可发生,最多见于20-40岁之间。由于脑组织结构和生理功能的特异性,颅内肿瘤多引起显著而特异的临床症状和体征,尤其是位于重要功能区的脑肿瘤常引起病人重要功能的受损或缺失。脑肿瘤的主要根治方法是手术切除肿瘤灶,其目的在于尽可能保留脑功能皮层的情况下最大限度地切除肿瘤。将肿瘤与正常脑组织区分开来是脑肿瘤手术取得最佳结果的一个主要障碍。当前迫切需要一些能够在手术过程中显像肿瘤边缘地带的新成像技术来改善手术疗效。/pp  SRS显微镜是一种无损伤、免标记的光学方法,其能够检测原子间化学键的变化,敏感度高于红外显微镜和拉曼显微镜。谢晓亮教授曾表示,SRS显微镜是生物医学成像的一个巨大进步,开启了活细胞新陈代谢的实时监控研究。近年来,谢晓亮课题组一直在致力利用SRS显微镜来快速检测癌症组织,实现外科手术中的可视化。研究人员曾在动物模型中证实了SRS显微镜揭示神经胶质瘤浸润的能力。/pp  在这篇新文章中,研究人员利用SRS揭示出了22个神经外科患者新鲜、未处理手术样本中的脑肿瘤浸润情况。证实SRS检测肿瘤浸润与标准苏木红-伊红染色、光学显微镜检测近乎一致。SRS显微镜独特的化学对比可揭示出肿瘤浸润组织的组织细胞构成、轴突密度和蛋白质/脂质比的量化改变实现肿瘤检测。/pp  他们利用SRS生成了有关蛋白质和脂质的不同信号,并随后各自分配给它们一种颜色(蓝色和绿色),使得作者们能够将来自肿瘤的脑皮质与白质区分开来。采用SRS显微镜检测来自成人及儿童胶质母细胞瘤患者的活组织样本,不仅揭示出了显著的特征,还在组织中发现了采用传统染色看起来正常的浸润细胞。早期捕捉这样的浸润细胞至关重要,因为手术后遗留的浸润细胞几乎总是会导致癌症复发。/pp  为了确保这种SRS显微镜方法可日常用于脑肿瘤手术中,且无需专家解读。研究人员还构建出了一个目标分类器,其将不同的成像特征,如蛋白/脂质比、轴突密度和细胞构成整合为一个输出信号按照从0至1这个尺度来衡量,提醒病理学家注意肿瘤浸润。这一分类器是利用来自胶质母细胞瘤和癫痫患者的1400多张图像建立起来的,能够以 99%的准确度区分肿瘤浸润区域和非肿瘤区域。/pp  因此,这一免标记的成像技术可用于补充现有的神经手术工作流程,帮助快速客观地确定脑组织的特征及制定临床决策。/p
  • 新品|大功率LED荧光光源-蔡司显微镜专用兼容
    大功率LED荧光光源BGU-LED-MH-scope5(蔡司专用)专为国际知名光学品牌蔡司显微镜而造,兼容蔡司2021年明星产品 Axioscope5/ Axioscope7两款型号,共同实现高品质的荧光成像效果。长寿命的LED光源和高品质荧光滤光组是高品质荧光成像的保证。有单色荧光、双色荧光及多色荧光等多种配置方案可选。采用大功率LED光源,集成模块化设计专利产品,荧光通道一键切换,快速响应。前方位拨动滑块切换荧光通道光源和荧光滤光片组联动,一键切换,操作顺畅。采用高品质荧光滤片组,OD值6,高信噪比;多种波段可选,应用于多种领域的荧光检测。LED即开即用,开机无须预热 使用寿命长,人工维护成本低;可通过电源适配器实时显示荧光亮度情况,实现荧光强度精准控制。荧光滤色片:紫外通道:UV: BP360/50nm FT:415nm BP:460/50nm蓝色通道:B : BP477/35nm FT:505nm BP:530/40nm绿色通道:G : BP540/25nm FT:565nm BP: 605/55nm最多可搭配3组滤光片和保留一组明场观察通道荧光光源:标配大功率LED光源,寿命20000小时以上电源箱:亮度连续可调,可数显强度,额定电压/电流:AC100-240V 50/60Hz0.3A匹配显微镜:Zeiss Axioscope 5/ Axioscope 7可选荧光滤色片组:紫外通道:uV: BP360/50nm FT: 410nm LP:420nm蓝色通道:B : BP477/35nm FT:505nm LP:510nm绿色通道:G : BP540/25nm FT:570nm LP:575nm紫色通道:V :BP405/10nm FT:455nm LP:460nm黄色通道:Y : BP562/40nm FT:593nm BP:640/70nm红色通道:R : BP635/30nm FT: 660nm BP: 710/80nm医疗检测应用:真菌结核杆菌呼吸道七联检,呼吸道病毒妇科检查 滴虫脑炎CTC大功率LED荧光光源BGU-LED-MH-scope5(蔡司专用)专为国际知名光学品牌蔡司显微镜而造,兼容蔡司2021年明星产品 Axioscope5/ Axioscope7两款型号,共同实现高品质的荧光成像效果。长寿命的LED光源和高品质荧光滤光组是高品质荧光成像的保证。有单色荧光、双色荧光及多色荧光等多种配置方案可选。如果您对大功率LED荧光光源BGU-LED-MH-scope5(蔡司专用)感兴趣,欢迎您的咨询!产品彩页:大功率LED荧光光源BGU-LED-MH-scope5(蔡司专用)
  • 通过SXZ 10体式显微镜提高检测质量,保证团队的工作效率
    SOPREMA是一家全球性公司,提供种类齐全的屋顶和屋面建筑围护结构系列产品。SOPREMA公司的解决方案专注于学校、制造工厂和数据中心等结构内的低坡度应用,包括改性沥青膜、聚合物液体应用膜和合成单层PVC膜。在美国的所有制造工厂中,SOPREMA都非常重视员工的安全,并致力于做出更大的贡献,在提供优质产品的同时最小化对环境产生的负面影响。SOPREMA公司已通过ISO 9001、14001和45001认证。质量保证(QA)是实现这一目标的关键因素。使用体式显微镜进行质量保证检测为了改进他们团队的质量保证(QA)检测流程,质量保证经理Amandine Tragus和研发经理Julie Shoemaker在SOPREMA公司的一个生产车间安装了一台奥林巴斯SZX10体式显微镜。在购买这台显微镜之前,SOPREMA公司的QA团队要么是在没有显微镜的情况下对材料进行目测(这种方式很慢,而且不精确),要么将材料送到第三方实验室进行验证(这种方式成本很高)。在过去的五、六年里,他们已经节省了1200多个工时,节省了大量的成本,为团队赢得了宝贵的时间。SOPREMA公司的质量保证实验室技术员Bethany Perronne使用奥林巴斯SZX10显微镜对产品进行检测更迅速、更精确地完成质量保证工作Amandine和她团队的三名技术人员对接收的每批原材料进行质量检测,而且在将成品发送给客户之前,也要使用SZX10体式显微镜进行检测,他们每周检测的成品批次多达10批。Julie强调了这台显微镜的宝贵价值,“我们SOPREMA公司非常重视产品质量,对所有来料(原材料)进行评估,对整批成品进行全面检测。对于现场出现的任何潜在问题,我们都会进行彻底分析。体式显微镜是我们成功完成每个工作流程不可缺少的工具。”SOPREMA公司的质量保证工作确保了其生产的所有成品都符合公司的特定要求,并超出客户的期望。SOPREMA公司设在密西西比州Gulfport的制造厂例如,在SOPREMA公司位于密西西比州Gulfport的工厂里,生产的主要产品之一是SG颗粒表面膜。这些产品的高反光表面必须满足美国严格的反射率要求(标题24、FBC、IECC)。使用SZX10显微镜,QA团队可以快速确认颗粒的适当分散和覆盖是否符合产品标准。以前,Amandine的团队需要花费一个小时或更长时间完成的目视检测工作,如今使用SZX10工业显微镜,只需大约5分钟就能完成。SOPREMA公司可以迅速确保将高质量产品投放到市场,而且还可使产品持续满足行业标准。SXZ10显微镜带来了意想不到的好处事实证明,使用体式显微镜捕获高质量图像,并将图像显示在屏幕上供整个团队观看,促进了团队的互助合作。团队沟通和教学培训得到了改善,而且SOPREMA公司的研发团队和质量保证团队发现他们能够更快、更准确地对需求做出反应。在与客户或其他内部部门沟通时,他们可以使用体式显微镜拍摄的图像,弥补在技术和术语表达方面的不足。正如Amandine所说,“一张图片胜过千言万语。”Julie表示认同,“如果出现问题,使用体式显微镜收集图像和证据的能力,有助于我们查明根本原因,并与我们的供应商或客户进行有效沟通。能够快速有效地诊断、沟通和解决问题至关重要。”为什么选择奥林巴斯产品?体式显微镜已经存在了几十年,而且市场上有很多型号的产品在使用。当被问及SOPREMA公司为什么决定与奥林巴斯合作时,Amandine提到了我们的客户服务。在生产车间中,时间非常宝贵,因此对于SOPREMA公司来说,一个经验丰富、以客户为导向的直销代表,以及公司所提供的售前、售后、培训和实施服务,是奥林巴斯显微镜的最终卖点。当被问及她是否仍然对自己购买的产品感到满意时,Amandine回答说:“非常满意! 在使用这个强大且好用的工具时,我们从未遇到过任何问题。”Julie补充道:“质量成本对我们来说极其重要。我们的品牌(Olympus和SOPREMA)是高品质的代名词,因此拥有这种质量可靠的成像工具,对于我们的团队来说非常棒。”
  • 高端显微镜:国产品牌缺失 这家科技公司“悄然”入场
    光学显微镜至今已有三百多年的历史,从观察细胞的初代显微镜发展到如今打破分辨率极限的超分辨显微镜。近年来,生命科学领域蓬勃发展,对显微成像技术不断产生新的需求,光学显微镜不断向更高分辨率、快速成像、3D成像等高端技术方向发展。我国高端光学显微镜市场长期处于被国外产品垄断的局面,许多关键核心部件依赖进口。令人欣喜的是,近五年来,市场上涌现出多种国产高端光学显微镜,包括超分辨显微镜、双光子显微镜、共聚焦显微镜、光片显微镜等,逐渐打破当前市场格局。基于此,仪器信息网特别制作“破局:国产高端光学显微镜技术‘多点开花’”专题,并向国产光学显微镜企业广泛征稿,(投稿邮箱:lizk@instrument.com.cn),了解各企业主要高端光学显微镜产品技术特点和发展进程。本篇为熵智科技(深圳)有限公司(以下简称“熵智科技”)供稿, 熵智科技是一家创业公司,产品覆盖智能机器人、半导体、3C及生命科学领域。今年九月份发布了超分辨及共聚焦显微成象系统,成为国内少数几家拥有商业化SIM超分辨显微镜和共聚焦显微镜的企业之一。仪器信息网: 请回顾一下贵公司光学显微镜技术的发展历程。显微成像是观察微小物体的重要手段,传统光学显微镜的分辨率能力受光学成像系统限制(即衍射极限),无法满足现代生命科学研究所需的更高解析度、更准确的成像需求。熵智科技作为中国原创3D视觉创业公司第一梯队,横跨机器视觉与微纳光学两大领域,基于出色光学能力跨场景、全链路,提供亚毫米级、亚微米级和纳米级三大光学产品。仪器信息网:当前贵公司主推的产品和技术有哪些。贵公司在高端光学显微镜方面有哪些独具优势的技术? 亚毫米级光学成像及三维图像处理技术方面,熵智科技主推自研的高性能工业3D相机及与工艺相匹配的智能算法软件,提供无序抓取、坡口切割、焊接等工业场景的智能3D视觉系统及整体解决方案。亚微米级光学成像及三维图像处理技术方面,熵智科技主推3D线光谱共聚焦传感器,该产品直切半导体、3C等产业的关键环节,提供超高精度传感器检测技术,填补国内高端传感器市场空白。纳米级光学显微技术方面,熵智科技主推超分辨及共聚焦显微成像分析系统,该系统拥有精确的多微细胞结构生物显微影像分析功能,实现双光路同时,宽场、共聚焦、超分辨三种模式自由切换,其中超分辨显微镜视野可达1mm,共聚焦显微镜视野可达ø18mm-ø22m,实现超10倍扩展。熵智科技超分辨及共聚焦显微成像分析系统熵智科技的超分辨及共聚焦显微成像分析系统,具有超强性能与性价比,相较于昂贵的国外高端光学显微系统及后处理分析软件,不仅突破了光学成像系统的限制,轻松实现纳米尺度的2D/3D动态图像解析能力,还将共聚焦+超分辨+后处理分析完美融合,软件结合场景模块化。熵智科技以研发微纳光学领域的高精尖产品为导向,相应的研发投入、时间周期较长,在高端光学显微技术方面,仍需不断打磨与迭代产品,以满足用户多元化需求。仪器信息网: 贵公司高端光学显微镜在生命科学研究中有哪些应用?超分辨及共聚焦显微成像分析系统具有大视野拼图、图像增强及处理、反卷积处理、特征统计分析、特征标记分类、单细胞定量分析、亚细胞结构分析、细胞亚群圈选分析、特殊细胞/结构识别、多重荧光染色、细胞寻找及跟踪等多项细化功能,可广泛应用于基础生物学、临床医学、病毒学、精准药物筛选等领域为活细胞超分辨及智能成像提供整体解决方案。如基因测序工作中实现超分辨率高通量,计算重构出的超分辨率图像,视场达1.00mm*0.75mm,分辨率可提高1.8-2倍(物镜β=20X,NA=0.75),来源:熵智科技仪器信息网: 从整个行业的角度,您如何看待高端光学显微技术和应用现状,还有哪些问题亟待解决?目前的高端光学显微技术,几乎被徕卡、蔡司、尼康、奥利巴斯四大家族垄断,尤其在高端超分辨及共聚焦显微成像分析系统方面,国内品牌缺失,部分技术存在“卡脖子”问题。9月份,熵智科技发布的超分辨及共聚焦显微成像分析系统在性能上不弱于进口品牌,并且具有价格优势。伴随着国内光学显微镜厂商的技术创新,相信国内光学显微镜的技术发展会越来越好,创造出更好的效益,改变目前高端光学显微镜产品存在的系统格昂贵与各功能模块维修等问题。从应用来看,快速发展的医疗、生命科学研究、材料、半导体等领域对高端光学显微镜的需求日益增长,其技术创新对于终端行业的发展起着重要的推动作用。目前,主流市场的国外高端光学显微产品在应用过程中,存在后处理分析简陋、具体场景兼容差等问题。仪器信息网:您如何看待国产光学显微镜生产商和进口品牌厂商的差距?国产光学显微镜产业起步较晚,主要集中在中低端领域,高端光学技术掌握程度偏低,高端产品多来源于成果转化,仍处在实验室阶段、功能单一。相较于进口品牌厂商,国产光学显微镜生产商需在技术层面持续攻关打磨,提升国产光学显微镜的可靠性与稳定性。同时,在软硬件整体体验方面超越国外产品,为用户提供快速的技术服务支持,让产品买得起、用得起。近年来,我国高端光学显微镜进口金额逐年递增,对国产企业而言,如果能够制造出高性能、高可靠性的高端光学显微镜产品,无疑是抓住巨大市场的绝好机会。仪器信息网: 您认为,未来几年高端光学显微镜的热点市场需求有哪些?高效好用的显微成像系统,是生命科学研究的必需“利器”。未来,随着高端光学显微镜技术的发展与成熟,超高分辨研究方向将由系统本身转向应用,像生命科学研究这类热点市场,对可定制化的超分辨及共聚焦显微成像分析产品需求将不断扩大。
  • 偏光显微镜在汽车材料和医药辅料中石棉检测的应用
    内容摘要石棉的危害:石棉本身并无毒害,它的最大危害来自于它的粉尘,当这些细小的粉尘被吸入人体内,就会附着并沉积在肺部,造成肺部疾病,石棉已被国际癌症研究中心肯定为致癌物。 石棉纤维可以分裂约为0.5um的元纤维,该纤维长度一般低于5um。由于它们的化学性质非常的稳定,可以长期的漂浮在空气中或水中,持续地造成广域性污染极其微小的石棉粉尘飞散到空中,被吸入到人体的肺后,经过20到40年的潜伏期,很容易诱发肺癌等肺部疾病。 左:纤维状阳起石平行偏振器成像。右:用正交偏光镜拍摄的阳起石样本。阳起石纤维显示出明显的双折射颜色,这明显区别于玻璃纤维(无双折射)。DM4P显微镜使用透射光、20x物镜和偏光镜的成像效果 石棉纤维呈明显的分散色。温石棉是最常见的石棉。在这张图中,典型的橄榄石色系是蓝色的。介质的折射率为1.553。DM4P显微镜使用透射光、20x DS(色散染色)物镜和偏光镜的成像效果 这张图片显示了典型的洋红色分散色温石棉在E-W方向。介质的折射率为1.553。DM4P显微镜使用透射光、20x DS(色散染色)物镜和偏光镜的成像效果 石棉检测-偏光显微镜法(PLM)PLM 原理为每种矿物都有其特定矿物光性和形态特征,通过偏光显微镜观测矿物晶体形态、折光率、干涉色、2V角、延性、颜色、多色性、解理、轮廓、糙面、克线、 突起等特征鉴定石棉矿物。偏光显微镜下,温石棉为细长纤维,呈浅黄绿色或低正突出至低负突出,折光率1.540-1.550。干涉色经常是I级灰白至黄色。闪石类直闪石折射率1.605-1.710,除透闪石消光角为10-20o外,均为平行或近于平行消光。透闪石石棉为短纤维,呈无色,中正突出。横切面干涉色为I级黄白,纵切面上最高干涉色Ⅱ级橙黄。横切面对称消光,其他纵切面 均为斜消光,沿柱面方向为正延长。因此,PLM法即可以鉴定石棉种类是各国鉴定石棉普遍采用的方法之一。 针对上述问题的解决方案和满足石棉检测需求,徕卡显微系统推出三款偏光显微镜,以便通过偏光系统观察纤维的延性和形态,用色散染色性质进行区分石棉的类别,满足不同领域的用户需要: 徕卡 DM4P 专业偏光显微镜 l 半自动机型 专为科研及研发设计l 带编码的可聚焦、可调中勃氏镜l 视野直径:22/25mml 智能化自动光阑设置l 自动光源调整l 6孔物镜转盘l 内置1.6倍变焦 徕卡 DM2700P -适用于任何用户的偏光显微镜 l 手动机型l 人体工学设计:高度可调聚焦按钮l 令人满意的结果重现性l 视野直径:22/25mml LED照明及卤素灯照明l 5孔物镜转盘l 颜色编码的光阑、聚光镜设置l 聚焦锁定功能 徕卡DM750P -用于教学培训的显微镜 l 手动教学培训偏光显微镜,简单操作易使用l 178mm直径高精度旋转载物台,旋转角度360°l 视野直径:20mml 人体工学设计l 4孔物镜转盘l 可配置锥光模块l 专用ICC50Camera
  • 利用原子力显微镜对半导体制造中的缺陷进行检测与分类
    利用原子力显微镜进行的自动缺陷复检可以以纳米级的分辨率在三维空间中可视化缺陷,因此纳米级成像设备是制造过程的一个重要组成部分,它被视为半导体行业中的理想技术。结合原子力显微镜的三维无创成像,使用自动缺陷复查对缺陷进行检测和分类。伴随光刻工艺的不断进步,使生产更小的半导体器件成为可能。 随着器件尺寸的减小,晶圆衬底上的纳米级缺陷已经对器件的性能产生了限制。 因此对于这些缺陷的检测和分类需要具有纳米级分辨率的表征方法。 由于可见光的衍射极限,传统的自动光学检测(AOI)无法在该范围内达到足够的分辨率,这会损害定量成像和随后的缺陷分类。 另一方面,使用原子力显微镜 (AFM) 的自动缺陷复检 (ADR)技术以 AFM 常用的纳米分辨率能够在三维空间中可视化缺陷。 因此,ADR-AFM 减少了缺陷分类的不确定性,是半导体行业缺陷复检的理想技术。 缺陷检查和复检 随着半导体器件依靠摩尔定律变得越来越小,感兴趣的缺陷(DOI)的大小也在减小。DOI是可能降低半导体器件性能的缺陷,因此对工艺良率管理非常重要。DOI尺寸的减小对缺陷分析来说是一个挑战:合适的表征方法必须能够在两位数或一位数纳米范围内以高横向和垂直分辨率对缺陷进行无创成像。 传统上,半导体行业的缺陷分析包括两个步骤。第一步称为缺陷检测,利用高吞吐量但低分辨率的快速成像方法,如扫描表面检测系统(SSIS)或AOI。这些方法可以提供晶圆表面缺陷位置的坐标图。然而,由于分辨率较低,AOI和SSIS在表征纳米尺寸的DOI时提供的信息不足,因此,在第二步中依赖高分辨率技术进行缺陷复检。对于第二步,高分辨率显微镜方法,如透射或扫描电子显微镜(TEM和SEM)或原子力显微镜(AFM),通过使用缺陷检测的缺陷坐标图,对晶圆表面的较小区域进行成像,以解析DOI。利用AOI或SSIS的坐标图可以最大限度地减少感兴趣的扫描区域,从而缩短缺陷复检的测量时间。 众所周知,SEM和TEM的电子束可能会对晶圆造成损伤,所以更佳的技术选择应不能对晶圆产生影响。那么选择采用非接触测量模式的AFM可以无创地扫描表面。不仅有高横向分辨率,AFM还能够以高垂直分辨率对缺陷进行成像。因此,原子力显微镜提供了可靠的缺陷定量所需的三维信息。 原子力显微镜 通过在悬臂末端使用纳米尺寸的针尖对表面进行机械扫描,AFM在传统成像方法中实现了最高的垂直分辨率。除了接触模式外,AFM还可以在动态测量模式下工作,即悬臂在样品表面上方振荡。在这里,振幅或频率的变化提供了有关样品形貌的信息。这种非接触AFM模式确保了以高横向和垂直分辨率对晶圆表面进行无创成像。由于自动化原子力显微镜的最新发展,原子力显微镜的应用从学术研究扩展到了如硬盘制造和半导体技术等工业领域。该行业开始关注AFM的多功能性及其在三维无创表征纳米结构的能力。因此,AFM正在发展成为用于缺陷分析的下一代在线测量解决方案。 使用原子力显微镜自动缺陷复检 基于 AFM 的缺陷复检技术的最大挑战之一是将缺陷坐标从 AOI 转移到 AFM。最初,用户在 AOI 和 AFM 之间的附加步骤中在光学显微镜上手动标记缺陷位置,然后在 AFM 中搜索这些位置。然而,这个额外的步骤非常耗时并且显着降低了吞吐量。另一方面,使用 AFM 的自动缺陷复检从 AOI 数据中导入缺陷坐标。缺陷坐标的导入需要准确对准晶圆以及补偿 AOI 和 AFM 之间的载物台误差。具有比 AOI 更高位置精度的光学分析工具(例如Candela),可以减少快速中间校准步骤中的载物台误差。以下 ADR-AFM 测量包括在给定缺陷坐标处的大范围调查扫描、缺陷的高分辨率成像和缺陷分类。由于自动化,测量过程中用户不必在场,吞吐量增加了一个数量级。为了保持纳米级的针尖半径,使多次后续扫描依旧保持高分辨率,ADR-AFM 采用非接触式动态成像模式。因此,ADR-AFM 可防止探针针尖磨损并确保对缺陷进行精确地定量复检。图1:用AOI和ADR-AFM测定的缺陷尺寸的直接比较,见左侧表格。右侧显示了所有六种缺陷的相应AFM形貌扫描。突出的缺陷称为Bump,凹陷的缺陷称为Pit。 AOI和ADR-AFM的比较 图1比较了 AOI 和 ADR-AFM 对相同纳米级缺陷的缺陷复检结果。AOI 根据散射光的强度估计缺陷的大小,而 ADR-AFM 通过机械扫描直接缺陷表面进行成像:除了横向尺寸外,ADR-AFM 还测量缺陷的高度或深度,从而可以区分凸出的“bump”和凹陷的“pit”缺陷。 缺陷三维形状的可视化确保了可靠的缺陷分类,这是通过 AOI 无法实现的。当比较利用 AOI 和 ADR-AFM 确定缺陷的大小时,发现通过 AOI 估计的值与通过 ADR-AFM 测量的缺陷大小存在很大差异。对于凸出的缺陷,AOI 始终将缺陷大小低估了一半以上。 这种低估对于缺陷 4 尤其明显。在这里,AOI 给出的尺寸为 28 nm ,大约是 ADR-AFM 确定的尺寸为 91 nm 的三分之一。 然而,在测量“pit”缺陷 5 和 6 时,观察到了 AOI 和 ADR-AFM 之间的最大偏差。 AOI将尺寸在微米范围内的缺陷低估了两个数量级以上。 用 AOI 和 ADR-AFM 确定的缺陷大小的比较清楚地表明,仅 AOI不足以进行缺陷的成像和分类。图 2:ADR-AFM 和 ADR-SEM 之间的比较,a) ADR-SEM 之前遗漏的凸出缺陷的 AFM 图像。 ADR-SEM 扫描区域在 AFM 形貌扫描中显示为矩形。 b) 低高度 (0.5 nm) 缺陷的成像,ADR-SEM 无法解析该缺陷。 c) ADR-SEM 测量后晶圆表面上的电子束损伤示例,可见为缺陷周围的矩形区域。 ADR-SEM和ADR-AFM的比较 除了ADR-AFM,还可以使用 ADR-SEM 进行高分辨率缺陷复查。ADR-SEM根据AOI数据中的DOI坐标,通过SEM测量进行自动缺陷复检,在此期间,高能电子束扫描晶圆表面。虽然SEM提供了很高的横向分辨率,但它通常无法提供有关缺陷的定量高度信息。为了比较ADR-SEM和ADR-AFM的性能,首先通过ADR-SEM对晶圆的相同区域进行成像,然后进行ADR-AFM测量(图2)。AFM图像显示,ADR-SEM扫描位置的晶圆表面发生了变化,在图2a中,AFM形貌显示为矩形。由于ADR-AFM中ADR-SEM扫描区域的可见性,图2a说明ADR-SEM遗漏了一个突出的缺陷,该缺陷位于SEM扫描区域正上方。此外,ADR-AFM具有较高的垂直分辨率,其灵敏度足以检测高度低至0.5nm的表面缺陷。由于缺乏垂直分辨率,这些缺陷无法通过ADR-SEM成像(图2b)。此外,图2c通过总结高能电子束对样品表面造成的变化示例,突出了电子束对晶片造成损坏的风险。ADR-SEM扫描区域可以在ADR-AFM图像中识别为缺陷周围的矩形。相比之下,无创成像和高垂直分辨率使ADR-AFM非常适合作为缺陷复检的表征技术。
  • 奥林巴斯智能激光显微镜,亚微米3D测量检测新体验
    随着工业制造水平的不断提高,制造出的各类工业产品也越来越智能化,产品的升级随之而来的是产品的检测要求也越来越精细,对检测的设备也提出了更高的要求,尤其是半导体、平板显示、电子器件、高精密电路板制造以及材料等领域,所需要的显微镜检测设备越发精细化,不仅要极其精确还得智能。在众多的显微镜公司及显微镜产品中,奥林巴斯公司是世界中具有先进光学技术的代表企业,多年来一直在显微镜领域攻克难关,进行光学技术的创新,推出了与时俱进的奥林巴斯激光显微镜OLS5100,颠覆了传统激光显微镜,将大数据、科技智能等高端技术融入了新一代的3D测量激光显微镜中,助力我国工业领域的发展。奥林巴斯LEXT OLS5100是全新的一代激光显微镜,它可观察纳米范围的台阶,可测量亚微米级别的高度差,还可测量从线到面的表面粗糙度,在这些方面上的测量上,OLS5100通过它的智能物镜选择助手和智能实验管理助手,以非接触、非破坏的观察方式轻松实现3D观察和测量,容易、准确、快速!何为智能物镜选择助手?它如同机器人一样,给它下达指令,就能给你完成你想要的目的。智能物镜助手也一样,它能帮助您确定哪款物镜最适合用于样品表面的粗糙度测量。它通过三个步骤就能完成你对物镜的选择:首先,启动智能物镜选择助手功能。 第二,点击开始。第三,它就会确定并告诉你所选择的物镜是否适合当前被检测的样品。这样一来,就能顺利减少因错误选择物镜造成的实验时间浪费,同时还能让测量结果保持稳定,不受操作员技能水平的影响。智能实验管理助手,它是一个帮助用户管理实验计划、采集和分析的软件。在测量过程中可根据软件生成的定制实验计划扫描样品,所有的检测分析过程全部显示在屏幕上,这样的可视化可让用户在分析中更容易发现问题,优化检测结果,从而节省更多的时间和人力。制造业在变革,智能化转型升级是必然的结果,奥林巴斯不断开拓打造世界先进的测试和测量解决方案,为各行各业提供好用方便的检测武器。而奥林巴斯激光显微镜OLS5100顺应改革潮流,除了出色的激光共焦光学系统获得更加清晰的图像外,还配备了智能物镜选择助手和智能实验管理助手,无需制备样品、非接触面粗糙度分析和高效率的亚微米3D测量强大功能,测量精确、可靠稳定的奥林巴斯激光显微镜成为了制造研发和质量保障的重要设备。
  • 利用原子力显微镜对半导体制造中的缺陷进行检测与分类
    作者: Sang-Joon Cho, Park Systems Corp.副总裁兼研发中心总监、Ilka M. Hermes, Park Systems Europe 首席科学家利用原子力显微镜进行的自动缺陷复检,通过纳米级的分辨率在三维空间中可视化缺陷。因此,纳米级成像设备是制造过程的一个重要组成部分,它被视为当今半导体行业中最理想的技术。结合原子力显微镜的三维无创成像,使用自动缺陷复查对缺陷进行精确检测和准确分类。 与时俱进的光刻工艺使得生产的半导体器件越来越微小化。器件尺寸一旦减小,晶圆衬底上的纳米级缺陷就限制了器件的性能使用。因此对于这些缺陷的检测和分类需要具有纳米级分辨率的表征技术。由于可见光的衍射极限,传统的自动光学检测(AOI)无法在该范围内达到足够的分辨率,进而损害定量成像和随后的缺陷分类。而原子力显微镜 (AFM) 自动缺陷复检 (ADR)技术则有效地解决了该问题。该技术利用 AFM 常用的纳米分辨率,能够在三维空间中可视化缺陷,大大减少了缺陷分类的不确定性。因此,ADR-AFM 成为了当今半导体行业缺陷复检最理想的技术。缺陷检查和复检由于摩尔定律,半导体器件变得越来越小,需要检查的缺陷(DOI)大小也在减小。DOI可能会降低半导体器件性能的缺陷,因此对工艺良率的管理非常重要。DOI尺寸的减小对缺陷分析来说是一个挑战。合适的表征技术必须能够在两位数或一位数纳米范围内以高横向分辨率和垂直分辨率对缺陷进行无创成像。一般来说,半导体行业的缺陷分析包含两个步骤。第一步:缺陷检测。利用吞吐量虽高但低分辨率的快速成像方法,如扫描表面检测系统(SSIS)或AOI。这些方法可以提供晶圆表面缺陷位置的坐标图。然而,由于分辨率较低,AOI和SSIS在表征纳米尺寸的DOI时提供的信息不足,接下来需要依赖高分辨率技术进行缺陷复检。第二步:缺陷复检。利用高分辨率显微镜方法,如透射电子显微镜(TEM)或扫描电子显微镜(SEM)或原子力显微镜(AFM)。通过使用缺陷检测的缺陷坐标图,对晶圆表面的较小区域进行成像,以解析DOI。利用AOI或SSIS的坐标图可以最大限度地减少检查的扫描区域,从而缩短缺陷复检的测量时间。众所周知,SEM和TEM的电子束可能会对晶圆造成损伤,而非接触测量模式的AFM则有效地避免了该影响。它不仅可以无创地扫描表面,还有高横向和垂直分辨率对缺陷进行成像。因此,原子力显微镜能提供可靠的缺陷定量所需的三维信息。原子力显微镜通过在悬臂末端使用纳米尺寸的针尖对表面进行机械扫描,AFM在传统成像方法中可达到最高的垂直分辨率。除接触模式外,AFM还可以启用动态测量模式,即悬臂在样品表面上方振荡。由此,振幅或频率的变化提供了有关样品形貌的信息。这种非接触AFM模式确保了以高横向和垂直分辨率对晶圆表面进行无创成像。随着自动化原子力显微镜的更新发展,原子力显微镜的应用越来越广泛,从学术研究扩展到了如硬盘制造和半导体技术等工业领域。该行业开始关注AFM的多功能性及其在三维无创表征纳米结构的能力。因此,AFM正发展成为用于缺陷分析的新一代在线测量解决方案。使用原子力显微镜自动缺陷复检AFM 缺陷复检技术的最大挑战之一是将缺陷坐标从 AOI 转移到 AFM。基于此,用户最初会在 AOI 和 AFM 之间的附加步骤中,手动在光学显微镜上手动标记缺陷位置,然后在 AFM 中搜索这些位置。然而,这个额外的步骤不仅非常耗时还大大降低了吞吐量。另外,使用 AFM 的自动缺陷复检需要从 AOI 数据中导入缺陷坐标。而缺陷坐标的导入需要准确对准晶圆及精减AOI 和 AFM 之间的载物台误差。位置精度比AOI 更高的光学分析工具(例如Candela),可以有效减少中间校准步骤中的载物台误差。以下 ADR-AFM 测量包括在给定缺陷坐标处的大范围调查扫描、缺陷的高分辨率成像和缺陷分类。自动化的测量过程无需用户在场,吞吐量还增加了一个数量级。为了保持纳米级的针尖半径和连续扫描依旧保持高分辨率,ADR-AFM 采用非接触式动态成像模式。因此,ADR-AFM 可有效防止探针针尖磨损并确保对缺陷进行精确地定量复检。△图1:用AOI和ADR-AFM测定的缺陷尺寸的直接比较,见左侧表格。右侧显示了所有六种缺陷的相应AFM形貌扫描。突出的缺陷称为Bump,凹陷的缺陷称为Pit。AOI和ADR-AFM的比较图1比较了 AOI 和 ADR-AFM 在相同纳米级缺陷下所产生的不同缺陷复检结果。AOI 根据散射光的强度估计缺陷的大小,而 ADR-AFM 则通过机械直接扫描缺陷表面进行成像。除了横宽,ADR-AFM 还测量缺陷的高度或深度,从而可以区分凸出的“bump”和凹陷的“pit”缺陷。可视化的缺陷三维形状确保了缺陷分类的可靠性和精确性,而这些是AOI无法实现的。当对比分别利用 AOI 和 ADR-AFM 确定缺陷的大小时,我们发现通过 AOI 估计的值与通过 ADR-AFM 测量的缺陷大小存在很大差异。对于凸出的缺陷,AOI 始终将缺陷大小低估了一半以上。这种低估对于缺陷 4 尤其明显。在这里,AOI 给出的尺寸为 28 nm ,大约是 ADR-AFM 确定的 91 nm 尺寸的三分之一。在测量“pit”缺陷 5 和 6 时,我们观察到了 AOI 和 ADR-AFM 之间的最大偏差。AOI将尺寸在微米范围内的缺陷低估了两个数量级以上。上述比较清楚地表明,仅用AOI不足以进行缺陷的成像和分类。△图2:ADR-AFM 和 ADR-SEM 之间的比较,a) ADR-SEM 之前遗漏的凸出缺陷的 AFM 图像。ADR-SEM 扫描区域在 AFM 形貌扫描中显示为矩形。b) 低高度 (0.5 nm) 缺陷的成像,ADR-SEM 无法解析该缺陷。c) ADR-SEM 测量后晶圆表面上的电子束损伤示例,可见为缺陷周围的矩形区域。ADR-SEM和ADR-AFM的比较除了ADR-AFM, ADR-SEM 也可以进行高分辨率的缺陷复查。ADR-SEM根据AOI数据中的DOI坐标,通过SEM测量进行自动缺陷复检。在此期间,高能电子束扫描晶圆表面。虽然SEM提供了很高的横向分辨率,但它通常无法提供有关缺陷的定量高度信息。为了比较ADR-SEM和ADR-AFM的性能,首先需要通过ADR-SEM对晶圆的相同区域进行成像,然后通过ADR-AFM进行测量(图2)。AFM图像显示,ADR-SEM扫描的晶圆表面发生了变化,在图2a中,AFM形貌显示为矩形。由于ADR-AFM中ADR-SEM扫描区域的可视性,图2a表明ADR-SEM遗漏了一个突出的缺陷,该缺陷位于SEM扫描区域正上方。此外,ADR-AFM具有较高的垂直分辨率,其灵敏度足以检测高度低至0.5nm的表面缺陷。由于缺乏垂直分辨率,这些缺陷无法通过ADR-SEM成像(图2b)。此外,图2c通过总结高能电子束对样品表面造成的变化示例,突出了电子束对晶片造成损坏的风险。ADR-SEM扫描区域可以在ADR-AFM图像中识别为缺陷周围的矩形。相比之下,无创成像和高垂直分辨率使ADR-AFM非常适合作为缺陷复检的表征技术。结论随着现代技术不断创新,半导体器件尺寸不断减小,原子力显微镜作为一种高分辨率、无创的缺陷分析方法在半导体工业中的作用越来越明显。AFM自动化的测量简化并加快了之前AFM在缺陷表征方面低效的工作流程。AFM自动化方面的进展是引入ADR-AFM的基础。在ADR-AFM中,缺陷坐标可以从之前的AOI测量中导入,随后基于AFM的表征不需要用户在场。因此,ADR-AFM可作为缺陷复检的在线方法。特别是对于一位或两位级纳米范围内的缺陷尺寸,ADR-AFM补充了传统的AOI性能,AFM的高垂直分辨率有助于进行可靠的三维缺陷分类。非接触式测量模式确保了无创伤的表面表征,并有效防止AFM针尖磨损,从而确保在许多连续测量中能够依旧保持精准的高分辨率。
  • 利用原子力显微镜对半导体制造中的缺陷进行检测与分类
    利用原子力显微镜进行的自动缺陷复检可以以纳米级的分辨率在三维空间中可视化缺陷,因此纳米级成像设备是制造过程的一个重要组成部分,它被视为半导体行业中的理想技术。结合原子力显微镜的三维无创成像,使用自动缺陷复查对缺陷进行检测和分类。伴随光刻工艺的不断进步,使生产更小的半导体器件成为可能。 随着器件尺寸的减小,晶圆衬底上的纳米级缺陷已经对器件的性能产生了限制。 因此对于这些缺陷的检测和分类需要具有纳米级分辨率的表征方法。 由于可见光的衍射极限,传统的自动光学检测(AOI)无法在该范围内达到足够的分辨率,这会损害定量成像和随后的缺陷分类。 另一方面,使用原子力显微镜 (AFM) 的自动缺陷复检 (ADR)技术以 AFM 常用的纳米分辨率能够在三维空间中可视化缺陷。 因此,ADR-AFM 减少了缺陷分类的不确定性,是半导体行业缺陷复检的理想技术。缺陷检查和复检随着半导体器件依靠摩尔定律变得越来越小,感兴趣的缺陷(DOI)的大小也在减小。DOI是可能降低半导体器件性能的缺陷,因此对工艺良率管理非常重要。DOI尺寸的减小对缺陷分析来说是一个挑战:合适的表征方法必须能够在两位数或一位数纳米范围内以高横向和垂直分辨率对缺陷进行无创成像。传统上,半导体行业的缺陷分析包括两个步骤。第一步称为缺陷检测,利用高吞吐量但低分辨率的快速成像方法,如扫描表面检测系统(SSIS)或AOI。这些方法可以提供晶圆表面缺陷位置的坐标图。然而,由于分辨率较低,AOI和SSIS在表征纳米尺寸的DOI时提供的信息不足,因此,在第二步中依赖高分辨率技术进行缺陷复检。对于第二步,高分辨率显微镜方法,如透射或扫描电子显微镜(TEM和SEM)或原子力显微镜(AFM),通过使用缺陷检测的缺陷坐标图,对晶圆表面的较小区域进行成像,以解析DOI。利用AOI或SSIS的坐标图可以最大限度地减少感兴趣的扫描区域,从而缩短缺陷复检的测量时间。众所周知,SEM和TEM的电子束可能会对晶圆造成损伤,所以更佳的技术选择应不能对晶圆产生影响。那么选择采用非接触测量模式的AFM可以无创地扫描表面。不仅有高横向分辨率,AFM还能够以高垂直分辨率对缺陷进行成像。因此,原子力显微镜提供了可靠的缺陷定量所需的三维信息。原子力显微镜通过在悬臂末端使用纳米尺寸的针尖对表面进行机械扫描,AFM在传统成像方法中实现了最高的垂直分辨率。除了接触模式外,AFM还可以在动态测量模式下工作,即悬臂在样品表面上方振荡。在这里,振幅或频率的变化提供了有关样品形貌的信息。这种非接触AFM模式确保了以高横向和垂直分辨率对晶圆表面进行无创成像。由于自动化原子力显微镜的最新发展,原子力显微镜的应用从学术研究扩展到了如硬盘制造和半导体技术等工业领域。该行业开始关注AFM的多功能性及其在三维无创表征纳米结构的能力。因此,AFM正在发展成为用于缺陷分析的下一代在线测量解决方案。使用原子力显微镜自动缺陷复检基于 AFM 的缺陷复检技术的最大挑战之一是将缺陷坐标从 AOI 转移到 AFM。最初,用户在 AOI 和 AFM 之间的附加步骤中在光学显微镜上手动标记缺陷位置,然后在 AFM 中搜索这些位置。然而,这个额外的步骤非常耗时并且显着降低了吞吐量。另一方面,使用 AFM 的自动缺陷复检从 AOI 数据中导入缺陷坐标。缺陷坐标的导入需要准确对准晶圆以及补偿 AOI 和 AFM 之间的载物台误差。具有比 AOI 更高位置精度的光学分析工具(例如Candela),可以减少快速中间校准步骤中的载物台误差。以下 ADR-AFM 测量包括在给定缺陷坐标处的大范围调查扫描、缺陷的高分辨率成像和缺陷分类。由于自动化,测量过程中用户不必在场,吞吐量增加了一个数量级。为了保持纳米级的针尖半径,使多次后续扫描依旧保持高分辨率,ADR-AFM 采用非接触式动态成像模式。因此,ADR-AFM 可防止探针针尖磨损并确保对缺陷进行精确地定量复检。图1:用AOI和ADR-AFM测定的缺陷尺寸的直接比较,见左侧表格。右侧显示了所有六种缺陷的相应AFM形貌扫描。突出的缺陷称为Bump,凹陷的缺陷称为Pit。AOI和ADR-AFM的比较图1比较了 AOI 和 ADR-AFM 对相同纳米级缺陷的缺陷复检结果。AOI 根据散射光的强度估计缺陷的大小,而 ADR-AFM 通过机械扫描直接缺陷表面进行成像:除了横向尺寸外,ADR-AFM 还测量缺陷的高度或深度,从而可以区分凸出的“bump”和凹陷的“pit”缺陷。 缺陷三维形状的可视化确保了可靠的缺陷分类,这是通过 AOI 无法实现的。当比较利用 AOI 和 ADR-AFM 确定缺陷的大小时,发现通过 AOI 估计的值与通过 ADR-AFM 测量的缺陷大小存在很大差异。对于凸出的缺陷,AOI 始终将缺陷大小低估了一半以上。 这种低估对于缺陷 4 尤其明显。在这里,AOI 给出的尺寸为 28 nm ,大约是 ADR-AFM 确定的尺寸为 91 nm 的三分之一。 然而,在测量“pit”缺陷 5 和 6 时,观察到了 AOI 和 ADR-AFM 之间的最大偏差。 AOI将尺寸在微米范围内的缺陷低估了两个数量级以上。 用 AOI 和 ADR-AFM 确定的缺陷大小的比较清楚地表明,仅 AOI不足以进行缺陷的成像和分类。图 2:ADR-AFM 和 ADR-SEM 之间的比较,a) ADR-SEM 之前遗漏的凸出缺陷的 AFM 图像。 ADR-SEM 扫描区域在 AFM 形貌扫描中显示为矩形。 b) 低高度 (0.5 nm) 缺陷的成像,ADR-SEM 无法解析该缺陷。 c) ADR-SEM 测量后晶圆表面上的电子束损伤示例,可见为缺陷周围的矩形区域。ADR-SEM和ADR-AFM的比较除了ADR-AFM,还可以使用 ADR-SEM 进行高分辨率缺陷复查。ADR-SEM根据AOI数据中的DOI坐标,通过SEM测量进行自动缺陷复检,在此期间,高能电子束扫描晶圆表面。虽然SEM提供了很高的横向分辨率,但它通常无法提供有关缺陷的定量高度信息。为了比较ADR-SEM和ADR-AFM的性能,首先通过ADR-SEM对晶圆的相同区域进行成像,然后进行ADR-AFM测量(图2)。AFM图像显示,ADR-SEM扫描位置的晶圆表面发生了变化,在图2a中,AFM形貌显示为矩形。由于ADR-AFM中ADR-SEM扫描区域的可见性,图2a说明ADR-SEM遗漏了一个突出的缺陷,该缺陷位于SEM扫描区域正上方。此外,ADR-AFM具有较高的垂直分辨率,其灵敏度足以检测高度低至0.5nm的表面缺陷。由于缺乏垂直分辨率,这些缺陷无法通过ADR-SEM成像(图2b)。此外,图2c通过总结高能电子束对样品表面造成的变化示例,突出了电子束对晶片造成损坏的风险。ADR-SEM扫描区域可以在ADR-AFM图像中识别为缺陷周围的矩形。相比之下,无创成像和高垂直分辨率使ADR-AFM非常适合作为缺陷复检的表征技术。结论随着现代技术中半导体器件尺寸的不断减小,原子力显微镜作为一种高分辨率、无创的缺陷分析方法在半导体工业中的作用越来越明显。AFM测量的自动化简化并加快了之前AFM在缺陷表征方面低效的工作流程。AFM自动化方面的进展是引入ADR-AFM的基础,在ADR-AFM中,缺陷坐标可以从之前的AOI测量中导入,随后基于AFM的表征不需要用户在场。因此,ADR-AFM可作为缺陷复检的在线方法。特别是对于一位或两位级纳米范围内的缺陷尺寸,ADR-AFM补充了传统的AOI,AFM的高垂直分辨率有助于可靠的三维缺陷分类。非接触式测量模式确保了无创伤表面表征,并防止AFM针尖磨损,从而确保在许多连续测量中能够维持高分辨率。作者:Sang-Joon Cho, Vice President and director of R&D Center, Park Systems Corp.Ilka M. Hermes, Principal Scientist, Park Systems Europe.
  • “超级显微镜”带你探微格物——探访中国散裂中子源
    广东东莞大朗镇,松山湖科这里曾是一片荔枝林,如今坐落着一座“中子工厂”。中国散裂中子源(CSNS),我国迄今为止已建成的单项投资规模最大的大科学工程。它的建成,使我国成为继英国、美国、日本之后,世界上第四个拥有脉冲式散裂中子源的国家。前不久,中国散裂中子源二期工程组织了可行性研究报告评审。明年上半年,二期工程有望动工建设。散裂中子源是什么,为什么被称为“国之重器”?中国科学院高能物理研究所(以下简称中科院高能所)副所长、东莞研究部主任陈延伟打了个比方:“简单来说,散裂中子源就是一台‘超级显微镜’,其产生的中子如同‘探针’,可以清晰检测物质的内部结构。”陈延伟介绍,作为当今人类深度探索微观世界的有力工具,散裂中子源广泛应用于新材料研发、关键零部件的性能检测等热门领域,为材料科学技术、物理学、化学化工、生命科学、新能源等基础研究和应用研究提供先进的科研平台,对满足国家重大战略需求和解决前沿科学诸多领域的瓶颈问题具有重要意义。1 设备研制达到国际先进水平,核心设备国产化率达90%以上中子,组成原子核的基本粒子之一。中子有很多特质。它不带电,但有磁矩,能很好地帮助我们对磁性结构做研究;它穿透力强,具有非破坏性,能够原位地研究大的工程部件的残余应力和金属疲劳,为高端制造保驾护航;它对生命科学和能源领域极为重要的元素,如碳、氢、氧、氮等,都比较敏感;它跟原子核相互作用,能够区分同位素……“这些特质,决定了中子在微观研究领域的不可替代性。”中科院高能所东莞研究部副主任、散裂中子源科学中心副主任金大鹏对记者说。研究物质微观结构需要大量中子,这就要用到能安全、高效地产生中子的散裂中子源。中国散裂中子源主要由三大部分构成:2台加速器,包括1台负氢离子直线加速器、1台快循环质子同步加速器;1个靶站;多台中子谱仪。此外,还有相应配套设施。陈延伟介绍了其工作原理:将质子加速到16亿电子伏特,把速度相当于0.92倍光速的质子束当成“子弹”,去轰击原子序数很高的重金属靶。靶的原子核被撞击出质子和中子,科学家通过特殊的装置“收集”中子,开展各种实验。建设中国散裂中子源的建议,始于上世纪九十年代末期关于中国高能物理发展战略的研究。此后,中国散裂中子源被列入国家“十一五”大科学装置建设计划。2006年,中国散裂中子源选址广东东莞。2011年,中国散裂中子源开始正式建设。2017年8月,首次质子打靶,成功获得中子束流;2018年3月,正式建成;2018年8月,正式通过国家验收,投入运行。散裂中子源装置庞大,设备部件繁多,工艺复杂。“建设散裂中子源,很多技术都需要从头探索。6年半时间就能建成,离不开关键核心技术的突破。”金大鹏介绍。快循环质子同步加速器所用的25赫兹交流磁铁,在我国属首次研制。研制期间,遇到了超乎想象的技术难题。铁芯和线圈振动开裂、涡流发热……如何解决这些经验之外的新问题?科研人员与合作单位联合攻关,最终依靠自己的力量研制出合格的磁铁。科研人员还创新提出了谐振电源的谐波补偿方法,解决了多台磁铁之间的磁场同步问题。挑战接踵而至——高功率靶要用到钨材,而钨材不耐冲刷,需要在其外包覆一层钽金属。怎样把钽做到足够薄,并提高钽和钨的结合力?在零下253摄氏度左右低温下工作的液氢慢化器,其焊接都是难度极大的薄壁焊接,如何保证可靠性?中国散裂中子源的建设过程,也是自主攻关掌握核心关键技术的过程。金大鹏介绍,25赫兹交流磁铁、高功率靶、液氢慢化器、中子探测器等多项关键核心技术突破以后,对其他领域的发展也产生了一定影响。中国散裂中子源各项设备的批量生产在全国近百家合作单位完成。通过自主创新和集成创新,许多设备的研制达到国际先进水平,核心设备国产化率达90%以上,这不仅大大降低了装置成本,还有力提升了国内相关产业的技术水平和制造能力。金大鹏举了个例子:由于工艺水平高、产品质量好,中国散裂中子源靶体部件的制造单位,成功中标了世界上第五台脉冲式散裂中子源——欧洲散裂中子源的靶体部件。2 研发过程中的技术突破有望为肿瘤治疗带来重要技术革新位于地下17米的加速器隧道里,排列着各种颜色、连接各种管线的复杂设备。科研人员使用氢气产生负氢离子,并将它们在直线加速器里加速。当它们的能量达到8千万电子伏特时,将“飞奔”进入环形的快循环质子同步加速器。一秒钟之内,就有25波负氢离子奔来。在这里,负氢离子将转变为质子,并通过不断“狂奔”、反复加速,将能量提高到16亿电子伏特,速度提升到0.92倍光速。接近光速的质子束被引出,去轰击钨靶,由此产生中子。在加速器关键技术研发过程中,也产生了一些新技术成果,并已衍生出具体应用,开花结果。利用中国散裂中子源的射频四极加速器技术突破,2020年8月,研究人员成功研制出我国首台具有完全自主知识产权的加速器硼中子俘获治疗(BNCT)实验装置,可用于癌症治疗研究。这为我国医用BNCT装置整机国产化和产业化奠定了技术基础,有望为肿瘤治疗带来重要技术革新。首台临床设备已在医院安装,预计2023年5月完成安装调试。中国散裂中子源正式运行并向国内外科学家、工程技术人员、工业企业开放后,大科学装置的综合效应日益显现。“中国散裂中子源在多个领域开展重大创新研究,包括对深海潜水器等大型工程部件进行残余应力和服役性能检测等,为国家急需的许多高性能结构材料攻关提供了关键技术平台。在磁性材料、纳米功能材料、高效催化剂、自旋电子学、有机太阳能薄膜电池、金属玻璃、高分子聚合物、生物大分子等国际前沿科技研究中,也取得一大批成果。”陈延伟说。什么是残余应力?它是指在材料、部件加工、服役等过程中,保留在其内部的应力,可能导致工程部件的变形乃至失效。深海潜水器的壳体是钛合金焊接的。下潜海底万米,要扛住巨大的海水压强,焊接的可靠性至关重要。“我们对它的焊接模拟件进行检测,了解不同焊接工艺的残余应力参数,为壳体寿命预测、焊接工艺选择提供了关键数据支撑。”金大鹏说,高铁的车轮等大型高速运动工程部件将来也需要散裂中子源来验证其残余应力参数。作为粤港澳大湾区首个重大科技基础设施,中国散裂中子源的建成,为国内科技工作者带来了研究物质的“利器”,特别是为港澳科学家提供了前所未有的便利。香港大学黄明欣教授团队研发的超强超韧的“超级钢”,就是通过中国散裂中子源,来分析其成分、结构,验证了相关研究结果。3 为前沿科学研究和国家重大需求提供先进研究平台橙色、紫色、蓝色、浅蓝、浅绿……走进靶站谱仪实验大厅,一台台颜色各异的谱仪,以靶站为中心,宛如七色花的花瓣一般向外伸展排列。中子产生后,经过慢化,通过中子通道被引入谱仪。“中子在谱仪中和样品材料的原子核相互作用,产生散射、衍射、透射。”金大鹏解释说,中子就像派进去探查信息的侦察兵,我们可以根据它进去时的角度、能量,出来时的角度、能量等,经过测量,反推回去,研究样品的结构及动力学。探微格物,中国散裂中子源为材料科学技术、物理学、化学化工、生命科学、新能源等基础研究和应用研究提供有力支撑。目前,中国散裂中子源已完成8轮开放运行,全球注册用户超过3900人,完成课题800余项。伴随着国家重大战略部署的推进、新兴产业的发展以及国际前沿研究的需要,中国散裂中子源用户数量快速增长,申请使用装置的课题数快速增长。中国散裂中子源面临“升级”。其实,一期工程设计已经预留了升级改造空间。根据国家“十四五”规划,中国散裂中子源的二期工程即将启动。“中国散裂中子源一共规划有20条中子通道,能够建设22台中子谱仪。”金大鹏向记者介绍,目前共有5台谱仪已投入运行使用,其中包括一期工程国家投资建设的3台谱仪,还有与高校、研究机构合作建设的2台用户谱仪。另有6台不同类型的合作谱仪正在建设、调试中,其中4台预计今年年底将投入使用,满足更多用户的不同需求。不同的谱仪,有不同的用途。浅绿色的通用粉末衍射仪,主要用于研究物体的晶体结构和磁结构,现在也用于开展小部件的残余应力测试。刚投入使用不久的大气中子辐照谱仪,已吸引国内不少高科技企业将自家产品送来测试。研究人员使用高通量的中子加速电子元器件出现问题的进程,从而推动工艺迭代,确保电子元器件与系统性能高度可靠。即将在今年年底投入使用的工程材料应力衍射仪,可以在不破坏样品的情况下,对高铁的车轮、航空航天发动机叶片等设备的残余应力、金属疲劳数据进行研究,一方面为改进工艺提供参考,另一方面也可以评估出部件既能保证安全又能保证经济性的使用里程和时间。金大鹏介绍,目前投入使用的谱仪多为通用型谱仪。围绕国家重大战略部署、新兴产业需求等,专门规划了一批新的谱仪。正在建设中的谱仪,还有专门用来研究新能源电池的。二期工程建成后,中国散裂中子源的谱仪数量将增加到20台,覆盖广大用户各方面研究领域。同时,加速器打靶束流功率将从现在的140千瓦提高到500千瓦。这意味着,同等时间能产生更多中子,不仅能有效缩短实验时间,还能使实验分辨率更高。“新的谱仪和实验终端建成后,中国散裂中子源的设备研究能力将大幅提升,实验精度和速度将大大提高,能够测量更小的样品、研究更快的动态过程,为前沿科学研究、国家重大需求和国民经济发展提供更先进的研究平台。”陈延伟说。工作人员在调试直线加速器有关设备。靶站核心。在这里,接近光速的质子束轰击重金属靶,产生中子。谱仪实验大厅局部。中子产生后,经过慢化,通过中子通道被引入谱仪。不同颜色的谱仪,有不同的用途。中国散裂中子源的环设备楼,快循环质子同步加速器位于此。(中科院高能所供图)装置简介:中国散裂中子源(CSNS)是我国首台、世界第四台脉冲式散裂中子源,是国际前沿基础研究和国家发展战略领域多学科交叉研究的大型平台。中国散裂中子源的成功建设,填补了国内脉冲中子源及应用领域的空白,技术和综合性能进入国际同类装置先进行列,显著提升了我国在相关领域的技术水平和自主创新能力,实现了强流质子加速器和中子散射领域的重大跨越,为物质科学、生命科学、资源环境、新能源等方面的基础研究和高新技术研发提供了强有力的支撑。
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